[go: up one dir, main page]

JP4708595B2 - 撮像装置及びカメラ - Google Patents

撮像装置及びカメラ Download PDF

Info

Publication number
JP4708595B2
JP4708595B2 JP2001139168A JP2001139168A JP4708595B2 JP 4708595 B2 JP4708595 B2 JP 4708595B2 JP 2001139168 A JP2001139168 A JP 2001139168A JP 2001139168 A JP2001139168 A JP 2001139168A JP 4708595 B2 JP4708595 B2 JP 4708595B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
optical axis
lens
photographing lens
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001139168A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002333570A (ja
JP2002333570A5 (ja
Inventor
明彦 長野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001139168A priority Critical patent/JP4708595B2/ja
Publication of JP2002333570A publication Critical patent/JP2002333570A/ja
Publication of JP2002333570A5 publication Critical patent/JP2002333570A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4708595B2 publication Critical patent/JP4708595B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/805Coatings
    • H10F39/8057Optical shielding

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Focusing (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像装置、カメラ、及び撮像装置の制御方法に関し、更に詳しくは、撮影レンズの瞳の異なる位置を透過する光束を受光して瞳分割方式の焦点検出を可能とする撮像装置と、当該撮像装置を搭載したカメラ、及び当該撮像装置の制御方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
撮影レンズの焦点状態を検出する方式の一つとして、センサの各画素にマイクロレンズが形成された2次元のセンサを用いて瞳分割方式の焦点検出を行う装置が特開昭55−111928号公報及び特開昭58−24105号公報に開示されている。
【0003】
また、本出願人はデジタルスチルカメラに用いられるCMOSイメージセンサ(撮像装置)を用いて瞳分割方式の焦点検出を行う装置を特願平11−306815号公報で提案している。
【0004】
図16は特願平11−306815号公報で提案している、イメージセンサを用いた瞳分割方式の焦点検出方法の原理説明図、図17はイメージセンサの画素レイアウトの一部を示す概略平面図である。イメージセンサ10は撮影レンズ5の予定結像面に配置されている。また、イメージセンサ10の各画素は2つの光電変換領域13α及び13βから構成されており、各光電変換領域の撮影レンズ側に形成されたマイクロレンズ11によって、光電変換領域13α及び13βは撮影レンズ5の瞳と略結像関係になるように設定されている。
【0005】
ここで、光電変換領域13αは撮影レンズ5の瞳の図中上方を透過する光束を受光し、光電変換領域13βは撮影レンズ5の瞳の図中下方を透過する光束を受光する。焦点検出時は、図17に示すように光電変換領域α及び光電変換領域βからの出力を独立して読み出し、さらに複数の画素からの出力より撮影レンズの異なる瞳位置を透過した光束による像が生成される。
【0006】
撮影レンズの異なる瞳位置を透過した光束より生成される像を用いて焦点検出を行う方法は、特開平5−127074号公報に開示されているように公知の技術である。
【0007】
一方、通常撮影時は、光電変換領域13αと光電変換領域13βの出力を画素内で加算して出力するように構成している。
【0008】
ところでCMOSイメージセンサの露光制御として、特開平5−75931号公報にはランダムアクセス型撮像素子の露光制御方法が開示されている。同公報においては、照明光量の少ない領域では露光時間を長く設定するような露光制御方法が開示されている。
【0009】
また上記従来の焦点検出装置に用いられるCMOSイメージセンサは、電子ビューファインダ等で常時撮影画像を表示する場合、ローリングシャッタ方式にて蓄積時間制御が行われる。ローリングシャッタ方式の場合、イメージセンサの1ラインは同一蓄積時間で制御されることになる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図16に示すようにイメージセンサ10の各光電変換領域13α、13βは撮影レンズ5の瞳の異なる位置を透過する光束を受光しているため、撮影画面の周辺領域ではいわゆるCOS4乗則の影響で光電変換領域13α、13β間で出力のアンバランスが発生する。
【0011】
図18に、均一輝度の被写体を見た場合のイメージセンサ10の1ライン上での光電変換領域αと光電変換領域βの出力の例を示す。中心領域(光軸周辺)では光電変換領域αと光電変換領域βの出力差は小さいが、周辺になるに従ってより大きな出力差が発生する。図18の領域δにおいて光電変換領域α及び光電変換領域βで検出される線像を示したものが図19である。撮影レンズの焦点状態を検出するためには、像Iαと像Iβの相関をとらなければならないが、出力差があるために2像の一致度が低下し、焦点検出精度が低下するという欠点があった。
【0012】
そこで特開平3-214133号公報では、撮影レンズの周辺光量低下等の光量分布情報を求めて、光電変換部にて検出された被写体像信号に対して光量分布情報に応じた処理を行って、撮影レンズのデフォーカス量を検出する焦点検出装置が開示されている。
【0013】
しかしながら、イメージセンサの光電変換領域αと光電変換領域βからの出力差が大きい場合、光電変換領域αと光電変換領域βの出力像信号のレベルを合わせるために出力の低い光電変換領域の出力像信号を増幅すると、ノイズ成分も増幅してしまい、精度の高い焦点検出結果が得られないという欠点があった。
【0014】
さらに撮影レンズが交換可能なデジタルカメラシステムの場合、カメラに装着される撮影レンズによって出力の特性が図18に示すものと異なるため、その結果、撮影レンズによって焦点検出精度が変化するという欠点があった。
【0015】
さらに図18に示すように、同一ライン上でも画像出力を取り出す領域が異なると光電変換領域αと光電変換領域βの出力差も異なるため、焦点検出を行う領域によって焦点検出精度が変化するという欠点があった。
【0016】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、同一画素の各光電変換領域に入射する光量が異なる場合も、各光電変換領域の出力がほぼ同等となるように制御して、焦点検出の精度を向上させることを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、着脱可能な撮影レンズを介して入射する光学像を光電変換する本発明の撮像装置は、各画素内に一つのマイクロレンズを通過した光を受光する2つの光電変換手段を有し、接続された撮影レンズの光軸を含む2次元エリアに複数配された画素と、前記撮影レンズの焦点を調節する際の信号を抽出する際、前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素内の2つの光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段の電荷蓄積時間を、光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段の電荷蓄積時間よりも短くするように、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段は第1の転送パルスにより、また前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段は第2の転送パルスによりそれぞれ独立に制御する制御手段とを有する。
【0020】
また、好適な別の一様態によれば、各画素内に一つのマイクロレンズを通過した光を受光する2つの光電変換手段を有し、接続された撮影レンズの光軸を含む2次元エリアに複数配された画素と、前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素内の2つの光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段は第1の転送パルスにより、また前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段は第2の転送パルスによりそれぞれ独立に制御する制御手段と、前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素の光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段から得られる信号に第1のゲインをかける第1の増幅手段と、前記複数の画素の光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段から出力される信号に、第1のゲインよりも大きい第2のゲインをかける第2の増幅手段とを有し、前記制御手段は、更に、接続された撮影レンズに応じて、前記第1及び第2のゲインを制御する。
【0021】
また、上記目的を達成するために、本発明のカメラは、上記いずれかの撮像装置を搭載する。
【0022】
本発明の好適な一様態によれば、前記撮像装置の各画素の2つの光電変換領域から出力される信号に基づいて前記撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出手段を更に有し、前記制御手段は前記焦点検出手段で用いる撮像装置上の焦点検出領域の位置に応じて、前記第1及び第2のゲインを制御する。
【0026】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【0027】
<第1の実施形態>
図1は本発明の撮像装置(以下、「イメージセンサ」と呼ぶ。)を具備した本第1の実施形態におけるカメラの概略構成図を示す。
【0028】
図1において、図16に示す構成と同様の構成については同じ参照番号を付す。10はイメージセンサ(撮像装置)で、デジタルスチルカメラの本体(以下、「カメラ本体」と呼ぶ。)1の撮影レンズ5の予定結像面に配置されている。カメラ本体1には、カメラ全体を制御するCPU20、イメージセンサ10を駆動制御するイメージセンサ制御回路21、イメージセンサ10により撮像した画像信号を画像処理する画像処理回路24、画像処理された画像信号を表示する液晶表示素子9と、それを駆動する液晶表示素子駆動回路25、液晶表示素子9に表示された被写体像を観察するための接眼レンズ3、イメージセンサ10にて撮像された画像を記録するメモリ回路22、画像処理回路24にて画像処理された画像をカメラ外部に出力するためのインターフェース回路23とが含まれている。メモリ回路22には、撮影レンズの固有情報(開放F値、射出窓情報等)も記憶されている。
【0029】
撮影レンズ5はカメラ本体1に対して着脱可能であり、便宜上2枚のレンズ5a、5bで図示しているが、実際は多数枚のレンズで構成され、カメラ本体1のCPU20から送られてくる焦点調節情報を電気接点26を介してレンズCPU50にて受信し、その焦点調節情報に基づいて撮影レンズ駆動機構51によって合焦状態に調節される。また53は絞り装置で、絞り駆動機構52によって所定の絞り値に絞り込まれるようになっている。また、CPU20は焦点検出も行う。
【0030】
図2は、本発明の第1の実施形態においてイメージセンサ10に用いられるCMOSイメージセンサの1画素の断面図である。同図において、117はp型ウェル、118はMOSのゲート絶縁膜であるSiO2膜である。126α及び126βは表面pであり、n層125α及び125βとでそれぞれ光電変換部101α及び101βを構成する。120α及び120βは光電変換部101α及び101βに蓄積された光電荷をフローティングディフュージョン部(以下、「FD部」と呼ぶ。)121へ転送するための転送ゲートである。また、129はカラーフィルタ、130はマイクロレンズで、マイクロレンズ130は撮影レンズ5の瞳とイメージセンサ10の光電変換部101とが略共役になるような形状及び位置に形成されている。
【0031】
また光電変換部101α及び101βは、FD部121を挟んで2つの領域、α領域とβ領域(以下、それぞれ「光電変換領域α、光電変換領域β」と呼ぶ。)とにそれぞれ形成されており、さらに各光電変換領域α及び光電変換領域βで発生した光電荷をそれぞれFD部121へ転送する転送ゲート120α、120βが形成されている。
【0032】
通常撮影時は、光電変換領域αと光電変換領域βで発生した光電荷が各転送ゲート120α、120βを介してFD部121に転送され、加算されるように制御される。一方、撮影レンズ5の焦点状態を検出する際は、光電変換領域α及び光電変換領域βからのFD部121への光電荷の転送は独立して行われ、光電荷が加算されないように転送ゲート120α及び120βが制御される。
【0033】
図3は、本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサ10の1ラインを概略的に示した平面図で、図中網掛けされた中央の画素は、撮影レンズ5の光軸上にある画素を示している。イメージセンサ10の各画素中の2つの光電変換領域α、βは、撮影レンズ5の光軸上にある画素に近い側の光電変換領域と、遠い側の光電変換領域とがそれぞれ独立に制御可能であるように構成されている。
【0034】
すなわち、各画素中の2つの光電変換領域のうち、図中の中心画素の左側にある画素における中心画素に近い光電変換領域βと、中心画素の右側にある画素における中心画素に近い光電変換領域αとが同じタイミングで制御されるようになっている。同様に、各画素中の2つの光電変換領域のうち、図3の中心画素の左側において中心画素から遠い光電変換領域αと、中心画素の右側にある画素における中心画素から遠い光電変換領域βとが同じタイミングで制御されるようになっている。
【0035】
図4は本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサ10の概略回路構成図である。なお、図4では、図面の簡略化のために2列×2行の2次元エリアセンサを示しているが、実際は数百万画素の画素から構成されている。
【0036】
図4において、101は光電変換部、103は転送スイッチMOSトランジスタ、104はリセット用MOSトランジスタ、105はソースフォロワアンプMOSトランジスタ、106は水平選択スイッチMOSトランジスタ、107はソースフォロワの負荷MOSトランジスタ、108は暗出力転送MOSトランジスタ、109は明出力転送MOSトランジスタ、110は暗出力蓄積容量CTN、111は明出力蓄積容量CTS、112は水平転送MOSトランジスタ、113は水平出力線リセットMOSトランジスタ、114は差動増幅器である。115は水平走査回路、116は垂直走査回路で、図1に示すイメージセンサ制御回路21を構成している。
【0037】
図4において、1ライン目の左の画素(第0画素)は図3に示す左端の画素に相当し、1ライン目の右の画素(第i画素)は図3における右端の画素に相当している。また、撮影レンズ5の光軸は第0画素と第i画素との間に存在する。
【0038】
そして、各画素における、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換部、例えば第0画素の光電変換部101β0と第i画素の光電変換部101αi に対応する転送スイッチ103β0と転送スイッチ103αiは、同じ制御パルスΦTXα0により制御されるように構成されている。また、各画素における、撮影レンズ5の光軸から遠い側の光電変換部、例えば第0画素の光電変換部101α0と第i画素の光電変換部101βiに対応する転送スイッチ103α0と転送スイッチ103βiは、同じ制御パルスΦTXβ0により制御されるように構成されている。
【0039】
次に図5のタイミングチャートを用いてイメージセンサ10の動作を説明する。本発明のCMOSイメージセンサ10を有するカメラ1は、イメージセンサ10により撮影された画像を常時液晶表示素子9にて観察可能なように構成されているため、ローリングシャッタ方式の蓄積制御が行われる。
【0040】
図5はイメージセンサ10で焦点検出を行う際の第0ラインのタイミングチャートを示している。撮影レンズ5の焦点状態の検出を行う場合、各画素の光電変換領域α及び光電変換領域βのそれぞれの出力から得られる2つの画像の相関演算を行い、2つの画像の像ずれ量から撮影レンズ5の焦点状態を検出するが、設定された焦点検出領域で2つの画像の出力がほぼ同等になるように光電変換領域α及び光電変換領域βの蓄積時間が設定されている。実際には、1画素中の2つの光電変換領域のうち、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域よりも、撮影レンズ5の光軸から遠い側の光電変換領域の蓄積時間が長くなるように制御パルスΦTXα0及びΦTXβ0が制御される。制御パルスΦTXα0及びΦTXβ0は垂直走査回路116にて生成される。
【0041】
まず撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域の光電荷の読み出しが実行される。制御パルスΦS0をハイとして水平選択スイッチMOSトランジスタ106をオンさせ、第0ラインの画素部を選択する。次に制御パルスΦR0をローとしFD部121のリセットを止め、FD部121をフローティング状態にし、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105のゲート・ソース間をスルーとしたのち、所定時間後制御パルスΦTNαをハイとし、FD部121の暗電圧をソースフォロワ動作で蓄積容量110に出力させる。ここで、第0ラインの第0画素部の暗電圧は蓄積容量110β0に出力され、第i画素部の暗電圧は蓄積容量110αiに出力される。
【0042】
次に、第0ラインの撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域の出力を行うため、制御パルスΦTXα0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103を導通し、光発生キャリアをFD部121に転送する。フォトダイオードの光電変換部101からの電荷がFD部121に転送されることにより、FD部121の電位が光に応じて変化することになる。この時、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105がフローティング状態であるので、FD部121の電位を制御パルスΦTSαをハイとして蓄積容量111に出力する。ここで、第0ラインの第0画素部の光出力は蓄積容量111β0に出力され、第i画素部の光出力は蓄積容量111αiに出力される。この時点で第0ラインの各画素の撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域の暗出力と光出力はそれぞれ蓄積容量110と111に蓄積される。
【0043】
つぎに、撮影レンズ5の光軸から近い側の光電変換領域の蓄積時間を撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域の蓄積時間に対して相対的にΔtだけ短く蓄積制御するために、最初に制御パルスΦTXα0をハイとしたΔt時間後、再度制御パルスΦTXα0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103を導通し、Δt時間に発生し蓄積された光電荷をFD部121に転送する。このとき、制御パルスΦR0をハイとしておけば、FD部121の電荷は消滅する。さらに、制御パルスΦTXα0をローとして転送スイッチMOSトランジスタ103を閉じれば、撮影レンズの光軸から近い側の光電変換領域にて光電荷の再蓄積が開始され、再度光電荷の読み出しが行われるまで光電荷は蓄積される。
【0044】
引き続き撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域の光電荷の読み出しが実行される。制御パルスΦS0をハイとして水平選択スイッチMOSトランジスタ106をオンさせ、第0ラインの画素部を選択する。次に制御パルスΦR0をローとしFD部121のリセットを止め、FD部121をフローティング状態とし、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105のゲート・ソース間をスルーとしたのち、所定時間後制御パルスΦTNβをハイとし、FD部121の暗電圧をソースフォロワ動作で蓄積容量110に出力させる。ここで、第0ラインの第0画素部の暗電圧は蓄積容量110α0に出力され、第i画素部の暗電圧は蓄積容量110βiに出力される。
【0045】
次に、第0ラインの各画素の撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域の出力を行うため、制御パルスΦTXβ0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103を導通し、光電荷をFD部121に転送する。フォトダイオードの光電変換部101からの電荷がFD部121に転送されることにより、FD部121の電位が光に応じて変化することになる。この時ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105がフローティング状態であるので、FD部121の電位を制御パルスΦTSβをハイとして蓄積容量111に出力する。ここで、第0ラインの第0画素部の光出力は蓄積容量111α0に出力され、第i画素部の光出力は蓄積容量111βiに出力される。この時点で第0ラインの各画素の撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域の暗出力と光出力はそれぞれ蓄積容量110と111に蓄積される。制御パルスΦTXβ0をローとして転送スイッチMOSトランジスタ103を閉じれば、撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域に光電荷の蓄積が開始され、再度光電荷の読み出しが行われるまで光電荷は蓄積される。
【0046】
なお、光電変換部101にて発生した光電荷は、まず各画素において撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域から蓄積容量111に読み出し、その後で撮影レンズ5の光軸に遠い側の光電変換領域から蓄積容量111に読み出しを行うように制御するが、イメージセンサ10から外部への出力はそのあとの信号の並べ替え処理を行わないで済むように、各画素の光電変換領域の分割方向が同じ方向の光電変換領域から順次出力されるように水平走査回路115が制御する。
【0047】
イメージセンサ10から外部への出力は、制御パルスΦHCを一時ハイとして水平出力線リセットMOSトランジスタ113を導通して水平出力線をリセットし、水平転送期間において水平走査回路115の水平転送MOSトランジスタ112への走査タイミング信号により水平出力線に出力される。水平走査回路115は、各画素の光電変換領域のうちまず光電変換領域αの光出力を出力するように走査タイミング信号を発生させる。その結果、蓄積容量111α0から順次蓄積容量111αiまでの蓄積容量がイメージセンサの外部に出力される。引き続き、水平走査回路115は、各画素の光電変換領域のうち光電変換領域βの光出力を出力するように走査タイミング信号を発生させる。その結果、蓄積容量111β0から順次蓄積容量111βiまでの蓄積容量がイメージセンサ10の外部に出力される。このとき、差動増幅器114によって蓄積容量110と111の差動出力Voutをとるため、画素のランダムノイズ、固定パターンノイズを除去したS/Nの良い信号が得られる。
【0048】
イメージセンサ10からの出力は、焦点検出処理を行うCPU20にて焦点検出用画像信号として整形される。
【0049】
図6は、均一輝度の被写体を撮影したときの、第0ラインの各画素の光電変換領域α及びβの出力を示したものである。撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域とでΔt0の蓄積時間差を設けたため、図中の焦点検出領域δ1及びδ2での各光電変換領域からの出力はほぼ同等になっている。
【0050】
図7は例えば被写体が1本線の場合に、図6の焦点検出領域δ1及びδ2で検出される焦点検出用の画像の例を示したものである。焦点検出用画像信号IαとIβの出力はほぼ同等で、その結果2つの像信号の相関の度合いが高くなり、精度の高い焦点検出を行うことが可能となっている。
【0051】
イメージセンサ10から出力された焦点検出用信号に基づいて、CPU20により撮影レンズ5の焦点状態が精度良く検出されると、CPU20はカメラ本体1と撮影レンズ5の間に設けられた電気接点26を介して撮影レンズ5のデフォーカス情報をレンズCPU50に送信する。レンズCPU50はカメラ本体1のCPU20から受けたデフォーカス情報を撮影レンズ駆動量に変換してレンズ駆動機構51の送信し、撮影レンズ5の焦点状態を調節する。
【0052】
ところで上記第0ラインと異なるラインで、図6の焦点検出領域δ1及びδ2とは異なる領域で焦点検出を行おうとする場合、イメージセンサ10の各画素の撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と、遠い側の光電変換領域とで受光光量差が異なってくるため、異なった蓄積時間制御が必要となる。
【0053】
たとえば、図8に示すように撮影レンズ5の光軸に対して焦点検出領域δ1及びδ2よりも外側の焦点検出領域δ3及びδ4で焦点検出を行おうとする場合、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域との受光光量差はより大きくなるため、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域に対して遠い側の光電変換領域の蓄積時間をより長くするように制御される。
【0054】
図9は、図8の焦点検出領域δ3及びδ4での撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域との出力信号とをほぼ同等にするための、第jラインのタイミングチャートを示したものである。このときのイメージセンサの回路構成は図4と同様である。
【0055】
図9において、図5の第0ラインのタイミングチャートと異なるのは各制御パルスの時間である。第jラインの焦点検出領域は撮影レンズ5の光軸に対してより外側に設定されているため、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域との蓄積時間の比が、
(t0−Δt0)/t0 > ( tj−Δtj)/tj
【0056】
を満足するように、垂直走査回路116は各制御パルスを制御する。
また図16から明らかなように、カメラ本体1に装着される撮影レンズ5の開放F値及び射出窓によって、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域の受光光量差が変化する。図10はカメラ本体1に装着される撮影レンズによってイメージセンサ10の各光電変換領域の蓄積時間比を設定するためのフローチャートである。以下、図10のフローチャートを参照して説明する。
【0057】
カメラ本体1のCPU20は、撮影レンズ5との電気接点26を介してレンズCPU50と通信を試みる(ステップS201)。カメラ1に撮影レンズ5が装着されていてレンズCPU50と通信可能であれば(ステップS201でYES)、カメラCPU20は装着された撮影レンズ5の種類(ID)を確認する(ステップS202)。装着された撮影レンズの種類が確認されると、CPU20はメモリ回路22に記憶された撮影レンズの開放F値及び射出窓情報等の固有情報を確認する(ステップS203)。さらに、カメラCPU20は装着されている撮影レンズ5の開放F値、射出窓の位置、射出窓の径及びイメージセンサ10上の焦点検出領域の位置等の情報を用いて、焦点検出に用いるイメージセンサ10の各光電変換領域が受光する受光光束の撮影レンズ5の瞳上での重心位置を算出する(ステップS204)。さらにカメラCPU20は、光電変換領域α及びβが受光する受光光束の撮影レンズ5の瞳上での重心位置と光電変換領域α及びβとをそれぞれ結ぶ直線と、イメージセンサ10の垂線とのなす角度θα及びθβを算出する(ステップS204)(図16参照)。ここで、光電変換領域αと光電変換領域βの受光光量比は、ほぼ
COS4(θα): COS4(θβ)
【0058】
となる。
たとえば、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域が光電変換領域αで撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域が光電変換領域βの場合に、図9に示したタイミングチャートでイメージセンサ10が蓄積制御される場合、CPU20は
【0059】
( tj−Δtj)/tj = COS4(θβ)/ COS4(θα)
以上のように設定された蓄積時間比でイメージセンサ10の蓄積時間が制御されると、所定の焦点検出領域での2つの焦点検出用画像信号の出力レベルはほぼ同等となり、2つの焦点検出用画像信号を用いた焦点検出は精度の高い結果が得られることになる。
【0060】
ここで、撮影レンズの開放F値及び射出窓情報等の固有情報がカメラ本体1に設けられたメモリ回路22に記憶されている例を示したが、レンズCPU50に付随したメモリ回路に記憶するシステムにしても構わない。
【0061】
なお図11は、イメージセンサ10で通常の撮像を行う際の第0ラインのタイミングチャートである。通常撮像時は、光電変換領域α及びβにて発生した光電荷が同時にFD部121に転送され、加算されてイメージセンサ10の外に出力されるように構成されている。
【0062】
図11において、垂直走査回路116からのタイミング出力によって、制御パルスΦS0をハイとして水平選択スイッチMOSトランジスタ106をオンさせ、第0ラインの画素部を選択する。次に制御パルスΦR0をローとしFD部121のリセットを止め、FD部121をフローティング状態とし、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105のゲート・ソース間をスルーとしたのち、所定時間後制御パルスΦTNβをハイとし、FD部121の暗電圧をソースフォロワ動作で蓄積容量110α又は110βのいずれか導通した方に出力させる。
【0063】
次に、第0ラインの各画素の2つの光電変換領域α及びβの出力を行うため、制御パルスΦTXα0及びΦTXβ0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103α及び103βを導通する。この時光電変換部101α及び101βにて発生した光電荷はFD部121に転送される。フォトダイオードの光電変換部101α及び101βからの電荷がFD部121に転送されることにより、FD部121の電位が光に応じて変化することになる。この時ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105がフローティング状態であるので、FD部121の電位を制御パルスΦTSβをハイとして蓄積容量110α又は111βのいずれか導通した方に出力する。この時点で第0ラインの各画素の暗出力と光出力はそれぞれ蓄積容量110α又は110βと111α又は111βにそれぞれ蓄積されることになる。さらに制御パルスΦHCを一時ハイとして水平出力線リセットMOSトランジスタ113を導通して水平出力線をリセットし、水平転送期間において水平走査回路115の水平転送MOSトランジスタ112への走査タイミング信号により水平出力線に画素の暗出力と光出力とが出力される。このとき、蓄積容量110αと111α、または110βと111βに蓄積された電荷に対して差動増幅器114によって差動出力Voutをとるため、画素のランダムノイズ、固定パターンノイズを除去したS/Nの良い信号が得られる。
【0064】
引き続き水平走査回路115による各画素の水平転送MOSトランジスタへの走査タイミング信号によって、各画素のモニタ出力が検出される。さらに垂直走査回路116は同様に、次のラインの出力を行うことにより、イメージセンサ10の全画素を出力する。
【0065】
また本第1の実施形態においては、通常撮像時は各画素の2つの光電変換領域の蓄積時間が同じになるように制御する例を示したが、図12のタイミングチャートに示すようにカメラに装着されるレンズによっては撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と撮影レンズの光軸に遠い側の光電変換領域との蓄積時間が異なるように制御して各画素内で加算して出力することにより、光軸から離れた位置における光量低下による出力のアンバランスを極力小さくすることも有効である。
【0066】
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。上記第1の実施形態においては、図19に示す画像信号Iα及びIβの信号差を、光電変換領域α及び光電変換領域βでの蓄積時間を異ならせることにより調整したが、本第2の実施形態では得られる画像信号Iα及びIβに異なるゲインを掛けることによって調整する。
【0067】
なお、本第2の実施形態おけるカメラの概略構成は第1の実施形態において図1を参照して説明したものと同様であるので、説明を省略する。図13は本発明の第2の実施形態におけるイメージセンサ10の回路構成図である。なお、図13では、図面の簡略化のために2列×2行の2次元エリアセンサを示しているが、実際は数百万画素の画素から構成されている。また、図13において、図4の構成と同様の構成には同じ参照番号を付し、説明を省略する。
【0068】
図13に示す構成では、水平方向の出力系が2系統あるところが図4と異なり、114L及び114Hは差動増幅器である。また、図4に示す構成とは異なり、各画素の光電変換領域αはΦTXαiにより制御され、光電変換領域βはΦTXβiにより制御される。すなわち、図17に示す配線となっている。115’は水平走査回路115’及び垂直走査回路116は、図1に示すイメージセンサ制御回路21を構成している。
【0069】
図13において、1ライン目の左の画素(第0画素)は図17に示す左端の画素に相当し、1ライン目の右の画素(第i画素)は図3における右端の画素に相当している。また、撮影レンズ5の光軸は第0画素と第i画素との間に存在する。
【0070】
そして、各画素における、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換部、例えば第0画素の光電変換部101β0と第i画素の光電変換部101αiの光出力は低ゲインの差動増幅器114Lを介して出力されるように構成されている。また、各画素における、撮影レンズ5の光軸から遠い側の光電変換部、例えば第0画素の光電変換部101α0と第i画素の光電変換部101βiは高ゲインの差動増幅器114Hにて出力されるように構成されている。
【0071】
次に図14のタイミングチャートを用いてイメージセンサ10の動作を説明する。本発明のCMOSイメージセンサ10を有するカメラ1は、イメージセンサ10により撮影された画像を常時液晶表示素子9にて観察可能なように構成されているため、ローリングシャッタ方式の蓄積制御が行われる。
【0072】
図14はイメージセンサ10で焦点検出を行う際の第0ラインのタイミングチャートを示している。撮影レンズ5の焦点状態の検出を行う場合、各画素の光電変換領域α及び光電変換領域βのそれぞれの出力から得られる2つの画像の相関演算を行い、2つの画像の像ずれ量から撮影レンズ5の焦点状態を検出するが、設定された焦点検出領域で2つの画像の出力がほぼ同等になるように差動増幅器114L及び114Hのゲインが設定されている。実際には、1画素中の2つの光電変換領域のうち、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域から得られる信号に与えるゲインよりも、撮影レンズ5の光軸から遠い側の光電変換領域のゲインが高くなるように設定する。
【0073】
まず各画素の2つに分割された光電変換領域のうち、分割方向が同じ方向の、例えば光電変換領域αの光電荷の読み出しが実行される。制御パルスΦS0をハイとして水平選択スイッチMOSトランジスタ106をオンさせ、第0ラインの画素部を選択する。次に制御パルスΦR0をローとしFD部121のリセットを止めFD部121をフローティング状態とし、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105のゲート・ソース間をスルーとしたのち、所定時間後制御パルスΦTNαをハイとし、FD部121の暗電圧をソースフォロワ動作で蓄積容量110αに出力させる。
【0074】
次に、光電変換領域αの出力を行うため、制御パルスΦTXα0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103αを導通し、光電変換部101αの光発生キャリアをFD部121に転送する。フォトダイオードの光電変換部101αからの電荷がFD部121に転送されることにより、FD部121の電位が光に応じて変化することになる。この時ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105がフローティング状態であるので、FD部121の電位を制御パルスΦTSαをハイとして蓄積容量111αに出力する。この時点で光電変換領域αの暗出力と光出力はそれぞれ蓄積容量110αと111αに蓄積される。制御パルスΦTXα0をローとして転送スイッチMOSトランジスタ103αを閉じれば、光電変換領域αに光電荷の蓄積が開始され、再度光電荷の読み出しが行われるまで光電荷は蓄積される。
【0075】
引き続き光電変換領域βの光電荷の読み出しが実行される。制御パルスΦS0をハイとして水平選択スイッチMOSトランジスタ106をオンさせ第0ラインの画素部を選択する。次に制御パルスΦR0をローとし、FD部121のリセットを止め、FD部121をフローティング状態とし、ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105のゲート・ソース間をスルーとしたのち、所定時間後制御パルスΦTNβをハイとし、FD部121の暗電圧をソースフォロワ動作で蓄積容量110βに出力させる。
【0076】
次に、第0ラインの各画素の光電変換領域βの出力を行うため、制御パルスΦTXβ0をハイとして転送スイッチMOSトランジスタ103βを導通し、光電変換部101βの光電荷をFD部121に転送する。フォトダイオードの光電変換部101βからの電荷がFD部121に転送されることにより、FD部121の電位が光に応じて変化することになる。この時ソースフォロワアンプMOSトランジスタ105がフローティング状態であるので、FD部121の電位を制御パルスΦTSβをハイとして蓄積容量111βに出力する。この時点で第0ラインの各画素の撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域の暗出力と光出力はそれぞれ蓄積容量110βと111βに蓄積される。制御パルスΦTXβ0をローとして転送スイッチMOSトランジスタ103βを閉じれば、光電変換領域βに光電荷の蓄積が開始され、再度光電荷の読み出しが行われるまで光電荷は蓄積される。
【0077】
イメージセンサから外部への出力は、制御パルスΦHCを一時ハイとして水平出力線リセットMOSトランジスタ113を導通して水平出力線をリセットし、水平転送期間において水平走査回路115の水平転送MOSトランジスタ112への走査タイミング信号により水平出力線に出力される。
【0078】
ここで、撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域からの蓄積容量、例えば第0画素の光電変換部101β0の蓄積容量111β0及び第i画素の光電変換部101αiの蓄積容量111αiは、低ゲインの差動増幅器114Lにて出力されるように構成されている。一方、撮影レンズ5の光軸に遠い側の光電変換領域からの蓄積容量、例えば第0画素の光電変換部101α0の蓄積容量111α0及び第i画素の光電変換部101βiの蓄積容量111βiは、高ゲインの差動増幅器114Hにて出力されるように構成されている。
【0079】
さらに水平走査回路115は、各画素の光電変換領域のうち、まず光電変換領域αの光出力を出力するように走査タイミング信号を発生させる。その結果、蓄積容量111α0から順次蓄積容量111αiまでの蓄積容量がイメージセンサ10の外部に出力される。引き続き、水平走査回路115は、各画素の光電変換領域のうち光電変換領域βの光出力を出力するように走査タイミング信号を発生させる。その結果、蓄積容量111β0から順次蓄積容量111βiまでの蓄積容量がイメージセンサ10の外部に出力される。このとき、蓄積容量110αと111α、または蓄積容量110βと111βを差動増幅器114L又は114Hによって差動出力VoutLまたはVoutHをとるため、画素のランダムノイズ、固定パターンノイズを除去したS/Nの良い信号が得られる。
【0080】
イメージセンサ10からの出力は、焦点検出を行うCPUにて焦点検出用画像信号に整形される。撮影レンズ5の光軸に近い側の光電変換領域に対して遠い側の光電変換領域の出力ゲインが高く設定されているため、各光電変換領域からの出力はほぼ同等となる。その結果、焦点検出に用いる2つの像信号IαとIβの相関の度合いが高くなり精度の高い焦点検出を行うことが可能となっている。
【0081】
イメージセンサ10から出力された焦点検出用信号に基づいて、CPU20により撮影レンズ5の焦点状態が精度良く検出されると、CPU20はカメラ本体1と撮影レンズ5の間に設けられた電気接点26を介して撮影レンズ5のデフォーカス情報をレンズCPU50に送信する。レンズCPU50はカメラ本体1のCPU20から受けたデフォーカス情報を撮影レンズ駆動量に変換してレンズ駆動機構51の送信し、撮影レンズ5の焦点状態を調節する。
【0082】
また図16から明らかなように、カメラ本体1に装着される撮影レンズ5の開放F値及び射出窓によって、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域の受光光量差が変化する。図15はカメラ本体1に装着される撮影レンズによって差動増幅器114L及び114Hのゲイン比(GL:GH)を設定するためのフローチャートである。以下、図15のフローチャートを参照して説明する。
【0083】
カメラ本体1のCPU20は、撮影レンズ5との電気接点26を介してレンズCPU50と通信を試みる(ステップS201)。カメラ1に撮影レンズ5が装着されていてレンズCPU50と通信可能であれば(ステップS201でYES)、カメラCPU20は装着された撮影レンズ5の種類(ID)を確認する(ステップS202)。装着された撮影レンズの種類が確認されると、CPU20はメモリ回路22に記憶された撮影レンズの開放F値及び射出窓情報等の固有情報を確認する(ステップS203)。さらに、カメラCPU20は装着されている撮影レンズ5の開放F値、射出窓の位置、射出窓の径及びイメージセンサ10上の焦点検出領域の位置等の情報を用いて、焦点検出に用いるイメージセンサ10の各光電変換領域が受光する受光光束の撮影レンズ5の瞳上での重心位置を算出する(ステップS204)。さらにカメラCPU20は、光電変換領域α及びβが受光する受光光束の撮影レンズ5の瞳上での重心位置と光電変換領域α及びβとをそれぞれ結ぶ直線と、イメージセンサ10の垂線とのなす角度θα及びθβを算出する(ステップS204)(図16参照)。ここで、光電変換領域αと光電変換領域βの受光光量比は、ほぼ
COS4(θα): COS4(θβ)
【0084】
となる。
たとえば、撮影レンズの光軸に近い側の光電変換領域が光電変換領域αで撮影レンズの光軸から遠い側の光電変換領域が光電変換領域βの場合に、図14に示すタイミングチャートでイメージセンサ10が蓄積制御される場合、CPU20は
GL/GH = COS4(θβ)/ COS4(θα)
【0085】
を満足するようにゲイン比を設定する(ステップS306)。
以上のように設定されたゲイン比でイメージセンサ10の差動増幅器114L及び114Hのゲインが制御されると、所定の焦点検出領域での2つの焦点検出用画像信号の出力レベルはほぼ同等となり、2つの焦点検出用画像信号を用いた焦点検出は精度の高い結果が得られることになる。
【0086】
ここで、撮影レンズの開放F値及び射出窓情報等の固有情報がカメラ本体1に設けられたメモリ回路22に記憶されている例を示したが、レンズCPU50に付随したメモリ回路に記憶するシステムに記憶しても構わない。
【0087】
なお、本第2の実施形態において通常画像を撮像する場合のタイミングチャート及び駆動制御は、図11を参照して上述したものと同様である。
【0088】
【他の実施形態】
上記第1及び第2の実施形態においては、1画素中の光電変換領域を水平方向に分割して各光電変換領域の蓄積時間を制御する例を示したが、1画素中の光電変換領域を垂直方向に分割してもよく、その場合にも撮影レンズ光軸に近い側の光電変換領域と遠い側の光電変換領域とをそれぞれ独立して制御可能なように構成するのが望ましい。
【0089】
また本第1及び第2の実施形態では、撮像装置(イメージセンサ)を撮影レンズの1次結像面に配置した例を示したが、2次結像光学系の2次結像面に配置した構成でも有効であることは言うまでもない。
【0090】
また、第1及び第2の実施形態においては、イメージセンサ10がCMOSイメージセンサの場合について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば、CCDイメージセンサであってもよい。
【0091】
なお、以上の実施の形態のソフト構成とハード構成は、適宜置き換えることができるものである。
【0092】
なお、本発明は、以上の各実施の形態、または、それら技術要素を必要に応じて組み合わせるようにしてもよい。
【0093】
また、本発明は、特許請求の範囲の構成、または、実施形態の構成の全体若しくは一部が、1つの装置を形成するものであっても、他の装置と結合するようなものであっても、装置を構成する要素となるようなものであってもよい。
【0094】
また、本発明は、ビデオカメラ、ビデオスチルカメラ、撮影レンズ交換可能なカメラ、一眼レフカメラ、レンズシャッタカメラ、監視カメラなど、種々の形態の撮像装置、更には、それら撮像装置に適用される装置、方法、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体などの媒体、そして、これらを構成する要素に対しても適用できるものである。
【0095】
また、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。ここでプログラムコードを記憶する記憶媒体としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディスク、ROM、RAM、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、CD−ROM、CD−R、DVD、光ディスク、光磁気ディスク、MOなどが考えられる。
【0096】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【0097】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、同一画素の各光電変換領域に入射する光量が異なる場合も各光電変換領域の出力がほぼ同等となるように制御するため、焦点検出の精度を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態におけるカメラの構成図である。
【図2】本発明の実施の形態におけるイメージセンサの1画素の断面図である。
【図3】本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの1ラインを示す概略平面図である。
【図4】本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの回路構成図である。
【図5】本発明の第1の実施形態における焦点検出時のイメージセンサの駆動タイミングチャートである。
【図6】本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの出力を説明する図である。
【図7】本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの出力画像を説明する図である。
【図8】本発明の第1の実施形態におけるイメージセンサの出力を説明する図である。
【図9】本発明の第1の実施形態における焦点検出時のイメージセンサの駆動タイミングチャートである。
【図10】本発明の第1の実施形態における焦点検出のための蓄積時間比決定処理のフローチャートである。
【図11】本発明の第1の実施形態における通常撮影時のイメージセンサ駆動の一例を示すタイミングチャートである。
【図12】本発明の第1の実施形態における通常撮影時のイメージセンサ駆動の別の例を示すタイミングチャートである。
【図13】本発明の第2の実施形態におけるイメージセンサの回路構成図である。
【図14】本発明の第2の実施形態における焦点検出時のイメージセンサの駆動タイミングチャートである。
【図15】本発明の第2の実施形態における焦点検出のためのゲイン比決定処理のフローチャートである。
【図16】従来の瞳分割方式の焦点検出方法の原理説明図である。
【図17】従来のイメージセンサの1ラインを示す概略平面図である。
【図18】従来のイメージセンサの出力を説明する図である。
【図19】イメージセンサの出力画像を説明する図である。
【符号の説明】
1 カメラ本体
3 接眼レンズ
5 撮影レンズ
9 液晶表示素子
10 イメージセンサ
20 CPU
21 イメージセンサ制御回路
22 メモリ回路
23 インターフェ−ス回路
24 画像処理回路
25 液晶表示素子駆動回路
26 電気接点
50 レンズCPU
51 撮影レンズ駆動機構
52 絞り駆動機構
53 絞り装置

Claims (8)

  1. 着脱可能な撮影レンズを介して入射する光学像を光電変換する撮像装置であって、
    各画素内に一つのマイクロレンズを通過した光を受光する2つの光電変換手段を有し、接続された撮影レンズの光軸を含む2次元エリアに複数配された画素と、
    前記撮影レンズの焦点を調節する際の信号を抽出する際、前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素内の2つの光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段の電荷蓄積時間を、光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段の電荷蓄積時間よりも短くするように、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段は第1の転送パルスにより、また前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段は第2の転送パルスによりそれぞれ独立に制御する制御手段と
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 各画素の2つの光電変換領域が受光する受光光束の撮影レンズの瞳上での重心位置と光軸に近い側の光電変換領域及び光軸から遠い側の光電変換領域とをそれぞれ結ぶ直線と、撮像装置の垂線とのなす角度をそれぞれθ1及びθ2、光軸に近い側の光電変換領域の蓄積期間をt1、光軸から遠い側の光電変換領域の蓄積時間をt2とすると、前記制御手段は、
    t1/t2 = COS4(θ1)/ COS4(θ2)
    を満足するように前記電荷蓄積時間を設定することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 着脱可能な撮影レンズを介して入射する光学像を光電変換する撮像装置であって、
    各画素内に一つのマイクロレンズを通過した光を受光する2つの光電変換手段を有し、接続された撮影レンズの光軸を含む2次元エリアに複数配された画素と、
    前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素内の2つの光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段は第1の転送パルスにより、また前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段は第2の転送パルスによりそれぞれ独立に制御する制御手段と、
    前記撮影レンズの光軸を含む2次元エリア内の前記複数の画素の光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸に近い側のそれぞれの光電変換手段から得られる信号に第1のゲインをかける第1の増幅手段と、
    前記複数の画素の光電変換手段のうち、前記撮影レンズの光軸から遠い側のそれぞれの光電変換手段から出力される信号に、第1のゲインよりも大きい第2のゲインをかける第2の増幅手段とを有し、
    前記制御手段は、更に、接続された撮影レンズに応じて、前記第1及び第2のゲインを制御することを特徴とする撮像装置。
  4. 各画素の2つの光電変換領域が受光する受光光束の撮影レンズの瞳上での重心位置と光軸に近い側の光電変換領域及び光軸から遠い側の光電変換領域とをそれぞれ結ぶ直線と、撮像装置の垂線とのなす角度をそれぞれθ1及びθ2、前記第1のゲインをG1、前記第2のゲインをG2とすると、前記制御手段は、
    G1/G2 = COS4(θ1)/ COS4(θ2)
    を満足するように前記第1及び第2のゲインを設定することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
  5. 前記制御手段は、前記接続された撮影レンズのレンズ開放F値及び射出窓情報に基づいて制御することを特徴とする請求項1または3に記載の撮像装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置を搭載したカメラ。
  7. 撮影レンズに着脱可能であって、
    前記撮影レンズの着脱状態を検知する検知手段と、
    接続された撮影レンズの情報を取得する取得手段と
    を有することを特徴とする請求項3又は4に記載の撮像装置を搭載したカメラ。
  8. 前記撮像装置の各画素の2つの光電変換領域から出力される信号に基づいて前記撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出手段を更に有し、
    前記制御手段は前記焦点検出手段で用いる撮像装置上の焦点検出領域の位置に応じて、前記第1及び第2のゲインを制御することを特徴とする請求項7に記載のカメラ。
JP2001139168A 2001-05-09 2001-05-09 撮像装置及びカメラ Expired - Fee Related JP4708595B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001139168A JP4708595B2 (ja) 2001-05-09 2001-05-09 撮像装置及びカメラ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001139168A JP4708595B2 (ja) 2001-05-09 2001-05-09 撮像装置及びカメラ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2002333570A JP2002333570A (ja) 2002-11-22
JP2002333570A5 JP2002333570A5 (ja) 2008-06-26
JP4708595B2 true JP4708595B2 (ja) 2011-06-22

Family

ID=18985984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001139168A Expired - Fee Related JP4708595B2 (ja) 2001-05-09 2001-05-09 撮像装置及びカメラ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4708595B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007116437A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Nikon Corp 撮像素子および撮像システム
JP5023480B2 (ja) * 2005-12-02 2012-09-12 株式会社ニコン 電子カメラ
JP4935078B2 (ja) * 2006-01-10 2012-05-23 株式会社ニコン 固体撮像素子及びこれを用いた電子カメラ
JP4637029B2 (ja) * 2006-02-08 2011-02-23 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP5076416B2 (ja) * 2006-09-14 2012-11-21 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JP4983271B2 (ja) * 2007-01-19 2012-07-25 株式会社ニコン 撮像装置
JP5778931B2 (ja) * 2011-01-25 2015-09-16 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
EP2566151A4 (en) * 2011-03-07 2014-01-29 Panasonic Corp PICTURE DEVICE AND RANGE SEARCH
JP5817154B2 (ja) * 2011-03-10 2015-11-18 株式会社ニコン 撮像装置
JP6008669B2 (ja) * 2012-09-19 2016-10-19 キヤノン株式会社 固体撮像素子およびその製造方法ならびにカメラ
JP2021061618A (ja) * 2020-12-15 2021-04-15 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
CN115256743B (zh) * 2021-02-04 2023-12-08 浙江大学台州研究院 一种精准检测以及控制液位的镜片浇注装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04294334A (ja) * 1991-03-25 1992-10-19 Minolta Camera Co Ltd 接眼検知機能付カメラ
JP2687896B2 (ja) * 1994-10-06 1997-12-08 日本電気株式会社 超高感度ccdカラーカメラ装置
JPH11231411A (ja) * 1998-02-19 1999-08-27 Nikon Corp カメラ
JPH11337813A (ja) * 1998-05-21 1999-12-10 Minolta Co Ltd オートフォーカスカメラ
JP2000330007A (ja) * 1999-05-20 2000-11-30 Nikon Corp 焦点検出装置
JP3774597B2 (ja) * 1999-09-13 2006-05-17 キヤノン株式会社 撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002333570A (ja) 2002-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4027113B2 (ja) 撮像装置及びシステム
JP4532800B2 (ja) 撮像装置及びシステム
US7488923B2 (en) Focus detection device, optical system and focus detection method
EP1085751B1 (en) Image pickup apparatus
JP5895355B2 (ja) 撮像装置
JP7473041B2 (ja) 撮像素子、及び撮像装置
US7041950B2 (en) Image sensing element for sensing an image formed by an image sensing lens
JP2005106994A (ja) 焦点検出装置、撮像装置、それらの制御方法
JP2007184716A (ja) 撮像素子および撮像兼焦点検出装置
JP2002258142A (ja) 撮像装置
JP2017216646A (ja) 撮像素子、撮像装置、および撮像信号処理方法
JP5211590B2 (ja) 撮像素子および焦点検出装置
JP4708595B2 (ja) 撮像装置及びカメラ
JP2002199284A (ja) 撮像素子
JP5034936B2 (ja) 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
JP5076416B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
US9942493B2 (en) Image pickup apparatus and reading method for outputting signals based on light flux passing through an entire area of an exit pupil and light flux passing through part of the exit pupil
JP5750918B2 (ja) 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置
US11089217B2 (en) Image-pickup apparatus and control method thereof
JP5058840B2 (ja) 撮像装置
JP2002158929A (ja) 固体撮像素子、固体撮像装置及び撮像システム
JP2009053540A (ja) 撮像素子
JP2003032538A (ja) 撮像装置
JP2004191630A (ja) 撮像装置
JP2025186340A (ja) 撮像素子、及び、撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080509

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110121

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110317

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees