JP3035370B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP3035370B2 JP3035370B2 JP9971991A JP9971991A JP3035370B2 JP 3035370 B2 JP3035370 B2 JP 3035370B2 JP 9971991 A JP9971991 A JP 9971991A JP 9971991 A JP9971991 A JP 9971991A JP 3035370 B2 JP3035370 B2 JP 3035370B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、信号光を投射し、か
つ、その反射信号光を受光することにより、被写体まで
の距離を測定する、自動焦点カメラなどに好適なアクテ
ィブ方式の測距装置の改良に関するものである。
つ、その反射信号光を受光することにより、被写体まで
の距離を測定する、自動焦点カメラなどに好適なアクテ
ィブ方式の測距装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】自動焦点カメラなどにおいて、被写体に
信号光を投射し、かつ、被写体により反射されるその信
号光を受光して、三角測量の原理により被写体までの距
離を測定する、いわゆるアクティブ方式の測距装置は、
従来から広く使用されている。
信号光を投射し、かつ、被写体により反射されるその信
号光を受光して、三角測量の原理により被写体までの距
離を測定する、いわゆるアクティブ方式の測距装置は、
従来から広く使用されている。
【0003】また、たとえば特公昭54−39731号
公報、特開昭60−19116号公報などに示されるよ
うに、受光手段として2分割された1対のシリコン・フ
ォトセル(SPC)などを用いて、可動部なしに測距可
能な測距装置も広く実用化されるようになっている。
公報、特開昭60−19116号公報などに示されるよ
うに、受光手段として2分割された1対のシリコン・フ
ォトセル(SPC)などを用いて、可動部なしに測距可
能な測距装置も広く実用化されるようになっている。
【0004】従来のアクティブ測距装置を図9に示す。
発光素子21からの信号光は、絞り22により所定の光
量に絞られた後、投光レンズ23により距離L2点に集
束されるようになっている。被写体24がL2点に存在
する場合は、発光素子21からの信号光は、被写体24
によって反射され、受光レンズ25、絞り26を介して
受光センサ27上のスポット位置cに結像される。
発光素子21からの信号光は、絞り22により所定の光
量に絞られた後、投光レンズ23により距離L2点に集
束されるようになっている。被写体24がL2点に存在
する場合は、発光素子21からの信号光は、被写体24
によって反射され、受光レンズ25、絞り26を介して
受光センサ27上のスポット位置cに結像される。
【0005】同様に、被写体24がL1(近距離)の位
置に存在する場合は受光センサ27上のスポット位置n
に、更に、被写体24がL3(遠距離)の位置に存在す
る場合は受光センサ27上のスポット位置fに結像され
る。
置に存在する場合は受光センサ27上のスポット位置n
に、更に、被写体24がL3(遠距離)の位置に存在す
る場合は受光センサ27上のスポット位置fに結像され
る。
【0006】この受光センサ27上のスポット位置n,
c,fを検出し、これを演算することによって被写体ま
での距離を求める。なお、受光レンズ25の焦点位置
(受光センサ27上でシャープに結像する距離)はL2
に調整してあるものとする。
c,fを検出し、これを演算することによって被写体ま
での距離を求める。なお、受光レンズ25の焦点位置
(受光センサ27上でシャープに結像する距離)はL2
に調整してあるものとする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように構成された
測距装置において、受光センサ27上に結像するスポッ
ト像を図10に示す。同図に示すように、受光レンズ2
5の焦点距離が被写体距離L2の位置においてスポット
像Cとしてシャープに結像するように構成されているた
めに、被写体がL1あるいはL3に存在する場合には、
L1,L3がL2から離れるに従って、受光センサ27
上のスポット像がNあるいはFのようにボケて大きくな
ってしまう。この時の受光センサ27上のスポット像の
重心位置に対する測距データは、図11の従来の被写体
までの距離と測距データとの関係を示す図に示すよう
に、本来なら点線のように直線性を保っていればよい
が、スポット像がボケて受光センサ27から外れてくる
と、距離の変化に対して重心位置が動かなくなり、実線
で示すように直線性が失われるようになる。
測距装置において、受光センサ27上に結像するスポッ
ト像を図10に示す。同図に示すように、受光レンズ2
5の焦点距離が被写体距離L2の位置においてスポット
像Cとしてシャープに結像するように構成されているた
めに、被写体がL1あるいはL3に存在する場合には、
L1,L3がL2から離れるに従って、受光センサ27
上のスポット像がNあるいはFのようにボケて大きくな
ってしまう。この時の受光センサ27上のスポット像の
重心位置に対する測距データは、図11の従来の被写体
までの距離と測距データとの関係を示す図に示すよう
に、本来なら点線のように直線性を保っていればよい
が、スポット像がボケて受光センサ27から外れてくる
と、距離の変化に対して重心位置が動かなくなり、実線
で示すように直線性が失われるようになる。
【0008】撮影レンズの焦点距離が望遠側にも伸びて
くると、測距装置の測距能力もより広範囲に必要となる
が、遠距離側の曲がりにより必要な測距精度が得られ
ず、従って、測距能力が満足できなくなっていた。ま
た、近距離側の測距精度も、近距離側の曲がりのために
不適正なものとなり、撮影してもボケた写真になった
り、あるいは、ボケを防止するためには、至近警告範囲
を遠くせざるを得なくなっていた。
くると、測距装置の測距能力もより広範囲に必要となる
が、遠距離側の曲がりにより必要な測距精度が得られ
ず、従って、測距能力が満足できなくなっていた。ま
た、近距離側の測距精度も、近距離側の曲がりのために
不適正なものとなり、撮影してもボケた写真になった
り、あるいは、ボケを防止するためには、至近警告範囲
を遠くせざるを得なくなっていた。
【0009】また、特開昭59−195631号公報に
おいて、通常撮影モードと近接撮影モードを測距結果に
基づいて自動的に切り換える技術が開示されている。
おいて、通常撮影モードと近接撮影モードを測距結果に
基づいて自動的に切り換える技術が開示されている。
【0010】しかし、この場合受光レンズは、通常撮影
時に測距するための主レンズ部と、マクロ撮影時の補助
レンズ部とに分けられ、測距距離に基づいて、マスクが
2つの受光レンズの内のいずれかの受光レンズを覆うと
いう方式を採用しているために、1つの受光センサの同
一信号時においても、通常撮影時とマクロ撮影時で別々
の被写体距離となるので、撮影レンズに別のマクロレン
ズを挿入しなければならず、構造が複雑でカメラ本体も
大きくなるなど、煩わしいものであった。その上、各々
の光学系による受光センサ上のスポット位置と被写体距
離との関係を別々に設定し、かつ、調整補正を行わなけ
ればならず、量産性を損なうものとなっていた。更に、
マクロ撮影時の受光レンズにおいては、その範囲内でス
ポット像のボケや大きさについて考慮されておらず、同
様に近距離側曲がりの問題が発生していた。
時に測距するための主レンズ部と、マクロ撮影時の補助
レンズ部とに分けられ、測距距離に基づいて、マスクが
2つの受光レンズの内のいずれかの受光レンズを覆うと
いう方式を採用しているために、1つの受光センサの同
一信号時においても、通常撮影時とマクロ撮影時で別々
の被写体距離となるので、撮影レンズに別のマクロレン
ズを挿入しなければならず、構造が複雑でカメラ本体も
大きくなるなど、煩わしいものであった。その上、各々
の光学系による受光センサ上のスポット位置と被写体距
離との関係を別々に設定し、かつ、調整補正を行わなけ
ればならず、量産性を損なうものとなっていた。更に、
マクロ撮影時の受光レンズにおいては、その範囲内でス
ポット像のボケや大きさについて考慮されておらず、同
様に近距離側曲がりの問題が発生していた。
【0011】 本発明は、以上の事情に鑑みなされたも
ので、測距能力・測距精度を向上させると共に、所定の
測距特性に保たれる第1の距離から該第1の距離とは異
なる第2の距離までの所定の範囲では無用なスポット像
可変の為の動作は行わず、測距動作時間を短縮させるこ
とのできる測距装置を提供できるものである。
ので、測距能力・測距精度を向上させると共に、所定の
測距特性に保たれる第1の距離から該第1の距離とは異
なる第2の距離までの所定の範囲では無用なスポット像
可変の為の動作は行わず、測距動作時間を短縮させるこ
とのできる測距装置を提供できるものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、本発明は、投光スポット像を対象物に向けて投光
する投光手段と、該投光手段から投光された前記投光ス
ポット像の対象物による反射光を受光スポット像として
受光する受光手段とを備え、該受光手段からの受光信号
により対象物までの距離を検出する測距装置において、
対象物までの距離に応じて、前記投光手段が投光する投
光スポット像と前記受光手段が受光する受光スポット像
の少なくともいずれか一方の大きさを変化させるスポッ
ト像可変手段と、対象物までの距離が所定の測距特性に
保たれる第1の距離から該第1の距離とは異なる第2の
距離までの所定の範囲内にある場合には、前記スポット
像可変手段を作用させない不作用手段とを有し、対象物
までの距離が所定の測距特性に保たれる第1の距離から
該第1の距離とは異なる第2の距離までの所定の範囲内
にある場合は、無用となるスポット像可変動作は行わず
に測距動作時間の短縮化を図り、対象物までの距離が前
記所定の範囲外の場合、換言すれば、前記受光手段から
受光スポット像の一部が外れるような場合は、前記受光
手段から受光スポット像が外れないようにする為にスポ
ット像可変の為の動作を行い、前記所定の測距特性を保
てるようにしている。
めに、本発明は、投光スポット像を対象物に向けて投光
する投光手段と、該投光手段から投光された前記投光ス
ポット像の対象物による反射光を受光スポット像として
受光する受光手段とを備え、該受光手段からの受光信号
により対象物までの距離を検出する測距装置において、
対象物までの距離に応じて、前記投光手段が投光する投
光スポット像と前記受光手段が受光する受光スポット像
の少なくともいずれか一方の大きさを変化させるスポッ
ト像可変手段と、対象物までの距離が所定の測距特性に
保たれる第1の距離から該第1の距離とは異なる第2の
距離までの所定の範囲内にある場合には、前記スポット
像可変手段を作用させない不作用手段とを有し、対象物
までの距離が所定の測距特性に保たれる第1の距離から
該第1の距離とは異なる第2の距離までの所定の範囲内
にある場合は、無用となるスポット像可変動作は行わず
に測距動作時間の短縮化を図り、対象物までの距離が前
記所定の範囲外の場合、換言すれば、前記受光手段から
受光スポット像の一部が外れるような場合は、前記受光
手段から受光スポット像が外れないようにする為にスポ
ット像可変の為の動作を行い、前記所定の測距特性を保
てるようにしている。
【0013】
【0014】
【発明の実施例】図1は、本発明の前提となる構成の測
距装置を示すブロック図である。
距装置を示すブロック図である。
【0015】マイクロコンピュータ1は、投光回路2に
制御信号を発出し、また、測距演算回路3より制御信号
を受信して被写体距離に換算し、この測距データを基
に、本発明のスポット像調節手段に相当する投光光学系
駆動手段4及び受光光学系駆動手段5に制御信号を発出
して、投光像及び受光像の大きさとボケ量を変化させ
る。
制御信号を発出し、また、測距演算回路3より制御信号
を受信して被写体距離に換算し、この測距データを基
に、本発明のスポット像調節手段に相当する投光光学系
駆動手段4及び受光光学系駆動手段5に制御信号を発出
して、投光像及び受光像の大きさとボケ量を変化させ
る。
【0016】投光回路2は、マイクロコンピュータ1よ
り制御信号を受け、発光素子6により被写体7に所定光
量で所定波長の信号光を投射する。投光光学系8は、発
光素子6からの信号光を集束させる。投光光学系駆動手
段4は投光光学系8の焦点距離や絞りなどを変化させ
て、発光素子6からの信号光の集束距離を変化させる。
り制御信号を受け、発光素子6により被写体7に所定光
量で所定波長の信号光を投射する。投光光学系8は、発
光素子6からの信号光を集束させる。投光光学系駆動手
段4は投光光学系8の焦点距離や絞りなどを変化させ
て、発光素子6からの信号光の集束距離を変化させる。
【0017】受光光学系9は、被写体7からの反射光を
2分割シリコン・フォトセル(SPC)或いは半導体位
置検出素子(PSD)などの受光センサ10上に結像さ
せる。測距演算回路3は受光センサ10からの出力を演
算し、被写体距離としてマイクロコンピュータ1に伝達
する。受光光学系駆動手段5は受光光学系9の焦点距離
や絞りを変化させて、所定距離の被写体7からの反射光
を受光センサ10上に結像させる。
2分割シリコン・フォトセル(SPC)或いは半導体位
置検出素子(PSD)などの受光センサ10上に結像さ
せる。測距演算回路3は受光センサ10からの出力を演
算し、被写体距離としてマイクロコンピュータ1に伝達
する。受光光学系駆動手段5は受光光学系9の焦点距離
や絞りを変化させて、所定距離の被写体7からの反射光
を受光センサ10上に結像させる。
【0018】図2(a)は、図1の測距装置において、
受光光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさ
を変化させるスポット像調節手段の一例を示す図であ
り、図2(a)では、受光レンズ11を光軸方向に前後
に移動させることによって、被写体7からの反射光を受
光センサ10上に結像させる集束距離を変化させる。結
像する所定距離を遠くしようとする場合は、モータ12
に通電してギア13を回転させ、受光レンズ11と一体
化された支持部14を左側に移動させる。なお、この時
の初期位置及びモータ12の回転量は、不図示の受光レ
ンズ位置検出回路により検出される。
受光光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさ
を変化させるスポット像調節手段の一例を示す図であ
り、図2(a)では、受光レンズ11を光軸方向に前後
に移動させることによって、被写体7からの反射光を受
光センサ10上に結像させる集束距離を変化させる。結
像する所定距離を遠くしようとする場合は、モータ12
に通電してギア13を回転させ、受光レンズ11と一体
化された支持部14を左側に移動させる。なお、この時
の初期位置及びモータ12の回転量は、不図示の受光レ
ンズ位置検出回路により検出される。
【0019】また、結像する所定距離を近くしようとす
る場合には、モータ12に逆方向の電流を通電し、受光
レンズ11を右側に移動させる。
る場合には、モータ12に逆方向の電流を通電し、受光
レンズ11を右側に移動させる。
【0020】図2(b)は、測距装置において、受光レ
ンズ11の代わりに受光センサ10を光軸方向に前後に
移動させることにより、被写体7からの反射光を受光セ
ンサ10上に結像させる集束距離を変化させ、受光像の
スポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段の
他の例を示す図である。この場合には、図2(a)に示
す例とは移動させる受光センサ10の駆動方向は逆とな
り、結像する所定距離を遠くしようとする時は受光セン
サ10を右側に移動させ、また、近くしようとする時に
は受光センサ10を左側に移動させる。
ンズ11の代わりに受光センサ10を光軸方向に前後に
移動させることにより、被写体7からの反射光を受光セ
ンサ10上に結像させる集束距離を変化させ、受光像の
スポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段の
他の例を示す図である。この場合には、図2(a)に示
す例とは移動させる受光センサ10の駆動方向は逆とな
り、結像する所定距離を遠くしようとする時は受光セン
サ10を右側に移動させ、また、近くしようとする時に
は受光センサ10を左側に移動させる。
【0021】図2(c)は、図1の測距装置において、
受光レンズ11と受光センサ10との間に、受光光学系
9の一部として固定絞り15を挿入し、その位置を前後
に移動させることで擬似的に絞り口径を変化させて、ス
ポット光のボケ量を変えるようにした、受光光学系9の
制御により受光像のスポット光を変化させるスポット像
調節手段の他の例を示す図である。この場合は、結像す
る所定距離を遠距離側に合わせておき、被写体が近距離
側に近づくにつれて絞り15を左側に移動させれば、絞
り口径は実効的に小さくなり、ボケ量は減少する。な
お、近距離側では反射光の力(光量)が遠距離側より大
きいので、多少絞っても測距精度にそれ程影響を生じな
い。
受光レンズ11と受光センサ10との間に、受光光学系
9の一部として固定絞り15を挿入し、その位置を前後
に移動させることで擬似的に絞り口径を変化させて、ス
ポット光のボケ量を変えるようにした、受光光学系9の
制御により受光像のスポット光を変化させるスポット像
調節手段の他の例を示す図である。この場合は、結像す
る所定距離を遠距離側に合わせておき、被写体が近距離
側に近づくにつれて絞り15を左側に移動させれば、絞
り口径は実効的に小さくなり、ボケ量は減少する。な
お、近距離側では反射光の力(光量)が遠距離側より大
きいので、多少絞っても測距精度にそれ程影響を生じな
い。
【0022】図3(a)は、図2(c)の例と同様に、
図1の測距装置において、受光レンズ11と受光センサ
10との間に、受光光学系9の一部として可変絞り16
を挿入し、その絞り口径を直接変化させることによって
ボケ量を変えるようにした、受光光学系9の制御により
受光像のスポット光の大きさを変化させるスポット像調
節手段の他の例を示す図である。この場合も結像する所
定距離を遠距離側に合わせておき、被写体が近づくにつ
れて可変絞り16の絞り口径を小さくすることでボケ量
を減少させる。
図1の測距装置において、受光レンズ11と受光センサ
10との間に、受光光学系9の一部として可変絞り16
を挿入し、その絞り口径を直接変化させることによって
ボケ量を変えるようにした、受光光学系9の制御により
受光像のスポット光の大きさを変化させるスポット像調
節手段の他の例を示す図である。この場合も結像する所
定距離を遠距離側に合わせておき、被写体が近づくにつ
れて可変絞り16の絞り口径を小さくすることでボケ量
を減少させる。
【0023】図3(b)は、図1の測距装置において、
受光レンズ11の光軸に垂直方向に均一に力を加えて、
受光レンズ11の焦点距離を変化させることで、受光セ
ンサ10上のスポット像のボケ量を変えるようにした、
受光光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさ
を変化させるスポット像調節手段の他の例を示す図であ
る。結像する所定距離を長くしようとする場合には、受
光レンズ11の遠心方向に力を加え、球面をなだらかに
してスポット像のボケ量を小さくする。また、逆に結像
する所定距離を短くしようとする場合には、受光レンズ
11の求心方向に力を加え、球面をきつくしてスポット
像のボケ量を小さくする。
受光レンズ11の光軸に垂直方向に均一に力を加えて、
受光レンズ11の焦点距離を変化させることで、受光セ
ンサ10上のスポット像のボケ量を変えるようにした、
受光光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさ
を変化させるスポット像調節手段の他の例を示す図であ
る。結像する所定距離を長くしようとする場合には、受
光レンズ11の遠心方向に力を加え、球面をなだらかに
してスポット像のボケ量を小さくする。また、逆に結像
する所定距離を短くしようとする場合には、受光レンズ
11の求心方向に力を加え、球面をきつくしてスポット
像のボケ量を小さくする。
【0024】図3(c)は、図3(b)の例と同様に、
図1の測距装置において、受光レンズ11の焦点距離を
変化させ、受光センサ10上のスポット像のボケ量を小
さくするようにした、受光光学系9の制御により受光像
のスポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段
の他の例を示す図であり、受光レンズ11に電圧を加
え、それにより受光レンズ11の屈折率を変化させて焦
点距離を変えようとするものである。
図1の測距装置において、受光レンズ11の焦点距離を
変化させ、受光センサ10上のスポット像のボケ量を小
さくするようにした、受光光学系9の制御により受光像
のスポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段
の他の例を示す図であり、受光レンズ11に電圧を加
え、それにより受光レンズ11の屈折率を変化させて焦
点距離を変えようとするものである。
【0025】図2および図3は、受光スポット像のボケ
量を減少させる例であるが、図4および図5に示すよう
に、図2および図3における受光センサ10を発光素子
6に、また、受光レンズ11を投光レンズ16にそれぞ
れ置き換えることにより、そのまま、測距装置において
投光光学系8あるいは発光素子6の制御により投光像の
スポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段の
各例とすることができる。
量を減少させる例であるが、図4および図5に示すよう
に、図2および図3における受光センサ10を発光素子
6に、また、受光レンズ11を投光レンズ16にそれぞ
れ置き換えることにより、そのまま、測距装置において
投光光学系8あるいは発光素子6の制御により投光像の
スポット光の大きさを変化させるスポット像調節手段の
各例とすることができる。
【0026】 図6は、図1の測距装置において、受光
光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさを変
化させる例の測距動作を説明するフローチャートであ
る。ここでは、投光光学系8は固定し、図2(a)に示
す、受光光学系9の受光レンズ11を光軸方向に動かす
ことによって被写体7からの反射光を受光センサ10上
に結像させる集束距離を変化させて、スポット像のボケ
量を減少させるスポット像調節手段を有する例について
説明する。
光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさを変
化させる例の測距動作を説明するフローチャートであ
る。ここでは、投光光学系8は固定し、図2(a)に示
す、受光光学系9の受光レンズ11を光軸方向に動かす
ことによって被写体7からの反射光を受光センサ10上
に結像させる集束距離を変化させて、スポット像のボケ
量を減少させるスポット像調節手段を有する例について
説明する。
【0027】先ず、ステップ1で、不図示の受光レンズ
位置検出手段により受光レンズ11が初期位置にあるか
が検出判断され、もし受光レンズ11が初期位置にない
場合には、ステップ2で、それを初期位置に戻すように
モータ12を回転させる。
位置検出手段により受光レンズ11が初期位置にあるか
が検出判断され、もし受光レンズ11が初期位置にない
場合には、ステップ2で、それを初期位置に戻すように
モータ12を回転させる。
【0028】ステップ3で、マイクロコンピュータ1は
投光回路2に所定光量、所定波長での点灯開始を指示
し、発光素子6が投光を開始する。この投射光は投光光
学系8を介して被写体7に投射され、ステップ4で、そ
の反射光が受光光学系9を介して受光センサ10上にス
ポット像を結像される。
投光回路2に所定光量、所定波長での点灯開始を指示
し、発光素子6が投光を開始する。この投射光は投光光
学系8を介して被写体7に投射され、ステップ4で、そ
の反射光が受光光学系9を介して受光センサ10上にス
ポット像を結像される。
【0029】受光センサ10はスポット位置に応じて信
号を出力し、ステップ5で、その信号を測距演算回路3
により被写体距離に相当する信号に変換してマイクロコ
ンピュータ1に伝達し、測距演算を行う。
号を出力し、ステップ5で、その信号を測距演算回路3
により被写体距離に相当する信号に変換してマイクロコ
ンピュータ1に伝達し、測距演算を行う。
【0030】ステップ6では、ピントを合わせてある受
光レンズ11の初期位置と測距データによる位置とを減
算し、どちらの方向にどれだけ受光レンズ11を移動さ
せれば、スポット像のボケ量が最小になるかを演算す
る。
光レンズ11の初期位置と測距データによる位置とを減
算し、どちらの方向にどれだけ受光レンズ11を移動さ
せれば、スポット像のボケ量が最小になるかを演算す
る。
【0031】ステップ7では、この量が実際に受光レン
ズ11を移動させられる範囲の移動量かを判定し、最大
移動量を超えている場合には、ステップ8で、最大移動
量に再設定し、ステップ9で、受光レンズ11を所定方
向に所定量動かして、スポット像のボケ量を小さくす
る。
ズ11を移動させられる範囲の移動量かを判定し、最大
移動量を超えている場合には、ステップ8で、最大移動
量に再設定し、ステップ9で、受光レンズ11を所定方
向に所定量動かして、スポット像のボケ量を小さくす
る。
【0032】ステップ10で、再び投光を開始し、ステ
ップ11で、被写体からの反射光を受光し、ステップ1
2で測距演算を行い、被写体7までの距離を求める。
ップ11で、被写体からの反射光を受光し、ステップ1
2で測距演算を行い、被写体7までの距離を求める。
【0033】ステップ13で、この値を正規の被写体距
離として確定し、マイクロコンピュータ1内の所定のラ
ンダム・アクセス・メモリ領域1aに格納する。そし
て、ステップ14で、受光レンズ11を初期位置に戻し
て、一連の測距動作を終了する。
離として確定し、マイクロコンピュータ1内の所定のラ
ンダム・アクセス・メモリ領域1aに格納する。そし
て、ステップ14で、受光レンズ11を初期位置に戻し
て、一連の測距動作を終了する。
【0034】 図7は、図1の測距装置において、受光
光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさを変
化させる例の、被写体までの距離と測距データとの関係
を示す図である。スポット像のボケを考慮していない従
来の測距装置において被写体7の距離を変えていくと、
スポット像は図7のA−B間では受光センサ10内に乗
ることから、この範囲ではほぼ直線性が保たれるが、被
写体7がそれよりも近い時と遠い時には、スポット像の
一部が受光センサ10から外れ、像の重心がズレてしま
う(点線で表示)。
光学系9の制御により受光像のスポット光の大きさを変
化させる例の、被写体までの距離と測距データとの関係
を示す図である。スポット像のボケを考慮していない従
来の測距装置において被写体7の距離を変えていくと、
スポット像は図7のA−B間では受光センサ10内に乗
ることから、この範囲ではほぼ直線性が保たれるが、被
写体7がそれよりも近い時と遠い時には、スポット像の
一部が受光センサ10から外れ、像の重心がズレてしま
う(点線で表示)。
【0035】しかるに、図1の測距装置によれば、近距
離側及び遠距離側ともスポット像がシャープに受光セン
サ10上に結像されることから、物理的に可能な領域で
あるA′−B′間まで直線性が保たれる(実線で表
示)。
離側及び遠距離側ともスポット像がシャープに受光セン
サ10上に結像されることから、物理的に可能な領域で
あるA′−B′間まで直線性が保たれる(実線で表
示)。
【0036】 図8は、本発明の一実施例の動作を示す
フローチャートであり、測距装置としての構成は図1に
示されるものと同様である。本実施例は図1の測距装置
において、受光光学系9の制御により受光像のスポット
光の大きさを変化させるものである。図7に示すよう
に、スポット像のボケを考慮していない従来の測距装置
であっても、A−B間ではほぼ直線性が保たれるので、
撮影時のシャッターのレリーズ・タイムラグ短縮のため
に、図8のフローチャートにより説明する動作では、測
距した結果が図7のA点より近い場合及びB点より遠い
場合にのみ受光レンズ11を移動させ、測距した結果が
A点〜B点にある場合には受光レンズ11は移動させな
いようにする。
フローチャートであり、測距装置としての構成は図1に
示されるものと同様である。本実施例は図1の測距装置
において、受光光学系9の制御により受光像のスポット
光の大きさを変化させるものである。図7に示すよう
に、スポット像のボケを考慮していない従来の測距装置
であっても、A−B間ではほぼ直線性が保たれるので、
撮影時のシャッターのレリーズ・タイムラグ短縮のため
に、図8のフローチャートにより説明する動作では、測
距した結果が図7のA点より近い場合及びB点より遠い
場合にのみ受光レンズ11を移動させ、測距した結果が
A点〜B点にある場合には受光レンズ11は移動させな
いようにする。
【0037】まず、ステップ21で、受光レンズ11が
初期位置にあるかを判断し、もし、初期位置にない場合
には、ステップ22で、それを初期位置に戻すようモー
タ12を回転させ、ステップ23で投光を開始し、ステ
ップ24で被写体7からの反射光を受光し、ステップ2
5で測距演算を行う。そして、演算結果が所定距離Bよ
り遠い場合(ステップ26)か、あるいは、所定距離A
より近い場合(ステップ27)には、ステップ28で、
その距離データと受光レンズ11の初期位置との差をと
って、受光レンズ11をどちらの方向にどれだけ移動さ
せればよいかを演算する。ステップ29で、その移動量
が移動可能範囲を超えているかどうかを判断し、移動可
能範囲を超えている場合には、ステップ30で、最大移
動量に再設定し、ステップ31で受光レンズ11を移動
させる。
初期位置にあるかを判断し、もし、初期位置にない場合
には、ステップ22で、それを初期位置に戻すようモー
タ12を回転させ、ステップ23で投光を開始し、ステ
ップ24で被写体7からの反射光を受光し、ステップ2
5で測距演算を行う。そして、演算結果が所定距離Bよ
り遠い場合(ステップ26)か、あるいは、所定距離A
より近い場合(ステップ27)には、ステップ28で、
その距離データと受光レンズ11の初期位置との差をと
って、受光レンズ11をどちらの方向にどれだけ移動さ
せればよいかを演算する。ステップ29で、その移動量
が移動可能範囲を超えているかどうかを判断し、移動可
能範囲を超えている場合には、ステップ30で、最大移
動量に再設定し、ステップ31で受光レンズ11を移動
させる。
【0038】次に、再び、ステップ32で投光し、ステ
ップ33で反射光を受光し、ステップ34で測距演算し
て被写体距離を求め、ステップ35で、これを真の測距
データとしてマイクロコンピュータ1のランダム・アク
セス・メモリ領域1aに記憶させる。そして、ステップ
36で受光レンズ11を初期位置に戻して、測距動作を
終了する。
ップ33で反射光を受光し、ステップ34で測距演算し
て被写体距離を求め、ステップ35で、これを真の測距
データとしてマイクロコンピュータ1のランダム・アク
セス・メモリ領域1aに記憶させる。そして、ステップ
36で受光レンズ11を初期位置に戻して、測距動作を
終了する。
【0039】ステップ25で最初に測距した結果が所定
距離Bより近く、かつ、所定距離Aより遠い場合(ステ
ップ27)には、スポット像は受光センサ10の端面か
ら外れずに直線性が保たれ、従って測距精度に問題はな
いので再測距は行わず、ステップ35で、最初の測距デ
ータをそのまま真の測距データとしてマイクロコンピュ
ータ1のランダム・アクセス・メモリ領域1aに記憶す
る。
距離Bより近く、かつ、所定距離Aより遠い場合(ステ
ップ27)には、スポット像は受光センサ10の端面か
ら外れずに直線性が保たれ、従って測距精度に問題はな
いので再測距は行わず、ステップ35で、最初の測距デ
ータをそのまま真の測距データとしてマイクロコンピュ
ータ1のランダム・アクセス・メモリ領域1aに記憶す
る。
【0040】以上、図6及び図8のフローチャートによ
り、受光レンズ11のボケ量を減少させる測距動作につ
いて説明したが、これらの場合の受光レンズ11を投光
レンズ16に、受光センサ10を発光素子6にそれぞれ
置き換えることで、図4または図5に示すように、投光
光学系8あるいは発光素子6における同様の制御によ
り、被写体7に投光するスポット像の大きさを小さくし
て、これによっても同様の効果が得られる。更に、これ
らを併用し、被写体の距離に応じて、投光するスポット
像を小さくすると共に、受光センサ10上のボケ量を減
少させる相乗効果により、測距装置の近距離側及び遠距
離側の測距精度をより一層改善することができる。
り、受光レンズ11のボケ量を減少させる測距動作につ
いて説明したが、これらの場合の受光レンズ11を投光
レンズ16に、受光センサ10を発光素子6にそれぞれ
置き換えることで、図4または図5に示すように、投光
光学系8あるいは発光素子6における同様の制御によ
り、被写体7に投光するスポット像の大きさを小さくし
て、これによっても同様の効果が得られる。更に、これ
らを併用し、被写体の距離に応じて、投光するスポット
像を小さくすると共に、受光センサ10上のボケ量を減
少させる相乗効果により、測距装置の近距離側及び遠距
離側の測距精度をより一層改善することができる。
【0041】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、測距能力・測距精度を向上させると共に、所定の測
距特性に保たれる第1の距離から該第1の距離とは異な
る第2の距離までの所定の範囲では無用なスポット像可
変の為の動作は行わず、測距動作時間を短縮させること
ができる測距装置を提供できるものである。
ば、測距能力・測距精度を向上させると共に、所定の測
距特性に保たれる第1の距離から該第1の距離とは異な
る第2の距離までの所定の範囲では無用なスポット像可
変の為の動作は行わず、測距動作時間を短縮させること
ができる測距装置を提供できるものである。
【図1】本発明の前提となる構成のものであると共に、
本発明の一実施例である測距装置を示すブロック図であ
る。
本発明の一実施例である測距装置を示すブロック図であ
る。
【図2】図1の測距装置における受光スポット像調節手
段の例を示す図である。
段の例を示す図である。
【図3】同じく測距装置における受光スポット像調節手
段の他の例を示す図である。
段の他の例を示す図である。
【図4】同じく測距装置における投光スポット像調節手
段の他の例を示す図である。
段の他の例を示す図である。
【図5】同じく測距装置における投光スポット像調節手
段の他の例を示す図である。
段の他の例を示す図である。
【図6】同じく測距装置において、受光光学系の制御に
より受光スポット像の大きさを変化させる実施例の測距
動作を示するフローチャートである。
より受光スポット像の大きさを変化させる実施例の測距
動作を示するフローチャートである。
【図7】同じく測距装置において、受光光学系の制御に
より受光スポット像の大きさを変化させる実施例の、被
写体までの距離と測距データとの関係を示す図である。
より受光スポット像の大きさを変化させる実施例の、被
写体までの距離と測距データとの関係を示す図である。
【図8】本発明による測距装置において、受光光学系の
制御により受光スポット像の大きさを変化させる本発明
の一実施例の測距動作を説明するフローチャートであ
る。
制御により受光スポット像の大きさを変化させる本発明
の一実施例の測距動作を説明するフローチャートであ
る。
【図9】従来のアクティブ測距装置の一例を示す図であ
る。
る。
【図10】従来の測距装置の受光センサ上のスポット像
を示す図である。
を示す図である。
【図11】従来の測距装置の被写体までの距離と測距デ
ータとの関係を示す図である。
ータとの関係を示す図である。
1 マイクロコンピュータ 2 投光回路 3 測距演算回路 4 投光光学系駆動手段 5 受光光学系駆動手段 6 発光素子 7 被写体 8 投光光学系 9 受光光学系 10 受光センサ 11 受光レンズ 12 モータ 13 ギア 14 支持部 15 固定絞り 16 可動絞り 17 投光レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01C 3/00 - 3/32 G02B 7/11
Claims (1)
- 【請求項1】 投光スポット像を対象物に向けて投光す
る投光手段と、該投光手段から投光された前記投光スポ
ット像の対象物による反射光を受光スポット像として受
光する受光手段とを備え、該受光手段からの受光信号に
より対象物までの距離を検出する測距装置において、対
象物までの距離に応じて、前記投光手段が投光する投光
スポット像と前記受光手段が受光する受光スポット像の
少なくともいずれか一方の大きさを変化させるスポット
像可変手段と、対象物までの距離が所定の測距特性に保
たれる第1の距離から該第1の距離とは異なる第2の距
離までの所定の範囲内にある場合には、前記スポット像
可変手段を作用させない不作用手段とを有することを特
徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9971991A JP3035370B2 (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9971991A JP3035370B2 (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322558A JPH05322558A (ja) | 1993-12-07 |
| JP3035370B2 true JP3035370B2 (ja) | 2000-04-24 |
Family
ID=14254885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9971991A Expired - Fee Related JP3035370B2 (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3035370B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5469843B2 (ja) * | 2008-10-09 | 2014-04-16 | 株式会社トプコン | レーザ測量装置及び距離測定方法 |
-
1991
- 1991-04-05 JP JP9971991A patent/JP3035370B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05322558A (ja) | 1993-12-07 |
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