JP6042002B1 - 構造体 - Google Patents
構造体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6042002B1 JP6042002B1 JP2016012844A JP2016012844A JP6042002B1 JP 6042002 B1 JP6042002 B1 JP 6042002B1 JP 2016012844 A JP2016012844 A JP 2016012844A JP 2016012844 A JP2016012844 A JP 2016012844A JP 6042002 B1 JP6042002 B1 JP 6042002B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elastic layer
- layer
- step portion
- fine pattern
- young
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 60
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 60
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 58
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 63
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 40
- -1 acryl Chemical group 0.000 description 27
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 15
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 10
- 230000001588 bifunctional effect Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 6
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920005862 polyol Polymers 0.000 description 4
- 150000003077 polyols Chemical class 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000000954 2-hydroxyethyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])O[H] 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N butane-1,4-diol Chemical compound OCCCCO WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 229920001228 polyisocyanate Polymers 0.000 description 2
- 239000005056 polyisocyanate Substances 0.000 description 2
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 2
- 229920002215 polytrimethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 2
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 2
- DTGKSKDOIYIVQL-WEDXCCLWSA-N (+)-borneol Chemical group C1C[C@@]2(C)[C@@H](O)C[C@@H]1C2(C)C DTGKSKDOIYIVQL-WEDXCCLWSA-N 0.000 description 1
- ALVZNPYWJMLXKV-UHFFFAOYSA-N 1,9-Nonanediol Chemical compound OCCCCCCCCCO ALVZNPYWJMLXKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBFBFJVRBIGLND-UHFFFAOYSA-N 2,2-bis(hydroxymethyl)butane-1,4-diol Chemical compound OCCC(CO)(CO)CO HBFBFJVRBIGLND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCZVSXRMYJUNFX-UHFFFAOYSA-N 2-[2-(2-hydroxypropoxy)propoxy]propan-1-ol Chemical compound CC(O)COC(C)COC(C)CO LCZVSXRMYJUNFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SXIFAEWFOJETOA-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxy-butyl Chemical group [CH2]CCCO SXIFAEWFOJETOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WMONOXOCMIPNNU-UHFFFAOYSA-N C=CC(=O)OCCCC(O)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O Chemical compound C=CC(=O)OCCCC(O)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O WMONOXOCMIPNNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N Dodecane Natural products CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 239000005057 Hexamethylene diisocyanate Substances 0.000 description 1
- 230000005483 Hooke's law Effects 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000013329 compounding Methods 0.000 description 1
- 125000006165 cyclic alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000002704 decyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 125000003438 dodecyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 235000011187 glycerol Nutrition 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N hexamethylene diisocyanate Chemical compound O=C=NCCCCCCN=C=O RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 125000005641 methacryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001280 n-hexyl group Chemical group C(CCCCC)* 0.000 description 1
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N neopentyl glycol Chemical compound OCC(C)(C)CO SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940117969 neopentyl glycol Drugs 0.000 description 1
- 229920002601 oligoester Polymers 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- PWGIEBRSWMQVCO-UHFFFAOYSA-N phosphono prop-2-enoate Chemical compound OP(O)(=O)OC(=O)C=C PWGIEBRSWMQVCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920005906 polyester polyol Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- FZYDVDRIQZXXIW-UHFFFAOYSA-N propanoic acid;prop-2-enoic acid Chemical compound CCC(O)=O.OC(=O)C=C FZYDVDRIQZXXIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 125000004079 stearyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N toluene 2,4-diisocyanate Chemical compound CC1=CC=C(N=C=O)C=C1N=C=O DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C33/00—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor
- B29C33/38—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor characterised by the material or the manufacturing process
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C59/00—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
- B29C59/02—Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
- Architecture (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
好ましくは、前記弾性層のヤング率に対する前記基材のヤング率の比の値が10以上である。
好ましくは、前記微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部を含み、前記微細パターンの前記高さが異なる複数の領域は、高段部及び前記高段部より高さの低い低段部を含み、前記高段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、前記低段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離が、500μm以下である。
好ましくは、前記樹脂層は、前記微細パターンが設けられている領域での最薄部の厚さが、100nm以下である。
好ましくは、前記樹脂層の厚さに対する前記弾性層の厚さの比の値が10以上である。
好ましくは、前記弾性層は、一様な厚さを有する。
以下、図1を用いて本発明の実施形態に係る構造体2について説明する。以下に示す実施形態中で示した各種特徴事項は、互いに組み合わせ可能である。また、各特徴事項について独立して発明が成立する。
図1(a)は本発明の一実施形態に係る構造体2を表す模式図であり、図1(b)は図1(a)における領域Xの部分拡大図である。構造体2は、基材23と、弾性層22と、樹脂層24と、を有する。樹脂層24は、弾性層22の反対側の面に微細パターン26を備える。微細パターン26は、例えば樹脂組成物により構成される樹脂層である。
微細パターン26は、例えば透明樹脂層であり、その厚さd1(微細パターン26を有する面24bと高段部21hの凸部の上面までの距離であり、樹脂層24の厚さでもある)は、1nm〜1mmが好ましい。より好ましくは、5nm〜200nmである。さらに好ましくは、10nm〜100nmである。このような厚さとすれば、インプリント加工が行い易い。
弾性層22は、微細パターン26の載置面側に設けられた層である。弾性層22は、例えば樹脂で構成することができる。弾性層22は、(1)弾性層22のヤング率が1GPa以下である、又は、(2)弾性層22のヤング率が弾性層22を支持する基材23のヤング率よりも小さい、という特性を有する。ここで、ヤング率とは、フックの法則が成立する弾性範囲における、同軸方向のひずみと応力の比例定数である。線形弾性体では、ヤング率をE、ひずみをx、応力をFとすると、「F=Ex」が成立する。これより、ひずみの大きさが同じ場合、ヤング率が大きい物質ほどひずんだ状態からの復元力が大きくなることがわかる。弾性層22のヤング率の上限は、1GPa以下が好ましい。より好ましくは、500MPa以下である。さらに好ましくは、200MP以下である。弾性層22のヤング率の下限は、0.5MPa以上が好ましい。より好ましくは、1MPa以上である。さらに好ましくは、5MPaである。とりわけ好ましくは、10MPa以上である。弾性層22のヤング率は、例えば、15,20,25,30,35,40,45,50,55,60MPaであり、ここで例示した数値の何れか2つの間の範囲内であってもよい。
基材23は、弾性層22を支持するものである。基材23の材質は、特に限定されず、公知の樹脂、石英、金属などを用いることができる。また、同種又は異種の基材を積層したり、基材に樹脂組成物を膜状に積層させたりしてもよい。基材23は、例えば、樹脂基材、石英基材などの透明材料で形成される。
次に、図2〜図4を用いて、構造体2の製造方法について説明する。本発明に係る製造方法としては、弾性層の上側に被転写層を形成する被転写層形成工程と、微細パターンを有するモールドを前記被転写層に押し付けて、前記被転写層に前記微細パターンを転写する転写工程と、前記被転写層を硬化する硬化工程と、を備え、以下の(1)又は(2)の構成を備える;(1)弾性層のヤング率が1GPa以下である(2)弾性層のヤング率が前記弾性層を支持する基材のヤング率よりも小さい、構造体の製造方法を用いることができる。(1)は、基材23を用いずに弾性層22を載置面に直接載置した場合の条件である。(2)は、弾性層22の下側に基材23を設けた場合の条件である。ヤング率の調整方法は特に限定されないが、例えば複数の樹脂の配合比率を変更することによりヤング率を調整することができる。
<複合モールド1>
図2は、本発明の一実施形態に係る構造体2を製造する際に用いる複合モールド1と、被転写層21、弾性層22及び基材23を示す模式図である。複合モールド1は、基材13上に高さが異なる複数の領域が存在する微細パターンを有するモールドである。本実施形態の微細パターンは、一定の周期で繰り返す凹凸状の微細形状パターンである。微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部で構成される。また、微細パターンには、高段部11h及び低段部11lが含まれる。低段部11lは、高段部11hより高さの低い領域である。図2に示されるように、基材13から高段部11hの凸部までの距離と比べ、基材13から低段部11lの凸部までの距離の方が短くなっている。高段部11hを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、低段部11lを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離Dは、0.5nm〜500μmが好ましい。なお、複数の凸部の高さは厳密には異なるので、複数の凸部の平均的な高さを仮想線として用いることとしてもよい。ここで、微細パターンの周期及び転写面は、上述の微細パターン26と同様の条件とすることができる。また、高段部11hと低段部11lの深さは実質的に同じであってもよく、それぞれ異なっていても良い。このように設定すれば、後述の被転写層21に充分な微細パターンを転写することができる。凹凸の具体的な形状としては、モスアイ、線、円柱、モノリス、円錐、多角錐、マイクロレンズが挙げられる。また、微細パターンは、ランダムに凹凸する微細形状パターンであってもよいし、複数の凹凸を有する微細形状パターンであってもよい。
被転写層21は、複合モールド1の微細パターンが転写される層である。被転写層21は、微細パターン26を形成するものであり、例えば光硬化性樹脂組成物で構成される。被転写層21は、例えば透明樹脂層であり、その厚さd1は、1nm〜1mmが好ましい。より好ましくは、5nm〜200nmである。さらに好ましくは、10nm〜100nmである。このような厚さとすれば、インプリント加工が行い易い。本実施形態では、モノマーと、光開始剤を含有し、活性エネルギー線の照射によって硬化する性質を有する光硬化性樹脂組成物を用いる。
<弾性層22>
iso-プロピル(メタ)アクリレート、iso-ブチル(メタ)アクリレート、tert-ブチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレートおよびイソオクチル(メタ)アクリレートなどの分岐状アルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステル;
イソボルニル(メタ)アクリレートおよびシクロへキシル(メタ)アクリレートなどの環状アルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステル;
ベンジル(メタ)アクリレートおよびフェノキシエチル(メタ)アクリレートなどの芳香環基を有する(メタ)アクリル酸エステルなどを挙げることができる。
また、本発明のウレタン(メタ)アクリレートは、日本合成化学工業社製の「紫光」シリーズやDIC株式会社製の「UNIDIC」シリーズなどの市販品を用いることができる。
基材23の材質は特に限定されないが、樹脂基材、シリコーン基材、石英基材などの透明材料で形成されることが好ましい。樹脂基材を構成する樹脂として、ポリカーボネート、ポリエステル(ポリエチレンテレフタレート(PET))、ポリトリメチレンテレフタレート(PTT)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリブチレンナフタレート(PBN))、ポリオレフィン、環状ポリオレフィン、ポリイミド、ポリサルフォン、ポリエーテルサルフォン等を利用することができる。また、樹脂基材を用いる場合には、同種又は異種の基材を積層したり、樹脂基材に樹脂組成物を膜状に積層させたりしてもよい。
<転写工程及び硬化工程>
次に、構造体2の製造方法の各工程について説明する。図3は、本実施形態に係る構造体2の製造方法について説明する図であり、(a)は複合モールド1の押圧前、(b)は被転写層21の硬化、(c)は複合モールド1の離間について示す図である。なお、説明の都合上、複合モールド1に含まれる高段部11h及び低段部11lと、被転写層21及び弾性層22の高さ方向の縮尺を変更している。また、基材23は図示を省略している。
図4は、図3(c)の拡大図であり、構造体2に含まれる高段部21hの高さと低段部21lの高さの差が小さくなるメカニズムを説明する図である。下方の矢印の下側の破線で示される位置が弾性層22の復元前の位置であり、下方の矢印の上側の点線で示される位置が弾性層22の復元後の位置である。また、上方の矢印の下側の破線で示される位置が弾性層22の復元前における低段部21lの凸部先端の位置であり、上方の矢印の上側の点線で示される位置が弾性層22の復元後における低段部21lの凸部先端の位置である。そして、弾性層22が矢印の分だけ復元することにともない、弾性層22に支持される微細パターン26の低段部21lも矢印の分だけ上昇する。これにより、低段部21lの凸部の上面を結ぶ仮想線と、高段部21hの凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離は、弾性層22の復元前のDから弾性層22の復元後にD1へと変化する。ここで、弾性層22の復元前において、低段部21lの凸部の上面を結ぶ仮想線と、高段部21hの凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離は、硬化前の被転写層21に転写された複合モールド1の微細パターンにおける高段部11hを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、低段部11lを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離Dと等しいとした。実際には、構造体2における距離Dと複合モールド1における距離Dが等しくならない場合もあるが、説明の都合上、これらの距離が等しいとして近似した。なお、複数の凸部の高さは厳密には異なるので、複数の凸部の平均的な高さを仮想線として用いることとしてもよい。
(1)基材23との密着性(基材23を用いない場合は無関係)
基材23と弾性層22が剥離しない程度の密着性が必要である。このために、例えば、プライマー処理や易接着処理により、弾性層22を所望の特性へと調整することが考えられる。
(2)被転写層21に対する耐性及び密着性
弾性層22から被転写層21が剥離しない程度の密着性が必要である。また、被転写層21が液体のUV硬化樹脂の場合には、被転写層21に対して弾性層22がある閾値以上膨張及び溶解しないことが必要である。
(3)適度な弾性
後述の実施例より、弾性層22のヤング率が小さくなるにつれて、構造体2の微細パターン26の高さの差D1が小さくなっていることがわかる。しかし、弾性層22のヤング率が小さすぎると、弾性層の復元力が低くなりすぎて構造体2の微細パターン26の高さの差D1が小さくなりにくくなる。
次に、図5を用いて、かかる構造体2を複合モールド1として利用し、他の構造体3を製造する方法について説明する。図5における構造体2が図2における複合モールド1に対応する。なお、複合モールド1では弾性層がなかったが、構造体2には弾性層22がある点が異なる。また、図5における被転写層31及び基材33が、図2における被転写層21及び基材23に対応する。これらの機能は同様であるため、説明を省略する。このように、構造体2を被転写層31上に位置させた状態から、構造体3の製造が開始される。
次に、図7を用いて、その他の実施形態について説明する。図7(a)に示されるように、弾性層22の下側に基材23を設けず、弾性層22を直接載置面に載置する構成としてもよい。この場合、弾性層22が載置面に対して直立可能なように弾性層22のヤング率が調整される。ヤング率の調整方法は特に限定されないが、例えば複数の樹脂の配合比率を変更することによりヤング率を調整することができる。
次に、構造体2の具体的な製造条件について説明する。かかる製造条件は適宜調整することが可能であるが、一例として、以下の製造条件で構造体2を製造した場合について説明する。特に、弾性層22のヤング率を変化させた実施例1〜実施例5について説明する。
<複合モールド1>
構造体2の製造条件は、以下の通りである。まず、厚さ200μm、ヤング率5GPaのPET基材上に、アクリル樹脂からなる樹脂層および離型層が積層された微細パターンが形成された複合モールド1を準備した。なお、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が100nmである。
<構造体2>
上記製造条件で、ウレタンアクリレートと2官能アクリレートの配合比率を変化させることにより弾性層22のヤング率を変化させ、構造体2における高さの差D1(図4参照)の変化を以下の表に示す。
次に、弾性層22を有さない場合について説明する。
<比較例1>
上記製造条件と同じ条件で、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が100nmの複合モールド1を、厚さ200μm、ヤング率3MPaのアクリル板基材上に形成された厚さ100nmの被転写層に押圧し、積算光量500mJ/cm2でUV照射を行い、複合モールド1の微細パターンが反転された被転写層を硬化させ、転写物Xを得た。ここで、被転写層は、上記と同様の条件で製造した。なお、複合モールド1の押圧は、5kgのゴムローラーでラミネートすることにより行った。このとき、転写物XのDx(構造体2のD1に相当)は、100nmであった。これは、弾性層22がないために、複合モールド1のDがほとんどそのまま被転写層21に転写されたためであると考えられる。
次に、比較例1と同じ条件で、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が30nmの複合モールド1を用い、転写物Y(微細パターンを有する構造体)を製造した。このとき、転写物YのDy(構造体2のD1に相当)は、30nmであった。これは、弾性層22がないために、複合モールド1のDがほとんどそのまま被転写層21に転写されたためであると考えられる。
Claims (5)
- 弾性層と、その上側に設けられた樹脂層を有する構造体であって、
前記樹脂層は、前記弾性層の反対側の面に微細パターンを備え、
前記微細パターンは、高さが異なる複数の領域を備え、
前記微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部を含み、
前記微細パターンの前記高さが異なる複数の領域は、高段部及び前記高段部より高さの低い低段部を含み、
前記高段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、前記低段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離が、500μm以下であり、
以下の(1)又は(2)の構成を備える;
(1)前記弾性層のヤング率が1GPa以下である
(2)前記弾性層のヤング率が前記弾性層を支持する基材のヤング率よりも小さい
構造体。 - 前記弾性層のヤング率に対する前記基材のヤング率の比の値が10以上である、
請求項1に記載の構造体。 - 前記樹脂層は、前記微細パターンが設けられている領域での最薄部の厚さが、100nm以下である、
請求項1又は請求項2に記載の構造体。 - 前記樹脂層の厚さに対する前記弾性層の厚さの比の値が10以上である、
請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の構造体。 - 前記弾性層は、一様な厚さを有する、
請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の構造体。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016012844A JP6042002B1 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 構造体 |
| PCT/JP2017/002074 WO2017130888A1 (ja) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 構造体 |
| KR1020187022599A KR20180105665A (ko) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 구조체 |
| TW106102416A TW201731670A (zh) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 結構體 |
| CN201780007099.XA CN108475622A (zh) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 结构体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016012844A JP6042002B1 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 構造体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP6042002B1 true JP6042002B1 (ja) | 2016-12-14 |
| JP2017135221A JP2017135221A (ja) | 2017-08-03 |
Family
ID=57543800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016012844A Expired - Fee Related JP6042002B1 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 構造体 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6042002B1 (ja) |
| KR (1) | KR20180105665A (ja) |
| CN (1) | CN108475622A (ja) |
| TW (1) | TW201731670A (ja) |
| WO (1) | WO2017130888A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021185047A (ja) * | 2017-09-21 | 2021-12-09 | キヤノン株式会社 | 金型の製造方法、樹脂成形品の製造装置、樹脂成形品の製造方法、樹脂成形品 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IL318240A (en) | 2019-12-25 | 2025-03-01 | Scivax Corp | Imprinting Device and Imprinting Method |
| JP2023135467A (ja) * | 2022-03-15 | 2023-09-28 | キオクシア株式会社 | テンプレートおよび半導体装置の製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010005972A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Hitachi Ltd | インプリント用スタンパおよびインプリント方法 |
| JP2010030057A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Toshiba Corp | インプリント型、インプリント装置、インプリント型の製造方法、及び構造体の製造方法 |
| JP2015037152A (ja) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | 株式会社東芝 | モールド製造方法、モールド製造装置及びパターン形成方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8545708B2 (en) * | 2009-04-30 | 2013-10-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Mold and manufacturing method therefor |
| US20150044417A1 (en) * | 2012-03-12 | 2015-02-12 | Asahi Kasei E-Materials Corporation | Mold, resist layered product, manufacturing method of the product, and concavo-convex structure product |
| JP2015050443A (ja) * | 2013-09-05 | 2015-03-16 | 株式会社日立エルジーデータストレージ | 微細構造転写装置 |
-
2016
- 2016-01-26 JP JP2016012844A patent/JP6042002B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-01-23 WO PCT/JP2017/002074 patent/WO2017130888A1/ja not_active Ceased
- 2017-01-23 KR KR1020187022599A patent/KR20180105665A/ko not_active Withdrawn
- 2017-01-23 TW TW106102416A patent/TW201731670A/zh unknown
- 2017-01-23 CN CN201780007099.XA patent/CN108475622A/zh active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010005972A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Hitachi Ltd | インプリント用スタンパおよびインプリント方法 |
| JP2010030057A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Toshiba Corp | インプリント型、インプリント装置、インプリント型の製造方法、及び構造体の製造方法 |
| JP2015037152A (ja) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | 株式会社東芝 | モールド製造方法、モールド製造装置及びパターン形成方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021185047A (ja) * | 2017-09-21 | 2021-12-09 | キヤノン株式会社 | 金型の製造方法、樹脂成形品の製造装置、樹脂成形品の製造方法、樹脂成形品 |
| JP7200316B2 (ja) | 2017-09-21 | 2023-01-06 | キヤノン株式会社 | 金型の製造方法、樹脂成形品の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20180105665A (ko) | 2018-09-28 |
| JP2017135221A (ja) | 2017-08-03 |
| WO2017130888A1 (ja) | 2017-08-03 |
| CN108475622A (zh) | 2018-08-31 |
| TW201731670A (zh) | 2017-09-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI438218B (zh) | 硬塗敷形成用薄片 | |
| JP6011529B2 (ja) | インモールド成形用転写フィルムおよびその製造方法 | |
| JP6083233B2 (ja) | インモールド成形用転写フィルム、インモールド成形体の製造方法および成形体 | |
| KR20120052416A (ko) | 광경화성 전사 시트, 및 이것을 사용한 요철 패턴의 형성 방법 | |
| WO2010035783A1 (ja) | 凹凸パターンの形成方法及び凹凸パターンの製造装置 | |
| JPWO2012018048A1 (ja) | ナノインプリント用樹脂製モールドおよびその製造方法 | |
| JP4218929B2 (ja) | 放射線硬化型粘着シート | |
| JP6042002B1 (ja) | 構造体 | |
| CN118421225A (zh) | 粘接剂组合物层、层叠体、光学层叠体及光学装置、以及光学层叠体的制造方法 | |
| JP2017061676A (ja) | 接着剤組成物、それを用いた積層体及びその製造方法 | |
| JP2009061628A (ja) | 光硬化性転写シート、及びこれを用いた凹凸パターンの形成方法 | |
| JP4975696B2 (ja) | 放射線硬化型粘着シート、及び、放射線硬化型粘着シートの使用方法 | |
| JP2015027798A (ja) | 第1モールドの凹凸パターンを転写した第2モールドの製造方法、第2モールドを用いた物品の製造方法、光学パネルの製造方法、および光学素子の製造方法 | |
| JP2013110135A (ja) | 光硬化性転写シートを用いた凹凸パターンの形成方法、及びその方法に用いる装置 | |
| WO2012029904A1 (ja) | 円筒状モールドの製造方法、及びその方法に用いる装置 | |
| TW202243874A (zh) | 光學積層體、光學裝置及光學積層體之製造方法 | |
| JP2012107109A (ja) | 光硬化性転写シート | |
| JP2017082115A (ja) | 光硬化性組成物およびそれを用いた積層体、並びに導光板 | |
| CN106133080A (zh) | 粘接剂组合物、偏振板用粘接剂组合物、偏振板用粘接剂和使用其的偏振板 | |
| TWI863912B (zh) | 機械加工性提升薄膜、積層體及機械加工性提升薄膜之使用方法 | |
| JP2019178258A (ja) | 研磨パッド及びその製造方法 | |
| JP2012019013A (ja) | 光硬化性転写シート、及びこれを用いた凹凸パターンの形成方法 | |
| JP2018112687A (ja) | 光学部材の製造方法及び3次元構造物の製造方法 | |
| JP2017206398A (ja) | 透光性硬質基板積層体の製造方法 | |
| JP5512153B2 (ja) | 微細構造の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160915 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161011 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161108 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6042002 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |