JP3847595B2 - Electronic camera and electronic camera system - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子カメラおよび当該電子カメラとカメラ用スタンドとを含む電子カメラシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】
CCD撮像素子等の固体撮像素子には欠陥画素が存在する。欠陥画素には黒欠陥画素と白欠陥画素とがある。
【0003】
黒欠陥画素は、主として製造時に発生するものであると言われている。この黒欠陥画素が存在すると、例えば明るい空を撮影したような場合に、欠陥個所が黒い点となって現れる。したがって明るい背景の被写体撮影等に悪影響を及ぼす。
【0004】
白欠陥画素は、主として出荷後において宇宙線の被爆等により後発的に発生する欠陥画素と言われている。この白欠陥画素が存在すると、例えば夜間撮影時において、欠陥個所が白点となって現れる。したがって例えば星の撮影等において致命的なダメージを受けるおそれがある。
【0005】
このような欠陥画素の存在は、撮影画像の品位を著しく損なうので、その改善が強く望まれる。製造時において発生する欠陥画素については、メーカ側で対策を講じ得る。しかるに出荷後において宇宙線等の影響で経時的に発生する後発的欠陥画素については、メーカ側での対策は困難である。
【0006】
そこで、後発的欠陥画素検出用のプログラムを電子カメラの内部に備え、経時的に発生する後発的欠陥画素を適時検出し、且つその補正を行なう手段が提案されている。なお欠陥画素の補正の手法としては、検出された欠陥画素のアドレスをメモリー等に記憶させておき、画像データの記録時等において、上記記憶させておいたアドレスに対応する画素の出力データを、周囲に存在する欠陥なき画素の出力データに基づいて補間処理するのが一般的手法である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記欠陥画素検出用プログラムを電子カメラの内部に備え、経時的に発生する後発的欠陥画素を、適時検出し且つ補正を行なう手段には以下のような問題がある。
【0008】
(1)欠陥画素の検出には比較的長い時間がかかる。したがって、できる限りカメラ使用に支障をきたさないタイミングを選んで欠陥画素検出を行なうことが要求される。特開平2001−57656号公報には、カメラの電池交換のタイミングで欠陥画素検出を実行する手段が開示されている。しかし上記手段では、電池を交換した後に、所定時間にわたり欠陥画素の検出が行なわれるので、電池交換後、直ちに撮影を行なうことはできない。結局、上記公報に示された手段もカメラ使用上、支障をきたす事を免れ得ない。
【0009】
(2)欠陥画素の検出は撮像素子及びその周辺の温度の影響を受けやすいにもかかわらず、温度補償手段が格別には考慮されていない。そのため例えば電子カメラを長時間使用した直後において欠陥画素の検出動作を実行すると、撮像素子近傍が比較的高温になっているため、通常の温度では欠陥画素とはいえない画素まで欠陥画素として検出されてしまう。
【0010】
なおCCD撮像素子の場合、温度が高くなるとSi結晶の欠陥に基づく暗電流が増加するため、白欠陥画素が増える傾向を示す。例えば暗闇撮影した場合、低い温度では正常画素の平均出力に比べて+20dB程度である特定画素の出力が、高温時においては+40dBに達することがある。したがって通常温度での実行を前提として上限閾値を仮に+40dBに設定し、高温時において検出動作を行なうと、本来は正常画素として許容され得る前記特定画素が欠陥画素として検出されてしまう。このため当該撮像素子には多数の欠陥が有ると判断され、正確な欠陥画素検出が行なわれない。
【0011】
本発明は、このような事情に基づいてなされたものであり、その目的は下記のような利点を有する電子カメラ及び電子カメラシステムを提供することにある。
【0012】
(a)カメラ使用に支障をきたすことなくカメラの診断を行なえる。
【0013】
(b)温度の影響を受けずに欠陥画素の検出を正確に行なえる。
【0014】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決し目的を達成するために、本発明の電子カメラ及び電子カメラシステムは下記のような特徴ある構成を有している。なお下記以外の特徴ある構成については実施形態の中で明らかにする。
【0015】
(1)本発明の電子カメラは、
カメラ用スタンドに載置され、当該カメラ用スタンドに備えられた電源供給手段(AC/DCコンバータ等)により電源供給を受ける電子カメラであって、カメラ本体と、このカメラ本体内に設けられたカメラ診断手段(CPU,EEPROM,欠陥画素検出・補正部等)と、前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことを検出する載置検出手段(スタンド載置検出回路等)と、この載置検出手段にて前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段(CPU,EEPROM,欠陥画素検出・補正部等)を所定のタイミングで実行させる実行制御手段(CPU,スタンド載置検出回路等)と、を備えたことを特徴としている。
【0016】
上記電子カメラにおいては、カメラ非使用状態が確定している状況下において電子カメラの診断が自動的になされるので、所謂デッドタイムが有効利用され、実質的にカメラ使用の妨げにならない。また時間的に余裕をもって診断することが可能なので、診断精度も向上する。
【0017】
(2)本発明の電子カメラシステムは、
電子カメラと、当該電子カメラを着脱自在に載置するカメラ用スタンドとからなる電子カメラシステムであって、前記カメラ用スタンドは、載置された前記電子カメラの撮影系に対して光を照射する光照射手段(光源、反射板、乳白板)を備え、前記電子カメラは、前記光照射手段から光を照射されて撮像素子の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段を備えたことを特徴としている。
【0018】
上記電子カメラシステムにおいては、カメラ用スタンドに備えられた光照射手段から、当該カメラ用スタンドに載置された電子カメラの撮影系に対し、均一な光が安定に照射され得るので、黒欠陥を正確に検出することが可能となる。
【0019】
【発明の実施の形態】
(第1実施形態)
図1は本発明の第1実施形態に係る電子カメラの概略的構成を示す図で、(a)は上面図、(b)は正面図、(c)は底面図、(d)は側面図、(e)は背面図である。
【0020】
図1に示すように、この電子カメラ10は、カメラ本体11の前面に、撮影レンズ窓12、ストロボ発光窓13、リモコン用受光窓14、等を有している。又、カメラ本体11の上面にはレリーズボタン15が設けられ、底面には三脚取付け孔16,電池装填口17等が設けられている。上記電池装填口17からカメラ本体内の電池収納部に対し、充電可能な二次電池18が着脱自在に装填され得るものとなっている。
【0021】
カメラ本体11を正面から見て左側の側面には、コネクタカバー19が矢印で示すように、スライド可能に設けられている。このコネクタカバー19の内側にはコネクタ21が配置されている。このコネクタ21は後述する充電回路23を介して二次電池18に接続されており、且つ後述するカメラ用スタンド30のコネクタ31と結合可能となっている。
【0022】
カメラ本体11の背面には、記録媒体等に記録されている画像等を再生して表示するための表示手段として、LCD表示部22が設けられている。またカメラ本体11の背面の片隅には白欠陥画素検出指令または黒欠陥画素検出指令を与えるための欠陥画素検出指令ボタン28が設けられている。
【0023】
カメラ本体11の内部には基板20が設置されており、この基板20上に前記充電回路23,前記撮影レンズ窓12を先端に有するレンズ鏡筒24等が取付けられている。
【0024】
図2は電子カメラ10を、背面が表側になるようにしてカメラ用スタンド30に載置した状態を示す図で、(a)は側面図、(b)は正面図、(c)は一部破断して示す要部の側面図である。図2に示すように、電子カメラ10は、使用時の姿勢とは異なる姿勢すなわち縦長姿勢で、その一端がカメラ用スタンド30のカメラ載置用凹部32の中に挿入された状態で載置される。このような載置状態にあっては、カメラ本体11の側面(本図ではカメラ本体11を縦長な姿勢にしている関係で、図中下側に位置している)に配置されている前記コネクタ21が、スタンド側の前記カメラ載置用凹部32の底面上に配設されているコネクタ31と結合する。
【0025】
カメラ用スタンド30は、例えば硬質樹脂で座椅子のような形状になされたものであり、その基台部30aの上面には前記カメラ載置用凹部32が設けられている。そして直立状態となっている衝立部30bの一側面は、カメラ本体11の一側面を支えるための若干傾斜した背もたれ部33となっている。このスタンド30にはケーブル34を介して差込みプラグ35が接続されている。上記差込みプラグ35を電源コンセント(不図示)に差し込んだ状態にすることで、スタンド30は電源供給部等としての機能を発揮する。
【0026】
図2の(c)に示すように、カメラ用スタンド30の内部には、当該スタンド30に載置された電子カメラ10の撮影系40(撮影レンズ41,撮像素子43等)に対して光を照射するための光照射手段30Lが設けられている。この光照射手段30Lは、光源37、反射板38、乳白板39からなり、光源37から発した光を反射板38で乱反射させ、これを乳白板39を介して撮影系40に均一な光を安定に照射し得るものとなっている。また電子カメラ10の内部には、撮像素子43の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段90が備えられている。この欠陥画素検出手段90は、後述する温度センサー91や欠陥画素検出・補正部92などを含んでおり、欠陥画素を正確に検出し、補正することが可能となっている。
【0027】
図3は欠陥画素検出・補正機能を有する電子カメラ10およびカメラ用スタンド30を含む電子カメラシステム全体の制御系の構成を示すブロック図である。図中上方の二点鎖線で囲んだ部分が電子カメラ10の部分であり、図中下方の二点鎖線で囲んだ部分がカメラ用スタンド30の部分である。
【0028】
まずカメラ用スタンド30の部分から説明する。上記スタンド30は、商用交流電源(AC100ボルト)を低圧の整流電源に変換するためのAC/DCコンバータ36及び光照射手段30Lの構成要素の一つである前記光源37を備えている。またビデオ出力端子(ジャック)VIDと、信号通信用端子としてのシリアルバス用接続端子(ジャック)USBとを備えている。そして、上記AC/DCコンバータ36、ビデオ出力端子(ジャック)VID、信号通信用端子としてのシリアルバス用接続端子(ジャック)USB等は、以下説明するように、スタンド側のコネクタ31,電子カメラ側のコネクタ21を介してカメラ本体内の各部と電気的に接続される。
【0029】
電子カメラ側のコネクタ21とスタンド側のコネクタ31とは、いずれか一方がプラグで他方がジャックとなっており、着脱自在に結合し得るものとなっている。コネクタ21とコネクタ31とが結合された状態においては、図中点線で示すように、対応するコネクタ端子を介して電子カメラ側の各部とスタンド側の各部とが互いに接続される。
【0030】
すなわちコネクタ端子aを介してスタンド側の接地部E1と電子カメラ側の接地部E1とが接続される。またコネクタ端子bを介してスタンド側のAC/DCコンバータ36と電子カメラ側の電源部70における切替回路71とが接続される。さらにコネクタ端子cを介してスタンド側のAC/DCコンバータ36の制御端と電子カメラ側のCPU54の一つのポートとが接続される。またコネクタ端子dを介してスタンド側の接地部E2と電子カメラ側のスタンド載置検出回路60における電位制御端Pとが接続される。またコネクタ端子eを介してスタンド側のシリアルバス用接続端子(ジャック)USBと電子カメラ側のシリアルバス用接続端子(ジャック)USBとが接続される。同様に、コネクタ端子fを介してスタンド側のビデオ出力端子(ジャック)VIDと電子カメラ側のビデオ出力端子(ジャック)VIDとが接続される。
【0031】
次に電子カメラ10の部分につき説明する。電子カメラ10は、カメラ本体11の内部に、撮影レンズ41,メカニカル・シャッター42,撮像素子(例えばCCD撮像素子)43を含む撮影系40を備えている。この撮影系40で捉えられた被写体像に対応する電気信号は、撮像回路44で画像データに変換される。この画像データはデータバス50を介してDRAM等からなる一時記憶メモリー51へ一時的に記憶される。この一時記憶された画像データは、画像処理装置52で圧縮処理された後、フラッシュメモリー等からなる画像記録媒体53に格納される。
【0032】
上記画像記録媒体53に格納された画像データは、再生時において上記記録媒体53から読み出され、前記画像処理装置52により伸張処理された後、前記一時記憶メモリー51に一時的に記憶される。そして、上記一時記憶された再生画像データは、LCDドライバー55を介してLCD表示部22へ供給され、画像表示され得るものとなっている。なお上記再生画像データは、ビデオドライバー56を介してビデオ出力端子VIDから外部の表示装置(不図示)へも出力可能となっており、適時、外部モニターすることを可能ならしめている。
【0033】
図3において、符号57は検出された欠陥画素のアドレス等を格納しておくためのフラッシュメモリー等からなるEEPROM、符号58はCPU54に所定の動作を行なわせる為の動作プログラム部、符号59はシリアルバス用接続端子(ジャック)USBを介して信号をやりとりする為のインターフェイスである。
【0034】
ところで、上記電子カメラ10には、カメラ本体11が前記スタンド30に載置されたか否かを検出するための載置検出手段としてスタンド載置検出回路60が設けられている。このスタンド載置検出回路60は、CPU54の一つのポートに対し、端子61に印加される+Vなる電位を抵抗素子62を介して与えておき、カメラ本体11がスタンド30へ載置されることにより前記コネクタ21と31とが結合されたとき、前記抵抗素子62の一端すなわちCPU54に接続されている電位制御端Pを接地電位に落とすことにより、カメラ本体11がスタンド30に載置されたことを示すスタンド載置情報SAをCPU54に与えるものとなっている。本実施形態ではCPU54がスタンド載置情報SAを与えられることにより、前述した欠陥画素検出指令ボタン28による欠陥画素検出機能及び補正機能が有効に働くようになっている。
【0035】
電源部70は、切替回路71と、電源供給回路72と、電池残量検出回路73を備えた前記充電回路23と、前記二次電池18とからなっている。この電源部70は、スタンド30のAC/DCコンバータ36から所定レベルの整流電源が入力しているときは、その整流電源が切替回路71,電源供給回路72を経由してカメラ本体内の各部へ供給される。またスタンド30から前記整流電源が入力しないときは、二次電池18からの直流電源が、電源供給回路72を介してカメラ本体内の各部へ供給される。更に二次電池18の電池残量が、限界レベルまで低下したことが電池残量検出回路73により検出された時は、充電回路23による二次電池18の充電が行なわれる。
【0036】
カメラ制御部80は、入力指示部81と、シャッター制御部82と、シャッターモータ83とを備えている。入力指示部81は、前記レリーズボタン15に応動するレリーズスイッチ、前記欠陥画素検出指令ボタン28に応動するスイッチ、その他各種スイッチを含んでいる。
【0037】
CPU54には、温度測定手段としての温度センサー91が接続されている。また前記データバス50には欠陥画素検出・補正部92が接続されている。上記温度センサー91、欠陥画素検出・補正部92、及び前記欠陥画素のアドレスを格納するEEPROM57、更には欠陥画素検出指令ボタン28等は、CPU54と共に本発明の欠陥画素検出手段90を構成している。上記欠陥画素検出手段90は温度センサー91で測定した温度に応じた欠陥画素検出を行ない、温度に依存する欠陥画素の検出出力レベルを温度補償しながら常に正確な欠陥画素検出を行ない得るものとなっている。
【0038】
本実施形態においては、検出された欠陥画素のアドレスは、EEPROM57に記憶される。そして撮影時において、上記記憶されたアドレスの欠陥画素から出力されたデータについては、周囲の正常な画素の出力データによって補間処理が施される。そして上記補間処理が施された後の画像データは、圧縮処理等を行なわれた後、画像記録媒体53に記録される。
【0039】
以下、上記の如く構成された本実施形態における電子カメラシステムによる白欠陥検出動作及び黒欠陥検出動作につき、図4の(a)(b)に示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。まず白欠陥検出動作につき、図4の(a)のフロー図を用いて説明する。
【0040】
ステップST11:電子カメラ10がスタンド30に載置されたことがスタンド載置検出回路60により検出されると、スタンド載置情報SAが得られる。
【0041】
ステップST12:スタンド載置情報SAが得られたことを条件として、温度センサー91からの信号に基づいた撮像素子43周囲の温度測定が行なわれる。
【0042】
ステップST13:測定された温度が所定レベル以下であるか否かの判定が行なわれる。
【0043】
ステップST14:上記判定の結果、測定された温度が所定レベル例えば30℃を越えている場合、欠陥画素の検出は行なわれず、検出動作は停止となる。
【0044】
ステップST15:上記判定の結果、測定された温度が所定レベル例えば30℃以下である場合、測定温度レベル(範囲)に応じた欠陥判定閾値が設定される。例えば測定温度が25〜30℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して+50dBに設定される。同じく20〜25℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して+40dBに設定される。
【0045】
ステップST16:シャッター42を閉じた状態で撮像素子43が所定時間(数秒)露光制御される。
【0046】
ステップST17:出力レベルが測定温度レベル(範囲)に応じて設定された欠陥判定閾値を越えた画素が欠陥画素として検出される。
【0047】
ステップST18:検出された欠陥画素のアドレスがEEPROM57へ記録される。
【0048】
ステップST19:一連の欠陥検出動作を終了する。
【0049】
次に黒欠陥検出動作につき、図4の(b)のフロー図を用いて説明する。
【0050】
ステップST21:電子カメラ10がスタンド30に載置されたことがスタンド載置検出回路60により検出されると、スタンド載置情報SAが得られる。
【0051】
ステップST22:スタンド載置情報SAが得られたことを条件として、温度センサー91からの信号に基づいた撮像素子43周囲の温度測定が行なわれる。
【0052】
ステップST23:測定された温度が所定レベル以下であるか否かの判定が行なわれる。
【0053】
ステップST24:上記判定の結果、測定された温度が所定レベル、例えば35℃を越えている場合、欠陥画素の検出は行なわれず、検出動作は停止となる。
【0054】
ステップST25:上記判定の結果、測定された温度が所定レベル、例えば35℃以下である場合、測定温度レベル(範囲)に応じた欠陥判定閾値が設定される。例えば測定温度が25〜30℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して−20dBに設定される。同じく20〜25℃である時の欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して−30dBに設定される。
【0055】
ステップST26:CPU54から黒欠陥検出指令BPに基づく光制御信号SBが、コネクタ21,31を介してスタンド30内のAC/DCコンバータ36に与えられる。これによりAC/DCコンバータ36から光照射手段30Lの光源37に対して点灯電力SPが供給される。このため光照射手段30Lからカメラ本体11の撮影系40に対し均一な光が安定的に照射される。
【0056】
ステップST27:シャッター42を開いた状態で撮像素子43が所定時間(一瞬)露光制御される。
【0057】
ステップST28:出力レベルが測定温度レベル(範囲)に応じて設定された欠陥判定閾値を下回った画素(明るくならない画素)が黒欠陥画素として検出される。
【0058】
ステップST29:検出された欠陥画素のアドレスがEEPROM57へ記録される。
【0059】
ステップST30:一連の欠陥検出動作を終了する。
【0060】
次に上記欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出と充電手段(充電回路23等)による内蔵二次電池18の充電とのタイミング制御動作について、図5の(a)(b)に示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。まず欠陥検出動作後に充電する場合の制御動作につき、図5の(a)のフロー図を用いて説明する。
【0061】
ステップST31:電子カメラ10がスタンド30に載置されたことがスタンド載置検出回路60により検出されると、スタンド載置情報SAが得られる。
【0062】
ステップST32:スタンド載置情報SAが得られたことを条件として、前述した欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出が行なわれる。
【0063】
ステップST33:電池残量が所定量以上あるか否か判定される。
【0064】
ステップST34:電池残量が所定量以上無いと判定された場合、充電回路23による充電が行われ、ステップST33へ戻る。
【0065】
ステップST35:ステップST33において電池残量が所定量以上あると判定されたとき、一連の制御動作を終了する。
【0066】
上記の如く制御されることにより、欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出動作が、充電による温度上昇の影響を受けないので、温度測定手段(CPU54,温度センサー91等)を用いた温度補償を格別に行なわなくても検出精度を所定レベルに維持できる。なお温度測定手段を用いた温度補償を同時に行なってもよいのは勿論である。
【0067】
次に充電後において欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出動作を行なうう場合の制御動作につき、図5の(b)のフロー図を用いて説明する。
【0068】
ステップST41:電子カメラ10がスタンド30に載置されたことがスタンド載置検出回路60により検出されると、スタンド載置情報SAが得られる。
【0069】
ステップST42:スタンド載置情報SAが得られたことを条件として、電池残量が所定量以上あるか否か判定される。
【0070】
ステップST43:電池残量が所定量以上無いと判定された場合、充電回路23による充電が行われ、ステップST42へ戻る。
【0071】
ステップST44:ステップST42において電池残量が所定量以上あると判定されたとき、前述した欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出が行なわれる。
【0072】
ステップST45:一連の制御動作を終了する。
【0073】
上記の如く制御されることにより、充電手段(充電回路23等)による充電が十分行なわれた後、前記欠陥画素検出手段90による欠陥画素検が行なわれる。したがって検出動作中に内蔵二次電池18が消耗してまうことは殆ど無いので、上記欠陥画素検出動作が電池消耗によって中断するおそれがない。なおこの場合温度測定手段を用いた温度補償が行なわれることが必要である。
【0074】
(実施形態における特徴点)
[1]実施形態に示された電子カメラ10は、
カメラ用スタンド30に載置され、当該カメラ用スタンド30に備えられた電源供給手段(AC/DCコンバータ36等)により電源供給を受ける電子カメラ10であって、
カメラ本体11と、このカメラ本体11に設けられたカメラ診断手段(CPU54,EEPROM57,欠陥画素検出・補正部92等)と、前記カメラ本体11が前記カメラ用スタンド30に載置されたことを検出する載置検出手段(スタンド載置検出回路60等)と、この載置検出手段(60等)にて前記カメラ本体11が前記カメラ用スタンド30に載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段(CPU54,EEPROM57,欠陥画素検出・補正部92)を所定のタイミングで実行させる実行制御手段と(CPU54,スタンド載置検出回路60等)と、を備えたことを特徴としている。
【0075】
上記電子カメラ10においては、カメラ非使用状態が確定している状況下において電子カメラ10の診断が自動的になされるので、所謂デッドタイムが有効利用され、実質的にカメラ使用の妨げにならない。また時間的に余裕をもって診断することが可能なので、診断精度も向上する。
【0076】
[2]実施形態に示された電子カメラ10は、前記[1]に記載の電子カメラ10であって、
前記カメラ診断手段(CPU54,EEPROM57,欠陥画素検出・補正部92)は、撮像素子43の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段90であることを特徴としている。
【0077】
上記電子カメラ10においては、欠陥画素検出が電子カメラ10を使用しない状況下において自動的になされる。
【0078】
[3]実施形態に示された電子カメラ10は、前記[2]に記載の電子カメラ10であって、
前記カメラ本体11は、更に温度測定手段(CPU54,温度センサー91等)を備え、前記欠陥画素検出手段90は、上記温度測定手段(CPU54,温度センサー91等)で測定した温度に応じた欠陥画素検出を行なうものであることを特徴としている。
【0079】
上記電子カメラ10においては、温度に依存する欠陥画素の検出出力レベルが温度補償されたものとなるので、誤った欠陥画素検出を防止できる。
【0080】
[4]実施形態に示された電子カメラ10は、前記[2]又は[3]に記載の電子カメラであって、
前記カメラ本体11は、前記カメラ用スタンド30から供給された電力により内蔵二次電池18を充電する充電手段(充電回路23等)を更に備え、
前記実行制御手段は、前記充電手段(充電回路23等)による充電を、前記欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出後において開始させる手段を含んでいることを特徴としている。
【0081】
上記電子カメラ10においては、欠陥画素検出手段90による欠陥画素の検出動作が、充電による温度上昇の影響を受けないので、温度測定手段(CPU54,温度センサー91等)を用いた温度補償を格別に行なわなくても検出精度を所定レベルに維持できる。
【0082】
[5]実施形態に示された電子カメラは、前記[3]に記載の電子カメラであって、
前記カメラ本体は、前記カメラ用スタンド30から供給された電力により内蔵二次電池18を充電する充電手段(充電回路23等)を更に備え、
前記実行制御手段(CPU54,スタンド載置検出回路60等)は、前記充電手段(充電回路23等)による充電が終了した後、前記欠陥画素検出手段90を実行させる手段を含んでいることを特徴としている。
【0083】
上記電子カメラ10においては、欠陥画素検出動作が、内蔵二次電池18の電池消耗によって中断するおそれがない。
【0084】
[6]実施形態に示された電子カメラシステムは、
電子カメラ10と、当該電子カメラ10を着脱自在に載置するカメラ用スタンド30とからなる電子カメラシステムであって、
前記カメラ用スタンド30は、載置された前記電子カメラ10の撮影系40に対して光を照射する光照射手段30L(光源37、反射板38、乳白板39)を備え、
前記電子カメラ10は、前記光照射手段30Lから光を照射されて撮像素子43の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段90を備えたことを特徴としている。
【0085】
上記電子カメラシステムにおいては、カメラ用スタンド30に備えられた光照射手段30Lから、当該カメラ用スタンド30に載置された電子カメラ10の撮影系40に対し、均一な光が安定に照射され得るので、黒欠陥を正確に検出することが可能となる。
【0086】
[7]実施形態に示された電子カメラシステムは、前記[6]に記載の電子カメラシステムであって、
前記カメラ用スタンド30は、載置された電子カメラ10に電源を供給する電源供給手段(AC/DCコンバータ36等)を備え、
前記電子カメラ10は、前記カメラ用スタンド30から供給された電力により内蔵二次電池18を充電する充電手段(充電回路23等)を備えたことを特徴としている。
【0087】
(変形例)
実施形態に示された電子カメラ及び電子カメラシステムは、下記の変形例を含んでいる。
【0088】
・温度センサ91を、スタンド側に設けたもの。
【0089】
【発明の効果】
本発明によれば、下記のような作用効果を有する電子カメラ及び電子カメラシステムを提供できる。
【0090】
(a)カメラ非使用状態が確定している状況下において、カメラ診断が実行されるので、カメラ使用に支障をきたすことなくカメラの診断を行なえる。
【0091】
(b)温度補償を行ないながら欠陥画素の検出が行なわれるので、温度の影響を受けずに欠陥画素の検出を正確に行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る電子カメラの概略的構成を示す図で、(a)は上面図、(b)は正面図、(c)は底面図、(d)は側面図、(e)は背面図。
【図2】本発明の第1実施形態に係る電子カメラが充電可能なカメラ用スタンドに載置された状態を示す図で、(a)は側面図、(b)は正面図、(c)は一部破断して示す要部側面図。
【図3】本発明の第1実施形態に係る電子カメラおよびスタンドを含むカメラシステム全体の制御系の構成を示すブロック図。
【図4】(a)及び(b)は本発明の第1実施形態に係る電子カメラシステムによる白欠陥検出動作及び黒欠陥検出動作をそれぞれ示すフロー図。
【図5】(a)及び(b)は本発明の第1実施形態に係る電子カメラシステムにおける欠陥画素検出と内蔵二次電池の充電とのタイミング制御動作についてに示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。
【符号の説明】
10…電子カメラ
11…カメラ本体
19…コネクタカバー
21…コネクタ
22…LCD表示部
23…充電回路(充電手段の一部)
28…欠陥画素検出指令ボタン
30…カメラ用スタンド
30L…光照射手段(37,38,39)
31…コネクタ
32…カメラ載置用凹部
36…AC/DCコンバータ(電源供給手段の一部)
40…撮影系(41,42,43)
60…スタンド載置検出回路(載置検出手段)
70…電源部
80…カメラ制御部
90…欠陥画素検出手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic camera and an electronic camera system including the electronic camera and a camera stand.
[0002]
[Prior art]
There are defective pixels in a solid-state imaging device such as a CCD imaging device. The defective pixels include black defective pixels and white defective pixels.
[0003]
It is said that black defective pixels are mainly generated during manufacturing. If this black defective pixel exists, for example, when a bright sky is photographed, the defective portion appears as a black dot. Therefore, it has an adverse effect on shooting a subject with a bright background.
[0004]
The white defective pixel is said to be a defective pixel that is generated later mainly due to exposure to cosmic rays after shipment. If this white defective pixel exists, for example, when shooting at night, the defective portion appears as a white point. Therefore, for example, there is a risk of fatal damage in shooting a star.
[0005]
The presence of such defective pixels significantly impairs the quality of the photographed image, so that improvement is strongly desired. Measures can be taken by the manufacturer for defective pixels that occur during manufacturing. However, it is difficult for manufacturers to take countermeasures for late defective pixels that occur over time due to the influence of cosmic rays after shipment.
[0006]
In view of this, there has been proposed a means for providing a program for detecting a defective pixel later in the electronic camera, detecting the defective pixel generated with time, and correcting it. As a method for correcting defective pixels, the address of the detected defective pixel is stored in a memory or the like, and the output data of the pixel corresponding to the stored address at the time of recording image data or the like, It is a general method to perform interpolation processing based on output data of pixels having no defect existing around.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
The means for providing the above defective pixel detection program in the electronic camera and detecting and correcting the subsequent defective pixels that occur over time has the following problems.
[0008]
(1) It takes a relatively long time to detect a defective pixel. Therefore, it is required to perform defective pixel detection at a timing that does not interfere with camera use as much as possible. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-57656 discloses means for executing defective pixel detection at the timing of camera battery replacement. However, in the above means, since defective pixels are detected for a predetermined time after the battery is replaced, it is not possible to take an image immediately after the battery is replaced. In the end, the means disclosed in the above publication cannot avoid the trouble in using the camera.
[0009]
(2) Although the detection of defective pixels is easily affected by the temperature of the image sensor and its surroundings, the temperature compensation means is not particularly considered. For this reason, for example, if a defective pixel detection operation is performed immediately after using an electronic camera for a long time, the vicinity of the image sensor is relatively hot, and even pixels that are not defective pixels are detected as defective pixels at normal temperatures. End up.
[0010]
In the case of a CCD image pickup device, the dark current based on defects in the Si crystal increases as the temperature rises, so that white defective pixels tend to increase. For example, when photographing in the dark, the output of a specific pixel, which is about +20 dB compared to the average output of normal pixels at a low temperature, may reach +40 dB at a high temperature. Therefore, if the upper limit threshold is set to +40 dB on the premise of execution at the normal temperature and the detection operation is performed at a high temperature, the specific pixel that is originally allowed as a normal pixel is detected as a defective pixel. For this reason, it is determined that the image sensor has a large number of defects, and accurate defective pixel detection is not performed.
[0011]
The present invention has been made based on such circumstances, and an object thereof is to provide an electronic camera and an electronic camera system having the following advantages.
[0012]
(A) The camera can be diagnosed without hindering the use of the camera.
[0013]
(B) It is possible to accurately detect defective pixels without being affected by temperature.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the problems and achieve the object, the electronic camera and the electronic camera system of the present invention have the following characteristic configurations. Note that features other than those described below will be clarified in the embodiments.
[0015]
(1) The electronic camera of the present invention is
An electronic camera mounted on a camera stand and supplied with power by a power supply means (AC / DC converter or the like) provided in the camera stand, the camera body and a camera provided in the camera body Diagnosis means (CPU, EEPROM, defective pixel detection / correction unit, etc.), placement detection means (stand placement detection circuit, etc.) for detecting that the camera body is placed on the camera stand, When the position detection means detects that the camera body is placed on the camera stand, the camera diagnosis means (CPU, EEPROM, defective pixel detection / correction unit, etc.) is executed at a predetermined timing. And a control means (CPU, stand placement detection circuit, etc.).
[0016]
In the above electronic camera, since the diagnosis of the electronic camera is automatically performed under the condition that the camera non-use state is fixed, so-called dead time is effectively used, and the use of the camera is not substantially hindered. In addition, the diagnosis accuracy can be improved because the diagnosis can be made with sufficient time.
[0017]
(2) The electronic camera system of the present invention
An electronic camera system comprising an electronic camera and a camera stand on which the electronic camera is detachably mounted, wherein the camera stand irradiates light on a photographing system of the mounted electronic camera A light irradiating means (light source, reflector, milky white plate); It is said.
[0018]
In the above electronic camera system, uniform light can be stably irradiated from the light irradiation means provided in the camera stand to the photographing system of the electronic camera placed on the camera stand. It becomes possible to detect accurately.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an electronic camera according to a first embodiment of the present invention, in which (a) is a top view, (b) is a front view, (c) is a bottom view, and (d) is a side view. (E) is a rear view.
[0020]
As shown in FIG. 1, the
[0021]
A
[0022]
An
[0023]
A
[0024]
2A and 2B are diagrams showing a state in which the
[0025]
The camera stand 30 is made of, for example, hard resin and has a shape like a seat chair, and the
[0026]
As shown in FIG. 2C, the
[0027]
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a control system of the entire electronic camera system including the
[0028]
First, the
[0029]
One of the electronic camera-
[0030]
In other words, the grounding part E1 on the stand side and the grounding part E1 on the electronic camera side are connected via the connector terminal a. Further, the AC /
[0031]
Next, the
[0032]
The image data stored in the
[0033]
In FIG. 3,
[0034]
The
[0035]
The
[0036]
The
[0037]
A
[0038]
In the present embodiment, the address of the detected defective pixel is stored in the
[0039]
Hereinafter, the white defect detection operation and the black defect detection operation by the electronic camera system according to the present embodiment configured as described above will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS. First, the white defect detection operation will be described with reference to the flowchart of FIG.
[0040]
Step ST11: When the stand placement detection circuit 60 detects that the
[0041]
Step ST12: On the condition that the stand placement information SA is obtained, the temperature around the
[0042]
Step ST13: It is determined whether or not the measured temperature is below a predetermined level.
[0043]
Step ST14: As a result of the determination, if the measured temperature exceeds a predetermined level, for example, 30 ° C., the defective pixel is not detected and the detection operation is stopped.
[0044]
Step ST15: As a result of the determination, if the measured temperature is a predetermined level, for example, 30 ° C. or less, a defect determination threshold value corresponding to the measured temperature level (range) is set. For example, the defect determination threshold when the measurement temperature is 25 to 30 ° C. is set to +50 dB with respect to the average output level of normal pixels. Similarly, the defect determination threshold at 20 to 25 ° C. is set to +40 dB with respect to the average output level of normal pixels.
[0045]
Step ST16: The exposure of the
[0046]
Step ST17: A pixel whose output level exceeds a defect determination threshold set according to the measured temperature level (range) is detected as a defective pixel.
[0047]
Step ST18: The address of the detected defective pixel is recorded in the
[0048]
Step ST19: A series of defect detection operations are terminated.
[0049]
Next, the black defect detection operation will be described with reference to the flowchart of FIG.
[0050]
Step ST21: When the stand placement detection circuit 60 detects that the
[0051]
Step ST22: On the condition that the stand placement information SA is obtained, the temperature around the
[0052]
Step ST23: It is determined whether or not the measured temperature is equal to or lower than a predetermined level.
[0053]
Step ST24: As a result of the above determination, when the measured temperature exceeds a predetermined level, for example, 35 ° C., the defective pixel is not detected and the detection operation is stopped.
[0054]
Step ST25: If the measured temperature is a predetermined level, for example, 35 ° C. or less as a result of the determination, a defect determination threshold value corresponding to the measured temperature level (range) is set. For example, the defect determination threshold when the measured temperature is 25 to 30 ° C. is set to −20 dB with respect to the average output level of normal pixels. Similarly, the defect determination threshold at 20 to 25 ° C. is set to −30 dB with respect to the average output level of normal pixels.
[0055]
Step ST26: The light control signal SB based on the black defect detection command BP is given from the
[0056]
Step ST27: The exposure of the
[0057]
Step ST28: Pixels (pixels that do not become bright) whose output level is lower than the defect determination threshold set according to the measured temperature level (range) are detected as black defective pixels.
[0058]
Step ST29: The address of the detected defective pixel is recorded in the
[0059]
Step ST30: A series of defect detection operations are terminated.
[0060]
Next, regarding the timing control operation of the defective pixel detection by the defective pixel detection means 90 and the charging of the built-in
[0061]
Step ST31: When the stand placement detection circuit 60 detects that the
[0062]
Step ST32: On the condition that the stand placement information SA is obtained, the defective
[0063]
Step ST33: It is determined whether or not the remaining battery level is a predetermined amount or more.
[0064]
Step ST34: When it is determined that the remaining battery level is not equal to or greater than the predetermined amount, charging by the charging
[0065]
Step ST35: When it is determined in step ST33 that the remaining battery level is equal to or greater than the predetermined amount, the series of control operations is terminated.
[0066]
By performing the control as described above, the defective pixel detection operation by the defective
[0067]
Next, the control operation when the defective
[0068]
Step ST41: When the stand placement detection circuit 60 detects that the
[0069]
Step ST42: On the condition that the stand placement information SA is obtained, it is determined whether or not the remaining battery level is a predetermined amount or more.
[0070]
Step ST43: When it is determined that the remaining battery level is not equal to or greater than the predetermined amount, charging by the charging
[0071]
Step ST44: When it is determined in step ST42 that the remaining battery level is equal to or greater than the predetermined amount, the defective
[0072]
Step ST45: A series of control operations are terminated.
[0073]
By controlling as described above, after the charging means (charging
[0074]
(Feature points in the embodiment)
[1] The
An
Detects that the
[0075]
In the
[0076]
[2] The
The camera diagnosis means (
[0077]
In the
[0078]
[3] The
The
[0079]
In the
[0080]
[4] The
The
The execution control means includes means for starting charging by the charging means (such as the charging circuit 23) after detection of the defective pixel by the defective
[0081]
In the
[0082]
[5] The electronic camera shown in the embodiment is the electronic camera according to [3],
The camera body further includes charging means (charging
The execution control means (
[0083]
In the
[0084]
[6] The electronic camera system shown in the embodiment
An electronic camera system comprising an
The camera stand 30 includes light irradiation means 30L (a
The
[0085]
In the electronic camera system, uniform light can be stably irradiated from the light irradiation means 30 </ b> L provided in the camera stand 30 to the photographing
[0086]
[7] The electronic camera system shown in the embodiment is the electronic camera system according to [6],
The camera stand 30 includes power supply means (AC /
The
[0087]
(Modification)
The electronic camera and the electronic camera system shown in the embodiment include the following modifications.
[0088]
-A
[0089]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the electronic camera and electronic camera system which have the following effects can be provided.
[0090]
(A) Since the camera diagnosis is executed in a situation where the camera non-use state is fixed, the camera diagnosis can be performed without hindering the use of the camera.
[0091]
(B) Since defective pixels are detected while temperature compensation is performed, defective pixels can be detected accurately without being affected by temperature.
[Brief description of the drawings]
1A and 1B are diagrams showing a schematic configuration of an electronic camera according to a first embodiment of the present invention, wherein FIG. 1A is a top view, FIG. 1B is a front view, FIG. 1C is a bottom view, and FIG. The figure and (e) are rear views.
2A and 2B are views showing a state where the electronic camera according to the first embodiment of the present invention is placed on a rechargeable camera stand, where FIG. 2A is a side view, FIG. 2B is a front view, and FIG. FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a control system of the entire camera system including the electronic camera and the stand according to the first embodiment of the present invention.
FIGS. 4A and 4B are flowcharts respectively showing a white defect detection operation and a black defect detection operation by the electronic camera system according to the first embodiment of the present invention.
FIGS. 5A and 5B are flow charts showing timing control operations of defective pixel detection and built-in secondary battery charging in the electronic camera system according to the first embodiment of the present invention, respectively. explain.
[Explanation of symbols]
10. Electronic camera
11 ... Camera body
19 ... Connector cover
21 ... Connector
22 ... LCD display
23 ... Charging circuit (part of charging means)
28 ... Defective pixel detection command button
30 ... Stand for camera
30L ... Light irradiation means (37, 38, 39)
31 ... Connector
32. Recess for mounting camera
36 ... AC / DC converter (part of power supply means)
40 ... Shooting system (41, 42, 43)
60. Stand placement detection circuit (placement detection means)
70 ... Power supply
80 ... Camera control unit
90 ... Defective pixel detection means
Claims (7)
カメラ本体と、
このカメラ本体に設けられたカメラ診断手段と、
前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことを検出する載置検出手段と、
この載置検出手段にて前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段を所定のタイミングで実行させる実行制御手段と、
を備えたことを特徴とする電子カメラ。An electronic camera mounted on a camera stand and receiving power supply by a power supply means provided in the camera stand,
The camera body,
Camera diagnostic means provided in the camera body;
A placement detection means for detecting that the camera body is placed on the camera stand;
An execution control means for executing the camera diagnosis means at a predetermined timing when the placement detection means detects that the camera body is placed on the camera stand;
An electronic camera characterized by comprising:
前記実行制御手段は、前記充電手段による充電を、前記欠陥画素検出手段による欠陥画素の検出後において開始させる手段を含んでいることを特徴とする請求項2又は3に記載の電子カメラ。The camera body further includes a charging means for charging the built-in secondary battery with power supplied from the camera stand,
4. The electronic camera according to claim 2, wherein the execution control means includes means for starting charging by the charging means after detection of a defective pixel by the defective pixel detection means.
前記実行制御手段は、前記充電手段による充電が終了した後、前記欠陥画素検出手段を実行させる手段を含んでいることを特徴とする請求項3に記載の電子カメラ。The camera body further includes a charging means for charging the built-in secondary battery with power supplied from the camera stand,
4. The electronic camera according to claim 3, wherein the execution control means includes means for executing the defective pixel detection means after charging by the charging means is completed.
前記カメラ用スタンドは、載置された前記電子カメラの撮影系に対して光を照射する光照射手段を備え、
前記電子カメラは、前記光照射手段から光を照射されて撮像素子の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段を備えたことを特徴とする電子カメラシステム。An electronic camera system comprising an electronic camera and a camera stand on which the electronic camera is detachably mounted,
The camera stand includes a light irradiation means for irradiating light to a photographing system of the mounted electronic camera,
The electronic camera system includes a defective pixel detection unit capable of detecting a black defective pixel of an image pickup device by being irradiated with light from the light irradiation unit.
前記電子カメラは、前記カメラ用スタンドから供給された電力により内蔵二次電池を充電する充電手段を備えたことを特徴とする請求項6に記載の電子カメラシステム。The camera stand includes power supply means for supplying power to a mounted electronic camera,
The electronic camera system according to claim 6, wherein the electronic camera includes a charging unit that charges a built-in secondary battery with electric power supplied from the camera stand.
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