JP6966876B2 - 極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 - Google Patents
極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6966876B2 JP6966876B2 JP2017110606A JP2017110606A JP6966876B2 JP 6966876 B2 JP6966876 B2 JP 6966876B2 JP 2017110606 A JP2017110606 A JP 2017110606A JP 2017110606 A JP2017110606 A JP 2017110606A JP 6966876 B2 JP6966876 B2 JP 6966876B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- electron microscope
- low temperature
- ultra
- preparation device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
2 チャンバー
3 移動機構
5 試料基板
6 瞬間凍結機構
7 光学顕微鏡
8 制御機構
9 試料溶液
Claims (7)
- 所定の試料溶液の設けられる基礎となる試料基板と、当該試料基板上へ所定の温度に制御された所定の試料溶液を所定容量吐出させるように形成された試料吐出機構と、当該試料吐出機構から吐出された上記試料溶液を有する試料基板を収納するものであって所定の温度及び湿度に制御されたチャンバーと、当該チャンバー内へ上記試料基板を移動させる移動機構と、上記試料吐出機構にて吐出された上記試料溶液の状態を測定する光学顕微鏡と、当該光学顕微鏡にて測定された上記試料溶液の試料基板上への拡散面積の値、その厚さの値、または試料基板上に形成される液滴の接触角度の値、に関するもののうち、少なくともいずれか一つのものを基に、次の回における上記試料吐出機構からの試料溶液の吐出量、上記チャンバー内の温度、及び上記チャンバー内の湿度を含む諸条件を制御する制御機構と、上記試料溶液が取付けられた後、上記測定の済んだ状態の試料基板を瞬時に凍結させる瞬間凍結機構と、からなるようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、上記試料基板上に形成される試料溶液を液滴状の形態からなるようにするとともに、このような液滴状の試料溶液を、上記試料基板上において、複数個、それぞれの吐出量が異なった状態のものを連続的に、それぞれ異なった個所に形成させるようにした構成からなることを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、水もしくは所定の添加剤を含む水溶液の薄膜からなる試料基板をあらかじめ形成させておくようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、上記の試料吐出機構に加え、所定量の水もしくは添加剤を含む水溶液の微小液滴を吐出する第2の吐出機構を備え、試料吐出前に、試料基板上に水膜もしくは所定の添加剤を含む水膜を形成させるようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、試料基板に対して光もしくは電磁波を照射する機構、電流もしくは電位もしくは磁場を印加する機構、または、所定の化学物質を投入する機構を有するようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、試料基板上の複数位置での請求項1記載の測定値を、その位置座標と測定値の情報とをメモリーを含む所定のデータ蓄積手段上に保持し、この蓄積されたデータを電子顕微鏡観察用のデータと共有することのできるようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
- 請求項1記載の極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置において、極低温透過型電子顕微鏡の低倍率観察時に目視または画像認識装置にて判別することのできるようなものであって、所定の形態パターンを有する水膜からなる試料を作成するようにしたことを特徴とする極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017110606A JP6966876B2 (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | 極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017110606A JP6966876B2 (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | 極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018205106A JP2018205106A (ja) | 2018-12-27 |
| JP6966876B2 true JP6966876B2 (ja) | 2021-11-17 |
Family
ID=64955691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017110606A Expired - Fee Related JP6966876B2 (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | 極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6966876B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2907772B2 (ja) * | 1995-05-30 | 1999-06-21 | キヤノン株式会社 | インク吐出量の測定方法及び測定装置及びプリント装置及びプリント装置におけるインク吐出量の測定方法 |
| NL1017669C2 (nl) * | 2001-03-22 | 2002-09-24 | Univ Maastricht | Inrichting voor het vervaardigen van preparaten voor een cryo-elektronenmicroscoop. |
| JP2009008657A (ja) * | 2007-05-25 | 2009-01-15 | Canon Inc | 固体試料、固体試料作製方法及び固体試料作製装置 |
| AT507079B1 (de) * | 2009-01-22 | 2010-02-15 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum präparieren von proben |
| EP2381236A1 (en) * | 2010-04-23 | 2011-10-26 | Fei Company | Apparatus for preparing a cryogenic TEM specimen |
| US9702795B2 (en) * | 2012-01-17 | 2017-07-11 | The Scripps Research Institute | Apparatus and method for producing specimens for electron microscopy |
| CN107960118B (zh) * | 2015-07-06 | 2022-07-26 | 巴塞尔大学 | 用于高分辨率电子显微镜的无损冷冻-网格制备台 |
-
2017
- 2017-06-05 JP JP2017110606A patent/JP6966876B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2018205106A (ja) | 2018-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Narayan et al. | Focused ion beams in biology | |
| Jain et al. | Spotiton: a prototype for an integrated inkjet dispense and vitrification system for cryo-TEM | |
| Laskina et al. | Substrate-deposited sea spray aerosol particles: Influence of analytical method, substrate, and storage conditions on particle size, phase, and morphology | |
| CN107238725B (zh) | 微生物的自动化选择和利用maldi的鉴定 | |
| Augustin-Bauditz et al. | Laboratory-generated mixtures of mineral dust particles with biological substances: characterization of the particle mixing state and immersion freezing behavior | |
| Pierson et al. | Improving the technique of vitreous cryo-sectioning for cryo-electron tomography: electrostatic charging for section attachment and implementation of an anti-contamination glove box | |
| US8283625B2 (en) | Method of preparing sample for matrix-assisted laser desorption ionization mass spectrometry and matrix-assisted laser desorption ionization mass spectrometry | |
| US8698079B2 (en) | Method for scanning electron microscope observation of sample floating on liquid surface | |
| JP2019537709A (ja) | 制御試料蒸発による無損失クライオ・グリッド調製 | |
| Jin et al. | Use of ion exchange to regulate the heterogeneous ice nucleation efficiency of mica | |
| EP2805143A1 (en) | Apparatus and method for producing specimens for electron microscopy | |
| JP2008096245A (ja) | 生体標本の処理方法及び解析方法 | |
| Robinson et al. | Characterization of sample preparation methods of NIH/3T3 fibroblasts for ToF-SIMS analysis | |
| Frimat et al. | Make it spin: individual trapping of sperm for analysis and recovery using micro-contact printing | |
| US20100075372A1 (en) | Method for deparaffinization of paraffin-embedded specimen and method for analysis of paraffin-embedded specimen | |
| Zhao et al. | The application and development of electron microscopy for three-dimensional reconstruction in life science: a review | |
| Cicala et al. | Self-assembled pillar-like structures in nanodiamond layers by pulsed spray technique | |
| US10866172B2 (en) | System and method for preparing cryo-em grids | |
| Nam et al. | Fixed target single-shot imaging of nanostructures using thin solid membranes at SACLA | |
| Jagdale et al. | Electrospray deposition for single nanoparticle studies | |
| JP6966876B2 (ja) | 極低温透過型電子顕微鏡用試料作成装置 | |
| CN104360106A (zh) | 化妆品中纳米粒子的冷冻扫描电子显微镜检测方法 | |
| Fleck | Low-temperature electron microscopy: techniques and protocols | |
| Booth et al. | Studying kinetochore-fiber ultrastructure using correlative light-electron microscopy | |
| Imig et al. | 3D analysis of synaptic ultrastructure in organotypic hippocampal slice culture by high-pressure freezing and electron tomography |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200525 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210331 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210405 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210528 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211001 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211022 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6966876 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |