JP2712642B2 - Component tilt detection method - Google Patents
Component tilt detection methodInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電子部品装着機において、電子部品の装着
補正角度を求める部品傾き検出方法に関するものであ
る。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a component inclination detecting method for obtaining a mounting correction angle of an electronic component in an electronic component mounting machine.
従来の技術 電子部品を基板上にマウントする電子部品装着機にお
いて、装着する電子部品は、以前は規正メカニズムによ
って位置決めされていたが、最近は視覚認識装置を使用
して部品の位置及び傾きを検出し、位置及び傾きの補正
を行った後、装着するようになってきている。2. Description of the Related Art In an electronic component mounting machine that mounts electronic components on a substrate, the electronic components to be mounted were previously positioned by a setting mechanism, but recently, the position and inclination of the components are detected using a visual recognition device. Then, after the position and the inclination are corrected, they are mounted.
視覚認識を応用した電子部品の傾き検出には、従来部
品の重心まわりの慣性相乗モーメント及び慣性2次モー
メントを求めて傾きを得る方法がある。In order to detect the inclination of an electronic component to which visual recognition is applied, there is a conventional method of obtaining a tilt by obtaining a synergistic moment of inertia and a second moment of inertia around the center of gravity of the component.
この方法は部品を楕円近似し、その長軸をもって部品
の傾きとするものである。In this method, a part is approximated by an ellipse, and its major axis is used as the inclination of the part.
発明が解決しようとする課題 しかし、この方法では、部品の形状が正方形に近い場
合主軸が定まらず傾きが求められないことと、部品を吸
着しているノズルが部品の輪郭からはみ出している場合
主軸がノズルに引かれて求められる傾きと本来の部品の
傾きにズレを生じるという問題点があった。However, in this method, when the shape of the component is close to a square, the main axis is not determined and the inclination is not obtained, and when the nozzle sucking the component protrudes from the contour of the component, the main shaft is There is a problem that a difference is generated between the inclination obtained by being drawn by the nozzle and the original inclination of the component.
そこで本発明は、部品の形状が正方形に近い場合も、
部品から一部ノズルがはみ出している場合にも部品の傾
きを正確に求められるようにするものである。Therefore, the present invention, even when the shape of the part is nearly square,
Even if some nozzles protrude from the part, the inclination of the part can be accurately obtained.
課題を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明は,部品を含んだ
画像を構成する画素に対して,その画素を基準とした輝
度変化の方向を示す角度を検出する第1工程と,前記第
1工程の処理を前記画像内の複数画素に対して行う第2
工程と,前記第2工程で得られた複数個の角度の値か
ら,角度別の頻度を示す編角ヒストグラムを作成する第
3工程と,第3工程で得られた編角ヒストグラムにおい
て,その極大点を検出することによって部品の傾きを求
める第4工程とからなる部品傾き検出方法であって,第
1工程は,部品の輪郭を検出する工程と,検出された部
品の輪郭上に所定の間隔を有する2点を設定する工程
と,前記工程で設定された2点を結ぶベクトルが基準軸
となす角度を求める工程とからなり,第2工程を第1工
程で検出された部品の輪郭全体にわたり実施することを
特徴としたものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention provides a first method for detecting an angle indicating a direction of a luminance change with respect to a pixel constituting an image including a component with reference to the pixel. And a second step of performing the processing of the first step on a plurality of pixels in the image.
A step of creating a stitch angle histogram indicating a frequency for each angle from the plurality of angle values obtained in the second step, and a stitch angle histogram obtained in the third step. A component inclination detecting method comprising: detecting a point to determine an inclination of the part; and a first step of detecting the outline of the part and a predetermined interval on the outline of the detected part. And a step of determining an angle between a vector connecting the two points set in the above step and a reference axis. The second step is performed over the entire contour of the component detected in the first step. It is characterized in that it is implemented.
作 用 以上、本発明によると、直線部分の角度で部品の傾き
を与えるので、部品の形状が正方形に近い場合や、部品
から一部ノズルがはみ出している場合にも部品の傾きを
正確に求めることができる。Operation As described above, according to the present invention, the inclination of a component is given by the angle of a straight line portion, so that the inclination of the component is accurately obtained even when the shape of the component is close to a square or when a nozzle partially protrudes from the component. be able to.
実 施 例 以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明す
る。Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
多くの電子部品の輪郭は第2図a,b,c,dのように直線
部分をもち、部品の傾きは、部品の長手方向の直線部分
の傾きで代表されると考えることができる。さて、第3
図のように、任意の輪郭上の1点PAとその点から一定間
隔離れた輪郭上の他の点PBを結ぶベクトルが基準軸とな
る角θは、輪郭上のある点PCの接線の傾きを表し、これ
から部品の輪郭全体にわたり角度別の頻度すなわち偏角
ヒストグラムをとった場合、第4図に示したように接線
の傾きが共通な直線部分で角度の成分が強く現れる。こ
の偏角ヒストグラムの角度のピークが部品の長手方向の
直線部分の傾きを表す。なお、部品の輪郭の形状が正方
形である場合には、長手方向と直交する方向と長手方向
との区別はつかないが、90゜以内での部品の傾きを求め
ることはできる。The outlines of many electronic components have linear portions as shown in FIGS. 2A, 2B, 2C, and 2D, and the inclination of the component can be considered to be represented by the inclination of the linear portion in the longitudinal direction of the component. Well, the third
As shown in the figure, an angle θ, which is a reference axis between a vector connecting a point P A on an arbitrary contour and another point P B on the contour at a fixed distance from the point, is defined as the angle θ of a point P C on the contour. When the inclination of the tangent is expressed and the frequency of each angle, that is, the deviation histogram is taken over the entire contour of the part, the angle component appears strongly in a straight line portion where the inclination of the tangent is common as shown in FIG. The peak of the angle of the declination histogram indicates the inclination of the linear portion in the longitudinal direction of the component. When the shape of the outline of the component is a square, it is indistinguishable between the direction orthogonal to the longitudinal direction and the longitudinal direction, but the inclination of the component within 90 ° can be obtained.
一方、部品の輪郭を構成する直線が互いになす角は既
知であり、その多くは互いに0゜,90゜,180゜,270゜で
あるので、第5図(a)から同(b)を作成するよう
に、偏角ヒストグラムを90゜ごとに分割し変位させ累算
すれば、すべての直線を考慮した傾きの検出ができる。On the other hand, the angles formed by the straight lines constituting the contour of the part are known, and most of the angles are 0 °, 90 °, 180 °, and 270 °, and therefore, FIG. As described above, if the deflection angle histogram is divided every 90 °, displaced and accumulated, the inclination can be detected in consideration of all the straight lines.
第8図は本発明を適用する視覚認識装置の概略説明図
である。吸着ノズル1によって吸着された電子部品4を
照明3が反射板2を照らして得られる透過光のもとで、
TVカメラ5によって撮像し、視覚認識装置6内部の2値
化回路9によって2値化されたパターンを画像メモリ8
に取込む。以後の処理はCPU9が画像メモリを参照するこ
とによって行う。FIG. 8 is a schematic explanatory diagram of a visual recognition device to which the present invention is applied. The illumination 3 illuminates the electronic component 4 sucked by the suction nozzle 1 under the transmitted light obtained by illuminating the reflection plate 2,
A pattern captured by the TV camera 5 and binarized by the binarization circuit 9 inside the visual recognition device 6 is stored in the image memory 8.
Take in. Subsequent processing is performed by the CPU 9 referring to the image memory.
第1図は、本発明の部品傾き検出方法に関するフロー
チャートである。以下これに基づい説明する。FIG. 1 is a flowchart relating to the component inclination detecting method of the present invention. Hereinafter, description will be made based on this.
まず、パターンの輪郭を点群として検出して、輪郭を
構成する点群の座標リストを作成する(SP2)。次に部
品の輪郭全体にわたり(SP3)、次のような方法で偏角
ヒストグラムを作成する。First, the contour of the pattern is detected as a point group, and a coordinate list of the point group forming the contour is created (SP2). Next, over the entire contour of the part (SP3), an argument histogram is created by the following method.
輪郭の座標リストから任意の輪郭上の1点とその点か
ら所定の間隔だけ離れた他の点を設定し(SP4)、それ
らを結ぶベクトルが水平軸となす角度すなわち偏角を計
算する(SP5)。さて、偏角ヒストグラムとは、360゜を
n等分(nは適当な自然数)することによってできたn
個のそれぞれの区間に、逐次求められる偏角が属する回
数すなわち頻度を求めたものである。いま求められた偏
角をm゜,k番目の区間の頻度をH(k)とすれば、 H(〔mn/360〕+1)←H(〔mn/360〕+1)+1 とすることにより、偏角ヒストグラムへの加算を行う
(SP6)。One point on an arbitrary contour and another point separated by a predetermined distance from the point are set from the contour coordinate list (SP4), and the angle between the vectors connecting them and the horizontal axis, that is, the argument is calculated (SP5). ). Now, the argument histogram is obtained by dividing 360 ° into n equal parts (n is an appropriate natural number).
The number of times, ie, the frequency, to which the declination sequentially obtained belongs to each of the sections is obtained. If the declination just obtained is m い ま and the frequency of the kth section is H (k), then H ([mn / 360] +1) ← H ([mn / 360] +1) +1 Addition to the argument histogram is performed (SP6).
次に、角チップのように部品の輪郭を構成する主要な
直線が90゜の整数倍であるような場合、偏角ヒストグラ
ムを第5図(b)0゜,90゜,180゜,270゜だけ角度をず
らせて累算したものを偏角ヒストグラムとする(SP
8)。Next, in the case where the main straight line constituting the outline of the component is an integral multiple of 90 ° like a square chip, the argument histogram is shown in FIG. 5 (b) at 0 °, 90 °, 180 °, 270 °. The angle histogram is calculated by shifting the angle only (SP
8).
こうして得られた偏角ヒストグラムに対し、第6図の
ように2j−1個(jは適当な自然数)の区間の頻度の和
が最大になるような区間の中心を角度のピークとして求
める(SP9)。すなわち が最大になるtを求める。最後に上記区間において角度
の重心を求めて、傾き得る(SP10)。From the declination histogram thus obtained, the center of the section where the sum of the frequencies of 2j-1 sections (j is an appropriate natural number) becomes maximum as shown in FIG. 6 is obtained as the angle peak (SP9). ). Ie Is determined so that is maximized. Finally, in the above section, the center of gravity of the angle is obtained and the inclination can be obtained (SP10).
なお、部品の形状が正方形の場合は偏角ヒストグラム
を90゜単位でずらせて累算することにより、90゜以内の
傾きを知ることができる。If the shape of the component is a square, the inclination within 90 ° can be known by shifting and accumulating the declination histogram in units of 90 °.
また、ノズルの一部が部品からはみ出している場合
に、ノズルの部分が部品に比べ一般に小さいことと、ノ
ズルの形状が通常円形で、第7図のように偏角ヒストグ
ラムの上では角度の頻度が分散することにより、ノズル
の影響をほとんど受けることなく傾き検出ができる。In addition, when a part of the nozzle protrudes from the part, the nozzle part is generally smaller than the part, and the nozzle shape is usually circular, and as shown in FIG. Is dispersed, the inclination can be detected almost without being affected by the nozzle.
発明の効果 本発明は、輪郭上のベクトルの傾きの頻度を検出し、
直線部分の角度で部品の傾きを与えるので、部品の形状
が正右形に近い場合や、部品から一部ノズルがはみ出し
ている場合にも部品の傾きを正確に求めることができ
る。The present invention detects the frequency of the inclination of the vector on the contour,
Since the inclination of the component is given by the angle of the linear portion, the inclination of the component can be accurately obtained even when the shape of the component is close to a right-right shape or when a part of the nozzle protrudes from the component.
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の部品傾き検出方法を示すフローチャー
ト図、第2図は電子部品の輪郭と傾きを表す直線を示し
た図、第3図は輪郭上の2点を結ぶ線がある輪郭上の点
の接線と平行であることを示した図、第4図は輪郭全体
にわたって偏角ヒストグラムを作成した場合を説明した
図、第5図は偏角ヒストグラムを90゜ごとに変位させ累
算することを説明した図、第6図は偏角ヒストグラムか
ら角度のピークを求める方法を示した図、第7図は偏角
ヒストグラムのノズルはみ出しによる影響を説明した
図、第8図は本発明による電子部品実装機の一実施例を
示した構成図である。 1……吸着ノズル、2……反射板、3……照明、4……
電子部品、5……TVカメラ、6……視覚認識装置、7…
…CPU、8……画像メモリ、9……2値化回路。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a flowchart showing a component inclination detecting method of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a straight line representing the outline and inclination of an electronic component, and FIG. 3 is two points on the outline. Is a diagram showing that a line connecting is parallel to a tangent of a point on a contour, FIG. 4 is a diagram illustrating a case where a declination histogram is created over the entire contour, and FIG. FIG. 6 is a diagram illustrating a method of calculating an angle peak from a declination histogram, FIG. 7 is a diagram illustrating an effect of a nozzle protruding from a declination histogram, FIG. FIG. 8 is a configuration diagram showing one embodiment of an electronic component mounting machine according to the present invention. 1 ... suction nozzle, 2 ... reflector, 3 ... illumination, 4 ...
Electronic parts, 5 TV camera, 6 Visual recognition device, 7
... CPU, 8 ... Image memory, 9 ... Binarization circuit.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森本 正通 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−134880(JP,A) 特開 昭61−152100(JP,A) 特開 昭60−28298(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (72) Inventor Masamichi Morimoto 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References JP-A-61-134880 (JP, A) JP-A-61- 152100 (JP, A) JP-A-60-28298 (JP, A)
Claims (3)
て,その画素を基準とした輝度変化の方向を示す角度を
検出する第1工程と,前記第1工程の処理を前記画像内
の複数画素に対して行う第2工程と,前記第2工程で得
られた複数個の角度の値から,角度別の頻度を示す編角
ヒストグラムを作成する第3工程と,第3工程で得られ
た編角ヒストグラムにおいて,その極大点を検出するこ
とによって部品の傾きを求める第4工程とからなる部品
傾き検出方法であって,第1工程は,部品の輪郭を検出
する工程と,検出された部品の輪郭上に所定の間隔を有
する2点を設定する工程と,前記工程で設定された2点
を結ぶベクトルが基準軸となす角度を求める工程とから
なり,第2工程を第1工程で検出された部品の輪郭全体
にわたり実施することを特徴とした部品傾き検出方法。A first step of detecting an angle indicating a direction of a luminance change based on the pixel with respect to a pixel constituting an image including a component, and the processing of the first step is performed in the image. A second step performed on a plurality of pixels, a third step of creating a stitch angle histogram indicating a frequency for each angle from the values of the plurality of angles obtained in the second step, and a third step. And a fourth step of calculating the inclination of the component by detecting the maximum point in the knitting angle histogram. The first step is a step of detecting the contour of the component and the step of detecting the outline of the component. A step of setting two points having a predetermined interval on the contour of the part, and a step of determining an angle between a vector connecting the two points set in the step and a reference axis. The second step is a first step. Perform over the entire contour of the detected part. Parts tilt detection method characterized.
グラムを所定角度だけ変位させて累算することにより得
た新たな編角ヒストグラムにおいて,その極大点を検出
することによって部品の傾きを求めることを特徴とした
特許請求の範囲第1項記載の部品傾き検出方法。2. In a fourth step, in a new stitch angle histogram obtained by displacing the stitch angle histogram in the third step by a predetermined angle and accumulating the same, the inclination of the component is detected by detecting the maximum point. The method for detecting component inclination according to claim 1, wherein the component inclination is obtained.
とする特許請求の範囲第2項記載の部品傾き検出方法。3. The method according to claim 2, wherein the predetermined angle is set to an integral multiple of 90 degrees.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259223A JP2712642B2 (en) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | Component tilt detection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259223A JP2712642B2 (en) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | Component tilt detection method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03121573A JPH03121573A (en) | 1991-05-23 |
| JP2712642B2 true JP2712642B2 (en) | 1998-02-16 |
Family
ID=17331114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1259223A Expired - Lifetime JP2712642B2 (en) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | Component tilt detection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2712642B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0658741A (en) * | 1992-08-05 | 1994-03-04 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Part tilt detection method |
| JP3076178B2 (en) * | 1993-07-22 | 2000-08-14 | 日本電気株式会社 | Wafer positioning direction calculator |
| JP2010271873A (en) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Hypergear:Kk | Tilt angle detection method for image |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6028298A (en) * | 1983-07-27 | 1985-02-13 | 株式会社日立製作所 | Electronic part carrying device |
| JPS61134880A (en) * | 1984-12-06 | 1986-06-21 | Fujitsu Ltd | Angle difference detector |
| JPS61152100A (en) * | 1984-12-26 | 1986-07-10 | ティーディーケイ株式会社 | Apparatus and method for mounting electronic component |
-
1989
- 1989-10-03 JP JP1259223A patent/JP2712642B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03121573A (en) | 1991-05-23 |
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