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JP5368194B2 - 電圧制御遅延発生器およびアナログ・ディジタル変換器 - Google Patents

電圧制御遅延発生器およびアナログ・ディジタル変換器 Download PDF

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Description

本発明は、電圧制御遅延発生器およびアナログ・ディジタル変換器に関し、特に、入力されるアナログ電圧の電圧値によって、入力されるパルス信号の遅延時間を任意に変更して出力する電圧制御遅延発生器セルを構成要素とする電圧制御遅延発生器および該電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器に関する。特に、本発明は、光通信のトランシーバにおいて、伝送されてきたアナログ電圧信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換器として低電力・高サンプリングレートのアナログ・ディジタル変換器を得ることができる。
従来より、微細化されたプロセスを適用して、小型化・高性能化を図ったアナログ・ディジタル変換器ADCが実現されてきたが、近年、プロセスの更なる微細化に伴って耐圧が減少し、電圧方向の分解能の確保が難しい状況となってきている。そのため、入力されるアナログ電圧に関する情報を電圧制御遅延発生器VCDG(Voltage Controlled Delay Generator)によって一旦時間情報に変換し、その後、該時間情報を時間ディジタル変換器TDC(Time to Digital Convertor)によってディジタル信号に変換する手法が提案されている。時間情報をディジタルデータに変換する後段の時間ディジタル変換器TDCはディジタル回路によって実現することができるため、微細化されたプロセスを使うと、低消費電力化を図る上でも有利である。
図17は、非特許文献1のShahrzad Naraghiらによる“A 9b 14μW 0.06mm PPM ADC in 90nm Digital CMOS”(ISSCC 2009)に記載の従来の電圧制御遅延発生器VCDGの回路構成を示す回路図である。図17の電圧制御遅延発生器VCDGは、あらかじめ定めた電流値の電流を供給する電流源I(定電流源)、該電流源Iと直列に接続され、該電流源Iからの電流をオン・オフする電流スイッチS、該電流スイッチSと直列に接続され、電流源Iからの電流の電流値に応じたランプ電圧(容量電圧)を生成するキャパシタC、該キャパシタCに蓄積された電荷をリークし、生成されたランプ電圧rampを放電させるリークスイッチLS、および、キャパシタCが生成したランプ電圧rampと外部から入力されるアナログ電圧Vinとを比較し、前者のランプ電圧がアナログ電圧Vinを上回った時点を遅延時間を示す遅延時間信号(ディジタル信号)として出力する電圧比較器CMPから構成されている。
図18は、図17の従来の電圧制御遅延発生器VCDGの動作を示す波形図である。電圧制御遅延発生器VCDGは、前述のように、入力されるパルス(スタートパルス信号start)の立上り時点から任意の遅延時間Tout後に立上るパルス(ストップパルス信号stop)を発生する機能を有し、かつ、該遅延時間Toutが外部から入力されるアナログ電圧Vinによって変更することが可能な機能を有する。
まず、初期状態では、電流スイッチSをオフ、リークスイッチLSをオンとし、キャパシタCの電荷をリークしておく。次いで、スタートパルス信号startの立上りに同期して、電流スイッチSをオン、リークスイッチLSをオフとすることによって、電流源Iからの電荷がキャパシタCにチャージされ始め、ランプ電圧rampつまり容量電圧rampが発生する。電流源Iの定電流値をI、キャパシタCの容量をC、スタートパルス信号startの立上り時刻をtとすると、時刻tにおけるキャパシタCの容量電圧rampは、
ramp=I・(t−t)/C
と表わされる。電圧比較器CMPは、容量電圧rampつまりランプ電圧rampと、外部から入力されるアナログ電圧Vinとの電圧の大小を比較し、容量電圧rampがアナログ電圧Vinを上回ると、立上るパルス(ストップパルス信号stop)を発生する。
スタートパルス信号startが立上ってから、ストップパルス信号stopが立上るまでの遅延時間Toutは、
Tout=t−t=Vin・C/I
で表わされるので、本回路は、入力されるアナログ電圧Vinに比例する遅延時間Toutを有するディジタル信号(遅延時間信号すなわちストップパルス信号stop)を出力する電圧制御遅延発生器VCDGとして機能することが分かる。
ここで、容量電圧rampが採ることができるフルスケールFS(Full Scale)は、電源電圧および電流源の電圧降下によって制限される。また、発生することができる遅延時間Toutの最大値tmaxは、
tmax=FS・C/I
で表わされる。
なお、実際に実現した場合には、電流スイッチS、リークスイッチLS、電圧比較器CMPの動作遅延時間や配線遅延時間が、遅延時間の最大値tmaxにさらに加わるので、遅延時間の最大値tmaxは、前述の式に対して一定の誤差を含むことになる。しかし、アナログ・ディジタル変換器ADCへの応用を含め、一般的な遅延発生器への応用の場合には、アナログ電圧Vinを変化させた場合の相対的な遅延時間の精度は要求されるものの、絶対的な遅延時間に関する情報が求められることはほとんどない。
図19は、従来の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成を示すブロック構成図である。図19のブロック構成においては、入力されるアナログ電圧Vinを時間軸上の信号(スタートパルス信号startの立上り時点からストップパルス信号stopの立上り時点までの時間間隔)に変換し、さらに、時間軸上の信号をディジタル化する構成となっている。時間軸上の信号をディジタル化する回路は、時間ディジタル変換器TDCによって実現される。必要に応じて、非特許文献2の小林春夫による“アナログ技術の新潮流 時間分解能型回路とTDC(前編)”(日経エレクトロニクス、2009.4.6)に記載のように、ディジタル化した信号をエンコードやディジタル信号処理を行う出力回路が付加される。
図20は、従来の時間ディジタル変換器TDCの回路構成を示す回路図である。図20に示す時間ディジタル変換器TDCは、スタートパルス信号startが入力される複数の遅延バッファtdからなる遅延バッファ列と、各遅延バッファtdの出力がそれぞれのD入力に入力され、各遅延バッファtdからのストップパルス信号stopによってトリガされる複数のDフリップフロップD−FFからなるDフリップフロップD−FF列と、各DフリップフロップD−FFが出力するディジタルデータ列を所定のコードのディジタルデータに変換するエンコーダENCとから構成される。
図21は、図20の従来の時間ディジタル変換器TDCの動作を示す波形図である。スタートパルス信号startは時間分解能の高い遅延バッファtd列に入力され、DフリップフロップD−FF列は、ストップパルス信号stopの立上りで各遅延バッファtd出力をラッチする。ラッチされたデータはスタートパルス信号startの立上り時点からストップパルス信号stopの立上り時点までの時間差に比例した温度計コードとなる。エンコーダENCは、温度計コードを例えばバイナリコードのディジタルデータに変換してディジタルデータDoutとして出力する。
時間ディジタル変換器TDCは、ディジタル回路をベースとして構成されるため、微細化されたプロセスを利用することによって、低消費電力化、小面積化が可能である。また、微細化の進展により、電源電圧の低下が進むと、電圧軸方向の分解能の確保が難しくなるが、電圧制御遅延発生器VCDGと時間ディジタル変換器TDCとを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCは、電圧軸方向の処理を時間軸方向の処理に置き換えることによって分解能の確保が容易になるメリットがある。
Shahrzad Naraghi他、"A 9b 14μW 0.06mm2 PPM ADC in 90nm Digital CMOS" ISSCC 2009,168ページ 小林春夫、"アナログ技術の新潮流 時間分解能型回路とTDC(前編)"日経エレクトロニクス、2009.4.6、88ページ
従来の電圧制御遅延発生器VCDGには、前述のように、電流源Iと、該電流源Iにより充電されてランプ電圧(容量電圧)を生成するキャパシタC、外部から入力されるスタートパルス信号startによって電流源IとキャパシタCとを接続する電流スイッチS、外部から入力されるリーク信号によりキャパシタCの電荷をリークしランプ電圧(容量電圧)を放電するリークスイッチLS、時間軸上の時間情報に変換したいアナログ電圧信号VinとキャパシタCによって生成されたランプ電圧(容量電圧)とを比較し、後者のランプ電圧が前者のアナログ電圧信号Vinの電圧値を上回ったときに、遅延時間を示す遅延時間信号としてストップパルス信号stopを出力する電圧比較器CMP、が備えられている。
このとき、スタートパルス信号startの立上り時点からストップパルス信号stopが出力されるまでの遅延時間の時間幅が、時間軸上の時間情報に変換したいアナログ電圧信号Vinの電圧値の大きさに相当するが、アナログ・ディジタル変換器ADCに応用する場合には、取り得る時間幅が大きいと、サンプリング誤差を招くことになる。
つまり、従来の電圧制御遅延発生器VCDGは、入力のアナログ電圧Vinが取ることができる電圧範囲FSに亘って容量電圧rampが変化し、アナログ電圧Vinとランプ電圧rampつまり容量電圧rampとの比較結果として得られる遅延時間Toutの最大値tmaxの時間幅に亘り、ストップパルス信号stopが発生する可能性がある。一方、アナログ・ディジタル変換器ADCへ従来の電圧制御遅延発生器VCDGを応用する場合は、入力されるアナログ電圧Vinは前記電圧範囲FS内で時間とともに変化するので、ストップパルス信号stopが発生する時刻は、アナログ電圧Vinにより前記遅延時間Toutの最大値tmaxの間に亘って変化することになる。この結果、サンプリング時刻が不等時間間隔(前記遅延時間Toutの最大値tmaxのずれを有する不等間隔)となり、サンプリング誤差の発生の原因となる。
サンプリング誤差を低減させるためには、等時間間隔への再サンプルまたは補完などの処理が必要となり、計算量の増大や誤差の発生を招く。サンプリング時刻が不等間隔になる現象は、入力のアナログ電圧Vinが高周波になればなるほど顕著になる。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、電圧制御遅延発生器VCDGを電圧インタリーブ構成とすることにより、または、電圧制御遅延発生器VCDGを時間軸方向の折り返し構成とすることにより、入力のアナログ電圧Vinが取ることができる電圧範囲FSを一定に保ったまま、遅延時間の最大値tmaxを減少させた電圧制御遅延発生器VCDGを提供することにある。また、サンプリング時刻のずれを減少させることによって、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ったアナログ・ディジタル変換器を提供することにある。
本発明は、前述の課題を解決するために、以下のごとき各技術手段から構成されている。
の技術手段は、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じた遅延時間を有するディジタル信号を発生させ、あらかじめ定めた電流値の電流を供給する電流源と、該電流源に直列に接続されて該電流源からの電流をオン・オフする電流スイッチと、該電流スイッチと直列に接続されて前記電流源からの電流の電流値に応じたランプ電圧を生成するキャパシタと、該キャパシタが生成した前記ランプ電圧と前記アナログ電圧信号との電圧値を比較した結果を、前記遅延時間を示す遅延時間信号として出力する電圧比較器と、前記キャパシタに充電された前記ランプ電圧を放電させるためのリークスイッチと、を少なくとも備え、直列接続された前記電流源と前記電流スイッチとを複数個並列に接続してなる電圧制御遅延発生器セルを、前記電流源の個数と同数並列に備えるとともに、外部から供給されるクロック信号に基づいて各前記電圧制御遅延発生器セルを制御する制御信号を出力する制御回路を備えた電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器であって、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるリーク信号により前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電されている前記ランプ電圧を放電させた後、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるコントロール信号により前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれで異なる個数の前記電流スイッチをオンさせて、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれで異なる個数の前記電流源からの電流に応じた前記ランプ電圧を前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電させ、しかる後、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるスタートパルス信号の立上り時に前記コントロール信号を変更して、前記電圧制御遅延発生器セルすべてについて、すべての前記電流スイッチをオンさせて、すべての前記電流源からの電流に応じた前記ランプ電圧を前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電させ、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記電圧比較器から、前記キャパシタが生成した前記ランプ電圧と前記アナログ電圧信号の電圧値との比較結果である前記遅延時間信号をストップパルス信号として出力することを特徴とする。
の技術手段は、前記第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器において、前記電圧制御遅延発生器セルの個数をN個とした場合、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電されている前記ランプ電圧を放電させた後に、前記制御回路から出力される前記コントロール信号により、各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記電流スイッチをオンさせる個数を0,1,2,…,(N−1)個とすることを特徴とする。
の技術手段は、前記第または第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器において、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値を、前記クロック信号の1周期分の時間を前記電圧制御遅延発生器セル内に並列に備えた前記電流源の個数で除した値に制御することを特徴とする。
の技術手段は、前記第ないし第の技術手段のいずれかに記載の電圧制御遅延発生器において、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、各前記電圧制御遅延発生器セルのうち、いずれかの電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されたことを検出して、ストップホールディングパルス信号として出力する立上り検出回路をさらに備え、当該電圧制御遅延発生器が時間折り返し構成としてなることを特徴とする。
の技術手段は、前記第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器において、前記立上り検出回路は、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから出力される前記ストップパルス信号の排他的論理和演算結果をパリティ信号として出力する第1排他的論理和ゲートと、前記スタートパルス信号の立上り時点の前記パリティ信号の値を保持し、負論理の信号をパリティ・スタート信号として出力するDフリップフロップと、前記第1排他的論理和ゲートから出力される前記パリティ信号と前記Dフリップフロップから出力される前記パリティ・スタート信号との排他的論理和演算を行う第2排他的論理和ゲートと、を少なくとも含んで構成されていることを特徴とする。
の技術手段は、前記第ないし第の技術手段のいずれかに記載の電圧制御遅延発生器を複数段並列に備え、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを、あらかじめ定めた時間間隔ずつ、ずらして動作させることを特徴とする。
の技術手段は、前記第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器において、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを動作させる前記時間間隔を、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値とすることを特徴とする。
の技術手段は、前記第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器において、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを構成する前記電圧制御遅延発生器セル内の前記電流源の個数が偶数個であり、並列に配置する前記電圧制御遅延発生器の段数が、前記クロック信号の2周期分の時間を、前記遅延時間の最大値で除した値であることを特徴とする。
の技術手段は、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、前記第ないし第の技術手段のいずれかに記載の電圧制御遅延発生器と、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから前記ストップパルス信号が出力されるまでの出力遅延時間それぞれをディジタルデータに変換して出力する時間ディジタル変換器と、前記時間ディジタル変換器それぞれから出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とする。
10の技術手段は、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、前記第または第の技術手段に記載の電圧制御遅延発生器と、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する前記立上り検出回路から前記ストップ・ホールディングパルス信号が出力されるまでの出力遅延時間をディジタルデータに変換して出力する時間ディジタル変換器と、前記時間ディジタル変換器から出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とする。
11の技術手段は、前記第10の技術手段に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記アナログ電圧信号を入力して、当該アナログ電圧信号の電圧値をあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータに変換する粗アナログ・ディジタル変換器をさらに備え、前記エンコーダは、前記粗アナログ・ディジタル変換器により変換される前記上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータを、前記粗アナログ・ディジタル変換器が出力する前記上位ビット位置のディジタルデータと同一のコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とする。
12の技術手段は、前記第11の技術手段に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記粗アナログ・ディジタル変換器は、前記上位ビット位置のディジタルデータを、グレイコードまたはバイナリコードとして出力することを特徴とする。
13の技術手段は、前記第10の技術手段に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記制御回路から出力される前記スタートパルス信号と前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルから出力される前記ストップパルス信号とを入力して、前記アナログ電圧信号の電圧値に対してあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータを抽出して、あらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換する第2のエンコーダをさらに備え、前記エンコーダは、前記第2のエンコーダにより変換される前記上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータを、前記第2のエンコーダが出力する前記上位ビット位置のディジタルデータと同一のコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とする。
14の技術手段は、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、前記第ないし第の技術手段のいずれかに記載の電圧制御遅延発生器と、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれごとにあらかじめ定めた前記時間間隔ずつ時間をずらして前記スタートパルス信号を前記制御回路から出力した後、各段の前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから出力される前記ストップパルス信号の出力遅延時間それぞれをディジタルデータに変換して出力する各段ごとの時間ディジタル変換器と、各段の前記時間ディジタル変換器のうち、前記スタートパルス信号が前記制御回路から出力された段の前記時間ディジタル変換器それぞれから出力されるディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とする。
15の技術手段は、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、前記第10ないし第13の技術手段のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器を、複数段並列に備え、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、各段の前記アナログ・ディジタル変換器それぞれを構成する前記電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値ずつ、各段の前記アナログ・ディジタル変換器に対して前記スタートパルス信号を入力する時間間隔をずらし、かつ、前記エンコーダは、前記スタートパルス信号が前記制御回路から入力された段の前記アナログ・ディジタル変換器から出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とする。
16の技術手段は、前記第ないし第15の技術手段のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記エンコーダおよび/または前記第2のエンコーダは、それぞれ、入力されるディジタルデータを、温度計コードからグレイコードまたはバイナリコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とする。
17の技術手段は、前記第ないし第16の技術手段のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器において、入力されるアナログ電圧信号をサンプリングしてホールドするサンプルホールド回路をさらに備え、当該サンプルホールド回路は、前記スタートパルス信号が立上るタイミングで前記アナログ電圧信号をサンプリングしてホールドすることを特徴とする。
本発明に係る電圧制御遅延発生器およびアナログ・ディジタル変換器によれば、以下のごとき効果を奏することができる。
本発明に係る電圧制御遅延発生器においては、複数の電流源(定電流源)と複数の電流スイッチとを有する電圧制御遅延発生器セルを複数個備えて、電圧インタリーブ構成とすることにより、または、時間折り返し構成とすることにより、外部から入力されるアナログ電圧が取ることができる電圧範囲(フルスケール)を一定に保ったまま、従来技術に比し、遅延時間の最大値を大幅に減少させることができる。
また、本発明に係るアナログ・ディジタル変換器においては、サンプリング時刻のずれを減少させることが可能であり、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
本発明に係る電圧制御遅延発生器のブロック構成の一例を示すブロック構成図である。 図1の電圧制御遅延発生器セルつまり電圧制御遅延発生器を構成する基本セルの一実現例を示す回路図である。 図1に示す電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器の動作の一例を示すタイムチャートである。 図1の電圧制御遅延発生器への制御信号の一つであるコントロール信号の設定例を示すテーブルである。 図1の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器の電圧時間変換特性を示す特性図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成の一例を示すブロック構成図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器のブロック構成の図1とは異なる他の例を示すブロック構成図である。 図7に示す時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器の動作の一例を示すタイムチャートである。 図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器における立上り検出回路の回路構成の一例を示す回路図である。 図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器の電圧時間変換特性を示す特性図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成の図6とは異なる例を示すブロック構成図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成の図6、図11とは異なる例を示すブロック構成図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器のブロック構成の図1、図7とは異なる他の例を示すブロック構成図である。 図13に示す電圧インタリーブ構成(×4)を時間インタリーブ構成(×8)とした電圧制御遅延発生器の動作の一例を示すタイムチャートである。 本発明に係る電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成の図6、図11、図12とは異なる例を示すブロック構成図である。 本発明に係る電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成の図6、図11、図12、図15とは異なる例を示すブロック構成図である。 従来の電圧制御遅延発生器の回路構成を示す回路図である。 図17の従来の電圧制御遅延発生器の動作を示す波形図である。 従来の電圧制御遅延発生器を用いたアナログ・ディジタル変換器のブロック構成を示すブロック構成図である。 従来の時間ディジタル変換器の回路構成を示す回路図である。 図20の従来の時間ディジタル変換器の動作を示す波形図である。
以下に、本発明に係る電圧制御遅延発生器およびアナログ・ディジタル変換器の好適な実施形態について、その一例を、図面を参照しながら詳細に説明する。
(本発明の特徴)
本発明の実施形態の説明に先立って、本発明の特徴についてその概要をまず説明する。本発明は、時間分解型回路に関するものであって、特に、電圧軸の変化を時間軸の変化に変換する電圧制御遅延発生器VCDGの構成について、アナログ・ディジタル変換器ADCに応用することを念頭に、サンプリング誤差を低減させることが可能な電圧制御遅延発生器VCDGの構成とすることを主要な特徴としている。
本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGは、複数の電流源I(定電流源)と複数の電流スイッチSとを含んで構成される電圧制御遅延発生器VCDGの基本セル(電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i:任意の整数))を有し、かかる基本セル(電圧制御遅延発生器セルVCDG_i)を複数利用して、電圧インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGまたは時間折り返し構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを実現している。
本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGにおいては、まず、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iごとに、初期化用のリーク信号leakを入力して各キャパシタCのランプ電圧ramp(容量電圧ramp)を放電させた後に、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iごとに、制御回路CTLからのコントロール信号ctrlによりオンとなる電流スイッチSの数が異なるようにして、各キャパシタCに異なる電流値の電流を供給することにより、各キャパシタCそれぞれのプリチャージを開始する。
しかる後、スタートパルス信号startが制御回路CTLから出力される時点で、コントロール信号ctrlを変更して、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流スイッチSすべてをオンにして、各キャパシタCへのチャージ電流を同一レートで増加させて、各キャパシタCに発生するランプ電圧ramp(容量電圧ramp)の上昇速度を、備えられている電流源Iの個数分に応じて急峻にする。
ここで、外部から入力されるアナログ電圧信号VinとキャパシタCによって生成されたランプ電圧ramp(容量電圧ramp)とが比較され、前者のアナログ電圧信号Vinよりも後者のランプ電圧ramp(容量電圧ramp)の電圧値が上回った際に、該当する電圧比較器CMPからストップパルス信号stopが出力される。
かくのごとく、複数の電流源I(定電流源)を有する電圧制御遅延発生器セルVCDG_iを複数個利用することにより、ストップパルス信号stopが出力されるまでに要する遅延時間は、キャパシタCに発生するランプ電圧rampの上昇速度が急峻になった分だけ従来技術の電圧制御遅延発生器VCDGよりも短縮され、スタートパルス信号startが出力された時点からストップパルス信号stopが出力されるまでの遅延時間の時間幅が短縮される。これにより、アナログ・ディジタル変換器ADCに応用する場合に、サンプリング誤差を防ぐことが可能となる。
さらに、前述のような電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGまたは時間折り返し構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを多段に並列に配置した時間インタリーブ構成として、時間をずらして連続的に繰り返し動作する構成も可能としている。
また、本発明においては、前述のように時間幅を短縮した電圧制御遅延発生器VCDGと時間軸上の情報をディジタルデータに変換する時間ディジタル変換器TDCとを用いて、サンプリング時刻のずれを減少させ、サンプリングレートの高速化を可能とするアナログ・ディジタル変換器ADCを実現している。
さらには、本発明においては、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGまたは時間折り返し構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを多段に並列に配置した時間インタリーブ構成とすることによって、各キャパシタCのプリチャージに要する時間の分だけ、アナログ・ディジタル変換器ADCのサンプリングレートが低下してしまうことを改善することができるアナログ・ディジタル変換器ADCの構成も可能としている。
以上のような技術の適用により、入力のアナログ電圧Vinが取ることができる電圧範囲FSを一定に保ったまま、スタートパルス信号startを出力してからストップパルス信号stopが出力されるまでの遅延時間の最大値tmaxを減少させた電圧制御遅延発生器VCDGを実現することができる。また、サンプリング時刻のずれを減少させることによって、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ったアナログ・ディジタル変換器ADCを実現することができる。
以下に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの実施形態について詳細に説明する。
(第1の実施形態)
まず、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第1の実施形態として、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGについて説明する。
図1は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGのブロック構成の一例を示すブロック構成図であり、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの構成例を示している。図1に示す電圧制御遅延発生器VCDGは、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じた遅延時間のディジタル信号を発生させる回路であり、複数個(図1の場合は4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i:任意の整数、図1の場合、i=0,1,2,3)と、外部から供給されるクロック信号clkに基づいて各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iの動作を制御する制御信号を出力する制御回路CTLと、から構成され、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iは、並列に接続されている。
図2は、図1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iつまり電圧制御遅延発生器VCDGを構成する基本セルの一実現例を示す回路図である。電圧制御遅延発生器セルVCDG_iつまり電圧制御遅延発生器VCDGの基本セルは、それぞれがあらかじめ定めた電流値の電流を供給する複数個(図2では4個)の電流源I(定電流源)、該電流源Iそれぞれと直列に接続され、各電流源Iからの電流をオン・オフする複数個(図2では4個)の電流スイッチS、並列に接続した複数個の電流スイッチSと直列に接続され、電流源Iからの電流の電流値に応じた容量電圧rampつまりランプ電圧rampを生成するキャパシタC、該キャパシタCに蓄積された電荷をリークし、生成したランプ電圧rampを放電させるリークスイッチLS、キャパシタCが生成したランプ電圧rampと外部から入力されるアナログ電圧Vinとの電圧値の比較結果を、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示す遅延時間信号(ディジタル信号)として出力する電圧比較器CMPから構成されている。
ここで、電圧制御遅延発生器セルVCDG_iの設置個数は、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流源Iおよび電流スイッチSの設置個数と同数である。
図3は、図1に示す電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの動作の一例を示すタイムチャートである。図3のタイムチャートに示すように、図1の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、入力されるパルス(スタートパルス信号start)から任意の遅延時間Tout後に立上るパルス(ストップパルス信号stop)を発生する機能を有し、かつ、該遅延時間Toutが外部から入力されるアナログ電圧Vinによって変更可能である機能を有している。図3には、図1の電圧制御遅延発生器VCDGを構成する第3番目の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2から出力されるストップパルス信号stop2のパルス波形を示している。なお、初期状態(時刻tよりも前)においては、図1の4個の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3について、まず、制御回路CTLからの制御信号の一つであるコントロール信号ctrlとリーク信号leakとにより、電流スイッチSをオフ、リークスイッチLSをオンとして、キャパシタCの電荷をリークさせて、ランプ電圧rampを放電させておく。
図4は、図1の電圧制御遅延発生器VCDGへの制御信号の一つであるコントロール信号ctrlの設定例を示すテーブルであり、初期状態からの経過時間に応じて、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)へ入力する各コントロール信号ctrlを変更する様子の一例を示している。図4において、制御開始前(t<t)までは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iへ出力するコントロール信号ctrlはすべて“0”である。しかる後、クロック信号clkの立上りに同期した制御開始時点の時刻tにおいて、リークスイッチLSをオフにし、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iへ出力する各コントロール信号ctrlを、第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0については“0”に、第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1については“1”に、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2については“2”に、第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3については“3”にそれぞれ設定し、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)それぞれで異なる個数の電流スイッチSをオンさせて、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iそれぞれで異なる個数の電流源Iからの電流を各キャパシタCに流すようにする。
すなわち、例えば、N個(N:整数)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,…,(N−1))が存在する場合、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流源Iおよび電流スイッチSの個数もN個ずつであり、コントロール信号ctrlによりオンさせる各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流スイッチSの個数を、それぞれ、0,1,2,…,(N−1)個とする。電圧制御遅延発生器セルVCDG_iが4個(N=4)の図1の場合、第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0は、4個すべての電流スイッチSをオフとし、第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1は、4個のうち1個の電流スイッチSをオンとし、残りの3個の電流スイッチSをオフとする。また、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2は、4個のうち2個の電流スイッチをオンとし、残りの2個の電流スイッチをオフとし、第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3は、4個のうち3個の電流スイッチをオンとし、残りの1個の電流スイッチをオフとする。
この結果、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれのキャパシタCには、すべての電流スイッチSがオフの第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0を除き、各電流源Iからの電荷がチャージされ始め、キャパシタCが生成するランプ電圧rampつまり容量電圧rampは、図3に示すように、t≦t<tにおいて、それぞれ異なる傾きを持ったランプ波となる。電流源Iの定電流値をI、キャパシタCの容量をCとすると、t≦t<tにおける時刻tでの容量電圧rampは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで次のように表すことができる。
すなわち、
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=0
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=I・(t−t)/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=2・I・(t−t)/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=3・I・(t−t)/C
なお、図3には、現実には存在しないが、参考のため、コントロール信号ctrlを“4”として4個の電流スイッチSすべてをオンする第5の電圧制御遅延発生器セルVCDG_4が存在すると仮定した場合の容量電圧rampを破線で示している。
時刻tからtまでの時間間隔(すなわちクロック信号clkの周期)をT(クロック周期)とすると、時刻t=tにおける容量電圧rampは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで、次のように表すことができる。ここで、時刻t=tは、アナログ電圧Vinの電圧値を時間軸上の時間情報に変換するための開始時点となるスタートパルス信号startが立上る時刻である。
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=0
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=I・T/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=2・I・T/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=3・I・T/C
次に、図4に示すように、スタートパルス信号startの立上り時刻である時刻tにおいて、すべての電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3へのコントロール信号ctrlを“4”に設定する。すなわち、電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3の4つの電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)すべてについて、4個ずつの電流スイッチSすべてをオンとする。
この結果、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3のキャパシタCにはそれぞれ4つずつの電流源Iから同一レートで電荷がチャージされ始め、キャパシタCが生成するランプ電圧rampつまり容量電圧rampは、t≦t<tにおいて、図3に示すように、4つずつのすべての電流源Iからの電流の電流値に応じて、同一の傾きを持ってより急峻に傾斜したランプ波となる。つまり、t≦t<tの範囲における時刻tでの容量電圧rampは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで、次のように表すことができる。
すなわち、
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=4・I・(t−t)/C
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=4・I・(t−t)/C+I・T/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=4・I・(t−t)/C+2・I・T/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=4・I・(t−t)/C+3・I・T/C
なお、図3には、現実には存在しないが、参考のため、t≦t<tにおいてコントロール信号ctrlを“4”として4個の電流スイッチSすべてをオンする第5の電圧制御遅延発生器セルVCDG_4が存在すると仮定した場合のt≦t<tにおける容量電圧rampについても破線で示している。
各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3内の電圧比較器CMPは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれのランプ電圧ramp_0〜ramp_3つまり容量電圧ramp_0〜ramp_3と、外部から入力されるアナログ電圧Vin(各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3に共通)との電圧値の大小を比較し、容量電圧rampがアナログ電圧Vinの電圧値を上回ると、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示す遅延時間信号(つまり、電圧情報を時間軸上の時間情報として示すディジタル信号)としてパルス(ストップパルス信号stop)が立上る。
時刻t=tにおいてスタートパルス信号startが立上ってから、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれにおいて、ストップパルス信号stop0〜stop3それぞれが立上るまでの遅延時間Toutは、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示すものであり、次の式(1)から式(4)によって表わされる。
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0におけるストップパルス信号stop0が立上るまでの遅延時間Tout_0は、
Tout_0=t−t=Vin・C/(4・I) …(1)
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1におけるストップパルス信号stop1が立上るまでの遅延時間Tout_1は、
Tout_1=t−t=(Vin−I・T/C)・C/(4・I) …(2)
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2におけるストップパルス信号stop2が立上るまでの遅延時間Tout_2は、
Tout_2=t−t=(Vin−2・I・T/C)・C/(4・I)…(3)
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3におけるストップパルス信号stop3が立上るまでの遅延時間Tout_3は、
Tout_3=t−t=(Vin−3・I・T/C)・C/(4・I)…(4)
図5は、図1の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの電圧時間変換特性を示す特性図であり、横軸が、アナログ電圧Vinの電圧値であり、縦軸が、スタートパルス信号startが立上った時点からストップパルス信号stopが立上る時点までの遅延時間Toutである。図5において、ストップパルス信号stop0からストップパルス信号stop3までの4本の直線は、それぞれ、前述の第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0に関する式(1)から第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3に関する式(4)までを図示したものである。
図1の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの構成の場合、図5に示すように、アナログ電圧Vinが0〜(4・I・T/C)の範囲内、遅延時間Toutが0〜T/4の範囲内においては、アナログ電圧Vinが与えられると、スタートパルス信号startが立上ってからストップパルス信号stopの立上り時点までの遅延時間Toutが一意に決まることになる。
つまり、遅延時間Toutの最大値tmaxは、例えば、式(1)において、Vin=I・(T/C)となった場合であり、
tmax={I・(T/C)}・C/(4・I)=T/4
で与えられる。ここで、図17に示した従来の電圧制御遅延発生器VCDGの場合は、図18に示したように、遅延時間Toutの最大値は、tmax=T(クロック周期)で与えられるので、図1に示す本実施形態の電圧制御遅延発生器VCDGの場合は、従来の電圧制御遅延発生器VCDGと比較して、遅延時間Toutの最大値tmaxを(1/4)に圧縮することができる。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号startが立上るタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号startの立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、特性をさらに改善することができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第2の実施形態として、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCについて説明する。
図6は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成の一例を示すブロック構成図であり、電圧制御遅延発生器VCDGとして図1に例示したような電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いた場合の構成例を示している。本実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、図1に示した複数個(図1の場合、4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iと制御回路CTLとからなる電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDG、複数個(図6の場合は4個)の時間ディジタル変換器TDC(TDC_0,TDC_1,TDC_2,TDC_3)、エンコーダENCから構成される。ここで、時間ディジタル変換器TDCの個数は、前段の電圧制御遅延発生器VCDGを構成する電圧制御遅延発生器セルVCDG_iの設置個数と同数である。
電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、第1の実施形態に前述したように、外部から与えられるアナログ電圧Vinにしたがって、式(1)から式(4)によって決定される遅延時間Toutそれぞれで立ち上がるストップパルス信号stop0からストップパルス信号stop3を発生する。第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0の出力であるストップパルス信号stop0、第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1の出力であるストップパルス信号stop1、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2の出力であるストップパルス信号stop2、第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3の出力であるストップパルス信号stop3は、それぞれ、複数個(図6の場合は4個)の時間ディジタル変換器TDCのうち、対応する時間ディジタル変換器TDC(TDC_0,TDC_1,TDC_2,TDC_3)に入力される。
各時間ディジタル変換器TDC(TDC_0,TDC_1,TDC_2,TDC_3)は、それぞれ、スタートパルス信号startの立上り時点からそれぞれに入力されるストップパルス信号stop0,stop1,stop2,stop3の立上り時点までの遅延時間Toutを検出してディジタルデータDout0,Dout1,Dout2,Dout3に変換する。
ここで、スタートパルス信号startが立上ってから遅延時間Toutの最大値tmax=T/4の時間内に、ストップパルス信号stop0,stop1,stop2,stop3のいずれか1ないし複数の信号が立上っている。例えば、2・I・T/C<Vin<3・I・T/Cの場合には、図3に示したように、スタートパルス信号startが立ち上がった時点ではストップパルス信号stop3はすでにハイレベルに立上っており、ストップパルス信号stop0,stop1およびstop2はローレベルである。
しかる後、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2の容量電圧rampがアナログ電圧Vinを超えた時点で、ストップパルス信号stop2がハイレベルに立上る。これ以降、図3に示す例においては、最大値tmax=T/4の時間内では、ストップパルス信号stop0,stop1はローレベルのままであり、ストップパルス信号stop2,stop3はハイレベルを維持する。
図6のエンコーダENCは、各時間ディジタル変換器TDC_0〜TDC_3それぞれの出力であるディジタルデータDout0〜Dout3を入力し、遅延時間Toutが、ディジタルデータDout0〜Dout3のうち、どのデータから検出されるかの情報、または、スタートパルス信号startが立ち上がった時点のストップパルス信号stop0〜stop3のレベルの情報、のいずれか一方または両方から、電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3のうち、ストップパルス信号stopがハイレベルに立上っている電圧制御遅延発生器セルVCDG_k(k:0〜3のいずれかの整数)を特定する。
この電圧制御遅延発生器セルVCDG_kの特定により、アナログ電圧Vinの粗い電圧レベルを検出することができ、これを、アナログ・ディジタル変換器ADC出力の上位ビット(図6のように4個の時間ディジタル変換器TDCの場合には上位2ビット)として出力する。
また、得られたディジタルデータDoutを温度計コードからあらかじめ定めた所定のコード例えばバイナリコード等のディジタルデータへ変換し、アナログ・ディジタル変換器ADC出力の前記上位ビットを除く残りの下位ビットとして出力する。
本アナログ・ディジタル変換器ADCは、遅延時間Toutの最大値tmaxを、図19に示した従来のアナログ・ディジタル変換器ADCの遅延時間の最大値T(クロック信号clkの周期)から(T/4)に減少させることができる。したがって、サンプリング時刻のずれを減少させることができ、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号startが立上るタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号startの立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、サンプリングレートのさらなる高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
(第3の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第3の実施形態として、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGについて説明する。
図7は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGのブロック構成の図1とは異なる他の例を示すブロック構成図であり、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの構成例を示している。図7に示す電圧制御遅延発生器VCDGは、図1の電圧制御遅延発生器VCDGの場合と同様、入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じた遅延時間のディジタル信号を発生させる回路であるが、複数個(図7の場合は4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i:任意の整数、図7の場合、i=0,1,2,3)と、外部から供給されるクロック信号clkに基づいて各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iの動作を制御する制御信号を出力する制御回路CTLと、を備えているが、図7に示す電圧制御遅延発生器VCDGは、さらに、立上り検出回路DETを追加して構成されており、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iは、並列に接続され、それぞれの出力は後段の立上り検出回路DETに接続されている。
すなわち、図7の電圧制御遅延発生器VCDGは、第1の実施形態に図1として示した電圧制御遅延発生器VCDGに対して、立上り検出回路DETがさらに追加された構成とされており、立上り検出回路DETは、制御回路CTLがスタートパルス信号startを出力した後、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(図7の場合、i=0,1,2,3)のうち、いずれかの電圧制御遅延発生器セルVCDG_j(図7の場合、j:0〜3の整数)からストップパルス信号stopが出力されたことを検出してストップホールディングパルス信号として出力するものであり、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを構成するための回路である。
図7の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iつまり電圧制御遅延発生器VCDGの基本セルは、第1の実施形態として示した図2と全く同様であり、それぞれがあらかじめ定めた電流値の電流を供給する複数個(図2では4個)の電流源I(定電流源)、該電流源Iそれぞれと直列に接続され、各電流源Iからの電流をオン・オフする複数個(図2では4個)の電流スイッチS、並列に接続した複数個の電流スイッチSと直列に接続され、電流源Iからの電流の電流値に応じた容量電圧rampつまりランプ電圧rampを生成するキャパシタC、該キャパシタCに蓄積された電荷をリークし、生成したランプ電圧rampを放電させるリークスイッチLS、キャパシタCが生成したランプ電圧rampと外部から入力されるアナログ電圧Vinとの電圧値の比較結果を、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示す遅延時間信号(ディジタル信号)として出力する電圧比較器CMPから構成されている。
ここで、電圧制御遅延発生器セルVCDG_iの設置個数は、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流源Iおよび電流スイッチSの設置個数と同数である。
図8は、図7に示す時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの動作の一例を示すタイムチャートである。図8のタイムチャートに示すように、図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、図1の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの場合と同様、入力されるパルス(スタートパルス信号start)から任意の遅延時間Tout後に立上るパルス(ストップパルス信号stop)を発生する機能を有し、かつ、該遅延時間Toutが外部から入力されるアナログ電圧Vinによって変更可能である機能を有している。図8には、図7の電圧制御遅延発生器VCDGを構成する第3番目の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2から出力されるストップパルス信号stop2によって立上り検出回路DETから出力されるストップホールディングパルス信号stop_foldingのパルス波形を示している。なお、初期状態(時刻tよりも前)においては、図7の4個の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3について、まず、制御回路CTLからの制御信号の一つであるコントロール信号ctrlとリーク信号leakとにより、電流スイッチSをオフ、リークスイッチLSをオンとして、キャパシタCの電荷をリークさせて、ランプ電圧rampを放電させておく。
図7の電圧制御遅延発生器VCDGへの制御信号の一つであるコントロール信号ctrlの設定例は、第1の実施形態の図4の設定テーブルと全く同様であり、初期状態からの経過時間に応じて、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)へ入力する各コントロール信号ctrlを変更する。つまり、図4において説明したように、制御開始前(t<t)までは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iへのコントロール信号ctrlはすべて“0”である。しかる後、クロック信号clkの立上りに同期した制御開始時点の時刻tにおいて、リークスイッチLSをオフにし、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iへの各コントロール信号ctrlを、第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0については“0”に、第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1については“1”に、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2については“2”に、第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3については“3”にそれぞれ設定し、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)それぞれで異なる個数の電流スイッチSをオンさせて、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_iそれぞれで異なる個数の電流源Iからの電流を各キャパシタCに流すようにする。
すなわち、例えば、N個(N:整数)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,…,(N−1))が存在する場合、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流源Iおよび電流スイッチSの個数もN個ずつであり、コントロール信号ctrlによりオンさせる各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流スイッチSの個数を、それぞれ、0,1,2,…,(N−1)個とする。電圧制御遅延発生器セルVCDG_iが4個(N=4)の図7の場合、第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0は、4個すべての電流スイッチSをオフとし、第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1は、4個のうち1個の電流スイッチSをオンとし、残りの3個の電流スイッチSをオフとする。また、第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2は、4個のうち2個の電流スイッチをオンとし、残りの2個の電流スイッチをオフとし、第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3は、4個のうち3個の電流スイッチをオンとし、残りの1個の電流スイッチをオフとする。
この結果、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれのキャパシタCには、すべての電流スイッチSがオフの第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0を除き、各電流源Iからの電荷がチャージされ始め、キャパシタCが生成するランプ電圧rampつまり容量電圧rampは、図8に示すように、t≦t<tにおいて、それぞれ異なる傾きを持ったランプ波となる。電流源Iの定電流値をI、キャパシタCの容量をCとすると、t≦t<tにおける時刻tでの容量電圧rampは、第1の実施形態の場合と同様、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで次のように表すことができる。
すなわち、
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=0
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=I・(t−t)/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=2・I・(t−t)/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=3・I・(t−t)/C
なお、図3には、現実には存在しないが、参考のため、コントロール信号ctrlを“4”として4個の電流スイッチSすべてをオンする第5の電圧制御遅延発生器セルVCDG_4が存在すると仮定した場合の容量電圧rampを破線で示している。
時刻tからtまでの時間間隔(すなわちクロック信号clkの周期)をT(クロック周期)とすると、時刻t=tにおける容量電圧rampは、第1の実施形態の場合と同様、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで、次のように表すことができる。ここで、時刻t=tは、アナログ電圧Vinの電圧値を時間軸上の時間情報に変換するための開始時点となるスタートパルス信号startが立上る時刻である。
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=0
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=I・T/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=2・I・T/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=3・I・T/C
次に、図8に示すように、スタートパルス信号startの立上り時刻である時刻tにおいて、すべての電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3へのコントロール信号ctrlを“4”に設定する。すなわち、電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3の4つの電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(i=0,1,2,3)すべてについて、4個ずつの電流スイッチSすべてをオンとする。
この結果、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3のキャパシタCにはそれぞれ4つずつの電流源Iから同一レートで電荷がチャージされ始め、キャパシタCが生成するランプ電圧rampつまり容量電圧rampは、t≦t<tにおいて、図8に示すように、4つずつのすべての電流源Iからの電流の電流値に応じて、同一の傾きを持ってより急峻に傾斜したランプ波となる。つまり、t≦t<tの範囲における時刻tでの容量電圧rampは、第1の実施形態の場合と同様、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれで、次のように表すことができる。
すなわち、
第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0においては、
ramp_0=4・I・(t−t)/C
第2の電圧制御遅延発生器セルVCDG_1においては、
ramp_1=4・I・(t−t)/C+I・T/C
第3の電圧制御遅延発生器セルVCDG_2においては、
ramp_2=4・I・(t−t)/C+2・I・T/C
第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3においては、
ramp_3=4・I・(t−t)/C+3・I・T/C
なお、図8には、現実には存在しないが、参考のため、t≦t<tにおいてコントロール信号ctrlを“4”として4個の電流スイッチSすべてをオンする第5の電圧制御遅延発生器セルVCDG_4が存在すると仮定した場合のt≦t<tにおける容量電圧rampについても破線で示している。
各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3内の電圧比較器CMPは、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれのランプ電圧ramp_0〜ramp_3つまり容量電圧ramp_0〜ramp_3と、外部から入力されるアナログ電圧Vin(各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3に共通)との電圧値の大小を比較し、容量電圧rampがアナログ電圧Vinの電圧値を上回ると、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示す遅延時間信号(つまり、電圧情報を時間軸上の時間情報として示すディジタル信号)としてパルス(ストップパルス信号stop)が立上る。
時刻t=tにおいてスタートパルス信号startが立上ってから、各電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜VCDG_3それぞれにおいて、ストップパルス信号stop0〜stop3それぞれが立上るまでの遅延時間Toutは、アナログ電圧Vinの電圧値に応じた遅延時間を示すものであり、第1の実施形態に示した式(1)から式(4)によって表わされる。
図9は、図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGにおける立上り検出回路DETの回路構成の一例を示す回路図であり、本実施形態の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを構成するために、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGに対して新たに追加された回路について、その一構成例を示している。図9に示す立上り検出回路DETは、多入力(図9では4入力)の第1排他的論理和ゲートEXOR1、DフリップフロップD−FF、2入力の第2排他的論理和EXOR2から構成され、入力される各ストップパルス信号stop0〜stop3のうちいずれかの信号の立上りを検出してストップホールディングパルス信号stop_foldingとして出力する。
図9において、4入力の第1排他的論理和ゲートEXOR1は、入力される4個のストップパルス信号stop0〜stop3の排他的論理和演算を行い、入力される4個のストップパルス信号stop0〜stop3のハイレベルの個数が偶数の場合にはローレベルになり、奇数の場合にはハイレベルになるパリティ信号parityを出力する。DフリップフロップD−FFは、スタートパルス信号startの立上り時点のパリティ信号parityの値を保持し、その負論理をパリティ・スタート信号parity_startとして出力する。2入力の第2排他的論理和EXOR2は、第1排他的論理和ゲートEXOR1からのパリティ信号parityとDフリップフロップD−FFからのパリティ・スタート信号parity_startとの排他的論理和演算を行い、一致/不一致を検出して、ストップホールディングパルス信号stop_foldingを出力する。
スタートパルス信号startが立ち上がった直後では、パリティ信号parityとパリティ・スタート信号parity_startとは不一致であり、2入力の第2排他的論理和EXOR2の負論理出力であるストップホールディングパルス信号stop_foldingはローレベルである。ここで、ストップパルス信号stop0〜stop3のうちいずれかの信号が立上ると、パリティ信号parityが反転するので、パリティ信号parityとパリティ・スタート信号parity_startとが一致し、ストップホールディングパルス信号stop_foldingはハイレベルに立上る。
前述した第1の実施形態では、ストップパルス信号stop0〜stop3を個別に出力したが、本第3の実施形態では、ストップパルス信号stop0〜stop3のうちいずれかのストップパルス信号stopの立上りを検出し、該立上りを反映する1つの出力信号をストップホールディングパルス信号stop_foldingとして出力する点が、第1の実施形態の場合とは異なっている。
図10は、図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの電圧時間変換特性を示す特性図であり、横軸が、アナログ電圧Vinの電圧値であり、縦軸が、スタートパルス信号startが立上った時点からいずれかのストップパルス信号stopが立上る時点つまりストップホールディングパルス信号が立上る時点までの遅延時間Toutである。図10において、ストップホールディングパルス信号stop_foldingの4本の直線は、それぞれ、前述の第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0に関する式(1)から第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3に関する式(4)までを図示したものであり、式(1)〜式(4)は、前述したように、第1の実施形態の場合と同様である。
しかし、第1の実施形態の場合は、図1および図5に示したように、ストップパルス信号stop0〜stop3それぞれを個別に出力したが、本第3の実施形態においては、前述のように、ストップパルス信号stop0〜stop3のうちいずれかの信号の立上りを検出し、該立上りを反映して時間的に折り返された1つの出力信号をストップホールディングパルス信号stop_foldingとして出力している点が異なっている。
図7の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの構成の場合、図10に示すように、アナログ電圧Vinが0〜(4・I・T/C)の範囲内、遅延時間Toutが0〜T/4の範囲内においては、アナログ電圧Vinが与えられると、スタートパルス信号startが立上ってからストップパルス信号stopの立上り時点までの遅延時間Toutが一意に決まることになる。
つまり、遅延時間Toutの最大値tmaxは、第1の実施形態の場合と同様、例えば、式(1)において、Vin=I・(T/C)となった場合であり、
tmax={I・(T/C)}・C/(4・I)=T/4
で与えられる。ここで、図17に示した従来の電圧制御遅延発生器VCDGの場合は、図18に示したように、遅延時間Toutの最大値は、tmax=T(クロック周期)で与えられるので、図7に示す本実施形態の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの場合も、第1の実施形態の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの場合と同様、従来の電圧制御遅延発生器VCDGと比較して、遅延時間Toutの最大値tmaxを(1/4)に圧縮することができる。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号startが立上るタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号startの立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、特性をさらに改善することができる。
(第4の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第4の実施形態として、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの一例について説明する。
図11は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成の図6とは異なる例を示すブロック構成図であり、電圧制御遅延発生器VCDGとして図7に例示したような時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いた場合の構成の一例を示している。本第4の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、粗アナログ・ディジタル変換器roughADC、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDG、時間ディジタル変換器TDC、エンコーダENCから構成される。粗アナログ・ディジタル変換器roughADCを備えている点と、時間ディジタル変換器TDCが1個である点とが、第2の実施形態の図6の場合と異なっている。
なお、粗アナログ・ディジタル変換器roughADCは、入力されたアナログ電圧Vinの電圧値を参照してあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータに変換するための粗い精度で充分な変換器であるが、場合によっては、第2の実施形態と同様の仕組みにより上位ビット位置のディジタルデータを生成することとして、粗アナログ・ディジタル変換器roughADCを省略して構成するようにしても良い。
時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、第3の実施形態に前述したように、外部から与えられるアナログ電圧Vinにしたがって、式(1)から式(4)によって決定される遅延時間Toutで立ち上がるストップホールディングパルス信号stop_foldingを発生する。立上り検出回路DETの出力であるストップホールディングパルス信号stop_foldingは、後続の時間ディジタル変換器TDCに入力される。
時間ディジタル変換器TDCは、スタートパルス信号startの立上り時点から、入力されるストップホールディングパルス信号stop_foldingの立上り時点までの遅延時間Toutを検出して、温度計コードからなるディジタルデータに変換する。
ここで、スタートパルス信号startが立上ってから遅延時間Toutの最大値tmax=T/4の時間内に、ストップホールディングパルス信号stop_foldingが立上っている。
前述した第2の実施形態においては、アナログ・ディジタル変換器ADCの出力の上位ビットの情報を得るために、ストップパルス信号stopがハイレベルに立上る電圧制御遅延発生器VCDGを特定することが必要であった。しかし、本第4の実施形態においては、アナログ・ディジタル変換器ADCから出力するディジタルデータの上位ビットを、アナログ電圧Vinの電圧値に応じて粗い精度でディジタルデータに変換する粗アナログ・ディジタル変換器roughADCの出力により得る構成としており、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、本アナログ・ディジタル変換器ADCの出力データのうち、粗アナログ・ディジタル変換器roughADCが出力する上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータを得るためのみに利用されるので、第2の実施形態の場合とは異なり、ストップパルス信号stopがハイレベルに立上る電圧制御遅延発生器VCDGを特定する必要がない。
エンコーダENCは、時間ディジタル変換器TDCから出力されるディジタルデータを温度計コードからあらかじめ定めた適切なコード(バイナリコード、グレイコード等)へ変換し、アナログ・ディジタル変換器ADCから出力されるディジタルデータの下位ビットとして出力する。なお、エンコーダENCから出力される下位ビットのディジタルデータは、粗アナログ・ディジタル変換器roughADCが出力する上位ビットのディジタルデータと同一のコードに変換されて出力される。
本第4の実施形態のアナログ・ディジタル変換器ADCについても、第2の実施形態の場合と同様、遅延時間Toutの最大値tmaxを、図19に示した従来のアナログ・ディジタル変換器ADCの遅延時間の最大値T(クロック信号clkの周期)から(T/4)に減少させることができる。したがって、サンプリング時刻のずれを減少させることができ、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。また、第2の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCと比較して、時間ディジタル変換器TDCの必要個数を(1/4)に低減することができるので、同じ分解能のアナログ・ディジタル変換器ADCを構成しようとする場合に、回路規模の縮小、低消費電力化を図ることができる。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号startが立上るタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号startの立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、サンプリングレートのさらなる高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
(第5の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第5の実施形態として、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの他の例について説明する。
図12は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成の図6、図11とは異なる例を示すブロック構成図であり、電圧制御遅延発生器VCDGとして図7に例示したような時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いた場合の構成の他の例を示している。本第5の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、第1のエンコーダENC1、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDG、時間ディジタル変換器TDC、第2のエンコーダENC2から構成される。
図12のアナログ・ディジタル変換器ADCは、第4の実施形態の図11の場合と同様、時間ディジタル変換器TDCが1個である点が、第2の実施形態の図6の場合と異なっている。
さらに、図12のアナログ・ディジタル変換器ADCにおいては、第1のエンコーダENC1は、第4の実施形態の図11の場合のエンコーダENCと同様であるが、第4の実施形態の図11の場合の粗アナログ・ディジタル変換器roughADCの代わりに、第2のエンコーダENC2が備えられている。ここで、第2のエンコーダENC2は、制御回路CTLから出力されるスタートパルス信号startと図12の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを構成する各電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(図12の場合、i=0〜3)からそれぞれ出力されるストップパルス信号stop0〜3とを入力して、アナログ電圧Vinの電圧値に応じてあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータを抽出して、あらかじめ定めたコードに変換する。
つまり、本第5の実施形態のアナログ・ディジタル変換器ADCにおいては、第4の実施形態のアナログ・ディジタル変換器ADCにおいて利用していた粗アナログ・ディジタル変換器roughADCを利用しないで、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGの第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3それぞれから出力されるストップパルス信号stop0〜stop3を入力してディジタルデータの上位ビットを出力する第2のエンコーダENC2を備えることにより、アナログ・ディジタル変換器ADCの出力データの上位ビットを得る点が第4の実施形態の場合のアナログ・ディジタル変換器ADCとは異なっている。
時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGは、第3の実施形態に前述したように、外部から与えられるアナログ電圧Vinにしたがって、式(1)から式(4)によって決定される遅延時間Toutで立ち上がるストップホールディングパルス信号stop_foldingを発生する。立上り検出回路DETの出力であるストップホールディングパルス信号stop_foldingは、後続の時間ディジタル変換器TDCに入力される。
時間ディジタル変換器TDCは、入力されるスタートパルス信号startの立上り時点から、入力されるストップホールディングパルス信号stop_foldingの立上り時点までの遅延時間Toutを検出して、温度計コードからなるディジタルデータに変換する。
第1のエンコーダENC1は、時間ディジタル変換器TDCから出力されるディジタルデータを温度計コードからあらかじめ定めた適切なコード(バイナリコード、グレイコード等)へ変換し、アナログ・ディジタル変換器ADCから出力されるディジタルデータのうち、第2のエンコーダENC2が出力する上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータとして出力する。なお、第1のエンコーダENC1と第2のエンコーダENC2とからそれぞれ出力される下位ビットのディジタルデータと上位ビットのディジタルデータとは、同一のコードに変換されてそれぞれから出力される。
一方、スタートパルス信号startが立ち上がった時点における第1の電圧制御遅延発生器セルVCDG_0〜第4の電圧制御遅延発生器セルVCDG_3それぞれから出力されるストップパルス信号stop0〜stop3は、当該時点におけるアナログ電圧Vinの電圧レベルが、0〜(I・T/C)、(I・T/C)〜(2・I・T/C)、(2・I・T/C)〜(3・I・T/C)、(3・I・T/C)〜(4・I・T/C)のいずれの範囲にあるかによって異なる値となる。例えば、アナログ電圧Vinが(2・I・T)/C<Vin<(3・I・T/C)の場合には、図3に示したように、スタートパルス信号startが立ち上がった時点ではストップパルス信号stop3はすでにハイレベルに立上っており、ストップパルス信号stop0,stop1およびstop2はローレベルである。
すなわち、スタートパルス信号startが立ち上がった時点におけるストップパルス信号stop0〜stop3のデータは、本アナログ・ディジタル変換器ADCの出力データ(ディジタルデータ)の上位ビットを表す温度計コードとみなすことができる。第2のエンコーダENC2は、スタートパルス信号startが立ち上がった時点におけるストップパルス信号stop0〜stop3の温度計コードからあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータについてあらかじめ定めた適切なコード(バイナリコード、グレイコード等)にコード変換し、本アナログ・ディジタル変換器ADCアナログ・ディジタル変換器ADCから出力されるディジタルデータの上位ビットを得る。
第2のエンコーダENC2において、温度計コードをバイナリコードのディジタルデータに変換する場合のコード変換例を示すと、次の通りである。スタートパルス信号startが立ち上がった時点におけるストップパルス信号stop0〜stop3が温度計コード“0000”で表される状態の場合には、バイナリコード“00”に変換して出力し、温度計コード“0001”で表される状態の場合には、バイナリコード“01”に変換して出力し、温度計コード“0011”で表される状態の場合には、バイナリコード“10”に変換して出力し、温度計コード“0111”で表される状態の場合には、バイナリコード“11”に変換して出力する。
本第5の実施形態のアナログ・ディジタル変換器ADCについても、第4の実施形態の場合と同様、遅延時間Toutの最大値tmaxを、図19に示した従来のアナログ・ディジタル変換器ADCの遅延時間の最大値T(クロック信号clkの周期)から(T/4)に減少させることができる。したがって、サンプリング時刻のずれを減少させることができ、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。また、第2の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCと比較して、時間ディジタル変換器TDCの必要個数を(1/4)に低減することができるので、同じ分解能のアナログ・ディジタル変換器ADCを構成しようとする場合に、回路規模の縮小、低消費電力化を図ることができる。
また、第4の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCと比較して、粗アナログ・ディジタル変換器roughADCが不要であり、同一の機能をディジタル処理が可能な第2のエンコーダENC2によって実現しているので、同じ分解能のアナログ・ディジタル変換器ADCを構成しようとする場合に、さらに、回路規模の縮小、低消費電力化を図ることができる。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号startが立上るタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号startの立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、サンプリングレートのさらなる高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
(第6の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第6の実施形態として、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGについて説明する。
図13は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGのブロック構成の図1、図7とは異なる他の例を示すブロック構成図であり、複数個(図13の場合、4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iからなる電圧インタリーブ構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに複数段(図13の場合、8段)の時間インタリーブ構成(×8)として、各段ごとに動作するタイミングをずらした電圧制御遅延発生器VCDGを構成した場合の一例を示している。
つまり、図13に示す電圧制御遅延発生器VCDGは、制御回路CTL、複数個(図13の場合は、第1の実施形態の場合と同様、4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iからなる電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器を、複数段(図13の場合は8段)の時間インタリーブ構成とすることにより、多段構成の複数個(図13の場合は、4個×8段=合計32個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iとして、電圧制御遅延発生器セルVCDG_0、VCDG_1、VCDG_2、VCDG_3、VCDG_10、VCDG_11、VCDG_12、VCDG_13、…、VCDG_70、VCDG_71、VCDG_72、VCDG_73から構成されている。
図14は、図13に示す電圧インタリーブ構成(×4)を時間インタリーブ構成(×8)とした電圧制御遅延発生器VCDGの動作の一例を示すタイムチャートである。時間インタリーブのずれ時間は自由に設計することができ、各段の電圧制御遅延発生器VCDGをあらかじめ任意に定めた時間間隔ずつずらして動作させることができるが、図14に示す例では、制御回路CTLからスタートパルス信号startを出力した後、ストップパルス信号stopが出力されるまでに要する遅延時間の最大値tmax=T/4とした場合を図示している。
すなわち、時間インタリーブ構成の第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が立上ってから、(T/4)経過した後に、第2段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start1が立上り、さらに(T/4)経過した後に、第3段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start2が立上る。最終的には、第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が立上ってから、7・(T/4)経過した後に、第8段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start7が立上る。さらに(T/4)経過した後に、第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が再び立上ることによって、(T/4)間隔の時間インタリーブ(タイムインタリーブ)動作を実現することができる。
かくのごとく、各段の電圧制御遅延発生器VCDGが動作するタイミングを、遅延時間の最大値tmaxずつずらす場合、各段の電圧制御遅延発生器VCDGそれぞれを構成する電圧制御遅延発生器セルVCDG_i内の電流源Iの個数は偶数(図13の場合は、4個)であり、並列に配置する電圧制御遅延発生器VCDGの段数が、クロック信号clkの2周期分の時間2Tを、遅延時間の最大値tmaxで除した段数(2T÷(4/T)=8段)の構成とする。
図14のタイムチャートに示すように、図13の4個の電圧制御遅延発生器セルVCDG_iからなる電圧インタリーブ構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに8段の時間インタリーブ構成(×8)とした電圧制御遅延発生器VCDGは、一般に、時間インタリーブ構成の各段に入力されるそれぞれのパルス(スタートパルス信号start0〜start7)から任意の遅延時間Tout後にそれぞれ立上るパルス(ストップパルス信号stop0i〜stop7i:i=0,1,2,3)を発生する機能を有し、かつ、該遅延時間Toutが外部から入力されるアナログ電圧Vinによって変更可能である機能を有している。図14には、図13の時間インタリーブ構成の各段の第3番目の電圧制御遅延発生器セルVCDG_02〜VCDG_72からそれぞれ出力されるストップパルス信号stop02〜stop72のパルス波形を示している。なお、各段の電圧制御遅延発生器VCDGそれぞれの初期状態においては、まず、電流スイッチSをオフ、リークスイッチLSをオンとして、キャパシタCの電荷をリークしておく。
本第6の実施形態の図13に示すような電圧インタリーブ構成を多段の時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGの場合は、(T/4)ごとに各段の電圧制御遅延発生器VCDGの遅延発生動作を連続的に繰り返して実現することができるので、第1の実施形態の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGの1サイクル動作(2T)と比較して、(1/8)の時間間隔での遅延動作が可能である。したがって、該遅延動作をアナログ・ディジタル変換器ADCに利用すると、第1の実施形態の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いた場合の8倍のサンプリングレートでの高速動作が可能である。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号start0〜start7が立上るそれぞれのタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号start0〜start7の立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、特性をさらに改善することができる。
(第7の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第7の実施形態として、電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの一例について説明する。
図15は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成の図6、図11、図12とは異なる例を示すブロック構成図であり、電圧制御遅延発生器VCDGとして図13に例示したような複数個(図15の場合、4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(図15の場合、i=0,1,2,3)からなる電圧インタリーブ構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに複数段(図15の場合、8段)時間インタリーブ構成(×8)とし、各段ごとに動作するタイミングをあらかじめ定めた時間間隔ずつずらした電圧制御遅延発生器VCDGを用いた場合のアナログ・ディジタル変換器ADCの構成の一例を示している。
つまり、本第7の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、第2の実施形態の図6の電圧インタリーブ構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCを、時間インタリーブ構成として、複数段(図15の場合、8段)用いて、各段ごとに動作するタイミングをずらした(時間インタリーブ)構成となっている。
図15に示すように、本第7の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、時間インタリーブ構成(×8)の各段を構成する複数個(図15の場合、4個)の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器セルVCDG_j0〜VCDG_j3と各段の時間ディジタル変換器TDC_j0〜TDC_j3(j=0,1,2,…,7)と、各段の時間ディジタル変換器TDC_j0〜TDC_j3(j=0,1,2,…,7)の出力データをコード変換するエンコーダENCとからなっている。ここで、各段の時間ディジタル変換器TDC_j0〜TDC_j3(j=0,1,2,…,7)は、それぞれ、外部から与えられるアナログ電圧Vinに応じた温度計コードからなるディジタルデータDout00〜Dout03,Dout10〜Dout13,…,Dout70〜Dout73をタイミングをずらして出力する。
エンコーダENCは、制御回路CTLからの制御信号に基づき、各段の時間ディジタル変換器TDC_j0〜TDC_j3(j=0,1,2,…,7)から出力されるディジタルデータDout00〜Dout03,Dout10〜Dout13,…,Dout70〜Dout73のうち、スタートパルス信号startが入力された時間ディジタル変換器TDC_k0〜TDC_k3(k:0〜7のいずれかの整数)から出力されるディジタルデータDoutk0〜Doutk3を選択して、あらかじめ定めた適切なコード(バイナリコード、グレイコード等)のディジタルデータにコード変換する。
時間インタリーブのずれ時間は自由に設計することができるが、本第7の実施形態においては、第6の実施形態の図14に示したように、制御回路CTLからスタートパルス信号startを出力した後、ストップパルス信号stopが出力されるまでに要する遅延時間の最大値tmax=T/4としている。
すなわち、時間インタリーブ構成の第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が立上ってから、(T/4)経過した後に、第2段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start1が立上り、さらに(T/4)経過した後に、第3段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start2が立上る。最終的には、第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が立上ってから、7・(T/4)経過した後に、第8段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start7が立上る。さらに(T/4)経過した後に、第1段目の電圧制御遅延発生器VCDGのスタートパルス信号start0が再び立上ることによって、(T/4)間隔の時間インタリーブ(タイムインタリーブ)動作を実現することができる。
本第7の実施形態の図15に示すような電圧インタリーブ構成を時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを用いるアナログ・ディジタル変換器ADCの場合は、(T/4)ごとに各段の電圧制御遅延発生器VCDGの遅延発生動作を連続的に繰り返して実現することができるので、第2の実施形態の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの場合の1サイクル動作(2T)と比較して、(1/8)の時間間隔での遅延動作が可能である。したがって、第2の実施形態の電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの場合の8倍のサンプリングレートの高速動作が可能である。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号start0〜start7が立上るそれぞれのタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号start0〜start7の立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、サンプリングレートのさらなる高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
(第8の実施形態)
次に、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCの第8の実施形態として、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGをさらに時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの一例について説明する。
図16は、本発明に係る電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCのブロック構成の図6、図11、図12、図15とは異なる例を示すブロック構成図であり、第4の実施形態の図11または第5の実施形態の図12に例示したような複数個(図11、図12の場合、4個)の電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(図11、図12の場合、i=0,1,2,3)と立上り検出回路DETとからなる時間折り返し構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCをさらに時間インタリーブ構成(×8)として、複数段(図16の場合、8段)用いて、各段ごとに動作するタイミングをずらしたアナログ・ディジタル変換器ADCを構成した場合の一例を示している。
つまり、本第8の実施形態におけるアナログ・ディジタル変換器ADCは、第4の実施形態の図11または第5の実施形態の図12に例示した時間折り返し構成(×4)の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADC_j(j=0,1,2,…,7)を、時間インタリーブ構成として、アナログ・ディジタル変換器ADC_0,ADC_1,…,ADC_7と複数段(図16の場合、8段)用いて、各段ごとに動作するタイミングをずらした(時間インタリーブ)構成となっている。
図16において、クロック分配回路CLK_DISは、各段のアナログ・ディジタル変換器ADC_j(j=0,1,2,…,7)ごとの時間インタリーブを実現するために、8相の45°ずつ位相がずれたクロック信号clkを発生する。また、エンコーダENCは、図示していない制御回路CTLからの制御信号に基づき、各段のアナログ・ディジタル変換器ADC_0,ADC_1,…,ADC_7(つまり、時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADC)から出力されるディジタルデータDout0,Dout1,…,Dout7のうち、スタートパルス信号startが入力される段のアナログ・ディジタル変換器ADC_k(k:0〜7のいずれかの整数)から出力されるディジタルデータDoutkを選択して、あらかじめ定めた適切なコード(バイナリコード、グレイコード等)のディジタルデータにコード変換する。
時間インタリーブのずれ時間は自由に設計することができるが、本第8の実施形態においては、第6の実施形態の図14に示したように、制御回路CTLからスタートパルス信号startを出力した後、ストップパルス信号stopが出力されるまでに要する遅延時間の最大値tmax=T/4としている。
すなわち、時間インタリーブ構成の第1段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_0を構成する時間ディジタル変換器TDC_0に入力するスタートパルス信号start0が立上ってから、(T/4)経過した後に、第2段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_1を構成する時間ディジタル変換器TDC_1に入力するスタートパルス信号start1が立上り、さらに(T/4)経過した後に、第3段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_2を構成する時間ディジタル変換器TDC_2に入力するスタートパルス信号start2が立上る。最終的には、第1段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_0を構成する時間ディジタル変換器TDC_0に入力するスタートパルス信号start0が立上ってから、7・(T/4)経過した後に、第8段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_7を構成する時間ディジタル変換器TDC_7に入力するスタートパルス信号start7が立上る。さらに(T/4)経過した後に、第1段目のアナログ・ディジタル変換器ADC_0を構成する時間ディジタル変換器TDC_0に入力するスタートパルス信号start0が再び立上ることによって、(T/4)間隔の時間インタリーブ(タイムインタリーブ)動作を実現することができる。
本第8の実施形態の図16に示すような時間折り返し構成を時間インタリーブ構成とした電圧制御遅延発生器VCDGを用いるアナログ・ディジタル変換器ADCの場合は、(T/4)ごとに各段のアナログ・ディジタル変換器ADC_j(j=0,1,2、…、7)の遅延発生動作を連続的に繰り返して実現することができるので、第4の実施形態または第5の実施形態の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの場合の1サイクル動作(2T)と比較して、(1/8)の時間間隔での遅延動作が可能である。したがって、第4の実施形態または第5の実施形態の時間折り返し構成の電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCの場合の8倍のサンプリングレートの高速動作が可能である。
なお、アナログ電圧Vin入力にサンプルホールド回路を挿入することもできる。スタートパルス信号start0〜start7が立上るそれぞれのタイミングでアナログ電圧Vinをサンプルホールド回路によってホールドすることにより、サンプリング時刻をスタートパルス信号start0〜start7の立上りのタイミングに一致させることができる。この結果、サンプリング時刻のずれを無くすことができ、サンプリングレートのさらなる高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
(実施形態における効果の説明)
以上に詳細に説明したように、本発明に係る各実施形態の電圧制御遅延発生器VCDGおよびアナログ・ディジタル変換器ADCによれば、次のような効果が得られる。
前述の各実施形態のような電圧制御遅延発生器セルVCDG_iおよび電圧制御遅延発生器VCDGにおいては、複数の電流源I(定電流源)と複数の電流スイッチSとを有する電圧制御遅延発生器セルVCDG_i(電圧制御遅延発生器VCDGの基本セル)を複数個備えて、電圧インタリーブ構成とすることにより、または、時間折り返し構成とすることにより、外部から入力されるアナログ電圧Vinが取ることができる電圧範囲(FS:フルスケール)を一定に保ったまま、従来技術の電圧制御遅延発生器VCDGに比し、遅延時間の最大値tmaxを大幅に減少させることができる。
また、前述の各実施形態のような電圧制御遅延発生器VCDGを用いたアナログ・ディジタル変換器ADCにおいては、サンプリング時刻のずれを減少させることが可能であり、サンプリングレートの高速化とアナログ入力信号の広帯域化とを図ることができる。
ADC,ADC_0,ADC_1,…,ADC_7…アナログ・ディジタル変換器、C…キャパシタ、clk…クロック信号、CLK_DIS…クロック分配回路、CMP…電圧比較器、CTL…制御回路、ctrl…制御データ、D−FF…Dフリップフロップ、Dout,Dout0,Dout1,Dout2,Dout3…ディジタルデータ、DET…立上り検出回路、ENC…エンコーダ、ENC1…第1のエンコーダ、ENC2…第2のエンコーダ、EXOR1…第1排他的論理和ゲート、EXOR2…第2排他的論理和、FS…フルスケール、I…電流源、leak…リーク信号、LS…リークスイッチ、parity…パリティ信号、parity_start…パリティ・スタート信号、ramp…容量電圧(ランプ電圧)、roughADC…粗アナログ・ディジタル変換器、S…電流スイッチ、start…スタートパルス信号、stop,stop0,stop1,stop2,stop3…ストップパルス信号、stop_folding…ストップホールディングパルス信号、T…クロック周期、td…遅延バッファ、TDC,TDC_0,TDC_1,TDC_2,TDC_3,TDC_00,TDC_01,TDC_02,TDC_03,〜,TDC_70,TDC_71,TDC_72,TDC_73…時間ディジタル変換器、Tout…遅延時間、tmax…遅延時間の最大値、VCDG…電圧制御遅延発生器、VCDG_0,VCDG_1,VCDG_2,VCDG_3,VCDG_00,VCDG_01,VCDG_02,VCDG_03,〜,VCDG_70,VCDG_71,VCDG_72,VCDG_73…電圧制御遅延発生器セル、Vin…アナログ電圧。

Claims (17)

  1. 入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じた遅延時間を有するディジタル信号を発生させ、あらかじめ定めた電流値の電流を供給する電流源と、該電流源に直列に接続されて該電流源からの電流をオン・オフする電流スイッチと、該電流スイッチと直列に接続されて前記電流源からの電流の電流値に応じたランプ電圧を生成するキャパシタと、該キャパシタが生成した前記ランプ電圧と前記アナログ電圧信号との電圧値を比較した結果を、前記遅延時間を示す遅延時間信号として出力する電圧比較器と、前記キャパシタに充電された前記ランプ電圧を放電させるためのリークスイッチと、を少なくとも備え、直列接続された前記電流源と前記電流スイッチとを複数個並列に接続してなる電圧制御遅延発生器セルを、前記電流源の個数と同数並列に備えるとともに、
    外部から供給されるクロック信号に基づいて各前記電圧制御遅延発生器セルを制御する制御信号を出力する制御回路を備えた電圧インタリーブ構成の電圧制御遅延発生器であって、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるリーク信号により前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電されている前記ランプ電圧を放電させた後、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるコントロール信号により前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれで異なる個数の前記電流スイッチをオンさせて、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれで異なる個数の前記電流源からの電流に応じた前記ランプ電圧を前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電させ、しかる後、前記制御回路から前記制御信号の一つとして出力されるスタートパルス信号の立上り時に前記コントロール信号を変更して、前記電圧制御遅延発生器セルすべてについて、すべての前記電流スイッチをオンさせて、すべての前記電流源からの電流に応じた前記ランプ電圧を前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電させ、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記電圧比較器から、前記キャパシタが生成した前記ランプ電圧と前記アナログ電圧信号の電圧値との比較結果である前記遅延時間信号をストップパルス信号として出力することを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  2. 請求項に記載の電圧制御遅延発生器において、前記電圧制御遅延発生器セルの個数をN個とした場合、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記キャパシタに充電されている前記ランプ電圧を放電させた後に、前記制御回路から出力される前記コントロール信号により、各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれの前記電流スイッチをオンさせる個数を0,1,2,…,(N−1)個とすることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  3. 請求項またはに記載の電圧制御遅延発生器において、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値を、前記クロック信号の1周期分の時間を前記電圧制御遅延発生器セル内に並列に備えた前記電流源の個数で除した値に制御することを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  4. 請求項ないしのいずれかに記載の電圧制御遅延発生器において、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、各前記電圧制御遅延発生器セルのうち、いずれかの電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されたことを検出して、ストップホールディングパルス信号として出力する立上り検出回路をさらに備え、当該電圧制御遅延発生器が時間折り返し構成としてなることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  5. 請求項に記載の電圧制御遅延発生器において、前記立上り検出回路は、前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから出力される前記ストップパルス信号の排他的論理和演算結果をパリティ信号として出力する第1排他的論理和ゲートと、前記スタートパルス信号の立上り時点の前記パリティ信号の値を保持し、負論理の信号をパリティ・スタート信号として出力するDフリップフロップと、前記第1排他的論理和ゲートから出力される前記パリティ信号と前記Dフリップフロップから出力される前記パリティ・スタート信号との排他的論理和演算を行う第2排他的論理和ゲートと、を少なくとも含んで構成されていることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  6. 請求項ないしのいずれかに記載の電圧制御遅延発生器を複数段並列に備え、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを、あらかじめ定めた時間間隔ずつ、ずらして動作させることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  7. 請求項に記載の電圧制御遅延発生器において、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを動作させる前記時間間隔を、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値とすることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  8. 請求項に記載の電圧制御遅延発生器において、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれを構成する前記電圧制御遅延発生器セル内の前記電流源の個数が偶数個であり、並列に配置する前記電圧制御遅延発生器の段数が、前記クロック信号の2周期分の時間を、前記遅延時間の最大値で除した値であることを特徴とする電圧制御遅延発生器。
  9. 入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、請求項ないしのいずれかに記載の電圧制御遅延発生器と、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから前記ストップパルス信号が出力されるまでの出力遅延時間それぞれをディジタルデータに変換して出力する時間ディジタル変換器と、前記時間ディジタル変換器それぞれから出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  10. 入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、請求項またはに記載の電圧制御遅延発生器と、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、前記電圧制御遅延発生器を構成する前記立上り検出回路から前記ストップ・ホールディングパルス信号が出力されるまでの出力遅延時間をディジタルデータに変換して出力する時間ディジタル変換器と、前記時間ディジタル変換器から出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  11. 請求項10に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記アナログ電圧信号を入力して、当該アナログ電圧信号の電圧値をあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータに変換する粗アナログ・ディジタル変換器をさらに備え、前記エンコーダは、前記粗アナログ・ディジタル変換器により変換される前記上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータを、前記粗アナログ・ディジタル変換器が出力する前記上位ビット位置のディジタルデータと同一のコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  12. 請求項11に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記粗アナログ・ディジタル変換器は、前記上位ビット位置のディジタルデータを、グレイコードまたはバイナリコードとして出力することを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  13. 請求項10に記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記制御回路から出力される前記スタートパルス信号と前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルから出力される前記ストップパルス信号とを入力して、前記アナログ電圧信号の電圧値に対してあらかじめ定めた桁数の上位ビット位置のディジタルデータを抽出して、あらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換する第2のエンコーダをさらに備え、前記エンコーダは、前記第2のエンコーダにより変換される前記上位ビット位置のディジタルデータを除く残りの桁数の下位ビットのディジタルデータを、前記第2のエンコーダが出力する前記上位ビット位置のディジタルデータと同一のコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  14. 入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、請求項ないしのいずれかに記載の電圧制御遅延発生器と、各段の前記電圧制御遅延発生器それぞれごとにあらかじめ定めた前記時間間隔ずつ時間をずらして前記スタートパルス信号を前記制御回路から出力した後、各段の前記電圧制御遅延発生器を構成する各前記電圧制御遅延発生器セルそれぞれから出力される前記ストップパルス信号の出力遅延時間それぞれをディジタルデータに変換して出力する各段ごとの時間ディジタル変換器と、各段の前記時間ディジタル変換器のうち、前記スタートパルス信号が前記制御回路から出力された段の前記時間ディジタル変換器それぞれから出力されるディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力するエンコーダと、を備えていることを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  15. 入力されるアナログ電圧信号の電圧値に応じたディジタルデータに変換して出力するアナログ・ディジタル変換器において、請求項10ないし13のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器を、複数段並列に備え、前記制御回路から前記スタートパルス信号を出力した後、各段の前記アナログ・ディジタル変換器それぞれを構成する前記電圧制御遅延発生器セルから前記ストップパルス信号が出力されるまでに要する遅延時間の最大値ずつ、各段の前記アナログ・ディジタル変換器に対して前記スタートパルス信号を入力する時間間隔をずらし、かつ、前記エンコーダは、前記スタートパルス信号が前記制御回路から入力された段の前記アナログ・ディジタル変換器から出力される前記ディジタルデータをあらかじめ定めたコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  16. 請求項ないし15のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器において、前記エンコーダおよび/または前記第2のエンコーダは、それぞれ、入力されるディジタルデータを、温度計コードからグレイコードまたはバイナリコードのディジタルデータに変換して出力することを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
  17. 請求項ないし16のいずれかに記載のアナログ・ディジタル変換器において、入力されるアナログ電圧信号をサンプリングしてホールドするサンプルホールド回路をさらに備え、当該サンプルホールド回路は、前記スタートパルス信号が立上るタイミングで前記アナログ電圧信号をサンプリングしてホールドすることを特徴とするアナログ・ディジタル変換器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011239214A (ja) * 2010-05-11 2011-11-24 Asahi Kasei Electronics Co Ltd A/d変換器
US8471751B2 (en) * 2011-06-30 2013-06-25 Intel Corporation Two-stage analog-to-digital converter using SAR and TDC
CN103532553B (zh) * 2013-10-22 2016-07-06 天津大学 基于循环时间数字转换器的时域adc
JP2017040580A (ja) * 2015-08-20 2017-02-23 株式会社オートネットワーク技術研究所 電流検出回路
CN109444856B (zh) * 2018-08-31 2020-07-31 西安电子科技大学 一种应用于高分辨率时间数字转换器的整数周期测量电路
WO2022018794A1 (ja) * 2020-07-20 2022-01-27 日本電信電話株式会社 アナログ-デジタル変換器
CN114779216B (zh) * 2022-03-04 2025-07-15 洛伦兹(北京)科技有限公司 回波信号采集系统及激光雷达
CN116094524B (zh) * 2023-02-20 2025-10-10 上海交通大学 全可综合的时间域模拟数字转换器
WO2025173588A1 (ja) * 2024-02-16 2025-08-21 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 電圧時間変換回路、アナログデジタル変換器及び電子機器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5440550A (en) * 1977-09-07 1979-03-30 Yokogawa Hokushin Electric Corp Analog-to-digital converter
JPS57133725A (en) * 1981-02-12 1982-08-18 Sony Corp Interface circuit
JPS60112326A (ja) * 1983-11-24 1985-06-18 Hitachi Ltd アナログデイジタル変換器
JP2003198371A (ja) * 2001-12-26 2003-07-11 Nec Microsystems Ltd A/dコンバータ

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