JP2007163388A - 方位センサおよび記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】磁気センサ出力から磁気センサのオフセットを算出する方位センサでは、オフセットを精度良く求めることができず、その結果、精度良い方位を算出できないという課題があった。
【解決手段】地磁気を検出し方位を算出する方位センサであって、地磁気を検出して磁気センサ出力5を出力する磁気センサ1と、姿勢を検出して傾斜センサ出力6を出力する傾斜センサ2と、磁気センサ出力5と傾斜センサ出力6の両方を用いてオフセット7を算出するオフセット算出手段3と、オフセット算出手段3が算出したオフセット7を用いて磁気センサ出力5を補正した上で方位8を算出する方位算出手段4とを有する構成を採用した。これにより、オフセット7を精度良く求めることができ、その結果、精度良い真の方位8を算出することができる様になる。
【選択図】図1
【解決手段】地磁気を検出し方位を算出する方位センサであって、地磁気を検出して磁気センサ出力5を出力する磁気センサ1と、姿勢を検出して傾斜センサ出力6を出力する傾斜センサ2と、磁気センサ出力5と傾斜センサ出力6の両方を用いてオフセット7を算出するオフセット算出手段3と、オフセット算出手段3が算出したオフセット7を用いて磁気センサ出力5を補正した上で方位8を算出する方位算出手段4とを有する構成を採用した。これにより、オフセット7を精度良く求めることができ、その結果、精度良い真の方位8を算出することができる様になる。
【選択図】図1
Description
本発明は、地磁気を検出し方位を算出する方位センサと、この方位センサを制御する記録媒体に関するものである。
近年、自動車の走行ナビゲーションシステムや、携帯電話を用いた歩行者用ナビゲーションシステムの実用化が急速化している。このようなシステムでは、地磁気を検出し方位を求める方位センサの搭載が必須である。進行方向を検出する方位センサの誤差が直接ナビゲーションシステムの性能にかかわってくるので、磁気センサを方位センサとして使用したシステムでは磁気センサに高い精度が要求される。
一般にナビゲーションシステム等の機器には金属の部品が搭載されるが、これらの部品は強い磁界の中通過するなどの影響により、それ自体が磁気を帯びることがある。この様な状態を着磁と呼ぶ。
磁気センサが地磁気を検出するときの出力電圧は、着磁が全く無い場合は、基準電圧を中心とした出力電圧が得られる。ところが、機器内に着磁した部品が存在すると、磁気センサの出力は、基準電圧にオフセットが加わった電圧を中心とした出力となってしまう。このようなオフセットを含んだ出力から方位を算出すると実際の方位とは一致しなくなる。
この方位誤差を補正するため、磁気センサを搭載している機器では機器全体を1回転させ、磁気センサの出力電圧の最大値と最小値の平均を算出して新たな基準電圧(補正値)とする方法を取ることがある。
しかし、着磁の状況が変化するたびに機器を回転させ補正するというのはユーザにとって非常に煩わしいという問題があり、従来より機器を回転させずとも磁気センサの数回の出力値よりオフセットを演算により求める方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
これは、周辺の部品の着磁に応じたオフセットを得て補正する方法であり、具体的には着磁後であっても、その後着磁状態が変化しない間にサンプリングされた相異なる3組の2次元座標値が定める3点を用いて、その3点から所定の距離にあるオフセットとなる2次元座標値(3円の交点)を得て、このオフセットを使用して正しい方位を得ようとするものである。
この方法について、更に詳細に図面を用いて説明を行う。図4は、方位センサを含む機器を水平状態下で一周回させたときのX軸、Y軸磁気センサの出力の関係を示したものである。横軸VxがX軸の磁気センサ出力であり、縦軸VyがY軸の磁気センサ出力である。一周回させたとき、これら磁気センサ出力は図4において点線で示した軌跡をとる。
この図4から、水平状態下でのXY出力グラフは円形状となっていることが判る。また、このときの円の半径は地磁気の水平成分に相当する出力を表しており、円の中心座標はX軸の磁気センサ出力とY軸の磁気センサ出力の原点Oに対するオフセットO1を示すこととなる。ここで、この出力円上の3点のA、B、Cの2次元座標が判ると、3点から等距離の点、すなわち図4に示す実線の3つの円の交点O1を求めることにより、オフセットを求めることができる。この方法によれば、周辺部品の着磁量が経時的に変化した場合
であっても、その都度、着磁に係るオフセットO1を取得できるため、機器を水平状態下で一周回させずともオフセットO1を得ることができる。
であっても、その都度、着磁に係るオフセットO1を取得できるため、機器を水平状態下で一周回させずともオフセットO1を得ることができる。
また、この考えを3次元に拡張すれば、3次元座標におけるXYZ軸磁気センサの異なる4点の磁気センサ出力から球の中心座標を求めることにより、オフセットを得ることができることは容易に理解できるであろう。
しかしながら、特許文献1に示した従来の方位センサは、周囲状況の影響を受けやすい地磁気の測定値、すなわち誤差の大きい磁気センサ出力を用いてオフセットO1を算出しているため、算出したオフセットO1が真のオフセットからずれてしまうという欠点があった。この様な、真のオフセットからずれたオフセットO1を用いて、磁気センサ出力をオフセット補正するシステムでは、真の方位を得ることができないことは明白である。
本発明の目的は、上記課題を解決しようとするもので、精度よくオフセットを算出し、真の方位を得ることができる方位センサとこの方位センサを制御する記録媒体を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の方位センサと記録媒体は、基本的に下記に示す構造を採用するものである。
本発明の方位センサは、地磁気を検出し方位を算出するにあたって、地磁気を検出して磁気センサ出力を出力する磁気センサと、姿勢を検出して傾斜センサ出力を出力する傾斜センサと、磁気センサ出力と傾斜センサ出力の両方を用いてオフセットを算出するオフセット算出手段と、オフセット算出手段が算出したオフセットを用いて磁気センサ出力を補正した上で方位を算出する方位算出手段とを有することを特徴とするものである。
また、本発明の方位センサは、前述した方位算出手段が、磁気センサ出力と、傾斜センサ出力と、オフセットを用いて行う手段であることを特徴とするものである。
本発明の記録媒体は、地磁気を検出して磁気センサ出力を出力する磁気センサ出力手段と、姿勢を検出して傾斜センサ出力を出力する傾斜センサ出力手段と、磁気センサ出力と傾斜センサ出力の両方を用いてオフセットを算出するオフセット算出手段と、オフセット算出手段が算出したオフセットを用いて磁気センサ出力を補正した上で方位を算出する方位算出手段と、を有するプログラムを記録したことを特徴とするものである。
また、本発明の記録媒体は、前述した方位算出手段が、磁気センサ出力と、傾斜センサ出力と、オフセットを用いて行う演算手段であることを特徴とするものである。
また、本発明の記録媒体は、前述したオフセット算出手段で用いる傾斜センサ出力が、少なくとも異なる4つの姿勢のセンサ出力値を用いて演算することを特徴とするものである。
本発明の方位センサおよび記録媒体は、磁気センサから出力される磁気センサ出力に加えて、傾斜センサから出力される傾斜センサ出力を用いて、磁気センサ出力に対する正確
なオフセットを算出することができる。また、精度の良いオフセットを用いることにより、精度の良い方位を算出できる。
なオフセットを算出することができる。また、精度の良いオフセットを用いることにより、精度の良い方位を算出できる。
さらに、本発明の方位センサおよび記録媒体は、この傾斜センサをオフセット補正だけでなく、地磁気のみの出力に対する傾斜補正も行うことができるようになっているので、方位センサを搭載した機器が傾斜している場合であっても精度の良い真の方位を算出することができる様になる。
以下図面により本発明の実施の形態を詳述する。
図1は、本発明の方位センサを示す構成図である。図2は、3次元観測座標系における観測磁気ベクトルと、地磁気ベクトルと、オフセットベクトルを示す図面である。図3は、図2に示した各ベクトルに、重力ベクトルを加えて示した図面であり、図3(a)は第1の姿勢のときのベクトル図面であり、図3(b)は第2の姿勢のときのベクトル図面である。
図1は、本発明の方位センサを示す構成図である。図2は、3次元観測座標系における観測磁気ベクトルと、地磁気ベクトルと、オフセットベクトルを示す図面である。図3は、図2に示した各ベクトルに、重力ベクトルを加えて示した図面であり、図3(a)は第1の姿勢のときのベクトル図面であり、図3(b)は第2の姿勢のときのベクトル図面である。
[構造説明:図1]
まず、本発明の方位センサの構成について図1を用いて説明する。
図1において、符号1はX、Y、Z軸の磁気を検出する磁気センサを、符号2はX、Y、Z軸の加速度を検出する傾斜センサを示している。また、符号3は磁気センサのオフセットを算出するオフセット算出手段を、符号4は方位を算出する方位算出手段を示している。また、符号5は磁気センサ出力を、符号6は傾斜センサ出力を、符号7はオフセット算出手段により算出されたオフセットを、符号8は方位算出手段によって算出された方位を示している。
まず、本発明の方位センサの構成について図1を用いて説明する。
図1において、符号1はX、Y、Z軸の磁気を検出する磁気センサを、符号2はX、Y、Z軸の加速度を検出する傾斜センサを示している。また、符号3は磁気センサのオフセットを算出するオフセット算出手段を、符号4は方位を算出する方位算出手段を示している。また、符号5は磁気センサ出力を、符号6は傾斜センサ出力を、符号7はオフセット算出手段により算出されたオフセットを、符号8は方位算出手段によって算出された方位を示している。
なお、磁気センサ1には、磁気抵抗素子(MR素子)や、フラックスゲート型の磁気センサを用いることができる。傾斜センサ2には、ピエゾ抵抗型の加速度センサや静電容量型の加速度センサを用いることができる。
[動作説明:図1]
次に、本発明の方位センサを構成する各構成要件が果たす機能について図1を用いて説明する。
図1に示す様に、磁気センサ1は、X、Y、Z軸の地磁気を検出して、オフセット算出手段3と方位算出手段4とに磁気センサ出力5をそれぞれ出力する。この磁気センサ出力5は、地磁気による出力に加えて、着磁の影響によるオフセットが含まれたものとなる。傾斜センサ2は、X、Y、Z軸の加速度を検出し、同じくオフセット算出手段3と方位算出手段4に傾斜センサ出力6を出力する。
次に、本発明の方位センサを構成する各構成要件が果たす機能について図1を用いて説明する。
図1に示す様に、磁気センサ1は、X、Y、Z軸の地磁気を検出して、オフセット算出手段3と方位算出手段4とに磁気センサ出力5をそれぞれ出力する。この磁気センサ出力5は、地磁気による出力に加えて、着磁の影響によるオフセットが含まれたものとなる。傾斜センサ2は、X、Y、Z軸の加速度を検出し、同じくオフセット算出手段3と方位算出手段4に傾斜センサ出力6を出力する。
オフセット算出手段3は、磁気センサ出力5と傾斜センサ出力6の情報に基づきオフセット7を算出し、方位算出手段4に出力する。方位算出手段4は、磁気センサ出力5からオフセット7を差し引き、地磁気のみの出力を抽出してオフセット補正し、さらに傾斜センサ出力6によってこの地磁気のみの出力に対する傾斜補正をした上で、真の方位8を算出する。
[動作説明:図1、図2、図3]
次に、本発明の方位センサの特徴となるオフセット算出手段の動作について図1、図2、図3を用いて説明する。図2は、図1に示した磁気センサ出力5を3次元観測座標系に示した図面である。
図1で示した磁気センサ1から得られる磁気センサ出力5を3次元観測座標系に表すと、図2に示す様に、X、Y、Z軸それぞれの出力値を座標とする観測磁気ベクトル11と
なる。また、オフセット7を同様に3次元観測座標系に表すと、X、Y、Z軸それぞれのオフセットを座標とするオフセットベクトル9となる。そして、本図面から観測磁気ベクトル11は、地磁気ベクトル12にオフセットベクトル9が加わったものであることが判る。
次に、本発明の方位センサの特徴となるオフセット算出手段の動作について図1、図2、図3を用いて説明する。図2は、図1に示した磁気センサ出力5を3次元観測座標系に示した図面である。
図1で示した磁気センサ1から得られる磁気センサ出力5を3次元観測座標系に表すと、図2に示す様に、X、Y、Z軸それぞれの出力値を座標とする観測磁気ベクトル11と
なる。また、オフセット7を同様に3次元観測座標系に表すと、X、Y、Z軸それぞれのオフセットを座標とするオフセットベクトル9となる。そして、本図面から観測磁気ベクトル11は、地磁気ベクトル12にオフセットベクトル9が加わったものであることが判る。
図3は、図2に示した観測磁気ベクトル11と、地磁気ベクトル12と、オフセットベクトル9に加えて、重力ベクトル10を3次元観測座標系に示した図面である。なお、図3(a)は、第1の姿勢における各ベクトルを示した図面であり、図3(b)は、第1の姿勢とは異なる第2の姿勢における各ベクトルを示した図面である。ここで、傾斜センサ出力6を先と同様に3次元座標系に表したのが、X、Y、Z軸それぞれの出力値を座標とする重力ベクトル10に相当する。
図3(a)、図3(b)から分かるように、姿勢1から姿勢2に変化しても、オフセットベクトル9は変化していない。これは、着磁が機器に発生するためであり、着磁によるオフセットも機器の姿勢の変化に連動するためである。
一方、地磁気ベクトル12と重力ベクトル10は、姿勢に応じて回転して、重力ベクトル10、観測磁気ベクトル11、地磁気ベクトル12が、機器の姿勢に応じて変化している。
この様に、地磁気ベクトル12と重力ベクトル10は、姿勢に応じて3次元座標系に対して回転することとなるが、地磁気ベクトル12と重力ベクトル10との相対的な関係は変わっていない。すなわち、地磁気ベクトル12と重力ベクトル10との成す角(内積)は、姿勢が変わっても変動していないことが判る。
本発明の方位センサは、上述した現象を利用して、オフセット算出手段3にて磁気センサ出力5と傾斜センサ出力6とを用い、より精度の高いオフセット7を得ようとするものである。以下に、本発明の方位センサを制御する演算方法について詳細に説明をする。
まず、オフセットベクトル9、地磁気ベクトル12、観測磁気ベクトル11のぞれぞれのベクトルをX、Y、Z成分で表現する。ここでは、オフセットベクトル9のX、Y、Z成分を、(Xoff,Yoff,Zoff)とする。
また、第1の姿勢での観測磁気ベクトル11のX、Y、Z成分を、(Xh1,Yh1,Zh1)とし、第2の姿勢での観測磁気ベクトル11のX、Y、Z成分を(Xh2,Yh2,Zh2)とする。
また、第1の姿勢での重力ベクトル10のX、Y、Z成分を、(Xg1,Yg1,Zg1)とし、第2の姿勢での重力ベクトル10のX、Y、Z成分を、(Xg2,Yg2,Zg2)とする。
また、第1の姿勢での観測磁気ベクトル11のX、Y、Z成分を、(Xh1,Yh1,Zh1)とし、第2の姿勢での観測磁気ベクトル11のX、Y、Z成分を(Xh2,Yh2,Zh2)とする。
また、第1の姿勢での重力ベクトル10のX、Y、Z成分を、(Xg1,Yg1,Zg1)とし、第2の姿勢での重力ベクトル10のX、Y、Z成分を、(Xg2,Yg2,Zg2)とする。
すると、図3(a)、図3(b)から容易に理解できる様に、第1の姿勢での地磁気ベクトル12のX、Y、Z成分は、(Xh1―Xoff,Yh1―Yoff,Zh1―Zoff)となり、第2の姿勢での地磁気ベクトル12のX、Y、Z成分は、(Xh2―Xoff,Yh2―Yoff,Zh2―Zoff)となる。
上記数2は、第2の姿勢と第1の姿勢とから導き出した式であるが、同様に、第3の姿勢と第1の姿勢とから、またさらに、第4の姿勢と第1の姿勢とから以下の数3、数4を導き出すことができる。
ここで、数2、数3、数4の左辺をそれぞれJ12、J13、J14とおき、右辺の(Xg2−Xg1)をXg12とおき、(Xg3−Xg1)をXg13とおき、(Xg4−Xg1)をXg14とおき、(Yg2−Yg2)をYg12とおき、(Yg3−Yg1)をYg13とおき、(Yg4−Yg1)をYg14とおき、(Zg2−Zg1)をZg12とおき、(Zg3−Zg1)をZg13とおき、(Zg4−Zg1)をZg14とおき、行列式で表現すると下記数5となる。
ここで重要なことは、行列Gが、第1から第4の姿勢の4つの姿勢における、X、Y、Z軸に配したそれぞれの傾斜センサ出力6のみから構成されている点と、J12、J13、J14にも、傾斜センサ出力6の値が含まれている点にある。なお、上記説明で、第1から第4の4つの姿勢のセンサ出力値を用いた演算手段を示したが、5つ以上の姿勢を用いて同様に演算を行えば、より精度の良いオフセット7を得ることができることは容易に理解できよう。
次に、上記数6で示したオフセット7の演算が、従来のオフセット演算に比べて有効な演算であることについて説明をする。
一般に磁気センサ出力5は、例えば、測定場所周辺に金属があると、方位センサを搭載した機器外の周囲環境の影響を受けて変化してしまい、観測磁気ベクトル11の向きや大きさが変わってしまうことが多々ある。この様な環境下で方位センサを使用すると、磁気センサ出力5には誤差が多く含まれてしまうこととなる。
一般に磁気センサ出力5は、例えば、測定場所周辺に金属があると、方位センサを搭載した機器外の周囲環境の影響を受けて変化してしまい、観測磁気ベクトル11の向きや大きさが変わってしまうことが多々ある。この様な環境下で方位センサを使用すると、磁気センサ出力5には誤差が多く含まれてしまうこととなる。
一方、重力は周囲環境に影響されないため、この様な環境下においても傾斜センサ出力6を精度よく検出することができる。従って、従来のように磁気センサ出力5のみからオフセット算出する手法よりも、数6より重力を用いてオフセットを算出した方が高精度なオフセット7を得ることができる。
[動作説明:図1、図3]
次に、本発明の方位センサにおける方位算出手段の機能および演算方法について図1、図3を用いて説明する。なお、下記に示す方位算出手段は、磁気センサ出力5とともに傾斜センサ出力6を用いて方位8を算出する方法について示すが、本発明の方位センサはこれに限定されるものではなく、先に示した手順に従って正確なオフセット7を得た上で、磁気センサ出力5のみを使って方位算出手段4にて方位8を算出しても構わない。
次に、本発明の方位センサにおける方位算出手段の機能および演算方法について図1、図3を用いて説明する。なお、下記に示す方位算出手段は、磁気センサ出力5とともに傾斜センサ出力6を用いて方位8を算出する方法について示すが、本発明の方位センサはこれに限定されるものではなく、先に示した手順に従って正確なオフセット7を得た上で、磁気センサ出力5のみを使って方位算出手段4にて方位8を算出しても構わない。
まず、方位算出手段4は、磁気センサ出力5からオフセット7を差し引いて、地磁気ベクトル12を求める。
次に、機器の傾斜補正を行うため、重力ベクトル10とZ軸が平行になるように、磁気センサ出力5に対する座標変換を行い、変換後の座標系から見た地磁気ベクトル12のX成分とY成分の比より、最終的に真の方位を算出する。
この座標変換には様々な方法があるが、例えばY軸を中心にβ回転させた後、X軸中心にα回転させる座標変換を用いることができる。この座標変換は一般に知られるように、下記数7により行うことができる。また、数7に示すα、βは、傾斜センサ出力6から求めることができる。
このように、磁気センサ出力5に対する傾斜補正を行うため、機器が傾斜していた場合でも容易に真の方位を算出することができる。
そして、本発明の方位センサは、磁気センサ1と傾斜センサ2とを設け、磁気センサ出力5に加えて傾斜センサ出力6を用いて、オフセット算出手段3により、精度の良い磁気センサのオフセット7を算出することができる。この様に、精度の良いオフセット7を得ることにより、方位算出手段4により精度の良い方位8を算出することができる。
さらに、本発明の方位センサでは、地磁気のみの出力に対する傾斜補正も容易に行うことができ、この方位センサを備えた機器が傾斜している場合であっても、精度の良い真の方位8を算出することができる。
本発明の方位センサは、高精度な方位を求められる機器に適用することができる。特に、携帯型の機器に本発明の方位センサを搭載するのに好適である。
1 磁気センサ
2 傾斜センサ
3 オフセット算出手段
4 方位算出手段
5 磁気センサ出力
6 傾斜センサ出力
7 オフセット
8 方位
9 オフセットベクトル
10 重力ベクトル
11 観測磁気ベクトル
12 地磁気ベクトル
2 傾斜センサ
3 オフセット算出手段
4 方位算出手段
5 磁気センサ出力
6 傾斜センサ出力
7 オフセット
8 方位
9 オフセットベクトル
10 重力ベクトル
11 観測磁気ベクトル
12 地磁気ベクトル
Claims (5)
- 地磁気を検出し方位を算出する方位センサであって、
地磁気を検出して磁気センサ出力を出力する磁気センサと、
姿勢を検出して傾斜センサ出力を出力する傾斜センサと、
前記磁気センサ出力と前記傾斜センサ出力の両方を用いてオフセットを算出するオフセット算出手段と、
前記オフセット算出手段が算出した前記オフセットを用いて前記磁気センサ出力を補正した上で方位を算出する方位算出手段と、
を有することを特徴とする方位センサ。 - 前記方位算出手段は、前記磁気センサ出力と、前記傾斜センサ出力と、前記オフセットを用いて行う手段であることを特徴とする請求項1に記載の方位センサ。
- 地磁気を検出して磁気センサ出力を出力する磁気センサ出力手段と、
姿勢を検出して傾斜センサ出力を出力する傾斜センサ出力手段と、
前記磁気センサ出力と前記傾斜センサ出力の両方を用いてオフセットを算出するオフセット算出手段と、
前記オフセット算出手段が算出した前記オフセットを用いて前記磁気センサ出力を補正した上で方位を算出する方位算出手段と、
を有するプログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。 - 前記方位算出手段は、前記磁気センサ出力と、前記傾斜センサ出力と、前記オフセットを用いて行う演算手段であることを特徴とする請求項3に記載の記録媒体。
- 前記オフセット算出手段で用いる前記傾斜センサ出力は、少なくとも異なる4つの姿勢のセンサ出力値を用いて演算することを特徴とする請求項3または4に記載の記録媒体。
Priority Applications (1)
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