実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。
また、図面において示す各構成の、位置、大きさ、範囲などは、理解の簡単のため、実際の位置、大きさ、範囲などを表していない場合がある。このため、開示する発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、範囲などに限定されない。
なお、「膜」という言葉と、「層」という言葉とは、場合によっては、又は、状況に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導電膜」という用語に変更することが可能である。または、例えば、「絶縁膜」という用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能である。
なお、本明細書等において、「基板」は、機能回路、機能素子、及び機能膜等のうち少なくとも一つを支持する機能を有することが好ましい。なお、「基板」は、これらを支持する機能を有していなくてもよく、例えば、装置の表面を保護する機能、又は、機能回路、機能素子、及び機能膜等のうち少なくとも一つを封止する機能等を有していてもよい。
本明細書等において、金属酸化物(metal oxide)とは、広い表現での金属の酸化物である。金属酸化物は、酸化物絶縁体、酸化物導電体(透明酸化物導電体を含む)、酸化物半導体(Oxide Semiconductorまたは単にOSともいう)などに分類される。例えば、トランジスタの活性層に金属酸化物を用いた場合、当該金属酸化物を酸化物半導体と呼称する場合がある。つまり、金属酸化物が増幅作用、整流作用、及びスイッチング作用の少なくとも1つを有する場合、当該金属酸化物を、金属酸化物半導体(metal oxide semiconductor)、略してOSと呼ぶことができる。また、OS FETと記載する場合においては、金属酸化物または酸化物半導体を有するトランジスタと換言することができる。
また、本明細書等において、窒素を有する金属酸化物も金属酸化物(metal oxide)と総称する場合がある。また、窒素を有する金属酸化物を、金属酸窒化物(metal oxynitride)と呼称してもよい。
また、本明細書等において、CAAC(c−axis aligned crystal)、及びCAC(Cloud−Aligned Composite)と記載する場合がある。なお、CAACは結晶構造の一例を表し、CACは機能、または材料の構成の一例を表す。
また、本明細書等において、CAC−OSまたはCAC−metal oxideとは、材料の一部では導電性の機能と、材料の一部では絶縁性の機能とを有し、材料の全体では半導体としての機能を有する。なお、CAC−OSまたはCAC−metal oxideを、トランジスタの活性層に用いる場合、導電性の機能は、キャリアとなる電子(またはホール)を流す機能であり、絶縁性の機能は、キャリアとなる電子を流さない機能である。導電性の機能と、絶縁性の機能とを、それぞれ相補的に作用させることで、スイッチングさせる機能(On/Offさせる機能)をCAC−OSまたはCAC−metal oxideに付与することができる。CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、それぞれの機能を分離させることで、双方の機能を最大限に高めることができる。
また、本明細書等において、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、導電性領域、及び絶縁性領域を有する。導電性領域は、上述の導電性の機能を有し、絶縁性領域は、上述の絶縁性の機能を有する。また、材料中において、導電性領域と、絶縁性領域とは、ナノ粒子レベルで分離している場合がある。また、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ材料中に偏在する場合がある。また、導電性領域は、周辺がぼけてクラウド状に連結して観察される場合がある。
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ0.5nm以上10nm以下、好ましくは0.5nm以上3nm以下のサイズで材料中に分散している場合がある。
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、異なるバンドギャップを有する成分により構成される。例えば、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、絶縁性領域に起因するワイドギャップを有する成分と、導電性領域に起因するナローギャップを有する成分と、により構成される。当該構成の場合、キャリアを流す際に、ナローギャップを有する成分において、主にキャリアが流れる。また、ナローギャップを有する成分が、ワイドギャップを有する成分に相補的に作用し、ナローギャップを有する成分に連動してワイドギャップを有する成分にもキャリアが流れる。このため、上記CAC−OSまたはCAC−metal oxideをトランジスタのチャネル領域に用いる場合、トランジスタのオン状態において高い電流駆動力、つまり大きなオン電流、及び高い電界効果移動度を得ることができる。
すなわち、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、マトリックス複合材(matrix composite)、または金属マトリックス複合材(metal matrix composite)と呼称することもできる。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様に係る表示装置とその作製方法について図面を用いて説明する。
本実施の形態の表示装置は、可視光を反射する第1の表示素子と、可視光を発する第2の表示素子とを有する。
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子が反射する光と、第2の表示素子が発する光のうち、いずれか一方、または両方により、画像を表示する機能を有する。
第1の表示素子には、外光を反射して表示する素子を用いることができる。このような素子は光源を持たないため、表示の際の消費電力を極めて小さくすることが可能となる。
第1の表示素子には、代表的には反射型の液晶素子を用いることができる。なお、第1の表示素子として、シャッター方式のMEMS(Micro Electro Mechanical System)素子、光干渉方式のMEMS素子の他、マイクロカプセル方式、電気泳動方式、エレクトロウェッティング方式、電子粉流体(登録商標)方式等を適用した素子などを用いることもできる。
第2の表示素子には、発光素子を用いることが好ましい。このような表示素子が射出する光は、その輝度や色度が外光に左右されることがないため、色再現性が高く(色域が広く)、コントラストの高い、鮮やかな表示を行うことができる。
第2の表示素子には、例えばOLED(Organic Light Emitting Diode)、LED(Light Emitting Diode)、QLED(Quantum−dot Light Emitting Diode)などの自発光性の発光素子を用いることができる。
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子のみを用いて画像を表示する第1のモード、第2の表示素子のみを用いて画像を表示する第2のモード、並びに、第1の表示素子及び第2の表示素子を用いて画像を表示する第3のモードを有し、これらのモードを自動または手動で切り替えて使用することができる。
第1のモードでは、第1の表示素子と外光を用いて画像を表示する。第1のモードは光源が不要であるため、極めて低消費電力なモードである。例えば、表示装置に外光が十分に入射されるとき(明るい環境下など)は、第1の表示素子が反射した光を用いて表示を行うことができる。例えば、外光が十分に強く、かつ外光が白色光またはその近傍の光である場合に有効である。第1のモードは、文字を表示することに適したモードである。また、第1のモードは、外光を反射した光を用いるため、目に優しい表示を行うことができ、目が疲れにくいという効果を奏する。
第2のモードでは、第2の表示素子による発光を利用して画像を表示する。そのため、照度や外光の色度によらず、極めて鮮やかな(コントラストが高く、且つ色再現性の高い)表示を行うことができる。例えば、夜間や暗い室内など、照度が極めて低い場合などに有効である。また周囲が暗い場合、明るい表示を行うと使用者が眩しく感じてしまう場合がある。これを防ぐために、第2のモードでは輝度を抑えた表示を行うことが好ましい。これにより、眩しさを抑えることに加え、消費電力も低減することができる。第2のモードは、鮮やかな画像(静止画及び動画)などを表示することに適したモードである。
第3のモードでは、第1の表示素子による反射光と、第2の表示素子による発光の両方を利用して表示を行う。第1のモードよりも鮮やかな表示をしつつ、第2のモードよりも消費電力を抑えることができる。例えば、室内照明下や、朝方や夕方の時間帯など、照度が比較的低い場合、外光の色度が白色ではない場合などに有効である。
このような構成とすることで、周囲の明るさによらず、視認性が高く利便性の高い表示装置または全天候型の表示装置を実現できる。
図1〜図15を用いて、本実施の形態の表示装置の構成例について説明する。
図1(A)に表示装置300の斜視概略図を示す。表示装置300は、基板351と基板361とが貼り合わされた構成を有する。図1(A)では、基板361を破線で明示している。
表示装置300は、表示部362、回路364、配線365等を有する。表示部362では、第1の表示素子として液晶素子が設けられ、第2の表示素子として発光素子が設けられる。図1(A)では表示装置300にIC(集積回路)373及びFPC372が実装されている例を示している。そのため、図1(A)に示す構成は、表示装置300、IC、及びFPCを有する表示モジュールということもできる。
回路364としては、例えば走査線駆動回路を用いることができる。
配線365は、表示部362及び回路364に信号及び電力を供給する機能を有する。当該信号及び電力は、FPC372を介して外部から、またはIC373から配線365に入力される。
図1(A)では、COG(Chip On Glass)方式またはCOF(Chip on Film)方式等により、基板351にIC373が設けられている例を示す。IC373は、例えば走査線駆動回路または信号線駆動回路などを有するICを適用できる。なお、表示装置100及び表示モジュールは、ICを設けない構成としてもよい。また、ICを、COF方式等により、FPCに実装してもよい。
さらに、図1(A)には、表示部362の一部の拡大図を示している。表示部362には、複数の画素410が、矢印Rで示す方向(以下R方向と呼ぶ。)及び矢印Cで示す方向(以下C方向と呼ぶ。)にマトリクス状に配置されている。図1(B)には、画素410の断面模式図を示す。
画素410は、それぞれ、液晶素子180と、複数の発光素子170と、を有する。図1(A)では、画素410が3個の発光素子170(発光素子170a、発光素子170b及び発光素子170c)を有する例を示している。
画素410において、一対の基板(基板351及び基板361)間に、液晶素子180、発光素子170、容量素子270、トランジスタ200L、及び複数のトランジスタ200E等が設けられる。図1(B)では一対の基板の間に、基板361側から順番に、絶縁層220、絶縁層224、絶縁層214、絶縁層216及び絶縁層194が形成されている。ここで、液晶素子180は絶縁層220と基板361の間に配置され、容量素子270は絶縁層220及び絶縁層224が形成されている層に配置され、トランジスタ200L及びトランジスタ200Eは絶縁層214が形成されている層に配置され、発光素子170は絶縁層214と絶縁層194の間に配置される。
液晶素子180は、可視光を反射する機能を有する電極311、液晶層112、及び、可視光を透過する機能を有する電極113を有する。液晶層112は、電極311と電極113との間に挟持される。
液晶素子180は、可視光を反射する機能を有する。液晶素子180は基板361側に反射光を射出する。
電極311は、絶縁層220及び絶縁層224に設けられた開口を介して、トランジスタ200Lが有するソースまたはドレインのいずれかと電気的に接続される(以下、この接続部を接続部207と呼ぶ。)。電極311は、画素電極としての機能を有する。電極113は、共通電極としての機能を有する。
容量素子270は、一方の電極を電極311とし、他方の電極として電極312を有する。電極311と電極312の間に設けられる絶縁層220は、容量素子270の誘電体として機能する。容量素子270は、液晶素子180とトランジスタ200Lが形成される層の間に設けられることが好ましい。よって、電極312は、電極311とトランジスタ200Lが形成される層の間に設けられることが好ましい。
図1(B)では、トランジスタ200Lが形成される絶縁層214と、電極311が形成される絶縁層220の間に絶縁層224が形成され、絶縁層224と同じ層に電極312が形成される。ただし、本実施の形態に示す表示装置は、これに限られるものではない。例えば、トランジスタ200Lに含まれる導電層と同じ層の導電層を電極312として用いる構成としてもよい。
電極312は、電極311と導通しないように、接続部207と重ならない領域を有するように設けられる。例えば、電極312に開口または切欠きなどを設け、開口または切欠きなどを設けた部分において、接続部207が形成される構成にすればよい。このように、接続部207が電極312に接しない構造とすればよい。
発光素子170は、電極191、EL層192、及び電極193を有する。EL層192は、電極191と電極193との間に挟持される。EL層192は、少なくとも発光性の物質を含む。電極191は可視光を透過する機能を有する。電極193は可視光を反射する機能を有することが好ましい。
発光素子170は、可視光を発する機能を有する。具体的には、発光素子170は、電極191と電極193との間に電圧を印加することで、基板361側に光を射出する電界発光素子である。
複数の発光素子170に設けられた電極191は、絶縁層214に設けられた開口を介して、それぞれ、トランジスタ200Eが有するソースまたはドレインのいずれかと電気的に接続される。電極191は、画素電極としての機能を有する。電極191の端部は、絶縁層216によって覆われている。電極193は、共通電極としての機能を有する。
発光素子170は、絶縁層194に覆われていることが好ましい。図1(A)では、絶縁層194が、電極193に接して設けられている。絶縁層194を設けることで、発光素子170に不純物が入り込むことを抑制し、発光素子170の信頼性を高めることができる。絶縁層194は、接着層142によって、基板351が貼り合わされている。
トランジスタ200Lとトランジスタ200Eは、液晶素子180と発光素子170の間に位置する層に設けられる。トランジスタ200Lとトランジスタ200Eは、同一層に設けられてもよいし、異なる層に設けられてもよい。トランジスタ200Lは、液晶素子180の駆動を制御する機能を有する。トランジスタ200Eは、発光素子170の駆動を制御する機能を有する。
液晶素子180と電気的に接続される回路は、発光素子170と電気的に接続される回路と同一面上に形成されることが好ましい。これにより、2つの回路を別々の面上に形成する場合に比べて、表示装置の厚さを薄くし、層の数が減少する分だけ軽量化することができる。また、2つのトランジスタを同一の工程で作製できるため、2つのトランジスタを別々の面上に形成する場合に比べて、作製工程を簡略化することができる。
液晶素子180の画素電極である電極311は、トランジスタ200L及びトランジスタ200Eが有するゲート絶縁層を挟んで、発光素子170の画素電極である電極191とは反対に位置する。このように、液晶素子180は、複数の発光素子170に対して、これら複数の発光素子170が光を射出する側に設けられる。
電極311は光を反射する機能を有するため、電極311が発光素子170と重なっていると、発光素子170は光を射出することができない。このため、電極311は、複数の発光素子170それぞれと重ならない領域を有するように設けられる。例えば、図1(A)(B)に示すように、電極311に複数の開口451を設け、複数の発光素子170(図1(A)では、発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cに対応する。)が、それぞれ複数の開口451(図1(A)では、開口451a、開口451b、および開口451cに対応する。)のいずれかと重なる領域を有するようにすればよい。
発光素子170の発光領域の面積と開口451の面積のうち一方が他方よりも大きいと、位置ずれに対するマージンが大きくなるため好ましい。電極311の非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が小さいほど、液晶素子180を用いた表示を明るくすることができる。また、電極311の非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が大きいほど、発光素子170を用いた表示を明るくすることができる。
開口451の形状は、例えば多角形、四角形、楕円形、円形または十字等の形状とすることができる。また、細長い筋状、スリット状、市松模様状の形状としてもよい。また、図1(A)に示すように、開口451を隣接する画素に寄せて配置してもよい。この場合、好ましくは、開口451を同じ色を表示する他の画素に寄せて配置する。これにより、クロストークを抑制できる。
また、図1(A)では、電極311の形状を正方形にしているが、これに限られず、長方形、四角形、三角形またはその他の多角形にしてもよい。また、これらの他角形の角を丸めた形状にしてもよい。
また、電極312も電極311と同様に、複数の発光素子170それぞれと重ならない領域を有するように設けられることが好ましい。例えば、上記の電極311の開口451と同様の開口を電極312に設ければよい。ただし、電極312に設ける開口を、電極311の開口451と全く同じにする必要はない。発光素子170の光を基板361側に取り出せるならば、電極312の開口の大きさや形状が開口451と異なっていてもよい。
また、電極312が、電極113または電極191と同様に、可視光を透過する機能を有する構成にしてもよい。この場合、図2に示すように、電極312の開口451と重なる部分に開口などを設けない構成にしても、発光素子170の光を基板361側に射出することができる。
ここで、画素410の液晶素子180を含む部分を第1の画素410Lと呼び、画素410の複数の発光素子170を含む部分を第2の画素410Eと呼ぶ。副画素を有しない第1の画素410Lは、単色の表示(例えば、白黒表示またはグレースケール表示等。)を行うことができ、副画素を複数個有する第2の画素410Eは、フルカラー表示を行うことができる。
画素410の複数の発光素子170(図1(A)では、発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cが対応。)それぞれを含む部分を、第2の画素410Eの副画素としてみなすことができる。図1(A)のように副画素を3個有する構成にする場合、発光素子170a、発光素子170b及び発光素子170cがそれぞれ、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色のいずれかの光を発光する機能を有することが好ましい。
なお、発光素子170の色はこれに限られることなく、例えば、黄色(Y)、シアン(C)、及びマゼンタ(M)の3色などにしてもよい。また、副画素の個数は4以上にしてもよい。例えば、副画素の個数を4個にする場合、発光素子170の色を、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、白色(W)の4色、または、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、黄色(Y)の4色などにしてもよい。
また、副画素を4個にする場合、第1の画素410Lを副画素の一として用いることもできる。例えば、第1の画素410Lが白色(W)を発光する機能を有し、発光素子170a、発光素子170b及び発光素子170cがそれぞれ、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色のいずれかの光を発光する機能を有すればよい。上記の通り、外光を用いて表示を行う液晶素子180を加えることにより、発光素子170のみで表示を行ったときと比較して、消費電力を低減させることができる。
ここで、本実施の形態に示す画素410と、第1の画素410Lが、副画素410L_1、副画素410L_2、および副画素410L_3を有し、液晶素子でフルカラー表示ができる画素410LFを比較する。画素410の上面図を図3(A)に、画素410LFの上面図を図3(B)に示す。また、図3(A)に示す画素410の二点鎖線A1−A2に対応する断面図を図3(C)に、図3(B)に示す画素410LFの二点鎖線B1−B2に対応する断面図を図3(D)に示す。図3(A)(B)に示す2点鎖線は容量素子270の一方の電極として機能する電極312を示す。なお、図3(C)(D)は、それぞれの画素の絶縁層220及び絶縁層224近傍を模式的に示したものである。
画素410LFは、第1の画素410Lの代わりに、副画素410L_1、副画素410L_2、および副画素410L_3を有する点において、画素410と異なる。副画素410L_1は電極311_1を有し、副画素410L_2は電極311_2を有し、副画素410L_3は電極311_3を有する。よって、副画素410L_1には、電極311_1と電極312を有する容量素子270_1が、副画素410L_2には、電極311_2と電極312を有する容量素子270_2が、副画素410L_3には、電極311_3と電極312を有する容量素子270_3が、設けられる。
図3(A)〜(D)に示すように、第1の画素410Lの表示を単色にすることにより、副画素を3個設けて第1の画素410Lの表示をフルカラーにする場合と比較して、第1の画素410Lの画素電極の面積を大きくすることができる。これは、単色表示の第1の画素410Lの画素電極の面積を、フルカラー表示の副画素410L_1、副画素410L_2、または副画素410L_3のいずれかの画素電極の面積の約3倍にできるだけではない。図3(C)及び図3(D)に示すように、フルカラー表示の副画素410L_1、副画素410L_2、および副画素410L_3をパターニングするのに必要となる副画素間のスペースも、単色表示ならば、第1の画素410Lの画素電極に充てることができるからである。このような構成にすることで、液晶素子180に設けられる容量素子の保持容量を増大させることができる。よって、画素電極の電荷のリークを低減し、第1の画素410Lにおいて長い時間階調を維持させることが可能になる。
また、トランジスタ200Lのチャネル形成領域に金属酸化物を用いることが好ましい。金属酸化物は、2.0eV以上、好ましくは2.5eV以上、より好ましくは3.0eV以上のエネルギーギャップを有しており、これをトランジスタ200Lに用いることにより、オフ状態のソース―ドレイン間の電流(以下、オフ電流と呼ぶ。)を極めて小さくすることができる。このようなトランジスタ200Lを用いることにより、画素電極の電荷のリークを低減できるので、液晶素子180を用いて静止画を表示する際に画素への書き込み動作を停止しても、階調を維持させることが可能となる。すなわち、フレーム周波数を極めて小さくしても表示を保つことが可能となる。さらに、上記のように、第1の画素410Lの表示を単色にして、液晶素子180の保持容量を増大させることにより、第1の画素410Lにおいてより長い時間階調を維持させることが可能になる。
さらに、第1の画素410Lの表示をフルカラーにした場合、第1の画素410Lに液晶素子180の駆動を制御するトランジスタ200Lを3個設ける必要があるが、第1の画素410Lの表示を単色にする場合、トランジスタ200Lは1個だけで良い。よって、第1の画素410Lの表示を単色にする場合、画素電極に保持した電荷のリーク経路を低減することができるので、第1の画素410Lにおいてより長い時間階調を維持させることが可能になる。
ここで、液晶層112は、比抵抗が1.0×1014(Ω・cm)以上であることが好ましい。また、液晶層112は、双極子モーメントが0デバイ以上3デバイ以下の分子を有することが好ましい。
このように、液晶層112中の分子の双極子モーメントを小さくすることにより、液晶層112中に含まれるイオン性の不純物の濃度が小さくなる。これにより、液晶層112でイオン伝導が生じにくくなり、液晶層112の比抵抗が大きくなる。このようにして、画素電極に保持した電荷が液晶層112を介してリークすることを低減できるので、第1の画素410Lにおいてより長い時間階調を維持させることが可能になる。なお、双極子モーメントと液晶層の動作の詳細については、後述の実施の形態で説明する。
例えば、液晶層112中の分子の双極子モーメントを3デバイ以下にすると、液晶層112の比抵抗を1.0×1014(Ω・cm)以上にすることができる。このような液晶層112で、例えば、電極311と電極113の間に3Vの電圧を16.6msの間印加してから、30秒経過後の電圧保持率を測定すると、電圧保持率が98.8%程度になる。ここで、電圧保持率とは、画素に短時間印加した電圧が、電圧除去後にどの程度保持されるかを示した値であり、液晶分子の配向性がどの程度保持されるかの指標となる値である。よって、液晶層112の比抵抗が1.0×1014(Ω・cm)以上ならば、画素電極の電荷のリークを極めて小さくし、液晶分子の配向をほぼ保持することができる。
以上のような構成にすることで、画素電極の電荷が、トランジスタ200L及び液晶層112からリークすることを低減できるので、第1の画素410Lで静止画表示の際にフレーム周波数を極めて小さくしても表示を保つことが可能となる。これにより、第1の画素410Lで動画表示と静止画表示でフレーム周波数を切り替えて表示することができる。例えば、動画表示から静止画表示に切り替える際、フレーム周波数を60Hzから、1Hz以下好ましくは0.2Hz以下に切り替えればよい。このように表示を行うことにより、表示装置300の消費電力の低減を図ることができる。
表示装置300では、単色表示を行い、動画表示と静止画表示でフレーム周波数を切り替え可能な第1の画素410Lと、フルカラー表示可能な第2の画素410Eが設けられている。例えば、表示装置300を電子書籍端末として用いる場合、第1の画素410Lでテキストの表示を行い、第2の画素410Eで挿絵、写真などの静止画や動画の表示を行えばよい。電子書籍のテキスト表示部分は、フレーム周波数が1Hz以下の静止画表示、且つ白黒表示などの単色表示でも、十分に表示できる場合が多い。電子書籍において、テキスト表示部分は、それ以外の部分(例えば、挿絵、写真等)よりレイアウト面積が広い場合も多いため、テキスト表示部分を、消費電力の小さい第1の画素410Lで表示し、テキスト以外の部分だけを第2の画素410Eで表示することにより、消費電力の低減を図ることができる。
次に、図4(A)に示す、互いに隣接する画素410aと画素410bの上面図について説明する。図4(A)に示すように、画素410aは、副画素410aa、副画素410ab、および副画素410acを有し、副画素410aa、副画素410ab、および副画素410acはR方向に配列している。副画素410aaには発光素子170aが、副画素410abには発光素子170bが、副画素410acには発光素子170cが、設けられる。また、図4(A)に示すように、画素410bは、副画素410ba、副画素410bb、および副画素410bcを有し、副画素410ba、副画素410bb、および副画素410bcはR方向に配列している。副画素410baには発光素子170aが、副画素410bbには発光素子170bが、副画素410bcには発光素子170cが、設けられる。
ここで、同一の画素410内でR方向に隣接する副画素において、開口451が一列に配列されないように、電極311の異なる位置に設けられていることが好ましい。これにより、2つの発光素子170を離すことが可能で、クロストークを抑制することができる。また、隣接する2つの発光素子170を離して配置することができるため、発光素子170のEL層192をシャドウマスク等により作り分ける場合であっても、高い精細度の表示装置を実現できる。
また、画素410a、画素410bにおいて、発光素子170の最近接距離は同程度であることが好ましい。例えば、図4(A)に示す、画素410bの発光素子170bについて、最近接の発光素子は、画素410aの発光素子170a、画素410aの発光素子170c、画素410bの発光素子170a、および画素410bの発光素子170cとなる。図4(A)に示すように、これらの発光素子170と画素410bの発光素子170bとの距離をd1、d2、d3およびd4とすると、d1、d2、d3およびd4は同程度の長さにすることが好ましい。このとき、電極311の3辺に沿って発光素子170を配置することが好ましい。このように発光素子170を配置することにより、発光素子170のEL層192をシャドウマスク等により作り分ける場合であっても、高い精細度の表示装置を実現できる。
また、図4(A)では、画素410内で副画素をR方向に配列したがこれに限られることなく、図4(B)に示すように、画素410内で副画素をC方向に配列してもよい。
また、電極311の形状、および発光素子170の配置は、図1(A)、図4(A)(B)に示すものに限られるものではない。画素410における電極311の形状及び発光素子170の配置の変形例について、図5(A)乃至図5(H)に示す画素410の上面図を用いて説明する。
図1(A)などでは、電極311の3辺に沿って発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cを配置したが、発光素子170の配置はこれに限られるものではない。例えば、図5(A)に示すように、発光素子170aおよび発光素子170cを電極311の角部に配置してもよい。
また、発光素子170のいずれかを電極311の中央部近傍に配置してもよい。例えば、図5(B)に示すように、発光素子170a及び発光素子170cを電極311の角部に配置し、発光素子170bを電極311の中央部近傍に配置してもよい。このように発光素子を配置することで、図4(A)に示したように、隣接する画素どうしで発光素子170の最近接距離を同程度にすることができる。
また、図5(C)に示すように、発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cを電極311の角部に配置してもよい。
上記においては、電極311に開口451を形成することにより、発光素子170の光を取り出す構成としたが、これに限られることなく、切欠き等を設けて発光素子170の光を取り出す構成としてもよい。
図5(D)は、図5(A)に示す電極311において、開口451a、開口451b、および開口451cを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452b、および切欠き452cを形成した構成である。
また、図5(E)は、図5(B)に示す電極311において、開口451aおよび開口451cを形成していた部分に、切欠き452aおよび切欠き452cを形成した構成である。なお、図5(E)に示す発光素子170bは、電極311の中央部近傍に位置するので、発光素子170bに重なるように開口451bを設けることが好ましい。電極311の中央部近傍に切欠きを設ける場合、電極311の面積が大きく減少するため、電極311の中央部近傍に発光素子170を配置する場合は、開口を形成して発光素子170の光を取り出すことが好ましい。
また、図5(F)は、図5(C)に示す電極311において、開口451a、開口451b、および開口451cを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452b、および切欠き452cを形成した構成である。
また、図5(G)は、図1(A)に示す電極311において、開口451a、開口451b、および開口451cを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452b、および切欠き452cを形成した構成である。
以上のように、電極311に開口および/または切欠きを複数設け、発光素子170がそれぞれ、これらの開口および/または切欠きと重なる領域を有するように配置されればよい。
また、図5(H)に示すように、電極311が設けられていない領域に、発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cを設ける構成としてもよい。
上記においては、画素410が、3個の発光素子170a乃至発光素子170cを有する構成としたが、これに限られることなく、画素410が4個以上の複数の発光素子170を有する構成としてもよい。画素410が4個の発光素子170a乃至発光素子170dを有する場合について、図6(A)乃至図6(G)に示す画素410の上面図を用いて説明する。ここで、発光素子170a、発光素子170b、発光素子170c、および発光素子170dがそれぞれ、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、及び白色(W)の4色のいずれかの光を発光する機能を有することが好ましい。または、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、黄色(Y)の4色などにしてもよい。
例えば、図6(A)に示すように、電極311の4辺に沿って発光素子170a、発光素子170b、発光素子170c、および発光素子170dを配置してもよい。また、電極311には、開口451a、開口451b、開口451c、および開口451dが形成されている。発光素子170a乃至発光素子170dがそれぞれ、開口451a乃至開口451dのいずれかと重なる領域を有するように配置される。
また、図6(B)に示すように、発光素子170a、発光素子170b、発光素子170c、および発光素子170dを電極311の角部に配置してもよい。図6(B)に示す電極311においても、図6(A)と同様に、開口451a乃至開口451dが形成されている。
また、発光素子170のいずれかを電極311の中央部近傍に配置してもよい。例えば、図6(C)に示すように、発光素子170a、発光素子170c及び発光素子170dを電極311の角部に配置し、発光素子170bを電極311の中央部近傍に配置してもよい。図6(C)に示す電極311においても、図6(A)と同様に、開口451a乃至開口451dが形成されている。
図6(D)は、図6(A)に示す電極311において、開口451a、開口451b、開口451c、および開口451dを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452b、切欠き452c、および切欠き452dを形成した構成である。
図6(E)は、図6(B)に示す電極311において、開口451a、開口451b、開口451c、および開口451dを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452b、切欠き452c、および切欠き452dを形成した構成である。
図6(F)は、図6(C)に示す電極311において、開口451a、開口451c、および開口451dを形成していた部分に、切欠き452a、切欠き452c、および切欠き452dを形成した構成である。なお、図6(F)に示す発光素子170bは、電極311の中央部近傍に位置するので、発光素子170bに重なるように開口451bを設けることが好ましい。
また、図6(G)に示すように、電極311が設けられていない領域に、発光素子170a、発光素子170c、および発光素子170dを設ける構成としてもよい。図6(G)に示す電極311は、角部に切欠き452cが形成されており、発光素子170cの一部が切欠き452cと重なっている。また、電極311は、中央部近傍に開口451bが形成されており、発光素子170bが開口451bに重なるように配置されている。
また、図6(G)に示すように、発光素子170a乃至発光素子170dの発光面積が異なるようにしてもよい。図6(G)では、発光素子170a乃至発光素子170cの発光面積が同程度であり、発光素子170dはそれより発光面積が小さい。例えば、発光素子170a乃至発光素子170cに赤色(R)、緑色(G)、青色(B)を呈する発光素子を用い、発光素子170dに白色(W)を呈する発光素子を用いればよい。
上記において、図4乃至図6を用いて電極311の形状について説明したが、容量素子270を構成する電極312についても同様に開口や切欠きを設けることができる。ただし、電極312は、電極311と異なり、接続部207と重ならないように形成する必要がある。
<構成例1>
図7に、図1で示した表示装置300の、FPC372を含む領域の一部、回路364を含む領域の一部、及び表示部362を含む領域の一部をそれぞれ切断したときの断面の一例を示す。
図7に示す表示装置300は、基板351と基板361の間に、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、トランジスタ206、液晶素子180、発光素子170、容量素子270、絶縁層220等を有する。基板361と絶縁層220は接着層141を介して接着されている。基板351と絶縁層220は接着層142を介して接着されている。また、トランジスタ205は、図1(B)に示すトランジスタ200Eに対応しており、トランジスタ206は、図1(B)に示すトランジスタ200Lに対応している。
基板361には、遮光層132、絶縁層121、及び液晶素子180の共通電極として機能する電極113、配向膜133b、絶縁層117等が設けられている。基板361の外側の面には、偏光板135を有する。絶縁層121は、平坦化層としての機能を有していてもよい。絶縁層121により、電極113の表面を概略平坦にできるため、液晶層112の配向状態を均一にできる。絶縁層117は、液晶素子180のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。絶縁層117が可視光を透過する場合は、絶縁層117を液晶素子180の表示領域と重ねて配置してもよい。
液晶素子180は反射型の液晶素子である。液晶素子180は、画素電極として機能する電極311a、液晶層112、電極113が積層された積層構造を有する。電極311aの基板351側に接して、可視光を反射する電極311bが設けられている。電極311bは開口451を有する。電極311a及び電極113は可視光を透過する。液晶層112と電極311aの間に配向膜133aが設けられている。液晶層112と電極113の間に配向膜133bが設けられている。
液晶素子180において、電極311bは可視光を反射する機能を有し、電極113は可視光を透過する機能を有する。基板361側から入射した光は、偏光板135により偏光され、電極113、液晶層112を透過し、電極311bで反射する。そして液晶層112及び電極113を再度透過して、偏光板135に達する。このとき、電極311bと電極113の間に与える電圧によって液晶の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、偏光板135を介して射出される光の強度を制御することができる。
図7に示すように、開口451には可視光を透過する電極311aが設けられていることが好ましい。これにより、開口451と重なる領域においてもそれ以外の領域と同様に液晶層112が配向するため、これらの領域の境界部で液晶の配向不良が生じ、意図しない光が漏れてしまうことを抑制できる。
ここで、電極311aと電極311bの積層が図1(A)(B)に示す電極311に対応する。ただし、電極311aは可視光を透過するので、上述した開口、切欠きなどを電極311aに設ける必要はない。なお、電極311aが設けられていない場合は、電極311bが図1(A)(B)に示す電極311に対応する。
容量素子270は、一方の電極として機能する電極311a及び電極311bと、他方の電極として機能する電極312と、誘電体として機能する絶縁層220と、を有する。また、電極312を覆うように絶縁層224が設けられる。また、電極312に可視光を透過する金属を用いる場合、開口451と重なるように電極312を設けることもできる。
接続部207において、電極311bは、導電層221bを介して、トランジスタ206が有する導電層222aと電気的に接続されている。トランジスタ206は、液晶素子180の駆動を制御する機能を有する。また、電極312は、接続部207の導電層221bと接しないように設けられる。例えば、導電層221bと電極312の間に絶縁層224が設けられることが好ましい。
接着層141が設けられる一部の領域には、接続部252が設けられている。接続部252において、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた導電層と、電極113の一部が、接続体243により電気的に接続されている。したがって、基板361側に形成された電極113に、基板351側に接続されたFPC372から入力される信号または電位を、接続部252を介して供給することができる。
接続体243としては、例えば導電性の粒子を用いることができる。導電性の粒子としては、有機樹脂またはシリカなどの粒子の表面を金属材料で被覆したものを用いることができる。金属材料としてニッケルや金を用いると接触抵抗を低減できるため好ましい。またニッケルをさらに金で被覆するなど、2種類以上の金属材料を層状に被覆させた粒子を用いることが好ましい。また接続体243として、弾性変形、または塑性変形する材料を用いることが好ましい。このとき導電性の粒子である接続体243は、図7に示すように上下方向に潰れた形状となる場合がある。こうすることで、接続体243と、これと電気的に接続する導電層との接触面積が増大し、接触抵抗を低減できるほか、接続不良などの不具合の発生を抑制することができる。
接続体243は、接着層141に覆われるように配置することが好ましい。例えば、硬化前の接着層141に接続体243を分散させておけばよい。
発光素子170は、ボトムエミッション型の発光素子である。発光素子170は、絶縁層220側から画素電極として機能する電極191、EL層192、及び共通電極として機能する電極193の順に積層された積層構造を有する。電極191は、絶縁層214に設けられた開口を介して、トランジスタ205が有する導電層222bと接続されている。トランジスタ205は、発光素子170の駆動を制御する機能を有する。絶縁層216が電極191の端部を覆っている。電極193は可視光を反射する導電材料を含み、電極191は可視光を透過する導電材料を含む。電極193を覆って絶縁層194が設けられている。発光素子170が発する光は、絶縁層220、開口451、電極311a等を介して、基板361側に射出される。
なお、図7においては、発光素子170を副画素ごとに作り分ける構成について示している。例えば、図1(A)などに示すように、画素410が発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cを有する場合、それぞれの発光素子が有するEL層の材料の構成が異なり、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色のいずれかの光を発光する機能を有する構成とすればよい。例えば、発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cが、それぞれ異なる材料を含む構成にすればよい。
例えば、図6(A)などに示すように、画素410が発光素子170a、発光素子170b、発光素子170c、および発光素子170dを有する場合、それぞれの発光素子が有するEL層の材料の構成が異なり、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、及び白色(W)の4色のいずれかの光を発光する機能を有する構成とすればよい。
このようにして、図7に示す表示装置300は、発光素子170を用いて、カラー表示を行うことができる。
また、発光素子170を副画素ごとに作り分けずに、表示装置300でカラー表示を行ってもよい。例えば、図8に示す表示装置300のように、発光素子170と液晶素子180の間に着色層134を設ければよい。ここで、着色層134は絶縁層214に覆われており、開口451と重なるように設けられる。図8においては、着色層134を副画素ごとに異なる色を呈するものにする。
例えば、図1(A)などに示すように、画素410が発光素子170a、発光素子170b、および発光素子170cを有する場合、それぞれの発光素子が有するEL層の材料の構成が同じであり、白色(W)の光を発光する機能を有する構成とする。そして、それぞれの発光素子に重ねて、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色のいずれかの光を透過する機能を有する着色層134が設けられる。
例えば、図6(G)などに示すように、画素410が発光素子170a、発光素子170b、発光素子170c、および発光素子170dを有する場合、それぞれの発光素子が有するEL層の材料の構成が同じであり、白色(W)の光を発光する機能を有する構成とする。そして、発光素子170a、発光素子170c、および発光素子170dに重ねて、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色のいずれかの光を透過する機能を有する着色層134が設けられる構成とすればよい。ここで、発光素子170bの上には着色層134を重ねて設けず、白色光を発光できる構成にすればよい。
このようにして、図8に示す表示装置300は、発光素子170及び着色層134を用いて、カラー表示を行うことができる。
トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206は、いずれも絶縁層224の基板351側の面上に形成されている。これらのトランジスタは、同一の工程を用いて作製することができる。
液晶素子180と電気的に接続される回路は、発光素子170と電気的に接続される回路と同一面上に形成されることが好ましい。これにより、2つの回路を別々の面上に形成する場合に比べて、表示装置の厚さを薄くすることができる。また、2つのトランジスタを同一の工程で作製できるため、2つのトランジスタを別々の面上に形成する場合に比べて、作製工程を簡略化することができる。
液晶素子180の画素電極は、トランジスタが有するゲート絶縁層を挟んで、発光素子170の画素電極とは反対に位置する。
ここで、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、オフ電流が極めて低いトランジスタ206を適用した場合や、トランジスタ206と電気的に接続される記憶素子を適用した場合などでは、液晶素子180を用いて静止画を表示する際に画素への書き込み動作を停止しても、階調を維持させることが可能となる。すなわち、フレームレートを極めて小さくしても表示を保つことができる。本発明の一態様では、フレームレートを極めて小さくでき、消費電力の低い駆動を行うことができる。
さらに、液晶素子180を含む画素を単色表示として、画素電極として機能する電極311bの面積を大きくすることにより、液晶素子180に設けられる容量素子の保持容量を増大させることができる。これにより、トランジスタ206のオフ電流をさらに低減させることができる。
さらに、液晶層112の比抵抗を1.0×1014(Ω・cm)以上にすることが好ましい。これにより、液晶層112の電圧保持率が大きくなるので、画素410の液晶素子180でより長い時間階調を維持させることが可能になる。
以上のような構成にすることで、画素410の液晶素子180で静止画表示の際にフレーム周波数を極めて小さくしても表示を保つことが可能となる。これにより、画素410の液晶素子180で動画表示と静止画表示でフレーム周波数を切り替えて表示することができる。例えば、動画表示から静止画表示に切り替える際、フレーム周波数を60Hzから、1Hz以下好ましくは0.2Hz以下に切り替えればよい。このように表示を行うことにより、表示装置300の消費電力の低減を図ることができる。
トランジスタ203は、画素の選択、非選択状態を制御するトランジスタ(スイッチングトランジスタ、または選択トランジスタともいう)である。トランジスタ205は、発光素子170に流れる電流を制御するトランジスタ(駆動トランジスタともいう)である。
絶縁層224の基板351側には、絶縁層211、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214等の絶縁層が設けられている。絶縁層211は、その一部が各トランジスタのゲート絶縁層として機能する。絶縁層212は、トランジスタ206等を覆って設けられる。絶縁層213は、トランジスタ205等を覆って設けられている。絶縁層214は、平坦化層としての機能を有する。なお、トランジスタを覆う絶縁層の数は限定されず、単層であっても2層以上であってもよい。
各トランジスタを覆う絶縁層の少なくとも一層に、水や水素などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。これにより、絶縁層をバリア膜として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタに対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能となり、信頼性の高い表示装置を実現できる。
トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層221a、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211、ソース及びドレインとして機能する導電層222a及び導電層222b、並びに、金属酸化物層231を有する。ここでは、同一の導電膜を加工して得られる複数の層に、同じハッチングパターンを付している。
トランジスタ201及びトランジスタ205は、トランジスタ203及びトランジスタ206の構成に加えて、ゲートとして機能する導電層223を有する。
トランジスタ201及びトランジスタ205には、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。このように、2つのゲートの電界によって、チャネル領域が形成される金属酸化物層を、電気的に囲む構成とすることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。このようなトランジスタのデバイス構造をSurrounded channel(S−channel)構造と呼ぶことができる。2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することによりトランジスタを駆動してもよい。このようなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、高速駆動が可能な回路を作製することができる。さらには、回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示装置を大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することができる。
または、2つのゲートのうち、一方に閾値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。
表示装置が有するトランジスタの構造に限定はない。回路364が有するトランジスタと、表示部362が有するトランジスタは、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。回路364が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。同様に、表示部362が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。
導電層223には、酸化物を含む導電性材料を用いることが好ましい。導電層223を構成する導電膜の成膜時に、酸素を含む雰囲気下で成膜することで、絶縁層212に酸素を供給することができる。成膜ガス中の酸素ガスの割合を90%以上100%以下の範囲とすることが好ましい。絶縁層212に供給された酸素は、後の熱処理により金属酸化物層231に供給され、金属酸化物層231中の酸素欠損の低減を図ることができる。
特に、導電層223には、低抵抗化された金属酸化物を用いることが好ましい。このとき、絶縁層213に水素を放出する絶縁膜、例えば窒化シリコン膜等を用いることが好ましい。絶縁層213の成膜中、またはその後の熱処理によって導電層223中に水素が供給され、導電層223の電気抵抗を効果的に低減することができる。
基板351の基板361と重ならない領域には、接続部204が設けられている。接続部204では、配線365が接続層242を介してFPC372と電気的に接続されている。接続部204は接続部207と同様の構成を有している。接続部204の上部において、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた導電層が露出している。これにより、接続部204とFPC372とを接続層242を介して電気的に接続することができる。
基板361の外側の面に配置する偏光板135として直線偏光板を用いてもよいが、円偏光板を用いることもできる。円偏光板としては、例えば直線偏光板と1/4波長位相差板を積層したものを用いることができる。これにより、外光反射を抑制することができる。また、偏光板の種類に応じて、液晶素子180に用いる液晶素子のセルギャップ、配向、駆動電圧等を調整することで、所望のコントラストが実現されるようにすればよい。
なお、基板361の外側には各種光学部材を配置することができる。光学部材としては、偏光板、位相差板、光拡散層(拡散フィルムなど)、反射防止層、及び集光フィルム等が挙げられる。また、基板361の外側には、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜等を配置してもよい。
基板351及び基板361には、それぞれ、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、有機樹脂などを用いることができる。基板351及び基板361に可撓性を有する材料を用いると、表示装置の可撓性を高めることができる。
液晶素子180としては、例えば垂直配向(VA:Vertical Alignment)モードが適用された液晶素子を用いることができる。垂直配向モードとしては、MVA(Multi−Domain Vertical Alignment)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モード、ASV(Advanced Super View)モードなどを用いることができる。
液晶素子180には、様々なモードが適用された液晶素子を用いることができる。例えばVAモードのほかに、TN(Twisted Nematic)モード、IPS(In−Plane−Switching)モード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(Axially Symmetric aligned Micro−cell)モード、OCB(Optically Compensated Birefringence)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モード等が適用された液晶素子を用いることができる。
液晶素子は、液晶の光学的変調作用によって光の透過または非透過を制御する素子である。液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電界または斜め方向の電界を含む)によって制御される。液晶素子に用いる液晶としては、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:Polymer Dispersed Liquid Crystal)、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。
液晶材料としては、上記のように、双極子モーメントが0デバイ以上3デバイ以下の分子を有することが好ましく、液晶層112の比抵抗が1.0×1014(Ω・cm)以上であることが好ましい。なお、液晶材料は、ポジ型の液晶、またはネガ型の液晶のいずれを用いてもよく、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。
液晶の配向を制御するため、配向膜133a、配向膜133bなどを設けることができる。なお、横電界方式を採用する場合、配向膜を用いないブルー相を示す液晶を用いてもよい。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を液晶に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよいのでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。
反射型の液晶素子を用いる場合には、表示面側に偏光板135を設ける。またこれとは別に、表示面側に光拡散板を配置すると、視認性を向上させられるため好ましい。
偏光板135よりも外側に、フロントライトを設けてもよい。フロントライトとしては、エッジライト型のフロントライトを用いることが好ましい。LED(Light Emitting Diode)を備えるフロントライトを用いると、消費電力を低減できるため好ましい。
接着層141、接着層142としては、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤などの各種硬化型接着剤を用いることができる。これら接着剤としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、イミド樹脂、PVC(ポリビニルクロライド)樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)樹脂、EVA(エチレンビニルアセテート)樹脂等が挙げられる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。また、二液混合型の樹脂を用いてもよい。また、接着シート等を用いてもよい。
接続層242としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)などを用いることができる。
発光素子170は、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型などがある。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。
EL層192は少なくとも発光層を有する。EL層192は、発光層以外の層として、正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、またはバイポーラ性の物質(電子輸送性及び正孔輸送性が高い物質)等を含む層をさらに有していてもよい。
EL層192には低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。EL層192を構成する層は、それぞれ、蒸着法(真空蒸着法を含む)、転写法、印刷法、インクジェット法、塗布法等の方法で形成することができる。
EL層192は、量子ドットなどの無機化合物を有していてもよい。例えば、量子ドットを発光層に用いることで、発光材料として機能させることもできる。
なお、カラーフィルタ(着色層)とマイクロキャビティ構造(光学調整層)との組み合わせを適用することで、表示装置から色純度の高い光を取り出すことができる。光学調整層の膜厚は、各画素の色に応じて変化させる。
トランジスタのゲート、ソース及びドレインのほか、表示装置を構成する各種配線及び電極などの導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステンなどの金属、またはこれを主成分とする合金などが挙げられる。これらの材料を含む膜を単層で、または積層構造として用いることができる。
また、可視光を透過する導電材料としては、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などの導電性酸化物またはグラフェンを用いることができる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、またはチタンなどの金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。または、該金属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそれらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材料の積層膜を可視光を透過する導電材料として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とインジウムスズ酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。これらは、表示装置を構成する各種配線及び電極などの導電層や、表示素子が有する導電層(画素電極や共通電極として機能する導電層)にも用いることができる。
各絶縁層に用いることのできる絶縁材料としては、例えば、アクリル、エポキシなどの樹脂、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料が挙げられる。
着色層に用いることのできる材料としては、金属材料、樹脂材料、顔料または染料が含まれた樹脂材料などが挙げられる。
図7に示す、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206の構造の一例として、トランジスタ200aについて、図9を用いて説明する。図9(A)はトランジスタ200aの上面図である。図9(B)は、図9(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図9(C)は、図9(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。なお、図9(A)において、煩雑になることを避けるため、トランジスタ200aの構成要素の一部(ゲート絶縁層としての機能を有する絶縁層等)を省略して図示している。なお、以下において、一点鎖線X1−X2方向をチャネル長方向、一点鎖線Y1−Y2方向をチャネル幅方向と呼称する場合がある。なお、トランジスタの上面図においては、以降の図面においても図9と同様に、構成要素の一部を省略して図示する場合がある。
トランジスタ200aは、絶縁層224上の導電層221と、絶縁層224及び導電層221上の絶縁層211と、絶縁層211上の金属酸化物層231と、金属酸化物層231上の導電層222aと、金属酸化物層231上の導電層222bと、金属酸化物層231、導電層222a、及び導電層222b上の絶縁層212と、絶縁層212上の導電層223と、絶縁層212及び導電層223上の絶縁層213と、を有する。
なお、トランジスタ200aの各構成要素は、図7に示す表示装置300の同符号の構成要素に対応している。ただし、トランジスタ200aの導電層221は、表示装置300の導電層221aに対応する。
また、絶縁層211及び絶縁層212は、開口部235を有する。導電層223は、開口部235を介して、導電層221と電気的に接続される。
ここで、絶縁層211は、トランジスタ200aの第1のゲート絶縁層としての機能を有し、絶縁層212は、トランジスタ200aの第2のゲート絶縁層としての機能を有し、絶縁層213は、トランジスタ200aの保護絶縁層としての機能を有する。また、トランジスタ200aにおいて、導電層221は、第1のゲートとしての機能を有し、導電層222aは、ソースまたはドレインの一方としての機能を有し、導電層222bは、ソースまたはドレインの他方としての機能を有する。また、トランジスタ200aにおいて、導電層223は、第2のゲートとしての機能を有する。
なお、トランジスタ200aは、所謂チャネルエッチ型のトランジスタであり、デュアルゲート構造である。
また、トランジスタ200aは、導電層223を設けない構成にすることもできる。トランジスタ200aが導電層223を有する場合、図7に示すトランジスタ201及びトランジスタ205に対応する構造となる。トランジスタ200aが導電層223を有しない場合、図7に示すトランジスタ203及びトランジスタ206に対応する構造となる。
図9(B)(C)に示すように、金属酸化物層231は、導電層221、及び導電層223と対向するように位置し、2つのゲートの機能を有する導電層に挟まれている。導電層223のチャネル長方向の長さ、及び導電層223のチャネル幅方向の長さは、金属酸化物層231のチャネル長方向の長さ、及び金属酸化物層231のチャネル幅方向の長さよりもそれぞれ長く、金属酸化物層231の全体は、絶縁層212を介して導電層223に覆われている。
別言すると、導電層221及び導電層223は、絶縁層211及び絶縁層212に設けられる開口部235において接続され、且つ金属酸化物層231の側端部よりも外側に位置する領域を有する。
このような構成を有することで、トランジスタ200aに含まれる金属酸化物層231を、導電層221及び導電層223の電界によって電気的に囲むことができる。
トランジスタ200aは、第1のゲート及び第2のゲートの電界によって、チャネル領域が形成される金属酸化物層を、電気的に囲むS−channel構造を有するため、第1のゲートの機能を有する導電層221によってチャネルを誘起させるための電界を効果的に金属酸化物層231に印加することができるため、トランジスタ200aの電流駆動能力が向上し、高いオン電流特性を得ることが可能となる。また、オン電流を高くすることが可能であるため、トランジスタ200aを微細化することが可能となる。また、トランジスタ200aは、第1のゲートの機能を有する導電層221及び第2のゲートの機能を有する導電層223によって囲まれた構造を有するため、トランジスタ200aの機械的強度を高めることができる。
例えば、金属酸化物層231は、Inと、M(Mは、ガリウム、アルミニウム、シリコン、ホウ素、イットリウム、スズ、銅、バナジウム、ベリリウム、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウム)と、Znと、を有すると好ましい。
また、金属酸化物層231は、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有すると好ましい。一例としては、金属酸化物層231のIn、M、及びZnの原子数比を、In:M:Zn=4:2:3近傍とすると好ましい。ここで、近傍とは、Inが4の場合、Mが1.5以上2.5以下であり、且つZnが2以上4以下を含む。または、金属酸化物層231のIn、M、及びZnの原子数比を、In:M:Zn=5:1:6近傍とすると好ましい。
また、金属酸化物層231は、CAC−OSまたはCAC−metal oxideであると好適である。金属酸化物層231が、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有し、且つCAC−OSまたはCAC−metal oxideであることで、トランジスタ200aの電界効果移動度を高くすることができる。なお、CAC−OSまたはCAC−metal oxideの詳細については、後述する。
また、s−channel構造であるトランジスタ200aは電界効果移動度が高く、且つ駆動能力が高いので、トランジスタ200aを駆動回路、代表的にはゲート信号を生成するゲートドライバに用いることで、額縁幅の狭い(狭額縁ともいう)表示装置を提供することができる。また、トランジスタ200aを、表示装置が有する信号線からの信号の供給を行うソースドライバ(とくに、ソースドライバが有するシフトレジスタの出力端子に接続されるデマルチプレクサ)に用いることで、表示装置に接続される配線数が少ない表示装置を提供することができる。
また、トランジスタ200aはそれぞれチャネルエッチ構造のトランジスタであるため、低温ポリシリコンを用いたトランジスタと比較して、作製工程数が少ない。また、トランジスタ200aは、金属酸化物層をチャネルに用いているため、低温ポリシコンを用いたトランジスタのように、レーザ結晶化工程が不要である。これらのため、大面積基板を用いた表示装置であっても、製造コストを低減することが可能である。さらに、ウルトラハイビジョン(「4K解像度」、「4K2K」、「4K」)、スーパーハイビジョン(「8K解像度」、「8K4K」、「8K」)のよう高解像度であり、且つ大型の表示装置において、トランジスタ200aのように電界効果移動度が高いトランジスタを駆動回路及び表示部に用いることで、短時間での書き込みが可能であり、表示不良を低減することが可能であり好ましい。
導電層221、導電層222a、導電層222b、および導電層223としては、クロム(Cr)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、金(Au)、銀(Ag)、亜鉛(Zn)、モリブデン(Mo)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、タングステン(W)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、鉄(Fe)、コバルト(Co)から選ばれた金属元素、または上述した金属元素を成分とする合金か、上述した金属元素を組み合わせた合金等を用いてそれぞれ形成することができる。
また、導電層221、導電層222a、導電層222b、および導電層223には、インジウムと錫とを有する酸化物(In−Sn酸化物)、インジウムとタングステンとを有する酸化物(In−W酸化物)、インジウムとタングステンと亜鉛とを有する酸化物(In−W−Zn酸化物)、インジウムとチタンとを有する酸化物(In−Ti酸化物)、インジウムとチタンと錫とを有する酸化物(In−Ti−Sn酸化物)、インジウムと亜鉛とを有する酸化物(In−Zn酸化物)、インジウムと錫とシリコンとを有する酸化物(In−Sn−Si酸化物)、インジウムとガリウムと亜鉛とを有する酸化物(In−Ga−Zn酸化物)等の導電性酸化物を適用することもできる。
また、導電層221、導電層222a、導電層222b、および導電層223には、Cu−X合金膜(Xは、Mn、Ni、Cr、Fe、Co、Mo、Ta、またはTi)を適用してもよい。Cu−X合金膜を用いることで、ウエットエッチングプロセスで加工できるため、製造コストを抑制することが可能となる。Cu−X合金膜の抵抗は低いため、導電層221、導電層222a、導電層222b、および導電層223をCu−X合金膜を用いて形成することで、配線遅延を低減することが可能である。このため、大型の表示装置を作製する上でCu−X合金膜を配線として用いることは、好適である。
また、絶縁層224、絶縁層211、および絶縁層212としては、プラズマ化学気相堆積(PECVD:(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition))法、スパッタリング法等により、酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜および酸化ネオジム膜を一種以上含む絶縁層を用いることができる。なお、絶縁層224、絶縁層211、および絶縁層212を、積層構造、または3層以上の積層構造としてもよい。
また、金属酸化物層231と接する絶縁層211及び絶縁層212は、酸化物絶縁膜であることが好ましく、化学量論的組成よりも過剰に酸素を含有する領域(過剰酸素領域)を有することがより好ましい。別言すると、絶縁層211及び絶縁層212は、酸素を放出することが可能な絶縁膜である。なお、絶縁層211及び絶縁層212に過剰酸素領域を設けるには、例えば、酸素雰囲気下にて絶縁層211及び絶縁層212を形成する、もしくは成膜後の絶縁層211及び絶縁層212を酸素雰囲気下で熱処理すればよい。
金属酸化物層231としては、先に示す材料を用いることができる。
金属酸化物層231がIn−M−Zn酸化物の場合、In−M−Zn酸化物を成膜するために用いるスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比は、In>Mを満たすことが好ましい。このようなスパッタリングターゲットの金属元素の原子数比として、In:M:Zn=2:1:3、In:M:Zn=3:1:2、In:M:Zn=4:2:4.1、In:M:Zn=5:1:6、In:M:Zn=5:1:7、In:M:Zn=5:1:8、In:M:Zn=6:1:6、In:M:Zn=5:2:5等が挙げられる。
また、金属酸化物層231が、In−M−Zn酸化物で形成される場合、スパッタリングターゲットとしては、多結晶のIn−M−Zn酸化物を含むターゲットを用いると好ましい。多結晶のIn−M−Zn酸化物を含むターゲットを用いることで、結晶性を有する金属酸化物層231を形成しやすくなる。なお、成膜される金属酸化物層231の原子数比は、上記のスパッタリングターゲットに含まれる金属元素の原子数比のプラスマイナス40%の変動を含む。例えば、金属酸化物層231に用いるスパッタリングターゲットの組成がIn:Ga:Zn=4:2:4.1[原子数比]の場合、成膜される金属酸化物層231の組成は、In:Ga:Zn=4:2:3[原子数比]の近傍となる場合がある。
また、金属酸化物層231は、エネルギーギャップが2eV以上、好ましくは2.5eV以上である。このように、エネルギーギャップの広い酸化物半導体を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。
また、金属酸化物層231は、非単結晶構造であると好ましい。非単結晶構造は、例えば、後述するCAAC−OS(C Axis Aligned Crystalline Oxide Semiconductor)、多結晶構造、微結晶構造、または非晶質構造を含む。非単結晶構造において、非晶質構造は最も欠陥準位密度が高く、CAAC−OSは最も欠陥準位密度が低い。
金属酸化物層231としては、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低い金属酸化物膜を用いることで、優れた電気特性を有するトランジスタを作製することができ好ましい。ここでは、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低い(酸素欠損の少ない)ことを高純度真性または実質的に高純度真性とよぶ。なお、金属酸化物膜中の不純物としては、代表的には水、水素などが挙げられる。本明細書等において、金属酸化物膜中から水及び水素を低減または除去することを、脱水化、脱水素化と表す場合がある。また、金属酸化物膜、または酸化物絶縁膜中に酸素を添加することを、加酸素化と表す場合があり、加酸素化され且つ化学両論的組成よりも過剰の酸素を有する状態を過酸素化状態と表す場合がある。
高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、キャリア発生源が少ないため、キャリア密度を低くすることができる。従って、該金属酸化物膜にチャネル領域が形成されるトランジスタは、しきい値電圧がマイナスとなる電気特性(ノーマリーオンともいう。)になることが少ない。また、高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、欠陥準位密度が低いため、トラップ準位密度も低くなる場合がある。また、高純度真性または実質的に高純度真性である金属酸化物膜は、オフ電流が著しく小さく、チャネル幅が1×106μmでチャネル長Lが10μmの素子であっても、ソース電極とドレイン電極間の電圧(ドレイン電圧)が1Vから10Vの範囲において、オフ電流が、半導体パラメータアナライザの測定限界以下、すなわち1×10−13A以下という特性を得ることができる。
絶縁層213は、水素及び窒素のいずれか一方または双方を有する。または、絶縁層213は、窒素及びシリコンを有する。また、絶縁層213は、酸素、水素、水、アルカリ金属、アルカリ土類金属等のブロッキングできる機能を有する。絶縁層213を設けることで、金属酸化物層231からの酸素の外部への拡散と、絶縁層212に含まれる酸素の外部への拡散と、外部から金属酸化物層231への水素、水等の入り込みを防ぐことができる。
絶縁層213としては、例えば、窒化物絶縁膜を用いることができる。該窒化物絶縁膜としては、窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化アルミニウム、窒化酸化アルミニウム等がある。
なお、上記記載の、導電層、絶縁層、金属酸化物層などは、スパッタリング法やPECVD法により形成することができるが、他の方法、例えば、熱CVD(Chemical Vapor Deposition)法により形成してもよい。熱CVD法の例としてMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法、またはALD(Atomic Layer Deposition)法などが挙げられる。
熱CVD法は、プラズマを使わない成膜方法のため、プラズマダメージにより欠陥が生成されることが無いという利点を有する。また、熱CVD法としては、原料ガスをチャンバー内に送り、チャンバー内を大気圧または減圧下とし、基板上に膜を堆積させればよい。
また、ALD法としては、原料ガスをチャンバー内に送り、チャンバー内を大気圧または減圧下とし、基板上に膜を堆積させればよい。
また、表示装置300のトランジスタとして、図10に示すトランジスタ200bを用いてもよい。図10(A)はトランジスタ200bの上面図である。図10(B)は、図10(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図10(C)は、図10(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。
トランジスタ200bは、金属酸化物層231、導電層222a、導電層222b、および絶縁層212が積層構造である点において、トランジスタ200aと異なる。
絶縁層212は、金属酸化物層231、導電層222a及び導電層222bの上の絶縁層212aと、絶縁層212aの上の絶縁層212bを有する。絶縁層212は、金属酸化物層231に酸素を供給する機能を有する。すなわち、絶縁層212は、酸素を有する。また、絶縁層212aは、酸素を透過することのできる絶縁層である。なお、絶縁層212aは、後に形成する絶縁層212bを形成する際の、金属酸化物層231へのダメージ緩和膜としても機能する。
絶縁層212aとしては、厚さが5nm以上150nm以下、好ましくは5nm以上50nm以下の酸化シリコン、酸化窒化シリコン等を用いることができる。
また、絶縁層212aは、欠陥量が少ないことが好ましく、代表的には、ESR測定により、シリコンのダングリングボンドに由来するg=2.001に現れる信号のスピン密度が3×1017spins/cm3以下であることが好ましい。これは、絶縁層212aに含まれる欠陥密度が多いと、該欠陥に酸素が結合してしまい、絶縁層212aにおける酸素の透過性が減少してしまう。
なお、絶縁層212aにおいては、外部から絶縁層212aに入った酸素が全て絶縁層212aの外部に移動せず、絶縁層212aにとどまる酸素もある。また、絶縁層212aに酸素が入ると共に、絶縁層212aに含まれる酸素が絶縁層212aの外部へ移動することで、絶縁層212aにおいて酸素の移動が生じる場合もある。絶縁層212aとして酸素を透過することができる酸化物絶縁層を形成すると、絶縁層212a上に設けられる、絶縁層212bから脱離する酸素を、絶縁層212aを介して金属酸化物層231に移動させることができる。
また、絶縁層212aは、窒素酸化物に起因する準位密度が低い酸化物絶縁層を用いて形成することができる。なお、当該窒素酸化物に起因する準位密度は、金属酸化物膜の価電子帯の上端のエネルギー(Ev_os)と金属酸化物膜の伝導帯の下端のエネルギー(Ec_os)の間に形成され得る場合がある。上記酸化物絶縁層として、窒素酸化物の放出量が少ない酸化窒化シリコン膜、または窒素酸化物の放出量が少ない酸化窒化アルミニウム膜等を用いることができる。
なお、窒素酸化物の放出量の少ない酸化窒化シリコン膜は、昇温脱離ガス分析法(TDS:Thermal Desorption Spectroscopy)において、窒素酸化物の放出量よりアンモニアの放出量が多い膜であり、代表的にはアンモニアの放出量が1×1018/cm3以上5×1019/cm3以下である。なお、アンモニアの放出量は、膜の表面温度が50℃以上650℃以下、好ましくは50℃以上550℃以下の加熱処理による放出量とする。
窒素酸化物(NOx、xは0よりも大きく2以下、好ましくは1以上2以下)、代表的にはNO2またはNOは、絶縁層212aなどに準位を形成する。当該準位は、金属酸化物層231のエネルギーギャップ内に位置する。そのため、窒素酸化物が、絶縁層212a及び金属酸化物層231の界面に拡散すると、当該準位が絶縁層212a側において電子をトラップする場合がある。この結果、トラップされた電子が、絶縁層212a及び金属酸化物層231の界面近傍に留まるため、トランジスタのしきい値電圧をプラス方向にシフトさせてしまう。
また、窒素酸化物は、加熱処理においてアンモニア及び酸素と反応する。絶縁層212aに含まれる窒素酸化物は、加熱処理において、絶縁層212bに含まれるアンモニアと反応するため、絶縁層212aに含まれる窒素酸化物が低減される。このため、絶縁層212a及び金属酸化物層231の界面において、電子がトラップされにくい。
絶縁層212aとして、上記酸化物絶縁層を用いることで、トランジスタのしきい値電圧のシフトを低減することが可能であり、トランジスタの電気特性の変動を低減することができる。
また、上記酸化物絶縁層は、SIMSで測定される窒素濃度が6×1020atoms/cm3以下である。
基板温度が220℃以上350℃以下であり、シラン及び一酸化二窒素を用いたPECVD法を用いて、上記酸化物絶縁層を形成することで、緻密であり、且つ硬度の高い膜を形成することができる。
絶縁層212bは、化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁層である。上記の酸化物絶縁層は、加熱により酸素の一部が脱離する。なお、TDSにおいて、上記の酸化物絶縁層は、酸素の放出量が1.0×1019atoms/cm3以上、好ましくは3.0×1020atoms/cm3以上の領域を有する。また、上記の酸素の放出量は、TDSにおける加熱処理の温度が50℃以上650℃以下、または50℃以上550℃以下の範囲での総量である。また、上記の酸素の放出量は、TDSにおける酸素原子に換算しての総量である。
絶縁層212bとしては、厚さが30nm以上500nm以下、好ましくは50nm以上400nm以下の、酸化シリコン、酸化窒化シリコン等を用いることができる。
また、絶縁層212bは、欠陥量が少ないことが好ましく、代表的には、ESR測定により、シリコンのダングリングボンドに由来するg=2.001に現れる信号のスピン密度が1.5×1018spins/cm3未満、さらには1×1018spins/cm3以下であることが好ましい。なお、絶縁層212bは、絶縁層212aと比較して金属酸化物層231から離れているため、絶縁層212aより、欠陥密度が高くともよい。
また、絶縁層212は、同種の材料の絶縁層を用いることができるため、絶縁層212aと絶縁層212bの界面が明確に確認できない場合がある。したがって、本実施の形態においては、絶縁層212aと絶縁層212bの界面は、破線で図示している。なお、本実施の形態においては、絶縁層212aと絶縁層212bの2層構造について説明したが、これに限定されず、例えば、絶縁層212aの単層構造、あるいは3層以上の積層構造としてもよい。
トランジスタ200bにおいて、金属酸化物層231は、絶縁層211上の金属酸化物層231_1と、金属酸化物層231_1上の金属酸化物層231_2と、を有する。なお、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2は、それぞれ同じ元素を有する。例えば、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2は、上述の金属酸化物層231が有する元素を、それぞれ独立に有することが好ましい。
また、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2は、それぞれ独立に、Inの原子数比がMの原子数比より多い領域を有すると好ましい。一例としては、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2のIn、M、及びZnの原子数比を、In:M:Zn=4:2:3近傍とすると好ましい。ここで、近傍とは、Inが4の場合、Mが1.5以上2.5以下であり、且つZnが2以上4以下を含む。または、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2のIn、M、及びZnの原子数比を、In:M:Zn=5:1:6近傍とすると好ましい。このように、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2を概略同じ組成とすることで、同じスパッタリングターゲットを用いて形成できるため、製造コストを抑制することが可能である。また、同じスパッタリングターゲットを用いる場合、同一チャンバーにて真空中で連続して金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2を成膜することができるため、金属酸化物層231_1と金属酸化物層231_2との界面に不純物が取り込まれるのを抑制することができる。
ここで、金属酸化物層231_1は、金属酸化物層231_2よりも結晶性が低い領域を有していてもよい。なお、金属酸化物層231_1及び金属酸化物層231_2の結晶性としては、例えば、X線回折(XRD:X−Ray Diffraction)を用いて分析する、あるいは、透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope)を用いて分析することで解析できる。
金属酸化物層231_1の結晶性が低い領域が過剰酸素の拡散経路となり、金属酸化物層231_1よりも結晶性の高い金属酸化物層231_2にも過剰酸素を拡散させることができる。このように、結晶性が異なる金属酸化物層の積層構造とし、結晶性の低い領域を過剰酸素の拡散経路とすることで、信頼性の高いトランジスタを提供することができる。
また、金属酸化物層231_2が、金属酸化物層231_1より結晶性が高い領域を有することにより、金属酸化物層231に混入しうる不純物を抑制することができる。特に、金属酸化物層231_2の結晶性を高めることで、導電層222a及び導電層222bを加工する際のダメージを抑制することができる。金属酸化物層231の表面、すなわち金属酸化物層231_2の表面は、導電層222a及び導電層222bの加工の際のエッチャントまたはエッチングガスに曝される。しかしながら、金属酸化物層231_2は、結晶性が高い領域を有する場合、結晶性が低い金属酸化物層231_1と比較してエッチング耐性に優れる。したがって、金属酸化物層231_2は、エッチングストッパとして機能する。
また、金属酸化物層231_1は、金属酸化物層231_2よりも結晶性が低い領域を有することで、キャリア密度が高くなる場合がある。
また、金属酸化物層231_1のキャリア密度が高くなると、金属酸化物層231_1の伝導帯に対してフェルミ準位が相対的に高くなる場合がある。これにより、金属酸化物層231_1の伝導帯の下端が低くなり、金属酸化物層231_1の伝導帯下端と、ゲート絶縁膜(ここでは、絶縁層211)中に形成されうるトラップ準位とのエネルギー差が大きくなる場合がある。該エネルギー差が大きくなることにより、ゲート絶縁膜中にトラップされる電荷が少なくなり、トランジスタのしきい値電圧の変動を小さくできる場合がある。また、金属酸化物層231_1のキャリア密度が高くなると、金属酸化物層231の電界効果移動度を高めることができる。
なお、トランジスタ200bにおいては、金属酸化物層231を2層の積層構造にする例を示したが、これに限定されず、3層以上積層する構成にしてもよい。
トランジスタ200bが有する導電層222aは、導電層222a_1と、導電層222a_1上の導電層222a_2と、導電層222a_2上の導電層222a_3と、を有する。また、トランジスタ200bが有する導電層222bは、導電層222b_1と、導電層222b_1上の導電層222b_2と、導電層222b_2上の導電層222b_3と、を有する。
例えば、導電層222a_1、導電層222b_1、導電層222a_3、及び導電層222b_3としては、チタン、タングステン、タンタル、モリブデン、インジウム、ガリウム、錫、及び亜鉛の中から選ばれるいずれか一つまたは複数を有すると好適である。また、導電層222a_2及び導電層222b_2としては、銅、アルミニウム、及び銀の中から選ばれるいずれか一つまたは複数を有すると好適である。
より具体的には、導電層222a_1、導電層222b_1、導電層222a_3、及び導電層222b_3にIn−Sn酸化物またはIn−Zn酸化物を用い、導電層222a_2及び導電層222b_2に銅を用いることができる。
また、導電層222a_1の端部は、導電層222a_2の端部よりも外側に位置する領域を有し、導電層222a_3は、導電層222a_2の上面及び側面を覆い、且つ導電層222a_1と接する領域を有する。また、導電層222b_1の端部は、導電層222b_2の端部よりも外側に位置する領域を有し、導電層222b_3は、導電層222b_2の上面及び側面を覆い、且つ導電層222b_1と接する領域を有する。
上記構成とすることで、導電層222a及び導電層222bの配線抵抗を低くし、且つ金属酸化物層231への銅の拡散を抑制できるため好適である。
また、表示装置300のトランジスタとして、図11に示すトランジスタ200cを用いてもよい。図11(A)はトランジスタ200cの上面図である。図11(B)は、図11(A)に示す一点鎖線X1−X2間における切断面の断面図に相当し、図11(C)は、図11(A)に示す一点鎖線Y1−Y2間における切断面の断面図に相当する。
図11(A)(B)(C)に示すトランジスタ200cは、絶縁層224上の導電層221と、導電層221上の絶縁層211と、絶縁層211上の金属酸化物層231と、金属酸化物層231上の絶縁層212と、絶縁層212上の導電層223と、絶縁層211、金属酸化物層231、及び導電層223上の絶縁層213と、を有する。なお、金属酸化物層231は、導電層223と重なるチャネル領域231iと、絶縁層213と接するソース領域231sと、絶縁層213と接するドレイン領域231dと、を有する。
また、絶縁層213は、窒素または水素を有する。絶縁層213と、ソース領域231s及びドレイン領域231dと、が接することで、絶縁層213中の窒素または水素がソース領域231s及びドレイン領域231d中に添加される。ソース領域231s及びドレイン領域231dは、窒素または水素が添加されることで、キャリア密度が高くなる。
また、トランジスタ200cは、絶縁層213上の絶縁層215と、絶縁層213及び絶縁層215に設けられた開口部236aを介して、ソース領域231sに電気的に接続される導電層222aと、絶縁層213及び絶縁層215に設けられた開口部236bを介して、ドレイン領域231dに電気的に接続される導電層222bと、を有していてもよい。
絶縁層215としては、酸化物絶縁膜を用いることができる。また、絶縁層215としては、酸化物絶縁膜と、窒化物絶縁膜との積層膜を用いることができる。絶縁層215として、例えば酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化ガリウムまたはGa−Zn酸化物などを用いればよい。また、絶縁層215としては、外部からの水素、水等のバリア膜として機能する膜であることが好ましい。
絶縁層211は、第1のゲート絶縁膜としての機能を有し、絶縁層212は、第2のゲート絶縁膜としての機能を有する。また、絶縁層213及び絶縁層215は保護絶縁膜としての機能を有する。
また、絶縁層212は、過剰酸素領域を有する。絶縁層212が過剰酸素領域を有することで、金属酸化物層231が有するチャネル領域231i中に過剰酸素を供給することができる。よって、チャネル領域231iに形成されうる酸素欠損を過剰酸素により補填することができるため、信頼性の高い半導体装置を提供することができる。
なお、金属酸化物層231中に過剰酸素を供給させるためには、金属酸化物層231の下方に形成される絶縁層211に過剰酸素を供給してもよい。この場合、絶縁層211中に含まれる過剰酸素は、金属酸化物層231が有するソース領域231s、及びドレイン領域231dにも供給されうる。ソース領域231s、及びドレイン領域231d中に過剰酸素が供給されると、ソース領域231s、及びドレイン領域231dの抵抗が高くなる場合がある。
一方で、金属酸化物層231の上方に形成される絶縁層212に過剰酸素を有する構成とすることで、チャネル領域231iにのみ選択的に過剰酸素を供給させることが可能となる。あるいは、チャネル領域231i、ソース領域231s、及びドレイン領域231dに過剰酸素を供給させたのち、ソース領域231s及びドレイン領域231dのキャリア密度を選択的に高めることで、ソース領域231s、及びドレイン領域231dの抵抗が高くなることを抑制することができる。
また、金属酸化物層231が有するソース領域231s及びドレイン領域231dは、それぞれ、酸素欠損を形成する元素、または酸素欠損と結合する元素を有すると好ましい。当該酸素欠損を形成する元素、または酸素欠損と結合する元素としては、代表的には水素、ホウ素、炭素、窒素、フッ素、リン、硫黄、塩素、チタン、希ガス等が挙げられる。また、希ガス元素の代表例としては、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、及びキセノン等がある。上記酸素欠損を形成する元素が、絶縁層213中に1つまたは複数含まれる場合、絶縁層213からソース領域231s、及びドレイン領域231dに拡散する、および/または不純物添加処理によりソース領域231s、及びドレイン領域231d中に添加される。
不純物元素が酸化物半導体膜に添加されると、酸化物半導体膜中の金属元素と酸素の結合が切断され、酸素欠損が形成される。または、不純物元素が酸化物半導体膜に添加されると、酸化物半導体膜中の金属元素と結合していた酸素が不純物元素と結合し、金属元素から酸素が脱離され、酸素欠損が形成される。これらの結果、酸化物半導体膜においてキャリア密度が増加し、導電性が高くなる。
また、導電層221は、第1のゲート電極としての機能を有し、導電層223は、第2のゲート電極としての機能を有し、導電層222aは、ソース電極としての機能を有し、導電層222bは、ドレイン電極としての機能を有する。
また、図11(C)に示すように、絶縁層211及び絶縁層212には開口部237が設けられる。また、導電層221は、開口部237を介して、導電層223と、電気的に接続される。よって、導電層221と導電層223には、同じ電位が与えられる。なお、開口部237を設けずに、導電層221と、導電層223と、に異なる電位を与えてもよい。または、開口部237を設けずに、導電層221を遮光膜として用いてもよい。例えば、導電層221を遮光性の材料により形成することで、チャネル領域231iに照射される下方からの光を抑制することができる。
また、図11(B)(C)に示すように、金属酸化物層231は、第1のゲート電極として機能する導電層221と、第2のゲート電極として機能する導電層223のそれぞれと対向するように位置し、2つのゲート電極として機能する導電膜に挟まれている。
また、トランジスタ200cもトランジスタ200a及びトランジスタ200bと同様にS−channel構造をとる。このような構成を有することで、トランジスタ200cに含まれる金属酸化物層231を、第1のゲート電極として機能する導電層221及び第2のゲート電極として機能する導電層223の電界によって電気的に取り囲むことができる。
トランジスタ200cは、S−channel構造を有するため、導電層221または導電層223によってチャネルを誘起させるための電界を効果的に金属酸化物層231に印加することができるため、トランジスタ200cの電流駆動能力が向上し、高いオン電流特性を得ることが可能となる。また、オン電流を高くすることが可能であるため、トランジスタ200cを微細化することが可能となる。また、トランジスタ200cは、導電層221、及び導電層223によって取り囲まれた構造を有するため、トランジスタ200cの機械的強度を高めることができる。
なお、トランジスタ200cを、導電層223の金属酸化物層231に対する位置、または導電層223の形成方法から、TGSA(Top Gate Self Align)型のFETと呼称してもよい。
なお、トランジスタ200cにおいても、トランジスタ200bと同様に金属酸化物層231を2層以上積層する構成にしてもよい。
また、トランジスタ200cにおいて、絶縁層212が導電層223と重なる部分にのみ設けられているが、これに限られることなく、絶縁層212が金属酸化物層231を覆う構成にすることもできる。また、導電層221を設けない構成にすることもできる。
<構成例2>
図12に示す表示装置300Aは、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206を有さず、トランジスタ281、トランジスタ284、トランジスタ285、及びトランジスタ286を有する点で、主に表示装置300と異なる。
なお、図12では、絶縁層117及び接続部207等の位置も図8と異なる。図12では、画素の端部を図示している。絶縁層117は、液晶素子180の端部に重ねて配置されている。また、絶縁層117は、遮光層132の端部に重ねて配置されている。このように、絶縁層は、表示領域と重ならない部分(遮光層132と重なる部分)に配置されてもよい。
トランジスタ284及びトランジスタ285のように、表示装置が有する2つのトランジスタは、部分的に積層して設けられていてもよい。これにより、画素回路の占有面積を縮小することが可能なため、精細度を高めることができる。また、発光素子170の発光面積を大きくでき、開口率を向上させることができる。発光素子170は、開口率が高いと、必要な輝度を得るための電流密度を低くできるため、信頼性が向上する。
トランジスタ281、トランジスタ284、及びトランジスタ286は、導電層221a、絶縁層211、金属酸化物層231、導電層222a、及び導電層222bを有する。導電層221aは、絶縁層211を介して金属酸化物層231と重なる。導電層222a及び導電層222bは、金属酸化物層231と電気的に接続される。トランジスタ281は、導電層223を有する。
トランジスタ285は、導電層222b、絶縁層217、金属酸化物層261、導電層223、絶縁層212、絶縁層213、導電層263a、及び導電層263bを有する。導電層222bは、絶縁層217を介して金属酸化物層261と重なる。導電層223は、絶縁層212及び絶縁層213を介して金属酸化物層261と重なる。導電層263a及び導電層263bは、金属酸化物層261と電気的に接続される。
導電層221aは、ゲートとして機能する。絶縁層211は、ゲート絶縁層として機能する。導電層222aはソースまたはドレインの一方として機能する。トランジスタ286が有する導電層222bは、ソースまたはドレインの他方として機能する。
トランジスタ284とトランジスタ285が共有している導電層222bは、トランジスタ284のソースまたはドレインの他方として機能する部分と、トランジスタ285のゲートとして機能する部分を有する。絶縁層217、絶縁層212、及び絶縁層213は、ゲート絶縁層として機能する。導電層263a及び導電層263bのうち、一方はソースとして機能し、他方はドレインとして機能する。導電層223は、ゲートとして機能する。
なお、図7などに示すトランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、およびトランジスタ206と同様に、トランジスタ281、トランジスタ284、トランジスタ285、およびトランジスタ286も、図12に示す形状に限られない。例えば、トランジスタ281、トランジスタ284、トランジスタ285、およびトランジスタ286を、図9乃至図11に示すトランジスタ200a乃至トランジスタ200cのような形状にしてもよい。
<構成例3>
図13に、表示装置300Bの表示部の断面図を示す。
図13に示す表示装置300Bは、基板351と基板361の間に、トランジスタ295、トランジスタ296、液晶素子180、発光素子170、絶縁層220、絶縁層224、着色層134等を有する。
ここで、トランジスタ295は、図11に示すトランジスタ200cと同様の構成とし、トランジスタ296は、図7に示すトランジスタ206と同様の構成とする。ただし、トランジスタ295及びトランジスタ296はこれに限られず、適宜上記のトランジスタの構成を用いることができる。
液晶素子180では、外光を電極311bが反射し、基板361側に反射光を射出する。発光素子170は、基板361側に光を射出する。液晶素子180及び発光素子170の構成については、構成例1を参照できる。
基板361には、絶縁層121、及び液晶素子180の共通電極として機能する電極113、配向膜133bが設けられている。
液晶層112は、配向膜133a及び配向膜133bを介して、電極311a及び電極113の間に挟持されている。
トランジスタ296は、絶縁層212及び絶縁層213で覆われている。絶縁層213と着色層134は、接着層142によって、絶縁層194と貼り合わされている。
表示装置300Bは、液晶素子180を駆動するトランジスタ296と発光素子170を駆動するトランジスタ295とを、異なる面上に形成するため、それぞれの表示素子を駆動するために適した構造、材料を用いて形成することが容易である。
<構成例4>
上記において、液晶素子で単色表示を行う例について示したが、本実施の形態に係る表示装置は、液晶素子でフルカラー表示を行う構成にすることもできる。図14及び図15を用いて、液晶素子でフルカラー表示を行うことができる表示装置300Cについて説明する。図14に表示装置300Cの断面図を示し、図15(A)(B)に表示装置300Cの構成の一部の上面図を示す。
図14に示す表示装置300Cは、基板361に着色層131a及び着色層131bが設けられている点において、図8に示す表示装置300と異なる。着色層131a及び着色層131bは、絶縁層121に覆われている。着色層131bが発光素子170(開口451、着色層134ということもできる。)と重なるように設けられており、着色層131aは電極311bと重なる領域を有するように設けられている。
着色層131aを通過して入射する外光は、液晶素子180で反射されて着色層131aを通過して基板361側に射出される。このように、表示装置300Cは、液晶素子180を用いて、着色層131aに応じた色を表示することができる。
ここで、着色層131bは、着色層134と同じ色の可視光を透過させる機能を有する。これにより、発光素子170から射出され、着色層134を通過した光を、着色層131aで干渉することなく、基板361側に取り出すことができる。
さらに、図14に示すように、着色層131bを通過して入射する外光は、入射の際に着色層131b及び着色層134を通過し、反射の際も着色層134及び着色層131bを通過する。このように、着色層131bを通過して入射する外光は、着色層を複数回通過することで減衰される。これにより、液晶素子180で反射される着色層131aに応じた色の光に、意図しない色の光が混ざることを低減することができる。
図15(A)は電極311bの上面図を、図15(B)は着色層131a及び着色層131bの上面図を示す。図15(A)(B)に示すように、画素410a、画素410b、画素410c、および画素410dが配置されている。それぞれの画素には3個の発光素子170が設けられており、発光素子170に重ねて、着色層134aと開口451aと着色層131ba、着色層134bと開口451bと着色層131bb、および着色層134cと開口451cと着色層131bc、が設けられている。
また、画素410aには、電極311baと、着色層131aaが設けられている。また、画素410bには、電極311bbと、着色層131abが設けられている。また、画素410cには、電極311bcと、着色層131acが設けられている。また、画素410dには、電極311bdと、着色層131adが設けられている。
着色層131aa、着色層131ab、着色層131ac、および着色層131ad、はそれぞれ異なる色の光を透過する機能を有する。例えば、画素410aに赤色、画素410bに緑色、画素410cに青色、画素410dに黄色、を発色させる場合、着色層131aaが赤色の光を透過し、着色層131abが緑色の光を透過し、着色層131acが青色の光を透過し、着色層131adが黄色の光を透過するようにすればよい。なお、例えば、画素410dに黄色ではなく、白色を発色させる場合は、着色層131adを設けない構成にすればよい。
ここで、例えば、上記の画素410aにおいて、着色層134aに赤色の光を透過させる場合、着色層131baと着色層134aは同じ赤色の光を透過させることになり、着色層131aaと着色層131baも同じ赤色の光を透過させることになる。このような場合、着色層131aaと着色層131baを作り分ける必要はなく、一体の着色層とすればよい。
このように、画素410a乃至画素410dは、発光素子170と着色層134a乃至着色層134cを用いてフルカラー表示を行い、且つ、液晶素子180を用いて着色層131aa乃至着色層131adに応じた色を表示することができる。ここで、画素410a乃至画素410dを合わせて、それぞれの画素が液晶素子180を用いた副画素として機能する、1個のフルカラー表示の画素とみなすことができる。言い換えると、表示装置300Cでは、液晶素子180を用いてフルカラー表示を行うことができ、且つ発光素子170を用いて、液晶素子180の約2倍の解像度でフルカラー表示を行うことができる。
例えば、表示装置300Cを、AR(Augmented Reality(拡張現実))コンテンツの表示が可能なアプリケーションを有する携帯端末に用いることができる。当該携帯端末において、カメラ機能で取得した画像または動画を第1の画素410Lを用いて表示し、当該画像または動画中の場所、建造物、物品、人物などに付随する情報を第2の画素410Eを用いて表示すればよい。
ここで、付随する情報としては、テキストでもよいし、画像または動画でもよい。例えば、カメラ機能で取得した画像または動画中の場所、建造物、物品、人物などの説明を付加するアプリケーションならば、付随する情報は主にテキストになる。また、例えば、カメラ機能で取得した画像または動画中の場所、建造物、物品、人物などに対応したキャラクターを表示するゲームアプリケーションならば、付随する情報は主に、当該キャラクターの画像または動画になる。
上記において、カメラ機能で取得した画像または動画の表示部分は、付随する情報の部分よりレイアウト面積が広い場合も多いため、画像または動画の表示部分を、消費電力の小さい第1の画素410Lで表示し、付随する情報の部分だけを第2の画素410Eで表示することにより、消費電力の低減を図ることができる。
第1の画素410Lで静止画像を表示する場合、上記のようにフレーム周波数が1Hz以下の静止画表示にすることにより、さらに消費電力の低減を図ることができる。
また、ゲームアプリケーションの場合、カメラ機能で取得した画像または動画は背景的に扱われ、付随する情報(例えばキャラクターの画像など)がゲームの主目標となる場合が多い。よって、背景を表示する第1の画素410Lより解像度の高い第2の画素410Eで、キャラクターの画像を表示することにより、鮮明に当該キャラクターを表示し、ユーザーにより大きな高揚感を与えることができる。
また、上記において、カメラで取得した画像または動画の代わりに、GPSなどで取得した地図情報を第1の画素410Lで表示する構成にしてもよい。
なお、表示装置300Cでは、各画素410において、着色層134a乃至着色層134cと発光素子170を用いてフルカラー表示を行う構成としたが、これに限られるものではない。例えば、着色層134を設けず、複数の発光素子170を副画素ごとに異なる色を発色できるように作り分ける構成にすることもできる。
<表示装置300の作製方法例>
次に、図16〜図19を用いて、本実施の形態に示す表示装置の作製方法について、具体的に説明する。以下では、図7に示す表示装置300の作製方法の一例について説明する。図16〜図19では特に表示装置300の表示部362に着目して、作製方法を説明する。なお、図16乃至図19ではトランジスタ203の図示を省略する。
まず、基板361上に、絶縁層121を形成する。
絶縁層121は、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層121には、アクリル、エポキシ、ポリイミドなどの樹脂を好適に用いることができる。
絶縁層121には、無機絶縁膜を適用してもよい。絶縁層121としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。
なお、図7に示す回路364等では、基板361上に遮光層132を設けておき、その上に絶縁層121を形成する。
また、図14に示す表示装置300Cを作製する場合、絶縁層121を成膜する前に、着色層131a及び着色層131bを形成する。着色層131a及び着色層131bは、感光性の材料を用いて形成することで、フォトリソグラフィ法等により島状に加工することができる。
次に、電極113を形成する。電極113は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。電極113は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。
次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。絶縁層117には、有機絶縁膜を用いることが好ましい。
次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する(図16(A))。配向膜133bは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。
また、図16(A)を用いて説明した工程とは独立して、図16(B)から図19(A)までに示す工程を行う。
まず、作製基板61上に剥離層62を形成し、剥離層62上に絶縁層63を形成する(図16(B))。
この工程では、作製基板61を剥離する際に、作製基板61と剥離層62の界面、剥離層62と絶縁層63の界面、又は剥離層62中で分離が生じるような材料を選択する。本実施の形態では、絶縁層63と剥離層62の界面で分離が生じる場合を例示するが、剥離層62や絶縁層63に用いる材料の組み合わせによってはこれに限られない。
作製基板61は、搬送が容易となる程度に剛性を有し、かつ作製工程にかかる温度に対して耐熱性を有する。作製基板61に用いることができる材料としては、例えば、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、樹脂、半導体、金属または合金などが挙げられる。ガラスとしては、例えば、無アルカリガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス等が挙げられる。
剥離層62は、有機材料または無機材料を用いて形成することができる。
剥離層62に用いることができる無機材料としては、タングステン、モリブデン、チタン、タンタル、ニオブ、ニッケル、コバルト、ジルコニウム、亜鉛、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム、シリコンから選択された元素を含む金属、該元素を含む合金、該元素を含む金属酸化物、または該元素を含む化合物等が挙げられる。シリコンを含む層の結晶構造は、非晶質、微結晶、多結晶のいずれでもよい。
無機材料を用いる場合、剥離層62の厚さは、1nm以上1000nm以下、好ましくは10nm以上200nm以下、より好ましくは10nm以上100nm以下である。
無機材料を用いる場合、剥離層62は、例えばスパッタリング法、CVD法、ALD法、蒸着法等により形成できる。
剥離層62に用いることができる有機材料としては、例えば、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂等が挙げられる。
有機材料を用いる場合、剥離層62の厚さは、0.01μm以上10μm未満であることが好ましく、0.1μm以上3μm以下であることがより好ましく、0.5μm以上1μm以下であることがさらに好ましい。剥離層62の厚さを上記範囲とすることで、作製のコストを低減することができる。ただし、これに限定されず、剥離層62の厚さは、10μm以上、例えば、10μm以上200μm以下としてもよい。
有機材料を用いる場合、剥離層62の形成方法としては、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等が挙げられる。
絶縁層63としては、無機絶縁膜を用いることが好ましい。絶縁層63には、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。
例えば、剥離層62に、タングステンなどの高融点金属材料を含む層と当該金属材料の酸化物を含む層との積層構造を適用し、絶縁層63に、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、または窒化酸化シリコン等の無機絶縁膜を複数有する積層構造を適用してもよい。剥離層62に高融点金属材料を用いると、これよりも後に形成する層の形成温度を高めることが可能で、不純物の濃度が低減され、信頼性の高い表示装置を実現できる。なお、剥離後に、表示装置にとって不要な層(剥離層62、絶縁層63など)を除去する工程を有していてもよい。または、剥離層62または絶縁層63を除去せず、表示装置の構成要素としてもよい。
次に、絶縁層63上に電極311aを形成し、電極311a上に電極311bを形成する(図16(C))。電極311bは、電極311a上に開口451を有する。電極311a及び電極311bは、それぞれ、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。電極311aは、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。電極311bは、可視光を反射する導電材料を用いて形成する。
次に、絶縁層220を形成する(図16(D))。絶縁層220は、剥離層62及び絶縁層63に含まれる不純物が、後に形成するトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐバリア層として用いることができる。剥離層62に有機材料を用いる場合、絶縁層220は、例えば、剥離層62を加熱した際に、剥離層62に含まれる水分等がトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐことが好ましい。そのため、絶縁層220は、バリア性が高いことが好ましい。
絶縁層220としては、絶縁層121に用いることができる無機絶縁膜及び樹脂等を用いることができる。
次に、絶縁層220上に電極312を形成する(図16(D))。電極312は、接続部207を形成する位置と重ならないように設けられる。電極312は、電極311bの開口451と重なるように開口を有することが好ましい。電極312は、それぞれ、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。電極312は、可視光を反射する導電材料を用いて形成してもよいし、可視光を透過する導電材料を用いて形成してもよい。
次に、絶縁層224を形成する。そして、接続部207を形成する位置に対応するように、絶縁層220及び絶縁層224に電極311bに達する開口を設ける。絶縁層224としては、絶縁層121に用いることができる無機絶縁膜及び樹脂等を用いることができる。
次に、絶縁層224上に、トランジスタ205及びトランジスタ206を形成する。
ここではトランジスタ206として、金属酸化物層231として金属酸化物を有する、ボトムゲート構造のトランジスタを作製する場合を示す。トランジスタ205は、トランジスタ206の構成に導電層223及び絶縁層212を追加した構成であり、2つのゲートを有する。金属酸化物は、酸化物半導体として機能することができる。ここで、金属酸化物層231として酸化物半導体などの、シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると、トランジスタのオフ電流を低減できる。
具体的には、まず、絶縁層224上に、導電層221a及び導電層221bを形成する。導電層221a及び導電層221bは、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。ここで、絶縁層220及び絶縁層224の開口を介して、導電層221bと電極311bとが接続される接続部207を形成する。
続いて、絶縁層211を形成する。
絶縁層211としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。
無機絶縁膜は、成膜温度が高いほど緻密でバリア性の高い膜となるため、高温で形成することが好ましい。無機絶縁膜の成膜時の基板温度は、室温(25℃)以上350℃以下が好ましく、100℃以上300℃以下がさらに好ましい。
続いて、金属酸化物層231を形成する。本実施の形態では、金属酸化物層231として、金属酸化物を用いる。金属酸化物層231は、金属酸化物膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該金属酸化物膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。
金属酸化物膜の成膜時の基板温度は、350℃以下が好ましく、室温以上200℃以下がより好ましく、室温以上130℃以下がさらに好ましい。
金属酸化物膜は、不活性ガス及び酸素ガスのいずれか一方を用いて成膜することができる。なお、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)に、特に限定はない。ただし、電界効果移動度が高いトランジスタを得る場合においては、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)は、0%以上30%以下が好ましく、5%以上30%以下がより好ましく、7%以上15%以下がさらに好ましい。
金属酸化物膜は、少なくともインジウムまたは亜鉛を含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。
金属酸化物は、エネルギーギャップが2eV以上であることが好ましく、2.5eV以上であることがより好ましく。3eV以上であることがさらに好ましい。このように、エネルギーギャップの広い金属酸化物を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。
金属酸化物膜は、スパッタリング法により形成することができる。そのほか、例えばPLD法、PECVD法、熱CVD法、ALD法、真空蒸着法などを用いてもよい。
続いて、導電層222a及び導電層222bを形成する。導電層222a及び導電層222bは、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。導電層222a及び導電層222bは、それぞれ、金属酸化物層231と接続される。ここで、トランジスタ206が有する導電層222aは、導電層221bと電気的に接続される。これにより、接続部207では、電極311bと導電層222aを電気的に接続することができる。
なお、導電層222a及び導電層222bの加工の際に、レジストマスクに覆われていない金属酸化物層231の一部がエッチングにより薄膜化する場合がある。
以上のようにして、トランジスタ206を作製できる(図17(A))。トランジスタ206において、導電層221aの一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部はゲート絶縁層として機能し、導電層222a及び導電層222bは、それぞれソースまたはドレインのいずれか一方として機能する。
次に、トランジスタ206を覆う絶縁層212を形成し、絶縁層212上に導電層223を形成する。
絶縁層212は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。
トランジスタ205が有する導電層223は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。
以上のようにして、トランジスタ205を作製できる(図17(A))。トランジスタ205において、導電層221aの一部及び導電層223の一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部及び絶縁層212の一部はゲート絶縁層として機能し、導電層222a及び導電層222bは、それぞれソースまたはドレインのいずれか一方として機能する。
次に、絶縁層213を形成する(図17(A))。絶縁層213は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。
また、絶縁層212として、酸素を含む雰囲気下で成膜した酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜等の酸化物絶縁膜を用いることが好ましい。さらに、当該酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜上に、絶縁層213として、窒化シリコン膜などの酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層することが好ましい。酸素を含む雰囲気下で形成した酸化物絶縁膜は、加熱により多くの酸素を放出しやすい絶縁膜とすることができる。このような酸素を放出する酸化絶縁膜と、酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層した状態で、加熱処理を行うことにより、金属酸化物層231に酸素を供給することができる。その結果、金属酸化物層231中の酸素欠損、及び金属酸化物層231と絶縁層212の界面の欠陥を修復し、欠陥準位を低減することができる。これにより、極めて信頼性の高い表示装置を実現できる。
図8に示す表示装置300などを作製する場合、絶縁層213上に、着色層134を形成する。着色層134は、電極311bの開口451と重なるように配置する。着色層134は、上記の着色層131a及び着色層131bと同様の方法により形成することができる。
次に、絶縁層213上に絶縁層214を形成する(図17(B))。絶縁層214は、後に形成する表示素子の被形成面を有する層であるため、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層214は、絶縁層121に用いることのできる樹脂または無機絶縁膜を援用できる。
次に、絶縁層212、絶縁層213、及び絶縁層214に、トランジスタ205が有する導電層222bに達する開口を形成する。
次に、電極191を形成する(図17(B))。電極191は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。ここで、トランジスタ205が有する導電層222bと電極191とが接続する。電極191は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。
次に、電極191の端部を覆う絶縁層216を形成する(図17(B))。絶縁層216は、絶縁層121に用いることのできる樹脂または無機絶縁膜を援用できる。絶縁層216は、開口451と重なる部分に開口を有する。
次に、EL層192及び電極193を形成する(図17(B))。電極193は、その一部が発光素子170の共通電極として機能する。電極193は、可視光を反射する導電材料を用いて形成する。
EL層192は、蒸着法、塗布法、印刷法、吐出法などの方法で形成することができる。EL層192を画素毎に作り分ける場合、メタルマスクなどのシャドウマスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法等により形成することができる。EL層192を画素毎に作り分けない場合には、メタルマスクを用いない蒸着法を用いることができる。
EL層192には、低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。
EL層192の形成後に行う各工程は、EL層192にかかる温度が、EL層192の耐熱温度以下となるように行う。電極193は、蒸着法やスパッタリング法等を用いて形成することができる。
以上のようにして、発光素子170を形成することができる(図17(B))。発光素子170は、一部が画素電極として機能する電極191、EL層192、一部が共通電極として機能する電極193が積層された構成を有する。発光素子170は、発光領域が着色層134及び電極311bの開口451と重なるように作製する。
ここでは、発光素子170として、ボトムエミッション型の発光素子を作製する例を示したが、本発明の一態様はこれに限られない。
発光素子は、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型のいずれであってもよい。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。
次に、電極193を覆って絶縁層194を形成する(図17(B))。絶縁層194は、発光素子170に水などの不純物が拡散することを抑制する保護層として機能する。発光素子170は、絶縁層194によって封止される。電極193を形成した後、大気に曝すことなく、絶縁層194を形成することが好ましい。
絶縁層194は、例えば、上述した絶縁層121に用いることができる無機絶縁膜を適用することができる。特に、バリア性の高い無機絶縁膜が含むことが好ましい。また、無機絶縁膜と有機絶縁膜を積層して用いてもよい。
絶縁層194の成膜時の基板温度は、EL層192の耐熱温度以下の温度であることが好ましい。絶縁層194は、ALD法やスパッタリング法等を用いて形成することができる。ALD法及びスパッタリング法は低温成膜が可能であるため好ましい。ALD法を用いると絶縁層194のカバレッジが良好となり好ましい。
次に、絶縁層194の表面に、接着層142を用いて基板351を貼り合わせる(図17(C))。
接着層142には、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤等の各種硬化型接着剤を用いることができる。また、接着シート等を用いてもよい。
基板351には、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂(ナイロン、アラミド等)、ポリシロキサン樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂、ABS樹脂、セルロースナノファイバー等を用いることができる。基板351には、ガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。基板351には、可撓性を有する程度の厚さのガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。
次に、作製基板61を剥離する(図18(A))。
分離面は、絶縁層63、剥離層62、及び作製基板61等の材料及び形成方法等によって、様々な位置となり得る。
図18(A)では、剥離層62と絶縁層63との界面で分離が生じる例を示す。分離により、絶縁層63が露出する。
分離を行う前に、剥離層62に分離の起点を形成してもよい。例えば、剥離層62の一部または一面全体にレーザ光を照射してもよい。これにより、剥離層62を脆弱化させる、または剥離層62と絶縁層63(または作製基板61)との密着性を低下させることができる。
例えば、剥離層62に垂直方向に引っ張る力をかけることにより、作製基板61を剥離することができる。具体的には、基板351の上面の一部を吸着し、上方に引っ張ることにより、作製基板61を引き剥がすことができる。
剥離層62と絶縁層63(または作製基板61)との間に、刃物などの鋭利な形状の器具を差し込むことで分離の起点を形成してもよい。または、基板351側から鋭利な形状の器具で剥離層62を切り込み、分離の起点を形成してもよい。
次に、絶縁層63を除去する。例えば、ドライエッチング法などを用いて絶縁層63を除去することができる。これにより、電極311aが露出する(図18(B))。
絶縁層63と電極311aの間に絶縁膜を有する場合、当該絶縁膜を除去してもよいし、残してもよい。絶縁膜を除去する際は、ドライエッチング法などを用いることができる。
次に、露出した電極311aの表面に、配向膜133aを形成する(図19(A))。配向膜133aは、樹脂等の薄膜を成膜した後に、ラビング処理を行うことにより形成できる。
そして、図16(A)を用いて説明した工程が完了した基板361と、図19(A)までの工程が完了した基板351とを、液晶層112を挟んで貼り合わせる(図19(B))。図19(B)では示さないが、図7等に示すように、基板351と基板361とは接着層141で貼り合わされる。接着層141は、接着層142に用いることのできる材料を援用できる。
図19(B)に示す液晶素子180は、一部が画素電極として機能する電極311a(及び電極311b)、液晶層112、一部が共通電極として機能する電極113が積層された構成を有する。
基板361の外側の面には、偏光板135を配置する。
以上により、表示装置300を作製することができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。また、本実施の形態に示す複数の構成は、適宜組み合わせることができる。
(実施の形態2)
本実施の形態では、実施の形態1で説明した表示装置の、より具体的な構成例について図20〜図25を用いて説明する。
図20(A)は、先の実施の形態に示す表示装置300のブロック図である。表示装置300は、表示部362、回路GD、及び回路SDを有する。表示部362は、マトリクス状に配列した複数の画素410を有する。
表示装置300は、複数の配線G1、複数の配線G2、複数の配線G3、複数の配線ANO、複数の配線CSCOM、複数の配線S1、複数の配線S2、及び複数の配線S3を有する。複数の配線G1、複数の配線G2、複数の配線G3、複数の配線ANO、及び複数の配線CSCOMは、それぞれ、R方向に配列した複数の画素410及び回路GDと電気的に接続する。複数の配線S1、複数の配線S2、及び複数の配線S3は、それぞれ、C方向に配列した複数の画素410及び回路SDと電気的に接続する。
なお、ここでは簡単のために回路GDと回路SDを1つずつ有する構成を示したが、液晶素子を駆動する回路GD及び回路SDと、発光素子を駆動する回路GD及び回路SDとを、別々に設けてもよい。
画素410は、実施の形態1に示す構成を参酌すればよい。
回路GDには、シフトレジスタ等の様々な順序回路等を用いることができる。回路GDには、トランジスタ及び容量素子等を用いることができる。回路GDが有するトランジスタは、画素410に含まれるトランジスタと同じ工程で形成することができる。
回路SDには、例えば、集積回路を用いることができる。具体的には、回路SDには、シリコン基板上に形成された集積回路を用いることができる。
例えば、COG方式またはCOF方式等を用いて、画素410と電気的に接続されるパッドに回路SDを実装することができる。具体的には、異方性導電膜を用いて、パッドに集積回路を実装できる。
図21は、画素410の回路図の一例である。図21では、図5などに示す発光素子を3個有する画素410を示している。画素410は、第1の画素410L、画素410Ea、画素410Eb、および画素410Ecを有する。第1の画素410Lは液晶素子180を、画素410Eaは発光素子170aを、画素410Ebは発光素子170bを、画素410Ecは発光素子170cを、有する。ここで、画素410Ea、画素410Eb、および画素410Ecは、それぞれ図1(B)に示す第2の画素410Eの副画素として機能する。
第1の画素410Lは、スイッチSW1、容量素子C1、および液晶素子180等を有する。また、画素410Ea乃至画素410Ecは、発光素子170a乃至発光素子170cのいずれか、スイッチSW2、トランジスタM、容量素子C2、および容量素子C3等を有する。また、画素410には、配線G1、配線G2、配線G3、配線ANO、配線CSCOM1、配線CSCOM2、配線S1、配線S2、及び配線S3が電気的に接続されている。また、図21では、液晶素子180と電気的に接続する配線VCOM1、及び発光素子170a乃至発光素子170cと電気的に接続する配線VCOM2を示している。また、容量素子C1は、図1などに示す容量素子270に対応し、配線CSCOM1は、図1などに示す電極312に対応する。
図21では、スイッチSW1及びスイッチSW2にトランジスタを用いた場合の例を示している。
次に、第1の画素410Lにおける、各素子及び配線の接続関係について説明する。スイッチSW1のゲートは、配線G1と接続されている。スイッチSW1のソース及びドレインのうち一方は、配線S1と接続され、他方は、容量素子C1の一方の電極、及び液晶素子180の一方の電極と接続されている。容量素子C1の他方の電極は、配線CSCOM1と接続されている。液晶素子180の他方の電極が配線VCOM1と接続されている。
次に、画素410Eaにおける、各素子及び配線の接続関係について説明する。スイッチSW2のゲートは、配線G3と接続されている。スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方は、配線S2と接続され、他方は、容量素子C2の一方の電極、容量素子C3の一方の電極、及びトランジスタMのゲートの一方と接続されている。容量素子C2の他方の電極は、トランジスタMのソースまたはドレインの一方、及び配線ANOと接続されている。容量素子C3の他方の電極は、配線CSCOM2と接続されている。トランジスタMのソースまたはドレインの他方は、発光素子170aの一方の電極、及びトランジスタMのゲートの他方と接続されている。発光素子170aの他方の電極は、配線VCOM2と接続されている。
画素410Ebは、スイッチSW2のゲートが、配線G2と接続され、スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方が、配線S3と接続されている点において、画素410Eaと異なる。画素410Ecは、スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方が、配線S3と接続されている点において、画素410Eaと異なる。
配線G1には、スイッチSW1を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM1には、所定の電位を与えることができる。配線S1には、液晶素子180が有する液晶の配向状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOM1には、所定の電位を与えることができる。
配線G2および配線G3には、スイッチSW2を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM2及び配線ANOには、発光素子170a乃至発光素子170cが発光する電位差が生じる電位をそれぞれ与えることができる。配線S2及び配線S3には、トランジスタMの導通状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOM2には、所定の電位を与えることができる。
図21に示す画素410は、例えば第1のモードの表示を行う場合には、配線G1及び配線S1に与える信号により第1の画素410Lを駆動し、液晶素子180による光学変調を利用して表示することができる。また、第2のモードで表示を行う場合には、配線G2、配線G3、配線S2及び配線S3に与える信号により画素410Ea乃至画素410Ecを駆動し、発光素子170a乃至発光素子170cを発光させて表示することができる。また第3のモードで駆動する場合には、配線G1、配線G2、配線G3、配線S1、配線S2、及び配線S3のそれぞれに与える信号により駆動することができる。
また、図21に示す回路とは異なる回路について、図22に示す回路図を用いて説明する。図22に示す回路は、トランジスタMのゲートの一方とゲートの他方とが接続されている点、トランジスタMのソースまたはドレインの他方が、トランジスタMのゲートの他方と接続されていない点、容量素子C3が設けられていない点、配線ANOが、C方向に配列している点、において、図21に示す回路と異なる。
トランジスタMでは、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。このように2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することにより、他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、高速駆動が可能な回路を作製することができる。さらには、回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示装置を大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することができる。
また、図22に対応する画素410の上面図を、図23(A)(B)に示す。図23(A)の層構造は、図7などに対応している。なお、図23(A)が煩雑にならないように、配線G1〜G3などに対応する層は、枠線を点線で、ハッチングをより下層のハッチングを透過させて表示している。また、図23(A)で、液晶素子180の画素電極として機能する電極311は点線で、配線CSCOM1(電極312)は一点鎖線で示す。また、図23(B)は、図23(A)に示す、電極311、電極312、電極191a、電極191b、および電極191cを抜き出したものである。
図23(A)では、発光素子170a乃至発光素子170cの画素電極として機能する、電極191a乃至電極191c(図7の電極191に対応。)と、配線S1乃至配線S2、配線ANOなどと同じ層である電極218と、トランジスタMのゲートとして機能する導電層223と、トランジスタM、スイッチ1、及びスイッチ2のソース又はドレイン、配線S3などと同じ層である導電層222(図7の導電層222a、導電層222bに対応。)と、トランジスタM、スイッチ1、及びスイッチ2の金属酸化物層231と、トランジスタM、スイッチ1、及びスイッチ2のゲート、配線G1乃至配線G3と同じ層である導電層221(図7の導電層221a、導電層221bに対応。)と、配線OSCOM1の一部として機能する電極312と、液晶素子180の画素電極として機能する電極311(図7の電極311bに対応。)と、を示す。
例えば、発光素子170aは青色(B)、発光素子170bは赤色(R)、発光素子170cは緑色(G)、を呈する発光素子を用いればよい。
また、図23(A)(B)に示すように、電極311は接続部207を介してスイッチ1と接続され、電極191aは接続部208aを介して画素410EaのトランジスタMと接続され、電極191bは接続部208bを介して画素410EbのトランジスタMと接続され、電極191cは接続部208cを介して画素410EcのトランジスタMと接続される。
図23(B)に示すように、電極311と電極312が重なる部分が図22に示す容量素子C1(図7の容量素子270に対応。)を形成する。ここで、電極311は、電極191a乃至電極191cと重ならない領域を有するように設けられる。図23(B)では、電極311に切欠きを設けて電極191a乃至電極191cの大部分を露出させている。これにより、発光素子170a乃至発光素子170cの光を電極311にほとんど遮られずに取り出すことができる。ただし、電極191a乃至電極191cは、接続部208a乃至接続部208cにおいて、正確な色を発光しにくいので、接続部208a乃至接続部208cの上に重ねて電極311を設けている。これにより、反射型液晶として機能する液晶素子180の表示面積を広げることができる。
また、図23(B)に示すように、電極312は、電極311の接続部207と重ならないように設けられる。また、電極312は、電極191a乃至電極191cと重ならない領域を有するように設けられる。これにより、発光素子170a乃至発光素子170cの光を電極312にほとんど遮られずに取り出すことができる。
なお、電極191a乃至電極191cの接続部208a乃至接続部208cの近傍とできるだけ重ならないように電極312を設けることが好ましい。図7などに示すように、電極312は、接続部208a乃至接続部208c近傍では、導電層222b及び電極191との距離が近く、トランジスタMのソース側(電極311側)に寄生容量が形成されやすい。また、本実施の形態に示す、画素410には多くの素子を設ける必要があり、図23(A)に示すように、容量素子C2の占める面積は小さく、画素410の駆動は上記寄生容量の影響を受けやすい。このため、上記寄生容量を低減するため、接続部208a乃至接続部208cの近傍とできるだけ重ならないように電極312を設けることが好ましい。
なお、上記において、発光素子170aは青色(B)、発光素子170bは赤色(R)、発光素子170cは緑色(G)、を呈する発光素子を用いるとしたが、本実施の形態は、これに限られるものではない。例えば、発光素子170aは緑色(G)、発光素子170bは青色(B)、発光素子170cは赤色(R)、を呈する発光素子を用いることもできる。また、例えば、発光素子170aは赤色(R)、発光素子170bは緑色(G)、発光素子170cは青色(B)、を呈する発光素子を用いることもできる。
また、図24に、図23(B)に示す画素410を、マトリクス状に3×3個配置(以下、画素410(1,1)乃至画素410(3,3)とする。)した上面図を示す。図23(B)では、電極312に切欠きを設けるように図示したが、図24に示すように、電極312を隣り合う画素同士で一体化して、各画素の間に開口を設けるようにしてもよい。
このとき、図24に示すように、隣接する画素同士で同じ色の光を発光する発光素子170(電極191及びEL層192)が近接して配置することが好ましい。例えば、図24では、画素410(1,1)、画素410(1,2)、画素410(2,1)、画素410(2,2)、画素410(3,1)、および画素410(3,2)の発光素子170aの電極191aが近接してC方向に配列されている。また、画素410(1,2)、画素410(1,3)、画素410(2,2)、および画素410(2,3)の発光素子170bの電極191bが近接して配置されている。また、画素410(2,2)、画素410(2,3)、画素410(3,2)、および画素410(3,3)の発光素子170cの電極191cが近接して配置されている。
このように、隣接する画素同士で同じ色の光を発光する発光素子170を近接して配置することで、同じ色の光を発光する発光素子170のEL層192をまとめて形成することができる。よって、発光素子170aと発光素子170bの距離、発光素子170aと発光素子170cの距離、および発光素子170bと発光素子170cの距離を十分大きくすることができるので、解像度の高いパネルにおいても容易に発光素子170を作り分けることができる。また、表示装置のコントラストを高めることができる。
また、図22乃至図24に示す表示装置を、上記構成例4で図14及び図15に図示したように、液晶素子180でフルカラー表示を行う構成にしてもよい。例えば、画素410(2,2)、画素410(2,3)、画素410(3,2)、および画素410(3,3)において、画素410(2,2)の液晶素子180が青色(B)を呈し、画素410(2,3)の液晶素子180が赤色(R)を呈し、画素410(3,2)の液晶素子180が緑色(G)を呈し、画素410(3,3)の液晶素子180が白色(W)を呈するように、液晶素子180の上に各種着色層を設ければよい。
この場合、青色の光を透過する着色層を、画素410(2,2)の電極311及び電極191a、画素410(2,1)の電極191a、画素410(3,1)の電極191aと重なるように設けることが好ましい。また、赤色の光を透過する着色層を、画素410(2,3)の電極311及び電極191b、画素410(1,2)の電極191b、画素410(1,3)の電極191b、画素410(2,2)の電極191b、と重なるように設けることが好ましい。また、緑色の光を透過する着色層を、画素410(3,2)の電極311及び電極191c、画素410(2,2)の電極191c、画素410(2,3)の電極191c、画素410(3,3)の電極191c、と重なるように設けることが好ましい。また、画素410(3,3)の電極311の上には着色層を設けなくてよい。
ここで、画素410(2,2)に注目すると、電極311及び電極191aの上に設けられた青色の光を透過する着色層は、図14に示す着色層131aに対応し、電極191bの上に設けられた赤色の光を透過する着色層、及び電極191cの上に設けられた緑色の光を透過する着色層は、図14に示す着色層131bに対応する。なお、図24に示す構成においては、図14に示す着色層134を設ける必要はない。
このような構成にすることで、画素410(2,2)、画素410(2,3)、画素410(3,2)、および画素410(3,3)を合わせて、それぞれの画素が液晶素子180を用いた副画素として機能する、1個のフルカラー表示の画素とみなすことができる。
また、図25は、画素410の回路図の一例である。図25では、図6などに示す発光素子を4個有する画素410を示している。画素410は、第1の画素410L、画素410Ea、画素410Eb、画素410Ec、および画素410Edを有する。第1の画素410Lは液晶素子180を、画素410Eaは発光素子170aを、画素410Ebは発光素子170bを、画素410Ecは発光素子170cを、画素410Edは発光素子170dを、有する。ここで、画素410Ea、画素410Eb、画素410Ec、および画素410Edは、それぞれ第2の画素410Eの副画素として機能する。
第1の画素410Lは、スイッチSW1、容量素子C1、および液晶素子180等を有する。また、画素410Ea乃至画素410Edは、発光素子170a乃至発光素子170dのいずれか、スイッチSW2、トランジスタM、および容量素子C2等を有する。また、画素410には、配線G1、配線G2、配線G3、配線ANO、配線CSCOM、配線S1、配線S2、及び配線S3が電気的に接続されている。また、図25では、液晶素子180と電気的に接続する配線VCOM1、及び発光素子170a乃至発光素子170dと電気的に接続する配線VCOM2を示している。
図25では、スイッチSW1及びスイッチSW2にトランジスタを用いた場合の例を示している。
第1の画素410Lの構成は、図21に示す第1の画素410Lと同様である。
次に、画素410Eaにおける、各素子及び配線の接続関係について説明する。スイッチSW2のゲートは、配線G2と接続されている。スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方は、配線S2と接続され、他方は、容量素子C2の一方の電極、及びトランジスタMのゲートと接続されている。容量素子C2の他方の電極は、トランジスタMのソースまたはドレインの一方、及び配線ANOと接続されている。トランジスタMのソースまたはドレインの他方は、発光素子170aの一方の電極と接続されている。発光素子170aの他方の電極は、配線VCOM2と接続されている。図25では、トランジスタMが半導体を挟む2つのゲートを有し、これらが接続されている例を示している。これにより、トランジスタMが流すことのできる電流を増大させることができる。
画素410Ebは、スイッチSW2のゲートが、配線G3と接続されている点において、画素410Eaと異なる。画素410Ecは、スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方が、配線S3と接続されている点において、画素410Eaと異なる。画素410Edは、スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方が、配線S3と接続されている点において、画素410Ebと異なる。
配線G2および配線G3には、スイッチSW2を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM2及び配線ANOには、発光素子170a乃至発光素子170dが発光する電位差が生じる電位をそれぞれ与えることができる。配線S2及び配線S3には、トランジスタMの導通状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOM2には、所定の電位を与えることができる。
図25に示す画素410は、例えば第1のモードの表示を行う場合には、配線G1及び配線S1に与える信号により第1の画素410Lを駆動し、液晶素子180による光学変調を利用して表示することができる。また、第2のモードで表示を行う場合には、配線G2、配線G3、配線S2及び配線S3に与える信号により画素410Ea乃至画素410Edを駆動し、発光素子170a乃至発光素子170dを発光させて表示することができる。また第3のモードで駆動する場合には、配線G1、配線G2、配線G3、配線S1、配線S2、及び配線S3のそれぞれに与える信号により駆動することができる。
図25に示す例では、例えば4つの発光素子170a乃至発光素子170dに、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、及び白色(W)を呈する発光素子を用いることができる。また液晶素子180として、白色を呈する反射型の液晶素子を用いることができる。これにより、第1のモードの表示を行う場合には、反射率の高い白色の表示を行うことができる。また第2のモードで表示を行う場合には、演色性の高い表示を低い電力で行うことができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。また、本実施の形態に示す複数の構成は、適宜組み合わせることができる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様で開示されるトランジスタに用いることができるCAC(Cloud−Aligned Composite)−OSの構成について説明する。
CAC−OSとは、例えば、酸化物半導体を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、酸化物半導体において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。
なお、酸化物半導体は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウムおよび亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれていてもよい。
例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OS(CAC−OSの中でもIn−Ga−Zn酸化物を、特にCAC−IGZOと呼称してもよい。)とは、インジウム酸化物(以下、InOX1(X1は0よりも大きい実数)とする。)、またはインジウム亜鉛酸化物(以下、InX2ZnY2OZ2(X2、Y2、およびZ2は0よりも大きい実数)とする。)と、ガリウム酸化物(以下、GaOX3(X3は0よりも大きい実数)とする。)、またはガリウム亜鉛酸化物(以下、GaX4ZnY4OZ4(X4、Y4、およびZ4は0よりも大きい実数)とする。)などと、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のInOX1、またはInX2ZnY2OZ2が、膜中に均一に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。
つまり、CAC−OSは、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合酸化物半導体である。なお、本明細書において、例えば、第1の領域の元素Mに対するInの原子数比が、第2の領域の元素Mに対するInの原子数比よりも大きいことを、第1の領域は、第2の領域と比較して、Inの濃度が高いとする。
なお、IGZOは通称であり、In、Ga、Zn、およびOによる1つの化合物をいう場合がある。代表例として、InGaO3(ZnO)m1(m1は自然数)、またはIn(1+x0)Ga(1−x0)O3(ZnO)m0(−1≦x0≦1、m0は任意数)で表される結晶性の化合物が挙げられる。
上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはCAAC構造を有する。なお、CAAC構造とは、複数のIGZOのナノ結晶がc軸配向を有し、かつa−b面においては配向せずに連結した結晶構造である。
一方、CAC−OSは、酸化物半導体の材料構成に関する。CAC−OSとは、In、Ga、Zn、およびOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。従って、CAC−OSにおいて、結晶構造は副次的な要素である。
なお、CAC−OSは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Inを主成分とする膜と、Gaを主成分とする膜との2層からなる構造は、含まない。
なお、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。
なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、CAC−OSは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。
CAC−OSは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、及び窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。また、成膜には、例えば、In−Ga−Zn酸化物ターゲット(In:Ga:Zn=4:2:4.1[原子数比])を用いればよい。
上記ターゲットを用いて、基板温度を100℃以上130℃以下として、スパッタリング法により形成した酸化物半導体をsIGZOと呼称し、上記ターゲットを用いて、基板温度を室温(R.T.)として、スパッタリング法により形成した酸化物半導体をtIGZOと呼称する。例えば、sIGZOは、nc(nano crystal)及びCAACのいずれか一方または双方の結晶構造を有する。また、tIGZOは、ncの結晶構造を有する。なお、ここでいう室温(R.T.)とは、基板を意図的に加熱しない場合の温度を含む。
CAC−OSは、X線回折(XRD:X−ray diffraction)測定法のひとつであるOut−of−plane法によるθ/2θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、X線回折から、測定領域のa−b面方向、およびc軸方向の配向は見られないことが分かる。
またCAC−OSは、プローブ径が1nmの電子線(ナノビーム電子線ともいう。)を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域と、該リング領域に複数の輝点が観測される。従って、電子線回折パターンから、CAC−OSの結晶構造が、平面方向、および断面方向において、配向性を有さないnc(nano−crystal)構造を有することがわかる。
また例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。
CAC−OSは、金属元素が均一に分布したIGZO化合物とは異なる構造であり、IGZO化合物と異なる性質を有する。つまり、CAC−OSは、GaOX3などが主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。
ここで、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域は、GaOX3などが主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、酸化物半導体としての導電性が発現する。従って、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域が、酸化物半導体中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。
一方、GaOX3などが主成分である領域は、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、GaOX3などが主成分である領域が、酸化物半導体中に分布することで、オフ電流を低減し、良好なスイッチング動作を実現できる。
従って、CAC−OSを半導体素子に用いた場合、GaOX3などに起因する絶縁性と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、低いオフ電流、高いオン電流(Ion)、および高い電界効果移動度(μ)を実現することができる。
また、CAC−OSを用いた半導体素子は、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、ディスプレイをはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、液晶層を有する表示装置に好適に用いることのできる、液晶層の物性等について説明を行う。なお、本実施の形態では、液晶層の焼き付き、液晶層の双極子モーメント、画素のレイアウトによる表示装置の反射率、液晶層中のカイラル材添加による表示装置の反射率等について、詳細に説明する。
<1.誘電率の異方性について>
まず、液晶層の誘電率の異方性について、図26を用いて説明を行う。
本実施の形態においては、液晶層に用いる材料として、誘電率の異方性が異なる2つの材料を用いる場合の表示装置の焼き付きについて説明する。
1つ目の表示装置としては、液晶層に誘電率の異方性が3.85である液晶材料(Material 1)を用い、2つ目の表示装置としては、液晶層に誘電率の異方性が2.2である液晶材料(Material 2)を用いる。
なお、表示装置の焼き付きの評価方法としては、連続して中間調を表示(Half Tone→Half Tone)した際の階調に対する白表示後の中間調表示(White→Half Tone)と、連続して中間調を表示した際の階調に対する黒表示後の中間調表示(Black→Half Tone)と、の階調のずれを測定する。図26に、白黒表示後の階調変化の結果を示す。なお、図26において、縦軸が中間階調(グレイレベル)変化を、横軸が中間調の書き込みからの時間を、それぞれ表す。
図26に示す結果より、誘電率の異方性が3.85である液晶材料(Material 1)ではWhite→Half Toneと、Black→Half Toneとで、7.2階調のずれがあることがわかる。一方で、誘電率の異方性が2.2である液晶材料(Material 2)ではWhite→Half Toneと、Black→Half Toneとで、1.4階調のずれであることがわかる。なお、図26において、誘電率の異方性が2.2である液晶材料(Material 2)の連続して中間調を表示(Half Tone→Half Tone)した際のデータは、白表示後の中間調表示(White→Half Tone)のデータと概ね重なって表示されている。
図26に示す結果より、液晶層に誘電率の異方性が低い材料を用いることで階調のずれを抑制できることがわかる。
なお、同一静止画像における階調値のずれとして許容できる範囲とは、例えば、256段階の透過率を制御して画像を表示する場合、0階調以上3階調以下のずれをいう。同一静止画像における階調値のずれとして0階調以上3階調以下の階調値のずれであれば、視認者がフリッカーを知覚しづらいものとなる。また、別の例としては、1024段階と透過率を制御して画像を表示する場合、0階調以上12階調以下のずれをいう。すなわち、同一静止画像における階調値のずれとして許容できる範囲は、表示する最大階調数の1%以上1.2%以下が好適である。
<2.双極子モーメントについて>
次に、液晶層の双極子モーメントについて、図27を用いて説明を行う。
図27に示すグラフは、双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする分子を有する液晶層の一例として、分子の双極子モーメントと比抵抗の関係を示している。
図27に示すグラフの縦軸は、分子の双極子モーメント(Dipole moment)を示すものである。図27の値の測定にあたり、液晶層は母体液晶と、それに添加する添加材料を混合して構成する。双極子モーメントは添加材料の分子の双極子モーメントである。図27に示す横軸は液晶層、すなわち母体液晶と、添加材料との、混合物の比抵抗(Resistivity)を示すものである。母体液晶と、添加材料との混合比は、混合材料全体に対して添加材料が20重量%となるように混合する。以下、母体液晶と、添加材料の混合物を「混合液晶」と表す。図27の各点は、母体液晶に添加する添加材料の種類を変え、添加材料の種類ごとに添加材料の分子の双極子モーメントと、添加材料を添加した各混合液晶の比抵抗の関係を示したものである。
図27では、添加材料の分子の双極子モーメントの値の減少に伴い、混合液晶の比抵抗値が増加する。別言すると、添加材料の双極子モーメントが大きいと比抵抗が減少する。
図27より、添加材料の分子の双極子モーメントが3デバイ以下の混合液晶は比抵抗値が1.0×1014Ω・cm以上である。添加材料の分子の双極子モーメントが小さければ比抵抗値が大きくなる。例えば、分子構造が、分子の中心に対して対称である場合は電荷分布に偏りがないので双極子モーメントが0になる。このため、本発明の一態様の表示装置として、添加材料の分子の永久双極子モーメントは0デバイ以上、3デバイ以下であることが好ましく、さらに比抵抗が1.0×1014Ω・cm以上とすると好ましい。
<3.双極子モーメントと液晶層の動作との関係の説明>
ここで、双極子モーメントと液晶層の動作との関係について説明する。異なる種類の原子からなる分子の場合、それぞれの原子の電気陰性度は異なっているのが通常であり、これらが結合して分子になると、電気陰性度の差から分子の内部で電荷の分布に偏りが生じる。この偏りの量を定量的に示す量が双極子モーメントである。なお、分子内部で電荷が偏っているものは、永久双極子モーメントを持つ、という言い方をする場合もある。
電荷の偏りを、極性の異なる点電荷+q、−qが距離lだけ離れている状態として模式的に表した場合、積qlが双極子モーメントとなる。単位は電荷と長さの積であるC・m(クーロン・メートル)である。
双極子モーメントは「デバイ」で表される。「デバイ」は場合によっては、「デバイ単位」、または「debye」、またはアルファベットで「D」、またはアルファベットで「DU」と示すこともある。デバイとSI単位との関係を式(1)に示す。式(1)からも分かるように、SI単位を用いると非常に小さい値になる。分子の双極子モーメントは1デバイ程度の大きさになるのが一般的なので、双極子モーメントの大きさを示す場合はデバイ単位を用いるのが一般的である。本明細書でも双極子モーメントの大きさはデバイで示すが、式(1)の関係式を用いればSI単位に変換が可能である。
1デバイ=3.33564×10−30C・m(1)
液晶層に関しては、液晶層を構成する分子(以下、液晶分子と表す)は複数の異なる原子が化合して得られる化合物であり、このため、液晶分子の内部で電荷の分布に偏りがあり、その結果、双極子モーメントを有する。
表示装置に適した液晶層の液晶分子の形状の一例として、棒状形状がある。また、液晶層は誘電体であり、液晶層の誘電率は、棒状形状の液晶分子の配列方向によって異なる誘電率異方性を示す。
例えば、分子内部におけるシアノまたはハロゲンといった電子吸引性基あるいは電子供与性基が、誘電率異方性の発現に寄与している。誘電率異方性は、電場等の外場に対する液晶分子の動作の応答性に直接関係する特性である。例えば、誘電率異方性を大きくするため、電子吸引性基の量を増加させると、電荷の偏り、すなわち双極子モーメントが過剰に大きくなり、イオン性の不純物を取り込みやすくなる。液晶層のイオン性の不純物濃度が高まると、液晶層でのイオン伝導が生じやすくなり、液晶層の電圧保持率が低下する。したがって、双極子モーメントを小さくするように、液晶層の材料を選択することが好ましい。
上述したように分子の双極子モーメントが3デバイを超えると、液晶層に含まれる不純物の影響が顕著になる。当該不純物が液晶層に残留することで、液晶層の比抵抗が下がることで液晶層の導電率が増大し、表示装置のリフレッシュレートを低減する場合に、画素に書き込んだ電圧を保持することが困難になる。
液晶層が有する分子の双極子モーメントが低いと、液晶層中の不純物の量を低減することができるため、液晶層の導電率を低減できる。そのため、液晶層が有する分子の双極子モーメントが低い方が、リフレッシュレートを低減する場合に画素に書き込んだ電圧をより長く保持することができる点で有利である。
しかしながら、液晶層が有する分子の双極子モーメントを単純に小さくすると、電界との相互作用が小さくなる傾向が生じる場合がある。この場合、液晶層に電界を加えた場合に、液晶層の応答が遅くなるため、高速動作を促すために駆動電圧を高く設定する必要がある。そのために消費電力の低減を目的として、リフレッシュレートを低減する液晶層の構成としては、望ましくない。特に、リフレッシュレートを低減する駆動から動画表示を行うためにリフレッシュレートを増大する方に切り替えた場合に、駆動電圧が大きいと液晶表示装置全体で消費電力の増加が著しくなり、好ましくない。
したがって、本実施の形態における一態様として、液晶層が有する分子の双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする構成が好適である。液晶層が有する分子の双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする構成は、液晶層に含まれる不純物の割合を低減できるとともに、動画表示を行う際の消費電力の増大を伴うことなく、液晶層の駆動電圧を好ましい範囲に設定することが可能である。
なお、液晶層が有する分子の双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする場合、消費電力の増大を伴わない範囲において、液晶層の駆動電圧を高く設定することが好適である。液晶層の駆動電圧が高いと、階調値のずれに対する許容範囲が増える。つまり駆動電圧が高い分、電圧変化分に対する階調値のずれが少ない分だけフリッカーを低減できる。
なお、液晶層が有する分子の双極子モーメントは、0デバイ以上3デバイ以下とする構成について説明したが、好ましくは、0デバイ以上2.5デバイ以下である。また、より好ましくは0デバイ以上1.8デバイ以下である。
以上説明したように、液晶層に含まれる分子の双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする構成とすることで、同一静止画像における階調値のずれとして許容できる範囲に収めることができ、フリッカーを抑制することができる。その結果、表示品位の向上を図ることができる。
また、液晶層が有する分子の双極子モーメントを0デバイ以上3デバイ以下とする構成に、リフレッシュレートを切り替えて動画表示及び静止画表示を切り替える駆動を組み合わせると好適である。リフレッシュレートを切り替えて駆動を行う液晶表示装置は、動画表示から静止画表示に切り替える際、フレーム周波数60Hzから、1Hz以下好ましくは0.2Hz以下に切り替えて、消費電力を低減する。
リフレッシュレートを切り替えて表示を行う表示装置では、動画表示時及び静止画表示時において消費電力の低減及び表示品位の低下を防ぐことが望ましい。静止画表示時においてリフレッシュレートを低減すると、画素に電圧を書き込む間隔が開くことになる。言い換えれば、静止画表示時においてリフレッシュレートを低減すると、一定期間、画素に電圧を書き込まれない期間が存在することとなる。
そのため、静止画表示時におけるリフレッシュレートを低減する駆動の場合、一旦画素に書き込んだ電圧を一定の値で保持できるかが重要となる。加えて、動画表示時におけるリフレッシュレートを高くして駆動する場合、フレーム周波数が高くなることを考慮して、駆動電圧を低く設定し、消費電力の低減を図ることが重要となる。
<4.表示装置の画素のレイアウトによる反射率について>
次に、図28及び図29を用いて、表示装置の画素のレイアウトによる反射率について説明を行う。
図28(A)(B)は、表示装置の画素を説明する上面図である。
図28(A)は、画素950Aの上面図を表している。画素950Aは、副画素952RG、952RB、952RR、及び副画素952EG、952EB、952ERを有する。副画素952RG、952RB、952RRは、それぞれ、外光を反射する機能を有する。また、副画素952EG、952EB、952ERは、可視光を射出する機能を有する。
また、副画素952RGは、赤色を反射する機能を有し、副画素952RBは、青色を反射する機能を有し、副画素952RGは、緑色を反射する機能を有する。また、副画素952EGは、緑色を射出する機能を有し、副画素952EBは、青色を射出する機能を有し、副画素952ERは、赤色を射出する機能を有する。
また、図28(B)は、画素950Bの上面図を表している。画素950Bは、副画素954RG、954RB、954RR、954RW、及び副画素954EG、954EB、954ER、954RWを有する。画素950Bは、副画素954RG、954RB、954RR、954RWは、それぞれ、外光を反射する機能を有する。また、副画素954EG、954EB、954ER、954RWは、可視光を射出する機能を有する。
また、副画素954RGは、赤色を反射する機能を有し、副画素954RBは、青色を反射する機能を有し、副画素954RGは、緑色を反射する機能を有し、副画素954RWは、白色を反射する機能を有する。また、副画素952EGは、緑色を射出する機能を有し、副画素952EBは、青色を射出する機能を有し、副画素952ERは、赤色を射出する機能を有し、副画素952EWは、白色を射出する機能を有する。
画素950Bは、画素950Aと比較して、副画素954RW及び副画素952EWを有する点が大きく異なる。
また、画素950Aにおける、副画素952RGと、副画素952RBと、副画素952RRと、を合わせた面積(反射開口率ともいう)は、76%である。また、画素950Bにおける、副画素954RGと、副画素954RBと、副画素954RRと、副画素954RWと、を合わせた面積(反射開口率ともいう)は、57%である。
次に、図28(A)に示す画素950A、及び図28(B)に示す画素950Bに相当する画素を有する表示装置を、それぞれ作製し、その後当該表示装置の反射率を測定した結果を図29に示す。なお、図29において、横軸が反射開口率を、縦軸が反射率を、それぞれ表す。また、図29において、反射率100%の場合は、標準白色板を用いる構成を、反射率100%とする。
図29に示すように、画素950Aと比較し、画素950Bの方が反射率は高い。これは、副画素の配置などの影響もあるが、副画素954RW、すなわち白色を反射する機能を有する副画素を設けることによる効果と推定される。
<5.表示装置>
次に、図30を用いて、液晶層中のカイラル材添加による表示装置の反射率について、説明を行う。
まず、液晶のねじれについて、以下説明を行う。ここでは、液晶の旋光性を利用するTNモードについて説明する。
TNモードでは、一対の基板間の液晶分子は90°ねじれた初期配向である。液晶分子の回転方向を一意に決めるため、液晶材料に対してねじれを誘起するカイラル材を混合させる場合がある。一方で、カイラル材を用いない場合には逆方向のねじれが発生し、2方向のねじれが混在してしまい、ディスクリネーションが発生する場合がある。
ここで、液晶材料中にカイラル材を添加した液晶層を有する表示装置960と、液晶材料中にカイラル材を添加しない液晶層を有する表示装置962と、を想定し、表示装置960及び表示装置962に対して反射率の計算を行った結果について説明する。
表示装置960及び表示装置962の反射率の計算結果を、図30に示す。なお、表示装置960及び表示装置962は、共に反射型の液晶表示装置とする。また、図30において、横軸が電圧を、縦軸が規格化反射率を、それぞれ表す。
図30に示すように、液晶層中にカイラル材を添加しない液晶層を有する表示装置962は、液晶層中にカイラル材を添加した液晶層を有する表示装置960と比較し、規格化反射率が概略20%向上していることが分かる。したがって、反射型の液晶表示装置の反射率を向上させたい場合においては、液晶層中にカイラル材を含まない構成の方が好ましい。ただし、カイラル材を用いない場合においては、ディスクリネーションが発生する可能性がある。例えば、カイラル材を用いない場合においては、ディスクリネーションの発生を抑制するために、配向膜中にカイラル材を添加してもよい。
本実施の形態に示す構成は、他の実施の形態に示す構成と適宜組み合わせて用いることができる。
(実施の形態5)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示モジュール及び電子機器について説明する。
図31(A)に示す表示モジュール8000は、上部カバー8001と下部カバー8002との間に、FPC8005に接続された表示パネル8006、フレーム8009、プリント基板8010、及びバッテリ8011を有する。なお、プリント基板を回路基板と呼ぶ場合がある。
例えば、先の実施の形態に示す表示装置を、表示パネル8006に用いることができる。これにより、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示モジュールとすることができる。さらに、消費電力の低い表示モジュールとすることができる。
上部カバー8001及び下部カバー8002は、表示パネル8006のサイズに合わせて、形状や寸法を適宜変更することができる。
また、表示パネル8006に重ねてタッチパネルを設けてもよい。タッチパネルとしては、抵抗膜方式または静電容量方式のタッチパネルを表示パネル8006に重畳して用いることができる。また、タッチパネルを設けず、表示パネル8006に、タッチパネル機能を持たせるようにすることも可能である。
フレーム8009は、表示パネル8006の保護機能の他、プリント基板8010の動作により発生する電磁波を遮断するための電磁シールドとしての機能を有する。またフレーム8009は、放熱板としての機能を有していてもよい。
プリント基板8010は、電源回路、ビデオ信号及びクロック信号を出力するための信号処理回路を有する。電源回路に電力を供給する電源としては、外部の商用電源であっても良いし、別途設けたバッテリ8011による電源であってもよい。バッテリ8011は、商用電源を用いる場合には、省略可能である。
また、表示モジュール8000は、偏光板、位相差板、プリズムシートなどの部材を追加して設けてもよい。
図31(B)は、光学式のタッチセンサを備える表示モジュール8000の断面概略図である。
表示モジュール8000は、プリント基板8010に設けられた発光部8015及び受光部8016を有する。また、上部カバー8001と下部カバー8002により囲まれた領域に一対の導光部(導光部8017a、導光部8017b)を有する。
表示パネル8006は、フレーム8009を間に介してプリント基板8010やバッテリ8011と重ねて設けられている。表示パネル8006とフレーム8009は、導光部8017a、導光部8017bに固定されている。
発光部8015から発せられた光8018は、導光部8017aにより表示パネル8006の上部を経由し、導光部8017bを通って受光部8016に達する。例えば指やスタイラスなどの被検知体により、光8018が遮られることにより、タッチ操作を検出することができる。
発光部8015は、例えば表示パネル8006の隣接する2辺に沿って複数設けられる。受光部8016は、発光部8015と表示パネル8006を挟んで対向する位置に複数設けられる。これにより、タッチ操作がなされた位置の情報を取得することができる。
発光部8015は、例えばLED素子などの光源を用いることができる。特に、発光部8015として、使用者に視認されず、且つ使用者にとって無害である赤外線を発する光源を用いることが好ましい。
受光部8016は、発光部8015が発する光を受光し、電気信号に変換する光電素子を用いることができる。好適には、赤外線を受光可能なフォトダイオードを用いることができる。
導光部8017a、導光部8017bとしては、少なくとも光8018を透過する部材を用いることができる。導光部8017a及び導光部8017bを用いることで、発光部8015と受光部8016とを表示パネル8006の下側に配置することができ、外光が受光部8016に到達してタッチセンサが誤動作することを抑制できる。特に、可視光を吸収し、赤外線を透過する樹脂を用いることが好ましい。これにより、タッチセンサの誤動作をより効果的に抑制できる。
本発明の一態様により、消費電力の低減された電子機器を作製できる。電子機器としては、例えば、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用などのモニタ、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
また、本発明の一態様の表示装置は、外光の強さによらず、高い視認性を実現することができる。そのため、携帯型の電子機器、装着型の電子機器(ウェアラブル機器)、及び電子書籍端末などに好適に用いることができる。
図32(A)、(B)に示す携帯情報端末800は、筐体801、筐体802、表示部803、表示部804、及びヒンジ部805等を有する。
筐体801と筐体802は、ヒンジ部805で連結されている。携帯情報端末800は、折り畳んだ状態(図32(A))から、図32(B)に示すように展開させることができる。
本発明の一態様の表示装置を、表示部803及び表示部804のうち少なくとも一方に用いることができる。これにより、周囲の明るさによらず、視認性の高い携帯情報端末とすることができる。さらに、消費電力の低い携帯情報端末とすることができる。
表示部803及び表示部804は、それぞれ、文書情報、静止画像、及び動画像等のうち少なくとも一つを表示することができる。表示部に文書情報を表示させる場合、携帯情報端末800を電子書籍端末として用いることができる。
携帯情報端末800は折り畳むことができるため、可搬性が高く、汎用性に優れる。
筐体801及び筐体802は、電源ボタン、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク等を有していてもよい。
図32(C)に示す携帯情報端末810は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816、カメラ817等を有する。
本発明の一態様の表示装置を、表示部812に用いることができる。これにより、周囲の明るさによらず、視認性の高い携帯情報端末とすることができる。さらに、消費電力の低い携帯情報端末とすることができる。
携帯情報端末810は、表示部812にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部812に触れることで行うことができる。
また、操作ボタン813の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部812に表示される画像の種類の切り替えを行うことができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。
また、携帯情報端末810の内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯情報端末810の向き(縦か横か)を判断して、表示部812の画面表示の向きを自動的に切り替えることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部812に触れること、操作ボタン813の操作、またはマイク816を用いた音声入力等により行うこともできる。
携帯情報端末810は、例えば、電話機、手帳または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとして用いることができる。携帯情報端末810は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、動画再生、インターネット通信、ゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。
図32(D)に示すカメラ820は、筐体821、表示部822、操作ボタン823、シャッターボタン824等を有する。またカメラ820には、着脱可能なレンズ826が取り付けられている。
本発明の一態様の表示装置を、表示部822に用いることができる。これにより、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示部を有することでカメラの利便性を高めることができる。さらに、消費電力の低いカメラとすることができる。
ここではカメラ820を、レンズ826を筐体821から取り外して交換することが可能な構成としたが、レンズ826と筐体821とが一体となっていてもよい。
カメラ820は、シャッターボタン824を押すことにより、静止画、または動画を撮像することができる。また、表示部822はタッチパネルとしての機能を有し、表示部822をタッチすることにより撮像することも可能である。
なお、カメラ820は、ストロボ装置や、ビューファインダーなどを別途装着することができる。または、これらが筐体821に組み込まれていてもよい。
図32(E)に示すテレビジョン装置830は、表示部831、筐体832、スピーカ833、操作キー835(電源スイッチ、又は操作スイッチを含む)、接続端子836、センサ837(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、におい又は赤外線を測定する機能を含むもの)、等を有する。テレビジョン装置830は、大画面、例えば、50インチ以上、または100インチ以上の表示部831を組み込むことが可能である。
本発明の一態様の表示装置を、表示部831に用いることができる。これにより周囲の明るさによらず、視認性の高いテレビジョン装置とすることができる。さらに、消費電力の低いテレビジョン装置とすることができる。
図33(A)〜(E)は、電子機器を示す図である。これらの電子機器は、筐体9000、表示部9001、スピーカ9003、操作キー9005(電源スイッチ、または操作スイッチを含む)、接続端子9006、センサ9007(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、においまたは赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン9008等の一以上を有する。
本発明の一態様の表示装置を、表示部9001に好適に用いることができる。これにより、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示部を有する電子機器とすることができる。さらに、消費電力の低い電子機器とすることができる。
図33(A)〜(E)に示す電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信または受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出して表示部に表示する機能、等の一以上を有することができる。なお、図33(A)〜(E)に示す電子機器が有する機能はこれらに限定されず、その他の機能を有していてもよい。
図33(A)は腕時計型の携帯情報端末9200を、図33(B)は腕時計型の携帯情報端末9201を、それぞれ示す斜視図である。
図33(A)に示す携帯情報端末9200は、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。また、表示部9001はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、携帯情報端末9200は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。また、携帯情報端末9200は、接続端子9006を有し、他の情報端末とコネクターを介して直接データのやりとりを行うことができる。また接続端子9006を介して充電を行うこともできる。なお、充電動作は接続端子9006を介さずに無線給電により行ってもよい。
図33(B)に示す携帯情報端末9201は、図33(A)に示す携帯情報端末と異なり、表示部9001の表示面が湾曲していない。また、携帯情報端末9201の表示部の外形が非矩形状(図33(B)においては円形状)である。
図33(C)〜(E)は、折り畳み可能な携帯情報端末9202を示す斜視図である。なお、図33(C)が携帯情報端末9202を展開した状態の斜視図であり、図33(D)が携帯情報端末9202を展開した状態または折り畳んだ状態の一方から他方に変化する途中の状態の斜視図であり、図33(E)が携帯情報端末9202を折り畳んだ状態の斜視図である。
携帯情報端末9202は、折り畳んだ状態では可搬性に優れ、展開した状態では、継ぎ目のない広い表示領域により表示の一覧性に優れる。携帯情報端末9202が有する表示部9001は、ヒンジ9055によって連結された3つの筐体9000に支持されている。ヒンジ9055を介して2つの筐体9000間を屈曲させることにより、携帯情報端末9202を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形させることができる。例えば、携帯情報端末9202は、曲率半径1mm以上150mm以下で曲げることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。