JP5625614B2 - 光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 - Google Patents
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Description
図1(A)〜図1(D)は、光フィルターの構成要素である一対の光学膜の反射特性の一例、ならびに光フィルターの分光特性の一例を示す図である。図1(A)に示されるように、エタロンフィルター300は、互いに平行に保持された第1基板20および第2基板30と、第1基板20上に設けられた第1光学膜40と、第2基板30上に設けられた第2光学膜50と、を有する。第1基板20及び第2基板30は、例えば、所望の波長帯域の光に対する透過性を有するガラス基板である。
本実施形態では、第1光学膜および第2光学膜の設計の具体例について説明する。図3(A)〜図3(D)は、エタロンフィルターにおける光学膜の設計の具体例を説明するための図である。以下の説明では、光学膜として誘電体多層膜を使用する場合を想定する。また、以下の説明では、比較例として、本発明のミラー構造を採用しない場合の例を適宜、参照する。
次に、可変ギャップエタロンフィルターの具体的な構造例について説明する。図7(A)〜図7(C)は、可変ギャップエタロンフィルターの具体的な構造の一例と、その動作を説明するための図である。図7(A)は、駆動電圧を印加しない状態(初期ギャップG1)における可変ギャップエタロンフィルターの断面構造を示す図である。また、図7(B)は、第1基板20上に形成される第1光学膜40および第1電極60のレイアウト例を示す図である。図7(C)は、駆動電圧を印加した状態(ギャップG3)における可変ギャップエタロンフィルターの断面構造を示す図である。図7に示される、エタロンフィルター300としての可変ギャップエタロンフィルターには、前掲の実施形態で説明した、非対称の反射特性をもつ一対の光学膜からなるミラーが採用される。
図8(A)および図8(B)は、可変ギャップエタロンフィルターを用いた光フィルターの構造の一例ならびに分光測定器の構成の一例を示す図である。
図9は、光機器の一例である波長多重通信システムの送信機の概略構成を示すブロック図である。波長多重(WDM: Wavelength Division Multiplexing)通信では、波長の異なる信号は干渉し合わないという特性を利用して、波長が異なる複数の光信号を一本の光ファイバー内で多重的に使用すれば、光ファイバー回線を増設せずにデータの伝送量を向上させることができるようになる。
50 第2光学膜(第2反射膜)、60 第1電極、
70 第2電極、80 静電アクチュエーター、
100(100’) 光源、200 サンプル、300 エタロンフィルター、
301 駆動部、303 制御部、 400 受光部、500 補正演算部、
600 信号処理部
Claims (13)
- 第1基板と、
前記第1基板と対向する第2基板と、
前記第1基板に設けられた第1光学膜と、
前記第2基板に設けられ、前記第1光学膜と対向する第2光学膜と、を含み、
前記第1光学膜の、ピークの光の反射率に対応する第1中心波長は、前記第2光学膜の、ピークの光の反射率に対応する第2中心波長とは異なる値に設定され、
前記第1光学膜の前記第1中心波長をλ1とし、前記第2光学膜の前記第2中心波長をλ2とし、前記光フィルターの分光帯域での中心波長をλ3としたとき、λ1<λ3<λ2が成立することを特徴とする光フィルター。 - 請求項1記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜の、前記光フィルターの分光帯域における反射率の最低値をα1とし、第2光学膜の、前記光フィルターの分光帯域における反射率の最低値をα2としたとき、α1・α2≧0.64が成立することを特徴とする光フィルター。 - 請求項1または請求項2に記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜は、第1材料膜と第2材料膜とを一組とする層が、m層(mは1以上の整数)積層されて構成される第1積層膜であり、
前記第2光学膜は、前記第1材料膜と前記第2材料膜とを一組とする層が、n層(nは1以上の整数であり、かつ、n≠m)積層されて構成される第2積層膜であることを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜は、第1材料膜と第2材料膜とを一組とする層が、m層(mは1以上の整数)積層されて構成される第1積層膜であり、
前記第2光学膜は、前記第1材料膜と前記第2材料膜とを一組とする層が、m層積層されて構成され、かつ、前記一組の層の膜厚が、前記第1光学膜における前記一組の層の膜厚とは異なる第2積層膜である、ことを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜は、第1材料膜と第2材料膜とを一組とする層が、m層(mは1以上の整数)積層されて構成される第1積層膜であり、
前記第2光学膜は、前記第1材料膜と前記第2材料膜とを一組とする層が、n層(nは2以上の整数であり、かつ、n≠m)積層されて構成され、かつ、前記一組の層の膜厚が、前記第1光学膜における前記一組の層の膜厚とは異なる第2積層膜であることを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜を構成する材料と、前記第2光学膜を構成する材料とが異なることを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光フィルターであって、
前記第1光学膜の構造と、前記第2光学膜の構造とが異なることを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項7のいずれかに記載の光フィルターであって、
前記光フィルターは、可変ギャップエタロンフィルターであり、
前記第1基板は、第1電極を有する固定基板であり、
前記第2基板は、第2電極を有する可動基板であり、
前記第1電極と前記第2電極との間に生じる静電力によって前記第1光学膜と前記第2光学膜との間のギャップが可変に制御され、これによって所望波長帯域内において分光帯域が切り替えられる、ことを特徴とする光フィルター。 - 請求項8記載の光フィルターであって、
前記第1電極は、前記第1基板の基板厚み方向から見た平面視において、前記第1光学膜の周囲に形成されており、前記第2電極は、前記第2基板の基板厚み方向から見た平面視において、前記第2光学膜の周囲に形成されていることを特徴とする光フィルター。 - 請求項8または請求項9記載の光フィルターであって、
前記可動基板としての前記第2基板に設けられる前記第2光学膜の膜厚は、前記固定基板としての前記第1基板に設けられる前記第1光学膜の膜厚よりも薄いことを特徴とする光フィルター。 - 請求項1〜請求項10のいずれかに記載の光フィルターと、
前記光フィルターを透過した光を受光する受光素子と、
を含むことを特徴とする光フィルターモジュール。 - 請求項1〜請求項10のいずれかに記載の光フィルターと、
前記光フィルターを透過した光を受光する受光素子と、
前記受光素子から得られる信号に基づく信号処理に基づいて所与の信号処理を実行する信号処理部と、を含むことを特徴とする分光測定器。 - 請求項1〜請求項10のいずれかに記載の光フィルターを含むことを特徴とする光機器。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015018280A (ja) * | 2014-10-01 | 2015-01-29 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 |
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Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI458131B (zh) * | 2011-06-27 | 2014-10-21 | Lextar Electronics Corp | 半導體發光元件 |
| JP5910099B2 (ja) * | 2012-01-18 | 2016-04-27 | セイコーエプソン株式会社 | 干渉フィルター、光学モジュールおよび電子機器 |
| JP5124051B1 (ja) * | 2012-03-02 | 2013-01-23 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
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| JP5987573B2 (ja) | 2012-09-12 | 2016-09-07 | セイコーエプソン株式会社 | 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法 |
| JP6260076B2 (ja) * | 2012-09-19 | 2018-01-17 | セイコーエプソン株式会社 | 分光装置 |
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| CN105612439B (zh) * | 2013-08-20 | 2019-06-18 | 英特尔公司 | 一种包含mems装置的显示设备 |
| JP2016161802A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 富士通株式会社 | 可変光減衰器及び光モジュール |
| JP6606962B2 (ja) | 2015-10-08 | 2019-11-20 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、電子機器、波長可変干渉フィルターの設計方法、波長可変干渉フィルターの製造方法 |
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| JP7275946B2 (ja) * | 2019-07-10 | 2023-05-18 | セイコーエプソン株式会社 | 光学フィルター、及び電子機器 |
| CN110488553B (zh) * | 2019-08-24 | 2023-04-11 | 西安应用光学研究所 | 一种基于金属光栅的可调谐双通道窄带偏振滤光器及调谐方法 |
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Family Cites Families (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI831381A7 (fi) | 1982-04-27 | 1983-10-28 | Ciba Geigy Ag | 7 -asyyliamido-3-kefem-karboksyylihappoyhdisteet, menetelmä niiden valmistamiseksi, näitä yhdisteitä sisältävät farmaseuttiset valmisteet, ja yhdisteiden käyttö |
| JPH01300202A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Sharp Corp | 反射体および該反射体を用いた干渉装置 |
| FI98325C (fi) | 1994-07-07 | 1997-05-26 | Vaisala Oy | Selektiivinen infrapunadetektori |
| FI108581B (fi) | 1996-10-03 | 2002-02-15 | Valtion Teknillinen | Sähköisesti säädettävä optinen suodin |
| FR2756105B1 (fr) | 1996-11-19 | 1999-03-26 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur multispectral a cavite resonante |
| JPH11142752A (ja) | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 透過波長可変干渉フィルタ及びこれを用いた分光器 |
| US6438149B1 (en) | 1998-06-26 | 2002-08-20 | Coretek, Inc. | Microelectromechanically tunable, confocal, vertical cavity surface emitting laser and fabry-perot filter |
| WO1999034484A2 (en) | 1997-12-29 | 1999-07-08 | Coretek, Inc. | Microelectromechanically, tunable, confocal, vcsel and fabry-perot filter |
| AU2228799A (en) * | 1998-01-15 | 1999-08-02 | Ciena Corporation | Optical interference filter |
| US6584126B2 (en) | 1998-06-26 | 2003-06-24 | Coretek, Inc. | Tunable Fabry-Perot filter and tunable vertical cavity surface emitting laser |
| US6813291B2 (en) | 1998-06-26 | 2004-11-02 | Coretek Inc | Tunable fabry-perot filter and tunable vertical cavity surface emitting laser |
| JP2001066457A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-16 | Yazaki Corp | 半値幅可変波長選択装置 |
| JP2002174721A (ja) | 2000-12-06 | 2002-06-21 | Yokogawa Electric Corp | ファブリペローフィルタ |
| US6590710B2 (en) | 2000-02-18 | 2003-07-08 | Yokogawa Electric Corporation | Fabry-Perot filter, wavelength-selective infrared detector and infrared gas analyzer using the filter and detector |
| US6356689B1 (en) * | 2000-03-25 | 2002-03-12 | Lucent Technologies, Inc. | Article comprising an optical cavity |
| JP3858606B2 (ja) | 2001-02-14 | 2006-12-20 | セイコーエプソン株式会社 | 干渉フィルタの製造方法、干渉フィルタ、波長可変干渉フィルタの製造方法及び波長可変干渉フィルタ |
| JP3924182B2 (ja) * | 2002-03-08 | 2007-06-06 | 古河電気工業株式会社 | 可変分散補償器 |
| US7218438B2 (en) | 2003-04-30 | 2007-05-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Optical electronic device with partial reflector layer |
| US7072093B2 (en) * | 2003-04-30 | 2006-07-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Optical interference pixel display with charge control |
| JP2005099206A (ja) | 2003-09-22 | 2005-04-14 | Seiko Epson Corp | 波長可変フィルタおよび波長可変フィルタの製造方法 |
| JP3770326B2 (ja) | 2003-10-01 | 2006-04-26 | セイコーエプソン株式会社 | 分析装置 |
| JP2005127943A (ja) | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Hitachi Ltd | 光計測装置及び分光装置 |
| JP2005165067A (ja) | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Seiko Epson Corp | 波長可変フィルタおよび波長可変フィルタの製造方法 |
| JP4210245B2 (ja) | 2004-07-09 | 2009-01-14 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変フィルタ及び検出装置 |
| US7385704B2 (en) * | 2005-03-30 | 2008-06-10 | Xerox Corporation | Two-dimensional spectral cameras and methods for capturing spectral information using two-dimensional spectral cameras |
| US7304801B2 (en) * | 2005-03-30 | 2007-12-04 | Xerox Corporation | Distributed Bragg reflector systems and methods |
| US7433552B2 (en) * | 2005-12-22 | 2008-10-07 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining analyte information |
| JP4466634B2 (ja) | 2006-01-19 | 2010-05-26 | セイコーエプソン株式会社 | 光学デバイス、波長可変フィルタ、波長可変フィルタモジュール、および光スペクトラムアナライザ |
| CN100538432C (zh) | 2006-01-19 | 2009-09-09 | 精工爱普生株式会社 | 波长可变滤波器、波长可变滤波器模块及光谱分析器 |
| JP4379457B2 (ja) | 2006-01-19 | 2009-12-09 | セイコーエプソン株式会社 | 光学デバイス、波長可変フィルタ、波長可変フィルタモジュール、および光スペクトラムアナライザ |
| EP2033038B1 (en) * | 2006-06-01 | 2011-08-31 | Light Resonance Technologies, LLC | Light filter/modulator and array of filters/modulators |
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| JP4784495B2 (ja) | 2006-11-28 | 2011-10-05 | 株式会社デンソー | 光学多層膜ミラーおよびそれを備えたファブリペロー干渉計 |
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| JP5067209B2 (ja) | 2008-03-06 | 2012-11-07 | 株式会社デンソー | ファブリペロー干渉計 |
| JP5151944B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2013-02-27 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルタ及びそれを備えた光モジュール |
| KR101614903B1 (ko) * | 2009-02-25 | 2016-04-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 간섭 광 변조기 및 이를 채용한 디스플레이 |
| JP5625614B2 (ja) | 2010-08-20 | 2014-11-19 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 |
| KR20140031899A (ko) * | 2011-04-20 | 2014-03-13 | 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시건 | 최소의 각 의존성을 갖는 표시 장치들 및 이미징을 위한 스펙트럼 필터링 |
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| US9229219B2 (en) | 2010-08-20 | 2016-01-05 | Seiko Epson Corporation | Optical filter, optical filter module, spectrometric instrument, and optical instrument |
| JP2015018280A (ja) * | 2014-10-01 | 2015-01-29 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器 |
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