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JPH06242191A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

Info

Publication number
JPH06242191A
JPH06242191A JP5026511A JP2651193A JPH06242191A JP H06242191 A JPH06242191 A JP H06242191A JP 5026511 A JP5026511 A JP 5026511A JP 2651193 A JP2651193 A JP 2651193A JP H06242191 A JPH06242191 A JP H06242191A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
input
clocked inverter
type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5026511A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Notoya
晃一 能登谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5026511A priority Critical patent/JPH06242191A/en
Publication of JPH06242191A publication Critical patent/JPH06242191A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】動作が異なる数種類のICチップの種別を外部
から電気的に判別し得る種別認識信号を生成し、ICチ
ップの種別を短時間で正確に判別可能にする。 【構成】製造時に少なくとも1層分の配線のパターンを
決めるために使用される配線マスクの種別に応じて回路
動作の種別が設定された内部回路と、外部入出力端子2
5に接続されたデータバス信号線DBUSに対して入力
用クロックドインバータ回路17〜20を介して接続さ
れた入力回路23、24および出力回路22と、制御入
力をデコードして入力用クロックドインバータ回路およ
び出力用クロックドインバータ回路を制御するための制
御信号gi、l、nを生成するデコーダ回路9〜12
と、少なくとも1個の出力用クロックドインバータ回路
の入力ノードと2つの電源ノードのうちのいずれか一方
とを接続する配線26からなる種別認識信号生成回路2
1とを具備することを特徴とする。
(57) [Summary] [Object] To generate a type recognition signal capable of electrically determining the types of IC chips having different operations from the outside, and to accurately determine the type of an IC chip in a short time. An internal circuit in which a type of circuit operation is set according to a type of a wiring mask used for determining a wiring pattern for at least one layer at the time of manufacturing, and an external input / output terminal 2
The input circuit 23, 24 and the output circuit 22 connected to the data bus signal line DBUS connected to the data bus 5 via the input clocked inverter circuits 17 to 20, and the input clocked inverter by decoding the control input. Decoder circuits 9-12 for generating control signals gi, l, n for controlling the circuit and the output clocked inverter circuit
And a wiring 26 connecting at least one output clocked inverter circuit input node and one of the two power supply nodes to each other.
1 is provided.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路(I
C)に係り、特に同一のチップサイズを有し、動作が異
なる数種類のICの種別を外部から判別するために使用
される手段に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor integrated circuit (I
The present invention relates to C), and more particularly, to a means used for externally determining the types of ICs having the same chip size but different operations.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、ICの製造に際して、それぞれ
同一の回路構成を有するが動作が異なる数種類のICを
製造することがある。これを実現するため、チップ上に
搭載されているROM(読み出し専用メモリ)のデータ
を変更したり、少なくとも1層分の配線(例えばメタル
配線)のパターンを決めるための配線マスクを製造時に
変更している。
2. Description of the Related Art Generally, when manufacturing ICs, there are cases where several types of ICs having the same circuit configuration but different operations are manufactured. To achieve this, the data in the ROM (read-only memory) mounted on the chip is changed, or the wiring mask for determining the pattern of the wiring (for example, metal wiring) for at least one layer is changed at the time of manufacturing. ing.

【0003】従来、上記したように製造されたICの種
別を外部から判別し得るように、オペレータがICチッ
プ上を顕微鏡などで覗くことによりパターンを認識し得
る認識用パターンを配線層で予め作成しておいたり、I
Cチップをパッケージングして出荷する場合にはパッケ
ージ面に認識用文字を表示している。
Conventionally, in order that the type of the IC manufactured as described above can be discriminated from the outside, a recognition pattern which allows the operator to recognize the pattern by looking through the IC chip with a microscope or the like is created in advance in the wiring layer. Or I
When the C chip is packaged and shipped, the recognition character is displayed on the package surface.

【0004】なお、図5は、ROMデータの変更により
数種類のICを製造する際にICチップ上に認識用パタ
ーンを作成するために使用されるメタル配線マスクのパ
ターンの一例を示しており、この認識用パターン51は
ROMのコード番号(ROMデータの内容に対応する)
を示している。
FIG. 5 shows an example of a metal wiring mask pattern used to create a recognition pattern on an IC chip when several types of ICs are manufactured by changing ROM data. The recognition pattern 51 is the code number of the ROM (corresponding to the contents of the ROM data)
Is shown.

【0005】しかし、上記したようにICチップの種別
を判別する際、オペレータが個々のICチップ上を顕微
鏡などで覗くことは、所要時間が長くなり、疲労などに
よる判別ミスが生じるおそれがあり、その対応策が望ま
れている。
However, as described above, when the type of the IC chip is discriminated, it takes a long time for the operator to look through the individual IC chips with a microscope or the like, which may cause a discrimination error due to fatigue or the like. The countermeasure is desired.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
ICは、チップの種別を判別する際にオペレータが個々
のICチップ上を顕微鏡などで覗く必要があり、所要時
間が長くなり、疲労などによる判別ミスが生じるおそれ
があるという問題があった。
As described above, in the conventional IC, the operator needs to look through the individual IC chips with a microscope or the like when determining the chip type, which requires a long time, fatigue, etc. There was a problem that there is a possibility that a discrimination error may occur due to.

【0007】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、動作が異なる数種類のICチップの種別を外
部から電気的に判別でき、ICチップの種別を短時間で
正確に判別することが可能になる半導体集積回路を提供
することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and it is possible to electrically determine the types of several types of IC chips having different operations from the outside, and to accurately determine the types of IC chips in a short time. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit that enables the above.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、製造時に少な
くとも1層分の配線のパターンを決めるために使用され
る配線マスクの種別に応じて回路動作の種別が設定され
た集積回路チップ上の回路と、集積回路チップの外部入
出力端子に接続されている少なくとも1本のデータバス
信号線と、このデータバス信号線に対して入力用クロッ
クドインバータ回路を介して接続された少なくとも1個
の入力回路と、前記データバス信号線に対して出力用ク
ロックドインバータ回路を介して接続された少なくとも
1個の出力回路と、制御入力をデコードして前記入力用
クロックドインバータ回路および出力用クロックドイン
バータ回路を制御するための制御信号を生成するデコー
ダ回路と、前記出力用クロックドインバータ回路のうち
の少なくとも1個の入力ノードと2つの電源ノードのう
ちのいずれか一方とを接続する配線からなる種別認識信
号生成回路とを具備することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to an integrated circuit chip in which the type of circuit operation is set according to the type of wiring mask used to determine the wiring pattern for at least one layer during manufacturing. A circuit, at least one data bus signal line connected to an external input / output terminal of an integrated circuit chip, and at least one data bus signal line connected to the data bus signal line via an input clocked inverter circuit. An input circuit, at least one output circuit connected to the data bus signal line via an output clocked inverter circuit, and a control input to decode the input clocked inverter circuit and the output clocked inverter circuit. At least one of a decoder circuit for generating a control signal for controlling the inverter circuit and the output clocked inverter circuit Characterized by comprising a type recognition signal generating circuit consisting of one and connecting the wiring of the input nodes and two power supply nodes.

【0009】[0009]

【作用】ICチップの種別をチップ外部で電気的に判別
し得る種別認識信号を生成するための種別認識信号生成
回路を有するので、ICチップの種別を短時間で正確に
判別することが可能になる。
Since the type recognition signal generating circuit for generating the type recognition signal capable of electrically determining the type of the IC chip outside the chip is included, the type of the IC chip can be accurately determined in a short time. Become.

【0010】しかも、種別認識信号生成回路を、ICの
種別を決めるために使用される配線マスクと同一マスク
に基づいて作成することが可能であり、種別認識信号生
成回路を形成するための専用のマスクを必要としないで
済む。
Moreover, it is possible to make the type recognition signal generation circuit based on the same mask as the wiring mask used for determining the type of IC, and it is dedicated to form the type recognition signal generation circuit. You don't need a mask.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図1は、本発明の一実施例に係るICの一
部を示している。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a part of an IC according to an embodiment of the present invention.

【0012】図1のICは、製造時にマスタースライス
方式のメタル配線の少なくとも1層分のパターンを決め
るために使用される配線マスクの種別に応じてICチッ
プ上に形成され、回路動作の種別が設定された内部回路
(図示せず)を有する。
The IC shown in FIG. 1 is formed on an IC chip according to the type of a wiring mask used for determining a pattern for at least one layer of a master slice type metal wiring at the time of manufacturing, and the type of circuit operation is It has a set internal circuit (not shown).

【0013】図1のICにおいて、1は第1の外部入力
端子、2は第2の外部入力端子、21、22は複数個
(本例では2個)の出力回路、23、24は複数個(本
例では2個)の入力回路、25はICチップの外部入出
力端子、DBUSは上記外部入出力端子25に接続され
ている少なくとも1本以上のデータバス信号線である。
上記第1の外部入力端子1、第2の外部入力端子2は、
各対応してプルアップ用抵抗3、4を介して電源電位V
DDノードに接続されている。
In the IC of FIG. 1, 1 is a first external input terminal, 2 is a second external input terminal, 21 and 22 are plural output circuits (two in this example), and 23 and 24 are plural. (Two in this example) input circuits, 25 is an external input / output terminal of the IC chip, and DBUS is at least one or more data bus signal lines connected to the external input / output terminal 25.
The first external input terminal 1 and the second external input terminal 2 are
Correspondingly, via the pull-up resistors 3 and 4, the power supply potential V
It is connected to the DD node.

【0014】5および6は上記第1の外部入力端子1に
接続されている2段のインバータ回路、7および8は上
記第2の外部入力端子2に接続されている2段のインバ
ータ回路である。
Reference numerals 5 and 6 are two-stage inverter circuits connected to the first external input terminal 1, and reference numerals 7 and 8 are two-stage inverter circuits connected to the second external input terminal 2. .

【0015】4個のノア回路9〜12は、前記各インバ
ータ回路5、6、7、8から入力する制御信号をデコー
ドして制御信号g、i、l、nを生成するデコーダ回路
を形成している。
The four NOR circuits 9 to 12 form a decoder circuit which decodes the control signal input from each of the inverter circuits 5, 6, 7 and 8 to generate control signals g, i, l and n. ing.

【0016】13、14は、上記データバス信号線DB
USに挿入接続されている2段の入力用クロックドイン
バータ回路であり、これらの制御入力として前記2段の
インバータ回路5、6のうちの前段の出力が供給され
る。
Reference numerals 13 and 14 denote the data bus signal lines DB.
This is a two-stage input clocked inverter circuit that is inserted and connected to the US, and the output of the preceding stage of the two-stage inverter circuits 5 and 6 is supplied as these control inputs.

【0017】また、15、16は、上記データバス信号
線DBUSに挿入接続されている2段の出力用クロック
ドインバータ回路であり、これらの制御入力として前記
2段のインバータ回路5、6のうちの後段の出力が供給
されている。
Reference numerals 15 and 16 denote two-stage output clocked inverter circuits which are inserted and connected to the data bus signal line DBUS. Of the two-stage inverter circuits 5 and 6 as their control inputs. The output of the latter stage is being supplied.

【0018】17、18は、上記データバス信号線DB
USと前記入力回路23、24との間に各対応して接続
されている入力用クロックドインバータ回路であり、こ
れらの制御入力として各対応して前記制御信号g、iが
供給される。
Reference numerals 17 and 18 denote the data bus signal line DB.
It is an input clocked inverter circuit connected correspondingly between the US and the input circuits 23, 24, and the control signals g, i are respectively supplied as control inputs thereof.

【0019】19、20は、前記出力回路21、22と
前記データバス信号線DBUSとの間に各対応して接続
されている出力用クロックドインバータ回路であり、こ
れらの制御入力として各対応して前記制御信号l、nが
供給される。さらに、前記出力回路21、22のうちの
少なくとも1個(本例では21)として、種別認識信号
生成回路が設けられている。図2は、上記種別認識信号
生成回路21の一具体例を示す。
Reference numerals 19 and 20 denote clocked inverter circuits for output, which are connected between the output circuits 21 and 22 and the data bus signal line DBUS, respectively, and serve as their control inputs. The control signals 1 and n are supplied. Further, as at least one of the output circuits 21 and 22 (21 in this example), a type recognition signal generation circuit is provided. FIG. 2 shows a specific example of the type recognition signal generation circuit 21.

【0020】この種別認識信号生成回路は、前記出力用
クロックドインバータ回路19の入力ノードと2つの電
源ノード(電源電位VDDノード、接地電位VSSノード)
のうちのいずれか一方とを接続するメタル配線26から
なる。
This type recognition signal generating circuit includes an input node of the output clocked inverter circuit 19 and two power supply nodes (power supply potential VDD node and ground potential VSS node).
The metal wiring 26 is connected to either one of the two.

【0021】この場合、上記メタル配線26のパターン
は、前記ICの内部回路の回路動作の種別を設定するた
めに使用される配線マスクに基づいて形成される。換言
すれば、ICの内部回路の回路動作の種別を設定するた
めのメタル配線と種別認識信号生成回路のメタル配線2
6とは同一配線層により形成されている。次に、上記構
成のICにおける種別認識に係る回路動作について説明
する。 (a)第1の外部入力端子1、第2の外部入力端子2が
共に開放状態の場合。
In this case, the pattern of the metal wiring 26 is formed based on a wiring mask used for setting the type of circuit operation of the internal circuit of the IC. In other words, the metal wiring for setting the type of circuit operation of the internal circuit of the IC and the metal wiring 2 of the type recognition signal generation circuit
6 is formed of the same wiring layer. Next, a circuit operation related to type recognition in the IC having the above configuration will be described. (A) When both the first external input terminal 1 and the second external input terminal 2 are open.

【0022】第1の外部入力端子1の電位はプルアップ
抵抗3により高レベル“H”にプルアップされ、インバ
ータ回路5の出力aは低レベル“L”、インバータ回路
6の出力bは“H”になる。
The potential of the first external input terminal 1 is pulled up to a high level "H" by the pull-up resistor 3, the output a of the inverter circuit 5 is low level "L", and the output b of the inverter circuit 6 is "H". "become.

【0023】同様に、第2の外部入力端子2の電位はプ
ルアップ抵抗4により高レベル“H”にプルアップさ
れ、インバータ回路7の出力cは低レベル“L”、イン
バータ回路8の出力dは“H”になる。
Similarly, the potential of the second external input terminal 2 is pulled up to a high level "H" by the pull-up resistor 4, the output c of the inverter circuit 7 is a low level "L", and the output d of the inverter circuit 8 is d. Becomes "H".

【0024】これにより、デコーダ用の4個のノア回路
9、10、11、12の各出力g、i、l、nは、対応
して“L”、“L”、“L”、“H”になるので、出力
用クロックドインバータ回路20、15、16が動作可
能となり、入力用クロックドインバータ回路13、1
4、17、18および出力用クロックドインバータ回路
19が非動作状態(出力がハイインピーダンス状態)に
なる。
As a result, the outputs g, i, l, n of the four NOR circuits 9, 10, 11, 12 for the decoder are correspondingly "L", "L", "L", "H". ", The output clocked inverter circuits 20, 15 and 16 become operable, and the input clocked inverter circuits 13 and 1
4, 17, 18 and the output clocked inverter circuit 19 are in a non-operating state (the output is in a high impedance state).

【0025】従って、出力回路22の出力信号mは出力
用クロックドインバータ回路20、データバス信号線D
BUS、2段の出力用クロックドインバータ回路15、
16を経て外部入出力端子25から外部に出力する。 (b)第1の外部入力端子1が開放状態、第2の外部入
力端子2に“L”が印加されている場合。
Therefore, the output signal m of the output circuit 22 is the output clocked inverter circuit 20 and the data bus signal line D.
BUS, two-stage output clocked inverter circuit 15,
It is output to the outside from the external input / output terminal 25 via 16. (B) In the case where the first external input terminal 1 is open and “L” is applied to the second external input terminal 2.

【0026】第1の外部入力端子1の電位はプルアップ
抵抗3により“H”にプルアップされ、インバータ回路
5の出力aは低レベル“L”、インバータ回路6の出力
bは“H”になる。
The potential of the first external input terminal 1 is pulled up to "H" by the pull-up resistor 3, the output a of the inverter circuit 5 is low level "L", and the output b of the inverter circuit 6 is "H". Become.

【0027】これに対して、第2の外部入力端子2はプ
ルアップ抵抗4を介して“H”が供給されているが、外
部の入力信号源のインピーダンスが上記プルアップ抵抗
4より低いものとすれば“L”になり、インバータ回路
7の出力cは“H”、インバータ回路8の出力dは
“L”になる。
On the other hand, "H" is supplied to the second external input terminal 2 through the pull-up resistor 4, but the impedance of the external input signal source is lower than that of the pull-up resistor 4. Then, the output becomes "L", the output c of the inverter circuit 7 becomes "H", and the output d of the inverter circuit 8 becomes "L".

【0028】これにより、デコーダ用の4個のノア回路
9、10、11、12の各出力g、i、l、nは、対応
して“L”、“L”、“H”、“L”になるので、出力
用クロックドインバータ回路19、15、16が動作可
能となり、入力用クロックドインバータ回路13、1
4、17、18および出力用クロックドインバータ回路
20が非動作状態(出力がハイインピーダンス状態)に
なる。
Thus, the outputs g, i, l, n of the four NOR circuits 9, 10, 11, 12 for the decoder are correspondingly "L", "L", "H", "L". ", The output clocked inverter circuits 19, 15 and 16 become operable, and the input clocked inverter circuits 13 and 1
4, 17, 18 and the output clocked inverter circuit 20 are in a non-operating state (the output is in a high impedance state).

【0029】従って、種別認識信号生成回路用の出力回
路21の出力信号(種別認識信号)kは出力用クロック
ドインバータ回路19、データバス信号線DBUS、2
段の出力用クロックドインバータ回路15、16を経て
外部入出力端子25から外部に出力する。 (c)第1の外部入力端子1に“L”が印加され、第2
の外部入力端子2が開放状態の場合。
Therefore, the output signal (type recognition signal) k of the output circuit 21 for the type recognition signal generation circuit is the output clocked inverter circuit 19, the data bus signal line DBUS, 2
The signal is output to the outside from the external input / output terminal 25 via the output clocked inverter circuits 15 and 16 of the stages. (C) "L" is applied to the first external input terminal 1
When the external input terminal 2 of is open.

【0030】第1の外部入力端子1はプルアップ抵抗3
を介して“H”が供給されているが、外部の入力信号源
のインピーダンスが上記プルアップ抵抗3より低いもの
とすれば“L”になり、インバータ回路5の出力aは
“H”、インバータ回路6の出力bは“L”になる。
The first external input terminal 1 has a pull-up resistor 3
Although "H" is supplied via the input circuit, if the impedance of the external input signal source is lower than that of the pull-up resistor 3, it becomes "L", and the output a of the inverter circuit 5 is "H". The output b of the circuit 6 becomes "L".

【0031】これに対して、第2の外部入力端子2の電
位はプルアップ抵抗4により“H”にプルアップされ、
インバータ回路7の出力cは低レベル“L”、インバー
タ回路8の出力dは“H”になる。
On the other hand, the potential of the second external input terminal 2 is pulled up to "H" by the pull-up resistor 4,
The output c of the inverter circuit 7 becomes low level "L", and the output d of the inverter circuit 8 becomes "H".

【0032】これにより、デコーダ用の4個のノア回路
9、10、11、12の各出力g、i、l、nは、対応
して“L”、“H”、“L”、“L”になるので、入力
用クロックドインバータ回路13、14、18が動作可
能となり、出力用クロックドインバータ回路19、2
0、15、16および入力用クロックドインバータ回路
17が非動作状態(出力がハイインピーダンス状態)に
なる。
Accordingly, the outputs g, i, l, n of the four NOR circuits 9, 10, 11, 12 for the decoder are correspondingly "L", "H", "L", "L". ", The input clocked inverter circuits 13, 14 and 18 become operable, and the output clocked inverter circuits 19 and 2 become
0, 15, 16 and the input clocked inverter circuit 17 are in a non-operating state (the output is in a high impedance state).

【0033】従って、外部入出力端子25から入力する
入力信号は、2段の入力用クロックドインバータ回路1
3、14、データバス信号線DBUS、入力用クロック
ドインバータ回路18を経て入力回路24に入力する。 (d)第1の外部入力端子1、第2の外部入力端子2に
共に“L”が印加されている場合。
Therefore, the input signal input from the external input / output terminal 25 is a two-stage input clocked inverter circuit 1 for input.
3 and 14, the data bus signal line DBUS, and the input clocked inverter circuit 18, and input to the input circuit 24. (D) When “L” is applied to both the first external input terminal 1 and the second external input terminal 2.

【0034】第1の外部入力端子1はプルアップ抵抗3
を介して“H”が供給されているが、外部の入力信号源
のインピーダンスが上記プルアップ抵抗3より低いもの
とすれば“L”になり、インバータ回路5の出力aは
“H”、インバータ回路6の出力bは“L”になる。
The first external input terminal 1 has a pull-up resistor 3
Although "H" is supplied via the input circuit, if the impedance of the external input signal source is lower than that of the pull-up resistor 3, it becomes "L", and the output a of the inverter circuit 5 is "H". The output b of the circuit 6 becomes "L".

【0035】同様に、第2の外部入力端子2はプルアッ
プ抵抗4を介して“H”が供給されているが、外部の入
力信号源のインピーダンスが上記プルアップ抵抗4より
低いものとすれば“L”になり、インバータ回路7の出
力cは“H”、インバータ回路8の出力dは“L”にな
る。
Similarly, "H" is supplied to the second external input terminal 2 through the pull-up resistor 4, but if the impedance of the external input signal source is lower than that of the pull-up resistor 4. The output c of the inverter circuit 7 becomes "H", and the output d of the inverter circuit 8 becomes "L".

【0036】これにより、デコーダ用の4個のノア回路
9、10、11、12の各出力g、i、l、nは、対応
して“H”、“L”、“L”、“L”になるので、入力
用クロックドインバータ回路13、14、17が動作可
能となり、出力用クロックドインバータ回路19、2
0、15、16および入力用クロックドインバータ回路
18が非動作状態(出力がハイインピーダンス状態)に
なる。
As a result, the outputs g, i, l, n of the four NOR circuits 9, 10, 11, 12 for the decoder are correspondingly "H", "L", "L", "L". ", The input clocked inverter circuits 13, 14, 17 become operable, and the output clocked inverter circuits 19, 2,
0, 15, 16 and the input clocked inverter circuit 18 are in the non-operating state (the output is in the high impedance state).

【0037】従って、外部入出力端子25から入力する
入力信号は、2段の入力用クロックドインバータ回路1
3、14、データバス信号線DBUS、入力用クロック
ドインバータ回路17を経て入力回路23に入力する。
Therefore, the input signal input from the external input / output terminal 25 is a two-stage input clocked inverter circuit 1 for input.
3, 14, the data bus signal line DBUS, and the input clocked inverter circuit 17 to input to the input circuit 23.

【0038】即ち、上記第1実施例のICによれば、I
Cチップの種別をチップ外部で電気的に判別し得る種別
認識信号kを生成するための種別認識信号生成回路21
をICチップ上に有するので、ICチップの種別を短時
間で正確に判別することが可能になる。
That is, according to the IC of the first embodiment, I
Type recognition signal generation circuit 21 for generating a type recognition signal k capable of electrically determining the type of the C chip outside the chip
Since it is provided on the IC chip, the type of the IC chip can be accurately determined in a short time.

【0039】しかも、上記種別認識信号生成回路21の
メタル配線26を、ICの種別を決めるために使用され
るメタル配線マスクと同一マスクに基づいてパターン形
成することが可能であり、上記種別認識信号生成回路2
1を形成するための専用のマスクを必要としないで済
む。
Moreover, the metal wiring 26 of the type recognition signal generating circuit 21 can be patterned based on the same mask as the metal wiring mask used for determining the type of IC. Generation circuit 2
There is no need for a dedicated mask for forming 1.

【0040】なお、本発明のICの第2実施例として、
製造時にイオン注入領域を決めるために使用されるマス
クの種別に応じて、メモリセルトランジスタのオン/オ
フ状態が設定されるROMと、このROMのデータによ
り回路動作の種別が設定された回路とを有するICに対
して、前記第1実施例と同様に種別認識信号生成回路を
設けるようにしてもよい。
As a second embodiment of the IC of the present invention,
A ROM in which the on / off state of the memory cell transistor is set according to the type of mask used to determine the ion implantation region during manufacturing, and a circuit in which the type of circuit operation is set by the data of this ROM A type recognition signal generation circuit may be provided to the IC included therein as in the first embodiment.

【0041】この第2実施例のICでは、前記ROMの
メモリセルトランジスタを形成するために使用されるマ
スクに基づいて種別認識信号生成回路で使用されるトラ
ンジスタを形成することが可能である。図3および図4
は、上記第2実施例のICに設けられる種別認識信号生
成回路の相異なる具体例を示す。
In the IC of the second embodiment, it is possible to form the transistors used in the type recognition signal generation circuit based on the mask used to form the memory cell transistors of the ROM. 3 and 4
Shows different concrete examples of the type recognition signal generating circuit provided in the IC of the second embodiment.

【0042】図3の種別認識信号生成回路は、VDDノー
ドとVSSノードとの間に直列に接続されたPMOSトラ
ンジスタTPおよびNMOSトランジスタTNからな
り、上記両トランジスタの各ゲートには前記デコーダ用
のノア回路から出力する制御信号のうちの1つ(本例で
は制御信号l)を反転させるためのインバータ回路31
の出力信号が入力し、上記両トランジスタのドレイン相
互接続ノード(出力ノード)の電位を回路動作の種別認
識信号kとして供給する。
The type recognition signal generating circuit of FIG. 3 comprises a PMOS transistor TP and an NMOS transistor TN which are connected in series between the VDD node and the VSS node, and the gates of the both transistors have NOR gates for the decoder. Inverter circuit 31 for inverting one of the control signals output from the circuit (control signal l in this example)
Output signal is supplied, and the potential of the drain interconnection node (output node) of both transistors is supplied as a circuit operation type recognition signal k.

【0043】図3の種別認識信号生成回路において、制
御信号lが“L”の場合にはインバータ回路31の出力
が“H”になり、PMOSトランジスタTP、NMOS
トランジスタTNが対応してオフ/オン状態になり、種
別認識信号kが“L”になる。
In the type recognition signal generation circuit of FIG. 3, when the control signal 1 is "L", the output of the inverter circuit 31 becomes "H", and the PMOS transistors TP and NMOS.
The transistor TN is turned off / on correspondingly, and the type recognition signal k becomes "L".

【0044】これに対して、制御信号lが“H”の場合
にはインバータ回路31の出力が“L”になり、PMO
SトランジスタTP、NMOSトランジスタTNが対応
してオン/オフ状態になり、種別認識信号kが“H”に
なる。
On the other hand, when the control signal 1 is "H", the output of the inverter circuit 31 becomes "L" and the PMO
The S transistor TP and the NMOS transistor TN are turned on / off correspondingly, and the type recognition signal k becomes "H".

【0045】ここで、メモリセル用のNMOSトランジ
スタの複数個が直列に接続される方式のアンド型ROM
を有するICにおいて、メモリセル用の所望のNMOS
トランジスタのドレイン・ソース間を短絡させる(オン
状態に設定する)ようにP型不純物のイオン注入を行う
ためのマスクを使用する場合、このマスクに基づいて上
記種別認識信号生成回路のNMOSトランジスタTNを
形成すると、VDDノードとVSSノードとの間が短絡す
る。しかし、上記種別認識信号生成回路のPMOSトラ
ンジスタTPのインピーダンスをNMOSトランジスタ
TNのインピーダンスより大きく設定しておくことによ
り、種別認識信号kが“L”になる。
Here, an AND type ROM of a system in which a plurality of NMOS transistors for memory cells are connected in series
A desired NMOS for a memory cell in an IC having a
When using a mask for ion-implanting P-type impurities so that the drain and source of the transistor are short-circuited (set to the ON state), the NMOS transistor TN of the type recognition signal generation circuit is set based on this mask. Once formed, it shorts between the VDD and VSS nodes. However, by setting the impedance of the PMOS transistor TP of the type recognition signal generation circuit above the impedance of the NMOS transistor TN, the type recognition signal k becomes "L".

【0046】上記図3の種別認識信号生成回路が図1中
の出力回路21として設けられている場合には、前述し
たように制御信号lが“H”の時に、前記種別認識信号
kが出力用クロックドインバータ回路19、データバス
信号線DBUS、2段の出力用クロックドインバータ回
路15、16を経て外部入出力端子25から外部に出力
する。
When the type recognition signal generation circuit of FIG. 3 is provided as the output circuit 21 of FIG. 1, the type recognition signal k is output when the control signal 1 is "H" as described above. A clocked inverter circuit 19, a data bus signal line DBUS, and two stages of output clocked inverter circuits 15 and 16 are used to output from the external input / output terminal 25 to the outside.

【0047】図4の種別認識信号生成回路は、VDDノー
ドとVSSノードとの間に直列に接続されたPMOSトラ
ンジスタTPおよびNMOSトランジスタTNからな
り、上記両トランジスタの各ゲートには前記デコーダ用
のノア回路から出力する制御信号のうちの1つ(本例で
は制御信号l)が入力し、上記両トランジスタのドレイ
ン相互接続ノード(出力ノード)の電位を回路動作の種
別認識信号kとして供給する。
The type recognition signal generating circuit of FIG. 4 comprises a PMOS transistor TP and an NMOS transistor TN which are connected in series between the VDD node and the VSS node, and the gates of the both transistors have NOR gates for the decoder. One of the control signals output from the circuit (control signal 1 in this example) is input, and the potential of the drain interconnection node (output node) of both transistors is supplied as the circuit operation type recognition signal k.

【0048】図4の種別認識信号生成回路の動作は、図
3を参照して前述した種別認識信号生成回路の動作と基
本的に同様であるが、種別認識信号kの有意レベルを
“H”とした点が異なる。
The operation of the type recognition signal generation circuit of FIG. 4 is basically the same as the operation of the type recognition signal generation circuit described above with reference to FIG. 3, but the significance level of the type recognition signal k is "H". Is different.

【0049】即ち、制御信号lが“L”の場合には、P
MOSトランジスタTP、NMOSトランジスタTNが
対応してオン/オフ状態になり、種別認識信号kが
“H”になる。これに対して、制御信号lが“H”の場
合には、PMOSトランジスタTP、NMOSトランジ
スタTNが対応してオフ/オン状態になり、種別認識信
号kが“L”になる。
That is, when the control signal 1 is "L", P
The MOS transistor TP and the NMOS transistor TN are turned on / off correspondingly, and the type recognition signal k becomes "H". On the other hand, when the control signal 1 is "H", the PMOS transistor TP and the NMOS transistor TN are turned off / on correspondingly, and the type recognition signal k becomes "L".

【0050】ここで、メモリセル用のPMOSトランジ
スタの複数個が直列に接続される方式のアンド型ROM
を有するICにおいて、メモリセル用の所望のPMOS
トランジスタのドレイン・ソース間を短絡させる(オン
状態に設定する)ようにN型不純物のイオン注入を行う
ためのマスクを使用する場合、このマスクに基づいて上
記種別認識信号生成回路のPMOSトランジスタTPを
形成すると、VDDノードとVSSノードとの間が短絡す
る。しかし、上記種別認識信号生成回路のNMOSトラ
ンジスタTNのインピーダンスをPMOSトランジスタ
TPのインピーダンスより大きく設定しておくことによ
り、種別認識信号kが“H”になる。
Here, an AND type ROM of a system in which a plurality of PMOS transistors for memory cells are connected in series
A desired PMOS for a memory cell in an IC having
When using a mask for ion-implanting N-type impurities so that the drain and source of the transistor are short-circuited (set to the ON state), the PMOS transistor TP of the type recognition signal generation circuit is set based on this mask. Once formed, it shorts between the VDD and VSS nodes. However, the type recognition signal k becomes "H" by setting the impedance of the NMOS transistor TN of the type recognition signal generation circuit above the impedance of the PMOS transistor TP.

【0051】そして、上記図4の種別認識信号生成回路
が図1中の出力回路21として設けられている場合に
は、前述したように制御信号lが“H”の時に、前記種
別認識信号kが出力用クロックドインバータ回路19、
データバス信号線DBUS、2段の出力用クロックドイ
ンバータ回路15、16を経て外部入出力端子25から
外部に出力する。
When the type recognition signal generating circuit of FIG. 4 is provided as the output circuit 21 of FIG. 1, when the control signal 1 is "H" as described above, the type recognition signal k is generated. Is an output clocked inverter circuit 19,
The data bus signal line DBUS is output to the outside from the external input / output terminal 25 via the two-stage output clocked inverter circuits 15 and 16.

【0052】[0052]

【発明の効果】上述したように本発明のICによれば、
ICチップの種別をチップ外部で電気的に判別し得る種
別認識信号を生成するための種別認識信号生成回路を有
するので、ICチップの種別を短時間で正確に判別する
ことができる。
As described above, according to the IC of the present invention,
Since the type recognition signal generation circuit for generating the type recognition signal capable of electrically determining the type of the IC chip outside the chip is included, the type of the IC chip can be accurately determined in a short time.

【0053】しかも、種別認識信号生成回路を、ICの
種別を決めるために使用されるマスクと同一マスクに基
づいて作成することができ、種別認識信号生成回路を形
成するための専用のマスクを必要としないで済む。
Moreover, the type recognition signal generation circuit can be created based on the same mask as the mask used to determine the type of IC, and a dedicated mask for forming the type recognition signal generation circuit is required. Don't do that.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例に係るICの一部を示す論
理回路図。
FIG. 1 is a logic circuit diagram showing a part of an IC according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1中の種別認識信号生成回路の一例を示す回
路図。
2 is a circuit diagram showing an example of a type recognition signal generation circuit in FIG.

【図3】本発明の第2実施例に係るICに設けられる種
別認識信号生成回路の一例を示す回路図。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a type recognition signal generation circuit provided in an IC according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3の種別認識信号生成回路の変形例を示す回
路図。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a modification of the type recognition signal generation circuit of FIG.

【図5】従来のICの製造時に使用されるメタル配線マ
スク上の種別認識用のROMコード番号のパターンの一
例を示す図。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a ROM code number pattern for type recognition on a metal wiring mask used in manufacturing a conventional IC.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…第1の外部入力端子、2…第2の外部入力端子、
3、4…プルアップ用抵抗、5〜8…インバータ回路、
9〜12…ノア回路、13、14、17、18…入力用
クロックドインバータ回路、15、16、19、20…
出力用クロックドインバータ回路、21…出力回路(種
別認識信号生成回路)、22…出力回路、23、24…
入力回路、25…外部入出力端子、26…種別認識信号
生成回路のメタル配線、g、i、l、n…制御信号、D
BUS…データバス信号線、TP…PMOSトランジス
タ、TN…NMOSトランジスタ。
1 ... 1st external input terminal, 2 ... 2nd external input terminal,
3, 4 ... Pull-up resistors, 5-8 ... Inverter circuit,
9-12 ... NOR circuit, 13, 14, 17, 18 ... Input clocked inverter circuit, 15, 16, 19, 20 ...
Output clocked inverter circuit, 21 ... Output circuit (type recognition signal generation circuit), 22 ... Output circuit, 23, 24 ...
Input circuit, 25 ... External input / output terminal, 26 ... Metal wiring of type recognition signal generating circuit, g, i, l, n ... Control signal, D
BUS ... data bus signal line, TP ... PMOS transistor, TN ... NMOS transistor.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 製造時に少なくとも1層分の配線のパタ
ーンを決めるために使用される配線マスクの種別に応じ
て回路動作の種別が設定された集積回路チップ上の回路
と、 集積回路チップの外部入出力端子に接続されている少な
くとも1本のデータバス信号線と、 このデータバス信号線に対して入力用クロックドインバ
ータ回路を介して接続された少なくとも1個の入力回路
と、 前記データバス信号線に対して出力用クロックドインバ
ータ回路を介して接続された少なくとも1個の出力回路
と、 制御信号入力をデコードして前記入力用クロックドイン
バータ回路および出力用クロックドインバータ回路を制
御するための制御信号を生成するデコーダ回路と、 前記出力用クロックドインバータ回路のうちの少なくと
も1個の入力ノードと2つの電源ノードのうちのいずれ
か一方とを接続する配線からなる種別認識信号生成回路
とを具備することを特徴とする。
1. A circuit on an integrated circuit chip in which a type of circuit operation is set in accordance with a type of a wiring mask used for determining a wiring pattern for at least one layer at the time of manufacturing, and an external circuit of the integrated circuit chip. At least one data bus signal line connected to the input / output terminal, at least one input circuit connected to the data bus signal line via an input clocked inverter circuit, and the data bus signal At least one output circuit connected to the line through the output clocked inverter circuit, and for decoding the control signal input to control the input clocked inverter circuit and the output clocked inverter circuit A decoder circuit for generating a control signal, and at least one input node of the output clocked inverter circuit and two Characterized by comprising a type recognition signal generating circuit consisting of one and connecting the wiring of the power supply node.
【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路におい
て、 前記種別認識信号生成回路の配線は、前記回路動作の種
別を設定するために使用される配線マスクに基づいてパ
ターン形成されることを特徴とする半導体集積回路。
2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the wiring of the type recognition signal generation circuit is patterned based on a wiring mask used for setting the type of the circuit operation. Semiconductor integrated circuit.
【請求項3】 集積回路チップ上に形成され、製造時に
イオン注入領域を決めるために使用されるマスクの種別
に応じて、メモリセル用のMOSトランジスタのオン/
オフ状態が設定されるROMと、 このROMのデータにより回路動作の種別が設定された
回路と、 集積回路チップの外部入出力端子に接続されている少な
くとも1本以上のデータバス信号線と、 このデータバス信号線に対して入力用クロックドインバ
ータ回路を介して接続された少なくとも1個の入力回路
と、 前記データバス信号線に対して出力用クロックドインバ
ータ回路を介して接続された少なくとも1個の出力回路
と、 制御入力をデコードして前記入力用クロックドインバー
タ回路または出力用クロックドインバータ回路に供給す
るための制御信号を生成するデコーダ回路と、 このデコーダ回路から出力する制御信号のうちの1つが
入力するインバータ回路と、 第1電源ノードと第2電源ノードとの間に直列に接続さ
れたPMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタ
からなり、上記両トランジスタの各ゲートに前記インバ
ータ回路の出力信号が入力し、上記両トランジスタのド
レイン相互接続ノードの出力電位を回路動作の種別認識
信号として前記出力用クロックドインバータ回路のうち
の少なくとも1個の入力として供給する種別認識信号生
成回路とを具備することを特徴とする半導体集積回路。
3. A MOS transistor for a memory cell is turned on / off according to the type of a mask formed on an integrated circuit chip and used for determining an ion implantation region during manufacturing.
A ROM in which the off state is set; a circuit in which the type of circuit operation is set by the data of this ROM; and at least one or more data bus signal lines connected to the external input / output terminals of the integrated circuit chip, At least one input circuit connected to the data bus signal line via an input clocked inverter circuit; and at least one input circuit connected to the data bus signal line via an output clocked inverter circuit Output circuit, a decoder circuit that decodes a control input to generate a control signal for supplying to the input clocked inverter circuit or the output clocked inverter circuit, and among the control signals output from the decoder circuit One input inverter circuit and a PMOS connected in series between the first power supply node and the second power supply node The output signal of the inverter circuit is input to each gate of both transistors, and the output potential of the drain interconnection node of both transistors is used as a type recognition signal of circuit operation for the output clocked inverter circuit. And a type recognition signal generating circuit supplied as an input of at least one of the above.
【請求項4】 請求項2記載の半導体集積回路におい
て、 前記種別認識信号生成回路のトランジスタは、前記RO
Mのメモリセル用のMOSトランジスタのオン/オフ状
態を設定するために使用されるマスクに基づいてオン/
オフ状態が設定されることを特徴とする半導体集積回
路。
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein the transistor of the type recognition signal generation circuit is the RO.
ON / OFF based on the mask used to set the ON / OFF state of the MOS transistor for M memory cells
A semiconductor integrated circuit in which an off state is set.
JP5026511A 1993-02-16 1993-02-16 Semiconductor integrated circuit Withdrawn JPH06242191A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08184504A (en) * 1994-12-28 1996-07-16 Nec Corp Method and apparatus for measuring temperature

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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