JP2017160117A - シリカ粒子及びその製造方法、光触媒形成用組成物、光触媒、並びに、構造体 - Google Patents
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Abstract
Description
また、特許文献3には、「光がシリカゲルの細孔内に十分に入るようにシルカゲル表面の酸化チタン薄膜を薄く形成し、かつ特定量の酸化チタンをシリカゲル細孔内に含ませて成る光触媒シリカゲルであって、表面に固定された酸化チタン薄膜の平均膜厚が0〜0.4μmの範囲にあり、200℃で乾燥した状態で0.05〜75重量%の酸化チタンをシリカゲル細孔内に含ませた光触媒シリカゲル」が開示されている。
また、特許文献5には、「シリカ成分を主体とする酸化物相(第1相)とチタニア相(第2相)との複合酸化物相からなり、表層に向かって第2相の存在割合が傾斜的に増大しているシリカ基複合光触媒であって、前記第2相には、チタン酸ストロンチウム及びチタン酸バリウムのうち少なくとも一以上の金属酸化物が含まれているシリカ基複合光触媒」が開示されている。
また、特許文献7には、「ヒュームドシリカとTi又はZrの金属アルコキシドとを乾式で接触処理してヒュームドシリカ表面に該金属アルコキシドを付着せしめた後、上記ヒュームドシリカを水蒸気と接触せしめて表面に付着した金属アルコキシドを加水分解して得られる表面処理シリカ粒子」が開示されている。
シリカ粒子に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を有し、可視吸収スペクトルにおける450nm及び750nmに吸収を持つシリカ粒子。
可視吸収スペクトルにおける400nm〜800nmの全範囲に吸収を持つ請求項1に記載のシリカ粒子。
該チタン化合物が、一般式:M1Y1 4(M1はチタン原子を示し、Y1はハロゲン原子、水酸基、又はアルコキシ基を示す。Y1は同一でも、異なっていてもよい。ただし、Y1うち、少なくとも一つはアルコキシ基を示す。)で表される化合物である請求項1又は請求項2に記載のシリカ粒子。
該被覆層の含有量が、該シリカ粒子に対してチタン換算で10質量%以上200質量%以下である請求項3に記載のシリカ粒子。
該被覆層を有するシリカ粒子が、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理されている請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のシリカ粒子。
該金属含有化合物が、一般式:R1 nSiR2 m(R1は炭素数1以上20以下の飽和若しくは不飽和の脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を示し、R2はハロゲン原子又はアルコキシ基を示し、nは1以上3以下の整数を示し、mは1以上3以下の整数を示す。ただし、n+m=4である。また、nが2又は3の整数を示す場合、複数のR1は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。mが2又は3の整数を示す場合、複数のR2は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。)で表される化合物である請求項5に記載のシリカ粒子。
該シリカ粒子の体積平均粒径が、10nm以上1μm以下である請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載のシリカ粒子。
シリカ粒子に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を形成する工程を有し、
該シリカ粒子に被覆層を形成する工程中、又は該シリカ粒子に被覆層を形成する工程後に、シリカ粒子を180℃以上500℃以下で加熱処理するシリカ粒子の製造方法。
該チタン化合物が、一般式:M1Y1 4(M1はチタン原子を示し、Y1はハロゲン原子、水酸基、又はアルコキシ基を示す。Y1は同一でも、異なっていてもよい。ただし、Y1うち、少なくとも一つはアルコキシ基を示す。)で表される化合物である請求項8に記載のシリカ粒子の製造方法。
該シリカ粒子に被覆層を形成する工程後に、該被覆層を有するシリカ粒子に、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理する工程を有する請求項8又は請求項9に記載のシリカ粒子の製造方法。
該金属含有化合物が、一般式:R1 nSiR2 m(R1は炭素数1以上20以下の飽和若しくは不飽和の脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を示し、R2はハロゲン原子又はアルコキシ基を示し、nは1以上3以下の整数を示し、mは1以上3以下の整数を示す。ただし、n+m=4である。また、nが2又は3の整数を示す場合、複数のR1は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。mが2又は3の整数を示す場合、複数のR2は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。)で表される化合物である請求項10に記載のシリカ粒子の製造方法。
請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子と、分散媒及びバインダーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物とを含む光触媒形成用組成物。
請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子を含む、又は、からなる光触媒。
請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子を有する構造体。
請求項4に係る発明によれば、被覆層の含有量が10質量%未満又は200質量%超えの場合に比べ、可視光領域においても高い光触媒機能を発現するシリカ粒子が提供される。
請求項5、又は6に係る発明によれば、被覆層を有するシリカ粒子が金属含有化合物により表面処理されたシリカ粒子であって、可視光領域においても光触媒機能を発現するシリカ粒子が提供される。
請求項7に係る発明によれば、シリカ粒子の体積平均粒径が10nm未満又は1μm超えの場合に比べ、可視光領域においても高い光触媒機能を発現するシリカ粒子が提供される。
請求項10、又は11に係る発明によれば、被覆層を有するシリカ粒子が金属含有化合物により表面処理されたシリカ粒子であって、可視光領域においても光触媒機能を発現するシリカ粒子の製造方法が提供される。
本実施形態に係るシリカ粒子は、シリカ粒子に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を有している。
そして、シリカ粒子は、可視吸収スペクトルにおける450nm及び750nmに吸収を持つ。つまり、シリカ粒子は、可視吸収スペクトルにおいて波長450nm及び750nmの各波長に吸収を持つ。
なお、以下、被覆層を形成する対象のシリカ粒子を、便宜上、「シリカ粒子本体」と称する。
取り込まれた炭素は、電荷分離物質として機能すると考えられ、光触媒機能が発現する。また、炭素は、紫外光と共に可視光の光吸収によっても光電荷分離機能が働き、光触媒機能が発現する。これはシリカ粒子が、可視吸収スペクトルにおいて波長450nm及び750nmの各波長に吸収を持つことを示している。さらに、電離分離物質としての炭素は、光吸収によって生じた電荷の分離を促進する機能も有し、助触媒としても作用する。
シリカ粒子本体(被覆層を形成する対象のシリカ粒子)としては、シリカ、すなわちSiO2を主成分とする粒子であればよく、結晶性でも非晶性でもよい。また、シリカ粒子本体は、水ガラスやアルコキシシラン等のケイ素化合物を原料に製造された粒子であってもよいし、石英を粉砕して得られる粒子であってもよい。また、シリカ粒子本体は、非多孔質状、多孔質状、中空状等のいずれであってもよい。
具体的には、シリカ粒子本体としては、例えば、ゾルゲルシリカ粒子、水性コロイダルシリカ粒子、アルコール性シリカ粒子、気相法により得られるフェームドシリカ粒子、溶融シリカ粒子等が挙げられる。
多官能シラン化合物としては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラブトキシシラン等が挙げられが、シリカ粒子の形状、粒径、粒度分布等の点から、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシランが好ましい。アルカリ触媒としては、例えば、アンモニア、尿素、モノアミン、四級アンモニウム塩等の塩基性触媒が挙げられるが、特にアンモニアが好ましい。アルコールとしては、メタノール、エタノールが挙げられる。
被覆層は、シリカ粒子本体の表面に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物の反応により形成される被覆層である。具体的には、例えば、被覆層は、チタン化合物における酸素に結合した炭化水素基(例えばアルコキシ基)が互いに反応すると共に、シリカ粒子本体の表面のシラノール基と反応して、シリカ粒子本体の表面に形成される。
なお、アルコキシ基の炭素数は、反応速度の制御性や、得られるシリカ粒子の形状、粒径、粒度分布等の点から、8以下がよく、好ましくは3以上8以下である。
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基、t−ブトキシ基、n−ブトキシ基、n−ヘキシロキシ基、2−エチルヘキシロキシ基、3,5,5−トリメチルヘキシルオキシ基、n−プロポキシ基、i−ブトキシ基、sec−ブトキシ基、ペンチロキシ基、シクロペンチルオキシ基等が挙げられる。
アルコキシ基は、置換されたアルコキシ基も含む。アルコキシ基に置換し得る置換基としては、 ハロゲン原子、水酸基、アミノ基、アルコキシ基、アミド基、カルボニル基等が挙げられる。
被覆層の含有量を10質量%以上にすると、可視光領域においても光触媒機能が発揮され易くなる。チタニア被覆量を200質量%以下にすると、局部光触媒機能が発現するSi−O−M結合部(Mは、Ti原子を示す)がシリカ粒子本体内部に取り込まれること(つまり、被覆層の厚みが過剰となり、シリカ粒子本体表面のSi−O−M結合部に光が届きにくくなること)が抑制され、シリカ粒子の表面又は表層でも光触媒機能が発現され易くなる。
本実施形態に係るシリカ粒子は、被覆層を有するシリカ粒子本体の表面が、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理されていてもよい。金属含有化合物により表面処理されていても、シリカ粒子は、可視光領域においても光触媒機能を発現する。また、分散性も向上する。
炭化水素基は、金属含有化合物における金属に直接結合していても、直接結合していなくともよいが、高い光触媒機能の発揮及び分散性の向上の観点から、直接結合していることが好ましい。
一般式:R1 nSiR2 mにおいて、R1は炭素数1以上20以下の飽和若しくは不飽和の脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を示し、R2はハロゲン原子又はアルコキシ基を示し、nは1以上3以下の整数を示し、mは1以上3以下の整数を示す。ただし、n+m=4である。また、nが2又は3の整数を示す場合、複数のR1は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。mが2又は3の整数を示す場合、複数のR2は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。
不飽和脂肪族炭化水素基としては、アルケニル基(ビニル基(エテニル基)、1−プロペニル基、2−プロペニル基、2−ブテニル基、1−ブテニル基、1−ヘキセニル基、2−ドデセニル基、ペンテニル基等)、アルキニル基(エチニル基、1−プロピニル基、2−プロピニル基、1−ブチニル基、3−ヘキシニル基、2−ドデシニル基等)などが挙げられる。
脂肪族炭化水素基は、置換された脂肪族炭化水素基も含む。脂肪族炭化水素基に置換し得る置換基としては、グリドキシ基、メルカプト基、メタクリロイル基、アクリロイル基等が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニレン基、ビフェニレン基、ターフェニレン基、ナフタレン基、アントラセン基等が挙げられる。
芳香族炭化水素基は、置換された芳香族炭化水素基も含む。芳香族炭化水素基に置換し得る置換基としては、グリドキシ基、メルカプト基、メタクリロイル基、アクリロイル基等が挙げられる。
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基、t−ブトキシ基、n−ブトキシ基、n−ヘキシロキシ基、2−エチルヘキシロキシ基、3,5,5−トリメチルヘキシルオキシ基、n−ウンデシルオキシ基等が挙げられる。
アルコキシ基は、置換されたアルコキシ基も含む。アルコキシ基に置換し得る置換基としては、ハロゲン原子、水酸基、アミノ基、アルコキシ基、アミド基、カルボニル基等が挙げられる。
本実施形態に係るシリカ粒子は、可視吸収スペクトルにおいて波長450nm及び750nmの各波長に吸収を持つ、
本実施形態に係るシリカ粒子は、可視光領域においても高い光触媒機能を発現させる観点から、可視吸収スペクトルにおいて波長450nm、600nm及び750nmの各波長に吸収を持つことが好ましく、可視吸収スペクトルにおいて波長450nm以上750nm以下の全範囲に吸収を持つことがより好ましく、可視吸収スペクトルにおいて波長400nm以上800nm以下の全範囲に吸収を持つことが特に好ましい。
シリカ粒子の体積平均粒径を10nm以上にすると、シリカ粒子は凝集し難く、光触媒機能が高まりやすい。シリカ粒子の体積平均粒径を1μm以下にすると、量に対する比表面積の割合が大きくなり、光触媒機能が高まりやすい。このため、シリカ粒子の体積平均粒径を上記範囲にすると、可視光領域において高い光触媒機能を発現させ易くなる。
そして、動的光散乱式粒度測定装置により測定される粒度分布を基にして、分割された粒度範囲(チャンネル)に対して個々の粒子の体積をそれぞれ小径側から累積分布を描いて、累積50%となる粒径を体積平均粒径として求める。
本実施形態に係るシリカ粒子の製造方法は、シリカ粒子本体の表面に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を形成する工程を有する。
そして、シリカ粒子本体の表面に被覆層を形成する工程中、又はシリカ粒子本体の表面に被覆層を形成する工程後に、シリカ粒子本体を180℃以上500℃以下で加熱処理する。
チタン化合物より、シリカ粒子本体の表面に被覆層を形成する方法としては、特に制限はないが、例えば、チタン化合物自体を直接、シリカ粒子本体に接触させる方法、溶媒にチタン化合物を溶解させた処理液を、シリカ粒子本体に接触させる方法等が挙げられる。具体的には、例えば、シリカ粒子本体を溶媒に分散した分散液に、攪拌下で、チタン化合物自体又は処理液を添加する方法、ヘンシェルミキサー等の撹拌などにより流動している状態のシリカ粒子本体に添加(滴下、噴霧等)する方法などが挙げられる。
これら方法により、例えば、チタン化合物における酸素に結合した炭化水素基(例えばアルコキシ基)が互いに反応すると共に、シリカ粒子本体の表面のシラノール基と反応して、シリカ粒子本体の表面に被覆層が形成される。
炭化水素系溶媒としては、例えば、トルエン、ベンゼン、キシレン、ヘキサン、オクタン、ヘキサデカン、シクロヘキサンなどが挙げられる。エステル系溶媒としては、例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸イソプロピル、酢酸アミルなどが挙げられる。エーテル系溶媒としては、例えば、ジブチルエーテル、ジベンジルエーテルなどが挙げられる。ハロゲン系溶媒としては、例えば、1,1−ジクロロ−1−フルオロエタン、1,1−ジクロロ−2,2,2−トリフルオロエタン、1,1−ジクロロ−2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロパン、クロロホルム、ジクロロエタン、四塩化炭素などが挙げられる。アルコール系溶媒としては、メタノール、エタノール、i−プロピルアルコールなどが挙げられる。水としては、例えば、水道水、蒸留水、純水などが挙げられる。
なお、溶媒としては、これら以外に、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、酢酸、硫酸などの溶媒を用いてもよい。
チタン化合物の処理量を10質量%以上にすると、可視光領域においても光触媒機能が発揮され易くなる。チタン化合物の処理量を200質量%以下にすると、局部光触媒機能が発現するSi−O−M結合部がシリカ粒子本体内部に取り込まれること(つまり、被覆層の厚みが過剰となり、シリカ粒子本体表面のSi−O−M結合部に光が届きにくくなること)が抑制され、シリカ粒子の表面又は表層でも光触媒機能が発現され易くなる。
特定の加熱処理の時間は、高い光触媒機能の発現の観点から、10分以上300分以下が好ましく、30分以上120分以下がより好ましい。
本実施形態に係るシリカ粒子の製造方法は、シリカ粒子本体の表面に被覆層を形成する工程後に、被覆層を有するシリカ粒子本体の表面に、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理する工程を有していてもよい。これにより、シリカ粒子の分散性が向上する。
これら方法により、金属含有化合物中の反応性基(例えば加水分解性基)が、被覆層に残留する反応性基(水酸基、ハロゲン基、アルコキシ基等の加水分解性基)シリカ粒子本体の表面に存在する加水分解性(水酸基、ハロゲン基、アルコキシ基等)等と反応し、金属含有化合物よるシリカ粒子本体の表面処理がなされる。
炭化水素系溶媒としては、例えば、トルエン、ベンゼン、キシレン、ヘキサン、オクタン、ヘキサデカン、シクロヘキサンなどが挙げられる。エステル系溶媒としては、例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸イソプロピル、酢酸アミルなどが挙げられる。エーテル系溶媒としては、例えば、ジブチルエーテル、ジベンジルエーテルなどが挙げられる。ハロゲン系溶媒としては、例えば、1,1−ジクロロ−1−フルオロエタン、1,1−ジクロロ−2,2,2−トリフルオロエタン、1,1−ジクロロ−2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロパン、クロロホルム、ジクロロエタン、四塩化炭素などが挙げられる。アルコール系溶媒としては、メタノール、エタノール、i−プロピルアルコールなどが挙げられる。水としては、例えば、水道水、蒸留水、純水などが挙げられる。
なお、溶媒としては、これら以外に、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、酢酸、硫酸などの溶媒を用いてもよい。
これにより、本実施形態に係るシリカ粒子の製造方法では、可視光領域においても光触媒機能を発現するシリカ粒子(つまり、上記本実施形態に係るシリカ粒子)が得られ易くなる。また、特定の加熱処理により、シリカ粒子本体表面又は被覆層表面に反応した金属含有化合物中の炭化水素基が適度に残留するため、この炭化水素基によって、分散性も確保される。
本実施形態に係る光触媒形成用組成物は、本実施形態に係るシリカ粒子と、分散媒及びバインダーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物とを含む。
本実施形態に係る光触媒形成用組成物の態様としては、例えば、本実施形態に係るシリカ粒子、及び、分散媒を含む分散液、本実施形態に係るシリカ粒子、及び、有機又は無機バインダーを含む組成物などの態様が挙げられる。
なお、前記分散液は、粘度が高いペースト状のものであってもよい。
水としては、例えば、水道水、蒸留水、純水などが挙げられる。
有機溶媒としては、特に制限はなく、例えば、炭化水素系溶媒、エステル系溶媒、エーテル系溶媒、ハロゲン系溶媒、アルコール系溶媒等が挙げられる。
また、前記分散液は、分散安定性及び保存安定性の観点から、分散剤、及び、界面活性剤よりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含有することが好ましい。分散剤及び界面活性剤としては、公知のものが用いられる。
また、前記分散液は、前記バインダーをエマルションとして含んでいてもよい。
その他の成分としては、公知の添加剤が用いられ、例えば、助触媒、着色剤、充填剤、防腐剤、消泡剤、密着改良剤、増粘剤などが挙げられる。
本実施形態に係る光触媒形成用組成物における本実施形態に係るシリカ粒子の含有量は、特に制限はなく、分散液、樹脂組成物等の各種態様、及び、所望の光触媒量等に応じて、適宜選択すればよい。
本実施形態に係る光触媒形成用組成物の付与方法としては、例えば、スピンコーティング法、ディップコーティング法、フローコーティング法、スプレーコーティング法、ロールコーティング法、刷毛塗り法、スポンジ塗り法、スクリーン印刷法、インクジェット印刷法などが挙げられる。
本実施形態に係る光触媒は、本実施形態に係るシリカ粒子を含む、又は、からなる。
本実施形態に係る構造体は、本実施形態に係るシリカ粒子を有する。
また、本実施形態に係る構造体は、光触媒として、本実施形態に係るシリカ粒子を有することが好ましい。
本実施形態に係る構造体は、基材表面の少なくとも一部に本実施形態に係るシリカ粒子を少なくとも有する構造体であることが好ましく、基材表面の少なくとも一部に本実施形態に係る光触媒形成用組成物を付与して形成された構造体であることが好ましい。
前記構造体において、本実施形態に係る光触媒形成用組成物を付与する量は、特に制限はなく、目的に応じて選択すればよい。
さらに、本実施形態に係る構造体においては、基材表面に本実施形態に係るシリカ粒子が付着した状態であっても、固定化されていてもよいが、光触媒の耐久性の観点から、固定化されていることが好ましい。固定化方法は、特に制限はなく、公知の固定化方法が用いられる。
基材の好ましい例としては、金属、セラミック、ガラス、プラスチック、ゴム、石、セメント、コンクリート、繊維、布帛、木、紙、それらの組合せ、それらの積層体、それらの表面に少なくとも一層の被膜を有するものが挙げられる。
用途の観点からみた基材の好ましい例としては、建材、外装材、窓枠、窓ガラス、鏡、テーブル、食器、カーテン、レンズ、プリズム、乗物の外装及び塗装、機械装置や物品の外装、防塵カバー及び塗装、交通標識、各種表示装置、広告塔、道路用遮音壁、鉄道用遮音壁、橋梁、ガードレールの外装及び塗装、トンネル内装及び塗装、碍子、太陽電池カバー、太陽熱温水器集熱カバー、ポリマーフィルム、ポリマーシート、フィルター、屋内看板、屋外看板、車両用照明灯のカバー、屋外用照明器具、空気清浄器、浄水器、医療用器具、介護用品などが挙げられる。
−シリカ粒子本体の作製−
撹拌機、滴下ノズル、温度計を具備した容積3Lのガラス製反応容器(容器内の直径16cm)にメタノール84.5部、及び10%アンモニア水溶液15.5部を混合し、混合液(先仕込み混合液)を25℃に調整した。このときのアンモニア濃度は0.744モル/Lとした。先仕込み混合液が25℃に到達した後、テトラメトキシシラン(TMOS)の滴下速度を先仕込み混合液に対して合計1.32部/min、6.0%アンモニア水溶液の滴下速度を先仕込み混合液に対して0.50部/minに調整して、2つの滴下ノズルからTMOS及び6.0%アンモニア水溶液の滴下を同時に開始して29分間滴下を続けシリカ粒子本体(ゾルゲルシリカ粒子)の懸濁液を得た。このときのシリカ粒子本体の体積平均粒子径は140nmであった。その後、シリカ粒子本体に対して50部のトリメチルシランを添加した後、撹拌しながら60℃に昇温後4時間加熱反応させることで疎水性のシリカ粒子本体(ゾルゲルシリカ粒子)を得た。
オルトチタン酸テトラブチル(テトラ−n−ブトキシチタニウム)が20.0質量%となるようにブタノールにより希釈したアルコール希釈液を作製した。作製したシリカ粒子本体が生成した溶液を20℃に調整し、アルコール希釈液を添加し、シリカ粒子本体の表面に反応させて、被覆層を形成し、シリカ粒子を得た。なお、アルコール希釈液の添加は、シリカ粒子本体100部に対してチタン化合物としてのオルトチタン酸テトラブチルが80部となるように行った。
その後、得られたシリカ粒子の懸濁液を、出口温度80℃となるように調整しながら日本ビュッヒ製噴霧乾燥器(B−290)を用いて噴霧乾燥を行い、シリカ粒子を得た。乾燥したシリカ粒子に対して、プログラム管状電気炉TMF−300Nで、400℃に到達後1時間保持する加熱処理を行い、シリカ粒子1を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、オルトチタン酸テトラブチルの添加量を10部とした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子2を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、オルトチタン酸テトラブチルの添加量を200部とした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子3を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、オルトチタン酸テトラブチルの添加量を7部とした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子4を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、オルトチタン酸テトラブチルの添加量を215部とした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子5を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、加熱処理の電気炉の温度を400℃から180℃に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子6を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、加熱処理の電気炉の温度を400℃から500℃に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子7を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して35質量%のデシルトリメトキシシランを滴下し、40℃で1時間反応させて、金属含有化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子8を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して35質量%のヘキサメチルジシラザンを滴下し、40℃で1時間反応させて、金属含有化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子9を得た。
実施例1のシリカ粒子本体の作製において、TMOSの滴下前の先仕込み混合液を25℃から55℃とし、シリカ粒子本体の体積平均粒径を10nmとした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子10を得た。
実施例1のシリカ粒子本体の作製において、TMOSの滴下前の先仕込み混合液を25℃から8℃とし、シリカ粒子本体の体積平均粒径を860nmとした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子11を得た。
実施例1のシリカ粒子本体の作製において、TMOSの滴下前の先仕込み混合液を25℃から65℃とし、シリカ粒子本体の体積平均粒径を6nmとした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子12を得た。
実施例1のシリカ粒子本体の作製において、TMOSの滴下前の先仕込み混合液を25℃から5℃とし、シリカ粒子本体の体積平均粒径を1000nmとした以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子13を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、オルトチタン酸テトラブチル(テトラ−n−ブトキシチタニウム)をチタンジイソプロポキシビス(アセチルアセトネート)チタンに変えたこと以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子14を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して35質量%のヘキシルトリメトキシシランを滴下し、40℃で1時間反応させて、金属含有化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子15を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して35質量%のイソブチルトリメトキシシランを滴下し、40℃で1時間反応させて、金属含有化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子16を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して30質量%のイソプロピルトリイソステアロイルチタネートを滴下し、40℃で1時間反応させて、チタン化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子17を得た。
実施例1において、得られたシリカ粒子1を更にメタノールに分散した後、シリカ粒子のシリカ粒子本体に対して20質量%のトリエトキシアルミニウム、を滴下し、40℃で1時間反応させて、アルミニウム化合物による表面処理を行った。表面処理したシリカ粒子を、出口温度120℃で噴霧乾燥し、乾燥したシリカ粒子に対して、更に電気炉で350℃、1時間の加熱処理を行って、シリカ粒子18を得た。
市販のアナターゼ型酸化チタン粒子(「SSP−20(堺化学工業社製)」体積平均粒径12nm))を、そのまま、酸化チタン粒子C1とした。
市販のアナターゼ型酸化チタン粒子(「SSP−20(堺化学工業社製)」体積平均粒径12nm))に対して、電気炉で400℃、1時間の加熱処理を行い、酸化チタン粒子C2得た。
ゾルゲル法で作製した酸化チタン粒子(体積平均粒径140nm)に対して、電気炉で255℃、1時間の加熱処理を行い、酸化チタン粒子C3を得た。
市販の可視光応答型光触媒分散液(酸化タングステン粒子が分散された分散液「ルネキャット(東芝社製)」体積平均粒径200nm)を常温(25℃)乾燥し、酸化タングステン粒子C4を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、加熱処理の電気炉の温度を400℃から650℃に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子C5を得た。
実施例1のシリカ粒子の作製(被覆層の形成)において、加熱処理の電気炉の温度を400℃から120℃に変えたこと以外は、実施例1と同様にして、シリカ粒子C6を得た。
(分解性)
可視光領域での光触媒特性として、分解性を評価した。そして、分解性の評価は、メチレンブルーの分解性(透過率変動)により評価した。具体的には、メチレンブルー濃度20ppm(質量基準)に調整したメチレンブルー希釈液30mLと、各例で得られた粒子0.01gとをビーカーに入れ、試料を調製した。なお、この試料を二つ準備した。
メチレンブルーの吸収波長領域(波長550nm以上800nm以下)を有さない、波長400nm以上550nm以下の可視光を照射する発光ダイオード(LED)を使用し、試料作製直後の一方の試料に可視光を7時間連続照射した。試料作製直後の他方の試料は、暗所に7時間保管した。
・式:△T1=可視光の7時間連続照射後の試料の透過率−試料作製直後の試料の透過率
・式:△T2=暗所保管後の試料の透過率−試料作製直後の試料の透過率
そして、透過率変動値△T=△T1−△T2に基づいて、分解性を評価した。評価基準は以下の通りである。
A(○):15%≦△T
B(△):5%≦△T<15%
C(×):△T<5%
分散性について、次のように評価した。ビーカーに各例で得られた粒子0.05gを入れ、メタノール1gを添加し、粒子を充分濡らした後、純水40gを添加、続いて超音波分散機で10分間分散した後の粒度分布をナノトラックUPA-ST(マイクロトラック・ベル社製 動的光散乱式粒度測定装置)により測定し、体積粒度分布の分布形態により評価した。評価基準は以下の通りである。
A(○): 体積粒度分布のピーク値が一山であり、分散性が良好なもの
B(△): 体積粒度分布が二山であるが、メインピーク値が他ピーク値の10倍以上あり、実用上分散性に問題が無いもの
C(×): 体積粒度分布のピーク値が三山以上あり、分散不良なもの
なお、表1〜表2中、「粒径D50v」との表記は、使用する各粒子(被覆層形成前の各粒子、酸化チタン粒子、酸化タングステン粒子)の体積平均粒径を示す。
Claims (14)
- シリカ粒子に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を有し、可視吸収スペクトルにおける450nm及び750nmに吸収を持つシリカ粒子。
- 可視吸収スペクトルにおける400nm〜800nmの全範囲に吸収を持つ請求項1に記載のシリカ粒子。
- 該チタン化合物が、一般式:M1Y1 4(M1はチタン原子を示し、Y1はハロゲン原子、水酸基、又はアルコキシ基を示す。Y1は同一でも、異なっていてもよい。ただし、Y1うち、少なくとも一つはアルコキシ基を示す。)で表される化合物である請求項1又は請求項2に記載のシリカ粒子。
- 該被覆層の含有量が、該シリカ粒子に対してチタン換算で10質量%以上200質量%以下である請求項3に記載のシリカ粒子。
- 該被覆層を有するシリカ粒子が、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理されている請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のシリカ粒子。
- 該金属含有化合物が、一般式:R1 nSiR2 m(R1は炭素数1以上20以下の飽和若しくは不飽和の脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を示し、R2はハロゲン原子又はアルコキシ基を示し、nは1以上3以下の整数を示し、mは1以上3以下の整数を示す。ただし、n+m=4である。また、nが2又は3の整数を示す場合、複数のR1は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。mが2又は3の整数を示す場合、複数のR2は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。)で表される化合物である請求項5に記載のシリカ粒子。
- 該シリカ粒子の体積平均粒径が、10nm以上1μm以下である請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載のシリカ粒子。
- シリカ粒子に、チタン原子に酸素原子を介して炭化水素基が結合した構造を有するチタン化合物が反応した被覆層を形成する工程を有し、
該シリカ粒子に被覆層を形成する工程中、又は該シリカ粒子に被覆層を形成する工程後に、シリカ粒子を180℃以上500℃以下で加熱処理するシリカ粒子の製造方法。 - 該チタン化合物が、一般式:M1Y1 4(M1はチタン原子を示し、Y1はハロゲン原子、水酸基、又はアルコキシ基を示す。Y1は同一でも、異なっていてもよい。ただし、Y1うち、少なくとも一つはアルコキシ基を示す。)で表される化合物である請求項8に記載のシリカ粒子の製造方法。
- 該シリカ粒子に被覆層を形成する工程後に、該被覆層を有するシリカ粒子に、炭化水素基を持つ金属含有化合物により表面処理する工程を有する請求項8又は請求項9に記載のシリカ粒子の製造方法。
- 該金属含有化合物が、一般式:R1 nSiR2 m(R1は炭素数1以上20以下の飽和若しくは不飽和の脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を示し、R2はハロゲン原子又はアルコキシ基を示し、nは1以上3以下の整数を示し、mは1以上3以下の整数を示す。ただし、n+m=4である。また、nが2又は3の整数を示す場合、複数のR1は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。mが2又は3の整数を示す場合、複数のR2は同じ基を示してもよいし、異なる基を示してもよい。)で表される化合物である請求項10に記載のシリカ粒子の製造方法。
- 請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子と、分散媒及びバインダーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物とを含む光触媒形成用組成物。
- 請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子を含む、又は、からなる光触媒。
- 請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のシリカ粒子を有する構造体。
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