JP5066555B2 - 光線路障害探索装置 - Google Patents

Description

本発明は、ＷＤＭ−ＰＯＮ(Wavelength Division Multiplexing-Passive Optical Network)システムにおける局内のＯＬＴ(Optical Line
Terminal)側から光スプリッタを経由してユーザ宅側の各ＯＮＵ（Optical Network Unit）間の光ファイバ線路の障害検知を行う装置に関する。

光アクセス・システムの高速化は著しく、この５年ほどの間に約１００倍程度の高速・広帯域化が実現され、さらなる高速化に向けた研究が行なわれている。

これを実現する技術としてＰＯＮが知られている。ＰＯＮは、光アクセス回線の途中に受動素子である分岐装置を挿入して、その分岐装置で複数に分岐された各ファイバを複数の加入者宅にそれぞれ引き込み、効率よく光ファイバ通信を行う技術である。

ＰＯＮシステムは、局内終端装置のＯＬＴと各ユーザ宅のＯＮＵの間を、分岐装置を介して接続するものであり、ＯＬＴと複数のＯＮＵ間の分岐光線路を安価に監視することが要求されている。

ＰＯＮシステムの１つにＷＤＭ−ＰＯＮがある。このＷＤＭ−ＰＯＮは、各ＯＮＵに異なる光波長を割り当てることによって光ファイバの共有を行うシステムである。この方式は１ユーザに対してそれぞれ１波長を割り当てるため、１０Ｇビット/秒超の高速化が可能と考えられている。

上記のＷＤＭ−ＰＯＮ方式のシステムを試験する技術として、特許文献１には、センタ装置からの共通光ファイバ線路を複数の加入者に割り当てられた個別光ファイバ線路に分岐するスターカップラの光加入者装置（ＯＮＵ）側の各入出力端に、それぞれの信号光の波長を透過し、試験光およびその反射光の波長については通過または遮断を切替可能なフィルタ手段（波長可変フィルタ）をそれぞれ挿入し、各光加入者装置の入出力端に、それぞれの信号光の波長を透過し、試験光については反射する波長選択反射手段（波長選択フィルタ）を設け、通信を行う個別光ファイバ線路のフィルタ手段は試験光遮断状態にし、試験を行う個別光ファイバ線路のフィルタ手段は試験光通過状態にして、センタ装置側の線路に接続された光反射測定装置（ＯＴＤＲ）からパルス状の試験光を入射し、その戻り光に基づいて個別光ファイバ線路毎の障害試験を行う技術が開示されている。

特許第３２５５２１４号公報

前記特許文献１では、個別光ファイバ線路毎に波長可変フィルタを設ける必要があり、分岐数が膨大になると、それに応じて波長可変フィルタの数も増加し、コスト高になるという問題がある。

一方、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムのうち、共通光ファイバ線路を複数の個別光ファイバ線路に分岐するための分岐手段として、複数の固定波長に分波できるＡＷＧ（Arrayed Waveguide Grating）を用いたものが多くあり、これに上記特許文献１のような試験システムを適用することが考えられるが、特許文献１の波長分岐部にＡＷＧを用いた場合、試験光波長を個別光ファイバ線路毎の信号光波長に合わせる必要がある。

つまり、上記のような固定波長分波型の分岐器を用いたＷＤＭ−ＰＯＮの場合、その障害試験に用いる光の波長を可変する必要がある。

しかしながら、この波長数が多い場合、全ての個別光ファイバ線路の検査を行うのに非常に長い時間を要し、その間通信を停止させる必要がある。

本発明は、上記課題を解決し、共通光ファイバ線路と個別光ファイバ線路の間をＡＷＧのような波長固定の分岐器を介して接続したＷＤＭ−ＰＯＮシステムの全ての個別ファイバ線路の障害検知を、短時間に行える光線路障害探索装置を提供することを目的とする。

前記目的を達成するために、本発明の請求項１の光線路障害探索装置は、
異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路（１７）の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置（１０）と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に異なる長さで個別に設けられた個別光ファイバ線路（１８_１〜１８_ｎ）の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器（１５）と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置（１６_１〜１６_ｎ）とを有するＷＤＭ−ＰＯＮシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ（２１）と、
前記共通光ファイバ線路を伝送する全ての信号光の波長を含む広帯域光パルスを発生し、する広帯域光パルス発生手段（２２）と、
前記広帯域光パルスを第１光路で受けて第２光路から前記線路カプラを介して前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射させ、前記広帯域光パルスに対して前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムから前記線路カプラに戻ってきた戻り光を前記第２光路で受けて第３光路に出射するカプラ（２３）と、
前記カプラの前記第３光路から出射された戻り光を受けてその強度に応じた振幅をもつ電気の信号に変換する受光器（２５）と、
通信停止期間中の前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに前記広帯域光パルスを入射させる広帯域光パルス発生手段（２２）と、
前記広帯域光パルスを前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射したタイミングから所定時間が経過するまでの間、前記受光器から出力された信号の時間波形を取得する時間波形取得手段（２７）と、
前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムが正常のときに予め取得された時間波形を基準波形として記憶する基準波形記憶手段（２８）と、
前記時間波形取得手段で新規に取得された時間波形と前記基準波形とを比較して、前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害の探索を行う障害検知手段（２９）とを備えたことを特徴とする。

また、本発明の請求項２の光線路障害探索装置は、請求項１記載の光線路障害探索装置において、
前記障害検知手段によって特定の個別光ファイバ線路に障害が発生したと検知された場合に、前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光のうち、前記特定の個別光ファイバ線路に対応する信号波長と等しい波長成分の光を選択的に前記受光器に入射させ、該受光器の出力信号の時間波形を取得させて、前記特定の個別光ファイバ線路のより詳細な障害の検知を行わせる個別線路測定手段（４０）を設けたことを特徴とする。

また、本発明の請求項３の光線路障害探索装置は、請求項２記載の光線路障害探索装置において、
前記個別線路測定手段は、
前記広帯域光パルスの波長成分から前記特定の個別光ファイバ線路に対応する信号波長と等しい波長成分の光を選択的に通過させる可変波長フィルタ（４１）と、
前記波長可変フィルタを、前記カプラと前記受光器との間、または、前記広帯域パルス光源と前記カプラとの間、または、該カプラと前記線路カプラとの間のいずれかに挿入させる光スイッチ（４２、４３）とを含むことを特徴とする。

また、本発明の請求項４の光線路障害探索装置は、請求項１〜３のいずれかに記載の光線路障害探索装置において、
前記広帯域光パルス発生手段は、
前記全ての信号光の波長に一致するスペクトル光を含む光を出射するスーパーコンティニウム（Super Continuum）光源からな広帯域光源（２２ａ）と、
前記広帯域光源の出射光を受けて光パルスを発生させる光パルス発生手段（２２ｂ）とにより構成されていることを特徴とする。

上記のように、本発明の請求項１の光線路障害探索装置は、各信号光波長にそれぞれ対応する個別光ファイバ線路の長さが異なるＷＤＭ−ＰＯＮシステムに対し、そのＷＤＭ−ＰＯＮシステムで使用されている全ての信号光の波長を含む広帯域光パルスを通信停止期間に入射させ、その広帯域光パルスに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光を受光して、その受光信号の時間波形を取得して、正常時に取得した基準波形と比較し、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害の探索を行う。

このため、たとえＷＤＭ−ＰＯＮシステムの分岐数が膨大であっても、１線路分の測定時間で短時間に障害検知を行うことができる。

また、請求項２のものでは、広帯域光パルスで一括に求めた時間波形により障害が発生したと検知された特定の個別光ファイバ線路に対する詳細な情報を得ることができる。

また、請求項３の構成のものでは、波長可変フィルタと光スイッチを用いて、障害のあると個別光ファイバ線路についての詳細な情報を簡単に得ることができる。

本発明の実施形態の構成図 広帯域光パルスのスペクトラム図 実施形態の動作を説明するための信号波形図 実施形態の動作を説明するための信号波形図 個別線路測定手段の一例を示す図 個別線路測定手段によって得られた詳細な波形図 個別線路測定手段の他の例を示す図 個別線路測定手段の他の例を示す図

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムと本発明を適用した光線路障害探索装置２０の基本構成を示している。

試験対象のＷＤＭ−ＰＯＮシステムは、ＯＬＴ（電話局側光回線終端装置）１０、前記ＡＷＧで代表される固定波長分波型の分岐器１５、複数のＯＮＵ１６_１〜１６_ｎ（加入者側光回線終端装置）、ＯＬＴ１０と分岐器１５の間を接続する単一の共通光ファイバ線路１７、分岐器１５と各ＯＮＵ１６_１〜１６_ｎとの間をそれぞれ個別に接続する個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎにより構成されている。なお、ここでＯＮＵ１６_１〜１６_ｎは、通信停止状態で入射光をミラーなどにより全反射する機能を有しているものとする。

ここで、ＯＬＴ１０は、それぞれ異なる波長λ_１〜λ_ｎの信号光を送受信する複数の送受信器１１_１〜１１_ｎと、送受信器１１_１〜１１_ｎからの信号光を合波して共通光ファイバ線路１７に出射し、共通光ファイバ線路１７からの光を前記波長毎に分波して、対応波長の送受信器１１_１〜１１_ｎにそれぞれ与えるＡＷＧのような固定波長分波型の分岐器１２により構成されている。

この分岐器１２で波長多重された光は、共通光ファイバ線路１７を経て分岐器１５に入射される。

分岐器１５は分岐器１２と同一構成であり、ＯＬＴ１０側から入射された光を各波長λ_１〜λ_ｎの信号光に分け、その波長毎に割り当てられ、それぞれ長さが異なる個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎへ出射し、ＯＮＵ１６_１〜１６_ｎにそれぞれ与える。また、ＯＮＵ１６_１〜１６_ｎから出射された信号光を、個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎを介して受け、これを合波して共通光ファイバ線路１７へ出射する。なお、ここでは、個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎの長さが添え字の順に長くなるものとする。

また、最も短い個別光ファイバ線路１８_１に対する各個別光ファイバ線路１８_２〜１８_ｎの長さの差（差分長）は、後述する広帯域光パルスＰｗのパルス幅（時間幅）に対して、それぞれの差分長を光が通過するのに必要な時間に比べて十分長いものとする。

このＷＤＭ−ＰＯＮシステムの試験を行うための光線路障害探索装置２０は、共通光ファイバ線路１７に接続された線路カプラ２１を介して、試験用の光パルスをＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射させ、その光パルスに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光を、線路カプラ２１を介して装置内に入射させる。

広帯域光パルス発生手段２２は、図２に示すように、共通光ファイバ線路１７を伝送する全ての信号光の波長λ１〜λｎを含む広帯域光パルスＰｗを生成し、カプラ２３および線路カプラ２１を介して通信停止期間中のＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射させる。

広帯域光パルス発生手段２２は、広帯域光源２２ａと光パルス発生手段２２ｂにより構成されている。広帯域光源２２ａとしては全ての信号光波長λ１〜λｎに一致するスペクトル光を含む光を出射するスーパーコンティニウム（Super Continuum）光源やＳＬＤ等が使用できる。

スーパーコンティニウム光源は、ガラス等の透明な媒質（光ファイバのような細い媒質中で起きやすい）に非常に強い種光を入射することにより、広波長帯域に渡る発振スペクトルを有する光を出射する光源であり、上記広帯域光源２２ａとして適している。

また、光パルス発生手段２２ｂは、広帯域光源２２ａから出射された広帯域光をパルス変調するＬＮ型変調器等が使用できる。ここでは変調用のクロックパルスＣに同期した広帯域光パルスＰｗを出射するものとする。

カプラ２３は、光を入出射する３つの異なる光路を有し、広帯域光パルスＰｗを第１光路で受けて第２光路から線路カプラ２１へ出射する。また、線路カプラ２１からの戻り光Ｐｒを第２光路で受けて第３光路から受光器２５へ出射する。

受光器２５は、戻り光Ｐｒを受けてその強度に応じた振幅をもつ電気の信号Ｖｒに変換し、その信号をＡ／Ｄ変換器２６に入力する。

Ａ／Ｄ変換器２６によって得られたデジタルのデータ信号Ｄは、時間波形取得手段２７に入力される。時間波形取得手段２７は、広帯域光パルスＰｗをＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射したタイミング（クロックパルスＣに同期したタイミング）から所定時間（入射した光パルスが最も長い個別光ファイバ線路の末端まで往復するのに必要な時間以上）、受光器２５から出力された一連の信号（実際には一連のデータ信号Ｄ）を記憶し、複数回（例えば１０〜１００回）の広帯域光パルスＰｗの入射で得られたデータの平均化処理を行いランダムノイズ成分が除去された時間波形を取得する。

基準波形記憶手段２８には、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムが正常のときに予め時間波形取得手段２７によって取得された時間波形が基準波形として記憶されている。

障害検知手段２９は、時間波形取得手段２７で新規に取得された時間波形と基準波形とを比較して、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害の探索を行う。

制御部３０は、この光線路障害探索装置２０の測定に必要な種々の制御を行うものであり、少なくともＷＤＭ−ＰＯＮシステムが通信を停止している期間に広帯域光パルスＰｗをＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射させて障害の探索を行わせ、通信を行っている期間は広帯域光パルスＰｗの入射を規制する広帯域光パルス入射手段を形成している。

ここで、制御部３０はＷＤＭ−ＰＯＮシステムの通信停止期間を把握していることになるが、これは例えば以下の方式が考えられる。

即ち、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの通信スケジュールを制御部３０が予め記憶していて、その停止期間に広帯域光パルスＰｗを一定周期で所定回数入射させる方式、また図示しない通信手段を介してＷＤＭ−ＰＯＮシステムと制御部３０が通信を行い、ＷＤＭ−ＰＯＮシステム側から通信停止を知らせる情報を受けて、停止期間に広帯域光パルスＰｗを一定周期で所定回数入射させる方式、あるいは制御部３０側から通信停止の要求をＷＤＭ−ＰＯＮシステム側へ行い、その要求に応えてＷＤＭ−ＰＯＮシステムが通信を停止したときに広帯域光パルスＰｗを一定周期で所定回数入射させる方式である。

また、通信停止期間中にＷＤＭ−ＰＯＮシステムへ広帯域光パルスＰｗを入射させ、それ以外の期間に広帯域光パルスＰｗの入射を規制するための具体的な技術としては、広帯域光パルスＰｗを生成するためのクロックパルスＣの出力をオンオフさせたり、図示しないシャッタを、線路カプラ２１とカプラ２３の間あるいはカプラ２３と広帯域光パルス発生手段２２との間に設け、そのシャッタの開閉制御することで行う。

このように構成された光線路障害探索装置２０では、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムが通信を行っている期間はその通信の妨げになる光の出射を規制しているが、通信停止期間になると、例えば一定周期のクロックパルスＣが広帯域光パルス発生手段２２と時間波形取得手段２７に与えられて、図３の（ａ）のように、広帯域光パルスＰｗが広帯域光パルス発生手段２２で一定周期に生成され、カプラ２３および線路カプラ２１を介してＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射される。

この広帯域光パルスＰｗは、共通光ファイバ線路１７から分岐器１５へ伝搬し、分岐器１５で各波長成分に別れてそれぞれ個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎへ伝搬する。

そしてそれぞれの波長成分の後方散乱光（レイリー散乱光）やフレネル反射成分あるいはＯＮＵ１６_１〜１６_ｎによる全反射光が、個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎを経て分岐器１５に戻り、分岐器１５で合波されて共通光ファイバ線路１７、線路カプラ２１およびカプラ２３を介して受光器２５に入射される。

広帯域光パルスＰｗに含まれる各波長成分についての戻り光Ｐｒ（λ１）〜Ｐｒ（λｎ）の波形（この波形は実際には取得できない）は、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの線路に異常がなければ、例えば図３の（ｂ１）〜（ｂｎ）のように、出射地点でのフレネル反射成分Ｒａ（１）〜Ｒａ（ｎ）、分岐器１５でのフレネル反射成分Ｒｂ（１）〜Ｒｂ（ｎ）、ＯＮＵ入射端での全反射Ｒｃ（１）〜Ｒｃ（ｎ）の成分がパルス状に現れるものとなり、時間波形取得手段２７ではこれらの波形が時間合成された図３の（ｃ）の波形が得られることになる（ファイバの中継接続点は省略している）。

ここで、前記したように各個別光ファイバ線路１８_１〜１８_ｎの長さはそれぞれ異なり、その差分長は、広帯域光パルスＰｗのパルス幅に対して、それぞれの差分長を光が通過するのに必要な時間に比べて十分長いので、それぞれの波長成分の戻り光のうち全反射成分Ｒｃ（１）〜Ｒｃ（ｎ）の位置（距離および時間）は、その差分長ずつ離れた位置に分離して表示される。

なお、同一特性の光ファイバを伝搬する光の速度は波長差により変化するので、フレネル反射の位置も厳密には差がでるが、この波長差は通常のシングルモードファイバを低損失で伝搬できる波長帯域内にあってその差は小さいため、図３の（ｃ）の合成波形では互いに重なった波形（実際には若干幅が拡がる）となっている。勿論それらのフレネル反射成分が分離された波形であっても後述の波形比較は同様に行える。

上記の図３の（ｃ）の波形は、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの線路に異常がない時の波形であり、この波形と例えば線路敷設時などに得られて基準波形記憶手段２８に予め記憶されている基準波形と比較されるが、線路に断線や大きな劣化等がない場合、その波形はほぼ一致する。よってこの時間波形からは、障害は発生していないと判断される。

なお、時間波形の一致不一致は、それぞれの時間波形の時間軸とレベル軸からなる座標点を厳密に比較するものではなく、時間波形の特徴（ピークの数、概略レベル、概略位置を示すパターン情報）を求めて、それを比較することにより行う。

また、上記のように障害発生がないと判断された場合には、最新の時間波形を基準波形として更新記憶する。これにより、経年変化による誤差の影響を受けないで比較が行える。

また、上記図３の状態から時間が経過したあるタイミングで同様の測定を行ったときに、例えば個別光ファイバ線路１８_１の途中に断線があると、その線路に対応した波長の戻り光成分についての波形は、図４の（ｂ１）のように、断線位置で大きく減衰したものとなり、各波長成分を合成した時間波形は、図４の（ｃ）のように、ｎ−１個の全反射成分Ｒｃ（２）〜Ｒｃ（ｎ）しか現れない（図４の他の図は図３と同様である）。

したがって前記した基準波形と比較すると、その波長λ１についての全反射成分Ｒｃ（１）が無いことが判明する。

このため、障害検知手段２９は、個別光ファイバ線路１８_１の途中に断線障害が発生したと判定し、図示しない通信手段等を介して例えばＷＤＭ−ＰＯＮシステムを管理している部署などへアラーム情報を通知する。

なお、他の個別光ファイバ線路の断線障害も上記同様に基準波形との比較により判別することができ、さらに共通光ファイバ線路１７の断線障害もフレネル反射成分Ｒｂが現れなくなることで容易に判別することができる。

このように、実施形態の光線路障害探索装置２０では、各信号光波長にそれぞれ対応する個別光ファイバ線路の長さが異なるＷＤＭ−ＰＯＮシステムに対し、そのＷＤＭ−ＰＯＮシステムで使用されている全ての信号光の波長を含む広帯域光パルスＰｗを通信停止期間に入射させ、その広帯域光パルスＰｗに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光を受光して、その受光信号の時間波形を取得して、正常時に取得した基準波形と比較し、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害の探索を行っている。

このため、たとえＷＤＭ−ＰＯＮシステムの分岐数が膨大であっても、１線路分の測定時間で障害検知を行うことができ、波長毎に順次時間波形を求める方法に比べ格段に高速な障害検知が行える。

前記実施形態では、異常のある光ファイバ線路の特定を行っていたが、その線路についてのより詳細な特性を求めることも可能である。

即ち、障害検知手段２９によって特定の個別光ファイバ線路に障害が発生したと検知された場合に、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光のうち、特定の個別光ファイバ線路に対応する信号波長と等しい波長成分の光を選択的に受光器２５に入射させ、その受光器２５の出力信号の時間波形を取得させて、特定の個別光ファイバ線路のより詳細な障害の検知を行わせるための個別線路測定手段を設ける。

例えば図５に示す個別線路測定手段４０のように、波長可変フィルタ４１と光スイッチ４２、４３とを、カプラ２３と受光器２５との間に設け、障害の有無の検知を行う場合には、光スイッチ４２、４３をスルー側に接続して前記同様の測定を行い、個別光ファイバ線路１８ｘに障害が検知された場合には、波長可変フィルタ４１の通過波長をその線路に対応する波長λｘに設定して、戻り光のうちその波長λｘの光だけを受光器２５へ入射させて、図６のような時間波形を求め、大きく減衰している断線位置Ａを見つける。なお、波長可変フィルタ４１の通過波長の設定や光スイッチ４２、４３の切替は制御部３０によって行う。

また、図７のように波長可変フィルタ４１と光スイッチ４２、４３とを広帯域光パルス発生手段２２とカプラ２３との間に設けたり、図８のようにカプラ２３と線路カプラ２３との間に設け、障害の有無の検知を行う場合には、光スイッチ４２、４３をスルー側に接続して前記同様の測定を行い、個別光ファイバ線路１８ｘに障害が検知された場合には、波長可変フィルタ４１の通過波長をその線路に対応する波長λｘに設定して、ＷＤＭ−ＰＯＮシステムへの入射光および戻り光の波長をλｘだけに制限して前記同様の測定を行う。

１０……ＯＬＴ（電話局側光回線終端装置）、１５……分岐器、１６_１〜１６_ｎ……ＯＮＵ（加入者側光回線終端装置）、１７……共通光ファイバ線路、１８_１〜１８_ｎ……個別光ファイバ線路、２０……光線路障害探索装置、２１……線路カプラ、２２……広帯域光パルス発生手段、２３……カプラ、２５……受光器、２６……Ａ／Ｄ変換器、２７……時間波形取得手段、３０……制御部、４０……個別線路測定手段、４１……波長可変フィルタ、４２、４３……光スイッチ

Claims (4)

1. 異なる複数の波長の信号光を合波して共通光ファイバ線路（１７）の一端に入射し、該共通光ファイバ線路を介して送られてくる光をその波長毎に分離して受信する電話局側光回線終端装置（１０）と、前記共通光ファイバ線路の他端側に接続され、前記電話局側光回線終端装置から送られてくる信号光を受けて、その波長に応じて分離し、波長毎に異なる長さで個別に設けられた個別光ファイバ線路（１８_１〜１８_ｎ）の一端へ入射させ、該各個別光ファイバ線路を介して送られてくる信号光を合波して前記共通光ファイバ線路へ出射する固定波長分波型の分岐器（１５）と、前記個別光ファイバ線路の他端側にそれぞれ接続された加入者側光回線終端装置（１６_１〜１６_ｎ）とを有するＷＤＭ−ＰＯＮシステムの光線路の障害を探索する光線路障害探索装置であって、
   前記共通光ファイバ線路に接続された線路カプラ（２１）と、
   前記共通光ファイバ線路を伝送する全ての信号光の波長を含む広帯域光パルスを発生する広帯域光パルス発生手段（２２）と、
   前記広帯域光パルスを第１光路で受けて第２光路から前記線路カプラを介して前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射させ、前記広帯域光パルスに対して前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムから前記線路カプラに戻ってきた戻り光を前記第２光路で受けて第３光路に出射するカプラ（２３）と、
   前記カプラの前記第３光路から出射された戻り光を受けてその強度に応じた振幅をもつ電気の信号に変換する受光器（２５）と、
   通信停止期間中の前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに前記広帯域光パルスを入射させる広帯域光パルス発生手段（２２）と、
   前記広帯域光パルスを前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムに入射したタイミングから所定時間が経過するまでの間、前記受光器から出力された信号の時間波形を取得する時間波形取得手段（２７）と、
   前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムが正常のときに予め取得された時間波形を基準波形として記憶する基準波形記憶手段（２８）と、
   前記時間波形取得手段で新規に取得された時間波形と前記基準波形とを比較して、前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害の探索を行う障害検知手段（２９）とを備えたことを特徴とする光線路障害探索装置。
2. 前記障害検知手段によって特定の個別光ファイバ線路に障害が発生したと検知された場合に、前記ＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光のうち、前記特定の個別光ファイバ線路に対応する信号波長と等しい波長成分の光を選択的に前記受光器に入射させ、該受光器の出力信号の時間波形を取得させて、前記特定の個別光ファイバ線路のより詳細な障害の検知を行わせる個別線路測定手段（４０）を設けたことを特徴とする請求項１記載の光線路障害探索装置。
3. 前記個別線路測定手段は、
   前記広帯域光パルスの波長成分から前記特定の個別光ファイバ線路に対応する信号波長と等しい波長成分の光を選択的に通過させる可変波長フィルタ（４１）と、
   前記波長可変フィルタを、前記カプラと前記受光器との間、または、前記広帯域パルス光源と前記カプラとの間、または、該カプラと前記線路カプラとの間のいずれかに挿入させる光スイッチ（４２、４３）とを含むことを特徴とする請求項２記載の光線路障害探索装置。
4. 前記広帯域光パルス発生手段は、
   前記全ての信号光の波長に一致するスペクトル光を含む光を出射するスーパーコンティニウム（Super Continuum）光源からな広帯域光源（２２ａ）と、
   前記広帯域光源の出射光を受けて光パルスを発生させる光パルス発生手段（２２ｂ）とにより構成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光線路障害探索装置。

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