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JP2808195B2 - Time constant automatic adjustment circuit - Google Patents

Time constant automatic adjustment circuit

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Publication number
JP2808195B2
JP2808195B2 JP11222891A JP11222891A JP2808195B2 JP 2808195 B2 JP2808195 B2 JP 2808195B2 JP 11222891 A JP11222891 A JP 11222891A JP 11222891 A JP11222891 A JP 11222891A JP 2808195 B2 JP2808195 B2 JP 2808195B2
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JP
Japan
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circuit
voltage
time constant
error
equation
Prior art date
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Application number
JP11222891A
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Japanese (ja)
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JPH04319810A (en
Inventor
直基 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPH04319810A publication Critical patent/JPH04319810A/en
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は,モノリシック集積回
路(以下ICという)の製造プロセスばらつきによって
生じる抵抗の抵抗値およびキャパシタの容量(これらを
単にRおよびCという)の誤差を検出し,外部から与え
られる電圧によって時定数を変えることのできる回路に
おいてICプロセスばらつきに基づくRC誤差に起因す
る時定数誤差を上記RC誤差検出出力を用いて自動的に
調整する回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention detects an error in the resistance value of a resistor and the capacitance of a capacitor (these are simply referred to as R and C) caused by manufacturing process variations of a monolithic integrated circuit (hereinafter referred to as an IC), The present invention relates to a circuit in which a time constant can be changed by a given voltage, and which automatically adjusts a time constant error caused by an RC error based on IC process variation using the RC error detection output.

【0002】[0002]

【従来の技術】ICにおいては抵抗は不純物の拡散(拡
散抵抗)等により形成され,キャパシタは基板上に薄い
酸化膜を形成しその上にメタル電極を付ける等の技術に
より作成される。拡散等のばらつき,酸化膜厚等のばら
つき等により,半導体ウエハごとにR,Cのばらつき等
が生じる。
2. Description of the Related Art In an IC, a resistor is formed by diffusion of an impurity (diffusion resistance), and a capacitor is formed by a technique such as forming a thin oxide film on a substrate and attaching a metal electrode thereon. Due to variations in diffusion and the like, variations in oxide film thickness and the like, variations in R and C occur for each semiconductor wafer.

【0003】抵抗およびキャパシタをもつ時定数回路
(たとえばフィルタ回路や遅延回路)ではR,Cの製造
誤差(これらをΔR,ΔCとする)に起因して±[(Δ
R)2 +(ΔC)2 1/2 の誤差が生じる。
In a time constant circuit having a resistor and a capacitor (for example, a filter circuit or a delay circuit), ± [(Δ
R) 2 + (ΔC) 2 ] 1/2 error occurs.

【0004】この時定数の誤差を補正するために,外部
電圧によって時定数を制御できる時定数可変回路が使用
されている。図1に示すように,この時定数可変回路50
では,ボリューム等の可変抵抗59を用いて工場出荷時等
において外部から与える電圧を調整することにより時定
数を調整していた。
In order to correct the time constant error, a time constant variable circuit capable of controlling the time constant by an external voltage is used. As shown in FIG.
In the above, the time constant was adjusted by adjusting the voltage applied externally at the time of factory shipment or the like using the variable resistor 59 such as a volume.

【0005】図2は時定数可変回路の一例としてアクテ
ィブ・フィルタを示すものである。
FIG. 2 shows an active filter as an example of a time constant variable circuit.

【0006】このアクティブ・フィルタは伝達コンダク
タンスgm1,gm2をそれぞれ有する演算増幅器51,52,
伝達コンダクタンスgm1,gm2とともに時定数(カット
オフ周波数)を決定するためのコンデンサ(キャパシ
タ)C1 ,C2 ,時定数を調整するための可変ゲイン増
幅器GCA1,GCA2(以下単にGCA1,GCA2
という),およびバッファ回路53,54を含んでおり,I
Cプロセスにより作製されている。GCA1およびGC
A2のゲインKは外付けの可変抵抗59から与えられる電
圧により調整される。
The active filter has operational amplifiers 51, 52, 52 having transfer conductances g m1 and g m2 , respectively.
Capacitors (capacitors) C 1 and C 2 for determining the time constant (cutoff frequency) together with the transfer conductances g m1 and g m2 , and variable gain amplifiers GCA1 and GCA2 (hereinafter simply GCA1 and GCA2) for adjusting the time constant
), And buffer circuits 53 and 54.
It is manufactured by the C process. GCA1 and GC
The gain K of A2 is adjusted by the voltage supplied from the external variable resistor 59.

【0007】このアクティブ・フィルタは3つの入力端
子(それらの入力をそれぞれvA ,vB およびvC で示
す)と1つの出力端子(その出力をvO で示す)とを備
えている。出力vO は次式で与えられる。ただしK=1
としている。
The active filter has three input terminals (their inputs are denoted by v A , v B and v C respectively) and one output terminal (the output is denoted by v O ). The output v O is given by the following equation. Where K = 1
And

【0008】[0008]

【数1】 vO =(s2 1 2 C +sC1 m2B +gm1m2A )/ (s2 1 2 +sC1 m2+gm1m2) ‥‥式1[Number 1] v O = (s 2 C 1 C 2 v C + sC 1 g m2 v B + g m1 g m2 v A) / (s 2 C 1 C 2 + sC 1 g m2 + g m1 g m2) ‥‥ Formula 1

【0009】入力vA ,VB およびvC を適当に設定す
ることにより,低域通過フィルタ,高域通過フィルタお
よび帯域通過フィルタ(以下それぞれLPF,HPFお
よびBPFという)を構成することができる。
By appropriately setting the inputs v A , V B and v C , a low-pass filter, a high-pass filter and a band-pass filter (hereinafter referred to as LPF, HPF and BPF, respectively) can be constructed.

【0010】たとえば,HPFは入力vA とvB の端子
を接地することにより構成される。vC が入力となる。
A =vB =0とすると式1から次式が得られる。
For example, the HPF is constructed by grounding the terminals of the inputs v A and v B. v C is the input.
If v A = v B = 0, the following equation is obtained from Equation 1.

【0011】[0011]

【数2】 vO /vC =(C1 2 2 )/(s2 1 2 +sC1 m2+gm1m2) =ω0 2 /[s2 +(ω0 /Q)s+ω0 2 ] ‥‥式2## EQU2 ## v O / v C = (C 1 C 2 s 2 ) / (s 2 C 1 C 2 + sC 1 g m2 + g m1 g m2 ) = ω 0 2 / [s 2 + (ω 0 / Q) s + ω 0 2 ] ‥‥ Equation 2

【0012】[0012]

【数3】ω0 =(gm1m2/C1 2 1/2 ‥‥式3Ω 0 = (g m1 g m2 / C 1 C 2 ) 1/2 ‥‥ Equation 3

【0013】[0013]

【数4】Q=(C2 m1/C1 m21/2 ‥‥式4Q = (C 2 g m1 / C 1 g m2 ) 1/2 Equation 4

【0014】また,LPFは入力vB とvC の端子を接
地することにより構成される。vA が入力となる。vB
=vC =0とする式1から次式が得られる。
The LPF is constructed by grounding the terminals of the inputs v B and v C. v A is an input. v B
= V C = 0, the following equation is obtained.

【0015】[0015]

【数5】 vO /vA =(gm1m2)/(s2 1 2 +sC1 m2+gm1m2) =ω0 2 /[s2 +(ω0 /Q)s+ω0 2 ] ‥‥式5V O / v A = (g m1 g m2 ) / (s 2 C 1 C 2 + sC 1 g m2 + g m1 g m2 ) = ω 0 2 / [s 2 + (ω 0 / Q) s + ω 0 2 ] ‥‥ Equation 5

【0016】[0016]

【数6】ω0 =(gm1m2/C1 2 1/2 ‥‥式6Ω 0 = (g m1 g m2 / C 1 C 2 ) 1/2 ‥‥ Equation 6

【0017】[0017]

【数7】Q=(C2 m1/C1 m21/2 ‥‥式7Q = (C 2 g m1 / C 1 g m2 ) 1/2 Equation 7

【0018】ここでω0 はカットオフ角周波数,Qは尖
鋭度である。
Here, ω 0 is the cutoff angular frequency, and Q is the sharpness.

【0019】各定数gm1,gm2,C1 ,C2 の設定によ
り任意の周波数特性をもつフィルタが得られることにな
る。一例として,バターワース型フィルタはQ=(1/
2)1/2 として各定数を決定することにより得られる。
By setting the constants g m1 , g m2 , C 1 , and C 2, a filter having an arbitrary frequency characteristic can be obtained. As an example, a Butterworth filter has Q = (1/1 /
2) It is obtained by determining each constant as 1/2 .

【0020】しかしながらR(すなわちgm1,gm2),
Cにプロセスばらつきがあると所望の周波数特性が得ら
れないことになる。
However, R (ie, g m1 , g m2 ),
If there is a process variation in C, a desired frequency characteristic cannot be obtained.

【0021】そこで,演算増幅器51,52の出力電流をG
CA1,GCA2によってそれぞれ調整することによ
り,実質的に伝達コンダクタンスgm1,gm2を変化させ
てプロセスばらつきに基づく誤差を補正している。
Therefore, the output currents of the operational amplifiers 51 and 52 are
By making adjustments using CA1 and GCA2, respectively, the transmission conductances g m1 and g m2 are substantially changed to correct errors based on process variations.

【0022】GCA1,GCA2のゲインKによって補
正された伝達コンダクタンスはそれぞれ,g1 =K
m1,g2 =Kgm2となる。
The transfer conductances corrected by the gains K of GCA1 and GCA2 are respectively g 1 = K
g m1 , g 2 = Kg m2 .

【0023】したがって,式3または式6は次のように
修正される。
Therefore, Equation 3 or Equation 6 is modified as follows.

【0024】[0024]

【数8】 ω0 =(g1 2 /C1 2 1/2 =(Kgm1Kgm2/C1 2 1/2 =K(gm1m2/C1 2 1/2 ‥‥式8Ω 0 = (g 1 g 2 / C 1 C 2 ) 1/2 = (Kg m1 Kg m2 / C 1 C 2 ) 1/2 = K (g m1 g m2 / C 1 C 2 ) 1 / 2 Equation 8

【0025】[0025]

【発明が解決しようとする課題】上述のように従来の時
定数可変回路では,その製造または出荷段階で外部設定
電圧を所望の時定数が得られるように適切な値に変更す
る調整工程が必要であり,コストアップにつながってい
た。また,ICプロセスにおいて殆ど不可避的に生じる
RCのばらつきのために外部設定電圧と時定数との関係
が一律でなくなりこのICが使いづらいという問題があ
る。これは特に,外部設定電圧により時定数の誤差を修
正するのみならず,外部設定電圧により時定数(周波数
特性)そのものを所望の値に設定して使用するICにお
いて重要な問題となっている。
As described above, the conventional time constant variable circuit requires an adjusting step of changing the externally set voltage to an appropriate value so that a desired time constant can be obtained at the stage of manufacture or shipment. This led to an increase in cost. Further, there is a problem that the relationship between the externally set voltage and the time constant is not uniform due to the variability of RC almost inevitably generated in the IC process, and this IC is difficult to use. This is an important problem especially in an IC that not only corrects an error of a time constant by an externally set voltage but also sets and uses a time constant (frequency characteristic) itself to a desired value by an externally set voltage.

【0026】この発明は,外部から与えられる設定電圧
に応じて時定数が制御される時定数可変回路において,
RC誤差に基づく時定数誤差をRC誤差検出回路の検出
出力を用いて自動的に調整し,RC誤差の有無および大
小にかかわりなく時定数が設定電圧のみによって一義的
に制御できるようにすることを目的とする。
According to the present invention, there is provided a time constant variable circuit in which a time constant is controlled in accordance with an externally set voltage.
A method for automatically adjusting a time constant error based on an RC error by using a detection output of an RC error detection circuit so that a time constant can be uniquely controlled only by a set voltage irrespective of the presence / absence of an RC error and its magnitude. Aim.

【0027】[0027]

【課題を解決するための手段】この発明による時定数自
動調整回路は,与えられる制御電圧により時定数が可変
制御される,半導体基板上にICプロセスにより形成さ
れた時定数可変回路,上記半導体基板上に形成され,I
Cプロセスのばらつきによって生じるRC誤差を検出
し,RC誤差を表わす補正電圧を出力するRC誤差検出
回路,上記時定数可変回路の時定数を設定するための外
部から与えられる設定電圧を,上記RC誤差検出回路か
ら出力される補正電圧によって補正し,この補正された
設定電圧を出力する設定電圧補正回路,上記RC誤差検
出回路から出力される補正電圧に基づいて,設定電圧を
固定した場合のRC誤差に基づく時定数変化分を補正す
るための第1の制御電圧を出力する第1の制御回路,な
らびに上記補正設定電圧と第1の制御電圧とを入力と
し,上記時定数可変回路の時定数がRC誤差に関係なく
上記設定電圧によって定められるように,上記制御電圧
として第2の制御電圧を作成して上記時定数可変回路に
与える第2の制御回路を備えていることを特徴とする。
An automatic time constant adjusting circuit according to the present invention is a time constant variable circuit formed by an IC process on a semiconductor substrate, wherein the time constant is variably controlled by an applied control voltage. Formed on
An RC error detecting circuit for detecting an RC error caused by a variation in the C process and outputting a correction voltage representing the RC error, and setting an externally applied voltage for setting a time constant of the time constant variable circuit to the RC error A setting voltage correction circuit that corrects with a correction voltage output from the detection circuit and outputs the corrected setting voltage, and an RC error when the setting voltage is fixed based on the correction voltage output from the RC error detection circuit. A first control circuit for outputting a first control voltage for correcting a change in a time constant based on the control signal, and the correction setting voltage and the first control voltage as inputs, and the time constant of the time constant variable circuit is A second control circuit for generating a second control voltage as the control voltage and applying the second control voltage to the time constant variable circuit so as to be determined by the set voltage regardless of an RC error; Characterized in that it comprises.

【0028】上記時定数可変回路の例としては,フィル
タ回路,遅延回路等がある。
Examples of the time constant variable circuit include a filter circuit and a delay circuit.

【0029】[0029]

【作用】この発明による時定数自動調整回路は与えられ
る制御電圧により時定数が可変制御される時定数可変回
路に適用される。この発明は,1つの半導体ウエハに形
成される複数の抵抗のRのばらつきの方向は同方向であ
りかつその大きさも同程度であること,同じように1つ
の半導体ウエハに形成される複数のキャパシタ(コンデ
ンサ)の容量のばらつきの方向は同方向でありかつその
大きさも同程度であることを前提としている。したがっ
て,上記時定数可変回路と同じ半導体基板上に上記RC
誤差検出回路が設けられる。上記RC誤差検出回路によ
ってこの半導体ウエハのICプロセスのばらつきによっ
て生じるRC誤差が検出され,そのRC誤差を表わす補
正電圧が出力される。
The automatic time constant adjusting circuit according to the present invention is applied to a time constant variable circuit in which the time constant is variably controlled by a given control voltage. According to the present invention, a plurality of resistors R formed on one semiconductor wafer have the same direction of variation and the same magnitude, and a plurality of capacitors similarly formed on one semiconductor wafer. It is assumed that the directions of the variation in the capacitance of the (capacitor) are the same and their sizes are also about the same. Therefore, on the same semiconductor substrate as the time constant variable circuit, the RC
An error detection circuit is provided. The RC error detection circuit detects an RC error caused by a variation in the IC process of the semiconductor wafer, and outputs a correction voltage representing the RC error.

【0030】上記時定数可変回路におけるRCのばらつ
きに基づく時定数のばらつきは,所望の時定数を設定す
るために外部から与える設定電圧の変化量に影響するば
らつきと,設定電圧を固定したときに時定数に影響する
ばらつきとに分けて考えることができる。
The variation of the time constant based on the variation of the RC in the above-mentioned variable time constant circuit includes the variation affecting the amount of change of the set voltage given from outside in order to set the desired time constant, and the variation in the fixed voltage. It can be considered separately from variations affecting the time constant.

【0031】上記設定電圧補正回路は,上記補正電圧に
基づいて,設定電圧の変化量に影響するばらつきを補正
するような補正設定電圧を作成して出力する。
The set voltage correction circuit generates and outputs a correction set voltage for correcting a variation affecting the amount of change of the set voltage based on the correction voltage.

【0032】上記第1の制御回路は,設定電圧を固定し
たときに時定数に影響するばらつきを補正するような第
1の制御電圧を作成して出力する。
The first control circuit creates and outputs a first control voltage that corrects a variation that affects the time constant when the set voltage is fixed.

【0033】そして,これらの補正設定電圧と第1の制
御電圧とに基づいて,上記第2の制御回路によって,R
Cのばらつきに関係なく外部から与えられる設定電圧に
よって規定される時定数が得られるように上記時定数可
変回路に与えるべき第2の制御電圧が作成される。
Then, based on the correction set voltage and the first control voltage, the second control circuit makes R
A second control voltage to be applied to the time constant variable circuit is created so that a time constant defined by an externally applied set voltage is obtained irrespective of the variation in C.

【0034】[0034]

【発明の効果】このようにして,この発明による時定数
自動調整回路によると,ICプロセスのばらつきによっ
て生じるRC誤差に基づく時定数可変回路の時定数誤差
が自動的に補償されるので,時定数可変回路の時定数を
設定電圧のみによって制御することができるようにな
る。したがって,RC誤差に基づく時定数誤差を考慮せ
ずに設定電圧の設定を行なうことができるので使い易い
ものとなる。
As described above, according to the automatic time constant adjusting circuit according to the present invention, the time constant error of the time constant variable circuit based on the RC error caused by the variation in the IC process is automatically compensated. The time constant of the variable circuit can be controlled only by the set voltage. Therefore, the setting voltage can be set without considering the time constant error based on the RC error, so that it is easy to use.

【0035】さらにR,Cの温度変化に基づく時定数の
温度変化もR,C誤差に基づく時定数誤差の補償と同時
に補償されるので,周囲温度変化に起因する時定数変化
の少ない回路が実現できる。
Further, since the temperature change of the time constant based on the temperature change of R and C is compensated at the same time as the compensation of the time constant error based on the R and C error, a circuit with less time constant change caused by the ambient temperature change can be realized. it can.

【0036】[0036]

【実施例】図3はこの発明の実施例を示すものである。FIG. 3 shows an embodiment of the present invention.

【0037】1つの半導体基板上に作製されたモノリシ
ックIC内に時定数可変回路50と,この時定数可変回路
50の時定数を自動的に調整する回路10とが設けられてい
る。そして時定数自動調整回路10には,RC誤差検出回
路1が設けられている。1つの半導体ウエハに形成され
る複数の抵抗のばらつきの方向(Rが大きくなるまたは
小さくなる)とばらつき量はほぼ同じであると考えるこ
とができ,同じように1つの半導体ウエハに形成される
複数のキャパシタの容量のばらつきの方向とばらつき量
はほぼ同じであると考えることができる。RC誤差検出
回路1内には抵抗とキャパシタ(コンデンサ)とが含ま
れており,そのRC誤差が検出される。この検出された
RC誤差を表わす検出出力(補正電圧出力)ΔVを用い
て時定数自動調整回路10により時定数可変回路50内のR
C誤差が自動的に補正される。
A time constant variable circuit 50 and a time constant variable circuit are provided in a monolithic IC manufactured on one semiconductor substrate.
A circuit 10 for automatically adjusting the time constant of 50 is provided. The time constant automatic adjustment circuit 10 is provided with the RC error detection circuit 1. It can be considered that the direction of variation (R increases or decreases) of a plurality of resistances formed on one semiconductor wafer and the amount of variation are substantially the same, and the plurality of resistances similarly formed on one semiconductor wafer are similar. It can be considered that the direction and the amount of variation of the capacitance of the capacitor are almost the same. The RC error detection circuit 1 includes a resistor and a capacitor (capacitor), and detects the RC error. Using the detected output (corrected voltage output) ΔV representing the detected RC error, the time constant
The C error is automatically corrected.

【0038】時定数可変回路50の一例として図2に示し
た周波数可変型アクティブ・フィルタを考える。
As an example of the time constant variable circuit 50, consider a frequency variable active filter shown in FIG.

【0039】アクティブ・フィルタは上述のように3つ
の入力端子(vA ,vB ,vC )を適当に設定すること
によりHPF,LPFおよびBPFを構成することがで
きる。この周波数可変型アクティブ・フィルタは,これ
らのフィルタにおけるカットオフ周波数ω0 を外部から
与える設定電圧VS によって任意に設定することができ
る。設定電圧VS はIC回路の外部に設けられた可変抵
抗6,その他の電圧発生回路によって設定される。
The active filter can constitute the HPF, LPF and BPF by appropriately setting the three input terminals (v A , v B and v C ) as described above. This variable frequency active filter can be arbitrarily set by a set voltage V S that externally supplies a cutoff frequency ω 0 in these filters. Setting voltage V S is variable resistor 6 provided outside of the IC circuit is set by the other of the voltage generating circuit.

【0040】しかしながら,IC製造プロセスばらつき
に基づくRC誤差があるために,設定電圧VS に対して
カットオフ周波数ω0 は計算通りに一義的に定まらな
い。RC誤差によるカットオフ周波数ω0 の変動が上述
のように時定数自動調整回路10によって自動的に補正さ
れる。
However, since there is an RC error based on the IC manufacturing process variation, the cutoff frequency ω 0 is not uniquely determined with respect to the set voltage V S as calculated. The change in the cutoff frequency ω 0 due to the RC error is automatically corrected by the automatic time constant adjusting circuit 10 as described above.

【0041】周波数可変型アクティブ・フィルタにおけ
るRC誤差係数をγとする。このアクティブ・フィルタ
内の抵抗の実際の抵抗値をRr ,コンデンサの容量(キ
ャパシタ)をCr とする。これらの抵抗およびコンデン
サの計算値(基準値)をそれぞれRr0,Cr0とすると,
RC誤差係数γは次式で与えられる。
Assume that the RC error coefficient in the variable frequency active filter is γ. The actual resistance value of the resistor in the active filter is R r , and the capacitance of the capacitor (capacitor) is C r . If the calculated values (reference values) of these resistors and capacitors are R r0 and C r0 , respectively,
The RC error coefficient γ is given by the following equation.

【0042】[0042]

【数9】Rr =αRr0 ‥‥式9 Cr =βCr0 ‥‥式10 γ=αβ ‥‥式11R r = αR r0 ‥‥ Equation 9 C r = βC r0 ‥‥ Equation 10 γ = αβ ‥‥ Equation 11

【0043】図4は設定電圧VS と周波数可変型アクテ
ィブ・フィルタのカットオフ周波数ω0 との関係を示す
ものである。
FIG. 4 shows the relationship between the set voltage V S and the cutoff frequency ω 0 of the variable frequency active filter.

【0044】γ=1の直線が理想的な特性を表わしてい
る。IC製造プロセスにおいて生じるプロセスばらつき
に基づくRC誤差によって,この特性直線が左右にシフ
トするとともにその傾きが変化する。
A straight line of γ = 1 represents an ideal characteristic. This characteristic line shifts right and left and changes its slope due to the RC error based on the process variation generated in the IC manufacturing process.

【0045】RC誤差に基づくこのような特性直線のば
らつきの補正は,ばらついた特性直線をγ=1の直線と
所定点で交わる位置までシフトさせ(破線で示す),か
つその傾きを修正することにより行われる。
The correction of such a variation of the characteristic line based on the RC error is performed by shifting the varied characteristic line to a position intersecting the straight line of γ = 1 at a predetermined point (indicated by a broken line) and correcting the inclination thereof. It is performed by

【0046】図3に示す時定数自動調整回路10におい
て,制御回路5には,制御電圧VC と補正設定電圧VSC
とが与えられている。
In the automatic time constant adjusting circuit 10 shown in FIG. 3, the control circuit 5 includes a control voltage V C and a correction set voltage V SC.
And is given.

【0047】RC誤差検出回路1から得られる補正電圧
ΔVが増幅回路2によって増幅されることにより制御電
圧VC となる。増幅回路2のゲインをBとすると制御電
圧VC は次式で与えられる。
The correction voltage ΔV obtained from the RC error detection circuit 1 is amplified by the amplifier circuit 2 to become the control voltage V C. Assuming that the gain of the amplifier circuit 2 is B, the control voltage V C is given by the following equation.

【0048】[0048]

【数10】VC =BΔV ‥‥式12V C = BΔV Equation 12

【0049】一方,設定電圧VS は可変ゲイン増幅回路
(GCA)3に与えられる。この可変利得増幅回路3の
ゲイン(利得)Gは,GCA制御回路(増幅回路)4を
通してRC誤差検出回路1から出力される補正電圧ΔV
によって制御される。したがって,この可変ゲイン増幅
回路3から出力される補正された設定電圧VSCは次式で
与えられる。
On the other hand, the set voltage V S is applied to a variable gain amplifier (GCA) 3. The gain (gain) G of the variable gain amplifying circuit 3 is equal to the correction voltage ΔV output from the RC error detecting circuit 1 through the GCA control circuit (amplifying circuit) 4.
Is controlled by Therefore, the corrected set voltage V SC output from the variable gain amplifier circuit 3 is given by the following equation.

【0050】[0050]

【数11】VSC=GVS =G0 (1+DΔV)VS
‥式13
## EQU11 ## V SC = GV S = G 0 (1 + DΔV) V S
‥ Equation 13

【0051】ここで,G0 ,Dはそれぞれ可変ゲイン増
幅回路3のセンタ・ゲイン,感度である。
Here, G 0 and D are the center gain and sensitivity of the variable gain amplifier circuit 3, respectively.

【0052】制御回路5は上述した制御電圧VC と補正
設定電圧VSCとを入力とする差動回路であり,2つのト
ランジスタ11,12,これらのトランジスタ11,12をそれ
ぞれ駆動する電流源14,15,これらのトランジスタ11と
12のエミッタ間に接続された抵抗13,これらのトランジ
スタ11,12のコレクタ側に接続された逆流防止用ダイオ
ード16,17および電流制限抵抗18から構成されている。
制御電圧VC はトランジスタ11のベースに,補正設定電
圧VSCはトランジスタ12のベースにそれぞれ与えられ
る。この差動回路の出力電圧が,図2に示す周波数可変
アクティブ・フィルタのGCA1およびGCA2にそれ
らのゲインを制御するための制御電圧として与えられる
ことになる。これらのGCA1,GCA2によって演算
増幅器51,52の伝達コンダクタンスgm1,gm2がそれぞ
れ調整される。
The control circuit 5 is a differential circuit which receives the above-mentioned control voltage V C and correction set voltage V SC as inputs, and includes two transistors 11 and 12 and a current source 14 for driving these transistors 11 and 12 respectively. , 15, these transistors 11 and
It comprises a resistor 13 connected between the emitters 12 of the transistor 12, diodes 16 and 17 for preventing backflow connected to the collectors of the transistors 11 and 12, and a current limiting resistor 18.
The control voltage V C is applied to the base of the transistor 11, and the correction setting voltage V SC is applied to the base of the transistor 12. The output voltage of the differential circuit is supplied to GCA1 and GCA2 of the variable frequency active filter shown in FIG. 2 as control voltages for controlling their gains. The transmission conductances g m1 and g m2 of the operational amplifiers 51 and 52 are adjusted by these GCA1 and GCA2, respectively.

【0053】これらの伝達コンダクタンスを一括してg
m で表わす。伝達コンダクタンスgm は誤差係数γとG
CA1またはGCA2に与えられる制御電圧との関数で
あり,次式で与えられる。
These transfer conductances are collectively expressed as g
Expressed by m . The transfer conductance g m is determined by the error coefficient γ and G
This is a function with the control voltage applied to CA1 or GCA2, and is given by the following equation.

【0054】[0054]

【数12】 gm =(gm0/γ)[1+A(VSC−VC )] ‥‥式14G m = (g m0 / γ) [1 + A (V SC −V C )]

【0055】ここでgm0は基準の伝達コンダクタンス,
Aは制御回路5によるGCA1またはGCA2の制御感
度である。
Where g m0 is the reference transconductance,
A is the control sensitivity of GCA1 or GCA2 by the control circuit 5.

【0056】後に詳述するように,RC誤差検出回路1
から出力される補正電圧ΔVは次式で与えられる。
As will be described in detail later, the RC error detection circuit 1
Is given by the following equation.

【0057】[0057]

【数13】ΔV=K(γ−1) ‥‥式15 ここでKは定数である。ΔV = K (γ−1) ‥‥ 15 where K is a constant.

【0058】式15を式12,式13に代入するとそれぞれ次
式が得られる。
By substituting equation (15) into equations (12) and (13), the following equations are obtained.

【0059】[0059]

【数14】VC =BK(γ−1) ‥‥式16 VSC=γG0 S ‥‥式17 ただしD=1/Kとおく。V C = BK (γ-1) {Equation 16 V SC = γ G 0 V S } Equation 17 where D = 1 / K.

【0060】式16および式17を式14に代入して次式を得
る。
By substituting Equations 16 and 17 into Equation 14, the following equation is obtained.

【0061】[0061]

【数15】gm =gm0(1+AG0 S ) ‥‥式18 ただしB=−1/AKとおく。G m = g m0 (1 + AG 0 V S ) {Equation 18 where B = −1 / AK.

【0062】このようにして,式18から誤差係数γが消
去される。すなわち,式18は,可変周波数アクティブ・
フィルタの伝達コンダクタンスgm (すなわちカットオ
フ周波数ω0 )は,この回路内のRC誤差に関係なく設
定電圧VS のみによって制御されることになる。
In this way, the error coefficient γ is eliminated from the equation (18). That is, Equation 18 gives the variable frequency active
The transfer conductance g m of the filter (that is, the cutoff frequency ω 0 ) is controlled only by the set voltage V S irrespective of the RC error in this circuit.

【0063】図4のグラフとの関係で説明すると,補正
電圧ΔVによって補正された補正設定電圧VSC(式13ま
たは式17)によって特性直線がシフトされ,制御電圧V
C (式12または式16)によって特性直線の傾きが修正さ
れる。
Referring to the relationship with the graph of FIG. 4, the characteristic straight line is shifted by the correction set voltage V SC (Equation 13 or 17) corrected by the correction voltage ΔV, and the control voltage V SC
C (equation 12 or equation 16) corrects the slope of the characteristic line.

【0064】このようにして,ICプロセスにおいて生
じるRCのばらつきにかかわらず,設定した電圧VS
よって規定されるカットオフ周波数をもつフィルタが得
られるので,使い勝手が非常によいものとなる。
In this way, a filter having a cutoff frequency defined by the set voltage V S is obtained irrespective of the variation in RC occurring in the IC process, so that the usability is very good.

【0065】次にRC誤差検出回路1の具体的構成例に
ついて図5から図9を参照して説明する。
Next, a specific configuration example of the RC error detection circuit 1 will be described with reference to FIGS.

【0066】図5において,RC誤差検出回路1は,2
つの充放電回路20,30と,差動増幅器7と,ホールド・
コンデンサCH とを含んでいる。これらの充放電回路2
0,30にはそれぞれ抵抗とコンデンサが含まれている。
2つの充放電回路20,30のうちのいずれか一方の充放電
回路に含まれる抵抗とコンデンサがIC内に形成され,
他方の充放電回路に含まれる抵抗とコンデンサがICの
外部に設けられている。この実施例では,後に詳述する
ように,充放電回路30の抵抗RB とコンデンサC B が他
の回路構成要素とともにIC内にICプロセスにより形
成されており,充放電回路20の抵抗RA とコンデンサC
A がICの外部に設けられ,外付けによりICに接続さ
れている。
In FIG. 5, the RC error detection circuit 1
Charge / discharge circuits 20, 30; differential amplifier 7;
Capacitor CHAnd These charge and discharge circuits 2
0 and 30 include a resistor and a capacitor, respectively.
Charge / discharge of one of the two charge / discharge circuits 20, 30
The resistors and capacitors included in the circuit are formed in the IC,
The resistor and capacitor included in the other charge / discharge circuit
It is provided outside. This embodiment will be described in detail later.
As shown in FIG.BAnd capacitor C BBut others
Formed by IC process in IC together with other circuit components
And the resistance R of the charge / discharge circuit 20AAnd capacitor C
AIs provided outside the IC, and is connected to the IC externally.
Have been.

【0067】充放電回路20は,リセット電源23(電源電
圧=VR ),コンデンサCA ,コンデンサCA に充電す
るための電流を供給する定電流源22およびコンデンサC
A の充放電を制御するスイッチング素子21から構成され
ている。
The charge / discharge circuit 20 includes a reset power supply 23 (power supply voltage = V R ), a capacitor C A , a constant current source 22 for supplying a current for charging the capacitor C A , and a capacitor C A.
It comprises a switching element 21 for controlling the charging and discharging of A.

【0068】定電流源22の一例が図6に示されている。
この定電流源22はトランジスタ24,25と,これらのトラ
ンジスタ24,25の負荷抵抗およびバイアス抵抗を兼ねる
抵抗RR ,RA と,電流ミラー26とから構成されてい
る。抵抗RA は上述のようにコンデンサCA とともにI
C回路に対して外付けとされている。2つの抵抗RR
トランジスタ24によってトランジスタ25のエミッタ電位
がVCC/2に定められる。VCCは電源電圧である。した
がって,トランジスタ25にはVCC/2RA の電流が流
れ,この電流が電流ミラー26から出力されることにな
る。定電流源22の出力電流IA は,
An example of the constant current source 22 is shown in FIG.
The constant current source 22 includes transistors 24 and 25, resistors R R and R A which also serve as load resistance and bias resistance of the transistors 24 and 25, and a current mirror 26. Resistor RA is coupled with capacitor C A as described above.
It is external to the C circuit. By two resistors R R and transistor 24 emitter potential of the transistor 25 is determined to V CC / 2. V CC is a power supply voltage. Accordingly, the current of V CC / 2R A flows in the transistor 25, this current is to be output from the current mirror 26. Output current I A of the constant current source 22,

【数16】IA =VCC/2RA ‥‥式19 で与えられる。定電流源22で使用されるトランジスタの
タイプ(pnpとnpn)を交換することにより出力電
流の方向が逆になるのはいうまでもない。
## EQU16 ## I A = V CC / 2R Aら れ る given by equation (19). It goes without saying that the direction of the output current is reversed by exchanging the types of transistors (pnp and npn) used in the constant current source 22.

【0069】この充放電回路20の充放電タイミングおよ
び充放電電圧波形が図9に示されている。
FIG. 9 shows the charge / discharge timing and charge / discharge voltage waveform of this charge / discharge circuit 20.

【0070】クロック・パルスCLKによってスイッチ
ング素子21がオンとされる。これによりコンデンサCA
に蓄えられていた負の電荷が急速に放電され,コンデン
サCA の端子電圧VA はリセット電圧電源23のリセット
電圧VR になる。
The switching element 21 is turned on by the clock pulse CLK. Thereby, the capacitor C A
Negative charge accumulated in the rapidly discharged, the terminal voltage V A of the capacitor C A is the reset voltage V R of the reset voltage source 23.

【0071】クロック・パルスCLKが立下がってスイ
ッチング素子21がオフとなると,電流源22から出力され
る電流IA がコンデンサCA に流入し,コンデンサCA
が負に充電される。これによってコンデンサCA の端子
電圧VA は下降していく。
[0071] When a clock pulse CLK and the switching element 21 is turned off the fall, the current I A which is output from the current source 22 flows into the capacitor C A, the capacitor C A
Is negatively charged. This is the terminal voltage V A of the capacitor C A descends.

【0072】次のクロック・パルスCLKの入力によっ
てスイッチング素子21がオンとなると,コンデンサCA
が放電され,コンデンサCA の端子電圧VA はリセット
電圧VR に戻る。上記の動作がクロック・パルスCLK
の周期で繰返されていく。コンデンサCAの端子電圧V
A は差動増幅器7の正入力端子に与えられる。
When the switching element 21 is turned on by the input of the next clock pulse CLK, the capacitor C A
There is discharged, the terminal voltage V A of the capacitor C A is returned to the reset voltage V R. The above operation is performed using the clock pulse CLK.
It is repeated in the cycle of. The terminal voltage V of the capacitor C A
A is supplied to the positive input terminal of the differential amplifier 7.

【0073】充放電回路30は,リセット電源33(電源電
圧VR),コンデンサCB ,コンデンサCB に充電する
ための電流源32およびコンデンサCB の充放電を制御す
るためのスイッチング素子31から構成されている。スイ
ッチング素子31はスイッチング素子21を制御するものと
同じクロック・パルスCLKによりオン,オフ制御され
る。充放電回路30の充放電動作は充放電回路20の充放電
動作と基本的に同じであり,コンデンサCB の端子電圧
Bの変化の様子が図9に示されている。
[0073] charge-discharge circuit 30, a reset power supply 33 (power supply voltage V R), the capacitor C B, from the current source 32 and a switching element 31 for controlling the charging and discharging of the capacitor C B for charging the capacitor C B It is configured. The switching element 31 is turned on and off by the same clock pulse CLK that controls the switching element 21. Charging and discharging operations of the charge and discharge circuit 30 is basically the same as the charging and discharging operation of the charging and discharging circuit 20, how the change in the terminal voltage V B of the capacitor C B is shown in FIG.

【0074】コンデンサCB の端子電圧VB が差動増幅
器7の負入力端子に与えられる。差動増幅器7の出力電
圧VO はコンデンサCH にホールドされるとともに,充
放電回路30の電流源32にフィードバックされる。これに
より,2つの充放電回路20と30の出力電圧VA とVB
差が零になるような電圧VO が得られることになる。
[0074] the terminal voltage V B of the capacitor C B is supplied to the negative input terminal of the differential amplifier 7. The output voltage V O of the differential amplifier 7 is held in the capacitor C H, it is fed back to the current source 32 of the charge and discharge circuit 30. Thus, the difference between the output voltage V A and V B of the two charging and discharging circuit 20 and 30 is that the voltage V O such that zero is obtained.

【0075】電流源32の構成例が図7に示されている。
この電流源32は2つの同じ値の電流Ib を発生する定電
流源40と,これらの電流Ib によって駆動される差動回
路と,電流ミラー43とから構成されている。差動回路
は,一方の電流Ib が流入するトランジスタ41と,他方
の電流Ib が流入するトランジスタ42と,これらのトラ
ンジスタ41と42のエミッタ間に接続された抵抗RC とか
ら構成されている。一方のトランジスタ41のベースに基
準電圧VE が印加され,他方のトランジスタ42のベース
に差動増幅器7の出力電圧VO が印加される。抵抗RC
にはこれらの電圧の差,
FIG. 7 shows an example of the configuration of the current source 32.
This current source 32 is a constant current source 40 for generating a current I b of the two same values, and the differential circuit is driven by these currents I b, and a current mirror 43. Differential circuit includes transistors 41 in which one of the current I b flows, the transistor 42 which is the other current I b flows, is composed of these transistors 41 and 42 connected to a resistor R C between the emitters of I have. The reference voltage VE is applied to the base of one transistor 41, and the output voltage V O of the differential amplifier 7 is applied to the base of the other transistor 42. Resistance R C
Is the difference between these voltages,

【数17】ΔV=VE −VO ‥‥式20 に応じた電流ΔV/RC が流れる。ΔV = V E −V O電流 A current ΔV / RC according to the expression 20 flows.

【0076】電流ミラー43は,トランジスタ41に接続さ
れた一方のトランジスタ43aと他方のトランジスタ43b
とから構成されている。トランジスタ43aに流れる電流
はIb −ΔV/RC となるので,電流ミラー43の出力電
流IB もこれに等しい値の電流となる。
The current mirror 43 includes one transistor 43a connected to the transistor 41 and the other transistor 43b.
It is composed of Since the current flowing through the transistor 43a becomes I b -ΔV / R C, the current of the output current I B is also equal to the value of the current mirror 43.

【0077】[0077]

【数18】IB =Ib −ΔV/RC ‥‥式21Equation 18] I B = I b -ΔV / R C ‥‥ formula 21

【0078】定電流源40の構成例が図8に示されてい
る。この定電流源40は基本的には図6に示す定電流源22
と同じ構成であり,2つのバイアス抵抗RR と,2つの
トランジスタ34,35と,出力電流値を定める抵抗R
B と,2出力電流ミラー36とから構成されている。2出
力電流ミラー36は2つの同じ値の電流を出力するためで
ある。この定電流源40の出力電流Ib は次式で与えられ
る。
FIG. 8 shows a configuration example of the constant current source 40. This constant current source 40 is basically a constant current source 22 shown in FIG.
And two bias resistors R R , two transistors 34 and 35, and a resistor R that determines an output current value.
B and a two-output current mirror 36. The two-output current mirror 36 outputs two currents of the same value. The output current I b of the constant current source 40 is given by the following equation.

【0079】[0079]

【数19】Ib =VCC/2RB ‥‥式22Equation 19] I b = V CC / 2R B ‥‥ formula 22

【0080】上述のように,充放電回路30における抵抗
B とコンデンサCB はIC内にICプロセスにより作
製されている。充放電回路20における抵抗RA とコンデ
ンサCA は外付けであり,ICプロセスの影響を受けな
い。したがって,抵抗RA とコンデンサCA とを基準と
した場合に,ICプロセスばらつきにより生じる抵抗R
B とコンデンサCB におけるR,C誤差は,これらの充
放電回路20と30における時定数の差として現われ,それ
は図9に示すようにコンデンサCA とCB の端子電圧V
A とVB の差として現われる。
[0080] As described above, the charge and discharge circuit 30 resistance R B and capacitor C B in are produced by IC process the IC. The resistor R A and the capacitor C A in the charge / discharge circuit 20 are external and are not affected by the IC process. Therefore, when the resistance R A and the capacitor C A are used as references, the resistance R
R, C error in B and capacitor C B, appears as the difference in time constants in these charging and discharging circuit 20 and 30, it is the terminal voltage V of the capacitor C A and C B as shown in FIG. 9
It appears as the difference between the A and V B.

【0081】抵抗RB とコンデンサCB においてICプ
ロセスばらつきによる生じるR,C誤差を次に定量的に
説明する。
[0081] caused by the IC process variations in the resistance R B and capacitor C B R, then quantitatively describing the C error.

【0082】クロック・パルスCLKの一周期内におい
て,充放電回路20,30におけるコンデンサCA ,CB
端子電圧VA ,VB の時間変化は次式で表わされる。t
は時間を表わす。
[0082] In the one period of the clock pulse CLK, the capacitor C in the charge-discharge circuit 20, 30 A, C B of the terminal voltage V A, the time variation of V B is expressed by the following equation. t
Represents time.

【0083】[0083]

【数20】VA =VR −(IA /CA )t ‥‥式23V A = V R − (I A / C A ) t (23)

【0084】[0084]

【数21】VB =VR −(IB /CB )t ‥‥式24V B = V R- (I B / C B ) t Equation 24

【0085】また,差動増幅器7の伝達コンダクタンス
をgとした場合に,この差動増幅器7の出力電圧VO
次式で与えられる。
When the transfer conductance of the differential amplifier 7 is g, the output voltage V O of the differential amplifier 7 is given by the following equation.

【0086】[0086]

【数22】VO =[g(VA −VB )/CH ]t ‥‥
式25
V O = [g (V A −V B ) / C H ] t ‥‥
Equation 25

【0087】式25に式23および式24を代入し,さらに式
23,24のIA ,IB の値として式19,式21および22を用
いると次のようになる。
Substituting Equations 23 and 24 into Equation 25,
23 and 24 of I A, Formula 19 as the value of I B, the use of expressions 21 and 22 as follows.

【0088】[0088]

【数23】 VO =gVCC[(1/2RB B H )−(1/2RA A H )]t2 −gΔV(1/RC B H )t2 ‥‥式26Equation 23] V O = gV CC [(1 / 2R B C B C H) - (1 / 2R A C A C H)] t 2 -gΔV (1 / R C C B C H) t 2 ‥‥ Equation 26

【0089】式26に式20を代入し,ΔVについて導くと
次式が得られる。
By substituting equation 20 into equation 26 and deriving ΔV, the following equation is obtained.

【0090】[0090]

【数24】 ΔV=VE /{1−[g/(CH B C )]t2 } −(gVCC/2CH )[(1/CB B )−(1/CA A )]t2 / [1−(g/CH B C )t2 ] ‥‥式27Equation 24] ΔV = V E / {1- [ g / (C H C B R C)] t 2} - (gV CC / 2C H) [(1 / C B R B) - (1 / C A R A)] t 2 / [ 1- (g / C H C B R C) t 2] ‥‥ formula 27

【0091】tを∞とすると,最終的にはIf t is ∞, finally

【数25】 ΔV=(VCC/2)[(RC /RB )−CB C /CA A )] ‥‥式28 となる。Equation 25] [Delta] V = the (V CC / 2) [( R C / R B) -C B R C / C A R A)] ‥‥ formula 28.

【0092】RA ,CA を基準として,On the basis of R A and C A ,

【数26】RA =RO ‥‥式29 CA =CO ‥‥式30と置く。IC製造プロセスにおい
て生じるR,C誤差をそれぞれα,βとすると,RB
B ,RC は次式で与えられる。
Equation 26] puts the R A = R O ‥‥ formula 29 C A = C O ‥‥ formula 30. If R and C errors generated in the IC manufacturing process are α and β, respectively, R B ,
C B and R C are given by the following equations.

【0093】[0093]

【数27】RB =αRO ‥‥式31 CB =βCO ‥‥式32 RC =αRC0 ‥‥式33Equation 27] R B = αR O ‥‥ formula 31 C B = βC O ‥‥ formula 32 R C = αR C0 ‥‥ formula 33

【0094】式29〜式33を用いると,式28は次のように
なる。
Using equations 29 to 33, equation 28 becomes as follows.

【0095】[0095]

【数28】 ΔV=−(VCC/2)(RC0/RO )(γ−1) ‥‥式34 ただしαβ=γΔV = − (V CC / 2) (R C0 / R O ) (γ−1) Equation 34 where αβ = γ

【0096】ここで,Here,

【数29】K=−(VCC/2)(RC0/RO )‥‥式35 とおけば式15が得られる。K = − (V CC / 2) (R C0 / R O ) ‥‥ Equation 35 gives Equation 15.

【0097】図5において,差動増幅器8においてΔV
=VC −V0 の演算が行われ,補正電圧ΔVが出力され
る。ここで差動増幅器8のゲインを1に設定している。
In FIG. 5, ΔV
= V C -V 0 , and the correction voltage ΔV is output. Here, the gain of the differential amplifier 8 is set to 1.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】時定数可変回路における従来の時定数調整方法
を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a conventional time constant adjusting method in a time constant variable circuit.

【図2】アクティブ・フィルタにおける従来のカットオ
フ周波数調整方法を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional method for adjusting a cutoff frequency in an active filter.

【図3】この発明による時定数自動調整回路の構成を示
す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a time constant automatic adjustment circuit according to the present invention.

【図4】設定電圧とカットオフ周波数との関係を示すグ
ラフである。
FIG. 4 is a graph showing a relationship between a set voltage and a cutoff frequency.

【図5】RC誤差検出回路の構成例を示す回路図であ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a configuration example of an RC error detection circuit.

【図6】一方の充放電回路における定電流源の具体的構
成例を示す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific configuration example of a constant current source in one charge / discharge circuit.

【図7】他方の充放電回路における電流源の具体的構成
例を示す回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a specific configuration example of a current source in the other charge / discharge circuit.

【図8】図7における電流源で用いられる定電流源の具
体的構成を示す回路図である。
8 is a circuit diagram showing a specific configuration of a constant current source used in the current source in FIG.

【図9】クロック・パルスおよび充放電電圧波形を示す
波形図である。
FIG. 9 is a waveform diagram showing clock pulses and charge / discharge voltage waveforms.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 RC誤差検出回路 2 増幅回路 3 可変ゲイン増幅回路 4 GCA制御回路 5 制御回路 10 時定数自動調整回路 50 時定数可変回路 Reference Signs List 1 RC error detection circuit 2 Amplifier circuit 3 Variable gain amplifier circuit 4 GCA control circuit 5 Control circuit 10 Time constant automatic adjustment circuit 50 Time constant variable circuit

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 与えられる制御電圧により時定数が可変
制御される,半導体基板上にICプロセスにより形成さ
れた時定数可変回路,上記半導体基板上に形成され,I
Cプロセスのばらつきによって生じるRC誤差を検出
し,RC誤差を表わす補正電圧を出力するRC誤差検出
回路,上記時定数可変回路の時定数を設定するための外
部から与えられる設定電圧を,上記RC誤差検出回路か
ら出力される補正電圧によって補正し,この補正された
設定電圧を出力する設定電圧補正回路,上記RC誤差検
出回路から出力される補正電圧に基づいて,設定電圧を
固定した場合のRC誤差に基づく時定数変化分を補正す
るための第1の制御電圧を出力する第1の制御回路,な
らびに上記補正設定電圧と第1の制御電圧とを入力と
し,上記時定数可変回路の時定数がRC誤差に関係なく
上記設定電圧によって定められるように,上記制御電圧
として第2の制御電圧を作成して上記時定数可変回路に
与える第2の制御回路,を備えた時定数自動調整回路。
1. A time constant variable circuit formed on a semiconductor substrate by an IC process, wherein a time constant is variably controlled by an applied control voltage.
An RC error detection circuit for detecting an RC error caused by a variation in the C process and outputting a correction voltage representing the RC error, and an externally set voltage for setting a time constant of the time constant variable circuit is determined by the RC error A setting voltage correction circuit that corrects with a correction voltage output from the detection circuit and outputs the corrected setting voltage, and an RC error when the setting voltage is fixed based on the correction voltage output from the RC error detection circuit. A first control circuit for outputting a first control voltage for correcting a change in a time constant based on the first control voltage and the correction setting voltage and the first control voltage as inputs; A second control circuit for generating a second control voltage as the control voltage and applying the second control voltage to the time constant variable circuit so as to be determined by the set voltage regardless of an RC error; Constant automatic adjusting circuit which includes a.
【請求項2】 上記時定数可変回路が周波数可変アクテ
ィブ・フィルタであり,上記設定電圧によってそのカッ
トオフ周波数が制御される,請求項1に記載の時定数自
動調整回路。
2. The automatic time-constant adjustment circuit according to claim 1, wherein said time-constant variable circuit is a frequency-variable active filter, and said cut-off frequency is controlled by said set voltage.
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