[go: up one dir, main page]

JP3338355B2 - 半導体回路 - Google Patents

半導体回路

Info

Publication number
JP3338355B2
JP3338355B2 JP00752698A JP752698A JP3338355B2 JP 3338355 B2 JP3338355 B2 JP 3338355B2 JP 00752698 A JP00752698 A JP 00752698A JP 752698 A JP752698 A JP 752698A JP 3338355 B2 JP3338355 B2 JP 3338355B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
differential resistance
resistance element
negative differential
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP00752698A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11205124A (ja
Inventor
秀昭 松崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
NTT Inc USA
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
NTT Inc USA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp, NTT Inc USA filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP00752698A priority Critical patent/JP3338355B2/ja
Publication of JPH11205124A publication Critical patent/JPH11205124A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3338355B2 publication Critical patent/JP3338355B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明の属する技術分野は、
動作速度が速く、多機能な、設計自由度の大きい半導体
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】本発明に近い従来技術の例として、二つ
の負性微分抵抗素子を直列接続し、その接続点の電位を
出力として取り出す方式の論理ゲートが知られている
(文献KJ.Chen et a1. Ext,Abs,“1994 Solid State D
evices and Materia1s,”Yokohama,1994,p979 参
照)。図12は、上記従来技術の回路図である。図12
において、1は第1の負性微分抵抗素子、2は第2の負
性微分抵抗素子、3は第1の電界効果型トランジスタで
ある。なお、上記の二つの負性微分抵抗素子は例えば共
鳴トンネルダイオードである。
【0003】一つの負性微分抵抗素子の電流−電圧特性
は図13に示す通りである。また、二つの負性微分抵抗
素子を直列に接続した場合の系の安定点は電源電圧Vbi
asに応じて図14に示すように変化する。図14におい
て、D1は第1の負性微分抵抗素子1の電流電圧特性曲
線、D2は第2の負性微分抵抗素子2の電流電圧特性曲
線を示す。まず、図14(a)に示すように、Vbiasが
ピーク電圧Vpの2倍より小さいときは点A(電圧VA
が安定点であり、出力電圧はVbias/2である。Vbias
を大きくして、2Vpを越えると図14(b)に示すよ
うに、系の安定点はBとCの2点になり、出力電圧は安
定点に応じてVBかVCとなる。ここでBとCのどちらの
安定点に落ち着くかは二つの負性微分抵抗素子のピーク
電流の違いによる。例えば、ドライバ側の負性微分抵抗
素子1のピーク電流が大きければ、系の状態は点Bとな
り、出力電圧はVBになる。その反対、つまりロード側
の負性微分抵抗素子2のピーク電流が大きい場合はVC
が出力される。
【0004】この素子を用いて論理回路を組むためには
以下の2つの要素が必要となる。一つ目の要素は、入力
電圧にしたがってピーク電流を変調することにより、第
1の負性微分抵抗素子1と第2の負性微分抵抗素子2の
ピーク電流値の大小関係を可変にすることである。この
ための一つの方法は負性微分抵抗素子に並列に電界効果
型トランジスタ3を接続することであり、このとき、図
15に示すように、この複合素子を流れる電流は両者の
和となるため、実効的にピーク電流を変調したことにな
る。具体的には、回路設計時に両負性微分抵抗素子の面
積を、入力電圧が“Low”(〜0V)の時は、電界効果
型トランジスタ3の電流とドライバ側の負性微分抵抗素
子1のピーク電流の和が、ロード側の負性微分抵抗素子
2のピーク電流より小さくなるように、入力電圧が“Hi
gh”の時は、電界効果型トランジスタ3の電流と負性微
分抵抗素子1のピーク電流の和が、負性微分抵抗素子2
のピーク電流より大きくなるように、設計する必要があ
る。二つ目の要素は、Vbiasとして2Vpの上下に周期
的に変化する駆動電圧を用いることである。これはクロ
ックとして働き、電圧が上昇するときにスイッチングが
起こり、電圧が2Vpより高い間、出力を保持する、と
いう動作が可能になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術の
論理ゲートを駆動させるには、電流レベルとして、負性
微分抵抗素子のピーク電流程度の電流を供給できる論理
ゲート駆動用回路が必要となる。論理ゲート駆動用回路
として、電流駆動能力の高いものを実現するには、例え
ばゲート幅の広い電界効果型トランジスタを用いること
が考えられるが、その駆動回路を動作させるための信号
は、実際にはチップ内で生成される駆動力の小さいもの
であるから、これを直接用いて、ゲート幅の広い電界効
果型トランジスタからなる駆動回路を高速で動作させる
ことは非常に困難である。そのため、複数の増幅回路を
用意し、徐々にゲート幅を広げる構成をとることによ
り、駆動用回路を得ることになる。
【0006】このような結果として、従来技術は簡素な
回路構成で、高速・低消費電力回路が設計できることを
特徴としているにも関わらず、駆動用回路として大規模
なものを用意する必要が有ることに加え、消費電力も増
加することになる。また、駆動用回路を小規模なものと
し、消費電力を下げようとすると、狭いゲート幅のトラ
ンジスタで広いゲート幅のものを駆動することになるの
で、高速動作の実現は不可能となる。そのため、高速・
低消費電力といった、負性微分抵抗素子回路の特徴を損
なうことなく、小規模な回路構成で、負性微分抵抗素子
回路を駆動させる技術が必要であったが、これまでその
方法は知られていなかった。
【0007】本発明は上記のごとき従来技術の問題を解
決するためになされたものであり、小さいゲート幅のト
ランジスタで構成しても、負性微分抵抗素子で構成され
る回路の高速動作を可能にする半導体回路を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明においては特許請求の範囲に記載するように
構成している。すなわち、請求項1に記載の発明は基本
的な回路構成法に関するものであり、2個直列接続した
負性微分抵抗素子で構成される回路と当該回路駆動用の
第1のトランジスタとを並列に接続し、これらを定電流
源と直列に接続するように構成したものである。この構
成は、例えば、図1に示す実施の形態における半導体回
路に相当し、例えば第1の電位は接地、第2の電位はV
ssである。
【0009】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
における第1の負性微分抵抗素子と第2の負性微分抵抗
素子の少なくとも一方としてピーク電流変調可能な素子
を用い、該素子のピーク電流変調用端子をデータ入力端
子とし、上記第1のトランジスタの制御端子をクロック
入力端子とすることにより、論理回路を構成したもので
ある。この構成は、例えば図4または図6に示す実施の
形態における論理回路に相当し、図4は第1の負性微分
抵抗素子をピーク電流変調可能な素子とした回路であ
り、データ入力信号をクロック信号に同期して出力する
回路が得られる。また、図6は第2の負性微分抵抗素子
をピーク電流変調可能な素子とした回路であり、データ
入力信号の反転(データ入力信号を反転した信号)をク
ロック信号に同期して出力する回路が得られる。なお、
図4および図6において、ピーク電流変調可能な素子と
しては、負性微分抵抗素子の両端に電界効果トランジス
タを並列に接続したものを用いているが、そのような機
能を一つの素子として形成したものを用いてもよい。
【0010】また、請求項3に記載の発明は、第1の負
性微分抵抗素子をピーク電流変調可能な素子とした第1
の回路と、第2の負性微分抵抗素子をピーク電流変調可
能な素子とした第2の回路とを用いて、1/2スタティ
ック分周器を構成したものである。この構成は、例えば
図8に示す実施の形態における論理回路に相当する。
【0011】また、請求項4に記載の発明は、請求項3
に記載の発明に論理和回路(OR回路またはNOR回
路)を追加し、デューティ比が50%の信号を出力する
1/2スタティック分周器を構成したものである。この
構成は、例えば図10に示す実施の形態における論理回
路に相当する。
【0012】また、請求項5に記載の発明は、請求項1
の構成の具体例を示すものである。なお、上記の構成
は、例えば図1に示す実施の形態に記載されている。
【0013】また、請求項6に記載の発明は、請求項2
〜請求項5の具体例を示すものであり、ピーク電流変調
可能な素子は、負性微分抵抗素子の両端に電界効果トラ
ンジスタのソースおよびドレインをそれぞれ接続し、ゲ
ートをピーク電流変調用端子としたもの、或いは負性微
分抵抗素子の両端にバイポーラトランジスタのエミッタ
およびコレクタをそれぞれ接続し、ベースをピーク電流
変調用端子としたものである。なお、上記の構成は、例
えば図4、図6、図8、図10に示す実施の形態に記載
されている。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明は、基本的には2つの直列
接続された負性微分抵抗素子回路に電界効果型トランジ
スタを並列接続し、さらにこれらと定電流源を並列に接
続する構成をとることにより、ゲート幅の小さい電界効
果型トランジスタで2つの直列接続された負性微分抵抗
素子回路を高速で駆動することを可能にする回路であ
る。
【0015】(第1の実施の形態)入力信号を、より大
きな駆動能力をもつ信号として出力する回路 入力信号を、より大きな駆動能力をもつ信号として出力
する場合の本発明の実施の形態について説明する。本実
施の形態における回路の例を図1に示す。図1(a)に
示す回路は、1個の信号入力端子Sと1個の出力端子Q
とを有する。ここで回路は2個の負性微分抵抗素子1と
2を直列接続し、その直列回路の両端の端子を、それぞ
れ電界効果型トランジスタ3のドレイン電極とソース電
極と接続し、上記直列回路に電界効果型トランジスタ3
を並列に接続する。そして上記並列回路の一端(電界効
果型トランジスタ3のドレイン電極側)を接地し、上記
並列回路の他端(電界効果型トランジスタ3のソース電
極側)を、電圧Vssが印加される定電流源5と接続す
る。そして電界効果型トランジスタ3のゲート電極を信
号入力端子Sに接続して信号を入力し、2個の負性微分
抵抗素子1と2との接続点を出力端子Qとして、その電
位を出力とする回路である。また、負性微分抵抗素子1
と負性微分抵抗素子2のエミッタ面積は負性微分抵抗素
子2の方が大きくなるようにしてある。
【0016】上記の定電流源5としては、例えば、図1
(b)に示すように、電界効果型トランジスタのソース
電極に電圧Vssを印加し、ゲート・ソース電極間の電位
を一定に保った回路を用いることが出来る。なお、図1
(b)においては、ゲートとソースを直接に接続して両
電極の電位を等しくした例を示しているが、ゲート・ソ
ース電極間の電位が一定であれば、異なった電位でもよ
い。
【0017】また、負性微分抵抗素子1、2としては、
共鳴トンネルダイオードやエサキダイオードを用いるこ
とが出来る。さらに電界効果型トランジスタ3の代わり
にバイポーラトランジスタを用いることも出来る。この
場合、電界効果型トランジスタのソース電極の代わりに
バイポーラトランジスタのエミッタ電極を、ドレイン電
極の代わりにコレクタ電極を、ゲート電極の代わりにベ
ース電極を、それぞれ接続すればよい。
【0018】図1の回路において、信号入力端子Sに印
加される電圧Vinが“High”であれば、出力端子Qにお
ける電位Voutは常に“High”となり、Vinが“Low”の
間、Voutとして常に“Low”が得られる。
【0019】次に、具体的な出力決定の過程を説明す
る。電界効果型トランジスタ3のドレイン・ソース間を
流れる電流をId、定電流源5から供給される電流をI
s、負性微分抵抗素子1と負性微分抵抗素子2とを直列
に接続した直列回路6に電圧Vrが印加されているとき
に直列回路6に流れる電流をIr、負性微分抵抗素子1
のピーク電流密度をIp、ピーク電圧をVpとすれば、本
実施の形態の動作条件は、(1)定電流源5はIs≧Ip
を満たす範囲でIpと同程度のIsを供給する電流源であ
ること、(2)Id=Isとなる時の電界効果型トランジ
スタ3のゲート・ソース間電位が2Vp以下であるこ
と、の2つである。
【0020】本実施の形態における電界効果型トランジ
スタ3のソース電位Vsは、 Id=Is−Ir、Vs=0−Vr を満たすよう決まる。もし、Ir=0であればId=Is
となり、Isは一定電流であることから、VsはVin−V
sの差を一定に保ち、Id=Isを満たすよう、Vinに合
わせて変化することになる。しかし実際には、Vr=┃
0−Vs┃>0から、Ir>0であること、およびIrは
Vsに依存することから、Vin−Vsは一定とならず、I
d=Is−Irを満たすべくVsは決定されることになる。
【0021】例えばVinとして“High”(〜0電位)が
印加されていれば、Ir=0としても、動作条件(2)
から確実にVr=┃0−Vs┃≧2Vpが保証されるの
で、直列回路6は従来技術でいうところの単安定状態
〔図2(a)に示す特性〕にある。実際には、Vr=┃
0−Vs┃>0、つまりIr>0により、Id=Is−Ir
<Isとなるので、Vin−Vsの値はIr=0と仮定した
場合に比べて、小さくなり、Vsが0電位側にシフトす
ることになる。このとき、Vr<2Vpであるから、直列
回路6は単安定状態にあるので、出力“High”が得られ
る。
【0022】Vinが低下すると、それに伴い、Vsも低
電位に変化(=Vrが増加)するのであるが、同時にIr
が増加するので〔図2(a)参照〕、Id(=Is−I
r)を減少すべく、Vin−Vsの値は減少する。そしてV
r=┃0−Vs┃=2Vpとなるとき、つまり、Ir=Ip
となるときにVin−Vsの値は極小となり、電界効果型
トランジスタ3に電流はほとんど流れず、Id〜0とな
る。さらにVinが低下したとき、直列回路6が単安定状
態にとどまるのか、双安定状態〔図2(b)に示す特
性〕に遷移するのかが回路の動作上問題となるのである
が、仮にどちらの状態にあるにしても、Ir<Ipとなる
ので、電界効果型トランジスタ3にIs−Ir分の電流I
dが流れることになる。そのためにはVin−Vsが電界効
果型トランジスタ3の閾値以上の値を保つことになるの
で、Vinの低下とともに、Vsは低下することになり、
Vr=┃0−Vs┃>2Vpとなるので、直列回路6は双
安定状態に遷移することになる。この単安定・双安定遷
移の際の直列回路6の動作は従来技術と同様である。そ
して前述の通り、負性微分抵抗素子1と負性微分抵抗素
子2のエミッタ面積は負性微分抵抗素子2の方が大きく
なるようにしてあるので、Vr=┃0−Vs┃>2Vpと
なったところで、出力が変化する。つまり、Vinの低下
と共にVoutも低下することになり、Vinが“Low”のと
き、出力も“Low”となる。
【0023】具体的にはトランスコンダクタンスが75
0mS/mm、閾値が−0.2V程度のHEMT(High
Electron Mobility Trasistor : 高電子移動度電界効果
トランジスタ)と、Ip=6mA程度の負性微分抵抗素
子を用いた場合、HEMTのゲート幅として30μm程
度のもので回路は高速動作し、図3に示すような入力信
号に対する出力が得られる。
【0024】2個の負性微分抵抗素子からなる直列回路
6の駆動能力は高いので、次段の入力部として、本実施
の形態に用いられる電界効果型トランジスタのゲート幅
よりも広いゲート幅のものを用いても、高速で、かっ振
幅を減衰することなく、本発明の回路は動作が可能であ
る。したがって本実施の形態の回路は駆動回路または増
幅回路として用いることが出来る。
【0025】(第2の実施の形態)データ入力信号をク
ロック信号に同期して出力する回路 データ入力信号をクロックに同期して出力する場合の本
発明の実施の形態について説明する。本実施の形態にお
ける回路の例を図4に示す。図4に示す回路は、前記第
1の実施の形態にあげた回路と同一の構成のものに、さ
らに負性微分抵抗素子1に並列に第2の電界効果型トラ
ンジスタ4を接続し、そのゲート電極へ電圧を印加する
ことにより、負性微分抵抗素子1のピーク電流変調を可
能にしたものである。なお、この実施の形態において
は、ピーク電流変調の可能な素子として、負性微分抵抗
素子と電界効果型トランジスタとを並列に接続した構成
を用いているが、そのような機能を一つの素子として形
成したものを用いてもよい。信号入力の方法は、電界効
果型トランジスタ4のゲート電極をデータ信号入力端子
Dに接続し、電界効果型トランジスタ3のゲート電極を
クロック信号入力端子CKに接続するものとする。
【0026】図4の回路において、クロック入力端子C
Kに印加される電圧Vckに対する、電界効果型トランジ
スタ3のソース電位Vsの挙動は前記第1の実施の形態
と同等である。そして出力は従来技術と同様の原理によ
って決定されるので、Vckが“High”から“Low”へ変
化する際の、データ信号入力端子Dに印加されるデータ
信号が“High”なら、出力は“High”となり、データ信
号が“Low”なら出力は“Low”となる。また、Vckが
“Low”の間はデータ信号が変化しても、出力は変化し
ない。すなわち、図5のタイミングダイアグラムに示す
ように、データ入力信号をクロック信号に同期して出力
する回路が得られる。
【0027】本実施の形態も前記第1の実施の形態と同
様、2個の負性微分抵抗素子からなる直列回路の駆動能
力が高いので、次段の入力回路として、本実施の形態に
用いられる電界効果型トランジスタのゲート幅よりも広
いゲート幅のものを用いても、高速で、かつ振幅を減衰
することのない動作が可能である。
【0028】(第3の実施の形態)データ入力信号の反
転をクロック信号に同期して出力する回路 データ入力信号の反転(データ入力信号を反転した信
号)をクロックに同期して出力する場合の本発明の実施
の形態について説明する。本実施の形態における回路の
例を図6に示す。図6に示す回路は、前記第1の実施の
形態とは逆に、負性微分抵抗素子1と負性微分抵抗素子
2のエミッタ面積の大小関係について、負性微分抵抗素
子1の面積のほうが大きくなっている。さらに負性微分
抵抗素子2に並列に第2の電界効果型トランジスタ4を
接続し、そのゲート電極へ電圧を印加することにより、
負性微分抵抗素子2のピーク電流変調を可能にしたもの
である。信号入力の方法は、電界効果型トランジスタ4
のゲート電極をデータ信号入力端子Dに接続し、電界効
果型トランジスタ3のゲート電極をクロック信号入力端
子CKに接続する。
【0029】図6の回路において、クロック入力端子C
Kに印加される電圧Vckに対する、電界効果型トランジ
スタ3のソース電位Vsの挙動は前記第1の実施の形態
と同等である。そして出力は従来技術と同様の原理によ
って決定されるので、Vckが“High”から“Low”へ変
化する際の、データ信号入力端子Dに印加されるデータ
信号が“High”なら、出力は“Low”となり、データ信
号が“Low”なら出力は“High”となる。また、Vckが
“Low”の間はデータ信号が変化しても、出力は変化し
ない。すなわち、図7のタイミングダイアグラムに示す
ように、データ入力信号の反転をクロック信号に同期し
て出力する回路が得られる。
【0030】本実施の形態も前記第1の実施の形態と同
様、2個の負性微分抵抗素子からなる回路の駆動能力が
高いので、次段の入力回路として、本実施の形態に用い
られる電界効果型トランジスタのゲート幅よりも広いゲ
ート幅のものを用いても、高速で、かつ振幅を減衰する
ことのない動作が可能である。
【0031】(第4の実施の形態)本発明回路の組みあ
わせによって1/2スタティック分周器を構成する場合 入力クロック信号の周波数の1/2の周波数の信号を出
力する1/2スタティック分周器を構成する場合の本発
明の実施の形態について説明する。本実施の形態におけ
る回路の例を図8に示す。図8に示す回路は、図4に示
した回路7(データ入力信号をクロック信号に同期して
出力する回路)のデータ入力端子と出力端子を、それぞ
れ、図6に示した回路8(データ入力信号の反転をクロ
ック信号に同期して出力する回路)の出力端子とデータ
入力端子に接続し、上記の回路7と8のうち、一方の出
力端子を全体の出力端子Qとする回路である。また、回
路7のクロック入力端子にクロック信号CLKが、回路
8のクロック入力端子には反転クロック信号CLK~
(クロック信号を反転した信号)が印加される。
【0032】図8に示す回路において、Xを“Low”ま
たは“High”とし、回路7の出力(つまり回路8の入
力)がXであるとすれば、CLKが“Low”になると、
回路8の出力(つまり回路7の入力)はXとなる。次に
CLKが“Low”になると、回路7の出力(つまり回路
8の入力)はXとなる。このようにクロック1周期で回
路8への入力は反転している。したがってクロック2周
期で回路8の入力は元の状態に戻ることになる。すなわ
ち、回路7と回路8の接続点に出力端子Qを設けたとす
ると、図9のタイミングダイアグラムに示すように、図
8に示す回路は1/2分周器として動作することがわか
る。なお、図9に示す出力波形は、デューティ比(1周
期の“High”と“Low”の間隔)が50%ではないが、
用途によっては問題は生じない。
【0033】(第5の実施の形態)デューティ比50%
の出力を得る1/2スタティック分周器を構成する場合 デューティ比50%の出力を得るための回路の例を図1
0に示す。回路の基本構成は、図8に示すものと同一で
あるが、回路7と回路8の両方の出力端子からそれぞれ
出力を取出し、これらをOR回路9に入力し、OR回路
9から出力Qを得る点が相違するところである。
【0034】基本動作原理は図8に示す回路と同一であ
る。回路7、回路8からOR回路9に入力される信号
を、それぞれQ1、Q2とすると、図11のタイミング
ダイアグラムに示すように、図10に示す回路は1/2
分周器として動作し、出力Qのデューティ比が50%で
あることが判る。また、OR回路9に代わりにNOR回
路を用いても同様の効果が得られることは明らかであ
る。
【0035】
【発明の効果】以上のように、本発明は2つの直列接続
された負性微分抵抗素子回路を駆動させる回路として、
負性微分抵抗素子回路に直列に定電流源を、並列に駆動
用トランジスタを接続し、そのゲート電極(またはベー
ス電極)に駆動用信号を入力する構成とすることによ
り、電流駆動力の小さい、つまり、ゲート幅の小さいト
ランジスタで負性微分抵抗素子回路を駆動し、出力を得
る回路を、従来技術の利点を損なうことなく、小規模な
回路で簡単に実現するものであり、回路の高速化、低消
費電力化を実現することが出来る、という効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す図であり、入
力信号を、より大きな駆動能力をもつ信号として出力す
る回路図。
【図2】図1の回路において、二つの負性微分抵抗素子
の直列回路6への印加電圧Vrが変化した際の負荷曲線
図。
【図3】図1に回路における入出力波形図。
【図4】本発明の第2の実施の形態を示す図であり、ク
ロックに同期してデータ入力信号を出力する回路図。
【図5】図4の回路におけるタイミングダイアグラム。
【図6】本発明の第3の実施の形態を示す図であり、ク
ロックに同期してデータ入力信号の反転を出力する回路
図。
【図7】図6の回路におけるタイミングダイアグラム。
【図8】本発明の第4の実施の形態を示す図であり、本
発明の回路の組みあわせによる1/2スタティック分周
器の回路図。
【図9】図8の回路におけるタイミングダイアグラム。
【図10】本発明の第5の実施の形態を示す図であり、
デューティ比50%となる1/2スタティック分周器の
回路図。
【図11】図10の回路におけるタイミングダイアグラ
ム。
【図12】従来技術の一例の回路図。
【図13】負性微分抵抗素子の電流電圧特性図。
【図14】2つの負性微分抵抗素子が直列接続されてい
る系の安定点を示す動作特性図。
【図15】負性微分抵抗素子と電界効果型トランジスタ
からなる複合素子の電流電圧特性図。
【符号の説明】
1…第1の負性微分抵抗素子 2…第2の負性微分抵抗素子 3…第1の電界効果型トランジスタ 4…第2の電界効果型トランジスタ 5…定電流源 6…二つの負性微分抵抗素子の直列回路 7…クロックに同期してデータ入力信号を出力する回路 8…クロックに同期してデータ入力信号の反転を出力す
る回路 9…OR回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 19/00

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の負性微分抵抗素子と第2の負性微分
    抵抗素子との直列回路の両端に、第1のトランジスタの
    二つの電源端子をそれぞれ接続し、 上記第1の負性微分抵抗素子と上記第1のトランジスタ
    の一方の電源端子との接続点を第1の電位に接続し、 上記第2の負性微分抵抗素子と上記第1のトランジスタ
    の他方の電源端子との接続点を定電流源を介して第2の
    電位に接続し、 上記第1のトランジスタの制御端子を信号入力端子と
    し、 上記第1の負性微分抵抗素子と第2の負性微分抵抗素子
    との接続点を信号出力端子とした半導体回路。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の半導体回路において、 上記第1の負性微分抵抗素子と第2の負性微分抵抗素子
    の少なくとも一方としてピーク電流変調可能な素子を用
    い、該素子のピーク電流変調用端子をデータ入力端子と
    し、上記第1のトランジスタの制御端子をクロック入力
    端子とした半導体回路。
  3. 【請求項3】請求項2に記載の半導体回路において、上
    記第1の負性微分抵抗素子を上記ピーク電流変調可能な
    素子とした第1の回路と、上記第2の負性微分抵抗素子
    を上記ピーク電流変調可能な素子とした第2の回路と、
    を備え、 上記第1の回路の信号出力端子を上記第2の回路のピー
    ク電流変調用端子に接続し、 上記第2の回路の信号出力端子を上記第1の回路のピー
    ク電流変調用端子に接続し、 上記第1の回路の第1のトランジスタの制御端子をクロ
    ック入力端子とし、上記第2の回路の第1のトランジス
    タの制御端子を反転クロック入力端子とし、 上記第1の回路または上記第2の回路の信号出力端子を
    全体の回路の信号出力端子とした半導体回路。
  4. 【請求項4】請求項2に記載の半導体回路において、上
    記第1の負性微分抵抗素子を上記ピーク電流変調可能な
    素子とした第1の回路と、上記第2の負性微分抵抗素子
    を上記ピーク電流変調可能な素子とした第2の回路と、
    を備え、 上記第1の回路の信号出力端子を上記第2の回路のピー
    ク電流変調用端子に接続し、 上記第2の回路の信号出力端子を上記第1の回路のピー
    ク電流変調用端子に接続し、 上記第1の回路の第1のトランジスタの制御端子をクロ
    ック入力端子とし、上記第2の回路の第1のトランジス
    タの制御端子を反転クロック入力端子とし、 上記第1の回路の信号出力端子と上記第2の回路の信号
    出力端子とをそれぞれ論理和回路の入力とし、 上記論理和回路の出力を全体の回路の出力信号とした半
    導体回路。
  5. 【請求項5】上記負性微分抵抗素子は共鳴トンネルダイ
    オードまたはエサキダイオードであり、 上記トランジスタは電界効果型トランジスタまたはバイ
    ポーラトランジスタであって、上記二つの電源端子はソ
    ースとドレインまたはエミッタとコレクタであり、上記
    制御端子はゲートまたはベースであり、 上記定電流源は、電界効果型トランジスタのゲートとソ
    ース間を一定電位に保つように接続し、ドレインを上記
    第2の負性微分抵抗素子と上記第1のトランジスタの電
    源端子との接続点に接続し、ソースを上記第2の電位に
    接続したものである、ことを特徴とする請求項1に記載
    の半導体装置。
  6. 【請求項6】上記ピーク電流変調可能な素子は、負性微
    分抵抗素子の両端に電界効果トランジスタのソースおよ
    びドレインをそれぞれ接続し、ゲートをピーク電流変調
    用端子としたもの、或いは負性微分抵抗素子の両端にバ
    イポーラトランジスタのエミッタおよびコレクタをそれ
    ぞれ接続し、ベースをピーク電流変調用端子としたもの
    であり、 上記負性微分抵抗素子は共鳴トンネルダイオードまたは
    エサキダイオードである、ことを特徴とする請求項2乃
    至請求項5の何れかに記載の半導体装置。
JP00752698A 1998-01-19 1998-01-19 半導体回路 Expired - Fee Related JP3338355B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00752698A JP3338355B2 (ja) 1998-01-19 1998-01-19 半導体回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00752698A JP3338355B2 (ja) 1998-01-19 1998-01-19 半導体回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11205124A JPH11205124A (ja) 1999-07-30
JP3338355B2 true JP3338355B2 (ja) 2002-10-28

Family

ID=11668236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP00752698A Expired - Fee Related JP3338355B2 (ja) 1998-01-19 1998-01-19 半導体回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3338355B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102591397A (zh) * 2012-03-06 2012-07-18 广州金升阳科技有限公司 一种负阻特性恒流源电路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11205124A (ja) 1999-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0230178A (ja) 半導体記憶装置
US5543748A (en) Flip-flop circuit with resonant tunneling diode
KR100301151B1 (ko) 논리증폭기
JPS63199511A (ja) 比較回路
JP3080793B2 (ja) インターフェース回路
JPH0666678B2 (ja) Ecl回路
JP3338355B2 (ja) 半導体回路
JPH0336336B2 (ja)
JPH08250986A (ja) パルス倍電圧回路
JP3288612B2 (ja) 半導体回路
CN103297030A (zh) 电平移位器、采用电平移位器的振荡器电路和方法
JPS59169211A (ja) 電子発振器
JP3442541B2 (ja) 駆動回路
JP3469979B2 (ja) フリップ・フロップ回路
US4926133A (en) FM demodulator having a frequency independent delay circuit
US6518789B2 (en) Circuit configuration for converting logic levels
JPH04117716A (ja) 出力回路
JP3806051B2 (ja) フリップフロップ回路
JP3294909B2 (ja) 電子スイッチ回路
JP3471564B2 (ja) 負性微分抵抗素子論理回路
JP3605022B2 (ja) 位相比較回路
JPH0193919A (ja) レベルシフト回路
JPH0879022A (ja) 負性抵抗回路の制御方法
JPH05199043A (ja) パルス幅変調増幅回路
JPH04147305A (ja) 定電流駆動回路

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080809

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080809

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090809

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees