JP6002061B2 - 微粒子分析装置 - Google Patents
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Description
本発明は、微粒子を回収して分析する微粒子分析装置に関する。
最近、世界的にテロの脅威が増しており、日用品を用いた爆薬の製造方法が広く知られるようになったことで、日常生活においても爆発物を用いたテロや犯罪が脅威となってきた。ロンドンでは地下鉄とバスを狙った同時多発テロが発生し、多数の死傷者が出た。また、報道によれば、日本国内でも通勤電車内で自爆テロを企てた容疑者が逮捕されるなどの事例が発生している。そこで従来から、航空機もしくは空港施設への爆発物持込を制限するための技術開発が広く行われてきた。
従来開発されてきた危険物探知技術として、例えば質量分析計を用いた爆発物探知装置が知られている。この装置は、荷物から漏洩した爆発物蒸気をサンプリングプローブにより採取し、それを負のコロナ放電を用いてイオン化し、質量分析計を用いて検出することにより、危険物の有無を判定している。また、円盤状のフィルタに爆発物微粒子を回収し、別の位置に移動させて、回収した爆発物微粒子を加熱蒸発させ、分析器で分析する方法も知られている。
また、爆発物微粒子を対象としたものではないが、特許文献1には、微粒子を捕集するためのフィルタの着脱を自動化し、捕集済みフィルタを他の装置へ遠隔操作で回収するための方法が開示されている。
しかし、従来技術には以下に述べる課題があった。
従来の質量分析計を用いた爆発物探知装置は、荷物から漏洩した爆発物蒸気をサンプリングプローブにより採取する必要がある。破壊力のある軍用の爆薬や発射薬、工事現場などで使用される産業用爆薬は、安全に運用できるように安定な物質が使用されるため、比較的蒸気圧が低い物質が多い。そのため、蒸気を採取するより、微粒子として回収して分析する必要がある。
従来の質量分析計を用いた爆発物探知装置は、荷物から漏洩した爆発物蒸気をサンプリングプローブにより採取する必要がある。破壊力のある軍用の爆薬や発射薬、工事現場などで使用される産業用爆薬は、安全に運用できるように安定な物質が使用されるため、比較的蒸気圧が低い物質が多い。そのため、蒸気を採取するより、微粒子として回収して分析する必要がある。
円盤状のフィルタに爆発物微粒子を回収し分析器で分析する技術は、微粒子吸着と加熱気化の2工程が必要になることから、連続してリアルタイム分析ができない。また当該技術は、円盤状のフィルタ部を回転させることにより、吸着工程、加熱気化工程、クリーニング工程を順次実施し、再度吸着工程に戻る構成となっているため、フィルタ部を何らかの証拠物件として後日利用するようなことができない。装置構成を維持したままで、フィルタを証拠物件として都度取り外すには手間がかかる。
特許文献1に記載の技術は、微粒子捕集用のフィルタを室温より高い温度に加熱した状態で利用することを前提としているが、フィルタを装着した後でフィルタが適正な温度になるまでは装置を使用できないため、長時間中断することなしに分析を続けることができない。
以上のような理由から、ガスではなく微粒子を分析対象とすることができ、かつ、連続してリアルタイム分析ができ、かつ、必要とされるフィルタ交換を十分短い時間内に完了することができる分析装置が求められている。
本発明の微粒子分析装置は、検出対象の微粒子を含む気体を濃縮する濃縮部、濃縮部で濃縮された気体中の微粒子を捕集し加熱気化させる加熱気化部、加熱気化部で加熱気化された試料を分析する分析部を有する。加熱気化部には複数のフィルタを配置し、1つのフィルタを使い終えたら次のフィルタに交換できる機構を備える。また、使用中のフィルタを加熱するとともに、フィルタ交換によって次に使用されるフィルタを予備加熱する。
すなわち、加熱気化部は、濃縮部と分析部とを接続する流路と、その流路に挿入された第1のフィルタと、流路の周囲を第1のフィルタが挿入された状態でシールするシール部と、第1のフィルタを加熱する加熱部と、流路の外に位置し次に流路に挿入されて使用される第2のフィルタと、第2のフィルタを加熱する予備加熱部と、第1のフィルタを流路から排出し第2のフィルタを流路に挿入するフィルタ交換機構とを備える。
本発明によれば、微粒子を分析対象とすることができ、かつ、連続してリアルタイム分析ができ、必要とされるフィルタ交換を十分短い時間内に完了させることができる。
上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
最初に、本発明が対象とする微粒子分析装置の全体的な構成について説明する。図1は微粒子分析装置の一例のシステム構成図であり、図2は微粒子分析装置の構成例を示す概略図である。
最初に、本発明が対象とする微粒子分析装置の全体的な構成について説明する。図1は微粒子分析装置の一例のシステム構成図であり、図2は微粒子分析装置の構成例を示す概略図である。
図1に示すように、分析対象の微粒子を含んだ気体である試料は捕集部101から導入され、濃縮部8で濃縮される。不要な排気は排気部102から排出され、濃縮後の試料のみが加熱気化部103へ送られる。加熱気化部103で加熱気化された試料は分析部104へ送られ、分析結果は制御部106を介して表示操作部105へと伝達される。
次に図2において、微粒子を含んだ気体である試料は、試料導入口から濃縮部8に投入される。不要な気体は上部から排気され、残った微粒子を多く含んだ気体が、フィルタホルダ3に挿入設置されているフィルタカートリッジ1へと流しこまれる。本例では、フィルタカートリッジ1とフィルタホルダ3とで加熱気化部103を構成する。フィルタカートリッジ1の内部には後述するようにフィルタが組み込まれており、フィルタはフィルタカートリッジ1ともども、フィルタホルダ3に組み込まれている加熱ヒータによって加熱される。濃縮部8からフィルタホルダ3へ投入される気体は、フィルタホルダの開口部を通り、さらにフィルタを通過して下部から吸引される。この時、気体に含まれていた微粒子は、フィルタカートリッジ1に保持されたフィルタに捕集され、そこで加熱されてガス化し、気体と同様に下部から吸引される。吸引されたガスは分析部に導入され、成分についての分析が行われる。
フィルタとしては、例えば、濾過精度0.3μmから1.0μm程度のステンレス鋼メッシュ材を用いることができる。ここでフィルタは、分析対象とする微粒子以外のさまざまな夾雑物質、例えば空気中を浮遊しているゴミなどを捕集してしまう可能性がある。長時間の分析作業により、フィルタに夾雑物質が多量に蓄積すると、夾雑物質から発生するノイズ成分が徐々に高くなるなどして分析に支障が出るだけでなく、フィルタの気体通過効率が低下したり、フィルタの表面部分への熱伝導率が低下するなどして、装置全体の効率が低下する。このため、フィルタに夾雑物質などが蓄積してしまった場合に、フィルタを交換する必要がある。
図3は、従来のフィルタホルダとフィルタカートリッジの構成例を示す断面模式図である。フィルタ2はフィルタカートリッジ1に固定的に組み込まれており、フィルタカートリッジ1ごと交換される。すなわち、フィルタ交換の際には、図3に矢印で示したようにフィルタホルダ3からフィルタカートリッジ1を抜き取り、新しいフィルタカートリッジ1を改めて挿入する。フィルタホルダ3とフィルタカートリッジ1の間には、メタルタッチによるシール部42があり、フィルタカートリッジ1をフィルタホルダ3へ適正に挿入することで、フィルタホルダ開口部51を介して気体の流路が構築される。
このような構成の場合、交換のためにフィルタカートリッジ1を往復運動させる必要があって連続的な交換が困難である。また、挿入した新しいフィルタカートリッジ1に対して、加熱ヒータ4による加熱昇温が完了するまでは微粒子のガス化が行えないため、フィルタ交換に起因する装置のダウンタイムを短くすることが困難である。
本発明は、図1及び図2に一般的な構成を示した微粒子分析装置において分析を中断することなく簡便にフィルタ交換を行うことを可能にするものである。以下では、微粒子分析装置の構成のうちフィルタ交換に関する部分の構成について詳細に説明する。
(A)第一の実施の形態
図4は本発明の第一の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。なお、微粒子分析装置のシステム構成は図1に示され、装置の全体構成は図2に示されている。
図4は本発明の第一の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。なお、微粒子分析装置のシステム構成は図1に示され、装置の全体構成は図2に示されている。
図4において、1は交換可能なフィルタカートリッジ、2はフィルタカートリッジに保持されたフィルタ、3は微粒子分析装置に組み込まれているフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、5はフィルタカートリッジが備える雄ネジシール部、6はフィルタホルダが備える雌ネジシール部、7はボルトヘッド部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本実施形態の動作について説明する。フィルタ2は、フィルタカートリッジ1の内部に、複数個が組み付けられている。フィルタカートリッジ1は外形がおおむね円柱形であり、その外周には雄ネジが形成されている。フィルタカートリッジ1のフィルタ2が保持されている部分には、フィルタカートリッジを横断してフィルタ2の面に垂直な方向に延びる流路形成用貫通穴53が設けられている。フィルタ2は、この流路形成用貫通穴53を塞ぐようにして配置されている。このフィルタカートリッジ1の流路形成用貫通穴53がフィルタホルダ開口部51と整列したとき、フィルタ2を介して濃縮部8と分析部104とを接続する流路が形成され、微粒子分析装置はこの流路が形成された状態で使用される。
フィルタホルダ3は、加熱ヒータ4を内蔵しており、また、内周に雌ネジが形成された概略円筒状の穴を備えている。フィルタカートリッジ1の雄ネジは、フィルタホルダ3の雌ネジに嵌合することができ、これによりフィルタカートリッジ1はフィルタホルダ3の中を旋回しながら前進することができる。フィルタカートリッジ1の旋回動作は、フィルタカートリッジ1の最後端に設けられているボルトヘッド部7に対して、制御部106の制御下に送り部61から旋回力を加えることで行われる。さらに、フィルタカートリッジ1の雄ネジ部、すなわち雄ネジシール部5と、フィルタホルダ3の雌ネジ部、すなわち雌ネジシール部6とが嵌合することによって、フィルタカートリッジ1とフィルタホルダ3との隙間が実質的に密閉される。雄ネジシール部5と雌ネジシール部6によって構成されるシール部は、フィルタホルダ3のフィルタホルダ開口部51にフィルタカートリッジ1の流路形成用貫通穴53が整列することによって形成された濃縮部8と分析部104とを接続する流路の周囲をシールする。
フィルタ2を交換する際には、送り部61からボルトヘッド7に旋回力を加えることでフィルタカートリッジ1を旋回すなわち前進させ、予め決められた回数の旋回を行うことで、未使用の新しいフィルタをフィルタホルダ開口部51に対して位置決めする。フィルタホルダ開口部51の周囲に位置する加熱ヒータ4によってフィルタ加熱部が構成され、フィルタ加熱部によって加熱されたフィルタホルダ3から、フィルタカートリッジ1を介した熱伝導によってフィルタホルダ開口部51に配置されたフィルタ2が加熱される。ここでは、フィルタ2は200℃から250℃の範囲に加熱される。なぜなら、本実施形態において、フィルタ2で捕集しガス化しようとしている検出対象の微粒子は爆発物微粒子であり、その代表的な物質(RDXなど)の沸点が上記温度範囲にあるからである。
一方、使用済みのフィルタ2は、フィルタカートリッジ1の前進に伴ってフィルタホルダ3から徐々に押し出され、図の左方から排出される。
また、雌ネジシール部6が設けられたフィルタホルダ3の円筒形の穴は、フィルタカートリッジ1に組みつけられている2個以上のフィルタ2を覆うだけの長さを持ち、フィルタホルダ開口部51からフィルタカートリッジ1の挿入口の方向に延長されている。フィルタホルダ3のフィルタカートリッジ挿入口の方へ延長された部分は予備加熱部52であり、予備加熱部52にはフィルタホルダ開口部51の周囲と同様に加熱ヒータ4が内蔵されている。これにより、次に使用される交換用フィルタは、フィルタホルダ開口部51に位置決めされるより以前に、予備加熱部52に位置している時点で、現在使用中のフィルタと同様に加熱される。
このように、フィルタカートリッジ1を前進させる操作を行った後で、フィルタホルダ開口部51に位置決めされたフィルタ2を加熱するのではなく、予備加熱部52において未使用のフィルタ2を予め加熱することによって、フィルタホルダ開口部51における使用前準備としてのフィルタ加熱時間を大幅に短縮もしくはゼロにすることができる。
ここでは予備加熱を常時行うことを想定しており、予備加熱部52に位置している次に使う交換用フィルタは、フィルタホルダ開口部51に位置して使用されているフィルタと同じ時間だけ予備加熱が続けられる。本実施形態では、フィルタホルダ開口部51の周囲の加熱部と予備加熱部52とは、連続的な構造として熱伝導率の良い材料、例えば金属で一体的に構成されている。これにより、フィルタホルダ開口部51の周囲の加熱部と予備加熱部52との温度はおおむね同等になる。なお、フィルタホルダ3とフィルタカートリッジ1とは、互いに嵌合した状態で常温より加熱する必要があることから、線膨脹係数がほぼ同等の材料によって構成するのがよい。
図5及び図6により、フィルタホルダとフィルタカートリッジの構造を説明する。図5はフィルタホルダ3の概略構造を示した機械図面(第三角法による)であり、図6はフィルタカートリッジ1の概略構造を示した機械図面(第三角法による)である。いずれも切断位置A−A’における断面図を併記する。
図7は、本実施形態におけるフィルタカートリッジ1の概略構造を、別の観点から示した図である。図7には、フィルタカートリッジ1の円柱表面の外周に形成されている雄ネジの形状の一例を示しており、上から順に上面概念図、側面概念図、及び外観図である。図7には、ネジのリードがピッチの4倍となる4条ネジとした場合の例を示した。このようなネジ形状とすることで、フィルタカートリッジ1が1旋回するごとにフィルタカートリッジ1はその開口部1個分だけ前進し、0.5旋回ごとに開口部0.5個分だけ前進する。つまりフィルタカートリッジ1が上下反転した状態では、フィルタカートリッジ1の流路形成用貫通穴53がフィルタホルダ3の開口部と整合した位置を取ることがなくなる。
このような構成とすることで、フィルタ2の上面に捕集されたもののガス化されていない夾雑物が、フィルタホルダ3の下部に開口している穴から分析部に向けて落下することを確実に防止することができる。
なお、フィルタホルダ3の雌ネジは、フィルタカートリッジ1の雄ネジと同じ仕様により形成する必要があることは言うまでもない。また、ここでは4条ネジであるものとして説明したが、ネジのリードがフィルタカートリッジ1の開口部1個分と等しければ、何条のネジであってもよい。
上記のように、微粒子分析装置の加熱気化部に濃縮部と分析部とを接続する流路を設け、流路に挿入された第1のフィルタと、流路の周囲を第1のフィルタが挿入された状態でシールするシール部と、第1のフィルタを加熱する加熱部と、流路の外に位置し次に流路に挿入される第2のフィルタと、第2のフィルタを加熱する予備加熱部と、第1のフィルタを流路から排出し第2のフィルタを流路に挿入するフィルタ交換機構とを備えることによって、微粒子を分析対象とすることができ、かつ、使用前準備としてのフィルタ加熱時間を大幅に短縮もしくはゼロにして連続してリアルタイム分析ができ、必要とされるフィルタ交換を十分短い時間内に完了させる効果が得られる。
加熱部により第1のフィルタを200℃から250℃の範囲に加熱することにより、フィルタに捕集した爆発物微粒子を加熱気化して分析することができる。
フィルタカートリッジに第1のフィルタと第2のフィルタを組み込み、フィルタ交換機構でフィルタカートリッジを駆動して第1のフィルタ及び第2のフィルタを流路を横切る方向に移動させてフィルタ交換を行うことにより、フィルタ交換を十分短い時間内に完了させることができる。
フィルタカートリッジを円柱形として外周に雄ネジを形成し、フィルタホルダに円筒形の穴を備え、その内面に前記雄ネジと嵌合する雌ネジを形成し、フィルタ交換機構は雄ネジを雌ネジに挿入して回転推進する機構とし、雄ネジと雌ネジの噛み合いによってシールを行うようにすることにより、フィルタ交換機構にシール部の機能を兼用させ、確実にシールを行うことができる。
このときフィルタカートリッジの外周に形成した雄ネジ及びフィルタホルダの内面に形成した雌ネジのリード長をフィルタホルダに保持された複数のフィルタのピッチ距離と等しく設定することで、フィルタの上面に捕集された夾雑物がフィルタホルダの開口部から分析部に向けて落下することを確実に防止することができる。
加熱部と予備加熱部をフィルタホルダに一体として備え、第1のフィルタと第2のフィルタを同時に加熱するように構成することで、加熱部と予備加熱部の温度をほぼ同じにすることができ、使用前準備としてのフィルタ加熱時間を大幅に短縮もしくはゼロにして連続してリアルタイム分析ができるようになる。
(B)第二の実施の形態
図8は本発明の第二の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図8は本発明の第二の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図8において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、5は雄ネジシール部、6は雌ネジシール部、7はボルトヘッド部、11は光源、12は光検出器、13は検出穴、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本実施形態の動作を説明する。第二の実施形態の構成及び動作は、第一の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第二の実施形態では、フィルタカートリッジ1に、複数の検出穴13が設けられている。また、微粒子分析装置は光源11と光検出器12を備える。光源11は光検出器12に向けて光線、例えばレーザ光線を出射し、光源11と光検出器12を結ぶ光路は、フィルタカートリッジ1の前進する経路と交差するように設定されている。光源11から出射され、検出穴13を通過した光線は光検出器12で検出される。これら追加の構成要素は、フィルタカートリッジ1の位置決めを精密に行うために設けられたものである。
第一の実施形態においては、フィルタカートリッジ1の位置決めは、ボルトヘッド部7を旋回する量によって制御される。一方、第二の実施形態では、フィルタカートリッジがどれだけ前進したかを、光源11と光検出器12の間にフィルタカートリッジ1の検出穴13が整列していることを検出することで、より精密に制御する。すなわち、制御部106は、光検出器12の出力信号をモニタしながら送り部61によるフィルタカートリッジ1の旋回動作を制御する。そして、光源11から出射された光線がフィルタカートリッジ1の検出穴13を通って光検出器12で検出されたとき、制御部106は光検出器12からの信号を受けて送り部61に指令し、フィルタカートリッジ1の旋回動作を止める。これにより、フィルタカートリッジ1の位置決めを高精度に行うことができる。
ここで検出穴13は、フィルタカートリッジ1に組みつけられているフィルタ2から、できるだけ離れた位置に設けるのがよい。これにより、雄ネジシール部5と雌ネジシール部6により構成される、フィルタカートリッジ1とフィルタホルダ3の間の密閉効果を維持することができる。また、図8の例では、検出穴13はフィルタカートリッジ1の流路形成用貫通穴53と同一の方向にフィルタカートリッジ1の中心軸を通って貫通するように設けられているが、検出穴13の方向及び設置位置はこれに限るものではなく、これと直交する方向であってもよいし、フィルタカートリッジ1の中心軸からオフセットした位置を通過するように設けてもよい。
また、検出穴13は、必ずしも穴である必要すらなく、雄ネジシール部5の外周部に設けた切欠きであってもよい。この場合、当然であるが、光源11及び光検出器12の設置位置は、フィルタカートリッジ1の中心軸を通過する位置ではなく、フィルタカートリッジ11の外周部が通過する位置に設置することが必要となる。
本実施形態の理解を助けるため、フィルタカートリッジ1に設ける検出穴13の概略構造の例を図9〜12に示す。図9は、検出穴13がフィルタカートリッジ1に設けられた流路形成用貫通穴53の軸と同じ方向、すなわちフィルタの面と直交する方向に延び、かつフィルタカートリッジ1の中心軸を通過している例を示している。図10は、検出穴13が流路形成用貫通穴53の軸と直交する方向、すなわちフィルタの面と平行な方向に延び、かつフィルタカートリッジ1の中心軸を通過している例を示している。図11は、検出穴13が流路形成用貫通穴53の軸と同じ方向、すなわちフィルタの面と直交する方向に延び、かつフィルタカートリッジ1の中心からオフセットした位置を通過している例を示している。図12は、検出穴13が、穴ではなく切欠きとして流路形成用貫通穴53の軸と直交する方向、すなわちフィルタの面と平行な方向に延びるように形成されている例を示している。このようにフィルタカートリッジ1の回転中心からずれた位置に検出穴13を設けることで、位置の一意性を向上できる。
上記のように、フィルタカートリッジに位置検出用の検出穴を設け、フィルタ交換機構に光源と光検出器を設置し、光源から出射された光線がフィルタカートリッジの検出穴を通って光検出器で検出されたときフィルタカートリッジの駆動を止めるようにすることによって、フィルタ交換時のフィルタカートリッジの位置決め精度を高めることができる。
また、上記のようにフィルタカートリッジに位置検出用の切欠き部を設け、フィルタ交換機構に光源と光検出器を設置し、光源から出射された光線がフィルタカートリッジの切欠き部を通って光検出器で検出されたときフィルタカートリッジの駆動を止めるようにすることによって、フィルタ交換時のフィルタカートリッジの位置決め精度を高めることができる。
(C)第三の実施の形態
図13は本発明の第三の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図13は本発明の第三の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図13において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、5は雄ネジシール部、6は雌ネジシール部、7はボルトヘッド部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本発明の第三の実施形態の動作を説明する。第三の実施形態の構成及び動作は、第一の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第三の実施形態では、フィルタホルダ3の周囲に切欠き35を設け、この切欠き35によりフィルタホルダ開口部51と予備加熱部52の間の熱抵抗が大きくなるように構成した。また、予備加熱部52には、フィルタホルダ開口部51より高密度で加熱ヒータ4を内蔵し、より高温となるように構成した。
第三の実施形態では、フィルタ2は、予備加熱部52に滞留している間、相対的に高温の環境下に置かれることで、単に予備的に加熱されるだけでなく、フィルタ2の表面に付着している夾雑物質を加熱分解し除去するように構成される。加熱分解された夾雑物質は、予備加熱部52付近に設けたガス抜き穴から排出される。このように構成することで、フィルタホルダ3に挿入する前のフィルタカートリッジ1の取り扱い手段をより低い清浄レベルとすることができ、装置全体としての構成簡素化が可能となる。
相対的に高温とは、例えば、通常の加熱温度を250℃とすると、260℃程度でよい。これにより、検出対象としている物質(爆発物微粒子など)と同程度の温度で気化する別の夾雑物質が、ノイズとして分析部に導入されてしまうことを回避できる。
なお、本実施形態では、予備加熱部52を相対的に高温とするための手段として、加熱ヒータ4を高密度で内蔵する例を示したが、高温にする手段はこれに限るものではなく、フィルタホルダ開口部51と予備加熱部52とで加熱ヒータ4の加熱性能に差をつけるといった手段であっても差し支えない。
また、フィルタホルダ開口部51と予備加熱部52との間の熱抵抗を大きくするための手段として、両者の間に切欠きを設ける例を説明したが、こちらもこの手段に限るものではなく、例えば、両者の間に熱抵抗の大きい材料を挟み込むといった手段であっても差し支えない。
上記のように、予備加熱部を加熱部から独立させ、予備加熱部による加熱温度を加熱部による加熱温度よりも高温に設定することにより、予備加熱部に位置するフィルタの表面に付着している夾雑物質を加熱分解し除去することができ、夾雑物質がノイズとして分析部に導入されてしまうことを回避できる効果がある。それにより、フィルタホルダに挿入する前のフィルタカートリッジの取り扱い手段をより低い清浄レベルとすることができ、装置全体としての構成簡素化が可能となる。
(D)第四の実施の形態
図14は本発明の第四の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図14は本発明の第四の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図14において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、5は雄ネジシール部、6は雌ネジシール部、7はボルトヘッド部、21はハロゲンランプヒータ、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本発明の第四の実施形態の動作を説明する。第四の実施形態の構成及び動作は、第三の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第四の実施形態では、予備加熱部52にハロゲンランプヒータ21を備える。予備加熱部52に位置しているフィルタ2は、加熱ヒータ4によって予備的に加熱される。これに加えて本実施形態では、フィルタ2の表面に付着している夾雑物質を加熱分解し除去するために、ハロゲンランプヒータ21による追加の加熱を行う。夾雑物質を加熱分解するには比較的短時間、追加加熱するだけで十分であり、長時間その環境に維持することは必ずしも必要ではない。このため、高密度で加熱ヒータ4を内蔵するといった構成の代わりに、ハロゲンランプヒータ21のような赤外線照射によって短時間で対象物を加熱することができる加熱手段を設け、夾雑物質の加熱分解を行う。加熱分解した夾雑物を含むガスは、追加加熱手段付近に設けたガス抜き穴から排出する。ここで短時間とは、例えば数十秒程度の時間である。追加加熱するタイミングは、新しいフィルタが予備加熱部52へ導入され、予備加熱目標温度に到達した後、フィルタホルダ開口部51へ送られるまでの間であることが望ましい。例えば、次の位置へフィルタを送る数十秒前から追加加熱を施し、数十秒間の追加加熱が完了次第、フィルタ送りを実施するといった動作タイミングが考えられる。
なお、短時間で加熱することができる手段であれば必ずしもハロゲンランプヒータを用いる必要はなく、適宜類似の手段を用いて加熱する構成であっても構わない。
上記のように、予備加熱部に赤外線照射手段を備えることによって、短時間の追加加熱でフィルタの表面に付着している夾雑物質を加熱分解することができるという効果が得られる。
上記のように、予備加熱部に赤外線照射手段を備えることによって、短時間の追加加熱でフィルタの表面に付着している夾雑物質を加熱分解することができるという効果が得られる。
(E)第五の実施の形態
図15は本発明の第五の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図15は本発明の第五の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図15において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、5は雄ネジシール部、6は雌ネジシール部、7はボルトヘッド部、31は前面嵌合部、32は後面嵌合部、33はカートリッジ回収部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本発明の第五の実施形態の動作を説明する。第五の実施形態の構成及び動作は、第一の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第五の実施形態では、フィルタカートリッジ1は、その軸方向に多数連結されている。1つのフィルタカートリッジ1は1つのフィルタ2を内蔵し、各フィルタカートリッジは前面に前面嵌合部31を、後面に後面嵌合部32を有する。1つのフィルタカートリッジ1の前面嵌合部31がその直前に位置する別のフィルタカートリッジ1の後面嵌合部32に嵌合することで、複数のフィルタカートリッジ同士が連結される。フィルタカートリッジ1は多数連結された状態でフィルタホルダ3へ挿入され、第一の実施形態と同様に、旋回しながら前進していく。使用済みのフィルタカートリッジ1は、完全にフィルタホルダ3から抜け出した後でフィルタカートリッジ同士の連結が解放され、カートリッジ回収部33へと回収される。
このような構成とすることで、特にフィルタ交換の頻度が頻繁である場合、使用済みのフィルタカートリッジ1を格納しておくスペースの確保が容易になる。また、使用前のフィルタカートリッジ1を格納しておくスペースの確保も容易になる。
なお、ここでは、1つのフィルタ2が1つのフィルタカートリッジ1に組みつけられている例を説明したが、もちろんこの構成に縛られるものではなく、2つ以上のフィルタ2が、1つのフィルタカートリッジに組みつけられている構成であっても差し支えない。
上記のように、各々が1個あるいは2個以上のフィルタを内蔵するフィルタカートリッジを軸方向に複数個連結してフィルタホルダに挿入する形態とすることで、省スペース化を図ることができる効果がもたらされる。
(F)第六の実施の形態
図16は本発明の第六の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図16は本発明の第六の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図16において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、41は上下動挟み込み機構、42はシール部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、61は送り部、106は制御部である。
以下、本発明の第六の実施形態の動作を説明する。第六の実施形態では、フィルタカートリッジ1とフィルタホルダ3の間を密閉する手段として、これまでの実施形態のネジ機構ではなく、シール部42を上下から挟み込む機構を採用した。シール部42は個々のフィルタ2を取り囲むようにしてフィルタカートリッジ1の上下の面に設けられている。上下動挟み込み機構41を動作させてフィルタホルダ3のフィルタカートリッジ対向面でフィルタカートリッジ1を上下方向から挟み込むことでシール部42を押圧して変形させ、少なくともフィルタホルダ開口部51の周囲をシールする。
説明の簡単のため、ここではフィルタカートリッジ1は直方体の外形を有するものとする。すなわち、フィルタカートリッジ1の上面と下面は平面であり、これと向き合うフィルタホルダ3の面も平面であるものとする。両者の間にはシール部42が介在しており、フィルタホルダ3が上下動挟み込み機構によりフィルタカートリッジ1を挟み込むと、シール部42の働きによって密閉が行われる。フィルタ交換を行う時、制御部106は、上下動挟み込み機構41をゆるめることでフィルタホルダ3からフィルタカートリッジ1を解放し、次のフィルタ2がフィルタホルダ開口部51に位置決めされるまで送り部61によりフィルタカートリッジ1を前進させ、再び上下動挟み込み機構41によりフィルタカートリッジ1を挟み込むという動作を実行させる。
なお、本実施形態では、シール部42がフィルタカートリッジ1に備わっている例で説明したが、必ずしもこの通りである必要はなく、シール部42はフィルタホルダ3に備わっていても差し支えない。また、必ずしもフィルタカートリッジ1が直方体であったり、フィルタカートリッジ1とフィルタホルダ3とが平面で相対していたりする必要はなく、互いに隙間なく密閉ができる形状であればよい。
上記のように、フィルタホルダはフィルタカートリッジを挟み込む動作をする駆動機構を備え、シール部は、駆動機構による挟み込み動作によりフィルタホルダとフィルタカートリッジとが接触することによってシールを行う構成とすることによって、確実にシールを行うことができるとともに、加熱部とフィルタカートリッジの間での十分な熱伝達を行うことができるという効果が得られる。
(G)第七の実施の形態
図17は本発明の第七の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図17は本発明の第七の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図17において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、41は上下動挟み込み機構、42はシール部、43は送り出し機構部、44は巻き取り機構部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、106は制御部である。
以下、本発明の第七の実施形態の動作を説明する。第七の実施形態の構成及び動作は、第六の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第七の実施形態では、フィルタカートリッジ1の形態は、これまでの実施形態のような棒状ではなく、巻き取り可能なシート形状である。シート状のフィルタカートリッジ1は、使用開始時は送り出し機構部43に巻き取られており、フィルタ交換動作のたびに、巻き取り機構部44に巻き取ることで前進させる。フィルタ交換の時、制御部106は、上下動挟み込み機構41を降下させてシール部42を緩め、次に送り出し機構部43及び巻き取り機構部44を動作させてフィルタホルダ開口部51へ未使用の次のフィルタ2を位置決めする。続いて制御部106は、上下動挟み込み機構41を上昇させ、フィルタカートリッジ1をシール部42で挟み込んで密閉してフィルタ交換を完了する。十分なシールを行うためには、複数のフィルタ2を隣り合うフィルタ間に間隙が形成されるようにしてフィルタカートリッジ1に配置し、シール時にはフィルタホルダ3に設けたシール部42をその間隙に挿入してシールを行うのが好ましい。
なお、本実施形態では、フィルタ2は湾曲することのない構造として図示しているが、必ずしもこのような構造である必要はなく、自由に湾曲する材料でフィルタ2を構成してもよい。
上記のように、フィルタカートリッジの形態を巻き取り可能なシート形状とすることによって、省スペース化及び低コスト化を図ることができる。
上記のように、フィルタカートリッジの形態を巻き取り可能なシート形状とすることによって、省スペース化及び低コスト化を図ることができる。
(H)第八の実施の形態
図18は本発明の第八の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図18は本発明の第八の実施形態を示したものであり、本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図である。
図18において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、33はカートリッジ回収部、41は上下動挟み込み機構、42はシール部、45はカートリッジ蓄積部、46は巻き取り機構部、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、106は制御部である。
以下、本発明の第八の実施形態の動作を説明する。第八の実施形態の構成及び動作は、第七の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第八の実施形態では、シート状のフィルタカートリッジ1は、予め巻き取られているのではなく、予め折りたたまれた状態でカートリッジ蓄積部45に収納されている。フィルタカートリッジ1は、巻き取り機構部46の動作によって前進し、逐次カートリッジ蓄積部45から引き出され、フィルタホルダ開口部51に新しいフィルタ2を位置づけることでフィルタ交換動作が行われる。また、使用済みのフィルタカートリッジは、カートリッジ回収部33に逐次回収される。すなわち、フィルタ交換の際には、制御部106は、上下動挟み込み機構41を降下させてシール部42を緩め、次に巻き取り機構部44を動作させてフィルタホルダ開口部51へ未使用の新しいフィルタ2を位置決めする。続いて制御部106は、上下動挟み込み機構41を上昇させ、フィルタカートリッジ1をシール部42で挟み込んで密閉し、フィルタ交換を完了する。十分なシールを行うためには、複数のフィルタ2を隣り合うフィルタ間に間隙が形成されるようにしてフィルタカートリッジ1に配置し、シール時にはフィルタホルダ3に設けたシール部42をその間隙に挿入してシールを行うのが好ましい。
上記のように、フィルタカートリッジの形態を折りたたみ可能なシート形状とすることによって、省スペース化及び低コスト化を図ることができる。
(I)第九の実施の形態
図19、図20は本発明の第九の実施形態を示したものであり、図19は本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図、図20は斜視図である。
図19、図20は本発明の第九の実施形態を示したものであり、図19は本実施形態による微粒子分析装置の加熱気化部103の断面模式図、図20は斜視図である。
図19、図20において、1はフィルタカートリッジ、2はフィルタ、3はフィルタホルダ、4は加熱ヒータ、41は上下動挟み込み機構、42はシール部、47はフィルタ回転機構、51はフィルタホルダ開口部、52は予備加熱部、106は制御部である。
以下、本発明の第九の実施形態の動作を説明する。第九の実施形態の構成及び動作は、第八の実施形態と類似しているため、ここでは主に両者の差分について説明する。
第九の実施形態では、フィルタカートリッジ1は円盤状の構造をしている。フィルタカートリッジ1は、制御部106の制御下にフィルタ回転機構47によって回転し、これにより未使用のフィルタがフィルタホルダ3に対して位置決めされ、フィルタ交換動作が行われる。フィルタカートリッジ1には周方向に多数のフィルタが配置されている。次に使う順番のフィルタは、予備加熱部52で適正な温度に加熱しておき、フィルタ交換時のダウンタイム低減を図る。フィルタ交換の際には、制御部106は、上下動挟み込み機構41を降下させてシール部42を緩め、次にフィルタ回転機構47を駆動してフィルタホルダ開口部51へ未使用の次のフィルタ2を位置決めする。続いて制御部106は、上下動挟み込み機構41を上昇させ、フィルタカートリッジ1をシール部42で挟み込んで密閉し、フィルタ交換を完了する。
以上のように、フィルタカートリッジを円盤状の構造とし周方向に複数のフィルタを配置したことによって、フィルタを送る機構の簡易化、高信頼化及び低コスト化を図ることができる。
以上、本明細書においては、説明の簡単のため、それぞれの特徴を個別の実施形態として説明したが、もちろんいくつかの特徴を同時に実施しても差し支えない。また、本明細書においては、濃縮部、ガス分析部等の詳細については述べていないが、これら単体の機能は、それぞれ既存の技術により実現することができる。例えば、ガス分析部として質量分析器もしくはイオンモビリティ検出器、濃縮部としてサイクロン分粒器などを用いることができる。
また、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
1 フィルタカートリッジ
2 フィルタ
3 フィルタホルダ
4 加熱ヒータ
5 雄ネジシール部
6 雌ネジシール部
7 ボルトヘッド部
8 濃縮部
11 光源
12 光検出器
13 検出穴
21 ハロゲンランプヒータ
31 前面嵌合部
32 後面嵌合部
33 カートリッジ回収部
41 上下動挟み込み機構
42 シール部
43 送り出し機構部
44 巻き取り機構部
45 カートリッジ蓄積部
46 巻き取り機構部
47 フィルタ回転機構
51 フィルタホルダ開口部
52 予備加熱部
61 送り部
101 捕集部
102 排気部
103 加熱気化部
104 分析部
105 表示操作部
106 制御部
2 フィルタ
3 フィルタホルダ
4 加熱ヒータ
5 雄ネジシール部
6 雌ネジシール部
7 ボルトヘッド部
8 濃縮部
11 光源
12 光検出器
13 検出穴
21 ハロゲンランプヒータ
31 前面嵌合部
32 後面嵌合部
33 カートリッジ回収部
41 上下動挟み込み機構
42 シール部
43 送り出し機構部
44 巻き取り機構部
45 カートリッジ蓄積部
46 巻き取り機構部
47 フィルタ回転機構
51 フィルタホルダ開口部
52 予備加熱部
61 送り部
101 捕集部
102 排気部
103 加熱気化部
104 分析部
105 表示操作部
106 制御部
Claims (15)
- 検出対象の微粒子を含む気体を濃縮する濃縮部と、前記濃縮部で濃縮された気体中の微粒子を捕集し加熱気化させる加熱気化部と、前記加熱気化部で加熱気化された試料を分析する分析部とを有し、
前記加熱気化部は、前記濃縮部と前記分析部とを接続する流路と、前記流路に挿入された第1のフィルタと、前記流路の周囲を前記第1のフィルタが挿入された状態でシールするシール部と、前記第1のフィルタを加熱する加熱部と、前記流路の外に位置し次に前記流路に挿入される第2のフィルタと、前記第2のフィルタを加熱する予備加熱部と、前記第1のフィルタを前記流路から排出し前記第2のフィルタを前記流路に挿入するフィルタ交換機構とを備えることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項1に記載の微粒子分析装置において、
前記加熱部は前記第1のフィルタを200℃から250℃の範囲に加熱することを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項1に記載の微粒子分析装置において、
前記第1のフィルタと前記第2のフィルタは、フィルタを保持するためのフィルタカートリッジに組み込まれ、前記フィルタ交換機構は前記フィルタカートリッジを駆動して前記第1のフィルタ及び前記第2のフィルタを前記流路を横切る方向に移動させることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項3に記載の微粒子分析装置において、
前記フィルタカートリッジを装着するフィルタホルダを備え、前記フィルタホルダに前記流路が設定されていることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項4に記載の微粒子分析装置において、
前記フィルタカートリッジは円柱形であって、その外周に雄ネジが形成されており、
前記フィルタホルダは円筒形の穴を備え、その内面に前記雄ネジと嵌合する雌ネジが形成されており、
前記フィルタ交換機構は前記雄ネジを前記雌ネジに挿入して回転推進する機構であり、
前記シール部は前記雄ネジと前記雌ネジの噛み合いによってシールを行うことを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項5に記載の微粒子分析装置において、
前記雄ネジ及び前記雌ネジのリード長は、前記フィルタホルダに保持された複数のフィルタのピッチ距離と等しいことを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項4に記載の微粒子分析装置において、
前記フィルタホルダは前記フィルタカートリッジを挟み込む動作をする駆動機構を備え、
前記シール部は、前記駆動機構による前記挟み込み動作により前記フィルタホルダと前記フィルタカートリッジとが接触することによってシールを行うことを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項4に記載の微粒子分析装置において、
前記加熱部と前記予備加熱部とは前記フィルタホルダに一体として備えられ、前記第1のフィルタと前記第2のフィルタを同時に加熱することを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項8に記載の微粒子分析装置において、
前記加熱部と前記予備加熱部を合わせた長さは、前記フィルタカートリッジに保持された少なくとも2つのフィルタの中心間距離より長く、前記フィルタホルダは前記フィルタカートリッジ送り方向の逆方向に延長されていることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項1に記載の微粒子分析装置において、
前記予備加熱部は前記加熱部から独立しており、前記予備加熱部は前記第2のフィルタを前記加熱部による前記第1のフィルタの加熱温度よりも高温に加熱することを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項10に記載の微粒子分析装置において、
前記予備加熱部は前記加熱部と比べ加熱ヒータを高密度で備えることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項10に記載の微粒子分析装置において、
前記予備加熱部は赤外線照射手段を備えることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項3に記載の微粒子分析装置において、
前記フィルタカートリッジは位置検出用の検出穴を有し、
前記フィルタ交換機構は光源と光検出器を備え、前記光源から出射された光線が前記フィルタカートリッジの前記検出穴を通って前記光検出器で検出されたとき前記フィルタカートリッジの駆動を止めることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項13に記載の微粒子分析装置において、
前記検出穴は、前記フィルタの面と平行な方向に延長していることを特徴とする微粒子分析装置。 - 請求項3に記載の微粒子分析装置において、
前記フィルタカートリッジは位置検出用の切欠き部を有し、
前記フィルタ交換機構は光源と光検出器を備え、前記光源から出射された光線が前記フィルタカートリッジの前記切欠き部を通って前記光検出器で検出されたとき前記フィルタカートリッジの駆動を止めることを特徴とする微粒子分析装置。
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