JP5641715B2 - エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 - Google Patents
エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5641715B2 JP5641715B2 JP2009161604A JP2009161604A JP5641715B2 JP 5641715 B2 JP5641715 B2 JP 5641715B2 JP 2009161604 A JP2009161604 A JP 2009161604A JP 2009161604 A JP2009161604 A JP 2009161604A JP 5641715 B2 JP5641715 B2 JP 5641715B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- photons
- energy
- ionized
- mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
- H01J49/162—Direct photo-ionisation, e.g. single photon or multi-photon ionisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
以下に記載される例は、イオン化された分子すなわち分子イオンを少ない断片化を伴ってあるいは断片化を全く伴うことなく生成するための本発明に係るエネルギー可変型光イオン化装置の有効性を示している。この例では、既知のステロイドである314amuの分子量を有するプロゲステロンが4つの異なるイオン化状態に晒される。第1のイオン化状態は、電子衝撃イオン化源によって与えられる。残りの3つのイオン化状態は、それぞれが異なるエネルギーを有する光子を生成する3つの異なるプラズマ形成ガスを使用する本発明の一実施形態に係る光イオン化源によって与えられる。ステロイドの識別は、本発明の実施形態に係る光イオン化装置の使用によって利益を得ると期待される。これは、ステロイドが一般に高い電子衝撃エネルギ(例えば70eV)に晒されるときに広範囲に及ぶ断片化を受けるからである。そのような断片化は、同様の質量を有する化合物の一意的識別を困難にする可能性がある。したがって、ソフトイオン化源、すなわち、断片化を伴うことなく多量の分子イオンを生成できる装置は、分子量の正確な測定を行なうことができ、したがって、同様の質量の分子間を区別するのに役立つことができる。この例は、少ない断片化を伴うあるいは断片化を全く伴わない異なる分子のイオン化において最適化された様々なエネルギーを与えるイオン化装置によって与えられる利点を示している。
Claims (15)
- イオン化チャンバ(10)であって、サンプル分子がその内部に供給されるイオン化チャンバと、
前記イオン化チャンバ内に配置され、前記イオン化チャンバ内に選択可能な波長範囲のイオン化光子(38)を発生させて前記サンプル分子をイオン化するための、窓なしタイプでエネルギー可変型の光イオン化装置(12)であって、前記イオン化光子は、プラズマ形成ガス(34)が電気エネルギーによって変換されたプラズマ(36)から放出され、前記プラズマ形成ガスの組成は、前記電気エネルギーに応じて、前記サンプル分子をイオン化する波長のイオン化光子を発生させるように選択される光イオン化装置と、
前記イオン化チャンバに隣接し、且つ前記イオン化チャンバと流体連通するように配置され、前記イオン化チャンバからサンプル分子がイオン化されたイオンを受ける第1の多重極型の質量分析器(56)と、
前記第1の多重極型の質量分析器と流体連通し、前記第1の多重極型の質量分析器から前記イオンを受けるイオン検出器(58)と
を備える質量分析計(54)。 - 前記窓なしタイプのエネルギー可変型の光イオン化装置(12)が、
放電ギャップ(26)を形成する分割リング共鳴器(24)と、
前記放電ギャップに面する入口開口(20)と、出口開口(22)とを有するプラズマチャンバ(18)を形成する窓なしタイプのプラズマ格納構造体(16)と、
前記放電ギャップ内へ延びる入口通気孔(32)と
を備える請求項1に記載の質量分析計(54)。 - 前記入口通気孔(32)が、前記プラズマ形成ガス(34)を前記格納構造体へと導くように構成され、これにより、前記電気エネルギーとして前記分割リング共鳴器(24)に対して供給されるマイクロ波エネルギーが、前記プラズマチャンバ(18)内で前記プラズマ形成ガスを前記光子放出プラズマ(36)へと変換し、前記光子放出プラズマが、前記イオン化光子(38)を前記イオン化チャンバ内へ放出する請求項2に記載の質量分析計(54)。
- 前記マイクロ波エネルギーに応じて、前記プラズマ形成ガス(34)が、サンプル分子を分断することなくサンプル分子をイオン化する波長の光子(38)を発生させる請求項3に記載の質量分析計(54)。
- 前記イオン化チャンバ(10)と流体連通し、サンプル分子(50)を、イオン化のために前記イオン化チャンバ(10)へと供給する第1の分離装置(60)を更に備える請求項1または2に記載の質量分析計。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記イオン検出器(58)との間に配置されるとともに、これらと流体連通しており、前記第1の多重極型の質量分析器から前記イオン検出器へとイオン(52’)を導く飛行時間分析器(68)を更に備える請求項1、2または5に記載の質量分析計(54)。
- 前記飛行時間分析器(68)と前記検出器(58)との間に配置されるとともに、これらと流体連通しており、前記飛行時間分析器から前記イオン検出器へとイオン(52’)を導くリフレクトロン(72)を更に備える請求項6に記載の質量分析計(70)。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記飛行時間分析器(68)との間に配置されるとともに、これらと流体連通する衝突セル(76)を更に備える請求項6に記載の質量分析計(75)。
- 前記第1の多重極型の質量分析器(56)と前記飛行時間分析器との間に配置されるとともに、これらと流体連通する開裂セル(76)を更に備え、この開裂セルは、第2のイオン化チャンバ(10)内に位置される第2のエネルギー可変型の光イオン化装置(12)を備え、この第2のエネルギー可変型の光イオン化装置は、選択可能な第2の波長範囲で第2のイオン化光子を放出するものであり、この第2のイオン化光子は、第2のプラズマ形成ガス(34)が電気エネルギーによって変換された第2のプラズマ(36)から放出され、前記第2のプラズマ形成ガスの組成は、前記電気エネルギーに応じて、前記サンプル分子がイオン化されたイオンを開裂させるように選択される請求項6に記載の質量分析計(74)。
- 前記第2のエネルギー可変型の光イオン化装置(12)が、
放電ギャップ(26)を形成する第2の分割リング共鳴器(24)と、
前記第2の放電ギャップに面する第2の入口開口(20)と、第2の出口開口(22)とを有する第2のプラズマチャンバ(18)を形成する第2の窓なしタイプのプラズマ格納構造体(16)と、
前記放電ギャップ内へ延びる第2の入口通気孔(34)と
を備える請求項9に記載の質量分析計(74)。 - 前記第2の入口通気孔(34)が、第2のプラズマ形成ガスを前記第2のプラズマ格納構造体(16)へと導くように構成され、これにより、前記電気エネルギーとして前記第2の分割リング共鳴器(24)に対して供給されるマイクロ波エネルギーが、前記第2のプラズマチャンバ(18)内で前記第2のプラズマ形成ガス(34)を第2の光子放出プラズマ(36)へと変換し、前記第2の光子放出プラズマが、前記第2のイオン化光子(38)を前記第2のイオン化チャンバ内へ放出する請求項10に記載の質量分析計(74)。
- イオン化チャンバ内に、サンプル分子を供給するステップと、
前記サンプル分子をイオン化する選択可能な第1の波長範囲内の波長を有するイオン化光子を、電気エネルギーに応じて発生させる第1のプラズマ形成ガスを、前記イオン化チャンバ内に配置された窓なしタイプでエネルギー可変型の光イオン化装置に供給するステップ(88)と、
前記光イオン化装置内で前記第1のプラズマ形成ガスを第1の光子放出プラズマへ変換するために、電気エネルギーを供給するステップであって、前記第1の光子放出プラズマが、前記選択可能な第1の波長範囲内の波長を有する第1のイオン化光子を前記イオン化チャンバ内に放出するステップ(90)と、
前記第1のイオン化光子を使用して、前記サンプル分子をそれぞれのイオンへとイオン化するステップであって、前記イオンがそれぞれの質量対電荷比を有するステップ(92)と、
前記イオンをそれらの質量対電荷比にしたがって分離するステップと、
前記分離後に前記イオンを検出するステップ(94)と
を含む質量分析方法。 - 前記第1のイオン化光子が前記サンプル分子を分断することなくイオン化するように前記第1の波長範囲を選択するステップを更に含む、請求項12に記載の方法。
- 選択可能な第2の波長範囲内の波長を有するイオン化光子を、電気エネルギーに応じて発生させる第2のプラズマ形成ガスを、エネルギー可変型の第2の光イオン化装置に供給するステップ(98)と、
前記第2のプラズマ形成ガスを第2のプラズマへ変換するために電気エネルギーを供給するステップであって、前記第2のプラズマが、前記選択可能な第2の波長範囲内の波長を有する第2のイオン化光子を放出するステップ(100)と、
前記第1のイオン化光子によってイオン化された前記サンプル分子を前記第2のイオン化光子に晒すステップ(102)と
を更に含む、請求項12または13に記載の方法。 - 前記第1のイオン化光子によってイオン化された前記サンプル分子を前記第2のイオン化光子が開裂するように、前記第2の波長範囲を選択するステップを更に含む請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US12/189,348 US20100032559A1 (en) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | Variable energy photoionization device and method for mass spectrometry |
| US12/189,348 | 2008-08-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010045023A JP2010045023A (ja) | 2010-02-25 |
| JP5641715B2 true JP5641715B2 (ja) | 2014-12-17 |
Family
ID=40940784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009161604A Expired - Fee Related JP5641715B2 (ja) | 2008-08-11 | 2009-07-08 | エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20100032559A1 (ja) |
| JP (1) | JP5641715B2 (ja) |
| DE (1) | DE102009027516A1 (ja) |
| GB (1) | GB2462506B (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8900188B2 (en) * | 2007-12-31 | 2014-12-02 | Deka Products Limited Partnership | Split ring resonator antenna adapted for use in wirelessly controlled medical device |
| CN102037539A (zh) * | 2008-02-25 | 2011-04-27 | 耶希-奥光创作有限公司 | 高效率充气灯 |
| US8736174B2 (en) * | 2010-01-15 | 2014-05-27 | Agilent Technologies, Inc. | Plasma generation device with split-ring resonator and electrode extensions |
| US8217343B2 (en) * | 2010-01-26 | 2012-07-10 | Agilent Technologies, Inc. | Device and method using microplasma array for ionizing samples for mass spectrometry |
| CN102221576B (zh) * | 2010-04-15 | 2015-09-16 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 一种产生、分析离子的方法与装置 |
| JP5596402B2 (ja) * | 2010-04-19 | 2014-09-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置、イオン化装置及び分析方法 |
| US20130015766A1 (en) * | 2011-05-12 | 2013-01-17 | The George Washington University | Apparatus for generating mini and micro plasmas and methods of use |
| US8563924B2 (en) | 2011-06-28 | 2013-10-22 | Agilent Technologies, Inc. | Windowless ionization device |
| CN103854953A (zh) * | 2012-11-30 | 2014-06-11 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 无光窗式真空紫外灯质谱电离源 |
| CN103854952A (zh) * | 2012-11-30 | 2014-06-11 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 基于无光窗式气体放电灯的质谱真空紫外光电离源 |
| DE202013005959U1 (de) * | 2013-07-03 | 2014-10-06 | Manfred Gohl | Bestimmungsvorrichtung für Kohlenwasserstoff-Emissionen von Motoren |
| US9105454B2 (en) | 2013-11-06 | 2015-08-11 | Agilent Technologies, Inc. | Plasma-based electron capture dissociation (ECD) apparatus and related systems and methods |
| JP2017503332A (ja) * | 2014-01-20 | 2017-01-26 | ゼロック・ナノ・テック・コーポレイションZerok Nano Tech Corporation | 気体原子の光イオン化の共鳴増強 |
| CN105632869A (zh) * | 2014-11-06 | 2016-06-01 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种基于辉光放电的真空紫外光电离源装置 |
| CN104701129B (zh) * | 2015-03-12 | 2017-05-24 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法 |
| DE102015122155B4 (de) | 2015-12-17 | 2018-03-08 | Jan-Christoph Wolf | Verwendung einer Ionisierungsvorrichtung |
| US10300551B2 (en) * | 2016-11-14 | 2019-05-28 | Matthew Fagan | Metal analyzing plasma CNC cutting machine and associated methods |
| US11201045B2 (en) | 2017-06-16 | 2021-12-14 | Plasmion Gmbh | Apparatus and method for ionizing an analyte, and apparatus and method for analysing an ionized analyte |
| GB201815676D0 (en) * | 2018-09-26 | 2018-11-07 | Micromass Ltd | MALDI nozzle |
| US11101120B2 (en) * | 2018-11-21 | 2021-08-24 | Sri International | Fast pressure sensing system |
| CN113466321B (zh) * | 2021-08-12 | 2022-10-14 | 河北省食品检验研究院 | 一种产志贺毒素大肠埃希氏菌的分型方法 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3541372A (en) * | 1966-12-28 | 1970-11-17 | Hitachi Ltd | Microwave plasma light source |
| JPH0760654B2 (ja) * | 1985-08-23 | 1995-06-28 | 日本電信電話株式会社 | イオンビ−ム発生方法および装置 |
| JPS6481933A (en) * | 1987-09-25 | 1989-03-28 | Canon Kk | Focus plate |
| JPH02199744A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-08 | Mitsubishi Electric Corp | イオン源 |
| JP2883935B2 (ja) * | 1989-11-09 | 1999-04-19 | 株式会社日立製作所 | タンデム型質量分析計 |
| JPH0765776A (ja) * | 1993-08-23 | 1995-03-10 | Hitachi Ltd | イオン発生方法、発生装置およびこれを用いた元素分析方法と分析装置 |
| JP3623025B2 (ja) * | 1995-09-29 | 2005-02-23 | 日機装株式会社 | 混合気体成分分析装置 |
| US5808299A (en) * | 1996-04-01 | 1998-09-15 | Syagen Technology | Real-time multispecies monitoring by photoionization mass spectrometry |
| JP2000164169A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
| JP2000227417A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | 質量分析方法及び装置 |
| JP3707348B2 (ja) * | 1999-04-15 | 2005-10-19 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| JP4416259B2 (ja) * | 2000-03-24 | 2010-02-17 | キヤノンアネルバ株式会社 | 質量分析装置 |
| US6627883B2 (en) * | 2001-03-02 | 2003-09-30 | Bruker Daltonics Inc. | Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer |
| US7038197B2 (en) * | 2001-04-03 | 2006-05-02 | Micromass Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| JP4256208B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2009-04-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析 |
| JP4056984B2 (ja) * | 2004-03-25 | 2008-03-05 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 高沸点物質の光イオン化質量分析装置 |
| JP4659395B2 (ja) * | 2004-06-08 | 2011-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| US7728253B2 (en) * | 2005-06-29 | 2010-06-01 | Northeastern University | Nano-particle trap using a microplasma |
| US7638762B2 (en) * | 2006-09-29 | 2009-12-29 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for decreasing settling times in MS/MS |
-
2008
- 2008-08-11 US US12/189,348 patent/US20100032559A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-06-15 GB GB0910221.1A patent/GB2462506B/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-08 JP JP2009161604A patent/JP5641715B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-08 DE DE102009027516A patent/DE102009027516A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2462506A (en) | 2010-02-17 |
| GB2462506B (en) | 2013-03-20 |
| DE102009027516A1 (de) | 2010-02-18 |
| US20100032559A1 (en) | 2010-02-11 |
| GB0910221D0 (en) | 2009-07-29 |
| JP2010045023A (ja) | 2010-02-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5641715B2 (ja) | エネルギー可変型の光イオン化装置および質量分析方法 | |
| EP1476893B1 (en) | Internal introduction of lock masses in mass spectrometer systems | |
| US7005635B2 (en) | Nebulizer with plasma source | |
| US9105454B2 (en) | Plasma-based electron capture dissociation (ECD) apparatus and related systems and methods | |
| US8217343B2 (en) | Device and method using microplasma array for ionizing samples for mass spectrometry | |
| JP2018032641A (ja) | ガス混合物の質量分析試験のための方法および質量分析計 | |
| US20060284103A1 (en) | Glow discharge and photoionization source | |
| US8735810B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer with ion source and ion detector electrically connected | |
| CA2661703A1 (en) | Method and apparatus for detecting positively charged and negatively charged ionized particles | |
| US9589775B2 (en) | Plasma cleaning for mass spectrometers | |
| CN113826187B (zh) | 质谱分析方法和质谱分析装置 | |
| CN105655226B (zh) | 一种真空紫外光电离和化学电离复合电离源 | |
| JP7616390B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
| CN106206239B (zh) | 一种高效组合式大气压电离源 | |
| US20140374591A1 (en) | In situ generation of ozone for mass spectrometers | |
| JP3572256B2 (ja) | 化学物質検出装置 | |
| JP3664977B2 (ja) | 化学物質検出装置 | |
| US20250132142A1 (en) | Ion Analyzer and Ion Analyzing Method | |
| JP3664976B2 (ja) | 化学物質検出装置 | |
| JP2005243573A (ja) | 試料分析装置 | |
| JP2025029786A (ja) | イオン分析装置 | |
| WO2007008191A1 (en) | Nebulizer with plasma source | |
| CN116206943A (zh) | 质谱仪及其气相离子源装置 | |
| JP2007329110A (ja) | 分子のイオン化法およびそれを用いた質量分析装置 | |
| JP3664974B2 (ja) | 化学物質検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120709 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131030 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131115 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140214 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140219 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140317 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140320 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140415 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140930 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141028 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5641715 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |