JP6877180B2 - 赤外線反射多層膜付き基材、および赤外線反射多層膜付き基材の製造方法 - Google Patents
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〔1〕基材、赤外線遮断無機膜、低屈折率無機膜、および高屈折率無機膜をこの順に備えることを特徴とする、赤外線反射多層膜付き基材。
〔2〕赤外線遮断無機膜、および低屈折率無機膜が、シリカナノ粒子を含み、高屈折率無機膜が、酸化ニオブナノ粒子およびダイヤモンドナノ粒子を含む、上記〔1〕記載の赤外線反射多層膜付き基材。
〔3〕基材の少なくとも一方の面に、赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された赤外線遮断無機膜に、低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された低屈折率無機膜に、高屈折率無機膜を形成するための高屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および高屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜100℃で乾燥させる工程、
をこの順に含む、上記〔1〕または〔2〕記載の赤外線反射多層膜付き基材の製造方法。
基材の少なくとも一方の面に、赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された赤外線遮断無機膜に、低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された低屈折率無機膜に、高屈折率無機膜を形成するための高屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および高屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜100℃で乾燥させる工程、
をこの順に含む方法により、簡便に製造することができる。
基材としては、ガラス、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、塩化ビニル樹脂等が挙げられ、耐候性の観点から、ガラスが好ましい。ただし、赤外線反射多層無機膜自体に紫外線遮断能力があるため、赤外線反射多層無機膜を形成することにより、これらの樹脂の耐候性が向上する。
赤外線遮断無機膜形成用分散液は、シリカナノ粒子および中空ナノシリカを含むと好ましく、さらに、セシウム酸化タングステンナノ粒子、酸化インジウム錫(ITO)ナノ粒子、ATOナノ粒子、金属ルテニウム粒子、Ti02ナノ粒子、ZnOナノ粒子、InZnOナノ粒子、およびCeO2ナノ粒子からなる群より選択される少なくとも1種と、溶媒とを含むと、より好ましい。ここで、ナノ粒子とは、透過型電子顕微鏡で測定した粒子径(n=50)が、20nm未満のものをいう。ナノ粒子の平均粒径は、透過型電子顕微鏡で測定した質量平均粒子径である(n=50)。ただし、中空ナノシリカ粒子のみについては、平均粒径が50〜300nmのものをいう。シリカナノ粒子は、透過型電子顕微鏡で測定したシングルナノ粒子の粒径が、シングルナノ粒子100質量部に対して、1〜9nm:100質量部のものである。ここで、シリカのシングルナノ粒子とは、透過型電子顕微鏡で測定した粒子径(n=50)が、10nm未満のものをいう。10nm以上のシリカのナノ粒子を使用すると、赤外線遮断無機膜の透過率が低くなり易い。アモルファスであることは、X線回折で確認する。中空ナノシリカは、100nm以上のものは、断熱性能は向上する一方、ヘイズが上昇しやすく、硬度も低くなる為、100nm未満の物の方が望ましい。50nmの中空シリカの熱伝導率mp一例は、0.06w/mkである。
低屈折率無機膜形成用分散液は、シリカナノ粒子を含み、溶媒を含むと、好ましい。
高屈折率無機膜形成用分散液は、酸化ニオブナノ粒子およびダイヤモンドナノ粒子を含むと好ましく、さらに、グラフェン、カーボンナノチューブ、酸化チタンナノ粒子、酸化タングステンナノ粒子、溶媒とを含むと、より好ましい。溶媒については、上述のとおりである。
シリカナノ粒子分散液1には、ジャパンナノコート製性低屈折バインダー(品名:LR−30、2〜9nmのシリカのシングルナノ粒子3質量部と、水97質量部とを混合したもの)を用いた。
シリカナノ粒子分散液2には、日揮触媒化成社製シリカバインダー(品名:Si−550、平均粒径:5nm、固形分:20%)を用いた。
中空ナノシリカ分散液には、KJNANOCOAT社の水分散液(品名:SIO−50、平均粒径50nm、固形分10%)を用いた
酸化ニオブナノ粒子分散液には、ジャパンナノコート製水分散液(品名:酸化ニオブ分散液、平均粒径:6nm、固形分:3%)を用いた。
ダイヤモンドナノ粒子分散液には、ニューメタルス エンド ケミカルズ コーポレーション製水分散液(品名:ナノアマンド、平均粒径:3〜5nm、固形分:5%)を用いた。
酸化チタンナノ粒子分散液には、ジャパンナノコート製UV−TIO2(平均粒径10ナノ固形分10%)を用いた。
セシウム酸化タングステンナノ粒子分散液には、KJNANOCOAT社のIRWPO−15(平均粒径20nm、固形分15%)を用いた。
酸化インジウム錫ナノ粒子分散液には、ジャパンナノコート製ITO−20(平均粒径10nm、固形分20%)を用いた。
グラフェン分散液は、ジャパンナノコート製GF−01(厚み(c軸方向):50nm以下、径方向(あ軸方向):2μ以下、固形分:0.1%)を用いた。
InZnO分散液には、KJNANOCOAT社製InZnO水分散液(平均粒径:20nm、固形分:20%)を用いた。
屈折率は、島津製作所製分光光度計(型番:SolidSpec−3700DUV)により測定した反射グラフから、計算により求めた。この測定時には、高屈折率薄膜を形成したガラス基材の高屈折率薄膜とは反対の面の50%の面積に、反射率0の板と接触させて表面反射率を測定し、屈折率を計算した。また、曇り度は日本電色工業社製分光ヘーズメーターSH7000SPにて測定した。
表面抵抗値は、太洋電機産業製表面抵抗計(型番:WA−400、2点間抵抗法、プローブ間距離:50mm)で測定した(単位:Ω)。ただし、10の3乗Ω以下のものに関しては、三和電気計器社製デジタルマルチメーター(型番:PM−3、プローブ間距離:50mm)で測定した(単位:Ω)。
鉛筆硬度は、HB〜10Hの硬度の鉛筆を用いて、ガラス基材に形成した膜をひっかき、目視で観察し、膜の欠けがでない最も硬い鉛筆の硬度とした。
テープ剥離試験は、JIS K5400に準拠し、ガラス基材に形成した各種膜に、カッターナイフで1mm×1mmの切り込みを100個入れ、ニチバン製セロファンテープを貼った後、セロファンテープを剥がし、目視で、各種膜の剥離箇所の有無を観察した
親水性試験に関しては、協和界面科学社製ポータブル接触角計(型番:PCA−11)を用い、面接触角を測定した。
〔赤外線遮断無機膜の作製〕
シリカナノ粒子分散液1:30質量部、シリカナノ粒子分散液2:10質量部、中空ナノシリカ分散液:10質量部:、酸化チタンナノ粒子分散液:15質量部、酸化インジウム錫ナノ粒子分散液を固形分10%に希釈した水溶液:10質量部、セシウム酸化タングステンナノ粒子分散液を固形分20%に希釈した水溶液:20質量部、グラフェン分散液:5質量部を混合し、赤外線遮断無機膜形成用分散液を、調製した。
得られた赤外線遮断膜上に、15〜20℃のシリカナノ粒子分散液1を、都ローラー工業製コーティング装置を用いて、雰囲気温度:15〜20℃、湿度:36〜48%で、幅:155mm、長さ:155mmに、塗布した。塗布後のガラス基材を、温度:15〜20℃で5分間乾燥させ、厚さ:140nmの低屈折率無機膜付きガラス基材を得た。
酸化ニオブナノ粒子分散液:69質量部、ダイヤモンドナノ粒子分散液:1質量部、グラフェン分散液:30質量部を混合し、高屈折無機膜形成用分散液を調製した。
〔赤外線遮断無機膜の作製〕
シリカナノ粒子分散液:60質量部、中空ナノシリカ分散液:10質量部、InZnOナノ粒子分散液:10質量部、セシウムタングステンナノ粒子20質量部の配合にしたこと以外は、実施例1と同様にして、赤外線遮断無機膜付きガラス基材を、得た。赤外線遮断無機膜の可視光透過率は67%、紫外線透過率は0%、赤外線透過率は10%であった。
シリカナノ粒子分散液:100質量部を用い、実施例1と同様にして、低屈折率無機膜付きガラス基材を得た。低屈折率無機膜付き基材の可視光透過率は69%、紫外線透過率は0%、赤外線透過率は12%であった。
ニオブナノ粒子分散液100質量部を用いたこと以外は、実施例1と同様にして、高屈折率無機膜付きガラス基材を得た。赤外線反射多層無機膜付きガラス基材の可視光透過率は68%、紫外線透過率は0%、赤外線透過率は5%(赤外線カット率は95%)であった。また、赤外線反射多層無機膜付きガラス基材の鉛筆硬度は10H、テープ剥離はなし、ヘイズ値は0.7、800nm赤外線反射率は20%以上、表面抵抗値は10の10乗台Ωであった。なお、一般的な赤外線遮断機能の規格は、可視光透過率が60%以上、赤外線カット率が90%以上、ヘイズ値が1.0以下である。
ガラス基材に、低屈折率膜のみを形成した。低屈折率膜は、実施例1で作製したものと同様である。低屈折無機膜付きガラス基材の光学データは、可視光透過率:94%、紫外線透過率:89%、赤外線透過率:94%、鉛筆硬度:7H、屈折率1.3であり、赤外線遮断効果は、観察されなかった。
ガラス基材に、高屈折率膜のみを形成した。高屈折率膜は、実施例1で作製したものと同様である。高屈折無機膜付きガラス基材の光学データは、可視光透過率:86%、紫外線透過率:87%、赤外線透過率:88%、鉛筆硬度:9H、屈折率1.9であり、赤外線遮断効果は、観察されなかった。
ガラス基材に、赤外線遮断膜と低屈折率膜とを形成し、高屈折率無機膜は形成しなかった。赤外線遮断膜と低屈折率膜は、実施例1で作製したものと同様である。赤外線反射効果、観察されなかった。
ガラス基材に、赤外線遮断膜と高屈折率膜とを形成し、低屈折率無機膜は形成しなかった。赤外線遮断膜と高屈折率膜は、実施例1で作製したものと同様である。比較例4の構成では、可視光域の反射率が向上するため、ぎらつき、ヘイズ値が1.0以上になった。
ガラス基材に、低屈折率膜と高屈折率膜とを形成し、赤外線遮断膜は形成しなかった。低屈折率膜と高屈折率膜は、実施例1で作製したものと同様である。比較例5の構成では、有効な赤外線遮断機能が観察されなかった。
10 基材
20 赤外線遮断無機膜
30 低屈折率無機膜
40 高屈折率無機膜
Claims (2)
- 基材、赤外線遮断無機膜、低屈折率無機膜、および高屈折率無機膜をこの順に備え、赤外線遮断無機膜、および低屈折率無機膜が、シリカナノ粒子を含み、高屈折率無機膜が、酸化ニオブナノ粒子およびダイヤモンドナノ粒子を含むことを特徴とする、赤外線反射多層無機膜付き基材。
- 基材の少なくとも一方の面に、赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および赤外線遮断無機膜を形成するための赤外線遮断無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された赤外線遮断無機膜に、低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および低屈折率無機膜を形成するための低屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜40℃で乾燥させる工程、
基材に形成された低屈折率無機膜に、高屈折率無機膜を形成するための高屈折率無機膜形成用分散液を、湿度:50%以下で、塗布する工程、および高屈折率無機膜形成用分散液が塗布された基材を、温度0〜100℃で乾燥させる工程、
をこの順に含む、請求項1記載の赤外線反射多層膜付き基材の製造方法。
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