[go: up one dir, main page]

JP3571546B2 - 大気圧イオン化質量分析装置 - Google Patents

大気圧イオン化質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3571546B2
JP3571546B2 JP28512498A JP28512498A JP3571546B2 JP 3571546 B2 JP3571546 B2 JP 3571546B2 JP 28512498 A JP28512498 A JP 28512498A JP 28512498 A JP28512498 A JP 28512498A JP 3571546 B2 JP3571546 B2 JP 3571546B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
atmospheric pressure
mass spectrometer
ion
ions
pressure ionization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP28512498A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000113852A (ja
Inventor
義裕 貫名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP28512498A priority Critical patent/JP3571546B2/ja
Publication of JP2000113852A publication Critical patent/JP2000113852A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3571546B2 publication Critical patent/JP3571546B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/062Ion guides
    • H01J49/065Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置に関し、特に、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
大気圧イオン化法は、取り扱いが容易であること、ソフトなイオン化であることなどから広く普及してきている。大気圧イオン化法の代表的なものには、APCI( 大気圧化学イオン化) 法やESI( エレクトロスプレイイオン化) 法などがある。これらのイオン化法で生成されたイオンを、高真空に維持される質量分析部へ導入するために、差動排気系が用いられる。
【0003】
図1は、このような差動排気系を備えた質量分析装置のイオン導入部を示す図である。図1において、大気圧イオン源1で生成されたイオン2は、スキマー3を介して第1中間排気室4へ導入され、更にスキマー5を介して第2中間排気室6へ導入される。第2中間排気室6には、イオンの収束性を改善するためのマルチポールレンズ7及び収束レンズ8が配置されており、これらのレンズにより収束性の改善されたイオンは、導入口9を介して高真空( 10−6Torr程度の圧力) に維持された質量分析部10へ導入されて質量分析される。
【0004】
前記第1中間排気室4は、ロータリーポンプRPにより1〜数Torr程度の圧力に排気され、第2中間排気室6は、ターボ分子ポンプTMPにより1×10−3Torr程度の圧力に排気され、大気圧のイオン源1と高真空の質量分析部10との間の圧力差が維持されるような差動排気系を構成している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記マルチポールレンズ7は、第2中間排気室6におけるイオンの拡散を防ぐために設けられており、例えば4本の棒状電極をイオン通路の周りに90°の等間隔に配置したQポールレンズに高周波電圧のみが印加される。6本あるいは8本の棒状電極を用いる場合もある。
【0006】
しかしながら、マルチポールレンズはフィルタ作用があり、質量電荷比の異なるイオンを広い範囲にわたって一度に通過させることができない。広い範囲に対応するためには、高周波電圧の振幅あるいは周波数を掃引することが必要で、これは構造が複雑となって不利となるし、感度の面でも不利である。
【0007】
本発明は、上述した点に鑑みてなされたものであり、大気圧イオン源で生成され導入口を介して中間排気室に導入されたイオンを、広い質量範囲にわたり、高い通過効率で質量分析部へ導くことのできる大気圧イオン化質量分析装置を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、本発明の大気圧イオン化質量分析装置は、大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドであって、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイドを設け、該イオンガイドの途中の電極と電極の間に質量分析部が配置される部屋と導入口を介してイオンが導入される部屋とを仕切る隔壁を設けたことを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳説する。図2は本発明の一実施例の構造を示す図である。図2において、大気圧イオン源1で生成されたイオン2は、スキマー3を介して第1中間排気室4へ導入され、更にスキマー5を介して第2中間排気室6へ、更に第3中間排気室11へと導入される。この第2中間排気室6及び第3中間排気室11には、両者にまたがる形でリングレンズ21から構成されるイオンガイドが配置されており、このイオンガイドにより導かれたイオンは、収束レンズ8により導入口9へ向けて収束されて導入口9を通過し、高真空( 10−6Torr程度の圧力) に維持された質量分析部10へ導入されて質量分析される。
【0010】
上記リングレンズ21は、図3に示すように、円形のイオン通過口を有するリング電極L1,L2,L3,・・・を、通過口を合わせて一定間隔で一列に並べた構造を有している。各電極には、1枚おきに正電圧(+V)及び負電圧(−V)が交互に印加されている。前記第2中間排気室6と第3中間排気室7を仕切る仕切板31(アース電位)は、リング電極と同心のイオン通過口を有し、かつ隣り合うリング電極の中間の電位ゼロの等電位面に沿うように配置される。
【0011】
図4は、仕切板31とその付近のリング電極の周囲に形成される電位分布を示しており、仕切板31が隣り合うリング電極の中間の電位ゼロの等電位面に沿うように配置されていることが分かる。リングレンズ21に入射したイオンは、リング電極内に形成される電界により中心軌道に沿って単振動を行い、リングレンズにガイドされる形でリングレンズを通過する。
【0012】
前記仕切板31に設けられるイオン通過口の径は、第2中間排気室6と第3中間排気室7の間の圧力差を維持するために必要な大きさに選定されるが、リング電極のイオン通過口よりも小さい。そこで、仕切板31は、図2に示されているように、スキマー5を介して第2中間排気室6へ導かれたイオン軌道の振幅が最小又はそれに近い位置に配置されている。
【0013】
そのため、イオンは、差動排気のための仕切板31が設けられていても、仕切板31のイオン通過口をロス少なく通過できる。
【0014】
仕切板31は、軌道計算結果に従い、流入するイオンの平均自由行程とイオン通過効率(イオン軌道の振幅が最小又はそれに近い位置が高い)を考慮した最適位置に設定することが望ましい。
なお、収束レンズ8としては、アインツェルレンズをはじめ、各種静電レンズを使用することができる。
【0015】
【発明の効果】
以上詳述したごとく、本発明では、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイドを設け、該イオンガイドの途中の電極と電極の間に質量分析部が配置される部屋と導入口を介してイオンが導入される部屋とを仕切る隔壁を設けたため、大気圧イオン源で生成され導入口を介して中間排気室に導入されたイオンを、広い質量範囲にわたり、高い通過効率で質量分析部へ導くことのできる大気圧イオン化質量分析装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】差動排気系を備えた質量分析装置のイオン導入部を示す図である。
【図2】本発明の一実施例の構造を示す図である。
【図3】リングレンズの構造を示す図である。
【図4】仕切板とその付近のリング電極の周囲に形成される電位分布を示す図である。
【符号の説明】
1:大気圧イオン源
2:イオン
3,5:スキマー
4:第1中間排気室
6:第2中間排気室
11:第3中間排気室
21:リングレンズ21
31:仕切板

Claims (2)

  1. 大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドであって、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイドを設け、該イオンガイドの途中の電極と電極の間に質量分析部が配置される部屋と導入口を介してイオンが導入される部屋とを仕切る隔壁を設けたことを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
  2. 前記隔壁は、イオンガイド内におけるイオン軌道の振幅が最少又はそれに近い位置に配置されることを特徴とする請求項1記載の大気圧イオン化質量分析装置。
JP28512498A 1998-10-07 1998-10-07 大気圧イオン化質量分析装置 Expired - Fee Related JP3571546B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28512498A JP3571546B2 (ja) 1998-10-07 1998-10-07 大気圧イオン化質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28512498A JP3571546B2 (ja) 1998-10-07 1998-10-07 大気圧イオン化質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000113852A JP2000113852A (ja) 2000-04-21
JP3571546B2 true JP3571546B2 (ja) 2004-09-29

Family

ID=17687434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28512498A Expired - Fee Related JP3571546B2 (ja) 1998-10-07 1998-10-07 大気圧イオン化質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3571546B2 (ja)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019030471A1 (en) * 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov ION GUIDE INSIDE PULSED CONVERTERS
US10593533B2 (en) 2015-11-16 2020-03-17 Micromass Uk Limited Imaging mass spectrometer
US10629425B2 (en) 2015-11-16 2020-04-21 Micromass Uk Limited Imaging mass spectrometer
US10636646B2 (en) 2015-11-23 2020-04-28 Micromass Uk Limited Ion mirror and ion-optical lens for imaging
US10741376B2 (en) 2015-04-30 2020-08-11 Micromass Uk Limited Multi-reflecting TOF mass spectrometer
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11205568B2 (en) 2017-08-06 2021-12-21 Micromass Uk Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11367608B2 (en) 2018-04-20 2022-06-21 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US11587779B2 (en) 2018-06-28 2023-02-21 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
US11848185B2 (en) 2019-02-01 2023-12-19 Micromass Uk Limited Electrode assembly for mass spectrometer
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range
US12205813B2 (en) 2019-03-20 2025-01-21 Micromass Uk Limited Multiplexed time of flight mass spectrometer

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002015699A (ja) * 2000-06-28 2002-01-18 Shimadzu Corp イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置
ATE441190T1 (de) 2000-10-23 2009-09-15 Univ Fraser Simon Verfahren und vorrichtung zur erzeugung eines diskreten teilchens
US6891153B2 (en) 2000-11-29 2005-05-10 Micromass Uk Limited Mass spectrometers and methods of mass spectrometry
GB2370685B (en) * 2000-11-29 2003-01-22 Micromass Ltd Mass spectrometers and methods of mass spectrometry
ATE355608T1 (de) * 2000-11-29 2006-03-15 Micromass Ltd Massenspektrometer und massenspektrometrisches verfahren
CA2391060C (en) * 2001-06-21 2011-08-09 Micromass Limited Mass spectrometer
US6762404B2 (en) 2001-06-25 2004-07-13 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
CA2391140C (en) 2001-06-25 2008-10-07 Micromass Limited Mass spectrometer
US6800846B2 (en) 2002-05-30 2004-10-05 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7095013B2 (en) 2002-05-30 2006-08-22 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6794641B2 (en) 2002-05-30 2004-09-21 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6791078B2 (en) 2002-06-27 2004-09-14 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6884995B2 (en) 2002-07-03 2005-04-26 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7071467B2 (en) 2002-08-05 2006-07-04 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
CA2431603C (en) 2003-06-10 2012-03-27 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
JP4830450B2 (ja) * 2005-11-02 2011-12-07 株式会社島津製作所 質量分析装置
US20090283674A1 (en) 2006-11-07 2009-11-19 Reinhold Pesch Efficient Atmospheric Pressure Interface for Mass Spectrometers and Method
CN108140537B (zh) * 2015-08-06 2020-01-17 株式会社岛津制作所 质谱分析装置

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10741376B2 (en) 2015-04-30 2020-08-11 Micromass Uk Limited Multi-reflecting TOF mass spectrometer
US10593533B2 (en) 2015-11-16 2020-03-17 Micromass Uk Limited Imaging mass spectrometer
US10629425B2 (en) 2015-11-16 2020-04-21 Micromass Uk Limited Imaging mass spectrometer
US10636646B2 (en) 2015-11-23 2020-04-28 Micromass Uk Limited Ion mirror and ion-optical lens for imaging
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11756782B2 (en) 2017-08-06 2023-09-12 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
WO2019030471A1 (en) * 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov ION GUIDE INSIDE PULSED CONVERTERS
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11205568B2 (en) 2017-08-06 2021-12-21 Micromass Uk Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
US11367608B2 (en) 2018-04-20 2022-06-21 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range
US11587779B2 (en) 2018-06-28 2023-02-21 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
US11848185B2 (en) 2019-02-01 2023-12-19 Micromass Uk Limited Electrode assembly for mass spectrometer
US12205813B2 (en) 2019-03-20 2025-01-21 Micromass Uk Limited Multiplexed time of flight mass spectrometer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000113852A (ja) 2000-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3571546B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
JP3493460B2 (ja) プラズマ質量スペクトロメータ
US6977371B2 (en) Mass spectrometer
US6717139B2 (en) Ion lens for a mass spectrometer
US7829850B2 (en) Branched radio frequency multipole
US9773656B2 (en) Ion transport apparatus and mass spectrometer using the same
JP4637266B2 (ja) イオン移動度分析計を含む装置
CA2626383A1 (en) Mass spectrometry with multipole ion guides
US7582861B2 (en) Mass spectrometer
JP3648906B2 (ja) イオントラップ質量分析計を用いた分析装置
JPH08304342A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
CN112955998B (zh) 质量分析装置
CA2641940A1 (en) Mass spectrometry with segmented rf multiple ion guides in various pressure regions
US8080785B2 (en) High pressure collision cell for mass spectrometer
JP3058037B2 (ja) 質量分析装置
WO2024042908A1 (ja) イオンガイド、およびそれを備える質量分析装置
CN117650039A (zh) 质量分析装置
CN116417329A (zh) 质量分析装置
JP2020198317A (ja) イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置
US11651946B2 (en) Mass spectrometer
JP6759321B2 (ja) 多重極イオンガイド
CN209785876U (zh) 离子传输装置
JPH0342611Y2 (ja)
GB2402807A (en) Mass spectrometer
JP2024009451A (ja) イオンガイドおよび質量分析計

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040622

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040624

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080702

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100702

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100702

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120702

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120702

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees