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JP6161165B2 - Test jig - Google Patents

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JP6161165B2 JP2014260838A JP2014260838A JP6161165B2 JP 6161165 B2 JP6161165 B2 JP 6161165B2 JP 2014260838 A JP2014260838 A JP 2014260838A JP 2014260838 A JP2014260838 A JP 2014260838A JP 6161165 B2 JP6161165 B2 JP 6161165B2
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Connections Arranged To Contact A Plurality Of Conductors (AREA)

Description

本発明は、試験治具に関し、特に、端子台に装着して試験を行うための試験治具に関する。   The present invention relates to a test jig, and more particularly, to a test jig for mounting on a terminal block for testing.

特許文献1には、アップネジ式端子台のための試験配線用治具(試験配線用治具を試験治具ともいう。)が記載されている。この試験治具は、バネ性を有する試験用導電端子を有し、これを、端子台のアップしたネジの下端部と導電端子との間に挿入するものである。   Patent Document 1 describes a test wiring jig for an up-screw type terminal block (the test wiring jig is also referred to as a test jig). This test jig has a test conductive terminal having spring properties, and is inserted between the lower end portion of the screw with the terminal block raised and the conductive terminal.

特許第4800398号公報Japanese Patent No. 4800398

しかしながら、特許文献1記載の試験治具は、端子台のネジと導電端子とに接するものである。そのため、挿入時にネジの位置に注意する必要があった。さらに、挿入後の保持が不安定であった。よって、作業者は、少なくとも接触圧力のばらつきや試験治具が外れないかについて、十分に信頼することはできなかった   However, the test jig described in Patent Document 1 is in contact with the screw of the terminal block and the conductive terminal. Therefore, it was necessary to pay attention to the position of the screw during insertion. Furthermore, the retention after insertion was unstable. Therefore, the operator could not fully trust at least whether the contact pressure variation or the test jig could be removed.

ゆえに、本発明は、安定した接触圧力で圧接することができ、試験時に外れにくい試験治具を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a test jig that can be pressed with a stable contact pressure and is difficult to come off during a test.

本願発明の第1の観点は、端子台に装着して試験を行うための試験治具であって、前記端子台の導電端子の上方に設けられた突部に掛止する絶縁体の保持部と、前記端子台の前記導電端子に接触する導電部と、前記導電部に圧力をかけて前記端子台の前記導電端子に圧接させる弾性部を備えるものである。   A first aspect of the present invention is a test jig for performing a test by being mounted on a terminal block, and an insulator holding portion that is hooked on a protrusion provided above the conductive terminal of the terminal block. A conductive portion that contacts the conductive terminal of the terminal block; and an elastic portion that applies pressure to the conductive portion and press-contacts the conductive terminal of the terminal block.

本願発明の第2の観点は、第1の観点の試験治具であって、前記導電部と前記弾性部は、別部材であり、前記導電部は、一方端が外部配線に接続可能に固定され、他方端が可動状態であって前記端子台に装着されるものであり、前記弾性部は、前記導電部の前記一方端と前記他方端との間の位置で圧力をかけるものである。   A second aspect of the present invention is the test jig according to the first aspect, wherein the conductive portion and the elastic portion are separate members, and the conductive portion is fixed so that one end can be connected to an external wiring. The other end is movable and is attached to the terminal block, and the elastic portion applies pressure at a position between the one end and the other end of the conductive portion.

本願発明の第3の観点は、第1又は第2の観点の試験治具であって、前記端子台は、ネジアップ式端子台であり、前記突部は、前記導電端子からアップする際、ネジを誘導するためのものであり、前記導電部は、装着時に、前記導電端子に圧接して前記ネジには接しない。   A third aspect of the present invention is a test jig according to the first or second aspect, wherein the terminal block is a screw-up type terminal block, and when the protrusion is raised from the conductive terminal, The conductive portion is for inducing a screw, and the conductive portion is in pressure contact with the conductive terminal and is not in contact with the screw at the time of mounting.

本願発明の第4の観点は、第1から第3のいずれかの観点の試験治具であって、前記導電部の下側の面は、少なくとも前記他方端側で下に凸である。   A fourth aspect of the present invention is the test jig according to any one of the first to third aspects, wherein the lower surface of the conductive portion is convex downward at least on the other end side.

本願発明の第5の観点は、第1から第4のいずれかの観点の試験治具であって、前記試験治具は、前記導電部の下側で装着時に前記端子台に接する接触部を有する。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a test jig according to any one of the first to fourth aspects, wherein the test jig includes a contact portion that contacts the terminal block when mounted under the conductive portion. Have.

本願発明の各観点によれば、試験治具の導電部は、弾性のものではなく、別の弾性部により圧力を加えるため、接触圧力を安定させることができる。さらに、試験治具を端子台に装着するときには、試験治具の導電部を端子台の導電端子に押し付けて行えばよく、また、取り外すときには、試験治具を上向きに傾ければよい。そのため、試験治具は、端子台に容易に装着したり、端子台から容易に取り外したりすることができる。さらに、保持部が端子台の突部に掛止し、導電部が端子台の導電端子を圧接するため、試験時に少なくとも水平方向に試験治具が外れにくい構造である。   According to each aspect of the present invention, the conductive portion of the test jig is not elastic, and pressure is applied by another elastic portion, so that the contact pressure can be stabilized. Furthermore, when the test jig is mounted on the terminal block, the conductive portion of the test jig may be pressed against the conductive terminal of the terminal block, and when the test jig is removed, the test jig may be tilted upward. Therefore, the test jig can be easily attached to or removed from the terminal block. Further, since the holding portion is hooked on the protrusion of the terminal block and the conductive portion presses the conductive terminal of the terminal block, the test jig is difficult to be removed at least in the horizontal direction during the test.

さらに、本願発明の第2の観点によれば、導電部を一つの部材とし、さらに、導電部は、外部配線に接続可能なネジなどにより試験治具のケースに固定されることから、部品点数を少なくして実現することができる。   Furthermore, according to the second aspect of the present invention, the conductive portion is a single member, and the conductive portion is fixed to the case of the test jig by a screw that can be connected to the external wiring. This can be realized with less.

さらに、本願発明の第3の観点は、ネジアップ式端子台のネジを利用せず、導電端子を利用して試験を行うものである。例えば特許文献1に記載されているように、ネジと導電端子の両方を利用するものとは、本質的に相違するものである。   Furthermore, the 3rd viewpoint of this invention performs a test using a conductive terminal not using the screw of a screw-up type terminal block. For example, as described in Patent Document 1, it is essentially different from that using both screws and conductive terminals.

さらに、本願発明の第4の観点によれば、保持部が端子台の突部に掛止した状態での回転がしやすい構造である。   Furthermore, according to the 4th viewpoint of this invention, it is a structure which is easy to rotate in the state which the holding | maintenance part latched on the protrusion of the terminal block.

さらに、本願発明の第5の観点によれば、試験治具は、端子台に装着された状態で、3箇所で保持されることから、試験時に水平方向に加えて下向きにも外れにくい構造である。さらに、下向きに傾けることを防止することができる。   Furthermore, according to the fifth aspect of the present invention, since the test jig is held at three locations in a state of being mounted on the terminal block, it has a structure that is difficult to come down in addition to the horizontal direction during the test. is there. Furthermore, it can prevent tilting downward.

本願発明に係る試験治具の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the test jig concerning this invention. 試験治具1を端子台21に装着するときの動きについて説明するための図である。It is a figure for demonstrating a motion when mounting | wearing the test fixture 1 with the terminal block 21. FIG. 試験治具1を端子台21に装着した状態を示す図である。FIG. 3 is a view showing a state in which a test jig 1 is mounted on a terminal block 21. 試験治具1を端子台21から取り外すときの動きについて説明するための図である。It is a figure for demonstrating a motion when removing the test jig 1 from the terminal block 21. FIG. 本願発明に係る試験治具の構成の他の一例を示す図である。It is a figure which shows another example of a structure of the test jig concerning this invention.

以下、図面を参照して、本願発明の実施例について述べる。なお、本願発明の実施の形態は、以下の実施例に限定されるものではない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The embodiment of the present invention is not limited to the following examples.

図1は、本願発明に係る試験治具の構成の一例を示す図である。(a)は平面図、(b)は内部構造図、(c)は正面図、(d)は左側面図である。(e)は、他の構成の一例を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a test jig according to the present invention. (A) is a plan view, (b) is an internal structure diagram, (c) is a front view, and (d) is a left side view. (E) is a figure showing an example of other composition.

試験治具1は、端子台に装着して試験を行うためのものである。試験治具1は、ケース3と、カバー5と、保持部7(本願請求項の「保持部」の一例)と、試験導電端子9(本願請求項の「導電部」の一例)と、端子ネジ11と、板バネ13(本願請求項の「弾性部」の一例)と、接触部15(本願請求項の「接触部」の一例)と、連結ネジ17と、連結ネジ用穴19を備える。   The test jig 1 is for mounting on a terminal block and performing a test. The test jig 1 includes a case 3, a cover 5, a holding part 7 (an example of “holding part” in the claims), a test conductive terminal 9 (an example of “conductive part” in the claims), a terminal A screw 11, a leaf spring 13 (an example of an “elastic portion” in the claims of the present application), a contact portion 15 (an example of an “contact portion” in the claims of the present application), a connection screw 17, and a connection screw hole 19 are provided. .

ケース3は、絶縁体であり、各部材を保持するためのものである。カバー5は、ケース3の一つの面を覆うためのものである。   Case 3 is an insulator and is for holding each member. The cover 5 is for covering one surface of the case 3.

保持部7は、ケース3に設けられたもので、絶縁体のものである。後に説明するように、試験治具1を端子台に装着したときに、端子台の突部に掛かかるものである。端子台から試験治具1を取り外すときには、図4にあるように、保持部7が掛止している部分を中心に上に回転させるようにする。   The holding part 7 is provided in the case 3 and is an insulator. As will be described later, when the test jig 1 is mounted on the terminal block, the test jig 1 is hooked on the protrusion of the terminal block. When removing the test jig 1 from the terminal block, as shown in FIG. 4, the test jig 1 is rotated upward around the portion where the holding portion 7 is hooked.

試験導電端子9は、導電体のものである。保持部7と同じ側の一方端が端子台に装着され、端子台の導電端子に接触する。試験導電端子9のこの一方端は、先端が細くなっており、下側の面が、下側に凸である。これにより、試験導電端子9を押し付けて試験治具1を装着したり、保持部7が掛止している部分を中心に回転等をして試験治具1を外したりしやすい形状にしている。また、試験導電端子9は、ケース3と試験導電端子9の嵌合部の凹凸形状により、自由に端子台に装着される側が動くことができる状態にある。他方端は、雌ネジを有し、試験導電端子9は、端子ネジ11により外部配線に接続することができる。端子ネジ11により、例えば圧着端子やファストン端子、隣接端子同士をショートさせるためのショートバーを締め付けることができる。なお、図1(e)にあるように、ケース3の3a部に穴を設置し、3a部に円柱形状の導電体を設置することで、ショートバーの代わりにできて試験時の安全性も向上することができる。   The test conductive terminal 9 is a conductor. One end on the same side as the holding portion 7 is attached to the terminal block and contacts the conductive terminal of the terminal block. This one end of the test conductive terminal 9 has a thin tip, and the lower surface is convex downward. Accordingly, the test conductive terminal 9 is pressed and the test jig 1 is mounted, or the test jig 1 is easily removed by rotating around the portion where the holding portion 7 is hooked. . Moreover, the test conductive terminal 9 is in a state where the side attached to the terminal block can move freely due to the uneven shape of the fitting portion between the case 3 and the test conductive terminal 9. The other end has a female screw, and the test conductive terminal 9 can be connected to the external wiring by the terminal screw 11. With the terminal screw 11, for example, a crimp terminal, a Faston terminal, or a short bar for short-circuiting adjacent terminals can be tightened. In addition, as shown in FIG. 1 (e), by installing a hole in the 3a part of the case 3 and installing a cylindrical conductor in the 3a part, it is possible to replace the short bar and improve the safety during the test. Can be improved.

板バネ13は、ケース3内で、試験導電端子9に圧力を図1(b)の下向き(保持部7とは反対向き)に加える。試験導電端子9は、装着されない側が端子ネジ11で固定されている。そのため、板バネ13による圧力は、装着される側に現れることとなる。   In the case 3, the leaf spring 13 applies pressure to the test conductive terminal 9 in the downward direction (opposite to the holding portion 7) in FIG. The test conductive terminal 9 is fixed with a terminal screw 11 on the non-attached side. Therefore, the pressure by the leaf spring 13 appears on the side where it is attached.

本実施例では、試験導電端子9は、弾性を有しない一枚の導電端子である。ケース内に組み込まれた板バネ13により端子台の導電端子の向きに接触する圧力を持つ。試験導電端子9とは別の部材である板バネ13により接触圧力を与えることにより、接触圧力を安定させることができる。   In this embodiment, the test conductive terminal 9 is a single conductive terminal having no elasticity. The leaf spring 13 incorporated in the case has a pressure that contacts the direction of the conductive terminal of the terminal block. The contact pressure can be stabilized by applying the contact pressure by the leaf spring 13 which is a member different from the test conductive terminal 9.

接触部15は、試験治具1を端子台に装着したときに、端子台に接触する部分である。試験治具1は、端子台に掛止するため、装着時には掛止している部分を中心に回転する動きとなる。   The contact portion 15 is a portion that contacts the terminal block when the test jig 1 is mounted on the terminal block. Since the test jig 1 is hooked on the terminal block, when the test jig 1 is mounted, the test jig 1 rotates around the hooked portion.

試験時にかかる力は、水平方向と下向きが主である。水平方向には、保持部7が端子台の突部に掛止し、試験導電端子9が安定した接触圧力により端子台の導電端子に力をかけるために外れにくい構造である。さらに、下向きには、接触部15が装着時に端子台に接触することにより図1(b)において反時計まわりには動かないようにしており、外れにくい構造である。他方、取り外し時には、図1(b)において時計回りに回転させて上向きに傾ければ、容易に取り外すことができる。   The force applied during the test is mainly horizontal and downward. In the horizontal direction, the holding portion 7 is hooked on the protrusion of the terminal block, and the test conductive terminal 9 is structured to be hard to come off because a force is applied to the conductive terminal of the terminal block by a stable contact pressure. Furthermore, downwardly, the contact portion 15 is prevented from moving counterclockwise in FIG. 1 (b) by contacting the terminal block at the time of mounting, and is not easily detached. On the other hand, at the time of removal, it can be easily removed by rotating clockwise in FIG. 1B and tilting upward.

連結ネジ17は、複数の試験治具を連結するためのネジである。端子台は、通常、複数が連結されている。そのため、試験治具も、連結ネジ用穴19を利用して複数の試験治具を連結17で連結することにより、連結された複数の端子台に同時に装着・取り外しができるようになっている。   The connection screw 17 is a screw for connecting a plurality of test jigs. A plurality of terminal blocks are usually connected. Therefore, the test jig can also be attached to and detached from the plurality of connected terminal blocks at the same time by connecting the plurality of test jigs with the connection 17 using the connection screw holes 19.

本実施例は、一枚の試験導電端子9と板バネ13を設ける構造であるため、部品点数が少なく、製造コストを安価にすることが可能である。試験導電端子9は、ケース内で自由に傾く構造であるが、装着時に、保持部7、試験導電端子9及び接触部15により3箇所で保持するようにすることにより、試験時に力が掛かる水平方向及び下向きには外れにくく、上向きに傾けることで容易に取り外すことができるようにしている。   Since the present embodiment has a structure in which one test conductive terminal 9 and a leaf spring 13 are provided, the number of parts is small, and the manufacturing cost can be reduced. The test conductive terminal 9 has a structure that can be freely tilted in the case. However, when the test conductive terminal 9 is mounted, the test conductive terminal 9 is held at three positions by the holding portion 7, the test conductive terminal 9, and the contact portion 15, thereby applying a horizontal force. It is difficult to come off in the direction and downward, and can be easily removed by tilting upward.

図2は、装着時の動きについて説明するための図である。図2(a)にあるように、試験治具1は、端子台21に装着する。端子台21は、ネジアップ式端子台である。端子台21は、導電端子23と、ネジ25と、突部27と、端子台側接触部29を備える。   FIG. 2 is a diagram for explaining the movement at the time of wearing. As shown in FIG. 2A, the test jig 1 is attached to the terminal block 21. The terminal block 21 is a screw-up type terminal block. The terminal block 21 includes a conductive terminal 23, a screw 25, a protrusion 27, and a terminal block side contact portion 29.

導電端子23は、雌ネジを有し、ネジ25により外部配線を接続することができる。図2では、ネジ25をアップした状態で試験治具1を装着している。   The conductive terminal 23 has a female screw, and an external wiring can be connected by the screw 25. In FIG. 2, the test jig 1 is mounted with the screw 25 up.

突部27は、アップしたネジを支えるために、導電端子23の上方に設けられたものである。端子台21において、導電端子23に外部配線を接続するために設けられた開口部の上方に、壁面から突出した絶縁体のものである。一般に、両方の壁面から突出している。   The protrusion 27 is provided above the conductive terminal 23 in order to support the raised screw. The terminal block 21 is an insulator that protrudes from the wall surface above the opening provided to connect the external wiring to the conductive terminal 23. Generally, it protrudes from both wall surfaces.

端子台側接触部29は、試験治具1が端子台21に装着したときに、試験治具1の接触部15に接触するために設けられたものである。   The terminal block side contact portion 29 is provided to contact the contact portion 15 of the test jig 1 when the test jig 1 is mounted on the terminal block 21.

図2(b)にあるように、装着時には、試験治具1の試験導電端子9を端子台21の導電端子23に押し付けて差し込み、ケース3を端子台21に突き当て、押し付ける力を緩めれば、板バネ13が試験導電端子9に圧力をかけていることから、試験治具1の保持部7は端子台21の突部27に掛止し、接触部15が端子台側接触部29に接触して、試験治具1は、端子台21に保持される。このように、装着作業は、極めて容易である。   As shown in FIG. 2B, when mounting, the test conductive terminal 9 of the test jig 1 is pressed against the conductive terminal 23 of the terminal block 21 and inserted, the case 3 is abutted against the terminal block 21, and the pressing force can be loosened. For example, since the leaf spring 13 applies pressure to the test conductive terminal 9, the holding portion 7 of the test jig 1 is hooked on the protrusion 27 of the terminal block 21, and the contact portion 15 is the terminal block side contact portion 29. The test jig 1 is held by the terminal block 21 in contact with the terminal block 21. Thus, the mounting operation is extremely easy.

図3は、試験治具1を端子台21に装着した状態を示す図である。試験治具1と端子台21とは、3箇所で保持されている。試験治具1の保持部7は、端子台27の突部27に掛止している。試験治具1の試験導電端子9は、板バネ13により、端子台21の導電端子23に圧接している。試験治具1の接触部15は、端子台21の端子台側接触部29に接している。   FIG. 3 is a view showing a state in which the test jig 1 is mounted on the terminal block 21. The test jig 1 and the terminal block 21 are held at three places. The holding part 7 of the test jig 1 is hooked on the protrusion 27 of the terminal block 27. The test conductive terminal 9 of the test jig 1 is in pressure contact with the conductive terminal 23 of the terminal block 21 by the leaf spring 13. The contact portion 15 of the test jig 1 is in contact with the terminal block side contact portion 29 of the terminal block 21.

図4は、取り外し時の動きについて説明するための図である。試験治具1を上向き(図の時計まわり)に傾けることにより、試験治具1は、保持部7が突部25に掛止している部分を中心に回転し、試験導電端子9は、端子台の導電端子23に押されて端子台21から抜くことができ、容易に取り外すことができる。   FIG. 4 is a diagram for explaining the movement at the time of removal. By tilting the test jig 1 upward (clockwise in the figure), the test jig 1 rotates around the portion where the holding portion 7 is hooked on the protrusion 25, and the test conductive terminal 9 is connected to the terminal It can be pulled out of the terminal block 21 by being pushed by the conductive terminal 23 of the table and can be easily removed.

図5は、本願発明に係る試験治具の構成の他の一例を示す図である。試験治具の試験導電端子の先端を、図5(a)にあるように、端子先端33を設けた形状にすることにより、図5(b)にあるように、セルフアップ式端子台でも使用することができる。   FIG. 5 is a diagram showing another example of the configuration of the test jig according to the present invention. As shown in FIG. 5 (b), the tip of the test conductive terminal of the test jig is formed in the shape provided with the terminal tip 33 as shown in FIG. 5 (a). can do.

1 試験治具、3 ケース、5 カバー、7 保持部、9 試験導電端子、11 端子ネジ、13 板バネ、15 接触部、17 連結ネジ、19 連結ネジ用穴、21 端子台、23 導電端子、25 ネジ、27 突部、29 端子台側接触部、31 試験治具、33,35 端子先端   1 Test jig, 3 case, 5 cover, 7 holding part, 9 test conductive terminal, 11 terminal screw, 13 leaf spring, 15 contact part, 17 connection screw, 19 connection screw hole, 21 terminal block, 23 conductive terminal, 25 Screw, 27 Protrusion, 29 Terminal block side contact, 31 Test jig, 33, 35 Terminal tip

Claims (5)

ネジアップ式端子台に装着して試験を行うための試験治具であって、
前記ネジアップ式端子台の導電端子の上方に設けられた突部に掛止する絶縁体の保持部と、
前記ネジアップ式端子台のネジに接触せず、前記導電端子に接触する導電部と、
前記導電部に圧力をかけて前記導電部を前記導電端子に圧接る弾性部を備える試験治具。
A test jig for testing by mounting on a screw-up type terminal block,
A holding portion of an insulator that is hooked on a protrusion provided above the conductive terminal of the screw-up type terminal block;
A conductive part that does not contact the screw of the screw-up type terminal block, but contacts the conductive terminal;
Test fixture comprising a resilient portion you press the conductive portion before Kishirubeden terminal by applying pressure to the conductive portion.
前記導電部と前記弾性部は、別部材であり、
前記導電部は、一方端が外部配線に接続可能に固定され、他方端が可動状態であって前記導電端子に接触するものであり、
前記弾性部は、前記導電部の前記一方端と前記他方端との間の位置で圧力をかけて前記導電部を前記導電端子に圧接する、請求項1記載の試験治具。
The conductive portion and the elastic portion are separate members,
The conductive portion has one end connected secured to the external wiring, the other end is shall be in contact with the conductive terminals a movable state,
The elastic unit, you press the conductive portion by applying a pressure at a position between said second end and said one end of the conductive portion to the conductive terminal, the test fixture of claim 1, wherein.
記導電部は、装着時に、アップしたネジの下端よりも下にあり、アップした前記ネジに接触せず、前記導電端子に接触する、請求項1又は2に記載の試験治具。 Before Kishirubeden unit, when worn, is below the lower end of the uploaded screws, not in contact with the screw you up, in contact with the conductive terminals, the test fixture according to claim 1 or 2. 前記導電部の下面は、少なくとも前記導電端子に装着される側で下に凸である、請求項1から3のいずれかに記載の試験治具。 4. The test jig according to claim 1, wherein a lower surface of the conductive portion is convex downward at least on a side attached to the conductive terminal. 5. 記導電部の下側で装着時に前記ネジアップ式端子台に接する接触部を有する、請求項1から4のいずれかに記載の試験治具。
Having a contact portion on the lower side of the front Kishirube conductive portion in contact with the screw-up type terminal block is installed; test fixture according to any one of claims 1 to 4.
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