JP2025063227A - 内蔵光源を有する回路板 - Google Patents
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Abstract
【課題】回路板、撮像システム、およびプロセッサを有する試薬分析器を提供する。
【解決手段】回路板34は、基板および複数の導電リードを有する。基板は、第1および第2の主表面を有する。第1の主表面は第2の主表面とは反対に位置する。基板は、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部38を有する。試薬分析器はまた、撮像システム22を含み、撮像システムは、基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイス44の画像を取り込むように構成されており、画像は複数の画素を有する。プロセッサは、画像を受け取り、画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成される。
【選択図】図1
【解決手段】回路板34は、基板および複数の導電リードを有する。基板は、第1および第2の主表面を有する。第1の主表面は第2の主表面とは反対に位置する。基板は、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部38を有する。試薬分析器はまた、撮像システム22を含み、撮像システムは、基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイス44の画像を取り込むように構成されており、画像は複数の画素を有する。プロセッサは、画像を受け取り、画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成される。
【選択図】図1
Description
本出願は、米国特許法第119条(e)項に基づいて、2020年8月12日出願の米国特許仮出願第63/064,609号、および2021年7月23日出願の米国特許仮出願第63/225,124号の利益を主張する。上記で参照されている特許出願の内容全体を参照によって本明細書に組み入れる。
本明細書に開示する発明の概念は、一般に、試薬カードのための分析器に関し、より詳細には、限定ではないが、開口部および内蔵光源を有する回路板を使用することによって改善された信号対雑音比を有する分析器に関する。
医療界ならびに醸造産業、化学製造などの他の拡大する技術の必要を満たすために、ラテラルフローイムノアッセイおよびいわゆる「ディップアンドリード」式の試薬試験デバイスを含めて、無数の分析手順、組成物、およびツールが開発されてきた。ラテラルフローイムノアッセイまたはディップアンドリード試験デバイスが、生物流体または生体組織の分析に使用されるか、それとも商用または工業用の流体または物質の分析に使用されるかにかかわらず、一般的な手順は、試験デバイスが試験すべき試料または検体に接触すること、および手動または機器によって試験デバイスを分析することを伴う。
ラテラルフローイムノアッセイは、標的分析物の有無を確認するために使用される診断デバイスである。ラテラルフローイムノアッセイは、一般に、制御ライン位置および試験ライン位置を越えて試料を運ぶ流路を含む。制御ライン位置にある制御ラインは、試験が適切に機能していることを確定し、試験ライン位置にある試験ラインは、ラテラルフローイムノアッセイの結果を提供する。ラテラルフローイムノアッセイは、ディップスティック方式またはハウスドテスト方式で使用されるように開発されている。ディップスティックおよびハウスドテストはどちらも同様に機能し、概して、試験ライン位置に色の付いた線が存在することによって試験陽性が表されるサンドイッチアッセイ、および試験ライン位置に色の付いた線が存在しないことによって試験陽性が表される競合アッセイという2つのカテゴリのうちの1つに入る。
ディップアンドリード試薬試験デバイスは、比較的低コストであり、使いやすく、結果を速く得られるため、多くの分析用途で、特に生物流体の化学分析において広く使用されている。たとえば医学の分野では、ディップアンドリード試薬試験デバイスを尿または血液などの体液または組織の試料に浸し、色の変化または試験デバイスによって反射もしくは吸収される光の量の変化などの検出可能な応答を観察するだけで、多数の生理学的機能を監視することができる。
体液構成要素を検出するためのディップアンドリード試薬試験デバイスの多くは、定量的または少なくとも半定量的な測定を行うことが可能である。したがって、所定の時間後に検出可能な応答を測定することによって、使用者は、試験試料における特定の成分の存在に関する陽性標示だけでなく、その成分がどれだけ存在するかに関する推定も取得することができる。そのようなディップアンドリード試薬試験デバイスは、容易な診断ツール、ならびに疾患または身体的不調の程度を評価する能力を、医師および検査技師に提供する。
現在使用されているディップアンドリード試薬試験デバイスの例には、MULTISTIXの商標でSiemens Healthcare Diagnostics Inc
.から入手可能な製品などが含まれる。これらのような免疫化学的、診断的、または血清学的な試験デバイスは通常、吸収紙などの1つまたはそれ以上のキャリアマトリックスを含み、そのようなキャリアマトリックスには、特有の試験試料構成要素または成分の存在下で検出可能な応答(たとえば、可視または紫外スペクトル内の色の変化)をはっきりと示す特定の試薬または反応系が組み込まれている。特定のマトリックスに組み込まれている反応系に応じて、これらの試験デバイスは、グルコース、ケトン体、ビリルビン、ウロビリノーゲン、潜血、亜硝酸塩、および他の物質の存在を検出することができる。ディップアンドリード試薬試験デバイスを試料に接触させてから特有の時間範囲内で観察される色の強度の特有の変化は、試料中の特定の成分の存在および/またはその濃度を示す。ディップアンドリード試薬試験デバイスおよびその試薬システムのいくつかの他の例は、特許文献1、特許文献2、および特許文献3に見ることができ、これらの開示全体を参照によって本明細書に組み入れる。
.から入手可能な製品などが含まれる。これらのような免疫化学的、診断的、または血清学的な試験デバイスは通常、吸収紙などの1つまたはそれ以上のキャリアマトリックスを含み、そのようなキャリアマトリックスには、特有の試験試料構成要素または成分の存在下で検出可能な応答(たとえば、可視または紫外スペクトル内の色の変化)をはっきりと示す特定の試薬または反応系が組み込まれている。特定のマトリックスに組み込まれている反応系に応じて、これらの試験デバイスは、グルコース、ケトン体、ビリルビン、ウロビリノーゲン、潜血、亜硝酸塩、および他の物質の存在を検出することができる。ディップアンドリード試薬試験デバイスを試料に接触させてから特有の時間範囲内で観察される色の強度の特有の変化は、試料中の特定の成分の存在および/またはその濃度を示す。ディップアンドリード試薬試験デバイスおよびその試薬システムのいくつかの他の例は、特許文献1、特許文献2、および特許文献3に見ることができ、これらの開示全体を参照によって本明細書に組み入れる。
しかし、ディップアンドリード試薬試験デバイスにはいくつかの制限がある。たとえば、ディップアンドリード試薬試験デバイスの場合、一般に、技師が手動で試験デバイスを試料に浸し、規定の時間量まで待って、試験デバイスの色を試験デバイスとともに提供されたカラーチャートと目視で比較する必要がある。このプロセスは遅く、結果として得られる読取りは高度な技術に依存しており(たとえば、正確なタイミング、カラーチャートとの適当な比較、周囲の照明条件、および技師の視力)、同じ試験を実行する2人の異なる技師の間で結果が一貫しない可能性がある。最後に、手動で試験デバイスを試料に浸す動作は、試料への試験デバイスの挿入が不完全であること、試料を試験デバイス上に堆積させるには時間が不十分であること、または試験デバイス上に試料が多すぎて技師の作業領域、個人、または衣類に滴り、漏れ、もしくは飛び散ることなどによって、試験デバイス上の試験試料の相互汚染または不適切な堆積をもたらす可能性がある。
特に自動化された処理を使用することによって、複数の試験を経済的かつ迅速に行うための試験ツールおよび方法が、当技術分野で求められてきた。自動分析器システムには、試験ごとのコスト、試験の取扱量、および/または試験結果もしくは他の情報を取得する速度に関して、手動試験に比べて利点がある。
ラテラルフローイムノアッセイもしくはディップアンドリード試薬試験デバイスまたは試薬ストリップ(たとえば、Siemens Healthcare Diagnostics,Inc.によって製造および販売されているCLINITEK STATUS反射率光度計)などの個々の試薬試験デバイスを機器によって読み取るために現在利用可能な自動機器の場合、試験デバイスを試験すべき検体または試料に接触させてから各試験デバイスを自動機器に手動で装着する必要がある。手動で装着するには、試験すべき溶液または物質に接触してから制限された期間内に試薬試験デバイスを自動機器に適切に配置する必要がある。分析が終了すると、使用済みの試薬試験デバイスは機器から除去され、該当する法規制に従って廃棄される。
別の開発例は、複数プロファイル試薬カードおよび複数プロファイル試薬カードの自動分析器を導入することである。複数プロファイル試薬カードは、たとえば特許文献4に記載されているように、分析物の複数の分析を同時にまたは順次実行するための複数の試薬含浸マトリックスまたはパッドを含む本質的にカード状の試験デバイスであり、この開示全体を参照によって本明細書に組み入れる。複数プロファイル試薬カード上の試薬パッドは、典型的には、試薬パッドのいくつかの行および列を画成するように格子状の配置で配置され、互いから距離をあけて隔置される。同じ行内の隣接する試薬パッドは、たとえば、試験ストリップと呼ぶことができ、各試料に対して実行される事前設定された試験の組合せのための試薬を含むことができる。
複数プロファイル試薬カードは、自動分析を実行する効率的、経済的、迅速、かつ好都合な方法をもたらす。複数プロファイル試薬カードを使用するように構成された自動分析器は、典型的には、収納引き出しまたはカセットなどから複数プロファイル試薬カードを取り出し、カード移動機構を介して分析器の進行面で典型的には一度に1ステップずつ複数プロファイル試薬カードを前進させ、1つの試験ストリップ(または1行の試薬パッド)を試料投薬位置および/または1つもしくはそれ以上の読取り位置に配置する。例示的なカード移動機構は、コンベアベルト、ラチェット機構、摺動斜面、またはカード把持もしくは引張り機構を含む。複数プロファイル試薬カードが進行面に沿って移動または進行し、試料投薬位置に配置されると、1つまたはそれ以上のピペットが、試薬カード上の試薬パッドの1つまたはそれ以上に、1つまたはそれ以上の試料の体積を(たとえば、手動または自動で)堆積させる。次に、試薬パッドは、1つまたはそれ以上の読取り位置に配置され、(たとえば、手動または自動で)分析されて、試験結果を評価する。試薬カードは、たとえば光学撮像システム、顕微鏡、または分光計などの撮像システムの視野内に配置され、カード上の試薬パッドの1つまたはそれ以上の画像(たとえば、試薬パッドの色を示す光信号)が取り込まれて解析される。典型的には、撮像システムの視野は比較的大きく、試薬カードが撮像システムの視野内の複数の読取り位置にわたって移動または前進させられるとき、同じ試薬パッドの複数の画像の取り込みが可能になる。視野は、複数の読取り位置または場所を含んでおり、試薬カードが撮像システムの視野を進行するにつれて、各試薬パッドはこれらの読取り位置を段階的に移動する。分析器は知られている時間間隔において様々な読取り位置間でカードを移動するため、たとえば、撮像システムの視野内で得られた複数の画像により、パッドがそれぞれの読取り位置へ移動するためにかかる時間に応じて、試薬パッドが各読取り位置で試料と反応した結果として、分析器が試薬パッドの色の変化を判定することが可能になる。最後に、使用済みのカードは分析器から除去され、適当に廃棄される。
自動分析器とともに使用される光学撮像システムに伴う既存の問題は、光学撮像システムの比較的大きい視野の照明が不均一であり、使用されるカメラのレンズのビネッティング効果が生じ、試薬試験デバイスのアスペクト比が大きいことからノイズが生じ、試験デバイスと撮像システムとの間で光が散乱することである。これらの要因により、画像が不均一になる可能性がある。しかし、大部分の比色分析モジュールのこれらの要件のうちの1つは、試験デバイスにわたって獲得した画像内の照明強度を均一にすることである。しかし、画像処理を使用した補正では、信号対雑音比(SNR)が改善されない。既存の光学撮像システム内の光散乱は、画像にノイズを導入することによって、信号対雑音比をさらに低減させる可能性がある。
正反射は、表面からの鏡面反射であり、表面の下の材料に関係しない。分析器内で、正反射は、試験試料および/または試験デバイスの表面が濡れていることによって生じる可能性がある。正反射が生じたとき、そのような正反射により、試薬パッド内の光の吸収に起因する信号に関係しない明るい鏡面反射スポットのため、測定が混乱する可能性がある。鏡面散乱は、分析物濃度に関係しない無関係の可変信号を加えることによって、試薬パッドからの反射光の測定に干渉し、分析物濃度に関係する測定を不正確にする。正反射による干渉を低減させるための交差させた偏光子が、特許文献5に論じられている。
したがって、制御された照明を提供し、光散乱の影響を低減させることによって、信号対雑音比を増大させる分析器が、当技術分野で必要とされている。本明細書に開示する発明の概念は、そのような試薬分析器を対象とする。
一実施形態では、本明細書に開示する発明の概念は、上述した従来技術の欠陥に対処する試薬分析器である。試薬分析器は、回路板、撮像システム、およびプロセッサを有する。回路板は、基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有する。基板は、第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面は第2の主表面とは反対に位置する。基板は、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有する。試薬分析器はまた、撮像システムを含み、撮像システムは、基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイスの画像を取り込むように構成されており、画像は複数の画素を有する。プロセッサは、画像を受け取り、画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成される。
当業者が本明細書に開示する発明の概念を作製および使用することを支援するために、添付の図面および概略図を参照するが、これらは原寸に比例して描くことを意図したものではなく、同じ参照番号は、整合性のために同じまたは類似の要素を指すことを意図したものである。明確にするために、すべての図面ですべての構成要素が示されているわけではない。明確かつ簡潔にするために、これらの図の特定の構成および特定の外観は、原寸に比例せず強調して示されていることがあり、または概略的に示されていることがある。
本明細書に開示する発明の概念の少なくとも1つの実施形態について詳細に説明する前
に、発明の概念は、以下の説明に記載しまたは図面に示す構成要素または工程または方法の構造および配置の詳細にその用途が限定されるものではないことを理解されたい。本明細書に開示する発明の概念は、他の実施形態が可能であり、または様々な方法で実行もしくは実施することが可能である。また、本明細書で用いる用語および術語は、説明を目的とし、本明細書に開示および特許請求する発明の概念を何らかの方法で限定すると解釈されるべきではないことを理解されたい。
に、発明の概念は、以下の説明に記載しまたは図面に示す構成要素または工程または方法の構造および配置の詳細にその用途が限定されるものではないことを理解されたい。本明細書に開示する発明の概念は、他の実施形態が可能であり、または様々な方法で実行もしくは実施することが可能である。また、本明細書で用いる用語および術語は、説明を目的とし、本明細書に開示および特許請求する発明の概念を何らかの方法で限定すると解釈されるべきではないことを理解されたい。
発明の概念の実施形態の以下の詳細な説明では、発明の概念のより徹底的な理解を提供するために、多数の特有の詳細について記載する。しかし、本明細書に開示する発明の概念は、これらの特有の詳細がなくても実行することができることが、当業者には明らかになるであろう。他の例では、本開示を不要に複雑にしないために、よく知られている構成について詳細に説明しない。
本明細書では、「含む(comprises)」、「含む(comprising)」、「含む(includes)」、「含む(including)」、「有する(has)」、「有する(having)」という用語、またはその任意の他の変形は、非排他的な包含を意図したものである。たとえば、要素のリストを含むプロセス、方法、物品、または装置は、必ずしもそれらの要素のみに限定されるものではなく、明示的に列挙されていないまたは本質的に存在していない他の要素も含むことができる。
逆の内容が明示的に記載されていない限り、「または(or)」は、排他的論理和ではなく包含的論理和を指す。たとえば、AまたはBという条件は、Aが真(または存在)でありかつBが偽(または不在)である状態、Aが偽(または不在)でありかつBが真(または存在)である状態、およびAおよびBの両方が真(または存在)である状態のうちのいずれか1つによって満たされる。
加えて、「a」または「an」の使用によって、本明細書の実施形態の要素および構成要素について説明する。これは、発明の概念の概略的な意味を与えるために、便宜的にのみ行われる。この説明は、1つまたは少なくとも1つを含むと解釈されるべきであり、他の内容を意味することが明らかでない限り、単数は複数も含む。
さらに本明細書では、「一実施形態」または「実施形態」のあらゆる参照は、その実施形態に関連して記載される特定の要素、構成、構造、または特性が少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。本明細書の様々な場所における「一実施形態では」という語句への言及は、必ずしもすべて同じ実施形態を参照するとは限らない。
本明細書では、「湿式試薬試験デバイス」は、試料の体積を堆積させた試薬デバイスを指し、そのような成分が試料内に存在する場合、試薬デバイス内の試薬はその標的成分と反応することができるようになっている。湿式試薬試験デバイスはまた、陰性コントロール体積を堆積させることもできる。
本明細書では、「試薬試験デバイス」は、試薬を有するキャリアを指す。例示的な試薬デバイスは、ディップアンドリード試験ストリップの試薬パッド、またはラテラルフローイムノアッセイの制御ストリップもしくは試験ストリップを含む。
最後に、本明細書では、「約(about)」、「約(approximately)」、および「実質的(substantially)」などの修飾語は、修飾されている項目が、指定された正確な値に限定されるものではなく、たとえば測定誤差、製造公差、様々な部材にかけられる応力、摩損、およびこれらの組合せによって引き起こされるその値からの軽微な変動または逸脱も含むことを意味することを意図したものである。
本明細書に開示する発明の概念は、一般に、試薬カードのための分析器を対象とし、より詳細には、限定ではないが、許容できる限度内で制御された照明を提供し、光散乱の影響を低減させることによって、信号対雑音比を増大させる分析器を対象とする。制御された照明の例には、それだけに限定されるものではないが、許容できる限度内の均一の照明、スポット、フラッシュ、または時間とともに変動する照明が含まれる。本明細書に開示する発明の概念について、主に複数プロファイル試薬カードを使用する自動分析器に関連して説明するが、本明細書に開示する発明の概念は、自動分析器または複数プロファイル試薬カードに限定されるものではない。たとえば、本開示の利益がある当業者には理解されるように、本明細書に開示する発明の概念による方法は、手動分析器によって実装することができ、またはラテラルフローイムノアッセイ、ディップアンドリード試薬試験デバイス、または基板上の試薬試験デバイスのリール、およびこれらの組合せなどの試薬試験デバイスを使用する自動分析器によって実装することができる。さらに、本明細書に開示する発明の概念は、視野内に少なくとも1つの読取り位置を有する任意の試薬デバイス撮像システムによって実装することができる。
特に、試薬試験デバイスが濡れると、試薬パッド、制御ライン、または試験ラインなどの試薬試験デバイスの色を示す信号値が変化する。陰性溶液の場合、信号値の変化が知られており(または測定することができる)、したがって任意選択のオフセット信号値となることができる。オフセット信号値の範囲外のあらゆる変化は、測定されている臨床構成要素との反応によって引き起こされた可能性が高い。
次に図1~図2を参照すると、本明細書に開示する発明の概念による試薬分析器10の例示的な実施形態が示されている。試薬分析器10は、たとえば自動試薬カード分析器とすることができる。自動試薬カード分析器の例示的な実施形態は、2012年12月12日出願の米国特許出願第13/712,144号、および2012年12月14日出願のPCT出願PCT/US2012/069621に詳細に記載されており、これらの開示全体を明示的に参照によって本明細書に組み入れる。
概して、試薬分析器10は、空洞18を取り囲むハウジング14と、少なくともカメラ26を含む撮像システム22と、空洞18内に配置された試料ホルダ32を有する試料トレイ30と、開口部38(第1の開口部とも呼ぶ)および1つまたはそれ以上の照明源42a~nを有し、空洞18内に配置された回路板34とを含むことができる。
ハウジング14は、空洞18を形成し、撮像システム22、試料トレイ30、および回路板34を支持するように構成された1つまたはそれ以上の構成要素から形成することができる。一実施形態では、ハウジングは可視光に対して不透明である。別の実施形態では、ハウジングは、1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生成される光の1つまたはそれ以上の波長に対して不透明である。一実施形態では、ハウジング14は、周囲光を正規化することができる。
撮像システム22は、少なくとも1つのカメラ26を含み、ハウジング14によって支持される。一実施形態では、撮像システム22は、たとえば、ハウジング14に固定することができ、または試料トレイ30から相対距離をあけて固定することができる。撮像システム22および/またはカメラ26は、少なくとも回路板34の開口部38を含むために視野40を提供するように選択された焦点距離を有する1つまたはそれ以上のレンズを含むことができる。
撮像システム22は、たとえば、撮像システム22の視野40が回路板34の開口部38の実質的に全体を含むように、任意の所望のリーダとして実装および機能することがで
きる。撮像システム22は、試料トレイ30の上、下、または隣の場所で支持することができる。いくつかの実施形態では、視野40は、撮像システム22から開口部38へ線形方向に延びることができる。他の実施形態では、視野40は、視野40内の1つまたはそれ以上の光学的ステアリング構成要素の存在により、撮像システム22から開口部38へ非線形方向に延びることができる。例示的な光学的ステアリング構成要素には、鏡、レンズ、ビームスプリッタ、またはこれらの組合せが含まれる。撮像システム22は、たとえば、撮像システム22の視野40内に配置された試薬パッドの反射値または色値を示す画像または光信号を検出または取り込むように構成することができる(図6に示し、以下でより詳細に論じる)。しかし、いくつかの例示的な実施形態では、撮像システム22の視野40は、回路板34の開口部38の一部分のみを含むこともできることを理解されたい。撮像システム22のカメラ26は、デジタルカメラ、アナログカメラ、CMOS撮像装置、ダイオード、およびこれらの組合せなど、任意の所望のデジタルまたはアナログ撮像装置を含むことができる。撮像システム22はまた、たとえば、レンズ系、光学フィルタ、コリメータ、拡散器、または任意の他の光信号処理デバイスを含むことができる。さらに、撮像システム22は、可視スペクトル内の光学撮像装置に限定されるものではなく、たとえば、赤外撮像システム、紫外撮像システム、マイクロ波撮像システム、X線撮像システム、および/または他の所望の撮像システムを含むことができる。撮像システム22の非排他的な例には、たとえば、光学撮像システム、分光光度計、ガスクロマトグラフ、顕微鏡、赤外センサ、およびこれらの組合せが含まれる。
きる。撮像システム22は、試料トレイ30の上、下、または隣の場所で支持することができる。いくつかの実施形態では、視野40は、撮像システム22から開口部38へ線形方向に延びることができる。他の実施形態では、視野40は、視野40内の1つまたはそれ以上の光学的ステアリング構成要素の存在により、撮像システム22から開口部38へ非線形方向に延びることができる。例示的な光学的ステアリング構成要素には、鏡、レンズ、ビームスプリッタ、またはこれらの組合せが含まれる。撮像システム22は、たとえば、撮像システム22の視野40内に配置された試薬パッドの反射値または色値を示す画像または光信号を検出または取り込むように構成することができる(図6に示し、以下でより詳細に論じる)。しかし、いくつかの例示的な実施形態では、撮像システム22の視野40は、回路板34の開口部38の一部分のみを含むこともできることを理解されたい。撮像システム22のカメラ26は、デジタルカメラ、アナログカメラ、CMOS撮像装置、ダイオード、およびこれらの組合せなど、任意の所望のデジタルまたはアナログ撮像装置を含むことができる。撮像システム22はまた、たとえば、レンズ系、光学フィルタ、コリメータ、拡散器、または任意の他の光信号処理デバイスを含むことができる。さらに、撮像システム22は、可視スペクトル内の光学撮像装置に限定されるものではなく、たとえば、赤外撮像システム、紫外撮像システム、マイクロ波撮像システム、X線撮像システム、および/または他の所望の撮像システムを含むことができる。撮像システム22の非排他的な例には、たとえば、光学撮像システム、分光光度計、ガスクロマトグラフ、顕微鏡、赤外センサ、およびこれらの組合せが含まれる。
一実施形態では、撮像システム22は、少なくとも1つのカメラ26およびレンズを含み、少なくとも1つのカメラ26は、OnSemi MT9D131 CMOSセンサ(ON Semiconductor、Phoenix、Arizona)であり、レンズは、DSL949 Sunexレンズ(Sunex Inc.、Carlsbad、CA)であり、どちらも、幾何学的な画像の歪みを抑えながら広い視野40を維持し、それによって1600画素×1200画素の分解能を提供するように構成されており、各画素は、試料トレイ30および/または試料ホルダ32の約0.065mmの正方形の面積を表す。
試料トレイ30は、視野40内の試料ホルダ32の場所を調整するように構成することができる。試料ホルダ32は、試験デバイス44のうちの少なくとも1つを受け取るように構成することができ、試験デバイス44は、試薬カードおよび試薬カードカセットとすることができ、各々が試料46を有する。試料46は、たとえば、尿、唾液、または血液など、任意の体液、組織、または任意の他の化学もしくは生体試料、およびこれらの組合せとすることができる。試料46は、たとえば、液状とすることができ、ビリルビン、ケトン、グルコース、または任意の他の所望の標的成分などの1つまたはそれ以上の標的成分を含有することができる。
開口部38を有する回路板34は、空洞18内に配置して、撮像システム22と試料トレイ30との間に置くことができ、したがって撮像システム22の視野40は、試料ホルダ32、試験デバイス44、および/または試料46から実質的に妨げられないようになっている。回路板34については、図3および以下でより詳細に説明する。一実施形態では、回路板34は、撮像システム22と試料トレイ30との間の固定の場所に配置されているが、別の実施形態では、撮像システム22と試料トレイ30との間の変動する場所へ回路板34を調整することもできる。回路板34が調整可能である場合、あらゆる調整後に較正ルーチン170(後述)を実行しなければならない。
照明源42a~nは、たとえば、任意の所望の強度、波長、周波数、または伝播方向を有する光信号を放出するように構成された発光ダイオード、電球、レーザ、白熱電球もしくは管、蛍光電球もしくは管、ハロゲン電球もしくは管、または任意の他の所望の光源も
しくは物体のうちの1つまたはそれ以上として実装することができる。照明源42a~nは、回路板34に取り付けることができ、撮像システム22の視野40の実質的に全体が照明源42a~nによって照明されるように向けることができる。いくつかの例示的な実施形態では、照明源42a~nは、コントローラ144(図7参照、以下に詳述)に動作可能に連結することができ、したがって制御および/または電力信号をコントローラ144によって照明源42a~nに供給することができる。照明源42a~nによって放出される光信号の強度は、コントローラ144によって供給される制御および電力信号などによって、試薬分析器10の動作にわたって実質的に一定に維持されることが望ましい。一実施形態では、照明源42a~nによって放出される光信号は、たとえば、フィルタ、拡散器、偏光子、レンズ、レンズ系、コリメータ、およびこれらの組合せなど、1つまたはそれ以上の光学系または他のシステム(図示せず)によって調節または処理することができる。
しくは物体のうちの1つまたはそれ以上として実装することができる。照明源42a~nは、回路板34に取り付けることができ、撮像システム22の視野40の実質的に全体が照明源42a~nによって照明されるように向けることができる。いくつかの例示的な実施形態では、照明源42a~nは、コントローラ144(図7参照、以下に詳述)に動作可能に連結することができ、したがって制御および/または電力信号をコントローラ144によって照明源42a~nに供給することができる。照明源42a~nによって放出される光信号の強度は、コントローラ144によって供給される制御および電力信号などによって、試薬分析器10の動作にわたって実質的に一定に維持されることが望ましい。一実施形態では、照明源42a~nによって放出される光信号は、たとえば、フィルタ、拡散器、偏光子、レンズ、レンズ系、コリメータ、およびこれらの組合せなど、1つまたはそれ以上の光学系または他のシステム(図示せず)によって調節または処理することができる。
いくつかの例示的な実施形態では、第1の照明源42aおよび第2の照明源42bなど、1つまたはそれ以上の照明源42a~nを実装することができ、第1の照明源42aおよび第2の照明源42bは、異なる場所および/または向きを有することができ、それによって第1の照明源42aおよび第2の照明源42bは、撮像システム22の視野40の実質的に全体(たとえば、試料ホルダ32および/または試料46の実質的に全体)を照明するように協働する。第1の照明源42aおよび第2の照明源42bは、たとえば、異なる照明強度を有する光信号を放出することができる。
一実施形態では、試料ホルダ32は、たとえば、1つまたはそれ以上の複数プロファイル試薬カードを有する試薬カードカセットの形態の試験デバイス44を受け入れるように適用することができる。各試薬カード(以下に詳述)は、基板および1つまたはそれ以上の試薬パッドを含むことができ、試薬パッドは、基板上に配置され、または他の方法で基板に関連付けられる。例示的な実施形態では、試薬パッドは、流体またはマイクロ流体コンパートメント(図示せず)を含むことができる。
各試薬パッドは、試薬パッド上に堆積した検体の試料46内の分子、細胞、または物質などの標的成分の存在に応答して、色の変化を生じるように構成された試薬を含むことができる。異なる標的成分の存在を検出するために、試薬パッドに異なる試薬を提供することができる。異なる試薬は、特定のタイプの分析物など、試料46内の特定の成分の存在に応答して、1つまたはそれ以上の色の変化を引き起こすことができる。特定の試薬に対する特定の成分の反応によって生じる色は、その特定の成分に関する光の吸収および/または反射に対して特徴的な個別のスペクトルを画成することができる。試薬および試料46の色の変化の程度は、たとえば、試料46内に存在する標的成分の量に依存することができる。
試料46内のこれらの標的成分の存在および濃度は、たとえば、試料46を試薬パッドに加えてから所定の時間後に、かつ/または撮像システム22の視野内の所定の読取り位置で、1つまたはそれ以上の試薬パッドによって生じる色の変化の分析によって判定可能とすることができる。この分析は、試料46に加えてから異なる期間後に、かつ/または撮像システム22の視野40内の異なる読取り位置で、各試薬パッドの色比較を伴うことができる。
撮像システム22によって検出された光信号の大きさの解析に基づいて、たとえば、試料46内に標的成分が存在しないことに対応する第1のカテゴリ、試料46内に存在する標的成分の濃度が小さいことに対応する第2のカテゴリ、試料46内に存在する標的成分の濃度が中程度であることに対応する第3のカテゴリ、および試料46内に存在する標的成分の濃度が大きいことに対応する第4のカテゴリという複数のカテゴリのうちの1つに
、試料46を割り当てることができる。
、試料46を割り当てることができる。
さらに、撮像システム22は、たとえば、特定の試薬パッドおよび/または試験ストリップの場所にかかわらず、試料46の体積が試験デバイス44、たとえば試薬パッドおよび/または試験ストリップ上に分注されてから任意の時間間隔で、試薬パッドおよび/または試験ストリップの色または反射値を示す光信号を検出することができる。1つの例示的な実施形態では、試料46の体積が試薬パッドおよび/または試験ストリップ上に堆積されてから様々な時間間隔で、試薬パッドおよび/または試験ストリップのビデオまたは一連の画像を取り込むことができる。
撮像システム22は、たとえば、任意の時間およびカメラ26の視野内の任意の位置で、1つまたはそれ以上の試験デバイス44、たとえば試薬パッドの色または反射値を示す1つまたはそれ以上の反射信号を検出するように、断続的、連続的、または周期的に動作させることができる。いくつかの例示的な実施形態では、撮像システム22は、たとえば、任意の試料46が試薬パッド上に堆積される前に、または試料46の体積が試薬パッド上に堆積されてから任意の既知の時点で、試験デバイス44、たとえば試薬パッドの色または反射値を示す画像を取り込むことができる。
次に図3を参照すると、試料ホルダ32および/または試料46の制御された照明を容易にし、撮像システム22によって検出される光散乱を低減させるために、本明細書に開示する発明の概念による1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって取り囲まれた開口部38を有する回路板34の底面図が示されている。制御された照明について、本明細書では例として、許容できる限度内で試料ホルダ32および/または試料46の範囲、すなわち長さおよび幅にわたって均一の照明として説明する。しかし、本開示は均一の照明に限定されるものではないことを理解されたい。回路板34は、底面61aおよび頂面61bを有する基板60と、基板60上または基板60内に延びる複数の導電リードと、底面61aと頂面61bとの間に延びる開口部38を含む。
図3に示す回路板34は、1つまたはそれ以上の照明源42aを有する回路板34の底面61aを表す。試薬分析器10内に配置されたとき、底面61aは、試料トレイ30に対向するように向けられており、したがって1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生じた光を試料ホルダ32および/または試料46に直接提供することができる。照明源42a~nは、回路板34の複数の導電リードに接続され、したがって導電リードは各照明源42a~nに電気を提供する。一実施形態では、回路板34は、複数の導電リードに接続された照明源回路(図示せず)をさらに含み、照明源回路は、各照明源42a~nとは関係なく電気を印加するように構成される。たとえば、照明源回路は、第1の照明源42aに第1の電力を供給し、第2の照明源42bに第2の電力を供給するように構成することができ、第1の電力および第2の電力は異なり、それによって試料にわたって照明強度の差を引き起こす。照明源42a~nは、カメラ26の視野40にわたって照明強度が実質的に均一になるように配置され、それによって試薬パッドが実質的に均一の強度で照明されるため、試薬パッドの色の変化の読取りの精度を増大させる(以下および図5により詳細に示す)。図3に示すように、回路板34の基板60は実質的に平面であり、それによって1つまたはそれ以上の照明源42a~nの各々は、試料トレイ30から類似の距離をあけて位置する。試料46に対する照明源42a~nの場所に応じて、照明源42a~nのいくつかに対して、照明源42a~nと試料46との間の距離は異なってよい。しかし他の実施形態では、回路板34は非平面とすることができ、それによって照明源42a~nのうちの1つまたはそれ以上は、試料トレイ30から異なる距離をあけて位置する。一実施形態では、1つまたはそれ以上の照明源42a~nを支柱(図示せず)に取り付けることができ、各支柱は回路板34に取り付けられて、照明源42a~nのうちの特定の1つへの1つまたはそれ以上の導電経路を提供する。支柱が使用されると、これに
より1つまたはそれ以上の照明源42a~nの一部分が試料46および/または試料トレイ30に近づく。
より1つまたはそれ以上の照明源42a~nの一部分が試料46および/または試料トレイ30に近づく。
一実施形態では、基板60は、第1の領域62aと、第1の領域62aとは反対に位置する第2の領域62bと、第1の領域62aと第2の領域62bとの間に位置する中間領域62cとを有する。1つまたはそれ以上の照明源42a~nは、第1の領域62a、第2の領域62b、および中間領域62cの各々で、またはこれらの何らかの組合せで、基板60に取り付けることができる。一実施形態では、第1の領域62aおよび第2の領域62b内の1つまたはそれ以上の照明源42a~nに第1の電力を印加することができ、それによって第1の領域62aおよび第2の領域内の1つまたはそれ以上の照明源42a~nが第1の照明強度を提供することができ、中間領域62c内の1つまたはそれ以上の照明源42a~nに第2の電力を印加することができ、それによって中間領域62c内の1つまたはそれ以上の照明源42a~nが第2の照明強度を提供することができ、第1の電力および第2の電力は異なり、第1の照明強度および第2の照明強度は異なる。
開口部38は、頂面61bから底面61aまで延びており、撮像システム22の視野40が撮像システム22から試料ホルダ32まで通過するためのアパーチャを提供し、試料ホルダ32に関連付けられた試験デバイス44の制御された視野をカメラ26に提供する。開口部38は、回路板34の底面61aが開口部38の各面に1つまたはそれ以上の照明源42a~nを含むことができるようにさらに構成することができる。一実施形態では、開口部38は、実質的に中間領域62c内に位置する。一実施形態では、開口部38が第1の長軸および第1の短軸を有し、試料ホルダ32が第2の長軸および第2の短軸を有し、第1の長軸は、第2の長軸と位置合わせされる。方形の試薬試験デバイスの制御された視野を提供するために、図3では開口部38が長方形として示されているが、開口部38は、視野40が試料トレイ30の制御された視野になるように、任意の形状で構成することができ、照明源42は、試料46の実質的に均一の照明を提供するように較正することができることが理解される。図3の例では、開口部38は、回路板34の縁部まで延びない。
一実施形態では、開口部38は、回路板34を2等分することなく回路板34の縁部まで延びるが、別の実施形態では、開口部38は、回路板34全体を通って延び、回路板を第1の半分および第2の半分に2等分しており、第1の半分および第2の半分は、別個の場所に取り付けられており、視野40が試料トレイおよび照明源42の制御された視野になるように、ハウジング14によって支持される。
図3に示す一実施形態では、1つまたはそれ以上の照明源42a~nは、複数のLED64a~nおよび1つまたはそれ以上の赤外LED68a~nである。図3に示すLED64a~nは、図3に示すように配置された20個の可視光LEDと、1つまたはそれ以上の赤外LED68とを含む。LED64a~nは、試料ホルダ32および/または試薬カードもしくは試薬カセットにわたって実質的に均一の光強度を生じさせるために必要とされる任意のLEDを含む。赤外LED68は、たとえば、試料46に熱を加えるために、または試験デバイス44上のIDパッドを識別するために使用することができる。一実施形態では、IDパッドは、試料ホルダ32によって支持された試験デバイス上の試料を、試薬分析器10によって取得されたデータに相関させるために利用される。
一実施形態では、複数のLED64a~nは、固定の色、可視光、紫外光、赤外光、または白色光、またはこれらの何らかの組合せを提供するように選択される。別の実施形態では、各LED64a~nが、試薬カードに対して斜めに配置される。さらに別の実施形態では、各LED64a~nは、試料ホルダ32によって支持された試験デバイス44から1つまたはそれ以上の距離をあけて配置され、したがって第1のLED64および第2
のLED64は、試験デバイス44および/または試料ホルダ32から異なる距離をあけて位置する。
のLED64は、試験デバイス44および/または試料ホルダ32から異なる距離をあけて位置する。
次に図4~図5を参照すると、図4には、電力レベル84、x位置88、y位置90、z位置92、および相対角度94を示す表80が示されており、相対角度94は、各LED64a~tに関する試料ホルダ32に対する角度であり、図5には、照明強度グラフ100を示す図が示されており、最適化された正規化照明強度測定104がLED64a~tの最適化を示し、最適化されていない照明強度測定108が本明細書に開示する発明の概念による最適化を受けていないLED64a~tを示す。各LED64の電力レベルを調整することによって、最適化された照明強度測定104に示されている実質的に均一の光強度が実現される。実質的に均一の光強度は、85%~100%均一とすることができる。図5に示す例では、最適化された正規化照明強度は85%~95%である。
次に図6を参照すると、本明細書に開示する発明の概念による試薬分析器10によって読み取ることができる試薬カード124の形態の例示的な試験デバイス44の一部分の図120が示されている。
試薬カード124は、基板128および1つもしくはそれ以上または複数の試薬パッド132a~nを含むことができ、試薬パッド132a~nは、基板128上に配置され、または他の方法で基板128に関連付けられる。基板128は、たとえば、紙、写真紙、高分子、繊維材料、およびこれらの組合せなどの任意の好適な材料から構築することができる。試薬パッド132a~nは、たとえば、1つまたはそれ以上の試験ストリップを画成するように、格子状の構成で基板128上に配置することができる。例示的な実施形態では、試薬パッド132a~nは、流体またはマイクロ流体コンパートメント(図示せず)を含むことができる。試薬パッド132a~nは、たとえば、互いから距離をあけて隔置することができ、したがって試験ストリップが隔置され、したがって隣接する試験ストリップおよび/または試薬パッド132a~nを撮像システム22の視野40内の別個の位置に同時に配置することができる。試薬カード124は、異なる試薬および/または複数の異なる試験ストリップを有する複数の試薬パッド132a~nを有する複数プロファイル試薬カードとすることができる。さらに、いくつかの例示的な実施形態では、試薬カード124は、たとえば、1つまたはそれ以上の較正チップまたは基準パッドを含むことができ、そのような較正チップまたは基準パッドは、試薬を有しておらず、色基準として働くことができる。別の実施形態では、試薬カード124は、赤外光下で見ることができる識別子を有するIDパッドを含む。
各試薬パッド132a~nは、試薬パッド132a~n上に堆積した検体の試料46内の分子、細胞、または物質などの標的成分の存在に応答して、色の変化を生じるように構成された試薬を含むことができる。異なる標的成分の存在を検出するために、試薬パッド132a~nに異なる試薬を提供することもできる。異なる試薬は、特定のタイプの分析物など、試料46内の特定の成分の存在に応答して、1つまたはそれ以上の色の変化を引き起こすことができる。特定の試薬に対する特定の成分の反応によって生じる色は、その特定の成分に関する光の吸収および/または反射に対して特徴的な個別のスペクトルを画成することができる。試薬および試料の色の変化の程度は、たとえば、試料46内に存在する標的成分の量に依存することができる。
色の変化は、撮像システム22によって読み取ることができる。試薬パッド132a~nの色を示す信号は、撮像システム22によって受け取ることができ、撮像システム22は、それらの信号を解析し、試薬パッド132a~nが試薬パッド132a~n上に堆積した試料46の体積と反応した結果として生じる試薬パッド132a~nの色の変化を判定することができる。そのような色の変化は、たとえば、試薬パッド132a~nの色を
示す光信号もしくは画像が検出されたときの試薬パッド132a~nの読取り位置、および/または試料46の体積が試薬パッド132a~n上に堆積している既知の継続時間、ならびにこれらの組合せに応じて分析することができる。色の変化は、上述したように、試薬パッド132a~n上に堆積した試料46の体積内の標的成分の存在および/または濃度もしくは量の定量的、定性的、および/または半定性的な標示として解釈することができる。
示す光信号もしくは画像が検出されたときの試薬パッド132a~nの読取り位置、および/または試料46の体積が試薬パッド132a~n上に堆積している既知の継続時間、ならびにこれらの組合せに応じて分析することができる。色の変化は、上述したように、試薬パッド132a~n上に堆積した試料46の体積内の標的成分の存在および/または濃度もしくは量の定量的、定性的、および/または半定性的な標示として解釈することができる。
次に図7を参照すると、分析器コントローラ144を含む試薬分析器10を表した分析器図140が示されている。分析器コントローラ144は、少なくともプロセッサ148および非一時的コンピュータ可読メモリ152を有する。メモリ152は、コンピュータ実行可能命令を記憶することができ、コンピュータ実行可能命令は、プロセッサ148によって実行されると、プロセッサ148に、試薬分析器10の他の要素と通信させ、かつ/または試薬分析器10の他の要素に動作可能に連結させる。分析器コントローラ144は試薬分析器10とは別個に表されているが、いくつかの実施形態では、分析器コントローラ144を試薬分析器10に一体化することができ、たとえば例示のみを目的として、分析器コントローラ144は、試薬分析器10の追加の構成要素とすることができ、または試薬分析器10の別の構成要素、たとえば回路板34と一体化することができることが理解される。
一実施形態では、撮像システム22は、たとえば、分析器コントローラ144および/またはプロセッサ148に動作可能に連結することができ、したがってコントローラ144によって、1つまたはそれ以上の電力および/または制御信号をカメラ126および/または1つもしくはそれ以上の照明源42a~nへ伝送することができ、1つまたはそれ以上の信号をカメラ126からプロセッサ148へ伝送することができる。分析器コントローラ144は、たとえばカメラ126から1つまたはそれ以上の信号を受け取ることによって、試薬分析器10内で試薬カードが抽出されたときの試験結果を評価するように構成することができる。カメラ126は、たとえば、試薬パッドなどの試験デバイス44の反射値を示す1つまたはそれ以上の光信号または他の信号を検出または取り込み、試験デバイス44、たとえば試薬パッドの反射値を示す信号を、プロセッサ148へ伝送するように構成することができる。たとえば、カメラ126によって各読取り位置において、試薬パッドおよび/または試験ストリップの反射値を示す波長を有する1つまたはそれ以上の光信号を検出することができる。カメラ126は、たとえば、視野40内の任意の所望の読取り位置、場所、もしくは領域、または任意の他の所望の1つもしくは複数の場所もしくは領域における試薬パッドおよび/または試験ストリップの反射値を示す光信号を検出することができる。カメラ126によってプロセッサ148へ伝送される信号は、たとえば、電気信号、光信号、およびこれらの組合せとすることができる。一実施形態では、信号は、画素のマトリックスを有する画像ファイルの形態であり、各画素が反射値を示す色コードを有する。例示的な実施形態では、画像ファイルは、2つまたはそれ以上の所定の領域の画素を有することができ、所定の各領域の画素が、カメラ126の視野40内の試薬パッドおよび/または試験ストリップのうちの1つの読取り位置に対応する。一実施形態では、プロセッサ148は、伝送された信号および/または画像ファイルを、1つもしくはそれ以上のデータベース156および/またはメモリ152内に記憶することができる。
プロセッサ148は、たとえば、カメラ126によって検出された信号に基づいて、試薬パッドおよび/または試験ストリップ上に配置された試料(たとえば、尿)とともに、試薬パッドおよび/または試験ストリップの反射値または色の変化を判定することができる。カメラ126によって検出された1つまたはそれ以上の反射値の読取りを示す各光信号または他の信号は、異なる光波長(すなわち、色)に関する大きさを有することができる。試料の色および/または試薬パッド内の標的成分に対する1つもしくはそれ以上の試
薬の反応は、様々な色成分の反射信号、たとえば、赤色、緑色、および青色の反射成分信号の相対的な大きさに基づいて判定することができる。たとえば、各試薬パッドの色は、標準色モデルに変換することができ、標準色モデルは、典型的には、組合せが特定の色を表す3つまたは4つの値または色成分を含む(たとえば、色相、彩度、および明度(HLS)、および色相、彩度、および値(HSV)の点表現を含むRGB色モデル、ならびに/もしくはCMYK色モデル、または任意の他の好適な色モデル)。いくつかの実施形態では、カメラ126は、各読取り位置で複数の光信号を検出することができ、検出された各信号は、たとえば赤色成分信号、緑色成分信号、および青色成分信号などの1つまたはそれ以上の色成分を有し、これらの成分信号の各々をプロセッサ148へ伝送することができる。いくつかの例示的な実施形態では、たとえば、カメラ126は、各読取り位置で単一の光信号を検出することができ、プロセッサ148は、カメラ126から受け取った信号を、赤色成分信号、緑色成分信号、および青色成分信号などの別個の色成分信号に変換することができる。
薬の反応は、様々な色成分の反射信号、たとえば、赤色、緑色、および青色の反射成分信号の相対的な大きさに基づいて判定することができる。たとえば、各試薬パッドの色は、標準色モデルに変換することができ、標準色モデルは、典型的には、組合せが特定の色を表す3つまたは4つの値または色成分を含む(たとえば、色相、彩度、および明度(HLS)、および色相、彩度、および値(HSV)の点表現を含むRGB色モデル、ならびに/もしくはCMYK色モデル、または任意の他の好適な色モデル)。いくつかの実施形態では、カメラ126は、各読取り位置で複数の光信号を検出することができ、検出された各信号は、たとえば赤色成分信号、緑色成分信号、および青色成分信号などの1つまたはそれ以上の色成分を有し、これらの成分信号の各々をプロセッサ148へ伝送することができる。いくつかの例示的な実施形態では、たとえば、カメラ126は、各読取り位置で単一の光信号を検出することができ、プロセッサ148は、カメラ126から受け取った信号を、赤色成分信号、緑色成分信号、および青色成分信号などの別個の色成分信号に変換することができる。
一実施形態では、プロセッサ148は、試薬パッドを基準試薬パッドとして選択または他の方法で指定し、基準試薬パッドを残りの試薬パッドの各々の基準とすることによって、カメラ126によって各試薬パッドで検出されたそれぞれの光信号または画像に対する基準試薬パッドで検出された光信号または画像の反射値の比に基づいて、各読取り位置における各試薬パッドに対する較正係数を計算することができる。さらに、いくつかの例示的な実施形態では、基準試薬パッドを選択するのではなく、当業者には理解されるように、各試薬パッドに対する概念色または色標準を各試薬パッドの基準とすることができる。
較正ルーチン170(後述および図8に示す)は、非一時的コンピュータ可読媒体154に記憶されているプロセッサ実行可能命令または論理セットとして実装することができ、これらの命令または論理は、プロセッサ148によって実行されると、プロセッサ148に、論理を実施させて較正係数を計算または判定させる。較正ルーチン170は、たとえば、事前設定された時間間隔、試薬カードの新しいロットごと、試薬分析器10に該当する特有の品質管理手順に従って所望される場合、およびこれらの組合せなど、周期的に実施することができる。
次に図8を参照すると、較正ルーチン170の例示的なプロセスフロー図が示されており、較正ルーチン170は概して:較正試験ストリップの少なくとも1つの画像を獲得する工程であって、各画像に対して1つまたはそれ以上の照明源のうちの1つのみが有効にされる工程(工程174)と;画像を前処理する工程(工程178)と;前処理された画像によって「A」マトリックスを更新する工程(工程182)と;1つまたはそれ以上の照明源42a~nの各々の強度値を判定する工程(工程186)と;照明源強度ファイルを生成する工程(工程190)と;照明源強度ファイルを使用して較正試験ストリップの試験画像を獲得する工程(工程194)と;不均一性値を判定する工程(工程198)とからなる。較正ルーチン170は、必要とされる最小数の照明源42a~nで光強度の均一性を最大にし、回路板34上の各照明源42a~nに対する照明源の状態を判定するために使用される。較正ルーチン170について、各照明源42a~nをLED64a~nとして以下で説明するが、各LED64a~nを他の照明源42a~nに置き換えることもできることが理解される。さらにたとえば、各LEDに対する照明源の状態をLED状態データとして記憶することができ、これには、強度、電力レベル、場所、LED識別子、および/またはこれらの組合せなど、LEDについて記述するデータを含むことができる。
工程174で、カメラ126は、第1のLED64aが有効にされ、たとえば残りすべてのLED64b~tが無効にされた状態で、試料ホルダ32内に配置された較正試験ストリップの反射値を示す第1の光信号または第1の画像を検出することができる。例示的
な実施形態では、カメラ126は、較正試験ストリップの色を表す色または反射値を有する画素領域を有する画像を検出し、そのような画像をコントローラ144へ伝送することができる。カメラ126は、次いで、第2のLED64bが有効にされ、たとえば残りすべてのLED64aおよび64c~tが無効にされた状態で、試料ホルダ32内の較正試験ストリップ位置の反射値を示す第1の光信号とは異なる第2の光信号または第1の画像とは異なる第2の画像を検出することができる。較正試験ストリップは、1つまたはそれ以上の乾式試薬パッドを有する乾式試薬カードとすることができる。各画像は、有効状態、すなわちLED電力レベルがLEDによる光の生成を有効にする値に設定された状態を有するLED64に関連付けられたLED識別子など、画像に記憶されたメタデータを含むことができる。較正試験ストリップには試料が堆積していないため、反応は発生せず、較正試験ストリップの色は較正試験ストリップにわたって均一になるはずである。したがって、第1の画像および第2の画像内で検出される反射値の差は、不均一な照明によるものである。
な実施形態では、カメラ126は、較正試験ストリップの色を表す色または反射値を有する画素領域を有する画像を検出し、そのような画像をコントローラ144へ伝送することができる。カメラ126は、次いで、第2のLED64bが有効にされ、たとえば残りすべてのLED64aおよび64c~tが無効にされた状態で、試料ホルダ32内の較正試験ストリップ位置の反射値を示す第1の光信号とは異なる第2の光信号または第1の画像とは異なる第2の画像を検出することができる。較正試験ストリップは、1つまたはそれ以上の乾式試薬パッドを有する乾式試薬カードとすることができる。各画像は、有効状態、すなわちLED電力レベルがLEDによる光の生成を有効にする値に設定された状態を有するLED64に関連付けられたLED識別子など、画像に記憶されたメタデータを含むことができる。較正試験ストリップには試料が堆積していないため、反応は発生せず、較正試験ストリップの色は較正試験ストリップにわたって均一になるはずである。したがって、第1の画像および第2の画像内で検出される反射値の差は、不均一な照明によるものである。
工程178で、各画像が前処理される。前処理は、画像間の比較を有効にするための各画像の1つまたはそれ以上の修正を含むことができる。たとえば、前処理は、画像を回転させること、および/または画像の一部分のみが較正ルーチン170で利用されるように画像を切り取ることを含むことができる。
工程182で、前処理された画像によって「A」マトリックスが更新される。「A」マトリックスにおいて、「A」のi番目の列は、物体平面(たとえば、試薬カードの頂面に対応する平面)上の照明強度または明るさに電力供給されるi番目のLEDの強度分布である。ビネッティングVは別個に較正することができる。同様に、Aiのi番目の列は、画像平面において単位電力で測定されたi番目のLEDの照明強度分布である。
例示的な「A」マトリックスは、P1×m=Vm×mAm×nW1×nとして、マトリックスの形態で説明することができ、ここで、vはビネッティング機能であり、wはLED照明強度または明るさであり、mは物体および画像平面上の格子点の数であり、nはLEDの数である。画像平面強度を適応させるために、重みwiが判定される必要がある。
物体平面上に配置されたL(q)によって与えられる放射強度分布を有する単一のLEDの場合、平面上の任意の点(x,y)における放射照度は:
または、
によって与えられ、ここで、pobjは単位面積当たりの強度である。
均一の電力が供給される1つまたはそれ以上のLEDによる照明は、画像平面である物体平面の縁部で先細りし、ビネッティングによって悪化する。均一の照明強度を取得するために、物体平面の縁部により近いLEDに対して、LED電力が増大され、したがって照明強度を増大させる。一実施形態では、各LEDの電力を調整することは、異なる電流制限抵抗器の使用および/またはパルス幅変調によって実行される。
工程186で、画像平面内の実質的に均一の照明のために、LEDの数、LED位置、
およびLED照明強度または明るさを最適化するように、一定のベクトルに対して、0≦w≦wmaxを条件として、c1×mおよびAI=VA minimize(||AIw-c||2+λ||w||1)という最適化問題が解決される。代替実施形態では、最適化は、LED照明強度ではなく、LED電流または電力に基づいて実行することができ、一定のベクトルcが総入射電力を指定する。この最適化問題を解決することによって、ビネッティングを別個に較正またはモデル化する必要がなくなる。さらに、上記のcの選択により、最適化問題によって照明強度を均一の照明だけでなく任意の関数に適応させることが有効になる。一実施形態では、前処理された画像によって「A」マトリックスを更新することは、プロセッサ148によって実行され、これをメモリ152またはデータベース156内に記憶することができる。次いで画像は、回転のために補正され、セグメント化され、ベクトル化され、「A」マトリックスからアセンブルされる。最適化されたLED強度は、LED64a~tの各々に電力供給するために使用され、評価のために再び画像が撮影される。一実施形態では、LED強度は、たとえばMATLABにおけるCVX最適化パッケージおよび以下のコードを利用することによって判定することができる:
cvx_begin
variable w(led.count)
minimize(norm(A*w-b))
subject to
0<=w<=1
cvx_end
およびLED照明強度または明るさを最適化するように、一定のベクトルに対して、0≦w≦wmaxを条件として、c1×mおよびAI=VA minimize(||AIw-c||2+λ||w||1)という最適化問題が解決される。代替実施形態では、最適化は、LED照明強度ではなく、LED電流または電力に基づいて実行することができ、一定のベクトルcが総入射電力を指定する。この最適化問題を解決することによって、ビネッティングを別個に較正またはモデル化する必要がなくなる。さらに、上記のcの選択により、最適化問題によって照明強度を均一の照明だけでなく任意の関数に適応させることが有効になる。一実施形態では、前処理された画像によって「A」マトリックスを更新することは、プロセッサ148によって実行され、これをメモリ152またはデータベース156内に記憶することができる。次いで画像は、回転のために補正され、セグメント化され、ベクトル化され、「A」マトリックスからアセンブルされる。最適化されたLED強度は、LED64a~tの各々に電力供給するために使用され、評価のために再び画像が撮影される。一実施形態では、LED強度は、たとえばMATLABにおけるCVX最適化パッケージおよび以下のコードを利用することによって判定することができる:
cvx_begin
variable w(led.count)
minimize(norm(A*w-b))
subject to
0<=w<=1
cvx_end
工程190で、LED強度は、LED強度ファイルにコンパイルされ、プロセッサ148によって、メモリ152、データベース156、または別の好適な記憶媒体、またはこれらの組合せに記憶される。LED強度ファイルは、LED64a~tの各々に対するLED状態データを記憶することができる。LED強度は、LED強度ファイル内に、各LED64a~nに対する単一のLED強度として、または所望の色モデルの各チャネルに対するLED強度として記憶することができる。たとえば、各LED64a~tに対して、またRGB色モデルまたは任意の他の所望の色モデルの各チャネルに対して、赤色成分LED強度、緑色成分LED強度、および青色成分LED強度を記憶することができる。
工程194で、カメラ126は、たとえば、LED強度ファイル内の特有のLED状態データごとに各LED64a~tが有効にされた状態で、試料ホルダ32内に配置された較正試験ストリップの反射値を示す試験光信号を検出することができ、または試験画像を取得することができる。カメラ126は、較正試験ストリップの色を表す色または反射値を有する画素の領域を有する試験画像を検出し、そのような画像をコントローラ144へ伝送することができる。
工程198で、コントローラ144は、試験画像を評価して不均一性値を判定することができる。不均一性値は、試験画像内の照明強度の不均一性のパーセンテージとして表すことができる。例示的な実施形態では、不均一性パーセントは5%未満である。不均一性パーセントが5%より大きい場合、コントローラ144は、較正ルーチン170をうまく完了することに失敗したことの標示、較正ルーチン170の再実行の試行、および/もしくはこれらの何らかの組合せを行うことができ、または何も行わなくてもよい。
さらに、当業者には理解されるように、たとえば、試薬分析器10に対する休止時間を低減させるために、試薬カード上の1つまたはそれ以上の較正試験ストリップで較正ルーチン170を実施することができ、残りの試験ストリップは、上述したように試料を試験するために使用される。一実施形態では、試薬分析器10は、現在の較正を確認するために、試料が分析される前に不均一性値を判定することができる。試薬分析器10が較正されていないことが判定された場合、較正ルーチン170を実行することができる。
次に図9を参照すると、上記で論じた試薬分析器10と同様に構築された試薬分析器10aの例示的な実施形態の図が示されているが、試薬分析器10aは第1の偏光子202aおよび第2の偏光子202bを有する。試薬分析器10と試薬分析器10aとの間で共通している要素は、同じ参照番号で示す。第1の偏光子202aおよび第2の偏光子202bは、たとえば、ポリビニルアルコール(PVA)、三酢酸セルロース(CTA)、およびこれらの組合せなどの任意の好適な材料から構築された線吸収性(または二色性)の偏光フィルタとすることができる。
第1の偏光子202aは、第1の伝送軸206a、第1の境界210a、第1の境界210aとは反対に位置する第2の境界210b、および開口部214(本明細書では、第2の開口部とも呼ぶ)を有することができ、空洞18内に配置して、回路板34と試料ホルダ32との間に置くことができ、したがって1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生成された光は第1の境界210aに提供され、光の一部分は第1の偏光子202aおよび第2の境界210bを通過する。いくつかの実施形態では、1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生成された光は、第1の境界210aに直接提供される。
第1の境界210aに光が提供されたとき、第1の偏光子202aは、光のうち第1の伝送軸206aに平行に線形偏光された部分は第2の境界210bから伝送し、光のうち第1の伝送軸206aに垂直に線形偏光された部分は吸収するように構成することができる。
一実施形態では、第1の偏光子202aは、回路板34の底面61aに取り付けられて、1つまたはそれ以上の照明源42a~nを覆い、別の実施形態では、第1の偏光子202aは、空洞18内で回路板34の下および試料ホルダ32の上に取り付けられる。
第2の開口部214は、第1の開口部38と位置合わせする(すなわち、重なる)ことができる。第2の開口部214は、第1の境界210aから第2の境界210bへ延びることができ、第1の開口部38と位置合わせされて、撮像システム22の視野40が回路板34および第1の偏光子202aを通って撮像システム22から試料ホルダ32へ進むことを可能にし、試料ホルダ32に関連付けられた試験デバイス44の制御された視野をカメラ26に提供することができる。第2の開口部214は、視野40が試料ホルダ32の制御された視野になり、1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生成された光が第1の偏光子202aに提供されるように、任意の形状で構成することができる。
たとえば、いくつかの実施形態では、第1の偏光子202aは、複数の別個の偏光子を含み、これら別個の偏光子が、1つまたはそれ以上の照明源42a~nのうちの1つまたはそれ以上を覆う。この実施形態では、第2の開口部214は、第1の開口部38と位置合わせされた別個の偏光子をなくすことによって形成することができる。
第2の偏光子202bは、第2の伝送軸206b、第3の境界210c、および第4の境界210dを有することができ、空洞18内に配置して、撮像システム22と回路板34との間に置くことができ、したがって撮像システム22の視野40は第2の偏光子202bを通過し、試料ホルダ32、試験デバイス44、および/または試料46から反射された光は、第3の境界210cによって受け取られて、第2の偏光子202bおよび第4の境界210dを通って撮像システム22および/またはカメラ26へ進められる。
第3の境界210cに光が提供されたとき、第2の偏光子202bは、光のうち第2の伝送軸206bに平行に線形偏光された部分は第4の境界210dから伝送し、光のうち第2の伝送軸206bに垂直に線形偏光された部分は吸収するように構成することができ
る。
る。
一実施形態では、第2の偏光子202bは、固定された向きを有し、したがって第2の伝送軸206bは第1の伝送軸206aに実質的に直交しているが、別の実施形態では、第2の偏光子202bは、第2の伝送軸206bの向きを調整することができるように、撮像システム22および/またはカメラ26に可動(たとえば、回転可能)に取り付けられる。
次に図10を参照すると、回路板34および第1の偏光子202aの例示的な実施形態の分解直交図を示す図が示されている。回路板34は基板60から構成され、基板60は、底面61aおよび頂面61bと、底面61aと頂面61bとの間に延びる第1の開口部38と、1つまたはそれ以上の照明源42a~nとを有する。1つまたはそれ以上の照明源42a~nは、底面61aに取り付けることができる。第1の偏光子202aは、第1の境界210aおよび第2の境界210b、第1の伝送軸206a、ならびに第1の境界210aと第2の境界210bとの間に延びる第2の開口部214から構成される。第2の開口部214は、第1の開口部38と位置合わせされる。第1の偏光子202aは、回路板34の底面61aに取り付けることができ、1つまたはそれ以上の照明源42a~nを覆うことができる。
次に図11を参照すると、第1の偏光子202aが1つまたはそれ以上の照明源42a~nによって生成された偏光されていない光218をフィルタリングし、偏光された光222を、試料46を有する試験デバイス44の方へ直接伝送することを示す図が示されている。試料46を有する試験デバイス44は、偏光された光222を反射し、拡散反射226および正反射230を第2の偏光子202bの方へ誘導する。第2の偏光子202bは、拡散反射226および正反射230をフィルタリングし、偏光された光222をカメラ26の方へ伝送する。
第1の伝送軸206aを有する第1の偏光子202aは、偏光されていない光218をフィルタリングし、偏光された光222を試料46の方へ直接伝送することができ、偏光された光222は、第1の伝送軸206aに平行に線形偏光される。偏光された光222は、試料46によって反射されて、拡散反射226および正反射230を生じさせることができる。
拡散反射226は、偏光されていなくてもよく、または偏光された光222とは異なる方向(すなわち、第1の伝送軸206aと交差)に偏光させることもできる。正反射230は、偏光された光222と同じ方向(すなわち、第1の伝送軸206aに平行)に偏光させることができる。
拡散反射226および正反射230はどちらも、第2の偏光子202bの方へ誘導される。第2の偏光子202bは、拡散反射226および正反射230をフィルタリングし、偏光された光222をカメラ26の方へ直接伝送することができ、偏光された光222は、第2の伝送軸206bに平行に線形偏光される。
1つまたはそれ以上の照明源42a~nとカメラ26との間に提供される角度θが比較的小さい場合(たとえば、約5度)、第1の偏光子202aおよび第2の偏光子202bを含むことは特に重要である。しかし、角度θは、本開示によって試薬分析器10aが機能することを可能にする任意の角度とすることができる。たとえば(限定ではないが)、角度θは、約10度、約20度、約30度、約40度、約50度、約60度、約70度、約80度、約90度、またはそれ以上、ならびに2つの上述した値の間に入る2つの整数を組み合わせた範囲(すなわち、約13度~約87度の範囲など)とすることができる。
偏光されていない光218が第1の偏光子202aに提供された場合、第1の偏光子202aによって伝送される偏光された光222は、第1の伝送軸206aに平行に線形偏光され、
によって与えられる強度を有し、ここで、I0は偏光されていない光218の強度である。
偏光された光222が第2の偏光子202bに提供された場合、第2の偏光子202bによって伝送される光は、第2の伝送軸206bに平行に線形偏光され、I2=I1cos2Φによって与えられる強度を有し、ここで、Φは偏光された光222の偏光と第2の伝送軸206bとの間の角度である。図11に示すように、偏光された光222の偏光が第2の伝送軸206bに実質的に直交している場合(すなわち、Φ≒90°)、第2の偏光子202bによって伝送される光の強度は、I2=I1cos2(90°)=0であり、第2の偏光子202bは、偏光された光222のいずれも伝送しない。
一実施形態では、第2の伝送軸206bは、第1の伝送軸206aに実質的に直交している。したがって、正反射230の偏光は第2の伝送軸206bに実質的に直交するが、拡散反射226の偏光は直交しておらず、それにより拡散反射226の一部分が第2の伝送軸206bを通過することを可能にしながら、正反射230は阻止する。別の実施形態では、第2の偏光子202bは、拡散反射226および/または正反射230をより多くまたは少なく吸収するように、第2の伝送軸206bの向きを調整することができるように可動(たとえば、回転可能)である。
いくつかの実施形態では、試験デバイス44は、試薬カードまたは試薬ストリップ上に1つまたはそれ以上の試薬パッドを含む。いくつかの場合、試料46の一部分が試験デバイス44(たとえば、試薬パッド)の表面に溜りまたは留まり、正反射230を生じさせる。第1の偏光子202aおよび第2の偏光子202bを組み込むことによって、偏光された光222を試験デバイス44の試薬パッド内の光の吸収および散乱のみに関係付けることができ、分析物の濃度に関して改善された読取りを提供することができる。
以下は、本明細書に開示する発明の概念の非限定的な例示的実施形態の番号リストである:
1.方法であって:
カメラセンサの視野内に湿式試薬試験デバイスを配置することであって、カメラセンサの視野が、回路板の基板の第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を通過し、湿式試薬試験デバイスに試料の体積が堆積され、したがって標的成分が試料内に存在する場合、湿式試薬試験デバイス内の試薬が標的成分と反応することができることと;
回路板の基板の第2の主表面に取り付けられた複数の光源によって生成された光によって湿式試薬試験デバイスを照明することとを含み、
光の一部分は、光が湿式試薬試験デバイスパッドから反射して回路板の基板内の開口部を通過することによって形成される反射光信号であり;
方法はさらに、
カメラセンサによって反射光信号を検出し、試薬パッドの少なくとも一部分の画像を生成することを含む方法。
カメラセンサの視野内に湿式試薬試験デバイスを配置することであって、カメラセンサの視野が、回路板の基板の第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を通過し、湿式試薬試験デバイスに試料の体積が堆積され、したがって標的成分が試料内に存在する場合、湿式試薬試験デバイス内の試薬が標的成分と反応することができることと;
回路板の基板の第2の主表面に取り付けられた複数の光源によって生成された光によって湿式試薬試験デバイスを照明することとを含み、
光の一部分は、光が湿式試薬試験デバイスパッドから反射して回路板の基板内の開口部を通過することによって形成される反射光信号であり;
方法はさらに、
カメラセンサによって反射光信号を検出し、試薬パッドの少なくとも一部分の画像を生成することを含む方法。
2.試料内の標的成分の有無を判定するために、プロセッサが非一時的コンピュータ可読媒体内に記憶されているプロセッサ実行可能コードを実行することによって画像を解析することをさらに含む、例示的実施形態1に記載の方法。
3.プロセッサがプロセッサ実行可能コードを実行することによって画像を解析することは、試料内の標的成分の存在を示す所定の色に関して画像内の画素を解析することとしてさらに定義される、例示的実施形態2に記載の方法。
4.複数の光源によって生成された光によって湿式試薬試験デバイスを照明することは、各光源が湿式試薬試験デバイスで制御された照明を提供するように計算された量の照明に寄与するようなレベルの電気を光源の各々に供給することとしてさらに定義される、例示的実施形態1~3のいずれか1つに記載の方法。
5.制御された照明は、湿式試薬試験デバイスにおいて実質的に均一の強度を有する照明である、例示的実施形態4に記載の方法。
6.制御された照明は、湿式試薬試験デバイスにおいて設計された強度である、例示的実施形態4に記載の方法。
7.基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の群の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の群の光源は、基板の中間領域内に配置され、光によって湿式試薬試験デバイスを照明することは、第1の量の電気を第1の群の光源に提供し、第2の量の電気を第2の群の光源に提供することを含み、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、例示的実施形態4~6のいずれか1つに記載の方法。
8.第1の量の電気は、第1の群の光源のうちの第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の群の光源のうちの第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、例示的実施形態7に記載の方法。
9.光源は平面関係で配置される、例示的実施形態1~8のいずれか1つに記載の方法。
10.光を第1の偏光子の第1の境界へ誘導することであって、第1の偏光子が、第1の伝送軸を有し、光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第1の偏光子の第2の境界から伝送するように構成されることと;
反射光信号を第2の偏光子の第3の境界へ誘導することであって、第2の偏光子が、第2の伝送軸を有し、反射光信号のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の偏光子の第4の境界から伝送するように構成されることと
をさらに含む、例示的実施形態1~9のいずれか1つに記載の方法。
反射光信号を第2の偏光子の第3の境界へ誘導することであって、第2の偏光子が、第2の伝送軸を有し、反射光信号のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の偏光子の第4の境界から伝送するように構成されることと
をさらに含む、例示的実施形態1~9のいずれか1つに記載の方法。
11.第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、例示的実施形態10に記載の方法。
12.第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、カメラセンサに可動に取り付けられる、例示的実施形態10に記載の方法。
13.試薬分析器であって:
基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有する回路板であって、基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位
置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有する、回路板と、
基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイスの画像を取り込むように構成された撮像システムであって、画像が複数の画素を有する、撮像システムと;
画像を受け取り、画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成されたプロセッサとを含む試薬分析器。
基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有する回路板であって、基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位
置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有する、回路板と、
基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイスの画像を取り込むように構成された撮像システムであって、画像が複数の画素を有する、撮像システムと;
画像を受け取り、画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成されたプロセッサとを含む試薬分析器。
14.第1の主表面は、撮像システムに対向し、基板の第2の主表面に取り付けられた光源をさらに含む、例示的実施形態13に記載の試薬分析器。
15.光源は第1の光源であり、試薬分析器は、第2の光源と、第1および第2の光源に電気を供給するように構成された回路とをさらに含み、したがって第1および第2の光源は、制御された照明を提供するように計算された量の湿式試薬試験デバイスの照明に寄与する、例示的実施形態14に記載の試薬分析器。
16.制御された照明は、実質的に均一の強度である、例示的実施形態15に記載の試薬分析器。
17.基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の光源は、基板の中間領域内に配置され、回路は、第1の量の電気を第1の光源に提供し、第2の量の電気を第2の光源に提供するように構成され、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、例示的実施形態15に記載の試薬分析器。
18.第1の量の電気は、第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、例示的実施形態17に記載の試薬分析器。
19.基板の第2の主表面は平面である、例示的実施形態14に記載の試薬分析器。
20.開口部は、第1の開口部であり:
第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、湿式試薬試験デバイスに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有する第1の偏光子であって、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成され、第1の開口部が第2の開口部に重なる、第1の偏光子と;
第2の伝送軸、湿式試薬デバイスによって反射された光が第3の境界に入射するように基板の第1の開口部に対向する第3の境界、および撮像システムに対向する第4の境界を有する第2の偏光子であって、湿式試薬デバイスによって反射された光のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子をさらに含む、例示的実施形態14に記載の試薬分析器。
第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、湿式試薬試験デバイスに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有する第1の偏光子であって、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成され、第1の開口部が第2の開口部に重なる、第1の偏光子と;
第2の伝送軸、湿式試薬デバイスによって反射された光が第3の境界に入射するように基板の第1の開口部に対向する第3の境界、および撮像システムに対向する第4の境界を有する第2の偏光子であって、湿式試薬デバイスによって反射された光のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子をさらに含む、例示的実施形態14に記載の試薬分析器。
21.第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、例示的実施形態20に記載の試薬分析器。
22.第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、撮像システムに可動に取り付けられる、例示的実施形態21に記載の試薬分析器。
23.装置であって:
空洞を取り囲む、可視光に対して不透明なハウジングと;
空洞内の視野を有するカメラセンサと;
空洞内に配置され、カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
空洞内でカメラセンサと試料トレイとの間に配置された回路板であって、基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有し、基板が、カメラセンサに対向する第1の主表面、および試料トレイに対向する第2の主表面を有し、第1の主表面が、第2の主表面とは反対に位置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有し、開口部が、試料トレイの試料ホルダの制御された視野をカメラセンサに提供するために、カメラの視野が開口部を通過するようにカメラセンサの視野内に配置される、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられ、基板上に延びる複数の導電リードの少なくとも一部分に接続された光源と;
導電リードに取り付けられ、導電リードを介して光源に電気を供給するように構成された回路とを含む装置。
空洞を取り囲む、可視光に対して不透明なハウジングと;
空洞内の視野を有するカメラセンサと;
空洞内に配置され、カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
空洞内でカメラセンサと試料トレイとの間に配置された回路板であって、基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有し、基板が、カメラセンサに対向する第1の主表面、および試料トレイに対向する第2の主表面を有し、第1の主表面が、第2の主表面とは反対に位置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有し、開口部が、試料トレイの試料ホルダの制御された視野をカメラセンサに提供するために、カメラの視野が開口部を通過するようにカメラセンサの視野内に配置される、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられ、基板上に延びる複数の導電リードの少なくとも一部分に接続された光源と;
導電リードに取り付けられ、導電リードを介して光源に電気を供給するように構成された回路とを含む装置。
24.光源は、平面の構成で配置および支持された複数の光源を含む、例示的実施形態23に記載の装置。
25.基板の第2の主表面は平面である、例示的実施形態24に記載の装置。
26.回路は、各光源が試料ホルダで制御された照明を提供するように計算された量の試料トレイの試料ホルダの照明に寄与するように、光源の各々に電気を供給するように構成される、例示的実施形態24または25に記載の装置。
27.制御された照明は、試料トレイの範囲にわたって実質的に均一の強度である、例示的実施形態26に記載の装置。
28.基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の群の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の群の光源は、基板の中間領域内に配置され、回路は、第1の量の電気を第1の群の光源に提供し、第2の量の電気を第2の群の光源に提供し、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、例示的実施形態24に記載の装置。
29.第1の量の電気は、第1の群の光源のうちの第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の群の光源のうちの第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、例示的実施形態28に記載の装置。
30.試料ホルダは、第1の長軸および第1の短軸を有し、基板内の開口部は、第1の長軸に平行な第2の長軸を有する、例示的実施形態23~29のいずれか1つに記載の装置。
31.開口部は、第1の開口部であり:
空洞内で光源と試料トレイとの間に配置された第1の偏光子であって、第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、試料トレイに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成された第1の偏光子と;
カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子であって、第2の伝送軸、試料トレイによって反射された光が第3の境界に入射するように基板の第1の開口部に対向する第3の境界、およびカメラセンサに対向する第4の境界を有し、試料トレイによって反射された光
のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子とをさらに含む、例示的実施形態23~30のいずれか1つに記載の装置。
空洞内で光源と試料トレイとの間に配置された第1の偏光子であって、第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、試料トレイに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成された第1の偏光子と;
カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子であって、第2の伝送軸、試料トレイによって反射された光が第3の境界に入射するように基板の第1の開口部に対向する第3の境界、およびカメラセンサに対向する第4の境界を有し、試料トレイによって反射された光
のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子とをさらに含む、例示的実施形態23~30のいずれか1つに記載の装置。
32.第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、例示的実施形態31に記載の装置。
33.第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、カメラセンサに可動に取り付けられる、例示的実施形態32に記載の装置。
34.装置であって:
基板を有する回路板であって、基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位置し、第1の開口部が第1の主表面と第2の主表面との間に延びる、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられた光源と;
第1の伝送軸、光源に対向する第1の境界、第1の境界に対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、第2の開口部が第1の開口部に重なる、第1の偏光子と;
基板内に形成された第1の開口部および第1の偏光子内に形成された第2の開口部を通って延びる視野を有するカメラセンサと;
カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
第1の伝送軸に実質的に直交する第2の伝送軸を有し、カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子とを含む装置。
基板を有する回路板であって、基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位置し、第1の開口部が第1の主表面と第2の主表面との間に延びる、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられた光源と;
第1の伝送軸、光源に対向する第1の境界、第1の境界に対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、第2の開口部が第1の開口部に重なる、第1の偏光子と;
基板内に形成された第1の開口部および第1の偏光子内に形成された第2の開口部を通って延びる視野を有するカメラセンサと;
カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
第1の伝送軸に実質的に直交する第2の伝送軸を有し、カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子とを含む装置。
本明細書に開示する工程は、同時にまたは任意の所望の順序で実行することができることを理解されたい。たとえば、本明細書に開示する工程のうちの1つまたはそれ以上を省略することができ、1つまたはそれ以上の工程を1つまたはそれ以上の下位工程にさらに分割することができ、2つまたはそれ以上の工程または下位工程を組み合わせて単一の工程にすることができる。さらに、いくつかの例示的な実施形態では、1つまたはそれ以上の工程を1つまたはそれ以上の回数繰り返すことができ、そのような反復は順次実施され、または他の工程もしくは下位工程に点在される。加えて、1つまたはそれ以上の他の工程または下位工程は、たとえば、本明細書に開示する工程の前、後、または間に実施することができる。
本明細書に開示する発明の概念について、試薬パッドの反射値を検出することに関連して説明したが、本発明の概念のいくつかの例示的な実施形態では、吸収値、伝送値、または試薬パッドの色もしくは色の変化に関連する任意の他の値もしくは特性を使用して、較正を計算することもできることを理解されたい。
上記の説明から、本明細書に開示する発明の概念は、これらの目的を実施し、本明細書に記載した利点ならびに本明細書に開示する発明の概念に固有の利点を達成するようにうまく適用されることが明らかである。本明細書に開示する発明の概念の例示的な実施形態について、本開示の目的で説明したが、当業者には容易に想到される多数の変更を加えることができ、そのような変更は、添付の特許請求の範囲に開示および定義する発明の概念の範囲内で実現されることが理解されよう。
Claims (34)
- 方法であって:
カメラセンサの視野内に湿式試薬試験デバイスを配置することであって、カメラセンサの視野が、回路板の基板の第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を通過し、湿式試薬試験デバイスに試料の体積が堆積され、したがって標的成分が試料内に存在する場合、湿式試薬試験デバイス内の試薬が標的成分と反応することができることと;
回路板の基板の第2の主表面に取り付けられた複数の光源によって生成された光によって湿式試薬試験デバイスを照明することとを含み、
光の一部分は、該光が湿式試薬試験デバイスパッドから反射して回路板の基板内の開口部を通過することによって形成される反射光信号であり;
該方法はさらに、
カメラセンサによって反射光信号を検出し、試薬パッドの少なくとも一部分の画像を生成することを含む前記方法。 - 試料内の標的成分の有無を判定するために、プロセッサが非一時的コンピュータ可読媒体内に記憶されているプロセッサ実行可能コードを実行することによって画像を解析することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- プロセッサがプロセッサ実行可能コードを実行することによって画像を解析することは、試料内の標的成分の存在を示す所定の色に関して画像内の画素を解析することとしてさらに定義される、請求項2に記載の方法。
- 複数の光源によって生成された光によって湿式試薬試験デバイスを照明することは、各光源が湿式試薬試験デバイスで制御された照明を提供するように計算された量の照明に寄与するようなレベルの電気を光源の各々に供給することとしてさらに定義される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- 制御された照明は、湿式試薬試験デバイスにおいて実質的に均一の強度を有する照明である、請求項4に記載の方法。
- 制御された照明は、湿式試薬試験デバイスにおいて設計された強度である、請求項4に記載の方法。
- 基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の群の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の群の光源は、基板の中間領域内に配置され、光によって湿式試薬試験デバイスを照明することは、第1の量の電気を第1の群の光源に提供し、第2の量の電気を第2の群の光源に提供することを含み、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、請求項4~6のいずれか1項に記載の方法。
- 第1の量の電気は、第1の群の光源のうちの第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の群の光源のうちの第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、請求項7に記載の方法。
- 光源は平面関係で配置される、請求項1~8のいずれか1項に記載の方法。
- 光を第1の偏光子の第1の境界へ誘導することであって、第1の偏光子が、第1の伝送軸を有し、光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第1の偏光子の第2の境界から伝送するように構成されることと;
反射光信号を第2の偏光子の第3の境界へ誘導することであって、第2の偏光子が、第2の伝送軸を有し、反射光信号のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の偏光子の第4の境界から伝送するように構成されることと
をさらに含む、請求項1~9のいずれか1項に記載の方法。 - 第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、請求項10に記載の方法。
- 第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、カメラセンサに可動に取り付けられる、請求項10に記載の方法。
- 試薬分析器であって:
基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有する回路板であって、基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有する、回路板と、
基板内に形成された開口部を通って延びる視野を有し、該視野内の読取り位置に配置された湿式試薬試験デバイスの画像を取り込むように構成された撮像システムであって、画像が複数の画素を有する、撮像システムと;
画像を受け取り、該画像の画素を解析して、湿式試薬パッドに加えられた試料内の標的成分の有無を判定するように構成されたプロセッサとを含む前記試薬分析器。 - 第1の主表面は、撮像システムに対向し、基板の第2の主表面に取り付けられた光源をさらに含む、請求項13に記載の試薬分析器。
- 光源は第1の光源であり、試薬分析器は、第2の光源と、第1および第2の光源に電気を供給するように構成された回路とをさらに含み、したがって第1および第2の光源は、制御された照明を提供するように計算された量の湿式試薬試験デバイスの照明に寄与する、請求項14に記載の試薬分析器。
- 制御された照明は、実質的に均一の強度である、請求項15に記載の試薬分析器。
- 基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の光源は、基板の中間領域内に配置され、回路は、第1の量の電気を第1の光源に提供し、第2の量の電気を第2の光源に提供するように構成され、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、請求項15に記載の試薬分析器。
- 第1の量の電気は、第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、請求項17に記載の試薬分析器。
- 基板の第2の主表面は平面である、請求項14に記載の試薬分析器。
- 開口部は、第1の開口部であり:
第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、湿式試薬試験デバイスに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有する第1の偏光子であって、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成され、第1の開口部が第2の開口部に重なる、第1の偏光子と;
第2の伝送軸、湿式試薬デバイスによって反射された光が第3の境界に入射するように
基板の第1の開口部に対向する第3の境界、および撮像システムに対向する第4の境界を有する第2の偏光子であって、湿式試薬デバイスによって反射された光のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子とをさらに含む、請求項14に記載の試薬分析器。 - 第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、請求項20に記載の試薬分析器。
- 第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、撮像システムに可動に取り付けられる、請求項21に記載の試薬分析器。
- 装置であって:
空洞を取り囲む、可視光に対して不透明なハウジングと;
空洞内の視野を有するカメラセンサと;
空洞内に配置され、カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
空洞内でカメラセンサと試料トレイとの間に配置された回路板であって、基板および基板上または基板内に延びる複数の導電リードを有し、基板が、カメラセンサに対向する第1の主表面、および試料トレイに対向する第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位置し、基板が、第1の主表面と第2の主表面との間に延びる開口部を有し、開口部が、試料トレイの試料ホルダの制御された視野をカメラセンサに提供するために、カメラの視野が開口部を通過するようにカメラセンサの視野内に配置される、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられ、基板上に延びる複数の導電リードの少なくとも一部分に接続された光源と;
導電リードに取り付けられ、該導電リードを介して光源に電気を供給するように構成された回路とを含む前記装置。 - 光源は、平面の構成で配置および支持された複数の光源を含む、請求項23に記載の装置。
- 基板の第2の主表面は平面である、請求項24に記載の装置。
- 回路は、各光源が試料ホルダで制御された照明を提供するように計算された量の試料トレイの試料ホルダの照明に寄与するように、光源の各々に電気を供給するように構成される、請求項24または25に記載の装置。
- 制御された照明は、試料トレイの範囲にわたって実質的に均一の強度である、請求項26に記載の装置。
- 基板は、第1の面、第1の面とは反対に位置する第2の面、および第1の面と第2の面との間に位置する中間領域を有し、第1の群の光源は、基板の第1の面に隣接して配置され、第2の群の光源は、基板の中間領域内に配置され、回路は、第1の量の電気を第1の群の光源に提供し、第2の量の電気を第2の群の光源に提供し、第1の量の電気は第2の量の電気より大きい、請求項24に記載の装置。
- 第1の量の電気は、第1の群の光源のうちの第1の光源を第1の明るさで動作させ、第2の量の電気は、第2の群の光源のうちの第2の光源を第2の明るさで動作させ、第1の明るさは第2の明るさより大きい、請求項28に記載の装置。
- 試料ホルダは、第1の長軸および第1の短軸を有し、基板内の開口部は、第1の長軸に平行な第2の長軸を有する、請求項23~29のいずれか1項に記載の装置。
- 開口部は、第1の開口部であり:
空洞内で光源と試料トレイとの間に配置された第1の偏光子であって、第1の伝送軸、光源によって生成された光が第1の境界に入射するように光源に対向する第1の境界、試料トレイに対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、光源によって生成された光のうち第1の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第2の境界から伝送するように構成された第1の偏光子と;
カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子であって、第2の伝送軸、試料トレイによって反射された光が第3の境界に入射するように基板の第1の開口部に対向する第3の境界、およびカメラセンサに対向する第4の境界を有し、試料トレイによって反射された光のうち第2の伝送軸に平行な方向に偏光された部分を第4の境界から伝送するように構成された第2の偏光子とをさらに含む、請求項23~30のいずれか1項に記載の装置。 - 第2の偏光子の第2の伝送軸は、第1の偏光子の第1の伝送軸に実質的に直交している、請求項31に記載の装置。
- 第2の偏光子は、第2の偏光子の第2の伝送軸が調整可能になるように、カメラセンサに可動に取り付けられる、請求項32に記載の装置。
- 装置であって:
基板を有する回路板であって、該基板が第1の主表面および第2の主表面を有し、第1の主表面が第2の主表面とは反対に位置し、第1の開口部が第1の主表面と第2の主表面との間に延びる、回路板と;
基板の第2の主表面に取り付けられた光源と;
第1の伝送軸、光源に対向する第1の境界、第1の境界に対向する第2の境界、および第1の境界と第2の境界との間に延びる第2の開口部を有し、第2の開口部が第1の開口部に重なる、第1の偏光子と;
基板内に形成された第1の開口部および第1の偏光子内に形成された第2の開口部を通って延びる視野を有するカメラセンサと;
該カメラセンサの視野内に試料ホルダを有し、該カメラセンサから距離をあけて配置された試料トレイと;
第1の伝送軸に実質的に直交する第2の伝送軸を有し、該カメラセンサに取り付けられた第2の偏光子とを含む前記装置。
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