JP7588025B2 - 校正方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 46
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 193
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 174
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Description
[校正方法の概要]
第1の実施形態に係る校正方法は、三次元測定装置の測定精度の点検に用いられる点検用ゲージを校正するための方法である。図1(a)から図1(c)は、第1の実施形態の校正方法の概要を示す図である。本校正方法は、点検用ゲージの一部の辺が、レーザ干渉計等の基準器で三次元測定装置を同定した位置に一致するように点検用ゲージを三次元測定装置に載置し、点検用ゲージを所定の回数だけ所定の回転対象軸の周りに回転させることにより生じる複数の姿勢で、三次元測定装置を用いて点検用ゲージの各辺の両端に設けられた球の間の距離を測定する。三次元測定装置を用いる場合、予め測定する位置を設定しておけば自動的に距離を測定することができるので、このような校正方法により、校正する対象となる辺の数だけ基準器をセットアップする場合に比べて、校正に要する時間を短縮することができる。
図2は、三次元測定装置200の構成を示す図である。三次元測定装置200は、通信部21、プローブユニット22、表示部23、記憶部24及び制御部25を備える。制御部25は、測定部251、同定部252、算出部253及び表示制御部254を備える。
同定部252は、通信部21を介して、レーザ干渉計と通信する。同定部252は、測定位置における三次元測定装置200の測定誤差を予め同定する。図3は、同定部252による測定誤差の同定の様子を示す図である。同定部252は、プローブユニット22とレーザ干渉計35との2つの装置を用いて、測定位置において同じ距離をそれぞれ測定する。同定部252は、2つの装置により測定した測定結果を比較することにより、プローブユニット22が測定する際の測定誤差を同定する。
算出部253は、点検用ゲージ100の各辺の両端の2つの球の間の球間距離を校正した校正値を算出する。算出部253は、以下の式(1)を解くことにより、点検用ゲージ100の正四面体の各辺の球間距離の校正値g1~g6と、測定部251が点検用ゲージ100の正四面体の各辺の球間距離を測定した際に生じる測定誤差m1~m6とを算出する。
図6は、第1の実施形態において点検用ゲージ100の球間距離を校正する手順を示すフローチャートである。まず、点検用ゲージ100を、第1辺の測定位置における測定誤差が同定された三次元測定装置200の測定台に第1姿勢で設置する(S101)。測定部251は、第1姿勢で設置された点検用ゲージ100の複数の辺の両端の2つの球の間の球間距離をそれぞれ測定する(S102)。点検用ゲージ100は、第1回転対称軸の周りに120度回転されて第2姿勢で設置される(S103)。測定部251は、第2姿勢で設置された点検用ゲージ100の複数の辺の両端の2つの球の間の球間距離をそれぞれ測定する(S104)。
第1の実施形態では、第1姿勢から第3姿勢において設置された点検用ゲージ100の球間距離を測定部251が測定する場合の例について説明した。これに対し、第2の実施形態では、2つの姿勢のそれぞれにおいて、底面の1辺と、底面に含まれない斜面上の1辺の合計2辺の長さを、基準器で校正された三次元測定装置の2つの位置で測定し、他の少なくとも一部の辺の両端の球の間の距離を三次元測定装置における校正されていない位置で測定することにより、点検用ゲージを校正する。すなわち、点検用ゲージ100を第3姿勢で設置する手順を省略し、第1姿勢及び第2姿勢において設置された点検用ゲージ100の球間距離を測定部251が測定する。
図8は、第2の実施形態において点検用ゲージ100の球間距離を校正する手順を示すフローチャートである。まず、点検用ゲージ100を、第1測定位置及び第2測定位置において測定誤差が同定された三次元測定装置200の測定台に第1姿勢で設置する(S201)。測定部251は、第1姿勢で設置された点検用ゲージ100の複数の辺の両端の2つの球の間の球間距離をそれぞれ測定する(S202)。
本発明の校正方法によれば、算出部253は、複数の連立方程式を解くことにより、球間距離の校正値を算出する。ユーザは、このような校正方法を採用することにより、レーザ干渉計35等を用いて点検用ゲージ100の全ての球間距離をそれぞれ測定する必要がないので、点検用ゲージ100を校正する校正作業に要する時間を短縮することができる。
22 プローブユニット
23 表示部
24 記憶部
25 制御部
31 レール
32 スライダ
33 測定体
34 反射体
35 レーザ干渉計
100 点検用ゲージ
200 三次元測定装置
251 測定部
252 同定部
253 算出部
254 表示制御部
Claims (4)
- 正四面体の各頂点に球が配置された点検用ゲージを校正する方法であって、
三次元測定装置の測定台に前記点検用ゲージを第1姿勢で設置するステップと、
前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺の球間距離を、前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺のうちの第1辺がある測定位置における測定誤差が同定された前記三次元測定装置により測定するステップと、
前記複数の辺の球間距離を測定した後に、前記点検用ゲージをその第1回転対称軸の周りに回転させることにより、前記複数の辺のうちの前記第1辺と異なる第2辺が、前記第1姿勢において前記第1辺があった前記測定位置に一致する第2姿勢で前記点検用ゲージを前記測定台に設置するステップと、
前記第2姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺の球間距離を前記三次元測定装置により測定するステップと、
前記第2姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離を測定した後に、前記点検用ゲージを前記第1回転対称軸とは異なる第2回転対称軸の周りに回転させることにより、前記複数の辺のうちの前記第1辺及び前記第2辺と異なる第3辺が前記測定位置に一致する第3姿勢で前記点検用ゲージを前記測定台に設置するステップと、
前記第3姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺の球間距離を前記三次元測定装置により測定するステップと、
前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離と、前記第2姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離と、前記第3姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離と、前記測定位置における前記三次元測定装置の測定誤差と、を含む複数の連立方程式を解くことにより、前記点検用ゲージの複数の辺の両端の2つの球の間の球間距離を校正した校正値を算出するステップと、
を有する校正方法。 - 正四面体の各頂点に球が配置された点検用ゲージを校正する方法であって、
三次元測定装置の測定台に前記点検用ゲージを第1姿勢で設置するステップと、
前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺のうち、前記正四面体の底面に含まれる第1辺がある第1測定位置における測定誤差と、前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺のうち、前記底面に含まれない第2辺がある第2測定位置における測定誤差とが同定された前記三次元測定装置により、前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離を測定するステップと、
前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離を測定した後に、前記底面と直交する回転対称軸の周りに前記点検用ゲージを回転させることにより、前記複数の辺のうち、前記第1辺及び前記第2辺と異なる第3辺が、前記第1姿勢において前記第1辺があった前記第1測定位置に一致し、且つ、前記第1辺、前記第2辺及び前記第3辺と異なる第4辺が、前記第2辺があった前記第2測定位置に一致する第2姿勢で前記点検用ゲージを前記測定台に設置するステップと、
前記第2姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺の球間距離を、前記三次元測定装置により測定するステップと、
前記第1姿勢で設置された前記点検用ゲージの前記複数の辺の球間距離と、前記第2姿勢で設置された前記点検用ゲージの複数の辺の球間距離と、前記第1測定位置及び前記第2測定位置における前記三次元測定装置の測定誤差と、を含む複数の連立方程式を解くことにより、前記点検用ゲージの複数の辺の両端の2つの球の間の球間距離を校正した校正値を算出するステップと、
を有する校正方法。 - 前記校正値を算出するステップにおいて前記校正値を最小2乗法により算出することを特徴とする、
請求項1又は2に記載の校正方法。 - レーザ干渉計により前記測定誤差を同定するステップをさらに含む、
請求項1から3のいずれか一項に記載の校正方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021065439A JP7588025B2 (ja) | 2021-04-07 | 2021-04-07 | 校正方法 |
| US17/693,845 US11656074B2 (en) | 2021-04-07 | 2022-03-14 | Calibration method |
| DE102022106417.4A DE102022106417A1 (de) | 2021-04-07 | 2022-03-18 | Kalibrierungsverfahren |
| CN202210337937.2A CN115200520A (zh) | 2021-04-07 | 2022-03-31 | 校准方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021065439A JP7588025B2 (ja) | 2021-04-07 | 2021-04-07 | 校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022160911A JP2022160911A (ja) | 2022-10-20 |
| JP7588025B2 true JP7588025B2 (ja) | 2024-11-21 |
Family
ID=83361675
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021065439A Active JP7588025B2 (ja) | 2021-04-07 | 2021-04-07 | 校正方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11656074B2 (ja) |
| JP (1) | JP7588025B2 (ja) |
| CN (1) | CN115200520A (ja) |
| DE (1) | DE102022106417A1 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000310525A (ja) | 1999-04-01 | 2000-11-07 | Metronom G Fuer Industrievermessung Mbh | 供試体 |
| JP2013104703A (ja) | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Tochigi Prefecture | 非接触座標測定機の真直度評価方法および真直度評価装置 |
| KR20190009514A (ko) | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 경일대학교산학협력단 | 기하학적 오차 측정기능이 구비된 볼바 |
| JP2020046301A (ja) | 2018-09-19 | 2020-03-26 | 株式会社キャプテン インダストリーズ | 工作機械の計測誤差評価方法及びプログラム |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0362626B1 (de) * | 1988-10-03 | 1993-02-10 | Firma Carl Zeiss | Prüfkörper für Koordinatenmessgeräte |
| GB8906287D0 (en) * | 1989-03-18 | 1989-05-04 | Renishaw Plc | Probe calibration |
| DE4326551C2 (de) * | 1993-08-07 | 1997-04-17 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Kalibrier-Verfahren zum Ermitteln und Kompensieren unterschiedlicher Antastkraft-Verhältnisse bei Mehrkoordinaten-Tastsystemen |
| GB9601679D0 (en) * | 1996-01-27 | 1996-03-27 | Renishaw Plc | Ball bar apparatus for calibrating a machine |
| DE19644712A1 (de) | 1996-10-28 | 1998-05-07 | Eugen Dr Trapet | Kugelquader |
| GB0126232D0 (en) * | 2001-11-01 | 2002-01-02 | Renishaw Plc | Calibration of an analogue probe |
| US6836323B2 (en) * | 2002-10-07 | 2004-12-28 | Metronom U.S., Inc. | Spatial reference system |
| GB0608235D0 (en) * | 2006-04-26 | 2006-06-07 | Renishaw Plc | Differential calibration |
| US7712224B2 (en) * | 2007-10-03 | 2010-05-11 | Hexagon Metrology Ab | Validating the error map of CMM using calibrated probe |
| DE102014209040B4 (de) * | 2014-05-13 | 2019-02-14 | Carl Mahr Holding Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines Messgerätes |
| JP6631984B1 (ja) * | 2019-06-25 | 2020-01-15 | 株式会社浅沼技研 | 検査マスタ |
| DE102019122654A1 (de) * | 2019-08-22 | 2021-02-25 | M & H Inprocess Messtechnik Gmbh | Vorrichtung zur Kalibrierung einer Geschwindigkeit einer Bewegungsachse einer Maschine |
| JP7438056B2 (ja) | 2020-08-07 | 2024-02-26 | 株式会社ミツトヨ | 校正方法 |
-
2021
- 2021-04-07 JP JP2021065439A patent/JP7588025B2/ja active Active
-
2022
- 2022-03-14 US US17/693,845 patent/US11656074B2/en active Active
- 2022-03-18 DE DE102022106417.4A patent/DE102022106417A1/de active Pending
- 2022-03-31 CN CN202210337937.2A patent/CN115200520A/zh active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000310525A (ja) | 1999-04-01 | 2000-11-07 | Metronom G Fuer Industrievermessung Mbh | 供試体 |
| JP2013104703A (ja) | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Tochigi Prefecture | 非接触座標測定機の真直度評価方法および真直度評価装置 |
| KR20190009514A (ko) | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 경일대학교산학협력단 | 기하학적 오차 측정기능이 구비된 볼바 |
| JP2020046301A (ja) | 2018-09-19 | 2020-03-26 | 株式会社キャプテン インダストリーズ | 工作機械の計測誤差評価方法及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN115200520A (zh) | 2022-10-18 |
| US20220333920A1 (en) | 2022-10-20 |
| US11656074B2 (en) | 2023-05-23 |
| DE102022106417A1 (de) | 2022-10-13 |
| JP2022160911A (ja) | 2022-10-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20231014 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240313 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20241031 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20241105 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20241111 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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