JP3753605B2 - 太陽電池およびその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、化合物半導体材料からなるpin積層構造を有する太陽電池およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
現在、太陽電池のほとんどはSiを原料としているが、人工衛星の電源向けなどの高い光電変換効率が要求される用途では、太陽光スペクトルの整合性から化合物半導体であるGaAsを用いた太陽電池が実用化されている。
しかし、太陽電池はその材料がもつ禁制帯幅に対応した波長範囲の光しか利用できないため、単一材料による太陽電池ではその変換効率には限界がある。そこで、光電変換効率を高めるための試みとして禁制帯幅の異なる複数の材料を用いたタンデム型太陽電池の構造が考案された。タンデム型太陽電池の構造は、受光面側から順に禁制帯幅の広い材料の太陽電池セルを積層するものであり、各々の太陽電池セルのもつ禁制帯幅に対応した広い範囲の波長の光が利用できる。
【0003】
また、他の技術として、量子井戸を利用した太陽電池の構造が提案されている(文献「Journal of Applied Physics Vol.67 p3490(1990) 」)。
この構造の太陽電池は多重量子井戸構造を有する太陽電池と呼ばれ、図14に示すように、n型半導体層2とp型半導体層4の間の半導体pn接合領域に、中間層としてi型半導体層103を導入した構造を有する。i型半導体層103は、上記pn接合を形成する半導体材料で障壁層130を形成し、前記半導体材料より狭い禁制帯幅を有する半導体材料で井戸層131を形成してなる。
【0004】
上記の多重量子井戸構造におけるエネルギーバンド構造のモデルを図15に示す。
図15において、Ecは伝導帯の下端、Evは価電子帯の上端を表す。この構造では、開放電圧を低下させることなく、pn接合を形成する半導体材料の禁制帯幅に対応した光のみならず、井戸層131を形成する半導体材料の禁制帯幅に対応した光をも光電変換に利用できる。したがって、より長波長側の太陽光が光電効果に寄与するので、分光感度特性が向上し高出力の太陽電池を得ることができる。
【0005】
また、特開平7−231108号公報には、pin構造を有する太陽電池のi型半導体層を形成する際に、p型領域からn型領域に向かって禁制帯幅を階段状に変化させた太陽電池が開示されている。ここでは、混晶化が異なる化合物半導体材料をMBE法により順に結晶成長させて階段状の禁制帯幅を形成する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
前記のタンデム型太陽電池構造では、各々の太陽電池セルおよびそれを接続するトンネル接合を最適条件で作製するため、非常に精巧で複雑な製造プロセスを必要とする。しかし、前記プロセスを構成するのに要する設備および工程に見合う高い光電変換効率を有する太陽電池は未だ作製されていない。
また、前記の多重量子井戸構造を有する太陽電池は、井戸層131の幅によって規定される電子の量子準位もしくは井戸層131の材料のもつ禁制帯幅によって、キャリア励起に寄与できる最長波長は単一に決まってしまう。
【0007】
そのため、その波長範囲を広げるために、前記したように、井戸層の幅を段階的に変化させる方法、あるいは井戸層を構成する半導体材料の混晶比を段階的に変化させる方法をとらなければならない。
しかしながら、これらの方法を用いて井戸層の膜厚、組成を設計通りに作製するためには、タンデム型太陽電池の場合と同様に精度の高いプロセスが必要になる。
【0008】
この発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、製造工程が簡略化され、かつ高い光電変換効率を有する太陽電池およびその製造方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
この発明によれば、第一の化合物半導体材料からなるp型半導体層とn型半導体層とを有する太陽電池であって、前記p型半導体層とn型半導体層の間に、複数の凸部を表面に有する第二の化合物半導体材料からなる量子井戸層の少なくとも1層を含み、一つの量子井戸層または複数の量子井戸層のいずれかの層に大きさの異なる凸部を有することを特徴とする太陽電池が提供される。
【0010】
この発明の別の観点によれば、第一の化合物半導体材料からなるp型半導体層とn型半導体層とを有する太陽電池を製造するに際し、基板上に前記p型またはn型半導体層を形成した後、第二の化合物半導体材料で少なくとも1つの量子井戸層を形成し、次いで第一の化合物半導体材料からなるn型またはp型半導体層を形成する工程を含み、前記の量子井戸層を形成する工程は、基底部と、基底部上に複数の凸部とを順次構成してなり、一つの量子井戸層または複数の量子井戸層のいずれかの層に大きさの異なる凸部を形成することを特徴とする太陽電池の製造方法が提供される。
【0011】
すなわち、この発明では、上記の課題を解決するため、pn構造を有する太陽電池のpn接合領域に、あるいはpin構造を有する太陽電池のi型半導体層に、第二の化合物半導体材料からなり複数の凸部を有する量子井戸層(以下、「量子ドット層」と称する)を導入することを特徴としている。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいてこの発明の実施の形態を説明するが、これらによってこの発明は限定されるものではない。
図1は、この発明による、化合物半導体材料からなるpin積層構造を有する太陽電池セルの基本的な構成を示す。
太陽電池セル10は、基板1と、第一の化合物半導体材料で基板1上に形成されたp型またはn型半導体層2と、前記半導体層2上に形成されたi型半導体層3と、第一の化合物半導体材料でi型半導体層3上に形成されたn型またはp型半導体層4とからなる。
【0013】
i型半導体層3は、第一の化合物半導体材料からなるベース層3cと、第二の化合物半導体材料でベース層3c上に形成された量子ドット層3aと、第一の化合物半導体材料で量子ドット層3a上に形成されたキャップ層3bとを構成単位30として形成される。キャップ層3bにより、層表面の平坦性が確保される。したがって、量子ドット層3aとキャップ層3bとを積層したタンデム構造では、量子ドット層3aに挟まれたキャップ層3bが中間層3dとなる。
【0014】
量子ドット層3aは、底部を形成する基底部11と、基底部11上の複数の凸部12(量子ドット)とからなり、同一層の量子ドット層3a、または異なる層の量子ドット層3aに厚みの異なる凸部12を有することを特徴とする。
例えば、i型半導体層3が複数の量子ドット層3aを含むタンデム構造では、異なる量子ドット層3aに厚みの異なる凸部12を有するように量子ドット層3aが積層されるのが好ましい。このような構成としては、太陽電池セル10の受光面側から(例えば、図中上方から)順に凸部12の厚さが増すように構成されたi型半導体層3が例示される。
また、i型半導体層3が1つの量子ドット層3aを含む単層構造では、厚みの異なる凸部12が同一基底部11上に散在するように構成されたi型半導体層3が例示される。
【0015】
この発明における基板としては、通常、太陽電池セルの基板として使用されるものであれば特に限定されるものではなく、金属基板、樹脂基板あるいはガラス基板が挙げられる。
この発明におけるn型またはp型半導体層を形成する第一の化合物半導体材料としては、GaAs、GaAlAsなどの周期表の第III 族元素および第V族元素からなる化合物が好ましい。
量子井戸層を形成する第二の化合物半導体材料としては、InGaAs、GaAsなどの周期表の第III 族元素および第V族元素からなる化合物が好ましい。
【0016】
この発明では、i型半導体層3に上記の量子ドット層3aを導入することにより、pn接合を形成している半導体の禁制帯幅に対応した波長の光に加えて、量子ドット層3aに形成される実効的な禁制帯幅に対応した波長の光も吸収できるため、高い変換効率が得られる。また、i型半導体層3に用いられる化合物半導体の材料の組み合わせ、あるいはその混晶比で禁制帯幅を変えることができるため、入射光に対応して高い変換効率を有する太陽電池の製造が可能となる。
【0017】
このような太陽電池10では、図2に示すように、太陽電池を構成する半導体材料の禁制帯幅が一定値ではなく幅広い様々な値をもつことによって、光電変換が可能な波長の範囲を広げることができる。
このために、本発明では、大きさの異なる複数の凸部12を同一または異なる層の基底部11上に形成させることにより、凸部12のサイズが異なれば、そのサイズに対応した伝導帯Ecおよび価電子帯Evにおける量子準位間のエネルギーギャップ、すなわち、異なる実効的な禁制帯幅を有する量子井戸を量子ドット層3aに形成することができる。このような構造は、通常のバルク結晶とは異なる性質を示し、数十nm程度の微少な結晶構造内に閉じ込められた電子(または正孔)の占有できるエネルギー準位が離散的になるなどの特徴を有する。
【0018】
この発明の太陽電池の製造方法としては、量子井戸層の形成工程に、リソグラフィ技術と選択エッチングを用いる方法および自己組織化機構を用いる方法がある。
【0019】
リソグラフィ技術と選択エッチングを用いる方法について、図3および図4を用いて説明する。
図3は、単層のi型半導体層3を有するpin型太陽電池の形成工程を示す。まず、n(又はp)基板1上に第一の化合物半導体材料からなるn(又はp)層2を結晶成長させた後、第一の化合物半導体材料からなるベース層3cを結晶成長させ、量子ドット層3aを形成するための膜3a’を厚さ10nmで結晶成長させる(a)。次に、フォトレジスト21aを塗布し(b)、レジストマスクを用いた露光および現像によって前記レジストに所定のパターン21a’を形成し(c)、このパターン21a’を保護膜として膜3a’を選択エッチングして量子ドット層3aを作製する(d)。
【0020】
前記パターン21a’は、異なる大きさのパターン21a’部分からなり、それによって、大きさの異なる複数の結晶からなる凸部12が基底部11上に形成された量子ドット層3aが形成される。
次いで、量子ドット層3a上にキャップ層3bを結晶成長させ、さらにp(又はn)層4の形成によりpin型太陽電池20を完成させる(e)。
【0021】
リソグラフィ技術と選択エッチングを用いてタンデム構造のi型半導体層3を有するpin型太陽電池を形成する工程を図4に示す。
この例では、量子ドット層3aを形成し(d)、さらにキャップ層3bを形成する工程までは、前記単層の場合と同様の手順(図3(a)〜(d))で作製される。
次に、形成された前記キャップ層3bを中間層3dとして、この上に2層目の量子ドット層3aを形成するための膜3a’を厚さ10nmで結晶成長させる(e)。その後、(a)に戻り、前記と同様の手順(a)〜(e)を繰り返して2層目からn層目までの量子ドット層3aを形成する。
【0022】
この例では、同一層の凸部12を形成するための前記パターン21a’は、同じ大きさのパターン21a’部分からなるが、一層目から順に凸部12の厚さが薄くなるように(つまり、1層目の量子ドット層3aの厚さ>2層目の量子ドット層3aの厚さ>3層目の量子ドット層3aの厚さ>…となるように)、前記パターン21a’が形成される。
【0023】
n層目までの量子ドット層3aが形成されると(f)、さらにp(又はn)層4の形成によりタンデム構造のi型半導体層3を有するpin型太陽電池30が完成する(g)。
【0024】
前記のように、量子ドット層3aが単層の場合は、厚さの異なる凸部12が散在する量子ドット層3aを形成し、またタンデム構造の場合には、1層目から順に凸部12の厚さが薄くなる量子ドット層3aを形成することによって、同一組成の半導体材料を用いながら、実効的な禁制帯幅を広い幅をもって分布させることができる。また、タンデム構造において受光面側から膜厚の薄い凸部12を形成することは、受光面側から実効的な禁制帯幅の大きい量子ドット層3aが形成されるので、より効率的に太陽光を吸収することが可能となる。
【0025】
自己組織化機構を用いる方法について、図5を参照しながら説明する。
自己組織化機構とは、例えば後述するような条件下の結晶成長では、格子定数の異なる半導体材料を積層すると、初期成長段階では平面を保ったまま成長し(基底部11の二次元成長)、ある膜厚以上を積層すると島状の結晶(凸部12)が自然発生的に成長する(凸部12の三次元成長)ような結晶成長様式を意味する。このとき、自然発生的に形成される凸部12のそれぞれは、その大きさ(厚さ)が自ずとばらつく。この性質を利用して厚さの異なる凸部12が散在する量子ドット層3aを容易に形成することができる。
【0026】
自己組織化機構により作製された量子ドット層3aは以下の特徴を有する。
1.凸部12のそれぞれの大きさにばらつきがある。
2.凸部12の三次元成長の終了時には層の歪は緩和し、その層に格子欠陥に由来する準位は存在しない
3.二次元成長から三次元成長に移行する成長様式であるため、量子井戸、量子ドット両方の性質を有する。
4.自然発生的にドット構造が形成されるため、フォトリソグラフィーや選択エッチング等の工程が必要ない
【0027】
上記量子ドットの特徴1によれば、同一組成の層でありながら、量子ドットの大きさが異なれば形成される量子準位間のギャップも異なり、その大きさが範囲を有して分布することからキャリア励起に有効な波長範囲は一定値に定まらず、広がりをもって分布する。よって、この量子ドット層3aを導入することで光電効果に寄与できる波長範囲が広がり、分光感度特性の改善により高効率な太陽電池が実現可能となる。
【0028】
特徴2によれば、欠陥準位は光電流の担い手であるキャリアを再結合により消滅させる働きをするため、量子ドット層3aが欠陥準位をもたないことは太陽電池の短絡電流を増加させる点から優れている。
特徴3によれば、上記の凸部12が寄与する波長範囲に加え、量子ドット層3aが基底部11の厚さに対応した量子準位間のギャップに相当する光を吸収するため、i型半導体層としてキャリア励起に寄与する波長範囲がさらに広がる(図2参照)。
【0029】
特徴4によれば、複雑なプロセスが不要になると共に、基板を結晶成長装置に導入した後は、結晶成長が終了するまで一貫したプロセスで製造を行うことができるので、不純物を取り込む可能性が抑えられる。不純物準位はキャリアの再結合が中心となるので太陽電池の特性低下の原因となるからである。
また、この方法は、材料選択を適切に行えば、前記リソグラフィと選択エッチングを用いる方法よりも簡便なプロセスで量子ドット層3aを形成することができる。
【0030】
量子ドット層3aの構成材料とベース層3cの構成材料は、その格子定数の差が101.5%〜107.5%の範囲になるように材料を組み合わせることが望ましい。量子ドット層3aの構成材料の格子定数がベース層3cの構成材料の格子定数の101.5%より小さい材料の組み合わせでは三次元成長には移行せず、逆に107.5%より大きい材料の組み合わせでは初期成長段階から三次元成長が始まり、形成された量子ドット層3aには格子歪による格子欠陥が多数内在してしまうことが知られている。
【0031】
n型半導体層とp型半導体層を構成する半導体材料としてGaAsを用いた場合、量子ドット層3aとしてInx Ga1-x As(0.2<x<1)を用いることができる。さらに、量子ドット層3aを複数積層する場合に、各々の量子ドット層3aの間に中間層3dとしてGaAsを用いることができる。
図6は、自己組織化機構により作製された3層からなる量子ドット層3aを有する太陽電池の構成を示す。
太陽電池40では、図7に示すように、同一の量子ドット層3aにおいて量子準位間のギャップが異なる凸部12が形成されるとともに、図8に示すように、異なる量子ドット層3aのそれぞれにおいて量子準位間のギャップが異なる凸部12が形成される。これら多数の不定形な凸部12により、太陽電池40は広範囲な波長感度を有する。
【0032】
自己組織化機構を利用した量子ドット層3aの作製においては、結晶成長様式が二次元成長から三次元成長へ移るタイミングを知ることが最も重要である。しかし、二次元成長から三次元成長への移行は、積層する材料の格子定数差によって異なるため、使用する材料における移行のタイミングを知るためには、数多くの結晶成長を経験する必要がある。
そこで、この発明では、反射高エネルギー電子線回折(Reflection High Energy Electron Diffraction : 以下、「RHEED 」と称する)を使って、そのパターン観察を行い、観察結果に基づいて原料の供給を中止するタイミングを知ることができることを見出した。以下にその方法を述べる。
【0033】
RHEEDとは、試料に数度(約1°)という低角度で10〜50keVの高エネルギーの電子を入射させ、電子の波動性により結晶格子で回折された電子線を蛍光スクリーン上に投影して結晶表面の様子を調べる方法である。電子線の入射角度が浅いので、電子線は試料表面から数原子層しか侵入せず、表面からの回折が大きいために表面構造に対して極めて敏感である。そして、蛍光スクリーンに投影されたパターンが線状であれば試料表面が平坦であることを示し(図9参照)、前記パターンが点状であれば試料表面に凹凸があることを示す(図10参照)。
これを利用して、RHEEDパターンが線状から点状に変わった時点で原料の供給を中止することによって量子ドット層3aの形成を容易に制御できる。
【0034】
〔実施例1〕
本発明の太陽電池の製造においては、膜厚制御に優れた分子線エピタキシー(MBE)法や有機金属化学気相成長法(MOCVD)等を用いることができる。以下、本実施例ではMBE法により、p型およびn型半導体層材料としてGaAsを、量子ドット構成材料としてInGaAsを用いて、自己組織化機構により太陽電池の量子ドット層3aを作製する例について説明する。
【0035】
図11は、この実施例で製造された太陽電池50の断面を示す。
太陽電池50の製造方法を以下に説明する。
まず、基板61をMBE装置内に支持し、この基板61の上にn−GaAs層62を形成した。n−GaAs層62は、その上に形成すべき光吸収層の結晶性を向上させるためのバッファー層である。続いてn−GaAs層62上にn−GaAs層63およびベース層となるGaAs層3cを結晶成長させた後、自己組織化機構を用いてInGaAs量子ドット層3aを形成した。
【0036】
ここで量子ドット層3aは、膜厚約4原子層(約3nm)で形成された。量子ドット層3aを結晶成長させた後は、結晶表面の平坦性を回復するためにGaAsキャップ層3bを約5nm成長させてi型半導体層3を完成した。
続いて、キャップ層3bの上にp−GaAs層64を結晶成長させてnip構造を形成し、次いで、窓層としてp−Al0.8 Ga0.2 As層65を形成した。次いで、p−GaAsコンタクト層66を結晶成長により形成した。
次に、MBE装置から取り出した後、n型電極67を基板61裏面の全面に形成した。次いで、コンタクト層66上にフォトリソグラフィーとリフトオフ技術により櫛型電極を形成し、この櫛型電極をマスクとしてコンタクト層66を選択エッチングしてp型電極68を形成し、太陽電池50を得た。
【0037】
なお、半導体基板1としてはSiドープGaAs(001)基板が用いられ、前記基板1に有機溶剤による脱脂および硫酸系エッチャントによる化学処理を施した後、前記MBE装置内に支持した。基板処理温度は、Inの再脱離を防ぐために量子ドット層3aを含むi型半導体層3を作製時のみ520℃とし、それ以外の層は590℃で結晶成長を行った。また、この量子ドット層3aのIn組成は0.5であり、n型ドーパントにはSiを、p型ドーパントにはBeを用いた。また、電極材料としてn型電極67にはAu−Geを、p型電極68にはAu−Znをそれぞれ用い、抵抗加熱蒸着法により真空蒸着した。
【0038】
〔実施例2〕
本実施例ではMBE法により、p型およびn型半導体層材料としてGaAsを、量子ドット構成材料としてInGaAsを用いて、自己組織化機構により量子ドット層3aを積層構造とした太陽電池を作製する他の例について説明する。
【0039】
図12は、この実施例で製造された太陽電池60の断面を示す。
太陽電池60は、3つの量子ドット層3aが積層されたi型半導体層3を有する。
このi型半導体層3は、実施例1と同様に、ベース層となるGaAs層3cを結晶成長させた後、1層目のInGaAs量子ドット層3aを形成し、次いで、中間層3dを結晶成長させて結晶表面の平坦性を回復させた後、上記1層目と同様に、2層目のInGaAs量子ドット層3aおよびGaAs中間層3dを形成し、さらに3層目のInGaAs量子ドット層3aおよびGaAsキャップ層3bを形成し、i型半導体層3を完成した。なお、各層の膜厚、構成材料および作製条件は実施例1と同じであるため、説明を省略する。
【0040】
実施例1で製造された太陽電池50(図11)の分光感度特性を従来構造の太陽電池との比較例として図13に示す。
図13において、実線は太陽電池50の分光感度特性を示し、破線はi型半導体層3をもたないGaAs単一材料からなる従来型のpn型太陽電池の分光感度特性を示す。従来型の太陽電池は、太陽電池50と同一の組成からなるp層およびn層を有する。
図13から明らかなように、太陽電池50では、量子ドット層3aを有するi型半導体層3をもつことにより、GaAsの禁制帯幅(1.42eV)よりも小さいエネルギーの光、つまり、波長約870nmから1130nmまでの長波長範囲の光をも吸収して電流に変換することができる。
【0041】
なお、上記の実施の形態では、量子ドット層3aがpin構造を有する太陽電池のi型半導体層に導入された形態について説明したが、量子ドット層3aがpn構造を有する太陽電池のpn接合領域に導入された形態もこの発明の範囲に含まれることは容易に理解されるであろう。
【0042】
【発明の効果】
この発明によれば、pn構造を有する太陽電池のpn接合領域に、あるいはpin構造を有する太陽電池のi型半導体層に、第二の化合物半導体材料からなり複数の凸部を有する量子井戸層(量子ドット層)を導入することにより、pn接合あるいはpin接合を構成する半導体の禁制帯幅に対応する波長のみならず、量子ドット層が構成する実効的な禁制帯幅に対応する波長の光をも吸収して光電変換を行える太陽電池が提供できる。
さらにこの量子ドット層は、凸部の大きさの不均一性に起因する実効的な禁制帯幅の広がりが利用できるため、同一組成の層構成であるにもかかわらず、広範囲の波長の光を利用できる。
【0043】
また、この発明によれば、精巧で複雑な製造プロセスが不要となり、製造設備および工程に見合う高い光電変換効率を有する太陽電池の製造方法が提供できる。
この発明により、製造工程が簡略化され、かつ高い光電変換効率を有する太陽電池およびその製造方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による太陽電池の基本構造を模式的に示す図。
【図2】図1の量子ドット層における凸部のサイズと実効的な禁制帯幅の関係を説明する図。
【図3】フォトリソグラフィ技術と選択エッチングによる量子ドット単層構造の太陽電池の製造工程を説明する図。
【図4】フォトリソグラフィ技術と選択エッチングによる量子ドット積層構造の太陽電池の製造工程を説明する図。
【図5】自己組織化機構により量子ドット層を作製する際の量子ドット層の結晶成長形態を模式的に示す図。
【図6】自己組織化機構により形成された量子ドット層を有する太陽電池の基本構造を模式的に示す図。
【図7】図6の同一量子ドット層に形成される実効的な禁制帯幅を模式的に示す図。
【図8】図6の各量子ドット層に形成される実効的な禁制帯幅のそれぞれを模式的に示す図。
【図9】反射高エネルギー電子線回折のパターンの一例を示す模式図。
【図10】反射高エネルギー電子線回折のパターンの一例を示す模式図。
【図11】本発明の実施の一形態による太陽電池の構造を示す断面図。
【図12】本発明の実施の他の形態による太陽電池の構造を示す断面図。
【図13】本発明の太陽電池と従来型の太陽電池の分光感度特性の比較を示すグラフ。
【図14】従来技術による多重量子井戸構造の太陽電池の一例を示す断面図。
【図15】図14に示した従来の太陽電池のエネルギーバンドモデル図。
【符号の説明】
1 基板
2 n型(またはp型)半導体層
3 i型半導体層
3a 量子ドット層(量子井戸層)
3b キャップ層
3c ベース層
3d 中間層
4 p型(またはn型)半導体層
10 太陽電池
11 基底部
12 凸部(量子ドット)
20 太陽電池
30 太陽電池
40 太陽電池
50 太陽電池
60 太陽電池
61 n型GaAs基板
62 バッファー層
63 n型GaAs層
64 p型GaAs層
65 p型AlGaAs窓層
66 p型GaAsコンタクト層
67 n型電極
68 p型電極
Claims (13)
- 第一の化合物半導体材料からなるp型半導体層とn型半導体層とを有する太陽電池であって、
前記p型半導体層とn型半導体層の間に、複数の凸部を表面に有する第二の化合物半導体材料からなる量子井戸層の少なくとも1層を含み、一つの量子井戸層または複数の量子井戸層のいずれかの層に大きさの異なる凸部を有することを特徴とする太陽電池。 - 量子井戸層が、第一の化合物半導体材料からなるi型半導体層に挟持されてなる請求項1に記載の太陽電池。
- i型半導体層に挟持された量子井戸層が、p型半導体層とn型半導体層との間に複数積層されてなる請求項2に記載の太陽電池。
- 積層された複数の量子井戸層の凸部は、p型半導体層またはn型半導体層のいずれかを受光側として、受光側に近い量子井戸層から遠い量子井戸層になるほど、凸部の大きさが大きくなることを特徴とする請求項3に記載の太陽電池。
- 第一の化合物半導体材料からなるp型半導体層とn型半導体層とを有する太陽電池を製造するに際し、基板上に前記p型またはn型半導体層を形成した後、第二の化合物半導体材料で少なくとも1つの量子井戸層を形成し、次いで第一の化合物半導体材料からなるn型またはp型半導体層を形成する工程を含み、前記の量子井戸層を形成する工程は、基底部と、基底部上に複数の凸部とを順次構成してなり、一つの量子井戸層または複数の量子井戸層のいずれかの層に大きさの異なる凸部を形成することを特徴とする太陽電池の製造方法。
- 格子定数が第一の化合物半導体材料と異なる第二の化合物半導体材料で基底部を結晶成長させ、次いで前記第二の化合物半導体材料が有する自己組織化機構によって、大きさの異なる複数の凸部を基底部上に自然発生的に結晶成長させる請求項5に記載の太陽電池の製造方法。
- リソグラフィ技術により第二の化合物半導体材料で基底部を形成し、次いで、選択エッチングにより基底部に大きさの異なる複数の凸部を形成する請求項5に記載の太陽電池の製造方法。
- p型またはn型半導体層上に、第一の化合物半導体材料からなるi型半導体ベース層を形成し、i型半導体ベース層上に前記量子井戸層を形成し、次いでこの量子井戸層上に前記材料からなるi型半導体キャップ層を形成する請求項5から7のいずれか1つに記載の太陽電池の製造方法。
- 第一の化合物半導体材料と第二の化合物半導体材料の格子定数の差が、101.5〜107.5%である請求項5から8のいずれか1つに記載の太陽電池の製造方法。
- 第一の化合物半導体材料がGaAsであり、第二の化合物半導体材料がInGaAsである請求項5から9のいずれか1つに記載の太陽電池の製造方法。
- InGaAs結晶は、その組成をInx Ga1-x Asとしたとき、0.2<x<1である請求項10に記載の太陽電池の製造方法。
- 量子井戸層を形成するに際し、分子線エピタキシー法を用いて真空中で前記第二の化合物半導体材料の原料物質を蒸発させ、下地となる層上へ前記原料物質を供給して薄膜結晶を形成し、その際、原料供給を反射高エネルギー電子線回折のパターンを観察することにより制御する請求項5または6に記載の太陽電池の製造方法。
- 第二の化合物半導体材料が周期表の第III 族元素および第V族元素からなり、これら元素の混晶比を変えることによって原料物質として供給される前記材料の格子定数または禁制帯幅を変える請求項5から12のいずれか1つに記載の太陽電池の製造方法。
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