JP4058952B2 - 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 73
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 93
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 32
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 14
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 5
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 5
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 6
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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- G01R31/60—Identification of wires in a multicore cable
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は端子抜け及び端子同士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置に関するものであり、特に、複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネクタの端子抜け及び端子同士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置である。
【0002】
【従来の技術】
一般にワイヤハーネスは、複数の電線をコネクタで接続し、所定の回路網を形成した電気配線システムである。このワイヤハーネスに採用されるコネクタは、樹脂製のハウジングにキャビティを設け、このキャビティに金属製の端子を挿入したものである。キャビティに挿入した端子をハウジングに固定するために、端子とハウジングの一方にはランスと呼称される弾性突起を片持ち状に設け、他方に設けた係止凹部にこの弾性突起を嵌合させるようにしている。また、一般的なコネクタにおいては、端子とハウジングとのロック状態をより堅固なものにするため、リテーナと呼称される係止部材をハウジングに組み付ける二重係止形式を採用している。
【0003】
上記ワイヤハーネスを製造する際には、各コネクタの電気接続状態(配線の良否や接続状態の良否)を検査するために導通検査が行われる(特開平07−65923号公報)。
【0004】
この種の検査装置は、ハウジング内に端子が収容されているコネクタが装着されるコネクタホルダと、このコネクタホルダに接離可能に配置され、上記端子の導通を検査する検査部と、コネクタホルダと検査部とを相対的に接近させる検査姿勢と、コネクタホルダと検査部とを相対的に離間させる姿勢との間でコネクタホルダと検査部とを相対的に変位させる変位手段とを備えている。検査のときには、コネクタをコネクタホルダに装着し、その状態で変位手段を操作し、検査部をコネクタホルダに接近させる。すると、各検出子が各端子と接触して導通状態が検査される。
【0005】
この際、リテーナが採用されているコネクタにおいては、検査部に設けた検出子に強い付勢力を持たせたいわゆる2プローブピンを採用し、嵌合不良を来している端子については、ハウジングの外側に不良を来した端子が押し出されるようにしている。
【0006】
ところで、最近では、複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネクタがワイヤハーネスに採用される場合がある。このようなハウジング組付式のコネクタの導通を検査するためには、各ハウジングがカバーに組み付けられる前に各ハウジングの導通を検査し(以下、この導通検査を「一次検査」という)、さらにハウジングがカバーに組みつけられた状態で全体の導通を検査する(以下、この導通検査を「二次検査」という)ことが必要である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記ハウジング組付式のコネクタの各ハウジングは、カバーに組み付けるための要請から、内部の全キャビティと連通する連通溝が外側壁に形成されて、カバーに設けたリブを組付時にこの連通溝に嵌合させることにより、リテーナとして機能させる仕様になっている。したがってこのハウジングの一次検査の段階においては、ハウジングにリテーナがない状態であり、上述のような2プローブ形式の検出子を使用することができない。そのため、端子の嵌合不良を一次検査の段階で検出することができないという問題があった。
【0008】
また、上記連通溝から端子に接続された電線の芯線部分がはみ出している場合には、カバーに組み付ける際に、電線同士が短絡するおそれもあり、その状態を二次検査で検出していたのでは、手戻りが大きくなるという問題があった。
【0009】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、一次検査で可及的にコネクタの不具合を検出することのできる導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置を提供することを課題としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、
被覆電線の芯線に電気的に接続された端子と、この端子が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるとともに、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が嵌合することにより上記ハウジングに対し端子が所定の抜止位置で抜け止めされるように構成された上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニットであって、
上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能に保持するハウジングホルダと、
このハウジングホルダに設けられ、当該ハウジングホルダに装着されるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の異常検出子と、
上記ハウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を有して導通検査する導通検査部と、
この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変位手段と、
を備え、上記異常検出子は、上記変位手段による変位の状態にかかわらず、上記抜止位置まで挿入されている端子及び上記連通溝内に露出していない芯線に対しては非接触となり、かつ、上記抜止位置よりも浅い挿入位置にある端子及び上記連通溝内に露出した位置にある芯線に対しては接触するように、上記ハウジングの連通溝内に導入可能な形状を有することを特徴とする導通検査ユニットである。
【0011】
この発明では、上記カバーに装着される前のハウジングを着脱ポジションにあるハウジングホルダにセットする。この際、異常検出子がハウジングの連通溝に導入される。次に、変位手段を用いて導通検査部とハウジングホルダとを相対的に近接することで、導通検査装置は検査ポジションとなる。ここで本発明の対象となるハウジング組付式コネクタのハウジングにおいては、カバーに形成されたリテーナ部が嵌合する連通溝に異常検出子が導入されるので、この連通溝に電線がはみ出している場合や、端子が位置ずれを来している場合には、導電性の異常検出子と接触することにより、電気的にこれらを検出することが可能になる。
【0012】
好ましい態様において、
上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジングを同時に保持可能に構成されている。
【0013】
この態様では、カバーに組み付けられる前の各ハウジングの導通検査をカバーに組み付けた状態を想定して検査することができる。
【0014】
本発明の別の態様は、
上記導通検査ユニットと、
この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端子の接続状態を検査する導通検査回路と
を備え、上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とする導通検査装置である。
【0015】
この態様では、導通検査回路に接続された導通検査ユニットの各接続子によって各端子の接続状態(接続の良否や接続されている極の良否)を検査することができるとともに、導通検査回路に異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されることにより、導通検査回路によって異常検出子が何れの極の端子と短絡しているかを識別することも可能になる。このため、導通検査ユニットを検査ポジションに変位し、導通検査部によってハウジング内の各端子の導通検査が行なうに当たり、この導通検査とともに、異常検出子によって、短絡や抜けを来した端子を特定することも可能になる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明の好ましい実施形態について詳述する。
【0017】
図1は、本発明の実施形態に係るハウジング組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図であり、図2は同コネクタに採用されているハウジングの斜視図である。
【0018】
図1及び図2を参照して、このコネクタは、合成樹脂の成型品であるハウジング1と、このハウジング1に挿入される金属製の端子2と、二つのハウジング1を収容可能なカバー3から構成される。
【0019】
図2を参照して、ハウジング1は、端子2が挿入されるキャビティ1aと、端子2を相手側のコネクタへ電気的に接続する連絡孔1bと、端子2をハウジング1に係止する係止孔1cと、連通溝1dとを含んでいる。係止溝1dは、上面L字型に形成され、コネクタ側面において各キャビティとハウジング1外部とを連通している。
【0020】
端子2は、金属製の端子本体2aを有している。この接続部2aの前部端面はハウジング1の上記連絡孔1bに臨み、後部端面2bには芯線バレル2cが設けられる。芯線バレル2cは、被覆電線Wの芯線に圧着される。また、端子本体2aの側面には、ハウジング1に対する挿入位置決め用のスタビライザ2dが長手方向に沿って延設される。さらに端子本体2aの側面略中央部において係止爪2eが設けられる。
【0021】
端子2がハウジング1のキャビティ1aに挿入されると、当該端子2の係止爪2eはハウジング1の連通溝1dを通過し、係止孔1cに係止する。この係止によって、ハウジング1に端子2がロックされる。
【0022】
図1を参照して、カバー3は、合成樹脂製の成型品であり、コネクタ収容部3aと、係止リブ3bと、端子連絡孔3cから構成される。コネクタ収容部3aは、カバー3に並設されるとともに、二つのコネクタを同方向に収容する。係止リブ3bは、コネクタ収容部3a内に突設され、挿入されるコネクタの連通溝1dに嵌入される。端子連絡孔3cは、挿入されるコネクタの連絡孔1bに対応する位置でコネクタ収容部3aとカバー3の外部とを連通させる。
【0023】
図3は、図1のコネクタにおけるハウジング1と端子2とカバー3との関係を示す断面拡大略図である。以下図3を参照して説明する。
【0024】
各ハウジング1がカバー3に収容されると、連通溝1dと係止リブ3bが係合される。この係合によって、ハウジング1と端子2は二重係止構造をとることで強固に固定される。すなわち、係止リブ3bの基端が端子2の後部端面2bを支持するため、端子2はハウジング1から抜けることはない。また、連通溝1dと係止リブ3bとの係合によって、ハウジング1とカバー3も固定される。したがって、カバー3に収容された各ハウジング1は、あたかも一つのコネクタとして取り扱うことができる。
【0025】
このように構成されるコネクタを採用したワイヤーハーネスを製造するには、以下の検査をする必要がある。その検査とは、各ハウジング1がカバー3に組み付けられる前に各ハウジング1の導通を検査する一次検査と、各ハウジング1がカバー3に組み付けられた状態における全体の導通を検査する二次検査である。
【0026】
図4は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット10と、これを含む導通検査装置100との関係を示す概念図である。以下図4を参照して説明する。
【0027】
本実施形態に係る導通検査装置100は、電気配線システムとしてのワイヤーハーネスWHの検査装置として、当該ワイヤーハーネスWHの導通を検査するために具体化されたものである。ワイヤーハーネスWHは所定の回路網を形成した電気配線システムであり、その基端にはコネクタC1〜C6が設けられている。なお、コネクタC1〜C6は、ワイヤーハーネスWHの仕様に応じて様々なものが採用されており、本実施形態においては、C1が対象となるコネクタ(図1〜図3)であるものとして以下説明する。
【0028】
図示の例において、導通検査装置100は、検査図板101の上に配設され、検査対象となるワイヤーハーネスWHに設けられた複数のコネクタC1〜C6毎に設けられた導通検査ユニット10a〜10fと、各導通検査ユニット10と通信可能に接続された検査装置60とを備えている。
【0029】
図5は、図4における導通検査ユニット10aの外観斜視図であり、図6は導通検査ユニット10aの分解斜視図である。以下図5及び図6を参照して説明する。
【0030】
導通検査ユニット10aは、略長方形で板状の合成樹脂からなるベース20を備えている。ベース20の上には、その一端部に固定され、二つのハウジング1を収納可能なハウジングホルダ30と、このハウジングホルダ30と隣接してベース20と相対的に可動な状態で設置される検査部40と、この検査部40をハウジングホルダ30に対して相対的に変位させるトグル機構50とが設けられている。なお、以下の説明ではベース20の長手方向において、このハウジングホルダ30が固定されている側を仮に前方とし、ベース20の厚み方向において、ハウジングホルダ30が固定されている側を上方としている。
【0031】
図6を参照して、上記ハウジングホルダ30は、ホルダ後端部31と、ホルダ中央部32と、ホルダ前方部33とをボルト34の螺合によって一体に形成されている。このとき、ボルト34は、導線35を介してハウジングホルダ30に組み付けられる。
【0032】
ホルダ後端部31は、上方へ向けて開口部をもった前面視E字型の合成樹脂からなる板状部材である。
【0033】
ホルダ中央部32は、上方へ向けて開口部をもった前面視E字型の導電性金属からなる板状部材である。また、ホルダ中央部32の後方基端部には、検出子(異常検出子)32aが設けられる。ハウジング1がハウジングホルダ30に装着されると、この検出子32aは、ハウジング1の連通溝1dに嵌入される。
【0034】
ホルダ前方部33は、上方へ向けて開口部をもった前面視E字型の合成樹脂からなる板状部材である。
【0035】
ボルト34は、導電性金属からなり、上記螺合の際にホルダ中央部32と電気的に接続される。
【0036】
導線35は、その一端がボルト34と電気的に接続され、他端が検査装置60(図4)と接続され、端子2同士の短絡や、端子抜けの状態を検査できるように構成されている。
【0037】
また、ハウジングホルダ30には、スライドピン36が圧入される。このスライドピン36は、圧縮ばね37が外挿されるとともに、その後端部が検査部40に対して摺動可能に挿入される。このように、圧縮ばね37は、ハウジングホルダ30と検査部40の間で縮設される結果、検査部40を後方に付勢する。
【0038】
ハウジングホルダ30は、ベース20に設けられたねじ孔21を介して、図略のボルトによってベース20に固定される。
【0039】
同図を参照して、検査部40は、合成樹脂成型品又は切削品であるブロック体41を含んでいる。このブロック体41は、略立方体形状で、前方に開くプローブ室Sを有している。このプローブ室Sには、ハウジングホルダ30に装着されるハウジング1に対応する位置にプローブ42が設けられる。このプローブ42の後端部は導線43を介してアダプタ44へ接続される。このアダプタ44は、導通検査装置60(図4)と接続され、各端子2の電気的な導通状態を検査できるように構成されている。
【0040】
また、検査部40の下端部は、ベース20の前後方向に設けられた鉤状のレール22と摺動可能に嵌合されている。したがって、検査部40は、ベース20に対して前後方向に移動できるとともに、ベース20から上方へ離脱することがない。
【0041】
導通検査ユニット10aに採用されている変位手段の一例としてのトグル機構50は、ベース20の後端部に立設された一対の支持部51を含んでいる。この支持部51には、ハンドル52が軸A1によって回動可能に支持されている。ハンドル52は、軸A1の近傍で検査部40の後部端面に当設するカム状の加圧部53と、手動操作用の把手部54とを備えている。上記加圧部53の周面には、加圧面53aが形成されている。この加圧面53aには、上記検査部40のブロック体41が上記圧縮ばね37の付勢力によって常時押圧されている。
【0042】
図7は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット10aと検査装置60の回路構成図であり、以下図7を参照して説明する。
【0043】
図7は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット10aと検査装置60の回路構成図であり、以下図7を参照して説明する。
【0044】
同図に示すように、本実施形態に係る検査装置60は、各導通検査ユニット10a〜10fに接続される検査回路61と、この検査回路61を制御する制御部62とを有している。
【0045】
検査回路61は、周知の導通検査機と同様の構成であり、本実施形態のC1を検査する導通検査ユニット10aの各プローブ42は、他の導通検査ユニット10b〜10fのプローブ142(図7にのみ図示)と同様に、この検査回路61に電気的に接続されている。これにより検査回路61は、制御部62の制御に基づいて検査信号をワイヤーハーネスWHに流して、ワイヤーハーネスWHの導通状態を検査することができるようになっている。さらに、この検査回路61には、導通検査ユニット10aに設けた検出子32aが回路35によって電気的に接続されている。
【0046】
制御部62は、CPU(中央演算処理装置)62aと、このCPU62aと接続されるメモリ62bと、処理内容及び処理結果を表示する表示部62cとを有している。
【0047】
メモリ62bには、CPU62aが導通検査処理を行なうための導通検査プログラムが記憶されている。また、メモリ62bは、CPU62aの作業領域として使用される。さらにメモリ62bは、検査対象となるワイヤーハーネスWHに形成されるべき回路網の接点の導通情報を基準データとして記憶するとともに、読み取り情報を検査データとして記憶するように設定されている。
【0048】
上記検査プログラムにおいて、上記回路35は、通常、端子2と非接触状態(あるいは挿入されていない状態)にあるのが正常となるように設定されている。
【0049】
したがって、上記導通検査プログラムに基づき、検査回路61がワイヤーハーネスWHの接続状態を検査すると、通常の導通検査と同様に、ワイヤーハーネスWHは、A端側の端子2とB端側の端子2との導通が検査される(即ちA1とB1、A2とB2、A3とB3、・・・AnとBn)とともに他回路との短絡有無が検出される。さらにコネクタC1において、端子抜けや芯線はみ出しが発生すると、コネクタC1内の何れかの端子2が検出子32aと接触することになるので、回路35が該当する端子の回路と短絡し、異常と判定されることになる。
【0050】
図8は、図4における導通検査ユニット10aの側面断面図を示したものである。(イ)はハウジングホルダ30と検査部40が離反した状態(以下着脱ポジションと示す)、(ロ)はハウジングホルダ30と検査部40が近接した状態(以下検査ポジションと示す)を示している。
【0051】
図9は、本発明の実施形態に係るコネクタC1のハウジング1と端子2と検出子32aの関係を示す断面拡大略図である。(イ)は正常の状態、(ロ)は端子抜けによる不良状態、(ハ)は導線Wの圧着不良の状態をそれぞれ示している。
【0052】
図7、図8及び図9を参照して以下説明する。
【0053】
図8の(イ)状態で導通検査ユニット10aは、ハウジングホルダ30と検査部40が離反した状態にあるため、作業者は検査対象であるコネクタC1を装着することができる。この状態でハンドル52を上記軸A1を中心にして時計回りに回動することにより、ブロック体41が前方に押動されるとともに、所定量回動させることにより、軸A1と協働してブロック体41がトグル状にロックされ、導通検査ユニット10aは図8の(ロ)に示す検査ポジションとなる。
【0054】
検査ポジションとなった導通検査ユニット10aの各プローブ41は、コネクタC1の対応する端子2に当接し、端子2の導通検査を行なう。また、この導通検査と同時に上記検出子32aに接続された導線35によって、端子同士の短絡及び、端子抜けの検出が行なわれる。
【0055】
すなわち、図9の(イ)の状態では、検出子32aは端子2の後部端面2bと干渉していないため、検出子32aと各端子2とは電気的に接続されていない。そして、図7の検査装置60のメモリ62bには、検出子32aと各端子2が非接触状態である回路構成が良品であると記憶されているため、図9の(イ)の状態は良品であると表示部62cに表示される。
【0056】
また、図9の(ロ)の状態では、端子2の係止爪2cがハウジング1の係止孔1cと係合していない状態、すなわち端子抜けの状態となっている。この状態では、端子2の後部端面2bと検出子32aが当接しているため、端子2と検出子32aは電気的に接続している。この回路構成は、検査装置60のメモリ62bに記憶された良品回路構成と相違する。そのため、図9の(ロ)の状態では、端子抜けを生じた端子2が特定され、検査対象のコネクタC1が不良品であると表示部62cに表示される。
【0057】
さらに、図9の(ハ)の状態では、端子2と導線Wの圧着不良によって、被覆電線Wの芯線W1が連通溝1d内に露出している。この状態では、図9の(ロ)と同様に端子2と検出子32aが電気的に接続するため、検査対象のコネクタC1が不良品であると表示部62cに表示される。なお、芯線W1は、検出子32aが装着されることによって隣接する別の端子2へと導かれ、双方の端子2同士が短絡する場合がある。この場合には、短絡する双方の端子2が特定され、検査対象のコネクタC1が不良品であると表示部62cに表示される。
【0058】
ところで、ハウジングホルダ30には、ハウジング1の形状が同じで内部回路構成がそれぞれ異なる二つのコネクタC1が装着されることがある。すなわち、カバー3には内部回路構成の異なる二つのハウジング1が嵌入されることがある(図1参照)。このような場合には、予めメモリ62bに二つの異なる回路構成を記憶させておくことで、ハウジングホルダ30へ装着されるハウジング1の種類違いが検出される。
【0059】
そして、導通検査が終了すると、作業者がハンドル52を反時計回りに回動すると、上述した圧縮ばね37の付勢力によって検査部40が後方へ押動し、導通検査ユニット10aは図8の(イ)に示す着脱ポジションへ復元する。この状態で作業者は、検査済みのコネクタC1をハウジングホルダ30から取り出す。
【0060】
このように構成された導通検査装置100は、ハウジング1の連通溝1dに嵌入される検出子32aをハウジングホルダ30に備えている。そして、検出子32aは、電気的に検査装置60へ接続されている。そのため、カバー3に嵌入される前のハウジング1に対する導通検査(一次検査)においてハウジング1への端子2の嵌合不良や、端子2同士の短絡を電気的に検出することができる。
【0061】
また、上記構成の検査装置60では、個々の端子2の接続状態や短絡状態を特定することができるので、単にカバー3へ嵌入されるハウジング1の種類違いを未然に防止することができるばかりでなく、いずれの端子2が不具合を来たしているかを特定することができるので、手直しも容易になる。
【0062】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ハウジングホルダに設けられた異常検出子によって、カバーにハウジングを組み付ける前の工程において各端子の導通検査と端子同士の短絡及び端子抜けの検出を行なうことができるので、端子の手直しが容易であるとともに、端子抜けを確実に防止することができる。したがって、従来、カバーにハウジングを組み付けた後でしか検出することのできなかった端子同士の短絡や、従来検出困難であった端子抜けをそれぞれ組付前に検出することができる。そのため、不良が発生した場合の手戻りが小さくなり、従来の検査と比較して作業性が向上される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態に係るハウジング組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図である。
【図2】 図1のコネクタに採用されているハウジングの斜視図である。
【図3】 図1のコネクタにおけるハウジングと端子とカバーとの関係を示す断面拡大略図である。
【図4】 本発明の実施形態に係る導通検査ユニットと、これを含む導通検査装置との関係を示す概念図である。
【図5】 図4における導通検査ユニットの外観斜視図である。
【図6】 図4における導通検査ユニットの分解斜視図である。
【図7】 本発明の実施形態に係る導通検査ユニットと検査装置の回路構成図である。
【図8】 図4における導通検査ユニットの側面断面図を示したものである。(イ)はハウジングホルダと検査部が離反した状態、(ロ)はハウジングホルダと検査部が近接した状態をそれぞれ示している。
【図9】 本発明の実施形態に係るコネクタのハウジングと端子と検出子の関係を示す断面拡大略図である。
【符号の説明】
1 ハウジング
1d 連通溝
2 端子
3 カバー
10 検査ユニット
30 ハウジングホルダ
32a 検出子(異常検出子)
40 検査部
41 プローブ
50 トグル手段
60 検査装置
100 導通検査装置
Claims (3)
- 被覆電線の芯線に電気的に接続された端子と、この端子が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるとともに、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が嵌合することにより上記ハウジングに対し端子が所定の抜止位置で抜け止めされるように構成された上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニットであって、
上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能に保持するハウジングホルダと、
このハウジングホルダに設けられ、当該ハウジングホルダに装着されるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の異常検出子と、
上記ハウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を有して導通検査する導通検査部と、
この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変位手段と、
を備え、上記異常検出子は、上記変位手段による変位の状態にかかわらず、上記抜止位置まで挿入されている端子及び上記連通溝内に露出していない芯線に対しては非接触となり、かつ、上記抜止位置よりも浅い挿入位置にある端子及び上記連通溝内に露出した位置にある芯線に対しては接触するように、上記ハウジングの連通溝内に導入可能な形状を有することを特徴とする導通検査ユニット。 - 請求項1記載の導通検査ユニットにおいて、
上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジングを同時に保持可能に構成されていることを特徴とする導通検査ユニット。 - 請求項1または2記載の導通検査ユニットを用いた導通検査装置において、
上記導通検査ユニットと、
この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端子の接続状態を検査する導通検査回路と
を備え、上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とする導通検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002022001A JP4058952B2 (ja) | 2002-01-30 | 2002-01-30 | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 |
| US10/351,494 US20030141878A1 (en) | 2002-01-30 | 2003-01-27 | Continuity test unit and system |
| CNB031035205A CN1209856C (zh) | 2002-01-30 | 2003-01-28 | 连续性测试单元和系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002022001A JP4058952B2 (ja) | 2002-01-30 | 2002-01-30 | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003222647A JP2003222647A (ja) | 2003-08-08 |
| JP4058952B2 true JP4058952B2 (ja) | 2008-03-12 |
Family
ID=27606335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002022001A Expired - Fee Related JP4058952B2 (ja) | 2002-01-30 | 2002-01-30 | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20030141878A1 (ja) |
| JP (1) | JP4058952B2 (ja) |
| CN (1) | CN1209856C (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7368919B2 (en) * | 2004-09-02 | 2008-05-06 | Ziota Technology Inc. | Wireless portable automated harness scanner system and method therefor |
| JP4508080B2 (ja) * | 2005-10-26 | 2010-07-21 | ソニー株式会社 | 電子機器、送信システム及び接続状態判定方法 |
| DE202006006626U1 (de) * | 2006-04-26 | 2007-09-06 | Weidmüller Interface GmbH & Co. KG | Verbindungs- und Schaltvorrichtung |
| TW200804819A (en) * | 2006-07-12 | 2008-01-16 | Escort Instr Corp | A test lead plugged detection circuit and the method using the same |
| CN100523845C (zh) * | 2007-07-24 | 2009-08-05 | 华为技术有限公司 | 一种检测金手指中有无断针的方法和系统 |
| JP5674097B2 (ja) * | 2009-12-04 | 2015-02-25 | 矢崎総業株式会社 | ワイヤハーネス導通検査装置、ワイヤハーネス導通検査プログラムおよびワイヤハーネス導通検査方法 |
| JP5674098B2 (ja) * | 2010-02-08 | 2015-02-25 | 矢崎総業株式会社 | ワイヤハーネス導通検査装置、ワイヤハーネス導通検査プログラムおよびワイヤハーネス導通検査方法 |
| US9020685B2 (en) * | 2010-02-23 | 2015-04-28 | Honda Motor Co., Ltd. | Method of measuring contact failure and contact failure measuring device |
| EP2400312A1 (en) * | 2010-06-14 | 2011-12-28 | Tyco Electronics AMP España S.A. | Termination and checking hand tool |
| CN102315549B (zh) * | 2010-07-02 | 2013-08-21 | 艾恩特精密工业股份有限公司 | 具封装注塑材料的电连接器及其组装方法 |
| CN102338837A (zh) * | 2010-07-20 | 2012-02-01 | 广东易事特电源股份有限公司 | 一种端子连接检测装置 |
| US10088501B2 (en) | 2010-11-24 | 2018-10-02 | Ziota Technology Inc. | Universal mate-in cable interface system |
| US8547108B2 (en) | 2010-11-24 | 2013-10-01 | Ziota Technology Inc. | Universal mate-in cable interface system |
| US9810732B2 (en) | 2010-11-24 | 2017-11-07 | Ziota Technology Inc. | Universal mate-in cable interface system |
| CN103592555A (zh) * | 2012-08-16 | 2014-02-19 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 网络接口单体测试装置 |
| KR102179541B1 (ko) | 2013-12-30 | 2020-11-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치의 전압 발생 제어 방법 및 이를 수행하는 표시 장치 |
| JP6516521B2 (ja) * | 2015-03-19 | 2019-05-22 | 三菱航空機株式会社 | 電線束の判定装置 |
| CN107317640A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-11-03 | 国网湖南省电力公司 | 载波通信模块检测台 |
| JP6830466B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2021-02-17 | 矢崎総業株式会社 | ワイヤハーネス |
| JP7074726B2 (ja) * | 2019-07-18 | 2022-05-24 | 矢崎総業株式会社 | ワイヤハーネス製造システム及びワイヤハーネス製造方法 |
| CN112582851B (zh) * | 2019-09-29 | 2025-03-21 | 中核检修有限公司 | 记录仪校验辅助装置 |
| WO2024064868A2 (en) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Southwest Research Institute | Electrically insulated block-on-rotating-ring test unit and method |
| CN119542066B (zh) * | 2024-10-14 | 2025-10-17 | 三峡大学 | 一种便于判断触点松紧的接地开关 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3048116B2 (ja) * | 1995-04-13 | 2000-06-05 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ端子検査器 |
| JP3163597B2 (ja) * | 1995-10-12 | 2001-05-08 | 矢崎総業株式会社 | 付属品付コネクタの検査具 |
| US6731118B2 (en) * | 2001-06-07 | 2004-05-04 | Sumitomo Wiring System Ltd. | Connector inspection apparatus |
-
2002
- 2002-01-30 JP JP2002022001A patent/JP4058952B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-01-27 US US10/351,494 patent/US20030141878A1/en not_active Abandoned
- 2003-01-28 CN CNB031035205A patent/CN1209856C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003222647A (ja) | 2003-08-08 |
| US20030141878A1 (en) | 2003-07-31 |
| CN1209856C (zh) | 2005-07-06 |
| CN1435921A (zh) | 2003-08-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040611 |
|
| A977 | Report on retrieval |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071210 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101228 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111228 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |