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JP6965587B2 - 電極組立体 - Google Patents

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Description

本発明の一側面は、電極組立体に関する。
正極又は負極を構成する多数の金属箔を備えたリチウムイオン電池セルが知られている(例えば特許文献1参照)。このリチウムイオン電池セルでは、多数の金属箔が一対の導電部材間に挟まれており、それらが溶接部によって接続されている。溶接部は、レーザ溶接によって形成される。
特開2016−30280号公報
導電部材上に多数の金属箔(タブ)を積層する場合、溶接部を形成する際に発生する熱により、溶接部の周辺において各金属箔が反る可能性がある。各金属箔の反り量(積層方向における変形量)が大きくなると、積層された金属箔全体の反り量も大きくなる。その結果、導電部材に最も近い金属箔が導電部材から離れて、積層された金属箔と導電部材とが互いに溶接されなくなるおそれがある。
本発明の一側面は、タブ積層体の反り量が小さい電極組立体を提供することを目的とする。
本発明の一側面に係る電極組立体は、それぞれがタブを含む複数のシート状の電極を有する電極組立体であって、導電部材と、前記複数の電極の前記タブが前記導電部材上に積層されて形成され、前記タブの積層方向における前記導電部材と反対側に上面を備えるタブ積層体と、を備え、前記複数の電極の前記タブと前記導電部材とが、前記タブ積層体の前記上面から前記積層方向に溶接されて形成された溶接部により接続され、前記溶接部における前記積層方向と直交する各断面において、前記溶接部の最大長さが4mm以下である。
この電極組立体では、積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さが4mmを超える場合に比べて、各タブの反り量が小さいので、タブ積層体の反り量も小さい。これは、溶接部を形成する際にタブ積層体に与えられる熱量が比較的小さいからである。
前記複数の電極の前記タブと前記導電部材とが複数の前記溶接部により接続され、前記複数の溶接部のそれぞれにおける前記積層方向と直交する各断面において、前記溶接部の最大長さが4mm以下であってもよい。この場合、溶接部の数を増やすことによって、タブの積層方向と直交する各溶接部の断面積の合計値を大きくすることができる。
前記タブの積層数が50以上であってもよい。タブの積層数が50以上と多い場合、タブ積層体の反り量が大きくなる。そのような場合であっても、積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さが4mm以下であると、タブ積層体の反り量を比較的小さくできる。
前記タブがアルミニウムからなり、前記タブの厚みが20μm以下であってもよい。アルミニウムからなるタブの厚みが20μm以下と薄い場合、タブの反り量が大きくなるので、タブ積層体の反り量も大きくなる。そのような場合であっても、積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さが4mm以下であると、タブ積層体の反り量を比較的小さくできる。
前記タブが銅からなり、前記タブの厚みが15μm以下であってもよい。銅からなるタブの厚みが15μm以下と薄い場合、タブの反り量が大きくなるので、タブ積層体の反り量も大きくなる。そのような場合であっても、積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さが4mm以下であると、タブ積層体の反り量を比較的小さくできる。
本発明の一側面によれば、タブ積層体の反り量が小さい電極組立体が提供され得る。
一実施形態に係る電極組立体を備える蓄電装置を示す分解斜視図である。 図1のII−II線に沿った断面図である。 図1に示される電極組立体の斜視図である。 図1に示される電極組立体の一部を示す平面図である。 図4のV−V線に沿った断面図である。 溶接部を形成する工程の一例を示す図である。 変形例に係る電極組立体の一部を示す平面図である。 タブの積層方向における溶接部の断面の例を模式的に示す図である。 積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さと反り率との関係の例を示すグラフである。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態が詳細に説明される。図面の説明において、同一又は同等の要素には同一符号が用いられ、重複する説明は省略される。
図1は、一実施形態に係る電極組立体を備える蓄電装置を示す分解斜視図である。図2は、図1のII−II線に沿った断面図である。図1及び図2に示される蓄電装置1は、例えばリチウムイオン二次電池といった非水電解質二次電池として構成されている。
蓄電装置1は、例えば略直方体形状のケース2と、ケース2内に収容された電極組立体3とを備えている。ケース2は、例えばアルミニウム等の金属によって形成されている。ケース2は、一方側において開口した本体部2aと、本体部2aの開口を塞ぐ蓋部2bと、を有している。ケース2の内部には、図示はしないが、例えば非水系(有機溶媒系)の電解液が注液されている。ケース2の蓋部2bには、正極端子4及び負極端子5が互いに離間して配置されている。正極端子4は、絶縁リング6を介してケース2に固定され、負極端子5は、絶縁リング7を介してケース2に固定されている。また、電極組立体3とケース2の内側の側面及び底面との間には絶縁フィルムFが配置されており、絶縁フィルムFによってケース2と電極組立体3との間が絶縁されている。電極組立体3の下端は、絶縁フィルムFを介してケース2の内側の底面に接触している。電極組立体3とケース2との間にスペーサSPを配置することにより、電極組立体3とケース2との間の隙間が埋められている。
電極組立体3は、それぞれがタブ14bを有する複数のシート状の正極8と、それぞれがタブ16bを有する複数のシート状の負極9と、を有する。電極組立体3では、複数の正極8と複数の負極9とが袋状のセパレータ10を介して交互に積層されている。正極8は、袋状のセパレータ10に包まれている。袋状のセパレータ10に包まれた状態の正極8は、セパレータ付き正極11として構成されている。従って、電極組立体3は、複数のセパレータ付き正極11と複数の負極9とが交互に積層された構造を有している。セパレータ10は袋状ではなく、シート状であってもよい。なお、電極組立体3の両端に位置する電極は、負極9である。
正極8は、例えばアルミニウムからなる正極集電体である金属箔14と、金属箔14の両面に形成された正極活物質層15と、を有している。金属箔14は、平面視矩形状の本体部14aと、本体部14aと一体化されたタブ14bとを有している。タブ14bは、本体部14aの上縁部から突出している。そして、タブ14bは、セパレータ10を突き抜けている。タブ14bは、例えば板状の導電部材12を介して正極端子4に接続されている。複数のタブ14bは導電部材12上に積層される。積層された複数のタブ14bは、導電部材12と、導電部材12よりも薄い保護板23との間に配置される(図3参照)。導電部材12及び保護板23は、例えば、正極8の金属箔14と同一の材料から矩形平板状に構成される。電極組立体3は保護板23を備えなくてもよい。
正極活物質層15は、本体部14aの表裏両面に形成されている。正極活物質層15は、正極活物質とバインダとを含んで形成された多孔質の層である。正極活物質としては、例えば複合酸化物、金属リチウム又は硫黄等が挙げられる。複合酸化物には、例えばマンガン、ニッケル、コバルト及びアルミニウムの少なくとも1つとリチウムとが含まれる。
負極9は、例えば銅からなる負極集電体である金属箔16と、金属箔16の両面に形成された負極活物質層17とを有している。金属箔16は、平面視矩形状の本体部16aと、本体部16aと一体化されたタブ16bとを有している。タブ16bは、本体部16aの上縁部から突出している。タブ16bは、例えば板状の導電部材13を介して負極端子5に接続されている。複数のタブ16bは導電部材13上に積層される。積層された複数のタブ16bは、導電部材13と、導電部材13よりも薄い保護板25との間に配置される(図3参照)。導電部材13及び保護板25は、例えば、負極9の金属箔16と同一の材料から矩形平板状に構成される。電極組立体3は保護板25を備えなくてもよい。
負極活物質層17は、本体部16aの表裏両面に形成されている。負極活物質層17は、負極活物質とバインダとを含んで形成された多孔質の層である。負極活物質としては、例えば黒鉛、高配向性グラファイト、メソカーボンマイクロビーズ、ハードカーボン、ソフトカーボン等のカーボン、リチウム、ナトリウム等のアルカリ金属、金属化合物、SiOx(0.5≦x≦1.5)等の金属酸化物又はホウ素添加炭素等が挙げられる。
セパレータ10は、平面視矩形状を呈している。セパレータ10の形成材料としては、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)等のポリオレフィン系樹脂からなる多孔質フィルム、或いはポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート(PET)、メチルセルロース等からなる織布又は不織布等が例示される。
図3は、図1に示される電極組立体の斜視図である。図3に示されるように、電極組立体3は、複数の正極8と複数の負極9とがセパレータ10を介して交互に積層された組立体本体20と、複数の正極8のタブ14bが積層されたタブ積層体21と、複数の負極9のタブ16bが積層されたタブ積層体22と、を有している。
タブ積層体21,22は、組立体本体20の一側面からX軸方向に突出している。X軸方向は、組立体本体20の長手方向(Y軸方向)及び正極8及び負極9の積層方向(Z軸方向)と交差(ここでは、直交)する方向である。タブ積層体21,22は、Y軸方向に離間して配置されている。
タブ積層体21は、2つの側面21a、先端面21b及び上面21cを有している。先端面21b及び上面21cは、各側面21aを繋いでいる。上面21cは、タブ14bの積層方向(Z軸方向)における導電部材12と反対側に位置する。タブ14bには、正極活物質層15が設けられていない。また、タブ積層体21を構成するタブ14bの枚数は、電極組立体3を構成する電極の枚数の約半分である。従って、組立体本体20の一側面の高さに合わせてタブ14bを積層してなるタブ積層体21の先端面21bは、タブ積層体21の先端に向かうに従ってタブ積層体21の厚みが小さくなるような傾斜面となっている。タブ積層体21は、導電部材12上に載置されている。タブ積層体21の上面21cには、保護板23が載置されている。従って、タブ積層体21は、導電部材12及び保護板23によってZ軸方向に挟まれている。
導電部材12の厚みは、タブ14bの厚みよりも大きい。保護板23の厚みは、タブ14bの厚みよりも大きいが、導電部材12の厚みよりも小さい。導電部材12のY軸方向の長さは、タブ積層体21のY軸方向の長さよりも大きい。タブ積層体21の先端位置は、導電部材12の縁部に一致しているが、導電部材12の縁部からX軸方向に突出してもよい。保護板23のY軸方向の長さは、タブ積層体21のY軸方向の長さと等しい。導電部材12及び保護板23の材料は、金属箔14の材料と同じである。
保護板23の上面には、保護板23とタブ14bと導電部材12とが溶接されて形成された溶接部24が設けられている。複数の溶接部24が設けられてもよい。図3は2つの溶接部24が設けられた例を示す。溶接部24は、保護板23の上面から導電部材12までタブ14bの積層方向(Z軸方向)に延びている。
タブ積層体22は、2つの側面22a、先端面22b及び上面22cを有している。先端面22b及び上面22cは、各側面22aを繋いでいる。上面22cは、タブ16bの積層方向(Z軸方向)における導電部材13と反対側に位置する。タブ16bには、負極活物質層17が設けられていない。また、タブ積層体22を構成するタブ16bの枚数は、電極組立体3を構成する電極の枚数の約半分である。従って、組立体本体20の一側面の高さに合わせてタブ16bを積層してなるタブ積層体22の先端面22bは、タブ積層体22の先端に向かうに従ってタブ積層体22の厚みが小さくなるような傾斜面となっている。タブ積層体22は、導電部材13上に載置されている。タブ積層体22の上面22cには、保護板25が載置されている。従って、タブ積層体22は、導電部材13及び保護板25によってZ軸方向に挟まれている。
導電部材13の厚みは、タブ16bの厚みよりも大きい。保護板25の厚みは、タブ16bの厚みよりも大きいが、導電部材13の厚みよりも小さい。導電部材13のY軸方向の長さは、タブ積層体22のY軸方向の長さよりも大きい。タブ積層体22の先端位置は、導電部材13の縁部に一致しているが、導電部材13の縁部からX軸方向に突出してもよい。保護板25のY軸方向の長さは、タブ積層体22のY軸方向の長さと等しい。導電部材13及び保護板25の材料は、金属箔16の材料と同じである。
保護板25の上面には、保護板25とタブ16bと導電部材13とが溶接されて形成された溶接部26が設けられている。複数の溶接部26が設けられてもよい。図3は2つの溶接部26が設けられた例を示す。溶接部26は、保護板25の上面から導電部材13までタブ16bの積層方向(Z軸方向)に延びている。
図4は、図1に示される電極組立体の一部を示す平面図である。図5は、図4のV−V線に沿った断面図である。図4及び図5に示されるように、各溶接部26は、保護板25とタブ積層体22と導電部材13とをタブ16bの積層方向に互いに接続している。図4及び図5に示されるように、各溶接部26におけるタブ16bの積層方向と直交する各断面(XY断面)において、溶接部26の最大長さLは4mm以下である。最大長さLは、3mm以下であってもよいし、2mm以下であってもよいし、1mm以下であってもよい。最大長さLは、1mm以上であってもよいし、2mm以上であってもよいし、3mm以上であってもよい。例えばタブ16bの積層方向からタブ積層体22(タブ積層体の上面22c)を見たときに、溶接部26は最大長さLを有する。図4に示される例では、Z軸方向から見て、溶接部26は、保護板25の上面に露出しており、溶接部26におけるZ軸方向と直交する各断面が、Y軸方向に延びる長軸とX軸方向に延びる短軸とを有する楕円形状となっている。溶接部26は、例えば楕円を底面とする錐体である。電極組立体3が保護板25を備えない場合には、溶接部26は、タブ積層体22の上面22cに露出することになる。図5はX軸方向及びZ軸方向を含むXZ断面である。溶接部26におけるZ軸方向と直交する各断面は、Y軸方向に延びる短軸とX軸方向に延びる長軸とを有する楕円形状であってもよい。図5に示されるように、溶接部26は、Z軸方向において保護板25及びタブ積層体22を貫通しているが、導電部材13を貫通していない。図5において、溶接部26のX軸方向の長さWは、タブ積層体22の上面22c(又は保護板25の上面)から導電部材13に向かうに連れて小さくなっている。同様に、溶接部26のY軸方向の長さは、タブ積層体22の上面22c(又は保護板25の上面)から導電部材13に向かうに連れて小さくなっている。溶接部26のZ軸方向の最大長さD(すなわち溶接部26の最大深さ)は、例えば1.75〜2.55mmである。溶接部26の露出面には、Z軸方向に窪む溝部26aが設けられている。溝部26aの深さTDは保護板25の厚さ25Dよりも大きい。溝部26aは、Y軸方向に延在している。なお、タブ積層体21に設けられる溶接部24も溶接部26と同様の構成を有している。
図6は、溶接部を形成する工程の一例を示す図である。図6に示されるように、溶接部26は、溶接用のエネルギービームBを保護板25の上面に照射することによって形成される。エネルギービームBの照射方向(溶接方向)はZ軸方向である。例えば、エネルギービームBの照射スポットをY軸方向にスキャンすることによって、Z軸方向と直交する各断面がY軸方向に延びる長軸を有する楕円形状となる溶接部26が形成される。エネルギービームBは、照射装置30から出射される。照射装置30は、例えばレンズ及びガルバノミラーを含むスキャナヘッドである。スキャナヘッドにはファイバを介してビーム発生装置が接続される。照射装置30は、例えばプリズム等の屈折式の光学系から構成されてもよい。エネルギービームBは、溶接を行うことができる高エネルギービームである。エネルギービームBは、例えばレーザビーム又は電子ビームである。エネルギービームBの照射は、不活性ガスの雰囲気中で行われる。なお、タブ積層体21に設けられる溶接部24も溶接部26と同様の方法により形成される。
タブ14b、導電部材12及び保護板23がアルミニウムからなる場合、エネルギービームBの出力は、例えば700〜1200Wであり、エネルギービームBのスキャン速度は、例えば3〜20mm/sである。タブ16b、導電部材13及び保護板25が銅からなる場合、エネルギービームBの出力は、例えば1300〜1800Wであり、エネルギービームBのスキャン速度は、例えば3〜20mm/sである。
タブ14bがアルミニウムからなる場合、タブ14bの厚みは例えば8μm以上であってもよいし、20μm以下であってもよい。タブ14bの積層数は例えば50以上であってもよいし、150以下であってもよい。タブ16bが銅からなる場合、タブ16bの厚みは例えば5μm以上であってもよいし、15μm以下であってもよい。タブ16bの積層数は例えば50以上であってもよいし、150以下であってもよい。
保護板23がアルミニウムからなる場合、保護板23の厚みは例えば0.1mm以上であってもよいし、0.3mm以下であってもよい。保護板25が銅からなる場合、保護板25の厚みは例えば0.1mm以上であってもよいし、0.3mm以下であってもよい。導電部材12がアルミニウムからなる場合、導電部材12の厚みは例えば0.5mm以上であってもよいし、2.0mm以下であってもよい。導電部材13が銅からなる場合、導電部材13の厚みは例えば0.5mm以上であってもよいし、2.0mm以下であってもよい。
以上説明したように、溶接部26におけるZ軸方向と直交する各断面において、溶接部26の最大長さLは4mm以下である。よって、Z軸方向と直交する各断面における溶接部の最大長さが4mmを超える場合に比べて、各タブ16b及び保護板25の反り量が小さいので、タブ積層体22及び保護板25の反り量も小さい。これは、溶接部26を形成する際にタブ積層体22及び保護板25に与えられる熱量が比較的小さいからである。タブ積層体22及び保護板25の反り量が小さいと、タブ積層体22と導電部材13との間の電気抵抗を低くでき、タブ積層体22と導電部材13との間の剥離強度を高くすることができる。
また、保護板23からタブ積層体21を通過して導電部材12に到達する溶接部24におけるZ軸方向と直交する各断面において、溶接部24の最大長さLは4mm以下である。よって、タブ積層体21についてもタブ積層体22と同様の作用効果が得られる。
また、タブ積層体22には複数の溶接部26が設けられているので、溶接部26の数を増やすことによって、Z軸方向と直交する各溶接部26の断面積の合計値を大きくすることができる。その結果、タブ積層体22と導電部材13との間の電気抵抗を更に低くでき、タブ積層体22と導電部材13との間の剥離強度を更に高くすることができる。エネルギービームBの照射装置30としてレンズ及びガルバノミラーを含むスキャナヘッドを用いると、複数の溶接部26を高速で形成できる。なお、タブ積層体21にも複数の溶接部24が設けられているので、タブ積層体21についてもタブ積層体22と同様の作用効果が得られる。
また、タブ14bがアルミニウムからなり、タブ14bの厚みが20μm以下と薄い場合、タブの反り量が大きくなるので、タブ積層体の反り量も大きくなる。そのような場合であっても、Z軸方向と直交する各断面における溶接部24の最大長さが4mm以下であると、タブ積層体21の反り量を比較的小さくできる。
また、タブ16bが銅からなり、タブ16bの厚みが15μm以下と薄い場合、タブの反り量が大きくなるので、タブ積層体の反り量も大きくなる。そのような場合であっても、Z軸方向と直交する各断面における溶接部26の最大長さLが4mm以下であると、タブ積層体22の反り量を比較的小さくできる。
図7は、変形例に係る電極組立体の一部を示す平面図である。図7の(a)に示される電極組立体3aでは、複数(例えば6個)の溶接部26が千鳥状に配置される。タブ積層体22は導電部材13の縁部からX軸方向に突出している。保護板25が設けられておらず、タブ積層体22の上面22cにおいて溶接部26が露出している。その他については、電極組立体3aは、図1に示される電極組立体3と同様の構成を備える。
図7の(a)に示される電極組立体3aにおいても電極組立体3と同様の作用効果が得られる。電極組立体3aでは、各タブ16bの反り量が小さいので、タブ積層体22の反り量も小さい。これは、溶接部26を形成する際にタブ積層体22に与えられる熱量が比較的小さいからである。タブ積層体22の反り量が小さいと、タブ積層体22と導電部材13との間の電気抵抗を低くでき、タブ積層体22と導電部材13との間の剥離強度を高くすることができる。
図7の(b)に示される電極組立体3bでは、複数(例えば5個)の溶接部26が千鳥状に配置される。各溶接部26は、Z軸方向からタブ積層体22を見たときに、円形状を有する。この場合、溶接部26の最大長さLは円の直径である。その他については、電極組立体3bは、図7の(a)に示される電極組立体3aと同様の構成を備える。円形の溶接部26は、例えばエネルギービームBをX軸方向及びY軸方向の両方にスキャンすることによって形成され得る。図7の(b)に示される電極組立体3bにおいても電極組立体3aと同様の作用効果が得られる。
以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明されたが、本発明は上記実施形態に限定されない。
例えば、上記実施形態では、蓄電装置1はリチウムイオン二次電池であるが、蓄電装置1は、例えばニッケル水素電池等の他の二次電池、電気二重層キャパシタ又はリチウムイオンキャパシタ等の蓄電装置であってもよい。
また、上記実施形態では、電極組立体3が複数の溶接部24を備えているが、単一の溶接部24を備えてもよい。同様に、電極組立体3は複数の溶接部26を備えているが、単一の溶接部26を備えてもよい。
(実験例)
以下、実験例に基づいて本発明がより具体的に説明されるが、本発明は以下の実験例に限定されない。
まず、アルミニウムからなる導電部材上にアルミニウムからなるタブ(1枚の厚み15μm)を90枚積層した。次に、タブ積層体上にアルミニウムからなる保護板(厚み0.2mm)を積層した。その後、保護板の上面にレーザを照射することによって、保護板から導電部材に向かって延びる溶接部を形成した。タブの積層方向からタブ積層体を見たときに、保護板の上面に露出した溶接部は長軸の長さが1mmの楕円形状を有していた。すなわち、タブの積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さは1mmであった。このようにして、実験例1の溶接部を有する電極組立体を作製した。同様に、タブの積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さがそれぞれ2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mmとなるようにして、実験例2〜7の溶接部を有する電極組立体を作製した。
続いて、タブの積層方向における溶接部の断面を観察した。図8の(a)は、実験例4の溶接部の断面(タブの積層方向及びタブの突出方向を含む断面)を模式的に示す。図8の(a)では、タブ積層体22及び保護板25がタブ16bの積層方向に多少反っているものの、溶接部26は、保護板25からタブ積層体22を通過して導電部材13まで到達している。導電部材13は反っていない。このような溶接部26では、タブ積層体22と導電部材13との間の電気抵抗を低くでき、タブ積層体22と導電部材13との間の剥離強度を高くすることができる。
図8の(b)は、実験例5の溶接部の断面(タブの積層方向及びタブの突出方向を含む断面)を模式的に示す。図8の(b)では、タブ積層体122及び保護板125がタブ16bの積層方向に反っている。特に、タブ積層体122の反り量が大きい。その結果、溶接部126は、保護板125からタブ積層体122まで延在しているものの、導電部材113に到達していない。導電部材113は反っていない。タブ積層体122と導電部材113との間には隙間Vが形成されている。このような溶接部126では、タブ積層体122と導電部材113との間が電気的にも機械的にも接続されない。
さらに、実験例1〜7の溶接部を有する電極組立体について、それぞれタブ積層体及び保護板の反り率を以下のように算出した。溶接部を形成する前に、予め導電部材の上面から保護板の上面までの距離(タブ積層体と保護板の合計厚さ)を測定した値をD1(mm)とした(図6参照)。溶接部を形成した後、導電部材の上面から保護板の上面までの距離を測定した値をD2(mm)とした。D1及びD2は、タブの積層方向において保護板側からタブ積層体を見たときの溶接部の縁においてノギスを用いて測定された。D2は、図8の(a)及び(b)に図示されている。
反り率R(%)は以下の式から算出される。式中の(D2−D1)の値は、タブ積層体の反り量と保護板の反り量との合計値である。
R=(D2−D1)/D1×100
図9は、実験例1〜7の溶接部を有する電極組立体について、タブの積層方向と直交する各断面における溶接部の最大長さ(mm)と反り率(%)との関係を示すグラフである。図9に示されるように、最大長さが4mm以下の実験例1〜4では反り率が50%以下であり、最大長さが4mmを超える実験例5〜7では反り率が100%以上であった。このように、実験例1〜4では、実験例5〜7に比べて反り率が顕著に小さくなった。
1…蓄電装置、3,3a,3b…電極組立体、8…正極、9…負極、12,13…導電部材、14b,16b…タブ、21,22…タブ積層体、21c,22c…上面、24,26…溶接部。

Claims (5)

  1. それぞれがタブを含む複数のシート状の電極を有する電極組立体であって、
    導電部材と、
    前記複数の電極の前記タブが前記導電部材上に積層されて形成され、前記タブの積層方向における前記導電部材と反対側に上面を備えるタブ積層体と、
    を備え、
    前記複数の電極の前記タブと前記導電部材とが、前記タブ積層体の前記上面から前記積層方向に溶接されて形成された複数の溶接部により接続され、
    前記複数の溶接部のそれぞれにおける前記積層方向と直交する各断面において、前記溶接部の最大長さが4mm以下であり、
    前記積層方向と直交する方向であって前記溶接部が前記最大長さを有する方向を最大長さ方向としたとき、前記各断面において、前記溶接部は、前記最大長さ方向に延びる長軸を有する楕円形状を有し、
    前記複数の溶接部は、1つの前記溶接部の前記最大長さ方向に沿って並ぶ2以上の前記溶接部を含む、電極組立体。
  2. 前記タブ積層体の前記上面において、前記複数の溶接部が千鳥状に配置される、請求項1に記載の電極組立体。
  3. 前記タブの積層数が50以上である、請求項1又は2に記載の電極組立体。
  4. 前記タブがアルミニウムからなり、
    前記タブの厚みが20μm以下である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の電極組立体。
  5. 前記タブが銅からなり、
    前記タブの厚みが15μm以下である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の電極組立体。
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