JP7539477B2 - 電子デバイスおよびその形成方法 - Google Patents
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Description
異なる周波数のフィルタを含む電子デバイスの製造は、通常、各フィルタを別々に形成し、その後、これらを電子デバイスの他の部分と一体化することを含む。たとえば、多周波数デュプレクサは、受信信号から送信信号を分離することができ、これによって、受信および送信が相互干渉なく別々に達成できることが確実になる。したがって、それらは移動体通信の分野で広く用いられている。具体的には、デュプレクサは、典型的には、異なる周波数の2つのフィルタ(それぞれ送信フィルタおよび受信フィルタ)からなる。体積弾性波(bulk acoustic wave)(BAW)フィルタは、広範な利点(高い動作周波数、コンパクトなサイズ、低挿入損失、高Q値および半導体プロセスとの互換性を含む)の恩恵により、この目的で広範囲に用いられる。
本発明の目的の一つは、電子デバイス内で異なる周波数の送信フィルタおよび受信フィルタの、別々の正確な周波数調整を可能にする電子デバイスを形成する方法を提供し、これによって、電子デバイスの望ましい全体サイズを実現することを支援することである。
第1ウェハおよび第2ウェハを提供することと、
第1ウェハをエッチングすることによって、第1ウェハの受信領域内に受信キャップ空洞を形成することと、
第1ウェハの送信領域内に、そこに底部電極と、圧電層と、頂部電極と、パッシベーション層とを順に形成することによって、送信共振器を形成することと、
第2ウェハをエッチングすることによって、第2ウェハの送信領域内に送信キャップ空洞を形成することとと、
第2ウェハの受信領域内に、そこに底部電極と、圧電層と、頂部電極と、パッシベーション層とを順に形成することによって、受信共振器を形成することと、
第1ウェハ内の受信キャップ空洞が第2ウェハ上の受信共振器をシールしつつ閉鎖して受信フィルタが形成され、第2ウェハ内の送信キャップ空洞が第1ウェハ上の送信共振器をシールしつつ閉鎖して送信フィルタが形成されるように、第1ウェハと第2ウェハとを互いに接着することと、
を含む。
Claims (10)
- 電子デバイスを形成する方法であって、
前記方法は、
第1ウェハおよび第2ウェハを提供することと、
前記第1ウェハをエッチングすることによって前記第1ウェハの受信領域内に受信キャップ空洞を形成することと、
前記第1ウェハの送信領域内に、そこに第1電極、圧電層、第2電極およびパッシベーション層を順に形成することによって、送信共振器を形成することと、
前記第2ウェハをエッチングすることによって前記第2ウェハの送信領域内に送信キャップ空洞を形成することと、
前記第2ウェハの受信領域内に、そこに第1電極、圧電層、第2電極およびパッシベーション層を順に形成することによって、受信共振器を形成することと、
前記第1ウェハ内の前記受信キャップ空洞が前記第2ウェハ上の前記受信共振器をシールしつつ閉鎖して受信フィルタを形成し、前記第2ウェハ内の前記送信キャップ空洞が前記第1ウェハ上の前記送信共振器をシールしつつ閉鎖して送信フィルタが形成されるように、前記第1ウェハおよび前記第2ウェハを互いに接着することと、
を備え、
前記送信共振器の前記形成は、前記送信領域内の頂部電極の端部を、第1エッチングパラメータで横方向にエッチングして、前記パッシベーション層の対応する端部が懸架部を形成するようにすることを含み、
前記受信共振器の前記形成は、前記受信領域内の頂部電極の端部を、第2エッチングパラメータで横方向にエッチングして、前記パッシベーション層の対応する端部が懸架部を形成するようにすることを含み、
前記第2エッチングパラメータは前記第1エッチングパラメータとは異なる、
電子デバイスを形成する方法。 - 前記第1ウェハの前記送信領域内にさらに第1中空空洞が形成され、
前記送信フィルタは、前記第1中空空洞と、前記送信共振器と、前記送信キャップ空洞とを備え、これらは前記第1ウェハから前記第2ウェハへと向かう方向に配置され、
前記第2ウェハの前記受信領域内にさらに第2中空空洞が形成され、
前記受信フィルタは、前記第2中空空洞と、前記受信共振器と、前記受信キャップ空洞とを備え、これらは前記第2ウェハから前記第1ウェハへと向かう方向に配置され、
前記受信フィルタは前記送信フィルタに対して反転されている、
請求項1に記載の電子デバイスを形成する方法。 - 前記第1ウェハおよび前記第2ウェハを互いに接着した後、前記受信共振器内の各層の配置順序は、前記送信共振器内の各層の配置順序に対して逆となっている、請求項1に記載の電子デバイスを形成する方法。
- 前記第1ウェハの前記送信領域において、第1中空空洞の上方に前記送信共振器が形成されるように第1中空空洞がさらに形成され、前記第1ウェハ内の前記第1中空空洞および前記受信キャップ空洞は、同一のフォトマスクを用いる同一のプロセスにおいて同時に形成され、および/または、
前記第2ウェハの前記受信領域において、第2中空空洞の上方に前記受信共振器が形成されるように第2中空空洞がさらに形成され、前記第2ウェハ内の前記第2中空空洞および前記送信キャップ空洞は、同一のフォトマスクを用いる同一のプロセスにおいて同時に形成される、
請求項1に記載の電子デバイスを形成する方法。 - 前記第1ウェハの前記送信領域内に、各送信コネクタが、前記送信共振器の隣に形成されて前記送信共振器と電気的に接続され、さらに、前記第2ウェハの前記送信領域内に、各送信接着柱が、それぞれ対応する各送信コネクタと位置整合して形成され、前記第1ウェハおよび前記第2ウェハを互いに接着する際に、各前記送信接着柱と、対応する各前記送信コネクタとが接着され接続されて各送信ピックアップを形成し、および/または、
前記第2ウェハの前記受信領域内に、各受信コネクタが、前記受信共振器の隣に形成されて前記受信共振器と電気的に接続され、さらに、前記第1ウェハの前記受信領域内に、各受信接着柱が、それぞれ対応する各受信コネクタと位置整合して形成され、前記第1ウェハおよび前記第2ウェハを互いに接着する際に、各前記受信接着柱と、対応する各前記受信コネクタとが接着され接続されて各受信ピックアップを形成する、
請求項1に記載の電子デバイスを形成する方法。 - 前記第1ウェハおよび前記第2ウェハを互いに接着した後に、
前記第1ウェハまたは前記第2ウェハを薄化することと、
薄化された前記第1ウェハまたは前記第2ウェハをエッチングして、複数の接触孔を形成することであって、各前記送信ピックアップおよび各前記受信ピックアップは、前記複数の接触孔内に露出する、複数の接触孔を形成することと、
前記接触孔内の導電プラグおよび前記薄化された前記第1ウェハまたは前記第2ウェハ上の接触パッドを形成することであって、前記接触パッドは、前記導電プラグと電気的に接続されるように前記導電プラグをカバーする、導電プラグおよび接触パッドを形成することと、
前記接触パッド上にはんだボールを形成することと、
をさらに備える、請求項5に記載の電子デバイスを形成する方法。 - 前記第1ウェハ上にさらに第1接着リングが形成され、
前記第1接着リングは、前記送信領域および前記受信領域の双方を囲み、
前記第2ウェハ上にさらに第2接着リングが形成され、
前記第2接着リングは、前記第1接着リングと位置整合し、
前記第1ウェハおよび前記第2ウェハの前記接着の際に、前記第1接着リングおよび前記第2接着リングが接着され接続される、
請求項1に記載の電子デバイスを形成する方法。 - 第1ウェハおよび第2ウェハを備える電子デバイスであって、
前記第1ウェハおよび前記第2ウェハは互いに接着され、
送信領域において、前記第1ウェハ上に送信共振器が形成され、
前記送信共振器は、第1電極と、圧電層と、第2電極と、パッシベーション層とを備え、これらは前記第1ウェハから前記第2ウェハへと向かう方向に順に積層され、
前記第2ウェハ内に送信キャップ空洞が形成され、
前記送信キャップ空洞は、前記送信共振器をシールしつつ閉鎖して送信フィルタを形成し、
受信領域において、前記第1ウェハ内に受信キャップ空洞が形成され、
前記第2ウェハ上に受信共振器が形成され、
前記受信共振器は、第1電極と、圧電層と、第2電極と、パッシベーション層とを備え、これらは前記第2ウェハから前記第1ウェハへと向かう方向に順に積層され、
前記受信キャップ空洞は、前記受信共振器をシールしつつ閉鎖して受信フィルタを形成し、
前記送信領域内の頂部電極の端部に空洞が形成され、前記パッシベーション層の対応する端部が、懸架部を形成し、
前記受信領域内の頂部電極の端部に他の空洞が形成され、前記パッシベーション層の対応する端部が、懸架部を形成する、
電子デバイス。 - 前記第1ウェハおよび前記第2ウェハの間にさらにシールリングが形成され、
前記シールリングは、前記送信フィルタおよび前記受信フィルタの双方を囲む、
請求項8に記載の電子デバイス。 - 前記第1ウェハの前記送信領域において、第1中空空洞の上方に前記送信共振器が形成されるように第1中空空洞がさらに形成され、および/または、
前記第2ウェハの前記受信領域において、第2中空空洞の上方に前記受信共振器が形成されるように第2中空空洞がさらに形成される、
請求項8に記載の電子デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110078579.3A CN112422101B (zh) | 2021-01-21 | 2021-01-21 | 一种电子器件及其形成方法 |
| CN202110078579.3 | 2021-01-21 | ||
| PCT/CN2022/072834 WO2022156722A1 (zh) | 2021-01-21 | 2022-01-19 | 一种电子器件及其形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023519791A JP2023519791A (ja) | 2023-05-15 |
| JP7539477B2 true JP7539477B2 (ja) | 2024-08-23 |
Family
ID=74783117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022548606A Active JP7539477B2 (ja) | 2021-01-21 | 2022-01-19 | 電子デバイスおよびその形成方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12212299B2 (ja) |
| EP (1) | EP4089919A4 (ja) |
| JP (1) | JP7539477B2 (ja) |
| CN (1) | CN112422101B (ja) |
| WO (1) | WO2022156722A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112422101B (zh) | 2021-01-21 | 2021-04-30 | 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 | 一种电子器件及其形成方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2006008940A1 (ja) | 2004-07-20 | 2006-01-26 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 圧電フィルタ |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN112018229A (zh) * | 2020-10-27 | 2020-12-01 | 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 | Saw滤波器加工与封装方法、saw滤波器及通讯终端 |
| CN112422101B (zh) | 2021-01-21 | 2021-04-30 | 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 | 一种电子器件及其形成方法 |
-
2021
- 2021-01-21 CN CN202110078579.3A patent/CN112422101B/zh active Active
-
2022
- 2022-01-19 US US17/799,446 patent/US12212299B2/en active Active
- 2022-01-19 WO PCT/CN2022/072834 patent/WO2022156722A1/zh not_active Ceased
- 2022-01-19 EP EP22742201.1A patent/EP4089919A4/en active Pending
- 2022-01-19 JP JP2022548606A patent/JP7539477B2/ja active Active
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| JP2020155896A (ja) | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 太陽誘電株式会社 | 圧電薄膜共振器、弾性波デバイス、フィルタおよびマルチプレクサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US12212299B2 (en) | 2025-01-28 |
| EP4089919A1 (en) | 2022-11-16 |
| CN112422101B (zh) | 2021-04-30 |
| CN112422101A (zh) | 2021-02-26 |
| WO2022156722A1 (zh) | 2022-07-28 |
| EP4089919A4 (en) | 2023-11-29 |
| JP2023519791A (ja) | 2023-05-15 |
| US20230344400A1 (en) | 2023-10-26 |
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|
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