JP7280527B2 - 放電装置、冷媒評価装置、及び冷媒評価方法 - Google Patents
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Description
(1)全体構成
図1は、冷媒評価装置100の構成を示す模式図である。冷媒評価装置100は、ある種類の冷媒における不均化反応の生じやすさを判定するために用いられるものであり、換言すれば、試料冷媒に既に生じている不均化反応の程度を判定するために用いられるものである。冷媒評価装置100は、冷媒室70と、充電装置10と、放電装置20と、演算ユニット80を有する。
(2-1)冷媒室70
冷媒室70は、内部空間を有するチャンバである。内部空間には、高圧の冷媒73が収容できる。この冷媒73は、測定対象の試料である。
充電装置10は、放電によって冷媒73に与えるべきエネルギーEを蓄積するためのものである。充電装置10は、このエネルギーEを後述する放電装置20のキャパシタ31に蓄える。
放電装置20は、第1電極71と第2電極72の間に放電を発生させ、それによってエネルギーEを冷媒73に与えるためのものである。
エネルギー蓄積部30は、キャパシタ31を有する。キャパシタ31は、第1端子31a及び第2端子31bを有する。第1端子31aは、ノードN3に接続されている。第2端子31bは、ノードN2に接続されている。エネルギー蓄積部30は、パワートランジスタなどの半導体素子を有しない。
リアクタ部40は、第1電極71と第2電極72の間の放電を開始させるためのものである。リアクタ部40は、誘導によって大きな第2電圧V2を発生させる。たとえ第1電極71と第2電極72の間に第1電圧V1が印加されている場合であっても、放電が生じていない間には、第1電極71と第2電極72の間に電流Iは流れない。この状態において、リアクタ部40が発生させた大きな第2電圧V2が第1電極71と第2電極72に印加されることによって、冷媒73にプラズマが発生し、第1電極71と第2電極72の間に導通が生じる。その後、キャパシタ31が蓄えた電荷Qが第1電極71と第2電極72の間を移動し、それによって冷媒73に放電が起こる。
演算ユニット80は、中央演算装置と記憶装置を備えるコンピュータである。演算ユニット80は、少なくとも圧力センサ74の出力に基づいて、冷媒73の不均化反応の程度を算出する。
冷媒室70に収容される冷媒73の圧力は、例えば、1MPa以上かつ10MPa以下に設定される。
冷媒73の評価手順、以下の工程を含む。
第5工程において、第2電圧V2によって冷媒73にプラズマが生じ、それによって第1電極71及び第2電極72の間に導通が生じる。
(5-1)
リアクタ部40が、第1リアクタ50及び第2リアクタ60という2つのリアクタを有する。したがって、リアクタ部40が大きなリアクタンスを有することができるので、リアクタ部40が大きな第2電圧V2を生成することができる。したがって、第1電極71及び第2電極72の間に高圧の冷媒73が配置される場合において、大きな誘導電圧である第2電圧V2によって放電を開始させ、それによってキャパシタ31に蓄えられたエネルギーEを冷媒73に与えることができるので、冷媒73の不均化反応の評価が可能になる。
第1リアクタコア51及び第2リアクタコア61の材質がフェライトである。したがって、第2電圧V2を大きくしやすい。
第1リアクタコア51及び第2リアクタコア61が大きな透磁率μを有する。したがって、第2電圧V2を大きくしやすい。
第1二次コイル53及び第2二次コイル63が所定の巻数を有する。したがって、第1リアクタコア51及び第2リアクタコア61と協働することによって、第1二次コイル53及び第2二次コイル63は大きな第2電圧V2を発生することができる。
第1二次コイル53及び第2二次コイル63の材質の抵抗率が小さい。したがって、エネルギーEの損失を低減できる。
放電経路DPは半導体素子を備えない。したがって、放電経路DPは、半導体素子の数アンペア程度の定格電流を超える大きな電流を扱うことができるので、放電経路DPは大きなエネルギーEを冷媒73に対して与えることができる。
第1一次コイル54及び第2一次コイル64に電流を流すことによって、第2電圧V2を誘導することができる。
第2電圧V2の値が大きい。したがって、放電装置20は大きなエネルギーEを冷媒73に対して与えることができるので、冷媒73が受け取るエネルギーEの大きさが安定する。
放電に関与する電流Iの値が大きい。したがって、放電装置20は大きなエネルギーEを冷媒73に対して与えることができるので、冷媒73が受け取るエネルギーEの大きさが安定する。
第1電極71及び第2電極72の直径φが小さい。したがって、第1電極71及び第2電極72の体積が小さいので、放電によって一時的に生じる熱エネルギーが第1電極71又は第2電極72を形成する金属材料によって冷却されるおそれが少ない。
第1電極71及び第2電極72の間の離間距離Dが大きく保たれる。したがって、冷媒73が受け取るエネルギーEの大きさが安定する。
キャパシタ31の静電容量Cが大きい。したがって、放電装置20は大きなエネルギーEを冷媒73に対して与えることができるので、冷媒73が受け取るエネルギーEの大きさが安定する。
放電装置20が大きなエネルギーEを冷媒に対して与えることができる。したがって、冷媒評価装置100は、安定的に冷媒73の不均化反応の程度を判定することができる。
(6)変形例
(6-1)第1変形例
前述の実施形態では、充電装置10において、抵抗器12及び充電スイッチ13は、いずれも直流電源11の正端子11aの側に接続されている。これに代えて、抵抗器12及び充電スイッチ13の少なくとも一方は、直流電源11の負端子11bの側に接続されてもよい。
前述の実施形態では、リアクタ部40は、直流電源11の正端子11aの側に存在するノードN3及びノードN5の間に接続されている。これに代えて、リアクタ部40は、直流電源11の負端子11bの側に存在するノードN1及びノードN2の間に接続されてもよい。
以上、本開示の実施形態を説明したが、特許請求の範囲に記載された本開示の趣旨及び範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。
20 :放電装置
30 :エネルギー蓄積部
31 :キャパシタ
40 :リアクタ部
50 :第1リアクタ
51 :第1リアクタコア
53 :第1二次コイル(第1コイル)
54 :第1一次コイル(第1入力コイル)
60 :第2リアクタ
61 :第2リアクタコア
63 :第2二次コイル(第2コイル)
64 :第2一次コイル(第2入力コイル)
70 :冷媒室
71 :第1電極
72 :第2電極
73 :冷媒
74 :圧力センサ
80 :演算ユニット
100 :冷媒評価装置
C :静電容量
D :離間距離
DP :放電経路
E :エネルギー
I :電流
N :巻数
P1 :第1圧力
P2 :第2圧力
Q :電荷
V0 :直流電圧
V1 :第1電圧
V2 :第2電圧
V3 :第3電圧
φ :直径
μ :透磁率
Claims (14)
- 互いに離間して配置される第1電極(71)及び第2電極(72)、
エネルギー(E)を蓄えることによって前記第1電極及び前記第2電極の間に第1電圧(V1)を印加するキャパシタ(31)、及び
第1リアクタ(50)及び第2リアクタ(60)を有し、前記第1電極及び前記第2電極の間に印加される第2電圧(V2)を誘導により発生することによって、前記第1電極及び前記第2電極の間に前記エネルギーの放電を開始させるリアクタ部(40)、
を有する、放電装置(20)と、
前記第1電極及び前記第2電極が配置された内部空間に冷媒(73)を収容できる冷媒室(70)と、
前記冷媒の圧力を取得するための圧力センサ(74)と、
前記圧力センサの出力に基づいて、前記冷媒の不均化反応の程度を算出する演算ユニット(80)と、
を備え、
前記リアクタ部に誘導された前記第2電圧が前記第1電極及び前記第2電極に印加されることによって、前記冷媒において前記エネルギーの放電が開始される、
冷媒評価装置(100)。 - 前記第1リアクタは、フェライト製の第1リアクタコア(51)及び前記第1リアクタコアに巻かれた第1コイル(53)を有し、
前記第2リアクタは、フェライト製の第2リアクタコア(61)及び前記第2リアクタコアに巻かれた第2コイル(63)を有する、
請求項1に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1リアクタコア及び前記第2リアクタコアの透磁率(μ)は、250H/m以上である、
請求項2に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1コイル及び前記第2コイルの巻数(N)は、20以上かつ100以下である、
請求項2又は請求項3に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1コイル及び前記第2コイルの材質は、銅及び銀の中から選択される、
請求項2から4のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記放電の際に前記エネルギーが伝達される放電経路(DP)をさらに備え、
前記放電経路は、直列に配置された前記キャパシタ、前記第1コイル、及び前記第2コイルを有し、
前記放電経路は、半導体素子を有しない、
請求項2から5のいずれか1項に記載冷媒評価装置。 - 前記第1リアクタは、前記第1リアクタコアに巻かれた第1入力コイル(54)を有し、
前記第2リアクタは、前記第2リアクタコアに巻かれた第2入力コイル(64)を有する、
請求項2から6のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記第2電圧(V2)は、20kV以上かつ100kV以下である、
請求項1から7のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1電極又は前記第2電極を流れる電流(I)は50A以上である、
請求項1から8のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1電極及び前記第2電極の各々の直径(φ)は、3mm以下である、
請求項1から9のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記第1電極と前記第2電極は、互いに10μm以上離間している、
請求項1から10のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 前記キャパシタの静電容量(C)は、30μF以上である、
請求項1から11のいずれか1項に記載の冷媒評価装置。 - 第1電極(71)及び第2電極(72)が配置された内部空間を有する冷媒室(70)を準備し、
冷媒(73)を前記冷媒室の前記内部空間に導入し、
前記冷媒の圧力を第1圧力(P1)として取得し、
キャパシタ(31)にエネルギー(E)を蓄えることによって、前記第1電極及び前記第2電極の間に第1電圧(V1)を印加し、
リアクタ部(40)が誘導する第2電圧(V2)を前記第1電極(71)及び前記第2電極(72)に印加することによって、前記冷媒において前記エネルギーの放電を開始し、
前記放電において前記エネルギーを前記冷媒に与え、
前記冷媒の圧力を第2圧力(P2)として取得し、
前記第1圧力及び前記第2圧力に基づいて、前記冷媒における不均化反応の程度を算出する、
冷媒評価方法。 - 前記第1電極と前記第2電極は、互いに10μm以上離間しており、
前記第1電極及び前記第2電極の各々の直径(φ)は、3mm以下であり、
前記放電時における前記第1電極と前記第2電極の間の電圧(V3)は、20kV以上かつ100kV以下であり、
前記第1電極又は前記第2電極を流れる電流(I)は50A以上である、
請求項13に記載の冷媒評価方法。
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