JP6336804B2 - 反射防止フィルム、偏光板、カバーガラス、画像表示装置、反射防止フィルムの製造方法、反射防止フィルムと清掃用布を含むキット、反射防止フィルムの清掃方法 - Google Patents
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Description
基材上に、粒子とバインダーとを含む塗布液を塗布、硬化させるのみでモスアイ構造を有する膜を設けようとしたところ、
(1)塗布前の段階で、粒子の含有率が高く、バインダーの含有率が低いと、塗布液を塗布してから膜になるまでに粒子同士が凝集してしまい、均一な膜ができない、
(2)塗布後の段階で、粒子の含有率が低く、バインダーの含有率が高いと、粒子がバインダー中に埋まってしまい、凹凸構造が形成できず、十分な反射防止性能が出ない、という問題があることを発見した。粒子同士が凝集しすぎると、凝集部分が大きな散乱体として作用するため、膜が白濁し、ヘイズを生じてしまう。その結果、コントラストを悪化させ、反射防止フィルムによる画面の美しい黒締りも損ねてしまう。
また特定の防汚剤を表面に存在させたモスアイ構造を作製することで、水接触角を著しく高くし、撥水撥油性に優れた反射防止フィルムを作製できることを見出し、更に、特定の空隙或いは空孔サイズと接触角を持つ極細繊維布を使用することで、モスアイ構造を有する反射防止層表面に付着した汚れを簡便に除去できることを見出した。
<1>
プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、上記浸透層の膜厚が上記反射防止層の膜厚の2倍より厚く、上記浸透層の膜厚が0.8〜5μmであり、上記反射防止層が上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルム。
<2>
波長380〜780nmの全域にわたって積分反射率が3%以下である、<1>に記載の反射防止フィルム。
<3>
上記バインダー樹脂が、分子量150〜1600の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、<1>又は<2>に記載の反射防止フィルム。
<4>
上記バインダー樹脂が、SP値20〜25の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、<1>〜<3>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<5>
上記粒子が金属酸化物粒子である、<1>〜<4>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<6>
上記粒子がシリカ粒子である、<1>〜<5>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<7>
上記粒子が、表面に不飽和二重結合を有する化合物による処理がなされた粒子である、<1>〜<6>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<8>
上記反射防止層の膜厚が0.1〜5μmである、<1>〜<7>のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
<9>
上記反射防止層に分散剤を含有する、<1>〜<8>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<10>
上記浸透層に、上記プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含有する、<1>〜<9>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<11>
上記プラスチック基材がセルロースアシレートを含有する、<1>〜<10>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<12>
ヘイズ値が5%以下である<1>〜<11>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<13>
水の接触角が100°以上である<1>〜<12>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<14>
上記反射防止層に、含フッ素化合物又はシリコーン化合物を反射防止層全体の2質量%以下の範囲で含有する、<1>〜<13>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<15>
上記含フッ素化合物又はシリコーン化合物が、分子中に重合性基を有する、<14>に記載の反射防止フィルム。
<16>
上記含フッ素化合物が、分子中にポリエーテル化合物を有する、<14>又は<15>に記載の反射防止フィルム。
<17>
上記シリコーン化合物が、分子量1000以上のポリジメチルシロキサンユニットを有する、<14>又は<15>に記載の反射防止フィルム。
<18>
上記含フッ素化合物又はシリコーン化合物を含有し、水の接触角が110°以上かつ、オレイン酸の接触角が80°以上である、<14>〜<17>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<19>
上記粒子の平均一次粒径が100nm以上200nm以下で、かつCv値が5%未満の単分散シリカ微粒子を一種類のみ含有する、<1>〜<18>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
<20>
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを偏光板用保護フィルムとして有する偏光板。
<21>
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを保護フィルムとして有するカバーガラス。
<22>
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、又は<20>に記載の偏光板を有する画像表示装置。
<23>
プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、上記浸透層の膜厚が上記反射防止層の膜厚の2倍より厚く、上記浸透層の膜厚が0.8〜5μmであり、上記反射防止層が上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルムの製造方法であって、
プラスチック基材上に、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子、バインダー樹脂形成用重合性化合物、及びプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含む組成物を塗布し、プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒及びバインダー樹脂形成用重合性化合物の一部をプラスチック基材中に浸透させ、上記溶媒を乾燥させた後に、電離放射線照射又は加熱によりバインダー樹脂形成用重合性化合物を硬化させて、上記浸透層、及び上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止層を形成させる、反射防止フィルムの製造方法。
<24>
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムと、
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの上記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布とを含むキット。
<25>
<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの上記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布を用いて、<1>〜<19>のいずれか一項に記載の反射防止フィルムに付着した汚れを除去する反射防止フィルムの清掃方法。
本発明は、上記<1>〜<25>に係る発明であるが、以下、それ以外の事項についても参考のため記載している。
プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、上記反射防止層が上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルム。
[2]
波長380〜780nmの全域にわたって積分反射率が3%以下である、[1]に記載の反射防止フィルム。
[3]
上記バインダー樹脂が、分子量150〜1600の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、[1]又は[2]に記載の反射防止フィルム。
[4]
上記バインダー樹脂が、SP値20〜25の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、[1]〜[3]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[5]
上記粒子が金属酸化物粒子である、[1]〜[4]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[6]
上記粒子がシリカ粒子である、[1]〜[5]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[7]
上記粒子が、表面に不飽和二重結合を有する化合物による処理がなされた粒子である、[1]〜[6]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[8]
上記反射防止層の膜厚が0.1〜5μmである、[1]〜[7]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[9]
上記浸透層の膜厚が0.1〜5μmである、[1]〜[8]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[10]
上記反射防止層に分散剤を含有する、[1]〜[9]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[11]
上記浸透層に、上記プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含有する、[1]〜[10]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[12]
上記プラスチック基材がセルロースアシレートを含有する、[1]〜[11]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[13]
ヘイズ値が5%以下である[1]〜[12]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[14]
水の接触角が100°以上である[1]〜[13]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[15]
上記反射防止層に、含フッ素化合物又はシリコーン化合物を反射防止層全体の2質量%以下の範囲で含有する、[1]〜[14]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[16]
上記含フッ素化合物又はシリコーン化合物が、分子中に重合性基を有する、[15]に記載の反射防止フィルム。
[17]
上記フッ素化合物が、分子中にポリエーテル化合物を有する、[15]又は[16]に記載の反射防止フィルム。
[18]
上記シリコーン化合物が、分子量1000以上のポリジメチルシロキサンユニットを有する、[15]又は[16]に記載の反射防止フィルム。
[19]
上記含フッ素化合物又はシリコーン化合物を含有し、水の接触角が110°以上かつ、オレイン酸の接触角が80°以上である、[15]〜[18]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[20]
上記粒子の平均一次粒径が50nm以上200nm以下で、かつCv値が5%未満の単分散シリカ微粒子を一種類のみ含有する、[1]〜[19]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[21]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを偏光板用保護フィルムとして有する偏光板。
[22]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを保護フィルムとして有するカバーガラス。
[23]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、又は[21]に記載の偏光板を有する画像表示装置。
[24]
プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、上記反射防止層が上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルムの製造方法であって、
プラスチック基材上に、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子、バインダー樹脂形成用重合性化合物、及びプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含む組成物を塗布し、プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒及びバインダー樹脂形成用重合性化合物の一部をプラスチック基材中に浸透させ、上記有機溶媒を乾燥させた後に、電離放射線照射又は加熱によりバインダー樹脂形成用重合性化合物を硬化させて、上記浸透層、及び上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止層を形成させる、反射防止フィルムの製造方法。
[25]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムに付着した汚れを除去するための清掃用布であって、[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの上記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布。
[26]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムと、
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの上記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布と
を含むキット。
[27]
[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの上記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布を用いて、[1]〜[20]のいずれか一項に記載の反射防止フィルムに付着した汚れを除去する反射防止フィルムの清掃方法。
更に、本発明によれば、防汚性を兼ね備えたモスアイ構造を有する反射防止フィルムを提供でき、上記反射防止フィルムを用いることで、モスアイ構造を有しながら反射防止と防汚性を付与した、実用性があり視認性の良好な偏光板、カバーガラス、及び画像表示装置を提供することができる。
また本発明の反射防止フィルムと清掃用布と含むキットによれば、反射防止フィルムを清掃用布で清掃することで、モスアイ構造を有する反射防止フィルムの汚れを簡便に除去できる。
本発明の反射防止フィルムにおけるプラスチック基材について説明する。
上記プラスチック基材としては、種々用いることができ、例えば、セルロース系樹脂;セルロースアシレート(トリアセテートセルロース、ジアセチルセルロース、アセテートブチレートセルロース)等、ポリエステル樹脂;ポリエチレンテレフタレート等、(メタ)アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリカーボネート、ポリスチレン、オレフィン系樹脂等を含有する基材が挙げられ、浸透層を作製し易い観点から、セルロースアシレート、ポリエチレンテレフタレート、又は(メタ)アクリル系樹脂を含有する基材が好ましく、セルロースアシレートを含有する基材がより好ましい。セルロースアシレートとしては、特開2012−093723に記載の基材等を好ましく用いることが出来る。
プラスチック基材の厚さは、通常、10μm〜1000μm程度であるが、取り扱い性が良好で、透明性が高く、かつ十分な強度が得られるという観点から20μm〜200μmが好ましく、25μm〜100μmがより好ましい。プラスチック基材の透明性としては、透過率90%以上のものが好ましい。
ハードコート層上に反射防止層を積層したときに浸透層を形成するためには、反射防止層を形成するための塗布液を基材に塗布した際に、バインダーの一部だけが基材に浸透できるようにハードコート層を予めハーフキュアにしておき、浸透層が形成された後にフルキュアする方法等が好ましい。このような方法を用いて作製すれば、反射防止性とともにハードコート性を持たせることができる。
電離放射線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーの官能基としては、光、電子線、放射線重合性のものが好ましく、中でも光重合性官能基が好ましい。
光重合性官能基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の不飽和の重合性官能基等が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。
トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のポリオキシアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート等の多価アルコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン、2−2−ビス{4−(アクリロキシ・ポリプロポキシ)フェニル}プロパン等のエチレンオキシドあるいはプロピレンオキシド付加物の(メタ)アクリル酸ジエステル類;
等を挙げることができる。
また、ハードコート層の強度は、鉛筆硬度試験で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがさらに好ましく、3H以上であることが最も好ましい。さらに、JIS K5400に従うテーバー試験で、試験前後の試験片の摩耗量が少ないほど好ましい。
ハードコート層形成用塗布組成物には、上記成分のほかに、更に溶剤、重合開始剤、帯電防止剤、防眩剤等を適宜添加することもできる。更に、反応性又は非反応性レベリング剤、各種増感剤等の各種添加剤が混合されていても良い。
溶剤の具体例としては、イソプロパノール(IPA)、メチルエチルケトン(MEK)、及びメチルイソブチルケトン(MIBK)、トルエン等が挙げられる。光学シートの硬度を向上できる点から、MIBK、イソプロパノール等の非浸透性溶剤を併用することが好ましい。非浸透性溶剤を併用することにより、上記第一のバインダー成分がトリアセチルセルロース基材に浸透しすぎなくなるため、硬度を高めることができる。
必要に応じてラジカル及びカチオン重合開始剤等を適宜選択して用いても良い。これらの重合開始剤は、光照射及び/又は加熱により分解されて、ラジカルもしくはカチオンを発生してラジカル重合とカチオン重合を進行させるものである。
帯電防止剤の具体例としては、第4級アンモニウム塩、導電性ポリマー、導電性微粒子等の従来公知の帯電防止剤を、反射防止層を積層したときに浸透層を形成することが出来る範囲で用いることができる。
防眩剤としてはスチレンビーズ(屈折率1.59)、ポリメタクリル酸メチルビーズ(屈折率1.49)、メタクリル酸メチル−スチレン共重合体等の微粒子の防眩剤など従来公知の防眩剤を反射防止層を積層したときに浸透層を形成することが出来る範囲で用いて良い。微粒子の防眩剤を用いる場合その添加量は、硬化性樹脂組成物100重量部に対し、好ましくは2〜30重量部、より好ましくは10〜25重量部である。
ハードコート層のバインダーには、ハードコート層の屈折率を制御する目的で、屈折率調整剤として高屈折率モノマーまたは無機粒子、或いは両者を反射防止層を積層したときに浸透層を形成することが出来る範囲で加えることができる。無機粒子には屈折率を制御する効果に加えて、架橋反応による硬化収縮を抑える効果もある。本発明では、ハードコート層形成後において、上記多官能モノマーおよび/又は高屈折率モノマー等が重合して生成した重合体、その中に分散された無機粒子を含んでバインダーと称する。
レベリング剤の具体例としては、フッ素系又はシリコーン系等の従来公知のレベリング剤を用いることが出来る。レベリング剤を添加したハードコート層形成用塗布組成物は、塗布又は乾燥時に塗膜表面に対して塗工安定性を付与することができる。
本発明の反射防止フィルムは、プラスチック基材と反射防止層との間に、プラスチック基材と反射防止層に隣接した浸透層を有する。
本発明において、浸透層とは、プラスチック基材成分と反射防止層のバインダー樹脂成分とを含む層(領域)である。浸透層は、プラスチック基材に、プラスチック基材に対して浸透性を有する溶媒(基材浸透性溶媒)と、反射防止層のバインダー樹脂成分を含む反射防止層形成用塗布液を塗布し、基材浸透性溶媒がプラスチック基材に浸透するとともに、反射防止層のバインダー樹脂成分もプラスチック基材に浸透することで得られる。反射防止層のバインダー樹脂成分は、バインダー樹脂又はバインダー樹脂の材料であるモノマーを含む概念である。プラスチック基材成分とは、プラスチック基材を構成する成分を指す。プラスチック基材がハードコート層等の別の樹脂層を表面に備えている場合は、その別の樹脂層を構成する成分もプラスチック基材成分である。
本発明では以後、プラスチック基材とは、プラスチック基材成分を含み、かつ、反射防止層のバインダー樹脂成分を含まない部分を指すこととする。また、反射防止層とは、反射防止層のバインダー樹脂成分を含み、かつプラスチック基材成分を含まない部分を指すこととする。
また、浸透層は、本発明の反射防止フィルムをミクロトームで切削し、断面を飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF−SIMS)で分析した時に、プラスチック基材成分と、反射防止層のバインダー樹脂成分が共に検出される部分として測定することができ、この領域の膜厚も同様にTOF−SIMSの断面情報から測定することができる。
また、浸透層は、例えば光の干渉を利用した反射分光膜厚計やTEM(透過型電子顕微鏡)による断面観察により、基材と反射防止層の中間に別の1層を検出することによっても測定することが出来る。反射分光膜厚計としては、FE−3000(大塚電子(株)製)等を用いることが出来る。
浸透層の厚さは、塗布組成物中の粒子含率を高くしすぎずにモスアイ層を形成できる観点から、0.1μm以上5μm以下が好ましい。
浸透層は、効率よく浸透層が形成できる観点から、基材浸透性溶媒を含有することが好ましい。反射防止層形成用組成物における基材浸透性溶媒の含有量は、10〜95質量%が好ましく、20〜90質量%がより好ましい。
基材浸透性溶媒については後述する。
本発明の反射防止フィルムは、浸透層に隣接した反射防止層を有する。
反射防止層は、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子とバインダー樹脂とを含む。
反射防止層の浸透層とは反対側の表面は、に上記粒子によって形成されたモスアイ構造を有する。
ここで、モスアイ構造とは、光の反射を抑制するための物質(材料)の加工された表面であって、周期的な微細構造パターンをもった構造のことを指す。特に、可視光の反射を抑制する目的の場合には、780nm未満の周期の微細構造パターンをもった構造のことを指す。微細構造パターンの周期が380nm未満であると、反射光の色味がなくなり好ましい。また、周期が100nm以以上であると波長380nmの光が微細構造パターンを認識出来、反射防止性に優れるため好ましい。モスアイ構造の有無は、走査型電子顕微鏡(SEM)、原子間力顕微鏡(AFM)等により表面形状を観察し、上記微細構造パターンが出来ているかどうか調べることによって確認することができる。
反射防止層に含まれる平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子について説明する。
上記粒子としては、金属酸化物粒子、樹脂粒子、金属酸化物粒子のコアと樹脂のシェルを有する有機無機ハイブリッド粒子などが挙げられるが、膜強度に優れる観点から金属酸化物粒子が好ましい。
金属酸化物粒子としては、シリカ粒子、チタニア粒子、ジルコニア粒子、五酸化アンチモン粒子などが挙げられるが、多くのバインダーと屈折率が近いためヘイズを発生しにくく、かつモスアイ構造が形成し易い観点からシリカ粒子が好ましい。
樹脂粒子としては、ポリメタクリル酸メチル粒子、ポリスチレン粒子、メラミン粒子などが挙げられる。
平均一次粒子径の異なる2種以上の粒子を用いてもよい。
上記粒子の平均一次粒子径は、体積平均粒径の累積の50%粒子径を指す。反射防止膜中に含まれる粒子の平均一次粒子径を測定する場合には、電子顕微鏡写真により測定することが出来る。例えば、反射防止フィルムの切片TEM像を撮影し、一次粒子100個のそれぞれの直径を測長してその体積を算出し、累積の50%粒子径を平均一次粒子径とすることができる。粒子が球径でない場合には、長径と短径の平均値をその一次粒子の直径とみなす。
また、シリカ粒子については、結晶質でも、アモルファスのいずれでもよい。
含フッ素アルコキシシランとしては、フルオロアルキル基含有オリゴマーのKP−801M(信越化学工業製)、X−24−7890(信越化学工業製)、KBM−7803(トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業製)、SIH5841.5(ヘプタデカフルオロ-1,1,2,2、−テトラヒドロデシルトリメトキシシラン、Gelest製)、SIH5841.2(ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロデシルトリエトキシシラン、Gelest製)が挙げられる。また分子中にポリジメチルシロキサンユニットを持つアルコキシシランとしては、KPN−3504(信越化学工業製)、DMS−XE11(エトキシ末端ポリジメチルシロキサン、Gelest製)、DMS−XM11(メトキシ末端ポリジメチルシロキサン、Gelest製)、DMS−S12、−S14、−S15(シラノール末端ポリジメチルシロキサン)などが挙げられる。
乾式処理は、一般的に攪拌機によって高速回転しているフィラーに、アルコキシシランの原液を均一に分散させて処理する方法がとられる。乾式処理は均一な処理は困難だが、大量のフィラーなどを短時間に処理できるため、工業用途に広く用いられ、乾燥したフィラーに対して処理する場合は、あらかじめ水を含ませておくと処理効率が高くなることが知られている。
湿式処理は、一般的にアルコキシランの希薄溶液にフィラーを浸漬する方法で、アルキルシラン類、特に長鎖アルキルシラン、フッ素アルキルシランは、疎水性が高く、水単独系での処理が難しいため、酢酸などでpH調整した水・アルコール混合溶液にて処理するのが適当である。フィラーの表面に均一に処理できることから、精度の高い処理が可能である。
更に乾式処理と湿式処理を順に実施することも好ましく、一方の処理だけでは達成できない、より表面処理率の高い粒子や、異なる2種類の表面処理を施した粒子を作製できる。
反射防止層形成用塗布組成物に含まれる、反射防止層のバインダー樹脂について説明する。
反射防止層のバインダー樹脂は、バインダー樹脂形成用重合性化合物(モノマー)を硬化して得られたものであることが好ましい。
上記モノマーとしては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の重合性官能基(重合性の不飽和二重結合)を有する化合物が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基及び−C(O)OCH=CH2を有する化合物好ましく、(メタ)アクリロイル基を有する化合物がより好ましい。
なお、化合物がポリマーである場合、上記分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーにより測定されるポリスチレン換算の質量平均分子量である。
なお、本発明におけるSP値(溶解性パラメーター)は、Hoy法によって算出した値であり、Hoy法は、POLYMERHANDBOOK FOURTH EDITIONに記載がある。
重合性化合物としては、プラスチック基材への浸透のしやすさの観点から、(a)1分子中に2つ以下の重合性官能基を有する化合物が好ましい。
上記化合物(a)としては、質量平均分子量Mwaが40<Mwa<500で、Hoy法によるSP値SPaが19<SPa<24.5である化合物であることが好ましい。このような分子量とSP値を有する化合物は、プラスチック基材(特にセルロースアシレート基材)へ浸透し易く、プラスチック基材と反射防止層との間の浸透層形成に好ましい化合物である。また、重合性官能基数が2つ以下であるため硬化時の収縮が小さく、プラスチック基材側へ浸透させ硬化させてもカールを生じさせることがない。
1分子中の重合性官能基の数は1又は2が好ましく、1がより好ましい。
ネオペンチルグリコールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、などのエチレンユニット繰り返し数8以下のポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、などのプロピレンユニット繰り返し数6以下のポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のポリオキシアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、トリシクロデカンジメタノールジ(メタ)アクリレート等の多価アルコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
2,2−ビス{4−(メタクリロキシ・エトキシ)フェニル}プロパン、2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン等のエチレンオキシド付加物の(メタ)アクリル酸ジエステル類;
イソボルニル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、脂肪族エポキシ(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、β−カルボキエチル(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、2−(メタ)アクリロイルオキシエチルサクシネート、グリセリンモノ(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート等の単官能の(メタ)アクリル酸エステル類;
等が挙げられる。
本発明の反射防止フィルムの反射防止層には、粒子の凝集防止の観点で、分散剤を含有してもよい。分散剤としては、特に限定されないが、硫酸塩、リン酸塩などのアニオン性化合物、脂肪族アミン塩、四級アンモニウム塩などのカチオン性化合物、非イオン性化合物、高分子化合物が好ましく、吸着基と立体反発基それぞれの選択の自由度が高いため高分子化合物がより好ましい。
分散剤としては市販品を用いることもできる。例えば、ビックケミー・ジャパン(株)製のDISPERBYK160、DISPERBYK161、DISPERBYK162、DISPERBYK163、DISPERBYK164、DISPERBYK166、DISPERBYK167、DISPERBYK171、DISPERBYK180、DISPERBYK182、DISPERBYK2000、DISPERBYK2001、DISPERBYK2164、Bykumen、BYK−P104、BYK−P104S、BYK−220S、Anti−Terra203、Anti−Terra204、Anti−Terra205(以上商品名)などが挙げられる。
反射防止層が分散剤を含む場合、分散剤の含有量は、粒子量に対して、0.01質量%以上20質量%以下であることが好ましく、0.05質量%以上10質量%以下であることがより好ましく、0.1質量%以上5質量%以下であることが更に好ましい。
本発明の反射防止フィルムの反射防止層には、レベリング剤(防汚剤とも呼ぶ)を含有してもよい。
レベリング剤の具体例としては、フッ素系又はシリコーン系等の従来公知のレベリング剤を用いることが出来る。レベリング剤を添加した反射防止層形成用塗布組成物は、塗布又は乾燥時に塗膜表面に対して塗工安定性、滑り性、防汚性、及び耐擦傷性を付与することができる。
反射防止フィルムに防汚性を付与のため、反射防止層に、含フッ素化合物又はシリコーン化合物を反射防止層全体の1質量%以下の範囲で含有することが好ましい。
含フッ素化合物又はシリコーン化合物が、分子中に重合性基を有することが好ましい。
フッ素化合物が、分子中にポリエーテル化合物を有することが好ましい。
シリコーン化合物が、分子量1000以上のポリジメチルシロキサンユニットを有することが好ましい。
特に防汚性を付与するには、特開2012−88699号公報の[0012]〜[0101]に記載のハードコート層へ使用する防汚剤を適宜用いることが好ましいが、本発明のモスアイ構造をもつ反射防止フィルムに防汚剤を添加する際の変化点としては、下記の組成物中の添加量の違いが挙げられる。
重合性不飽和基を有する含フッ素防汚剤の添加量は、反射防止層形成用組成物中の全固形分に対して2質量%以下が好ましく、0.0001〜1質量%であることがより好ましく、0.0005〜0.5質量%が更に好ましく、0.001〜0.1質量%が特に好ましい。添加量が0.0001質量%以上であると、撥水撥油性を有する防汚剤の表面での存在割合が適度になり、十分な防汚性が得られる。また、添加量が1質量%以下であると、表面に析出した防汚剤量が多くならず、膜強度が劣ったり、膜が白化し反射率が上昇しないため好ましい。
ポリシロキサン防汚剤の添加量は、反射防止層形成用組成物中の全固形分に対して2質量%以下が好ましく、0.0001質量%〜1質量%であることがより好ましく、0.0005質量%〜0.5質量%が更に好ましく、0.001質量%〜0.1質量%が特に好ましい。添加量が0.0001質量%以上であると、撥水撥油性を有する防汚剤の表面での存在割合が適度になり、十分な防汚性が得られる。また、添加量が1質量%であると、表面に析出した防汚剤量が多くならず、膜強度が劣ったり、膜が白化し反射率が上昇しないため好ましい。
モスアイ構造は、凹凸が非常に小さいため、上記含フッ素化合物やポリシロキン化合物を均一に表面に存在させれば、いわゆるロータス効果と言われる撥水現象を引き起こすことができ、水に対しての接触角が100°以上となり、平滑な表面に上記化合物を存在させた時よりも、防汚性が非常に良好となる。
本発明の反射防止フィルムは、含フッ素化合物又はシリコーン化合物を含有し、水の接触角が110°以上かつ、オレイン酸の接触角が75°以上であることが特に好ましい。オレイン酸の接触角は80°以上であることがより好ましく、85°以上であることが更に好ましい。オレイン酸に対する接触角が75°以上であれば、人の皮脂や油、特に指紋の付着性が著しく抑制でき良好である。
本発明のモスアイ構造を持つ反射防止フィルムに付着した汚れを除去するための清掃方法として、特定の清掃用布を用いることが好ましい。清掃用布としては、モスアイ構造よりも小さい空隙、空孔を持つことが好ましく、具体的には可視光波長以下の50〜380nmの空隙もしくは空孔を持つことが好ましく、50〜300nm以下であることが更に好ましく、50〜200nm以下であることが最も好ましい。このような清掃用布を作製する方法として、特開2012−207322に記載されている2種類以上のポリエステル長繊維からなる混織糸で、少なくとも1種類がポリプロピレンテレフタレートまたはポリブチレンテレフタレートからなり、20%伸長時の伸縮弾性率が70%以上である、単繊維径が50〜900nmのナノファイバー混織糸を用いることが好ましい。
更に清掃用布の水接触角が90°未満であることが好ましく、50°未満であることが更に好ましく、30°未満であることが好ましい。特開2012−207322に記載されているナノファイバー混織糸を用いた布は、そのままでは水接触角が90°以上となり不適であるため、コロナ処理、ケン化処理等の親水化処理を施すことが必要である。
ケン化処理は、加温したアルカリ水溶液中に一定時間ナノファイバー混織糸を浸漬し、水洗を行った後、中和するための酸洗浄を行う処理である。ナノファイバー混織糸が親水化されればどのような処理条件でも構わないため、処理剤の濃度、処理剤液の温度、処理時間は適宜決定されるが、通常生産性を確保する必要から3分以内で処理可能なように処理条件を決定する。一般的な条件としては、アルカリ濃度が3質量%〜25質量%であり、処理温度は30℃〜70℃、処理時間は15秒〜5分である。アルカリ処理に用いるアルカリ種としては水酸化ナトリウム、水酸化カリウムが好適であり、酸洗浄に使用する酸としては硫酸が好適であり、水洗に用いる水はイオン交換水又は純水が好適である。
本発明の反射防止フィルムは、ヘイズ値が5%以下であることが好ましく、3%以下であることがより好ましい。
本発明の反射防止フィルムの製造方法は、
プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、上記反射防止層が上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルムの製造方法であって、
プラスチック基材上に、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子、バインダー樹脂形成用重合性化合物、及びプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含む組成物を塗布し、プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒及びバインダー樹脂形成用重合性化合物をプラスチック基材中に浸透させ、電離放射線照射又は加熱によりバインダー樹脂形成用重合性化合物を硬化させて、上記浸透層、及び上記浸透層と反対側の表面に上記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止層を形成させる、反射防止フィルムの製造方法である。
平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子、バインダー樹脂形成用重合性化合物、及びプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含む組成物(以下、「組成物(A)ともいう」)について説明する。
組成物(A)において、平均一次粒子径が50nm以上700nm以下の粒子、及びバインダー樹脂形成用重合性化合物は、前述したものと同様である。
本発明におけるプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒(基材浸透性溶媒)について説明する。
プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒とは、プラスチック基材の表面対する溶解能及び膨潤能を有する溶剤である。
溶媒がプラスチック基材の表面に対して溶解能及び膨潤能を有することで、バインダー樹脂がプラスチック基材に浸透し、モスアイ構造を均一に形成することができる。
ここで、本発明において透明基材に対して溶解能を有する溶剤とは、24mm×36mm(厚み80μm)の大きさの基材フィルムを上記溶剤の入った15ccの瓶に室温下(25℃)で60秒浸漬させて取り出した後に、浸漬させた溶液をゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で分析したとき、基材成分(基材が複数の層を有している場合には、その表面の成分)のピーク面積が400mV/sec以上である溶剤のことを意味する。若しくは24mm×36mm(厚み80μm)の大きさの基材フィルムを上記溶剤の入った15ccの瓶に室温下(25℃)で24時間経時させ、適宜瓶を揺らすなどして、フィルムが完全に溶解して形をなくすものも、基材に対して溶解能を有する溶剤を意味する。
基材浸透性溶媒としては、プラスチック基材を構成する成分によって異なるが、セルロースアシレート基材の場合は、メチルエチルケトン(MEK)、炭酸ジメチル、酢酸メチル、アセトン、メチレンクロライド等を好ましく用いることが出来るが基材を溶解しうるものであればこれによらない。メチルエチルケトン(MEK)、炭酸ジメチル、酢酸メチルがより好ましい。
アクリル基材の場合は、炭酸ジメチル、炭酸メチルエチル、炭酸ジエチル、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)、シクロペンタノン、シクロヘキサノン酢酸メチル、酢酸エチル等が好ましい。
組成物(A)には、重合開始剤を含んでいてもよい。
上記バインダー樹脂形成用重合性化合物が光重合性化合物である場合は、光重合開始剤を含むことが好ましい。
光重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類、芳香族スルホニウム類、ロフィンダイマー類、オニウム塩類、ボレート塩類、活性エステル類、活性ハロゲン類、無機錯体、クマリン類などが挙げられる。光重合開始剤の具体例、及び好ましい態様、市販品などは、特開2009−098658号公報の段落[0133]〜[0151]に記載されており、本発明においても同様に好適に用いることができる。
プラスチック基材中に浸透して浸透層を形成するバインダーは、反射防止層形成用組成物に含まれる全バインダーのうち50質量%以上にすることが好ましい。また、浸透層の膜厚が、反射防止層の膜厚の2倍より厚くなるように浸透させることが好ましい。このように形成することで、塗布前に粒子が凝集することなく、塗布後には均一なモスアイ構造を形成することが出来る。
本発明の反射防止フィルムは、偏光膜の表面保護フィルム(偏光板用保護フィルム)として用いることができる。
2枚の偏光子保護フィルムのうち、本発明の反射防止フィルム以外のフィルムが、光学異方層を含んでなる光学補償層を有する光学補償フィルムであることも好ましい。光学補償フィルム(位相差フィルム)は、液晶表示画面の視野角特性を改良することができる。光学補償フィルムとしては、公知のものを用いることができるが、視野角を広げるという点では、特開2001−100042号公報に記載されている光学補償フィルムが好ましい。
本発明の反射防止層を設けたのと反対側のプラスチック基材表面をケン化処理し、ポリビニルアルコール水溶液を用いて偏光子に貼りあわせる。
本発明の偏光板は、偏光子と上記偏光子を保護する少なくとも1枚の保護フィルムを有する偏光板であって、上記保護フィルムの少なくとも1枚が本発明の反射防止フィルムである。偏光子は保護フィルムと位相差フィルムに挟まれていても良いし、保護フィルムと偏光子との組み合わせでも良い。
本発明のカバーガラスは、本発明の反射防止フィルムを保護フィルムとして有する。
本発明の画像表示装置は、本発明の反射防止フィルム又は偏光板を有する。
本発明の反射防止フィルム及び偏光板は液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や陰極管表示装置(CRT)のような画像表示装置に好適に用いることができ、特に液晶表示装置が好ましい。
一般的に、液晶表示装置は、液晶セル及びその両側に配置された2枚の偏光板を有し、液晶セルは、2枚の電極基板の間に液晶を担持している。更に、光学異方性層が、液晶セルと一方の偏光板との間に一枚配置されるか、又は液晶セルと双方の偏光板との間に2枚配置されることもある。液晶セルは、TNモード、VAモード、OCBモード、IPSモード又はECBモードであることが好ましい。
本発明の反射防止フィルムは、反射防止層の粒子の平均一次粒径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布で清掃することで、反射防止層に付着した汚れを効果的に除去することができる。
すなわち、本発明のキットは、本発明の反射防止フィルムと上記清掃用布を含む。
また、本発明の反射防止フィルムの清掃方法は、本発明の反射防止フィルムを、上記清掃用布を用いて反射防止フィルムに付着した汚れを除去する清掃方法である。
〔反射防止フィルムの作製〕
下記に示す通りに、反射防止層形成用組成物を調製し、透明基材上に塗布して、反射防止フィルム試料No.1A〜20Aを作製した。
KE−P30(日本触媒(株)製シーホスター、アモルファスシリカ粒子、平均粒子径0.3μm)100質量部にメタノール480質量部を加えてミキシングタンクで攪拌し、20質量%シリカ分散液とした。さらにアクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン20質量部、およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート1.5質量部加え混合した後に、イオン交換水を9質量部を加えた。60℃で8時間反応させた後に室温まで冷却し、アセチルアセトン1.8質量部を添加した。総液量がほぼ一定になるようにMEKを添加しながら減圧蒸留により溶媒を置換した。最終的に固形分が20%になるように調節して分散液B−1を調製した。
下記表1に記載の反射防止層形成用組成物A−1の組成となるように各成分を添加し、得られた組成物をミキシングタンクに投入、攪拌し、孔径5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して反射防止層形成用組成物A−1(固形分濃度50質量%)とした。
反射防止層形成用組成物A−1と同様の方法で、各成分を下記表1の組成になるように混合して表1及び2記載の組成比率(質量基準)になるように調整し、固形分濃度50質量%の反射防止層形成用組成物A−2〜A−20を作製した。
PETA(商品名PET30):ペンタエリスリトールテトラアクリレートとペンタエリスリトールトリアクリレートの混合物(日本化薬(株)製、SP値21.2)
HEMA:2−ヒドロキシエチルメタクリレート(三菱レイヨン(株)製、SP値26.5)
TMPTA:トリメチロールプロパントリアクリレート(東亞合成(株)製、SP値20)
ブレンマーGLM:グリセリンモノメタクリレート(日油(株)製、SP値26.5)
Irg.184:光重合開始剤、イルガキュア184(BASFジャパン(株)製)
Irg.907:光重合開始剤、イルガキュア907(BASFジャパン(株)製)
Irg.127:光重合開始剤、イルガキュア127(BASFジャパン(株)製)
KE−P10:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスター、平均粒子径0.15μm
KE−P30:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスター、平均粒子径0.30μm
KE−P50:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスター、平均粒子径0.55μm
粒子A:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P30の粒径違い品、平均粒子径0.20μm
粒子B:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P50の粒径違い品、平均粒子径0.70μm
粒子C:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P10の粒径違い品、平均粒子径0.05μm
粒子D:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P30のKPN−3504(信越化学工業製)乾式表面処理品、平均粒子径0.30μm
粒子E:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P30の粒径違いのKPN−3504(信越化学工業製)乾式表面処理品、平均粒子径0.20μm
粒子F:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P30のKPM−7803(信越化学工業製)乾式表面処理品、平均粒子径0.30μm
粒子G:日本触媒(株)製アモルファスシリカ粒子シーホスターKE−P30の粒径違いのKPM−7803(信越化学工業製)乾式表面処理品、平均粒子径0.20μm
MX−200W:日本触媒(株)製ポリメタクリル酸メチル系架橋物粒子エポスターMA、平均粒子径0.35μm
DISPERBYK166:粒子分散剤、酢酸ブチル/メトキシプロピルアセテートの30%溶液)
BYK−P104:粒子分散剤、キシレン/ジイソブチルケトンの50%溶液(ビックケミー・ジャパン(株)製)
メガファックF−784−F:DIC製含フッ素化合物防汚剤(重合性基非含有)
FP−1:特開2013−156332号公報に記載の合成例1の重合性樹脂III−1
FP−2:国際公開第2009/133770号に記載の実施例1のラジカル重合性樹脂Y−1
X−22−164AS:信越シリコーン製、両末端反応性シリコーン化合物(分子量900、ポリジメチルシロキサンユニット1000未満)
X−22−164C:信越シリコーン製、両末端反応性シリコーン化合物(分子量4740、ポリジメチルシロキサンユニット1000以上)
基材として、セルローストリアセテートフィルム(TG40UL、富士フイルム(株)製)上に、上記反射防止層形成用組成物A−1をグラビアコーターを用いて塗布した。120℃で5分間乾燥した後、酸素濃度が0.1体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度600mW/cm2、照射量600mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させて反射防止層と浸透層とを形成し、反射防止フィルム試料No.1を作製した。なお、膜厚は、ガラス上に同様の方法で塗布、硬化させたときに5μmになる厚さに設定した。
[下記式(1A)で表されるラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂{共重合モノマー質量比=メタクリル酸メチル/2−(ヒドロキシメチル)アクリル酸メチル=8/2、ラクトン環化率約100%、ラクトン環構造の含有割合19.4%、重量平均分子量133000、メルトフローレート6.5g/10分(240℃、10kgf)、Tg131℃}90質量部と、アクリロニトリル−スチレン(AS)樹脂{トーヨーASAS20、東洋スチレン社製}10質量部との混合物;Tg127℃]のペレットを二軸押し出し機に供給し、約280℃でシート状に溶融押し出しして、厚さ110μmのラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂シートを得た。この未延伸シートを、160℃の温度条件下、縦2.0倍、横2.4倍に延伸して(メタ)アクリル系樹脂フィルム−1(厚さ:40μm、面内位相差Δnd:0.8nm、厚み方向位相差Rth(550nm):1.5nm)を得た。
上記で得られた(メタ)アクリル系樹脂フィルムの片側に、コロナ放電処理(コロナ放電電子照射量:77W/m2/min)を施した。
以下の方法により反射防止フィルムの諸特性の評価を行った。結果を表2に示す。
反射防止フィルムの表面を、走査型電子顕微鏡にて形状を観察し、表面形状について評価した。微細構造パターンの周期は、走査型電子顕微鏡写真にランダムに端から端まで直線を引き、その直線上にある隣接する凸部の頂点間の距離をn=50測定した平均値を用い、1桁め(10nm未満)の数値を四捨五入して求めた。凸部が観察できない場合には、「周期無し」と判断した。
A・・曲面状の凸部からなる形態をしており、モスアイ構造が明確に出来ている
B・・Aに近くモスアイ構造が出来ているが、凸部が明確に存在しているかの区別しづらい
C・・凸部がないその他の形態(周期無し)
3mm各程度に切り出した試料の断面を、ミクロトーム及び電解研磨により片数10nmの切片を作製まで薄くし、TEM(透過型電子顕微鏡)で観察して浸透層の有無を観察した。
フィルムの裏面をサンドペーパーで粗面化した後に黒色インクで処理し、裏面反射をなくした状態で、分光光度計V−550(日本分光(株)製)にアダプターARV−474を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における積分反射率を測定し、平均反射率を算出して反射防止性を評価した。
面の均一性はヘイズ値で評価した。粒子同士が凝集し不均一であるものは、ヘイズが高くなる。JIS−K7136に準じて、得られたフィルムの全ヘイズ値(%)を測定した。装置には日本電色工業(株)製ヘーズメーターNDH4000を用いた。
ヘイズ値が2%以下・・・面の均一性に優れている。
ヘイズ値が2%より大きくかつ5%以下・・・やや面状にムラがあるが、外観に問題はない。
ヘイズ値が5%より大きい・・・面状にムラがあり、外観を損ねている。
表2において、試料No.4A、5A、及び15Aは、「実施例」とあるのを「参考例」と読み替えるものとする。
〔ハードコート層付きのプラスチック基材の作製〕
下記に示す通りに、ハードコート層形成用組成物を調製し、透明基材上に塗布して、ハードコート層付きのプラスチック基材を作製した。
(ハードコート層形成用組成物の調製)
ミキシングタンクに酢酸メチル10.5質量部、MEK10.5質量部、PET30 22.52質量部、ウレタンモノマー6.30質量部、イルガキュア184 0.84質量部を投入し、攪拌して、孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層用塗布液B−1(固形分濃度58質量%)とした。
セルローストリアセテートフィルム(TG40UL、富士フイルム(株)製)上に、上記ハードコート層用塗布液B−1をグラビアコーターを用いて塗布した(固形分塗布量:12.1g/m2)。100℃で乾燥した後、酸素濃度が1.0体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら160W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量150mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させてハードコート層を形成し、ハードコート層付きのプラスチック基材を作製した。
(反射防止層形成用組成物の調製)
実施例1の反射防止層形成用組成物A−1と同様の方法で、各成分を下記表3記載の組成比率(質量基準)になるように調整し、固形分濃度50質量%の反射防止層形成用組成物B−1〜B−2を作製した。
基材としてセルローストリアセテートフィルムの代わりにハードコート層付きのプラスチック基材を用いた以外は実施例1の反射防止フィルムA−1と同様の方法で、反射防止層形成用組成B−1〜B−2を用いて反射防止フィルム試料No.1B〜2Bを作製した。
以下の方法により反射防止フィルムの諸特性の評価を行った。結果を表4に示す。
JIS K5400に記載の鉛筆硬度評価を行った。各フィルム試料を温度25℃、湿度60%RHで2時間調湿した後、JIS S6006に規定する試験用鉛筆を用いて下記の基準で評価した。
A:2H以上
B:H以上2H未満
C:H未満
島成分として固有粘度0.71のポリエチレンテレフタレート(PET)を用い、海成分として固有粘度0.55の5−ナトリウムスルホイソフタル酸7.3質量%を共重合したPETを用いて、島数が127島で、ホール数が112の海島型複合用紡糸口金を用いて、島成分比率30質量%、紡糸温度290℃、巻取速度1500m/分の条件で溶融紡糸を行ない未延伸糸を得た。続いて、得られた未延伸糸を巻取速度500m/分、予熱温度90℃、熱セット温度160℃の条件で延伸し、44dtex−112フィラメントの海島型複合繊維(繊維1)を得た。
島成分比率を15質量%にしたこと以外は、清掃用布Aと同じに作製し得られたナノファイバー混繊糸は、繊維1の繊維径が140nmであり、繊維2の繊維径が145nmであり、ナノファイバー混繊糸からなる織物はコロナ放電処理後の清掃用布Bの空隙は145nmであり、水接触角は20°であった。
島成分比率を45質量%にしたこと以外は、清掃用布Aと同じに作製し得られたナノファイバー混繊糸は、繊維1の繊維径が430nmであり、繊維2の繊維径が440nmであり、ナノファイバー混繊糸からなる織物はコロナ放電処理後の清掃用布Bの空隙は440nmであり、水接触角は40°であった。
(反射防止層形成用組成物の調製)
実施例1の反射防止層形成用組成物A−1と同様の方法で、各成分を下記表5記載の組成比率(質量基準)になるように調整し、固形分濃度50質量%の反射防止層形成用組成物C−1〜C−31を作製した。
反射防止層形成用組成物A−1の代わりに反射防止層形成用組成物C−1〜C−31を用いた以外は実施例1の反射防止フィルムA−1と同様の方法で、反射防止フィルム試料No.1C〜31Cを作製した。
反射防止フィルムの基材側ををガラス面上に粘着剤で固定し、25℃60RH%の条件下で反射防止層表面に油井マーカー(インク色:黒)「マッキー極細(商品名:ZEBRA製)」のペン先(細)にて直径5mmの円形を3周書き込み、10秒後に10枚重ねに折り束ねた清掃用布A〜Cおよびザヴィーナ(KBセレン製、空隙1μm)でベンコットの束がへこむ程度の荷重で2往復拭き取る。
A・・マーカー跡が視認できない。
B・・マーカー跡が薄く視認できる。
C・・マーカー跡が広がって視認できる。
D・・マーカー跡が拭取れない。
本発明のモスアイ構造を持つ反射防止フィルムをガラス基板上に反射防止層側が最表面となるように粘着剤で固定し、25℃60RH%の条件下で反射防止層表面に指紋を付着させ、10秒後に10枚重ねに折り束ねた清掃用布A〜Cおよびザヴィーナ(KBセレン製、空隙1μm)で布の束がへこむ程度の荷重で2往復拭き取り、指紋跡の観察状況で防汚性を評価した。
A・・指紋跡が視認できない。
B・・指紋跡が薄く視認できる。
C・・指紋跡が広がって視認できる。
D・・指紋跡が拭き取れない。
表6に示すように、防汚剤を添加することで、モスアイ構造を持つ反射防止フィルムの接触角を高くすることができ、汚れの付着性を著しく改善することができる。また清掃用布とモスアイ構造を持つ反射防止フィルムを組み合わせた清掃方法で、汚れ除去性を高めることもできる。
Claims (25)
- プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、前記浸透層の膜厚が前記反射防止層の膜厚の2倍より厚く、前記浸透層の膜厚が0.8〜5μmであり、前記反射防止層が前記浸透層と反対側の表面に前記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルム。
- 波長380〜780nmの全域にわたって積分反射率が3%以下である、請求項1に記載の反射防止フィルム。
- 前記バインダー樹脂が、分子量150〜1600の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。
- 前記バインダー樹脂が、SP値20〜25の(メタ)アクリロイル基を有する化合物を硬化して得られた樹脂を含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記粒子が金属酸化物粒子である、請求項1〜4のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記粒子がシリカ粒子である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記粒子が、表面に不飽和二重結合を有する化合物による処理がなされた粒子である、請求項1〜6のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記反射防止層の膜厚が0.1〜5μmである、請求項1〜7のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
- 前記反射防止層に分散剤を含有する、請求項1〜8のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記浸透層に、前記プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含有する、請求項1〜9のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記プラスチック基材がセルロースアシレートを含有する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- ヘイズ値が5%以下である請求項1〜11のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 水の接触角が100°以上である請求項1〜12のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記反射防止層に、含フッ素化合物又はシリコーン化合物を反射防止層全体の2質量%以下の範囲で含有する、請求項1〜13のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記含フッ素化合物又はシリコーン化合物が、分子中に重合性基を有する、請求項14に記載の反射防止フィルム。
- 前記含フッ素化合物が、分子中にポリエーテル化合物を有する、請求項14又は15に記載の反射防止フィルム。
- 前記シリコーン化合物が、分子量1000以上のポリジメチルシロキサンユニットを有する、請求項14又は15に記載の反射防止フィルム。
- 前記含フッ素化合物又はシリコーン化合物を含有し、水の接触角が110°以上かつ、オレイン酸の接触角が80°以上である、請求項14〜17のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 前記粒子の平均一次粒径が100nm以上200nm以下で、かつCv値が5%未満の単分散シリカ微粒子を一種類のみ含有する、請求項1〜18のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
- 請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを偏光板用保護フィルムとして有する偏光板。
- 請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムを保護フィルムとして有するカバーガラス。
- 請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、又は請求項20に記載の偏光板を有する画像表示装置。
- プラスチック基材と、浸透層と、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子及びバインダー樹脂を含む反射防止層とをこの順に隣接して有し、前記浸透層の膜厚が前記反射防止層の膜厚の2倍より厚く、前記浸透層の膜厚が0.8〜5μmであり、前記反射防止層が前記浸透層と反対側の表面に前記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止フィルムの製造方法であって、
プラスチック基材上に、平均一次粒子径が100nm以上650nm以下の粒子、バインダー樹脂形成用重合性化合物、及びプラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒を含む組成物を塗布し、プラスチック基材に対する浸透性を有する溶媒及びバインダー樹脂形成用重合性化合物の一部をプラスチック基材中に浸透させ、前記溶媒を乾燥させた後に、電離放射線照射又は加熱によりバインダー樹脂形成用重合性化合物を硬化させて、前記浸透層、及び前記浸透層と反対側の表面に前記粒子によるモスアイ構造を有する反射防止層を形成させる、反射防止フィルムの製造方法。 - 請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムと、
請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの前記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布とを含むキット。 - 請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムの前記粒子の平均一次粒子径よりも小さな間隔の空孔又は空隙を有し、水の接触角が90°未満である清掃用布を用いて、請求項1〜19のいずれか一項に記載の反射防止フィルムに付着した汚れを除去する反射防止フィルムの清掃方法。
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