JPH1031225A - LCD panel lighting inspection device - Google Patents
LCD panel lighting inspection deviceInfo
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- JPH1031225A JPH1031225A JP8184729A JP18472996A JPH1031225A JP H1031225 A JPH1031225 A JP H1031225A JP 8184729 A JP8184729 A JP 8184729A JP 18472996 A JP18472996 A JP 18472996A JP H1031225 A JPH1031225 A JP H1031225A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、駆動回路を実装す
る前の液晶パネルを点灯検査するための液晶パネルの点
灯検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel for lighting inspection of a liquid crystal panel before a driving circuit is mounted.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、液晶パネルに駆動回路を実装する
前に、絵素不良や信号線あるいは走査線の断線やショー
トなどの不良をチェックし、これらの不良があった場合
には、レーザー光を用いた補修装置で該不良箇所を補修
する点灯検査工程があり、この検査を合格したもののみ
が駆動回路を実装する工程に投入される。この検査では
液晶パネルを点灯検査装置に装着して、信号線及び走査
線に点灯信号を供給し、検査員が目視で液晶パネルの点
灯状態を検査する。2. Description of the Related Art Conventionally, prior to mounting a driving circuit on a liquid crystal panel, a defect such as a defective pixel, disconnection of a signal line or a scanning line or a short circuit is checked. There is a lighting inspection step of repairing the defective portion by using a repairing device using the method described above, and only those which pass this inspection are put into a step of mounting a drive circuit. In this inspection, a liquid crystal panel is mounted on a lighting inspection device, a lighting signal is supplied to signal lines and scanning lines, and an inspector visually inspects a lighting state of the liquid crystal panel.
【0003】ここで、従来から、液晶パネルの信号線お
よび走査線に点灯信号を供給して検査をする点灯表示装
置として、第1に、信号線及び走査線に点灯信号を与え
るための端子(以下、「電極端子」と記す)をすべて短
絡するショートリングを液晶パネルに装着し、このショ
ートリングに装置側の金属電極、導電性ゴム電極、或い
はコンタクトプローブなどを接続して、信号線及び走査
線に一括して点灯信号を供給する装置(第1の従来装
置)と、第2に、液晶パネルからショートリングを除去
し、液晶パネルの各信号線端子及び走査線端子毎にコン
タクトプローブで信号を個別に供給する装置(第2の従
来装置)がある。Here, conventionally, as a lighting display device for supplying a lighting signal to a signal line and a scanning line of a liquid crystal panel and performing an inspection, first, a terminal for supplying a lighting signal to the signal line and the scanning line ( A short ring that short-circuits all of the "electrode terminals" is attached to the liquid crystal panel, and a metal electrode, conductive rubber electrode, or contact probe on the device side is connected to this short ring, and signal lines and scanning are performed. Secondly, a device for supplying lighting signals to the lines collectively (first conventional device), and secondly, removing a short ring from the liquid crystal panel, and using a contact probe for each signal line terminal and scanning line terminal of the liquid crystal panel. (A second conventional device).
【0004】以下、図5〜図8を参照しながら、第1及
び第2の従来装置について説明する。ここで、図5
(a)は被検査対象物の液晶パネル1を装着する前の第
1の従来装置を表す図であり、図5(b)は被検査対象
物の液晶パネル1を装着した第1の従来装置を表す図で
ある。また、図6(a)は被検査対象物の液晶パネル1
を装着する前の第2の従来装置を表す図であり、図6
(b)は被検査対象物の液晶パネル1を装着した第2の
従来装置を表す図である。さらに、図7は、第2の従来
装置に装着された液晶パネル1の可動範囲を説明するた
めの説明図であり、図8は、これら第1及び第2の従来
の装置を複合的に用いた検査工程図である。Hereinafter, first and second conventional devices will be described with reference to FIGS. Here, FIG.
FIG. 5A is a diagram illustrating a first conventional device before mounting the liquid crystal panel 1 of the inspection object, and FIG. 5B is a diagram illustrating a first conventional device mounting the liquid crystal panel 1 of the inspection object. FIG. FIG. 6A shows a liquid crystal panel 1 of an object to be inspected.
FIG. 6 is a diagram showing a second conventional device before the device is mounted.
FIG. 2B is a diagram illustrating a second conventional apparatus in which a liquid crystal panel 1 to be inspected is mounted. Further, FIG. 7 is an explanatory view for explaining a movable range of the liquid crystal panel 1 mounted on the second conventional device, and FIG. 8 is a diagram showing a combined use of the first and second conventional devices. FIG.
【0005】図5に示すように、第1の従来装置は、シ
ョートリング(図示なし)が装着された被検査対象物の
液晶パネル1を下プレート100と上プレート101と
の間に挟んで装着するものであり、下プレート100の
液晶プレート装着面側には、装着される液晶パネル1の
位置を定めるための位置決めピン100Aが液晶パネル
1の外形に合わせて配設されている。また、上プレート
101の液晶パネル装着面側には、信号線側電極ブロッ
ク101A及び走査線側電極ブロック101Bが配設さ
れ、これらブロック101A及び101Bには、それぞ
れ液晶パネル1の信号線の電極端子及び走査線の電極端
子に対向するように、信号線電極101a及び走査線電
極101bが配設されている。As shown in FIG. 5, a first conventional apparatus mounts a liquid crystal panel 1 to be inspected to which a short ring (not shown) is mounted, between a lower plate 100 and an upper plate 101. On the liquid crystal plate mounting surface side of the lower plate 100, positioning pins 100A for determining the position of the liquid crystal panel 1 to be mounted are arranged according to the outer shape of the liquid crystal panel 1. A signal line side electrode block 101A and a scanning line side electrode block 101B are provided on the liquid crystal panel mounting surface side of the upper plate 101, and these blocks 101A and 101B have electrode terminals of signal lines of the liquid crystal panel 1, respectively. The signal line electrode 101a and the scanning line electrode 101b are disposed so as to face the scanning line electrode terminals.
【0006】図5(a)に示す第1の従来装置に液晶パ
ネル1を装着する場合、先ず、位置決めピン100Aに
液晶パネル1の外形端面を合わせて液晶パネル1を下プ
レート100に載せる。次に、同図(b)に示すよう
に、上プレート101側の各電極101a及び101b
を下プレート100に載せた液晶パネル1の電極端子に
圧接するようにして、液晶パネル1を下プレート100
と上プレート101との間に挟んで装着する。When the liquid crystal panel 1 is mounted on the first conventional apparatus shown in FIG. 5A, first, the liquid crystal panel 1 is mounted on the lower plate 100 with the outer end surface of the liquid crystal panel 1 aligned with the positioning pins 100A. Next, as shown in FIG. 2B, each of the electrodes 101a and 101b on the upper plate 101 side.
Is pressed against the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 placed on the lower plate 100 so that the liquid crystal panel 1 is
And the upper plate 101.
【0007】このように装着された液晶パネル1に対し
て、上プレート101側の信号線電極101a及び走査
線電極101bを介して点灯信号入力して、液晶パネル
1を点灯表示させ、検査員が点灯検査する。この検査に
おいて不良が発見された場合、液晶パネル1を装着した
状態で上下を逆にし、液晶パネル1の配線パターン側の
ガラス基板を上に向けて補修装置(図示なし)のレーザ
照射口の下に搬送する。そして、不良部位にレーザ光を
照射して、絵素不良や信号線あるいは走査線の断線やシ
ョートなどの不良を補修する。A lighting signal is input to the thus mounted liquid crystal panel 1 via the signal line electrode 101a and the scanning line electrode 101b on the upper plate 101 side, and the liquid crystal panel 1 is turned on and displayed. Check the lighting. If a defect is found in this inspection, the liquid crystal panel 1 is mounted and turned upside down, and the glass substrate on the wiring pattern side of the liquid crystal panel 1 is directed upward and under the laser irradiation port of the repair device (not shown). Transport to Then, the defective portion is irradiated with a laser beam to repair a defect such as a defective pixel, a disconnection of a signal line or a scanning line, or a short circuit.
【0008】上述の第1の従来装置によれば、点灯信号
を供給する機構系が単純なので、液晶パネル1を点灯さ
せるための点灯信号を簡易な装置で生成することがで
き、不良部位の補修作業は卓上型の簡易なレーザ照射装
置により行うことができる。しかしながら、第1の従来
装置では、液晶パネルの信号線および走査線をショート
リングで短絡するので、例えば隣り合う偶数電極端子と
奇数電極端子にタイミングの異なる点灯信号を供給する
必要のある液晶パネルや、チップオングラス(COG)
液晶パネルのように、構造上ショートリングで電極端子
を短絡することが困難な液晶パネルでは点灯状態にする
ことができないという欠点がある。According to the above-mentioned first conventional apparatus, since a mechanism for supplying a lighting signal is simple, a lighting signal for lighting the liquid crystal panel 1 can be generated by a simple apparatus, and a defective portion is repaired. The work can be performed with a simple tabletop laser irradiation device. However, in the first conventional device, the signal lines and the scanning lines of the liquid crystal panel are short-circuited by a short ring, so that, for example, a liquid crystal panel that needs to supply lighting signals with different timings to adjacent even and odd electrode terminals or , Chip on glass (COG)
A liquid crystal panel, such as a liquid crystal panel, in which it is difficult to short-circuit electrode terminals with a short ring due to its structure, cannot be turned on.
【0009】また、第1の従来装置では、ショートリン
グで信号線および走査線を短絡した場合、隣接する信号
線間または走査線間のショートを検出することができな
い。従って、このような不良を検出するためには、ショ
ートリングをはずして各信号線及び走査線の電極端子を
独立させ、各電極端子のそれぞれに装置側の電極を独立
に接続する必要がある。さらに、何らかの不良が検出さ
れて、この不良を補修する場合、液晶パネルを一旦非点
灯状態として補修作業を先ず行い、後に再度点灯させて
点灯検査を行う。このように、第1の従来装置によれ
ば、点灯検査と補修作業とを分業化する必要があり、こ
のため効率が極めて悪い生産体系となる。In the first conventional apparatus, when a signal line and a scanning line are short-circuited by a short ring, a short circuit between adjacent signal lines or between scanning lines cannot be detected. Therefore, in order to detect such a defect, it is necessary to remove the short ring to make the electrode terminals of each signal line and the scanning line independent, and to connect the electrode on the device side to each of the electrode terminals independently. Furthermore, when any defect is detected and the defect is repaired, the liquid crystal panel is temporarily turned off and the repair work is performed first, and then the light is turned on again to perform the lighting inspection. As described above, according to the first conventional apparatus, it is necessary to separate the lighting inspection and the repair work from each other, which results in a production system with extremely low efficiency.
【0010】上述の第1の従来装置に対して、以下に説
明する第2の従来装置は、信号線及び走査線に対して個
別に独立した点灯信号を与えて点灯表示させて点灯検査
と補修作業を連携して処理することを可能とするもので
ある。この第2の従来装置によれば、液晶パネルの各電
極端子に独立して点灯信号を印加することができるの
で、液晶パネルに複数の表示パターンを表示させて多彩
な点灯検査をすることができると共に、各電極端子間の
ショートモードの不良も同時に検出することができる。[0010] In contrast to the above-mentioned first conventional apparatus, a second conventional apparatus which will be described below provides a lighting signal by giving an independent lighting signal to a signal line and a scanning line to perform lighting inspection and repair. This enables work to be processed in cooperation. According to the second conventional device, since a lighting signal can be applied independently to each electrode terminal of the liquid crystal panel, a variety of lighting tests can be performed by displaying a plurality of display patterns on the liquid crystal panel. At the same time, a short mode failure between the electrode terminals can be simultaneously detected.
【0011】以下、図6及び図7を参照しながら、第2
の従来装置について説明する。図6に示す第2の従来装
置は、吸着テーブル200の下面側に吸着させて固定し
た被検査対象物の液晶パネル1の電極端子にコンタクト
プローブ201の各プローブを接触させて、吸着テーブ
ル200とコンタクトプローブ201との間に挟んで装
着するものである。即ち、図6(a)において、コンタ
クトプローブ201はXYθ微動ステージ202の上に
配設されており、これらコンタクトプローブ201及び
XYθ軸微動ステージ201はZ軸エアーシリンダー2
03により上下方向に移動するものとなっている。Hereinafter, referring to FIG. 6 and FIG.
The conventional device will be described. The second conventional apparatus shown in FIG. 6 is such that each probe of the contact probe 201 is brought into contact with an electrode terminal of the liquid crystal panel 1 of an object to be inspected, which is sucked and fixed on the lower surface side of the suction table 200, and It is mounted between the contact probe 201. That is, in FIG. 6A, the contact probe 201 is disposed on the XYθ fine movement stage 202, and the contact probe 201 and the XYθ
03 moves up and down.
【0012】また、吸着テーブル200の上側には液晶
パネル1の位置を検出するためのアライメントカメラ2
04A及びアライメントカメラコントローラ204Bが
配設されている。さらに、この装置全体が、X軸リニア
ガイド205A及びY軸リニアガイド205Bにより、
図示しない補修装置まで搬送され、アライメントカメラ
コントローラ204Bに制御されて、図7に示すよう
に、補修装置のレーザ照射ユニット206から出力され
るレーザー光が、液晶パネル1の表示画面領域207の
不良部位に照射されるように、可動範囲X及びYの範囲
内で液晶パネル1の位置を定めて、補修作業を行う。An alignment camera 2 for detecting the position of the liquid crystal panel 1 is provided above the suction table 200.
04A and an alignment camera controller 204B are provided. Further, the entire apparatus is controlled by an X-axis linear guide 205A and a Y-axis linear guide 205B.
As shown in FIG. 7, the laser beam output from the laser irradiation unit 206 of the repair device is transferred to a repair device (not shown) and controlled by the alignment camera controller 204B. The repair work is performed by determining the position of the liquid crystal panel 1 within the range of the movable ranges X and Y so as to irradiate the liquid crystal panel.
【0013】このように構成された第2の従来装置に液
晶パネル1を装着する場合、先ず、液晶パネル1の配線
パターン側ガラス基板を上(電極端子は下向き)にして
吸着テーブル200の下側に吸着して固定する。なお、
この吸着テーブル200には図示しない窓が設けられて
おり、後述するように、この窓を通して液晶パネル1の
不良部位に対してレーザー光を照射して補修する。When the liquid crystal panel 1 is mounted on the second conventional apparatus configured as described above, first, the glass substrate on the wiring pattern side of the liquid crystal panel 1 is turned upward (electrode terminals are directed downward), and the lower side of the suction table 200 is set. Adsorb to and fix. In addition,
The suction table 200 is provided with a window (not shown), and repairs a defective portion of the liquid crystal panel 1 by irradiating a laser beam through the window as described later.
【0014】次に、アライメントカメラコントローラ2
04Bが、液晶パネル1の電極端子にコンタクトプロー
ブ201のプローブが位置するようにアライメントを行
う。即ち、アライメントカメラコントローラ204B
は、アライメントカメラ205Aによる画像パターンか
ら吸着テーブル200に固定された液晶パネル1の基準
部位を認識し、コンタクトプローブ201に配列された
プローブを液晶パネル1の電極端子上に位置させるため
の液晶パネル1の移動量(XY座標及び回転角)を演算
し、この演算結果に基づいてXYθ軸微動ステージ20
2を制御して液晶パネル1のアライメントを行う。Next, the alignment camera controller 2
04B performs alignment so that the probe of the contact probe 201 is located at the electrode terminal of the liquid crystal panel 1. That is, the alignment camera controller 204B
The liquid crystal panel 1 for recognizing a reference portion of the liquid crystal panel 1 fixed to the suction table 200 from the image pattern by the alignment camera 205A and positioning the probes arranged on the contact probes 201 on the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 XY coordinate and rotation angle are calculated, and the XYθ-axis fine movement stage 20 is
2 to control the alignment of the liquid crystal panel 1.
【0015】次に、アライメントを終えると、図6
(b)に示すように、Z軸エアーシリンダー203によ
り、液晶パネル1の電極端子にコンタクトプローブ20
1のプローブが接触するまで、コンタクトプローブ20
1及びXYθ軸微動ステージ202を上方に押し上げ
る。この状態で点灯信号をコンタクトプローブ201に
供給すると、液晶パネル1は点灯され、点灯検査が可能
な状態となる。Next, when the alignment is completed, FIG.
As shown in (b), the contact probe 20 is connected to the electrode terminal of the liquid crystal panel 1 by the Z-axis air cylinder 203.
Until one probe comes in contact, contact probe 20
1 and the XYθ-axis fine movement stage 202 are pushed up. When a lighting signal is supplied to the contact probe 201 in this state, the liquid crystal panel 1 is turned on, and a lighting test can be performed.
【0016】点灯検査の結果、不良部位を補修する必要
が生じた場合、図7に示すように、X軸リニアガイド2
05A及びY軸リニアガイド205Bにより補修装置の
レーザ照射ユニット206のレーザー照射口の下まで装
置を搬送する。そして、吸着テーブル200に固定され
た液晶パネル1の表示画面領域207の不良部位に対
し、吸着テーブル200の窓を通してレーザー光を照射
し、補修作業を行う。As a result of the lighting inspection, if it becomes necessary to repair a defective portion, as shown in FIG.
The apparatus is conveyed to a position below the laser irradiation port of the laser irradiation unit 206 of the repair apparatus by the 05A and the Y-axis linear guide 205B. Then, a defective portion of the display screen area 207 of the liquid crystal panel 1 fixed to the suction table 200 is irradiated with laser light through a window of the suction table 200 to perform repair work.
【0017】以上説明した第1及び第2の従来装置を複
合的に用いて、点灯検査及び信号線間又は走査線間のシ
ョート不良を検出して補修する点灯検査工程の一例につ
いて、図8に示す工程図に沿って簡単に説明する。先
ず、ショートリングを装着した状態で第1の従来装置に
より点灯検査を行う(工程S01)。次に、この点灯検
査の結果に基づいて簡易な補修装置(既存設備)により
補修作業を行う(工程S02)。次に、ショートリング
を除去し、第2の従来装置を用いて、信号線間または走
査線間のショート不良を検査する(工程S03)。この
検査の結果、ショート不良が検出された場合、この第2
の従来装置と連携する専用の補修装置により補修作業を
行う(工程S04)。以上により、点灯検査工程を終了
した液晶パネルを次工程(駆動回路の実装工程)に投入
する。FIG. 8 shows an example of a lighting inspection process in which the first and second conventional devices described above are used in combination to detect and repair a short-circuit failure between signal lines or between scanning lines. A brief description will be given along the process chart shown below. First, a lighting test is performed by the first conventional device with the short ring attached (step S01). Next, repair work is performed by a simple repair device (existing equipment) based on the result of the lighting inspection (step S02). Next, the short ring is removed, and a short-circuit failure between signal lines or between scanning lines is inspected using the second conventional apparatus (step S03). If a short circuit is detected as a result of this inspection, the second
The repair work is performed by a dedicated repair device cooperating with the conventional device (step S04). As described above, the liquid crystal panel after the lighting inspection step is put into the next step (drive circuit mounting step).
【0018】[0018]
【発明が解決しようとする課題】ところで、第1の従来
装置によれば、前述のように、液晶パネルにショートリ
ングを装着した状態で検査するので、液晶パネルの信号
線間または走査線間のショート不良を検出することがで
きず、また、隣り合った電極端子にタイミングの異なる
信号を必要とする液晶パネルの点灯を行うことができな
いという問題がある。According to the first conventional apparatus, as described above, the inspection is performed with the short ring attached to the liquid crystal panel. Therefore, the inspection is performed between the signal lines or the scanning lines of the liquid crystal panel. There is a problem that a short circuit failure cannot be detected, and a liquid crystal panel that requires signals with different timings for adjacent electrode terminals cannot be turned on.
【0019】一方、上述の第2の従来装置によれば、一
旦、被検査対象物の液晶パネルを装着すると、これに連
携する補修装置によらなければ不良部位の補修作業を行
うことができず、従来使用していた簡易型のレーザ補修
装置などの既存設備の有効活用ができないという問題が
あった。On the other hand, according to the above-mentioned second conventional apparatus, once a liquid crystal panel to be inspected is mounted, a defective portion cannot be repaired without a repairing device associated therewith. However, there has been a problem that existing equipment such as a simple laser repair device which has been conventionally used cannot be effectively used.
【0020】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たものであり、既存のレーザ修正装置などの設備を有効
に活用して補修作業を行うことを可能とした液晶パネル
の点灯検査装置を提供することを課題とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and a liquid crystal panel lighting inspection apparatus capable of performing repair work by effectively utilizing existing facilities such as a laser correction apparatus. The task is to provide.
【0021】[0021]
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決達成するため、以下の構成を有する。即ち、請求項1
記載の発明に係る液晶パネルの点灯検査装置は、液晶パ
ネルの電極端子にプローブを接触させて装着し、前記液
晶パネルを点灯させて検査する液晶パネルの点灯検査装
置であって、前記プローブが配設されて前記液晶パネル
を一面側から保持する第1のプレートと、前記液晶パネ
ルを他面側から保持する第2のプレートと、前記第1の
プレートと第2のプレートとを連結する連結機構と、前
記連結機構により連結された前記第1及び第2のプレー
トを着脱する着脱機構とを備え、前記第1のプレート
は、前記連結機構により前記第2のプレートに連結され
る第1のサブプレートと、該第1のプレートの2次元平
面内において可動なように前記第1のサブプレートと結
合した第2のサブプレートとを備えて構成されている。Means for Solving the Problems The present invention has the following arrangement to achieve the above object. That is, claim 1
A lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the invention described above is a lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel, which is mounted by bringing a probe into contact with an electrode terminal of a liquid crystal panel and lighting and inspecting the liquid crystal panel. A first plate for holding the liquid crystal panel from one side, a second plate for holding the liquid crystal panel from the other side, and a connecting mechanism for connecting the first plate and the second plate; And a detachment mechanism for attaching and detaching the first and second plates connected by the connection mechanism, wherein the first plate is connected to a first sub-plate connected to the second plate by the connection mechanism. A first sub-plate coupled to the first sub-plate such that the second sub-plate is movable in a two-dimensional plane of the first plate.
【0022】また、請求項2記載の発明に係る液晶パネ
ルの点灯検査装置は、請求項1に記載の発明に係る液晶
パネルの点灯検査装置が、2次元平面内において移動及
び回転が可能で且つ前記2次元平面に対して垂直方向に
移動が可能なステージと、前記ステージの移動及び回転
の量を調節する調節機構と、前記ステージと第2のサブ
プレートとを一時的に結合する結合機構とを備え、液晶
パネルの電極端子にプローブを接触させて装着するに際
して、前記結合機構により前記第2のサブプレートと前
記ステージとを一時的に結合し、前記調節機構により前
記2次元平面内において前記ステージの移動及び回転を
調節し、前記電極端子と前記プローブとの位置合わせを
行うように構成されている。A lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the invention according to claim 2 is such that the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to claim 1 is capable of moving and rotating within a two-dimensional plane. A stage movable in a direction perpendicular to the two-dimensional plane, an adjustment mechanism for adjusting the amount of movement and rotation of the stage, and a coupling mechanism for temporarily coupling the stage and a second sub-plate; When the probe is brought into contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel and attached, the second sub-plate and the stage are temporarily coupled by the coupling mechanism, and the adjusting mechanism is used to temporarily connect the second sub-plate and the stage in the two-dimensional plane. It is configured to adjust the movement and rotation of the stage so as to align the electrode terminal with the probe.
【0023】さらに、請求項3記載の発明に係る液晶パ
ネルの点灯検査装置は、請求項2に記載の発明に係る液
晶パネルの点灯検査装置が、液晶パネルの欠陥部位を補
修するための補修装置を結合して備えて構成されてい
る。Further, a lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to a third aspect of the present invention is a repairing apparatus for repairing a defective portion of the liquid crystal panel by the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the second aspect of the invention. Are combined and provided.
【0024】上記構成された請求項1から請求項3の発
明に係る液晶パネルの点灯検査装置は、以下のように作
用する。即ち、請求項に1記載の発明に係る液晶パネル
の点灯検査装置によれば、液晶パネルの電極端子にプロ
ーブを接触させて装着する場合、先ず、液晶パネルの電
極端子に対して第2のサブプレートに配設されたプロー
ブの位置を合わせて、電極端子とプローブとを接触させ
る。次に、連結機構により第1のプレートを構成する第
1のサブプレートと第2のプレートとを連結する。この
とき、第2のサブプレートは、第1のプレートの2次元
平面内で可動するように第1のサブプレートと結合され
ているので、第1のプレートと第1のサブプレートとを
連結するに際して、位置合わせが既になされた電極端子
とプローブとの位置関係がそのまま維持される。従っ
て、その位置関係が維持される結果、連結された第1の
プレートと第2のプレートとの間には、電極端子にプロ
ーブが接触した状態で液晶パネルが装着される。また、
このように液晶パネルが装着されて連結された第1及び
第2のプレートは、着脱機構により点灯検査装置から取
り外しが可能とされる。The lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the present invention constructed as described above operates as follows. That is, according to the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the first aspect of the invention, when the probe is brought into contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel and mounted, first, the second sub-terminal is connected to the electrode terminal of the liquid crystal panel. The position of the probe arranged on the plate is adjusted, and the electrode terminal and the probe are brought into contact. Next, the first sub-plate and the second plate constituting the first plate are connected by the connecting mechanism. At this time, since the second sub-plate is coupled to the first sub-plate so as to be movable in a two-dimensional plane of the first plate, the first sub-plate is connected to the first sub-plate. At this time, the positional relationship between the electrode terminal and the probe that have already been aligned is maintained. Therefore, as a result of maintaining the positional relationship, the liquid crystal panel is mounted between the connected first plate and second plate while the probe is in contact with the electrode terminal. Also,
The first and second plates to which the liquid crystal panel is attached and connected in this manner can be detached from the lighting inspection device by an attachment / detachment mechanism.
【0025】また、請求項2に記載の発明に係る液晶パ
ネルの点灯検査装置によれば、請求項1に記載の発明に
係る液晶パネルの点灯検査装置において、液晶パネルの
電極端子にプローブを接触させて装着するに際し、結合
機構により前記第2のサブプレートとステージとを結合
する。そして、調節機構によりステージの2次元平面内
での移動及び回転を調節し、ステージに結合された第2
のサブプレートのプローブと第2のプレートに仮り止め
された液晶パネルの電極端子との位置合わせを行う。Further, according to the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the second aspect of the present invention, in the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the first aspect, the probe is brought into contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel. At the time of mounting, the second sub-plate and the stage are connected by a connecting mechanism. Then, the movement and rotation of the stage in the two-dimensional plane are adjusted by the adjustment mechanism, and the second stage coupled to the stage is adjusted.
Of the sub-plate and the electrode terminals of the liquid crystal panel temporarily fixed to the second plate.
【0026】さらに、請求項3に記載の発明に係る液晶
パネルの点灯検査装置によれば、請求項2に記載の発明
に係る液晶パネルの点灯検査装置において、液晶パネル
を取り外すことなく、検査により特定された不良部位
を、補修装置により補修する。Further, according to the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the third aspect of the present invention, in the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the second aspect, the inspection can be performed without removing the liquid crystal panel. The specified defective part is repaired by the repair device.
【0027】[0027]
【発明の実施の形態】以下、図1から図4を参照しなが
ら、本発明の実施形態の液晶パネルの点灯形態装置につ
いて説明する。ここで、図1(a)及び(b)は、それ
ぞれ本実施形態の点灯検査装置の正面図及び側面図であ
る。また、図2は、図1の部分拡大図であり、図3は、
本実施形態の装置を構成する後述の下プレートの構造を
説明するための断面図であり、図4は、本実施形態の装
置を用いた点灯検査工程図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a lighting device for a liquid crystal panel according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, FIGS. 1A and 1B are a front view and a side view, respectively, of the lighting inspection device of the present embodiment. FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG. 1, and FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining the structure of a lower plate, which will be described later, constituting the device of the present embodiment. FIG. 4 is a lighting inspection process diagram using the device of the present embodiment.
【0028】図1に示すように、本実施形態の液晶パネ
ルの点灯検査装置は、本装置の中心部に位置してメイン
フレームを構成するテーブル10及び支持機構11と、
該テーブル10に配設されたXYθ軸微動ステージユニ
ット12(ステージ)と、該XYθ軸微動ステージユニ
ット12に配設された電磁マグネットチャックユニット
13(結合機構)と、被検査対象物の液晶パネル1を下
面側(一面側)から保持すると共に該電磁マグネットチ
ャックユニットに固定される下プレート14(第1のプ
レート)と、該下プレート14に対して上下動可能に配
設された上下ヘッドユニット15と、液晶パネル1を上
面側(他面側)から保持すると共に前記上下ヘッドユニ
ット15に着脱可能に装着された上プレート16(第2
のプレート)と、上下ヘッドユニット15を上下方向に
移動させる大型エアーシリンダーユニット17と、アラ
イメントカメラユニット18(調節機構)と、前記XY
θ軸微動ステージユニット12と下プレート14との間
に配設されたバックライト19とから構成されている。As shown in FIG. 1, the lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to the present embodiment comprises a table 10 and a support mechanism 11 which are located at the center of the apparatus and constitute a main frame.
The XYθ-axis fine movement stage unit 12 (stage) provided on the table 10, the electromagnetic magnet chuck unit 13 (coupling mechanism) provided on the XYθ-axis fine movement stage unit 12, and the liquid crystal panel 1 of the inspection object. Plate 14 (first plate) holding the lower surface side (one surface side) and fixed to the electromagnetic magnet chuck unit, and an upper and lower head unit 15 disposed to be vertically movable with respect to the lower plate 14. And an upper plate 16 (the second plate 16) which holds the liquid crystal panel 1 from the upper surface side (the other surface side) and is
Plate), a large air cylinder unit 17 for moving the vertical head unit 15 in the vertical direction, an alignment camera unit 18 (adjustment mechanism), and the XY
A backlight 19 is provided between the θ-axis fine movement stage unit 12 and the lower plate 14.
【0029】ここで、図2に拡大して示すように、上下
ヘッドユニット15は、上プレート16との結合部に、
手前側からスライドさせて上プレートを着脱可能に装着
する機構(着脱機構)を有する。また、上プレート16
及び下プレート14には、それぞれ通し穴16a及び固
定用支柱14aがそれぞれ設けられ、上プレート16に
設けられた通し穴16aに下プレートの固定用支柱14
aを通して、上プレート16側に配設された固定チャッ
ク16bをスライドさせることにより、上プレート16
と下プレート14とを連結する(連結機構)。ここで、
固定チャック16bのスライドは、上下ヘッドユニット
15側に配設された小型エアーシリンダーユニット15
aにより行う。なお、上プレート16の液晶パネル1の
装着面側には、液晶パネル1の電極端子に対応して複数
のプローブが配列されたプローブブロック16Aが配設
されている。Here, as shown in an enlarged manner in FIG. 2, the upper and lower head units 15
It has a mechanism (removable mechanism) that slides from the near side to detachably mount the upper plate. Also, the upper plate 16
The lower plate 14 is provided with a through hole 16a and a fixing post 14a, respectively, and the lower plate 14 is provided with a fixing hole 14a of the lower plate.
a through the fixed chuck 16b disposed on the upper plate 16 side,
And the lower plate 14 (connection mechanism). here,
The sliding of the fixed chuck 16b is performed by the small air cylinder unit 15 disposed on the upper and lower head unit 15 side.
a. A probe block 16A in which a plurality of probes are arranged corresponding to the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 is provided on the upper plate 16 on the mounting surface side of the liquid crystal panel 1.
【0030】また、図3に示すように、下プレート14
は、下治具14A(第1のサブプレート)と微動テーブ
ル14B(第2のサブプレート)とにより構成され、下
治具14Aが微動テーブル14Bの外周部を下方から支
持すると共に、微動テーブル14Bが下治具14Aに対
して水平方向(下プレート14の2次元平面内)に微動
可能なように構成されている。Further, as shown in FIG.
Is constituted by a lower jig 14A (first sub-plate) and a fine movement table 14B (second sub-plate). The lower jig 14A supports the outer peripheral portion of the fine movement table 14B from below, and the fine movement table 14B Are configured to be finely movable in a horizontal direction (within a two-dimensional plane of the lower plate 14) with respect to the lower jig 14A.
【0031】即ち、液晶パネル1を下側から支持する微
動テーブル14Bは、固定ボルト14Cにより、微動可
能なように下治具14Aと連結されている。ここで、固
定ボルト14Cは、微動テーブル14Bに形成された穴
Hの直径Rより小さな直径rの円柱部14C1と、穴の
直径Rよりも大きな直径の頭部14C2とからなり、円
柱部14C1と穴Hの内周面との間に隙間を設けて、固
定ボルト14Cの先端側が下治具に固定されている。ま
た、固定ボルト14Cの頭部14C1と微動テーブル1
4Bとの間には、この固定ボルト14Cと微動テーブル
14Bとが円滑にスライドするための座金14C3が設
けられている。That is, the fine movement table 14B for supporting the liquid crystal panel 1 from below is connected to the lower jig 14A so as to be finely movable by the fixing bolt 14C. Here, fixing bolts 14C includes a cylindrical portion 14C 1 of smaller diameter r than the diameter R of the hole H formed in the fine-adjustment table 14B, made from the head 14C 2 Metropolitan of larger diameter than the diameter R of the hole, the cylindrical portion a gap is provided between the 14C 1 and the inner circumferential surface of the hole H, the tip end of the fixing bolt 14C is fixed to the lower jig. In addition, the head 14C 1 of the fixing bolts 14C and fine movement table 1
Between 4B, it is provided washer 14C 3 for this fixing bolt 14C and the fine-adjustment table 14B is smoothly slide.
【0032】このように、固定ボルトの円柱部14C1
と微動テーブル14Bとの間に隙間を設けることによ
り、微動テーブル14Bは、下治具14Aに対して、こ
の隙間分だけ水平方向(2次元平面内)に微動可能とな
る。また、微動テーブル14Bと下治具14Aとの間に
は、スプリング14Dが設けられ、このスプリング14
Dが微動テーブル14Bを付勢することにより、微動テ
ーブル14Bと下治具14Aとの間のガタツキを抑え
る。As described above, the cylindrical portion 14C 1 of the fixing bolt is provided.
By providing a gap between the fine jig table 14B and the fine movement table 14B, the fine movement table 14B can be finely moved in the horizontal direction (within a two-dimensional plane) by the gap with respect to the lower jig 14A. A spring 14D is provided between the fine movement table 14B and the lower jig 14A.
D urges fine movement table 14B, thereby suppressing rattling between fine movement table 14B and lower jig 14A.
【0033】また、微動テーブル14Bは、電磁マグネ
ットチャック13の電磁力によりXYθ軸微動ステージ
ユニット12と固定される。電磁マグネットチャックユ
ニット13は、マイクロメータを備えたXYθ軸微動ス
テージユニット12上に配設されており、このステージ
ユニット12の動作が、電磁マグネットチャックユニッ
ト13を介して微動テーブル14Bに伝達される。The fine movement table 14 B is fixed to the XYθ-axis fine movement stage unit 12 by the electromagnetic force of the electromagnetic magnet chuck 13. The electromagnetic magnet chuck unit 13 is provided on an XYθ-axis fine movement stage unit 12 having a micrometer, and the operation of this stage unit 12 is transmitted to the fine movement table 14B via the electromagnetic magnet chuck unit 13.
【0034】以下、このように構成された本実施形態の
装置の動作について,図1から図3を参照しながら、図
4に示す工程図に沿って説明する。なお、上述の各ユニ
ット等の構成の詳細については、以下の動作の説明にお
いて、適宜述べることとする。先ず、前工程を終えた液
晶パネル1を受け入れると、液晶パネル1からショート
リングを取り外して、以下に説明する手順に従って装置
に液晶パネルを装着して、点灯検査を行う(工程S01
A)。Hereinafter, the operation of the thus configured apparatus of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3 and along the process chart shown in FIG. The details of the configuration of each unit described above will be described as appropriate in the following description of the operation. First, when the liquid crystal panel 1 that has completed the previous process is received, the short ring is removed from the liquid crystal panel 1, the liquid crystal panel is mounted on the device according to the procedure described below, and a lighting test is performed (step S01).
A).
【0035】先ず、本実施形態の装置に被検査対象物の
液晶パネル1を装着する場合、電極端子が形成された面
を上側にして、液晶パネル1を下プレート14を構成す
る微動テーブル14Bの上に載せる。この微動テーブル
14Bは、後述するように、電磁マグネットチャックユ
ニット13をオンさせることにより、それぞれマイクロ
メータを備えたθ軸ステージ12a、Y軸ステージ12
b及びX軸ステージ12cからなるXYθ軸微動ステー
ジユニット12と固定される。First, when the liquid crystal panel 1 to be inspected is mounted on the apparatus of the present embodiment, the surface on which the electrode terminals are formed faces upward, and the liquid crystal panel 1 is mounted on the fine movement table 14B constituting the lower plate 14. Put on top. As will be described later, the fine movement table 14B is turned on by the electromagnetic magnet chuck unit 13 so that the θ-axis stage 12a and the Y-axis
It is fixed to the XYθ-axis fine movement stage unit 12 composed of the b and X-axis stages 12c.
【0036】次に、微動テーブル14Bに載せた液晶パ
ネル1の電極端子に対してプローブが配列されたプロー
ブブロック16Aが対向するように、上治具16を上下
ヘッドユニット15の結合機構部に手前からスライドさ
せて装着する。次に、図1(a)に点線で表すように、
大型エアーシリンダ17を動作させて、上下ヘッドユニ
ット15に装着された上プレート16を降下させ、プロ
ーブブロック16Aのプローブの先端が液晶パネル1の
電極端子に接触する直前で停止させる。Next, the upper jig 16 is moved toward the coupling mechanism of the upper and lower head unit 15 so that the probe block 16A on which the probes are arranged faces the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 placed on the fine movement table 14B. Slide from and attach. Next, as shown by a dotted line in FIG.
By operating the large air cylinder 17, the upper plate 16 mounted on the upper and lower head unit 15 is lowered, and stopped just before the tip of the probe of the probe block 16A contacts the electrode terminal of the liquid crystal panel 1.
【0037】次に、電磁マグネットチャックユニット1
3をオンさせ、下プレート14の微動テーブル14Bと
XYθ軸微動ステージユニット12とを連結させる。そ
して、プローブブロック16Aのプローブと液晶パネル
1の電極端子との位置合わせをアライメントカメラユニ
ット18を用いて行う。このアライメントカメラユニッ
ト18は、落射照明光源18aとプリズム18bとCC
Dカメラ18cとからなり、液晶パネル1の裏面に落射
照明光源18aを照射し、プリズム18bを介してCC
Dカメラ18cで撮像する。CCDカメラ18cに撮像
された映像パターンは、図示しないモニターに映し出さ
れ、検査員がモニターで確認しながら、X軸、Y軸、θ
軸の各ステージ12a、12b、12cの位置を調節す
るマイクロメータを手動で操作し、プローブブロック1
6Aのプローブと液晶パネル1の電極端子との位置合わ
せを行う。Next, the electromagnetic magnet chuck unit 1
3 to turn on the fine movement table 14B of the lower plate 14 and the XYθ-axis fine movement stage unit 12. Then, the alignment of the probe of the probe block 16A with the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 is performed using the alignment camera unit 18. The alignment camera unit 18 includes an epi-illumination light source 18a, a prism 18b,
D camera 18c, and irradiates an epi-illumination light source 18a on the back surface of the liquid crystal panel 1, and outputs a CC through a prism 18b.
An image is taken by the D camera 18c. The image pattern captured by the CCD camera 18c is displayed on a monitor (not shown), and the inspector checks the X-axis, Y-axis, θ
By manually operating a micrometer for adjusting the position of each of the axes stages 12a, 12b, 12c, the probe block 1
The position of the 6A probe and the electrode terminal of the liquid crystal panel 1 are aligned.
【0038】次に、プローブと電極端子との位置合わせ
が終了すると、再度、大型エアーシリンダユニット17
を動作させて上プレート16を降下させ、プローブの先
端と液晶パネル1の電極端子とを接触させる。Next, when the alignment between the probe and the electrode terminals is completed, the large air cylinder unit 17
Is operated to lower the upper plate 16 to bring the tip of the probe into contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel 1.
【0039】次に、下プレート14と上プレート16と
を連結する。即ち、図2に示すように、上下ヘッドユニ
ット15の降下により、下プレート14を構成する下治
具14Aに配設された固定用支柱14aが、上プレート
16側に形成された通し穴16aに通される。この状態
で小型エアーシリンダユニット15aを動作させて、固
定チャック16bと通し穴16aに通された固定用支柱
14aとを結合させ、上プレート16と下プレート14
とを連結する。Next, the lower plate 14 and the upper plate 16 are connected. That is, as shown in FIG. 2, when the upper and lower head units 15 are lowered, the fixing posts 14 a provided on the lower jig 14 A constituting the lower plate 14 are inserted into the through holes 16 a formed on the upper plate 16 side. Passed. In this state, the small air cylinder unit 15a is operated to couple the fixing chuck 16b and the fixing column 14a passed through the through hole 16a, and the upper plate 16 and the lower plate 14
And concatenate.
【0040】この上プレート16と下プレート14とを
連結する過程において、液晶パネル1の電極端子とプロ
ーブとの接触状態は維持され、プローブブロック16A
の弾性力により上下プレートは付勢され、安定的に連結
される。以上により、液晶パネル1は、その電極端子に
装置側のプローブが接触した状態で上プレート16と下
プレート14との間に装着される。このようにして装着
した液晶パネル1に対して点灯信号を供給し、液晶パネ
ル1の点灯検査を行う(工程S01A)。In the process of connecting the upper plate 16 and the lower plate 14, the contact state between the electrode terminals of the liquid crystal panel 1 and the probe is maintained, and the probe block 16A
The upper and lower plates are urged by the elastic force of, and are stably connected. As described above, the liquid crystal panel 1 is mounted between the upper plate 16 and the lower plate 14 in a state where the probe on the device side is in contact with the electrode terminals. A lighting signal is supplied to the liquid crystal panel 1 thus mounted, and a lighting inspection of the liquid crystal panel 1 is performed (step S01A).
【0041】この点灯検査の結果、不良が検出された場
合、次に説明する手順に従って、液晶パネル1を上プレ
ート16と下プレート14とに装着した状態で装置から
取り外し、補修装置で補修する(工程S02A)。先
ず、電磁マグネットチャック13をオフにして接続を解
除し、大型エアーシリンダユニット17を動作させて、
上下ヘッドユニット15を上昇させる。このとき、下治
具プレート14は、液晶パネル1を挟んだ状態で上プレ
ート16に連結されたまま上昇する。上昇を終えたら、
上下ヘッドユニット15から液晶パネル1が装着された
上下プレート14及び16を手前にスライドさせて取り
外し、既存設備の補修装置を用いて不良部位の補修作業
を行う(工程S02A)。この補修作業において、プロ
ーブブロック16Aに点灯信号を入力すれば、液晶パネ
ル1を点灯状態として補修作業を円滑に行うことができ
る。If a defect is detected as a result of the lighting inspection, the liquid crystal panel 1 is detached from the device with the liquid crystal panel 1 mounted on the upper plate 16 and the lower plate 14 and repaired by a repair device according to a procedure described below ( Step S02A). First, the electromagnetic magnet chuck 13 is turned off to release the connection, and the large air cylinder unit 17 is operated.
The upper and lower head units 15 are raised. At this time, the lower jig plate 14 rises while being connected to the upper plate 16 with the liquid crystal panel 1 interposed therebetween. When you're done climbing,
The upper and lower plates 14 and 16 on which the liquid crystal panel 1 is mounted are slid to the front and removed from the upper and lower head unit 15, and the defective portion is repaired using a repair device for existing equipment (step S02A). In this repair work, if a lighting signal is input to the probe block 16A, the repair work can be performed smoothly with the liquid crystal panel 1 turned on.
【0042】次に、補修作業が終了すると、以下の手順
に従って、液晶パネル1を上プレート16及び下プレー
ト14から取り外す。即ち、先ず、液晶パネル1が装着
された上下プレート14及び16を再び上下ヘッドユニ
ット15に装着し、下プレート14を構成する微動テー
ブル14Bが電磁マグネットチャック13に接触する位
置まで降下させる。Next, when the repair work is completed, the liquid crystal panel 1 is removed from the upper plate 16 and the lower plate 14 according to the following procedure. That is, first, the upper and lower plates 14 and 16 on which the liquid crystal panel 1 is mounted are mounted again on the upper and lower head units 15, and the fine movement table 14 B constituting the lower plate 14 is lowered to a position where it comes into contact with the electromagnetic magnet chuck 13.
【0043】続いて、電磁マグネットチャック13をオ
ンにして下プレート14を固定し、上下ヘッドユニット
15に配設された小型エアーシリンダ15aを動作させ
て固定チャック16bをスライドさせ、上プレート16
と下プレート14との連結を解除する。そして、上プレ
ート16のみを上昇させて補修作業がなされた液晶パネ
ル1を取り外し、同様にして次の液晶パネルを装着して
点灯検査を行う。Subsequently, the lower plate 14 is fixed by turning on the electromagnetic magnet chuck 13 and the small air cylinder 15a provided on the upper and lower head unit 15 is operated to slide the fixed chuck 16b, thereby causing the upper plate 16 to slide.
And the lower plate 14 is disconnected. Then, only the upper plate 16 is raised, the liquid crystal panel 1 on which the repair work has been performed is removed, and the next liquid crystal panel is mounted in the same manner to perform a lighting test.
【0044】[0044]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば以下のような効果を得ることができる。即ち、
液晶パネルにプローブを接触させたまま着脱するように
構成したので、既存の簡易な補修装置を用いて不良部位
の補修作業を行うことが可能になると共に、例えば、隣
り合う偶数端子と奇数端子にタイミングの異なる信号を
供給しなければ点灯状態にできない液晶パネルや、チッ
プオングラス(COG)液晶パネルのように構造上ショ
ートリングを使用することができない液晶パネルであっ
ても、容易に点灯検査や補修作業を行うことが可能にな
る。As is clear from the above description, according to the present invention, the following effects can be obtained. That is,
Since the probe is configured to be attached and detached while keeping the probe in contact with the liquid crystal panel, it is possible to repair defective parts using existing simple repair equipment, and for example, it is possible to repair adjacent even and odd terminals. Even for a liquid crystal panel that cannot be turned on unless a signal at a different timing is supplied, or a liquid crystal panel that cannot use a short ring due to its structure, such as a chip-on-glass (COG) liquid crystal panel, it is easy to perform lighting inspection and the like. Repair work can be performed.
【0045】また、ショートリングを用いることなく、
液晶パネルの電極端子にプローブを接触させて装着する
ので、信号線間或いは走査線間のショート不良などのよ
うに、ショートリングを装着した状態では検出できない
不良を有効に検出することが可能になる。従って、本発
明によれば、生産性を向上させるとともに、既存設備の
有効利用が可能な液晶パネルの点灯検査装置を得ること
ができる。Also, without using a short ring,
Since the probe is mounted in contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel, it is possible to effectively detect a defect that cannot be detected with the short ring attached, such as a short circuit between signal lines or between scanning lines. . Therefore, according to the present invention, it is possible to obtain a lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel that can improve productivity and effectively use existing facilities.
【図1】(a)は、本発明の実施形態の点灯検査装置の
正面図である。(b)は、本発明の実施形態の点灯検査
装置の側面図である。FIG. 1A is a front view of a lighting inspection device according to an embodiment of the present invention. (B) is a side view of the lighting inspection device of the embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施形態の点灯検査装置の部分拡大図
である。FIG. 2 is a partially enlarged view of the lighting inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施形態の装置を構成する下プレート
の断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a lower plate constituting the device according to the embodiment of the present invention.
【図4】本発明の実施形態の装置を用いた点灯検査の工
程図である。FIG. 4 is a process diagram of a lighting inspection using the apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図5】(a)は、被検査対象物の液晶パネルを装着す
る前の第1の従来装置を説明するための説明図である。
(b)は、被検査対象物の液晶パネルを装着した第1の
従来装置を説明するための説明図である。FIG. 5A is an explanatory diagram for explaining a first conventional apparatus before a liquid crystal panel to be inspected is mounted.
(B) is an explanatory view for explaining a first conventional device equipped with a liquid crystal panel of an object to be inspected.
【図6】(a)は、被検査対象物の液晶パネルを装着す
る前の第2の従来装置を説明するための説明図である。
(b)は、被検査対象物の液晶パネルを装着した第2の
従来装置を説明するための説明図である。FIG. 6A is an explanatory diagram for explaining a second conventional device before a liquid crystal panel to be inspected is mounted.
(B) is an explanatory view for explaining a second conventional device equipped with a liquid crystal panel of an object to be inspected.
【図7】補修作業における液晶パネルの可動範囲を説明
するための説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining a movable range of a liquid crystal panel in a repair operation.
【図8】従来の装置を用いた点灯検査の工程図である。FIG. 8 is a process diagram of a lighting inspection using a conventional apparatus.
1 液晶パネル 10 テーブル 11 支持機構 12 XYθ軸微動ステージユニット 13 電磁マグネットチャックユニット 14 下プレート 14A 下治具 14B 微動テーブル 14C 固定ボルト 14D スプリング 15 上下ヘッドユニット 15a 小型エアーシリンダーユニット 16 上プレート 16A プローブブロック 16a 通し穴 16b 固定チャック 17 大型エアーシリンダーユニット 18 アライメントカメラユニット 19 バックライト DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Liquid crystal panel 10 Table 11 Support mechanism 12 XY (theta) axis fine movement stage unit 13 Electromagnetic magnet chuck unit 14 Lower plate 14A Lower jig 14B Fine movement table 14C Fixing bolt 14D Spring 15 Upper and lower head unit 15a Small air cylinder unit 16 Upper plate 16A Probe block 16a Through hole 16b Fixed chuck 17 Large air cylinder unit 18 Alignment camera unit 19 Backlight
Claims (3)
させて装着し、前記液晶パネルを点灯させて検査する液
晶パネルの点灯検査装置であって、 前記プローブが配設されて前記液晶パネルを一面側から
保持する第1のプレートと、 前記液晶パネルを他面側から保持する第2のプレート
と、 前記第1のプレートと第2のプレートとを連結する連結
機構と、 前記連結機構により連結された前記第1及び第2のプレ
ートを着脱する着脱機構とを備え、 前記第1のプレートは、前記連結機構により前記第2の
プレートに連結される第1のサブプレートと、該第1の
プレートの2次元平面内において可動なように前記第1
のサブプレートと結合した第2のサブプレートとを備え
たことを特徴とする液晶パネルの点灯検査装置。1. A lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel, wherein a probe is brought into contact with an electrode terminal of a liquid crystal panel to be mounted thereon, and the liquid crystal panel is lit and inspected. A first plate that holds the liquid crystal panel from the other side, a second plate that holds the liquid crystal panel from the other side, a connection mechanism that connects the first plate and the second plate, and a connection mechanism that is connected by the connection mechanism. An attachment / detachment mechanism for attaching / detaching the first and second plates, wherein the first plate is connected to the second plate by the connection mechanism, and the first plate is attached to the first plate. The first so as to be movable in a two-dimensional plane of
A lighting inspection device for a liquid crystal panel, comprising: a second sub-plate coupled to the first sub-plate.
能で且つ前記2次元平面に対して垂直方向に移動が可能
なステージと、前記ステージの移動及び回転の量を調節
する調節機構と、前記ステージと第2のサブプレートと
を一時的に結合する結合機構とを備え、 液晶パネルの電極端子にプローブを接触させて装着する
に際して、前記結合機構により前記第2のサブプレート
と前記ステージとを一時的に結合し、前記調節機構によ
り前記2次元平面内において前記ステージの移動及び回
転を調節し、前記電極端子と前記プローブとの位置合わ
せを行うことを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル
の点灯検査装置。2. A stage that can move and rotate in a two-dimensional plane and that can move in a direction perpendicular to the two-dimensional plane, an adjustment mechanism that adjusts the amount of movement and rotation of the stage, And a coupling mechanism for temporarily coupling the stage and the second sub-plate. When the probe is brought into contact with the electrode terminal of the liquid crystal panel and mounted, the coupling mechanism couples the second sub-plate and the stage. 2. The liquid crystal according to claim 1, wherein the liquid crystal is temporarily coupled, and the movement and rotation of the stage are adjusted in the two-dimensional plane by the adjustment mechanism, so that the electrode terminal and the probe are aligned. 3. Panel lighting inspection device.
補修装置を結合して備えたことを特徴することを請求項
2に記載の液晶パネルの点灯検査装置。3. The lighting inspection apparatus for a liquid crystal panel according to claim 2, further comprising a repairing device for repairing a defective portion of the liquid crystal panel.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8184729A JPH1031225A (en) | 1996-07-15 | 1996-07-15 | LCD panel lighting inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8184729A JPH1031225A (en) | 1996-07-15 | 1996-07-15 | LCD panel lighting inspection device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1031225A true JPH1031225A (en) | 1998-02-03 |
Family
ID=16158351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8184729A Pending JPH1031225A (en) | 1996-07-15 | 1996-07-15 | LCD panel lighting inspection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1031225A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6820975B2 (en) | 2000-09-01 | 2004-11-23 | Konica Corporation | Inkjet recording apparatus and inkjet recording method |
| JP2008122145A (en) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Micronics Japan Co Ltd | Probe positioning method, movable probe unit mechanism, and inspection apparatus |
| CN108594493A (en) * | 2018-06-14 | 2018-09-28 | 广东速美达自动化股份有限公司 | A kind of automatic aligning testing agency |
| CN111505847A (en) * | 2020-03-30 | 2020-08-07 | 苏州申翰智能机器人有限公司 | Full-automatic quality inspection machine for liquid crystal panel |
-
1996
- 1996-07-15 JP JP8184729A patent/JPH1031225A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6820975B2 (en) | 2000-09-01 | 2004-11-23 | Konica Corporation | Inkjet recording apparatus and inkjet recording method |
| JP2008122145A (en) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Micronics Japan Co Ltd | Probe positioning method, movable probe unit mechanism, and inspection apparatus |
| CN108594493A (en) * | 2018-06-14 | 2018-09-28 | 广东速美达自动化股份有限公司 | A kind of automatic aligning testing agency |
| CN111505847A (en) * | 2020-03-30 | 2020-08-07 | 苏州申翰智能机器人有限公司 | Full-automatic quality inspection machine for liquid crystal panel |
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