JP7749233B2 - Tb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス及びその製造方法 - Google Patents
Tb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス及びその製造方法Info
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Description
1. 組成式(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)で表わされるガーネット型多結晶体を含み、かつ、Ca及びMgの少なくとも1種とSiとを含むことを特徴とするTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
2. Si、Ca及びMgの含有量(酸化物換算値)が、SiO2として50~500重量ppmであり、かつ、CaO及びMgOとしての合計含有量が100~2000重量ppmである、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
3. Si、Ca及びMgの重量比率(酸化物換算値)[(CaO+MgO)/SiO2]が1以上である、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
4. 平均結晶粒径が1~30μmの範囲である、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
5. 相対密度が99.999%以上である、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
6. 前記ガーネット型多結晶体以外の結晶相及び非晶質相が実質的に検出されない、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
7. 波長λnm(但し、1200≧λ≧550)の光が45度のファラデー回転を起こす厚さtにおいて、前記光に対する挿入損失が0.2dB以下であり、かつ、消光比が30dB以上である、前記項1に記載のTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
8. Tb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスを製造する方法であって、
(1)(1-1)(a)平均一次粒子径が1μm以下であるテルビウム酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるアルミニウム酸化物、(c)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(d)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料又は
(1-2)(a)平均一次粒子径が1μm以下である(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(c)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料
をアルコール中で湿式混合することにより混合物を得る工程、
(2)前記混合物をプレス成形することにより圧粉体を得る工程、
(3)前記圧粉体を温度1450~1600℃で予備焼結することにより相対密度95~99%の予備焼結体を得る工程、
(4)前記予備焼結体を温度1500~1680℃かつ圧力49~196MPaにてHIP処理する工程、及び
(5)前記HIP処理で得られた焼結体を1200~1500℃でアニールする工程
を含むことを特徴するTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスの製造方法。
9. テルビウム酸化物としてTb2O3を用いる、前記項8に記載の製造方法。
10. 前記項1~7のいずれかに記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスを含むファラデー素子。
11. 前記項10に記載のファラデー素子を含む光アイソレータデバイス。
本発明のTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス(本発明セラミックス)は、組成式(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)で表わされるガーネット型多結晶体を含み、かつ、Ca及びMgの少なくとも1種とSiとを含むことを特徴とする。
本発明セラミックスは、下記の製造方法より好適に製造することができる。すなわち、Tb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスを製造する方法であって、
(1)(1-1)(a)平均一次粒子径が1μm以下であるテルビウム酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるアルミニウム酸化物、(c)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(d)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料又は
(1-2)(a)平均一次粒子径が1μm以下である(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(c)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料
をアルコール中で湿式混合することにより混合物を得る工程(混合工程)、
(2)前記混合物をプレス成形することにより圧粉体を得る工程(成形工程)、
(3)前記圧粉体を温度1450~1600℃で予備焼結することにより相対密度95~99%の予備焼結体を得る工程(予備焼結工程)、
(4)前記予備焼結体を温度1500~1680℃かつ圧力49~196MPaにてHIP処理する工程(HIP処理工程)及び
(5)前記HIP処理で得られた焼結体を1200~1500℃でアニールする工程(アニール工程)
を含むことを特徴するTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスの製造方法によって好適に本発明セラミックスを製造することができる。
まず、混合工程としては、本発明セラミックスの基本組成を構成するために原料の違いにより、上記(1-1)又は(1-2)のいずれかを採用することができる。
成形工程では、前記混合物をプレス成形することにより圧粉体を得る。なお、本発明における「前記混合物」とは、前記工程で得られた混合物そのもの(水分調整されていないもの)のほか、その水分含有量を調整したものも包含する。なお、混合物中の固形分量(又は水分含有量)は、例えば前記のような乾燥処理等に従って適宜調節することができる。
予備焼結工程では、前記圧粉体を温度1450~1600℃で予備焼結することにより相対密度95~99%の予備焼結体を得る。
HIP処理工程では、前記予備焼結体を温度1500~1680℃かつ圧力49~196MPaにてHIP処理する。
アニール工程では、前記HIP処理で得られた焼結体を1200~1500℃でアニール(焼鈍)する。アニール工程を実施することによって、焼結体内部に存在し得る格子欠陥、歪み等をより確実に取り除くことができる。
本発明セラミックスは、各種の光学材料として利用することができる。特に、光アイソレータデバイスに用いるファレデー回転素子として有効である。本発明セラミックスを光アイソレータとして使用する場合、ファラデー回転子として本発明セラミックスを用いる以外は、公知のアイソレータ装置と同様の構成を採用することができる。
本発明では基本的に材料を構成する酸化物(Tb4O7,Lu2O3,Y2O3の希土類酸化物の1種以上, Al2O3、Sc2O3と各添加剤を秤量した後、湿式混合→乾燥→1軸成型→冷間静水圧プレス→脱脂→予備焼結→熱間等方圧プレスして材料を合成し、得られた透明焼結体を酸素を含む雰囲気中1200~1500℃でアニール処理して材料内部の格子欠陥、歪等を除去した後、所定の形状に機械加工(例えば代表例として直径5mm×長さ20mmのロッド形状)した。次いで、レーザー光が通過する入出力面(直径5mm面両面)を平坦度λ/10(λ=633nm)、平行度<10sec、表面粗度Ra0.2nm程度に仕上げた後、研磨面を使用する波長帯でのAR(Anti Reflection、無反射)コート処理を行うことにより、ファラデー(本発明セラミックス)素子を得ることができる。
材料中に添加された添加剤は、例えば一般的な機器分析装置ICP(Inductive Coupled Plasma)-MASSにて材料中のSi,Mg,Ca含有量をppm単位で検出することができる。
本発明のセラミックスはXRDにてガーネット単相であることが前提であるが、材料組成は蛍光X線分析(XRF)にてTb,Y, Lu,Alの組成を同定することができる。組成分析は、検量線を用いた一般的な方法により実施することができる。
一般的にはX線回折分析(XRD)にて単一相か否かを判定するが、本発明のジャスト化学量論組成の判定は従来法では不可能である。このため、本発明では、材料組織を反射顕微鏡及び透過型偏光顕微鏡で観察することによって判定することができる。
図1(a-1)に示すように透明なセラミックスが均一な粒子から構成されていることは最低条件である。
図1(b-1)に示したものは、透過+偏光顕微鏡写真であるが、偏光下でも均一な画面であることは複屈折が存在しない(立方晶=ガーネット以外の粒子がない)ことになり、この状態に達したものをジャスト化学量論組成と称する。
図1(b-2)は、僅かに希土類側に僅かに組成ズレしたものであり、不純物相は検出できないものの、複屈折(色ムラ)が存在しているので、光損失も大きくなるため、本発明の範囲外となる。
図1(a-2)は、アルミナが僅かに組成ズレしたサンプルであり、局所的に異常粒子が見られる。このような微構造を持つセラミックスは、異常粒子周辺に複屈折が見られ、残留気孔量も多くなるため、本発明の範囲外となる。
出発原料として、市販のTb4O7粉末(純度>99.9%, 平均一次粒子径0.1μm)及びα-Al2O3粉末(純度>99.9%、均一次粒子径0.3μm)を用いた。これらの粉末に添加剤として300ppmのコロイダルシリカ、100ppmのCaO(平均一次粒子径0.1μm,CaCO3の分解物)、900ppmのMgO(平均一次粒子径0.05μm)を加え、これらの粉末をガーネット組成となるように秤量し、有機バインダー(低分子量のポリビニルアルコール(PVA)の20%溶液)を原料粉末に対して3wt%添加し、合成樹脂製容器に入れた。粉末合計100g対して粉砕用高純度Al2O3製ボール(粒径約3mm)1kg及びエタノール250mlを入れたうえで15時間かけて湿式混合することによってスラリーを得た。
回収されたスラリーは、温度90℃でエタノールを蒸発させ、乾燥させることにより、成形用粉末を調製した。成形用粉末をナイロン製篩(100メッシュ)で篩いにかけた。次に、篩いをパスした粉末を約10MPaの圧力下にてプレス成形した後、98MPaの圧力下にてCIP成形を行った。
次いで、得られた成形体について1×10-3Paの真空中にて昇温速度150℃/hrにて最高到達温度1500℃で予備焼結を実施した。予備焼結体の相対密度をアルキメデス法で測定したところ98%であった。
続いて、前記の予備焼結体のHIP処理を行った。処理条件は、処理雰囲気:Arガス、圧力:196MPa、温度:1550℃、処理時間:3時間とした。HIP処理した焼結体は透明ではあるが灰色であるので、さらに空気中1300℃で10時間アニールを行い、内部に存在する格子欠陥を取り除いた。このようにして焼結体を作製した。
表1~6に示す組成及び合成条件としたほかは、実施例1と同様にして焼結体を作製した。
表7~8に示す組成及び合成条件としたほかは、実施例1と同様にして焼結体を作製した。なお、表中に記載された原料粉末の平均一次粒子径は100~300nmの範囲であり、添加剤はTEOS(Si供給源)、MgCO3(Mg供給源), CaCO3(Ca供給源)を用いた。
出発原料として水素還元により得られたTb2O3粉末を粉砕処理して平均一次粒子径を1μmとしたものを出発原料とし、表9~10に示す組成及び合成条件としたほかは、実施例1と同様にして焼結体を作製した。
表11~12に示す(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12セラミックスの組成とし、かつ、表11~12に示す合成条件としたほかは、実施例1と同様にして焼結体を作製した。Sc供給源としては、いずれの実施例も平均一次粒子径500nmのSc2O3粉末を用いた。なお、Scは、基本的にガーネット構造の6配位サイトのAlと格子置換するので、その点を考慮して各原料の配合比を計算した。
比較例1としてCZ法で作製されたTGG単結晶、比較例2としてFZ法のTAG単結晶の性能を示す。比較例3~9は、表13~14に示す組成とし、かつ、表13~14に示す合成条件としたほかは、実施例1と同様にして焼結体を作製した。
表15に示す合成条件としたほかは、実施例1と同様にして、Tb4O7,Y2O3,Lu2O3,Al2O3及び添加剤の反応焼結と1600℃でArガスを圧力媒体として196MPaの圧力で(a)(Tb0.2Lu0.8)3Al5O12と(b)(Tb0.4Y0.6)3Al5O12セラミックスを作製した。
各実施例及び比較例で最終的に得られた焼結体等について、次に示すような物性をそれぞれ測定した。その結果を表1~表15に示す。各表中において、1)は出力10mWのNd:YAGレーザーを用いたときの測定値を示し、2)は出力200Wのレーザーを用いたビーム直径の増大(熱レンズ)及び消光比(熱複屈折)を示す。
なお、各表における単位は、気孔体積は「体積ppm」、平均気孔径は「μm」、平均結晶粒子径は「μm」、挿入損失は「dB」、消光比は「dB」をそれぞれ示す。
予備焼結した焼結体中の気孔率をアルキメデス法(乾燥重量、含水重量、水中重量の測定から算出)により測定し、その測定結果に基づいて相対密度を算出した。
焼結体を鏡面研磨し、1500~1600℃の温度範囲で熱エッチングした表面を反射顕微鏡にて測定した。より具体的には、任意に5ヶ所撮影した表面写真(倍率:200~1000倍の範囲で観察)から、(観察視野の面積)/(観察視野内の結晶粒子の個数)の値から1個の結晶粒子当たりの面積を算出し、結晶粒子を球形と仮定した場合の直径を焼結体の平均結晶粒径とした。例えば、図1(a-1)は本発明のセラミックスであり、平均粒子径は10μmである。
可視(透過)顕微鏡及び走査型電子顕微鏡(SEM)を併用して測定した。可視(透過)顕微鏡の場合は材料内部に存在する気孔を100倍以上の倍率で観察し、気孔の直径を観察し、それに基づいて気孔率を算出した。
材料内部の気孔数は、カウントできる程度の少なさでないと挿入損失は0.2dB以下とはならない。通常の焼結体では、比較的多くの気孔を有するのでアルキメデス法で測定できるのに対し、本発明セラミックスは超緻密であるために気孔を発見することが極めて困難であることから、上記のような特殊な測定方法を用いる。赤外(透過)顕微鏡及び可視(透過)顕微鏡では小さなボイドを観察しても散乱があるために必ず見えるが、サブミクロンサイズになると気孔直径が特定できない。そこで、SEMを併用することで1μm以下の小さな残留気孔の直径を特定することができ、これにより平均気孔直径を求めることができる。すなわち、本発明では、上記の透過型偏光顕微鏡で材料の深さ方向(内部)にある残留気孔の数を求めたうえで、それらの気孔直径は分解能の高いSEMにて確定する方法を採用する。そのうえで、(各気孔直径の合計値)/(残留気孔の合計数)にて平均気孔直径を算出することができる。
なお、透過顕微鏡を用いた残留気孔量の測定例は、“A. Ikesue, T. Kinoshita, K. Kamata, K. Yoshida, “Fabrication and Optical Properties of High-Performance Polycrystalline Nd:YAG Ceramics for Solid-State Lasers”, J. Am. Ceram. Soc., 78 [4] 1033 (1995).”に記載されており、ここに記載の方法に従って実施することもできる。
気孔率の算出方法は、各気孔を球形と仮定し、各気孔体積(又は気孔面積)とその個数=全体の気孔体積を測定体積(又は測定面積)で割ることで気孔率(体積ppm)を求めた。
参考として、図1(b-1)は本発明で気孔率が<1ppm (実質的にゼロ)の透過型偏光顕微鏡写真を示す。材料の深さ方向に1個のボイドも検出できない。図1(b-2)は平均気孔直径が1μmかつ3ppmの残留気孔が有るものである。図1(b-3)は数~数十μmの気孔が200ppm存在するセラミックスであり、気孔直径と量はカウント可能である。
(4-1)不純物相の有無
通常の透過偏光顕微鏡の観察下にて任意に選んだ10ヶ所の粒界を観察し、偏光子を用いて複屈折(立方晶相以外)の有無を調べ、当該領域を有する場合はその領域が不純物相であると判定した。図1(b-4)のセラミックスはジャスト化学量論組成となっているものの、混合が不十分なため、数~10μm程度のインクリュージョンが検出される。このインクリュージョンは透過型偏光顕微鏡による観察下で顕著な複屈折を示すことから本発明の対象外となる。
(4-2)粒界相の有無
HR-TEM(数十~100万倍)にて粒界部の組織(格子像)観察により粒界相の有無を確認し、さらに透過型偏光顕微鏡(100倍)で観察し、明暗差(複屈折)が生じている領域の有無を調べ、当該領域を有する場合はその領域が粒界相(不純物相)であると判定した。図2(b)のセラミックスは粒界相を含まないので粒界はクリーンな構造である。図2(a)は粒界部に10nm程度の不純物相が存在するセラミックスである。粒界相と粒子内部をTEM-EDSで分析すると全く組成が異なるので、容易に粒界相と判断できる。
“(TbxY1-x)3Al5O12 ceramics as Faraday rotator material”, J. Am. Ceram. Soc., DOI: 10.1111/jace.14961 (2017) に記載された方法とほぼ同じであるが、光源に出力10mW、波長1064nmのNd:YAGレーザーを用いた。
まず、Nd-Fe-B系磁石を用いて印加磁場とファラデー回転角からベルデ定数を求め、45度偏光できる材料厚さを求める。規定された厚さの材料両面をλ/10の平坦度に光学研磨した後、測定波長帯に対するAR(無反射)コートを施し、図3の磁気光学特性評価のセットアップ例に従って一般的な光学測定とアイソレータとしての評価を行った。図3に示すように、波長1064nm、出力10mWのNd:YAGレーザーを用い、レーザーの入射とアイソレータの出射側に偏光子(双方が45度交差)を設け、1テスラ磁場を掛けた状態で偏光特性を測定した。この場合、CZ法で作製した直径5mm×長さ20mmのTGG単結晶をリファレンスとした。
図4は、TGG単結晶と(Tb0.65Y0.35)3Al5O12セラミックスの測定値を示した。双方の材料は直径5mm×L20mmに調整し、直径5mm面両面を光学研磨している。この材料に1Tの磁場を与えてベルデ定数を測定すると双方とも36radT-1m-1であった。1Tの磁場中にファラデー素子を入れ、入射側に対して出力側の偏光子を-45deg.にセットした点を出発点とし、一定出力のNd:YAGレーザーを照射した状態で出力側の偏光子を回転させながらレーザー光の透過量(透過損失)を計測していく。開始点は入力と出力の偏光子が直交しているので、この点から消光比、出発点から出力側の偏光子を90deg.回転させた(図中45deg.)で透過率が最大(透過損失が最小)とある点が挿入損失となる。
ベルデ定数を計測して媒質長を調整しておけば、TGG単結晶及び多結晶セラミックスは常に類似する挙動を示すが、各材料の相違点は挿入損失と消光比の絶対値である。
測定方法は、サンプルを光学研磨し、さらにARコートした後、干渉計で測定した。
Claims (11)
- 組成式(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)で表わされるガーネット型多結晶体を含み、かつ、Ca及びMgの少なくとも1種とSiとを含むことを特徴とするTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
- Si、Ca及びMgの含有量(酸化物換算値)が、SiO2として50~500重量ppmであり、かつ、CaO及びMgOとしての合計含有量が100~2000重量ppmである、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
- Si、Ca及びMgの重量比率(酸化物換算値)[(CaO+MgO)/SiO2]が1以上である、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
- 平均結晶粒径が1~30μmの範囲である、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
- 相対密度が99.999%以上である、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
- 前記ガーネット型多結晶体以外の結晶相及び非晶質相が実質的に検出されない、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックス。
- 波長λnm(但し、1200≧λ≧550)の光が45度のファラデー回転を起こす厚さtにおいて、前記光に対する挿入損失が0.2dB以下であり、かつ、消光比が30dB以上である、請求項1に記載のTb含有希土類-アルミニウム系ガーネット型セラミックス。
- Tb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスを製造する方法であって、
(1)(1-1)(a)平均一次粒子径が1μm以下であるテルビウム酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるアルミニウム酸化物、(c)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(d)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料又は
(1-2)(a)平均一次粒子径が1μm以下である(TbxRe1-x)3(AlySc1-y)5O12(但し、Reは、Y及びLuの少なくとも1種を示す。x=1.0~0.5であり、y=1.0~0.6である。)酸化物、(b)平均一次粒子径が1μm以下であるカルシウム化合物及び平均一次粒子径が1μm以下であるマグネシウム化合物の少なくとも1種ならびに(c)平均一次粒子径が1μm以下であるケイ素化合物を含み、かつ、ガーネット組成の化学量論組成を有する粉末混合原料
をアルコール中で湿式混合することにより混合物を得る工程、
(2)前記混合物をプレス成形することにより圧粉体を得る工程、
(3)前記圧粉体を温度1450~1600℃で予備焼結することにより相対密度95~99%の予備焼結体を得る工程、
(4)前記予備焼結体を温度1500~1680℃かつ圧力49~196MPaにてHIP処理する工程、及び
(5)前記HIP処理で得られた焼結体を1200~1500℃でアニールする工程
を含むことを特徴するTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスの製造方法。 - テルビウム酸化物としてTb2O3を用いる、請求項8に記載の製造方法。
- 請求項1~7のいずれかに記載のTb含有希土類-アルミ二ウム系ガーネット型セラミックスを含むファラデー素子。
- 請求項10に記載のファラデー素子を含む光アイソレータデバイス。
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