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JPH01292551A - Memory retention status check device - Google Patents

Memory retention status check device

Info

Publication number
JPH01292551A
JPH01292551A JP63121859A JP12185988A JPH01292551A JP H01292551 A JPH01292551 A JP H01292551A JP 63121859 A JP63121859 A JP 63121859A JP 12185988 A JP12185988 A JP 12185988A JP H01292551 A JPH01292551 A JP H01292551A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
capacitor
memory
terminal voltage
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63121859A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiromi Imai
今井 博美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63121859A priority Critical patent/JPH01292551A/en
Publication of JPH01292551A publication Critical patent/JPH01292551A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To correctly check the storage holding state of a memory by estimating the remaining terminal voltage of a capacitor measured at application of a power supply and necessary for checking said storage holding state based on the terminal voltage of the capacitor measured after a fixed time and the charging characteristics. CONSTITUTION:When a power supply is applied again at the time ton, the control voltage E1 reaches the level of the prescribed voltage VE1 of a logic circuit in a short period. At the same time, the memory back-up voltage E2 rises up to the level of the voltage VE2 from the level of the remaining voltage V0 of a capacitor. The value of the VE2 is equal to the value obtained by subtracting the value of the forward voltage of a diode D1 from the value of the control power supply voltage V1. Then the level of the terminal voltage EC of the capacitor C rises up based on the time constant obtained between a resistance R and the capacitor C. A CPU 2 obtains the back-up voltage V0 at the second application of the power supply and compares this with the minimum voltage VS necessary for back-up of a memory M. Then the alarm output, etc., are processed when V0<VS is satisfied. In such a way, the voltage V0 is compared with the terminal voltage of the capacitor C when a fixed time passed after the application of the power supply. Thus the storage state of the memory M is checked.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的1 (産業上の利用分野) この発明は、コンデンサにより電源バックアップがなさ
れたメモリの電源再投入時における記憶保持状態をチェ
ックするための記憶保持状態チェック装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Objective of the Invention 1 (Industrial Application Field) This invention provides a memory retention state checking device for checking the memory retention state of a memory whose power is backed up by a capacitor when the power is turned on again. Regarding.

(従来の技術) プログラマブル・コントローラなどの制御装置において
は、コンデンサにより電源バックアップがなされたメモ
リ(例えばCMOSメモリ)が、データやプロア’ラム
の保持用として使用されている。
(Prior Art) In a control device such as a programmable controller, a memory (for example, a CMOS memory) whose power is backed up by a capacitor is used to hold data and programs.

この種メモリの記憶保持状態は、電源バックアップ用コ
ンデンサの残留端子電圧の値に依存し、また残留端子電
圧の値は電源遮断中所定の時定数カーブを描きながら徐
々に低下していく。
The memory retention state of this type of memory depends on the value of the residual terminal voltage of the power supply backup capacitor, and the value of the residual terminal voltage gradually decreases while drawing a predetermined time constant curve during power interruption.

そこで、この種のメモリを使用した制御装置においては
、メモリ電源バックアップ用コンデンサの電源再投入時
における残留端子電圧を、当該メモリの記憶保持に必要
な規定電圧と比較することにより、当該メモリの記憶保
持状態をチェックするようにした記憶保持状態チェック
装置が設けられている。
Therefore, in a control device using this type of memory, the residual terminal voltage of the memory power backup capacitor when the power is turned on again is compared with the specified voltage required to retain the memory in the memory. A memory retention state checking device is provided for checking the retention state.

ところで、メモリ電源バックアップ用コンデンサの端子
電圧の値は、電源再投入と共に所定の時定数カーブを描
いて直ちに上昇を開始するのに対し、記憶保持状態チェ
ック装置を構成するマイクロプロセッサ、ロジックIC
などは電源役人後その駆動電圧が規定値に達するまでは
動作することができない。
By the way, the value of the terminal voltage of the memory power backup capacitor immediately starts to rise following a predetermined time constant curve when the power is turned on again, whereas
etc. cannot operate until its driving voltage reaches the specified value after the power supply official.

したがって電源再投入後マイクロプロセッサ。Therefore after power cycling the microprocessor.

ロジックICなどが作動するのを待ってから、電源バッ
クアップ用コンデンサの端子電圧を検出してこれを規定
電圧と比較したのでは、記憶保持状態のチェックを正確
に行なうことはできない。
If the terminal voltage of the power backup capacitor is detected and compared with the specified voltage after waiting for the logic IC or the like to operate, the memory retention state cannot be accurately checked.

そこで、従来この主の記憶保持状態チェック装置では、
電源投入後マイクロプロセッサ、ロジックICなどが作
動するまでの間は、メモリ電源バックアップ用コンデン
サの端子電圧を、電源再投入時の状態に保持するという
手法が採用されている。
Therefore, in the conventional memory retention status check device,
After the power is turned on, until the microprocessor, logic IC, etc. are activated, a method is adopted in which the terminal voltage of the memory power supply backup capacitor is maintained at the state at which the power was turned on again.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、このような従来の端子電圧保持型の記憶
保持状態チェック装置は、電源再投人後所定時間にあっ
ては電源バックアップ用コンデンサに対する充電を停止
させ、その後にあっては自動的に充電を行なわせるとい
った切換え回路が必要となり、システムのハードウェア
構成が複雑になるという問題点があった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, such a conventional terminal voltage holding type memory retention state checking device stops charging the power backup capacitor for a predetermined time after the power is turned on again, and then stops charging the power backup capacitor. In this case, a switching circuit is required to automatically perform charging, which poses the problem of complicating the hardware configuration of the system.

この発明の目的は、電源再投入後の、所定時間は電源バ
ックアップ用コンデンサに対する充電を停止させ、その
後は自動的に充電を開始させるといった複雑な切換え回
路を使用することなく、この種のメモリの記憶保持状態
を正確にチェックできるようにした記憶保持状態チェッ
ク装置を提供することにある。
An object of the present invention is to stop charging the power backup capacitor for a predetermined period of time after the power is turned on again, and then automatically start charging. To provide a memory retention state checking device capable of accurately checking a memory retention state.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は、上記の目的を達成するなめにメモリ電源バ
ックアップ用コンデンサの電源再投入時における残留端
子電圧を、当該メモリの記憶保持に必要な規定電圧と比
較することにより、当該メモリの記憶保持状態をチェッ
クするようにした記憶保持状態チェック装置において、 前記メモリの記憶保持状態チェックに必要な電源再投入
時におけるコンデンサ残留端子電圧を、電源投入後の充
電過渡期において一定時間経過した時点におけるコンデ
ンサ端子電圧と当該コンデンサ充電回路の充電特性とに
基いて推定し、該推定残留端子電圧を用いて前記記憶保
持状態のチェックを行なうことを特徴とするものである
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention reduces the residual terminal voltage of the memory power backup capacitor when the power is turned on again to maintain the memory of the memory. In a memory retention state checking device that checks the memory retention state of the memory by comparing it with a specified voltage, the capacitor residual terminal voltage required for checking the memory retention state of the memory when the power is turned on again is determined when the power is turned on. The memory retention state is checked based on the estimated residual terminal voltage based on the capacitor terminal voltage and the charging characteristic of the capacitor charging circuit at the time when a certain period of time has elapsed in the subsequent charging transition period. It is something to do.

(作用) このような構成によれば、電源投入後の充電過渡期にお
いて一定時間経過した時点におけるコンデンサ端子電圧
と当該コンデンサ充電回路の充電特性とに基いて電源再
投入時におけるコンデンサ残留端子電圧を推定している
ため、電源再投入と共にバックアップ用コンデンサに対
し直ちに充電を行なわせることができ、その結果複雑な
切換え回路を用いることなく、この種メモリの記憶保持
状態を正確にチェックすることができる。
(Function) According to this configuration, the residual terminal voltage of the capacitor when the power is turned on again is calculated based on the capacitor terminal voltage after a certain period of time has elapsed during the charging transition period after the power is turned on, and the charging characteristics of the capacitor charging circuit. Since this is estimated, the backup capacitor can be charged immediately when the power is turned on again, and as a result, the memory retention status of this type of memory can be accurately checked without using a complicated switching circuit. .

(実施例) 第1図は、本発明に係る記憶保持状態チェック装置が適
用されたプログラマブル・コントローラのハードウェア
構成を示すブロック図である。
(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing the hardware configuration of a programmable controller to which a memory retention state checking device according to the present invention is applied.

同図においてメモリMはCMO8,RA’Mなどの揮発
性メモリで構成されており、電源断後にあっては大容量
のコンデンサ(スーパーコンデンサ等)Cによって電源
バックアップがなされている。
In the figure, the memory M is composed of volatile memories such as CMO8 and RA'M, and after the power is cut off, the power is backed up by a large capacity capacitor (such as a supercapacitor) C.

ダイオードD1は電源断時のバックアップ電流逆流を防
止するものであり、電源投入時における順方向電圧降下
を小さくするためにはこのダイオードD1をトランジス
タに変えてもよい。
The diode D1 prevents backup current from flowing backward when the power is turned off, and in order to reduce the forward voltage drop when the power is turned on, the diode D1 may be replaced with a transistor.

抵抗Rは、コンデンサCが大容量のものを使用するため
、電源再投入時における突入電流を制限し、過大充電電
流による電源立上がり時間の遅れや電源関連素子へのス
I・レスを防止するためのものである。
Since the capacitor C has a large capacity, the resistor R is used to limit the inrush current when the power is turned on again, and to prevent delays in power supply startup time and damage to power supply related elements due to excessive charging current. belongs to.

コンデンサCの端子電圧ECはA/D変換器1を介して
、マイクロプロセッサ、ROM、’RAMを主体とした
CPU2に読込みが可能になされており、このCPU2
によって後述するようにメモリMの記憶保持状態チェッ
クに必要な演算が行なわれる。
The terminal voltage EC of the capacitor C can be read through the A/D converter 1 into a CPU 2 mainly composed of a microprocessor, ROM, and RAM.
As will be described later, calculations necessary for checking the storage retention state of the memory M are performed.

そして、記憶保持状態のチェックの結果それが異常であ
る場合には、警報出力Aを発するなどの処理を行なうよ
うになされている。
If the memory retention state is found to be abnormal as a result of checking, processing such as issuing an alarm output A is performed.

すなわち、第2図に示されるように、CPtJ2では電
源投入直後のイニシアル処理として、コンデンサCの端
子電圧ECの値をA/D変換し、これを■1として記憶
させた後(ステップ201)、時間toが経過するたび
に、第2.第3のA/D変換処理を行ない、その時点の
端子電圧ECの値をv2 、 V、3として記憶させる
(ステップ202゜203)。
That is, as shown in FIG. 2, in the CPtJ2, as an initial process immediately after the power is turned on, the value of the terminal voltage EC of the capacitor C is A/D converted, and this is stored as ■1 (step 201). Every time the time to elapses, the second. A third A/D conversion process is performed, and the value of the terminal voltage EC at that time is stored as v2, V, 3 (steps 202 and 203).

その後、■1〜V3の値を用いて、次式に基き電源再投
入時におけるコンデンサCの残留端子電圧V(、の値を
演算により推定する(ステップ204)。
Thereafter, using the values 1 to V3, the value of the residual terminal voltage V(,) of the capacitor C when the power is turned on again is estimated by calculation based on the following equation (step 204).

そして、演算により推定された残留端子電圧VOの値が
当該メモリMの記憶保持に必要な規定電圧VSに満たな
い場合には(ステップ205NO)、バックアップ電圧
異常として警報出力を発したり、必要なアラーム処理な
どを行なうようになされている(ステップ206)。
If the value of the residual terminal voltage VO estimated by the calculation is less than the specified voltage VS necessary for memory retention in the memory M (step 205 NO), an alarm output is issued as a backup voltage abnormality, or a necessary alarm is issued. Processing etc. are performed (step 206).

次に、以上の構成よりなる記憶保持状態チェック装置の
動作を第3図の電圧波形図を参照しながら説明する。
Next, the operation of the memory retention state checking device having the above configuration will be explained with reference to the voltage waveform diagram in FIG.

第3図は、第1図における制御電源電圧El。FIG. 3 shows the control power supply voltage El in FIG.

メモリバックアップ電圧E2およびコンデンサ端子電圧
ECの時間的な推移を示す電圧波形図である。
5 is a voltage waveform diagram showing temporal changes in memory backup voltage E2 and capacitor terminal voltage EC. FIG.

電源再投入時t on以前にあっては、制御電源電圧E
1の値はOVであるが、メモリバックアップ電圧E2の
値はコンデンサCによりバックアップされている結果、
所定の電位を保っている。
Before the power is turned on again, the control power supply voltage E
The value of 1 is OV, but the value of memory backup voltage E2 is backed up by capacitor C, so
Maintains a predetermined potential.

このとき、メモリMへの電流は一般的に非常に小さい値
(マイクロアンペアオーダまたはそれ以下)であり、ま
た電流制限抵抗Rの値は一般には数Ωから数100Ωで
あるため、電源再投入時TON以前におけるメモリバッ
クアップ電圧E2の値はコンデンサ端子電圧ECの値と
ほぼ等しくなっている。
At this time, the current to the memory M is generally a very small value (on the order of microamperes or less), and the value of the current limiting resistor R is generally from several ohms to several 100 ohms, so when the power is turned on again, The value of the memory backup voltage E2 before TON is approximately equal to the value of the capacitor terminal voltage EC.

この状態において時刻t onにおいて電源が再投入さ
れると、制御電源電圧E1の値は短時間で論理回路の規
定電圧VEI(一般には5V)に達し、またメモリバッ
クアップ電圧E2の値はコンデンサの残留端子電圧Vo
からVB2まで上昇する。
When the power is turned on again at time t on in this state, the value of the control power supply voltage E1 reaches the specified voltage VEI of the logic circuit (generally 5V) in a short time, and the value of the memory backup voltage E2 increases due to the residual voltage of the capacitor. Terminal voltage Vo
It increases from to VB2.

ここでVB2の値は制御電源電圧V1の値からダイオー
ドD1の順方向電圧の値を差引いた値である。
Here, the value of VB2 is the value obtained by subtracting the value of the forward voltage of diode D1 from the value of control power supply voltage V1.

その後、コンデンサCの端子電圧ECの値は、抵抗Rと
コンデンサCとによる時定数と電圧VE2とで定まる充
電特性に基づき、次式に従って上昇する。
Thereafter, the value of the terminal voltage EC of the capacitor C increases according to the following equation based on the charging characteristic determined by the time constant of the resistor R and the capacitor C and the voltage VE2.

EC=VE2×(1−e−=)      ・・・(1
)ここで、TCは抵抗Rの抵抗値RとコンデンサCの容
量値Cとで定まる時定数(TC=CXR)である。
EC=VE2×(1-e-=)...(1
) Here, TC is a time constant determined by the resistance value R of the resistor R and the capacitance value C of the capacitor C (TC=CXR).

電源投入後の各時刻1.〜t3におけるコンデンサ端子
電圧ECの値を■1〜■3とすると、■1〜V3は上述
した(1)穴上に存在する。
Each time after power on 1. Assuming that the values of the capacitor terminal voltage EC at ~t3 are 1 to 3, 1 to V3 exist on the hole (1) described above.

また、電源投入後にCPU2がA/D変換器1を通して
最初にコンデンサ端子電圧ECの値を読込むまでの時間
をtRとすると、時間tRの値はCPU2のリセット時
間とCPU動作後の最初の読込み時間の和となり、これ
はほぼ一定の値となる。
Also, if tR is the time it takes for the CPU 2 to first read the value of the capacitor terminal voltage EC through the A/D converter 1 after the power is turned on, then the value of the time tR is the reset time of the CPU 2 and the first reading after the CPU operates. This becomes the sum of time, and this value is approximately constant.

一方、コンデンサ端子電圧ECのその後の読込み間隔t
oについては、CPU2に内蔵されたタイマ機能により
一定値に保たれている。
On the other hand, the subsequent reading interval t of the capacitor terminal voltage EC
o is kept at a constant value by a timer function built into the CPU 2.

例えば、t R=t Dとすれば、上述した(1)式の
指数関数特性から、次式の条件が成立する。
For example, if t R = t D, the following condition holds true from the exponential characteristic of equation (1) described above.

K=定数 (2)式を変形すると、 となり、CPU2によって(3)式に基き電源再投入時
(ton)のバックアップ電圧Voを求めることができ
る。
K=Constant When the equation (2) is transformed, the CPU 2 can calculate the backup voltage Vo at the time of turning on the power again (ton) based on the equation (3).

ここで(3)式は時定数の変化によらず適用が可能であ
る。
Here, equation (3) can be applied regardless of changes in the time constant.

ついでCPU2では演算により推定された残留端子電圧
Voの値をメモリバックアップに必要な最低電圧VSと
比較し、Vo<VSであればメモリバックアップ電源電
圧が不足であるとしてアラーム出力などの処理を行なう
わけである。
Next, the CPU 2 compares the value of the residual terminal voltage Vo estimated by calculation with the minimum voltage VS required for memory backup, and if Vo<VS, it determines that the memory backup power supply voltage is insufficient and performs processing such as outputting an alarm. It is.

このように、本実施例装置によれば、メモリの記憶保持
状態チェックに必要な電源再投入時りおけるコンデンサ
残留端子電圧Voの値を、電源投入後の充電過渡期にお
いて一定時間経過した時点t1.t2.t3におけるコ
ンデンサ端子電圧■1 、v2 、v3と当該コンデン
サ充電回路の充電特性とに基いて推定し、該推定残留端
子電圧を用いてメモリ記憶保持状態のチェックを行なう
ようにしているのである。     ゛ したがって、電源再投入直後からコンデンサCに対し充
電を開始させることができ、その結果従来装置のように
複雑な充電切換え回路、を設けることが不要となるので
ある。
As described above, according to the device of this embodiment, the value of the capacitor residual terminal voltage Vo, which is required to check the storage retention state of the memory when the power is turned on again, is set at the time t1 when a certain period of time has elapsed in the charging transition period after the power is turned on. .. t2. It is estimated based on the capacitor terminal voltages 1, v2, v3 at t3 and the charging characteristics of the capacitor charging circuit, and the estimated residual terminal voltage is used to check the memory storage retention state. Therefore, charging of the capacitor C can be started immediately after the power is turned on again, and as a result, there is no need to provide a complicated charging switching circuit as in the conventional device.

なお、第3図において、時間t、R≦、tDのときの残
留端子電圧VoをVo・−とすれば、次式で示されるよ
うに、直線補間によりコンデンサ残留端子電圧Voを求
めることもできる。
In addition, in Fig. 3, if the residual terminal voltage Vo at time t, R≦, tD is set to Vo・-, then the capacitor residual terminal voltage Vo can also be determined by linear interpolation as shown by the following equation. .

また、時間tRに比して時定数TOが十分大きい場合に
は、Vlの値はほぼVoに等しくなるので、Vlのみに
よってもバックアップ電源電圧の大概の判定が可能とな
る。
Further, when the time constant TO is sufficiently large compared to the time tR, the value of Vl becomes approximately equal to Vo, so that it is possible to roughly determine the backup power supply voltage based only on Vl.

以上の説明中において、時定数TOの値はバックアップ
コンデンサCの容量はO,OIF〜1、OFレベルのオ
ーダーであるなめ、一般には数秒から数100秒程程度
値となり、その結果制御装置のCPU2で充分に処理が
可能となるものである。
In the above explanation, since the capacity of the backup capacitor C is on the order of O, OIF ~ 1, OF level, the value of the time constant TO is generally a value of about several seconds to several hundred seconds, and as a result, the value of the time constant TO is on the order of several seconds to several hundred seconds. This allows sufficient processing.

次に、第4図はCPU3としてアナログ入力付きのもの
を使用した実施例を示すブロック図である。
Next, FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment in which a CPU 3 with an analog input is used.

同実施例においては、電源断時のバックアップ電流がA
/D変換器の入力側へ矢印ILのごとく洩れることを防
止するために、ダイオードD2・を付加している′。
In this embodiment, the backup current when the power is turned off is A
In order to prevent leakage to the input side of the /D converter as shown by the arrow IL, a diode D2 is added.

ここで制御電源電圧E1に接続しているプルアップ抵抗
Rχは、電流制限抵抗Rに比べ十分大きくかつアナログ
入力回路のインピーダンスより小さくすれば、コンデン
サ端子電圧ECの電圧はダイオードD2の順方向電圧降
下を補正して求めることができる。
If the pull-up resistor Rχ connected to the control power supply voltage E1 is made sufficiently larger than the current limiting resistor R and smaller than the impedance of the analog input circuit, the voltage of the capacitor terminal voltage EC will be reduced by the forward voltage drop of the diode D2. can be calculated by correcting.

尚、以上の各実施例においては、プログラマブル・コン
トローラの制御に使用されているCPUの機能の一部を
利用して記憶保持状態のチェックを行なったが、電源投
入後の充電過渡期において一定時間経過した時点におけ
るコンデンサ端子電圧と当該コンデンサ充電回路の充電
特性とに基いて電源再投入時におけるバックアップ用コ
ンデンサの残留端子電圧を演算により推定する処理にっ
いては、これを専用のハードウェア回路によって行なう
こともできることは勿論である。 。
In each of the above embodiments, the memory retention state was checked using part of the functions of the CPU used to control the programmable controller. The process of calculating and estimating the residual terminal voltage of the backup capacitor when the power is turned on again based on the capacitor terminal voltage at the elapsed time and the charging characteristics of the capacitor charging circuit is carried out by a dedicated hardware circuit. Of course, you can do it. .

[発明の効果J 以上の説明で明らかなように、本発明によればメモリの
記憶保持状態チェックに必要な電源再投入時におけるコ
ンデンサ残留端子電圧を、電源投入後の充電過渡期にお
いて一定時間経過した時点におけるコンデンサ端子電圧
と当該コンデンサ充電回路の充電特性とに基いて演算に
より推定し、該推定残留端子電圧を用いて当該メモリの
記憶保持状態チェックを行なったため、電源再投入時の
直後からコンデンサに対する充電を開始させることがで
き、そのため、従来装置で必要とされた複雑な切換え回
路が不要となり、ハードウェア構成の簡素化を図ること
ができる。
[Effect of the Invention J As is clear from the above explanation, according to the present invention, the residual terminal voltage of the capacitor when the power is turned on again, which is necessary for checking the storage retention state of the memory, is measured after a certain period of time has elapsed during the charging transition period after the power is turned on. Since the memory retention status of the memory was checked using the estimated residual terminal voltage based on the capacitor terminal voltage and the charging characteristics of the capacitor charging circuit at the time when the capacitor was turned on again, the capacitor was Therefore, the complicated switching circuit required in the conventional device is not required, and the hardware configuration can be simplified.

また、実施例のように電源投入時から所定時間間隔にて
コンデンサ端子電圧を複数回読込み、それらの値に基き
電源再投入時における残留端子電圧を演算により推定す
れば、バックアップ用コンデンサの容量バラツキあるい
は経年変化等に伴う充電特性曲線のずれを補正し、メモ
リ記憶保持状態のチェックをより一層確実に行なうこと
ができる。
In addition, as in the example, if the capacitor terminal voltage is read multiple times at predetermined time intervals from the time the power is turned on, and the residual terminal voltage when the power is turned on again is estimated by calculation based on those values, the capacitance variation of the backup capacitor can be reduced. Alternatively, it is possible to correct the deviation of the charging characteristic curve due to secular change, etc., and to check the memory storage retention state more reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明が適用されたプログラマブル・コントロ
ーラのハードウェア構成を示すブロック図、第2図は同
ソフトウェア構成を示すフローチャート、第3図は第1
図における各部の信号状態を示す波形図、第4図は本発
明の他の実施例を示すブロック図である。 1・・・A/D変換器 2.3・・・CPU M・・・メモリ C・・・メモリ電源バックアップ用コンデンサEC・・
・コンデンサ端子電圧 Co・・・電源再投入時における残留端子電圧代理人 
弁理士 則 近 憲 佑 代理人 弁理士 山 下   −
FIG. 1 is a block diagram showing the hardware configuration of a programmable controller to which the present invention is applied, FIG. 2 is a flowchart showing the software configuration, and FIG.
FIG. 4 is a waveform diagram showing the signal states of each part in the figure, and FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. 1...A/D converter 2.3...CPU M...Memory C...Memory power supply backup capacitor EC...
・Capacitor terminal voltage Co...Residual terminal voltage agent when power is turned on again
Patent Attorney Noriyuki Chika Agent Patent Attorney Yamashita −

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)メモリ電源バックアップ用コンデンサの電源再投
入時における残留端子電圧を、当該メモリの記憶保持に
必要な規定電圧と比較することにより、当該メモリの記
憶保持状態をチェックするようにした記憶保持状態チェ
ック装置において、 前記メモリの記憶保持状態チェックに必要な電源再投入
時におけるコンデンサ残留端子電圧を、電源投入後の充
電過渡期において一定時間経過した時点におけるコンデ
ンサ端子電圧と当該コンデンサ充電回路の充電特性とに
基いて推定し、該推定残留端子電圧を用いて前記記憶保
持状態のチェックを行なうこと、 を特徴とする記憶保持状態チェック装置。
(1) Memory retention state in which the memory retention state of the memory is checked by comparing the residual terminal voltage of the memory power backup capacitor when the power is turned on again with the specified voltage required for memory retention of the memory. In the checking device, the residual terminal voltage of the capacitor when the power is turned on again, which is necessary to check the storage retention state of the memory, is determined by the capacitor terminal voltage at the time when a certain period of time has elapsed during the charging transition period after the power is turned on, and the charging characteristics of the capacitor charging circuit. A memory retention state checking device characterized in that the memory retention state is checked using the estimated residual terminal voltage.
JP63121859A 1988-05-20 1988-05-20 Memory retention status check device Pending JPH01292551A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63121859A JPH01292551A (en) 1988-05-20 1988-05-20 Memory retention status check device

Applications Claiming Priority (1)

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JP63121859A JPH01292551A (en) 1988-05-20 1988-05-20 Memory retention status check device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01292551A true JPH01292551A (en) 1989-11-24

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ID=14821701

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JP63121859A Pending JPH01292551A (en) 1988-05-20 1988-05-20 Memory retention status check device

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