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JP3011254B2 - 測定範囲に制限のない３次元測定器 - Google Patents

測定範囲に制限のない３次元測定器

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Publication number
JP3011254B2
JP3011254B2 JP5033892A JP3389293A JP3011254B2 JP 3011254 B2 JP3011254 B2 JP 3011254B2 JP 5033892 A JP5033892 A JP 5033892A JP 3389293 A JP3389293 A JP 3389293A JP 3011254 B2 JP3011254 B2 JP 3011254B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
dimensional
measurement
measurement range
indirect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5033892A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06207829A (ja
Inventor
聖士郎 宗平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=12399187&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3011254(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP5033892A priority Critical patent/JP3011254B2/ja
Publication of JPH06207829A publication Critical patent/JPH06207829A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3011254B2 publication Critical patent/JP3011254B2/ja
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は，広範囲において３次
元測定を行なう装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来，３次元測定を行なう場合，限られ
た測定範囲のみでしか測定が不可能であったため，長大
な測定物又は，測定物を移動させることが困難な場合な
どは３次元測定を行なうことは困難であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は，長大な測定
物又は，測定物を移動させることが困難な場合などに３
次元測定を容易にするためになされたものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】容易に持ち運びが出来る
多間接型３次元測定器（１）と座標基準器（２）とを組
み合せ，多間接型３次元測定器（１）に座標基準器
（２）の座標基準点（３）３点より仮想３次元原点求
め，多間接型３次元測定器（１）を移動し再度，多間接
型３次元測定器（１）に座標基準器（２）の座標基準点
（３）３点より移動前の仮想３次元原点を求める事によ
つて多間接型３次元測定器（１）の移動前と後の測定点
を相対的に計測する測定範囲に制限のない３次元測定
器。
【０００５】
【作用】多間接型３次元測定器（１）の測定範囲Ａ
（５）に被測定物（４）の測定点の１部が入るように多
間接型３次元測定器（１）を設置し被測定物（４）の１
部分の測定点を３次元座標値として取り込む，そして被
測定物（４）の他部分の測定を行うべく移動させる，多
間接型３次元測定器（１）の測定範囲Ｂ（６）と多間接
型３次元測定器（１）の測定範囲Ａ（５）の交わる範囲
に座標基準器（２）を設置する，そこで多間接型３次元
測定器（１）の測定範囲Ａ（５）内にて座標基準点
（３）の３点より仮想３次元原点求め，多間接型３次元
測定器（１）を移動し再度，多間接型３次元測定器
（１）に座標基準器（２）の座標基準点（３）３点より
移動前の仮想３次元原点を求め，多間接型３次元測定器
（１）の移動前と後の測定点を相対的に計算して計測す
る。
【０００６】
【実施例】円盤状の座標基準器（２）に円錐凹状の座標
基準点（３）を３箇所離れた位置に設け，多間接型３次
元測定器（１）と３次元座標データを計算処理，表示を
行うための持ち運び可能なノート型パーソナルコンピュ
ーター（７）よりなる。また，３次元座標データを計算
処理，表示を行う演算部及び表示部を多間接型３次元測
定器（１）に内臓することもできる。
【０００７】 以上のようなの構成で測定範囲Ａ（５）
のデータ入力が終ると多間接型３次元測定器（１）の測
定範囲Ｂ（６）と多間接型３次元測定器（１）の測定範
囲Ａ（５）の交わる範囲に座標基準器（２）を設置す
る，そこで多間接型３次元測定器（１）の測定範囲Ａ
（５）内にて座標基準点（３）の３点より仮想３次元原
点求め，多間接型３次元測定器（１）を移動し再度，多
間接型３次元測定器（１）に座標基準器（２）の座標基
準点（３）３点より移動前の仮想３次元原点を求めてか
ら測定範囲Ｂ（６）のデータ入力を行う。以上の操作を
繰り返すことにより測定範囲に制限が無くなりどんな長
大な測定物でも測定可能となる。
【０００８】
【発明の効果】本発明は，従来の３次元測定装置では困
難であった長大，移動不可能な測定物も測定が容易とな
る。
【図面の簡単な説明】
【１図】本発明の全体斜視図
【符号の説明】
１ 多間接型３次元測定器 ２ 座標基準器 ３ 座標基準点 ４ 被測定物 ５ 測定範囲Ａ ６ 測定範囲Ｂ ７ ノート型パーソナルコンピューター

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】多間接型３次元測定器（１）と円錐凹状の
    座標基準点（３）を３箇所離れた位置に設けた座標基準
    器（２）とからなる、測定範囲に制限のない３次元測定
    器。
JP5033892A 1993-01-11 1993-01-11 測定範囲に制限のない３次元測定器 Expired - Lifetime JP3011254B2 (ja)

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JPH06207829A JPH06207829A (ja) 1994-07-26
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JP3905771B2 (ja) * 2001-03-02 2007-04-18 株式会社ミツトヨ 測定機の校正方法及び装置
JP4889928B2 (ja) * 2004-08-09 2012-03-07 株式会社ミツトヨ 基準座標算出方法、基準座標算出プログラム、その記録媒体、定盤および形状測定装置
JP2009014481A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Ihi Corp 距離計測装置とそのキャリブレーション方法

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JPH06207829A (ja) 1994-07-26

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