JP7741444B2 - レーザー発光分光分析用光学装置、レーザー発光分光分析装置、レーザー発光分光分析方法、及び、溶融金属めっき設備 - Google Patents
レーザー発光分光分析用光学装置、レーザー発光分光分析装置、レーザー発光分光分析方法、及び、溶融金属めっき設備Info
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Description
かかる知見に基づき完成された本発明の要旨は、以下の通りである。
(2)前記筒状プローブは、中心軸が前記レーザー光の発振軸と同軸となるように前記筐体部に接続される、(1)に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(3)前記集光レンズは、前記筐体部と前記筒状プローブとの接続部に設けられる、(1)又は(2)に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(4)前記光ファイバー受光部の前記受光端面には、前記発光の少なくとも一部が、集光されない状態で入射する、(1)~(3)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(5)前記レーザー発振器は、ダイオード励起式のレーザー発振器である、(1)~(4)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(6)前記集光レンズは、表面に前記レーザー光の反射を防止する反射防止膜を有する、(1)~(5)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(7)前記集光レンズの取り付け角度を変化させることで前記集光レンズのレンズ光軸方向を調整する角度調整機構を更に備える、(1)~(6)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
(8)(1)~(7)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析用光学装置と、前記光ファイバー受光部により導光された前記発光を分光する分光光学部と、前記分光光学部により分光された前記発光を検出する検出器と、前記検出器による前記発光の検出結果に基づき、溶融金属の成分を分析する成分分析部と、を備える、レーザー発光分光分析装置。
(9)前記検出器は、イメージインテンシファイア電荷結合素子検出器である、(8)に記載のレーザー発光分光分析装置。
(10)前記筐体部の内部を冷却する冷却機構を更に備える、(8)又は(9)に記載のレーザー発光分光分析装置。
(11)(8)~(10)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析装置を用いて、溶融金属めっきのめっき浴中の溶融金属を分析する、レーザー発光分光分析方法。
(12)前記溶融金属めっきは、溶融亜鉛めっきである、(11)に記載のレーザー発光分光分析方法。
(13)(8)~(10)の何れか1つに記載のレーザー発光分光分析装置を備える、溶融金属めっき設備。
(14)溶融亜鉛めっきを施すための溶融亜鉛めっき設備である、(13)に記載の溶融金属めっき設備。
まず、図1を参照しながら、本発明の実施形態に係るレーザー発光分光分析用光学装置について、詳細に説明する。図1は、本実施形態に係るレーザー発光分光分析用光学装置の構成の一例を模式的に示した説明図である。
筐体11は、ケーシングであり、その内部空間111に、レーザー発振器12と、光ファイバー受光部14のうち少なくとも受光部143と、を収納する。筐体11は、本実施形態においてレーザー発振軸Aと略平行な方向を長手方向とし、その先端側において集光レンズ13を固定する。一方、筐体11は、その基端側において開口部113を有し、開口部113は、レーザー発振器12のメンテナンスのための作業空間として機能する他、未図示の配線等の通路となる。更に、開口部113は、後述する冷却機構40による冷媒の排出口としても機能する。
次に、図2を参照しながら、本実施形態に係るレーザー発光分光分析用光学装置1の変形例について説明する。図2は、本実施形態に係るレーザー発光分光分析用光学装置の構成の他の一例を模式的に示した説明図である。
次に、図3を参照しながら、本実施形態に係るレーザー発光分光分析用光学装置1又はレーザー発光分光分析用光学装置1Aを有するレーザー発光分光分析装置2について、詳細に説明する。図3は、本実施形態に係るレーザー発光分光分析装置の構成の一例を模式的に示したブロック図である。
次に、図5を参照しながら、本発明の実施形態に係る演算処理ユニット5のハードウェア構成について、詳細に説明する。図5は、本実施形態に係る演算処理ユニット5のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。
次に、上述したレーザー発光分光分析装置を備える溶融金属めっき設備の一例について説明する。図6は、本実施形態に係る溶融亜鉛めっき装置の概略構成を示す側面図である。なお、溶融金属浴の一例として、代表的に溶融亜鉛めっき設備700中の溶融亜鉛めっき浴701(以下単に「めっき浴」ともいう。)について説明するが、本発明はかかる例に限定されるものではなく、他の任意の溶融金属浴に適用することが可能である。
次に、本実施形態に係るレーザー発光分光分析方法について説明する。本実施形態に係るレーザー発光分光分析方法は、本発明のレーザー発光分光分析装置を用いて、溶融金属めっきのめっき浴中の溶融金属を分析する方法である。
レーザー発振器:ルミバード社製 Viron(ダイオード励起式 Nd:YAGレーザー)
レーザー発振条件:波長1064nm、20Hz、50mJ/pulse
(集光レンズ)
焦点距離:900mm
なお、集光レンズのレーザー発振器側の表面には、レーザー光の波長に対応した反射防止膜を設けた。
(光ファイバー受光部)
光ファイバー(三菱電線社製、1型 標準ファイバー 15m(32芯))
(冷却機構)
圧縮空気を用いた空冷方式
分光光学部及び検出器として、以下の分光器を用いた。
分光器:SOL instrument社製 ダブルグレーティング分光器(NP250-2)TOP:600本/mm、BOTTOM:1200本/mm、スリット幅:30μm
検出器:Andor社製 ICCDカメラ(istar、ゲイン:2000、ゲート幅:10000ns、ディレイ:1000ns、積算回数:1回、繰り返し回数:1回)
筒状プローブ長さ:1000mm
プローブ材質:サイアロン(窒化ケイ素系)
2 レーザー発光分光分析装置
3 分光光学部
4 検出器
5 演算処理ユニット
6 冷却機構
10 筐体部
11 筐体
12 レーザー発振器
13 集光レンズ
14 光ファイバー受光部
20 筒状プローブ
21 プローブ部
23 基端部
24 開口端
25 ガス流入口
30 フード
61a、61b 冷媒吹き出し口
111 内部空間
113 開口部
141 バンドルファイバー
143 受光部
145 出射部
144 受光端面
501 制御部
503 演算処理部
505 成分分析部
507 結果出力部
509 表示制御部
511 記憶部
700 溶融亜鉛めっき設備
701 めっき浴
703 めっき槽
705 スナウト
707 浴中ロール
709 サポートロール
711 インダクタ
713 ガスワイピング装置
715 合金化炉
S 鋼帯
Claims (15)
- 溶融金属の成分を分析するために用いられる光学装置であって、
レーザー光を発振するレーザー発振器と、
前記レーザー光を集光するものであり、前記レーザー発振器から射出された前記レーザー光が直接入射する1つの集光レンズと、
前記レーザー光を前記溶融金属に照射することで発生したプラズマから放射される発光を受光端面で受光する光ファイバー受光部と、
を有する筐体部と、
中心軸が前記レーザー発振器における前記レーザー光の発振軸と平行となるように前記筐体部に接続されており、前記レーザー光の進行方向下流側に位置する開口端へ向けて不活性ガスを供給するとともに、前記レーザー光を前記開口端に導光して前記溶融金属に照射する筒状プローブと、
を備え、
前記レーザー発振器は、前記レーザー発振器の位置を調整可能な固定部材により、前記筐体部に固定されており、
前記光ファイバー受光部の前記受光端面における面法線方向が、前記レーザー光の発振軸と平行である、レーザー発光分光分析用光学装置。 - 前記筒状プローブは、中心軸が前記レーザー光の発振軸と同軸となるように前記筐体部に接続される、請求項1に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 前記集光レンズは、前記筐体部と前記筒状プローブとの接続部に設けられる、請求項1又は2に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 前記光ファイバー受光部の前記受光端面には、前記発光の少なくとも一部が、集光されない状態で入射する、請求項1又は2に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 前記レーザー発振器は、ダイオード励起式のレーザー発振器である、請求項1又は2に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 前記集光レンズは、表面に前記レーザー光の反射を防止する反射防止膜を有する、請求項1又は2に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 前記集光レンズの取り付け角度を変化させることで前記集光レンズのレンズ光軸方向を調整する角度調整機構を更に備える、請求項1又は2に記載のレーザー発光分光分析用光学装置。
- 請求項1に記載のレーザー発光分光分析用光学装置と、
前記光ファイバー受光部により導光された前記発光を分光する分光光学部と、
前記分光光学部により分光された前記発光を検出する検出器と、
前記検出器による前記発光の検出結果に基づき、溶融金属の成分を分析する成分分析部と、
を備える、レーザー発光分光分析装置。 - レーザー光を発振するレーザー発振器と、前記レーザー光を集光するものであり、前記レーザー発振器から射出された前記レーザー光が直接入射する1つの集光レンズと、前記レーザー光を溶融金属に照射することで発生したプラズマから放射される発光を受光端面で受光する光ファイバー受光部と、を有する筐体部と、中心軸が前記レーザー発振器における前記レーザー光の発振軸と平行となるように前記筐体部に接続されており、前記レーザー光の進行方向下流側に位置する開口端へ向けて不活性ガスを供給するとともに、前記レーザー光を前記開口端に導光して前記溶融金属に照射する筒状プローブと、を有し、前記光ファイバー受光部の前記受光端面における面法線方向が、前記レーザー光の発振軸と平行である、レーザー発光分光分析用光学装置と、
前記光ファイバー受光部により導光された前記発光を分光する分光光学部と、
前記分光光学部により分光された前記発光を検出する検出器と、
前記検出器による前記発光の検出結果に基づき、溶融金属の成分を分析する成分分析部と、
前記筐体部の内部を冷却する冷却機構と、
を備える、レーザー発光分光分析装置。 - 前記検出器は、イメージインテンシファイア電荷結合素子検出器である、請求項8又は9に記載のレーザー発光分光分析装置。
- 前記筐体部の内部を冷却する冷却機構を更に備える、請求項8に記載のレーザー発光分光分析装置。
- 請求項8又は9に記載のレーザー発光分光分析装置を用いて、溶融金属めっきのめっき浴中の溶融金属を分析する、レーザー発光分光分析方法。
- 前記溶融金属めっきは、溶融亜鉛めっきである、請求項12に記載のレーザー発光分光分析方法。
- 請求項8又は9に記載のレーザー発光分光分析装置を備える、溶融金属めっき設備。
- 溶融亜鉛めっきを施すための溶融亜鉛めっき設備である、請求項14に記載の溶融金属めっき設備。
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003006967A1 (en) | 2001-07-12 | 2003-01-23 | National Research Council Of Canada | Method and apparatus for depth profile analysis by laser induced plasma spectroscopy |
| JP2007514941A (ja) | 2003-12-17 | 2007-06-07 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法 |
| JP2008215851A (ja) | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Nippon Steel Corp | レーザ誘起蛍光分析用プローブ及びレーザ誘起蛍光分析装置 |
| JP2016522416A (ja) | 2013-07-15 | 2016-07-28 | 中国科学院瀋陽自動化研究所 | 遠距離冶金液体金属成分のための現場オンライン検出装置及び方法 |
| CN205581003U (zh) | 2016-04-15 | 2016-09-14 | 华菱安赛乐米塔尔汽车板有限公司 | 一种新型锌液成分测量装置 |
| WO2020239239A1 (en) | 2019-05-31 | 2020-12-03 | Dt Equipment Ehf. | Non-immersive method and apparatus for quantitative analysis of liquid metals and alloys |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51119332A (en) * | 1975-04-11 | 1976-10-19 | Nippon Steel Corp | Apparatus for detecting plating bath level in hot dip coating tank |
| JPH07234211A (ja) * | 1993-12-30 | 1995-09-05 | Nkk Corp | 溶融金属のレーザー発光分光分析用プローブ及び分析 方法 |
| JP3058030B2 (ja) * | 1994-04-27 | 2000-07-04 | 日本鋼管株式会社 | レーザー発光分光分析方法および装置 |
| JP3173354B2 (ja) * | 1995-12-04 | 2001-06-04 | 日本鋼管株式会社 | 溶融亜鉛めっき鋼板の合金化処理方法およびその合金化制御装置 |
| KR200470965Y1 (ko) * | 2011-11-21 | 2014-01-23 | (주)포스젯한도 | 강판 연속도금설비의 강판 끝단 위치 감지장치 |
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003006967A1 (en) | 2001-07-12 | 2003-01-23 | National Research Council Of Canada | Method and apparatus for depth profile analysis by laser induced plasma spectroscopy |
| JP2007514941A (ja) | 2003-12-17 | 2007-06-07 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法 |
| JP2008215851A (ja) | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Nippon Steel Corp | レーザ誘起蛍光分析用プローブ及びレーザ誘起蛍光分析装置 |
| JP2016522416A (ja) | 2013-07-15 | 2016-07-28 | 中国科学院瀋陽自動化研究所 | 遠距離冶金液体金属成分のための現場オンライン検出装置及び方法 |
| CN205581003U (zh) | 2016-04-15 | 2016-09-14 | 华菱安赛乐米塔尔汽车板有限公司 | 一种新型锌液成分测量装置 |
| WO2020239239A1 (en) | 2019-05-31 | 2020-12-03 | Dt Equipment Ehf. | Non-immersive method and apparatus for quantitative analysis of liquid metals and alloys |
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