[go: up one dir, main page]

JP2007067183A - 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ - Google Patents

化合物半導体発光素子を有するledパッケージ Download PDF

Info

Publication number
JP2007067183A
JP2007067183A JP2005251536A JP2005251536A JP2007067183A JP 2007067183 A JP2007067183 A JP 2007067183A JP 2005251536 A JP2005251536 A JP 2005251536A JP 2005251536 A JP2005251536 A JP 2005251536A JP 2007067183 A JP2007067183 A JP 2007067183A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phosphor
light emitting
emitting device
light
inorganic material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005251536A
Other languages
English (en)
Inventor
Takenori Yasuda
剛規 安田
Koji Kamei
宏二 亀井
Hisayuki Miki
久幸 三木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
Priority to JP2005251536A priority Critical patent/JP2007067183A/ja
Publication of JP2007067183A publication Critical patent/JP2007067183A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/851Wavelength conversion means
    • H10H20/8516Wavelength conversion means having a non-uniform spatial arrangement or non-uniform concentration, e.g. patterned wavelength conversion layer or wavelength conversion layer with a concentration gradient
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】発光素子から発光される励起光を効率的に蛍光体に照射することにより、光の波長変換の効率を向上させることにある。
【解決手段】半導体発光素子と半導体発光素子からの発光を波長変換する蛍光体とを持つ発光デバイスである。本発明ではこの蛍光体を無機材料に分散させ、この膜を半導体発光素子の表面に形成したものである。膜は発光層お側面やボンディングヤイヤにも形成することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は化合物半導体発光素子と蛍光体を有するLEDデバイスに関し、高い波長変換効率を持つ発光デバイスに関する。
近年、発光ダイオード(LED)を用いた発光デバイスの進歩が目覚しく、液晶のバックライト、大型ディスプレイのほか、自動車のヘッドライトや室内外の照明器具にも用いられるようになっている。
特に、短波長光発光素子用の半導体材料としてGaN系化合物半導体材料が注目を集めている。GaN系化合物半導体材料発展により、短波長の光を得ることができたために、これを用いて蛍光体を励起してより多様な波長の光を得ることができるようになった。特に、白色の光を発光ダイオードから得ることができたのにはGaN系化合物半導体が不可欠であった。
GaN系化合物半導体は、サファイア単結晶を始めとして、種々の酸化物やIII−V族化合物を基板として、その上に有機金属気相化学反応法(MOCVD法)や分子線エピタキシー法(MBE法)等によって形成される。
GaN系化合物半導体材料の特性として、短波長の光を効率良く出力できる点がある。このような特徴を利用して、高出力の青色LEDや紫外LEDが作製されてきた。また、短波長の光を励起光源として用い、波長を変換することで、更に長い波長の発光を得ることができる。この性質を利用して、窒化ガリウム系化合物半導体発光素子チップを用い、この光を蛍光体に当てることで波長を変換する技術が広く用いられている。
以上のような、これまでの混色技術においては、蛍光体を含む領域は発光素子の光を取り出す面側に配置されていた。具体的には、チップを覆う樹脂モールドの中に蛍光体を分散させていた(特許文献1)。
一方、ボンディングワイヤよりもチップ寄りに蛍光体を位置させる方法としては、蛍光体(燐光体)を単結晶として生長させ、これをダイオード結晶と接触させる技術や、樹脂中に蛍光体(燐光体)を含ませて塗布する技術がある(特許文献2)。
また、樹脂中に分散させた蛍光体を、チップの側面を含めた表面に付着させる技術も公開されている(特許文献3参照)
特開平10−56208号公報 特公昭46−9194号公報 特表2000−512806号公報
上記の方法で樹脂に蛍光体を含めると、ボンディングワイヤと素子を含めた構造を樹脂中に埋め込むこととなる。
2つの電極を同じ面に形成した素子構造では、それをリードフレームに接続するためのワイヤも2本となるが、多くの場合ワイヤの材質として利用されるAuは、短波長の光を吸収してしまい、発光の波長変換の効率を下げることが言われている。(特許文献1参照)
特許文献2の方法では、蛍光体の量や成分は、励起に用いるチップからの発光強度や発光波長にあわせて調整する必要がある。基板段階で蛍光体膜を蒸着させると、基板の面内の発光の強度や波長の分布があるため、製作される発光素子の特性に分布が生じる不具合がある。
特許文献3の方法は、現実には樹脂中に蛍光体を分散させた膜をチップ表面に薄い膜厚で均一に成膜することは非常に困難であり、望ましくない場所に樹脂がたれ落ちてしまうことがしばしばあり、大量生産の方法としては不適当である
本発明は発光素子から発光される励起光を効率的に蛍光体に照射することにより、光の波長変換の効率を向上させることを目的とする。
本発明は、上記の目的を達成するためになされたもので、下記の発明からなる。
(1)半導体発光素子と半導体発光素子からの発光を波長変換する蛍光体とを備えた発光デバイスにおいて、蛍光体を分散させた無機材料からなる膜を半導体発光素子の表面に形成した、ことを特徴とする発光デバイス。
(2)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、蛍光体を1質量%以上含むことを特徴とする発光デバイス。
(3)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子の電極上にも形成されていることを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の発光デバイス。
(4)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子のボンディングワイヤ上にも形成されていることを特徴とする上記(1)〜(3)のいずれかに記載の発光デバイス。
(5)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子の側面にも形成されていることを特徴とする上記(1)〜(4)のいずれかに記載の発光デバイス。
(6)光体を分散させた無機材料からなる膜は、絶縁体であることを特徴とする上記(1)〜(5)のいずれかに記載の発光デバイス。
(7)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が0.1kΩcm〜1000kΩcmであることを特徴とする上記(1)〜(6)のいずれかに記載の発光デバイス。
(8)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が1kΩcm〜1000kΩcmであることを特徴とする上記(1)〜(7)のいずれかに記載の発光デバイス。
(9)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が5kΩcm〜500kΩcmであることを特徴とする上記(1)〜(8)のいずれかに記載の発光デバイス。
(10)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が10kΩcm〜100kΩcmであることを特徴とする上記(1)〜(9)のいずれかに記載の発光デバイス。
(11)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜の膜厚は、5nm〜100nmであることを特徴とする上記(1)〜(10)のいずれかに記載の発光デバイス。
(12)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、蒸着、スパッタ、CVDのいずれかの方法で形成したものであることを特徴とする上記(1)〜(11)のいずれかに記載の発光デバイス。
(13)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、印刷法で形成したものであることを特徴とする上記(1)〜(11)のいずれかに記載の発光デバイス。
(14)無機材料は、SiO2、SiN、CaF、BN、Al23、ダイヤモンドライクカーボンから成る群より選ばれた少なくとも1種類の材料を含むことを特徴とする上記(1)〜(13)のいずれかに記載の発光デバイス。
(15)蛍光体を分散させた無機材料層は、それが形成されている材料と屈折率がおおむね同じであることを特徴とする上記(1)〜(14)のいずれかに記載の発光デバイス。
(16)蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、半導体ウエハに形成された多数の発光素子を個々に分離した後、個々の半導体発光素子の表面に形成したものであることを特徴とする上記(1)〜(15)のいずれかに記載の発光デバイス。
本発明は樹脂で封止された発光デバイス関し、発光素子の表面に蛍光体を含有させた無機材料の膜を形成することで、発光素子から発光される励起光を効率的に蛍光体に照射することができ、光の波長変換の効率が向上する。
チップに分離後に膜を形成することにより、チップに対する蛍光体の量などを調整することが可能である。また、無機材料の膜とすることにより、望ましい位置だけに均一に膜を作製することができる。
特に、素子の側面に膜を成膜することによる効果が大きい。また、金をボンディングワイヤに使用した場合の、金線による吸収による励起光の減光の影響も減ずることができる。
図2に、本発明の実施形態の一例を示す。一般にトップパッケージと呼ばれるLEDパッケージ1の断面図である。
半導体デバイスであるLEDチップ11に対し、配線12が形成されて導通がパッケージ外に引き出されている。LEDチップデバイスの周囲にはリフレクタ13と呼ばれる外縁が形成されていて、その内部が樹脂14で封止されている。
チップの周辺と金線の上には、無機材料に蛍光体を含ませた膜が形成されている。この膜は、ボンディングボールの上にも形成されている。無機材料の膜は、その硬度により発光素子への機械的な接触によっても剥がれ落ちることがない。また、材料として透明な材料を選ぶことにより、LEDデバイスから発光される光を減じることもない。
蛍光体を分散させた無機材料は、光の波長変換率を高めるため蛍光体を1質量%以上含むことが好ましい。1重量%以下では、蛍光体の量が少なすぎて良好な発光を得ることができない。その上限には特に制限はなく、蛍光体の種類によっては蛍光体そのものが無機材料を兼ねることができる。即ち、蛍光体のみからなる。例えば、Y3Al512:Ce(YAG:Ce)はCeイオンがYAGの母体の結晶場で変調された原子準位間の発光を示すが、母体であるY3Al512を含めて蛍光体であり、母体のY3Al512自体を無機材料層とみなすことができる。この場合はYAG:Ceのみを例えば蒸着、スパッタ等の方法で膜を形成すると、その硬度により発光素子への機械的な接触によっても剥がれ落ちることがない。
発光素子からの励起光を効率よく蛍光体に照射するためには、蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、半導体発光素子チップの表面に形成されていることが望ましい。電極の上や、素子の側面にも形成されていると、素子からの発光を効率よく受け取ることができる。特に素子の側面は、発光層が露出しているため、コンタクト層による吸収を受けずに効率的に発光を取り出すことが可能である。
更に、ボンディングワイヤやボンディングボール上に形成されていても良い。本発明で、ワイヤボンディング後に無機材料膜を形成することができるが、こうするとボンディングワイヤ上にも膜が形成される。ボンディング前に成膜を行うと、ボンディングパッド上にも無機材料膜が形成されてボンディングが困難になる場合があるが、ボンディング後に成膜を行うことで、この問題を回避できる。
本発明では、半導体ウエハに形成された多数の発光素子(チップ)を、個々に分離した後に、蛍光体を分散させた無機材料からなる膜(蛍光体含有膜)を成膜することが望ましい。チップに分離後に、発光の強度や波長などを選別し、同等の特性のものを集めて、蛍光体含有膜の成膜を行うことで、特性の均一なチップを大量生産することが可能である。
本発明では、蛍光体含有膜の屈折率は、成膜されている材料に近いことが望ましい。窒化ガリウム系材料に成膜している場合には2.4程度であり、ITO電極に付着している場合には2.0程度である。
発光が射出される材料と蛍光体含有膜の屈折率を概ね同じとすることで、発光体内部への反射による取り出される光の減少を防ぐことができ、効率的に蛍光体の励起を行うことができる。
本発明では、蛍光体含有膜の抵抗率は、どのような値も取りえる。一般的には0.1kΩcmから1000kΩcmの範囲のものを用いることができる。しかしながら、上記のように通常動作では電流リークは発生せず過大電流が注入されたときに電荷を拡散させる機能を持たせる目的では、皮膜の導電性を適正に制御する必要がある。具体的には、1kΩcmから1000kΩcmであることが望ましい。これよりも小さいと配線に接触した場合にリーク電流の原因となるし、これよりも大きいと過大電流を逃がす効果を持たなくなる。更に望ましくは5kΩcmから500kΩcmであり、特に、10kΩcmから100kΩcmである場合にバランスが良く、弊害なく特段の効果を発揮することが可能である。
LEDから出た発光を効率よく外部へ取り出すためには、膜は発光された波長に対して透明であることが必要である。本発明において透明あるいは透光性とは、300〜800nmの波長領域における光に対して、透過率70%以上であることを意味する。
もちろん、封入される発光素子が発光する光の波長に対して透過率が良好であることが必要である。発光が白色である場合には、波長400〜800nmに渡って透明であることが望ましい。
膜の透過率は、膜の膜厚を制御することによっても変化させることが可能である。膜の膜厚が薄ければそれだけ透明性を発揮することになるが、機械的な強度も低下し、導電性も小さくなる。
本発明の効果を発揮するのに最適な膜厚は、5nmから100nmの間である。これよりも薄いと膜は機械的な強度を失い、剥がれやすくなる。これよりも厚い場合には、いたずらに膜形成時の処理時間が長くなり、生産性が落ちるばかりである。また、膜の材料によっては透過率の低下や導電性の増大を招き、不都合である。
LEDパッケージの形状は必ずしも平坦ではないので、ここでいう膜厚とは、ばらつきを持っても良く、その最も厚い部分と薄い部分での膜厚が上記を満たしている場合に、本発明の主張する効果を良く発揮する。
無機材料膜の材料としては、上記抵抗率を満たすような既存の材質を問題なく使用することができる。例えば、ダイヤモンドライクカーボン、アルミナ、酸化シリコン、窒化シリコン、フッ化カルシウム、窒化ホウ素などである。
更に、市販の低融点ガラスや液状のシリカを用いても良い。
膜は、知られているどのような方法を持って形成しても構わない。例えば、蒸着やスパッタ、CVDなどの方法を用いることができる。LEDパッケージは基盤に配線を施す場合等に樹脂を含むことがあるので、被膜形成体の温度が目安として200℃よりも上がらないことが望ましい。更に望ましくは、150℃よりも上がらないことであり、100℃を超えないことが、最も望ましい。
特に、蒸着やスパッタを用いると、被膜形成体の温度が上昇することがないので、パッケージに使用された樹脂が受けるダメージが少なくすることができて好適である。スパッタや蒸着を用いる場合、チップ周り以外にレジストを形成し、無機材料膜形成後、リフトオフと呼ばれる工程で余計な位置についた膜を除去することでも、チップ周りだけに蛍光体含有無機材料層を形成することができる。リフレクタはその後で形成する。
また、膜の材料となる物質を蛍光体と共に溶剤に分散させておき、この溶液を被膜形成体に塗布して加熱する事で溶剤を飛ばし、膜を形成する方法も利用できる。
更に製法として、印刷法を用いることもできる。一例を挙げると、プリント基板の様な平面基板にダイボンディング、ワイヤボンディングをしてから、ステンシルと呼ばれる穴あきメタルマスクをチップ位置に穴が来るようにかぶせ、無機バインダーに溶いた蛍光体をスキージと呼ばれるすり切り板でマスク高さの分だけチップ周りにバインダーを落とし込み、その後、半焼きしてからステンシルを外し、本焼きを実施する。そのあと、リフレクタを付けることで、チップ周辺のみに蛍光体含有無機材料層を形成することができる。
本発明のLEDデバイスは、多様な種類の形態のパッケージに適用することが可能である。一例を挙げると、一般的な砲弾型のLEDランプのほか、前述のトップパッケージやサイドビューパッケージ、サーフェイスマウントデバイスと呼ばれるパッケージなどがある。また、チップをボードに直接実装し、樹脂で封止するような実装の場合でも、本発明の技術を適用することができる。
使用する蛍光体としても、既存のものを制限なく使用することができる。一例を挙げれば、YAG(Yttrium Aluminium Garnet)、TAG(Terbium Aluminium Garnet)、BAM(Barium Aluminium Magnesium Oxide)、ZnS、SiAlON(サイアロン)、シリケートなどである。
本発明の発光デバイスをパッケージにする際に、発光素子の周囲を樹脂で封止しても良い。
封止するための樹脂としては、温度、湿度などに対する耐久性が高いことは言うまでもない。窒化ガリウム系材料からなる発光素子を使用する場合には、それに加えて窒化ガリウム系材料からの短波長領域の発光に対する劣化も小さいことが望まれる。また、固化する際の変形や体積変化は少ない方が良い。そのような観点から、(メタ)アクリル酸系樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン架橋樹脂、UV硬化樹脂、ユリア樹脂、シリコーン樹脂などが望ましい。
使用するチップは、どのような形態のものでも構わない。チップの上下にそれぞれ電極を形成したワンワイヤータイプ、チップの一つの面に2つの電極を形成したフェイスアップタイプ、一つの面に2つの電極を形成しておいて、電極面を実装し基板面から発光を取り出すフリップチップタイプなどがある。中でも、ワンワイヤータイプやフェイスアップタイプの発光素子を用いた場合に、ワイヤーによって励起光を遮蔽されてしまう問題点を回避することができるので、効果を発揮する。
チップの大きさも、どのような大きさのものでも利用できる。具体的には100μm角程度から、4mm角程度の大きさのものまで考えられる。サージ電流に対する耐性は大きなチップほど弱いことが知られており、特に、500μm角以上の大きさのものに対して効果を発揮する。
発光素子を構成する半導体結晶積層構造体は、p層とn層との間に発光層を積層した、一般的な素子構造であるものが用いられる。n型半導体層、発光層およびp型半導体層は各種構造のものが周知であり、これら周知のものを何ら制限なく用いることができる。
本発明の効果は、サファイアを基板として持つ窒化ガリウム系化合物半導体に対して特に有効である。窒化ガリウム系化合物半導体としても、一般式AlxInyGa1-x-yN(0≦x<1,0≦y<1,0≦x+y<1)で表わされる各種組成の半導体が周知であり、本発明におけるn型半導体層、発光層およびp型半導体層を構成する窒化ガリウム系化合物半導体としても、一般式AlxInyGa1-x-yN(0≦x<1,0≦y<1,0≦x+y<1)で表わされる各種組成の半導体を何ら制限なく用いることができる。
これらの化合物半導体の成長方法は特に限定されず、MOCVD(有機金属化学気相成長法)、HVPE(ハイドライド気相成長法)、MBE(分子線エピタキシー法)、などIII族窒化物半導体を成長させることが知られている全ての方法を適用できる。好ましい成長方法としては、膜厚制御性、量産性の観点からMOCVD法である。
GaN系化合物半導体材料からの短波長の光を蛍光体に当てることで波長を変換する技術は広く用いられている。波長の変換を利用する技術としては、窒化ガリウム系発光素子からの青色の光を黄色を発光する蛍光体に照射して発光させ、青色と黄色とを混色して白色の光を得る技術、或いは窒化ガリウム系発光素子から紫外線を発光させ、その光を赤色、緑色、青色を発光する蛍光体に照射して発光させ、白色を得る技術などがある。また、それ以外にも、窒化ガリウム系発光素子からの青色の光を赤色の光を発光する蛍光体に照射し、青色と赤色とを混色してピンク色の発光を得たり、窒化ガリウム発光素子からの紫外線を緑色の光を発光する蛍光体に照射して緑色を得る技術などがある。
本発明のLEDデバイスは光の変換効率が高いので、これらの技術に特に有効である。
次に、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
図1は本実施例で作製したLEDパッケージの断面図である。
発光素子は、サファイア基板上に形成した窒化ガリウム系化合物半導体発光素子を用い、ITO透明電極とCr/Ti/Al/Ti/Auからなるボンディングパッドからなるp電極と、Cr/Ti/Auからなるn電極を形成した。
窒化ガリウム系化合物半導体層の積層は、MOCVD法により、当該技術分野においてよく知られた通常の条件で行なった。また、正極および負極の形成、ウエーハの分割もよく知られた通常の条件で行なった。
続いて、この発光素子をスパッタ機内に導入した。発光素子は、金属製の基板の上に半田を用いて接着し、保持した。
チャンバ内を真空とし、アルゴンガスプラズマを発生させ、これをマイナスの電位としたシリケート蛍光体を含むSiO2のターゲットに当てることにより、スパッタを実施した。アルゴンプラズマによりターゲットの材料が削られ、発光素子上に積層した。プラズマガスはある程度隙間にも回りこみ、発光素子の側面にもシリケート蛍光体を含むSiO2膜が堆積した。
別途行った実験により成膜の速度を把握していたので、膜厚が40nm程度になったと思われる時間に達したところでアルゴンプラズマの発生を止め、発光素子をロードロック室(発光素子の導入口)よりチャンバ外へ引き出した。
上記の成膜時に、モニタの目的でガラスの板をチャンバ内に入れておいた。このガラス板上に成膜された膜を分光光度計とシート抵抗測定機にて測定したところ、成膜されたSiO2膜の透過率は96%であり、抵抗率は10kΩcmであった。
これをセラミック製のリードフレームに銅を用いてプリント配線したボードと、Alを蒸着して反射率を高めたリフレクタを有するトップパッケージに、ダイボンダで接着した。更に、ワイヤボンダを用いて金線でプリント基板に配線した。
続いて、リフレクタ内にガラスエポキシ樹脂を流し込んで、加熱することにより固化した。樹脂の量と粘度を、事前に実験して適性に制御することにより、固化した後の樹脂の表面形状は少し膨らみを持つ擬似レンズ形状とすることとした。
以上の操作により図1に断面図を示すような構造を持つLEDパッケージを作製した。配線に電流を通じることでチップは白色に発光した。駆動電圧は3.2Vであり、発光の効率は、67lm/Wと良好であった。
(実施例2)
実施例1と同じ発光素子を使用し、同様のLEDパッケージを作製した。実施例2では、発光素子をリフレクタつきのリードフレームにマウントしたあとでYAG:Ceを含有したアルミナの膜を10nmの膜厚でスパッタにより形成した。この例では素子の周辺のみならず、ボンディングワイヤにも成膜した。
この操作により図2に断面図を示すような構造を持つLEDパッケージを作製した。配線に電流を通じることでチップは白色に発光した。駆動電圧は3.0Vであり、発光の効率は、75lm/Wと良好であった。
本発明のLEDパッケージは光の波長変換が高く、白色とすることが可能であり、各種のディスプレイの外、室内外の照明器具等に利用できる。
実施例1で作製した本発明の窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の断面を示した模式図である。 実施例2で作製した本発明の窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の断面を示した模式図である。
符号の説明
1 本発明で作製したLEDデバイスを用いたパッケージ
11 半導体チップ
12 金線
13 リフレクタ
14 樹脂
15 蛍光体含有無機材料膜

Claims (16)

  1. 半導体発光素子と半導体発光素子からの発光を波長変換する蛍光体とを備えた発光デバイスにおいて、蛍光体を分散させた無機材料からなる膜を半導体発光素子の表面に形成した、ことを特徴とする発光デバイス。
  2. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、蛍光体を1質量%以上含むことを特徴とする発光デバイス。
  3. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子の電極上にも形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の発光デバイス。
  4. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子のボンディングワイヤ上にも形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の発光デバイス。
  5. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、素子の側面にも形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の発光デバイス。
  6. 光体を分散させた無機材料からなる膜は、絶縁体であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の発光デバイス。
  7. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が0.1kΩcm〜1000kΩcmであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の発光デバイス。
  8. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が1kΩcm〜1000kΩcmであることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の発光デバイス。
  9. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が5kΩcm〜500kΩcmであることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の発光デバイス。
  10. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、電気抵抗が10kΩcm〜100kΩcmであることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の発光デバイス。
  11. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜の膜厚は、5nm〜100nmであることを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記載の発光デバイス。
  12. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、蒸着、スパッタ、CVDのいずれかの方法で形成したものであることを特徴とする請求項1〜11のいずれかに記載の発光デバイス。
  13. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、印刷法で形成したものであることを特徴とする請求項1〜11のいずれかに記載の発光デバイス。
  14. 無機材料は、SiO2、SiN、CaF、BN、Al23、ダイヤモンドライクカーボンから成る群より選ばれた少なくとも1種類の材料を含むことを特徴とする請求項1〜13のいずれかに記載の発光デバイス。
  15. 蛍光体を分散させた無機材料層は、それが形成されている材料と屈折率がおおむね同じであることを特徴とする請求項1〜14のいずれかに記載の発光デバイス。
  16. 蛍光体を分散させた無機材料からなる膜は、半導体ウエハに形成された多数の発光素子を個々に分離した後、個々の半導体発光素子の表面に形成したものであることを特徴とする請求項1〜15のいずれかに記載の発光デバイス。
JP2005251536A 2005-08-31 2005-08-31 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ Pending JP2007067183A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005251536A JP2007067183A (ja) 2005-08-31 2005-08-31 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005251536A JP2007067183A (ja) 2005-08-31 2005-08-31 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007067183A true JP2007067183A (ja) 2007-03-15

Family

ID=37929018

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005251536A Pending JP2007067183A (ja) 2005-08-31 2005-08-31 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007067183A (ja)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009055006A (ja) * 2007-07-27 2009-03-12 Nichia Corp 発光装置及びその製造方法
WO2009154193A1 (ja) * 2008-06-16 2009-12-23 株式会社ニコン セラミックス組成物、蛍光体セラミックス及びその製造方法、並びに発光素子
JP2011146480A (ja) * 2010-01-13 2011-07-28 Nichia Corp 発光装置および発光装置の製造方法
JP2015095601A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 日亜化学工業株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
JP2016001720A (ja) * 2014-05-21 2016-01-07 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
JP2017120802A (ja) * 2015-12-28 2017-07-06 日亜化学工業株式会社 発光装置およびその製造方法
JP2017126743A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 シチズン電子株式会社 Ledパッケージ
JP2019067841A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日機装株式会社 半導体発光素子及び発光装置
KR20220101158A (ko) * 2019-11-15 2022-07-19 다이슨 테크놀러지 리미티드 재료를 증착하는 방법
US12249498B2 (en) 2019-11-15 2025-03-11 Dyson Technology Limited Sputter deposition
US12312673B2 (en) 2019-11-15 2025-05-27 Dyson Technology Limited Method of manufacturing solid state battery cathodes for use in batteries
US12385141B2 (en) 2019-11-15 2025-08-12 Dyson Technology Limited Method and apparatus for sputter deposition of target material to a substrate
US12385123B2 (en) 2019-11-15 2025-08-12 Dyson Technology Limited Sputter deposition apparatus and method
US12460300B2 (en) 2019-11-15 2025-11-04 Dyson Technology Limited Method and apparatus for sputter deposition of target material to a substrate

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0291980A (ja) * 1988-09-29 1990-03-30 Toshiba Lighting & Technol Corp 固体発光素子
JPH10319877A (ja) * 1997-05-16 1998-12-04 Toshiba Corp 画像表示装置及び発光装置
JPH1146015A (ja) * 1997-07-28 1999-02-16 Nichia Chem Ind Ltd 発光ダイオード及びその形成方法
JP2000031531A (ja) * 1998-07-14 2000-01-28 Toshiba Electronic Engineering Corp 発光装置
JP2004186278A (ja) * 2002-11-29 2004-07-02 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置及び発光方法
WO2004081140A1 (ja) * 2003-03-13 2004-09-23 Nichia Corporation 発光膜、発光装置、発光膜の製造方法および発光装置の製造方法
JP2005191514A (ja) * 2003-10-31 2005-07-14 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子および発光装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0291980A (ja) * 1988-09-29 1990-03-30 Toshiba Lighting & Technol Corp 固体発光素子
JPH10319877A (ja) * 1997-05-16 1998-12-04 Toshiba Corp 画像表示装置及び発光装置
JPH1146015A (ja) * 1997-07-28 1999-02-16 Nichia Chem Ind Ltd 発光ダイオード及びその形成方法
JP2000031531A (ja) * 1998-07-14 2000-01-28 Toshiba Electronic Engineering Corp 発光装置
JP2004186278A (ja) * 2002-11-29 2004-07-02 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置及び発光方法
WO2004081140A1 (ja) * 2003-03-13 2004-09-23 Nichia Corporation 発光膜、発光装置、発光膜の製造方法および発光装置の製造方法
JP2005191514A (ja) * 2003-10-31 2005-07-14 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子および発光装置

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009055006A (ja) * 2007-07-27 2009-03-12 Nichia Corp 発光装置及びその製造方法
WO2009154193A1 (ja) * 2008-06-16 2009-12-23 株式会社ニコン セラミックス組成物、蛍光体セラミックス及びその製造方法、並びに発光素子
JP5454473B2 (ja) * 2008-06-16 2014-03-26 株式会社ニコン 蛍光体セラミックス及びその製造方法、並びに発光素子
JP2011146480A (ja) * 2010-01-13 2011-07-28 Nichia Corp 発光装置および発光装置の製造方法
JP2015095601A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 日亜化学工業株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
US9705053B2 (en) 2013-11-13 2017-07-11 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
US10002993B2 (en) 2013-11-13 2018-06-19 Nichia Corporation Light emitting device
JP2016001720A (ja) * 2014-05-21 2016-01-07 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
US10038125B2 (en) 2015-12-28 2018-07-31 Nichia Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same
JP2017120802A (ja) * 2015-12-28 2017-07-06 日亜化学工業株式会社 発光装置およびその製造方法
JP7101455B2 (ja) 2016-01-12 2022-07-15 シチズン電子株式会社 Ledパッケージ
JP2017126743A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 シチズン電子株式会社 Ledパッケージ
JP7112190B2 (ja) 2017-09-29 2022-08-03 日機装株式会社 発光装置
JP2019067841A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日機装株式会社 半導体発光素子及び発光装置
JP7534404B2 (ja) 2019-11-15 2024-08-14 ダイソン・テクノロジー・リミテッド 材料を堆積させる方法
CN114945701A (zh) * 2019-11-15 2022-08-26 戴森技术有限公司 沉积材料的方法
JP2023512741A (ja) * 2019-11-15 2023-03-29 ダイソン・テクノロジー・リミテッド 材料を堆積させる方法
KR20220101158A (ko) * 2019-11-15 2022-07-19 다이슨 테크놀러지 리미티드 재료를 증착하는 방법
US12249498B2 (en) 2019-11-15 2025-03-11 Dyson Technology Limited Sputter deposition
US12312673B2 (en) 2019-11-15 2025-05-27 Dyson Technology Limited Method of manufacturing solid state battery cathodes for use in batteries
US12385141B2 (en) 2019-11-15 2025-08-12 Dyson Technology Limited Method and apparatus for sputter deposition of target material to a substrate
US12385123B2 (en) 2019-11-15 2025-08-12 Dyson Technology Limited Sputter deposition apparatus and method
KR102877491B1 (ko) * 2019-11-15 2025-10-31 다이슨 테크놀러지 리미티드 재료를 증착하는 방법
US12460300B2 (en) 2019-11-15 2025-11-04 Dyson Technology Limited Method and apparatus for sputter deposition of target material to a substrate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10043955B2 (en) Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
US8008673B2 (en) Light-emitting device
US8597963B2 (en) Manufacture of light emitting devices with phosphor wavelength conversion
US10777715B2 (en) Semiconductor light emitting device
JP5918221B2 (ja) Ledチップの製造方法
JP6237181B2 (ja) 発光装置の製造方法
TWI502775B (zh) 發光裝置及發光裝置之製造方法
CN103003966B (zh) 具有波长变换层的发光二级管芯片及其制造方法,以及包括其的封装件及其制造方法
US20180151786A1 (en) Light emitting device and method for producing the same
EP2613371A1 (en) Light emitting device and method for manufacturing same
JP3617587B2 (ja) 発光ダイオード及びその形成方法
JP3407608B2 (ja) 発光ダイオード及びその形成方法
WO2007102534A1 (ja) チップ型半導体発光素子
CN103038565A (zh) 白光装置及方法
JP4417906B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
JP2007067183A (ja) 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ
JP2007059418A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP3858829B2 (ja) 発光ダイオードの形成方法
JP2007059419A (ja) 化合物半導体発光素子を有するledパッケージ
JP2010153561A (ja) 発光装置
JP3399342B2 (ja) 発光ダイオードの形成方法
JP2007067184A (ja) Ledパッケージ
JP3835276B2 (ja) 発光ダイオードおよびその形成方法
JP2018011088A (ja) 発光装置
KR100450514B1 (ko) 백색 발광 다이오드

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080729

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110322

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110719