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JP7681363B2 - 超電導体、超電導体の製造方法、液体水素用液面センサー、及び液体水素用液面計 - Google Patents

超電導体、超電導体の製造方法、液体水素用液面センサー、及び液体水素用液面計 Download PDF

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Description

本発明は、超電導体、超電導体の製造方法、液体水素用液面センサー、及び液体水素用液面計に関するものである。
地球温暖化は現在及び将来にわたって我々が対処すべき共通の課題であるとの認識は世界的に深まって来ているが、大きな課題は化石燃料の消費を減らす脱炭素化の動きである。その一つの選択肢として水素の利用活用が上げられる。我が国においては、「GX(グリーントランスフォーメーション)実現に向けた基本方針」が2023年2月に閣議決定され、水素の導入促進が謳われているなか、液体水素の輸送・貯蔵・消費の場面における正確な液体水素量の計測が求められる。
液体水素は常圧下の沸点が約20Kという極低温物質であり、電気抵抗の変化を利用した液体水素液面計のセンサー材料として、液体水素温度より高温で超電導を呈する材料が求められてきた。21世紀の入り口で金属間化合物としてはMgB2(二ホウ化マグネシウム)の比較的高温超電導性が報告され、またMgB2を用いた液体水素液面計への取り組みが進んでいる。
特許文献1には、マグネシウム(Mg)とホウ素(B)とからなる金属間化合物であり、電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が39Kである事項が記載されている。
特許文献2には、MgB2のB原子の一部をC原子に置換した長尺状の超電導体を用いて液体水素用液面計を構成した事項が記載されている。
特許文献3には、Mgと平均粒径2μm未満のBとを混合した第1粉末を金属シースの一端から充填し、Mgと平均粒径2μm以上15μm未満のBとを混合した第2粉末を金属シースの他端から充填した後、伸線加工と熱加工を行って超電導線材を製造する事項が記載されている。
特許文献1:特開2002-211916号公報
特許文献2:特開2000-175034号公報
特許文献3:再表2014/162379号公報
しかしながら、特許文献1に記載の金属間化合物は、臨界温度(Tc)が39Kという高い温度であって、常圧下の沸点が約20Kの液体水素用の液面計に用いる超電導体としては臨界温度(Tc)が高いという問題があった。
また、特許文献2に記載のMgB2のB原子の一部をC原子に置換した超電導体は、B原子の一部をC原子に置換しなければならず製造方法が複雑で、かつ再現性が得にくいという問題があった。
また、特許文献3に記載の超電導線材も平均粒径の異なる2種類のBを用いていることから製造方法が複雑であるという問題があった。
本発明は、上記問題点を解決して、液体水素液面計に使用でき、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導材料を実現することを課題とする。
上記課題を解決するために本発明は、液体水素用液面計に使用可能な臨界温度(Tc)を有する超電導体であって、
マグネシウム(Mg)とホウ素(B)とがモル比1:2の金属化合物からなり、SiCを含まず、
電気抵抗が実質的に零になる前記臨界温度(Tc)が32.4Kであることを特徴とする超電導体を提供するものである。
この構成により、液体水素液面計に使用でき、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導体を実現することができる。 ここで、液体水素の温度は、常圧で20Kであるが、1MPaGで30Kまで上昇するので、液体水素液面計用の超電導体としては液体水素の温度20~30Kに対応するために、少なくとも臨界温度(Tc)=31K以上の超電導体とする必要がある。 そして、出願人は、後述のように、マグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径17μm~7μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合して、MgB2を製作することにより、Tc=約32K~約34Kの超電導体が実現できることを見出した。
また、上記課題を解決するために本発明は、液体水素用液面計に使用可能な臨界温度(Tc)を有する超電導体の製造方法であって、
マグネシウム(Mg)と、平均粒径17μm~7μmのホウ素(B)とを混合する混合工程と、
前記混合工程で混合されたMgとBの混合物を焼成する焼成工程と、
実行することで、
MgB2とすることを特徴とする超電導体の製造方法を提供するものである。
この構成により、液体水素液面計に使用でき、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導材体を実現することができる。
また、上記課題を解決するために本発明は、SiCを含まずMgとBとがモル比1:2の金属化合物であり、
電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が32.4Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を備えたことを特徴とする液体水素用液面センサーを提供するものである。
この構成により、液体水素液面計に使用でき、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導材体を備えた液体水素用液面センサーを実現することができる。
また、上記課題を解決するために本発明は、SiCを含まずMgとBとがモル比1:2の金属化合物であり、
電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が32.4Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を有した液体水素用液面センサーと、
前記液体水素用液面センサーを加熱するヒータと、
前記液体水素用液面センサーに電流を流す電源と、
前記液体水素用液面センサーにおける電圧を測定する電圧計と、
を備えたことを特徴とする液体水素用液面計を提供するものである。
この構成により、製造方法が簡潔で再現性が得られる液体水素用液面計を実現することができる。
本発明の超電導体、超電導体の製造方法により、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導体を実現できることから、液体水素用液面センサー、液体水素液面計を容易に実現することができる。
本発明の実施例1における超電導体の臨界温度(Tc)の測定データである(比較データを含む。)。 本発明の実施例1における液体水素用液面センサーを説明する図である。 本発明の実施例1における液体水素用液面計を説明する図である。 本発明の実施例1におけるホウ素の平均粒径と臨界温度の関係を示すグラフである。
本発明の実施例1について、図1~図4を参照して説明する。図1は、本発明の実施例1における超電導体の臨界温度(Tc)の測定データである(比較例を含む。)。図2は、本発明の実施例1における液体水素用液面センサーを説明する図である。図3は、本発明の実施例1における液体水素用液面計を説明する図である。図4は、本発明の実施例1におけるホウ素の平均粒径と臨界温度の関係を示すグラフである。
(超電導体) 実施例1における超電導体は、液体水素用液面計に用いることができるものである。液体水素の電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)は、常圧で20Kであるが、1MPaGで30Kまで上昇するので、液体水素液面計用の超電導体としては臨界温度Tc=20~30Kに対応するために、Tc=32.4K~34.3Kの超電導体を実現した。
実施例1における超電導体は、SiCを用いずに、マグネシウム(Mg)とホウ素(B)からなり、マグネシウム(Mg)1に対して、ホウ素(B)をモル比2で混合した混合物を中空の金属管に充填、伸線処理した後、約600℃のアルゴン雰囲気で熱処理して金属間化合物として製作したものである。その超電導体の臨界温度(Tc)は、図1の実験データに示すように、(d)の32.4K及び(c)の34.3Kである。図1の横軸は、温度(K)を示し、縦軸は出力電圧(mV)を示しており、出力電圧が実質的に零となるときは抵抗が零になるときであり、そのときの温度が臨界温度(Tc)である。なお、図1において、(d)のグラフは平均粒径が14μmのホウ素をマグネシウムと混合したときの臨界温度(Tc)=32.4Kを測定した結果であり、(c)のグラフは、平均粒径が2μmのホウ素をマグネシウムと混合したときの臨界温度(Tc)=34.3Kを測定した結果である。このときのマグネシウムは、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)を使用した。
図1を参照してホウ素の平均粒径を変化させて臨界温度(Tc)を比較測定した実験結果を説明する。図1における(a)、(b)、(e)、(f)、及び(g)のグラフは、いずれも臨界温度(Tc)が32K~34Kの範囲に入らなかった実験データ(比較データ)である。すなわち(a)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が0.7μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=35.6Kである。また、(b)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が1μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=35.5Kである。つまり、(a)、(b)のデータは、臨界温度(Tc)が35Kよりも高く、液体水素液面計用の超電導体としては用いることができない。
図1の(e)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が36μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=27.3Kである。また、(f)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が38μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=29.2Kである。また、(g)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が39μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=26.9Kである。つまり、(e)、(f)、(g)のデータは、臨界温度(Tc)が32Kよりも低く、液体水素液面計用の超電導体としては用いることができない。
図1の(d)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が14μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=32.4Kである。また、(c)のグラフは、マグネシウム1に対して平均粒径が2μmのホウ素を2の割合で混合した結果であり、臨界温度(Tc)=34.3Kである。つまり、液体水素液面計用の超電導体としての目標に近い値を(c)、(d)のデータは示している。
ここで、実験データで示した平均粒径と臨界温度(Tc)の求め方について説明する。平均粒径は、島津製作所のSALD―2300(レーザ回析式粒子径分布測定装置)で測定して求めた。臨界温度(Tc)はJISH7309による測定ではなく、クライオスタット装置によるショートサンプルの測定データ(25K~45Kのデータ)を、最小二乗法を用いてシグモイド曲線(遷移曲線)で近似し、高さが50%の値をTcとしている。
上記実験データからホウ素の平均粒径が小さければ臨界温度(Tc)が高く、平均粒径が大きければ臨界温度(Tc)が低いという知見が得られた。次に、臨界温度(Tc)=約32K~約34Kを得るためのホウ素の平均粒径をいくらにすればよいかの検討を行った。図4に示すグラフは、横軸がホウ素の平均粒径(μm)で、縦軸が臨界温度(Tc)で示されるグラフであり、上記実験結果のデータ7個をこのグラフ上にプロットしたものである。この図4からわかるように、これらのデータは式1に示す非常に強い近似直線関係にある。式1:Tc温度=―0.2×平均粒径(μm)+35.35
この近似直線から得られる臨界温度(Tc)=約32K~約34Kを得るためのホウ素の平均粒径は、7~17μmである。すなわち、マグネシウム1に対して平均粒径7~17μmのホウ素を2の割合で混合すれば、臨界温度(Tc)=32K~34Kの超電導体を得られる。
なお、実施例1においては、ホウ素の粒径を平均粒径で表現した。平均粒径とは、前述のSALD-2300の測定値に平均の操作で得られた代表径で、ヒストグラムの横軸である粒子径と、縦軸である頻度をそれぞれ掛け合わせて合計したものである。しかし、粒子状物質の粒子径の分布を表す粒子径分布が異なると臨界温度(Tc)が異なるものとなる可能性がある。そのため本願では、近似直線から得られる臨界温度(Tc)=約32K~約34Kと、「約」を付して表現することとした。
(超電導体の製造方法) まず、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径14μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合する混合工程を実施する。次に、混合工程で混合されたMgとBの混合物をアルゴン雰囲気600℃で1時間焼成する焼成工程を実施してMgB2の超電導体を完成させる。 なお、後述のように、長尺状の液体水素用液面センサーとする場合は、焼成したMgB2を粉末にして長い管に入れて伸線処理するか、混合したMgとBの粉末を伸線処理しその後焼成処理すればよい。
ここで、ホウ素(B)は、ニラコが粒径40μmとして販売しているものを購入して使用したが、上述のレーザ回析式粒子径分布測定装置で平均粒径を測定すると14μmであった。また、マグネシウム(Mg)は、alfa Aesarが325mesh(粒径約44μm)として販売しているものを購入して使用した。
325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径14μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合し、伸線処理を行い、焼成した超電導体の臨界温度(Tc)は32.4K(図1参照)であった。
また、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径2μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合する混合工程を実施する。次に、混合工程で混合されたMgとBの混合物をアルゴン雰囲気600℃で1時間焼成する焼成工程を実施する。
ここで、ホウ素(B)は、nanogaraphi technologyが粒径10μmとして販売しているものを購入して使用したが、上述のレーザ回析式粒子径分布測定装置で平均粒径を測定すると2μmであった。また、マグネシウム(Mg)は、alfa Aesarが325mesh(粒径約44μm)として販売しているものを購入して使用した。
325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径2μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合し、焼成した超電導体の臨界温度(Tc)は34.3K(図1参照)であった。
なお、実施例1においては、MgB2以外の物質は含まずに製造したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、SiCを含んでいてもよいし、臨界温度(Tc)に影響を及ぼさない他の物質を含んでいてもよい。
ホウ素(B)とマグネシウム(Mg)の混合後、焼成工程の前は、MgとBの粉末粒子が接触点で接触している。この状態で焼成工程を実施すると、接触点からMgB2結晶核が生成しこの核が成長する。生成するMgB2結晶核の数は接触点数が影響し接触点数は混合する粉末の粒径比によって変化する。結晶核が多い(接触点数が多い)場合は、全体的な反応が早く隣り合う結晶が界面でぶつかり融合して成長し、不純物となる未反応粉末がない完全な結晶となる。
したがって、粒径が数μm~数十μmの範囲では、Bの粒径がMgの粒径より小さければ小さいほど接触点数が多くなり、生成したMgB2が完全な結晶となるため、臨界温度(Tc)は高くなる。このことは、上述の図4で説明した、Bの平均粒径と臨界温度(Tc)との関係を裏付けている。
以上により再現性ある超電導体を製造することが可能となったが、さらなる再現性の確保のためには、製造においては、熱処理(昇温、一定温度、降温の速度と時間)、MgとBの粒径および粒径比や粒度分布等を厳重に管理して同じ条件にする必要がある。
(液体水素用液面センサー)
実施例1における液体水素用液面センサー10は、超電導体11と被膜金属12とからなり、図2に示すように長さが約1mで直径が約0.3mmの長尺状芯線をなしている。超電導体11は、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径14μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合した(混合工程)ものを伸線工程で伸線処理し、その後、焼成工程によりMgB2の超電導体としたものである。伸線工程では、混合工程から得られるMgとBの混合物を粉末にしたものを約1mの管に入れて伸線処理を行い長尺状に作成した。
なお、実施例1においては、混合工程、伸線工程、焼成工程の順に行うようにしたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、混合工程の後に、焼成工程を行い、その後、粉末状にする粉末工程を行い、最後に伸線工程を実施するようにしてもよい。また、熱処理工程を複数回行ってもよい。
なお、実施例1においては、長さが約1mで直径が約0.3mmの長尺状芯線を形成するようにしたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、長さが約5mであっても0.5mであってもよく、液体水素の深さに応じて作成すればよい。
また、実施例1においては、直径を約0.3mmとしたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、0.5mmであっても0.2mmであってもよく、臨界温度(Tc)との兼ね合いで直径を選択してもよい。
さらに、被膜金属12は、伝導率の高い金属であればよいが、実施例1においては白銅を使用したが、ステンレスなどの別の金属であってもよい。
また、実施例1においては、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径14μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合するようにしたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、325mesh(alfa Aesar製、粒径約44μm)のマグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径2μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合するようにしてもよい。
実施例1における液体水素用液面センサー10の常温時の抵抗値は1Ω/m~6Ω/mであるが、これに限定されず適宜変更が可能である。
また、実施例1においては、液体水素用液面センサー10の長さが約1mとしたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、長さを約5mとしてもよいし、約0.5mとしもよい。少なくとも液体水素の液面が測定できる長さであればよい。
(液体水素用液面計)
実施例1における液体水素用液面計100の構成を図3に示す。タンクTに液体水素Mが充填されており、そのタンクTに垂直方向に液体水素用液面センサー10が設置されている。液体水素用液面センサー10は、液体水素Mの液中深く配置される。
液面より上の常温エリアにおける液体水素用液面センサー10は、ヒータ20にヒータ電源21から電流を流すことで抵抗熱を発生させて液体水素用液面センサー10を加温することができる。これにより、液体水素Mの温度による影響をなくして液面より上を常電導状態に保つことができる。
液体水素用液面センサー10の両端に、電源30が接続され、また、電圧計40が接続されている。そして、電源10から電流を液体水素用液面センサー10に流し、電圧計40で液体水素用液面センサー10の両端の電圧を測定し処理部50に保存する。そして、予め定められた公知の関係式に基づいて、保存した電圧から液面位置を算出する。
このように、実施例1においては、マグネシウム(Mg)とホウ素(B)とがモル比1:2の金属化合物からなり、SiCを含まない超電導体であって、
電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が約32K~約34Kであることを特徴とする超電導体により、液体水素液面計に使用でき、製造方法が簡潔で再現性が得られる超電導体とすることができる。
また、実施例1においては、電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が約32K~約34Kである超電導体の製造方法であって、
マグネシウム(Mg)1に対して、平均粒径17μm~7μmのホウ素(B)をモル比2の割合で混合する混合工程と、
前記混合工程で混合されたMgとBの混合物を焼成する焼成工程と、
を備えたことを特徴とする超電導体の製造方法により、製造方法が簡潔で再現性が得られる液体水素用液面計用の超電導体を実現することができる。
また、実施例1においては、SiCを含まないMgB2からなる金属化合物であり、電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が約32K~約34Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を備えたことを特徴とする液体水素用液面センサーにより、製造方法が簡潔で再現性が得られる液体水素用液面計を実現することができる。
さらに、実施例1においては、SiCを含まないMgB2からなる金属化合物であり、電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が約32K~約34Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を有した液体水素用液面センサーと、
前記液体水素用液面センサーを加熱するヒータと、
前記液体水素用液面センサーに電流を流す電源と、
前記液体水素用液面センサーにおける電圧を測定する電圧計と、
を備えたことを特徴とする液体水素用液面計により、製造方法が簡潔で再現性が得られる液体水素用液面計を実現することができる。
本発明における超電導体、超電導体の製造方法、液体水素用液面センサー、及び液体水素用液面計は、液体水素用液面計の分野に広く適用することができる。
10:液体水素用液面センサー 11:超電導体 12:被膜金属 20:ヒータ部 21:ヒータ電源 30:電源 40:電圧計 50:処理部 100:液体水素用液面計

Claims (4)

  1. 液体水素用液面計に使用可能な臨界温度(Tc)を有する超電導体であって、
    マグネシウム(Mg)とホウ素(B)とがモル比1:2の金属化合物からなり、SiCを含まず、
    電気抵抗が実質的に零になる前記臨界温度(Tc)が32.4Kであることを特徴とする超電導体。
  2. 液体水素用液面計に使用可能な臨界温度(Tc)を有する超電導体の製造方法であって、
    マグネシウム(Mg)と、平均粒径17μm~7μmのホウ素(B)とを混合する混合工程と、
    前記混合工程で混合されたMgとBの混合物を焼成する焼成工程と、
    を実行することで、
    MgB2とすることを特徴とする超電導体の製造方法。
  3. SiCを含まずMgとBとがモル比1:2の金属化合物であり、
    電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が32.4Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を備えたことを特徴とする液体水素用液面センサー。
  4. SiCを含まずMgとBとがモル比1:2の金属化合物であり、
    電気抵抗が実質的に零になる臨界温度(Tc)が32.4Kである長尺状の超電導体と、前記超電導体の表面を覆う被覆金属と、を有した液体水素用液面センサーと、
    前記液体水素用液面センサーを加熱するヒータと、
    前記液体水素用液面センサーに電流を流す電源と、
    前記液体水素用液面センサーにおける電圧を測定する電圧計と、
    を備えたことを特徴とする液体水素用液面計。
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