JP3945640B2

JP3945640B2 - Temperature test device

Info

Publication number: JP3945640B2
Application number: JP2002173835A
Authority: JP
Inventors: 尚道山田; 宏敏米澤
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2002-06-14
Filing date: 2002-06-14
Publication date: 2007-07-18
Anticipated expiration: 2022-06-14
Also published as: JP2004023337A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、被試験物（通信機器など）の製造工程において、互いに異なる複数の温度条件で被試験物の特性試験を順次実行するための複数の計測器を用いた温度試験装置に関し、特に計測器や恒温槽などの制御ロジックの簡略化および試験効率の向上を実現した温度試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
たとえば特開２００１−８３０４１号公報に示された従来の温度試験装置においては、２槽の恒温槽を設置して各恒温槽にそれぞれ複数台数の被試験物を挿入し、温度遷移時間と試験処理時間とのバランスをとることにより、計測器による試験の効率化を実現している。
【０００３】
しかしながら、上記のような従来装置の場合、恒温槽の台数の変更や、各恒温槽の制御状態の変更や、試験内容の変更などに対応するためには、大幅の制御ロジックの変更が要求される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来の温度試験装置は以上のように、恒温槽の台数および制御状態や試験内容の変更に対応するために、大幅の制御ロジックの変更が必要となり、動作検証などを含む設備立ち上げのために膨大な時間を要するという問題点があった。
【０００５】
また、複数の試験を行うための複数の計測器のうち、１つの計測器を用いた試験中の期間においては他の計測器が停止しており、各計測器の個々の稼働率を向上させることができないという問題点があった。
【０００６】
この発明は上記のような問題点を解決するためになされたもので、計測器や恒温槽などの制御ロジックの簡略化および試験効率の向上を実現した温度試験装置を得ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る温度試験装置は、被試験物の製造工程において、互いに異なる複数の温度条件で被試験物の特性試験を順次実行するための温度試験装置であって、各温度条件に対応した特性試験を実行するための複数の計測器と、複数の計測器の一式に関連して設置された複数の恒温槽と、各計測器および各恒温槽の制御処理を行う制御機器とを備え、制御機器は、各恒温槽毎に制御タスクを割り当てることにより、各計測器による特性試験をマルチタスクで実行するとともに、各恒温槽をそれぞれ独立して非同期に運転するものである。
【０００８】
また、この発明に係る温度試験装置は、複数の被試験物の製造工程において、互いに異なる複数の温度条件で各被試験物の特性試験を順次実行するための温度試験装置であって、各温度条件に対応した特性試験を実行するための複数の計測器と、各計測器の制御処理を行う制御機器とを備え、制御機器は、各計測器を制御して被試験物の特性試験を実行する計測処理において、各計測器による計測・試験項目を、各計測に使用される計測器単位で分類して、特性試験を独立した試験処理タスクとして実行するとともにマルチタスクで実行することにより、各被試験物に対して並列試験を行うものである。
【０００９】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、制御タスクを管理するための総合制御管理タスクと、被試験物の特性試験に関連した試験割り当て知識のデータベースとを含むものである。
【００１０】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、試験処理タスクを管理するための総合制御管理タスクと、各被試験物の特性試験に関連した試験割り当て知識のデータベースとを含むものである。
【００１１】
また、この発明に係る温度試験装置は、制御機器と各計測器および各恒温槽とを相互通信可能に接続する通信用ハードウェアを備え、制御機器は、通信用ハードウェアによる特定機能の試験処理タスクを、複数起動を禁止して単独で起動させるとともに、各恒温槽に対する制御タスクのうち、上位の複数の制御タスクからの同時通信実行要求に対して先頭側から順次処理することにより、複数の制御タスクおよび試験処理タスクによる通信用ハードウェアの競合を回避したものである。
【００１２】
また、この発明に係る温度試験装置は、制御機器と各計測器とを相互通信可能に接続する通信用ハードウェアを備え、制御機器は、通信用ハードウェアによる特定機能の試験処理タスクを、複数起動を禁止して単独で起動させることにより、複数の制御タスクによる通信用ハードウェアの競合を回避したものである。
【００１３】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、各計測器の試験処理タスクと、各恒温槽の制御タスクとを、それぞれ個別に実行するための複数の制御機器を含むものである。
【００１４】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、各計測器の試験処理タスクを個別に実行するための複数の制御機器を含むものである。
【００１５】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、複数の通信機器を含むものである。
【００１６】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、各恒温槽の制御タスクと各計測器の試験処理タスクとに関連したプログラム実行メモリと、制御タスクおよび試験処理タスクのモジュール化された試験プログラムがそれぞれテキスト形式で記述された実行手順データと、実行手順データをプログラム実行メモリに読み込む実行手順データ読み込みモジュールと、プログラム実行メモリに読み込まれた実行手順データにしたがって一連の処理を実行するためのメイン処理モジュールと、実行手順データに基づく実行手順毎に独立した処理モジュールと、各計測器および各恒温槽のハードウェア毎に独立して処理モジュールから呼び出される制御モジュールと、通信機能および汎用演算機能の少なくとも一方を含む汎用処理モジュールとを備え、各モジュールを個々に独立して複数起動してマルチタスクを実行するものである。
【００１７】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、各計測器の試験処理タスクに関連したプログラム実行メモリと、試験処理タスクのモジュール化された試験プログラムがテキスト形式で記述された実行手順データと、実行手順データをプログラム実行メモリに読み込む実行手順データ読み込みモジュールと、プログラム実行メモリに読み込まれた実行手順データにしたがって一連の処理を実行するためのメイン処理モジュールと、実行手順データに基づく実行手順毎に独立した処理モジュールと、各計測器のハードウェア毎に独立して処理モジュールから呼び出される制御モジュールと、通信機能および汎用演算機能の少なくとも一方を含む汎用処理モジュールとを備え、各モジュールを個々に独立して複数起動してマルチタスクを実行するものである。
【００１８】
また、この発明に係る温度試験装置の制御機器は、試験プログラムにおいて、計測器を含む試験設備の構成を実行手順データに記述することにより、制御モジュールを呼び出すものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
以下、図面を参照しながら、この発明の実施の形態１について詳細に説明する。なお、各図において、対応する構成に対しては、同一符号が付されている。
図１はこの発明の実施の形態１を示すブロック構成図である。
【００２０】
図１において、１は制御機器であり、各種データの入出力を行う通信機器１ａと、各種タスク（後述する）に関連した試験プログラム１ｂとを有する。
２−１〜２−Ｎ１はＮ１個の計測器（以下、総称して「計測器２」と記す）であり、被試験物（後述する）の温度試験用の計測を行う。
【００２１】
３はＮ１対Ｎ２の端子構造のスイッチであり、Ｎ１個の第１端子Ａ１〜ＡＮ１（以下、総称して「第１端子Ａ」と記す）と、Ｎ２個の第２端子Ｂ１〜ＢＮ２（以下、総称して「第２端子Ｂ」と記す）とを有し、各計測器２とＮ２個の被試験物（後述する）との接続関係を決定する。
【００２２】
スイッチ３内の各端子Ａ、Ｂは互いにマトリクス状に接続可能に配列されており、制御機器１からの切換信号に応答して、第１端子Ａと第２端子Ｂとの組み合わせが任意となるように切換接続される。
たとえば、１つの第１端子Ａ１は、第２端子Ｂ１〜ＢＮ２のうちの任意の１つに接続され、このとき、他の第１端子は、他の第２端子の１つに接続され得る。
【００２３】
４−１〜４−Ｎ２はＮ２個の恒温槽（以下、総称して「恒温槽４」と記す）であり、各計測器２の一式に関連して設置されており、制御機器１からの制御信号により制御される。
【００２４】
５−１〜５−Ｎ２は恒温槽４と同数（Ｎ２個）の被試験物（以下、総称して「被試験物５」と記す）であり、それぞれ、対応した各恒温槽４内に配設されている。なお、各恒温槽４内の被試験物５は、それぞれ複数設置されてもよい。
【００２５】
６Ａ１〜６ＡＮ１はＮ１本の信号ケーブル（以下、総称して「信号ケーブル６Ａ」と記す）であり、各計測器２とスイッチ３内の各第１端子Ａとを１対１で接続している。
【００２６】
６Ｂ１〜６ＢＮ２はＮ２本の信号ケーブル（以下、総称して「信号ケーブル６Ｂ」と記す）であり、スイッチ３内の各第２端子Ａと各被試験物５とを１対１で接続している。
【００２７】
７は通信制御ケーブルであり、制御機器１内の通信機器１ａと、各計測器２、スイッチ３および各恒温槽４とを接続している。通信制御ケーブル７は、制御機器１と各計測器２および各恒温槽４とを相互通信可能に接続する通信用ハードウェアを構成している。
【００２８】
各計測器２および各恒温槽４は、制御機器１の制御下で各温度条件に対応した特性試験を実行し、被試験物５の製造工程において互いに異なる複数の温度条件で被試験物５の特性試験を順次実行する。
【００２９】
このとき、制御機器１は、各恒温槽４毎に制御タスクを割り当てることにより、各計測器２による特性試験をマルチタスクで実行するとともに、各恒温槽４をそれぞれ独立して非同期に運転するようになっている。
【００３０】
図２は図１内の制御機器１により実行される試験プログラム１ｂを図式的に示すブロック図であり、装置全体と関連した試験プログラム１ｂの動作状態を示している。
【００３１】
図２において、８−１〜８−Ｎ２は恒温槽制御タスク（以下、総称して「恒温槽制御タスク８」と記す）であり、恒温槽４と同数（Ｎ２個）で起動可能に構成されている。
【００３２】
９−１〜９−Ｎ３はＮ３個の試験処理タスク（以下、総称して「試験処理タスク９」と記す）であり、使用される計測器２の単位で分類して被試験物５を計測試験することにより、他の計測器を用いた試験処理との同時起動が可能に構成されている。
【００３３】
１０は通信機器１ａに対応した通信用タスク、１１は各タスク８〜１０を管理する総合制御処理タスクである。
試験プログラム１ｂは、上記タスク８〜１１により構成される。
【００３４】
図２に示すように、各恒温槽制御タスク８および各試験処理タスク９は、個々の機器（ハードウェア）に対応する形で分割起動されることにより、それぞれが非同期に実行可能に構成されている。
【００３５】
したがって、恒温槽４毎に異なる試験を実行することのみならず、運転や停止などの動作状態の変更を自由に且つ非同期に行うことができる。
また、各試験処理の中身が簡素化されるので、試験処理の開発を容易にすることができる。
【００３６】
また、各恒温槽４内に複数台の被試験物５を設置すれば、試験プログラム１ｂの試験時間が短い場合での試験処理と恒温槽４の温度遷移時間とのバランスを良好にすることができるが、このときの構成変更に対しても、図２の構成により、試験プログラム１ｂを大きく変更することなく対応することができる。
【００３７】
また、計測器２の制御は、制御機器１に搭載された通信機器１ａを介して行われるが、複数のタスクにより計測器２を共用する場合でも、タスクの競合を避けることができる。
【００３８】
すなわち、通信機器１ａを制御するための通信処理タスク１０を１つだけ起動することにより、全てのタスク８、９からの要求が通信処理タスク１０を一列に通過するので、競合を回避することができる。
【００３９】
したがって、一般的に行われる競合回避のためのフラグ処理などが不要となり、同時起動するタスク数が増えた場合での試験処理の開発が容易になる。
【００４０】
次に、図３および図４を参照しながら、この発明の実施の形態１による試験処理タスク９の動作内容について、さらに具体的に説明する。
図３は試験処理タスク９の処理動作の一例を示すフローチャートであり、図４は試験処理タスク９による実際の試験手順データの一例を示す説明図である。
【００４１】
図３において、Ｓ１〜Ｓ６は試験処理タスク９による処理ステップであり、１２はステップＳ１に関連した試験手順データ、１３はステップＳ６に関連した試験処理タスク管理データバッファである。
【００４２】
図４において、試験項目の手順と使用する計測器２の名前とを記述した試験手順データ１２は、たとえば一般的なテキストファイルで構成され、計測器２の使用機器名を登録する使用機器定義部分１２ａと、試験手順データ部分１２ｂとから構成されている。
【００４３】
図３において、まず、試験処理タスク９は、実行手順データとして試験手順データ１２を読み込み（ステップＳ１）、信号ケーブル６Ａおよび６Ｂが計測に必要な配線構成となるようにスイッチ３を切換える（ステップＳ２）。
【００４４】
続いて、各計測器２と通信しながら、被試験物５の温度特性を計測し（ステップＳ３）、計測結果に対する良否判定およびファイルへのデータ記録を行う（ステップＳ４）。
【００４５】
上記処理ステップＳ２〜Ｓ４は、同一の試験手順データ１２内に複数パターンで記述されてもよい。
次に、ステップＳ２〜Ｓ４の処理を続行するか終了するかを決定するために、今回の処理が最後であるか否かを判定する（ステップＳ５）。
【００４６】
ステップＳ５において、処理が終了していない（すなわち、ＮＯ）と判定されれば、ステップＳ２に戻って上記処理を繰り返し、処理が終了した（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、タスク間通信処理を実行する（ステップＳ６）。
【００４７】
ステップＳ６においては、総合制御処理タスク１１内の試験処理タスク管理データバッファ１３に試験結果を伝達し、自らのタスク（図３の処理動作）を停止する。
【００４８】
次に、図５〜図７を参照しながら、この発明の実施の形態１による恒温槽制御タスク８の動作内容について、さらに具体的に説明する。
図５は恒温槽制御タスク８の処理動作の一例を示すフローチャートであり、図６は恒温槽制御タスク８による実際の温度制御データの一例を示す説明図、図７は図６に示す温度制御による温度変化を示す説明図である。
【００４９】
図５において、Ｓ１１〜Ｓ１６は恒温槽制御タスク８による処理ステップであり、１４はステップＳ１１に関連した温度制御データ、１５はステップＳ１３およびＳ１６に関連した恒温槽制御タスク管理データバッファである。
総合制御処理タスク１１は、もっぱらステップＳ１４に関連している。
【００５０】
温度制御データ１４には、図６のように温度制御手順が記述されている。
図７において、横軸は時間ｔ、縦軸は温度Ｔであり、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３は互いに異なる制御温度、ｔ１〜ｔ４は各制御温度Ｔ１〜Ｔ３に対する温度安定待ち時間である。
【００５１】
また、ａ２〜ａ４は制御温度の切換設定後における温度変更期間（以下、総称して「温度変更期間ａ」と記す）、ｂ１〜ｂ４は温度安定待ち時間ｔ１〜ｔ４に対応した期間（以下、総称して「温度安定待ち期間ｂ」と記す）、ｃ１〜ｃ４は温度安定後の制御期間（以下、総称して「制御期間ｃ」と記す）、ｔａ１〜ｔｃ１、ｔａ２〜ｔｃ２、ｔａ３〜ｔｃ３、ｔａ４〜ｔｃ４は各期間ａ〜ｃを決定する時刻である。
【００５２】
図５において、まず、恒温槽制御タスク８は、温度制御手順を記述した温度制御データ１４を読み込み（ステップＳ１１）、恒温槽４に対して温度遷移期間ａおよび温度安定待ち期間ｂに関連した２つの制御を実行する（ステップＳ１２）。
【００５３】
続いて、温度安定待ち期間ｂの完了時に、タスク間通信処理により、温度安定待ち期間ｂが完了したことを、総合制御処理タスク１１内の恒温槽制御タスク管理データバッファ１５に記録する（ステップＳ１３）。
このとき、温度安定待ち期間ｂの完了は、該当する恒温槽４内の被試験物５の試験開始許可に相当する。
【００５４】
以下、タスク間通信処理により、総合制御処理タスク１１からの試験完了通知を待つ（ステップＳ１４）。
次に、温度制御データ１４に基づく上記処理を続行するか終了するかを決定するために、今回の処理が最後か否かを判定する（ステップＳ１５）。
【００５５】
ステップＳ１５において、処理が終了していない（すなわち、ＮＯ）と判定されれば、ステップＳ１２に戻って上記処理を繰り返し、処理が終了した（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、タスク開放用のタスク間通信処理を実行する（ステップＳ１６）。
【００５６】
ステップＳ１６においては、総合制御処理タスク１１内の恒温槽制御タスク管理データバッファ１５に制御結果を記録し、自らのタスク（図５の処理動作）を停止する。
【００５７】
図５による実際の実行手順を記述した温度制御データ１４は、たとえば図６のように表され、図６に対応した温度制御動作は図７のようになる。
温度制御データ１４は、一般的なテキストファイルで構成してもよく、温度制御データ１４の情報変更により、温度制御を容易に変更することができる。
【００５８】
次に、図８のフローチャートを参照しながら、この発明の実施の形態１による総合制御処理タスク１１の動作内容について、さらに具体的に説明する。
図８において、Ｓ２１〜Ｓ３１は総合制御処理タスク１１による処理ステップである。
【００５９】
１６はステップＳ２９に関連した試験割り当て知識のデータベース（以下、「試験割り当て知識ベース」という）であり、試験に必要な時間や不良発生率を考慮して、どの試験を先に実行するかを判断する知識のデータベースである。
【００６０】
恒温槽制御タスク８は、ステップＳ２５およびＳ３１に関連するとともに、恒温槽制御タスク管理データバッファ１５に関連している。
恒温槽制御タスク管理データバッファ１５は、ステップＳ２１およびＳ２５に関連している。
【００６１】
試験処理タスク管理データバッファ１３は、ステップＳ２６およびＳ２９に関連するとともに、試験処理タスク９に関連している。
試験処理タスク９は、ステップＳ２９に関連している。
【００６２】
図８に示すように、総合制御処理タスク１１内の恒温槽制御タスク管理データバッファ１５および試験処理タスク管理データバッファ１３には、それぞれ、恒温槽制御タスク８および試験処理タスク９の同時起動可能なタスク数が格納されるとともに、実際に起動しているタスク数および起動しているタスクの動作状態が格納される。
【００６３】
図８において、まず、総合制御処理タスク１１は、恒温槽制御タスク管理データバッファ１５の情報に基づいて、恒温槽制御タスク８の状態を確認する（ステップＳ２１）。
【００６４】
次に、起動しているタスク数が起動可能なタスク数よりも少ないか否かにより、起動可能なタスクが有るか否かを判定し（ステップＳ２２）、起動可能なタスクが有る（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、恒温槽制御タスク８の起動要求の有無を確認して（ステップＳ２３）、起動要求が有るか否かを判定する（ステップＳ２４）。
【００６５】
ステップＳ２４において、起動要求が有る（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、恒温槽制御タスク８を１つ起動し（ステップＳ２５）、起動後に、恒温槽制御タスク８の起動タスク数を「１」だけインクリメントして、ステップＳ２６に進む。
【００６６】
一方、ステップＳ２２において、起動中のタスク数が起動可能なタスク数と等しく起動可能なタスクがない（すなわち、ＮＯ）と判定された場合、または、ステップＳ２４において、起動要求がない（すなわち、ＮＯ）と判定された場合には、直ちにステップＳ２６に進む。
【００６７】
次に、総合制御処理タスク１１は、試験処理タスク管理データバッファ１３の情報に基づいて試験処理タスク９の状態を確認し（ステップＳ２６）、続いて、ステップＳ２１およびＳ２６の確認結果に基づいて、試験開始準備完了の合図となる温度安定待ち完了のタスクＸが有るか否かを判定する（ステップＳ２７）。
【００６８】
ステップＳ２７において、温度安定待ち完了のタスクＸが有る（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、続いて、試験処理タスク９の起動中のタスク数が起動可能なタスク数よりも少ないか否かに基づいて、試験実行可能なタスクが有るか否かを判定する（ステップＳ２８）。
【００６９】
ステップＳ２８において、試験実行可能なタスクが有る（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、恒温槽制御タスクＸが制御していた恒温槽４内の被試験物５に対し、試験割り当て知識ベース１６に基づく試験処理タスク９を起動し、試験を実行する（ステップＳ２９）。
【００７０】
ステップＳ２９の実行後に、試験処理タスク９の起動タスク数を「１」だけインクリメントして、ステップＳ３０に進む。
試験割り当て知識ベース１６は、前述のように試験時間や不良発生率を考慮して優先実行すべき試験を判断する知識を格納している。
【００７１】
したがって、試験割り当て知識ベース１６に基づいて、たとえば不良率の高い試験を先に実行することにより、早期に不良品を発見し、新しい被試験物５と交換後の試験再開を迅速に行うことができ、単位時間当りの良品の試験完了品を増やすことができる。
【００７２】
上記ステップＳ２９の完了後、または、ステップＳ２７において、温度安定待ち完了のタスクＸがない（すなわち、ＮＯ）と判定された場合、または、ステップＳ２８において、試験実行可能なタスクがない（すなわち、ＮＯ）と判定された場合には、ステップＳ２６の確認結果に基づいて、試験完了した試験処理タスクＹが有るか否かを判定する（ステップＳ３０）。
【００７３】
ステップＳ３０において、試験完了した試験処理タスクＹがない（すなわち、ＮＯ）と判定されれば、ステップＳ２１に戻って上記処理を繰り返す。
一方、ステップＳ３０において、試験完了した試験処理タスクＹが有る（すなわち、ＹＥＳ）と判定されれば、タスクＹが試験を実行していた恒温槽４を制御中の恒温槽制御タスク８に対して試験完了情報を伝達し（ステップＳ３１）、ステップＳ２１に戻る。
【００７４】
このように、被試験物５（通信機器など）の製造工程で実行される温度特性試験において、各温度条件に対応した試験を順次実行する複数の計測器２と、複数の計測器２の一式に関連して設置された複数の恒温槽４と、各計測器２および各恒温槽４の制御処理を行う制御機器１とを設け、制御機器１は、各恒温槽４毎に制御タスク８を割り当てることにより、各計測器２による特性試験をマルチタスクで実行するとともに、各恒温槽４をそれぞれ独立して非同期に運転することができる。
【００７５】
したがって、個々の恒温槽４の温度条件の変更や運転状態（運転停止など）の変更、および、恒温槽４の台数変更に対して、簡単な制御ロジックで対応することができる。
【００７６】
また、制御機器１は、各計測器２を制御して被試験物５の特性試験を実行する計測処理において、各計測器２による計測・試験項目を、各計測に使用される計測器２の単位で分類して、特性試験を独立した試験処理タスク９として実行し、且つマルチタスクで実行することにより、各被試験物５に対して並列試験を行うことができ、逐次処理の試験に対し、試験時間の短縮および設備稼働率を向上させることができる。
【００７７】
また、試験処理タスク９の機能が限定されるので、試験処理タスク９の局所的開発および動作テストが可能となり、開発期間の短縮および機能の変更が容易になる。
【００７８】
制御機器１は、恒温槽制御タスク８および試験処理タスク９を管理するための総合制御管理タスク１１と、被試験物５の特性試験に関連した試験割り当て知識のデータベース１６（図８参照）とを備えているので、総合制御管理タスク１１は、各恒温槽制御タスク８から恒温槽４の状態情報（試験実行準備完了など）を受け取って、必要に応じて恒温槽４に試験処理タスク９を割り当てて試験を実行することができる。
【００７９】
また、制御機器１内の総合制御処理タスク１１は、上記処理に加えて、個々の試験処理タスク９が必要とする試験時間や不良発生率などを考慮した試験割り当て知識のデータベース１６から最適な試験手順を選択することにより、試験時間の短縮を実現することができる。
【００８０】
また、制御機器１と各計測器２および各恒温槽４とを相互通信可能に接続する通信制御ケーブル７（通信用ハードウェア）を設けたので、制御機器１は、通信用ハードウェア７による特定機能の試験処理タスク９を、複数起動を禁止して単独で起動させることにより、複数の制御タスクによる通信用ハードウェアの競合を回避することができる。
【００８１】
また、制御機器１は、各恒温槽４に対する制御タスク８のうち、上位の複数の制御タスクからの同時通信実行要求に対して先頭側から順次処理することにより、複数の制御タスク８および試験処理タスク９による通信用ハードウェアの競合を回避することができる。
【００８２】
すなわち、通信用ハードウェアなどの特定機能の通信処理タスク１０は、複数起動を禁止して単独起動とすることにより、恒温槽制御タスク８および試験処理タスク９などの上位の複数のタスクからの同時通信実行要求に対し、先頭から順次処理することにより、通信用ハードウェアが複数タスクにより競合して実行されることを回避する。
【００８３】
このとき、特別な処理（たとえば、各タスクが通信用ハードウェアなどを占有した時点でフラグを立てること）を組み込む必要がなく、マルチタスク間の通信用ハードウェアなどの競合問題を解決することができるので、処理を簡略化するとともに仕様変更時の対応を容易にすることができる。
【００８４】
次に、図９を参照しながら、図１に示したこの発明の実施の形態１による制御機器１の機能構成について、さらに具体的に説明する。
図９は制御機器１のプログラム機能を示すブロック構成図であり、試験処理タスク９および恒温槽制御タスク８を個々のプログラム上で構成して、個々に実行可能なモジュール群で構成する場合の仕組みを示している。
【００８５】
図９において、１７はメイン処理モジュール群である。
１８は実行手順データ群であり、Ｎ４個の試験手順データ１２（１２−１〜１２−Ｎ４）と、Ｎ５個の温度制御データ１４（１４−１〜１４−Ｎ５）とにより構成されている。
【００８６】
１９はマンマシンＩ／Ｆとして機能する開発環境であり、プログラム開発ツールすなわちコンパイラ１９ａと、エディタ１９ｂとにより構成されている。
【００８７】
メイン処理モジュール群１７は、メイン処理モジュール２０、実行手順データ読み込みモジュール２１、処理モジュール群２２、制御モジュール群２３および汎用処理モジュール群２４を備えている。
【００８８】
メイン処理モジュール２０は、動作画面やマンマシンＩ／Ｆおよび装置全体の制御処理をプログラミングしたものであり、タスクが起動している間は、各恒温槽４の制御タスク８と各計測器２の試験処理タスク９とに関連したプログラム実行メモリ（図示せず）上に常駐している。
【００８９】
実行手順データ読み込みモジュール２１は、メイン処理モジュール２０の要求に応じて実行手順データ群１８内から設定された温度制御データ１４または試験手順データ１２を読み出す処理をプログラミングしたものであり、読み込み処理の間だけプログラム実行メモリにロードされ、処理終了とともに解放されるようになっている。
【００９０】
処理モジュール群２２は、計測器２などの特定機器に依存しない試験処理内容についての処理を行うものであり、Ｎ６個の処理モジュール２２−１〜２２−Ｎ６を有する。
【００９１】
処理モジュール群２２において、たとえば「電源投入」という処理モジュール２２−１は、電源電圧の設定機能と電源電圧出力のＯＮ／ＯＦＦ切換機能とを、電源の種類などのハードウェアに依存することなく処理できるように作成する。
【００９２】
制御モジュール群２３は、Ｎ７個の制御モジュール２３−１〜２３−Ｎ７を有する。
実際の機器（ハードウェア）に依存する処理は、制御モジュール群２３において、機器固有の制御コマンドなどを使用してプログラミングされ、処理モジュール群２２から呼び出されて実行される。
【００９３】
ここで、たとえば「電源機器」の制御モジュール２３−１の名称を試験手順データ１２内の使用機器定義１２ａ（図４参照）の記述に連動させることにより、制御モジュール２３−１が自動的に呼び出される仕組みを実現することができ、プログラムの汎用化が可能となる。
【００９４】
汎用処理モジュール群２４は、処理モジュール群２２や制御モジュール群２３から呼び出される共通関数などをまとめたものであり、Ｎ８個の汎用処理モジュール２４−１〜２４−Ｎ８を有する。
【００９５】
図９のようなモジュール構成によれば、たとえばメイン処理モジュール２０から処理モジュール２２−１が起動されると、処理モジュール２２−１に関連した制御モジュール２３−１および汎用処理モジュール２４−１が、プログラム実行メモリにロードされる。
【００９６】
すなわち、実行手順データ読み込みモジュール２１においては、処理完了後に解放されるという形態で、一連の処理が実行される。
ここで、解放されている実行手順データ読み込みモジュール２１は、プログラム実行メモリに基づいて、開発環境１９内のエディタ１９ｂによる編集や、コンパイラ１９ａによる作り直しが可能となり、被試験物５の試験処理を実行しながらプログラムを開発することが可能となる。
【００９７】
図９に示したように、制御機器１は、各恒温槽４の制御タスク８と各計測器２の試験処理タスク９とに関連したプログラム実行メモリと、恒温槽制御タスク８および試験処理タスク９のモジュール化された試験プログラム１ｂがそれぞれテキスト形式で記述された実行手順データ群１８（試験手順データ１２、温度制御データ１４）と、実行手順データ１８をプログラム実行メモリに読み込む実行手順データ読み込みモジュール２１と、プログラム実行メモリに読み込まれた実行手順データにしたがって一連の処理を実行するためのメイン処理モジュール２０と、実行手順データに基づく実行手順毎に独立した処理モジュール２２と、各計測器２および各恒温槽４のハードウェア毎に独立して処理モジュール２２から呼び出される制御モジュール２３と、通信機能および汎用演算機能の少なくとも一方を含む汎用処理モジュール２４とを備えているので、各モジュール２２〜２４を個々に独立して複数起動してマルチタスクを実行することができる。
【００９８】
すなわち、このような試験プログラム実行方式においては、メイン処理モジュール２０と、実際に処理を実行中の処理モジュール２２と、実行中の処理モジュール２２から呼び出された制御モジュール２３と、各モジュール群２２、２３から呼びだされている汎用処理モジュール２４とが、それぞれプログラム実行メモリ上にロードされて実行状態となるが、各モジュール群内の他のモジュールは、プログラム実行メモリ上から解放されているので、これらのモジュールのソースコードを変更して、再コンパイルすることが可能となり、試験を実行しながら試験プログラム１ｂの開発を平行して実行することができ、試験プログラム１ｂの開発期間を短縮することができる。
【００９９】
なお、制御機器１内のプログラム実行メモリは、各計測器２の試験処理タスクのみに関連してもよい。
【０１００】
さらに、制御機器１は、恒温槽４の制御タスク８および試験処理タスク９のモジュール化された試験プログラム１ｂにおいて、計測器２および恒温槽４を含む試験設備の構成を実行手順データ１８に記述しているので、処理モジュール２２内で、特別な制御モジュール２３の選択処理コードを記述することなく、制御モジュール２３を呼び出すことができる。
【０１０１】
したがって、新規の計測器２を使用する場合、その計測器２のための制御モジュール２３のプログラム開発後に、実行手順データ１８の記述を書き換えるのみでよく、処理モジュール２２を変更する必要がなく、開発期間の短縮およびプログラムの継承による品質向上を実現することができる。
【０１０２】
実施の形態２．
なお、上記実施の形態１では、制御機器１に１台のみの通信機器１ａを搭載したが、２台以上の通信機器を搭載してもよい。
【０１０３】
図１０は制御機器に複数の通信機器を搭載したこの発明の実施の形態２を示すブロック構成図である。
図１０において、１ｃは制御機器１Ａに搭載された２台目の通信機器である。追加される通信機器の台数は、任意に設定され得る。
【０１０４】
図１０のように、通信機器１ａに加えて、２台目の通信機器１ｃを搭載した場合、通信機器１ａおよび１ｃが同時に並列動作することができ、計測器２の制御処理能力を向上させることができる。すなわち、通信機能の設置台数分だけ通信機能を並列して実行することができる。
【０１０５】
実施の形態３．
なお、上記実施の形態１では、１台の制御機器１を設置したが、２台以上の制御機器を設置してもよい。
【０１０６】
図１１は複数の制御機器を設置したこの発明の実施の形態３を示すブロック構成図である。
図１１において、１０１は制御機器１に並列に設けられた制御機器であり、制御機器１と同様に、通信機器１０１ａおよび試験プログラム１０１ｂを有する。追加される制御機器の台数は、任意に設定され得る。
【０１０７】
１０７は各制御機器１および１０１を相互接続するネットワーク線である。
制御機器１および制御機器１０１は、ネットワーク線１０７を介して接続されており、双方でのタスク間の相互通信が可能となっている。
【０１０８】
また、各制御機器１および１０１は個別の試験処理を実行し、制御機器１は、各計測器２の試験処理タスク９を実行し、制御機器１０１は、各恒温槽４の制御タスク８を実行する。
【０１０９】
図１１のように、通信機器１ａを搭載した制御機器１に加えて、２台目の通信機器１０１ａを搭載した制御機器１０１を追加することにより、制御機器１および１０１の１台当たりの負荷を軽くすることができ、試験の処理能力を向上させることができる。
【０１１０】
また、恒温槽制御タスク８および試験処理タスク９のプログラム開発を、それぞれ別の制御機器１、１０１上で個別に行うことができ、複数の作業者で分担して開発することが可能となり、開発期間を短縮することができる。
【０１１１】
なお、ここでは、制御機器１、１０１が試験処理タスク９および制御タスク８を専用に実行する場合を示したが、複数の制御機器により各計測器２の試験処理タスク９を個別に実行してもよい。
この場合も、各制御機器の処理負荷を軽減することができ、単位時間当たりの処理能力を向上させることができる。
【０１１２】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、被試験物の製造工程において、互いに異なる複数の温度条件で被試験物の特性試験を順次実行するための温度試験装置であって、各温度条件に対応した特性試験を実行するための複数の計測器と、複数の計測器の一式に関連して設置された複数の恒温槽と、各計測器および各恒温槽の制御処理を行う制御機器とを備え、制御機器は、各恒温槽毎に制御タスクを割り当てることにより、各計測器による特性試験をマルチタスクで実行するとともに、各恒温槽をそれぞれ独立して非同期に運転するようにしたので、個々の恒温槽の温度条件や運転停止などの運転状態の変更、および、恒温槽の台数変更などに対して簡単な制御ロジックで対応することができ、計測器や恒温槽などの制御ロジックの簡略化および試験効率の向上を実現した温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１３】
また、この発明によれば、複数の被試験物の製造工程において、互いに異なる複数の温度条件で各被試験物の特性試験を順次実行するための温度試験装置であって、各温度条件に対応した特性試験を実行するための複数の計測器と、各計測器の制御処理を行う制御機器とを備え、制御機器は、各計測器を制御して被試験物の特性試験を実行する計測処理において、各計測器による計測・試験項目を、各計測に使用される計測器単位で分類して、特性試験を独立した試験処理タスクとして実行するとともにマルチタスクで実行することにより、各被試験物に対して並列試験を行うようにしたので、逐次処理の試験に対する試験時間の短縮および設備稼働率を向上させるとともに、試験処理タスクの開発期間の短縮および機能の変更を容易にした温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１４】
また、この発明によれば、制御機器は、制御タスクを管理するための総合制御管理タスクと、被試験物の特性試験に関連した試験割り当て知識のデータベースとを含むので、個々の試験処理タスクが必要とする試験時間や不良発生率などを考慮した試験割り当て知識のデータベースから最適な試験手順を選択することができ、試験時間を短縮させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１５】
また、この発明によれば、制御機器は、試験処理タスクを管理するための総合制御管理タスクと、各被試験物の特性試験に関連した試験割り当て知識のデータベースとを含むので、試験時間を短縮させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１６】
また、この発明によれば、制御機器と各計測器および各恒温槽とを相互通信可能に接続する通信用ハードウェアを備え、制御機器は、通信用ハードウェアによる特定機能の試験処理タスクを、複数起動を禁止して単独で起動させるとともに、各恒温槽に対する制御タスクのうち、上位の複数の制御タスクからの同時通信実行要求に対して先頭側から順次処理することにより、複数の制御タスクおよび試験処理タスクによる通信用ハードウェアの競合を回避したので、マルチタスク間の通信用ハードウェアなどの競合問題を解決でき、処理を簡略化して仕様変更時の対応を容易にした温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１７】
また、この発明によれば、制御機器と各計測器とを相互通信可能に接続する通信用ハードウェアを備え、制御機器は、通信用ハードウェアによる特定機能の試験処理タスクを、複数起動を禁止して単独で起動させることにより、複数の制御タスクによる通信用ハードウェアの競合を回避したので、マルチタスク間の通信用ハードウェアなどの競合問題を解決でき、処理を簡略化して仕様変更時の対応を容易にした温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１８】
また、この発明によれば、制御機器は、各計測器の試験処理タスクと、各恒温槽の制御タスクとを、それぞれ個別に実行するための複数の制御機器を含むので、制御機器の負荷を軽減して単位時間当りの処理能力を向上させるとともに、各タスクのプログラム開発を分担して行うことができ、開発期間を短縮させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１１９】
また、この発明によれば、制御機器は、各計測器の試験処理タスクを個別に実行するための複数の制御機器を含むので、制御機器の負荷を軽減して単位時間当りの処理能力を向上させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１２０】
また、この発明によれば、制御機器は、複数の通信機器を含むので、通信機能の設置台数分だけ通信機能を並列して実行することができ、処理能力を向上させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１２１】
また、この発明によれば、制御機器は、各恒温槽の制御タスクと各計測器の試験処理タスクとに関連したプログラム実行メモリと、制御タスクおよび試験処理タスクのモジュール化された試験プログラムがそれぞれテキスト形式で記述された実行手順データと、実行手順データをプログラム実行メモリに読み込む実行手順データ読み込みモジュールと、プログラム実行メモリに読み込まれた実行手順データにしたがって一連の処理を実行するためのメイン処理モジュールと、実行手順データに基づく実行手順毎に独立した処理モジュールと、各計測器および各恒温槽のハードウェア毎に独立して処理モジュールから呼び出される制御モジュールと、通信機能および汎用演算機能の少なくとも一方を含む汎用処理モジュールとを備え、各モジュールを個々に独立して複数起動してマルチタスクを実行し、プログラム実行メモリ上にロードされて実行状態のモジュール以外はプログラム実行メモリ上から解放されるようにしたので、各モジュールのソースコードを変更して再コンパイルするとともに、試験を実行しながら試験プログラムの開発を平行して行うことができ、試験プログラムの開発期間を短縮させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１２２】
また、この発明によれば、制御機器は、各計測器の試験処理タスクに関連したプログラム実行メモリと、試験処理タスクのモジュール化された試験プログラムがテキスト形式で記述された実行手順データと、実行手順データをプログラム実行メモリに読み込む実行手順データ読み込みモジュールと、プログラム実行メモリに読み込まれた実行手順データにしたがって一連の処理を実行するためのメイン処理モジュールと、実行手順データに基づく実行手順毎に独立した処理モジュールと、各計測器のハードウェア毎に独立して処理モジュールから呼び出される制御モジュールと、通信機能および汎用演算機能の少なくとも一方を含む汎用処理モジュールとを備え、各モジュールを個々に独立して複数起動してマルチタスクを実行するようにしたので、試験プログラムの開発期間を短縮させた温度試験装置が得られる効果がある。
【０１２３】
また、この発明によれば、制御機器は、試験プログラムにおいて、計測器を含む試験設備の構成を実行手順データに記述することにより、制御モジュールを呼び出すようにしたので、新規の計測器を使用する場合でも、その計測器用の制御モジュールのプログラム開発後に、実行手順データの記述を書き換えるのみでよく、処理モジュールを変更する必要がなく、開発期間の短縮およびプログラムの継承による品質向上を実現した温度試験装置が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１を示すブロック構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１による試験プログラムの機能構成を示すブロック図である。
【図３】この発明の実施の形態１による試験処理動作を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態１による試験処理で用いられる試験手順データの具体例を示す説明図である。
【図５】この発明の実施の形態１による温度制御処理動作を示すフローチャートである。
【図６】この発明の実施の形態１による温度制御処理で用いられる温度制御データの具体例を示す説明図である。
【図７】この発明の実施の形態１による温度制御時の温度変化を示す説明図である。
【図８】この発明の実施の形態１による総合制御処理タスクの具体的動作を示すフローチャートである。
【図９】この発明の実施の形態１による制御機器のプログラム機能を示すブロック構成図である。
【図１０】この発明の実施の形態２を示すブロック構成図である。
【図１１】この発明の実施の形態３を示すブロック構成図である。
【符号の説明】
１、１Ａ、１０１制御機器、１ａ、１ｃ、１０１ａ通信機器、１ｂ、１０１ｂ試験プログラム、２、２−１〜２−Ｎ１計測器、３スイッチ、４、４−１〜４−Ｎ２恒温槽、５、５−１〜５−Ｎ２被試験物、６Ａ、６Ａ−１〜６Ａ−Ｎ１、６Ｂ、６Ｂ−１〜６Ｂ−Ｎ２信号ケーブル、７通信制御ケーブル、８、８−１〜８−Ｎ２恒温槽制御タスク、９、９−１〜９−Ｎ３試験処理タスク、１０通信処理タスク、１１総合制御処理タスク、１２、１２−１〜１２−Ｎ４試験手順データ、１３試験処理タスクデータバッファ、１４、１４−１〜１４−Ｎ５温度制御データ、１５恒温槽制御タスク管理データバッファ、１６試験割り当て知識ベース、１７メイン処理モジュール群、１８実行手順データ群、１９開発環境、１９ａコンパイラ、１９ｂエディタ、２０メイン処理モジュール、２１実行手順データ読み込みモジュール、２２処理モジュール群、２２−１〜２２−Ｎ６処理モジュール、２３制御モジュール群、２３−１〜２３−Ｎ７制御モジュール、２４汎用処理モジュール群、２４−１〜２４−Ｎ８汎用処理モジュール、１０７ネットワーク線。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a temperature test apparatus using a plurality of measuring instruments for sequentially executing a characteristic test of a DUT under a plurality of different temperature conditions in a manufacturing process of the DUT (communication equipment, etc.), and more particularly to measurement. The present invention relates to a temperature test apparatus that realizes simplification of control logic such as a vessel and a thermostat and improvement of test efficiency.
[0002]
[Prior art]
For example, in the conventional temperature test apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-83041, two thermostats are installed, and a plurality of test objects are inserted into each thermostat, and the temperature transition time and test processing are performed. By making a balance with time, we have improved the efficiency of testing with measuring instruments.
[0003]
However, in the case of the conventional apparatus as described above, in order to cope with a change in the number of thermostats, a change in the control state of each thermostat, a change in test contents, etc., a significant change in control logic is required. The
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the conventional temperature test equipment requires significant changes in the control logic in order to respond to changes in the number of thermostats and the control status and test contents. There was a problem that it took an enormous amount of time.
[0005]
In addition, among a plurality of measuring instruments for performing a plurality of tests, other measuring instruments are stopped during the test period using one measuring instrument, and the individual operating rate of each measuring instrument is improved. There was a problem that it was not possible.
[0006]
The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain a temperature test apparatus that realizes simplification of control logic such as a measuring instrument and a thermostat and improvement of test efficiency.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
A temperature test apparatus according to the present invention is a temperature test apparatus for sequentially executing a characteristic test of a DUT under a plurality of different temperature conditions in a manufacturing process of the DUT, and has characteristics corresponding to each temperature condition Provided with a plurality of measuring instruments for performing the test, a plurality of thermostats installed in association with a set of a plurality of measuring instruments, and a control device for controlling each measuring instrument and each thermostat. By assigning a control task to each thermostatic chamber, the device performs a multi-tasking characteristic test by each measuring instrument and operates each thermostatic chamber independently and asynchronously.
[0008]
The temperature test apparatus according to the present invention is a temperature test apparatus for sequentially performing a characteristic test of each DUT under a plurality of different temperature conditions in a manufacturing process of a plurality of DUTs. Equipped with multiple measuring instruments for performing characteristic tests corresponding to conditions and control equipment that performs control processing for each measuring equipment, the control equipment controls each measuring equipment and executes the characteristic test of the DUT In the measurement process to be performed, the measurement / test items by each measuring instrument are classified by the measuring instrument used for each measurement, and the characteristic test is executed as an independent test processing task and multitasking is performed. A parallel test is performed on the DUT.
[0009]
The control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a comprehensive control management task for managing the control task and a database of test assignment knowledge related to the characteristic test of the DUT.
[0010]
The control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a comprehensive control management task for managing test processing tasks, and a database of test assignment knowledge related to the characteristic test of each device under test.
[0011]
Further, the temperature test apparatus according to the present invention includes communication hardware that connects the control device, each measuring instrument, and each thermostat so that they can communicate with each other, and the control device performs a test process for a specific function by the communication hardware. Multiple tasks can be started by prohibiting multiple activations and independently processing from the top side in response to simultaneous communication execution requests from multiple upper-level control tasks among the control tasks for each thermostat. This avoids the competition of communication hardware by the control task and the test processing task.
[0012]
Further, the temperature test apparatus according to the present invention includes communication hardware for connecting the control device and each measuring instrument so that they can communicate with each other, and the control device performs a plurality of test processing tasks for a specific function by the communication hardware. By prohibiting startup and starting up alone, communication hardware contention due to multiple control tasks is avoided.
[0013]
Moreover, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a plurality of control devices for individually executing the test processing task of each measuring instrument and the control task of each thermostat.
[0014]
In addition, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a plurality of control devices for individually executing the test processing task of each measuring instrument.
[0015]
Further, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a plurality of communication devices.
[0016]
Further, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a program execution memory related to a control task of each thermostat and a test processing task of each measuring instrument, and a test program in which the control task and the test processing task are modularized Each of which is written in text format, an execution procedure data reading module that reads the execution procedure data into the program execution memory, and a main unit for executing a series of processes according to the execution procedure data read into the program execution memory Processing module, processing module independent for each execution procedure based on the execution procedure data, control module called from the processing module independently for each measuring instrument and each thermostat hardware, communication function and general-purpose arithmetic function General-purpose processing module including at least one It is to perform the multi-task a plurality activated independently of each module individually.
[0017]
Further, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention includes a program execution memory related to a test processing task of each measuring instrument, execution procedure data in which a test program modularized for the test processing task is described in a text format, An execution procedure data reading module for reading execution procedure data into the program execution memory, a main processing module for executing a series of processes in accordance with the execution procedure data read into the program execution memory, and for each execution procedure based on the execution procedure data Independent processing modules, control modules called from the processing modules independently for each hardware of each measuring instrument, and general-purpose processing modules including at least one of a communication function and a general-purpose arithmetic function. Start multiple tasks independently and execute multitasking It is intended.
[0018]
Further, the control device of the temperature test apparatus according to the present invention calls the control module by describing the configuration of the test equipment including the measuring instrument in the execution procedure data in the test program.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
Hereinafter, the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In each figure, the same numerals are given to the corresponding composition.
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.
[0020]
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a control device, which includes a communication device 1a for inputting / outputting various data and a test program 1b related to various tasks (described later).
Reference numerals 2-1 to 2-N1 denote N1 measuring instruments (hereinafter collectively referred to as “measuring instrument 2”), which perform measurement for a temperature test of an object to be tested (described later).
[0021]
Reference numeral 3 denotes a switch having a terminal structure of N1 to N2, N1 first terminals A1 to AN1 (hereinafter collectively referred to as “first terminals A”), and N2 second terminals B1 to BN2 (hereinafter referred to as “first terminals A”). , And collectively referred to as “second terminal B”), and determines the connection relationship between each measuring instrument 2 and N2 DUTs (described later).
[0022]
The terminals A and B in the switch 3 are arranged so that they can be connected to each other in a matrix, and the combination of the first terminal A and the second terminal B becomes arbitrary in response to a switching signal from the control device 1. Are switched and connected.
For example, one first terminal A1 is connected to any one of the second terminals B1 to BN2, and at this time, the other first terminal can be connected to one of the other second terminals.
[0023]
4-1 to 4-N2 are N2 thermostats (hereinafter collectively referred to as "constant thermostat 4"), and are installed in association with a set of each measuring instrument 2. Controlled by a control signal.
[0024]
5-1 to 5-N2 are the same number (N2) of DUTs as the thermostat 4 (hereinafter collectively referred to as “DUT 5”), and are arranged in the corresponding thermostat 4 respectively. It is installed. A plurality of test objects 5 in each thermostat 4 may be installed.
[0025]
6A1 to 6AN1 are N1 signal cables (hereinafter collectively referred to as “signal cable 6A”), and each measuring instrument 2 and each first terminal A in the switch 3 are connected on a one-to-one basis. .
[0026]
6B1 to 6BN2 are N2 signal cables (hereinafter collectively referred to as “signal cable 6B”), and each of the second terminals A and each DUT 5 in the switch 3 are connected in a one-to-one relationship. Yes.
[0027]
A communication control cable 7 connects the communication device 1 a in the control device 1 to each measuring instrument 2, switch 3, and each thermostat 4. The communication control cable 7 constitutes communication hardware that connects the control device 1 to each measuring instrument 2 and each thermostat 4 so that they can communicate with each other.
[0028]
Each measuring instrument 2 and each thermostat 4 perform a characteristic test corresponding to each temperature condition under the control of the control device 1, and the test object 5 is subjected to a plurality of different temperature conditions in the manufacturing process of the test object 5. Execute characteristic tests sequentially.
[0029]
At this time, the control device 1 assigns a control task to each thermostat 4 so that the characteristic test by each measuring instrument 2 is performed in a multitasking manner, and each thermostat 4 is operated independently and asynchronously. It has become.
[0030]
FIG. 2 is a block diagram schematically showing a test program 1b executed by the control device 1 in FIG. 1, and shows an operation state of the test program 1b related to the entire apparatus.
[0031]
In FIG. 2, 8-1 to 8-N2 are thermostatic bath control tasks (hereinafter collectively referred to as “constant bath control task 8”), and are configured to be activated by the same number (N2) as the thermostatic bath 4. ing.
[0032]
Reference numerals 9-1 to 9-N3 denote N3 test processing tasks (hereinafter collectively referred to as “test processing task 9”), and the test object 5 is measured by being classified by the unit of the measuring instrument 2 to be used. By testing, it is configured to be able to be activated simultaneously with a test process using another measuring instrument.
[0033]
10 is a communication task corresponding to the communication device 1a, and 11 is a general control processing task for managing the tasks 8-10.
The test program 1b is composed of the above tasks 8-11.
[0034]
As shown in FIG. 2, each thermostat control task 8 and each test processing task 9 are configured to be executed asynchronously by being activated in a divided manner corresponding to each device (hardware). Yes.
[0035]
Therefore, it is possible not only to perform different tests for each thermostat 4 but also to change operation states such as operation and stop freely and asynchronously.
Moreover, since the contents of each test process are simplified, development of the test process can be facilitated.
[0036]
Further, if a plurality of test objects 5 are installed in each thermostat 4, the balance between the test process when the test time of the test program 1 b is short and the temperature transition time of the thermostat 4 can be improved. However, the configuration change at this time can be dealt with without greatly changing the test program 1b by the configuration of FIG.
[0037]
The control of the measuring instrument 2 is performed via the communication device 1a mounted on the control device 1. However, even when the measuring instrument 2 is shared by a plurality of tasks, task contention can be avoided.
[0038]
That is, by starting only one communication processing task 10 for controlling the communication device 1a, requests from all the tasks 8 and 9 pass through the communication processing task 10 in a line, so that conflict can be avoided. it can.
[0039]
This eliminates the need for flag processing for avoiding competition that is generally performed, and facilitates development of test processing when the number of tasks to be simultaneously started increases.
[0040]
Next, the operation contents of the test processing task 9 according to the first embodiment of the present invention will be described more specifically with reference to FIGS.
FIG. 3 is a flowchart showing an example of the processing operation of the test processing task 9, and FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of actual test procedure data by the test processing task 9.
[0041]
In FIG. 3, S1 to S6 are processing steps by the test processing task 9, 12 is test procedure data related to step S1, and 13 is a test processing task management data buffer related to step S6.
[0042]
In FIG. 4, test procedure data 12 describing the procedure of the test item and the name of the measuring instrument 2 to be used is composed of, for example, a general text file, and the used equipment definition portion for registering the used equipment name of the measuring instrument 2. 12a and a test procedure data portion 12b.
[0043]
In FIG. 3, first, the test processing task 9 reads the test procedure data 12 as execution procedure data (step S1), and switches the switch 3 so that the signal cables 6A and 6B have a wiring configuration necessary for measurement (step S2). ).
[0044]
Subsequently, the temperature characteristic of the DUT 5 is measured while communicating with each measuring instrument 2 (step S3), and the quality determination for the measurement result and the data recording to the file are performed (step S4).
[0045]
The processing steps S2 to S4 may be described in a plurality of patterns in the same test procedure data 12.
Next, in order to determine whether to continue or end the processes in steps S2 to S4, it is determined whether or not the current process is the last (step S5).
[0046]
If it is determined in step S5 that the process has not been completed (that is, NO), the process returns to step S2 and the above process is repeated. If it is determined that the process has been completed (that is, YES), the inter-task communication process is performed. Is executed (step S6).
[0047]
In step S6, the test result is transmitted to the test processing task management data buffer 13 in the integrated control processing task 11, and its own task (processing operation in FIG. 3) is stopped.
[0048]
Next, the operation content of the thermostatic chamber control task 8 according to the first embodiment of the present invention will be described more specifically with reference to FIGS.
FIG. 5 is a flowchart showing an example of the processing operation of the thermostatic chamber control task 8, FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of actual temperature control data by the thermostatic chamber control task 8, and FIG. 7 is based on the temperature control shown in FIG. It is explanatory drawing which shows a temperature change.
[0049]
In FIG. 5, S11 to S16 are processing steps by the thermostat control task 8, 14 is temperature control data related to step S11, and 15 is a thermostat control task management data buffer related to steps S13 and S16.
The comprehensive control processing task 11 is exclusively related to step S14.
[0050]
The temperature control data 14 describes a temperature control procedure as shown in FIG.
In FIG. 7, the horizontal axis represents time t, the vertical axis represents temperature T, T1, T2, and T3 represent different control temperatures, and t1 to t4 represent temperature stabilization wait times for the respective control temperatures T1 to T3.
[0051]
Further, a2 to a4 are temperature change periods after the switching setting of the control temperature (hereinafter collectively referred to as “temperature change period a”), and b1 to b4 are periods (hereinafter referred to as “temperature stabilization wait times t1 to t4”). C1 to c4 are control periods after temperature stabilization (hereinafter collectively referred to as “control period c”), ta1 to tc1, ta2 to tc2, and ta3 to tc3. , Ta4 to tc4 are times for determining the periods a to c.
[0052]
In FIG. 5, first, the thermostat control task 8 reads the temperature control data 14 describing the temperature control procedure (step S11), and the thermostat 4 is set to 2 related to the temperature transition period a and the temperature stabilization waiting period b. Two controls are executed (step S12).
[0053]
Subsequently, at the completion of the temperature stabilization waiting period b, the fact that the temperature stabilization waiting period b has been completed is recorded in the constant temperature bath control task management data buffer 15 in the integrated control processing task 11 by inter-task communication processing (step S13). ).
At this time, completion of the temperature stabilization waiting period b corresponds to permission to start the test of the DUT 5 in the corresponding thermostat 4.
[0054]
Thereafter, a test completion notification from the integrated control processing task 11 is awaited by inter-task communication processing (step S14).
Next, in order to determine whether to continue or end the above process based on the temperature control data 14, it is determined whether or not the current process is the last (step S15).
[0055]
If it is determined in step S15 that the process has not been completed (ie, NO), the process returns to step S12 to repeat the above process. If it is determined that the process has been completed (ie, YES), the task release task is released. Inter-task communication processing is executed (step S16).
[0056]
In step S16, the control result is recorded in the constant-temperature bath control task management data buffer 15 in the comprehensive control processing task 11, and its own task (processing operation in FIG. 5) is stopped.
[0057]
The temperature control data 14 describing the actual execution procedure according to FIG. 5 is expressed as shown in FIG. 6, for example, and the temperature control operation corresponding to FIG. 6 is as shown in FIG.
The temperature control data 14 may be composed of a general text file, and the temperature control can be easily changed by changing the information of the temperature control data 14.
[0058]
Next, the operation content of the integrated control processing task 11 according to the first embodiment of the present invention will be described more specifically with reference to the flowchart of FIG.
In FIG. 8, S 21 to S 31 are processing steps by the comprehensive control processing task 11.
[0059]
Reference numeral 16 denotes a test assignment knowledge database (hereinafter referred to as “test assignment knowledge base”) related to step S29, and it is determined which test is executed first in consideration of the time required for the test and the defect occurrence rate. It is a knowledge database.
[0060]
The thermostat control task 8 is related to steps S25 and S31 and to the thermostat control task management data buffer 15.
The thermostatic bath control task management data buffer 15 is related to steps S21 and S25.
[0061]
The test processing task management data buffer 13 is related to the test processing task 9 as well as to steps S26 and S29.
The test processing task 9 is related to step S29.
[0062]
As shown in FIG. 8, the constant temperature chamber control task management data buffer 15 and the test processing task management data buffer 13 in the integrated control processing task 11 can be started simultaneously with the constant temperature chamber control task 8 and the test processing task 9, respectively. The number of tasks is stored, and the number of actually activated tasks and the operating state of the activated tasks are stored.
[0063]
In FIG. 8, first, the comprehensive control processing task 11 confirms the state of the thermostatic chamber control task 8 based on the information in the thermostatic chamber control task management data buffer 15 (step S21).
[0064]
Next, it is determined whether or not there is a task that can be activated depending on whether or not the number of tasks that are activated is smaller than the number of tasks that can be activated (step S22). ), It is checked whether or not there is a request for activation of the thermostatic chamber control task 8 (step S23), and it is determined whether or not there is an activation request (step S24).
[0065]
If it is determined in step S24 that there is an activation request (that is, YES), one thermostat control task 8 is activated (step S25), and after activation, the number of activation tasks of the thermostat control task 8 is “1”. Increment only by one and proceed to step S26.
[0066]
On the other hand, if it is determined in step S22 that there is no task that can be activated with the number of tasks being activated equal to the number of tasks that can be activated (ie, NO), or there is no activation request in step S24 (that is, NO). ), The process immediately proceeds to step S26.
[0067]
Next, the general control processing task 11 confirms the state of the test processing task 9 based on the information in the test processing task management data buffer 13 (step S26), and subsequently, based on the confirmation results of steps S21 and S26, It is determined whether or not there is a task X for waiting for temperature stabilization to be a signal for completion of preparation for starting the test (step S27).
[0068]
If it is determined in step S27 that there is a temperature stabilization waiting task X (that is, YES), it is subsequently determined whether or not the number of active tasks of the test processing task 9 is smaller than the number of tasks that can be started. Based on this, it is determined whether there is a task that can be tested (step S28).
[0069]
If it is determined in step S28 that there is a task that can be tested (that is, YES), the test assignment knowledge base 16 is assigned to the DUT 5 in the thermostat 4 controlled by the thermostat control task X. The test processing task 9 based on this is started and a test is executed (step S29).
[0070]
After execution of step S29, the number of activation tasks of the test processing task 9 is incremented by “1”, and the process proceeds to step S30.
The test assignment knowledge base 16 stores knowledge for determining a test to be preferentially executed in consideration of the test time and the defect occurrence rate as described above.
[0071]
Therefore, based on the test assignment knowledge base 16, for example, by executing a test with a high defect rate first, a defective product can be found at an early stage, and a test can be quickly restarted after replacement with a new DUT 5. It is possible to increase the number of non-defective products completed per unit time.
[0072]
After completion of step S29, or when it is determined in step S27 that there is no temperature stabilization waiting task X (that is, NO), or in step S28, there is no task that can be tested (that is, NO). ), It is determined whether or not there is a test processing task Y that has been tested based on the confirmation result of step S26 (step S30).
[0073]
If it is determined in step S30 that there is no test processing task Y for which the test has been completed (that is, NO), the process returns to step S21 and the above processing is repeated.
On the other hand, if it is determined in step S30 that there is a test processing task Y for which the test has been completed (that is, YES), the constant temperature chamber control task 8 that is controlling the constant temperature chamber 4 on which the task Y has executed the test is controlled. Test completion information is transmitted (step S31), and the process returns to step S21.
[0074]
In this way, in the temperature characteristic test executed in the manufacturing process of the DUT 5 (communication device or the like), a plurality of measuring instruments 2 that sequentially execute tests corresponding to each temperature condition, and a set of the plurality of measuring instruments 2 A plurality of thermostats 4 installed in connection with the control device 1 and a control device 1 for performing control processing of each measuring instrument 2 and each thermostat 4, and the control device 1 performs a control task 8 for each thermostat 4. By assigning, the characteristic test by each measuring instrument 2 can be executed by multitasking, and each thermostat 4 can be operated independently and asynchronously.
[0075]
Therefore, a simple control logic can cope with a change in temperature conditions of individual thermostats 4, a change in operation state (operation stoppage, etc.), and a change in the number of thermostats 4.
[0076]
In addition, the control device 1 controls each measuring instrument 2 to execute the characteristic test of the device under test 5 to measure the measurement / test items by each measuring instrument 2 of the measuring instrument 2 used for each measurement. By classifying by unit, the characteristic test is executed as an independent test processing task 9 and is executed by multitasking, so that parallel tests can be performed on each DUT 5, and for sequential processing tests The test time can be shortened and the equipment operation rate can be improved.
[0077]
Further, since the function of the test processing task 9 is limited, the local development and operation test of the test processing task 9 can be performed, and the development period can be shortened and the function can be easily changed.
[0078]
The control device 1 includes a general control management task 11 for managing the thermostatic chamber control task 8 and the test processing task 9, and a test assignment knowledge database 16 (see FIG. 8) related to the characteristic test of the DUT 5. Therefore, the general control management task 11 receives the status information (such as test execution preparation completion) of the thermostat 4 from each thermostat control task 8, and assigns the test processing task 9 to the thermostat 4 as necessary. Test.
[0079]
In addition to the above processing, the integrated control processing task 11 in the control device 1 performs an optimal test from the database 16 of the test assignment knowledge considering the test time and the defect occurrence rate required for each test processing task 9. By selecting the procedure, the test time can be shortened.
[0080]
Moreover, since the communication control cable 7 (communication hardware) which connects the control apparatus 1, each measuring instrument 2, and each thermostat 4 so that mutual communication is possible, the control apparatus 1 is specified by the communication hardware 7. By prohibiting the activation of a plurality of function test processing tasks 9 and activating them alone, contention of communication hardware by a plurality of control tasks can be avoided.
[0081]
In addition, the control device 1 sequentially processes, from the top side, simultaneous communication execution requests from a plurality of higher-order control tasks among the control tasks 8 for each thermostat 4, thereby performing a plurality of control tasks 8 and test processing. Communication hardware contention due to task 9 can be avoided.
[0082]
That is, the communication processing task 10 of a specific function such as communication hardware is prohibited from multiple activations and is activated independently, so that it can be simultaneously received from a plurality of higher-level tasks such as the constant temperature bath control task 8 and the test processing task 9. By sequentially processing the communication execution request from the top, it is possible to avoid the communication hardware being executed in competition by a plurality of tasks.
[0083]
At this time, it is not necessary to incorporate special processing (for example, a flag is set when each task occupies communication hardware), and it is possible to solve a conflict problem such as communication hardware between multitasks. As a result, the processing can be simplified and the response at the time of specification change can be facilitated.
[0084]
Next, the functional configuration of the control device 1 according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1 will be described more specifically with reference to FIG.
FIG. 9 is a block configuration diagram showing a program function of the control device 1, and a mechanism in the case where the test processing task 9 and the thermostatic chamber control task 8 are configured on individual programs and configured by individually executable module groups. Is shown.
[0085]
In FIG. 9, reference numeral 17 denotes a main processing module group.
Reference numeral 18 denotes an execution procedure data group, which includes N4 test procedure data 12 (12-1 to 12-N4) and N5 temperature control data 14 (14-1 to 14-N5).
[0086]
Reference numeral 19 denotes a development environment that functions as a man-machine I / F, and includes a program development tool, that is, a compiler 19a and an editor 19b.
[0087]
The main processing module group 17 includes a main processing module 20, an execution procedure data reading module 21, a processing module group 22, a control module group 23, and a general-purpose processing module group 24.
[0088]
The main processing module 20 is a program for the operation screen, the man-machine I / F, and the control processing of the entire apparatus. While the task is activated, the control task 8 of each thermostat 4 and each measuring instrument 2 Residing on a program execution memory (not shown) associated with the test processing task 9.
[0089]
The execution procedure data reading module 21 is programmed to read the temperature control data 14 or the test procedure data 12 set from the execution procedure data group 18 in response to a request from the main processing module 20. Only loaded into the program execution memory and released upon completion of processing.
[0090]
The processing module group 22 performs processing on test processing contents that do not depend on a specific device such as the measuring instrument 2, and includes N6 processing modules 22-1 to 22-N6.
[0091]
In the processing module group 22, for example, the processing module 22-1 “power-on” processes the power supply voltage setting function and the power supply voltage output ON / OFF switching function without depending on hardware such as the type of power supply. Create as you can.
[0092]
The control module group 23 includes N7 control modules 23-1 to 23-N7.
Processes that depend on actual devices (hardware) are programmed in the control module group 23 using device-specific control commands, and are called from the processing module group 22 and executed.
[0093]
For example, the control module 23-1 is automatically called by linking the name of the control module 23-1 of “power supply device” with the description of the used device definition 12 a (see FIG. 4) in the test procedure data 12. Can be realized, and the program can be generalized.
[0094]
The general-purpose processing module group 24 is a collection of common functions called from the processing module group 22 and the control module group 23, and includes N8 general-purpose processing modules 24-1 to 24-N8.
[0095]
According to the module configuration as shown in FIG. 9, for example, when the processing module 22-1 is activated from the main processing module 20, the control module 23-1 and the general-purpose processing module 24-1 related to the processing module 22-1 are Loaded into program execution memory.
[0096]
That is, in the execution procedure data reading module 21, a series of processes is executed in such a form that it is released after the process is completed.
Here, the released execution procedure data reading module 21 can be edited by the editor 19b in the development environment 19 or recreated by the compiler 19a based on the program execution memory, and executes the test processing of the DUT 5. It is possible to develop programs while doing so.
[0097]
As shown in FIG. 9, the control device 1 includes a program execution memory related to the control task 8 of each thermostat 4 and the test process task 9 of each measuring instrument 2, the thermostat control task 8 and the test process task 9. An execution procedure data group 18 (test procedure data 12 and temperature control data 14) in which the modularized test program 1b is described in a text format and an execution procedure data reading module 21 for reading the execution procedure data 18 into the program execution memory. A main processing module 20 for executing a series of processes according to the execution procedure data read into the program execution memory, a processing module 22 independent for each execution procedure based on the execution procedure data, each measuring instrument 2 and each A control module called from the processing module 22 independently for each hardware of the thermostat 4 And Le 23, since a general-purpose processing module 24 that includes at least one of the communication functions and general purpose computing functions, it is possible to perform a multi-task a plurality activated independently of each module 22 to 24 individually.
[0098]
That is, in such a test program execution method, the main processing module 20, the processing module 22 that is actually executing the processing, the control module 23 that is called from the processing module 22 that is being executed, each module group 22, 23, the general-purpose processing module 24 called from the program execution memory is loaded into the execution state of the program, but the other modules in each module group are released from the program execution memory. The source code of these modules can be changed and recompiled, and the development of the test program 1b can be executed in parallel while executing the test, thereby shortening the development period of the test program 1b. it can.
[0099]
Note that the program execution memory in the control device 1 may be related only to the test processing task of each measuring instrument 2.
[0100]
Further, the control device 1 describes the configuration of the test equipment including the measuring instrument 2 and the thermostat 4 in the execution procedure data 18 in the modularized test program 1b of the control task 8 and the test processing task 9 of the thermostat 4. Therefore, the control module 23 can be called in the processing module 22 without describing a special processing code for the control module 23.
[0101]
Therefore, when the new measuring instrument 2 is used, it is only necessary to rewrite the description of the execution procedure data 18 after developing the program of the control module 23 for the measuring instrument 2, and there is no need to change the processing module 22 and development. Quality can be improved by shortening the period and inheriting the program.
[0102]
Embodiment 2. FIG.
In the first embodiment, only one communication device 1a is mounted on the control device 1, but two or more communication devices may be mounted.
[0103]
FIG. 10 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention in which a plurality of communication devices are mounted on a control device.
In FIG. 10, 1c is a second communication device mounted on the control device 1A. The number of communication devices to be added can be arbitrarily set.
[0104]
As shown in FIG. 10, when the second communication device 1c is mounted in addition to the communication device 1a, the communication devices 1a and 1c can simultaneously operate in parallel, and the control processing capability of the measuring instrument 2 is improved. Can do. That is, the communication functions can be executed in parallel for the number of installed communication functions.
[0105]
Embodiment 3 FIG.
In the first embodiment, one control device 1 is installed, but two or more control devices may be installed.
[0106]
FIG. 11 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention in which a plurality of control devices are installed.
In FIG. 11, reference numeral 101 denotes a control device provided in parallel with the control device 1, and has a communication device 101 a and a test program 101 b as with the control device 1. The number of control devices to be added can be arbitrarily set.
[0107]
A network line 107 interconnects the control devices 1 and 101.
The control device 1 and the control device 101 are connected via a network line 107, and mutual communication between tasks is possible.
[0108]
In addition, each control device 1 and 101 executes an individual test process, the control device 1 executes a test processing task 9 for each measuring instrument 2, and the control device 101 executes a control task 8 for each thermostat 4. To do.
[0109]
As shown in FIG. 11, in addition to the control device 1 on which the communication device 1a is mounted, by adding the control device 101 on which the second communication device 101a is mounted, the load per control device 1 and 101 is reduced. It can be lightened and test throughput can be improved.
[0110]
In addition, the development of the constant temperature chamber control task 8 and the test processing task 9 can be performed individually on different control devices 1 and 101, and can be developed by sharing with multiple workers. The period can be shortened.
[0111]
Here, a case is shown in which the control devices 1 and 101 execute the test processing task 9 and the control task 8 exclusively, but the test processing task 9 of each measuring instrument 2 is individually executed by a plurality of control devices. Also good.
Also in this case, the processing load of each control device can be reduced, and the processing capacity per unit time can be improved.
[0112]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in the manufacturing process of a DUT, a temperature test apparatus for sequentially performing a characteristic test of the DUT under a plurality of different temperature conditions, corresponding to each temperature condition A plurality of measuring instruments for performing the characteristic test, a plurality of thermostatic chambers installed in association with a set of the plurality of measuring instruments, and a control device for controlling each measuring instrument and each thermostatic chamber The control equipment assigns a control task to each thermostat, so that the characteristic test by each measuring instrument is executed in multitasking, and each thermostat is operated independently and asynchronously. Simple control logic can handle changes in operating conditions such as the temperature conditions of the temperature chamber and operation stop, and changes in the number of temperature chambers, and simplification of control logic such as measuring instruments and temperature chambers The effect of temperature testing device that achieves improved test efficiency.
[0113]
According to the present invention, in the manufacturing process of a plurality of test objects, a temperature test apparatus for sequentially performing a characteristic test of each test object under a plurality of different temperature conditions, corresponding to each temperature condition A plurality of measuring instruments for performing the characteristic test and a control device for performing control processing of each measuring instrument, and the control device controls each measuring instrument to execute the characteristic test of the DUT , By classifying the measurement / test items by each measuring instrument by the measuring instrument used for each measurement, and performing the characteristic test as an independent test processing task and multitasking, each DUT Since parallel testing was performed on the test system, the test time for sequential processing tests was reduced and the equipment operation rate was improved, while the development period for test processing tasks was shortened and functions were changed easily. The effect of degree test device is obtained.
[0114]
Further, according to the present invention, since the control device includes a comprehensive control management task for managing the control task and a database of test assignment knowledge related to the characteristic test of the DUT, each test processing task is An optimum test procedure can be selected from a database of test assignment knowledge in consideration of required test time, defect occurrence rate, etc., and there is an effect that a temperature test apparatus with reduced test time can be obtained.
[0115]
Further, according to the present invention, the control device includes a comprehensive control management task for managing the test processing task and a database of test assignment knowledge related to the characteristic test of each DUT, thereby reducing the test time. There is an effect of obtaining a temperature test apparatus.
[0116]
In addition, according to the present invention, it is provided with communication hardware that connects the control device and each measuring instrument and each thermostat so that they can communicate with each other, and the control device performs a test processing task of a specific function by the communication hardware, In addition to prohibiting multiple activations and starting them independently, among the control tasks for each thermostat, by sequentially processing from the top in response to simultaneous communication execution requests from multiple upper-level control tasks, multiple control tasks and By avoiding communication hardware contention due to test processing tasks, it is possible to solve contention problems such as communication hardware between multitasks, and obtain a temperature test device that simplifies processing and makes it easier to respond to changes in specifications. There is an effect.
[0117]
In addition, according to the present invention, the communication hardware for connecting the control device and each measuring instrument so as to be able to communicate with each other is provided, and the control device is prohibited from starting a plurality of test processing tasks for a specific function by the communication hardware. By starting independently, communication hardware contention due to multiple control tasks is avoided, so it is possible to resolve contention problems such as communication hardware between multitasks, simplify processing, and change specifications There is an effect that a temperature test apparatus that can easily cope with the problem can be obtained.
[0118]
In addition, according to the present invention, the control device includes a plurality of control devices for individually executing the test processing task of each measuring instrument and the control task of each thermostat, so the load on the control device is reduced. As a result, the processing capacity per unit time can be reduced and the program development of each task can be shared and performed, and there is an effect that a temperature test apparatus with a shortened development period can be obtained.
[0119]
In addition, according to the present invention, the control device includes a plurality of control devices for individually executing the test processing task of each measuring instrument, so the load on the control device is reduced and the processing capacity per unit time is improved. There is an effect of obtaining a temperature test apparatus.
[0120]
In addition, according to the present invention, since the control device includes a plurality of communication devices, the communication function can be executed in parallel by the number of communication functions installed, and a temperature test apparatus with improved processing capability can be obtained. There is an effect.
[0121]
Further, according to the present invention, the control device includes a program execution memory related to a control task of each thermostat and a test processing task of each measuring instrument, and a test program modularized to the control task and the test processing task. Execution procedure data described in text format, an execution procedure data reading module that reads the execution procedure data into the program execution memory, and a main processing module for executing a series of processing according to the execution procedure data read into the program execution memory And a processing module that is independent for each execution procedure based on the execution procedure data, a control module that is independently called from the processing module for each measuring instrument and each thermostat, and at least one of a communication function and a general-purpose arithmetic function General-purpose processing modules including Since multiple modules are activated independently and multitasking is executed, modules other than modules that are loaded and executed in the program execution memory are released from the program execution memory. In addition to changing and recompiling, it is possible to develop a test program in parallel while executing a test, and there is an effect of obtaining a temperature test apparatus that shortens the test program development period.
[0122]
Further, according to the present invention, the control device includes a program execution memory related to a test processing task of each measuring instrument, execution procedure data in which a test program modularized for the test processing task is described in a text format, and execution An execution procedure data reading module that reads procedure data into the program execution memory, a main processing module that executes a series of processes in accordance with the execution procedure data read into the program execution memory, and independent for each execution procedure based on the execution procedure data A processing module, a control module that is called from the processing module independently for each hardware of each measuring instrument, and a general-purpose processing module that includes at least one of a communication function and a general-purpose arithmetic function. Multiple launches to perform multitasking Since an effect of the temperature test device with reduce development time of the test program is obtained.
[0123]
Further, according to the present invention, the control device calls the control module by describing the configuration of the test facility including the measuring instrument in the execution procedure data in the test program, and therefore uses the new measuring instrument. Even in this case, it is only necessary to rewrite the description of the execution procedure data after developing the control module program for the measuring instrument, and there is no need to change the processing module, and the temperature test that shortens the development period and improves the quality by inheriting the program. There is an effect that a device can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block configuration diagram showing a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of a test program according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart showing a test processing operation according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a specific example of test procedure data used in test processing according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 5 is a flowchart showing a temperature control processing operation according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a specific example of temperature control data used in the temperature control process according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a temperature change during temperature control according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a flowchart showing a specific operation of a comprehensive control processing task according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a block configuration diagram showing a program function of the control device according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a block configuration diagram showing a second embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
1, 1A, 101 control device, 1a, 1c, 101a communication device, 1b, 101b test program, 2, 2-1 to 2-N1 measuring instrument, 3 switch, 4, 4-1 to 4-N2 constant temperature bath, 5 5-1 to 5-N2 DUT, 6A, 6A-1 to 6A-N1, 6B, 6B-1 to 6B-N2 Signal cable, 7 Communication control cable, 8, 8-1 to 8-N2 constant temperature bath Control task, 9, 9-1 to 9-N3 Test processing task, 10 Communication processing task, 11 Total control processing task, 12, 12-1 to 12-N4 Test procedure data, 13 Test processing task data buffer, 14, 14 -1 to 14-N5 temperature control data, 15 constant temperature chamber control task management data buffer, 16 test assignment knowledge base, 17 main processing module group, 18 execution procedure data group, 19 development environment, 19a 19b editor, 20 main processing module, 21 execution procedure data reading module, 22 processing module group, 222-1 to 22-N6 processing module, 23 control module group, 23-1 to 23-N7 control module, 24 general-purpose processing Module group, 24-1 to 24-N8 General-purpose processing module, 107 network line.

Claims

A temperature test apparatus for sequentially performing a characteristic test of the DUT under a plurality of different temperature conditions in a manufacturing process of the DUT,
A plurality of measuring instruments for executing a characteristic test corresponding to each temperature condition;
A plurality of thermostats installed in association with the set of measuring instruments;
A control device that performs control processing of each measuring instrument and each thermostat,
The control device is
By assigning a control task for each thermostat, the characteristic test by each measuring instrument is performed in a multitasking manner,
The temperature testing apparatus characterized by operating each said thermostat independently and asynchronously.

In the manufacturing process of a plurality of test objects, a temperature test apparatus for sequentially performing a characteristic test of each of the test objects under a plurality of different temperature conditions,
A plurality of measuring instruments for executing a characteristic test corresponding to each temperature condition;
A control device for performing control processing of each measuring instrument,
The control device classifies the measurement / test items by each measuring instrument for each measuring instrument used in each measurement in a measurement process for controlling each measuring instrument to execute a characteristic test of the DUT. In addition, a temperature test apparatus characterized in that the characteristic test is executed as an independent test processing task and is executed as a multitask, thereby performing a parallel test on each of the DUTs.

The control device is
A comprehensive control management task for managing the control task;
The temperature test apparatus according to claim 1, further comprising a database of test assignment knowledge related to a characteristic test of the DUT.

The control device is
A comprehensive control management task for managing the test processing task;
The temperature test apparatus according to claim 2, further comprising a database of test assignment knowledge related to a characteristic test of each of the test objects.

Communication hardware for connecting the control device and the measuring instruments and the thermostats so that they can communicate with each other,
The control device is
The test processing task for a specific function by the communication hardware is started by prohibiting a plurality of starting,
Among the control tasks for each thermostat, by sequentially processing from the top side for simultaneous communication execution requests from a plurality of upper control tasks,
4. The temperature test apparatus according to claim 3, wherein contention of the communication hardware by a plurality of control tasks and test processing tasks is avoided.

Communication hardware for connecting the control device and each measuring instrument so that they can communicate with each other,
The control device is
By testing a specific function test processing task by the communication hardware and prohibiting multiple activations,
The temperature test apparatus according to claim 4, wherein contention of the communication hardware by a plurality of control tasks is avoided.

The temperature according to claim 3, wherein the control device includes a plurality of control devices for individually executing a test processing task of each measuring instrument and a control task of each thermostat. Test equipment.

The temperature test apparatus according to claim 4, wherein the control device includes a plurality of control devices for individually executing a test processing task of each measuring instrument.

The temperature control apparatus according to any one of claims 3 to 8, wherein the control device includes a plurality of communication devices.

The control device is
Program execution memory related to the control task of each thermostat and the test processing task of each instrument,
Execution procedure data in which the modularized test programs of the control task and the test processing task are respectively described in a text format;
An execution procedure data reading module for reading the execution procedure data into the program execution memory;
A main processing module for executing a series of processes in accordance with execution procedure data read into the program execution memory;
An independent processing module for each execution procedure based on the execution procedure data;
A control module that is called from the processing module independently for each measuring instrument and each thermostat hardware,
A general-purpose processing module including at least one of a communication function and a general-purpose arithmetic function,
The temperature test apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the modules are individually activated to execute the multitask.

The control device is
A program execution memory related to the test processing task of each measuring instrument;
Execution procedure data in which a modularized test program of the test processing task is described in a text format;
An execution procedure data reading module for reading the execution procedure data into the program execution memory;
A main processing module for executing a series of processes in accordance with execution procedure data read into the program execution memory;
An independent processing module for each execution procedure based on the execution procedure data;
A control module called from the processing module independently for each hardware of each measuring instrument;
A general-purpose processing module including at least one of a communication function and a general-purpose arithmetic function,
The temperature test apparatus according to claim 2, wherein a plurality of the modules are independently activated to execute the multitask.

The control device is
The temperature test apparatus according to claim 10 or 11, wherein in the test program, the control module is called by describing a configuration of a test facility including the measuring instrument in the execution procedure data.