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JP3176021B2 - Liquid crystal light valve and projection type liquid crystal display using the same - Google Patents

Liquid crystal light valve and projection type liquid crystal display using the same

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Publication number
JP3176021B2
JP3176021B2 JP13161995A JP13161995A JP3176021B2 JP 3176021 B2 JP3176021 B2 JP 3176021B2 JP 13161995 A JP13161995 A JP 13161995A JP 13161995 A JP13161995 A JP 13161995A JP 3176021 B2 JP3176021 B2 JP 3176021B2
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JP
Japan
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liquid crystal
light
layer
light valve
metal layer
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JP13161995A
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秀夫 佐藤
昇一 廣田
一八男 竹本
克己 松本
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Priority to KR19960018655A priority patent/KR960042180A/ko
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電圧の振幅値で光の強
さを制御する液晶ディスプレイに係り、特に投射型ディ
スプレイに好適な液晶ライトバルブに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display which controls the intensity of light with the amplitude of a voltage, and more particularly to a liquid crystal light valve suitable for a projection type display.

【0002】[0002]

【従来の技術】スイッチング素子と液晶を積層して光を
制御するアクティブ・マトリクス方式による液晶ディス
プレイは、米国特許3,862,360号や電子通信学
会技術報告(1980年)のIE80−81に開示され
ている。これらのディスプレイは、いずれもスイッチン
グ素子で制御した画像を直接みる直視方式である。スイ
ッチング素子には、単結晶シリコン基板に形成したMO
S(metal oxide−semiconductor)トランジスタを用
いている。
2. Description of the Related Art An active matrix type liquid crystal display in which light is controlled by laminating switching elements and liquid crystal is disclosed in US Pat. No. 3,862,360 and IE80-81 of the Technical Report of the Institute of Electronics and Communication Engineers (1980). Have been. Each of these displays is a direct-view system in which an image controlled by a switching element is directly viewed. The switching element includes an MO formed on a single crystal silicon substrate.
An S (metal oxide-semiconductor) transistor is used.

【0003】MOSトランジスタに光が照射されると、
ソースとドレインを形成するPN接合部に光電流が発生
する。この光電流が液晶を制御するスイッチング素子部
に発生すると、液晶に印加する電圧が変化して画質を劣
化させる。さらに、光電流が前記スイッチング素子やそ
れを制御する駆動回路部に流れると、ラッチアップと呼
ばれる現象を引き起こして、電源に大電流が流れ回路動
作の阻害やチップの破壊が起こる。
When light is irradiated on a MOS transistor,
A photocurrent is generated at the PN junction forming the source and the drain. When this photocurrent is generated in the switching element for controlling the liquid crystal, the voltage applied to the liquid crystal changes, deteriorating the image quality. Further, when a photocurrent flows through the switching element and the drive circuit unit that controls the switching element, a phenomenon called latch-up is caused, a large current flows into the power supply, and the operation of the circuit is inhibited and the chip is broken.

【0004】図15に、ラッチアップ現象を説明するC
MOSLSIの模式図を示す。n型基板の表面にPMO
Sを、pウェルの領域にNMOSを形成している。基板
はn+の拡散層を介してVDD(例えば+5V)に、p
ウェルはp+の拡散層を介してVSS(例えばGND)
にそれぞれ給電している。PMOSとNMOSトランジ
スタのソースは、それぞれVDD、VSSに、ゲートは
共通にして入力端子Vinに、ドレインも共通にして出
力端子Voutに接続して、インバータ回路を構成して
いる。
[0004] FIG. 15 is a diagram for explaining a latch-up phenomenon.
1 shows a schematic diagram of a MOS LSI. PMO on the surface of n-type substrate
S and NMOS are formed in the region of the p well. The substrate is connected to VDD (for example, +5 V) through an n + diffusion layer,
The well is connected to VSS (for example, GND) via a p + diffusion layer.
To each other. The sources of the PMOS and NMOS transistors are respectively connected to VDD and VSS, the gate is commonly connected to the input terminal Vin, and the drain is also commonly connected to the output terminal Vout to form an inverter circuit.

【0005】このCMOSLSIでは、寄生のバイポー
ラトランジスタのTr1、Tr2と、寄生の抵抗R1〜
R4ができる。Tr1はNMOSのソースをエミッタ、
pウェルをベース、基板をコレクタにしたnpnトラン
ジスタであり、Tr2はPMOSのソースをエミッタ、
基板をベース、pウェルをコレクタにしたpnpトラン
ジスタである。また、R1、R2はpウェル、R3、R
4は基板の体積抵抗によって形成される抵抗である。
In this CMOS LSI, the parasitic bipolar transistors Tr1 and Tr2 and the parasitic resistors R1 to R1 are connected.
R4 is done. Tr1 has an NMOS source as an emitter,
An npn transistor having a p-well as a base and a substrate as a collector, Tr2 has a PMOS source as an emitter,
This is a pnp transistor having a substrate as a base and a p-well as a collector. R1 and R2 are p wells, R3 and R
Reference numeral 4 denotes a resistance formed by the volume resistance of the substrate.

【0006】寄生のバイポーラトランジスタTr1、T
r2は、図示のようにサイリスタ構造となる。寄生抵抗
R1またはR4に流れるトリガー電流Ipで、その端子
間電圧が増加すると、寄生のnpnまたはpnpバイポ
ーラトランジスタがオンし、オン電流が寄生抵抗R1ま
たはR4を流れて急激に増加し、VDDとVSS間に大
電流が流れてラッチアップとなる。このラッチアップ現
象は、回路内部の電圧が減少して回路動作を阻害した
り、配線やシリコン基板を溶融してチップを破壊したり
する。
[0006] Parasitic bipolar transistors Tr1, T
r2 has a thyristor structure as shown. When the terminal voltage is increased by the trigger current Ip flowing through the parasitic resistance R1 or R4, the parasitic npn or pnp bipolar transistor is turned on, and the on-current rapidly increases through the parasitic resistance R1 or R4, and VDD and VSS are increased. During this time, a large current flows and latch-up occurs. This latch-up phenomenon causes the voltage inside the circuit to decrease, hindering the circuit operation, and melting the wiring and the silicon substrate to destroy the chip.

【0007】ラッチアップを引き起こすトリガー電流
は、電源ノイズなどの他に、MOSトランジスタの周辺
の光照射が原因となる。光照射で基板内に発生した電子
又はホールが、高電界の基板とpウェルのPN接合部に
移動し光電流Ipとなる。光電流Ipは基板のn+拡散
層とpウェルのp+拡散層の間を流れ、サイリスタ構造
のトリガー電流となる。
The trigger current causing latch-up is caused by light irradiation around the MOS transistor in addition to power supply noise. The electrons or holes generated in the substrate by the light irradiation move to the PN junction between the substrate and the p-well of the high electric field and become a photocurrent Ip. The photocurrent Ip flows between the n + diffusion layer of the substrate and the p + diffusion layer of the p well, and becomes a trigger current of the thyristor structure.

【0008】上記の電子通信学会技術報告においては、
MOSトランジスタに発生する光電流を低減してラッチ
アップを防止するために、半導体基板のスイッチング領
域で、MOSトランジスタのソース領域を光の入射領域
からできるだけ遠ざける配置、発生したキャリアを再結
合させるストッパ拡散層を設けるなどを記述している。
In the above technical report of the IEICE,
In order to reduce the photocurrent generated in the MOS transistor and prevent latch-up, in the switching region of the semiconductor substrate, the source region of the MOS transistor is arranged as far as possible from the light incident region, and a stopper diffusion for recombining generated carriers. It describes how to provide layers.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】従来のMOSトランジ
スタを用いた液晶ディスプレイは直視型であり、ディス
プレイパネルに必要な耐光性は、せいぜい数万ルクス程
度で十分であった。しかし、投射型のディスプレイで
は、制御画像をスクリーンに拡大投影するため、液晶ラ
イトバルブに照射される光は数百万ルクスにもなる。こ
のため、従来の遮光構造では不十分で、入射光に対し半
導体基板が完全に覆われる構造が必要となっている。さ
らに、画像を制御するスイッチング領域に止まらず、そ
の周辺部に配置する駆動回路部などの耐光性を高めるこ
とが必要になっている。
A conventional liquid crystal display using a MOS transistor is of a direct-view type, and the light resistance required for a display panel is at most tens of thousands lux. However, in a projection-type display, since a control image is enlarged and projected on a screen, the light applied to the liquid crystal light valve reaches several million lux. For this reason, the conventional light-shielding structure is not sufficient, and a structure that completely covers the semiconductor substrate with respect to incident light is required. Further, it is necessary to improve the light resistance of not only the switching region for controlling the image but also the driving circuit portion and the like arranged around the switching region.

【0010】本発明の目的は、このような現状に鑑み、
強力な照射光に対する遮光性を向上し、ラッチアップを
防止できる信頼性に富んだ液晶ライトバルブを提供する
ことにある。
[0010] The object of the present invention, in view of such a current situation,
It is an object of the present invention to provide a highly reliable liquid crystal light valve capable of improving light-shielding properties against strong irradiation light and preventing latch-up.

【0011】本発明の他の目的は、500万ルクス程度
の明るさで高品質の画像を表示する投射型の液晶ディス
プレイを提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a projection type liquid crystal display which displays a high quality image with a brightness of about 5 million lux.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記本発明の目的を達成
る液晶ライトバルブは、一方の表面に、マトリクス状に
配置される複数のスイッチング素子からなる画素回路領
域と前記スイッチング素子を駆動する素子からなる駆動
回路領域とそれらの周辺領域を有する半導体基板と、前
記半導体基板の前記一方の表面上に、絶縁層を介して階
層的に構成され配線手段を有する複数の金属層と、最上
部にあらる前記金属層をスリットで分割して形成され、
前記スイッチング素子の出力端となる複数の反射電極
と、前記最上部の下層にある金属層に、前記最上部のス
リットの平面空間に対して重複するように形成した第1
の遮光手段と、前記金属層の少なくとも一つを前記駆動
回路領域及び前記周辺領域の表面空間を覆うように形成
した第2の遮光手段と、光の照射される反対側の面に前
記反射電極と対向する対向電極を有する透明な対向基板
と、前記半導体基板と前記対向基板の間隙に液晶を充填
してなる。
According to the present invention, there is provided a liquid crystal light valve which has, on one surface, a pixel circuit region comprising a plurality of switching elements arranged in a matrix and an element for driving the switching elements. A semiconductor substrate having a drive circuit region consisting of: and a peripheral region thereof; a plurality of metal layers having wiring means arranged hierarchically on the one surface of the semiconductor substrate via an insulating layer; The resulting metal layer is formed by dividing it with a slit,
A plurality of reflective electrodes serving as output terminals of the switching element, and a first metal layer under the uppermost portion, the first upper electrode being formed so as to overlap with a plane space of the uppermost slit.
Light shielding means, a second light shielding means in which at least one of the metal layers is formed so as to cover a surface space of the drive circuit area and the peripheral area, and a reflection electrode on a surface opposite to light irradiation. A transparent counter substrate having a counter electrode facing the substrate, and filling a gap between the semiconductor substrate and the counter substrate with liquid crystal.

【0013】また、前記金属層は、少なくとも1層の上
面および/または下面に、WSi2またはMoSi2など
の金属シリサイド層を設けてなる。
Further, the metal layer is provided with a metal silicide layer such as WSi 2 or MoSi 2 on at least one of the upper surface and / or the lower surface.

【0014】また、前記半導体基板の前記画素回路領域
や前記駆動回路領域の周辺領域に形成され、光照射によ
って発生するキャリアを吸収するキャリア吸収手段を設
けてなる。
[0014] Further, there is provided a carrier absorbing means which is formed in the peripheral region of the pixel circuit region or the drive circuit region of the semiconductor substrate and absorbs carriers generated by light irradiation.

【0015】前記最上部で前記画素回路領域の周辺領域
に対応するエリアに形成される別の電極と、前記対向電
極と前記別の電極を同一電圧に保つ手段を設けてなる。
Another means is provided at an uppermost portion in an area corresponding to a peripheral area of the pixel circuit area, and means for keeping the opposite electrode and the other electrode at the same voltage is provided.

【0016】[0016]

【作用】前記周辺領域に設けた遮光手段は反射電極とと
もに、画素回路領域、駆動回路領域及びそれらの周辺領
域に照射される数百万ルクスの光あるいはその迷光を、
ほぼ完全に反射または吸収する耐光性を有して、半導体
基板に発生するラッチアップ現象を防止でき、回路素子
の劣化破損による画質の低下を防止する効果がある。こ
の反射/吸収の作用は、金属シリサイド層によって一層
強化される。
The light shielding means provided in the peripheral area, together with the reflective electrode, emits millions of lux of light or stray light applied to the pixel circuit area, the drive circuit area and their peripheral areas.
It has light resistance that reflects or absorbs almost completely, and can prevent a latch-up phenomenon that occurs on a semiconductor substrate, and has an effect of preventing deterioration in image quality due to deterioration and damage of circuit elements. This reflection / absorption function is further enhanced by the metal silicide layer.

【0017】また、前記周辺領域に設けたキャリア吸収
手段は、半導体基板に達した光によって発生するキャリ
アを吸収できるので、駆動回路領域やその周辺領域の光
電流を大幅に低減でき、上記遮光手段と組み合わされて
より耐光性を高める。
Further, the carrier absorbing means provided in the peripheral region can absorb the carriers generated by the light reaching the semiconductor substrate, so that the photocurrent in the drive circuit region and the peripheral region can be greatly reduced, and In combination with increases the light resistance.

【0018】また、画素回路領域の周辺の光を反射する
別の電極は、対向電極と同電位、すなわち0にされる、
画面周辺部の明るさを暗くできるので、画質を向上でき
る。
Another electrode that reflects light around the pixel circuit area is set to the same potential as the counter electrode, that is, 0.
Since the brightness around the screen can be reduced, the image quality can be improved.

【0019】さらに、遮光手段は複数の金属層に亘って
形成できるので、半導体基板をコンパクトに構成でき
る。
Furthermore, since the light shielding means can be formed over a plurality of metal layers, the semiconductor substrate can be made compact.

【0020】このような液晶ライトバルブを適用するこ
とで、約500万ルクスの光源まで、高精細で明るい、
高品質の画像を表示する投射型ディスプレイを提供する
ことができる。
By applying such a liquid crystal light valve, a high-definition and bright light source of about 5 million lux can be obtained.
A projection display that displays a high-quality image can be provided.

【0021】[0021]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0022】図9は、液晶ライトバルブの一般的な回路
構成を示したものである。液晶ライトバルブは画素回路
1、サンプル回路2、水平走査回路3、垂直走査回路
4、ANDゲート5で構成される。これら各回路は半導
体基板の表面に形成される。
FIG. 9 shows a general circuit configuration of a liquid crystal light valve. The liquid crystal light valve includes a pixel circuit 1, a sample circuit 2, a horizontal scanning circuit 3, a vertical scanning circuit 4, and an AND gate 5. These circuits are formed on the surface of the semiconductor substrate.

【0023】画素回路1は、MOSトランジスタ1aと
保持容量1bを水平方向にM個、垂直方向にN個をそれ
ぞれ配列している。MOSトランジスタ1aのゲート電
極には、ANDゲート5からの走査信号Vg1〜Vg
N、ドレイン電極にはサンプル回路2からの輝度信号V
d1〜VdM、ソース電極には保持容量1bの一端と液
晶1cが接続される。保持容量1bの他端は、遮光層を
介して基板電圧を給電する電圧VSSに接続している。
液晶1cは、画素回路1と対向基板の間に実装される液
晶素子の等価容量である。
In the pixel circuit 1, M MOS transistors 1a and storage capacitors 1b are arranged in the horizontal direction and N in the vertical direction. The scanning signals Vg1 to Vg from the AND gate 5 are applied to the gate electrode of the MOS transistor 1a.
N, the luminance signal V from the sample circuit 2 is applied to the drain electrode.
One end of the storage capacitor 1b and the liquid crystal 1c are connected to d1 to VdM and the source electrode. The other end of the storage capacitor 1b is connected to a voltage VSS for supplying a substrate voltage via a light shielding layer.
The liquid crystal 1c is an equivalent capacitance of a liquid crystal element mounted between the pixel circuit 1 and the opposing substrate.

【0024】水平走査回路3は、クロック信号CLKと
スタート信号STAを入力して、M相の多相信号PH1
〜PHMを出力する。サンプル回路2はMOSスイッチ
で構成し、そのゲート電極は前記出力信号PH1からP
HMと、ドレイン電極は極性の異なる映像信号VI1又
はVI2と接続している。MOSスイッチのソース電極
から、輝度信号Vd1からVdMを出力する。
The horizontal scanning circuit 3 receives the clock signal CLK and the start signal STA, and inputs an M-phase multiphase signal PH1.
~ PHM is output. The sample circuit 2 is constituted by a MOS switch, and its gate electrode is connected to the output signals PH1 to P1.
The HM and the drain electrode are connected to video signals VI1 or VI2 having different polarities. The luminance signals Vd1 to VdM are output from the source electrode of the MOS switch.

【0025】垂直走査回路4は、クロック信号CKVと
スタート信号FSTを入力して、N相の多相信号PV1
〜PVNを出力している。ANDゲート5は、多相信号
PV1〜PVNと制御信号CNTを入力して、走査信号
Vg1〜VgNを出力する。
The vertical scanning circuit 4 receives the clock signal CKV and the start signal FST, and inputs an N-phase multi-phase signal PV1.
To PVN. The AND gate 5 receives the multi-phase signals PV1 to PVN and the control signal CNT, and outputs scanning signals Vg1 to VgN.

【0026】図10に、液晶ライトバルブの動作を説明
するタイミングチャートを示す。垂直走査回路4のスタ
ート信号FSTは表示する映像のフレーム先頭、クロッ
ク信号CKVは走査線の切り替えタイミングを示してい
る。垂直走査回路7は、クロック信号CKVの立ち上が
りのタイミングでスタート信号FSTを取り込み、多相
信号PV1〜PVNを出力する。ANDゲート5は、多
相信号PV1〜PVNと制御信号CNTを入力して、画
素回路1の走査信号Vg1〜VgNを出力する。1ライ
ン毎に走査する順次走査のときは、CNTを”H”にす
ることで、走査信号Vg1〜VgNを多相信号PV1〜
PVNに等しく、マトリクス状に配置した画素回路1を
垂直方向に順次選択している。映像信号VI1、VI2
は、対向電極の電圧COMを基準に変化する信号で、そ
の極性は互いに逆相で、フレーム毎に反転している。
FIG. 10 is a timing chart for explaining the operation of the liquid crystal light valve. The start signal FST of the vertical scanning circuit 4 indicates the head of the frame of the video to be displayed, and the clock signal CKV indicates the switching timing of the scanning line. The vertical scanning circuit 7 captures the start signal FST at the rising timing of the clock signal CKV and outputs the multi-phase signals PV1 to PVN. The AND gate 5 receives the multi-phase signals PV1 to PVN and the control signal CNT, and outputs scanning signals Vg1 to VgN of the pixel circuit 1. In the case of the sequential scanning in which the scanning is performed for each line, the scanning signals Vg1 to VgN are changed to the multi-phase signals PV1 to PV1 by setting CNT to “H”.
Pixel circuits 1 equal to PVN and arranged in a matrix are sequentially selected in the vertical direction. Video signals VI1, VI2
Is a signal that changes with reference to the voltage COM of the counter electrode, the polarities of which are opposite to each other and inverted every frame.

【0027】水平走査回路3は垂直走査回路4と同様
に、前記クロック信号CLKの立ち上がりのタイミング
で、走査線の先頭を示すスタート信号STAを取り込
み、多相信号PH1〜PHMを出力する。サンプル回路
2は、映像信号VI1、VI2を相信号PH1〜PHM
のタイミングで順にサンプリングし、輝度信号Vd1〜
VdMを出力する。輝度信号Vd1〜VdMは、マトリ
クス状に配置された画素回路1に列毎に入力される。こ
のとき、走査信号Vg1〜VgNで選択された行の画素
回路1のMOSトランジスタだけがオン状態となるの
で、選択された行の画素回路の保持容量1bに輝度信号
Vd1〜VdMが書き込まれ、ホールドされる。保持容
量1bにホールドした電圧は液晶1cに印加されるの
で、液晶ライトバルブは映像信号VI1、VI2に応じ
た映像を表示する。
Like the vertical scanning circuit 4, the horizontal scanning circuit 3 takes in the start signal STA indicating the head of the scanning line at the rising timing of the clock signal CLK and outputs the multi-phase signals PH1 to PHM. The sample circuit 2 converts the video signals VI1 and VI2 into phase signals PH1 to PHM.
Sampling at the timing of
Output VdM. The luminance signals Vd1 to VdM are input to the pixel circuits 1 arranged in a matrix for each column. At this time, since only the MOS transistors of the pixel circuits 1 in the row selected by the scanning signals Vg1 to VgN are turned on, the luminance signals Vd1 to VdM are written to the storage capacitors 1b of the pixel circuits in the selected row, and the hold signals are held. Is done. Since the voltage held in the storage capacitor 1b is applied to the liquid crystal 1c, the liquid crystal light valve displays an image according to the image signals VI1 and VI2.

【0028】図11に、液晶ライトバルブの水平、垂直
走査回路の構成の一例を示す。同図で、括弧で括らない
記号を用いる場合は水平操作回路、括弧内の記号を用い
る場合は垂直操作回路を表わす。本回路は、Dタイプの
フリップ・フロップFF、インバータINV、レベル変
換回路LSから構成されている。フリップ・フロップF
Fを直列に接続することでシフトレジスタを構成し、水
平走査回路はM段、垂直走査回路はN段となる。
FIG. 11 shows an example of the configuration of the horizontal and vertical scanning circuits of the liquid crystal light valve. In the drawing, when a symbol not enclosed in parentheses is used, a horizontal operation circuit is shown, and when a symbol in parentheses is used, a vertical operation circuit is shown. This circuit includes a D-type flip-flop FF, an inverter INV, and a level conversion circuit LS. Flip flop F
F is connected in series to form a shift register. The horizontal scanning circuit has M stages and the vertical scanning circuit has N stages.

【0029】レベル変換回路LSは、ソースをVDDに
接続した2個のPMOSトランジスタMP1、MP2
と、ソースをVSSに接続した2個のNMOSトランジ
スタMN1、MN2で構成し、フリップ・フロップFF
の出力はMP1のゲートに接続するとともに、インバー
タINVで逆相にしてMP2のゲートに接続している。
MN1とMN2のゲートは互いに接続するとともに、M
N1とMP1のドレインにも接続する。さらに、MN2
とMP2のドレインを互いに接続し、この接続点を走査
回路の出力PH(PV)としている。
The level conversion circuit LS includes two PMOS transistors MP1 and MP2 whose sources are connected to VDD.
And two NMOS transistors MN1 and MN2 whose sources are connected to VSS.
Are connected to the gate of MP1 while being inverted in phase by the inverter INV and connected to the gate of MP2.
The gates of MN1 and MN2 are connected to each other.
It is also connected to the drains of N1 and MP1. Furthermore, MN2
And the drain of MP2 are connected to each other, and this connection point is used as the output PH (PV) of the scanning circuit.

【0030】この構成によって、FFの出力が”H”の
とき、MP1とMN2がオフ、MP2がオンとなり、出
力PH(PV)はVDDとなる。一方、FFの出力が”
L(=GND)”のとき、MP1とMN2はオン、MP
2はオフとなり、出力PH(PV)はVSSとなる。こ
のように、レベル変換回路LSは0−VDDの信号をV
SS−VDDの信号に変換する。なお、レベル変換回路
LSはVDD(+5V)−VSS(−15V)の電源で
動作する高耐圧CMOSトランジスタで構成し、FFと
INVはVDD(+5V)−0の電源で動作する低耐圧
CMOSトランジスタで構成している。
With this configuration, when the output of the FF is "H", MP1 and MN2 are turned off, MP2 is turned on, and the output PH (PV) becomes VDD. On the other hand, the output of the FF is "
L (= GND) ”, MP1 and MN2 are on, MP
2 is turned off, and the output PH (PV) becomes VSS. Thus, the level conversion circuit LS converts the 0-VDD signal to V
The signal is converted to an SS-VDD signal. The level conversion circuit LS is composed of a high-voltage CMOS transistor that operates with a power supply of VDD (+5 V) -VSS (−15 V), and the FF and INV are low-voltage CMOS transistors that operate with a power supply of VDD (+5 V) -0. Make up.

【0031】図1は、本発明の一実施例による液晶ライ
トバルブの構造を示し、同図(a)は平面図A−A線の
断面図、同図(b)は光照射方向からみた半導体基板の
平面図である。
FIG. 1 shows the structure of a liquid crystal light valve according to one embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a plan view taken along the line AA, and FIG. 1 (b) is a semiconductor viewed from the light irradiation direction. It is a top view of a board.

【0032】本実施例の液晶ライトバルブは、画素回路
や駆動回路を形成した半導体基板100と、透明なガラ
ス基板301の表面にITO(Indium−tin−oxide)な
どの透明導電材料からなる対向電極302を形成した対
向基板300と、両者の間に液晶200を充填し、基板
100と基板300を接着するためのシール材510か
ら構成されている。
The liquid crystal light valve of the present embodiment has a semiconductor substrate 100 on which a pixel circuit and a driving circuit are formed, and a counter electrode made of a transparent conductive material such as ITO (Indium-tin-oxide) on the surface of a transparent glass substrate 301. It comprises a counter substrate 300 on which 302 is formed, and a sealing material 510 for filling the liquid crystal 200 between them and bonding the substrate 100 to the substrate 300.

【0033】半導体基板100の単結晶シリコン基板1
10の表面には、絶縁層を介して第1の金属層140、
第2の金属層160及び第3の金属層180を形成し、
エンハンスメント型NMOSトランジスタによるスイッ
チング素子101aを複数配列した画素回路領域101
と、エンハンスメント型NMOSまたはPMOSなどの
回路素子102aで構成する駆動回路領域102を配置
し、さらにワイヤボンデング領域108を配置してい
る。この駆動回路領域102にはサンプル回路2、水平
走査回路3、垂直走査回路4及びAND回路5が形成さ
れる。
Single-crystal silicon substrate 1 of semiconductor substrate 100
The surface of the first metal layer 140 is provided on the surface of the first metal layer 140 via an insulating layer.
Forming a second metal layer 160 and a third metal layer 180;
Pixel circuit region 101 in which a plurality of switching elements 101a formed by enhancement type NMOS transistors are arranged
And a drive circuit region 102 composed of a circuit element 102a such as an enhancement type NMOS or PMOS, and a wire bonding region 108 are further disposed. In this drive circuit area 102, a sample circuit 2, a horizontal scanning circuit 3, a vertical scanning circuit 4, and an AND circuit 5 are formed.

【0034】画素回路領域101では、光照射からシリ
コン基板110の表面をマスクするように、第3の金属
層180に形成した画素電極181と第2の金属層16
0に形成した遮光層163を相互にラップして配置して
いる。また、駆動回路領域102とその他の周辺部のシ
リコン基板110の表面は、第3の金属層180に形成
した遮光層191を配置している。遮光層163、19
1は金属層にパターン形成され、入射する光を反射又は
吸収して、各回路を構成する半導体素子やその周辺領域
の半導体基板に到達する光を遮断する。
In the pixel circuit region 101, the pixel electrode 181 formed on the third metal layer 180 and the second metal layer 16 are masked so as to mask the surface of the silicon substrate 110 from light irradiation.
The light-shielding layers 163 formed at 0 are wrapped with each other. Further, a light-shielding layer 191 formed on the third metal layer 180 is arranged on the surface of the silicon substrate 110 in the drive circuit region 102 and other peripheral portions. Light shielding layers 163 and 19
Reference numeral 1 denotes a pattern formed on a metal layer, which reflects or absorbs incident light and blocks light that reaches a semiconductor element included in each circuit or a semiconductor substrate in a peripheral region thereof.

【0035】に、本実施例の液晶ライトバルブのディバ
イス構造を詳細に説明する。図2は、液晶ライトバルブ
の画素回路領域の一部を示す断面図である。一つの画素
回路1は、単結晶シリコン基板110の表面にエンハン
スメント型のNMOSトランジスタで構成されたMOS
トランジスタ1a、MOS容量1b及び反射電極などか
ら構成される。
Next, the device structure of the liquid crystal light valve of this embodiment will be described in detail. FIG. 2 is a cross-sectional view showing a part of the pixel circuit area of the liquid crystal light valve. One pixel circuit 1 has a MOS structure composed of an enhancement type NMOS transistor on the surface of a single crystal silicon substrate 110.
It is composed of a transistor 1a, a MOS capacitor 1b, a reflection electrode and the like.

【0036】半導体基板100は、一方の表面にMOS
トランジスタ1aを構成するソース領域、ドレイン領域
及び、保持容量1bの一方の電極領域を形成するn型シ
リコン基板111と、この基板111上に選択的に形成
されるポリシリコン層120と、ポリシリコン層120
上に形成される第1の絶縁層130と、第1の絶縁層1
30上に形成されるとともに絶縁層130を貫通してn
型シリコン基板111の表面やポリシリコン層120に
コンタクトする第1の金属層140と、第1の金属層1
40上に形成された第2の絶縁層150と、第2の絶縁
層150上に形成されるとともに絶縁層150を貫通し
て第1の金属層140にコンタクトする第2の金属層1
60と、第2の金属層160上に形成される第3の絶縁
層170と、第3の絶縁層170上に形成されるととも
に絶縁層170を貫通して第2の金属層160にコンタ
クトする第3の金属層180から構成されている。第1
の金属層140、第2の金属層160および第3の金属
層180は、例えばアルミニウムによって形成される。
The semiconductor substrate 100 has a MOS surface on one surface.
An n-type silicon substrate 111 for forming a source region and a drain region constituting the transistor 1a and one electrode region of the storage capacitor 1b; a polysilicon layer 120 selectively formed on the substrate 111; 120
A first insulating layer 130 formed thereon and a first insulating layer 1
30 and n penetrating through the insulating layer 130.
A first metal layer 140 contacting the surface of the mold silicon substrate 111 and the polysilicon layer 120;
A second insulating layer formed on the second insulating layer and a second metal layer formed on the second insulating layer and penetrating the insulating layer to contact the first metal layer;
60, a third insulating layer 170 formed on the second metal layer 160, and formed on the third insulating layer 170 and penetrating through the insulating layer 170 to contact the second metal layer 160. It is composed of a third metal layer 180. First
The first metal layer 140, the second metal layer 160, and the third metal layer 180 are formed of, for example, aluminum.

【0037】画素回路領域101は、n型基板層111
と、p型ウェル層112と、p型ウェル層112の表面
に形成されたn+領域113、116、n領域114、
p+領域117と、素子分離領域118から構成されて
いる。1点鎖線で示す単位画素回路において、一対のn
+領域113はそれぞれMOSトランジスタ1aのソー
ス領域とドレイン領域となる。n領域114は保持容量
1bの一方の電極となる。n+領域116とn領域11
4、p+領域117とp型ウェル層112は、それぞれ
電気的に接続されている。
The pixel circuit region 101 includes an n-type substrate layer 111
, P-type well layer 112, n + regions 113 and 116, n-region 114 formed on the surface of p-type well layer 112,
It is composed of a p + region 117 and an element isolation region 118. In a unit pixel circuit indicated by a dashed line, a pair of n
+ Region 113 serves as a source region and a drain region of MOS transistor 1a, respectively. The n region 114 becomes one electrode of the storage capacitor 1b. n + region 116 and n region 11
4. The p + region 117 and the p-type well layer 112 are electrically connected to each other.

【0038】ポリシリコン層120はn型シリコン基板
111の表面に、酸化シリコン層115を介して選択的
に形成されている。具体的には、MOSトランジスタ1
aのゲート電極123は1対のn+領域113間のp型
ウェル層112上に、保持容量1bの他方の電極124
はn領域114上に形成される。保持容量1bは、n領
域114とポリシリコン層124及びこれらの間に介在
された酸化シリコン層115によって形成される。
The polysilicon layer 120 is selectively formed on the surface of the n-type silicon substrate 111 via the silicon oxide layer 115. Specifically, MOS transistor 1
The gate electrode 123 a is formed on the p-type well layer 112 between the pair of n + regions 113 and the other electrode 124 of the storage capacitor 1 b.
Are formed on the n region 114. The storage capacitor 1b is formed by the n region 114, the polysilicon layer 124, and the silicon oxide layer 115 interposed therebetween.

【0039】第1の金属層140はスリット144によ
って複数個に分割され、MOSトランジスタ1aと保持
容量1bとを接続する配線141、MOSトランジスタ
1aのドレインの配線142、MOS容量1bの一方の
電極とp型ウェル層112を給電する配線146を構成
している。
The first metal layer 140 is divided into a plurality of parts by slits 144, a wiring 141 connecting the MOS transistor 1a and the storage capacitor 1b, a drain wiring 142 of the MOS transistor 1a, and one electrode of the MOS capacitor 1b. A wiring 146 for supplying power to the p-type well layer 112 is formed.

【0040】配線141は第1の絶縁層130に設けた
コンタクトホール131で一対のn+領域113の一方
及びポリシリコン層124に、ドレイン配線142は第
1の絶縁層130に設けたコンタクトホール131で一
対のn+領域113の他方に、給電配線146は第1の
絶縁層130に設けたコンタクトホール131でMOS
容量の一方の電極と接続されるn+領域116と、p型
ウェル層112と接続されるp+領域117にコンタク
トしている。
The wiring 141 is provided in one of the pair of n + regions 113 and the polysilicon layer 124 in a contact hole 131 provided in the first insulating layer 130, and the drain wiring 142 is provided in the contact hole 131 provided in the first insulating layer 130. In the other of the pair of n + regions 113, a power supply wiring 146 is formed by a contact hole 131 provided in the first insulating layer 130 through a MOS.
The n + region 116 connected to one electrode of the capacitor and the p + region 117 connected to the p-type well layer 112 are in contact.

【0041】第1の金属層140の上に第2の絶縁層1
50を介して遮光層163及び中間電極164を形成し
た第2の金属層160を設け、その上に第3の絶縁層1
70を介して、画素電極(反射電極)181を形成した
第3の金属層(配線層)180を設けている。遮光層1
63と中間電極164はスリット162で、画素電極同
士はスリット182で互いに隔てられている。遮光層1
63はスルーホール152を介して配線146と接続
し、p型ウェルとMOS容量の一方の電圧を給電してい
る。配線141はスルーホール151を介して中間電極
164と、さらにスルーホール171を介して画素電極
181と接続し、MOSトランジスタ1aのソース電圧
を画素電極181に出力している。
The second insulating layer 1 is formed on the first metal layer 140.
A second metal layer 160 on which a light-shielding layer 163 and an intermediate electrode 164 are formed is provided with a third insulating layer 1
A third metal layer (wiring layer) 180 on which a pixel electrode (reflection electrode) 181 is formed is provided via 70. Light shielding layer 1
63 and the intermediate electrode 164 are separated from each other by a slit 162, and the pixel electrodes are separated from each other by a slit 182. Light shielding layer 1
63 is connected to the wiring 146 through the through hole 152 to supply one voltage of the p-type well and the MOS capacitor. The wiring 141 is connected to the intermediate electrode 164 via the through hole 151 and to the pixel electrode 181 via the through hole 171, and outputs the source voltage of the MOS transistor 1 a to the pixel electrode 181.

【0042】このように構成される液晶ライトバルブ
は、ガラス基板300側から照射される強力な光を画素
電極181で反射する反射型であり、この反射光の強さ
を液晶200の状態によって制御している。例えば、液
晶200にポリマー分散型液晶を使用すると、画素電極
181の出力電圧によって液晶200は散乱状態から透
明状態に変化し、各画素の反射率は液晶200が透明状
態のときに高く、散乱状態のときに低くなる。このよう
に、液晶の状態変化を画素電極181の電圧によって制
御することで映像を表示する。
The liquid crystal light valve thus configured is of a reflection type in which strong light emitted from the glass substrate 300 is reflected by the pixel electrode 181, and the intensity of the reflected light is controlled by the state of the liquid crystal 200. are doing. For example, when a polymer dispersed liquid crystal is used for the liquid crystal 200, the liquid crystal 200 changes from a scattering state to a transparent state by the output voltage of the pixel electrode 181, the reflectance of each pixel is high when the liquid crystal 200 is in the transparent state, and the scattering state is high. It becomes low when As described above, an image is displayed by controlling the change in the state of the liquid crystal by the voltage of the pixel electrode 181.

【0043】次に、照射光の遮光について説明する。最
上層の第3の金属層180で形成された反射電極181
の電極間スリット182から入射する光は、第2の金属
層160で形成された遮光層163で遮断される。すな
わち、対向基板300側から見た場合、第3の金属層1
80に形成されたスリット182と第2の金属層160
に形成されたスリット162は、互いにオーバーラップ
することなくずれて配置されているので、対向基板30
0側から入射した光は第3の金属層または第2の金属層
のいずれかで反射されて半導体基板110には到達しな
い。
Next, the shielding of the irradiation light will be described. Reflection electrode 181 formed of uppermost third metal layer 180
The light incident from the inter-electrode slit 182 is blocked by the light shielding layer 163 formed by the second metal layer 160. That is, when viewed from the counter substrate 300 side, the third metal layer 1
80 and the second metal layer 160
The slits 162 formed on the counter substrate 30 are shifted from each other without overlapping each other.
Light incident from the 0 side is reflected by either the third metal layer or the second metal layer and does not reach the semiconductor substrate 110.

【0044】以上により、対向基板300側から入射し
た直接光はほぼ完全に遮断できる。ところで、照射光に
は法線に沿った直接光以外に、電極間スリット182に
斜めに入射する光や、遮光層163の非平坦な場所で散
乱された光の一部が、第3の絶縁層170により反射さ
れて迷光となり、第2の金属層のスリット164と第1
の金属層のスリット144を通り抜けて半導体基板11
0に到達する場合がある。遮光層163の非平坦な場所
は、MOSトランジスタ1a、MOS容量1b、第1の
金属層140などの平面パターンによって決まる。
As described above, the direct light incident from the counter substrate 300 can be almost completely blocked. Incidentally, in addition to the direct light along the normal line, part of the light incident obliquely on the inter-electrode slit 182 and part of the light scattered at the non-flat portion of the light-shielding layer 163 is a third insulating light. The light is reflected by the layer 170 to become stray light, and the slit 164 of the second metal layer
Through the slit 144 of the metal layer of the semiconductor substrate 11
It may reach zero. The non-planar location of the light-shielding layer 163 is determined by the plane pattern of the MOS transistor 1a, the MOS capacitor 1b, the first metal layer 140, and the like.

【0045】本実施例では、第3の金属層180の画素
間スリット182の位置を、第2の金属層160で構成
する遮光層163の平坦な場所に対応して配置する。さ
らに、第1の金属層140と第2の金属層160の各
面、第3の金属層180の下面などの少なくとも1面
を、例えばタングステンシリコン(WSi)やモリブデ
ンシリコン(MoSi)などの反射率の低い材料とアル
ミニウムの多層構成とする。これによって、半導体基板
110に到達する迷光を大幅に低減できる。
In this embodiment, the positions of the inter-pixel slits 182 of the third metal layer 180 are arranged corresponding to the flat places of the light shielding layer 163 formed of the second metal layer 160. Further, at least one surface, such as each surface of the first metal layer 140 and the second metal layer 160 and the lower surface of the third metal layer 180, is made of a material such as tungsten silicon (WSi) or molybdenum silicon (MoSi). And a multi-layer structure of aluminum and aluminum. Thus, stray light reaching the semiconductor substrate 110 can be significantly reduced.

【0046】図3に、本実施例の液晶ライトバルブの画
素回路と周辺部を含む断面図を示す。画素回路領域10
1は、n型シリコン基板111にp型ウェル層112を
作り、このなかに設けられている。画素回路領域101
の周辺領域には、第2の金属層160で形成した遮光層
165を設け、さらに、最上層である第3の金属層18
0により、電極181と電気的に分離した電極183を
形成し、電極183には対向電極302と等しい電圧を
供給している。これにより、画素回路の周辺領域に対向
するの液晶の印加電圧を0にしている。
FIG. 3 is a sectional view of the liquid crystal light valve of this embodiment, including a pixel circuit and a peripheral portion. Pixel circuit area 10
1 forms a p-type well layer 112 on an n-type silicon substrate 111 and is provided therein. Pixel circuit area 101
Is provided with a light shielding layer 165 formed of the second metal layer 160 in the peripheral region of the third metal layer 18 which is the uppermost layer.
With 0, an electrode 183 electrically separated from the electrode 181 is formed, and the same voltage as that of the counter electrode 302 is supplied to the electrode 183. Thereby, the applied voltage of the liquid crystal facing the peripheral area of the pixel circuit is set to zero.

【0047】図4に、本実施例の駆動回路とその周辺部
の断面図を示す。n型シリコン基板111の表面にPM
OSトランジスタ、p型ウェル層112にNMOSトラ
ンジスタをそれぞれ形成し、これらのトランジスタを用
いて水平走査回路3、垂直走査回路4などの駆動回路を
構成している。この駆動回路とその周辺領域の上部に
は、対向基板300側からの入射光を遮断する遮光層1
66を、第2の金属層160により設けている。なお、
他の金属層140または180によって遮光層を設ける
こともできる。
FIG. 4 is a cross-sectional view of the driving circuit of this embodiment and its peripheral portion. PM on the surface of the n-type silicon substrate 111
OS transistors and NMOS transistors are formed in the p-type well layer 112, respectively, and these transistors constitute driving circuits such as the horizontal scanning circuit 3 and the vertical scanning circuit 4. A light-shielding layer 1 for blocking incident light from the counter substrate 300 side is provided above the driving circuit and its peripheral region.
66 are provided by the second metal layer 160. In addition,
The light-blocking layer may be provided by another metal layer 140 or 180.

【0048】以上のように、本実施例の液晶ライトバル
ブにおいては、画素回路領域に照射される光は遮光層1
63で、画素回路領域の周辺部に照射される光は遮光層
165で、駆動回路領域とその周辺部に照射される光は
遮光層166で、それぞれ遮断される。これによれば、
投射型ディスプレイのように強力な光が照射されても、
シリコン基板への入射光は確実に遮断されてラッチアッ
プを防止でき、素子の特性劣化や破壊を回避できる。さ
らに、画素回路領域の周辺部に対向する液晶の印加電圧
が0になるように、画素回路周辺部の上部に電極を設け
たので、この部分の明るさを暗くして画面周辺部の画質
を向上できる。
As described above, in the liquid crystal light valve of this embodiment, the light irradiated to the pixel circuit area is
At 63, the light radiated to the peripheral portion of the pixel circuit region is blocked by the light blocking layer 165, and the light radiated to the drive circuit region and its peripheral portion is blocked by the light blocking layer 166. According to this,
Even if strong light is irradiated like a projection display,
Light incident on the silicon substrate is reliably blocked, latch-up can be prevented, and deterioration and destruction of the characteristics of the device can be avoided. Further, since an electrode is provided above the pixel circuit peripheral portion so that the applied voltage of the liquid crystal facing the peripheral portion of the pixel circuit region becomes 0, the brightness of this portion is reduced to improve the image quality of the screen peripheral portion. Can be improved.

【0049】次に、本発明の第二の実施例による液晶ラ
イトバルブを説明する。図5は液晶ライトバルブの平面
図、図6はB−B線の断面図である。本実施例の上述の
実施例との相違は、キャリアストッパ層を設けたことに
ある。
Next, a liquid crystal light valve according to a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is a plan view of the liquid crystal light valve, and FIG. 6 is a sectional view taken along line BB. This embodiment is different from the above-described embodiment in that a carrier stopper layer is provided.

【0050】キャリアストッパ層は、画素回路領域10
1と駆動回路領域102を囲むように設けている。具体
的には、n型シリコン基板110の表面に設けたn+領
域191と、p型ウェル層112に設けたp+領域19
2からなり、n+領域191に最大電圧(VDD)を、
p+領域192に最小電圧(VSS)を供給する。
The carrier stopper layer is formed in the pixel circuit region 10
1 and the drive circuit region 102. Specifically, n + region 191 provided on the surface of n-type silicon substrate 110 and p + region 19 provided on p-type well layer 112 are provided.
2, and the maximum voltage (VDD) is applied to the n + region 191.
A minimum voltage (VSS) is supplied to the p + region 192.

【0051】これによれば、半導体基板100の周辺に
照射された光で発生するキャリアは、キャリアストッパ
領域に引き寄せられ、n+領域191からp+領域19
2の方向に光電流Ipが流れる。この結果、光電流が駆
動回路の素子に流れることがなく、ラッチアップを防止
できる。
According to this, the carriers generated by the light radiated to the periphery of the semiconductor substrate 100 are attracted to the carrier stopper region, and from the n + region 191 to the p + region 19
The photocurrent Ip flows in the direction 2. As a result, the photocurrent does not flow through the elements of the drive circuit, and latch-up can be prevented.

【0052】第二の実施例の変形例である液晶ライトバ
ルブを、図7の平面図と図8の断面図を用いて説明す
る。本例では、キャリアストッパ層をp型ウェル層内で
実現している。具体的には、n型シリコン基板110の
表面に設けたp型ウェル層193にp+領域とn領域を
設け、このn領域の中にさらにn+領域を設け、p+領
域とn+領域を配線148で接続している。
A liquid crystal light valve which is a modification of the second embodiment will be described with reference to a plan view of FIG. 7 and a sectional view of FIG. In this example, the carrier stopper layer is realized in the p-type well layer. Specifically, ap + region and an n region are provided in a p-type well layer 193 provided on the surface of the n-type silicon substrate 110, an n + region is further provided in the n region, and the p + region and the n + region are connected by a wiring 148. Connected.

【0053】これによれば、半導体基板100の周辺に
照射された光で発生するキャリアは、p型ウェル層19
3のキャリアストッパ領域で光電流Ipに変換される。
この結果、光電流は駆動回路の素子には流れないので、
ラッチアップを防止できる。
According to this, carriers generated by the light radiated to the periphery of the semiconductor substrate 100 are transferred to the p-type well layer 19.
The carrier current is converted into the photocurrent Ip in the carrier stopper region of No. 3.
As a result, the photocurrent does not flow to the elements of the drive circuit,
Latch-up can be prevented.

【0054】次に、上記の各実施例に説明した液晶ライ
トバルブの実装構造について、図12の平面図と図13
の断面図を用いて説明する。
Next, the mounting structure of the liquid crystal light valve described in each of the above embodiments will be described with reference to the plan view of FIG.
This will be described with reference to the sectional view of FIG.

【0055】画素回路1、水平走査回路3、垂直走査回
路4などを形成した半導体基板100は、回路部を上に
して導電性ペーストでセラミック基板500に接着され
る。半導体基板100と、これと対向して設けた対向基
板300に間には液晶200を充填する。液晶200は
その周辺部に設けたシール材510によってシールさ
れ、外界の湿度などから保護される。対向基板300の
表面に設けた対向電極302と、半導体基板100の最
上部の金属層180に形成した電極181などの配線パ
ターンとは、導電性ペースト530を用いて接続してい
る。
The semiconductor substrate 100 on which the pixel circuit 1, the horizontal scanning circuit 3, the vertical scanning circuit 4, and the like are formed is adhered to the ceramic substrate 500 with a conductive paste with the circuit portion facing upward. Liquid crystal 200 is filled between the semiconductor substrate 100 and the opposing substrate 300 provided opposite thereto. The liquid crystal 200 is sealed by a seal member 510 provided on the periphery thereof, and is protected from external humidity and the like. The opposing electrode 302 provided on the surface of the opposing substrate 300 is connected to a wiring pattern such as an electrode 181 formed on the uppermost metal layer 180 of the semiconductor substrate 100 by using a conductive paste 530.

【0056】対向基板300の信号端子550は、ワイ
ヤボンデング520でセラミック基板上に形成した配線
パターンと接続される。半導体基板100上のワイヤボ
ンデング位置と対向基板300の表面の対向電極302
の接続位置は、基板100の上辺部の1辺だけにするこ
とで、半導体基板100の信号端子部の面積を小さくし
ている。
The signal terminal 550 of the counter substrate 300 is connected to a wiring pattern formed on the ceramic substrate by wire bonding 520. Wire bonding position on semiconductor substrate 100 and counter electrode 302 on surface of counter substrate 300
Is connected to only one side of the upper side of the substrate 100, thereby reducing the area of the signal terminal portion of the semiconductor substrate 100.

【0057】図14は、上記の液晶ライトバルブを適用
した投射型ディスプレイの構成を示す模式図である。投
射型ディスプレイは光源700、第1のレンズ710、
ミラー720、第2のレンズ730、液晶ライトバルブ
740、投射レンズ750及びスクリーン760で構成
される。
FIG. 14 is a schematic diagram showing the configuration of a projection display to which the above-mentioned liquid crystal light valve is applied. The projection display includes a light source 700, a first lens 710,
It comprises a mirror 720, a second lens 730, a liquid crystal light valve 740, a projection lens 750 and a screen 760.

【0058】光源700からの光は、第1のレンズ71
0でミラー720の位置に集光され、第1のレンズ73
0で平行光とされ、液晶ライトバルブ740に照射され
る。液晶ライトバルブ740は、照射された光の反射状
態を各液晶画素に印加する電圧で制御し、液晶ライトバ
ルブからの反射光を第2のレンズ730と投射レンズ7
50を介して、スクリーン760に拡大投影して画像を
形成する。
The light from the light source 700 is transmitted to the first lens 71
0, the light is condensed at the position of the mirror 720 and the first lens 73
At 0, the light is collimated and illuminates the liquid crystal light valve 740. The liquid crystal light valve 740 controls the reflection state of the irradiated light by a voltage applied to each liquid crystal pixel, and transmits the reflected light from the liquid crystal light valve to the second lens 730 and the projection lens 7.
The image is magnified and projected on the screen 760 via 50 to form an image.

【0059】なお、光源からの光束を光の3原色の3つ
の光束に分解し、それぞれの光束にたいして液晶ライト
バルブを設け、3つの液晶ライトバルブからの反射光を
再び合成、拡大投射することによりカラー表示の投射型
ディスプレイを得ることができる。光の3原色への分
解、3つの液晶ライトバルブからの反射光の合成は、例
えばダイクロイックミラーを用いて同時に行なうことが
できる。
The light beam from the light source is decomposed into three light beams of three primary colors, a liquid crystal light valve is provided for each light beam, and the reflected light from the three liquid crystal light valves is again synthesized and enlarged and projected. A projection display of color display can be obtained. Decomposition of light into three primary colors can be simultaneously performed using, for example, a dichroic mirror to combine reflected lights from three liquid crystal light valves.

【0060】投射型ディスプレイにおいては、液晶ライ
トバルブに照射される光は数百万ルクスにもおよび、ラ
ッチアップによる素子の劣化や破壊を生じて画質が低下
する。しかし、本実施例によれば、液晶ライトバルブに
は、画像回路領域、動作回路領域及び周辺領域を形成す
るシリコン基板への光照射を、その斜め入射や金属配線
層の散乱による迷光に対しても遮断できる遮光手段を設
けているので、ラッチアップが確実に防止し、約500
百万ルクスまで耐光性を向上できた。これによって、液
晶ライトバルブを用いた投射型ディスプレイの実用が可
能になった。
In a projection type display, the light applied to the liquid crystal light valve reaches several million lux, and the quality of the image is deteriorated due to the deterioration or destruction of the element due to latch-up. However, according to the present embodiment, the liquid crystal light valve is provided with light irradiation on the silicon substrate forming the image circuit region, the operation circuit region and the peripheral region with respect to stray light caused by oblique incidence and scattering of the metal wiring layer. Light-shielding means that can shut off the light can be reliably prevented from latching up,
Light resistance was improved up to 1 million lux. This has enabled the practical use of a projection display using a liquid crystal light valve.

【0061】以上、単結晶シリコン基板を用いた液晶ラ
イトバルブと、それを適用した投射型ディスプレイにつ
いて説明した。なお、本発明の液晶ライトバルブがシリ
コン基板の代わりに、絶縁基板上に半導体層を形成した
基板や、化合物半導体基板などを用いても実現できるこ
とは言うまでもない。
The liquid crystal light valve using the single crystal silicon substrate and the projection type display using the same have been described above. Needless to say, the liquid crystal light valve of the present invention can be realized by using a substrate having a semiconductor layer formed on an insulating substrate, a compound semiconductor substrate, or the like instead of the silicon substrate.

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明の液晶ライトバルブによれば、画
素回路領域と、駆動回路領域と、それらの周辺領域に対
する光照射を遮断する遮光手段を設けているので、半導
体基板の光電流を低減してラッチアップの発生を防止で
き、素子の劣化や破壊による画質の低下を回避して画像
の精彩度を向上する効果がある。
According to the liquid crystal light valve of the present invention, since the pixel circuit area, the drive circuit area, and the light shielding means for blocking light irradiation to the peripheral area are provided, the photocurrent of the semiconductor substrate can be reduced. As a result, the occurrence of latch-up can be prevented, and there is an effect that the deterioration of the image quality due to the deterioration or destruction of the element is avoided and the definition of the image is improved.

【0063】また、各回路を形成する複数の金属層を利
用し、上層の反射電極の配線パターンで反射できない空
間をマスクするように下層の金属層に遮光手段を設ける
ので、確実な遮光をコンパクトに実現できる効果があ
る。
Further, since a plurality of metal layers forming each circuit are used and light shielding means is provided in the lower metal layer so as to mask a space which cannot be reflected by the wiring pattern of the upper reflective electrode, reliable light shielding can be achieved in a compact manner. There is an effect that can be realized.

【0064】さらに、各回路領域に対する前記遮光層と
ともに、前記周辺領域に光照射で発生したキャリアを吸
収するキャリアストッパ領域を設けたので、照射光が強
い場合にも半導体基板の光電流をに大幅に低減してラッ
チアップの発生を確実に防止できる効果がある。
Furthermore, since the carrier blocking region for absorbing carriers generated by light irradiation is provided in the peripheral region together with the light shielding layer for each circuit region, the photocurrent of the semiconductor substrate can be greatly increased even when the irradiation light is strong. And it is possible to reliably prevent the occurrence of latch-up.

【0065】本発明の投射型ディスプレイによれば、約
500百万ルクス程度の光照射に耐える液晶ライトバル
ブの適用が可能で、高輝度、高精細の拡大画面を提供で
きる効果がある。
According to the projection type display of the present invention, it is possible to apply a liquid crystal light valve that can withstand light irradiation of about 500 million lux, and it is possible to provide an enlarged screen with high brightness and high definition.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一の実施例による液晶ライトバルブ
の平面及び断面構造図。
FIG. 1 is a plan and sectional structural view of a liquid crystal light valve according to a first embodiment of the present invention.

【図2】第一の実施例による液晶ライトバルブの画素回
路領域の断面構造図。
FIG. 2 is a sectional structural view of a pixel circuit region of the liquid crystal light valve according to the first embodiment.

【図3】第一の実施例による液晶ライトバルブの画素回
路と周辺領域の断面構造図。
FIG. 3 is a sectional structural view of a pixel circuit and a peripheral region of the liquid crystal light valve according to the first embodiment.

【図4】第一の実施例による半導体基板の駆動回路領域
と周辺領域の断面構造図。
FIG. 4 is a sectional structural view of a drive circuit region and a peripheral region of the semiconductor substrate according to the first embodiment.

【図5】本発明の第二の実施例による液晶ライトバルブ
の半導体基板の駆動回路領域と周辺領域の平面構造図。
FIG. 5 is a plan view of a driving circuit region and a peripheral region of a semiconductor substrate of a liquid crystal light valve according to a second embodiment of the present invention.

【図6】第二の実施例による半導体基板の駆動回路領域
と周辺領域の断面構造図。
FIG. 6 is a sectional structural view of a drive circuit region and a peripheral region of a semiconductor substrate according to a second embodiment.

【図7】第二の実施例の変形例による半導体基板の駆動
回路領域と周辺領域の平面構造図。
FIG. 7 is a plan view of a driving circuit region and a peripheral region of a semiconductor substrate according to a modification of the second embodiment.

【図8】第二の実施例の変形例による半導体基板の駆動
回路領域と周辺領域の断面構造図。
FIG. 8 is a sectional structural view of a drive circuit region and a peripheral region of a semiconductor substrate according to a modification of the second embodiment.

【図9】液晶ライトバルブの回路構成図。FIG. 9 is a circuit diagram of a liquid crystal light valve.

【図10】液晶ライトバルブ動作を示すタイムチャー
ト。
FIG. 10 is a time chart showing a liquid crystal light valve operation.

【図11】液晶ライトバルブの走査回路図。FIG. 11 is a scanning circuit diagram of a liquid crystal light valve.

【図12】本実施例の液晶ライトバルブの実装構造を示
す平面図。
FIG. 12 is a plan view showing a mounting structure of the liquid crystal light valve of the embodiment.

【図13】本実施例の液晶ライトバルブの実装構造を示
す側断面図。
FIG. 13 is a side sectional view showing a mounting structure of the liquid crystal light valve of the present embodiment.

【図14】本発明の液晶ライトバルブを適用した投射型
ディスプレイの構成を説明する模式図。
FIG. 14 is a schematic diagram illustrating a configuration of a projection display to which the liquid crystal light valve of the present invention is applied.

【図15】寄生バイポーラトランジスタのラッチアップ
現象を説明する模式図。
FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a latch-up phenomenon of a parasitic bipolar transistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…画素回路、1a…MOSトランジスタ、1b…保持
容量、1c…液晶の容量、2…サンプル回路、3…水平
走査回路、4…垂直走査回路、5…ANDゲート、10
0…半導体基板、101,101a…画素回路領域、1
02,102a…駆動回路領域、110…n型シリコン
基板、112…p型ウェル層、120…ポリシリコン
層、130…第1の絶縁層、131…スルーホール、1
40…第1の金属層、141,142,146…配線、
150…第2の絶縁層、151…スルーホール、160
…第2の金属層、163,165,166…遮光層、1
70…第3の絶縁層、171…スルーホール、180…
第3の金属層、181…画素電極(反射電極)、182
…スリット、183…別の電極、191,192,19
3…キャリアストッパ部、200…液晶、300…対向
基板、302…対向電極。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Pixel circuit, 1a ... MOS transistor, 1b ... Capacitance, 1c ... Liquid crystal capacity, 2 ... Sample circuit, 3 ... Horizontal scanning circuit, 4 ... Vertical scanning circuit, 5 ... AND gate, 10
0: semiconductor substrate, 101, 101a: pixel circuit area, 1
02, 102a: drive circuit region, 110: n-type silicon substrate, 112: p-type well layer, 120: polysilicon layer, 130: first insulating layer, 131: through hole, 1
40 ... first metal layer, 141, 142, 146 ... wiring,
150: second insulating layer, 151: through hole, 160
... Second metal layer, 163, 165, 166.
70: third insulating layer, 171: through hole, 180 ...
Third metal layer, 181... Pixel electrode (reflection electrode), 182
... Slit, 183 ... Another electrode, 191,192,19
3. Carrier stopper, 200 liquid crystal, 300 counter substrate, 302 counter electrode.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹本 一八男 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日 立製作所 電子デバイス事業部内 (72)発明者 松本 克己 千葉県茂原市早野3681番地 日立デバイ スエンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−194690(JP,A) 特開 平5−107550(JP,A) 特開 昭58−85478(JP,A) 実開 昭58−54679(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1368 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Kazuya Takemoto 3300 Hayano Mobara-shi, Chiba Pref.Electronic Devices Division, Hitachi Hitachi, Ltd. (72) Katsumi Matsumoto 3681 Hayano Mobara-shi Chiba Hitachi Device Engineering (56) References JP-A-6-194690 (JP, A) JP-A-5-107550 (JP, A) JP-A-58-85478 (JP, A) JP-A-58-54679 (JP, A) U) (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/1368

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一方の表面に、マトリクス状に配置され
る複数のスイッチング素子からなる画素回路領域と前記
スイッチング素子を駆動する素子からなる駆動回路領域
とそれらの周辺領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の前記一方の表面上に、絶縁層を介して
階層的に構成され配線手段を有する複数の金属層を有
し、 前記複数の 金属層スリットで分割され、さらに該複数
の金属層は前記スイッチング素子の出力端となる複数の
反射電極として形成されており、 上部の金属層の下層にある金属層、前記最上部の
属層のスリットの平面空間に対して重複するように形成
した第1の遮光手段、及び前記駆動回路領域及び前記周
辺領域の表面空間を覆う第2の遮光手段を構成し、 光の照射される反対側の面に前記反射電極と対向する対
向電極を有する透明な対向基板と、前記半導体基板と前
記対向基板の間隙に液晶を充填してなる液晶ライトバル
ブ。
A semiconductor substrate having, on one surface, a pixel circuit region including a plurality of switching elements arranged in a matrix, a driving circuit region including elements for driving the switching elements, and a peripheral region thereof; On the one surface of the semiconductor substrate, there are provided a plurality of metal layers which are hierarchically arranged and have wiring means via an insulating layer.
The plurality of metal layers are divided by slits, and
A plurality of metal layers serving as output terminals of the switching element.
It is formed as a reflective electrode, a metal layer underlying the uppermost metal layer of gold of the uppermost
First light shielding means formed so as to overlap with respect to the plane space of the slit of the genus layer, and constitute a second light shielding means will covering the surface space of the drive circuit region and the peripheral region, the light irradiation A transparent counter substrate having a counter electrode facing the reflective electrode on a surface on the opposite side, and a liquid crystal light valve formed by filling a gap between the semiconductor substrate and the counter substrate with liquid crystal.
【請求項2】 請求項1において、 前記第1の遮光手段は、当該金属層の前記配線手段など
と競合しない平坦な場所に配置する液晶ライトバルブ。
2. The liquid crystal light valve according to claim 1, wherein the first light blocking means is arranged in a flat place where the first light blocking means does not compete with the wiring means and the like.
【請求項3】 請求項2において、 前記第1の遮光手段を配置する前記平坦な場所は、複数
の金属層によって確保してなる液晶ライトバルブ。
3. The liquid crystal light valve according to claim 2, wherein the flat place where the first light shielding means is arranged is secured by a plurality of metal layers.
【請求項4】 請求項1、2または3において、 前記金属層は、少なくとも1層の上面および/または下
面に、WSi2またはMoSi2 金属シリサイド層を設
けてなる液晶ライトバルブ。
4. The method of claim 1, 2 or 3, wherein the metal layer is on the top and / or bottom of at least one layer, the liquid crystal light valve formed by providing a metal silicide layer of WSi 2 or MoSi 2.
【請求項5】 一方の表面に、マトリクス状に配置され
る複数のスイッチング素子からなる画素回路領域と前記
スイッチング素子を駆動する素子からなる駆動回路領域
を有する半導体基板と、 前記半導体基板の前記画素回路領域及び前記駆動回路領
域の周辺領域に形成され、光照射によって発生するキャ
リアを吸収するキャリア吸収手段と、 前記半導体基板の前記一方の表面上に、絶縁層を介して
階層的に構成され配線手段を有する複数の金属層と、 前記複数の金属層スリットで分割され、さらに該複数
の金属層の少なくとも一つの金属層は前記スイッチング
素子の出力端となる複数の反射電極として形成され 上部の金属層の下層にある金属層、前記最上部の
属層のスリットの平面空間に対し重複するように形成し
た第1の遮光手段、及び前記駆動回路領域及び前記周辺
領域の表面空間を覆う第2の遮光手段を構成し、 光の照射される反対側の面に前記反射電極と対向する対
向電極を有する透明な対向基板と、前記半導体基板と前
記対向基板の間隙に液晶を充填してなる液晶ライトバル
ブ。
5. A semiconductor substrate having, on one surface, a pixel circuit region composed of a plurality of switching elements arranged in a matrix and a drive circuit region composed of elements for driving the switching elements; and the pixel of the semiconductor substrate. A carrier absorbing means formed in a peripheral region of the circuit region and the drive circuit region to absorb carriers generated by light irradiation; and a wiring which is hierarchically formed on the one surface of the semiconductor substrate with an insulating layer interposed therebetween. A plurality of metal layers having means, wherein the plurality of metal layers are divided by slits, and
At least one of the metal layers of the
Is formed as a plurality of reflective electrode serving as the output end of the element, the metal layer underlying the uppermost metal layer of gold of the uppermost
First light shielding means formed so as to overlap with respect to a plane space of the slit of the genus layer, and constitute a second light shielding means will covering the surface space of the drive circuit region and the peripheral region is irradiated with light A liquid crystal light valve comprising: a transparent counter substrate having a counter electrode facing the reflective electrode on the opposite surface; and a liquid crystal filled in a gap between the semiconductor substrate and the counter substrate.
【請求項6】 請求項5において、 前記キャリア吸収手段に、給電したウェル層または拡散
層を用いてなる液晶ライトバルブ。
6. The liquid crystal light valve according to claim 5, wherein a well layer or a diffusion layer to which power is supplied is used as the carrier absorbing means.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項において、 前記スイッチング素子をウェルに形成し、該ウェルを前
記遮光手段を有する金属層で給電してなる液晶ライトバ
ルブ。
7. The liquid crystal light valve according to claim 1, wherein the switching element is formed in a well, and the well is supplied with a metal layer having the light shielding unit.
【請求項8】 一方の表面に、マトリクス状に配置され
る複数のスイッチング素子からなる画素回路領域と前記
スイッチング素子を駆動する素子からなる駆動回路領域
とそれらの周辺領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の前記一方の表面上に、絶縁層を介して
階層的に構成され配線手段を有する複数の金属層と、前記複数の金属層の 最上部にある金属層スリットで分
され、さらに該最上部の金属層は前記スイッチング素
子の出力端となる複数の反射電極として形成されてお
、 前記最上部で前記画素回路領域の周辺領域に対応するエ
リアに形成される別の電極と、 前記最上部の金属層の下層の少なくとも一つの金属層
、前記最上部の金属層のスリットの平面空間に対し重
複する第1の遮光手段、及び前記駆動回路領域及び前記
周辺領域の表面空間を覆う第2の遮光手段と、 光の照射される反対側の面に前記反射電極と対向する対
向電極を有する透明の対向基板と、前記半導体基板と前
記対向基板の間隙に充填される液晶と、 前記対向電極と前記別の電極を同一電圧に保つ手段と、
を設けてなる液晶ライトバルブ。
8. A semiconductor substrate having, on one surface, a pixel circuit region including a plurality of switching elements arranged in a matrix, a driving circuit region including elements for driving the switching elements, and a peripheral region thereof. On the one surface of the semiconductor substrate, a plurality of metal layers that are hierarchically arranged and have wiring means with an insulating layer interposed therebetween, and the topmost metal layer of the plurality of metal layers is divided by a slit, The top metal layer is the switching element
Formed as a plurality of reflective electrodes that serve as the output terminals of the
Ri, at least one metal layer of the lower layer of the and another electrode formed on the area corresponding to the peripheral region of the pixel circuit area at the top, the top of the metal layer
, Said first light shielding means you overlap the plane space of the slits of the uppermost metal layer, and a second light shielding means will covering the surface space of the drive circuit region and the peripheral region, the light irradiation A transparent counter substrate having a counter electrode facing the reflective electrode on the opposite side, a liquid crystal filling a gap between the semiconductor substrate and the counter substrate, and setting the counter electrode and the another electrode to the same voltage. Means to keep,
Liquid crystal light valve provided with.
【請求項9】 光源と、照射された光の反射状態を液晶
画素に印加する電圧で制御する液晶ライトバルブと、映
像を表示するスクリーンと、前記光源からの光を平行光
にして前記液晶ライトバルブに照射するとともに、前記
液晶ライトバルブからの反射光を前記スクリーンに拡大
投射する光学手段を備える投射型ディスプレイ装置にお
いて、 前記液晶ライトバルブは、請求項1から請求項8のいず
れか1項に記載の液晶ライトバルブを用いることを特徴
とする投射型液晶ディスプレイ装置。
9. A light source, a liquid crystal light valve for controlling a reflection state of irradiated light by a voltage applied to a liquid crystal pixel, a screen for displaying an image, and the liquid crystal light for converting light from the light source into parallel light. A projection display device comprising: an optical unit that irradiates a bulb and reflects and projects reflected light from the liquid crystal light valve onto the screen in an enlarged manner. The liquid crystal light valve according to any one of claims 1 to 8, A projection type liquid crystal display device using the liquid crystal light valve according to any one of the preceding claims.
【請求項10】 請求項9において、 前記液晶ライトバルブに照射される前記光源の明るさは
約500万ルクスに及ぶことを特徴とする投射型液晶デ
ィスプレイ装置。
10. The projection type liquid crystal display device according to claim 9, wherein the brightness of the light source applied to the liquid crystal light valve reaches about 5 million lux.
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