JP3013903B2 - 板ガラスの欠点検出装置 - Google Patents
板ガラスの欠点検出装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、エッジ部分が面取りさ
れた板ガラスエッジの欠点、特にやけと呼ばれる欠点の
検出装置に関する。
れた板ガラスエッジの欠点、特にやけと呼ばれる欠点の
検出装置に関する。
【０００２】
【従来技術とその問題点】リボン状ガラスは走行中に切
り筋を入れられ、折り割り装置によって切断される際に
傷が多数発生し、このままでは、加工時あるいは取りつ
け作業時等における安全性に問題があり、さらに強度低
下、商品価値低下をも招来するので、角部を断面Ｖ形状
のダイヤモンドホィールなどで面取り加工（シーミン
グ）される。
り筋を入れられ、折り割り装置によって切断される際に
傷が多数発生し、このままでは、加工時あるいは取りつ
け作業時等における安全性に問題があり、さらに強度低
下、商品価値低下をも招来するので、角部を断面Ｖ形状
のダイヤモンドホィールなどで面取り加工（シーミン
グ）される。
【０００３】このような加工を行っても、板ガラスのエ
ッジ部分に後述する図２におけるガラスの表面S1、S2と
シーミング面M1、M2のコーナー部分A1、A2にははまか
け、びりはまと呼ばれる、引き剥がされた欠点が、シー
ミング面M1、M2と端面部分Ｔのコーナー部分B1、B2ある
いはシーミング面M1、M2には面取り時の研削具とガラス
の摩擦熱によってガラスが溶融して白っぽく見える筋状
などの傷が連続したやけと呼ばれる欠点が残ることがあ
った。
ッジ部分に後述する図２におけるガラスの表面S1、S2と
シーミング面M1、M2のコーナー部分A1、A2にははまか
け、びりはまと呼ばれる、引き剥がされた欠点が、シー
ミング面M1、M2と端面部分Ｔのコーナー部分B1、B2ある
いはシーミング面M1、M2には面取り時の研削具とガラス
の摩擦熱によってガラスが溶融して白っぽく見える筋状
などの傷が連続したやけと呼ばれる欠点が残ることがあ
った。
【０００４】このような欠点を検出する方法として、特
開平1-169343号、特開平1-189549号が提案されている。
しかしながら、いずれも面取りをされたエッジ部分の欠
点を検出するものではなく、仮に同装置で検出したとし
ても、ガラスエッジの垂直線上に光源とカメラを対向し
て配設し、透過光の暗信号により検出するものであり、
シーミング面M1、M2から端面部分T は磨りガラスとなっ
ており、不透明であるので、光源からの光は散乱され、
これらの欠点を検出するのは極めて困難であり、まして
やけの検出は不可能であった。
開平1-169343号、特開平1-189549号が提案されている。
しかしながら、いずれも面取りをされたエッジ部分の欠
点を検出するものではなく、仮に同装置で検出したとし
ても、ガラスエッジの垂直線上に光源とカメラを対向し
て配設し、透過光の暗信号により検出するものであり、
シーミング面M1、M2から端面部分T は磨りガラスとなっ
ており、不透明であるので、光源からの光は散乱され、
これらの欠点を検出するのは極めて困難であり、まして
やけの検出は不可能であった。
【０００５】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、やけの検出を正確に識別できる板ガラスエッ
ジ部分の欠点検出装置を提供することを目的とする。
のであり、やけの検出を正確に識別できる板ガラスエッ
ジ部分の欠点検出装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【問題点を解決するための手段】本発明はエッジ部分が
面取りされシーミング面を有するガラスを水平に裁置し
た状態で該エッジ部分の欠点を検出する装置において、
透過散乱光として検出する場合には、該エッジ部分に板
ガラスとは反対側の上下斜め方向の２方向から光を照射
する光源と、ガラスエッジに照射される光路の延長領域
の範囲外であって、板ガラス面とシーミング面の光源側
のコーナー部分を光の照射方向とは反対側から板ガラス
透明部分を介してエッジ部分を撮像する少なくとも２台
のカメラとを設け、該カメラが撮像した画像信号の明信
号の大きさによりやけ欠点を識別するようにしたことを
特徴とし、反射散乱光として検出する場合には、エッジ
部分における垂直面より板ガラスの反対側領域の上下２
方向から光を照射する光源と、該２方向から光が照射さ
れたエッジ部を直接撮像するカメラとを設け、該カメラ
が撮像した画像信号の明信号の大きさによりやけ欠点を
識別するようにしたことを特徴とする。
面取りされシーミング面を有するガラスを水平に裁置し
た状態で該エッジ部分の欠点を検出する装置において、
透過散乱光として検出する場合には、該エッジ部分に板
ガラスとは反対側の上下斜め方向の２方向から光を照射
する光源と、ガラスエッジに照射される光路の延長領域
の範囲外であって、板ガラス面とシーミング面の光源側
のコーナー部分を光の照射方向とは反対側から板ガラス
透明部分を介してエッジ部分を撮像する少なくとも２台
のカメラとを設け、該カメラが撮像した画像信号の明信
号の大きさによりやけ欠点を識別するようにしたことを
特徴とし、反射散乱光として検出する場合には、エッジ
部分における垂直面より板ガラスの反対側領域の上下２
方向から光を照射する光源と、該２方向から光が照射さ
れたエッジ部を直接撮像するカメラとを設け、該カメラ
が撮像した画像信号の明信号の大きさによりやけ欠点を
識別するようにしたことを特徴とする。
【０００７】
【作用】やけと呼ばれる欠点はシーミング面M1、M2と端
面部分Ｔのコーナー部分B1、B2あるいはシーミング面
M1、M2の不透明部分に、面取り時の研削具とガラスの摩
擦熱によってガラスが溶融して生ずるもので白っぽく見
える筋状などの傷が連続した欠点であるが、光源とカメ
ラを板ガラスのエッジに向けて対向させて光源、板ガラ
スのエッジ部、カメラを一直線上に配設した従来の検出
装置で検出しても、この欠点が不透明部分に生じたもの
であるから、検出することができないものである。
面部分Ｔのコーナー部分B1、B2あるいはシーミング面
M1、M2の不透明部分に、面取り時の研削具とガラスの摩
擦熱によってガラスが溶融して生ずるもので白っぽく見
える筋状などの傷が連続した欠点であるが、光源とカメ
ラを板ガラスのエッジに向けて対向させて光源、板ガラ
スのエッジ部、カメラを一直線上に配設した従来の検出
装置で検出しても、この欠点が不透明部分に生じたもの
であるから、検出することができないものである。
【０００８】本発明の検出装置は、光源とカメラを板ガ
ラスのエッジに向けて対向させて設けるものであるが、
ガラス、板ガラスのエッジ部、カメラを一直線上になら
ないように配設することにより、欠点部分における散乱
光を明信号をとして捉えるもので、図２に示すようにカ
メラを、板ガラス面とシーミング面の光源側のコーナー
部分に前記２方向からの光が照射される光路の延長領域
より板ガラス側に設けることにより、欠点がなければ、
不透明部分で散乱されカメラに入射する光量が低下し、
暗となるが、欠点があるとレンズ効果を示し明るく光る
ので明信号として捉えることができ、検出することがで
きるものである。
ラスのエッジに向けて対向させて設けるものであるが、
ガラス、板ガラスのエッジ部、カメラを一直線上になら
ないように配設することにより、欠点部分における散乱
光を明信号をとして捉えるもので、図２に示すようにカ
メラを、板ガラス面とシーミング面の光源側のコーナー
部分に前記２方向からの光が照射される光路の延長領域
より板ガラス側に設けることにより、欠点がなければ、
不透明部分で散乱されカメラに入射する光量が低下し、
暗となるが、欠点があるとレンズ効果を示し明るく光る
ので明信号として捉えることができ、検出することがで
きるものである。
【０００９】また、エッジ部分における垂直面より反板
ガラス側の領域の上下２方向から光を照射する光源と、
該２方向から照射されたエッジ部を直接撮像するカメラ
と設け、該カメラが撮像した画像信号の明信号によって
も、すなわち反射散乱光を捉えることによっても、検出
することができる。
ガラス側の領域の上下２方向から光を照射する光源と、
該２方向から照射されたエッジ部を直接撮像するカメラ
と設け、該カメラが撮像した画像信号の明信号によって
も、すなわち反射散乱光を捉えることによっても、検出
することができる。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照しながら、本発明を詳細に
説明する。図１、図３はそれぞれ本発明の実施例１、実
施例２における欠点検出装置を示す要部概略図、図２は
実施例１の１部を詳細に示す要部概略図、図４は板ガラ
スエッジとカメラの走査線の関係を示す摸式図と得られ
た信号を処理する過程の信号波形を示すチャート図であ
る。
説明する。図１、図３はそれぞれ本発明の実施例１、実
施例２における欠点検出装置を示す要部概略図、図２は
実施例１の１部を詳細に示す要部概略図、図４は板ガラ
スエッジとカメラの走査線の関係を示す摸式図と得られ
た信号を処理する過程の信号波形を示すチャート図であ
る。
【００１１】自動車用窓ガラスとして使用される台形の
板ガラスの検出装置について説明する。切断後面取りさ
れた直後の板ガラス１が図示しないコンベア上を搬送さ
れ、欠点検出装置２の位置までくると光電管あるいはリ
ミットスイッチ等の作動により停止させ、この状態で欠
点検出を行う。
板ガラスの検出装置について説明する。切断後面取りさ
れた直後の板ガラス１が図示しないコンベア上を搬送さ
れ、欠点検出装置２の位置までくると光電管あるいはリ
ミットスイッチ等の作動により停止させ、この状態で欠
点検出を行う。
【００１２】実施例１ 図１、図２、図４に示すように、散乱透過光により検出
する欠点検出装置２について例示する。
する欠点検出装置２について例示する。
【００１３】欠点検出装置２は板ガラスとは反対側の上
下斜め方向の２方向からエッジ部分に照射する例えば半
導体レーザーなどの光源31、32、反射鏡４、板ガラスエ
ッジ部分を撮像する２台のカメラ51、52、例えば CCDエ
リアカメラで撮像されたビデオ信号に基づいて、明信号
を処理する微分回路、２値化回路、判定回路などを具備
するコントローラー61、62、パーソナルコンピューター
などの演算識別装置７から構成される。
下斜め方向の２方向からエッジ部分に照射する例えば半
導体レーザーなどの光源31、32、反射鏡４、板ガラスエ
ッジ部分を撮像する２台のカメラ51、52、例えば CCDエ
リアカメラで撮像されたビデオ信号に基づいて、明信号
を処理する微分回路、２値化回路、判定回路などを具備
するコントローラー61、62、パーソナルコンピューター
などの演算識別装置７から構成される。
【００１４】光源31、32および反射鏡４は、光源からの
照射角度は水平面Ｈとの角度φ1 、φ2 で表すと、シー
ミング面は水平面Ｈに対してほぼ135 °に面取りされて
いるので、このシーミング面に対する垂直面Ｖ1 とする
とＶ1 ±20°の範囲、すなわちφ1 、φ2 が (45±20)
°の範囲、例えば55°の角度で入射するように配設す
る。
照射角度は水平面Ｈとの角度φ1 、φ2 で表すと、シー
ミング面は水平面Ｈに対してほぼ135 °に面取りされて
いるので、このシーミング面に対する垂直面Ｖ1 とする
とＶ1 ±20°の範囲、すなわちφ1 、φ2 が (45±20)
°の範囲、例えば55°の角度で入射するように配設す
る。
【００１５】２台のカメラ51、52はガラスエッジに照射
される光路の延長線に対してエッジ部分からの角度が少
なくとも３°の領域（斜線部分）を外した範囲であっ
て、板ガラス面とシーミング面のコーナー部分を光の照
射方向とは反対側から板ガラス透明部分を介してエッジ
部分を撮像できる位置、すなわち、図２に示すように、
下側のやけを検出する場合には、板ガラス表面S1とシー
ミング面M1のコーナー部分A1と、シーミング面M2と端面
Ｔのコーナー部分B2とを結んだ直線面Ｌより板ガラス側
の範囲θ内に、例えば、水平面Ｈとの角度θ1 、θ2 は
約45°になるように配設する。
される光路の延長線に対してエッジ部分からの角度が少
なくとも３°の領域（斜線部分）を外した範囲であっ
て、板ガラス面とシーミング面のコーナー部分を光の照
射方向とは反対側から板ガラス透明部分を介してエッジ
部分を撮像できる位置、すなわち、図２に示すように、
下側のやけを検出する場合には、板ガラス表面S1とシー
ミング面M1のコーナー部分A1と、シーミング面M2と端面
Ｔのコーナー部分B2とを結んだ直線面Ｌより板ガラス側
の範囲θ内に、例えば、水平面Ｈとの角度θ1 、θ2 は
約45°になるように配設する。
【００１６】また、光源31、32、反射鏡４、カメラ51、
52 は図1 に示す位置関係を保って板ガラス４辺のエッ
ジに沿って移動する駆動台（図示省略）に一体に設置す
る。以下、やけ欠点検出の手順について述べる。
52 は図1 に示す位置関係を保って板ガラス４辺のエッ
ジに沿って移動する駆動台（図示省略）に一体に設置す
る。以下、やけ欠点検出の手順について述べる。
【００１７】カメラ51、52はエリアカメラであって、図
４(a) に示すように、走査線方向は板ガラスエッジとほ
ぼ平行に設定され、該カメラによって撮像されたビデオ
信号は、走査線ｓn について示すと図4(b)のようにな
る。
４(a) に示すように、走査線方向は板ガラスエッジとほ
ぼ平行に設定され、該カメラによって撮像されたビデオ
信号は、走査線ｓn について示すと図4(b)のようにな
る。
【００１８】ここでK1、K2はコーナー部分B2に生じた比
較的小さな欠点と比較的大きな欠点であり、図4(b)から
明らかなように欠点の幅に応じた明信号が得られる。各
走査線毎にこのようなビデオ信号が得られ、コントロー
ラー61、62に出力される。
較的小さな欠点と比較的大きな欠点であり、図4(b)から
明らかなように欠点の幅に応じた明信号が得られる。各
走査線毎にこのようなビデオ信号が得られ、コントロー
ラー61、62に出力される。
【００１９】コントローラー61、62では、微分回路で各
走査線毎のビデオ信号が微分され、設定レベルSLを上回
ったか否かの２値化が２値化回路で行われる。走査線ｓ
n については、微分信号と二値化信号はそれぞれ図４
(c) 、(d) のようになる。その後、コントローラー61、
62の判定回路では、全走査線について二値化信号に基づ
いて走査線に沿った欠点幅ｘと走査線に垂直な欠点幅ｙ
( 走査線ｓn については、走査線に沿った欠点幅ｘ1 、
ｘ2 が図４(d) に示す) の最大値ｘmax とｙ max が演算
され、ｘmax が設定値、例えば2mm 以下かｙmax が設定
値、例えば1mm 以下のときには良品として、ｘmax が例
えば2mm を越え、しかもｙmax が例えば1mm 以下のとき
には欠点として演算識別装置７に出力される。この処理
はエッジの長さに換算して、例えば５〜10mmを1 ブロッ
クとしてブロック毎に行い、エッジ全周の欠点検出を行
う。
走査線毎のビデオ信号が微分され、設定レベルSLを上回
ったか否かの２値化が２値化回路で行われる。走査線ｓ
n については、微分信号と二値化信号はそれぞれ図４
(c) 、(d) のようになる。その後、コントローラー61、
62の判定回路では、全走査線について二値化信号に基づ
いて走査線に沿った欠点幅ｘと走査線に垂直な欠点幅ｙ
( 走査線ｓn については、走査線に沿った欠点幅ｘ1 、
ｘ2 が図４(d) に示す) の最大値ｘmax とｙ max が演算
され、ｘmax が設定値、例えば2mm 以下かｙmax が設定
値、例えば1mm 以下のときには良品として、ｘmax が例
えば2mm を越え、しかもｙmax が例えば1mm 以下のとき
には欠点として演算識別装置７に出力される。この処理
はエッジの長さに換算して、例えば５〜10mmを1 ブロッ
クとしてブロック毎に行い、エッジ全周の欠点検出を行
う。
【００２０】演算識別装置７では欠点として信号が入力
された場合に、この欠点信号が連続して入力されたかど
うかによって、やけかそれ以外の欠点かを識別するもの
である。例えば、欠点信号として入力された信号が連続
的に３回以上であればやけ欠点とし、２回以下であれ
ば、その他の欠点か良品と識別する。すなわち、やけ欠
点は所定間隔、例えば10mmごとにｘmax が例えば2mm を
越え、しかもｙmax が例えば1mm を越える欠点信号が少
なくとも１個以上存在する状態が３ブロック連続したと
きにやけ欠点と判定する。また、欠点信号として入力さ
れた信号が連続的に２回以下のときには、ガラス表面と
シーミング面のコーナー部分からシーミング面にかけて
かなり大きく欠けているはま欠点である場合か、良品の
範囲の欠点である。
された場合に、この欠点信号が連続して入力されたかど
うかによって、やけかそれ以外の欠点かを識別するもの
である。例えば、欠点信号として入力された信号が連続
的に３回以上であればやけ欠点とし、２回以下であれ
ば、その他の欠点か良品と識別する。すなわち、やけ欠
点は所定間隔、例えば10mmごとにｘmax が例えば2mm を
越え、しかもｙmax が例えば1mm を越える欠点信号が少
なくとも１個以上存在する状態が３ブロック連続したと
きにやけ欠点と判定する。また、欠点信号として入力さ
れた信号が連続的に２回以下のときには、ガラス表面と
シーミング面のコーナー部分からシーミング面にかけて
かなり大きく欠けているはま欠点である場合か、良品の
範囲の欠点である。
【００２１】実施例２ 図３に示すように、反射散乱光により検出する欠点検出
装置２について例示する。
装置２について例示する。
【００２２】カメラの配置を変えて、エッジ上側のやけ
を下側のカメラ51で、エッジ下側のやけを上側のカメラ
52で撮像するようにした以外は実施例１と同じ構成にし
たものであり、同様の処理によりやけ欠点を他の欠点と
混同することなく、検出することができる。
を下側のカメラ51で、エッジ下側のやけを上側のカメラ
52で撮像するようにした以外は実施例１と同じ構成にし
たものであり、同様の処理によりやけ欠点を他の欠点と
混同することなく、検出することができる。
【００２３】以上、好適な実施例により説明したが、本
発明はこれらに限定されるものではなく、種々の応用が
可能である。シーミング面について、実施例の約45°に
面取りしたもの以外にも、その他の角度で面取りしたも
の、あるいは円弧状の面取りしたものなどであってもよ
い。
発明はこれらに限定されるものではなく、種々の応用が
可能である。シーミング面について、実施例の約45°に
面取りしたもの以外にも、その他の角度で面取りしたも
の、あるいは円弧状の面取りしたものなどであってもよ
い。
【００２４】実施例１のように透過散乱光で検出する
か、実施例２のように反射散乱光で検出するかについ
て、板ガラスに光が照射されたときに、その角度にもよ
るが、通常は反射する量より透過する量のほうがはるか
に大きいので、実施例１のように透過散乱光で検出する
方が好ましい。ただ、反射散乱光による検出も勿論可能
であり、この場合にガラスエッジの垂直面Ｖ2 より板ガ
ラスとは反対側の広い範囲に配置することができる。例
えば２つの光源を垂直面Ｖ2 上かやや反板ガラス側（実
施例２の光源31と反射鏡４の位置近傍）に配置して、水
平面Ｈ上に配設した１台のカメラで上下のエッジを検出
することも可能である。
か、実施例２のように反射散乱光で検出するかについ
て、板ガラスに光が照射されたときに、その角度にもよ
るが、通常は反射する量より透過する量のほうがはるか
に大きいので、実施例１のように透過散乱光で検出する
方が好ましい。ただ、反射散乱光による検出も勿論可能
であり、この場合にガラスエッジの垂直面Ｖ2 より板ガ
ラスとは反対側の広い範囲に配置することができる。例
えば２つの光源を垂直面Ｖ2 上かやや反板ガラス側（実
施例２の光源31と反射鏡４の位置近傍）に配置して、水
平面Ｈ上に配設した１台のカメラで上下のエッジを検出
することも可能である。
【００２５】光源については半導体レーザー以外にも高
周波蛍光灯など各種の光源を使用することができる。光
が発散する光源を用いる場合には、各実施例の光源の位
置に１個の光源を設ければよい。２個の光源を用いる場
合には各実施例のように反射鏡を介して照射すると光強
度が低下するので、スペースがあれば一方の光源32は反
射鏡４の位置に設けた方がよい。
周波蛍光灯など各種の光源を使用することができる。光
が発散する光源を用いる場合には、各実施例の光源の位
置に１個の光源を設ければよい。２個の光源を用いる場
合には各実施例のように反射鏡を介して照射すると光強
度が低下するので、スペースがあれば一方の光源32は反
射鏡４の位置に設けた方がよい。
【００２６】カメラについては、透過散乱光で検出する
場合には、最低２台、反射散乱光で検出する場合には最
低１台必要であるが、これ以上のカメラを設けて検出し
てもよいことは勿論である。
場合には、最低２台、反射散乱光で検出する場合には最
低１台必要であるが、これ以上のカメラを設けて検出し
てもよいことは勿論である。
【００２７】カメラが撮像したビデオ信号に基づく処理
について、微分回路は必ずしもなくてもよいが、明暗の
傾向を拡大してS/N 比を高める点で設けた方が好まし
い。ただ、欠点幅を小さくするのは避けられないので、
その点を考慮して使う必要がある。また、設定レベルSL
や各種の設定値はどの程度のやけを検出するかによって
任意に設定すればよい。さらに増幅回路やエッジ不透明
部分の表面凹凸によるノイズを逓減させる積分回路など
を付加することができる。
について、微分回路は必ずしもなくてもよいが、明暗の
傾向を拡大してS/N 比を高める点で設けた方が好まし
い。ただ、欠点幅を小さくするのは避けられないので、
その点を考慮して使う必要がある。また、設定レベルSL
や各種の設定値はどの程度のやけを検出するかによって
任意に設定すればよい。さらに増幅回路やエッジ不透明
部分の表面凹凸によるノイズを逓減させる積分回路など
を付加することができる。
【００２８】
【発明の効果】本発明の欠点検出装置は光源とカメラを
特異な位置に設けることにより、従来困難であったやけ
欠点の検出を他の欠点と混同することなく、正確に行う
ことができるものである。
特異な位置に設けることにより、従来困難であったやけ
欠点の検出を他の欠点と混同することなく、正確に行う
ことができるものである。
【図１】本発明の実施例１における欠点検出装置を示す
要部概略図である。
要部概略図である。
【図２】実施例１の１部を詳細に示す要部概略図であ
る。
る。
【図３】実施例２における欠点検出装置を示す要部概略
図である。
図である。
【図４】板ガラスエッジとカメラの走査線の関係を示す
摸式図と得られた信号を処理する過程の信号波形を示す
チャート図であり、(a) は摸式図(b) 、(c) 、(d) はそ
れぞれビデオ信号、微分信号、二値化信号を表す。
摸式図と得られた信号を処理する過程の信号波形を示す
チャート図であり、(a) は摸式図(b) 、(c) 、(d) はそ
れぞれビデオ信号、微分信号、二値化信号を表す。
１ 板ガラス２ 欠点検出装置 31、32 光源 51、52 カメラ 61、62 コントローラー ７ 演算識別装置
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−189549（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−169343（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958
Claims (2)
- 【請求項１】エッジ部分が面取りされシーミング面を有
するガラスを水平に裁置した状態で該エッジ部分の欠点
を検出する装置において、該エッジ部分に板ガラスとは
反対側の上下斜め方向の２方向から光を照射する光源
と、ガラスエッジに照射される光路の延長領域の範囲外
であって、板ガラス面とシーミング面の光源側のコーナ
ー部分を光の照射方向とは反対側から板ガラス透明部分
を介してエッジ部分を撮像する少なくとも２台のカメラ
とを設け、該カメラが撮像した画像信号の明信号の大き
さによりやけ欠点を識別するようにしたことを特徴とす
る板ガラスの欠点検出装置。 - 【請求項２】エッジ部分が面取りされシーミング面を有
するガラスを水平に裁置した状態で該エッジ部分の欠点
を検出する装置において、エッジ部分における垂直面よ
り板ガラスの反対側領域の上下２方向から光を照射する
光源と、該２方向から光が照射されたエッジ部を直接撮
像するカメラとを設け、該カメラが撮像した画像信号の
明信号の大きさによりやけ欠点を識別するようにしたこ
とを特徴とする板ガラスの欠点検出装置。
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|---|---|---|---|
| JP3011169A JP3013903B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 板ガラスの欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3011169A JP3013903B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 板ガラスの欠点検出装置 |
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|---|---|
| JPH06258231A JPH06258231A (ja) | 1994-09-16 |
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ID=11770552
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|---|---|---|---|
| JP3011169A Expired - Fee Related JP3013903B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 板ガラスの欠点検出装置 |
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| JP (1) | JP3013903B2 (ja) |
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- 1991-01-31 JP JP3011169A patent/JP3013903B2/ja not_active Expired - Fee Related
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