JP7729350B2 - 感光性導電ペースト、導電パターン付き基材の製造方法、電子部品の製造方法、硬化膜、焼成体および電子部品 - Google Patents
感光性導電ペースト、導電パターン付き基材の製造方法、電子部品の製造方法、硬化膜、焼成体および電子部品Info
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Description
導電性粒子(A)とは、加熱焼成により溶融または融着し、導電性を発現するものである。導電性粒子(A)としては、例えば、銀、金、銅、白金、パラジウム、スズ、ニッケル、アルミニウム、タングステン、モリブデン、ルテニウム、クロム、チタン、インジウムなどの金属やこれらいずれかの金属を含む合金、これらいずれかの金属の酸化物から選ばれた材料の粉末などが挙げられる。これらを2種類以上用いてもよい。導電性粒子の材料としては、これらの中でも導電性の観点から銀、銅または金が好ましく、コストの観点から銀、銅、または、これらいずれかの金属を含む合金がより好ましく、安定性の観点から銀がさらに好ましい。
感光性有機成分(B)は、アルカリ可溶性樹脂および感光剤を含む有機成分をいう。アルカリ可溶性樹脂とは、アルカリ可溶性基を有する樹脂をいう。アルカリ可溶性基としては、例えば、カルボキシル基、フェノール性水酸基、スルホン酸基、チオール基などが挙げられる。アルカリ現像液への溶解性が高いことから、アルカリ可溶性基としては、カルボキシル基が好ましい。
溶剤(C)は、室温にて液体であって、感光性導電ペーストを構成する成分を湿潤または溶解させ、塗布性に優れる液体とする作用を有する。前述の通り、本発明の感光性導電ペーストは2種類以上の溶剤(C)を含有し、溶剤(C)のうち、最も沸点の低い溶剤(C-1)と最も沸点の高い溶剤(C-2)の沸点の差が35~120℃であり、溶剤(C-2)の沸点が251~300℃であることが重要である。
(非導電無機粒子)
本発明の感光性導電ペーストは、さらに、非導電性無機粉末を含むことが好ましく、焼成時のパターン収縮を抑制することができる。非導電性無機粉末の粒子径は1~100nmが好ましい。非導電性無機粉末としては、例えば、アルミナ(Al2O3)、ジルコニア(ZrO2)、マグネシア(MgO)、ベリリア(BeO)、ムライト(3Al2O3・2SiO2)、コーディエライト(5SiO2・2Al2O3・2MgO)、スピネル(MgO・Al2O3)、フォルステライト(2MgO・SiO2)、アノーサイト(CaO・Al2O3・2SiO2)、セルジアン(BaO・Al2O3・2SiO2)、シリカ(SiO2)、窒化アルミ(AlN)、フェライト(ガーネット型:Y3Fe5O12系、スピネル型:MeFe2O4系)、SiO2、Al2O3、CaO、B2O3、MgOおよび/またはTiO2等を含むガラス粉末;アルミナ、ジルコニア、マグネシア、ベリリア、ムライト、コーディライト、スピネル、フォルステライト、アノーサイト、セルジアン、シリカ、窒化アルミなどの無機フィラー粉末などが挙げられる。これらを2種以上含有してもよい。これらの中でも、焼成欠陥をより抑制する観点から、シリカ粒子が好ましい。シリカ粒子は、感光性導電ペーストのチキソ性を低減し、塗布膜の表面平坦性を向上させる観点から、粒子表面がアルキル化処理されていることが好ましく、中でもジアルキルシリル化および/またはトリアルキルシリル化されていることが好ましい。シリカ粒子の表面をジアルキルシリル化および/またはトリアルキルシリル化する方法としては、シリカ粒子をジメチルジクロロシランまたはヘキサメチルジシラザンと反応させる方法などが挙げられる。
本発明の感光性導電ペーストは、その所望の特性を損なわない範囲で、分散剤、可塑剤、レベリング剤、界面活性剤、シランカップリング剤、消泡剤、安定剤等を含有してもよい。
分散剤とは、導電性粒子(A)および/または、非導電性無機粒子を分散、安定化する作用を有する成分である。分散剤としては、例えば、アミン系の分散剤、カルボン酸またはカルボン酸エステル系分散剤が挙げられる。その中で、残渣の発生を抑制し、厚膜形成が容易となることから、炭素数3~18の不飽和脂肪酸および/または炭素数3~18の飽和脂肪酸が好ましい。不飽和脂肪酸としては、ミリストレイン酸、パルミトレイン酸、サピエン酸、オレイン酸などが挙げられる。飽和脂肪酸としては、カプリン酸、ラウリン酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸などが挙げられる。
本発明の感光性導電ペーストは、例えば、前述の(A)~(C)成分、必要に応じてその他添加剤を、混合および/または分散させることにより得ることができる。混合および/または分散させる装置としては、例えば、三本ローラー、ボールミル等の分散機や混練機などが挙げられる。
次に、本発明の硬化膜について説明する。本発明の硬化膜は、本発明の感光性導電ペーストを硬化してなる膜である。硬化膜の膜厚は、5~30μmが好ましい。硬化膜の膜厚を5μm以上とすることにより、焼成時の断線を抑制することができる。一方、硬化膜の膜厚を30μm以下とすることにより、微細配線を形成することができる。
本発明の導電パターン付き基材の製造方法は、基材上に、本発明の感光性導電ペーストを塗布し塗布膜を形成する工程、前記塗布膜を乾燥し乾燥膜を形成する工程、前記乾燥膜を露光および現像しパターンを形成する工程を含み、前記パターンを形成する工程における前記乾燥膜に残存する溶剤の量が前記感光性導電ペーストに含まれる全溶剤量の25~80質量%である。以下、各工程について詳述する。
次に、本発明の焼成体について説明する。本発明の焼成体は、本発明の硬化膜を焼成してなるものであり、その形状は問わない。焼成工程の好ましい条件は後述する。
本発明の電子部品は、本発明の焼成体を含む。電子部品としては、チップインダクタ、LCフィルターなどが挙げられる。
本発明の電子部品の製造方法は、本発明の導電パターン付き基材の製造方法により得られた導電パターン付き基材を焼成する焼成工程を有する。また、感光性導電ペーストを塗布する工程、乾燥する工程、露光・現像する工程を含むことが好ましい。本発明の電子部品の製造方法の一例として、積層チップインダクタの製造方法を以下に説明する。
感光性導電ペーストに用いた原料は、以下の通りである。
導電性粒子(A-1) :D50が3.2μmのAg粒子
導電性粒子(A-2) :D50が0.5μmのAg粒子
導電性粒子(A-3) :D50が1.1μmのAg粒子
導電性粒子(A-4) :D50が2.0μmのAg粒子
導電性粒子(A-5) :D50が4.0μmのAg粒子
導電性粒子(A-6) :D50が5.3μmのAg粒子
なお、導電性粒子のD50は、粒度分布測定装置(Microtrac HRA Model No.9320-X100;日機装(株)製)を用いて、レーザー光散乱法により測定した。
アルカリ可溶性樹脂:メタクリル酸/メタクリル酸メチル/スチレン=54/23/23(モル比)の共重合体のカルボキシル基100モル部に対して、40モル部のグリシジルメタクリレートを付加反応させたアクリル樹脂(重量平均分子量30,000、ガラス転移点110℃、酸価100mgKOH/g)。
レベリング剤:“ディスパロン”(登録商標)L-1980N(楠本化成(株)製)。
分散剤2:オレイン酸
分散剤3:フローレンG-700(共栄社化学(株)製)。
溶剤1:エチレングリコールブチルエーテル(沸点:168℃、SP値:22.1(J/cm3)1/2)
溶剤2:エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート(沸点:188℃、SP値:18.9(J/cm3)1/2)
溶剤3:ジプロピレングリコールモノブチルエーテル(沸点:230℃、SP値:20.9(J/cm3)1/2)
溶剤4:ジエチレングリコールジブチルエーテル(沸点:256℃、SP値:17.0(J/cm3)1/2)
溶剤5:テトラエチレングリコールジメチルエーテル(沸点:275℃、SP値:17.5(J/cm3)1/2)
溶剤6:トリエチレングリコールブチルメチルエーテル(沸点:261℃、SP値:17.2(J/cm3)1/2)
溶剤7:2,2,4-トリメチル-1,3-ペンタンジオールジイソブチレート(沸点:280℃、SP値:18.5(J/cm3)1/2)
溶剤8:トリエチレングリコールモノブチルエーテル(沸点:271℃、SP値:21.1(J/cm3)1/2)
溶剤9:ジプロピレングリコールフェニルエーテル(沸点:280℃、SP値:23.0(J/cm3)1/2)
溶剤10:ジエチレングリコールブチルエーテル(沸点:150℃、SP値:21.5(J/cm3)1/2)
なお、溶剤(C)のSP値は、分子構造から、Fedorsの計算方法を用いて算出した。
D-1:“AEROSIL”(登録商標)300(日本アエロジル(株)製):シリカ粒子
D-2:“AEROSIL”(登録商標)R976(日本アエロジル(株)製):粒子表面がジアルキルシリル化されたシリカ粒子。
5.0gのアルカリ可溶性樹脂、2.4gのNKオリゴUA-122P(感光性モノマー)、0.5gのアデカオプトマーN-1919(光重合開始剤1)、0.1gの“ディスパロン”(登録商標)L-1980N(レベリング剤)、0.1gの分散剤1、5.9gのエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート(溶剤2)および5.9gのジエチレングリコールジブチルエーテル(溶剤4)を混合し、19.9gの感光性樹脂溶液を得た。
感光性導電ペーストの粘度変化率を以下のようにして測定した。感光性導電ペーストをスクリーン版に300g乗せ、アルミナ基板上に、100mm角の正方形パターンで、ペースト重量が0.6gとなるように塗布した。この印刷工程を300回繰り返し、印刷前と、300回印刷後のスクリーン版上のペーストの粘度変化を評価した。印刷前からの粘度変化率が0%以上5%未満であれば「優」、5%以上10%未満であれば「良」、10%以上20%未満であれば「可」、20%以上であれば「不可」とした。なお、粘度は、ブルックフィールド型の粘度計を用いて10rpmの条件で測定した値であり、粘度変化率は次式で計算される。
アルミカップに感光性導電ペーストを1.00g入れ、150℃にて2時間乾燥させた後、感光性導電ペーストの重量を測定した。加熱前後のペーストの質量の変化から、感光性導電ペーストに含まれる溶剤の比率(質量%)(以下、ペースト溶剤比率)を次式にて計算した。
ペースト溶剤比率(質量%)=(1.00g-乾燥後ペースト重量)/1.00g×100。
残存溶剤量・初期(質量%)=(ペースト溶剤比率-(1-(乾燥膜の重量(c)/塗布したペースト重量(b)))×100)/ペースト溶剤比率×100。
経時変化率(%)=(1-(残存溶剤量・10時間後)/(残量溶剤量・初期))×100。
アルミナ基板上に、感光性導電ペーストをスクリーン印刷にて100mm角の正方形パターンで、乾燥後に膜厚が15μmとなるように塗布し、60℃にて10分乾燥させることで乾燥膜を作製した。乾燥膜上にPETフィルム、さらに、50mm角の面積を持つ重量50gの重りを1分間のせて、PETフィルムへ転写した乾燥膜の面積から乾燥膜のタック性を評価した。転写面積が50mm角に対し0%以上1%未満であれば「優」、1%以上5%未満であれば「良」、5%以上10%未満以上であれば「可」、10%以上であれば「不可」とした。
<タック性評価>と同様の方法で、乾燥膜を作製した。レーザー顕微鏡VK-X200(株式会社キーエンス製)を用いて、対物レンズ20倍で、乾燥膜の表面粗さSaを測定した。表面粗さSa(算術平均高さ)が0.3μm未満の場合「優」、0.3μm以上0.5μm未満の場合「良」、0.5μm以上0.7μm未満の場合「可」、0.7μm以上の場合「不可」とした。
アルミナ基板上に、感光性導電ペーストを乾燥後膜厚が10~20μmとなるように1μm刻みで膜厚を変えて乾燥膜を作製し、L(ライン開口幅)/S(スペース幅)=25/35のストライプパターンの露光マスクを介して、線幅が30μmとなる露光量で、露光装置(PEM-6M;ユニオン光学株式会社製)を用いて全線露光を行い、0.2質量%のNa2CO3溶液に基板を浸漬させた後、超純水によるリンス処理を施して乾燥膜の未露光部を除去する現像処理を行った。現像後に断線、剥がれがない最大膜厚を求めた。なお、導電パターンの線幅は、光学顕微鏡を用いて倍率1000倍で拡大観察し測定した。導電パターンの膜厚は、触針式段差計(例えば、“サーフコム”(登録商標)1400;(株)東京精密製)を用いて測定した。
アルミナ基板上に<加工性評価(最大膜厚)>と同様の方法で、最大膜厚で導電パターンを形成した。ただし、露光マスクは図1で示すマスクパターンとし、開口幅は25μm、長さは40mmとした。得られた導電パターン付き基板を880℃で10分間焼成処理し、導電パターン焼成体を得た。デジタルマルチメータ(CDM-16D;カスタム社製)を用いて、上記導電パターン焼成体の抵抗値Rを測定した。次に、導電パターン焼成体の焼成後線幅と焼成後膜厚を前記と同様の方法で測定し、アスペクト比およびシート抵抗を次式にて算出した。
アスペクト比=焼成後膜厚(μm)/焼成後線幅(μm)
シート抵抗(mΩ/□)=導電パターン抵抗値(mΩ)×線幅(mm)÷導電パターン長さ(mm)。
以下の手順にて、絶縁性セラミックス層付き基板を作製した。
溶剤を表2、4に示すように変更したこと以外、実施例1と同様に、感光性樹脂溶液を作製した。各溶剤の量は、全溶剤量に対する質量比率を表2、4に示すものとした。続いて、感光性樹脂溶液と表1、3に示す導電性粒子を実施例1と同様に混合し、感光性導電ペーストP-2~22、R-1~5を作製した。ただし、感光性樹脂溶液と導電性粒子の比率は、表1、3に示す全固形分中の導電性粒子の体積比率となるように調整した。感光性樹脂溶液の密度は1.0g/cm3として計算した。続いて、作製した感光性導電ペーストP-2~22、R-1~5を実施例1と同様の方法で評価した。結果を表5、6に示す。
実施例1と同様の方法で、感光性樹脂溶液を作製した。続いて、感光性樹脂溶液、導電粒子および非導電無機粒子を表3の体積比率となるように混ぜ合わせ、3本ローラーを用いて混練し、表3、4に記載の感光性導電ペーストP-23、24を作製した。ただし、感光性樹脂溶液の密度は1.0g/cm3、非導電無機粒子の密度は、2.2g/cm3として計算した。続いて、作製した感光性導電ペーストP-23、24を実施例1と同様の方法で評価した。結果を表6に示す。
L マスクの開口幅
Claims (8)
- 導電性粒子(A)、感光性有機成分(B)、および2種類以上の溶剤(C)を含有し、
前記溶剤(C)のうち、最も沸点の低い溶剤(C-1)と最も沸点の高い溶剤(C-2)の沸点の差が35~120℃であり、
前記溶剤(C-1)の沸点が180~230℃であり、
前記溶剤(C-2)の沸点が251~300℃であり、
前記溶剤(C-2)のSP値が14.6~20.5(J/cm 3 ) 1/2 であり、
前記溶剤(C-2)がR 1 (OC 2 H 4 ) n OR 2 またはR 1 (OC 3 H 6 ) n OR 2 で表されるグリコールアルキルエーテルであり:
ただし、nは2~5の整数、R 1 は水素または炭素数1~6のアルキル基、R 2 は炭素数1~6のアルキル基を示す、
全溶剤100質量%に対して前記溶剤(C-2)の含有量が25~80質量%である感光性導電ペースト。 - さらに、シリカ粒子を含み、前記シリカ粒子表面がジアルキルシリル化および/またはトリアルキルシリル化された請求項1記載の感光性導電ペースト。
- 前記導電性粒子(A)が銀、銅、または、これらいずれかの金属を含む合金であり、平均二次粒子径(メジアン径(D50))が0.3~6.0μmである請求項1記載の感光性導電ペースト。
- さらに、炭素数3~18の不飽和脂肪酸および/または炭素数3~18の飽和脂肪酸を含む請求項1記載の感光性導電ペースト。
- 基材上に、請求項1記載の感光性導電ペーストを塗布し塗布膜を形成する工程、前記塗布膜を乾燥し乾燥膜を形成する工程、前記乾燥膜を露光および現像しパターンを形成する工程を含み、前記乾燥膜に残存する溶剤の量が前記感光性導電ペーストに含まれる全溶剤量の25~80質量%である導電パターン付き基材の製造方法。
- 基材上に、無機粒子(D)および有機成分(E)を含む膜を形成した後に、該膜の上に請求項1記載の感光性導電ペーストを塗布し塗布膜を形成する工程、前記塗布膜を45~80℃で乾燥し乾燥膜を形成する工程、前記乾燥膜を露光および現像しパターンを形成する工程を含み、前記乾燥膜に残存する溶剤の量が前記感光性導電ペーストに含まれる全溶剤量の25~80質量%である導電パターン付き基材の製造方法。
- 前記有機成分(E)が感光性有機成分を含有する請求項6記載の導電パターン付き基材の製造方法。
- 請求項5~7いずれか記載の導電パターン付き基材の製造方法により得られた導電パターン付き基材を焼成する焼成工程を有する電子部品の製造方法。
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