JP4090170B2 - Infrared high-temperature heating furnace - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験材料を収納し且つ減圧可能な炉室を有する炉本体と、試験材料を赤外線により加熱するためのヒーターとを備えた赤外線高温加熱炉及びこれに使用するヒーターに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、高温の真空又はガス雰囲気下で試験材料を加熱する赤外線高温加熱炉としては、例えば特開平5−288697号公報に記載の高温観察炉が知られている。同公報に開示された高温観察炉によれば、炉体は楕円球や回転楕円体で構成され、集光焦点に配置する試験片を減圧雰囲気にするため、ヒーターと炉内の試験片とをガラス板により仕切っている。そして、減圧下でヒーターの端子間での放電を防ぐため、ヒーターを大気中に設置している。同観察炉によれば、試験材料をヒーターで加熱しつつ、炉外の顕微鏡で同試験材料を近接観察することが可能である。
【0003】
しかし、同従来技術によれば、ガラス板が炉本体を横切るので構成が複雑となっていた。また、ヒーターから発せられる赤外線が一部ガラス板に吸収されるので、試験材料の加熱効率がその分低下していた。ヒーターの内側に気密化のためのガラス管を別途設けた高温観察炉も知られているが、同様の不都合があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
かかる従来の実情に鑑みて、本発明の目的は、構成が簡易で試験材料の加熱効率に優れた赤外線高温加熱炉及びこれに使用するヒーターを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明に係る赤外線高温加熱炉の特徴は、試験材料を収納し且つ減圧可能な炉室を有する炉本体と、前記試験材料を赤外線により加熱するためのヒーターとを備え、前記ヒーターは、透明な空洞体と一対の端子と発熱体と前記各端子及び発熱体の間に位置する導線部とを有し、前記空洞体前記炉本体の側において貫通させることにより、前記発熱体を炉室内に位置させると共に前記各端子を炉室外に位置させ、前記炉本体側部分と前記空洞体との間にシールを設けることで炉室内を密閉状態に保ち、前記導線部を前記シールの接触部に位置させることにより前記発熱体を前記シールの接触部より内側に配置させて前記発熱体の発熱による前記シールの劣化を防止してあることにある。
【0006】
同特徴構成によれば、透明な空洞体と炉本体との間にシールを設けるだけの簡易な構成で、炉室内を外部から密閉することができる。しかも、導線部の存在によりシールが焼損する不都合もない。また、ヒーターと試験材料との間に気密化のためのガラス板やガラス管等が介在しないので、加熱効率に優れている。
【0008】
また、前記ヒーターを棒状に形成すると共に前記炉室をこの棒状のヒーターに沿った筒状に形成し、前記炉本体の側に形成した一対の貫通孔に前記ヒーターを貫通させれば、炉体を安価に製作できる。しかも、試験材料をその長手方向に沿って試験材料よりも長いヒーターで余裕をもって加熱することにより、試験材料中央部付近の被観察部を良好な温度分布状態に維持させることが可能となるからである。
【0009】
試験材料をさらに高温下で加熱するには、第二のヒーターを前記炉室内に設けると共にこの第二のヒーター上に前記試験材料を設置するとよい。このとき、前記試験材料及び前記第二のヒーターの周囲に筒状の熱シールドを設けることで、第二のヒーター上の試験材料が温度低下することを防止すると共に、他のヒーターが加熱されることを防止する。また、前記炉本体は透明の観察窓を有し、前記熱シールドのうち前記観察窓側に前記試験材料観察用の貫通孔を形成するとよい。
【0011】
【発明の効果】
このように、上記本発明に係る赤外線高温加熱炉の特徴によれば、透明な空洞体と炉本体との間にシールを設けるだけの簡易な構成で、ヒーターと試験材料との間に気密化のためのガラス板等が介在せず試験材料の加熱効率に優れた赤外線高温加熱炉及びこれに使用するヒーターを提供することが可能となった。
【0012】
本発明の他の目的、構成及び効果については、以下の発明の実施の形態の欄において明らかになるであろう。
【0013】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照しながら、本発明にかかる実施形態について説明する。
図1に示す応力付与観察システム1は、応力付与観察装置10により真空中や特定のガス雰囲気中で試験材料3に対して引張または圧縮応力を加え、対物レンズ2のみ図示する顕微鏡によりその状況を観察するものである。この応力付与観察装置10は、台座20上に載置された試験材料3を引っ張るための試験器30と、試験材料3を高温下で真空状況下中に密閉する観察用密閉容器たる赤外線集光加熱炉60とを備えている。
【0014】
図1,3に示す台座20は、全体の傾き調節用の脚部21と、基台22の上に順次積み重ねられる基台22及び第一,第二可動台23,24とを備え、操作ハンドル23a,24aにより平面に沿ったXY2軸方向に対して第二可動台24を微小移動させることが可能である。そして、操作ハンドル23a,24aの調節により、対物レンズ2に対して試験材料3を適当な観察位置に移動させる。
【0015】
試験器30は、試験材料3を図示左右方向へ引っ張るための一対の第一,第二クロスヘッド31,32を備えている。各第一,第二クロスヘッド31,32は、リニアガイド33にガイドされて左右へ沿う方向へ摺動可能なスライダ34と、スライダ34から左右へ張り出す横張出部35と、この横張出部35から上台44を越えて上部へ伸びる縦張出部36とを備えている。この第二可動台24の上には、一対の軸受37,37間に一本のボールねじ38が支持されている。このボールねじ38は、右ねじ38aと左ねじ38bとを中央で連結したもので、外側にそれぞれ螺合させた第一,第二可動ねじ39a,39bをそれぞれスライダ34に貫通固定してある。そしてボールねじ38を回転させることで第一,第二クロスヘッド31,32を互いに左右反対方向へ同ピッチで移動させ得るように構成してある。
【0016】
ボールねじ38は、減速ギアを含む駆動モーター40,駆動ベルト41a,41b及びプーリを介してその一端側から所定量だけ回転させられる。また、ボールねじ38の他端にはプーリ及び伝導ベルト43を介してロータリーエンコーダー42が接続され、これにより駆動モーター40の回転制御が行われる。
【0017】
図1,3〜8に示すように、第二可動台24に支持される上台44上には赤外線集光加熱炉60が載置され、この赤外線集光加熱炉60内に設置された試験材料3に対し、第一,第二クロスヘッド31,32にそれぞれ接続された第一,第二連結体45,46が引張力を加える。
【0018】
図6に示すように、第一連結体45は、大略第一クロスヘッド31に連結される固定ベース47とこの固定ベース47に連結される内側筒状体48と、内部空間48a内に収納されその一端に固定されたひずみゲージ48bと、このひずみゲージ48b及び試験材料3を連結する第一引張軸51とを備えている。円盤状の固定ベース47はその中央で固定ボルト47aにより縦張出部36に連結され、また、真空シール及び複数の連結ボルト47bを介して内側筒状体48の一端に連結される。ひずみゲージ48bは取付具48b1及び取付ねじ48b2を介して内側筒状体48内に固定される。ひずみゲージ48bに対する信号コード48b3は気密端子の接続されるコードシール部47cを介して外部の制御装置と連結される。また、ひずみゲージ48bと試験材料3との間の第一引張軸51には直動支持体たるリニアボールベアリング48cが外嵌されて、内側筒状体48に対し第一引張軸51をスライド可能に支持し、ひずみゲージ48bに第一引張軸51長手方向以外の負荷が掛かりにくくしてある。
【0019】
一方、図7に示すように、図第二連結体46は、試験材料3と第二クロスヘッド32とを連結するロッド状の第二引張軸52として構成されている。第二引張軸52の先端には雄ねじ52cが形成されており、この先端を第二クロスヘッド32の縦張出部36に形成した孔を貫通させてある。そして、雄ねじ52cに螺合させたナット52dと第二引張軸の段差52eとの間を締め付けて、第二引張軸52を縦張出部36に固定している。
【0020】
図4,5に示すように、赤外線集光加熱炉60は、密閉容器本体である炉本体61の内部に密閉室である炉室62を有し、この炉室62は上部の蓋部63を取り外すことで開口61dを介して外部と連通可能である。炉本体61及び蓋部63はアルミニウムで構成されると共に炉室62の内面が金メッキされており、上台44上に4本の脚部61aで支持されている。炉本体61の四隅には、冷媒通路61bがそれぞれ形成され、図示しない循環経路により冷媒が循環されて炉本体61を冷却する。また、炉室62内の試験材料3の配置部近傍には外部から試料や熱電対を挿入するための常時封止される連通管61cを貫通させてある。
【0021】
炉本体61の炉室62は断面が二つの楕円E,Eの一方の焦点F1を共通に重ね合わせた筒状の形状をしている。また、他方の焦点F2,F2にそれぞれ発熱部64aの中心が配置するようにヒーター64,64をそれぞれ配置し、炉室62内面の反射により蓋部63からの近赤外線が一方の焦点F1に載置された試験材料3に効率よく輻射されるようになっている。
【0022】
蓋部63の観察窓63aは、透明な石英ガラス63bを開口板63cで押圧保持し、石英ガラス63bを介して対物レンズ2から試験材料3を観察できるように構成してある。蓋部63の一端には円錐孔63dに連通して炉室62内にガスを送り込むガス注入口63eを取り付けてある。このガス注入口63eは、通常封止ねじ63fにより塞いであり、必要に応じて種々のガスを炉室62内に注入する。
【0023】
蓋部63はその円弧面63gを炉本体61の開口61dに嵌合し、真空シール61eを炉本体61の上部に接当させて炉本体61の開口61dを塞ぐ。開口61dの周囲上面には真空シール61eを設けてあり、図示しない取付ねじを蓋部63を貫通させると共に炉本体61にねじ込み、鍔部63hを真空シール61eに押し付けることで炉室62を外部から密閉する。
【0024】
近赤外線を発するヒーター64は、透明な空洞体の一例である透明石英製の管部64fの中央に位置するタングステン製の発熱部64aの両端それぞれに対し、同じタングステン製の導線部64b,64bを張り出させている。各端でこの導線部64bと端子64dとをモリブデン製の接合箔64cで接合し、この接合箔部分をピンチオフすることで管部64fの内部を気密状態に維持している。各端子64dは、碍子64eにより管部64fの両端に支持されている。
【0025】
このヒーター64は、赤外線集光加熱炉60の両端に設けられたヒーター固定ベース65a,65aの孔に貫通している。そして、真空シール65c,65c及びヒーター固定蓋65b、65bを貫通させた図示しないねじをヒーター固定ベース65a,65aに螺合させて押し付けることで真空シール65c,65cにより炉室62内外の境界部をシールし、炉室62内を密閉状態に保っている。
【0026】
また、発熱部64aからの発熱により真空シール65cが劣化するのを防ぐために、各真空シール65cの接触部は発熱のほとんどない導線部64bを位置させるようにして、この発熱部64aを各真空シール65cの接触部より内側に配置してある。すなわち、前記管部64fは前記炉本体61の外に端子64dを位置させるように真空シール65cを介して前記炉本体61に固定され、このヒータ64の前記真空シール65c接触部よりも内側に前記発熱部64aを配置してある。
【0027】
図1,5,8に示すように、炉本体61は、図1,5の左右方向にそれぞれ第一,第二引張軸51,52を挿通するための第一,第二開口部材66,67を有し、さらに右側に真空引き用の吸引口68を有している。第一,第二引張軸51,52は、それぞれ対向し合う先端に突出する上部平坦な張出部51b,52bと上へ突出する掛止突起51a,52aをそれぞれ有している。そして、試験材料3の両側に形成した小孔3a,3aへこれら掛止突起51a,52aを嵌合させることで、試験材料3を第一,第二引張軸51,52により牽引可能に構成してある。なお、これら掛止突起51a,52aは、その先端に向かうほど互いに離反するように傾斜させてあり、試験材料3に引張応力が掛かるほど張出部51b,52bへ押し付けられるように構成してある。
【0028】
図4,5,8に示すように、その上部に切欠部69aを有する石英ガラス製の管69を第一,二開口66,67の間に掛け渡すことで、試験材料3の装着時や破断時における落下を防止してある。なお、石英ガラス製の管69は透明であり、ヒーターによる加熱が妨げられないように構成してある。
【0029】
図1、5、6に示すように、内側筒状体48の外部には真空シール49を介して外側筒状体70を外嵌してある。この真空シール49は、内側筒状体48及び外側筒状体70により形成されている内部空間48aを外部から密閉しつつ、真空シール49と外側筒状体70との第一引張軸51長手方向に対する相対移動を許容する。外側筒状体70は右側に赤外線集光加熱炉60のフランジ66aと対向するフランジ70aを有しており、これらフランジ66aとフランジ70aとの間に真空シール66bを介在させ、第一クランプ66cによりフランジ66a及びフランジ70aを互いに近接させるように締め付けることで、外側筒状体70と第一開口部材66とを密閉状態に連結する。
【0030】
図1,5,7に示すように、第二引張軸52に外嵌するシール筒71のフランジ71aも同様に第二開口部材のフランジ67aに対し真空シール67b,第二クランプ67cを介して連結される。このシール筒71は、真空シール72を介して第二引張軸52に接触し、シール筒71の右端が外部と連通するのを防ぐ。吸引孔68のフランジ68aに対しても吸引管73がそのフランジを対向させて真空シール68b,第三クランプ68cを介して連結される。
【0031】
次に、上述の応力付与観察システム1の使用要領とその作用について説明する。
まず、掛止突起51a,52aの間に試験材料3を掛止し、蓋部63を閉じる。次いで、観察窓63aから所望の部分が見えるように図示しない顕微鏡を操作する。さらに、吸引管73から炉室62内の空気を吸引し、炉室62内が十分に減圧されたところで、必要な場合はガス注入口75,63e等からガスを注入する。
【0032】
そして、駆動モーター40を駆動させて、第一,第二クロスヘッド31,32を離反方向へ移動させる。この際、第一,第二クロスヘッド31,32の相対変位量はロータリーエンコーダー42により検出され、試験材料3に負荷される引張応力はひずみゲージ48bにより検出されるので、図示しない制御装置によりこれらロータリーエンコーダー42,ひずみゲージ48bの情報をフィードバックさせることで駆動モーター40の制御が可能となる。そして、ヒーター64に通電することで、試験材料3を例えば1100℃等の高温下に維持することが可能となる。なお、試験材料3の温度は図示しない熱電対により検出されその情報はヒーター64の制御に用いられる。
【0033】
真空シール49の作用により、内側筒状体48及び外側筒状体70の内部空間48aは先の密閉室62と共に密閉空間ASを形成する。ここで、試験材料3とひずみゲージ48bとの間には、摩擦抵抗の極めて少ない直動支持体48cのみが介在するに留まるので、ひずみゲージ48bは試験材料3に掛かる引っ張り応力を精度良く測定することが可能となる。一方、比較例として示される図2の態様では、第一クロスヘッドに接続される固定引張軸47’と第一引張軸51との間にひずみゲージ48bが真空シールドされない状態で介在する。しかし、同比較例では、試験材料3とひずみゲージ48bとの間の第一引張軸51には真空シール66dが介在し、ひずみゲージ48bの測定に誤差を及ぼすであろうことが理解される。
【0034】
本実施形態では、顕微鏡観察に適するように試験材料3が小片に形成され、上記引張軸51,52への負荷荷重が比較的小さいので、真空シールと引張軸との摩擦抵抗が負荷加重に対して相対的に大きくなる。したがって、本実施形態では、ひずみゲージ48bを上述の如く密閉空間AS内に設置して、真空シールと引張軸との摩擦抵抗による悪影響を払拭する意義がある。
【0035】
次に、図11を参照しながら、上述の赤外線集光加熱炉60の異なる使用形態を説明する。本例は、試験材料に上述のような引張応力を加えずに観察を行う場合に適用される。なお、以下の各別実施形態では、先の実施形態と同様の部材には同様の符号を附してある。
【0036】
試験を先の第二開口部材67を取り外して蓋で塞ぎ、先の第一開口部材66側から真空吸引する。第一注入口61fは封止ねじ76で塞ぎ、必要な場合は第二注入口61gに取り付けた注入口75からガス等を注入することで密閉室である炉室62内を特定のガス雰囲気とすることができる。また、先の封止ねじ77を取り外し連通路61cを介して棒状の熱電対78aを挿入し、この熱電対78aの先端に試験材料を受けるルツボ78bを装着する。そして、このルツボ78b内に試験材料79を収納し、これを加熱下で観察する。
【0037】
次いで、図12,13を参照しながら、赤外線集光加熱炉の他の実施形態を説明する。
同実施形態では、密閉容器本体である炉本体61内に第一焦点F1を共有する4つの楕円Eが配置されている。他方の第二焦点F2にはそれぞれヒーター64が配置され、これら各ヒーター64は90度毎に並べられている。蓋部63は先の実施形態よりも厚みが増しているが、実質的には同様に炉本体61の上部に設けられている。
【0038】
本実施形態は、炉本体61の中心部における第一焦点F1に沿って一対の水冷電極81,81の設けられている点が、先の実施形態と異なる。基部81aの外側には絶縁筒81bが嵌合され、絶縁筒81bと炉本体61との間は電極固定蓋86aと真空シール86bとによりシール固定されている。水冷電極81,81の間には屈曲されたタングステン等よりなる第二のヒーターであるヒーター板82が、ヒーター押え81c,81cによりそれぞれ固定されている。各水冷電極81における外側には二重構造の内筒81d,外筒81eが設けられ、注水口87aから供給された冷却水が内筒81dから外筒81e及び排水口87bを介して外部に排出され、水冷電極81全体が冷却される。また、必要に応じて、注入口88aからガス等が注入され、排出口排出口88bから密閉空間AS内の気体が吸引排出される。
【0039】
ヒーター板82の上側中心部にはルツボ83が設置され、その中に試験材料89が入れられる。水冷電極81,81間にはヒーター板82と同材料の筒状熱シールド84が設けられている。この熱シールド84の上方には、観察孔84aが形成されている。また、この熱シールド84の下方に形成した孔84bを介して熱電対85がヒーター板82の下部に接続されている。熱シールド84は図示省略するが中央部で左右に分離可能となっており、試験材料89の交換を行うことができる。
【0040】
水冷電極81,81間に通電が行われると、ヒーター板82が発熱し、ルツボ83内の試験材料89が加熱される。各ヒーター64への通電を行うと熱シールド84がヒーター64で加熱され、ヒーター板82からの加熱による放熱を防止する。また、熱シールド84は、各ヒーター64の発熱部64aがヒーター板82により逆に加熱されることをも防ぐ。本実施形態では、ヒーター64及びヒーター板82双方の利用により、ルツボ83内の試験材料89を摂氏2500度程度まで昇温することが可能である。
【0041】
最後に本発明のさらに他の実施形態の可能性について列挙する。
上記実施形態ではヒーター64の左右に真空シール65cを設けることで試験材料3近傍の炉室62が外部と連通することを防いだ。
【0042】
上記実施形態では観察用密閉容器として赤外線集光加熱炉を用いたが、これ以外の加熱炉を用いても構わない。また、液体窒素やペルチェ素子により内部を冷却状態で温度制御するように観察用密閉容器を構成しても構わない。
【0043】
上記実施形態では試験材料3の両端から第一,第二引張軸51,52を離反方向に移動させて試験材料3に引張応力を加えた。しかし、図9,10に示すように、張出部51b,52bをさらに突き出して掛止突起51a,52aの位置を左右入れ替えることで、第一,第二引張軸51,52を互いに離反方向を移動させた場合に、掛止突起51a,52aを互いに近接させて試験材料3に対し圧縮応力を加えるように構成することも可能である。52には長孔52fを設けて51bから突出する掛止突起51aを貫通させてある。また、掛止突起51a,52aの各先端に斜面Sを設けると、試験材料3の小孔3aへの嵌合が容易である。本実施形態では、掛止突起51a,52aを、その先端に向かうほど互いに近接するように傾斜させてあり、試験材料3に圧縮応力が加わるほど張出部51b,52bへ押し付けられるように構成してある。
【0044】
上記各実施形態では、試験材料3に引張又は圧縮応力を静的に加えたが、これらの応力を繰り返し荷重として動的に加えるように使用してもよい。また、ヒーターによる加熱及び非加熱等を繰り返して行うようにしてもよい。
【0045】
上記実施形態では、各ヒーター64を棒状に形成すると共に炉本体61を二箇所で貫通させ、このヒーター64の両端で各端子64dを外部に露出させた。しかし、一対の端子64d,64dを棒状の管部の一方に設け、この一対の端子64d,64d側のみの一箇所でヒーター64を炉本体61に貫通させてもよい。また、空洞体64fは円柱状の管部として構成するのみならず、球状に形成してもよい。このとき、炉室は楕円面の回転体として構成することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる応力付与観察システムの概要を説明するための線図である。
【図2】第一連結体の比較例を示す線図である。
【図3】試験器の要部平面図である。
【図4】赤外線集光加熱炉の縦断面図である。
【図5】図4のA−A線断面図である。
【図6】第一連結体近傍の縦断面図である。
【図7】シール筒近傍の縦断面図である。
【図8】試験材料設置部近傍の平面図である。
【図9】第二実施形態に係る試験材料設置部近傍の側面図である。
【図10】図9の平面図である。
【図11】赤外線集光加熱炉の異なる使用形態を示す図5相当図である。
【図12】赤外線集光加熱炉の第三実施形態を示す図4相当図である。
【図13】図12のB−B線断面図である。
【符号の説明】
1 応力付与観察システム
2 対物レンズ
3 試験材料
3a 小孔
10 応力付与観察装置
20 台座
21 脚部
22 基台
23 第一可動台
23a,24a 操作ハンドル
24 第二可動台
30 試験器
31 第一クロスヘッド
32 第二クロスヘッド
33 リニアガイド
34 スライダ
35 横張出部
36 縦張出部
37 軸受
38 ボールねじ
38a 右ねじ
38b 左ねじ
39a 第一可動ねじ
39b 第二可動ねじ
40 駆動モーター
41a,41b 駆動ベルト
42 ロータリーエンコーダー
43 伝導ベルト
44 上台
45 第一連結体
46 第二連結体
47 固定ベース
47a 固定ボルト
47b 連続ボルト
47c コードシール部
47’ 固定引張軸
48 内側筒状体
48a 内部空間
48b ひずみゲージ
48b1取付具
48b2取付ねじ
48b3コード
48c 直動支持体
49 真空シール(相対移動可能)
51 第一引張軸
52 第二引張軸
51a,52a 掛止突起
51b,52b 張出部
52c 雄ねじ
52d ナット
52e 段差
52f 長孔
60 赤外線集光加熱炉(観察用密閉容器)
61 炉本体(密閉容器本体)
61a 脚部
61b 冷媒通路
61c 連通路
61d 開口
61e 真空シール
61f 第一注入口
61g 第二注入口
62 炉室(密閉室)
63 蓋部
63a 観察窓
63b 石英ガラス
63c 開口板
63d 円錐孔
63e 第三注入口
63f 封止ねじ
63g 円弧面
63h 鍔部
64 ヒーター
64a 発熱体
64b 導線部
64c 接合箔
64d 端子
64e 碍子
64f 透明の管部(空洞体)
65a ヒーター固定ベース
65b ヒーター固定蓋
65c 真空シール
66 第一開口部材
66a フランジ
66b 真空シール
66c 第一クランプ
66c’シール箔
66d 真空シール
67 第二開口部材
67a フランジ
67b 真空シール
67c 第二クランプ
68 吸引口
68a フランジ
68b 真空シール
68c 第三クランプ
69 管
69a 切欠部
70 外側筒状体
70a フランジ
71 シール筒
72 真空シール(相対移動可能)
73 吸引管
75 注入口
76 封止ねじ
77 封止ねじ
AS 密閉空間
E 楕円
F1 一方の焦点
F2 他方の焦点
S 斜面
78a 熱電対
78b ルツボ
79 試験材料
80 赤外線集光加熱炉(観察用密閉容器)
81 水冷電極
81a 基部
81b 絶縁筒
81c ヒーター押え
81d 内筒
81e 外筒
82 ヒーター板(第二のヒーター)
83 ルツボ
84 熱シールド
84a 観察孔(貫通孔)
84b 孔
85 熱電対
86a 電極固定蓋
86b 真空シール
87a 注水口
87b 排水口
88a 注入口
88b 排出口
89 試験材料。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an infrared high-temperature heating furnace including a furnace main body that contains a test material and has a furnace chamber that can be depressurized, and a heater for heating the test material with infrared rays, and a heater used therefor.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as an infrared high-temperature heating furnace for heating a test material in a high-temperature vacuum or gas atmosphere, for example, a high-temperature observation furnace described in Japanese Patent Laid-Open No. 5-288977 is known. According to the high-temperature observation furnace disclosed in the publication, the furnace body is composed of an elliptical sphere or a spheroid, and the test piece placed in the focusing focal point is placed in a reduced pressure atmosphere. It is partitioned by a glass plate. And in order to prevent the discharge between the terminals of a heater under pressure reduction, the heater is installed in air | atmosphere. According to the observation furnace, it is possible to closely observe the test material with a microscope outside the furnace while heating the test material with a heater.
[0003]
However, according to the prior art, the configuration is complicated because the glass plate crosses the furnace body. In addition, since the infrared rays emitted from the heater are partially absorbed by the glass plate, the heating efficiency of the test material has been reduced accordingly. A high-temperature observation furnace in which a glass tube for airtightness is separately provided inside the heater is also known, but has the same disadvantages.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In view of such conventional circumstances, an object of the present invention is to provide an infrared high-temperature heating furnace having a simple configuration and excellent heating efficiency of a test material, and a heater used therefor.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a feature of an infrared high-temperature heating furnace according to the present invention is provided with a furnace body having a furnace chamber that houses a test material and can be depressurized, and a heater for heating the test material with infrared light. The heater has a transparent cavity, a pair of terminals, a heating element, and a conductor portion positioned between the terminals and the heating element, and is penetrated by the cavity body on the side of the furnace body. The heating element is positioned in the furnace chamber and the terminals are positioned outside the furnace chamber, and the furnace chamber is kept sealed by providing a seal between the furnace body side portion and the cavity body, and the conductor portion is By disposing the heating element inside the contact portion of the seal by being positioned at the contact portion of the seal, the deterioration of the seal due to heat generated by the heating element is prevented.
[0006]
According to the characteristic configuration, the furnace chamber can be sealed from the outside with a simple configuration in which a seal is provided between the transparent cavity and the furnace body. Moreover, there is no inconvenience that the seal burns out due to the presence of the conductor portion. Further, since a glass plate or glass tube for airtightness is not interposed between the heater and the test material, the heating efficiency is excellent.
[0008]
Further, if the heater is formed in a rod shape and the furnace chamber is formed in a cylindrical shape along the rod-shaped heater, and the heater is passed through a pair of through holes formed on the furnace body side, the furnace body Can be manufactured at low cost. Moreover, by heating the test material along the longitudinal direction with a heater longer than the test material with a margin, it becomes possible to maintain the observed portion near the center of the test material in a good temperature distribution state. is there.
[0009]
In order to heat the test material at a higher temperature, a second heater may be provided in the furnace chamber and the test material may be installed on the second heater. At this time, by providing a cylindrical heat shield around the test material and the second heater, the temperature of the test material on the second heater is prevented from lowering, and other heaters are heated. To prevent that. The furnace body may have a transparent observation window, and the through hole for observing the test material may be formed on the observation window side of the heat shield.
[0011]
【The invention's effect】
As described above, according to the feature of the infrared high-temperature heating furnace according to the present invention, a simple configuration in which a seal is provided between the transparent cavity body and the furnace body, and the airtightness is provided between the heater and the test material. Therefore, it is possible to provide an infrared high-temperature heating furnace excellent in the heating efficiency of the test material and the heater used therefor without the glass plate for the purpose.
[0012]
Other objects, configurations, and effects of the present invention will become apparent from the following embodiments of the present invention.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings.
The stress
[0014]
The
[0015]
The
[0016]
The
[0017]
As shown in FIGS. 1, 3 to 8, an infrared
[0018]
As shown in FIG. 6, the first connecting
[0019]
On the other hand, as shown in FIG. 7, the second connecting
[0020]
As shown in FIGS. 4 and 5, the infrared
[0021]
The
[0022]
The
[0023]
The
[0024]
The
[0025]
The
[0026]
Further, in order to prevent the
[0027]
As shown in FIGS. 1, 5, and 8, the
[0028]
As shown in FIGS. 4, 5, and 8, a
[0029]
As shown in FIGS. 1, 5, and 6, an outer
[0030]
As shown in FIGS. 1, 5, and 7, the
[0031]
Next, how to use the above-described stress
First, the
[0032]
Then, the
[0033]
By the action of the
[0034]
In the present embodiment, the
[0035]
Next, with reference to FIG. 11, different usage forms of the infrared
[0036]
In the test, the
[0037]
Next, another embodiment of the infrared condensing heating furnace will be described with reference to FIGS.
In the embodiment, four ellipses E sharing the first focal point F1 are arranged in the furnace
[0038]
This embodiment is different from the previous embodiment in that a pair of water-cooled
[0039]
A
[0040]
When energization is performed between the water-cooled
[0041]
Finally, the possibilities of further embodiments of the present invention will be enumerated.
In the above embodiment, the
[0042]
In the above embodiment, the infrared condensing heating furnace is used as the observation closed container, but other heating furnaces may be used. Moreover, you may comprise the observation airtight container so that temperature control may be carried out in the cooling state by liquid nitrogen or a Peltier device.
[0043]
In the above embodiment, the first and second
[0044]
In each of the above embodiments, tensile or compressive stress is statically applied to the
[0045]
In the above embodiment, each
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining an outline of a stress application observation system according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a comparative example of the first connector.
FIG. 3 is a plan view of a main part of the tester.
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of an infrared condensing heating furnace.
5 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.
FIG. 6 is a longitudinal sectional view in the vicinity of the first connector.
FIG. 7 is a longitudinal sectional view of the vicinity of a seal cylinder.
FIG. 8 is a plan view of the vicinity of a test material installation portion.
FIG. 9 is a side view of the vicinity of a test material installation section according to a second embodiment.
FIG. 10 is a plan view of FIG. 9;
FIG. 11 is a view corresponding to FIG. 5 showing a different usage form of the infrared condensing heating furnace.
FIG. 12 is a view corresponding to FIG. 4 showing a third embodiment of the infrared condensing heating furnace.
13 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
51
61 Furnace body (sealed container body)
61a Leg
63
65a heater fixed
73
81 Water-cooled electrode 81a Base
83
Claims (5)
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103206858A (en) * | 2013-04-09 | 2013-07-17 | 河南工程学院 | Preheated-type labyrinth heating furnace |
| CN103954128A (en) * | 2013-12-12 | 2014-07-30 | 清华大学 | Heating furnace |
| CN104011491A (en) * | 2011-12-02 | 2014-08-27 | 独立行政法人产业技术综合研究所 | Converging mirror furnace |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008082861A (en) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Rigaku Corp | Thermal analysis device |
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| DE102010008486B4 (en) * | 2010-02-18 | 2012-02-16 | Netzsch-Gerätebau GmbH | Temperature control device for thermoanalytical investigations |
| EP2754458B1 (en) | 2011-07-12 | 2017-02-01 | Sorin Group Italia S.r.l. | Dual chamber blood reservoir |
| CN107655929A (en) * | 2017-08-10 | 2018-02-02 | 全球能源互联网研究院 | A kind of multi-temperature zone tube furnace |
| CN109269882B (en) * | 2018-11-05 | 2024-08-06 | 西安热工研究院有限公司 | High-temperature endurance test fixture with atmosphere environment |
| CN110252431B (en) * | 2019-06-20 | 2023-09-12 | 浙江大学 | Fixed experimental cabin used in hypergravity environment |
| CN114308176A (en) * | 2021-12-30 | 2022-04-12 | 湖北三江航天红阳机电有限公司 | Adjustable radiant heating test device |
| CN115072012A (en) * | 2022-04-28 | 2022-09-20 | 扬州睿炬科技有限公司 | Thermal examination test system for thermal protection structure of hypersonic aircraft |
| CN115416880A (en) * | 2022-04-28 | 2022-12-02 | 扬州睿炬科技有限公司 | A method of using a thermal assessment test system for a hypersonic vehicle |
| CN119198823B (en) * | 2024-11-27 | 2025-02-28 | 常州海弘电子有限公司 | Circuit board heat resistance performance testing device and method |
-
1999
- 1999-12-14 JP JP35423799A patent/JP4090170B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104011491A (en) * | 2011-12-02 | 2014-08-27 | 独立行政法人产业技术综合研究所 | Converging mirror furnace |
| CN103206858A (en) * | 2013-04-09 | 2013-07-17 | 河南工程学院 | Preheated-type labyrinth heating furnace |
| CN103206858B (en) * | 2013-04-09 | 2014-12-10 | 河南工程学院 | Preheated-type labyrinth heating furnace |
| CN103954128A (en) * | 2013-12-12 | 2014-07-30 | 清华大学 | Heating furnace |
| CN103954128B (en) * | 2013-12-12 | 2015-10-28 | 清华大学 | Heating furnace |
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