JP5295361B2 - 記憶装置試験システムへの記憶装置のバルク供給 - Google Patents

Description

本開示は、記憶装置試験システムのための記憶装置試験システムおよび搬送ステーションへの記憶装置のバルク供給に関する。

ディスクドライブ製造業者は、典型的には、一まとまりの必要条件の遵守について、製造されたディスクドライブを試験する。大量のディスクドライブを連続的にまたは並行して試験するための試験装置および技法が存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時にバッチ式で試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、典型的には、試験のためにディスクドライブを受ける複数の試験用スロットを有する１以上の架台を具える。

そのディスクドライブのすぐ周りの試験環境は厳密に調節される。その試験環境の中の最小の温度変動が、正確な試験条件およびそのディスクドライブの安全性にとって非常に重要である。最新世代のディスクドライブはより高容量、より速い回転速度およびより小さいヘッドクリアランスを有するので、それらは振動により敏感である。過剰の振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の完全性に影響を及ぼす可能性がある。試験条件下では、ドライブ自体が、支持構造体または隣接するユニットへの治具を通して振動を伝搬させる可能性がある。この振動の「クロストーキング」は、振動の外部供給源と一緒に、バンプエラー（ｂｕｍｐ ｅｒｒｏｒｓ）、ヘッドスラップ（ｈｅａｄ ｓｌａｐ）および回転非同期振れ（ｎｏｎ−ｒｅｐｅｔｉｔｉｖｅ ｒｕｎ−ｏｕｔ、ＮＲＲＯ）に寄与し、これはより低い試験歩留まりおよび製造原価の上昇を生じる可能性がある。

現在のディスクドライブ試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、またはコンベヤーベルトを使用して、試験のためにその試験システムの中へと投入するための搬送位置までディスクドライブを個々に供給する。試験システムのロボットアームは、個々に、その搬送位置からディスクドライブを回収し、試験のためにそれらを試験のためにスロットの中に投入する。

１つの態様では、記憶装置を記憶装置試験システムへと供給する方法は、複数の記憶装置を運ぶ記憶装置運搬器を、この記憶装置試験システムの自動運搬装置（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）にアクセス可能な提示位置に置く工程を含む。この方法は、そのロボットアームを作動させて記憶装置運搬器から記憶装置のうちの１つを回収する工程と、自動運搬装置を作動させてこの回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムの試験用スロットへと届け、この記憶装置その試験用スロットに挿入する工程を含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、当該自動運搬装置を作動させて記憶装置運搬装置を回収する工程と、当該自動運搬装置を作動させて、この記憶装置運搬装置を使用して記憶装置を運ぶことにより記憶装置運搬器からその記憶装置のうちの１つを回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置を試験用スロットへと届ける工程とを含む。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置を記憶装置の下に配置し、記憶装置運搬器の記憶装置支持体から記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の記憶装置を記憶装置運搬器から離すように運ぶことにより、記憶装置を記憶装置運搬器から記憶装置運搬装置を用いて回収することができる。記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置がこの試験用スロットの中へと挿入されると、その記憶装置はその記憶装置試験システムのコネクタと係合し、記憶装置運搬装置はその試験用スロットの閉鎖をもたらす。

いくつかの実施態様では、記憶装置運搬器を提示位置に置く工程は、記憶装置運搬器を搬送ステーションの上に投入位置で置く工程と、搬送ステーションを作動させて、当該自動運搬装置によるサービス提供のために、記憶装置運搬器を投入位置から提示位置へと移動させる工程と、を含む。この搬送ステーションは、搬送ステーション筐体およびこの搬送ステーション筐体上に配置される複数の運搬器提示支持システムを具える。各運搬器提示支持システムは、（例えばロボットアームによる）当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、記憶装置運搬器を提示位置で受けて支持するように構成されている。この搬送ステーション筐体の上に配置される運搬器移動装置は、投入された記憶装置運搬器を投入位置と運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置との間で移動させる。いくつかの例では、当該方法は、記憶装置運搬器上の運搬器マーキングを読み取る工程と、搬送ステーションを作動させて（例えば運搬器移動装置を作動させて）、運搬器マーキングに基づいて、記憶装置運搬器を投入位置から提示位置へと移動させる工程とを含む。この運搬器マーキングは、バーコード、カラーマーキング、またはいずれかの適切な一般的または独特の識別子であってよい。当該方法は、記憶装置運搬器に、当該記憶装置試験システムにおける記憶装置運搬器の使用に影響を及ぼす機能特性（例えば「良好な出力」記憶装置運搬器、「不良な出力」記憶装置運搬器、または「入力」記憶装置運搬器）を割り当てる工程を含んでもよい。この機能特性は、当該記憶装置試験システムにおける記憶装置運搬器の使用の間に動的に再割り当てできる。

いくつかの実施態様では、提示位置に置かれた記憶装置運搬器は、当該自動運搬装置によるサービス提供のために、複数の記憶装置運搬器を提示位置で保持するように構成された搬送ステーションによって提示位置に保持される。この記憶装置運搬器は、運搬器提示支持システムによって提示位置で支持される。いくつかの例では、この運搬器提示支持システムは、記憶装置運搬器の運搬器本体によって画定されるそれぞれのアームの溝によって受けられるように構成された運搬器支持アームの第１および第２の対向する対を具える。

別の態様では、記憶装置を記憶装置試験システムへと供給する方法は、複数の記憶装置を記憶装置運搬器の中へと投入する工程と、記憶装置運搬器を搬送ステーションの上に投入位置で置く工程と、搬送ステーションの運搬器移動装置を作動させて、当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、記憶装置運搬器を投入位置から提示位置へと移動させる工程と、を含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、この記憶装置運搬器は、搬送ステーションの搬送ステーション筐体上に配置された複数の運搬器提示支持システムのうちの１つによって、提示位置で支持される。この運搬器提示支持システムは互いに対して鉛直方向に並べられてもよい。いくつかの例では、この運搬器提示支持システムは、記憶装置運搬器の運搬器本体によって画定されるそれぞれのアームの溝によって受けられるように構成された運搬器支持アームの第１および第２の対向する対を具える。このアームの溝は、運搬器支持アーム上での所定の位置へと解放可能にロックすることができ、これによりそれぞれの記憶装置運搬器をその提示位置に保持することができる。

いくつかの実施態様では、当該方法は、連続的に、各記憶装置運搬器を搬送ステーションの上に投入位置で置き、運搬器移動装置を作動させて、当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、各記憶装置運搬器をこの複数の運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置へと移動させることにより、各々が記憶装置を収容する複数の記憶装置運搬器を搬送ステーション上へと投入する工程を含む。いくつかの例では、当該方法は、記憶装置運搬器上の運搬器マーキングを読み取る工程と、搬送ステーションを作動させて（例えば運搬器移動装置を作動させて）、この運搬器マーキングに基づいて、記憶装置運搬器を投入位置から運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置へと移動させる工程とを含む。この運搬器マーキングは、バーコード、カラーマーキング、またはいずれかの適切な一般的または独特の識別子であってよい。当該方法は、記憶装置運搬器に、当該記憶装置試験システムにおける記憶装置運搬器の使用に影響を及ぼす機能特性を割り当てる工程を含んでもよい。この機能特性は、当該記憶装置試験システムにおける記憶装置運搬器の使用の間に動的に再割り当てできる。

いくつかの例では、当該搬送ステーションは、その搬送ステーション筐体に枢動可能に取り付けられたドアを具える。このドアは、記憶装置運搬器を受けて支持するように動作可能であり、この搬送ステーション筐体によって画定される運搬器供給開口の閉鎖をもたらす。当該方法は、このドアを開いた位置まで開く工程と、記憶装置運搬器を投入前位置でこのドアの上に置く工程と、このドアを閉じた位置へと回転することによりこのドアを閉じ、これにより記憶装置運搬器を投入位置に置く工程とを含んでもよい。

いくつかの実施態様では、この運搬器移動装置は、記憶装置運搬器を投入位置と提示位置との間で移動させるように構成された多軸アクチュエータアセンブリを具える。この多軸アクチュエータアセンブリは、鉛直方向アクチュエータ、水平方向アクチュエータ、およびピッチアクチュエータを具えてもよい。好ましくは、この多軸アクチュエータアセンブリは、第１、第２、および第３のリニアアクチュエータを具える。第１のリニアアクチュエータは、搬送ステーション筐体の側壁の上に配置される。リフト可動台はこの第１のリニアアクチュエータに結合される。第２のリニアアクチュエータはこのリフト可動台上に配置され、少なくとも１つの記憶装置運搬器を支持するように構成された運搬器投入支持体に枢動可能に結合されている。この運搬器投入支持体は、投入位置と提示位置との間で回転するように動作可能である。第３のリニアアクチュエータは、第２のリニアアクチュエータおよび運搬器投入支持体の両方に枢動可能に結合されている。この第３のリニアアクチュエータは、運搬器投入支持体を回転させるように動作可能である。記憶装置運搬器は、各々が記憶装置を収容するように構成された複数の記憶装置置き場を画定する運搬器本体を具える。

さらに別の態様では、記憶装置試験システムのための搬送ステーションは、搬送ステーション筐体と、この搬送ステーション筐体の上に配置される複数の運搬器提示支持システムとを具える。各運搬器提示支持システムは、当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、記憶装置運搬器を提示位置で受けて支持するように構成されている。運搬器移動装置は、この搬送ステーション筐体の上に配置され、記憶装置運搬器を投入位置と運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置との間で移動させるように構成されている。いくつかの例では、この運搬器移動装置は、鉛直方向アクチュエータ、水平方向アクチュエータ、およびピッチアクチュエータを有する多軸アクチュエータアセンブリを具える。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、この搬送ステーションは、搬送ステーション筐体に枢動可能に取り付けられかつこの搬送ステーション筐体によって画定される運搬器供給開口の閉鎖をもたらすように構成されたドアを具える。このドアは、記憶装置運搬器を受けて支持するための開いた位置と、記憶装置運搬器を投入位置に置くための閉じた位置との間で枢動する。いくつかの例では、運搬器提示支持システムは、記憶装置運搬器の運搬器本体によって画定されるそれぞれのアームの溝によって受けられるように構成された運搬器支持アームの第１および第２の対向する対を具える。

別の態様では、記憶装置試験システムのための搬送ステーションは、搬送ステーション筐体およびこの搬送ステーション筐体の上に配置される複数の運搬器提示支持システムを具える。各運搬器提示支持システムは、当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、記憶装置運搬器を提示位置で受けて支持するように構成されている。この搬送ステーションは、この搬送ステーション筐体の上に配置される運搬器移動装置と、この運搬器移動装置に枢動可能に結合された運搬器投入支持体とを具える。この運搬器投入支持体は、第１の位置と第２の位置との間で枢動および移動し、かつ記憶装置運搬器を受けて支持するように構成されている。この運搬器移動装置は、記憶装置運搬器を投入位置で支持するための第１の位置と、運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置で記憶装置運搬器を支持するための第２の位置との間で運搬器投入支持体を移動させるように構成されている。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、この運搬器移動装置は、好ましくは鉛直方向アクチュエータ、水平方向アクチュエータ、およびピッチアクチュエータを具える多軸アクチュエータアセンブリを具える。いくつかの例では、この多軸アクチュエータアセンブリは、第１、第２、および第３のリニアアクチュエータを具える。第１のリニアアクチュエータは、搬送ステーション筐体の側壁の上に配置される。リフト可動台はこの第１のリニアアクチュエータに結合される。第２のリニアアクチュエータはこのリフト可動台上に配置され、第１の位置と第２の位置との間で枢動する運搬器投入支持体に枢動可能に結合されている。第３のリニアアクチュエータは、第２のリニアアクチュエータおよび運搬器投入支持体の両方に枢動可能に結合されている。この第３のリニアアクチュエータは、運搬器投入支持体を回転させるように動作可能である。いくつかの例では、この運搬器投入支持体の第１の位置は、実質的に水平方向であり、運搬器投入支持体の第２の位置は実質的に鉛直方向である。

当該搬送ステーションは、この搬送ステーション筐体の上に配置されかつ運搬器投入支持体から移された記憶装置運搬器を受けるように構成された集結プラットフォームを具えてもよい。この集結プラットフォームは、運搬器提示支持システムのうちの少なくとも１つの搬送ステーション筐体の反対側に配置されている。この搬送ステーションは、この搬送ステーション筐体に枢動可能に取り付けられかつ閉じた位置にあるあいだ集結プラットフォームにわたる閉鎖をもたらすように構成されたドアを具えてもよい。

いくつかの例では、当該搬送ステーションは、搬送ステーション筐体に枢動可能に取り付けられかつこの搬送ステーション筐体によって画定される運搬器供給開口の閉鎖をもたらすように構成されたドアを具える。このドアは、記憶装置運搬器を受けて支持するための開いた位置と、記憶装置運搬器を投入位置に置くための閉じた位置との間で枢動するように動作可能である。

当該運搬器提示支持システムは、搬送ステーション筐体の同じ側に配置されかつ互いに対して鉛直方向に並べられてもよい。各運搬器提示支持システムは、他のものに対して異なる高さ位置を有する。この運搬器提示支持システムは、いくつかの例では、記憶装置運搬器の運搬器本体によって画定されるそれぞれのアームの溝によって受けられるように構成された運搬器支持アームの第１および第２の対向する対を具える。この記憶装置運搬器は、各々が記憶装置を収容するように構成された複数の記憶装置置き場を画定する運搬器本体を具える。

別の態様では、記憶装置試験システムは、自動運搬装置と、自動運搬装置によるアクセスのために自動運搬装置の回りに並べられた複数の架台とを具える。各架台は、各々が試験のために記憶装置を受けるように構成された複数の試験用スロットを収容する。この記憶装置試験システムは、この自動運搬装置によるアクセスのために並べられた搬送ステーションを具える。この搬送ステーションは、搬送ステーション筐体と、この搬送ステーション筐体の上に配置される複数の運搬器提示支持システムとを具える。各運搬器提示支持システムは、当該記憶装置試験システムによるサービス提供のために、記憶装置運搬器を提示位置で受けて支持するように構成されている。運搬器移動装置は、この搬送ステーション筐体の上に配置され、投入位置と運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置との間で記憶装置運搬器を移動させるように構成されている。この運搬器移動装置は、いくつかの例では、鉛直方向アクチュエータ、水平方向アクチュエータ、およびピッチアクチュエータを有する多軸アクチュエータアセンブリを具える。運搬器提示支持システムは、いくつかの例では、記憶装置運搬器の運搬器本体によって画定されるそれぞれのアームの溝によって受けられるように構成された運搬器支持アームの第１および第２の対向する対を具える。いくつかの例では、運搬器移動装置は、第１、第２、および第３のリニアアクチュエータを具える。第１のリニアアクチュエータは、搬送ステーション筐体の側壁の上に配置される。リフト可動台はこの第１のリニアアクチュエータに結合される。第２のリニアアクチュエータはこのリフト可動台上に配置され、かつ第１の位置と第２の位置との間で枢動する運搬器投入支持体に枢動可能に結合されている。第３のリニアアクチュエータは、第２のリニアアクチュエータおよび運搬器投入支持体の両方に枢動可能に結合されている。この第３のリニアアクチュエータは、運搬器投入支持体を回転させるように動作可能である。いくつかの例では、当該搬送ステーションは、受けられた記憶装置運搬器上の運搬器マーキングを読み取るように構成されたマーキングリーダーを具え、上記運搬器移動装置は、このマーキングリーダーによって読み取られるマーキングに基づいて、受けられた記憶装置運搬器を投入位置と運搬器提示支持システムのうちの１つでの提示位置との間で移動させるように構成されている。

本開示の１以上の実施態様の詳細は、添付の図面および以下の説明で示される。他の特徴、対象、および利点は、説明および図面から、ならびに特許請求の範囲から明らかとなろう。

記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの上面図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムの試験用スロットの中へと挿入されている記憶装置の斜視図である。 記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の底面斜視図である。 投入位置にある記憶装置運搬器の斜視図である。 提示位置にある記憶装置運搬器の斜視図である。 搬送ステーションの斜視図である。 搬送ステーションの運搬器提示支持システム上に配置するために提示位置にある運搬器の斜視図である。 搬送ステーション上に配置された運搬器移動装置の正面斜視図である。 図１２に示された運搬器移動装置の後面斜視図である。 図１２に示される運搬器移動装置の後面上方斜視図である。 集結プラットフォームおよびドアを有する搬送ステーションの後面斜視図である。 搬送ステーションの側面図である。 図１６に示される搬送ステーションの正面図である。

種々の図面における同じ参照記号は、同じ要素を示す。

記憶装置試験システムにおける記憶装置のバルク供給は、とりわけ記憶装置試験システムの処理量および効率の増加を与えることにより、記憶装置の手作業による個々の供給よりも有利である。詳細に論じられることになろうが、複数の記憶装置を保持する複数の記憶装置運搬器（運搬器とも呼ばれる）を記憶装置試験システムに提示することは、とりわけ現在のシステムに勝って連続的な記憶装置試験、複数の記憶装置運搬器の中でのディスクの並べ替え、最小のユーザの介入および効率の増加を可能にする。記憶装置運搬器の中での記憶装置のバルク供給は、（例えば、固定式のコンベヤーを別経路に変えることに対して、記憶装置運搬器または記憶装置運搬器を運ぶ手押し車もしくは台車の方向を簡単に変える能力を提供することにより）工場の作業現場の融通性という利点をもたらす。オペレータは（例えば、上記記憶装置運搬器を介して）ドライブの処理単位をこの記憶装置試験システムへと提示することができ、次いで別のシステムにサービスを提供するために遠ざかることができる。記憶装置運搬器の中での記憶装置のバルク供給はまた、記憶装置運搬器を用いた試験されるドライブの自動の並べ替えも可能にする。これは後述されることになる。

記憶装置は、本願明細書で使用する場合、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ素子、および検証のために非同期の試験を必要とするいずれかの装置を包含する。ディスクドライブは、一般に、磁気表面を有する高速で回転するプラッタ上に数字でコード化されたデータを保存する、不揮発性記憶装置である。ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）は、永続的データを保存するためにソリッドステートメモリを使用するデータ記憶装置である。（フラッシュメモリの代わりに）ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭを使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッドステート」は、一般にソリッドステート電子機器と電気機械装置とを区別する。

図１〜図３を参照すると、いくつかの実施態様では、記憶装置試験システム１００は、床面１０に対して実質的に法線方向の第１の軸２０５（図３を参照）を画定する少なくとも１つの自動運搬装置２００（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を具える。示される例では、自動運搬装置２００は、第１の軸２０５の周りで所定の弧を通して回転しかつ第１の軸２０５から半径方向に延在するように動作可能であるロボットアーム２００を具える。ロボットアーム２００は第１の軸２０５の周りで３６０°回転するように動作可能であり、記憶装置５００および／または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０（例えば図５〜図６を参照）を取り扱うためにロボットアーム２００の遠位端に配置されたマニピュレータ２１２を具える。複数の架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のためにロボットアーム２００の周りに配置される。各架台３００は、試験のために記憶装置５００を受けるように構成された複数の試験用スロット３１０を収容する。ロボットアーム２００は実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０を画定し、架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のために、各試験用スロット３１０のアクセスのしやすさのためにその作業用安全運行範囲２１０内に配置されている。実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さの制約により容量が制限されるだけである。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、床面１０上の台座またはリフト２５０によって持ち上げられ、その上に支持される。台座またはリフト２５０は、ロボットアーム２００が上方向だけではなく下方向にも到達して試験用スロット３１０にサービスを提供できるようにすることにより、作業用安全運行範囲容積２１０のサイズを増大させる。作業用安全運行範囲容積２１０のサイズは、鉛直方向アクチュエータを台座またはリフト２５０に加えることにより、さらに増大させることができる。

自動運搬装置２００は、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供するように構成されており、試験システム１００を通る記憶装置５００の連続流を提供する。試験システム１００を通る個々の記憶装置５００の連続流は各記憶装置５００に対して成り行き任せの開始および停止時間を許容するが、記憶装置５００の処理単位が投入された試験全体として一斉に実行されることを必要とする他のシステムは、すべて同じ開始および終了時間を有しなければならない。それゆえ、連続流を用いると、異なる容量の記憶装置５００を、必要に応じて、同時に実行しサービス提供する（投入される／取り出される）ことができる。

図３〜図４を参照すると、記憶装置試験システム１００は、自動運搬装置２００への記憶装置５００のバルク供給用に構成された搬送ステーション４００を具える。自動運搬装置２００は、記憶装置５００を搬送ステーション４００と試験用スロット３１０との間で移すことにより、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供する。搬送ステーション４００は、自動運搬装置２００によるサービス提供のために提示される複数の記憶装置５００を運ぶ１以上の運搬器６００を収容する。搬送ステーション４００は、記憶装置試験システム１００へ記憶装置５００を届け、および記憶装置試験システム１００から記憶装置５００を回収するためのサービス提供する地点である。運搬器６００は、オペレータが一まとまりの記憶装置５００を搬送ステーション４００へと届け、かつ搬送ステーション４００から回収することを可能にする。図３に示された例では、各運搬器６００は、提示位置にあるそれぞれの運搬器提示支持システム４２０からアクセス可能であり、それは試験のために一まとまりの記憶装置５００を供給するための供給源運搬器６００として、または試験された記憶装置５００を受けるための届け先運搬器６００として（またはその両方として）指定されてもよい。届け先運搬器６００は、それぞれ機能性試験に合格したかまたは不合格であったかいずれかのそれぞれの記憶装置５００を受けるための「合格した戻りの運搬器」または「不合格の戻りの運搬器」と分類されてもよい。各運搬器６００は、運搬器６００およびその中身を同定および類別／分類するために使用することができるマーキング６６０（例えばバーコード、色つきの印、または記号などの独特の識別子）（図９を参照）を含んでもよい。例えば、運搬器６００上のマーキング６６０は、特定の特性、例えば「供給運搬器」、「合格した戻りの運搬器」、または「不合格の戻りの運搬器」に割り当てられ、またはそれらと関連付けられたバーコードである。運搬器６００に未試験の記憶装置５００が投入されているとき、オペレータまたは自動機械は、バーコードリーダーでバーコード６６０を読み取って、その運搬器が搬送ステーション４００へと投入される前に「供給運搬器」特性をその運搬器と関連付けることができる。同様に、空の運搬器６００は、それが搬送ステーション４００へと投入される前に、「合格した戻りの運搬器」または「不合格の戻りの運搬器」特性のいずれかと関連付けられてもよい。このマーキング特性は、当該システム内のいつまたはどの地点で割り当てられてもよいし、または再割り当てされてもよい。

運搬器マーキング特性の動的な再定義は、手動のシステム（その場合は、記憶装置運搬器は特定の場所に架けられるかまたは配置される）またはカルーセルシステム（その場合は、カルーセルの各層は、典型的には１つのタイプの運搬器を収容する）に勝るこのシステムの顕著な利点を提供する。搬送ステーション４００は記憶装置試験システム１００に対して単一の入力／出力ステーションを提供するため、記憶装置運搬器６００が投入されるかまたは取り出される場所は、記憶装置運搬器６００の機能から切り離されたものとなる。入力記憶装置運搬器６００、良好な出力記憶装置運搬器６００、および不良の出力記憶装置運搬器６００は、すべて同じ場所で投入されおよび取り出される。記憶装置運搬器６００が割り当てられた運搬器マーキング特性（例えば機能）を有する運搬器マーキング６６０を持たない場合では、運搬器６００が搬送ステーション４００にあるかまたは記憶装置試験システム１００へと提示されている間、運搬器６００の機能は変わりうる。例えば、「良好な出力」記憶装置運搬器６００のすべてが自動運搬装置２００によって充填されているが、使用されないまま待っているいくつかの空の「不良な出力」記憶装置運搬器６００が存在する場合、これらの記憶装置運搬器６００のうちの１以上は、（マーキング特性の関連付けを介して）「良好な出力」記憶装置運搬器６００であると再割り当てされてもよい。別の例では、ひとたび「入力」記憶装置運搬器６００が空になると、それら「入力」記憶装置運搬器６００は１つまたは他のタイプの「出力」記憶装置運搬器６００になることができ、従ってそれらを当該システムから取り出して異なるタイプの記憶装置運搬器６００を再挿入する労力を節約できる。これは、単一の投入／取り出し搬送ステーション４００を具える記憶装置試験システム１００についての利点を提供する。なぜなら、オペレータは記憶装置運搬器６００の提示位置に基づいた記憶装置運搬器６００の機能についての前提を有しないからである。搬送ステーション４００が「不良な出力」記憶装置運搬器６００を与えるように要求されるとき、搬送ステーション４００は、それがそのように開始したかそうでないかにかかわらず、「不良な出力」記憶装置運搬器６００を生成することになる。

記憶装置５００を操作するために記憶装置運搬装置５５０を用いる実施態様では、図４に示されるように、自動運搬装置２００は、マニピュレータ２１２を用いて試験用スロット３１０のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を取り出して、搬送ステーション４００で提示された運搬器６００のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を用いて記憶装置５００を持ち上げ、次いで記憶装置５００の試験のために、記憶装置５００が中に入っている記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０まで戻すように構成される。試験後、自動運搬装置２００は、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から（すなわち、マニピュレータ２１２を用いて）取り出し、記憶装置運搬装置５５０の中の試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００まで運び、そして記憶装置運搬装置５５０を操作して試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００で運搬器６００のうちの１つに戻すことにより、試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収する。

図４に示される試験用スロット３１０は、記憶装置運搬装置５５０を受けるように構成された開口３１２を画定する。この場合、記憶装置運搬装置５５０は試験用スロット３１０の閉鎖をもたらす。記憶装置運搬装置５５０は、図５に示されるように記憶装置５００を受けて、自動運搬装置２００により取り扱われるように構成される。使用時には、記憶装置運搬装置５５０のうちの１つは、ロボット２００を用いて（例えば、ロボット２００のマニピュレータ２１２を用いて運搬装置５５０のくぼみ５５２を掴むことにより、または別の態様で係合することにより）試験用スロット３１０のうちの１つから取り出される。いくつかの例では、図５〜図７に図示されるように、記憶装置運搬装置５５０は、側壁５６２、５６４および底板５６６によって形成される実質的にＵ字型の開口５６１を画定するフレーム５６０を具える。この側壁５６２、５６４および底板５６６は、フレーム５６０が運搬器６００の中で記憶装置支持体（図示せず）の周りに嵌合することを共同で可能にし、そのため記憶装置運搬装置５５０は（例えば、ロボットアーム２００を介して）、運搬器６００によって画定される複数の記憶装置置き場６２０のうちの１つの中に収容された記憶装置５００のうちの１つの下の位置へと移動できる（例えば、図８〜図９を参照）。次に記憶装置運搬装置５５０は、運搬器６００からの取り外しのために記憶装置６００を係合する位置まで（例えば、ロボットアーム２００によって）持ち上げられることができる。

記憶装置５００が記憶装置運搬装置５５０のフレーム５６０内の適所にあると、記憶装置運搬装置５５０および記憶装置５００は一緒に、図４に示されるように、試験用スロット３１０のうちの１つの内部での配置のために自動運搬装置２００によって動かされることができる。いくつかの実施態様では、マニピュレータ２１２は、記憶装置運搬装置５５０の中に配置されたクランプ機構５７０の作動を開始するようにも構成される。これにより、運搬装置５５０が運搬器６００から試験用スロット３１０へと動かされる前のクランプ機構５７０の作動が可能になり、移動の間の記憶装置運搬装置５５０に対する記憶装置５００の移動が抑制される。試験用スロット３１０への挿入に先立って、マニピュレータ２１２は、ここでも、クランプ機構５７０を作動させてフレーム５６０内の記憶装置５００を解放することができる。これにより、記憶装置コネクタ５１０が試験用スロットコネクタ（図示せず）と係合している試験位置に記憶装置５００があるまで、試験用スロット３１０のうちの１つへの記憶装置運搬装置５５０の挿入が可能になる。クランプ機構５７０はまた、ひとたび試験用スロット３１０の中に受けられると、試験用スロット３１０と係合して、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動を抑制するように構成されてもよい。このような実施態様では、ひとたび記憶装置５００が試験位置にあるとき、クランプ機構５７０は、（例えば、マニピュレータ２１２によって）再度係合され、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動が抑制される。このような運搬装置５５０のクランプ止めは、試験の間の振動を減少させるのに役立つ可能性がある。いくつかの例では、挿入後、記憶装置運搬装置５５０およびその中で運ばれる記憶装置５００は、両方とも試験用スロット３１０内で組み合わせてまたは個々にクランプ止めまたは固定される。

図８〜図９に図示される例では、運搬器６００は、正面６１１、裏面６１２、上面６１３、底部側６１４、右側６１５および左側６１６を有する運搬器本体６１０を具える。運搬器本体６１０は、正面６１１に、各々が記憶装置５００を収容するように構成された複数の記憶装置置き場６２０を画定する。いくつかの例では、運搬器６００は、投入位置にある間は裏面６１２を下にして置かれ、そのため図８に示されるように、記憶装置置き場６２０は実質的に鉛直方向であり、上方向を向く。他の例では、運搬器６００は投入位置にある間別の配向で、例えば斜めの配向で、または提示位置の場合のように鉛直方向の配向で保持される。提示位置では、運搬器６００はその底部側６１４を下にして置かれ、そのため記憶装置置き場６２０は、図９に示されるように実質的に水平方向であり、横方向を向く。運搬器本体６１０は、運搬器本体６１０の右側および左側６１５、６１６に、運搬器６００を支持するように構成されたアームの溝６３０を画定する。他の提示位置は同様に可能である。運搬器６００は、提示位置にあるあいだ斜めの位置で保持されてもよく、そのため、記憶装置置き場６２０の中に収容されるいずれの記憶装置５００も記憶装置置き場６２０の裏面のほうへ滑り落ちる。いくつかの例では、運搬器本体６１０は、その運搬器が斜めになった位置に置かれるように構成されている。他の例では、記憶装置支持体６２２は運搬器６００を斜めになった位置で保持するが，これはある場合には可変であってもよい（例えば調整ねじ、レバー、またはアクチュエータによって設定される）。

示された例では、各記憶装置置き場６２０は、受けられた記憶装置５００の中央部分５０２（図７を参照）を支持するように構成された記憶装置支持体６２２を具え、これにより非中央部分に沿った記憶装置５００の操作が可能になる。いくつかの実施態様では、記憶装置支持体６２２は、運搬器６００が実質的に鉛直方向の配向にあるあいだ斜めに記憶装置５００を支持するように構成され、そのため、運搬器６００がその底部側６１４を下にして置かれているとき、記憶装置５００は、記憶装置置き場６２０から外へではなく、記憶装置置き場６２０の中へより深く滑り落ちる傾向を有する。収容された記憶装置５００を記憶装置置き場６２０から取り出すために、記憶装置運搬装置５５０は（例えばロボットアーム２００によって）記憶装置置き場６２０の中の記憶装置５００の下に配置され、記憶装置支持体６２２から記憶装置５００を持ち上げるために上げられる。次いで記憶装置運搬装置５５０は、試験用スロット３１０などの届け先の目標へと届けるために記憶装置５００を保有したまま、記憶装置置き場６２０から取り出される。

図１０を参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は搬送ステーション筐体４１０と、搬送ステーション筐体４１０上に配置された複数の運搬器提示支持システム４２０とを具える。各運搬器提示支持システム４２０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置運搬器６００を提示位置で受けて支持するように構成されている。いくつかの例では、運搬器提示支持システム４２０は、異なるサイズの運搬器６００に適応するかまたは自動運搬装置２００に対する特定の場所で運搬器６００を提示するための調整可能な間隔を有する。

いくつかの実施態様では、運搬器提示支持システム４２０は、各々、搬送ステーション筐体４１０の同じ側に配置され、互いに対して鉛直方向に並べられている。各運搬器提示支持システム４２０は他に対して異なる高さ位置を有する。いくつかの例では、図１１に示されるように、運搬器提示支持システム４２０は、記憶装置運搬器６００の運搬器本体６１０によって画定されるそれぞれのアームの溝６３０によって受けられるように構成された運搬器支持アーム４２６の第１および第２の対向する対４２２、４２４を具える。運搬器支持アーム４２６の第１および第２の対４２２、４２４は、それぞれの運搬器６００を、自動運搬装置２００によって知られることが可能である特定の位置へと鍵合わせとなるように構成されている。１つの例では、運搬器６００は、（例えば運搬器移動装置４３０によって）水平方向にそれぞれの運搬器支持アーム４２６へと動かされ、次いで下へおよび外へ漸進的に動かされ、運搬器６００のアームの溝６３０をそれぞれの運搬器支持アーム４２６上で鍵合わせとなった提示位置へとセットされる。特定の所定の位置で運搬器６００を保持することによって、自動運搬装置２００が運搬器６００に突き当たることなく運搬器６００にアクセスすることができる。いくつかの実施態様では、運搬器６００は、運搬器提示支持システム４２０の上に配置された運搬器ロック４２８（例えば機械式、空気圧式、またはソレノイド式のロッキング機構）によって提示位置で適所にロックされる。

再度図１０を参照すると、運搬器移動装置４３０は搬送ステーション筐体４１０上に配置され、記憶装置運搬器６００を受けて支持するように構成された枢動可能に結合された運搬器投入支持体４４０を動かすように構成されている。運搬器投入支持体４４０は、第１の位置と第２の位置との間で枢動および移動する。運搬器移動装置４３０は、記憶装置運搬器６００を（例えば、投入支持体の第１の位置で水平方向配向にある）投入位置で保持するための第１の位置と、（例えばロボットアーム２００による）記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置運搬器６００を運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置で（例えば実質的に鉛直方向配向にある）保持するための第２の位置との間で、運搬器投入支持体４４０を移動させるように構成されている。いくつかの例では、運搬器６００から外への偶発的な滑り落ちから記憶装置５００を守るために、運搬器提示支持システム４２０は、運搬器６００をわずかに斜めになった（例えば鉛直方向からずれた）配向で保持する。運搬器移動装置４３０は、記憶装置試験システム１００に提示された運搬器６００の利用できる入力を最大にする。さらには、運搬器移動装置４３０によって、運搬器６００が、人間の能力に合った高さで、かつ人間の能力に合った位置または態様（例えば投入位置）で搬送ステーション４００へと届けられるようになる。次いで運搬器移動装置４３０は運搬器６００をその提示位置まで移動させる。この提示位置は、オペレータによっては必ずしもアクセス可能ではないかまたはオペレータにとっては人間の能力に合ってはいないが、自動運搬装置２００によってはアクセス可能である。

図１２〜図１４に示されるいくつかの例では、運搬器移動装置４３０は、鉛直方向アクチュエータ７１０、水平方向アクチュエータ７２０、およびピッチアクチュエータ７３０を有する多軸アクチュエータアセンブリ７００を具える。鉛直方向アクチュエータ７１０は、搬送ステーション筐体４１０の側壁４１２の上に配置され、運搬器投入支持体４４０の高さ位置を制御する。リフト可動台７４０は、運搬器投入支持体４４０の横方向位置を制御する水平方向アクチュエータ７２０に鉛直方向アクチュエータ７１０を結合する。リフトテーブル７５０は、示すとおり一対のリニアアクチュエータを具えてもよい水平方向アクチュエータ７２０に取り付けられる。運搬器投入支持体４４０は、水平方向アクチュエータ７２０（例えばリフトテーブル７５０を介して）およびピッチアクチュエータ７３０（運搬器投入支持体４４０のピッチを制御する）の両方に枢動可能に取り付けられる。各アクチュエータ７１０、７２０、７３０は、アクチュエータ７１０、７２０、７３０を駆動するための他の適切な手段の中でもとりわけ、ボールネジ、液圧式、またはベルト駆動式であってもよい。図１２に示された例では、鉛直方向アクチュエータ７１０は、結合されたモーター７１６を介してベルト７１４によって駆動される滑りガイド７１２を具える。オペレータが記憶装置運搬器６００を運搬器投入支持体４４０上に投入位置で置いた後、オペレータは、運搬器移動装置４３０が記憶装置運搬器６００を運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置へと移動させるのを可能にする。いくつかの例では、搬送ステーション４００は、運搬器移動装置４３０と通信しているコントローラ４９０（図１０および図１５を参照）を収容する。コントローラ４９０は、ユーザの入力（例えばオペレータが届け先運搬器提示支持システム４２０を特定することを可能にするユーザインターフェースを介して）または運搬器提示支持システム４２０の利用可能性をモニターし配分するプログラムもしくは制御アルゴリズムのいずれかに基づいて、記憶装置運搬器６００を特定の運搬器提示支持システム４２０での提示位置へと移動させるように、運搬器移動装置４３０を導く。いくつかの例では、搬送ステーション４００は運搬器移動装置４３０の上に（示されている場合では、リフトテーブル７５０の上に）配置されたバーコードリーダーなどのマーキングリーダー７６０（図１２を参照）を具える。このマーキングリーダー７６０は、（例えば投入位置にある間に）運搬器６００上のマーキング６６０を読み取ってそのマーキング特性に基づいて運搬器６００をそのそれぞれの提示位置まで移動させる。記憶装置運搬器６００を運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置まで移動させるために、鉛直方向アクチュエータ７１０は記憶装置運搬器６００の高さ位置を変えて、届け先運搬器提示支持システム４２０の高さ位置と一致させる。ピッチアクチュエータ７３０は運搬器投入支持体４４０のピッチを変えて、支持された記憶装置運搬器６００を提示位置まで移動させる。水平方向アクチュエータ７２０、および任意に鉛直方向アクチュエータおよびピッチアクチュエータ７１０、７３０は、記憶装置運搬器６００を届け先運搬器提示支持システム４２０上へと移動させる。好ましくは、鉛直方向アクチュエータ７１０が記憶装置運搬器６００の高さ位置を変更して届け先運搬器提示支持システム４２０の高さ位置と一致させる前に、ピッチアクチュエータ７３０は記憶装置運搬器６００のピッチを変えて、投入位置から提示位置へと移動する。運搬器移動装置４３０は、実質的に鉛直方向配向にある記憶装置運搬器６００の高さ位置を変えつつ、比較的小さい設置面積を維持することができる。好ましくは、運搬器投入支持体４４０は、記憶装置運搬器６００から外への偶発的な滑り落ちから記憶装置５００を守るために、記憶装置運搬器６００を移動させる間、記憶装置運搬器６００をわずかに斜めになった（例えば鉛直方向からずれた）配向で支持する。アクチュエータ７１０、７２０、７３０は、オペレータによるサービス提供のために、記憶装置運搬器６００運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置から投入位置へと戻るように移動させるために、同様にして、しかし逆に協働する。

いくつかの実施態様では、運搬器投入支持体４４０の第１の位置は実質的に水平方向であり、運搬器投入支持体４４０の第２の位置は実質的に鉛直方向である。他の実施態様では、運搬器投入支持体４４０の第１の位置は、（例えば、記憶装置運搬器６００の特定の人間の能力に合った配置に適応するために）水平面と一定の角度にある。

いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は、図１５に示されるように、搬送ステーション筐体４１０上に配置されかつ運搬器投入支持体４４０へとおよび運搬器投入支持体４４０から移すために記憶装置運搬器６００を受けるように構成された集結プラットフォーム４６０を具える。示された例では、集結プラットフォーム４６０は、運搬器提示支持システム４２０の搬送ステーション筐体４１０の反対側に配置される。オペレータは、記憶装置５５０を運ぶ記憶装置運搬器６００を集結プラットフォーム４６０の上へと置くかまたは（例えば手押し車から）滑らせ、次いで記憶装置運搬器６００を運搬器投入支持体４４０上へ投入位置へと移動させてもよい。いくつかの例では、搬送ステーション４００は、搬送ステーション筐体４１０に枢動可能に取り付けられかつ、閉じた位置にある間、集結プラットフォーム４６０、および／または搬送ステーション筐体４１０によって画定される運搬器供給開口４７１にわたって閉鎖をもたらすように構成されているドア４７０を具える。ドア４７０が開いた位置にあるとき、運搬器投入支持体４４０へのアクセスが許容され、安全性の理由から運搬器移動装置４３０は使用不能になる。

図１６〜図１７を参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は、鉛直方向アクチュエータ７１０および水平方向アクチュエータ７２０を具える多軸アクチュエータアセンブリ７００を有する運搬器移動装置４３０を具える。示された例では、鉛直方向アクチュエータ７１０はベルト駆動ラインアクチュエータであり、水平方向アクチュエータ７２０は鉛直方向アクチュエータ７１０に結合された第１のコンベヤーベルトアセンブリである。搬送ステーション筐体４１０上に配置された各運搬器提示支持システム４２０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、記憶装置運搬器６００を提示位置で受けて支持するように構成された提示アクチュエータ７３５を具える。提示アクチュエータ７３５は第２のコンベヤーベルトアセンブリである。搬送ステーション４００は、搬送ステーション筐体４１０に枢動可能に取り付けられかつ記憶装置運搬器６００を受けて支持するための開いた位置と、記憶装置運搬器６００を水平方向アクチュエータ７２０上に投入位置で置くための閉じた位置との間で枢動するように動作するドア４７０を備える。運搬器移動装置４３０は、記憶装置運搬器６００を運搬器提示支持システム４２０のうちの１つに移動させる。水平方向アクチュエータ７２０は、記憶装置運搬器６００を提示アクチュエータ７３５の上へと前進させ、提示アクチュエータ７３５は、記憶装置試験システム１００による（例えばロボットアーム２００による）サービス提供のために記憶装置運搬器６００を提示位置へと移動させる。

いくつかの例では、搬送ステーション４００は、搬送ステーション４００の１以上の状態の可視的、可聴的、または他の認識できる表示を提供するステーションインジケータ４１８を具える。１つの例では、ステーションインジケータ４１８は、１以上の運搬器６００が（例えば搬送ステーション４００へと記憶装置運搬器６００を投入する／搬送ステーション４００から記憶装置運搬器６００を取り出すために）サービス提供を必要としているときを示す発光体（例えばＬＥＤ）を具える。別の例では、ステーションインジケータ４１８は、オペレータに搬送ステーション４００にサービスを提供するよう信号を送るための１以上の可聴式信号（例えばチュッチュッという音、カタカタという音など）を提供するための１以上の音声装置を具える。

記憶装置の試験を実施する方法は、試験のために複数の記憶装置５００を記憶装置試験システム１００に提示する工程と、自動運搬装置２００（例えばロボットアーム）を作動させて、記憶装置５００のうちの１つを記憶装置運搬器６００から回収し、この回収された記憶装置５００を記憶装置試験システム１００の架台３００の試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を試験用スロット３１０に挿入する工程と、試験用スロット３１０によって受けられた記憶装置５００上で機能性試験を実施する工程とを含む。当該方法はまた、自動運搬装置２００を作動させてこの試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収し、この試験された記憶装置５００を届け先場所へと戻すように届ける工程をも含んでよい。

試験のために提示された記憶装置５００のうちの１つを回収する際には、当該方法は、好ましくは、自動運搬装置２００を作動させて（例えば架台３００の中に収容された試験用スロット３１０から）記憶装置運搬装置５５０を回収する工程と、自動運搬装置２００を作動させて搬送ステーション４００から記憶装置５００のうちの１つを回収し、記憶装置５００を記憶装置運搬装置５５０の中に運ぶ工程とを含む。当該方法は、受けられた記憶装置運搬装置５５０および試験用スロット３１０によって収容された記憶装置５００上で機能性試験を実施するために、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程を含む。いくつかの例では、記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程は、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を架台３００の中の試験用スロット３１０の中へと挿入する工程と、記憶装置５００と架台３００との間の電気的接続を確立する工程とを含む。試験が記憶装置５００について完了した後は、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から回収して、この試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００上の届け先記憶装置運搬器６００などの届け先場所へと戻すように届ける工程を含む。いくつかの実施態様では、架台３００および２以上の関連付けられた試験用スロット３１０は、試験用スロット３１０が異なる種類の試験用に設定されている場合に備えて、記憶装置５００を１つの試験用スロット３１０から別の試験用スロット３１０へと内部で移動させるように構成される。

いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、届け先場所で（例えば届け先記憶装置運搬器６００の記憶装置置き場６２０の中に）試験された記憶装置５００を置いた後に試験用スロット３１０の中に記憶装置運搬装置５５０を置く工程か、または（例えば供給源記憶装置運搬器６００の記憶装置置き場６２０から）試験のために別の記憶装置５００を回収することにより、当該方法を繰り返す工程を含む。

記憶装置５００を記憶装置試験システム１００へと供給または提示する方法は、複数の記憶装置５００を記憶装置運搬器６００の中へと投入する工程と、記憶装置運搬器６００を搬送ステーション４００上に投入位置で置く工程と、搬送ステーション４００の運搬器移動装置４３０を作動させて、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置運搬器６００をこの投入位置から提示位置へと移動させる工程とを含む。記憶装置運搬器６００は、搬送ステーション筐体４１０上に配置されかつ互いに対して鉛直方向に並べられている複数の運搬器提示支持システム４２０のうちの１つによって提示位置で支持される。各々が記憶装置５００を収容する複数の記憶装置運搬器６００は、連続して、搬送ステーション４００上に投入位置で置かれ、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、運搬器移動装置４３０によって複数の運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでのそのそれぞれの提示位置まで移動されてよい。

いくつかの例では、当該方法は、搬送ステーション筐体４１０に枢動可能に取り付けられたドア４７０を開いた位置まで開く工程を含む。ドア４７０は、この搬送ステーション筐体４１０によって画定される運搬器供給開口４７１の閉鎖をもたらすように構成され、記憶装置運搬器６００を受けて支持するように動作可能である。当該方法は、記憶装置運搬器６００をドア４７０の上に投入前位置で置く工程と、ドア４７０を閉じた位置まで回転させることによりドア４７０を閉じ、これにより記憶装置運搬器６００を投入位置に置く工程とを含む。

記憶装置の試験を実施する方法は、複数の記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬器６００を搬送ステーション４００の上に投入位置で置く工程と、自動運搬装置２００によるサービス提供のために、搬送ステーション４００を作動させて記憶装置運搬器６００をその投入位置から提示位置へと移動させる工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、記憶装置５００のうちの１つを記憶装置運搬器６００から回収する工程と、記憶装置５００を試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を試験用スロット３１０の中に挿入する工程と、試験用スロット３１０によって受けられた記憶装置５００上で機能性試験を実施する工程とを含む。当該方法はまた、自動運搬装置２００を作動させて、試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収し、試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００へと戻すように届ける工程を含んでもよい。いくつかの例では、当該方法は、連続的に、各記憶装置運搬器６００を搬送ステーション４００上に投入位置で置き、自動運搬装置２００によるサービス提供のために、搬送ステーション４００を作動させて各記憶装置運搬器６００をそれぞれの提示位置へと移動させることにより、記憶装置５００を運ぶ複数の記憶装置運搬器６００を搬送ステーション４００上へと投入する工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、（例えば試験用スロット３１０から）記憶装置運搬装置５５０を回収し、記憶装置運搬装置５５０の中の記憶装置５００を回収して運び、記憶装置５００を試験用スロット３１０へと届ける工程を含んでもよい。

いくつかの実施態様が記載された。しかしながら、本開示の技術思想および範囲から逸脱することなく種々の改変がなされてもよいということを理解されたい。従って、他の実施態様は添付の特許請求の範囲の範囲内にある。

Claims (31)

1. 記憶装置（５００）を記憶装置試験システム（１００）へと供給する方法であって、
   複数の記憶装置（５００）を運ぶ記憶装置運搬器（６００）を、前記記憶装置試験システム（１００）の自動運搬装置（２００）にアクセス可能な提示位置で置く工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬器（６００）から前記記憶装置（５００）のうちの１つを回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（１００）の試験用スロット（３１０）へと届け、前記記憶装置（５００）を前記試験用スロット（３１０）に挿入する工程と
   を含む方法。
2. 前記自動運搬装置（２００）を作動させて記憶装置運搬装置（５５０）を回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬装置（５５０）を使用して前記記憶装置（５００）を運ぶことにより、前記記憶装置（５００）のうちの１つを前記記憶装置運搬器（６００）から回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて前記記憶装置（５００）を運ぶ記憶装置運搬装置（５５０）を前記試験用スロット（３１０）へと届ける工程と
   をさらに含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記自動運搬装置（２００）は、前記記憶装置運搬装置（２００）を前記記憶装置（５００）の下に配置し、前記記憶装置運搬器（６００）の記憶装置支持体（６２２）から前記記憶装置（５００）を持ち上げ、そして前記記憶装置運搬装置（５５０）の中の前記記憶装置（５００）を前記記憶装置運搬器（６００）から離して運ぶことにより、前記記憶装置（５００）を前記記憶装置運搬器（６００）から前記記憶装置運搬装置（５５０）を用いて回収する、請求項２に記載の方法。
4. 前記記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置運搬装置（５５０）を前記試験用スロット（３１０）の中へと挿入する工程と、前記記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（１００）のコネクタと係合する工程と、前記試験用スロット（３１０）の閉鎖をもたらす工程とをさらに含む、請求項２または請求項３に記載の方法。
5. 前記記憶装置運搬器（６００）を前記提示位置で置く工程は、
   前記記憶装置運搬器（６００）を投入位置で搬送ステーション（４００）の上に置く工程と、
   前記搬送ステーション（４００）を作動させて、前記自動運搬装置（２００）によるサービス提供のために、前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置から前記提示位置へと移動させる工程と
   を含む、請求項１に記載の方法。
6. 記憶装置（５００）を記憶装置試験システム（１００）へと供給する方法であって、
   複数の記憶装置（５００）を記憶装置運搬器（６００）の中へと投入する工程と、
   前記記憶装置運搬器（６００）を投入位置で搬送ステーション（４００）の上に置く工程と、
   前記搬送ステーション（４００）の運搬器移動装置（４３０）を作動させて、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置から提示位置へと移動させる工程と
   を含む方法。
7. 前記搬送ステーション（４００）は、
   搬送ステーション筐体（４１０）と、
   前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された複数の運搬器提示支持システム（４２０）であって、各運搬器提示支持システム（４２０）は、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、記憶装置運搬器（６００）を前記提示位置で受けて支持するように構成されている複数の運搬器提示支持システム（４２０）と、
   前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置されかつ記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置と前記運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つでの前記提示位置との間で移動させるように構成されている運搬器移動装置（４３０）と
   を含む、請求項５または請求項６に記載の方法。
8. 前記搬送ステーション（４００）の搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された複数の運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つによって前記記憶装置運搬器（６００）を前記提示位置で支持する工程をさらに含む、請求項１に記載の方法。
9. 前記運搬器提示支持システム（４２０）を互いに対して鉛直方向に並べる工程をさらに含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記運搬器提示支持システム（４２０）は、記憶装置運搬器（６００）の運搬器本体（６１０）によって画定されるそれぞれのアームの溝（６３０）によって受けられるように構成された運搬器支持アーム（４２６）の第１および第２の対向する対（４２２、４２４）を含み、
    前記方法は、前記アームの溝（６３０）を前記運搬器支持アーム（４２６）の所定の位置へと解放可能にロックし、これにより前記それぞれの記憶装置運搬器（６００）をその提示位置で保持する工程をさらに含む、請求項７に記載の方法。
11. 前記記憶装置運搬器（６００）上の運搬器マーキング（６６０）を読み取る工程と、
    前記搬送ステーション（４００）を作動させて、前記運搬器マーキング（６６０）に基づいて、前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置から前記提示位置へと移動させる工程と
    をさらに含む、請求項５に記載の方法。
12. 前記運搬器マーキング（６６０）はバーコードおよびカラーマーキングのうちの少なくとも１つを含む、請求項１１に記載の方法。
13. 前記記憶装置運搬器（６００）に、前記記憶装置試験システム（１００）における前記記憶装置運搬器（６００）の使用に影響を及ぼす機能特性を割り当てる工程をさらに含む、請求項１１または請求項１２に記載の方法。
14. 前記記憶装置試験システム（１００）における前記記憶装置運搬器（６００）の使用の間に、前記機能特性を動的に再割り当てする工程をさらに含む、請求項１３に記載の方法。
15. 連続的に、各記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置で前記搬送ステーション（４００）の上に置き、前記運搬器移動装置（４３０）を作動させて、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、各記憶装置運搬器（６００）を前記複数の提示位置のうちの１つでの前記提示位置へと移動させることにより、各々が記憶装置（５００）を収容する複数の記憶装置運搬器（６００）を前記搬送ステーション（４００）上へと投入する工程をさらに含む、請求項５に記載の方法。
16. ドア（４７０）を開いた位置まで開く工程であって、前記ドア（４７０）は、前記搬送ステーション（４００）の搬送ステーション筐体（４１０）に枢動可能に取り付けられかつ前記搬送ステーション筐体（４１０）によって画定される運搬器供給開口（４７１）の閉鎖をもたらすように構成されている工程と、
    前記記憶装置運搬器（６００）を投入前位置で前記ドア（４７０）の上に置く工程であって、前記ドア（４７０）は、記憶装置運搬器（６００）を受けて支持するように動作可能である工程と、
    前記ドア（４７０）を閉じた位置まで回転させることにより前記ドア（４７０）を閉じ、これにより前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置に置く工程と
    をさらに含む、請求項５に記載の方法。
17. 前記運搬器移動装置（４３０）を作動させる工程は、前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置と前記提示位置との間で移動させるように構成された多軸アクチュエータアセンブリ（７００）を作動させる工程を含む、請求項６に記載の方法。
18. 記憶装置試験システム（１００）のための搬送ステーション（４００）であって、
    搬送ステーション筐体（４１０）と、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された複数の運搬器提示支持システム（４２０）であって、各運搬器提示支持システム（４２０）は、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、記憶装置運搬器（６００）を提示位置で受けて支持するように構成されている複数の運搬器提示支持システム（４２０）と、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置されかつ記憶装置運搬器（６００）を投入位置と前記運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つでの前記提示位置との間で移動させるように構成されている運搬器移動装置（４３０）と
    を含む、搬送ステーション（４００）。
19. 記憶装置試験システム（１００）のための搬送ステーション（４００）であって、
    搬送ステーション筐体（４１０）と、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された複数の運搬器提示支持システム（４２０）であって、各運搬器提示支持システム（４２０）は、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、記憶装置運搬器（６００）を提示位置で受けて支持するように構成されている複数の運搬器提示支持システム（４２０）と、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された運搬器移動装置（４３０）と、
    前記運搬器移動装置（４３０）に枢動可能に結合されかつ記憶装置運搬器（６６０）を受けて支持するように構成された運搬器投入支持体（４４０）であって、前記運搬器投入支持体（４４０）は第１および第２の位置間で枢動および移動する投入支持体（４４０）と
    を含み、
    前記運搬器移動装置（４３０）は、記憶装置運搬器（６００）を投入位置で支持するための第１の位置と、記憶装置運搬器（６００）を前記運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つでの前記提示位置で支持するための第２の位置との間で前記運搬器投入支持体（４４０）を移動させるように構成されている、搬送ステーション（４００）。
20. 前記搬送ステーション筐体（４１０）に枢動可能に取り付けられかつ前記搬送ステーション筐体（４１０）によって画定される運搬器供給開口（４７１）の閉鎖をもたらすように構成されたドア（４７０）をさらに含み、
    前記ドア（４７０）は、記憶装置運搬器（６００）を受けて支持するための開いた位置と、前記記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置で置くための閉じた位置との間で枢動するように動作する、請求項１８または請求項１９に記載の搬送ステーション（４００）。
21. 前記運搬器提示支持システム（４２０）は、各々、前記搬送ステーション筐体（４１０）の同じ側に配置され、かつ互いに対して鉛直方向に並べられ、各運搬器提示支持システム（４２０）は他のものに対して異なる高さ位置を有する、請求項１８に記載の搬送ステーション（４００）。
22. 前記運搬器提示支持システム（４２０）は、記憶装置運搬器（６００）の運搬器本体（６１０）によって画定されるそれぞれのアームの溝（６３０）により受けられるように構成された運搬器支持アーム（４２０）の第１および第２の対向する対（４２２、４２４）を含む、請求項１８に記載の搬送ステーション（４００）。
23. 前記運搬器移動装置（４３０）は、鉛直方向アクチュエータ（７１０）、水平方向アクチュエータ（７２０）、およびピッチアクチュエータ（７３０）を有する多軸アクチュエータアセンブリ（７００）を含む、請求項１８に記載の搬送ステーション（４００）。
24. 前記多軸アクチュエータアセンブリは、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）の側壁（４１２）上に配置された第１のリニアアクチュエータ（７１０）と、
    前記第１のリニアアクチュエータ（７１０）に結合されたリフト可動台（７４０）と、
    前記リフト可動台（７４０）上に配置されかつ前記運搬器投入支持体（４４０）に枢動可能に結合された第２のリニアアクチュエータ（７２０）と、
    前記第２のリニアアクチュエータ（７２０）および前記運搬器投入支持体（４４０）の両方に枢動可能に結合された第３のリニアアクチュエータ（７３０）であって、前記第３のリニアアクチュエータ（７３０）は前記運搬器投入支持体（４４０）を回転するように動作可能である、第３のリニアアクチュエータ（７３０）と
    を含む、請求項１９に記載の搬送ステーション（４００）。
25. 前記運搬器投入支持体（４４０）の前記第１の位置は実質的に水平方向であり、前記運搬器投入支持体（４４０）の前記第２の位置は実質的に鉛直方向である、請求項１９に記載の搬送ステーション（４００）。
26. 前記記憶装置運搬器（６００）は、各々記憶装置（５００）を収容するように構成された複数の記憶装置置き場（６２０）を画定する運搬器本体（６１０）を含む、請求項１８に記載の搬送ステーション（４００）。
27. 記憶装置試験システム（１００）であって、
    自動運搬装置（２００）と、
    前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために前記自動運搬装置（２００）の周りに並べられた複数の架台（３００）と、
    各架台（３００）によって収容される複数の試験用スロット（３１０）であって、各試験用スロット（３１０）は、試験のために記憶装置（５００）を受けるように構成されている、複数の試験用スロット（３１０）と、
    前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために並べられた搬送ステーション（４００）であって、
    搬送ステーション筐体（４１０）と
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置された複数の運搬器提示支持システム（４２０）であって、各運搬器提示支持システム（４２０）は、前記記憶装置試験システム（１００）によるサービス提供のために、記憶装置運搬器（６００）を提示位置で受けて支持するように構成されている複数の運搬器提示支持システム（４２０）と、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）上に配置されかつ記憶装置運搬器（６００）を投入位置と前記運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つでの前記提示位置との間で移動させるように構成されている運搬器移動装置（４３０）と
    を含む搬送ステーション（４００）と
    を含む記憶装置試験システム（１００）。
28. 前記運搬器提示支持システム（４２０）は、記憶装置運搬器（６００）の運搬器本体（６１０）によって画定されるそれぞれのアームの溝（６３０）によって受けられるように構成された運搬器支持アーム（４２６）の第１および第２の対向する対（４２２、４２４）を含む、請求項２７に記載の記憶装置試験システム（１００）。
29. 前記運搬器移動装置（４３０）は、鉛直方向アクチュエータ（７１０）、水平方向アクチュエータ（７２０）、およびピッチアクチュエータ（７３０）を有する多軸アクチュエータアセンブリ（７００）を含む、請求項２７または請求項２８に記載の記憶装置試験システム（１００）。
30. 前記運搬器移動装置（４３０）は、
    前記搬送ステーション筐体（４１０）の側壁（４１２）上に配置された第１のリニアアクチュエータ（７１０）と、
    前記第１のリニアアクチュエータ（７１０）に結合されたリフト可動台（７４０）と、
    前記リフト可動台（７４０）上に配置されかつ運搬器投入支持体（４４０）に枢動可能に結合された第２のリニアアクチュエータ（７２０）と、
    前記第２のリニアアクチュエータ（７２０）および前記運搬器投入支持体（４４０）の両方に枢動可能に結合された第３のリニアアクチュエータ（７３０）であって、前記第３のリニアアクチュエータ（７３０）は前記運搬器投入支持体（４４０）を回転させるように動作可能である、第３のリニアアクチュエータ（７３０）と
    を含む、請求項２７に記載の記憶装置試験システム（１００）。
31. 前記搬送ステーション（４００）は、受けられた記憶装置運搬器（６００）上の運搬器マーキング（６６０）を読み取るように構成されたマーキングリーダー（７６０）をさらに含み、
    前記運搬器移動装置（４３０）は、前記マーキングリーダー（７６０）によって読み取られる前記運搬器マーキング（６６０）に基づいて、前記受けられた記憶装置運搬器（６００）を前記投入位置と前記運搬器提示支持システム（４２０）のうちの１つでの前記提示位置との間で移動させるように構成されている、請求項２７に記載の記憶装置試験システム。

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