JP7696003B2 - 追加の参照測定を有する電気化学測定 - Google Patents
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Description
-場合により第2側面に従う装置を提供すること、
-参照イオン測定設定を用いて、試料中の参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定すること、ここで、参照イオン測定設定(104)は、電気分析的測定設定とは異なり、場合によりさらに、参照イオン濃度を決定し、そして
-分析物イオン測定設定を用いて、試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を以下の間で直接的または間接的に測定すること:
i.1以上の作用電極の各々、例えば1以上の固体作用電極であって前記の作用電極の各々が分析物イオンに関して選択的であるイオン選択性電極を含む固体作用電極、および
ii.参照イオンに関して選択的である固体参照電極のような参照電極、
ここで、分析物イオン測定設定は、電位差測定設定のような電気分析設定であり、かつ
-場合により、1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定する。
参照イオン測定設定は、1以上の干渉イオンに対してある程度(交差)選択的である。しかし、参照イオン測定設定は、別のイオンまたはイオンの群と比較して、あるイオンまたはイオンの群に対してより選択的であると理解され得る(例えば干渉イオンの選択性係数が1.0未満、例えば0.9未満、例えば0.5未満、例えば0.1未満、例えば0.07未満、例えば0.05未満、例えば0.03未満、例えば0.02未満、例えば0.01未満)。
別の態様によれば、参照イオンは、単一の、特異的なイオンまたはイオンの群であり、参照イオン測定設定および/または参照電極に交差選択性があり、各交差選択性は、例えば1以上の干渉種のそれぞれの濃度を測定および/または推定し、これらの1以上の濃度を考慮することによって説明される。
’イオン選択性電極’(ISE)は、当該技術分野で一般的であるように理解される。ISEは、単一のイオンまたはイオンの群に対して選択的であることができる。より詳細には、ISEは、他のイオンの存在下での特定のイオンの活性の電位差決定を可能にする電気化学センサーまたは電極である。ISEは、選択されたイオンのみ(以下で記載されるように可能性のあるいくらかの交差選択性を考慮する)の導電性内部電極への通過を可能にするイオン選択性膜を含み得る。ISEは、1以上の干渉イオンに対していくらか(交差)選択的である電極を包含する可能性がある。しかし、ISEは、別のイオンまたはイオンの群と比較して、あるイオンまたはイオンの群に対してより選択的であると理解され得る(例えば干渉イオンの選択性係数が1.0未満、例えば0.9未満、例えば0.5未満、例えば0.1未満、例えば0.07未満、例えば0.05未満、例えば0.03未満、例えば0.02未満、例えば0.01未満)。
一部の態様によれば、1以上の作用電極のそれぞれが固体(イオン選択性、作用)電極であり、かつ/または参照電極が固体(イオン選択性、参照)電極である方法が提供される。’固体’電極は、当該技術分野において一般的であるように理解される。より詳細には、固体イオン選択性電極により、イオン選択性膜および導電性内部電極を含むイオン選択性電極であって、膜および導電性内部電極の間、例えば導電性内部電極に面する膜の側および膜に面する導電性内部電極の側の間に液体がほとんど存在しないかまたは全く存在しないものが理解される。’ほとんどない’液体により、膜の体積の10倍未満、例えば膜の体積の5倍未満、例えば膜の体積の2倍未満、例えば膜の体積未満、例えば膜の体積の0.5倍未満、例えば膜の体積の0.1倍未満、例えば膜の体積の0.01倍未満である液体の体積が理解され得る。加えて、またはあるいは、導電性内部電極は、導電性内部電極から膜の反対側までの距離の百分率が導電性、内部電極から膜までの距離が90%未満、例えば75%未満、例えば50%未満、例えば25%未満、例えば10%未満、例えば5%未満、例えば2%未満、例えば1%未満、例えば0.1%未満であることによって与えられるように、膜と接触しているか、または膜に近接していることが理解され得る。加えて、またはあるいは、導電性内部電極は、導電性内部電極および試料の間の距離が1mm未満、例えば0.75mm未満、例えば0.5mm未満、例えば0.25mm未満、例えば0.1mm未満、例えば0.03mm未満、例えば0.01mm未満、例えば0.003mm未満であるように試料に近接または接近することを可能にするように配置されることが理解され得る。
i. 参照イオンの濃度、および
ii. 1以上の電位差。
ネルンスト方程式は、分析物イオンの電位および濃度の間の関係を与える:
電解質に関しても同じ方法で、例えば、cKに関して:
N_fac(pH)=パラメーターpHに関するNernst係数、および同様に、N_fac(X):Xパラメーターに関するNernst係数(ここで、Xは電解質を表す)に関して、方程式を展開することができる。これらの方程式は、試料中の分析物の濃度の計算によってそれぞれ補正電位(下記参照)の計算によって使用されるべきである。
一態様によれば、1以上の電位差を測定することが、固体電極間の1以上の電位差を排他的に、例えば直接、例えば固体作用電極および固体参照電極の間で直接測定することを含む方法が提供される。これの利点は、固体電極のみが含まれること、例えば水性の液体-液体電極(および関係する欠点)を除外することであり得る。固体電極間について’排他的に’とは、固体電極間の電位差のみが測定されることと理解されるが、固体作用電極および固体参照電極の間の電位差は、それぞれ固体作用電極および第3の固体電極ならびに固体参照電極および第3の固体電極の間の電位差間の和または差として測定されることができる。’直接’とは、電位差が、例えば固体作用電極および固体参照電極の間に(高インピーダンス)電圧計を挿入することによって、固体作用電極および固体参照電極の間で直接測定されることと理解される。
-水素イオン、例えばH+、
-ナトリウムイオン、例えばNa+、
-カリウムイオン、例えばK+、
-カルシウムイオン、例えばCa2+、
-塩化物イオン、例えばCl-、
-マグネシウムイオン、例えばMg2+、または
-炭酸水素イオン、例えばHCO3 -。
第2側面によれば、以下を含む液体全血試料である試料のような試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するための装置が提供され:
-参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定するために配置された参照イオン測定設定(ここで、参照イオン測定設定(104)は、電気分析的測定設定とは異なる)および
-以下を含む分析物イオン測定設定:
i.1以上の場合により固体の作用電極、前記の場合により固体の作用電極のそれぞれはイオン選択性電極を含み、それは、分析物イオンに選択的であり、そして
ii.参照イオンに関して選択的で場合により固体のイオン選択性電極を含む参照電極、
-ここで、分析物イオン測定設定は電位差測定設定のような電気分析設定であり、
かつここで、分析物イオン測定設定は、以下の間で1以上の電位差を直接的または間接的に測定するために配置されている:
i.1以上の作用電極の各々、および
ii.参照電極。
分析物イオン測定設定および参照イオン測定設定は堅固に接続されていることができ、かつ/または装置はエンクロージャー、例えば単一のエンクロージャー、例えば分析物イオン測定設定および参照イオン測定設定を包含する、および囲む単一のエンクロージャーを含むことができる。
-水素イオン、例えばH+、
-ナトリウムイオン、例えばNa+、
-カリウムイオン、例えばK+、
-カルシウムイオン、例えばCa2+、
-塩化物イオン、例えばCl-、
-マグネシウムイオン、例えばMg2+、または
-炭酸水素イオン、例えばHCO3 -。
-以下のように構成されたプロセッサを含むデータ処理デバイス:
i.以下のものに基づいて試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定する:
1.参照イオンの濃度、および
2.1以上の電位差。
一態様によれば、さらに以下のものを含む装置が提供される:
-以下を含む試料取扱いシステム:
○試料入口、例えば吸引システムを含む前記試料入口、
○測定チャンバー(例えばある体積の試料取扱いシステム、ここで、参照イオンの濃度および/または1以上の電位差を示すパラメーターの測定が行われている間試料が配置される)、例えばここで、参照イオン測定設定(104)および分析物イオン測定設定(105)の両方が、測定チャンバー中にある間の試料上での測定のために配置される。
可能性のある利点は、試料の取り扱いが、より衛生的で、安全で、自動化され、信頼性があり、かつ/または反復可能な方法で実施されることであり得る。’試料取り扱いシステム’とは、一般に試料を受け取り、取り扱う、例えばそれを試料入口から1以上の流体チャネルを介して測定チャンバーに運ぶことができるシステムと理解されることができる。
-1以上のバルブ、例えば試料プラグの形のような試料取扱いシステムを通る試料のセグメント化された輸送を可能にするバルブであって、前記のバルブは、場合によりデータ処理デバイス、例えばデータ処理デバイスによって制御される。
-分析物イオン濃度正確度は、一価イオンである分析物イオンに関して20%未満、例えば15%未満、例えば10%未満、例えば7%未満、例えば5.4%未満、例えば5%未満、例えば3.5%未満、例えば2.7%未満であり、
-参照イオン測定設定および参照電極に由来する分析物イオン濃度正確度の割合は50%未満、例えば40%未満、例えば30%未満、例えば20%未満、例えば10%未満であり、
例えばここで、分析物イオン濃度正確度は、10%未満であり、参照イオン測定設定および参照電極に由来する分析物イオン濃度正確度の割合は30%未満、例えば25%未満、例えば20%未満である。これの利点は、10%より低い分析物イオン濃度正確度がほとんどの目的のために十分に正確であり、参照イオン測定設定および参照電極に由来する比較的低い割合が、他の源に、例えばイオン選択性作用電極に由来する現実的な正確度(またはその欠如)のための余地を残すことであり得る。
-1以上の作用電極の各々、および
-参照電極
の間の距離(例えば中心間距離)は、10mm以下、例えば5mm以下、例えば3mm以下、例えば1mm以下、例えば1mm以下である。可能性のある利点は、(単に)比較的小さな試料容積が必要とされることである。別の可能性のある利点は、例えば(例えば試料チャンバーの容積がより小さいため)より速くすすがれることができる試料チャンバーを利用する場合、異なる試料に関する測定間を通過しなければならない(アイドル)時間がより少ないことである。
E=E0+2.3xRT/(nF)logA
ここで、E0=所与の電池に関する定数、R=気体定数、T=ケルビンでの温度、n=イオン電荷、F=ファラデー定数、Aは活性であり、xは式RT/nFによって与えられる係数から勾配係数が外れる可能性があることを考慮した係数であり、それは理想的な勾配係数と呼ばれ得る。例えば、カリウムイオン(すなわち、n=+1)を測定する場合、298K(25℃)における勾配係数は59.16mVの値を有し、37℃における勾配係数は61.54mVの値を有する。例えば、x=0.1の場合、参照イオン半電池の勾配は、ネルンスト方程式による参照イオンの理論的(理想的)勾配に関して10%である。
(例えば試料は液体全血試料である)中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するために使用され、例えば試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を例えば参照イオンの濃度および1以上の電位差に基づいて決定するために使用される。
-参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定するように配置され(234)、ここで、参照イオン測定設定は、光学センサーであるような電気分析測定設定とは異なる参照イオン測定設定104、304、および
-以下のものを含む分析物イオン測定設定105、305:
i. 1つ以上の、場合により固体の作用電極352であって、前記の場合により固体の作用電極352の各々は、分析物イオンに関して選択的であるイオン選択性電極を含む、
ii. 参照イオンに関して選択的で場合により固体のイオン選択性電極を含む参照電極350、
ここで、分析物イオン測定設定は電位差測定設定のような電気分析設定であり、
かつここで、電気化学測定設定105、305は、以下の間で直接的または間接的に1つ以上の電位差を測定する(236)ために配置されている:
iii. 1以上の作用電極352の各々、および
iv. 参照電極350。
-以下のように構成されたプロセッサを含むデータ処理デバイス106:
i.以下に基づいて、試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定する(238):
1.参照イオンの濃度、
2.1以上の電位差。
○試料入口112
○測定チャンバー354
○試料入口および測定チャンバー(単数または複数)を流体的に接続する1以上の流体チャネル114、例えばマイクロ流体チャネル。
-場合により、図1に記載されるように、および/または本発明の第2側面に従って、試料102を装置100の試料入口112に提供し(232)
-参照イオン測定設定104、304を用いて、試料102中の参照イオンを示すパラメーターの濃度を測定し(234)、ここで、参照イオン測定設定104は、電気分析測定設定とは異なり、場合によりさらに、参照イオン濃度を決定し、
-分析物イオン測定設定を用いて直接または間接的に以下の間の1以上の電位差を測定する(236):
iii.1以上の作用電極352の各々(例えば1以上の固体作用電極であって、前記の作用電極の各々は、分析物イオンに関して選択的であるイオン選択性電極を含む)および
iv.参照イオンに関して選択的である固体参照電極のような参照電極350、
ここで、分析物イオン測定設定は、電位差測定設定のような電気分析設定であり、そして
-場合により、1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定する(238)。
本明細書は以下の発明の開示を包含する。
[項目1]試料が液体全血試料であるような試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定する方法であって、前記の方法が以下の工程を含み:
-参照イオン測定設定を用いて、試料中の参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定すること、ここで、該参照イオン測定設定は、電気分析的測定設定とは異なる、そして
-分析物イオン測定設定を用いて、試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を以下の間で直接的または間接的に測定すること:
i.1以上の作用電極の各々であって、分析物イオンに関して選択的であるイオン選択性電極を含む、1以上の作用電極の各々、および
ii.参照イオンに関して選択的である参照電極、
分析物イオン測定設定が電位差測定設定のような電気分析設定である、方法。
[項目2]項目1に記載の方法であって、該1以上の作用電極の各々が固体電極であり、かつ/または該参照電極が固体参照電極である、方法。
[項目3]項目1又は2に記載の方法であって、以下:
i. 参照イオンの濃度、および
ii. 1以上の電位差
に基づいて試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定することを含む、方法。
[項目4]項目1~3のいずれか1項に記載の方法であって、該1以上の電位差が該試料中の該参照イオン濃度に依存する、方法。
[項目5]項目3および4に記載の方法であって、該試料中の該1以上の分析物イオンの該1以上の濃度を決定することが、該1以上の電位差の該試料中の該参照イオン濃度に対する依存性を反映する、および/または組み込む発現に基づく、方法。
[項目6]項目1~5のいずれか1項に記載の方法であって、該試料が液体全血試料である、方法。
[項目7]項目11~17のいずれかに記載の装置のような装置の試料入口で試料を吸引することのような該試料を吸引することを含み、それによって該試料の吸引された部分を生成し、該参照イオン測定設定を用いた測定および該分析物イオン測定設定を用いた測定の各々が該試料の該吸引された部分上で行われる、項目1~6のいずれか1項に記載の方法。
[項目8]項目1~7のいずれか1項に記載の方法であって、該参照イオン測定設定を用いて該試料中の該参照イオンの濃度を測定することが、光学測定を含む、方法。
[項目9]項目1~8のいずれか1項に記載の方法であって、該参照イオンが、水素イオン、例えばH+、ナトリウムイオン、例えばNa+、またはカリウムイオン、例えばK+である、方法。
[項目10]項目9に記載の方法であって、該光学測定がpHに依存する光学パラメーターPoを測定することを含み、pHの変化dpHを伴う光学パラメーターの変化dPo、dPo/dpHが[7;8]のpH間隔内、例えばpH間隔[7.2、7.6]内、例えば7.4においてまたは約7.4において局所的および/または全体的な最大値を有する、方法。
[項目11]液体全血試料である試料のような試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するための装置であって、以下:
-参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定するために配置された参照イオン測定設定であって、電気分析的測定設定とは異なる参照イオン設定、および
-以下を含む分析物イオン測定設定:
i.1以上の、場合により固体の、作用電極であって、前記場合により固体の、作用電極のそれぞれは、分析物イオンに選択的である、イオン選択性電極を含む、場合により固体の、作用電極、および
ii.参照イオンに関して選択的で、場合により固体の、イオン選択性電極を含む参照電極、
ここで、該分析物イオン測定設定は電位差測定設定のような電気分析設定であり、
かつここで、該分析物イオン測定設定は、以下の間で1以上の電位差を直接的または間接的に測定するために配置されている:
v.該1以上の作用電極の各々、および
vi.該参照電極;
を含む、装置。
[項目12]項目11に記載の装置であって、該参照イオン測定設定が光学センサーを含む、装置。
[項目13]項目11~12のいずれかに記載の装置であって、さらに以下:
-以下のために構成されたプロセッサを含むデータ処理デバイス:
i.該試料中の該1以上の分析物イオンの1以上の濃度を以下に基づいて決定する:
1.参照イオンの濃度、および
2.1以上の電位差
を含む、装置。
[項目14]項目11~13のいずれかに記載の装置であって、さらに以下:
-以下を含む試料取扱いシステム:
○試料入口であって、例えば吸引システムを含む、試料入口、
○測定チャンバーであって、例えば、参照イオン測定設定および分析物イオン測定設定の両方が、測定チャンバー中にある間の試料上での測定のために配置される、測定チャンバー、
○試料入口および測定チャンバーを流体的に接続する1以上の流体チャネル、例えばマイクロ流体チャネル、
を含む、装置。
[項目15]項目11~14のいずれか1項に記載の装置であって、一価イオンである該分析物イオンに関して、正確度が20%未満、例えば15%未満、例えば10%未満、例えば7%未満、例えば5.4%未満、例えば5%未満、例えば3.5%未満、例えば2.7%未満である、装置。
[項目16]項目11~15のいずれか1項に記載の装置であって、該装置、例えば該装置全体が、それぞれ一価イオンである該1以上の分析物イオンに関して、1以上の真の濃度に関して20%未満、例えば15%未満、例えば10%未満、例えば7%未満、例えば5.4%未満、例えば5%未満、例えば3.5%未満、例えば2.7%未満である正確度で該1以上の電位差に基づいて試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定することを可能にする、装置。
[項目17]項目11~16のいずれか1項に記載の装置であって、以下:
-1以上の作用電極の各々、および
-該参照電極
の間の距離が10mm以下、例えば5mm以下、例えば3mm以下、例えば1mm以下、例えば1mm以下である、装置。
[項目18]項目11~17のいずれか1項に記載の装置であって、前記装置が、液体全血試料である該試料のような試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するために使用されている、装置の使用。
102 試料
104 参照イオン測定設定
105 分析物イオン測定設定(電気化学測定設定)
106 データ処理装置
112 試料入口
114 流体チャネル
116 デジタル記憶デバイス
118 ユーザーインターフェース
120 出力ユニット
122 入力ユニット
200 方法
230 ブロック
232 提供
234 測定
236 測定
238 濃度を決定
240 ブロック
304 参照イオン測定設定
305 分析物イオン測定設定(電気化学測定装置)
314 流体チャネル
350 参照電極
352 作用電極
354 測定チャンバー
356 電圧計
358 光学分析ユニット
360 ケース
362 絶縁封止材
364 導電体
366 導電性内部電極
368 膜
370 中心間距離
472 間隙
474 距離
476 距離
Claims (16)
- 試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定する方法であって、前記の方法が以下の工程を含み:
-参照イオン測定設定を用いて、試料中の参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定すること、ここで、該参照イオン測定設定は、電気分析的測定設定とは異なる、そして
-分析物イオン測定設定を用いて、試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を以下の間で直接的または間接的に測定すること:
i.1以上の作用電極の各々であって、分析物イオンに関して選択的であるイオン選択性電極を含む、1以上の作用電極の各々、および
ii.参照イオンに関して選択的である参照電極、
分析物イオン測定設定が電気分析的測定設定であり、
該参照イオン測定設定を用いて該試料中の該参照イオンの濃度を測定することが、光学測定を含み、該光学測定がpHに依存する光学パラメーターP o を測定することを含み、pHの変化dpHを伴う光学パラメーターの変化dP o 、dP o /dpHが[7;8]のpH間隔内において局所的および/または全体的な最大値を有する、方法。 - 請求項1に記載の方法であって、該1以上の作用電極の各々が固体電極であり、かつ/または該参照電極が固体参照電極である、方法。
- 請求項1又は2に記載の方法であって、以下:
i. 参照イオンの濃度、および
ii. 1以上の電位差
に基づいて試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定することを含む、方法。 - 請求項1~3のいずれか1項に記載の方法であって、該1以上の電位差が該試料中の該参照イオンの濃度に依存する、方法。
- 請求項3および4に記載の方法であって、該試料中の該1以上の分析物イオンの該1以上の濃度を決定することが、該1以上の電位差の該試料中の該参照イオンの濃度に対する依存性を反映する、および/または組み込む式に基づく、方法。
- 請求項1~5のいずれか1項に記載の方法であって、該試料が液体全血試料である、方法。
- 試料を吸引することを含み、それによって該試料の吸引された部分を生成し、該参照イオン測定設定を用いた測定および該分析物イオン測定設定を用いた測定の各々が該試料の該吸引された部分上で行われる、請求項1~6のいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1~7のいずれか1項に記載の方法であって、該参照イオンが、水素イオン、ナトリウムイオン、またはカリウムイオンである、方法。
- 試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するための装置であって、以下:
-参照イオンの濃度を示すパラメーターを測定するために配置された参照イオン測定設定であって、電気分析的測定設定とは異なる参照イオン測定設定、および
-以下を含む分析物イオン測定設定:
i.1以上の、場合により固体の、作用電極であって、前記場合により固体の、作用電極のそれぞれは、分析物イオンに選択的である、イオン選択性電極を含む、場合により固体の、作用電極、および
ii.参照イオンに関して選択的で、場合により固体の、イオン選択性電極を含む参照電極、
ここで、該分析物イオン測定設定は電気分析的測定設定であり、
かつここで、該分析物イオン測定設定は、以下の間で1以上の電位差を直接的または間
接的に測定するために配置されている:
v.該1以上の作用電極の各々、および
vi.該参照電極;
を含み、
該参照イオン測定設定が、光学センサーを含み、光学センサーがpHに依存する光学パラメーターP o の測定のために配置され、pHの変化dpHを伴う光学パラメーターの変化dP o 、dP o /dpHが[7;8]のpH間隔内において局所的および/または全体的な最大値を有するように設定される、装置。 - 請求項9に記載の装置であって、さらに以下:
-以下のために構成されたプロセッサを含むデータ処理デバイス:
i.該試料中の該1以上の分析物イオンの1以上の濃度を以下に基づいて決定する:
1.参照イオンの濃度、および
2.1以上の電位差
を含む、装置。 - 請求項9又は10に記載の装置であって、さらに以下:
-以下を含む試料取扱いシステム:
○試料入口、
○測定チャンバー、
○試料入口および測定チャンバーを流体的に接続する1以上の流体チャネル、
を含む、装置。 - 請求項9~11のいずれか1項に記載の装置であって、一価イオンである該分析物イオンに関して、正確度が2.7%以上、20%未満である、装置。
- 請求項9~12のいずれか1項に記載の装置であって、該装置が、それぞれ一価イオンである該1以上の分析物イオンに関して、1以上の真の濃度に関して2.7%以上、20%未満である正確度で該1以上の電位差に基づいて試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を決定することを可能にする、装置。
- 請求項9~13のいずれか1項に記載の装置であって、以下:
-1以上の作用電極の各々、および
-該参照電極
の間の距離が10mm以下である、装置。 - 請求項9~14のいずれか1項に記載の装置であって、前記装置が、試料中の1以上の分析物イオンの1以上の濃度を示す1以上の電位差を測定するために使用されている、装置の使用。
- 試料が液体全血試料である、請求項9~14のいずれか一項に記載の装置。
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