[go: up one dir, main page]

JP5673679B2 - 顕微鏡 - Google Patents

顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP5673679B2
JP5673679B2 JP2012522718A JP2012522718A JP5673679B2 JP 5673679 B2 JP5673679 B2 JP 5673679B2 JP 2012522718 A JP2012522718 A JP 2012522718A JP 2012522718 A JP2012522718 A JP 2012522718A JP 5673679 B2 JP5673679 B2 JP 5673679B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
dichroic mirror
stimulation
specimen
optical member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012522718A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2012002542A1 (ja
Inventor
良一 左高
良一 左高
まゆみ 萩原
まゆみ 萩原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2012522718A priority Critical patent/JP5673679B2/ja
Publication of JPWO2012002542A1 publication Critical patent/JPWO2012002542A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5673679B2 publication Critical patent/JP5673679B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/007Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements the movable or deformable optical element controlling the colour, i.e. a spectral characteristic, of the light
    • G02B26/008Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements the movable or deformable optical element controlling the colour, i.e. a spectral characteristic, of the light in the form of devices for effecting sequential colour changes, e.g. colour wheels
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/141Beam splitting or combining systems operating by reflection only using dichroic mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0816Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
    • G02B5/0825Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only
    • G02B5/0833Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only comprising inorganic materials only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Astronomy & Astrophysics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

本発明は、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにした顕微鏡に関する。
従来、観察対象の標本を刺激光で刺激しつつ、標本を励起光で走査して標本の観察画像を取得する走査型顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照)。
このような走査型顕微鏡では、同じ波長の刺激光と励起光により標本の蛍光観察を行なう場合には、同一光源からのレーザ光を、分離用のハーフミラーを用いて刺激光と励起光とに分離することが多い。この場合、刺激光と励起光は、それぞれ異なるスキャナにより走査が行なわれた後、合成用のハーフミラーで合成されて標本に照射される。
そして、励起光の照射により標本から蛍光が発生すると、この蛍光は、合成用および分離用のハーフミラーを通って、光検出器に受光され、その結果得られた電気信号に基づいて、標本の観察画像が生成される。ユーザは、このようにして得られた観察画像を見ることで、標本の観察面を観察することができる。
国際公開第WO2008/004336号
特開2007−78773号公報
しかしながら、上述した技術では、標本で発生した蛍光は合成用のハーフミラーや、分離用のハーフミラーを通るたびに半減し、弱まってしまう。そうすると、光検出器では、充分な光量の蛍光を受光することができず、観察画像が暗く不鮮明なものとなってしまう。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにするものである。
本発明の顕微鏡は、標本を刺激するための刺激光の一部、および前記刺激光と同じ波長であり、前記標本から蛍光を発生させるための励起光の一部を反射させるとともに、前記刺激光の一部および前記励起光の一部を透過させることで、互いに異なる方向から入射した前記刺激光と前記励起光を対物レンズに導き、前記対物レンズを介して前記刺激光と前記励起光を前記標本に照射させ、前記励起光の前記標本への照射により発生した蛍光の略全部を反射または透過させる第1の光学部材と、前記刺激光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記刺激光を偏向させることで、前記刺激光で前記標本を走査する第1のスキャニング部と、前記励起光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記励起光を偏向させることで、前記励起光で前記標本を走査する第2のスキャニング部と、入射した所定の波長の光の一部を反射させるとともに、入射した前記光の一部を透過させることにより前記光を前記刺激光と前記励起光に分離して、前記刺激光を前記第1のスキャニング部に入射させ、前記励起光を前記第2のスキャニング部に入射させる第2の光学部材とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
本発明を適用した顕微鏡システムの一実施の形態の構成例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。
以下、図面を参照して、本発明を適用した実施の形態について説明する。
[顕微鏡システムの構成]
図1は、本発明を適用した顕微鏡システムの一実施の形態の構成例を示す図である。
この顕微鏡システムは、光刺激をしながら蛍光観察を行なう走査型のレーザ顕微鏡11、レーザ顕微鏡11の各部を制御するコントローラ12、およびコンピュータ13から構成される。
レーザ顕微鏡11の図示せぬステージには、観察対象の標本14が載置され、レーザユニット21から射出された照明光が、標本14に照射される。
レーザユニット21には、2つのレーザ光源22およびレーザ光源23が設けられており、レーザ光源22とレーザ光源23から射出された照明光は、全反射ミラーやハーフミラー等からなるコンバイナミラー24により同一光路上に合成される。そして、コンバイナミラー24で合成された照明光は、音響光学フィルタ35において適宜、波長選択および強度変調され、ファイバカプラ36により光ファイバ37に導かれる。
また、レーザユニット21から光ファイバ37に入射した照明光は、光ファイバ37を通ってコリメートレンズ38に入射し、さらにコリメートレンズ38により平行光線とされてダイクロイックミラー39に入射する。
ダイクロイックミラー39に入射した照明光は、ダイクロイックミラー39を透過して光路選択部40に入射する。ここで、ダイクロイックミラー39は、刺激光および励起光となる照明光の波長帯域の光を透過するとともに、標本14において発生する蛍光の波長帯域の光を反射するような光学特性を有している。
光路選択部40は、照明光の光路上に設けられ、入射した光の光路を選択する。すなわち、光路選択部40は、モータにより回転駆動するターレットと照明光の光路上に配置され、ターレットに保持される光学部材とから構成される。
光路選択部40のターレットには、光学部材(偏向素子)として、照明光の波長帯域の光に対してはハーフミラーとして機能し、蛍光の波長帯域の光に対してはミラーとして機能するダイクロイックミラー40Aと、ミラー40Bとが保持されている。光路選択部40に入射した照明光は、その光の波長と、光の光路上に配置された光学部材によって、スキャニング部41またはスキャニング部42へと導かれる。
ここで、ダイクロイックミラー40Aは、入射した照明光のほぼ半分を透過させ、残り半分の照明光を反射するような光学特性を有している。図1の例では、照明光の光路上にはダイクロイックミラー40Aが配置されているので、ダイクロイックミラー39からダイクロイックミラー40Aに入射した照明光のほぼ半分は、ダイクロイックミラー40Aで反射されてスキャニング部41に入射する。また、ダイクロイックミラー39からダイクロイックミラー40Aに入射した照明光の残り半分は、ダイクロイックミラー40Aを透過してスキャニング部42に入射する。
レーザ顕微鏡11では、ダイクロイックミラー40Aからスキャニング部41に入射した照明光が励起光とされ、ダイクロイックミラー40Aからスキャニング部42に入射した照明光が刺激光とされる。
スキャニング部42に入射した照明光(刺激光)は、スキャニング部42により偏向(反射)されて光路選択部43に入射する。スキャニング部42は刺激光を偏向させて、刺激光の標本14への照射位置を図中、左右方向および奥行き方向に変化させることで、標本14を刺激光で走査する。例えば、スキャニング部42は、2つのガルバノスキャナにより構成され、スキャニング部41と較べて、スキャン領域をより自由に設定できるようになされている。
一方、スキャニング部41に入射した照明光(励起光)は、スキャニング部41により偏向(反射)されて光路選択部43に入射する。スキャニング部41は励起光を偏向させて、励起光の標本14への照射位置を図中、左右方向および奥行き方向に変化させることで、標本14を励起光で走査する。例えば、スキャニング部41は、2つのガルバノスキャナにより構成され、スキャニング部42と較べて、より高速に走査を行なうことができるようになされている。
光路選択部43は、光路選択部40と同じ構成とされており、光路選択部43には、ダイクロイックミラー43Aとミラー43Bが保持されている。このダイクロイックミラー43Aは、ダイクロイックミラー40Aと同じ光学特性を有しており、照明光の波長帯域の光は予め定められた割合で分離され、蛍光の波長帯域の光はほぼ全反射される。
図1の例では、刺激光および励起光の光路上には、ダイクロイックミラー43Aが配置されているので、光路選択部43に入射した刺激光の一部は、ダイクロイックミラー43Aを透過し、リレーレンズ44および対物レンズ45を通って、標本14に照射される。
また、光路選択部43に入射した励起光の一部は、ダイクロイックミラー43Aで反射され、リレーレンズ44および対物レンズ45を通って、標本14に照射される。
これにより、標本14が刺激光により光刺激されるとともに、励起光によるイメージングが行なわれる。励起光が標本14に照射されると、標本14から蛍光が生じ、この蛍光は対物レンズ45およびリレーレンズ44を通って光路選択部43のダイクロイックミラー43Aで反射され、さらにスキャニング部41でデスキャンされる。
そして、デスキャンされた蛍光は、ダイクロイックミラー40Aで反射され、さらにダイクロイックミラー39で反射されて、集光レンズ46により集光される。集光レンズ46により集光された蛍光は、ピンホール47を通って光検出器48に入射し、受光される。ピンホール47は、対物レンズ45の焦点位置、つまり標本14の観察面と共役な位置に配置されており、ピンホール47の位置に集光された蛍光だけが光検出器48に入射するようになされている。
光検出器48は、入射した蛍光を受光して光電変換することで、蛍光を、蛍光の受光強度を示す電気信号に変換する。光電変換により得られた電気信号は、光検出器48からコントローラ12へと供給される。コントローラ12は、光検出器48から供給された電気信号に基づいて、標本14の観察面の画像である観察画像を生成し、コンピュータ13に供給する。また、コンピュータ13は、コントローラ12から供給された観察画像をディスプレイに表示する。
なお、光路選択部40や光路選択部43のターレットには、ダイクロイックミラーやミラーの他、光をそのまま通過させる中空なブロックや両面ミラー、素ガラスなどの光学部材が保持されるようにしてもよい。
[偏向素子の構成例1]
次に、図1のダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aの具体的な構成例について説明する。
例えば、CFP(Cyan Fluorescent Protein)を利用して、FLIP(Fluorescence Loss In Photobleaching)またはFRAP(Fluorescence Recovery After Photobleaching)と呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合を考える。この場合、刺激光および励起光の波長は440nmとされ、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図2に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウム(Nb2O5)と、二酸化ケイ素(SiO2)を交互に蒸着させて、ガラス基板に層状の蒸着膜を形成することで得られた光学部材とされる。
なお、図2において、「層番号」の欄には、ガラス基板に蒸着される物質の層の位置を特定する層番号が示されている。また、「物質」の欄には、その層番号により特定される層を構成する物質が示されており、「膜厚(nm)」の欄には、層番号により特定される層の厚み(膜厚)が示されている。
図2では、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。例えば、層番号が「1」である層は、ガラス基板表面に対して、ニオブ酸リチウムを蒸着して形成された層(膜)であり、その層の厚さは、37.33nmとされている。また、層番号が「2」である層は、層番号「1」の層の表面に、二酸化ケイ素を膜厚10nmとなるように蒸着して形成された層である。
この例では、ガラス基板に176層の膜が形成されて、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図3に示す光学特性を有する。
なお、図3において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。
さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。ここでの入射角度とは、ダイクロイックミラー40Aの表面(反射面)の法線と、光の光路とがなす角度である。
図3の例では、波長が420nmから450nmの光の透過率は約50%となっており、他の波長の光の透過率は、ほぼ0%となっている。したがって、波長が440nmである照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、照明光のほぼ半分はそのままダイクロイックミラー40Aを透過し、残りの半分の照明光は、ダイクロイックミラー40Aにおいて反射されることになる。これに対して、波長が約476nmである蛍光は、ダイクロイックミラー40Aにおいてほぼ全反射されることになる。
また、この例においては、ダイクロイックミラー43Aもダイクロイックミラー40Aと同じ光学特性を有するものとされる。すなわち、ダイクロイックミラー43Aも図2に示した層構成とされ、図3に示した光学特性を有する光学部材とされる。
このように、所定の波長帯域の光を予め定められた透過率で透過させ、他の波長帯域の光をほぼ全反射させる光学特性を有するダイクロイックミラー40Aや、ダイクロイックミラー43Aをレーザ顕微鏡11の光路上に配置すれば、蛍光の光量低減を抑制することができる。これにより、励起光と同じ波長の刺激光で光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合においても、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
[顕微鏡システムの動作]
次に、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aが、図2および図3を参照して説明した構成とされる場合における、顕微鏡システムの動作について説明する。
ユーザがコンピュータ13を操作して、標本14の観察開始を指示すると、コントローラ12は、コンピュータ13の指示に従って、光路選択部40および光路選択部43を動作させる。光路選択部40は、コントローラ12の制御に基づいてターレットを回転させ、ダイクロイックミラー40Aを照明光の光路上に配置する。また、光路選択部43は、コントローラ12の制御に基づいてターレットを回転させ、ダイクロイックミラー43Aを照明光(刺激光および励起光)の光路上に配置する。
また、コントローラ12は、レーザユニット21に、波長が440nmの照明光を射出させるとともに、音響光学フィルタ35を制御して、照明光の光量調整を行なわせる。レーザユニット21から射出された照明光は、光ファイバ37乃至ダイクロイックミラー39を通ってダイクロイックミラー40Aに入射する。
ダイクロイックミラー40Aに入射した照明光は、ダイクロイックミラー40Aにおいて、反射または透過により励起光と刺激光に分離される。
すなわち、ダイクロイックミラー40Aを透過した照明光は、刺激光となってスキャニング部42乃至対物レンズ45を通って標本14に照射される。このとき、スキャニング部42は、刺激光を偏向することにより、刺激光で標本14を走査する。
一方、ダイクロイックミラー40Aで反射した照明光は、励起光となってスキャニング部41、およびダイクロイックミラー43A乃至対物レンズ45を通って標本14に照射される。このとき、スキャニング部41は、励起光を偏向することにより、励起光で標本14の観察面を走査する。
このように、顕微鏡システムでは、刺激光と励起光を異なるスキャニング部で走査するので、標本14の所望する部位を刺激すると同時に、刺激を与える部位とは異なる部位に励起光を照射することができる。これにより、標本14の特定の部位に刺激光を照射する光刺激時に、標本14全体に余計なレーザ光が照射されずに済むので、標本14の退色を防止することができる。
このようにして、標本14に励起光が照射されると、標本14からは蛍光が生じ、この蛍光は、対物レンズ45とリレーレンズ44を通ってダイクロイックミラー43Aで反射され、さらにスキャニング部41でデスキャンされる。そして、スキャニング部41から射出された蛍光は、ダイクロイックミラー40Aで反射されて、ダイクロイックミラー39乃至ピンホール47を通り、光検出器48に受光される。
光検出器48で蛍光が光電変換されると、光検出器48からコントローラ12には、蛍光の受光量に応じた電気信号が供給されるので、コントローラ12は、この電気信号から観察画像を生成してコンピュータ13に供給する。これにより、ユーザは、コンピュータ13に表示される観察画像を見て、標本14を観察することができる。
このように、照明光を刺激光と励起光に分離する光学部材、および刺激光と励起光を合成する光学部材として、蛍光をほぼ全反射するダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aを用いることで、蛍光の光量の低下を抑制することができる。これにより、蛍光の光量を充分に確保し、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
なお、ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aにおいて、蛍光をほぼ全反射すると説明したが、より具体的には、これらのダイクロイックミラーにおける蛍光の反射率は80%以上であればよい。同様に、ダイクロイックミラー40Aやダイクロイックミラー43Aにおいて、光をほぼ透過すると説明する場合には、具体的には80%以上の光を透過させればよい。
[偏向素子の構成例2]
次に、ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aの他の具体的な構成例について説明する。ここでは、例えばDRONPA−Greenと呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合について説明する。
そのような場合、波長が405nmおよび488nmの光が刺激光とされ、波長が488nmの光が励起光とされる。また、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図4に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウムと、二酸化ケイ素が交互に蒸着されて得られた光学部材とされる。
なお、図4における「層番号」、「物質」、および「膜厚(nm)」の各欄は、図2における場合と同様であるので、その説明は適宜省略する。また、図4においても、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。
図4の例では、ガラス基板上に、ニオブ酸リチウムと二酸化ケイ素が交互に蒸着されて、105層の膜が形成され、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図5に示す光学特性を有する。
なお、図5において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。
図5の例では、波長が400nmから420nmの光の透過率はほぼ100%となっており、波長が470nmから500nmの光の透過率は約50%となっている。さらに、波長が500nmから670nmの光の透過率はほぼ0%となっている。
したがって、波長が405nmおよび488nmの光からなる照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光のほぼ半分とがダイクロイックミラー40Aを透過して、刺激光となる。また、488nmの光のほぼ半分がダイクロイックミラー40Aで反射されて、励起光とされる。
さらに、ダイクロイックミラー43Aも、ダイクロイックミラー40Aと同じ層構成および光学特性を有するものとされる。そのため、刺激光のうち、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光のほぼ半分とがダイクロイックミラー43Aを透過して、標本14に照射される。また、励起光のうち、488nmの光のほぼ半分がダイクロイックミラー43Aで反射されて、標本14に照射される。
一方、標本14で発生した波長が約510nmである蛍光は、ダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aでほぼ全反射されて、光検出器48に受光される。
このようなダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aの構成においても、蛍光の光量低減が抑制され、より明るく鮮明な観察画像が得られる。
[偏向素子の構成例3]
ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aのさらに他の具体的な構成例について説明する。この例でもDRONPA−Greenと呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合について説明する。
この場合においても、波長が405nmおよび488nmの光が刺激光とされ、波長が488nmの光が励起光とされる。また、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図6に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウムと、二酸化ケイ素が交互に蒸着されて得られた光学部材とされる。なお、図6における「層番号」、「物質」、および「膜厚(nm)」の各欄は、図2における場合と同様であるので、その説明は適宜省略する。また、図6においても、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。
図6の例では、ガラス基板上に、ニオブ酸リチウムと二酸化ケイ素が交互に蒸着されて、185層の膜が形成され、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図7に示す光学特性を有する。
なお、図7において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。
図7の例では、波長が400nmから430nmの光の透過率はほぼ100%となっており、波長が430nmから500nmの光の透過率は約90%となっている。すなわち、430乃至500nmの波長帯域の光については、透過と反射の割合が、9対1となっている。さらに、波長が510nmから660nmの光の透過率はほぼ0%となっている。
したがって、波長が405nmおよび488nmの光からなる照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光の約90%がダイクロイックミラー40Aを透過して、刺激光となる。また、488nmの光の約10%がダイクロイックミラー40Aで反射されて、励起光とされる。
さらに、ダイクロイックミラー43Aも、ダイクロイックミラー40Aと同じ層構成および光学特性を有するものとされる。そのため、刺激光のうち、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光の約90%がダイクロイックミラー43Aを透過して、標本14に照射される。また、励起光のうち、488nmの光の約10%がダイクロイックミラー43Aで反射されて、標本14に照射される。
一方、標本14で発生した波長が約510nmである蛍光は、ダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aでほぼ全反射されて、光検出器48に受光される。
このようなダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aの構成においても、蛍光の光量低減が抑制され、より明るく鮮明な観察画像が得られる。
また、この例のように、ダイクロイックミラー40Aやダイクロイックミラー43Aとして、刺激光や励起光となる488nmの光の透過と反射の割合が適切な値であるものを予め用意しておくことで、音響光学フィルタ等による刺激光や励起光の光量調整が不要となる。
なお、以上においては、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aで反射された照明光が、励起光とされる例について説明したが、これらのダイクロイックミラーを透過した照明光が励起光とされるようにしてもよい。
そのような場合には、照明光のうち、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aを透過した光が励起光とされ、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aで反射された光が刺激光とされる。また、この場合には、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aは、標本14から発生した蛍光のほぼ全部を透過させる光学特性を有するようにされる。
さらに、以上においては、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aを、共焦点顕微鏡として機能するレーザ顕微鏡11の光路中に配置する例について説明したが、本発明は共焦点顕微鏡に限らず、標本14を光刺激しながら蛍光観察する顕微鏡に適用可能である。
例えば、異なる光源から射出された、同じ波長の刺激光と励起光が、ダイクロイックミラー43Aで合成されて標本14に照射され、標本14からの蛍光のほぼ全部がダイクロイックミラー43Aで反射または透過されるような構成の顕微鏡とされてもよい。このような顕微鏡では、必ずしも刺激光や励起光で標本14を走査する必要はなく、走査が行なわれる場合には、この顕微鏡は共焦点顕微鏡(走査型顕微鏡)として機能することになる。
なお、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
11 レーザ顕微鏡, 12 コントローラ, 13 コンピュータ, 14 標本, 21 レーザユニット, 40 光路選択部, 40A ダイクロイックミラー, 41 スキャニング部, 42 スキャニング部, 43 光路選択部, 43A ダイクロイックミラー, 45 対物レンズ

Claims (9)

  1. 標本を刺激するための刺激光の一部、および前記刺激光と同じ波長であり、前記標本から蛍光を発生させるための励起光の一部を反射させるとともに、前記刺激光の一部および前記励起光の一部を透過させることで、互いに異なる方向から入射した前記刺激光と前記励起光を対物レンズに導き、前記対物レンズを介して前記刺激光と前記励起光を前記標本に照射させ、前記励起光の前記標本への照射により発生した蛍光の略全部を反射または透過させる第1の光学部材と、
    前記刺激光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記刺激光を偏向させることで、前記刺激光で前記標本を走査する第1のスキャニング部と、
    前記励起光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記励起光を偏向させることで、前記励起光で前記標本を走査する第2のスキャニング部と、
    入射した所定の波長の光の一部を反射させるとともに、入射した前記光の一部を透過させることにより前記光を前記刺激光と前記励起光に分離して、前記刺激光を前記第1のスキャニング部に入射させ、前記励起光を前記第2のスキャニング部に入射させる第2の光学部材と
    を備えることを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記第2の光学部材は、前記標本から前記第1の光学部材、および前記第2のスキャニング部を通って入射した前記蛍光の略全部を反射または透過させる
    ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記第1の光学部材および前記第2の光学部材は、前記刺激光および前記励起光の略半分を透過させるとともに、前記刺激光および前記励起光の略半分を反射させる
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の顕微鏡。
  4. 前記第1の光学部材および前記第2の光学部材は、前記刺激光のうち、前記励起光と同じ波長の光の略半分を反射および透過させるとともに、前記刺激光のうち、前記励起光と異なる波長の光の略全部を反射または透過させる
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の顕微鏡。
  5. 前記第1の光学部材は、前記蛍光を前記励起光が前記第1の光学部材に向けて照射される側と同じ側に反射または透過する
    ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の顕微鏡。
  6. 前記第1の光学部材を透過又は反射した前記蛍光は、前記励起光を偏向した前記第2のスキャニング部で再度偏向される
    ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の顕微鏡。
  7. 前記第1のスキャンニング部を制御することによって前記刺激光を前記標本の所望の部位に照射しながら、前記第2のスキャニング部を制御することによって前記励起光を前記所望の部位とは異なる部位に照射する
    ことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の顕微鏡。
  8. 前記蛍光の波長は、500nm乃至670nmの範囲の一部を含む
    ことを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の顕微鏡。
  9. 前記第1の光学部材は、第1の物質と第2の物質を交互に基板上に形成してなる
    ことを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の顕微鏡。
JP2012522718A 2010-07-01 2011-07-01 顕微鏡 Active JP5673679B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012522718A JP5673679B2 (ja) 2010-07-01 2011-07-01 顕微鏡

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010151104 2010-07-01
JP2010151104 2010-07-01
PCT/JP2011/065214 WO2012002542A1 (ja) 2010-07-01 2011-07-01 光学部材および顕微鏡
JP2012522718A JP5673679B2 (ja) 2010-07-01 2011-07-01 顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012002542A1 JPWO2012002542A1 (ja) 2013-08-29
JP5673679B2 true JP5673679B2 (ja) 2015-02-18

Family

ID=45402244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012522718A Active JP5673679B2 (ja) 2010-07-01 2011-07-01 顕微鏡

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8773761B2 (ja)
JP (1) JP5673679B2 (ja)
WO (1) WO2012002542A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2923630A1 (en) 2014-03-26 2015-09-30 3M Innovative Properties Company Intraoral imaging and illumination apparatus
CN105806817A (zh) * 2016-03-31 2016-07-27 北京卓立汉光仪器有限公司 一种基于紫外光激发的全光谱光致发光光谱检测系统
CN107334471B (zh) * 2016-12-19 2023-07-14 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种双通道动物神经元信号记录与同步刺激系统
JP7007227B2 (ja) * 2018-04-09 2022-01-24 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法
EP4118417A4 (en) * 2020-03-13 2024-05-01 The University Of Southern California HIGH-THROUGHPUT FLUORESCENCE SPECTRAL MICROSCOPY HIGH-THROUGHPUT SPECTRAL CODING DEVICE
CN118896940A (zh) * 2023-05-04 2024-11-05 深圳先进技术研究院 融合光遗传刺激与光信号探测的光学系统及成像装置
CN117224859B (zh) * 2023-11-14 2024-02-06 浙江大学 包括焦虑状态评估装置和多靶点时序光刺激和成像装置的系统

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05232314A (ja) * 1992-02-21 1993-09-10 Fuji Photo Optical Co Ltd ダイクロイックミラー
JPH0672114U (ja) * 1992-07-16 1994-10-07 東芝硝子株式会社 照明用器具
JPH09101110A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Olympus Optical Co Ltd 光学フィルタ及びそれを利用した顕微鏡装置
JPH10153705A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Canon Inc ダイクロイックミラー
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2005189290A (ja) * 2003-12-24 2005-07-14 Olympus Corp 走査型レーザー顕微鏡
JP2005208256A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Fujinon Corp トリミングフィルタ、色分解光学系、色合成光学系、撮像装置および投影装置
JP2005308985A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
JP2006139027A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Olympus Corp 顕微鏡の照明装置
WO2008004336A1 (en) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Laser scanning microscope
JP2008250254A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Brother Ind Ltd 光学フィルタ、合波器、光源装置及び画像表示装置
JP2008276191A (ja) * 2007-05-02 2008-11-13 Olympus Corp 蛍光顕微鏡装置
JP2009008554A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計及び液体クロマトグラフィ
JP2009145550A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nikon Corp レーザ走査顕微鏡
JP2009145567A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nikon Corp 走査顕微鏡
JP2009238990A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nikon Corp 光源装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7196843B2 (en) * 2002-03-27 2007-03-27 Olympus Optical Co., Ltd. Confocal microscope apparatus
JP4963543B2 (ja) 2005-09-12 2012-06-27 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡及びその制御方法
JP5536995B2 (ja) * 2007-07-17 2014-07-02 オリンパス株式会社 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム
JP5178107B2 (ja) * 2007-09-14 2013-04-10 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
JP5208825B2 (ja) * 2008-09-12 2013-06-12 オリンパス株式会社 光学顕微鏡

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05232314A (ja) * 1992-02-21 1993-09-10 Fuji Photo Optical Co Ltd ダイクロイックミラー
JPH0672114U (ja) * 1992-07-16 1994-10-07 東芝硝子株式会社 照明用器具
JPH09101110A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Olympus Optical Co Ltd 光学フィルタ及びそれを利用した顕微鏡装置
JPH10153705A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Canon Inc ダイクロイックミラー
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2005189290A (ja) * 2003-12-24 2005-07-14 Olympus Corp 走査型レーザー顕微鏡
JP2005208256A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Fujinon Corp トリミングフィルタ、色分解光学系、色合成光学系、撮像装置および投影装置
JP2005308985A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
JP2006139027A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Olympus Corp 顕微鏡の照明装置
WO2008004336A1 (en) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Laser scanning microscope
JP2008250254A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Brother Ind Ltd 光学フィルタ、合波器、光源装置及び画像表示装置
JP2008276191A (ja) * 2007-05-02 2008-11-13 Olympus Corp 蛍光顕微鏡装置
JP2009008554A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計及び液体クロマトグラフィ
JP2009145550A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nikon Corp レーザ走査顕微鏡
JP2009145567A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nikon Corp 走査顕微鏡
JP2009238990A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nikon Corp 光源装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2012002542A1 (ja) 2013-08-29
US8773761B2 (en) 2014-07-08
US20130135716A1 (en) 2013-05-30
WO2012002542A1 (ja) 2012-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5673679B2 (ja) 顕微鏡
JP5554965B2 (ja) 位相変調型空間光変調器を用いたレーザ顕微鏡
JP4992898B2 (ja) レーザ走査顕微鏡及び観察方法
JP5259154B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP5371694B2 (ja) 顕微鏡接続ユニットおよび顕微鏡システム
EP1431795A1 (en) Confocal microscope
US8885162B2 (en) Detection optical system and scanning microscope
JP2010085826A (ja) レーザ顕微鏡装置
JP5591007B2 (ja) 顕微鏡装置
US7746553B2 (en) Laser scanning microscope for fluorescence testing
JP2011118264A (ja) 顕微鏡装置
JP7130628B2 (ja) 光学顕微鏡
WO2014132604A1 (ja) 共焦点顕微鏡
JP5495740B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JP6192397B2 (ja) レーザ顕微鏡
JP5176521B2 (ja) レーザ走査顕微鏡
JP6257156B2 (ja) 顕微鏡装置
JP4818634B2 (ja) 走査型蛍光観察装置
US12443022B2 (en) Rescan optical system, microscope and method
JP5583515B2 (ja) レーザ顕微鏡用照明装置およびレーザ顕微鏡
US20060050375A1 (en) Confocal microscope
JP2003270543A (ja) 共焦点用光スキャナ
JP2011017965A (ja) 顕微鏡装置、および顕微鏡装置の制御方法
JP2007127740A (ja) 走査型レーザ顕微鏡装置及び顕微鏡用照明装置
JP4869749B2 (ja) 走査型顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140325

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141215

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5673679

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250