[go: up one dir, main page]

JP2008145525A - 液晶装置及び電子機器 - Google Patents

液晶装置及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2008145525A
JP2008145525A JP2006329693A JP2006329693A JP2008145525A JP 2008145525 A JP2008145525 A JP 2008145525A JP 2006329693 A JP2006329693 A JP 2006329693A JP 2006329693 A JP2006329693 A JP 2006329693A JP 2008145525 A JP2008145525 A JP 2008145525A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
layer
reflective
light
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006329693A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotomo Kumai
啓友 熊井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2006329693A priority Critical patent/JP2008145525A/ja
Priority to US11/950,254 priority patent/US20080218670A1/en
Publication of JP2008145525A publication Critical patent/JP2008145525A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133553Reflecting elements
    • G02F1/133555Transflectors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • G02F1/134309Electrodes characterised by their geometrical arrangement
    • G02F1/134363Electrodes characterised by their geometrical arrangement for applying an electric field parallel to the substrate, i.e. in-plane switching [IPS]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Geometry (AREA)

Abstract

【課題】反射モードと透過モードの双方で良好な表示が得られる半透過反射型の液晶装置を提供する。
【解決手段】TFTアレイ基板10の液晶層50側に、互いに電気的に接続された複数の帯状電極を有する画素電極9と、画素電極9と対向する共通電極19と、画素電極9と共通電極19との間に介在する電極部絶縁膜13とが設けられており、反射表示領域R内に、入射光の所定の偏光成分の光を選択的に反射させる反射共通電極(反射偏光層)19rと、反射光を散乱させるとともに、当該領域の液晶層厚を他の領域の液晶層厚と異ならせる液晶層厚調整層として機能する光散乱手段29と、が設けられている。
【選択図】図3

Description

本発明は、液晶装置及び電子機器に関するものである。
液晶装置の一形態として、液晶層に基板面方向の電界を印加して液晶分子の配向制御を行う方式(以下、横電界方式と称する。)のものが知られており、液晶に電界を印加する電極の形態によりIPS(In-Plane Switching)方式、FFS(Fringe-Field Switching)方式等と呼ばれるものが知られている(例えば特許文献1参照)。
特開2003−131248号公報
ところで、携帯電話機等の携帯情報端末では、種々の環境で使用されることから、半透過反射型の液晶装置がその表示部に用いられている。そこで本発明者が、横電界(あるいは斜め電界)により液晶を駆動する方式の半透過反射型液晶装置の検討を行ったところ、上記IPS方式やFFS方式の液晶装置では、単に画素領域内に反射層を設けるのみでは半透過反射表示を行うことができないことが判明した。
したがって本発明の目的は、反射表示と透過表示の双方で高品質の表示を得ることができる横電界方式の半透過反射型液晶装置を提供することにある。
本発明の液晶装置は、上記課題を解決するために、液晶層を挟持して対向する第1基板と第2基板とを備え、1画素領域内に反射表示領域と透過表示領域とが設けられており、前記第1基板の前記液晶層側に、互いに電気的に接続された複数の帯状電極を有する第1電極と、該第1電極に対し前記第1基板側に形成されて前記第1電極との間に電界を生じさせる第2電極と、前記第1電極と第2電極との間に介在する電極部絶縁膜とが設けられた半透過反射型の液晶装置であって、前記反射表示領域内に、入射光の所定の偏光成分の光を選択的に反射させる反射偏光層と、反射光を散乱させる光散乱手段と、前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層の層厚を前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の層厚と異ならせる液晶層厚調整層と、を有することを特徴とする。
この構成によれば、光散乱手段により反射光を散乱させることができるので、通常は光散乱機能を有さない反射偏光層を用いた半透過反射型液晶装置における反射表示の品質を向上させることができる。反射偏光層を利用した反射表示と通常の反射層(光散乱手段)を用いた反射表示とでは、光を反射させる部材の偏光選択性の有無により動作態様が異なるものとなる。したがって、画素領域内に単に光散乱手段を設けたのでは正常な表示は得られない。そこで本発明では、光散乱手段と平面的に重なる領域に液晶層厚調整層を設け、上記偏光選択性の有無に起因する表示動作の差異を液晶層厚の調整により解消できるようになっている。
なお、本明細書において、例えばカラー液晶装置がR(赤)、G(緑)、B(青)の3個のサブ画素で1個の画素を構成するような場合に対応し、表示を構成する最小単位となる表示領域を「サブ画素領域」と称する。また、前記サブ画素領域内に設けられた「反射表示領域」は、当該液晶装置の表示面側から入射する光を利用した表示が可能な領域をいい、「透過表示領域」は、当該液晶装置の背面側(前記表示面と反対側)から入射する光を利用した表示が可能な領域をいう。
また、前記光散乱手段が、前記反射表示領域内に形成された絶縁体突起物と、前記絶縁体突起物の表面に形成された反射膜とを備えている構成であれば、簡便な工程で光散乱手段を反射表示領域内に形成可能である。
また、前記光散乱手段が前記液晶層厚調整層を兼ねている構成とすれば、製造工程を効率化して安価に製造可能な液晶装置とすることができる。
前記光散乱手段が、前記反射表示領域のうち前記反射偏光層の非形成領域に形成されている構成としてもよい。このような構成とすれば、反射偏光層と光散乱手段とが平面的に区画されるため、光散乱手段の形成位置の自由度が大きくなる。
また、前記光散乱手段が、前記反射偏光層の前記液晶層側に部分的に形成されている構成としてもよい。このような構成とすれば、反射偏光層の形状に変更を加える必要がなく、製造性の点で有利である。
前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層の位相差と、前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の位相差との差が、当該画素領域に入射する光の波長(λ)の略1/4であることが好ましい。このような構成とすれば、反射偏光層を利用した反射表示に直線偏光を利用でき、光散乱手段を利用した反射表示には円偏光を利用できるようになるので、簡便な構成で表示の最適化を図れる。
前記第2基板の前記光散乱手段と平面的に重なる領域に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差層が形成されていることが好ましい。このような構成とすることで、光散乱手段を利用した反射表示と反射偏光層を利用した反射表示の双方で高い光利用効率を得られるため、明るい反射表示を実現できる。
前記液晶層の前記第2基板側に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差板が設けられており、前記光散乱手段の形成領域を除く前記画素領域内であって、前記第1基板の前記反射偏光層よりも前記液晶層側に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差層が形成されている構成としてもよい。このような構成とすれば、光散乱手段の形成領域に対して選択的に位相差層(位相差板)を配置する必要がなくなるので、製造性を向上させる上で有効な構成である。
前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層厚が、前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層厚より小さい構成とすることができる。またこの場合において、前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層厚が、前記光散乱手段の非形成領域における前記反射表示領域の液晶層厚の略1/2である構成とすることが好ましい。
このような構成とすれば、簡便な構成で高効率の反射表示が得られる液晶装置とすることができる。
前記透過表示領域における前記液晶層の層厚が、前記反射表示領域のうち前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の層厚と略同一であることが好ましい。このような構成とすれば、透過表示領域と反射偏光層を利用する反射表示領域の双方で表示の最適化を容易に実現できる。また透過表示領域と反射表示領域との間に段差が形成されないため、画素領域内での液晶の配向乱れの発生を抑えることができ、高コントラストの表示を得ることができる。
前記反射偏光層が、微細なスリット状の開口部を有する金属膜である構成とすることができる。また前記反射偏光層が、プリズム形状を成す複数の誘電体膜を積層した誘電体多層膜である構成とすることもできる。
本発明の液晶装置は、液晶層を挟持して対向する第1基板と第2基板とを備え、1画素領域内に反射表示領域と透過表示領域とが設けられており、前記第1基板の前記液晶層側に、互いに電気的に接続された複数の帯状電極を有する第1電極と、該第1電極に対し前記第1基板側に形成されて前記第1電極との間に電界を生じさせる第2電極と、前記第1電極と第2電極との間に介在する電極部絶縁膜とが設けられた半透過反射型の液晶装置であって、前記反射表示領域内に、入射光の所定の偏光成分の光を選択的に反射させる反射偏光層と前記入射光を反射させる反射層とが区画形成されており、前記反射偏光層の形成領域における前記液晶層の層厚と前記反射層の形成領域における前記液晶層の層厚とが、互いに異なる層厚であることを特徴とする。
この構成によれば、反射表示領域において反射偏光層を利用した反射表示と反射層を利用した反射表示とを行う液晶装置を容易に実現できる。反射偏光層は通常の反射膜に比して作製が困難であるため、その形成位置や形状、あるいは形成方法が制限されることがある。そこで本発明では、反射表示領域内に通常の反射層が形成された領域を設け、さらに反射偏光層を利用する反射表示と反射層を利用する反射表示との表示態様の差異を解消するために、反射層上の液晶層厚を他の領域の液晶層厚と異ならせている。このような構成とすることで、反射表示の明るさを確保しつつ反射偏光層の形成等を行えるようになり、反射偏光層を用いた半透過反射型液晶装置の設計、製造の自由度を高めることができる。
また前記第1基板上に前記反射層の形成領域に対応して、誘電体突起物からなる液晶層厚調整層が形成されている構成であってもよい。このような構成とすれば、液晶層の層厚調整を用意かつ正確に行うことができる。
また前記反射層が散乱反射光を生成する光散乱手段であることが好ましい。このような構成とすれば、光散乱機能によって視認性を向上させることができる。
前記第1基板及び第2基板のうち、当該液晶装置の表示面を構成する基板の液晶層と反対側の面に偏光板が設けられており、前記偏光板の透過軸と、前記反射偏光層の透過軸とが略平行に配置されていることが好ましい。このような構成とすることで、反射偏光層に入射する光の透過率/反射率を最大にすることができ、明るい表示を得ることができる。
前記第1電極の帯状電極が、互い略平行に配置されており、前記帯状電極の延在方向が、前記反射偏光層の透過軸と交差する方向であることが好ましい。このような構成とすることで、前記電極に電圧を印加した際の液晶の配向方向を基板面内に分散させることができ、表示の視角を容易に広げることができる。
前記帯状電極の延在方向と、前記反射偏光層の透過軸との成す角度が略30°であることが好ましい。前記角度が30°であれば、前記電極に電圧を印加した際の液晶の移動幅を小さく抑えつつ視角範囲を拡大することができる。
前記反射偏光層が、前記画素領域内に部分的に形成されている構成とすることができる。かかる構成の液晶装置では、画素領域のうち、反射偏光層が部分的に形成された領域で反射表示領域を構成し、残る非形成領域で透過表示領域を構成する。この場合、透過表示領域と反射表示領域とが明確に区画されるので、反射表示と透過表示のそれぞれにおいて光学設計を最適化することができ、より高画質の液晶装置を得る上で好都合である。
前記反射偏光層が、前記画素領域の略全面に形成されている構成とすることもできる。かかる構成の液晶装置では、反射偏光層は入射した偏光成分を部分的に透過し、一部の偏光成分を反射するものとされる。反射偏光層を画素領域内でベタ状に形成できることから、製造の容易性、歩留まりの点で優れた構成となる。また、画素領域を反射表示領域と透過表示領域とに区画する場合に比して、当該領域を広く利用でき、画素の光学設計が容易になる。
前記反射偏光層が、前記第1電極と電気的に接続されていてもよい。このような構成とすれば、反射偏光層を液晶に電圧を印加するための電極の一部として用いることができる。
また、前記第1基板の外面側に照明装置が配設されている構成としてもよい。本発明の液晶装置では、前記第1基板に反射表示を行うための反射偏光層と、液晶を駆動するための第1電極及び第2電極が設けられているので、第1基板を表示面側に配置としない液晶装置を構成できる。第1基板が表示面側に配置されていると、前記第1電極ないし第2電極に駆動信号を供給するために第1基板上に形成される金属配線等によって外光が乱反射され、液晶装置の視認性を低下させることがあるが、本発明では、このような外光の乱反射は生じず、優れた視認性を得ることができる。
前記第1基板と前記照明装置との間に偏光板が設けられており、前記偏光板の透過軸が、前記反射偏光層の透過軸と略直交する向きに配置されていることが好ましい。このような構成とすることで、照明装置から入射する照明光の利用効率を最大にすることができ、明るい透過表示を得られるようになる。
前記第1基板及び第2基板のいずれかにカラーフィルタが設けられ、該カラーフィルタは、サブ画素領域内で異なる色度を有する複数の平面領域に区画されている構成とすることができる。この構成によれば、反射表示領域と透過表示領域のそれぞれで、適切な色度のカラー表示が可能になり、より色鮮やかな高画質の液晶装置とすることができる。
本発明の電子機器は、先に記載の本発明の液晶装置を備えたことを特徴とする。この構成によれば、高輝度、高コントラスト、広視野角の透過表示及び反射表示が可能な表示部を具備した電子機器を実現できる。
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態に係る液晶装置について図面を参照して説明する。本実施形態の液晶装置は、液晶に対して基板面方向の電界(横電界)を印加し、配向を制御することにより画像表示を行う横電界方式のうち、FFS(Fringe Field Switching)方式と呼ばれる方式を採用した液晶装置である。また本実施形態の液晶装置は、基板上にカラーフィルタを具備したカラー液晶装置であり、R(赤)、G(緑)、B(青)の各色光を出力する3個のサブ画素で1個の画素を構成するものとなっている。したがって表示を構成する最小単位となる表示領域を「サブ画素領域」、一組(R,G,B)のサブ画素から構成される表示領域を「画素領域」と称する。
図1は、本実施形態の液晶装置を構成するマトリクス状に形成された複数のサブ画素領域の等価回路図である。図2(a)は液晶装置100の任意の1サブ画素領域における平面図であり、図2(b)は、液晶装置100を構成する各光学素子の光学軸の配置関係を示す説明図である。図3は図2(a)のA−A'線に沿う部分断面図である。
なお、各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせて表示している。
図1に示すように、液晶装置100の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数のサブ画素領域には、それぞれ画素電極9と画素電極9をスイッチング制御するためのTFT30とが形成されている。TFT30のソースにはデータ線駆動回路101から延びるデータ線6aが電気的に接続されている。データ線駆動回路101は、画像信号S1、S2、…、Snを、データ線6aを介して各画素に供給する。前記画像信号S1〜Snはこの順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしても良い。
TFT30のゲートには、走査線駆動回路102から延びる走査線3aが電気的に接続されており、走査線駆動回路102から所定のタイミングで走査線3aにパルス的に供給される走査信号G1、G2、…、Gmが、この順に線順次でTFT30のゲートに印加されるようになっている。画素電極9は、TFT30のドレインに電気的に接続されている。スイッチング素子であるTFT30が走査信号G1、G2、…、Gmの入力により一定期間だけオン状態とされることで、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snが所定のタイミングで画素電極9に書き込まれるようになっている。
画素電極9を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、画素電極9と液晶を介して対向する共通電極との間で一定期間保持される。ここで、保持された画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極9と共通電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付与されている。蓄積容量70はTFT30のドレインと容量線3bとの間に設けられている。
次に、図2及び図3を参照して液晶装置100の詳細な構成について説明する。液晶装置100は、図3に示すように、TFTアレイ基板(第1基板)10と対向基板(第2基板)20との間に液晶層50を挟持した液晶パネルを含む。液晶層50は、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向する領域の縁端に沿って設けられた図示略のシール材によって基板10,20間に封止されている。TFTアレイ基板10の背面側(図示下面側)には、導光板91と反射板92とを備えたバックライト(照明装置)90が設けられている。
図2(a)に示すように、液晶装置100のサブ画素領域には、データ線6aの延在方向(Y軸方向)に長手の平面視略櫛歯状を成す画素電極(第1電極)9と、画素電極9と平面的に重なって配置された平面略ベタ状の共通電極(第2電極)19とが設けられている。サブ画素領域の図示左上の角部には、TFTアレイ基板10と対向基板20とを所定間隔で離間した状態に保持するための柱状スペーサ40が立設されている。
画素電極9は、Y軸方向に延びる複数本(図示では5本)の帯状電極部9cと、これら複数の帯状電極部9cのTFT30側(+Y側)の各端部に接続されて走査線3aの延在方向に延びる基端部9aと、基端部9aの走査線3a延在方向中央部からTFT30側(+Y側)に延出されたコンタクト部9bとからなる。
共通電極19は、図2に示す画素領域内で透明共通電極19tと反射共通電極19rとに区画されており、画像表示領域全体では、走査線3aの延在方向(X軸方向)に沿って延びる透明共通電極19tと反射共通電極19rとがデータ線6aの延在方向(Y軸方向)に関して交互に配列された構成である。本実施形態の場合、透明共通電極19tはITO(インジウム錫酸化物)等の透明導電材料からなる導電膜であり、反射共通電極19rは、詳細は後述するが、微細なスリット構造を具備した光反射性の金属膜からなる反射偏光層である。
なお、共通電極19は、図2(a)に示すサブ画素領域とほぼ同じ大きさの平面視略矩形状であってもよい。この場合には、複数の共通電極にわたって延在する共通電極配線を設け、当該共通電極配線の延在方向に沿って配列された共通電極同士を電気的に接続するとよい。
さらに、反射共通電極19rの形成領域には、表面に光反射性を有する概略ドーム状(略半球状)の突起物であり、液晶層厚を調整するための液晶層厚調整層としても機能する光散乱手段29が複数個形成されている。光散乱手段29の直径は8〜10μm程度であり、高さは0.5〜1μm程度である。
光散乱手段29は、反射共通電極19rの形成領域内でランダムに配置されていることが好ましく、さらには、互いに異なる径の光散乱手段29を配置してもよい。このような構成とすれば、光散乱手段29の反射光の干渉を防止でき、反射表示の視認性を向上させることができる。
TFT30には、画素電極9の長手方向(X軸方向)に延びるデータ線6aと、データ線6aと直交する方向(Y軸方向)に延びる走査線3aと、走査線3aに隣接して走査線3aと平行に延びる容量線3bとが形成されている。データ線6aと走査線3aとの交差部の近傍にTFT30が設けられている。TFT30は走査線3aの平面領域内に部分的に形成されたアモルファスシリコン膜からなる半導体層35と、半導体層35と一部平面的に重なって形成されたソース電極6b及びドレイン電極32とを備えている。走査線3aは半導体層35と平面的に重なる位置でTFT30のゲート電極として機能する。
TFT30のソース電極6bは、データ線6aから分岐されて半導体層35に延びる平面視略逆L形に形成されており、ドレイン電極32は、半導体層35と平面的に重なる位置から画素電極9側(−Y側)に延び、その先端には平面視略矩形状の容量電極31が電気的に接続されている。容量電極31上には、画素電極9の端部において走査線3a側に突出するコンタクト部9bが配置されており、両者が平面的に重なる位置に設けられた画素コンタクトホール45を介して容量電極31と画素電極9とが電気的に接続されている。容量電極31は、容量線3bの平面領域内に配置されており、厚さ方向で対向する容量電極31と容量線3bとを電極とする蓄積容量70を構成している。
なお、本実施形態の液晶装置100は、画素電極9と当該画素電極9に対向する共通電極19とを備えたFFS方式の液晶装置であるため、表示動作時に画素電極9に電圧を印加すると、画素電極9と共通電極19とが平面的に重なる領域に比較的大きな容量が形成される。したがって液晶装置100では、蓄積容量70を省略することもできる。かかる構成とすれば、容量電極31と容量線3bとが形成されている領域も表示に利用できるようになるため、サブ画素の開口率を向上させて表示を明るくすることができる。
次に、図3に示す断面構造をみると、互いに対向して配置されたTFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が挟持されている。TFTアレイ基板10は、ガラスや石英、プラスチック等の透光性の基板本体10Aを基体としてなり、基板本体10Aの内面側(液晶層50側)には、走査線3a及び容量線3bが形成されている。走査線3a及び容量線3bを覆って、酸化シリコン等の透明絶縁膜からなるゲート絶縁膜11が形成されている。
ゲート絶縁膜11上に、アモルファスシリコンの半導体層35が形成されており、半導体層35に一部乗り上げるようにしてソース電極6bと、ドレイン電極32とが設けられている。容量電極31はドレイン電極32と一体に形成されている。
半導体層35は、ゲート絶縁膜11を介して走査線3aと対向配置されており、当該対向領域で走査線3aがTFT30のゲート電極を構成するようになっている。容量電極31は、ゲート絶縁膜11を介して容量線3bと対向配置されており、容量電極31と容量線3bとが対向する領域に、ゲート絶縁膜11をその誘電体膜とする蓄積容量70が形成されている。
半導体層35、ソース電極6b、ドレイン電極32、及び容量電極31を覆って、酸化シリコン等からなる層間絶縁膜12が形成されている。層間絶縁膜12上に、ITO等の透明導電材料からなる透明共通電極19tと、アルミニウム等の反射性の金属膜を主体としてなる反射共通電極(反射偏光層)19rとからなる共通電極19が形成されている。透明共通電極19tと反射共通電極19rとは互いに電気的に接続されている。したがって、本実施形態の液晶装置100は、図2(a)に示す1サブ画素領域内のうち、画素電極9が配置された概略矩形状の平面領域のうち透明共通電極19tの形成された領域が、バックライト90から入射して液晶層50を透過する光を変調して表示を行う透過表示領域Tとなっている。また、画素電極9が配置された平面領域のうち反射共通電極19rの形成された領域が、対向基板20の外側から入射して液晶層50を透過する光を反射、変調して表示を行う反射表示領域Rとなっている。
なお、図2及び図3には、共通電極19を構成する透明共通電極19tと反射共通電極19rとが平面的に区画されている場合が示されているが、透明共通電極19tが、反射共通電極19rを覆う位置まで延設されている構成であってもよい。このような構成とすれば、画素電極9と対向する共通電極19の表面に一様に透明共通電極19tが配されることとなるので、画素電極9と共通電極19との間に生じる電界をサブ画素領域内で均一化することができる。
反射共通電極19r上には複数の光散乱手段29が形成されている。光散乱手段29は、概略ドーム状(略半球状)に形成された樹脂材料等からなる絶縁体突起物29aと、絶縁体突起物29aの表面を覆う反射層29bとからなる。反射層29bは、例えば、アルミニウムや銀などの光反射性を有する金属材料の薄膜により形成することができる。
このような光散乱手段29は以下の製造工程により形成することができる。
まず、反射共通電極19r上に感光性樹脂材料を塗布し、この感光性樹脂からなる塗膜を露光、現像して柱状突起物を反射共通電極19r上に形成する。その後、加熱により柱状突起物の角部を鈍らせて概略ドーム状とすることで絶縁体突起物29aを形成する。そして、アルミニウム等の金属被膜を蒸着などによって形成した後、光散乱手段29を形成すべき領域をマスクして、金属被膜を各種のエッチング等で除去することで、絶縁体突起物29aを覆う反射層29bを形成する。
なお、図3では反射共通電極19r上に直接に光散乱手段29が形成されているが、反射共通電極19rと光散乱手段の反射層29bとは電気的に接続されていてもよい。また、反射共通電極19r上を覆うようにして透明共通電極19tが延設されている場合には、透明共通電極19tと反射層29bとが電気的に接続されていてもよい。
共通電極19と光散乱手段29とを覆って、酸化シリコン等からなる電極部絶縁膜13が形成されており、電極部絶縁膜13上にITO等の透明導電材料からなる画素電極9が形成されている。層間絶縁膜12及び電極部絶縁膜13を貫通して容量電極31に達する画素コンタクトホール45が形成されており、画素コンタクトホール45内に画素電極9のコンタクト部9bが一部埋設されることで、画素電極9と容量電極31とが電気的に接続されている。上記画素コンタクトホール45の形成領域に対応して共通電極19にも開口部が設けられており、共通電極19と画素電極9とは接触しないようになっている。画素電極9を覆うようにしてポリイミド等からなる配向膜18が形成されている。
なお、図2及び図3では、図面を見やすくするために光散乱手段29と画素電極9とが平面的に重ならないように配置しているが、光散乱手段29上に画素電極9の一部が形成されていてもよい。
一方、対向基板20の内面側(液晶層50側)には、カラーフィルタ22と、配向膜28とが積層されており、対向基板20の外面側には、部分的に複数の位相差板26が形成されている。複数の位相差板26を覆うようにして偏光板24が配設されている。位相差板26は、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差板であり、光散乱手段29の形成領域に対応して、液晶層50の層厚方向で各光散乱手段29と対向する位置に選択的に設けられている。
カラーフィルタ22は、画素領域内で色度の異なる2種類の領域に区画された構成とすることが好ましい。具体例を挙げると、透過表示領域を構成する透明共通電極19tの平面領域に対応して配置された第1の色材領域と、反射表示領域を構成する反射共通電極19rの平面領域に対応して配置された第2の色材領域とが区画形成された構成のものを採用できる。この場合において、透過表示領域に配される第1の色材領域の色濃度は、第2の色材領域の色濃度より大きくされる。このような構成とすることで、カラーフィルタ22を表示光が1回のみ透過する透過表示領域と、2回透過する反射表示領域との間で表示光の色味が異なるのを防止でき、反射表示と透過表示の見映えを同じくして表示品質を向上させることができる。
上記構成では、図3に示すように、絶縁体突起物29aを有する光散乱手段29が形成されていることで、光散乱手段29の形成領域において、TFTアレイ基板10の液晶層50側の表面が液晶層50側へ突出している。そして、かかる突起が形成されている結果、光散乱手段29の形成領域における液晶層50の層厚が、光散乱手段29が形成されていない領域(非形成領域)における液晶層50の層厚よりも薄くなっている。本実施形態の場合、光散乱手段29の形成領域における平均的な液晶層50の層厚が、他の領域における層厚dの約1/2になっている。このように、本実施形態における光散乱手段29は、自身の厚み(突出高さ)によって液晶層50の層厚を他の領域と異ならせる液晶層厚調整層としても機能するものである。
本実施形態では光散乱手段29が液晶層厚調整層として機能する構成としているが、光散乱手段29とは別の部材として液晶層厚調整層を設けることもできる。例えば、反射共通電極19r上に選択的に樹脂層を形成し、かかる樹脂層上に光散乱手段29を形成した構成として前記樹脂層の厚みにより液晶層厚を調整してもよい。また光散乱手段29上に液晶層厚調整層としての樹脂層を積層した構成であってもよい。
ここで、図4は反射偏光層である反射共通電極19rの構成及び作用を説明するための図である。図4(a)は反射共通電極19rの平面図であり、図4(b)は図4(a)のJ−J’線に沿う側面図である。
図4(a)及び図4(b)に示すように、反射共通電極19rはアルミニウム等の光反射性の金属膜71を主体としてなり、金属膜71に所定ピッチで平面視ストライプ状を成す複数の微細なスリット(開口部)72が形成された構成を備えている。上記複数のスリット72は、互いに平行に同一幅を有して形成されている。スリット72の幅は30nm〜300nm程度であり、複数のスリット72が所定ピッチで形成された結果細線状とされた金属膜71の線幅は30nm〜300nm程度である。
上記構成を具備した反射共通電極19rは、図4(b)に示すように、その上面側から光Eが入射されると、スリット72の長さ方向に平行な偏光成分を反射光Erとして反射する一方、スリット72の幅方向に平行な偏光成分を透過光Etとして透過する。すなわち、反射共通電極19rは、スリット72の延在方向に平行な反射軸と、この反射軸と直交する方向の透過軸とを有するものとなっている。
反射共通電極19rは、図2(b)の光学軸の配置図に示すように、液晶装置100において、その透過軸(スリット72の延在方向に直交する方向)157が、対向基板20側の偏光板24の透過軸153と平行に配置されており、TFTアレイ基板10側の偏光板14の透過軸と直交して配置されている。また、本実施形態の液晶装置100では、配向膜18,28は平面視同一方向にラビング処理されており、その方向は、図2(b)に示すラビング方向151である。したがって、反射共通電極19rの透過軸157と配向膜18,28のラビング方向151とは平行である。
なお、ラビング方向151は、画素電極9の帯状電極部9c…の延在方向(Y軸方向)に対して約30°の角度を成す方向とされている。また、本実施形態では液晶の初期配向方向を規定するのにラビングを用いているが、他の配向規制手段を用いてもよい。無機配向膜を用いた場合の配向規制方向もラビング方向151と同様である。
上記構成を具備した液晶装置100は、FFS方式の液晶装置であり、TFT30を介して画素電極9に画像信号(電圧)を印加することで、画素電極9と共通電極19との間に基板面方向(平面視では図2X軸方向)の電界を生じさせ、かかる電界によって液晶を駆動して各々のサブ画素の透過率/反射率を変化させることで画像表示を行うものとなっている。
図2(b)に示したように、液晶層50を挟持して対向する配向膜18,28は平面視で同一方向にラビング処理されているので、画素電極9に電圧を印加しない状態では、液晶層50を構成する液晶分子は、基板10,20間でラビング方向151に沿って水平に配向した状態となっている。このような液晶層50に画素電極9と共通電極19との間に形成した電界を作用させると、図2(a)に示す帯状電極部9cの線幅方向(X軸方向)に沿って液晶分子が配向する。液晶装置100は、このような液晶分子の配向状態の差異に基づく複屈折性を利用して明暗表示を行うようになっている。なお、液晶装置100の動作時に、共通電極19は画素電極9との間で所定範囲の電圧差を生じさせるべく一定電圧に保持されていればよい。
次に、上記構成を具備した液晶装置100の動作について図5を参照して説明する。図5は、液晶装置100の動作説明図である。同図には図3に示した構成要素のうち、説明に必要な構成要素のみを示している。図示上側(パネル表示面側)から順に、偏光板24、位相差板26、液晶層50、光散乱手段29、共通電極19、偏光板14、及びバックライト90が示されている。
まず、図2及び図3に示した透過表示領域Tを利用した透過表示(透過モード)について説明する。
図5左側の「透過表示」に示すように、液晶装置100において、バックライト90から射出された光は、偏光板14を透過することで偏光板14の透過軸155に平行な振動方向の直線偏光となって液晶パネルに入射する。液晶パネルに入射した光は共通電極19のうち透明共通電極19tを透過して液晶層50に入射する。そして、液晶層50がオン状態(画素電極9と共通電極19との間に選択電圧が印加された状態)であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与され、偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光に変換される。これにより偏光板24を透過した光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態(上記選択電圧が印加されていない状態)であれば、入射光はその偏光状態を維持したまま偏光板24に達し、当該入射光と平行な吸収軸(透過軸153と直交する光学軸)を有する偏光板24に吸収され、サブ画素は暗表示となる。
また、偏光板14を透過した光のうち反射共通電極19rに入射した光は、この直線偏光と平行な反射軸を有する反射共通電極19rによって反射されるので、液晶層50に入射することなくバックライト90側へ戻される。この反射光は偏光板14の透過軸と平行な振動方向の直線偏光であるから、偏光板14を透過してバックライト90の反射板92に達し、反射板92と反射共通電極19rとの間で反射を繰り返す。このような反射を繰り返す光が透明共通電極19tに入射すれば、透過表示の表示光として利用できるので、バックライト90の光利用効率を高め、透過表示の輝度を向上させることができる。
次に、図2及び図3に示した反射共通電極(反射偏光層)19rを利用した反射表示について説明する。
図5中央の「反射表示(反射偏光層)」と表示された部分の反射表示において、偏光板24の上方(パネル表示面側)から液晶パネルに入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な直線偏光に変換されて液晶層50に入射する。このとき液晶層50がオン状態であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与され、入射時と直交する振動方向の直線偏光に変換されて反射共通電極19rに入射する。ここで、図2(b)に示したように、反射偏光層である反射共通電極19rは、偏光板24の透過軸153と平行な透過軸157と、それに直交する反射軸を有しているので、上記オン状態の液晶層50を透過して反射共通電極19rに入射した光は、その偏光状態を保持したまま反射される。再度液晶層50に入射した反射光は、液晶層50の作用により入射時の偏光状態(偏光板24の透過軸と平行な振動方向の直線偏光)に戻されて偏光板24に入射する。これにより偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、偏光板24から液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま反射共通電極19rに入射し、当該光と平行な透過軸157を有する反射共通電極19rを透過する。そして、この光と平行な吸収軸(直交する透過軸)を有する偏光板14によって吸収され、サブ画素は暗表示となる。
次に、図2及び図3に示した光散乱手段29(反射層29b)を利用した反射表示について説明する。
図5右側の「反射表示(反射層)」と表示された部分の反射表示において、偏光板24の上方(パネル表示面側)から液晶パネルに入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な振動方向の直線偏光に変換され、さらに位相差板26を透過して左回りの円偏光に変換されて液晶層50に入射する。ここで、光散乱手段29の形成領域にあっては、絶縁体突起物29aの厚みによって液晶層50の層厚が部分的に薄くなっており、他の領域(透過表示領域T及び反射共通電極19r上の領域)の層厚dの略半分の層厚(d/2)となっている。したがって、液晶層50がオン状態であるときの上記入射光が液晶層50により付与される位相差は、反射共通電極19rに入射する光の半分の位相差(λ/4)である。これにより、上記入射光は偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光に変換されて光散乱手段29(反射層29b)に入射する。この直線偏光は、その偏光状態を保持したまま反射されるが、反射層29bの凸形状により散乱された光となる。その後、上記反射光は液晶層50に再度入射し、さらに液晶層50の作用により左回りの円偏光となって位相差板26に入射する。そして、位相差板26を透過して偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光となり、偏光板24を透過する。これにより偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。この反射光の一部は光散乱手段29によって散乱されることとなるので、液晶装置100の反射光が特定方向に偏った強度分布を持つことがなくなり、視認性の高い表示を実現できる。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、位相差板26から液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま光散乱手段29に入射し、反射層29bにより反射される。このとき、左回りの円偏光である入射光の進行方向が反転するため、偏光板24側からみた回転方向が逆転し、右回りの円偏光となって液晶層50に再入射する。そして、液晶層50を透過して位相差板26に入射し、位相差板26を透過して偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光となって偏光板24に入射し、偏光板24によって吸収される。これにより、サブ画素は暗表示となる。
なお、光散乱手段29の形成領域では、液晶層厚が他の領域よりも薄くなっており、本実施形態ではその層厚を他の領域の液晶層厚dの略半分であるとしたが、横電界方式の液晶装置では液晶層厚に依存して実効的な駆動電圧が変化するため、液晶層厚の変化分以上に液晶層が透過光に付与する位相差値が変化することも考えられる。このような場合には、光散乱手段29の絶縁体突起物29aの高さを調整して光散乱手段29上の液晶層厚を調整し、当該領域における位相差が他の領域の位相差の半分(λ/4)となるように調整すればよい。
本実施形態の液晶装置100は、サブ画素領域内に部分的に反射偏光層(反射共通電極19r)を設けた構成を採用したことで、簡便な構成で高コントラストの反射表示及び透過表示を得られるものとなっている。また、反射共通電極19r上に光散乱手段29を設けたことで、反射光の一部を散乱させることができるようになっているため、パネル正面方向の反射輝度を確保でき、また反射表示領域Rにおける外光の正反射によって反射表示の視認性が低下するのを防止できる。したがって反射表示と透過表示の双方で視認性に優れた表示を得ることができる。
ところで、反射型液晶装置の反射層に光散乱性を付与するための構造は従来から知られており、例えば表面に凹凸形状を形成した樹脂膜上に反射層を形成することで光散乱性を有する反射層を実現できる。そして、このような凹凸構造を反射共通電極19rについて採用すれば、確かに光散乱性を有する反射偏光層を作製できる。しかしながら、本実施形態で用いている反射共通電極19rを作製するには、上述したように幅数十nmの微細な線幅でグリッド状の細線を形成する必要があるため、上述した樹脂膜の凹凸面に対して正確な線幅で細線を形成することはきわめて困難である。これに対して本実施形態では、反射共通電極19rを形成した後、反射共通電極19r上に直接又は他の層を介して絶縁体突起物29aを形成し、かかる絶縁体突起物29a上を反射層29bで被覆することにより光散乱手段29を形成している。そのため、反射共通電極19rを平坦面上に形成できることから反射偏光層を構成する細線を正確な線幅で形成し、良好な偏光の選択性を有する反射偏光層を作製できる。また、光散乱手段29についても、平坦な反射共通電極19r上に形成できることから、液晶層厚を制御する絶縁体突起物29aの高さを正確に調整でき、コントラスト低下を招くことなく反射表示に光散乱性を付与することができる。
また本実施形態の液晶装置100では、主要な表示部である透過表示領域Tと、反射表示領域Rのうち反射共通電極19rを利用して表示を行う領域とで液晶層厚が一定であるため、両領域で駆動電圧に差が生じることもなく、反射表示と透過表示とで表示状態が異なってしまうことはない。
さらに、反射表示を行うための反射共通電極19rが、TFTアレイ基板10側に設けられているので、TFT30とともにTFTアレイ基板10上に形成される金属配線等で外光が反射されて表示品質を低下させるのを効果的に防止することができる。さらに、画素電極9が透明導電材料を用いて形成されているので、液晶層50を透過してTFTアレイ基板10に入射した外光が画素電極9で乱反射されるのを防止することもでき、優れた視認性を得ることができる。
以上の第1実施形態では、対向基板20の基板本体20Aと偏光板24との間に位相差板26を設けた場合について説明したが、かかる位相差板26と同等の機能を有する位相差層を対向基板20の液晶層50側に形成してもよい。図6は、対向基板20の液晶層50側に内面位相差層26aを形成した場合の反射表示領域Rの部分断面構成を示す図である。さらに図示の構成例では、対向基板20の液晶層50側に選択的に内面位相差層26aを形成していることから、内面位相差層26aの形成領域の対向基板20の表面が液晶層50側へ突出している。すなわち内面位相差層26aが光散乱手段29上における液晶層厚調整層として機能する構成となっている。
また、このように内面位相差層26aの層厚に起因して液晶層厚を調整可能である場合には、図6のTFTアレイ基板10のように、光散乱手段29の高さを低くし、光散乱手段29に起因するTFTアレイ基板10表面の凹凸が緩和されるようにしてもよい。このようにすれば、画素電極9を比較的平坦な電極部絶縁膜13上に形成できるため、画素電極9を精度よく形成できる。
なお、対向基板20の液晶層側に内面位相差層26aを形成する場合において、内面位相差層26aを覆う平坦化膜を形成して対向基板20表面を平坦化してもよい。この場合には、図3に示したのと同様の構成のTFTアレイ基板10を用い、光散乱手段29を液晶層厚調整層として機能させる構成とすればよい。
(第2の実施形態)
次に、図7から図10を参照して本発明の第2実施形態の液晶装置について説明する。
図7(a)は、本実施形態の液晶装置200における任意の1サブ画素領域を示す平面図であり、図7(b)は、同液晶装置における各光学素子の光学軸の配置を示す説明図である。図8は、図7のB−B’線に沿う断面図である。図9は、反射偏光層の構成及び作用を説明するための図である。図10は、本実施形態の液晶装置200の動作説明図である。
なお、本実施形態の液晶装置200の基本構成は先の第1実施形態と同様であり、図7(a)、(b)はそれぞれ第1実施形態における図2(a)、(b)に相当する図であり、図8、図10は、それぞれ第1実施形態における図3、図5に相当する図である。したがって本実施形態で参照する各図において、図1から図5に示した第1実施形態の液晶装置100と共通の構成要素には同一の符号を付すこととし、以下ではそれらの説明を適宜省略する。
図7に示すように、本実施形態の液晶装置200のサブ画素領域には、画素電極(第1電極)9と、容量電極31を介して画素電極9と電気的に接続されたTFT30とが設けられている。TFT30を構成するアモルファスシリコンの半導体層35には、容量電極31から延びるドレイン電極32と、図示Y軸方向に延びるデータ線6aから分岐されたソース電極6bとが電気的に接続されている。半導体層35の背面側に配されて図示X軸方向に延びる走査線3aが半導体層35と平面的に重なる位置でTFT30のゲート電極を構成している。容量電極31と、容量電極31と平面的に重なりつつ走査線3aと平行に延びる容量線3bとが、当該サブ画素領域の蓄積容量70を構成している。
そして、図7(a)に示すサブ画素領域には、いずれも概略平面ベタ状を成す反射偏光層39と共通電極(第2電極)19とが形成されている。
図8に示す断面構造をみると、液晶装置200は、液晶層50を挟持して対向するTFTアレイ基板(第1基板)10と、対向基板(第2基板)20とを備えており、TFTアレイ基板10の背面側(図示下面側)にバックライト90が設けられている。対向基板20の構成は第1実施形態と同様であるから、その詳細な説明は省略する。
TFTアレイ基板10の基体を成す基板本体10A上には、平面ベタ状の反射偏光層39が形成されている。反射偏光層39上には、概略ドーム状(略半球状)の突起物である光散乱手段29が散在している。反射偏光層39と光散乱手段29とを覆って、ITO等の透明導電材料からなる透明共通電極19tが形成されている。
透明共通電極19tを覆って第1層間絶縁膜12aが形成されており、第1層間絶縁膜12a上に走査線3aと容量線3bとが形成されている。走査線3a及び容量線3bを覆ってゲート絶縁膜11が形成されている。ゲート絶縁膜11上に半導体層35と、半導体層35と電気的に接続されたソース電極6b(データ線6a)、及びドレイン電極32(容量電極31)が形成されている。半導体層35、ソース電極6b、ドレイン電極32等を覆って第2層間絶縁膜12bが形成されており、第2層間絶縁膜12b上に画素電極9が形成されている。
したがって本実施形態の液晶装置200では、透明共通電極19tと画素電極9との間に積層された第1層間絶縁膜12a、ゲート絶縁膜11、及び第2層間絶縁膜12bが、電極部絶縁膜13を構成している。
第2層間絶縁膜12bを貫通して容量電極31に達する画素コンタクトホール45が形成されており、この画素コンタクトホール45を介してコンタクト部9b(画素電極9)と容量電極31とが電気的に接続されている。画素電極9を覆って配向膜18が形成されている。
ここで、図9(a)は、反射偏光層39の斜視図であり、図9(b)は、反射偏光層39の作用を説明するための側面図である。
本実施形態の液晶装置200に備えられた反射偏光層39は、図9(a)に示すように、基板本体10A上に形成されるアクリル樹脂等の熱硬化性または光硬化性の透明樹脂からなるプリズムアレイ81と、屈折率の異なる2種類の誘電体膜を交互に複数積層してなる誘電体干渉膜85とを備えて構成されている。
プリズムアレイ81は、2つの斜面を有する三角柱状(プリズム形状)の複数の凸条82を有しており、複数の凸条82が連続して周期的に形成されることにより断面三角波状を成すプリズムアレイを構成している。誘電体干渉膜85は、屈折率の異なる2種の材料からなる誘電体膜が、複数の凸条82の斜面に倣う形状に交互に積層されたプリズム状誘電体多層膜であり、例えば、TiO膜とSiO膜とを交互に7層積層することで形成できる。
図9では図示を省略しているが、誘電体干渉膜85の上面は樹脂層により覆われて平坦化されている。このように、プリズムアレイ上に形成された誘電体干渉膜85は、光の伝搬特性に異方性を有しており、図9(b)の上面側から光(自然光)Eが入射された場合には、凸条82の延在方向に平行な偏光成分を反射し、凸条82の延在方向に垂直な偏光成分を透過するようになっている。すなわち、図7(a)及び図8に示す反射偏光層39は、凸条82の延在方向と平行な反射軸と、凸条82の延在方向に垂直な透過軸を有していることになる。
本実施形態の液晶装置200では、反射偏光層39の反射軸と平行な直線偏光をバックライト90側から入射させて透過表示を行うようになっており、図7(b)に示すように、偏光板14の透過軸155と、反射偏光層39の透過軸159とが直交するように配置されることで、偏光板14の透過軸155と反射偏光層39の反射軸(凸条82の延在方向)とが略平行となるように配置されている。また反射偏光層39の透過軸に対して、偏光板24の透過軸153、及び配向膜18,28のラビング方向151は平行に配置されている。
誘電体干渉膜85を構成する1層の誘電体膜の膜厚は10nm〜100nm程度であり、誘電体干渉膜85の総膜厚は300nm〜1μm程度である。プリズムアレイ81の凸条82の高さは0.5μm〜3μmであり、隣接する凸条82,82間のピッチは1μm〜6μm程度である。上記誘電体膜の材料としては、TiO、SiOのほか、Ta、Si等を用いることもできる。
なお、誘電体干渉膜85を構成する誘電体膜の積層ピッチおよび凸条82のピッチは、目的とする反射偏光層39の特性に応じて適宜最適な値に調整される。すなわち、上記構成の反射偏光層39は、誘電体干渉膜85を構成する誘電体膜の積層数によってその透過率(反射率)を制御することができ、積層数を減ずることで、反射軸(凸条82の延在方向)に平行な直線偏光の透過率を増大させ、反射率を低下させることができる。ただし、所定数以上の誘電体膜を積層した場合には、反射軸に平行な直線偏光のほとんどが反射される。本実施形態に係る反射偏光層39では、誘電体干渉膜85の調整により、入射してくる反射軸に平行な直線偏光の約70%を反射し、残り約30%を透過するよう設定されている。
次に、図10を参照して液晶装置200の動作について説明する。図10には、以下の動作説明で必要な構成要素である、偏光板24、位相差板26、液晶層50、光散乱手段29、反射偏光層39、偏光板14、及びバックライト90が図示上側(パネル表示面側)から順に示されている。
まず、図10左側に示す「透過表示」(透過モード)について説明する。
液晶装置200において、バックライト90から射出された光は、偏光板14を透過することで偏光板14の透過軸155に平行な振動方向の直線偏光となって反射偏光層39に入射し、反射偏光層39の反射軸(透過軸159に直交する光学軸)に平行な直線偏光であるこの入射光の一部(約30%)が、反射偏光層39を透過して液晶層50に入射する。そして、液晶層50がオン状態(画素電極9と透明共通電極19tとの間に選択電圧が印加された状態)であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与され、偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光に変換されて偏光板24を透過する。この偏光板24の透過光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態(上記選択電圧が印加されていない状態)であれば、反射偏光層39を透過して液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま偏光板24に達し、当該入射光と平行な吸収軸(透過軸153と直交する光学軸)を有する偏光板24に吸収され、サブ画素は暗表示となる。
なお、偏光板14を透過して反射偏光層39に入射する光のうち、約70%の光は反射偏光層39で反射されてしまうが、かかる反射光については、偏光板14を再度透過してバックライト90側へ戻される。そして、この戻り光はバックライト90の反射板92により反射されて再び液晶パネル側へ向かう光となって再利用されるため、実際に反射偏光層39を透過する光量は反射偏光層39の透過率よりも多くなり、照明光の利用効率が著しく低くなることはない。
また本実施形態の液晶装置では、反射偏光層39を透過した直線偏光の一部が、光散乱手段29の裏面側(基板本体10A側)に入射する構成になっている。この光についても、光散乱手段29の絶縁体突起物29aが透明材料を用いて形成されていれば、上記直線偏光は光散乱手段29の反射層29bで反射されてバックライト90側へ戻され、反射偏光層39で反射された光と同様に再利用される。
次に、図10中央に示す「反射表示(反射偏光層)」について説明する。
反射偏光層39を利用した反射表示において、偏光板24の上方(外側)から入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な振動方向の直線偏光となって液晶層50に入射する。このとき液晶層50がオン状態であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与されて反射偏光層39に入射する。図7(b)及び図9に示したように、反射偏光層39は、偏光板14の透過軸153と平行な透過軸159と、それに直交する反射軸を有しているので、上記オン状態の液晶層50を透過して反射偏光層39に入射した光は、その一部(約70%)が偏光状態を保持したまま反射され、残部(約30%)が反射偏光層39を透過する。反射偏光層39で反射されて再度液晶層50に入射した光は、液晶層50の作用により入射時の偏光状態(偏光板24の透過軸と平行な直線偏光)に戻されて偏光板24に入射する。これにより偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
ところで、オン状態の液晶層50から入射して反射偏光層39を透過した直線偏光成分は、その偏光方向と平行な透過軸155を有する偏光板14を透過してバックライト90に入射する。そして、バックライト90に入射した光は、反射板92により反射されて液晶層50側へ戻され、その一部は反射偏光層39を透過して液晶層50に入射し、上記明表示の表示光として利用される。したがって、本実施形態の液晶装置200では、反射偏光層39における反射軸に平行な直線偏光の反射率が70%程度に設定されているが、反射偏光層39を透過してバックライト90側へ抜けた光も表示光として利用可能であるため、明るい反射表示を得られるようになっている。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、偏光板24から液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま反射偏光層39に入射し、当該光と平行な透過軸159を有する反射偏光層39を透過する。そして、この光と平行な吸収軸を有する偏光板14によって吸収され、サブ画素は暗表示となる。
次に、図10右側の「反射表示(反射層)」と表示された部分の反射表示では、偏光板24の上方(パネル表示面側)から液晶パネルに入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な振動方向の直線偏光に変換され、さらに位相差板26を透過して左回りの円偏光に変換されて液晶層50に入射する。ここで、光散乱手段29の形成領域にあっては、絶縁体突起物29aの厚みによって液晶層50の層厚が部分的に薄くなっており、他の領域の層厚dの略半分の層厚(d/2)となっている。したがって、液晶層50がオン状態であるときの上記入射光が液晶層50により付与される位相差は、反射偏光層39に入射する光の半分の位相差(λ/4)である。これにより、上記入射光は偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光に変換されて光散乱手段29(反射層29b)に入射する。この直線偏光は、その偏光状態を保持したまま反射されるが、反射層29bの凸形状により散乱された光となる。その後、上記反射光は液晶層50に再度入射し、さらに液晶層50の作用により左回りの円偏光となって位相差板26に入射する。そして、位相差板26を透過して偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光となり、偏光板24を透過する。これにより偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、位相差板26から液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま光散乱手段29に入射し、反射層29bにより反射される。このとき、左回りの円偏光である入射光の進行方向が反転するため、偏光板24側からみた回転方向が逆転し、右回りの円偏光となって液晶層50に再入射する。そして、液晶層50を透過して位相差板26に入射し、位相差板26を透過して偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光となって偏光板24に入射し、偏光板24によって吸収される。これにより、サブ画素は暗表示となる。
なお、光散乱手段29の形成領域では、液晶層厚が他の領域よりも薄くなっており、本実施形態ではその層厚を他の領域の液晶層厚dの略半分であるとしたが、横電界方式の液晶装置では液晶層厚に依存して実効的な駆動電圧が変化するため、液晶層厚の変化分以上に液晶層が透過光に付与する位相差値が変化することも考えられる。このような場合には、光散乱手段29の絶縁体突起物29aの高さを調整して光散乱手段29上の液晶層厚を調整し、当該領域における位相差が他の領域の位相差の半分(λ/4)となるように調整すればよい。
上記構成を具備した液晶装置200は、画素電極9の下層側(基板本体10A側)に、平面ベタ状に反射偏光層39を形成しているので、反射偏光層39のサブ画素領域に対する位置合わせが不要であり、簡便な工程で低コストに形成できるという利点がある。また、本実施形態のように反射偏光層39を半導体層35よりも基板本体10A側に設ける構造とすれば、半導体層35が設けられた配線層と画素電極9とを電気的にする画素コンタクトホール45を浅くすることができるので、画素コンタクトホール45を介した導電接続構造の電気的信頼性を高めることができる。また画素コンタクトホール45の開口径を小さくできるので、画素コンタクトホール45の周辺での液晶の配向乱れを抑えることができる。
また本実施形態では、光散乱手段29が透明共通電極19tの基板本体10A側に形成されている。このような構成とすることで、画素電極9と透明共通電極19tとの間の絶縁膜の膜厚をサブ画素領域内で一定の膜厚とすることが容易になり、その結果、サブ画素領域内における電界強度分布を小さくでき、表示輝度の均一性を高めることができる。
また、先の第1実施形態の液晶装置100と同様、光散乱手段29をサブ画素領域内に配していることで、反射光を散乱させて反射表示の輝度向上、及び視認性の向上を実現できる。さらに、TFTアレイ基板10上に反射表示を行うための反射偏光層39が設けられているので、TFTアレイ基板10を液晶装置の表示面側に配置する必要が無い。したがって、TFTアレイ基板10を表示面側に配置した場合のような金属配線等による外光の乱反射が生じることが無く、視認性に優れる液晶装置とすることができる。
なお、本実施形態では、透明共通電極19tを反射偏光層39の直上に形成しているが、透明共通電極19tは画素電極9と少なくとも1層の絶縁膜を介して離間された位置に設けられていればよいので、例えば、ゲート絶縁膜11と第1層間絶縁膜12aとの間の配線層に形成してもよく、第2層間絶縁膜12bとゲート絶縁膜11との間の配線層に形成してもよい。さらには、第2層間絶縁膜12b上に透明共通電極19tを形成し、かかる透明共通電極を覆う電極部絶縁膜を形成した上に画素電極9を形成した構成であってもよい。
また本実施形態においても、図面を見やすくするために光散乱手段29と画素電極9とが平面的に重ならないように表示しているが、光散乱手段29上に画素電極9の一部が配置されていてもよいのは勿論である。
さらに本実施形態において、図6に示した構成を採用してもよいのは勿論である。
(第3の実施形態)
次に、図11及び図12を参照して本発明の第3実施形態の液晶装置について説明する。
図11は、本実施形態の液晶装置300における任意の1サブ画素領域を示す平面図であり、図12は、図11のD−D’線に沿う断面図である。
本実施形態の液晶装置300は、第1実施形態の液晶装置100のアモルファスシリコンTFT30に代えて、トップゲート型のポリシリコンTFT130を用いた構成の液晶装置であり、画素スイッチング素子に係る構成以外の基本構成は第1実施形態の液晶装置100と共通である。
図11は、第1実施形態における図2(a)に相当する図であり、図12は、同、図3に相当する図である。したがって、本実施形態で参照する各図において、図1から図5に示した第1実施形態の液晶装置100と共通の構成要素には同一の符号を付すこととし、以下ではそれら共通構成要素の説明は省略する。
図11に示すように、本実施形態の液晶装置300のサブ画素領域には、画素電極(第1電極)9と、共通電極(第2電極)19と、画素電極9に容量電極131を介して電気的に接続されたTFT130とが設けられている。
TFT130を構成するポリシリコンの半導体層135は、走査線3a延在方向に長手の平面視矩形状を成して形成されている。半導体層135の一方の端部に、容量電極131から延びるドレイン電極132がドレインコンタクトホールを介して電気的に接続されている。一方半導体層135のデータ線6a側の端部には、図示Y軸方向に延びるデータ線6aから分岐されたソース電極6bがソースコンタクトホールを介して電気的に接続されている。
半導体層135の近傍に、データ線6aと直交する方向(X軸方向)に延びる走査線3aが形成されており、走査線3aの一部を分岐してなるゲート電極133が半導体層135側へ延びている。ゲート電極133は半導体層135の中央部で半導体層35と交差して配置されている。走査線3aと画素電極9との間に、走査線3aと平行に延びる容量線3bが形成されている。容量線3bはサブ画素領域内でその一部が拡幅されており、この拡幅領域には、容量電極131が平面的に重なって配置され、当該重畳位置に蓄積容量70を形成している。容量電極131上には、画素電極9のコンタクト部9bが配置されており、画素電極9と容量電極131とは画素コンタクトホール45を介して電気的に接続されている。
共通電極19は、走査線3aの延在方向に複数のサブ画素領域にわたって延びる帯状の反射共通電極19rと、反射共通電極19rを覆って平面略ベタ状に形成された透明共通電極19tとからなる。画素電極9が形成された平面領域のうち、反射共通電極19rが配置された領域が反射表示領域Rであり、反射共通電極19rの外側の領域が透過表示領域Tである。
図12に示す断面構造をみると、液晶装置300は、液晶層50を挟持して対向するTFTアレイ基板(第1基板)10と、対向基板(第2基板)20とを備えており、TFTアレイ基板10の背面側(図示下面側)にはバックライト90が設けられている。対向基板20の構成は第1実施形態と同様であるから、その詳細な説明は省略する。
TFTアレイ基板10の基体を成す基板本体10A上には、アルミニウム等の反射性の金属膜に多数の微細なスリット状の開口部を形成した反射偏光層である反射共通電極19rが部分的に形成されている。また、平面視矩形状のポリシリコン膜からなる半導体層135が形成されている。反射共通電極19r上には、表面が光反射性を有する概略ドーム状(略半球状)の突起物である光散乱手段29が散在している。半導体層135の形成領域を除く基板本体10A上の領域に、光散乱手段29と反射共通電極19rとを覆う透明共通電極19tがITO等の透明導電材料を用いて形成されている。
半導体層135及び透明共通電極19tを覆ってゲート絶縁膜11が形成されており、ゲート絶縁膜11上に、走査線3a、ゲート電極133、及び容量線3bが形成されている。走査線3a、ゲート電極133、及び容量線3bを覆って、第1層間絶縁膜12aがゲート絶縁膜11上に形成されており、第1層間絶縁膜12a上に、ソース電極6b(データ線6a)、ドレイン電極132、容量電極131が形成されている。第1層間絶縁膜12aとゲート絶縁膜11とを貫通して半導体層135に達するソースコンタクトホール12sとドレインコンタクトホール12dとが設けられており、ソースコンタクトホール12sを介してソース電極6bと半導体層135とが電気的に接続されている。ドレインコンタクトホール12dを介してドレイン電極132と半導体層135とが電気的に接続されている。
ここで、半導体層135を構成するポリシリコン膜には、ゲート電極133と平面的に重なる領域(チャネル領域)を除く領域に、リンやボロンなどの不純物が導入されてソース領域、ドレイン領域が形成されており、これらの不純物導入領域に前記ソース電極6b及びドレイン電極132が電気的に接続されている。
ソース電極6b、ドレイン電極132、及び容量電極131を覆って第2層間絶縁膜12bが形成されており、第2層間絶縁膜12b上に画素電極9が形成されている。第2層間絶縁膜12bを貫通して容量電極131に達する画素コンタクトホール45が形成されており、画素コンタクトホール45を介して画素電極9のコンタクト部9bと容量電極131とが電気的に接続されている。画素電極9上には配向膜18が形成されている。
なお、本実施形態の液晶装置300における各光学軸の配置は、図2(b)に示した第1実施形態の液晶装置100における各光学軸の配置と同様である。すなわち、帯状電極部9cの延在方向(Y軸方向)に対して、配向膜18,28のラビング方向は約30°の角度を成す方向であり、このラビング方向に対して、反射共通電極19rの透過軸は平行である。また、TFTアレイ基板10の偏光板14の透過軸は、上記ラビング方向に対して直交する向きに配置されており、対向基板20の偏光板24の透過軸は、上記ラビング方向に対して平行な向きに配置されている。
このような光学軸配置を具備した液晶装置300は、図5を参照して説明した第1実施形態の液晶装置100の動作と同様の動作が可能であり、反射表示、透過表示の双方で明るく高コントラストの表示が得られるものとなっている。
上記構成を具備した本実施形態の液晶装置300では、キャリア移動度が大きく、高速動作が可能なポリシリコンを半導体層とするTFT130を画素スイッチング素子に用いているので、画素の高速なスイッチング動作が要求される高精細液晶装置にも容易に対応できるものとなっている。また、本実施形態では、トップゲート型のTFT130を用いていることから、図12に示すように、半導体層135と同層に共通電極19を設けることができるようになっており、共通電極19を設けない場合のTFTアレイ基板と同一層構成を用いつつFFS方式の液晶装置を構成できるようになっている。したがって、新たに層間絶縁膜を形成して配線層を追加することなく製造できるので、プロセスの容易性や製造コストの面で有利である。
また、先の第1、第2実施形態の液晶装置と同様、反射共通電極19r上に光散乱手段29を配しているので、反射光を散乱させて表示輝度を向上させ、また視認性を向上させる効果を得ることができる。さらに、TFTアレイ基板10上に反射表示を行うための反射共通電極19rが設けられているので、TFTアレイ基板10を液晶装置の表示面側に配置する必要が無い。したがって、TFTアレイ基板10を表示面側に配置した場合のような金属配線等による外光の乱反射が生じることが無く、視認性に優れる液晶装置とすることができる。
また本実施形態においても、光散乱手段29が透明共通電極19tの基板本体10A側に形成されている。このような構成とすることで、画素電極9と透明共通電極19tとの間の絶縁膜の膜厚をサブ画素領域内で一定の膜厚とすることが容易になり、その結果、サブ画素領域内における電界強度分布を小さくでき、表示輝度の均一性を高めることができる。さらに本実施形態において、図6に示した構成を採用してもよいのは勿論である。
(第4の実施形態)
次に、図13から図15を参照して本発明の第4実施形態の液晶装置について説明する。
図13は、本実施形態の液晶装置400を構成するマトリクス状に配列された複数のサブ画素領域の回路図である。図14は、本実施形態の液晶装置400における任意の1サブ画素領域を示す平面図であり、図15は、図14のF−F’線に沿う断面図である。
本実施形態の液晶装置400は、画素スイッチング素子としてTFD(Thin Film Diode)素子を用いたアクティブマトリクス型の液晶装置である。また第1〜第3実施形態と同様、FFS方式の電極構成を具備しており、画素スイッチング素子に係る構成以外の基本構成は第1〜第3実施形態の液晶装置と同様である。本実施形態で参照する各図において、図1から図5に示した第1実施形態の液晶装置100と共通の構成要素には同一の符号を付すこととし、以下ではそれら共通構成要素の説明は省略する。
図13に示すように、液晶装置400は、平面視マトリクス状に配列形成された複数のサブ画素75を有しており、これらのサブ画素75を区画するように、複数の第1配線(共通電極)19と、複数の第2配線66とが互いに交差する方向に延在している。また、液晶装置400は第1駆動回路401及び第2駆動回路402を含んでおり、前記複数の第1配線19は第1駆動回路401と電気的に接続され、前記複数の第2配線66は第2駆動回路402と電気的に接続されている。このような構成のもと、第1配線19及び第2配線66を介して第1駆動回路401及び第2駆動回路402からの駆動信号が各サブ画素75に供給されるようになっている。そして、各サブ画素75において、第2配線66と第1配線19との間にTFD素子60と液晶表示要素(液晶容量)50とが形成されている。
図14に示すように、液晶装置400のサブ画素領域には、画素電極(第1電極)9と、共通電極(第2電極)19と、TFD素子60とが設けられている。共通電極(第1配線)19はX軸方向に延びる帯状の導電膜であり、この共通電極19と交差してY軸方向に延びる素子配線(第2配線)66が画素電極9の縁に沿うようにして配置されている。
TFD素子60は、素子配線66の延在方向に長手の矩形状を成す電極膜63と、素子配線66から分岐されて延びる配線分岐部64と、画素電極9の基端部9aに沿って配線分岐部64と平行に延びる電極配線65とを備えている。TFD素子60はまた、電極膜63と配線分岐部64との交差部に形成された第1素子部61と、電極膜63と電極配線65との交差部に形成された第2素子部62とを含み、これら第1素子部61と第2素子部62とを背中合わせに(電気的に逆向きに)接続した、いわゆるBack to Back構造のTFD素子となっている。
電極配線65のTFD素子60と反対側の端部は、画素電極9のコンタクト部9bと交差して電気的に接続されており、このようにして素子配線66と画素電極9との間にTFD素子60が介挿された構成となっている。またサブ画素領域内には、柱状スペーサ40が設けられている。
図15に示す部分断面構造をみると、液晶装置400は、素子基板(第1基板)110と、対向基板(第2基板)120とが、液晶層50を挟持して対向配置された構成を備えている。対向基板120の構成は第1実施形態に係る対向基板20と同様であるからその説明は省略する。
素子基板110は、ガラスや石英等の透光性基板からなる基板本体10Aと基体として備えており、基板本体10A上に、タンタルやその合金からなる電極膜63と、共通電極19とが形成されている。前記電極膜63の表面は、例えばタンタル酸化膜からなる素子絶縁膜63aにより覆われている。共通電極19は、ITO等の透明導電材料からなる透明共通電極19tと、アルミニウム等の光反射性の金属膜を主体としてなる反射共通電極19rとをサブ画素領域内に区画形成したものである。画像表示領域全体でみると、透明共通電極19t及び反射共通電極19rは、互いに平行に複数のサブ画素領域にわたって延在する帯状を成して形成されている。反射共通電極19rは、第1実施形態に係る反射共通電極19rと同等の構成を備えた反射偏光層である。
反射共通電極19r上には、表面が光反射性を有する概略ドーム状(略半球状)の突起物である光散乱手段29が散在している。光散乱手段29及び共通電極19を覆うようにして、酸化シリコン等の無機絶縁材料やアクリル等の樹脂材料からなる層間絶縁膜(電極部絶縁膜)67が形成されており、層間絶縁膜67を貫通して設けられた開口部58内に前記電極膜63が配置されている。層間絶縁膜67上に配線分岐部64(素子配線66)、電極配線65、及び画素電極9が形成されている。配線分岐部64及び電極配線65の一端は、それぞれ層間絶縁膜67上から開口部58内に延びて電極膜63と交差しており、かかる交差位置にて第1素子部61及び第2素子部62のMIM(Metal-Insulator-Metal)構造を形成している。画素電極9、配線分岐部64、電極配線65等を覆って配向膜18が形成されている。
なお、本実施形態の液晶装置400における各光学軸の配置は、図2(b)に示した第1実施形態の液晶装置100における各光学軸の配置と同様である。すなわち、帯状電極部9cの延在方向(Y軸方向)に対して、配向膜18,28のラビング方向は約30°の角度を成す方向であり、このラビング方向に対して、反射共通電極19rの透過軸は平行である。また、素子基板110の偏光板14の透過軸は、上記ラビング方向に対して直交して配置されており、対向基板120の偏光板24の透過軸は、上記ラビング方向に対して平行に配置されている。
このような光学軸配置を具備した液晶装置400は、図5を参照して説明した第1実施形態の液晶装置100の動作と同様の動作が可能であり、反射表示、透過表示の双方で明るく高コントラストの表示が得られるものとなっている。
上記構成を具備した液晶装置400では、画素スイッチング素子としてTFD素子60を備えているので、簡便な工程で製造することができ、製造コストの面で有利なものとなっている。また、基板厚さ方向で画素電極9と共通電極19とが絶縁膜を介して対向しているので、かかる対向領域が保持容量として機能し、画素電極9の電圧が保持されやすくなり、液晶容量が小さくなる高精細の液晶装置にも好適に用いることができる。
また、先の第1、第2実施形態の液晶装置と同様、反射共通電極19r上に光散乱手段29を配しているので、反射光を散乱させて表示輝度を向上させ、また視認性を向上させる効果を得ることができる。さらに、素子基板110上に反射表示を行うための反射共通電極19rが設けられているので、素子基板110を液晶装置の表示面側に配置する必要が無い。したがって、素子基板110を表示面側に配置した場合のような金属配線等による外光の乱反射が生じることが無く、視認性に優れる液晶装置とすることができる。
なお、本実施形態において、透明共通電極19tは、光散乱手段29と反射共通電極19rとを覆う概略平面ベタ状に形成することもできる。このような構成とすれば、画素電極9と透明共通電極19tとの間の絶縁膜の膜厚をサブ画素領域内で一定の膜厚とすることが容易になり、その結果、サブ画素領域内における電界強度分布を小さくでき、表示輝度の均一性を高めることができる。また本実施形態において、図6に示したように内面位相差層を備えた対向基板を採用することもでき、この場合において素子基板110の液晶層側表面を平坦に形成してもよいのは勿論である。
(第5の実施形態)
次に、図16から図18を参照して本発明の第5実施形態の液晶装置について説明する。
図16は、本実施形態の液晶装置500における任意の1サブ画素領域を示す平面図である。図17は、図16のG−G’線に沿う断面図である。図18は本実施形態の液晶装置500の動作説明図である。
なお、本実施形態の液晶装置500の基本構成は先の第1実施形態と同様であり、図16は第1実施形態における図2(a)に相当する図である。図17及び図18は、それぞれ第1実施形態における図3、図5に相当する図である。したがって本実施形態で参照する各図において、図1から図5に示した第1実施形態の液晶装置100と共通の構成要素には同一の符号を付すこととし、以下ではそれらの説明を適宜省略する。
図16に示すように、本実施形態の液晶装置500のサブ画素領域には、画素電極(第1電極)9と、透明共通電極(第2電極)19tと、画素電極9に容量電極31を介して電気的に接続されたTFT30とが設けられている。
TFT30を構成するアモルファスシリコンの半導体層35には、容量電極31から延びるドレイン電極32と、図示Y軸方向に延びるデータ線6aから分岐されたソース電極6bと、が電気的に接続されている。半導体層35の背面側に配されて図示X軸方向に延びる走査線3aが半導体層35と平面的に重なる位置でTFT30のゲート電極を構成している。容量電極31と、容量電極31と平面的に重なりつつ走査線3aと平行に延びる容量線3bとが、当該サブ画素領域の蓄積容量70を構成している。
そして、図16に示すサブ画素領域には部分的に反射偏光層49が形成されており、さらに透明共通電極(第2電極)19tと同様の概略平面ベタ状の位相差層59が形成されている。
図17に示す断面構造をみると、液晶装置500は、液晶層50を挟持して対向するTFTアレイ基板(第1基板)10と、対向基板(第2基板)20とを備えており、TFTアレイ基板10の背面側(図示下面側)にバックライト90が設けられている。また本実施形態に係る対向基板20は、基板本体20Aと偏光板24との間に配設されたフィルム状の位相差板56を備えたものとなっている。
TFTアレイ基板10の基体を成す基板本体10A上には、走査線3a及び容量線3bを覆ってゲート絶縁膜11が形成されている。ゲート絶縁膜11上に半導体層35と、半導体層35と電気的に接続されたソース電極6b(データ線6a)、及びドレイン電極32(容量電極31)が形成されている。半導体層35、ソース電極6b、ドレイン電極32等を覆って層間絶縁膜12が形成されており、層間絶縁膜12上には、部分的に反射偏光層49が形成されている。反射偏光層49は、図4に示したスリット状の開口部を備えた金属膜からなる反射偏光層であってもよく、図9に示したプリズム状の誘電体多層膜からなる反射偏光層であってもよい。
反射偏光層49上を含む層間絶縁膜12上に、概略平面ベタ状の位相差層59が形成されている。この位相差層59は、対向基板20の位相差板56と同様、透過光に対して略λ/4の位相差を付与するものであり、所定方向に配向された高分子液晶等からなる構成とすることができる。位相差層59と位相差板56とは、互いに補償し合うような光学軸配置となっている。
反射偏光層49の形成領域に対応する位相差層59上の領域に、概略ドーム状(略半球状)の突起物である光散乱手段29が散在している。光散乱手段29を覆うようにして、ITO等の透明導電材料からなる透明共通電極19tが、概略平面ベタ状を成して位相差層59上に形成されている。透明共通電極19tを覆って電極部絶縁膜13が形成されており、かかる電極部絶縁膜13上に画素電極9が形成されている。画素電極9を覆うようにして配向膜18が形成されている。
本実施形態の液晶装置500における各光学素子の光学軸配置は、先の第1実施形態と同様である。すなわち、図18に示すように、偏光板14の透過軸155と、反射偏光層49の透過軸160とが直交するように配置されている。また反射偏光層49の透過軸160に対して、偏光板24の透過軸153、及び配向膜18,28のラビング方向が平行に配置されている。
次に、上記構成を具備した液晶装置500の動作について図18を参照して説明する。図18には図17に示した構成要素のうち、説明に必要な構成要素のみが示されており、図示上側(パネル表示面側)から順に、偏光板24、位相差板56、液晶層50、光散乱手段29、位相差層59、反射偏光層49、偏光板14、及びバックライト90が示されている。
まず、反射偏光層49の外側の光透過領域(透過表示領域T)を利用した透過表示(透過モード)について説明する。
図18左側の「透過表示」に示すように、液晶装置500において、バックライト90から射出された光は、偏光板14を透過することで偏光板14の透過軸155に平行な振動方向の直線偏光となって液晶パネルに入射する。液晶パネルに入射した光は、位相差層59に入射して所定の位相差(λ/4)を付与され、右回りの円偏光に変換されて液晶層50に入射する。そして、液晶層50がオン状態(画素電極9と透明共通電極19tとの間に選択電圧が印加された状態)であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与され、左回りの円偏光となって位相差板56に入射する。位相差板56に入射した光は位相差板56により所定の位相差(λ/4)を付与されて偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光に変換される。これにより偏光板24を透過した光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態(上記選択電圧が印加されていない状態)であれば、位相差層59から液晶層50に入射した光はその偏光状態を維持したまま位相差板56に達し、位相差板56を透過することで偏光板24の吸収軸(透過軸153と直交する光学軸)と平行な振動方向の直線偏光となって偏光板24に入射し、そこで吸収される。これにより、サブ画素は暗表示となる。
また、偏光板14を透過した光のうち、反射偏光層49に入射した光は、この直線偏光と平行な反射軸を有する反射偏光層49によって反射されるので、液晶層50に入射することなくバックライト90側へ戻される。この反射光は偏光板14の透過軸と平行な振動方向の直線偏光であるから、偏光板14を透過してバックライト90の反射板92に達し、反射板92と反射偏光層49との間で反射を繰り返す。このような反射を繰り返す光が液晶パネルの光透過領域に入射すれば、透過表示の表示光として利用できるので、バックライト90の光利用効率を高め、透過表示の輝度を向上させることができる。
次に、反射偏光層49を利用した反射表示について説明する。
図18中央の「反射表示(反射偏光層)」と表示された部分の反射表示において、偏光板24の上方(パネル表示面側)から液晶パネルに入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な直線偏光となって位相差板56に入射する。次いで位相差板56を透過することで、左回りの円偏光となって液晶層50に入射する。このとき液晶層50がオン状態であれば、上記入射光は液晶層50により所定の位相差(λ/2)を付与され、入射時と反対の右回りの円偏光に変換されて位相差層59に入射する。位相差層59に入射した右回りの円偏光は、反射偏光層49の反射軸(透過軸160と直交する軸)と平行な振動方向の直線偏光となって反射偏光層49に入射し、その偏光状態を保持したまま反射される。再度位相差層59に入射した反射光は、位相差層59により右回りの円偏光となって液晶層50に入射し、液晶層50の作用により左回りの円偏光となって位相差板56に入射する。そして位相差板56により偏光板24の透過軸と平行な振動方向の直線偏光に変換されて偏光板24に入射し、偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、偏光板24から位相差板56を介して液晶層50に入射した光(左回りの円偏光)は、その偏光状態を維持したまま位相差層59に入射し、位相差層59によって反射偏光層49の透過軸と平行な振動方向の直線偏光となって反射偏光層49に入射する。そして、反射偏光層49を透過した後、この光と平行な吸収軸(直交する透過軸)を有する偏光板14によって吸収され、サブ画素は暗表示となる。
なお、反射偏光層49の外側の透過表示領域Tに入射した外光は、液晶層50がオフ状態であれば偏光板14の透過軸と直交する振動方向の直線偏光となって偏光板に入射するので、偏光板14によって吸収される。そのため本実施形態の液晶装置において不要な外光反射を生じることはない。
次に、図18右側の「反射表示(反射層)」と表示された部分に示すように、偏光板24の上方(パネル表示面側)から液晶パネルに入射した光は、偏光板24を透過することで偏光板24の透過軸153に平行な振動方向の直線偏光に変換され、さらに位相差板56を透過して左回りの円偏光に変換されて液晶層50に入射する。このとき、液晶層50がオン状態であれば、上記入射光は偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光に変換されて光散乱手段29(反射層29b)に入射する。この直線偏光は、その偏光状態を保持したまま反射されるが、反射層29bの凸形状により散乱された光となる。その後、上記反射光は液晶層50に再入射し、液晶層50の作用により左回りの円偏光となって位相差板26に入射する。そして、位相差板26を透過して偏光板24の透過軸153と平行な振動方向の直線偏光となり、偏光板24を透過する。これにより偏光板24を透過した反射光が表示光として視認され、サブ画素は明表示となる。
一方、液晶層50がオフ状態であれば、位相差板56から液晶層50に入射した光は、その偏光状態を維持したまま光散乱手段29に入射し、反射層29bにより反射される。このとき、左回りの円偏光である入射光の進行方向が反転するため、偏光板24側からみた回転方向が逆転し、右回りの円偏光となって液晶層50に再入射する。そして、液晶層50を透過して位相差板56に入射し、位相差板56を透過して偏光板24の透過軸153と直交する振動方向の直線偏光となって偏光板24に入射し、偏光板24によって吸収される。これにより、サブ画素は暗表示となる。
本実施形態の液晶装置500は、サブ画素領域内に部分的に反射偏光層49を設けた構成を採用したことで、簡便な構成で高コントラストの反射表示及び透過表示を得られるものとなっている。また、反射偏光層49上に光散乱手段29を設けたことで、反射光の一部を散乱させることができるようになっているため、パネル正面方向の反射輝度を確保でき、また反射表示領域Rにおける外光の正反射によって反射表示の視認性が低下するのを防止できる。したがって反射表示と透過表示の双方で視認性に優れた表示を得ることができる。
また本実施形態では、図17に示したように、TFTアレイ基板10の液晶層50側に位相差層59が設けられている。このように内面配置型の位相差層を設けた構成としたことで、対向基板20に、基板本体20Aと略同サイズの位相差板56を用いることができるようになっている。すなわち、位相差板と光散乱手段29との位置合わせが不要であることから、第1実施形態の液晶装置に比しても、製造性の点で有利な構成である。
なお、光散乱手段29は、反射偏光層49よりも液晶層50側であれば、TFTアレイ基板10の任意の配線層に形成することが可能であるが、位相差層59を光散乱手段29より液晶層50側に配置する場合には、光散乱手段29上の位相差層59は除去しておく必要がある。そこで本実施形態では、反射偏光層49を覆うようにして概略平面ベタ状の位相差層59を形成し、かかる位相差層59上に光散乱手段29を形成することで、光散乱手段29上の位相差層の除去を不要にしており、位相差層の形成工程においても製造性に優れるものとなっている。
なお、本実施形態の液晶装置500で用いた内面配置型の位相差層59を備える構成は、第2実施形態の液晶装置200に対しても好適に用いることができる。この場合、図8に示した構成において、透明共通電極19t及び光散乱手段29と、反射偏光層39との間に位相差層を配置すればよい。対向基板20については、島状の位相差板26に代えて、シート状の位相差板56を配設する。
さらに図12に示した第3実施形態の液晶装置について内面配置型の位相差層を備えた構成とする場合には、図12に示した構成において反射共通電極19rを覆うように位相差層を配置し、かかる位相差層上に光散乱手段29と透明共通電極19tとを形成すればよい。
(電子機器)
図19は、本発明に係る液晶装置を表示部に備えた電子機器の一例である携帯電話の斜視図であり、この携帯電話1300は、本発明の液晶装置を小サイズの表示部1301として備え、複数の操作ボタン1302、受話口1303、及び送話口1304を備えて構成されている。
上記実施の形態の液晶装置は、上記携帯電話に限らず、電子ブック、パーソナルコンピュータ、ディジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型あるいはモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器等々の画像表示手段として好適に用いることができ、いずれの電子機器においても、高輝度、高コントラスト、広視野角の透過表示及び反射表示を得ることができる。
第1実施形態に係る液晶装置の等価回路図。 1サブ画素領域の平面構成及び光軸配置を示す図。 図2のA−A’断面図。 反射偏光層の説明図。 第1実施形態に係る液晶装置の動作説明図。 第1実施形態に係る液晶装置の変形例。 第2実施形態の液晶装置のサブ画素領域及び光軸配置を示す図。 図7のB−B’断面図。 反射偏光層の説明図。 第2実施形態に係る液晶装置の動作説明図。 第3実施形態の液晶装置のサブ画素領域及び光軸配置を示す図。 図11のD−D’断面図。 第4実施形態に係る液晶装置の等価回路図。 第4実施形態の液晶装置のサブ画素領域を示す図。 図14のF−F’断面図。 第5実施形態の液晶装置のサブ画素領域を示す図。 図16のG−G’断面図。 第5実施形態に係る液晶装置の動作説明図。 電子機器の一例を示す図。
符号の説明
100,200,300,400,500 液晶装置、10 TFTアレイ基板(第1基板)、20 対向基板(第2基板)、9 画素電極(第1電極)、13 電極部絶縁膜、19 共通電極(第2電極)、19t 透明共通電極(第2電極)、19r 反射共通電極(反射偏光層)、26,56 位相差板、26a 位相差層、29 光散乱手段、29a 絶縁体突起物、29b 反射層、39,49 反射偏光層、50 液晶層、59 位相差層

Claims (17)

  1. 液晶層を挟持して対向する第1基板と第2基板とを備え、1画素領域内に反射表示領域と透過表示領域とが設けられており、前記第1基板の前記液晶層側に、互いに電気的に接続された複数の帯状電極を有する第1電極と、該第1電極に対し前記第1基板側に形成されて前記第1電極との間に電界を生じさせる第2電極と、前記第1電極と第2電極との間に介在する電極部絶縁膜とが設けられた半透過反射型の液晶装置であって、
    前記反射表示領域内に、入射光の所定の偏光成分の光を選択的に反射させる反射偏光層と、反射光を散乱させる光散乱手段と、前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層の層厚を前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の層厚と異ならせる液晶層厚調整層と、を有することを特徴とする液晶装置。
  2. 前記光散乱手段が、前記反射表示領域内に形成された絶縁体突起物と、前記絶縁体突起物の表面に形成された反射膜とを備えていることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  3. 前記光散乱手段が前記液晶層厚調整層を兼ねていることを特徴とする請求項1又は2に記載の液晶装置。
  4. 前記光散乱手段が、前記反射表示領域のうち前記反射偏光層の非形成領域に形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の液晶装置。
  5. 前記光散乱手段が、前記反射偏光層の前記液晶層側に部分的に形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の液晶装置。
  6. 前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層の位相差と、前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の位相差との差が、当該画素領域に入射する光の波長(λ)の略1/4であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の液晶装置。
  7. 前記第2基板の前記光散乱手段と平面的に重なる領域に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差層が形成されていることを特徴とする請求項6に記載の液晶装置。
  8. 前記液晶層の前記第2基板側に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差板が設けられており、
    前記光散乱手段の形成領域を除く前記画素領域内であって、前記第1基板の前記反射偏光層よりも前記液晶層側に、透過光に対して略λ/4の位相差を付与する位相差層が形成されていることを特徴とする請求項6に記載の液晶装置。
  9. 前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層厚が、前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層厚より小さいことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の液晶装置。
  10. 前記光散乱手段の形成領域における前記液晶層厚が、前記光散乱手段の非形成領域における前記反射表示領域の液晶層厚の略1/2であることを特徴とする請求項9に記載の液晶装置。
  11. 前記透過表示領域における前記液晶層の層厚が、前記反射表示領域のうち前記光散乱手段の非形成領域における前記液晶層の層厚と略同一であることを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の液晶装置。
  12. 前記反射偏光層が、微細なスリット状の開口部を有する金属膜であることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の液晶装置。
  13. 前記反射偏光層が、プリズム形状を成す複数の誘電体膜を積層した誘電体多層膜であることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の液晶装置。
  14. 液晶層を挟持して対向する第1基板と第2基板とを備え、1画素領域内に反射表示領域と透過表示領域とが設けられており、前記第1基板の前記液晶層側に、互いに電気的に接続された複数の帯状電極を有する第1電極と、該第1電極に対し前記第1基板側に形成されて前記第1電極との間に電界を生じさせる第2電極と、前記第1電極と第2電極との間に介在する電極部絶縁膜とが設けられた半透過反射型の液晶装置であって、
    前記反射表示領域内に、入射光の所定の偏光成分の光を選択的に反射させる反射偏光層と、前記入射光を反射させる反射層とが区画形成されており、
    前記反射偏光層の形成領域における前記液晶層の層厚と前記反射層の形成領域における前記液晶層の層厚とが、互いに異なる層厚であることを特徴とする液晶装置。
  15. 前記第1基板上に前記反射層の形成領域に対応して、誘電体突起物からなる液晶層厚調整層が形成されていることを特徴とする請求項14に記載の液晶装置。
  16. 前記反射層が散乱反射光を生成する光散乱手段であることを特徴とする請求項14又は15に記載の液晶装置。
  17. 請求項1から16のいずれか1項に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。
JP2006329693A 2006-12-06 2006-12-06 液晶装置及び電子機器 Withdrawn JP2008145525A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006329693A JP2008145525A (ja) 2006-12-06 2006-12-06 液晶装置及び電子機器
US11/950,254 US20080218670A1 (en) 2006-12-06 2007-12-04 Liquid crystal device and electronic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006329693A JP2008145525A (ja) 2006-12-06 2006-12-06 液晶装置及び電子機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008145525A true JP2008145525A (ja) 2008-06-26

Family

ID=39605809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006329693A Withdrawn JP2008145525A (ja) 2006-12-06 2006-12-06 液晶装置及び電子機器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20080218670A1 (ja)
JP (1) JP2008145525A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7755723B2 (en) 2006-12-25 2010-07-13 Sony Corporation Liquid crystal display device and display apparatus
KR101534850B1 (ko) * 2008-11-12 2015-07-07 엘지이노텍 주식회사 액정 표시 장치
KR20170115300A (ko) * 2016-04-07 2017-10-17 삼성전자주식회사 디스플레이 장치, 이를 포함하는 전자 장치 및 이의 동작 방법
CN116699510A (zh) * 2023-06-21 2023-09-05 深圳华云时空技术有限公司 一种提高UWB的AoA测量精度的设备和方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7705937B2 (en) 2005-06-30 2010-04-27 Nec Lcd Technologies, Ltd. Transflective liquid crystal display device
CN102652340B (zh) * 2009-12-10 2014-07-16 凸版印刷株式会社 导电性基板及其制造方法、导电性叠层体以及触摸面板
TWI588718B (zh) * 2012-03-28 2017-06-21 友達光電股份有限公司 觸控面板及其製造方法
US10241623B2 (en) * 2013-03-14 2019-03-26 Neodrón Limited Reduction of touch sensor pattern visibility using beamsplitters
CN103730475B (zh) * 2013-12-26 2016-08-31 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
JP6660940B2 (ja) * 2015-03-24 2020-03-11 株式会社カネカ 透明電極付き基板の製造方法
JP2016191892A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
CN105093764B (zh) * 2015-08-07 2017-12-08 武汉华星光电技术有限公司 半透反式蓝相液晶显示器及其液晶显示模组
CN106557193A (zh) * 2015-09-30 2017-04-05 南昌欧菲光科技有限公司 触摸显示装置
CN109407422B (zh) * 2018-11-14 2020-10-16 惠科股份有限公司 一种显示面板、制程方法和显示装置
CN111522164A (zh) * 2019-02-01 2020-08-11 群创光电股份有限公司 电子装置

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003107218A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Optrex Corp 光反射性基板、反射型表示装置および半透過型表示装置
JP2003131248A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置用基板、電子機器
JP2004038205A (ja) * 2002-04-02 2004-02-05 Seiko Epson Corp 液晶表示装置およびその製造方法ならびに電子機器
JP2004144985A (ja) * 2002-10-24 2004-05-20 Seiko Epson Corp 液晶表示装置及び電子機器
JP2004177672A (ja) * 2002-11-27 2004-06-24 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および電子機器
JP2004258630A (ja) * 2003-02-24 2004-09-16 Koyo Koden Kofun Yugenkoshi 横電界方式液晶ディスプレイの画素及びその製造過程
JP2005055863A (ja) * 2003-08-06 2005-03-03 Koyo Koden Kofun Yugenkoshi 湾曲電界反射式及び透過反射式液晶ディスプレイの画素
US20050190324A1 (en) * 2004-02-27 2005-09-01 Innolux Display Corp. In-plane field type transflective liquid crystal display device
JP2005338256A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置
JP2006133495A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Toppoly Optoelectronics Corp 半透過型液晶ディスプレイ
JP2006154599A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Seiko Epson Corp 液晶表示装置、液晶表示装置の製造方法、及び電子機器
JP2006171376A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Sony Corp 液晶表示装置
JP2006215287A (ja) * 2005-02-03 2006-08-17 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および電子機器
JP2006276112A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Sanyo Epson Imaging Devices Corp 液晶装置及び電子機器
JP2006317905A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Boe Hydis Technology Co Ltd 半透過型フリンジフィールドスイッチングモード液晶表示装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3788421B2 (ja) * 2002-04-02 2006-06-21 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置およびその製造方法ならびに電子機器

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003107218A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Optrex Corp 光反射性基板、反射型表示装置および半透過型表示装置
JP2003131248A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置用基板、電子機器
JP2004038205A (ja) * 2002-04-02 2004-02-05 Seiko Epson Corp 液晶表示装置およびその製造方法ならびに電子機器
JP2004144985A (ja) * 2002-10-24 2004-05-20 Seiko Epson Corp 液晶表示装置及び電子機器
JP2004177672A (ja) * 2002-11-27 2004-06-24 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および電子機器
JP2004258630A (ja) * 2003-02-24 2004-09-16 Koyo Koden Kofun Yugenkoshi 横電界方式液晶ディスプレイの画素及びその製造過程
JP2005055863A (ja) * 2003-08-06 2005-03-03 Koyo Koden Kofun Yugenkoshi 湾曲電界反射式及び透過反射式液晶ディスプレイの画素
US20050190324A1 (en) * 2004-02-27 2005-09-01 Innolux Display Corp. In-plane field type transflective liquid crystal display device
JP2005338256A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置
JP2006133495A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Toppoly Optoelectronics Corp 半透過型液晶ディスプレイ
JP2006154599A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Seiko Epson Corp 液晶表示装置、液晶表示装置の製造方法、及び電子機器
JP2006171376A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Sony Corp 液晶表示装置
JP2006215287A (ja) * 2005-02-03 2006-08-17 Seiko Epson Corp 液晶表示装置および電子機器
JP2006276112A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Sanyo Epson Imaging Devices Corp 液晶装置及び電子機器
JP2006317905A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Boe Hydis Technology Co Ltd 半透過型フリンジフィールドスイッチングモード液晶表示装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7755723B2 (en) 2006-12-25 2010-07-13 Sony Corporation Liquid crystal display device and display apparatus
KR101534850B1 (ko) * 2008-11-12 2015-07-07 엘지이노텍 주식회사 액정 표시 장치
KR20170115300A (ko) * 2016-04-07 2017-10-17 삼성전자주식회사 디스플레이 장치, 이를 포함하는 전자 장치 및 이의 동작 방법
KR102536146B1 (ko) * 2016-04-07 2023-05-24 삼성전자주식회사 디스플레이 장치, 이를 포함하는 전자 장치 및 이의 동작 방법
CN116699510A (zh) * 2023-06-21 2023-09-05 深圳华云时空技术有限公司 一种提高UWB的AoA测量精度的设备和方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20080218670A1 (en) 2008-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20080218670A1 (en) Liquid crystal device and electronic apparatus
JP4039444B2 (ja) 液晶表示装置及び電子機器
JP4380648B2 (ja) 液晶装置及び電子機器
CN100412631C (zh) 液晶装置及电子设备
JP4016977B2 (ja) 液晶表示装置、電子機器
JP4434166B2 (ja) 液晶装置及び電子機器
KR100805512B1 (ko) 액정 장치 및 전자기기
JP4155276B2 (ja) 液晶装置及び電子機器
JP2009258332A (ja) 液晶表示装置、電子機器
JP4453607B2 (ja) 液晶装置及び電子機器
CN100417981C (zh) 液晶装置及电子设备
JP3901172B2 (ja) 液晶表示装置および電子機器
JP3915792B2 (ja) 液晶表示装置および電子機器
JP2007058007A (ja) 液晶装置および電子機器
JP2007133294A (ja) 液晶装置及び電子機器
CN105492966A (zh) 液晶显示装置
JP2008145664A (ja) 液晶装置及び電子機器
JP2004198922A (ja) 液晶表示装置及び電子機器
JP4438377B2 (ja) 液晶表示装置、及び電子機器
JP4858081B2 (ja) 電気光学装置及びその製造方法
JP4645628B2 (ja) 液晶表示装置、電子機器
JP2008197129A (ja) 液晶装置及び電子機器
JP4067026B2 (ja) 液晶表示装置および電子機器
JP5051717B2 (ja) 液晶表示装置及び電子機器
JP2008145524A (ja) 液晶装置及び電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090107

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110801

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110823

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20111024

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20111024