JP7752041B2 - スペクトル解析方法、装置およびシステム - Google Patents
スペクトル解析方法、装置およびシステムInfo
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Description
また、特許文献1では、蛍光指紋を対象に、矩形の測定窓を設け、測定窓内の蛍光強度の積分値を用いて多変量解析を行う手法が開示されている。
また、特許文献2では、2次元スペクトルデータを対象として、複数の励起波長のそれぞれにおける光吸収特性値(検出強度)を説明変数としたスパース推定を行うことで、推定に用いる励起波長を限定しながら、対象物質の含有量を推定する手法が開示されている。
また、本発明で開示されるスペクトル解析方法は、試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力ステップと、前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出ステップと、前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定ステップと、前記推定ステップによって得られた推定結果を出力する出力ステップと、を含み、前記スペクトルデータは、複数の励起波長と当該励起波長に対する検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、前記波長単位特徴量抽出ステップは、各励起波長帯における2つ以上の検出波長帯の検出強度、あるいは、各検出波長帯における2つ以上の励起波長帯の検出強度から特徴量を抽出し、前記推定ステップは、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行うことを特徴とする。
実施例1では、3次元スペクトルデータ内の空間的な情報を活用しつつ、ノイズの影響を低減した定量/識別、および、定量/識別に使用する波長帯(有効波長帯)の励起波長または検出波長単位での限定が可能なスペクトル解析装置について述べる。
なお、本実施例で3次元スペクトルデータとは、複数の励起波長と分光スペクトル(検出波長と検出強度で構成されるスペクトル)を含み、所定の波長幅で離散化されたデータである。
また、定量/識別とは、定量および/または識別をいい、定量/識別モデルとは、定量と識別の少なくとも一方に用いられるデータ推定用のモデルである。
インターフェース部110は、スペクトル解析装置100の外部にある装置と信号の送受信を行う通信機器である。インターフェース部110と送受信を行う装置としては、スペクトル測定装置121の制御を行う制御装置120、3次元スペクトルデータを測定するスペクトル測定装置121、スペクトル解析装置100の処理結果を表示するモニタやプリンタ等の表示装置122がある。
図2はスペクトル解析装置100の実施例に係る機能ブロック図の一例である。これらの各機能部は、演算部111上で動作するソフトウェアで実現しても良いし、専用のハードウェアで実現しても良い。
入力部201は、インターフェース部110から入力される、離散化された3次元スペクトルデータを1つ以上受け付ける。
波長単位特徴量抽出部202は、前記3次元スペクトルデータから、各励起波長帯における2つ以上の検出波長帯の検出強度、あるいは、各検出波長帯における2つ以上の励起波長帯の検出強度から特徴量を抽出する。
出力部204は、前記定量/識別結果を出力する。定量の場合は、推定した各サンプルの定量結果に加えて、決定係数、RMSE(Root Mean Squared Error)のような定量モデルの評価値を出力しても良いし、検量線等のグラフデータを出力しても良い。識別の場合は、推定した各サンプルの識別結果に加えて、識別率や適合率、再現率等の識別モデルの評価値を出力しても良い。これらの出力はインターフェース部110を介して表示装置122で表示する。
入力ステップ501は、インターフェース部110から入力される、離散化された3次元スペクトルデータを1つ以上を受け付ける。
波長単位特徴量抽出ステップ502は、前記3次元スペクトルデータから、各励起波長帯における2つ以上の検出波長帯の検出強度、あるいは、各検出波長帯における2つ以上の励起波長帯の検出強度から特徴量を抽出する。
出力ステップ504は、前記定量/識別結果を出力する。定量の場合は、推定した各サンプルの定量結果に加えて、決定係数、RMSE(Root Mean Squared Error)のような定量モデルの評価値を出力しても良いし、検量線等のグラフデータを出力しても良い。識別の場合は、推定した各サンプルの識別結果に加えて、識別率や適合率、再現率等の識別モデルの評価値を出力しても良い。
以降、各機能部を主語として詳細な動作について説明するが、各機能部に対応する各ステップを主語として読み替えても差し支えない。
以下、機能部の内、入力部201、波長単位特徴量抽出部202、推定部203の動作について詳しく説明する。
入力部201は、インターフェース部110を介して離散化された3次元スペクトルデータを受け付け、メモリ112に保存する。
実施例2に係るスペクトル解析装置のハードウェア構成は、図1に示した実施例1に係るスペクトル解析装置のハードウェア構成と同様の構成であるため、説明を省略する。
図11は実施例2に係るスペクトル解析装置の機能ブロック図の一例である。
スペクトル解析装置1100は、機能部として、入力部1101と、波長単位特徴量抽出部202と、推定部1103と、出力部204と、を含む。波長単位特徴量抽出部202と、出力部204は実施例1と同様であるため説明を省略する。以下、入力部1101と、推定部1103について説明する。
入力部1101は、インターフェース部110を介して3次元スペクトルデータ単体、または3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付ける。
推定部1103は、メモリ112に保存された複数の3次元スペクトルデータと教師情報の組を使用して、定量/識別モデルを生成する。
図12の波長単位特徴量抽出ステップ502、出力ステップ504は、実施例1に記載のステップと同様のため、説明を省略する。
入力ステップ1201は、インターフェース部110を介して3次元スペクトルデータ単体、または3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付ける。
推定ステップ1203は、メモリ112に保存された複数の3次元スペクトルデータと教師情報の組を使用して、定量/識別モデルを生成する。
以降、各機能部を主語として詳細な動作について説明するが、各機能部に対応する各ステップを主語として読み替えても差し支えない。
入力部1101と推定部1103の動作について詳細に説明する。
入力部1101は、インターフェース部110を介して3次元スペクトルデータ単体、または3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付ける。3次元スペクトルデータ単体を受け付けた場合には、入力部1101は実施例1に記載の入力部201と同様の処理を行う。3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付けた場合には、入力部1101は受け付けた3次元スペクトルデータと教師情報の組をメモリ112に保存する。
尚、定量/識別モデルの重みの初期値は、固定値やランダムな値を設定しても良いし、正規分布等の確率分布に従って設定しても良いし、メモリ112に保存された定量/識別モデルの重みを設定しても良い。
実施例3に係るスペクトル解析装置のハードウェア構成は、図1に示した実施例1に係るスペクトル解析装置のハードウェア構成と同様の構成であるため、説明を省略する。
図6は実施例3に係るスペクトル解析装置の機能ブロック図の一例である。
スペクトル解析装置600は、機能部として、入力部601と、波長単位特徴量抽出部202と、推定部1103と、出力部604と、有効波長帯探索部605と、を含む。波長単位特徴量抽出部202は実施例1と同様であり、推定部1103は実施例2と同様であるため説明を省略する。以下、入力部601と、有効波長帯探索部605と、出力部604について説明する。
有効波長帯探索部605は、前記推定部1103で構築した定量/識別モデルの重みに基づいて、有効波長帯を自動決定、あるいは、ユーザーによる有効波長帯の決定支援を行う。
出力部604は、定量/識別結果と共に前記有効波長帯探索部605で決定した有効波長帯を表示し、必要に応じて、ユーザーによる有効波長帯の決定支援のための情報の出力を行う。
入力ステップ901は、実施例2に記載の入力ステップ1201と同様に、インターフェース部110を介して3次元スペクトルデータ単体、または3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付ける。また、必要に応じて、後述の有効波長帯探索ステップ905から有効波長帯を受け付け、波長単位特徴量抽出ステップ502に対して出力するスペクトルデータを加工する。
有効波長帯探索ステップ905は、前記推定ステップ1203で構築した定量/識別モデルの重みに基づいて、有効波長帯を自動決定、あるいは、ユーザーによる有効波長帯の決定支援を行う。
出力ステップ904は、定量/識別結果と共に前記有効波長帯探索ステップ905で決定した有効波長帯を表示し、必要に応じて、ユーザーによる有効波長帯の決定支援のための情報の出力を行う。
以降、各機能部を主語として詳細な動作について説明するが、各機能部に対応する各ステップを主語として読み替えても差し支えない。
入力部601は、インターフェース部110を介して3次元スペクトルデータ単体、または3次元スペクトルデータと教師情報の組を受け付け、実施例2に記載の入力部1101と同様の処理を行う。また、有効波長帯探索部605が出力する有効波長帯情報を受け付け、3次元スペクトルデータから、有効波長帯に対応するスペクトルデータのみを波長単位特徴量抽出部202に入力することで、特徴量抽出時間の短縮を行っても良い。
また、有効波長帯探索部605は励起波長毎または検出波長毎のどちらから特徴量を抽出すべきかを自動決定しても良い。決定方法としては、上述したキャリブレーションデータを用いる方法がある。複数の3次元スペクトルデータと教師情報の組から構成されるキャリブレーションデータを用いて、励起波長毎に特徴量を抽出する方式と検出波長毎に特徴量を抽出する方式の、定量/識別精度と有効波長帯数をそれぞれ得る。両者の定量/識別精度と有効波長帯数に基づいてどちらの方式を採用するかを自動決定する。自動決定方法としては単純に定量/識別精度が高い方式を採用しても良いし、予め定めた、あるいはユーザーが指定した閾値以上の定量/識別精度、かつ、最も有効波長帯数が少ない方式を採用しても良いし、予め定めた、あるいはユーザーが指定した有効波長帯数以下で最も定量/識別精度が高い方式を採用する等でも良い。
実施例4に係るハードウェア構成図を図10に示す。実施例4に係るスペクトル解析システム1000は、制御装置120と、スペクトル測定装置121と、スペクトル解析装置600と、表示装置122から構成される。
スペクトル測定装置121は、訓練用試料および評価用試料に対し、制御装置120で設定された波長に対応するスペクトルを測定し、離散化した3次元スペクトルデータをスペクトル解析装置600に入力する。
スペクトル解析装置600は、実施例3に記載のスペクトル解析装置であり、訓練フェーズではスペクトル測定装置121が出力する訓練用試料の3次元スペクトルデータとユーザーから入力される教師情報の組から訓練用データを構築し、訓練用データセットを用いて定量/識別モデルの生成および有効波長帯の探索を行う。また、評価フェーズでは訓練フェーズで生成した定量/識別モデルを用いて、スペクトル測定装置121が出力する評価用試料の3次元スペクトルデータ(評価用データ)を入力とした定量/識別を行う。
表示装置122は、スペクトル解析装置600が出力した有効波長帯および定量/識別結果をユーザーに提示する。
制御装置120は、スペクトル解析装置600において、訓練用試料に照射する励起光の波長帯および試料から検出する反射光・透過光・吸収光等の検出波長帯を設定する。訓練フェーズにおいては、有効波長帯の候補となりうる励起波長帯および検出波長帯全体を測定波長帯として設定する。
スペクトル解析装置600は、スペクトル測定装置121で測定された訓練用試料の3次元スペクトルデータおよび3次元スペクトルデータに対する教師情報を受け付け、訓練用データセットとしてスペクトル解析装置600内のメモリ112に格納する。メモリ112に格納した訓練用データセットを用いて実施例2に記載の方法で、定量/識別モデルを構築する。また、実施例3に記載の方法により、有効波長帯を自動決定する、あるいは表示装置122を介してユーザーに情報を提示して、有効波長帯決定を支援する。決定した有効波長帯を制御装置120に送信し、評価フェーズにおいて測定する励起波長帯あるいは検出波長帯として設定する。
制御装置120は、評価用試料に照射する励起光の波長帯および試料から検出する反射光・透過光・吸収光等の波長帯として訓練フェーズにおいてスペクトル解析装置600が出力した有効波長帯を設定する。
スペクトル測定装置121は、評価用試料に対し、制御装置120で設定された波長に対応するスペクトルを測定し、訓練フェーズと同様の方法で離散化した3次元スペクトルデータを取得し、スペクトル解析装置600に入力する。
表示装置122は、スペクトル解析装置600が出力した評価用試料の定量/識別結果をユーザーに提示する。また、必要に応じて取得したスペクトルを可視化して表示する等してもよい。
各実施例において、入力部201(601、1101)は、離散化された3次元スペクトルデータを受け付けた後、前記3次元スペクトルデータに対し、任意の前処理を行っても良い。例えば、複数のスペクトルデータの波長帯毎の平均や標準偏差等の統計量に基づく中心化や標準化処理、High-Pass FilterやLow-Pass Filter、Band-Pass Filter等の周波数フィルタリング、線形/非線形関数を適用しても良いし、前述の散乱光のような特定領域の検出強度や一定以上の値の検出強度を固定値に置換しても良い。また、このような前処理を波長単位特徴量抽出部202にて実施しても良い。
かかる構成および動作により、3次元スペクトルデータ内の空間的な情報を活用しつつ、ノイズの影響を低減した高精度な定量および/または識別を実現し、定量および/または識別に使用する波長帯の励起波長または検出波長単位での限定が可能となる。
かかる構成によれば、定量や識別に用いるモデルを適宜構築可能である。
かかる構成および動作によれば、定量や識別の結果に加え、定量や識別に有効な波長帯の情報を得ることができる。
かかる動作によれば、各種の推定に共用可能な特徴量を得ることができ、各種の推定を効率的に行うことができる。
このため、所望の識別精度に応じた適正な数の有効波長帯を用いて、効率的に定量や識別を行うことができる。
このため、所望の識別精度に応じたハイパーパラメタを適正に設定し、効率的に定量や識別を行うことができる。
このため、有効波長帯を以降の特徴量抽出処理および推定処理に適用し、特徴量抽出処理および推定処理の効率化を実現できる。
このように、スペクトル解析装置を有するシステムは、3次元スペクトルデータ内の空間的な情報を活用しつつ、ノイズの影響を低減した高精度な定量および/または識別を実現し、定量および/または識別に使用する波長帯の励起波長または検出波長単位での限定が可能となる。
かかる構成および動作によれば、スペクトル測定装置121がスペクトルデータの取得に要する時間を短縮することができる。
Claims (11)
- 試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力部と、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出部と、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定部と、
前記推定部によって得られた推定結果を出力する出力部と、
を備え、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出部は、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定部は、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記推定部によって得られた、前記定量および/または識別のモデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索部を更に有し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力部は、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索部が探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合と、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて有効波長帯を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示することでユーザーによる有効波長帯決定を支援することを特徴とするスペクトル解析装置。 - 試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力部と、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出部と、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定部と、
前記推定部によって得られた推定結果を出力する出力部と、
を備え、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出部は、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定部は、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記推定部によって得られた、前記定量および/または識別のモデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索部を更に有し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力部は、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索部が探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索部は、前記推定部における定量および/または識別精度と有効波長帯数に影響を及ぼす前記パラメタを変化させた場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数の関係を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて前記パラメタの値を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示し、ユーザーによる前記パラメタの値の決定を支援することを特徴とするスペクトル解析装置。 - 請求項1又は2に記載のスペクトル解析装置であって、
前記入力部は、前記スペクトルデータと、スペクトルデータに対応する教師情報の組を1組以上受け付け、
前記推定部は、前記波長単位特徴量抽出部が前記スペクトルデータから抽出した特徴量と前記教師情報とに基づいて前記定量および/または識別のモデルを構築することを特徴とするスペクトル解析装置。 - 請求項1又は2に記載のスペクトル解析装置であって、
前記波長単位特徴量抽出部は、複数の訓練データセットを解析あるいは学習することで、複数の定量および/または識別に共通して使用可能な特徴量を抽出することを特徴とするスペクトル解析装置。 - 請求項1又は2に記載のスペクトル解析装置であって、
前記入力部は、前記有効波長帯探索部が出力した前記有効波長帯を受け付け、入力として受け付けたスペクトルデータの内、前記有効波長帯に対応するスペクトルのみを前記波長単位特徴量抽出部に出力することを特徴とするスペクトル解析装置。 - 試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力ステップと、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出ステップと、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定ステップと、
前記推定ステップによって得られた推定結果を出力する出力ステップと、
を含み、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出ステップは、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
前記複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定ステップは、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記推定ステップによって得られた、前記定量および/または識別のモデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索ステップを更に有し、
前記有効波長帯探索ステップは、前記波長単位特徴量抽出ステップにおいて、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力ステップは、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索ステップが探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索ステップは、前記波長単位特徴量抽出ステップにおいて、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合と、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて有効波長帯を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示することでユーザーによる有効波長帯決定を支援することを特徴とするスペクトル解析方法。 - 試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力ステップと、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出ステップと、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定ステップと、
前記推定ステップによって得られた推定結果を出力する出力ステップと、
を含み、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出ステップは、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
前記複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定ステップは、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記推定ステップによって得られた、前記定量および/または識別のモデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索ステップを更に有し、
前記有効波長帯探索ステップは、前記波長単位特徴量抽出ステップにおいて、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力ステップは、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索ステップが探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索ステップは、前記推定ステップにおける定量および/または識別精度と有効波長帯数に影響を及ぼす前記パラメタを変化させた場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数の関係を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて前記パラメタの値を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示し、ユーザーによる前記パラメタの値の決定を支援することを特徴とするスペクトル解析方法。 - 請求項6又は7に記載のスペクトル解析方法であって、
前記入力ステップは、前記スペクトルデータと、スペクトルデータに対応する教師情報の組を1組以上受け付け、
前記推定ステップは、前記波長単位特徴量抽出ステップが前記スペクトルデータから抽出した特徴量と前記教師情報とに基づいて前記定量および/または識別のモデルを構築することを特徴とするスペクトル解析方法。 - 請求項6又は7に記載のスペクトル解析方法であって、
前記波長単位特徴量抽出ステップは、複数の訓練データセットを解析あるいは学習することで、複数の定量および/または識別に共通して使用可能な特徴量を抽出することを特徴とするスペクトル解析方法。 - 試料に照射する励起光の波長帯と、検出光の波長帯を設定する制御装置と、
前記試料に対して、前記制御装置において設定した波長帯に対応するスペクトルデータを測定するスペクトル測定装置と、
前記スペクトル測定装置により測定されたスペクトルデータを解析するスペクトル解析装置と、
前記スペクトル解析装置で得られた推定結果を表示する表示装置と、
を有し、
前記スペクトル解析装置は、
試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力部と、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出部と、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定部と、
前記推定部によって得られた推定結果を出力する出力部と、
を備え、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出部は、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
前記複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定部は、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記スペクトル解析装置は、
前記推定部によって得られた、前記定量および/または識別モデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索部を更に有し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力部は、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索部が探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合と、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて有効波長帯を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示することでユーザーによる有効波長帯決定を支援することを特徴とするスペクトル解析システム。 - 試料に照射する励起光の波長帯と、検出光の波長帯を設定する制御装置と、
前記試料に対して、前記制御装置において設定した波長帯に対応するスペクトルデータを測定するスペクトル測定装置と、
前記スペクトル測定装置により測定されたスペクトルデータを解析するスペクトル解析装置と、
前記スペクトル解析装置で得られた推定結果を表示する表示装置と、
を有し、
前記スペクトル解析装置は、
試料のスペクトルデータを入力として受け付ける入力部と、
前記スペクトルデータから、前記試料の特徴量を抽出する波長単位特徴量抽出部と、
前記特徴量に基づき、前記試料の特性の推定を行う推定部と、
前記推定部によって得られた推定結果を出力する出力部と、
を備え、
前記スペクトルデータは、複数の励起波長と前記複数の励起波長の各々に対する複数の検出波長および検出強度を示す分光スペクトルとを含み、所定の波長幅で離散化されたデータであり、
前記波長単位特徴量抽出部は、
前記複数の励起波長の各々について、前記複数の検出波長により形成される検出波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行う、あるいは、
前記複数の検出波長の各々について、前記複数の励起波長により形成される励起波長帯の全ての領域又は一部の領域における前記検出強度の分布を1次元データとして取得し、検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行うものであり、
前記推定部は、前記試料の特性を定量および/または識別する推定処理を行い、
前記スペクトル解析装置は、
前記推定部によって得られた、前記定量および/または識別モデルのパラメタに基づいて、前記定量および/または識別に使用する特徴量に対応する波長帯である有効波長帯を探索する有効波長帯探索部を更に有し、
前記有効波長帯探索部は、前記波長単位特徴量抽出部において、前記励起波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は励起波長単位で、前記検出波長ごとに独立して前記1次元データからの特徴量抽出を行った場合は検出波長単位で有効波長帯を探索し、
前記出力部は、前記推定結果に加えて、前記有効波長帯探索部が探索した前記有効波長帯を出力し、
前記有効波長帯探索部は、前記推定部における定量および/または識別精度と有効波長帯数に影響を及ぼす前記パラメタを変化させた場合の、定量および/または識別精度と有効波長帯数の関係を評価情報として取得し、前記評価情報に基づいて前記パラメタの値を自動決定、あるいは、前記評価情報をユーザーに提示し、ユーザーによる前記パラメタの値の決定を支援することを特徴とするスペクトル解析システム。
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