JP2011118162A - 顕微鏡装置 - Google Patents
顕微鏡装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011118162A JP2011118162A JP2009275584A JP2009275584A JP2011118162A JP 2011118162 A JP2011118162 A JP 2011118162A JP 2009275584 A JP2009275584 A JP 2009275584A JP 2009275584 A JP2009275584 A JP 2009275584A JP 2011118162 A JP2011118162 A JP 2011118162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- transmission
- optical system
- condensing optical
- pinhole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 106
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 82
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 28
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 23
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 18
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000012258 culturing Methods 0.000 claims description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000001963 growth medium Substances 0.000 description 4
- 238000002073 fluorescence micrograph Methods 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0092—Polarisation microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/088—Condensers for both incident illumination and transillumination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/26—Stages; Adjusting means therefor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/30—Base structure with heating device
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/33—Immersion oils, or microscope systems or objectives for use with immersion fluids
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
【解決手段】標本を収容して恒温恒湿を維持しつつ培養する培養部3と、該培養部3を保持するステージ4と、光源2からの照明光を標本に集光する第1の集光光学系5と、標本を透過した透過光を集光する第2の集光光学系6と、標本における照明光の集光位置と光学的に共役な位置に配置され、第2の集光光学系6により集光された透過光の一部を遮断する透過用ピンホール7と、透過用ピンホール7を通過した透過光を検出する透過用光検出器8と、これらとステージ4とを相対的に移動させる移動機構と、これらを取り囲み外光を遮断する筐体9と、筐体9内の温度を制御する温度制御部10,11,12とを備える顕微鏡装置1を提供する。
【選択図】図1
Description
本発明は、標本を収容して恒温恒湿を維持しつつ培養する培養部と、該培養部を保持するステージと、光源からの照明光を前記標本に集光する第1の集光光学系と、該第1の集光光学系により前記標本に照射され前記標本を透過した透過光を集光する第2の集光光学系と、前記標本における照明光の集光位置と光学的に共役な位置に配置され、前記第2の集光光学系により集光された透過光の一部を遮断する透過用ピンホールと、該透過用ピンホールを通過した透過光を検出する透過用光検出器と、これら第1および第2の集光光学系、前記透過用ピンホールおよび前記透過用光検出器と前記ステージとを相対的に移動させる移動機構と、前記培養部、前記ステージ、前記第1の集光光学系、前記第2の集光光学系、前記透過用ピンホール、前記透過用光検出器および前記移動機構を取り囲み外光を遮断する筐体と、該筐体内の温度を制御する温度制御部とを備える顕微鏡装置を提供する。
このようにすることで、第2の集光光学系に備えられた液浸レンズを培養液に浸漬させた状態に維持することにより、培養液の液面が変動しても、簡易に、標本に対する落射用ピンホールの光学的に共役な位置関係を維持することができる。これにより、培養液の液面が変動しても、標本の鮮明な透過観察を行うことができる。
このようにすることで、第1、第2の微分干渉素子および偏光素子によって標本の微分干渉観察を行うことができ、その場合においても、外光によるノイズを低減し、長時間にわたる微分干渉観察においても、温度差による観察位置ズレの発生を抑制することができ、精度の高い観察を行うことができる。
このようにすることで、外光によるノイズを低減し、長時間にわたる観察においても、温度差による観察位置ズレの発生を抑制しつつ標本の位相差観察を行うことができる。
このようにすることで、光束分割部により分割された複数の光束を同時に標本上に集光し、各光束の標本における透過光の内、透過用ピンホールを通過した透過光のみを別個に透過用光検出器によって検出することにより、多点で透過観察を行うことができ、1画面を迅速に構築することが可能となる。
このようにすることで、倍率を変更した観察を行っても透過用ピンホールの標本に対する光学的に共役な位置関係を保持することができ、透過共焦点観察を継続することができる。
本実施形態に係る顕微鏡装置1は、図1に示されるように、レーザ光源2と、標本Aを収容して培養する培養部3と、該培養部3を搭載して移動させるステージ4と、レーザ光源2からの光を集光して標本Aに照射する第1の集光光学系5と、標本Aを透過した透過光を集光する第2の集光光学系6と、第2の集光光学系6により集光された透過光の一部を遮断するピンホール部材7と、ピンホール部材7を通過した透過光を検出する光検出器8と、これらを取り囲む筐体9と、筐体9に配置された温度センサ10およびヒータ11と、これらを制御する制御部12と、制御部12に接続されたモニタ13とを備えている。
蓋体15bの中央部には、第2の集光光学系5の一部を構成する後述する第2対物レンズを貫通させる貫通孔18が設けられている。貫通孔18と第2対物レンズ6aとの間はシール部材19によって鉛直方向に相対移動可能に密封され、容器本体15aと蓋体15bとの間は、シール部材20によって、水平方向に相対移動可能に密封されている。
また、培養部3の外側容器15と培養容器14との間の空間には、蒸気や、CO2を供給するためのチューブ22が接続されている。また、この空間には、該空間内の温度を検出する温度センサ10が設けられている。
本実施形態において、第2対物レンズ6aは、図2に示されるように、液浸レンズにより構成され、培養容器14内の培養液Bに浸漬された状態で使用されるようになっている。
光検出器8は、例えば、光電子増倍管である。
ヒータ11も、筐体9内の上部空間24、下部空間25および培養部3の近傍にそれぞれ配置され、それぞれの部位を独立して加温することができるようになっている。
また、制御部12は、ステージ4を駆動して培養部3を移動させるとともに、各位置において光検出器8において検出された透過光の強度をステージ4の位置情報と対応づけて記憶するようになっている。そして、制御部12は、記憶している透過光の強度をステージ4の位置情報に基づいて並べることにより、標本Aの2次元的な微分干渉画像を生成するようになっている。
モニタ13は、制御部12により生成された透過光の微分干渉画像を表示するようになっている。
本実施形態に係る顕微鏡装置1を用いて標本Aの観察を行うには、チューブ21を介して培養部3の培養容器14内に貯留した培養液Bを循環させながら、チューブ22を介して供給した蒸気やCO2により、培養容器14内の湿度およびCO2濃度等の培養条件を一定に維持しつつ、温度センサ10により検出した培養部3内の温度に基づいて、該温度が所定の温度、例えば、37℃となるように、制御部12がヒータ11を制御する。
また、制御部12は、筐体9内の上部空間24および下部空間25内部の温度センサ10により検出した筐体9内の温度に基づいて、該温度が所定の温度になるように、ヒータ11を制御する。
さらに、筐体9内の各部の温度は温度センサ10により検出された温度に基づいてヒータ11を制御することにより恒温化されているので、各光学素子に温度差による歪みが発生するのを防止することができ、長時間観察中に観察位置がずれてしまう不都合の発生を未然に防止することができるという利点もある。
また、本実施形態においては、透過光画像として微分干渉画像を取得するので、透明な標本Aであっても、その形態を鮮明に観察することができる。
これにより、外側容器15a内が密封された状態に維持され、培養環境が一定に保持されて、生細胞等の標本Aの長時間にわたる観察においても、標本Aを健全な状態に維持することができる。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る顕微鏡装置1と構成を共通とする箇所については、同一符号を付して説明を省略する。
また、本実施形態においても、全ての光学素子が筐体9によって囲まれているので、外来光を遮断して鮮明な画像を得ることができるとともに、筐体9内の温度を管理することによって温度差による光学素子の変形を防止して長時間観察においても位置ズレが生じないようにすることができる。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係る顕微鏡装置30と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
また、光検出器43としては、一列に並んだ複数の受光部43aを有するラインCCDあるいはマルチアノード光電子増倍管を採用している。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る顕微鏡装置1と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態においては、これらの光学素子も全て筐体9内に配置されて、温度管理されている。
本実施形態においても、全ての光学素子が筐体9によって囲まれているので、外来光を遮断して鮮明な透過光画像および蛍光画像を得ることができるとともに、筐体9内の温度を管理することによって温度差による光学素子の変形を防止して長時間観察においても位置ズレが生じないようにすることができる。
また、ステージを光学系に対してその光軸に直交する方向に移動させることとしたが、これに代えて、ステージを固定し、光学系全体を移動させることにしてもよい。
B 培養液
1,30,40,50 顕微鏡装置
2 光源
3 培養部
4 ステージ(移動機構)
5,31 第1の集光光学系
5b 第1の微分干渉素子
6 第2の集光光学系
6b 第2の微分干渉素子
6c 偏光素子
7,32 ピンホール部材(透過用ピンホール)
8 光検出器(透過用光検出器)
9 筐体
10 温度センサ(温度制御部)
11 ヒータ(温度制御部)
31b マイクロレンズアレイ(光束分割部)
32a ピンホール(透過用ピンホール)
33a 受光部(透過用光検出器)
41a シリンドリカルレンズ(変換光学系)
41b 第1の空間変調器
42a 第2の空間変調器(透過用ピンホール)
51 スキャナ(走査部)
54 ダイクロイックミラー(蛍光分岐部)
55b 共焦点ピンホール(落射用ピンホール)
55e 光検出器(落射用光検出器)
Claims (10)
- 標本を収容して恒温恒湿を維持しつつ培養する培養部と、
該培養部を保持するステージと、
光源からの照明光を前記標本に集光する第1の集光光学系と、
該第1の集光光学系により前記標本に照射され前記標本を透過した透過光を集光する第2の集光光学系と、
前記標本における照明光の集光位置と光学的に共役な位置に配置され、前記第2の集光光学系により集光された透過光の一部を遮断する透過用ピンホールと、
該透過用ピンホールを通過した透過光を検出する透過用光検出器と、
これら第1および第2の集光光学系、前記透過用ピンホールおよび前記透過用光検出器と前記ステージとを相対的に移動させる移動機構と、
前記培養部、前記ステージ、前記第1の集光光学系、前記第2の集光光学系、前記透過用ピンホール、前記透過用光検出器および前記移動機構を取り囲み外光を遮断する筐体と、
該筐体内の温度を制御する温度制御部とを備える顕微鏡装置。 - 前記光源と前記第1の集光光学系との間に配置され、光源からの照明光を走査する走査部と、
該走査部により照明光が前記標本上で走査されることにより、該標本において発生して前記第1の集光光学系により集光され、前記走査部を介して戻る蛍光を分岐する蛍光分岐部と、
前記標本と光学的に共役な位置に配置され、前記蛍光分岐部により分岐された蛍光の一部を遮断する落射用ピンホールと、
該落射用ピンホールを通過した蛍光を検出する落射用光検出器とを備え、
前記筐体が、前記走査部、前記蛍光分岐部、前記落射用ピンホールおよび前記落射用光検出器をも取り囲んでいる請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記培養部が培養液を貯留し、
前記第2の集光光学系が前記培養液の液面から離れた位置に配置され、
前記培養液の液面を検出する液面検出部と、該液面検出部により検出された前記培養液の液面位置に基づいて前記落射用ピンホールまたは前記第2の集光光学系の光軸に沿う方向の位置を調節する位置調節機構とを備える請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記培養部が培養液を貯留し、
前記第2の集光光学系が前記培養液に浸漬された状態に維持される液浸レンズを備える請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記光源がレーザ光を射出するレーザ光源であり、
該レーザ光源から射出されたレーザ光を、前記標本への入射前に、互いに直交する偏光面を有する偏光成分に分割する第1の微分干渉素子と、
前記標本を通過した互いに直交する偏光面を有する偏光成分を単一偏光面を有する偏光に統合する第2の微分干渉素子と、
該第2の微分干渉素子により統合された偏光以外の光を遮断する偏光素子とを備え、
前記筐体が、前記第1、第2の微分干渉素子および前記偏光素子をも取り囲んでいる請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記第1および第2の集光光学系が、位相差観察用の集光光学系である請求項1に記載の顕微鏡装置。
- 前記光源からの照明光を複数の光束に分割する光束分割部を備え、
前記透過用ピンホールが、前記光束分割部により分割された複数の光束の前記標本上における集光位置とそれぞれ共役な位置に複数配置され、
前記透過用光検出器が、複数の前記透過用ピンホールを通過した複数の照明光をそれぞれ検出するように複数設けられている請求項1に記載の顕微鏡装置。 - 前記第1および第2の集光光学系が、それぞれ倍率を異ならせて複数組切替可能に設けられるとともに、倍率が切り替えられる際には、前記第1および第2の集光光学系の倍率が同一となるように切り替えられる請求項7に記載の顕微鏡装置。
- 前記第1の集光光学系が、倍率を異ならせて複数組切替可能に設けられ、
前記透過用ピンホールが、反射または透過パターンを変更可能な空間変調器により構成され、
前記第1の集光光学系の倍率が切り替えられたときには、前記透過用ピンホールの反射または透過パターンを切り替える請求項7に記載の顕微鏡装置。 - 前記光源からの照明光をラインビームに変換する変換光学系と、
該変換光学系により変換されたラインビームの一部を選択的に反射または透過させるように反射または透過パターンを変更可能に構成され、複数の光束を生成する第1の空間変調器と、
前記透過用ピンホールが、反射または透過パターンを変更可能に構成され、反射または透過位置が前記第1の空間変調器と光学的に共役な位置関係を保つように駆動される第2の空間変調器により構成され、
前記透過用光検出器が、複数の前記透過用ピンホールを通過した複数の照明光をそれぞれ検出するように複数設けられている請求項1に記載の顕微鏡装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009275584A JP5638793B2 (ja) | 2009-12-03 | 2009-12-03 | 顕微鏡装置 |
| US12/955,428 US8730574B2 (en) | 2009-12-03 | 2010-11-29 | Microscope system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009275584A JP5638793B2 (ja) | 2009-12-03 | 2009-12-03 | 顕微鏡装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011118162A true JP2011118162A (ja) | 2011-06-16 |
| JP2011118162A5 JP2011118162A5 (ja) | 2013-01-10 |
| JP5638793B2 JP5638793B2 (ja) | 2014-12-10 |
Family
ID=44081780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009275584A Expired - Fee Related JP5638793B2 (ja) | 2009-12-03 | 2009-12-03 | 顕微鏡装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8730574B2 (ja) |
| JP (1) | JP5638793B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7622767B2 (ja) | 2023-03-30 | 2025-01-28 | 横河電機株式会社 | 観察培養装置 |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9743020B2 (en) | 2010-03-23 | 2017-08-22 | California Institute Of Technology | Super resolution optofluidic microscopes for 2D and 3D imaging |
| US9426429B2 (en) | 2010-10-26 | 2016-08-23 | California Institute Of Technology | Scanning projective lensless microscope system |
| US9569664B2 (en) * | 2010-10-26 | 2017-02-14 | California Institute Of Technology | Methods for rapid distinction between debris and growing cells |
| US9643184B2 (en) | 2010-10-26 | 2017-05-09 | California Institute Of Technology | e-Petri dishes, devices, and systems having a light detector for sampling a sequence of sub-pixel shifted projection images |
| US9343494B2 (en) | 2011-03-03 | 2016-05-17 | California Institute Of Technology | Light guided pixel configured for emissions detection and comprising a guide layer with a wavelength selective filter material and a light detector layer |
| JP5999121B2 (ja) * | 2014-02-17 | 2016-09-28 | 横河電機株式会社 | 共焦点光スキャナ |
| JP6270560B2 (ja) * | 2014-03-14 | 2018-01-31 | オリンパス株式会社 | 培養顕微鏡 |
| JP6268309B2 (ja) * | 2014-12-26 | 2018-01-24 | シスメックス株式会社 | 細胞撮像装置、細胞撮像方法及び試料セル |
| JP6300739B2 (ja) | 2015-01-20 | 2018-03-28 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置および画像取得方法 |
| JP6539052B2 (ja) * | 2015-01-20 | 2019-07-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置および画像取得方法 |
| US10394008B2 (en) * | 2016-10-19 | 2019-08-27 | Cornell University | Hyperspectral multiphoton microscope for biomedical applications |
| JP2018102228A (ja) * | 2016-12-27 | 2018-07-05 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
| US10508971B2 (en) * | 2017-09-07 | 2019-12-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Optical test system and method for determining size of gap between two substrates of optical element |
| US20220026696A1 (en) * | 2018-12-21 | 2022-01-27 | Lavision Biotec Gmbh | Light sheet microscope with turreted lenses |
Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59172617A (ja) * | 1983-03-22 | 1984-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 自動制御式照明光学系を備えた顕微鏡 |
| JPH0391709A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-17 | Nikon Corp | 走査型微分干渉顕微鏡 |
| JPH08233544A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Komatsu Ltd | 共焦点光学装置 |
| JPH1090604A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-04-10 | Olympus Optical Co Ltd | 微分干渉顕微鏡 |
| JP2000035540A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Nikon Corp | 微分干渉顕微鏡 |
| JP2002267942A (ja) * | 2001-03-09 | 2002-09-18 | Suzuki Motor Corp | 染色体標本展開装置 |
| JP2005198565A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Nikon Corp | インキュベータとこれを備えた顕微鏡及び気体供給装置 |
| JP2005309415A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-11-04 | Olympus Corp | 光学顕微鏡と光学的観察方法 |
| JP2006003653A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 生体試料観察システム |
| JP2006162764A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Keyence Corp | 倒立型顕微鏡 |
| JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
| WO2007139201A1 (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | Olympus Corporation | 生体試料撮像方法および生体試料撮像装置 |
| JP2007316281A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡 |
| JP2008256927A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
| JP4288323B1 (ja) * | 2008-09-13 | 2009-07-01 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 顕微鏡装置及びそれを用いた蛍光観察方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2520140T3 (es) * | 1999-02-17 | 2014-11-11 | Lucid, Inc. | Portador de muestras de tejido |
| EP1630586B1 (en) * | 2003-06-02 | 2015-01-07 | Nikon Corporation | Microscope device |
| FI116946B (fi) * | 2004-07-09 | 2006-04-13 | Chip Man Technologies Oy | Laitteisto solujen kuvaamiseksi |
| JP4658565B2 (ja) * | 2004-10-28 | 2011-03-23 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡及び顕微鏡の加温方法 |
| JP4669995B2 (ja) | 2006-08-02 | 2011-04-13 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡及び観察方法 |
| US7443483B2 (en) * | 2006-08-11 | 2008-10-28 | Entegris, Inc. | Systems and methods for fluid flow control in an immersion lithography system |
| JP4409586B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2010-02-03 | オリンパス株式会社 | 箱型電動顕微鏡 |
-
2009
- 2009-12-03 JP JP2009275584A patent/JP5638793B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-11-29 US US12/955,428 patent/US8730574B2/en active Active
Patent Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59172617A (ja) * | 1983-03-22 | 1984-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 自動制御式照明光学系を備えた顕微鏡 |
| JPH0391709A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-17 | Nikon Corp | 走査型微分干渉顕微鏡 |
| JPH08233544A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Komatsu Ltd | 共焦点光学装置 |
| JPH1090604A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-04-10 | Olympus Optical Co Ltd | 微分干渉顕微鏡 |
| JP2000035540A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Nikon Corp | 微分干渉顕微鏡 |
| JP2002267942A (ja) * | 2001-03-09 | 2002-09-18 | Suzuki Motor Corp | 染色体標本展開装置 |
| JP2005198565A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Nikon Corp | インキュベータとこれを備えた顕微鏡及び気体供給装置 |
| JP2005309415A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-11-04 | Olympus Corp | 光学顕微鏡と光学的観察方法 |
| JP2006003653A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 生体試料観察システム |
| JP2006162764A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Keyence Corp | 倒立型顕微鏡 |
| JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
| JP2007316281A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡 |
| WO2007139201A1 (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | Olympus Corporation | 生体試料撮像方法および生体試料撮像装置 |
| JP2008256927A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
| JP4288323B1 (ja) * | 2008-09-13 | 2009-07-01 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 顕微鏡装置及びそれを用いた蛍光観察方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7622767B2 (ja) | 2023-03-30 | 2025-01-28 | 横河電機株式会社 | 観察培養装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US8730574B2 (en) | 2014-05-20 |
| US20110134516A1 (en) | 2011-06-09 |
| JP5638793B2 (ja) | 2014-12-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5638793B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP6195922B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| US9110301B2 (en) | Microscope with a sheet of light | |
| US7369308B2 (en) | Total internal reflection fluorescence microscope | |
| US8848268B2 (en) | Microscope with light sheet illumination | |
| EP2317363B1 (en) | Microscope connecting unit and microscope system | |
| US8792162B2 (en) | Microscope with illumination switching for capturing sample images during detector integration time | |
| US8908271B2 (en) | Laser scanning microscope and its operating method | |
| US9239454B2 (en) | Microscope having light sheet illumination of a sample region | |
| US9122070B2 (en) | Microscope device | |
| JP5208650B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
| JP7109130B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JP6241858B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
| JP2018185456A (ja) | 顕微鏡 | |
| US20100014158A1 (en) | Microscope apparatus and fluorescence cube installed therein | |
| JP2011118264A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP6173154B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
| JP7193989B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| US12439144B2 (en) | Image acquisition apparatus, image acquisition method, and medium | |
| JP2012215609A (ja) | 培養細胞観察用顕微鏡装置 | |
| JP6832735B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JP2011118265A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| EP3855234A1 (en) | Light-sheet microscope and method for large samples | |
| JP4700334B2 (ja) | 全反射蛍光顕微鏡 | |
| JP2006301541A (ja) | 走査型蛍光観察装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121120 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121120 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131021 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140220 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140617 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140905 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20140912 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141007 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141023 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5638793 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |