JP2611545B2 - 液体クロマトグラフィー用充填剤の製造方法 - Google Patents
液体クロマトグラフィー用充填剤の製造方法Info
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Description
ラスにアルキル基等の化学修飾基を導入した液体クロマ
トグラフィー用充填剤の製造方法に関し、更に詳述する
と、新規なエンドキャッピング法を用いた不活性な充填
剤の製造方法に関する。
高速液体クロマトグラフィー用充填剤として、シリカゲ
ルを各種の化学修飾基を有するシラン化合物でシリル化
することにより、シリカゲル表面のシラノール基に化学
修飾基を化学結合させたものが使用されている。なかで
もオクタデシルクロロシラン化合物を用いてシリカゲル
表面にオクタデシル基を導入したオクタデシルシリカゲ
ル充填剤(ODS)は広く使われている。また、その他
の化学修飾基としてはオクチル基、ブチル基、メチル
基、シアノプロピル基、フェニル基等が知られている。
充填剤は、高速液体クロマトグラフィーの実施に際し、
基材のシリカゲル表面に存在する残存シラノール基の影
響が問題となっている。即ち、極性溶質、特に塩基性溶
質は残存シラノール基と強く相互作用し、このため塩基
性溶質が溶出しなかったり、溶出が遅れたり、ピークの
テーリング現象が起きたり、再現性の良いクロマトグラ
ムが得られないなどの問題がある。
の影響を減少させる手段として、化学修飾基を結合させ
たシリカゲルをトリメチルクロロシラン等によって再度
シリル化し、残存シラノール基に短鎖アルキル基を化学
結合させるエンドキャッピングが行なわれている。
トルエン等の溶媒中でシリカゲルを二次シリル化するこ
とにより行なわれているが、このエンドキャッピングを
行なってもシラノール基はかなり残存し、ピークのテー
リングが生じるものであった。
で、新規なエンドキャッピング法を採用した残存シラノ
ール基の影響が極めて少ない液体クロマトグラフィー用
充填剤の製造方法を提供することを目的とする。
記目的を達成するために鋭意検討を行なった結果、エン
ドキャッピングに際し、従来のように溶媒中で反応を行
なわずに、気相中において250℃以上の温度でシリカ
ゲル又は多孔質ガラスとエンドキャップ剤との反応を行
なわせた場合、意外にも残存シラノール基の影響が非常
に少ない充填剤を合成できること見い出し、本発明をな
すに至った。
ラスに、炭素数1〜50のアルキル基、炭素数6〜50
のアリール基、及び炭素数1〜50のアルキル基の水素
原子の1又は2以上がシアノ基、水酸基、カルボキシ
基、酸アミド基、イミド基、スルホン基、アミノ基又は
グリセロイド基に置換された置換アルキル基から選ばれ
る基を化学修飾基として有するクロロシラン化合物、ア
ルコキシシラン化合物、シクロシロキサン化合物又はポ
リシロキサン化合物からなる化学修飾剤を溶媒中で反応
させて、シリカゲル又は多孔質ガラス表面のシラノール
基に上記化学修飾剤を化学結合させる工程と、この化学
修飾したシリカゲル又は多孔質ガラスに下記式(1)〜
(9)から選ばれる250〜420℃において液状又は
ガス状のエンドキャップ剤を気相中250℃以上の反応
温度で気相反応させて、シリカゲル又は多孔質ガラス表
面の残存シラノール基に上記エンドキャップ剤を化学結
合させる工程とを具備することを特徴とする液体クロマ
トグラフィー用充填剤の製造方法を提供する。
と、本発明においては、まず第1工程においてシリカゲ
ル又は多孔質ガラスに化学修飾基を有する化学修飾剤を
反応させることによりシリカゲル又は多孔質ガラス表面
のシラノール基に上記化学修飾基を化学結合させる。
性状は特に制限されないが、粒子径1〜1000μm、
より好ましくは2〜50μm、細孔径0〜10000
Å、より好ましくは60〜1000Å、比表面積1〜1
000m2/g、より好ましくは10〜600m2/g
のものが好適に使用できる。なお、シリカゲルは、細孔
径0Å、即ち、実質的に無細孔のものも使用し得る。
体クロマトグラフィー用充填剤として使用されているい
ずれのものも用いることができ、粒子径1〜1000μ
m、より好ましくは2〜50μm、細孔径0〜1000
0Å、より好ましくは60〜1000Å、比表面積1〜
1000m2/g、より好ましくは10〜600m2/
gのものが好適に使用できる。なお、多孔質ガラスとし
ては、SiO280〜99重量%、残部の主な成分がN
a2O,B2O3,Al2O3の1種又は2種以上であ
るものを使用し得る。
クチル基、n−ブチル基等の炭素数1〜50、より好ま
しくは1〜18のアルキル基、フェニル基等の炭素数6
〜50、より好ましくは6〜16のアリール基、更に炭
素数1〜50、より好ましくは1〜18のアルキル基の
水素原子の1又は2以上がシアノ基、水酸基、カルボキ
シル基、酸アミド基、イミド基、スルホン基、アミノ基
又はグリセロイル基に置換された置換アルキル基から選
ばれる基を化学修飾基として1〜3個有するクロロシラ
ンやアルコキシシラン又は上記化学修飾基を複数個、例
えば6〜100個有するシクロシロキサンやポリシロキ
サンが使用される。なお、上記アルコキシシランのアル
コキシ基としてはメトキシ基等の炭素数1〜3の低級ア
ルコキシ基が好適である。また、シクロシロキサンとし
てはケイ素原子3〜50が酸素原子を介してリングを形
成したものが好ましい。ポリシロキサンはケイ素原子を
2〜50有するものが好ましい。上記化学修飾剤として
は、表1に示すものが具体的に挙げられる。
は、ジメチルオクタデシルクロロ(メトキシ)シラン等
のモノクロロシラン化合物やモノアルコキシシラン化合
物を用いることもできるが、メチルオクタデシルジクロ
ロシラン等のジクロロシラン化合物、オクタデシルトリ
クロロシラン等のトリクロロシラン化合物、メチルオク
タデシルジメトキシシラン等のジアルコキシシラン化合
物、オクタデシルトリメトキシシラン等のトリアルコキ
シシラン化合物又は1,3,5,7−テトラオクタデシ
ル−1,3,5,7−テトラメチルシクロテトラシロキ
サン等のシクロシロキサン化合物、ポリシロキサン化合
物を用いることが好ましい。即ち、第2工程のエンドキ
ャッピングにおいては、後述するように反応温度が高い
ほど反応が進み、残存シラノール基が少なくなるが、こ
の反応の際に反応温度が高いほど既にシリカゲルに化学
結合されている化学修飾基の脱離が生じ易くなる。しか
し、第1工程において化学修飾剤としてジもしくはトリ
クロロシラン化合物、ジもしくはトリアルコキシシラン
化合物又はシクロシロキサン化合物やポリシロキサン化
合物を用いることにより、上述したエンドキャッピング
時における化学修飾基の脱離を良好に防止できるもので
あり、この脱離防止の効果はモノクロロあるいはモノア
ルコキシシラン化合物よりも上記化合物を用いたときの
方が大きい。
する化学修飾剤の反応は公知の方法、条件を採用するこ
とができ、シリカゲル又は多孔質ガラスと化学修飾剤と
を溶媒中で反応させることにより化学修飾を行なう。こ
の場合、溶媒としてはトルエン等の化学修飾剤と反応せ
ずかつ反応温度において熱的に安定なものを使用するこ
とができる。また、反応温度は通常0〜400℃の範囲
であり、時間は30分〜72時間の範囲である。
学修飾シリカゲル又は多孔質ガラスを溶媒を用いない気
相反応によってエンドキャップするものである。即ち、
第1工程で得た化学修飾シリカゲル又は多孔質ガラスに
エンドキャップ剤を気相中において250℃以上の温度
で反応させ、残存シラノール基をエンドキャップする。
シラノール基の残存量が多くなる。また、温度の上限は
特に制限されないが、温度が高くなり過ぎると残存シラ
ノール基は少なくなるが、既にシリカゲル又は多孔質ガ
ラスに化学結合されている化学修飾基の脱離が多くなる
場合があるので、その上限は500℃とすることが好ま
しい。なお、より好ましい反応温度は250〜450
℃、特に250〜400℃である。また、反応時間は3
0分〜96時間程度、より好ましくは12〜48時間と
することが望ましい。
等の不活性ガス雰囲気とすることが好ましい。また、エ
ンドキャップ剤の導入量は、適宜選定され、特に限定さ
れるものではないが、0.001〜5ミリモル/ml、
特に0.01〜1ミリモル/mlが通常である。なお、
エンドキャップ剤は250〜420℃においてガス状の
もの及び液状のものをそのまま導入できる。
剤としては、種々のシラザン化合物、シラン化合物、シ
ロキサン化合物等を用いることができ、具体的には、下
記式(1)のジシラザン、式(2)のハイドロジエンシ
ラン、式(3)のアルコキシシラン、式(4)のジシラ
ン、式(5)のシロキサンを用いることができる。
えばヘキサメチルジシラザン、ペンタメチルジシロキサ
ン、ジエチルメチルシラン、トリエチルシラン、トリメ
チルメトキシシラン、ヘキサメチルジシラン等を好適に
用いることができる。
子が2個以上の残存シラノール基と反応する化合物(以
下橋かけ状エンドキャップ剤という)を好ましく用いる
ことができ、これにより化学修飾基の周囲の複数の残存
シラノール基にエンドキャップ剤が橋かけ状に化学結合
した構造を有し、残存シラノール基の影響が著しく少な
い充填剤を得ることができる。このような橋かけ状エン
ドキャップ剤としては、下記式(6)のシクロシロキサ
ン、式(7)のハイドロジェンシロキサン、式(8)の
アルコキシシラン、式(9)のシロキサンを用いること
ができる。
的には、例えばヘキサメチルシクロトリシロキサン、オ
クタメチルシクロテトラシロキサン、デカメチルシクロ
ペンタシロキサン、ドデカメチルシクロヘキサシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,
1,3,3,5,5−ヘキサメチルトリシロキサン、
1,3−ジメトキシテトラメチルジシロキサン等が挙げ
られるが、特にヘキサメチルシクロトリシロキサンが好
ましい。
の反応によってエンドキャッピングを完了することもで
きるが、2度以上のエンドキャップ反応を順次行なわせ
ることができ、これにより残存シラノール基の影響をい
っそう減少させることができる。ここで、2度のエンド
キャップ反応を順次行なう場合、1度目の反応のエンド
キャップ剤としては上述した橋かけ状エンドキャップ
剤、特にヘキサメチルシクロトリシロキサンを用い、2
度目の反応のエンドキャップ剤としてはヘキサメチルジ
シラザンを用いることが好適であり、これにより残存シ
ラノール基の影響を著しく少なくすることができる。
は、エンドキャップに気相法を用いているのでシラノー
ル残存量が少ない充填剤を得ることができる。この充填
剤はシラノール残存量が少ないため、塩基性化合物に対
する吸着が少なく、従ってこの充填剤を充填したカラム
は分析に際し塩基性化合物の不溶出や吸着、テーリング
などの不都合が少なく、正確な分析を行なうことができ
る。
るが、本発明は下記の実施例に制限されるものではな
い。まず、下記第1工程及び第2工程によって液体クロ
マトグラフィー用充填剤を製造した。
ルに化学修飾剤として表2,3に示すモノクロロシラン
化合物、ジクロロシラン化合物又はトリクロロシラン化
合物を反応させ、表面シラノール基にオクタデシル基、
フェニル基、n−ブチル基又は3−シアノプロピル基を
化学結合させた。この場合、上記シリカゲル10gを1
20℃で6時間真空乾燥し、ナスフラスコ中で乾燥トル
エン40ml、化学修飾剤20ミリM、化学修飾剤と当
量のピリジンを加え、油浴中トルエン還流下で16時間
反応させた。次に、グラスフィルター(G−4)を用い
て濾過し、トルエン150mlで洗浄濾過した。その
後、化学修飾剤にモノクロロシラン化合物を用いた場合
はの操作を行い、ジクロロシラン化合物及びトリクロ
ロシラン化合物の場合は2の操作を行なった。 メタノール150ml、更にアセトン100mlで
洗浄濾過後、120℃で6時間真空乾燥を行なった。 アセトニトリル100mlで洗浄濾過後、アセトニ
トリル:水(1:1)の混合液を加え、撹拌して未反応
のクロル基を加水分解して、グラスフィルター(G−
4)を用いて濾過し、メタノール100ml、更にアセ
トン100mlで洗浄濾過し、120℃で6時間真空乾
燥を行なった。
すエンドキャッピングのためのシラン化合物2.9mM
(グループA〜Fの場合)又は4.4mM(グループ
G,Hの場合)とを密閉容器に入れ、容器内部を窒素で
置換し密閉した。次に、これを恒温槽内において表3,
4で示す温度で同表に示す時間加熱した後、これをグラ
スフィルターを用いてトルエンで洗浄濾過し、更にメタ
ノールで洗浄濾過してから120℃で2時間真空乾燥を
行なった。次に、得られた充填剤の元素分析及び残存シ
ラノール基の影響の検討を下記方法で行なった。結果を
表3,4に示す。
により、エンドキャッピング時における化学修飾基の脱
離の程度を調べた。この場合、炭素含有量の減少量が小
さいほど化学修飾基の脱離が少ないと認められる。
テンレススチール製カラムに充填し、移動相としてアセ
トニトリル/水(容量比30/70)、流速1分間に1
ml、UV検出器の波長254nmの分析条件にてピリ
ジン150μg/mlとフェノール1000μg/ml
とを含む混合試料を3μl注入し、クロマトグラムを得
た。このクロマトグラムよりピリジンのテーリングファ
クター及びピリジンとフェノールとの分離係数αを算出
した。この場合、残存シラノールの影響が小さいほど塩
基物質であるピリジンはフェノールと比較して早く溶出
するようになり、αの値は大きくなる。またテーリング
は小さくなり、テーリングファクターの値は小さくな
る。ここで、テーリングファクターと分離係数αは次の
ように定義される。
基準で分類してある。 A:化学修飾剤としてオクタデシルモノクロロシラン化
合物を用いたもの B:化学修飾剤としてオクタデシルジクロロシラン化合
物を用いたもの C:化学修飾剤としてオクタデシルトリクロロシラン化
合物を用いたもの D:2度のエンドキャッピングを行なったもの E:化学修飾剤としてフェニルモノクロロシラン化合物
を用いたもの F:化学修飾剤としてフェニルジクロロシラン化合物を
用いたもの G:化学修飾剤としてフェニルトリクロロシラン化合物
を用いたもの H:化学修飾剤として上記以外のトリクロロシラン化合
物を用いたもの
充填剤の性能とを比較するため、4種の代表的な市販O
DSカラム(比較例1〜4)のピリジンのテーリングフ
ァクター及びピリジンとフェノールとの分離係数αを調
べた。結果を表5に示す。
6,37,38及び比較例1〜4の充填剤を用い、液体
クロマトグラフィーによってピリジン及びフェノールの
クロマトグラムを得た。結果を図2〜12に示す。
とがわかる。 (1)実施例のODS(グループA〜D)は市販のOD
S(比較例1〜4)に比べてピリジンとフェノールとの
分離係数αが大きく、ピリジンのテーリングファクター
が小さかった。即ち、気相中において所定温度でエンド
キャッピングを行なうことにより残存シラノール基の影
響が非常に小さい充填剤を合成できた。 (2)ジクロロシラン化合物又はトリクロロシラン化合
物によってシリカゲルを化学修飾した場合、モノクロロ
シラン化合物で化学修飾した場合に比べて気相中でのエ
ンドキャッピング時におけるシリカゲルからの化学修飾
基の脱離が少なく、より炭素含有率の高い充填剤を合成
することができた。なお、残存シラノール基の影響の程
度はいずれのクロロシラン化合物を用いた場合でも同程
度であった。 (3)エンドキャッピングにヘキサメチルシクロトリシ
ロキサン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、テト
ラメチルジシロキサン等の2個以上のシラノール基と反
応するシラン化合物を用いることにより、残存シラノー
ル基の影響がいっそう少ない充填剤を合成できた。これ
は、これらのシラン化合物が修飾基周囲のシリカゲル表
面において橋かけ状に化学結合し、効果的にシリカ表面
を覆っているためであると考えられる。 (4)エンドキャッピング工程において最初にヘキサメ
チルシクロトリシランを用いてエンドキャッピングを行
ない、次にヘキサメチルジシラザンを用いてエンドキャ
ッピングを行なった場合、一度のエンドキャッピング処
理に比べて残存シラノール基の影響が更に小さくなっ
た。しかし、2度目のエンドキャッピングにヘキサメチ
ルシクロトリシロキサン又はジエチルメチルシランを用
いた場合にはあまり効果はなかった。
である。
によりピリジンとフェノールを測定したときのクロマト
グラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
によりピリジンとフェノールを測定したときのクロマト
グラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
フによりピリジンとフェノールを測定したときのクロマ
トグラムである。
Claims (4)
- 【請求項1】 シリカゲル又は多孔質ガラスに、炭素数
1〜50のアルキル基、炭素数6〜50のアリール基、
及び炭素数1〜50のアルキル基の水素原子の1又は2
以上がシアノ基、水酸基、カルボキシ基、酸アミド基、
イミド基、スルホン基、アミノ基又はグリセロイド基に
置換された置換アルキル基から選ばれる基を化学修飾基
として有するクロロシラン化合物、アルコキシシラン化
合物、シクロシロキサン化合物又はポリシロキサン化合
物からなる化学修飾剤を溶媒中で反応させて、シリカゲ
ル又は多孔質ガラス表面のシラノール基に上記化学修飾
剤を化学結合させる工程と、この化学修飾したシリカゲ
ル又は多孔質ガラスに下記式(1)〜(9)から選ばれ
る250〜420℃において液状又はガス状のエンドキ
ャップ剤を気相中250℃以上の反応温度で気相反応さ
せて、シリカゲル又は多孔質ガラス表面の残存シラノー
ル基に上記エンドキャップ剤を化学結合させる工程とを
具備することを特徴とする液体クロマトグラフィー用充
填剤の製造方法。 【化1】 【化2】 - 【請求項2】 化学修飾剤として、炭素数1〜50のア
ルキル基、炭素数6〜50のアリール基、及び炭素数1
〜50のアルキル基の水素原子の1又は2以上がシアノ
基、水酸基、カルボキシ基、酸アミド基、イミド基、ス
ルホン基、アミノ基又はグリセロイド基に置換された置
換アルキル基から選ばれる基を化学修飾基として有する
ジクロロシラン化合物、トリクロロシラン化合物、ジア
ルコキシシラン化合物、トリアルコキシシラン化合物、
シクロシロキサン化合物及びポリシロキサン化合物から
選ばれる1種以上を用いた請求項1記載の製造方法。 - 【請求項3】 エンドキャップ剤としてその1分子がシ
リカゲル又は多孔質ガラスの2個以上の残存シラノール
基と反応する上記式(6)〜(9)で示される250〜
420℃において液状又はガス状の化合物を用いた請求
項1又は2記載の製造方法。 - 【請求項4】 エンドキャップ剤としてその1分子がシ
リカゲル又は多孔質ガラスの2個以上の残存シラノール
基と反応する上記式(6)〜(9)で示される250〜
420℃において液状又はガス状の化合物及びヘキサメ
チルジシラザンをそれぞれ用い、化学修飾したシリカゲ
ル又は多孔質ガラスに上記(6)〜(9)で示される2
50〜420℃において液状又はガス状の化合物を反応
させた後、ヘキサメチルジシラザンを反応させるように
した請求項1又は2記載の製造方法。
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| JP2-43708 | 1990-02-22 | ||
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