[go: up one dir, main page]

JP7776199B2 - Voltage measuring device - Google Patents

Voltage measuring device

Info

Publication number
JP7776199B2
JP7776199B2 JP2022580715A JP2022580715A JP7776199B2 JP 7776199 B2 JP7776199 B2 JP 7776199B2 JP 2022580715 A JP2022580715 A JP 2022580715A JP 2022580715 A JP2022580715 A JP 2022580715A JP 7776199 B2 JP7776199 B2 JP 7776199B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
unit
electrode
measurement
amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022580715A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2022173051A1 (en
JPWO2022173051A5 (en
Inventor
正寛 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Advance Technology Corp
Original Assignee
Nidec Advance Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidec Advance Technology Corp filed Critical Nidec Advance Technology Corp
Publication of JPWO2022173051A1 publication Critical patent/JPWO2022173051A1/ja
Publication of JPWO2022173051A5 publication Critical patent/JPWO2022173051A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7776199B2 publication Critical patent/JP7776199B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/04Voltage dividers
    • G01R15/06Voltage dividers having reactive components, e.g. capacitive transformer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

本発明は、測定対象のケーブルをクランプして測定する電圧測定装置に関する。 The present invention relates to a voltage measuring device that clamps the cable to be measured and measures it.

従来より、検出対象体に対向して配設される検出電極を備え、検出対象体と電気的に非接触で検出対象体の電圧を検出する電圧検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。 Conventionally, voltage detection devices have been known that have a detection electrode arranged opposite the object to be detected and detect the voltage of the object to be detected without electrical contact with the object to be detected (see, for example, Patent Document 1).

特開2010-25918号公報JP 2010-25918 A

ところで、上述の電圧検出装置では、検出電極の面積をS、検出対象体と検出電極との間の距離をd、検出対象体と検出電極との間の誘電率をεとすると、検出対象体と検出電極との間の静電容量Cは、C=εS/dとなる。この電圧検出装置を用いて被覆ケーブルの電圧を測定すると、ケーブル被覆の厚さがd、ケーブル被覆の誘電率がεとなる。 In the above-mentioned voltage detection device, if the area of the detection electrode is S, the distance between the detection object and the detection electrode is d, and the dielectric constant between the detection object and the detection electrode is ε, the capacitance C between the detection object and the detection electrode is C = εS/d. When this voltage detection device is used to measure the voltage of a covered cable, the thickness of the cable covering is d, and the dielectric constant of the cable covering is ε.

そのため、上述の電圧検出装置では、測定するケーブルが変わると、ケーブル被覆の厚さd及びケーブル被覆の誘電率εが変化し、検出対象体と検出電極との間の静電容量Cが変化する。その結果、測定対象のケーブルの特性によって電圧検出が影響を受けることとなり、電圧測定精度が低下する。 Therefore, in the above-mentioned voltage detection device, when the cable being measured changes, the thickness d of the cable coating and the dielectric constant ε of the cable coating change, causing a change in the capacitance C between the object to be detected and the detection electrode. As a result, voltage detection is affected by the characteristics of the cable being measured, reducing voltage measurement accuracy.

本発明の目的は、電圧測定精度を向上させることが容易な電圧測定装置を提供することである。 The object of the present invention is to provide a voltage measurement device that makes it easy to improve voltage measurement accuracy.

本発明の一例に係る電圧測定装置は、測定対象のケーブルをクランプするクランプ部と、前記クランプ部によってクランプされた前記ケーブルに対向するように配設された第一電極及び第二電極と、前記第一電極を、キャパシタを介してグラウンドに接続する安定化部と、増幅率を変更可能であって、前記第一電極から得られた電圧を増幅する増幅部と、前記ケーブルの電圧を測定するための測定モード及び前記増幅部の出力電圧を校正するための校正モードの設定を選択的にモード設定として受け付けるモード入力部と、周期的に変化する予め設定された基準電圧を出力する基準電圧出力部と、前記増幅部の出力電圧を測定する測定部と、前記測定モードのとき、前記第二電極をグラウンドに接続し、前記校正モードのとき、前記第二電極を前記基準電圧出力部に接続する切替部と、前記校正モードのとき、前記測定部の測定値と前記基準電圧と予め設定された測定倍率とに基づいて、前記増幅部の出力電圧が、前記ケーブルの電圧の前記測定倍率倍になるように、前記増幅率を調節する校正処理部とを備える。 A voltage measurement device according to one example of the present invention comprises a clamping unit that clamps a cable to be measured; a first electrode and a second electrode arranged to face the cable clamped by the clamping unit; a stabilization unit that connects the first electrode to ground via a capacitor; an amplifier unit that has a changeable gain and amplifies the voltage obtained from the first electrode; a mode input unit that selectively accepts a mode setting between a measurement mode for measuring the voltage of the cable and a calibration mode for calibrating the output voltage of the amplifier unit; a reference voltage output unit that outputs a periodically changing predetermined reference voltage; a measurement unit that measures the output voltage of the amplifier unit; a switching unit that connects the second electrode to ground in the measurement mode and connects the second electrode to the reference voltage output unit in the calibration mode; and a calibration processing unit that adjusts the gain in the calibration mode based on the measurement value of the measurement unit, the reference voltage, and the predetermined measurement magnification so that the output voltage of the amplifier unit is equal to the measurement magnification times the voltage of the cable.

このような構成の電圧測定装置は、電圧測定精度を向上させることが容易である。 A voltage measurement device with this configuration makes it easy to improve voltage measurement accuracy.

本発明の一実施形態に係るクランプ式電圧測定装置1の構成の一例を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an example of the configuration of a clamp-type voltage measurement device 1 according to an embodiment of the present invention. 図1に示すクランプアームと筐体の手前側の壁を透視して内部を示した正面図である。2 is a front view showing the inside of the clamp arm and the front wall of the housing shown in FIG. 1 . FIG. 図2に示す電極E1,E2を、Z方向から見た正面図である。FIG. 3 is a front view of the electrodes E1 and E2 shown in FIG. 2 as viewed from the Z direction. 図1に示すクランプ式電圧測定装置1の校正モードにおける電気的構成の一例を示す回路図である。2 is a circuit diagram showing an example of an electrical configuration of the clamp-type voltage measuring device 1 shown in FIG. 1 in a calibration mode. 図1に示すクランプ式電圧測定装置1の測定モードにおける電気的構成の一例を示す回路図である。2 is a circuit diagram showing an example of an electrical configuration of the clamp-type voltage measuring device 1 shown in FIG. 1 in a measurement mode. 校正モードにおけるクランプ式電圧測定装置1の動作の一例を示すフローチャートである。10 is a flowchart showing an example of the operation of the clamp-type voltage measuring device 1 in a calibration mode. 測定モードにおけるクランプ式電圧測定装置1の動作の一例を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing an example of the operation of the clamp-type voltage measuring device 1 in a measurement mode.

以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。各図には、方向関係を明確にするために適宜XYZ直交座標軸を示している。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Note that components with the same reference numerals in each drawing are identical and will not be described again. X, Y, and Z orthogonal coordinate axes are shown in each drawing as appropriate to clarify directional relationships.

図1に示すクランプ式電圧測定装置1は、大略的に、測定対象のケーブルCBLをクランプするクランプ部2と、クランプ部2と連結された略箱状形状の筐体3とを備えている。筐体3は、同軸ケーブル4を介してオシロスコープやデータロガー等の測定装置に接続される。The clamp-type voltage measuring device 1 shown in Figure 1 generally comprises a clamp unit 2 that clamps the cable CBL to be measured, and a roughly box-shaped housing 3 connected to the clamp unit 2. The housing 3 is connected to a measuring device such as an oscilloscope or data logger via a coaxial cable 4.

クランプ部2は、一対のクランプアーム21,22を備えている。クランプアーム21の基端部は、筐体3に取り付けられた軸体27によって軸支されている。クランプアーム21は、軸体27を中心に揺動可能とされている。クランプアーム21,22の対向面には、ケーブルCBLが嵌まり込む保持溝211,221が形成されている。 The clamp unit 2 has a pair of clamp arms 21, 22. The base end of the clamp arm 21 is supported by a shaft 27 attached to the housing 3. The clamp arm 21 is able to swing around the shaft 27. Retaining grooves 211, 221 into which the cable CBL fits are formed on the opposing surfaces of the clamp arms 21, 22.

クランプアーム21は、図略のねじりばねによって、クランプアーム22に向けて付勢されている。ねじりばねの付勢力により、クランプアーム21とクランプアーム22との間にケーブルCBLをクランプするようになっている。 The clamp arm 21 is biased toward the clamp arm 22 by a torsion spring (not shown). The biasing force of the torsion spring clamps the cable CBL between the clamp arm 21 and the clamp arm 22.

図2を参照して、クランプアーム22は筐体3に対して固定的に連結されている。なお、クランプアーム22は、クランプアーム21と同様に揺動可能であってもよい。クランプアーム21,22及び筐体3は、絶縁材料、例えば樹脂材料によって構成されている。 Referring to Figure 2, the clamp arm 22 is fixedly connected to the housing 3. Note that the clamp arm 22 may be swingable like the clamp arm 21. The clamp arms 21, 22 and the housing 3 are made of an insulating material, for example, a resin material.

クランプアーム22の内部には、収容空間28が設けられている。収容空間28は、筐体3の内部空間と連通している。収容空間28には、略板状形状の電極E1(第一電極)及び電極E2(第二電極)が配設されている。An accommodation space 28 is provided inside the clamp arm 22. The accommodation space 28 is connected to the internal space of the housing 3. An electrode E1 (first electrode) and an electrode E2 (second electrode), each having a substantially plate-like shape, are disposed in the accommodation space 28.

図3を参照して、電極E1,E2は、ケーブルCBLが伸びる方向に間隔を空けて、ケーブルCBLと対向するように、配置されている。 Referring to Figure 3, electrodes E1 and E2 are arranged opposite cable CBL with a gap between them in the direction in which cable CBL extends.

電極E1,E2は、例えばプリント配線基板に導体パターンとして形成されていてもよく、金属板であってもよい。電極E1,E2は、クランプアーム22の保持溝221の内壁面と対向又は接触して配設されている。これにより、クランプ部2によってクランプされたケーブルCBLに対して、絶縁材料で構成された保持溝221の壁を介して電極E1,E2が対向配置されるようになっている。 Electrodes E1 and E2 may be formed, for example, as a conductor pattern on a printed circuit board, or may be metal plates. Electrodes E1 and E2 are arranged facing or in contact with the inner wall surface of the holding groove 221 of the clamp arm 22. This allows electrodes E1 and E2 to face the cable CBL clamped by the clamp unit 2, via the wall of the holding groove 221, which is made of an insulating material.

筐体3には、回路基板31が収容されている。回路基板31の、端子T3と電極E1とが配線W1を介して接続され、端子T4と電極E2とが配線W2を介して接続されている。 The housing 3 contains a circuit board 31. Terminal T3 and electrode E1 of the circuit board 31 are connected via wiring W1, and terminal T4 and electrode E2 are connected via wiring W2.

クランプアーム22の収容空間28及び筐体3の内壁面には、少なくともクランプ部2によってクランプされたケーブルCBLと電極E1,E2との間に位置する部分を除いて、ハッチングで示す導電性の導電層32が形成されている。 A conductive layer 32, shown by hatching, is formed on the storage space 28 of the clamp arm 22 and the inner wall surface of the housing 3, except for at least the portion located between the cable CBL clamped by the clamp portion 2 and the electrodes E1 and E2.

導電層32は、例えばアルミ箔等の金属箔であってもよく、導電性の塗料が塗布されたものであってもよく、めっき層であってもよく、金属板であってもよい。図2に示す例では、クランプ部2によってクランプされたケーブルCBLと電極E1との間に位置する保持溝221の壁と、電極E1の周辺部には導電層32が形成されていない。The conductive layer 32 may be, for example, a metal foil such as aluminum foil, a conductive paint coating, a plated layer, or a metal plate. In the example shown in Figure 2, the conductive layer 32 is not formed on the wall of the holding groove 221 located between the cable CBL clamped by the clamp portion 2 and the electrode E1, or on the periphery of the electrode E1.

これにより、クランプ式電圧測定装置1の外壁面は絶縁性とされ、筐体3の内壁面、及びクランプアーム22の内壁面における少なくともクランプ部2によってクランプされたケーブルCBLと電極E1,E2との間に位置する部分を除く部分が導電性とされている。 As a result, the outer wall surface of the clamp-type voltage measuring device 1 is made insulating, and the inner wall surface of the housing 3 and the inner wall surface of the clamp arm 22 are made conductive except for at least the portion located between the cable CBL clamped by the clamp portion 2 and the electrodes E1 and E2.

クランプ式電圧測定装置1の外壁面が絶縁性とされているので、例えばケーブルCBLの導体部分が露出していた場合であっても、電極E1,E2や回路基板31にケーブルCBLから電流が流れてクランプ式電圧測定装置1が損傷するおそれが低減される。また、クランプ式電圧測定装置1を操作するユーザの安全性が向上する。また、導電層32を備えることによって、外部環境からの電磁ノイズを低減することができる。 Because the outer wall surface of the clamp-type voltage measuring device 1 is insulating, even if the conductor portion of the cable CBL is exposed, the risk of current flowing from the cable CBL to the electrodes E1, E2 or the circuit board 31 and damaging the clamp-type voltage measuring device 1 is reduced. This also improves the safety of users operating the clamp-type voltage measuring device 1. Furthermore, the provision of the conductive layer 32 helps reduce electromagnetic noise from the external environment.

なお、電極E1,E2は、必ずしもクランプ部2の内部に配設され、絶縁材料を介してケーブルCBLと対向するように配置される例に限らない。電極E1,E2は、例えば保持溝221に露出して配置され、ケーブルCBLと接触した状態で対向配置されてもよい。 Note that electrodes E1 and E2 are not necessarily arranged inside the clamping portion 2 and are not limited to being arranged so as to face the cable CBL via an insulating material. Electrodes E1 and E2 may be arranged, for example, exposed in the holding groove 221 and arranged so as to face the cable CBL while in contact with it.

後述するように、クランプ式電圧測定装置1は、ケーブルCBLの芯線Wと電極E1,E2とを対向配置することにより生じる静電容量Cx,Cxを介して芯線Wの電圧であるケーブル電圧Vxを検出する。静電容量Cx,Cxは、ケーブルCBLの芯線Wと電極E1,E2との対向距離dに反比例する。そのため、対向距離dが短いほど静電容量Cx,Cxが増大し、ケーブル電圧Vxの検出が容易になる。また、対向距離dが変化すると、静電容量Cx1,Cx2を介して得られる電圧が変動する。 As will be described later, the clamp-on voltage measurement device 1 detects the cable voltage Vx, which is the voltage of the core wire W of the cable CBL, through the capacitances Cx1 and Cx2 that are generated when the core wire W of the cable CBL faces the electrodes E1 and E2. The capacitances Cx1 and Cx2 are inversely proportional to the facing distance d between the core wire W of the cable CBL and the electrodes E1 and E2. Therefore, the shorter the facing distance d, the greater the capacitances Cx1 and Cx2 , making it easier to detect the cable voltage Vx. Furthermore, when the facing distance d changes, the voltage obtained via the capacitances Cx1 and Cx2 fluctuates.

一方、クランプアーム21,22は、図略のねじりばねの付勢力だけでは、ケーブルCBLのクランプ力が不足してケーブルCBLと保持溝221との間に隙間が生じて対向距離dが増大し、静電容量Cx,Cxが減少するおそれがある。また、ケーブルCBLが揺れて対向距離dが変動し、静電容量Cx,Cxが変動するおそれがある。 On the other hand, the clamping force of the clamp arms 21, 22, when exerted solely by the biasing force of the torsion spring (not shown), may be insufficient to clamp the cable CBL, causing a gap to form between the cable CBL and the holding groove 221, increasing the opposing distance d and decreasing the capacitances Cx1 and Cx2 . In addition, the cable CBL may sway, causing the opposing distance d to fluctuate, and the capacitances Cx1 and Cx2 to fluctuate.

しかしながら、クランプ式電圧測定装置1は、クランプアーム21,22を、ネジ25で締結してケーブルCBLを強固にクランプすることができるので、対向距離dの増大による静電容量Cx,Cxの減少や、ケーブルCBLの揺れによる静電容量Cx,Cxの変動が生じるおそれを低減することができる。 However, the clamp-type voltage measuring device 1 can firmly clamp the cable CBL by fastening the clamp arms 21 and 22 with the screws 25, thereby reducing the risk of a decrease in the capacitances Cx1 and Cx2 due to an increase in the opposing distance d, or fluctuations in the capacitances Cx1 and Cx2 due to the shaking of the cable CBL.

図4,図5に示すクランプ式電圧測定装置1は、電極E1,E2、切替スイッチSW(切替部)、基準電圧出力部PS、安定化部5、増幅部A、測定部7、モードスイッチ9、端子T1,T2、及び制御部8を備えている。切替スイッチSW、基準電圧出力部PS、安定化部5、増幅部A、測定部7、端子T1,T2、及び制御部8は、回路基板31に形成され、筐体3に収容されている。なお、測定部7、モードスイッチ9、及び制御部8のうち少なくとも一つは、必ずしも筐体3に収容される例に限られず、筐体3の外部に構成されていてもよい。 The clamp-type voltage measuring device 1 shown in Figures 4 and 5 comprises electrodes E1, E2, a selector switch SW (switching unit), a reference voltage output unit PS, a stabilizing unit 5, an amplifier unit A, a measuring unit 7, a mode switch 9, terminals T1, T2, and a control unit 8. The selector switch SW, the reference voltage output unit PS, the stabilizing unit 5, an amplifier unit A, a measuring unit 7, terminals T1, T2, and a control unit 8 are formed on a circuit board 31 and housed in the housing 3. Note that at least one of the measuring unit 7, the mode switch 9, and the control unit 8 is not necessarily housed in the housing 3, and may be configured outside the housing 3.

ケーブルCBLは、導体の芯線Wが、絶縁性の被覆Jによって被覆されている。図4,図5では、芯線Wと電極E1とが対向することにより形成される静電容量を、静電容量Cxで表し、芯線Wと電極E2とが対向することにより形成される静電容量を、静電容量Cxで表している。 The cable CBL has a conductor core wire W covered with an insulating coating J. In Figures 4 and 5, the capacitance formed when the core wire W faces the electrode E1 is represented by capacitance Cx1 , and the capacitance formed when the core wire W faces the electrode E2 is represented by capacitance Cx2 .

安定化部5は、並列回路51、抵抗R2、及びキャパシタC2を含む。並列回路51は、キャパシタC1と、抵抗R1との並列回路である。電極E1は、図2に示す端子T3と配線W1とを介して、並列回路51の一端P1及びアンプA1の非反転入力端子に接続されている。並列回路51の他端P2は、キャパシタC2を介して回路グラウンドGNDに接続されている。また、並列回路51の他端P2は、抵抗R2を介して回路グラウンドGNDに接続されている。回路グラウンドGNDは、導電層32と接続されている。 The stabilization unit 5 includes a parallel circuit 51, a resistor R2, and a capacitor C2. The parallel circuit 51 is a parallel circuit of a capacitor C1 and a resistor R1. The electrode E1 is connected to one end P1 of the parallel circuit 51 and the non-inverting input terminal of the amplifier A1 via the terminal T3 and wiring W1 shown in FIG. 2. The other end P2 of the parallel circuit 51 is connected to the circuit ground GND via the capacitor C2. The other end P2 of the parallel circuit 51 is also connected to the circuit ground GND via the resistor R2. The circuit ground GND is connected to the conductive layer 32.

安定化部5は、電極E1からアンプA1の非反転入力端子に入力される入力電圧Vinの電位を安定させる機能と、後述するフィルタとしての機能を有している。もし仮に、クランプ式電圧測定装置1が安定化部5を備えていなかった場合、電極E1は、ハイインピーダンスであるアンプA1の非反転入力端子に接続されるだけなので、電極E1は基準電位の無い電気的に浮いた状態となり、電極E1から非反転入力端子に至る配線はアンテナのようになる。そのため、アンプA1の非反転入力端子に入力される入力電圧Vinが不安定になる。The stabilization unit 5 stabilizes the potential of the input voltage Vin input from electrode E1 to the non-inverting input terminal of amplifier A1, and also functions as a filter (described below). If the clamp-type voltage measurement device 1 did not include the stabilization unit 5, electrode E1 would simply be connected to the high-impedance non-inverting input terminal of amplifier A1, leaving electrode E1 in an electrically floating state with no reference potential, and the wiring from electrode E1 to the non-inverting input terminal would act like an antenna. This would cause the input voltage Vin input to the non-inverting input terminal of amplifier A1 to become unstable.

そこで、安定化部5を備え、電極E1を、キャパシタC1,C2を介して回路グラウンドGNDに接続することによって、入力電圧Vinに対する基準電位を設け、入力電圧Vinを安定化することができる。 Therefore, by providing a stabilization unit 5 and connecting electrode E1 to circuit ground GND via capacitors C1 and C2, a reference potential for the input voltage Vin can be established, and the input voltage Vin can be stabilized.

なお、安定化部5は、必ずしも後述するフィルタとしての機能を有する必要はなく、入力電圧Vinを安定化することができればよい。例えば、安定化部5は、キャパシタC2のみが電極E1に接続された構成であってもよい。 The stabilization unit 5 does not necessarily have to function as a filter, as described below, but only needs to be able to stabilize the input voltage Vin. For example, the stabilization unit 5 may be configured so that only the capacitor C2 is connected to the electrode E1.

キャパシタC1,C2の静電容量C,Cは、想定される静電容量Cx,Cxに対して十分大きく、例えば100~1000倍以上とされている。これにより、静電容量Cx,Cxのインピーダンスに対して、キャパシタC1,C2のインピーダンスが無視できる程度に小さくなるようにされている。 The capacitances C1 and C2 of the capacitors C1 and C2 are set to be sufficiently large, for example, 100 to 1000 times or more, relative to the expected capacitances Cx1 and Cx2 , so that the impedances of the capacitors C1 and C2 are negligibly small relative to the impedances of the capacitances Cx1 and Cx2 .

増幅部Aは、アンプA1、帰還抵抗Ra、及び可変抵抗Rxを含む。アンプA1は、いわゆる演算増幅器である。アンプA1の非反転入力端子は、並列回路51の一端P1に接続されている。帰還抵抗Raの一端はアンプA1の反転入力端子に接続され、帰還抵抗Raの他端はアンプA1の出力端子に接続されている。アンプA1の反転入力端子は、可変抵抗Rxを介して回路グラウンドGNDに接続されている。これにより、増幅部Aは、非反転増幅器とされている。可変抵抗Rxとしては、例えばデジタルポテンショメータを用いることができる。なお、可変抵抗Rxは、デジタルポテンショメータに限られない。可変抵抗Rxとしては、抵抗値を変更可能な種々の部品又は回路を用いることができる。 The amplifier section A includes an amplifier A1, a feedback resistor Ra, and a variable resistor Rx. The amplifier A1 is a so-called operational amplifier. The non-inverting input terminal of the amplifier A1 is connected to one end P1 of the parallel circuit 51. One end of the feedback resistor Ra is connected to the inverting input terminal of the amplifier A1, and the other end of the feedback resistor Ra is connected to the output terminal of the amplifier A1. The inverting input terminal of the amplifier A1 is connected to the circuit ground GND via the variable resistor Rx. This makes the amplifier section A a non-inverting amplifier. The variable resistor Rx can be, for example, a digital potentiometer. Note that the variable resistor Rx is not limited to a digital potentiometer. Various components or circuits whose resistance value can be changed can be used as the variable resistor Rx.

帰還抵抗Raの抵抗値をRa、可変抵抗Rxの抵抗値をRxとすると、増幅部Aの増幅率Gは、G=1+Ra/Rxとなる。従って、抵抗値Rxを変化させることによって、増幅率Gを調節することができる。 If the resistance value of the feedback resistor Ra is Ra and the resistance value of the variable resistor Rx is Rx, the amplification factor G of the amplifier section A is G = 1 + Ra/Rx. Therefore, the amplification factor G can be adjusted by changing the resistance value Rx.

なお、帰還抵抗Raを可変抵抗とし、帰還抵抗Raの抵抗値Raを変化させることによって、増幅部Aの増幅率Gを調節可能としてもよい。しかしながら、帰還抵抗Raは、増幅部Aの周波数特性に影響するので、周波数特性に影響しない可変抵抗Rxを変化させることによって、増幅部Aの増幅率Gを調節する構成がより好ましい。 The feedback resistor Ra may be a variable resistor, and the gain G of the amplifier unit A may be adjusted by changing the resistance value Ra of the feedback resistor Ra. However, since the feedback resistor Ra affects the frequency characteristics of the amplifier unit A, it is more preferable to adjust the gain G of the amplifier unit A by changing the variable resistor Rx, which does not affect the frequency characteristics.

なお、増幅部Aは、反転増幅器であってもよい。しかしながら、増幅部Aを反転増幅器とした場合、電極E1は、帰還抵抗が接続されるのと同じ反転入力端子に接続されることとなる。この場合、電極E1から帰還抵抗を介してアンプの出力端子に至る電流経路を漏れ電流が流れ、入力電圧Vinに影響を与えるおそれがある。 Note that amplifier unit A may be an inverting amplifier. However, if amplifier unit A is an inverting amplifier, electrode E1 will be connected to the same inverting input terminal to which the feedback resistor is connected. In this case, leakage current may flow through the current path from electrode E1 via the feedback resistor to the amplifier's output terminal, potentially affecting the input voltage Vin.

一方、増幅部Aを非反転増幅器とすれば、電極E1は、アンプA1のハイインピーダンスな非反転入力端子に接続され、帰還抵抗Raを介する漏れ電流が生じない。その結果、入力電圧Vinに漏れ電流が影響を与えるおそれが低減される。従って、増幅部Aを非反転増幅器とすることがより好ましい。 On the other hand, if amplifier unit A is a non-inverting amplifier, electrode E1 is connected to the high-impedance non-inverting input terminal of amplifier A1, and no leakage current occurs through feedback resistor Ra. As a result, the risk of leakage current affecting the input voltage Vin is reduced. Therefore, it is more preferable to use a non-inverting amplifier for amplifier unit A.

アンプA1の出力端子は測定部7と、端子T1とに接続されている。端子T2は回路グラウンドGNDに接続されている。端子T1は同軸ケーブル4の芯線に接続され、端子T2は同軸ケーブル4のシールド線に接続されている。これにより、アンプA1の出力電圧Voutが、同軸ケーブル4を介してオシロスコープやデータロガー等の測定装置へ出力される。すなわち、アンプA1の出力電圧Voutが、クランプ式電圧測定装置1の測定結果を表している。 The output terminal of amplifier A1 is connected to the measurement unit 7 and terminal T1. Terminal T2 is connected to circuit ground GND. Terminal T1 is connected to the core wire of coaxial cable 4, and terminal T2 is connected to the shield wire of coaxial cable 4. As a result, the output voltage Vout of amplifier A1 is output to a measurement device such as an oscilloscope or data logger via coaxial cable 4. In other words, the output voltage Vout of amplifier A1 represents the measurement result of the clamp-type voltage measurement device 1.

クランプ式電圧測定装置1は、ケーブル電圧Vxの、測定倍率Mの電圧を出力電圧Voutとして出力するようになっている。測定倍率Mが既知であることから、クランプ式電圧測定装置1に接続される測定装置は、出力電圧Voutから、測定されたケーブル電圧Vxを正しく認識できるようになっている。しかしながら、出力電圧Voutが、ケーブル電圧Vxの測定倍率M倍になっていないと、出力電圧Voutは、測定されたケーブル電圧Vxを正しく表していないことになる。そこで、後述する校正モードによって、出力電圧Voutがケーブル電圧Vxの測定倍率M倍になるように、増幅率Gを調節する。測定倍率Mは、例えば1/100とされている。The clamp-type voltage measurement device 1 outputs the cable voltage Vx multiplied by a measurement magnification factor M as the output voltage Vout. Because the measurement magnification factor M is known, the measurement device connected to the clamp-type voltage measurement device 1 can correctly identify the measured cable voltage Vx from the output voltage Vout. However, if the output voltage Vout is not multiplied by the measurement magnification factor M of the cable voltage Vx, the output voltage Vout will not accurately represent the measured cable voltage Vx. Therefore, using the calibration mode described below, the amplification factor G is adjusted so that the output voltage Vout is multiplied by the measurement magnification factor M of the cable voltage Vx. The measurement magnification factor M is, for example, 1/100.

ケーブルCBLは、特に限定されないが、例えば電気自動車のモータ駆動用電源ケーブルが想定される。電気自動車のモータ駆動用電源ケーブルの場合、インバータから出力されたPWM(Pulse Width Modulation)による矩形波周期波形の交流電圧であるケーブル電圧Vxが、測定対象となる。 The cable CBL is not particularly limited, but may be, for example, a power cable for driving the motor of an electric vehicle. In the case of a power cable for driving the motor of an electric vehicle, the cable voltage Vx, which is an AC voltage with a periodic rectangular waveform generated by PWM (Pulse Width Modulation) output from the inverter, is the object of measurement.

以下、安定化部5のフィルタとしての機能について説明する。芯線Wのケーブル電圧Vxは、静電容量Cxを介して並列回路51の一端P1に印加される。例えばPWMによる矩形波周期波形の場合、矩形波の立ち上がり、立ち下がりに高周波成分が含まれるため、芯線Wの電圧波形を精度よく測定するためには矩形波の周期に対応する低周波成分と、矩形波の立ち上がり、立ち下がりに対応する高周波成分の両方を検出する必要がある。 The filter function of the stabilization unit 5 will now be described. The cable voltage Vx of the core wire W is applied to one end P1 of the parallel circuit 51 via the electrostatic capacitance Cx1 . For example, in the case of a periodic rectangular wave generated by PWM, high-frequency components are included in the rising and falling edges of the rectangular wave. Therefore, in order to accurately measure the voltage waveform of the core wire W, it is necessary to detect both the low-frequency components corresponding to the period of the rectangular wave and the high-frequency components corresponding to the rising and falling edges of the rectangular wave.

そこでクランプ式電圧測定装置1によれば、抵抗R1とキャパシタC2の直列回路が構成される。抵抗R1とキャパシタC2の直列回路は、いわゆる積分回路であり、低周波成分を通過させるローパスフィルタとして機能する。Therefore, the clamp-type voltage measuring device 1 forms a series circuit of resistor R1 and capacitor C2. The series circuit of resistor R1 and capacitor C2 is a so-called integrating circuit, and functions as a low-pass filter that passes low-frequency components.

アンプA1の入力端子には、キャパシタC2の端子間電圧と、抵抗R1の端子間電圧とが加算されて印加されるから、抵抗R1とキャパシタC2の直列回路によれば、矩形波の周期に対応する低周波成分を、アンプA1に入力することができる。 The input terminal of amplifier A1 is applied with the sum of the terminal voltage of capacitor C2 and the terminal voltage of resistor R1. Therefore, the series circuit of resistor R1 and capacitor C2 allows low-frequency components corresponding to the period of the rectangular wave to be input to amplifier A1.

また、クランプ式電圧測定装置1によれば、キャパシタC1と抵抗R2の直列回路が構成される。キャパシタC1と抵抗R2の直列回路は、いわゆる微分回路であり、高周波成分を通過させるハイパスフィルタとして機能する。 Furthermore, according to the clamp-type voltage measuring device 1, a series circuit of capacitor C1 and resistor R2 is formed. The series circuit of capacitor C1 and resistor R2 is a so-called differential circuit, and functions as a high-pass filter that passes high-frequency components.

アンプA1の入力端子には、抵抗R2の端子間電圧と、キャパシタC1の端子間電圧とが加算されて印加されるから、キャパシタC1と抵抗R2の直列回路によれば、矩形波の立ち上がり、立ち下がりに対応する高周波成分を、アンプA1に入力することができる。 The input terminal of amplifier A1 is applied with the sum of the voltage across resistor R2 and the voltage across capacitor C1. Therefore, the series circuit of capacitor C1 and resistor R2 allows high-frequency components corresponding to the rising and falling edges of the rectangular wave to be input to amplifier A1.

すなわち、アンプA1の入力端子には、矩形波の周期に対応する低周波成分と、矩形波の立ち上がり、立ち下がりに対応する高周波成分の両方が重畳されて入力される。従って、芯線Wから検出された交流電圧波形を精度よく、アンプA1で増幅し、測定装置へ出力することが可能となる。 In other words, the input terminal of amplifier A1 receives a superimposed signal consisting of both low-frequency components corresponding to the period of the square wave and high-frequency components corresponding to the rising and falling edges of the square wave. Therefore, the AC voltage waveform detected from the core wire W can be accurately amplified by amplifier A1 and output to the measuring device.

基準電圧出力部PSは、周期的に変化する予め設定された基準電圧Vsを出力する。基準電圧Vsは、周期的に変化するものであればよく、例えば正弦波交流であってもよく、矩形波パルスであってもよいが、ケーブルCBLの検出対象の電圧と類似の信号波形であることが好ましい。例えば上述したように、矩形波周期波形の交流電圧が測定対象である場合、基準電圧出力部PSは、基準電圧Vsとして矩形波電圧を出力することが好ましい。 The reference voltage output unit PS outputs a predetermined reference voltage Vs that changes periodically. The reference voltage Vs may be any voltage that changes periodically, such as a sinusoidal AC voltage or a square wave pulse, but it is preferable that the reference voltage Vs has a signal waveform similar to the voltage to be detected on the cable CBL. For example, as described above, if the measurement target is an AC voltage with a square wave periodic waveform, it is preferable that the reference voltage output unit PS output a square wave voltage as the reference voltage Vs.

切替スイッチSWは、測定モードのとき、電極E2を回路グラウンドGNDに接続し、校正モードのとき、電極E2を基準電圧出力部PSに接続する切替部である。切替スイッチSWは、例えば制御部8からの制御信号に応じて測定モードと校正モードとで接続を切り替える。 The selector switch SW is a switching unit that connects electrode E2 to circuit ground GND in measurement mode and connects electrode E2 to the reference voltage output unit PS in calibration mode. The selector switch SW switches the connection between measurement mode and calibration mode in response to a control signal from the control unit 8, for example.

モードスイッチ9は、例えばユーザが操作可能なモード設定スイッチである。モードスイッチ9を操作することによって、測定モードと校正モードとを選択的に設定可能となっている。モードスイッチ9で設定されたモードを示す信号が、制御部8へ出力される。 The mode switch 9 is, for example, a mode setting switch that can be operated by the user. By operating the mode switch 9, it is possible to selectively set the measurement mode or the calibration mode. A signal indicating the mode set by the mode switch 9 is output to the control unit 8.

測定部7は、増幅部Aの出力電圧Voutを測定する。測定部7は、例えばアナログデジタル変換器を用いて構成されている。測定部7は、出力電圧Voutの測定値Vmを制御部8へ出力する。測定対象のケーブル電圧Vxが交流であることから、出力電圧Voutも交流波形となる。そこで、測定部7は、出力電圧Voutのピークツーピーク値を測定値Vmとして測定することが好ましい。 The measurement unit 7 measures the output voltage Vout of the amplifier unit A. The measurement unit 7 is configured using, for example, an analog-to-digital converter. The measurement unit 7 outputs the measured value Vm of the output voltage Vout to the control unit 8. Because the cable voltage Vx to be measured is AC, the output voltage Vout also has an AC waveform. Therefore, it is preferable for the measurement unit 7 to measure the peak-to-peak value of the output voltage Vout as the measured value Vm.

制御部8は、例えば所定の演算処理を実行するCPU(Central Processing Unit)、データを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の不揮発性の記憶素子、及びこれらの周辺回路等を用いて構成されている。制御部8は、上述の記憶素子に記憶されたプログラムを実行することによって、モード入力部81、及び校正処理部82として機能する。 The control unit 8 is configured using, for example, a CPU (Central Processing Unit) that executes predetermined calculations, RAM (Random Access Memory) that temporarily stores data, non-volatile memory elements such as flash memory, and peripheral circuits for these. The control unit 8 functions as a mode input unit 81 and a calibration processing unit 82 by executing programs stored in the above-mentioned memory elements.

モード入力部81は、モードスイッチ9から出力された信号に基づき、ケーブルCBLの芯線Wの電圧であるケーブル電圧Vxを測定するための測定モード及び増幅部Aの出力電圧Voutを校正するための校正モードの設定を選択的にモード設定として受け付ける。モード入力部81は、受け付けたモード設定が測定モードのとき、切替スイッチSWによって電極E2を回路グラウンドGNDに接続させ、校正モードのとき、切替スイッチSWによって電極E2を基準電圧出力部PSに接続させる。Based on the signal output from the mode switch 9, the mode input unit 81 selectively accepts a mode setting between a measurement mode for measuring the cable voltage Vx, which is the voltage of the core wire W of the cable CBL, and a calibration mode for calibrating the output voltage Vout of the amplifier unit A. When the accepted mode setting is the measurement mode, the mode input unit 81 connects the electrode E2 to the circuit ground GND using the selector switch SW, and when the accepted mode setting is the calibration mode, it connects the electrode E2 to the reference voltage output unit PS using the selector switch SW.

なお、必ずしもモード入力部81が切替スイッチSWを切り替える例に限らない。例えば、モードスイッチ9及び切替スイッチSWを、双極双投のスイッチによって構成してもよい。そして、双極双投のスイッチの一方の極をモードスイッチ9、他方の極を切替スイッチSWとして用いてもよい。このようにすれば、モード入力部81が切替スイッチSWを切り替えなくても、モードに応じて切替スイッチSWを切り替えることができる。 Note that the example is not necessarily limited to the mode input unit 81 switching the selector switch SW. For example, the mode switch 9 and the selector switch SW may be configured as double-pole double-throw switches. One pole of the double-pole double-throw switch may be used as the mode switch 9, and the other pole as the selector switch SW. In this way, the selector switch SW can be switched according to the mode, even if the mode input unit 81 does not switch the selector switch SW.

また、モード入力部81は、外部からモード設定を示す信号を受け付けることができればよく、クランプ式電圧測定装置1は、モードスイッチ9を備えていなくてもよい。 Furthermore, the mode input unit 81 only needs to be able to receive a signal indicating a mode setting from the outside, and the clamp-type voltage measuring device 1 does not need to be equipped with a mode switch 9.

校正処理部82は、校正モードのとき、測定部7の測定値Vmと基準電圧Vsと予め設定された測定倍率Mとに基づいて、増幅部Aの出力電圧Voutが、ケーブル電圧Vxの測定倍率M倍になるように、増幅部Aの増幅率Gを増幅率Gxに調節する。 When in calibration mode, the calibration processing unit 82 adjusts the amplification factor G of the amplifier unit A to an amplification factor Gx based on the measurement value Vm of the measurement unit 7, the reference voltage Vs, and a predetermined measurement magnification M so that the output voltage Vout of the amplifier unit A becomes the measurement magnification M times the cable voltage Vx.

具体的には、校正処理部82は、下記の式(1)に基づいて、現状の増幅率G、すなわち校正モードで測定部7によって出力電圧Voutが測定されたときの増幅率Gに対して、測定倍率Mが得られる校正後の目標値となる増幅率Gxを算出する。 Specifically, the calibration processing unit 82 calculates the amplification factor Gx, which is the target value after calibration that will obtain the measurement magnification M, based on the current amplification factor G, i.e., the amplification factor G when the output voltage Vout is measured by the measurement unit 7 in calibration mode, based on the following equation (1):

Gx={G×Vs×Cx/(Cx+Cx)}×M/Vm・・・(1) Gx={G×Vs×Cx 2 /(Cx 1 +Cx 2 )}×M/Vm...(1)

ここで、電極E1,E2と芯線Wとの対向距離をd、被覆Jの誘電率をε、電極E1の面積をS、電極E2の面積をSとすると、静電容量Cx=εS/d、静電容量Cx=εS/dとなる。そこで、クランプ式電圧測定装置1では、S=Sとすることによって、静電容量Cxと静電容量Cxとを、略等しくすることができる。静電容量Cxと静電容量Cxとが等しい場合、式(1)は、下記の式(2)となる。 Here, if the opposing distance between electrodes E1, E2 and core wire W is d, the dielectric constant of coating J is ε, the area of electrode E1 is S1 , and the area of electrode E2 is S2 , then capacitance Cx1 = εS1 /d and capacitance Cx2 = εS2 /d. Therefore, in the clamp-on voltage measuring device 1, capacitance Cx1 and capacitance Cx2 can be made approximately equal by setting S1 = S2 . When capacitance Cx1 and capacitance Cx2 are equal, equation (1) becomes the following equation (2).

Gx=(G×Vs/2)×M/Vm・・・(2) Gx=(G×Vs/2)×M/Vm...(2)

従って、校正処理部82は、式(2)に基づいて、増幅率Gxを算出することができる。式(1)に基づいて増幅率Gxを算出する場合、静電容量Cx,Cxを測定する必要があるのに対し、式(2)によれば、静電容量Cx,Cxを測定する必要がないので、増幅率Gxの算出が容易となる。 Therefore, the calibration processing unit 82 can calculate the amplification factor Gx based on formula (2). When calculating the amplification factor Gx based on formula (1), it is necessary to measure the capacitances Cx1 and Cx2 , but according to formula (2), it is not necessary to measure the capacitances Cx1 and Cx2 , so that the calculation of the amplification factor Gx becomes easier.

すなわち、静電容量Cxと静電容量Cxとを等しくすることによって、増幅率Gxの算出が容易となる。また、電極E1の面積Sと、電極E2の面積Sとを等しくすることによって、静電容量Cxと静電容量Cxとを等しくすることが容易となる。 That is, by making the capacitance Cx1 and the capacitance Cx2 equal, it becomes easy to calculate the amplification factor Gx. Also, by making the area S1 of the electrode E1 equal to the area S2 of the electrode E2, it becomes easy to make the capacitance Cx1 and the capacitance Cx2 equal.

すなわち、式(2)を用いるためには、静電容量Cxと静電容量Cxとが等しければよく、必ずしも面積Sと、面積Sとが等しい例に限らない。しかしながら、面積Sと、面積Sとが等しければ、電極E1,E2と芯線Wとの対向距離が、同じ対向距離dになるように電極E1,E2を配置することで、静電容量Cxと静電容量Cxとを等しくできる。従って、面積Sと面積Sとを等しくすることは、式(2)を用いて増幅率Gxの算出を容易にすることができる点で、より好ましい。 That is, to use equation (2), it is sufficient that capacitance Cx1 and capacitance Cx2 are equal, and the example is not necessarily limited to one in which area S1 and area S2 are equal. However, if area S1 and area S2 are equal, capacitance Cx1 and capacitance Cx2 can be made equal by arranging electrodes E1 and E2 so that the opposing distances between electrodes E1, E2 and core wire W are the same opposing distance d. Therefore, making area S1 and area S2 equal is more preferable because it makes it easier to calculate the amplification factor Gx using equation (2).

校正処理部82は、可変抵抗Rxの抵抗値を調節することによって、増幅部Aの増幅率を、増幅率Gxに調節する。 The calibration processing unit 82 adjusts the amplification factor of the amplifier unit A to the amplification factor Gx by adjusting the resistance value of the variable resistor Rx.

次に、式(1)の導出について説明する。図4に示すように、校正モードで電極E2が基準電圧出力部PSに接続されている状態で説明する。校正モードでは、ケーブルCBLに対して外部から電圧が印加されていない状態にされている。この状態では、基準電圧出力部PSの基準電圧Vsに基づいて芯線Wに誘起された電圧が、ケーブル電圧Vxとなる。Next, we will explain the derivation of equation (1). As shown in Figure 4, we will explain the case where electrode E2 is connected to the reference voltage output unit PS in calibration mode. In calibration mode, no external voltage is applied to the cable CBL. In this state, the voltage induced in the core wire W based on the reference voltage Vs of the reference voltage output unit PS becomes the cable voltage Vx.

従って、ケーブル電圧Vxは、静電容量Cxと安定化部5との直列回路と、静電容量Cxとで基準電圧Vsが分圧された電圧になる。ここで、上述したように、安定化部5のキャパシタC1,C2のインピーダンスは、静電容量Cx,Cxのインピーダンスに対して無視できる程度に小さい。従って、ケーブル電圧Vxは、基準電圧Vsが静電容量Cx,Cxで分圧された値となり、下記の式(3)で近似することができる。 Therefore, the cable voltage Vx is the voltage obtained by dividing the reference voltage Vs between the capacitance Cx1 and the series circuit of the capacitance Cx2 and the stabilization unit 5. As described above, the impedance of the capacitors C1 and C2 of the stabilization unit 5 is small enough to be ignored compared to the impedance of the capacitances Cx1 and Cx2 . Therefore, the cable voltage Vx is the value obtained by dividing the reference voltage Vs between the capacitances Cx1 and Cx2 , and can be approximated by the following equation (3).

ケーブル電圧Vx≒Vs×Cx/(Cx+Cx) ・・・(3) Cable voltage Vx≈Vs×Cx 2 /(Cx 1 +Cx 2 ) (3)

ここで、校正モード中の校正前の増幅部Aの増幅率をG、求めたい校正後の増幅部Aの増幅率をGxとすると、以下の式(4)が成立する。 Here, if the amplification factor of amplifier unit A before calibration during calibration mode is G and the desired amplification factor of amplifier unit A after calibration is Gx, the following equation (4) holds.

ケーブル電圧Vx=Gx×Vin/M=Gx×(Vm/G)/M ・・・(4)
式(4)を変形して、
Cable voltage Vx = Gx × Vin/M = Gx × (Vm/G)/M (4)
Transforming equation (4) gives:

増幅率Gx=G×Vx×M/Vm ・・・(5)
式(5)のケーブル電圧Vxに式(3)を代入すると、上述の式(1)が得られる。
Amplification factor Gx=G×Vx×M/Vm (5)
By substituting equation (3) for the cable voltage Vx in equation (5), the above equation (1) is obtained.

増幅部Aの増幅率をGxにするためには、下記の式(6)を満たすように抵抗値Rxを調節すればよい。 To set the amplification factor of amplifier section A to Gx, simply adjust the resistance value Rx to satisfy the following equation (6).

増幅率Gx=1+Ra/Rx ・・・(6)
式(6)を変形して、
Amplification factor Gx=1+Ra/Rx (6)
Transforming equation (6) gives:

抵抗値Rx=Ra/(Gx-1) ・・・(7)Resistance value Rx = Ra / (Gx - 1) ... (7)

以上から、校正処理部82は、式(1)又は式(2)によって得られた増幅率Gxを式(7)に代入することによって抵抗値Rxを算出し、可変抵抗Rxの抵抗値を式(7)で得られた抵抗値Rxに設定することによって、増幅部Aを増幅率Gxに調節することができる。これにより、増幅部Aの出力電圧Voutが、下記の式(8)を満たすように、クランプ式電圧測定装置1を校正することができる。 From the above, the calibration processing unit 82 calculates the resistance value Rx by substituting the amplification factor Gx obtained from equation (1) or equation (2) into equation (7), and by setting the resistance value of the variable resistor Rx to the resistance value Rx obtained from equation (7), it is possible to adjust the amplification factor Gx of the amplification unit A. This allows the clamp-type voltage measuring device 1 to be calibrated so that the output voltage Vout of the amplification unit A satisfies the following equation (8).

出力電圧Vout=M×Vx ・・・(8)Output voltage Vout = M x Vx (8)

次に、上述のように構成されたクランプ式電圧測定装置1の動作の一例について説明する。図6を参照して、クランプ式電圧測定装置1の校正を行う際、ユーザは、例えばケーブルCBLを装置から取り外す等して芯線Wに対して電圧が加わらない状態にする。この状態で、ユーザは、ケーブルCBLをクランプ部2によってクランプさせ、モードスイッチ9を操作して校正モードを設定する。そうすると、モードスイッチ9から制御部8へ、校正モードを示す信号が出力される。Next, an example of the operation of the clamp-type voltage measuring device 1 configured as described above will be described. Referring to Figure 6, when calibrating the clamp-type voltage measuring device 1, the user removes the cable CBL from the device, for example, to ensure that no voltage is applied to the core wire W. In this state, the user clamps the cable CBL with the clamp unit 2 and operates the mode switch 9 to set the calibration mode. This causes the mode switch 9 to output a signal indicating the calibration mode to the control unit 8.

図6に示す例では、Cx=Cxの場合の動作を示している。モードスイッチ9から校正モードを示す信号が出力されると、モード入力部81は、校正モードの設定を受け付け、切替スイッチSWを、基準電圧出力部PS側に切り替える(ステップS1)。そうすると、図4を参照して、基準電圧出力部PSから出力された基準電圧Vsが電極E2へ供給され、電極E2から静電容量Cx、芯線W、及び静電容量Cxを介して電極E1に入力電圧Vinが誘起される。 6 shows the operation when Cx1 = Cx2 . When a signal indicating the calibration mode is output from the mode switch 9, the mode input unit 81 accepts the setting of the calibration mode and switches the selector switch SW to the reference voltage output unit PS side (step S1). Then, referring to FIG. 4, the reference voltage Vs output from the reference voltage output unit PS is supplied to the electrode E2, and an input voltage Vin is induced in the electrode E1 from the electrode E2 via the capacitance Cx2 , the core wire W, and the capacitance Cx1 .

入力電圧Vinは、増幅部Aによって増幅率Gで増幅され、出力電圧Voutとして測定部7へ出力される。上述したように出力電圧Voutは交流波形になることから、出力電圧Voutのピークツーピーク電圧が測定部7で測定され、その測定値Vmが制御部8へ出力される。 The input voltage Vin is amplified by the amplifier A with an amplification factor G and output as the output voltage Vout to the measurement unit 7. As mentioned above, the output voltage Vout has an AC waveform, so the peak-to-peak voltage of the output voltage Vout is measured by the measurement unit 7, and the measured value Vm is output to the control unit 8.

図6を参照して、校正処理部82は、測定部7で測定された測定値Vmに基づき、式(2)から増幅率Gxを算出する(ステップS2)。なお、Cx=Cxではなく、静電容量Cx,Cxが既知の場合は、ステップS2において、式(1)を用いて増幅率Gxを算出すればよい。 6, the calibration processing unit 82 calculates the amplification factor Gx from equation (2) based on the measurement value Vm measured by the measurement unit 7 (step S2). Note that if the capacitances Cx1 and Cx2 are known rather than Cx1 = Cx2 , the amplification factor Gx can be calculated using equation (1) in step S2.

次に、校正処理部82は、算出した増幅率Gxに基づき、式(7)から抵抗値Rxを算出する(ステップS3)。次に、校正処理部82は、可変抵抗Rxの抵抗値を、算出したRxに設定する(ステップS4)。これにより、増幅部Aの増幅率がGxに設定される。Next, the calibration processing unit 82 calculates the resistance value Rx using equation (7) based on the calculated amplification factor Gx (step S3). Next, the calibration processing unit 82 sets the resistance value of the variable resistor Rx to the calculated Rx (step S4). This sets the amplification factor of the amplifier A to Gx.

これにより、出力電圧Voutが、ケーブル電圧Vxの測定倍率Mとなるように、すなわち式(8)を満たすように、クランプ式電圧測定装置1を校正することができる。 This allows the clamp-type voltage measuring device 1 to be calibrated so that the output voltage Vout becomes the measurement magnification M of the cable voltage Vx, i.e., so that equation (8) is satisfied.

次に、測定モードについて説明する。ケーブルCBLの使用状態でのケーブル電圧Vxを測定する際、ユーザは、装置に接続されたケーブルCBLをクランプ部2によってクランプさせ、モードスイッチ9を操作して測定モードを設定する。そうすると、モードスイッチ9から制御部8へ、測定モードを示す信号が出力される。Next, we will explain the measurement mode. When measuring the cable voltage Vx while the cable CBL is in use, the user clamps the cable CBL connected to the device using the clamp unit 2 and operates the mode switch 9 to set the measurement mode. This causes the mode switch 9 to output a signal indicating the measurement mode to the control unit 8.

図7を参照して、モードスイッチ9から測定モードを示す信号が出力されると、モード入力部81は、測定モードの設定を受け付け、切替スイッチSWを、図5に示すように回路グラウンドGND側に切り替える(ステップS11)。そうすると、芯線Wに供給された測定対象のケーブル電圧Vxによって、静電容量Cxを介して電極E1に入力電圧Vinが誘起される。 7, when a signal indicating the measurement mode is output from the mode switch 9, the mode input unit 81 accepts the setting of the measurement mode and switches the selector switch SW to the circuit ground GND side as shown in Fig. 5 (step S11). Then, the cable voltage Vx of the measurement object supplied to the core wire W induces an input voltage Vin in the electrode E1 via the capacitance Cx1 .

増幅部Aは、入力電圧Vinを、校正済みの増幅率Gxで出力電圧Voutに増幅する。出力電圧Voutは、クランプ式電圧測定装置1による測定結果を示す信号として、端子T1へ出力される。 The amplifier A amplifies the input voltage Vin to the output voltage Vout using a calibrated amplification factor Gx. The output voltage Vout is output to the terminal T1 as a signal indicating the measurement result by the clamp-type voltage measuring device 1.

ここで、上述したように、静電容量Cxは、εS/dで表され、測定対象のケーブルCBLが変わって被覆Jの厚さによる対向距離d、被覆Jの誘電率ε等が変化すると、静電容量Cxもまた変化する。そのため、ケーブルCBLが変わると、ケーブル電圧Vxによって誘起される入力電圧Vinもまた変化するため、正しい出力電圧Voutが得られなくなる。 As described above, the capacitance Cx1 is expressed by εS1 /d, and if the cable CBL to be measured changes and the opposing distance d due to the thickness of the coating J and the dielectric constant ε of the coating J change, the capacitance Cx1 also changes. Therefore, if the cable CBL changes, the input voltage Vin induced by the cable voltage Vx also changes, making it impossible to obtain the correct output voltage Vout.

しかしながら、クランプ式電圧測定装置1によれば、測定対象のケーブルCBLをクランプ部2によってクランプし、校正モードによる校正を行うことによって、測定対象のケーブルCBLに適合した正しい出力電圧Voutを、容易に得ることができる。従って、クランプ式電圧測定装置1は、電圧測定精度を向上させることが容易となる。However, with the clamp-type voltage measuring device 1, the cable CBL to be measured is clamped by the clamp unit 2, and calibration is performed in calibration mode, making it easy to obtain the correct output voltage Vout that is appropriate for the cable CBL to be measured. Therefore, the clamp-type voltage measuring device 1 makes it easy to improve voltage measurement accuracy.

すなわち、本発明の一例に係る電圧測定装置は、測定対象のケーブルをクランプするクランプ部と、前記クランプ部によってクランプされた前記ケーブルに対向するように配設された第一電極及び第二電極と、前記第一電極を、キャパシタを介してグラウンドに接続する安定化部と、増幅率を変更可能であって、前記第一電極から得られた電圧を増幅する増幅部と、前記ケーブルの電圧を測定するための測定モード及び前記増幅部の出力電圧を校正するための校正モードの設定を選択的にモード設定として受け付けるモード入力部と、周期的に変化する予め設定された基準電圧を出力する基準電圧出力部と、前記増幅部の出力電圧を測定する測定部と、前記測定モードのとき、前記第二電極をグラウンドに接続し、前記校正モードのとき、前記第二電極を前記基準電圧出力部に接続する切替部と、前記校正モードのとき、前記測定部の測定値と前記基準電圧と予め設定された測定倍率とに基づいて、前記増幅部の出力電圧が、前記ケーブルの電圧の前記測定倍率倍になるように、前記増幅率を調節する校正処理部とを備える。 That is, a voltage measurement device according to one embodiment of the present invention comprises a clamping unit that clamps a cable to be measured; a first electrode and a second electrode arranged to face the cable clamped by the clamping unit; a stabilization unit that connects the first electrode to ground via a capacitor; an amplifier unit that has a changeable gain and amplifies the voltage obtained from the first electrode; a mode input unit that selectively accepts a mode setting between a measurement mode for measuring the voltage of the cable and a calibration mode for calibrating the output voltage of the amplifier unit; a reference voltage output unit that outputs a periodically changing predetermined reference voltage; a measurement unit that measures the output voltage of the amplifier unit; a switching unit that connects the second electrode to ground in the measurement mode and connects the second electrode to the reference voltage output unit in the calibration mode; and a calibration processing unit that adjusts the gain in the calibration mode based on the measurement value of the measurement unit, the reference voltage, and the predetermined measurement magnification so that the output voltage of the amplifier unit is equal to the measurement magnification times the voltage of the cable.

この構成によれば、第一電極及び第二電極は、ケーブルと対向配置されるので、ケーブルとの間に静電容量を生じる。校正モードのとき、予め設定された基準電圧が第二電極へ供給され、第一及び第二電極とケーブルとの間の静電容量によって第一電極に電圧が生じる。第一電極に生じた電圧は、増幅部で増幅され、その増幅された出力電圧が測定部で測定される。そして、校正処理部によって、測定部の測定値と基準電圧と測定倍率とに基づいて、増幅部の出力電圧が、ケーブルの電圧の測定倍率倍になるように、増幅部の増幅率が調節される。これにより、測定しようとするケーブルに応じて増幅部の増幅が調節されるので、電圧測定精度を向上させることが容易となる。 With this configuration, the first electrode and second electrode are positioned opposite the cable, generating a capacitance between them. In calibration mode, a preset reference voltage is supplied to the second electrode, and a voltage is generated at the first electrode due to the capacitance between the first and second electrodes and the cable. The voltage generated at the first electrode is amplified by the amplifier, and the amplified output voltage is measured by the measurement unit. Then, based on the measurement value of the measurement unit, the reference voltage, and the measurement magnification, the calibration processing unit adjusts the amplification factor of the amplifier so that the output voltage of the amplifier is multiplied by the measurement magnification of the cable voltage. This adjusts the amplification of the amplifier according to the cable to be measured, making it easier to improve voltage measurement accuracy.

また、前記増幅部は、非反転増幅器であることが好ましい。 It is also preferable that the amplifier section is a non-inverting amplifier.

この構成によれば、増幅部として入力インピーダンスが高い非反転増幅器が用いられるので、増幅部の入力インピーダンスが第一電極の電圧に対して影響を与えるおそれが低減される。 With this configuration, a non-inverting amplifier with high input impedance is used as the amplifier unit, reducing the risk that the input impedance of the amplifier unit will affect the voltage of the first electrode.

また、前記増幅部は、非反転入力端子に前記第一電極から得られた電圧が入力されるアンプと、前記アンプの反転入力端子と出力端子とを接続する帰還抵抗と、前記アンプの反転入力端子とグラウンドとを接続する可変抵抗とを備え、前記可変抵抗の抵抗値を変更することにより、前記増幅率を変更可能であることが好ましい。 Furthermore, it is preferable that the amplification unit includes an amplifier having a non-inverting input terminal to which the voltage obtained from the first electrode is input, a feedback resistor connecting the inverting input terminal and output terminal of the amplifier, and a variable resistor connecting the inverting input terminal and ground of the amplifier, and that the amplification factor can be changed by changing the resistance value of the variable resistor.

この構成によれば、帰還抵抗の抵抗値を固定したまま、可変抵抗の抵抗値を変更することにより増幅率を調節することができる。非反転増幅器は、帰還抵抗の抵抗値を変更することによっても増幅率を変更可能である。しかしながら、帰還抵抗は周波数特性にも影響を与える。そこでこの構成によれば、帰還抵抗の抵抗値を固定したまま増幅率を調節することができるので、周波数特性への影響を低減しつつ、増幅率を変更することが可能となる。 With this configuration, the gain can be adjusted by changing the resistance value of the variable resistor while keeping the resistance value of the feedback resistor fixed. A non-inverting amplifier can also change the gain by changing the resistance value of the feedback resistor. However, the feedback resistor also affects the frequency characteristics. Therefore, with this configuration, the gain can be adjusted while keeping the resistance value of the feedback resistor fixed, making it possible to change the gain while reducing the impact on the frequency characteristics.

また、前記ケーブルと前記第一電極との間の静電容量と、前記ケーブルと前記第二電極との間の静電容量とが略等しいことが好ましい。 It is also preferable that the capacitance between the cable and the first electrode is approximately equal to the capacitance between the cable and the second electrode.

この構成によれば、ケーブルと第一電極との間の静電容量、及びケーブルと第二電極との間の静電容量が、不明であっても校正処理部による校正を行うことが可能となる。 With this configuration, calibration can be performed by the calibration processing unit even if the capacitance between the cable and the first electrode and the capacitance between the cable and the second electrode are unknown.

また、前記第一電極の面積と、前記第二電極の面積とが略等しいことが好ましい。 It is also preferable that the area of the first electrode and the area of the second electrode are approximately equal.

この構成によれば、ケーブルと第一電極との間の静電容量と、ケーブルと第二電極との間の静電容量とを、略等しくすることが容易となる。 This configuration makes it easy to make the capacitance between the cable and the first electrode and the capacitance between the cable and the second electrode approximately equal.

また、前記ケーブルと前記第一電極との間の静電容量をCx、前記ケーブルと前記第二電極との間の静電容量をCx、前記基準電圧をVs、前記測定部の測定値をVm、前記測定倍率をM、前記校正モードで前記測定部によって前記出力電圧が測定されたときの前記増幅率をGとした場合、前記校正処理部は、前記増幅率を、下記の式(1)で得られるGxに調節することが好ましい。 Furthermore, when the capacitance between the cable and the first electrode is Cx 1 , the capacitance between the cable and the second electrode is Cx 2 , the reference voltage is Vs, the measurement value of the measurement unit is Vm, the measurement magnification is M, and the amplification factor when the output voltage is measured by the measurement unit in the calibration mode is G, it is preferable that the calibration processing unit adjusts the amplification factor to Gx obtained by the following equation (1).

Gx={G×Vs×Cx/(Cx+Cx)}×M/Vm・・・(1) Gx={G×Vs×Cx 2 /(Cx 1 +Cx 2 )}×M/Vm...(1)

この構成によれば、式(1)を用いて、校正により調節すべき適切な増幅率Gxを算出することが容易となる。 With this configuration, it becomes easy to use equation (1) to calculate the appropriate amplification factor Gx to be adjusted by calibration.

また、前記静電容量Cxと、前記静電容量Cxとが略等しく、前記式(1)は、下記の式(2)で近似されることが好ましい。 It is also preferable that the capacitance Cx1 and the capacitance Cx2 are substantially equal, and that the formula (1) is approximated by the following formula (2).

Gx=(G×Vs/2)×M/Vm・・・(2) Gx=(G×Vs/2)×M/Vm...(2)

静電容量Cxと、静電容量Cxとが略等しい場合、式(1)は、式(2)で近似されるので、静電容量Cx及び静電容量Cxが不明であっても、式(2)を用いて、校正により調節すべき適切な増幅率Gxが算出される。 When the capacitances Cx1 and Cx2 are approximately equal, the formula (1) is approximated by the formula (2). Therefore, even if the capacitances Cx1 and Cx2 are unknown, the appropriate amplification factor Gx to be adjusted by calibration can be calculated using the formula (2).

1 クランプ式電圧測定装置
2 クランプ部
3 筐体
4 同軸ケーブル
5 安定化部
7 測定部
8 制御部
9 モードスイッチ
21,22 クランプアーム
23,24 ネジ孔
25 ネジ
26 ナット
27 軸体
28 収容空間
31 回路基板
32 導電層
51 並列回路
81 モード入力部
82 校正処理部
211,221 保持溝
A 増幅部
A1 アンプ
C1,C2 キャパシタ
C,C,C ,Cx,Cx 静電容量
CBL ケーブル
d 対向距離
E1 電極(第一電極)
E2 電極(第二電極)
G,Gx 増幅率
GND 回路グラウンド
J 被覆
M 測定倍率
P1 一端
P2 他端
PS 基準電圧出力部
R1,R2,抵抗
Ra 帰還抵抗
Rx 可変抵抗
,S 面積
SW 切替スイッチ(切替部)
T1~T4 端子
Vin 入力電圧
Vm 測定値
Vout 出力電圧
Vs 基準電圧
Vx ケーブル電圧
W 芯線
W1,W2 配線
ε 誘電率
1 Clamp-type voltage measuring device 2 Clamp unit 3 Housing 4 Coaxial cable 5 Stabilization unit 7 Measurement unit 8 Control unit 9 Mode switch 21, 22 Clamp arm 23, 24 Screw hole 25 Screw 26 Nut 27 Shaft 28 Housing space 31 Circuit board 32 Conductive layer 51 Parallel circuit 81 Mode input unit 82 Calibration processing unit 211, 221 Holding groove A Amplification unit A1 Amplifier C1 , C2 Capacitor C, C1, C2 , Cx1 , Cx2 Electrostatic capacitance CBL Cable d Opposite distance E1 Electrode (first electrode)
E2 electrode (second electrode)
G, Gx Amplification factor GND Circuit ground J Covering M Measurement magnification P1 One end P2 Other end PS Reference voltage output section R1, R2, Resistor Ra Feedback resistor Rx Variable resistor S1 , S2 Area SW Changeover switch (changeover section)
T1 to T4 Terminal Vin Input voltage Vm Measured value Vout Output voltage Vs Reference voltage Vx Cable voltage W Core wires W1, W2 Wiring ε Dielectric constant

Claims (7)

測定対象と対向するように配設された第一電極及び第二電極と、
前記第一電極を、キャパシタを介してグラウンドに接続する安定化部と、
増幅率を変更可能であって、前記第一電極から得られた電圧を増幅する増幅部と、
前記測定対象の電圧を測定するための測定モード及び前記増幅部の出力電圧を校正するための校正モードの設定を選択的にモード設定として受け付けるモード入力部と、
周期的に変化する予め設定された基準電圧を出力する基準電圧出力部と、
前記増幅部の出力電圧を測定する測定部と、
前記測定モードのとき、前記第二電極をグラウンドに接続し、前記校正モードのとき、前記第二電極を前記基準電圧出力部に接続する切替部と、
前記校正モードのとき、前記測定部の測定値と前記基準電圧と予め設定された測定倍率とに基づいて、前記増幅部の出力電圧が、前記測定対象の電圧の前記測定倍率倍になるように、前記増幅率を調節する校正処理部とを備える電圧測定装置。
a first electrode and a second electrode disposed to face the object to be measured;
a stabilizing unit that connects the first electrode to ground via a capacitor;
an amplifier unit that can change the gain and amplifies the voltage obtained from the first electrode;
a mode input unit that selectively accepts, as a mode setting, a setting of a measurement mode for measuring the voltage of the measurement object and a calibration mode for calibrating the output voltage of the amplifier unit;
a reference voltage output unit that outputs a predetermined reference voltage that changes periodically;
a measurement unit that measures an output voltage of the amplifier unit;
a switching unit that connects the second electrode to ground in the measurement mode and connects the second electrode to the reference voltage output unit in the calibration mode;
a calibration processing unit that, in the calibration mode, adjusts the amplification factor based on the measurement value of the measurement unit, the reference voltage, and a preset measurement magnification factor so that the output voltage of the amplifier unit becomes equal to the measurement magnification factor of the voltage of the object to be measured.
前記増幅部は、非反転増幅器である請求項1に記載の電圧測定装置。 The voltage measurement device of claim 1, wherein the amplifier unit is a non-inverting amplifier. 前記増幅部は、
非反転入力端子に前記第一電極から得られた電圧が入力されるアンプと、
前記アンプの反転入力端子と出力端子とを接続する帰還抵抗と、
前記アンプの反転入力端子とグラウンドとを接続する可変抵抗とを備え、
前記可変抵抗の抵抗値を変更することにより、前記増幅率を変更可能である請求項2に記載の電圧測定装置。
The amplifier unit
an amplifier having a non-inverting input terminal to which the voltage obtained from the first electrode is input;
a feedback resistor connecting the inverting input terminal and the output terminal of the amplifier;
a variable resistor connecting the inverting input terminal of the amplifier to ground;
3. The voltage measuring device according to claim 2, wherein the amplification factor can be changed by changing the resistance value of the variable resistor.
前記測定対象と前記第一電極との間の静電容量と、前記測定対象と前記第二電極との間の静電容量とが略等しい請求項1~3のいずれか1項に記載の電圧測定装置。 4. The voltage measuring device according to claim 1, wherein the capacitance between the object to be measured and the first electrode is substantially equal to the capacitance between the object to be measured and the second electrode. 前記第一電極の面積と、前記第二電極の面積とが略等しい請求項4に記載の電圧測定装置。 The voltage measurement device described in claim 4, wherein the area of the first electrode and the area of the second electrode are approximately equal. 前記測定対象と前記第一電極との間の静電容量をCx1、前記測定対象と前記第二電極との間の静電容量をCx2、前記基準電圧をVs、前記測定部の測定値をVm、前記測定倍率をM、前記校正モードで前記測定部によって前記出力電圧が測定されたときの前記増幅率をGとした場合、前記校正処理部は、前記増幅率を、下記の式(1)で得られるGxに調節する請求項1~5のいずれか1項に記載の電圧測定装置。
Gx={G×Vs×Cx2/(Cx1+Cx2)}×M/Vm・・・(1)
The voltage measurement device according to any one of claims 1 to 5, wherein the calibration processing unit adjusts the amplification factor to Gx obtained by the following formula (1): where Cx1 is the capacitance between the object to be measured and the first electrode, Cx2 is the capacitance between the object to be measured and the second electrode, Vs is the reference voltage, Vm is the measurement value of the measurement unit, M is the measurement magnification, and G is the amplification factor when the output voltage is measured by the measurement unit in the calibration mode.
Gx={G×Vs×Cx2/(Cx1+Cx2)}×M/Vm...(1)
前記静電容量Cx1と、前記静電容量Cx2とが略等しく、
前記式(1)は、下記の式(2)で近似される請求項6に記載の電圧測定装置。
Gx=(G×Vs/2)×M/Vm・・・(2)
The capacitance Cx1 and the capacitance Cx2 are approximately equal,
7. The voltage measuring device according to claim 6, wherein the formula (1) is approximated by the following formula (2):
Gx=(G×Vs/2)×M/Vm...(2)
JP2022580715A 2021-02-15 2022-02-15 Voltage measuring device Active JP7776199B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021021763 2021-02-15
JP2021021763 2021-02-15
PCT/JP2022/005830 WO2022173051A1 (en) 2021-02-15 2022-02-15 Voltage measurement device

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPWO2022173051A1 JPWO2022173051A1 (en) 2022-08-18
JPWO2022173051A5 JPWO2022173051A5 (en) 2024-12-04
JP7776199B2 true JP7776199B2 (en) 2025-11-26

Family

ID=82838376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022580715A Active JP7776199B2 (en) 2021-02-15 2022-02-15 Voltage measuring device

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7776199B2 (en)
WO (1) WO2022173051A1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5473244A (en) 1992-09-17 1995-12-05 Libove; Joel M. Apparatus for measuring voltages and currents using non-contacting sensors
JP2002340939A (en) 2001-05-16 2002-11-27 Hitachi Ltd Voltage measuring equipment for coated power lines
JP2018105850A (en) 2016-11-11 2018-07-05 フルークコーポレイションFluke Corporation Non-contact electrical parameter measurement system
US20190081601A1 (en) 2017-09-08 2019-03-14 Analog Devices Global Unlimited Company Method of and Apparatus for Reducing the Influence of a Common Mode Signal on a Differential Signal and to Systems including such an Apparatus

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6512604B2 (en) * 2015-08-19 2019-05-15 日置電機株式会社 Voltage detection sensor and measuring device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5473244A (en) 1992-09-17 1995-12-05 Libove; Joel M. Apparatus for measuring voltages and currents using non-contacting sensors
JP2002340939A (en) 2001-05-16 2002-11-27 Hitachi Ltd Voltage measuring equipment for coated power lines
JP2018105850A (en) 2016-11-11 2018-07-05 フルークコーポレイションFluke Corporation Non-contact electrical parameter measurement system
US20190081601A1 (en) 2017-09-08 2019-03-14 Analog Devices Global Unlimited Company Method of and Apparatus for Reducing the Influence of a Common Mode Signal on a Differential Signal and to Systems including such an Apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2022173051A1 (en) 2022-08-18
TW202234075A (en) 2022-09-01
WO2022173051A1 (en) 2022-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107533091B (en) Non-contact voltage measuring device
US8848950B2 (en) Condenser microphone
KR100353133B1 (en) Electrostatic capacitance sensor, electrostatic capacitance sensor component, object mounting body and object mounting apparatus
JP5071086B2 (en) Passive probe device
WO2003023421A1 (en) Capacitance measuring circuit, capacitance measuring instrument, and microphone device
EP1424563B1 (en) Capacitance measuring circuit, capacitance measuring instrument, and microphone device
JP7016238B2 (en) Directional coupler
CN111693784A (en) Weak capacitance change measuring circuit
JP7776199B2 (en) Voltage measuring device
JP4344667B2 (en) Non-contact voltage measuring device
JP4251961B2 (en) Non-contact voltage measuring device
TWI905382B (en) Voltage measuring device
JP7632452B2 (en) Clamp-type AC voltage probe
JP2003075487A (en) Impedance detection device and capacitance detection device
KR20060042175A (en) Rotation angle sensor
JP4249448B2 (en) Capacitance meter calibration method, calibration standard capacity box, capacitance measurement method, capacitance measurement box and capacitance meter
CN109374941B (en) Current measuring method and device for copper bar type lead
JP2003075481A (en) Impedance detection circuit and capacitance detection circuit
WO2015133212A1 (en) Voltage measuring apparatus and voltage measuring method
JP3862783B2 (en) Impedance measuring device
JP2013053914A (en) Current measuring device
JP2014126457A (en) Capacitance type detection device
JP4071581B2 (en) Capacitance detection circuit, capacitance detection device, and microphone device
CN109781801B (en) Capacitive sensor
JPH0720620Y2 (en) Test fixture calibration fixture

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20241126

A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20241225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20250729

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20250924

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20251014

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20251107

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7776199

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150