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JP2006120548A - X-ray tube arrangement and heating control method of x-ray tube - Google Patents

X-ray tube arrangement and heating control method of x-ray tube Download PDF

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JP2006120548A
JP2006120548A JP2004309250A JP2004309250A JP2006120548A JP 2006120548 A JP2006120548 A JP 2006120548A JP 2004309250 A JP2004309250 A JP 2004309250A JP 2004309250 A JP2004309250 A JP 2004309250A JP 2006120548 A JP2006120548 A JP 2006120548A
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Japan
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ray tube
filament
time
heating
preheating
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Application number
JP2004309250A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaharu Fujiwara
正春 藤原
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Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

【課題】 撮影ボタンが通常よりも短い間に押された場合でも、フィラメント温度が上がりすぎず、X線管電流が設定値を越えてしまうことによる撮影像のばらつきを防止するX線管装置及びX線管の加熱制御方法を提供する。
【解決手段】 予備加熱後の撮影開始タイミングでプリフラッシュを行うことによって、X線管フィラメントを加熱した後に、本加熱を行うX線管制御装置において、前記予備加熱の期間を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に応じて、前記X線管フィラメントに対して前記プリフラッシュの条件を変更して制御する制御手段とを設けた。
【選択図】 図1
PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent variation in a captured image due to an excessive increase in filament temperature and an X-ray tube current exceeding a set value even when an image capturing button is pressed for a shorter time than usual. An X-ray tube heating control method is provided.
Detection means for detecting the preheating period in an X-ray tube control apparatus that performs main heating after heating an X-ray tube filament by performing preflash at an imaging start timing after preheating. And control means for changing the pre-flash condition for the X-ray tube filament according to the detection result of the detecting means.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、X線診断装置等に装備されるX線管装置及びX線管の加熱制御方法に関するものである。   The present invention relates to an X-ray tube apparatus and an X-ray tube heating control method equipped in an X-ray diagnostic apparatus or the like.

X線管装置では、陰極フィラメントに電流を流して加熱し、それにより放出された熱電子を高電圧により陽極のターゲットに衝突させることによりX線を発生させる。陰極から陽極への電子ビームにより流れる管電流の制御は、陰極フィラメントに流す電流を増減することにより行われるのが一般的である。フィラメント電流を増減させることによりフィラメントの温度が変化して、フィラメントから放出される熱電子の量が変化する。それに応じて管電流も変化する(例えば、特許文献1)。   In the X-ray tube apparatus, an X-ray is generated by causing a current to flow through the cathode filament and heating it, and causing the emitted thermoelectrons to collide with the anode target with a high voltage. The tube current flowing by the electron beam from the cathode to the anode is generally controlled by increasing or decreasing the current flowing to the cathode filament. Increasing or decreasing the filament current changes the filament temperature and changes the amount of thermoelectrons emitted from the filament. Accordingly, the tube current also changes (for example, Patent Document 1).

X線管のフィラメント温度を加減するにはフィラメント電流を増減させるが、フィラメントには熱慣性があるので、フィラメント電流の変動に対して温度が追随するのにはある程度(約1秒)の遅延が生じる。撮影ボタンが押された時、管電圧印加とともに、フィラメント電流の供給を開始する。上記熱慣性により、フィラメント温度が設定温度で安定するまでの約1秒程度の期間は、実際の管電流は設定値に達していない。   In order to increase or decrease the filament temperature of the X-ray tube, the filament current is increased or decreased. However, since the filament has thermal inertia, there is a certain delay (about 1 second) for the temperature to follow the fluctuation of the filament current. Arise. When the photographing button is pressed, the supply of filament current is started together with the application of the tube voltage. Due to the thermal inertia, the actual tube current does not reach the set value during a period of about 1 second until the filament temperature is stabilized at the set temperature.

このように、撮影ボタンが押されてから、フィラメント温度が設定温度に達するまでの約1秒程度の期間は、実際の管電流は設定値に達していない。それによりこの期間の透視画像は、濃度不足を起こしており、診断を行う術者にとって最適とはなり得ない。   As described above, the actual tube current does not reach the set value during the period of about 1 second from when the photographing button is pressed until the filament temperature reaches the set temperature. As a result, the fluoroscopic image during this period is insufficient in density and cannot be optimal for the surgeon performing the diagnosis.

また、透視期間中に自動輝度補正を行う、つまり輝度レベルを安定させるように透視中に管電流をダイナミックに変更する場合にも、実際に管電流が設定値に変化するまでには遅れが生じることになり、被写体厚が急激に変わった場合などには透視像の輝度が安定するまでにある程度の時間を要する。   Also, when automatic brightness correction is performed during fluoroscopy, that is, when the tube current is dynamically changed during fluoroscopy so as to stabilize the brightness level, there is a delay until the tube current actually changes to the set value. In other words, when the subject thickness changes abruptly, a certain amount of time is required until the brightness of the fluoroscopic image is stabilized.

このような、管電流不足を解消する手法として、X線管装置のフィラメントを加熱するプリフラッシュというものがある。これは、X線管のフィラメント温度を短時間で立ち上げるための手法であり、X線管装置の「撮影ボタン」を押してから実際にX線が照射されるまでの時間を短くできるので、撮りたい画像をタイミングよく得ることができる。   As a method for solving such a shortage of tube current, there is a preflash that heats a filament of an X-ray tube apparatus. This is a technique for raising the filament temperature of the X-ray tube in a short time, and the time from pressing the “shooting button” on the X-ray tube device to the actual X-ray irradiation can be shortened. The desired image can be obtained with good timing.

ここで、前記「撮影ボタン」がいつ押されてもいいように、X線管のフィラメントを、撮影用に常時加熱しておけば、前記プリフラッシュの必要はない。しかし、常時加熱しておくと、X線管のフィラメントの寿命が加熱時間に反比例して短くなるので、このような方法は採用できず、結局プリフラッシュが用いられてきた。   Here, if the X-ray tube filament is always heated for imaging so that the “imaging button” can be pressed at any time, the preflash is not necessary. However, since the life of the filament of the X-ray tube is shortened in inverse proportion to the heating time if it is always heated, such a method cannot be adopted, and preflash has been used after all.

特公昭60−19639号公報Japanese Patent Publication No. 60-19639

前記プリフラッシュは、X線高電圧装置の操作パネルで設定される撮影条件(X線管電圧、X線管電流)によって決められるフィラメントの本加熱量Hに所定の定数Aを乗じて(何割り増しかにして)、所定の時間Tにかける方式が採用される。なお、本加熱量Hは、X線高電圧装置の操作パネルで設定される撮影条件(X線管電圧、X線管電流)によって決定される。 The preflash is obtained by multiplying the filament heating amount H 0 determined by the imaging conditions (X-ray tube voltage, X-ray tube current) set on the operation panel of the X-ray high voltage apparatus by a predetermined constant A (what A method of taking a predetermined time T is adopted. The main heating amount H 0 is determined by the imaging conditions (X-ray tube voltage, X-ray tube current) set on the operation panel of the X-ray high voltage apparatus.

しかしながら、前の撮影が終わってからフィラメント温度が十分に下がってないうちに次の撮影を行った場合、すなわち、撮影間隔が短かった場合には、通常と同じようにプリフラッシュを行うと、フィラメントの温度が上がりすぎ、X線管電流が設定値を越えてしまい、結果として撮影像にばらつきが生じることがあった。   However, if the next shot was taken before the filament temperature had dropped sufficiently since the previous shot was completed, i.e. if the shooting interval was short, the preflash would be As a result, the X-ray tube current exceeded the set value, resulting in variations in the captured images.

本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、撮影ボタンが通常よりも短い間に押された場合でも、フィラメント温度が上がりすぎず、X線管電流が設定値を越えてしまうことによる撮影像のばらつきを防止するX線管装置及びX線管の加熱制御方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to set the X-ray tube current without increasing the filament temperature even when the photographing button is pressed for a shorter time than usual. An object of the present invention is to provide an X-ray tube apparatus and a method for controlling the heating of an X-ray tube which prevent variations in captured images due to exceeding the value.

上記課題を解決するための、請求項1記載の発明に係るX線管装置は、予備加熱後の撮影開始タイミングでプリフラッシュを行うことによって、X線管フィラメントを加熱した後に、前記X線管フィラメントの本加熱を行うX線管装置において、前記予備加熱の期間を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に応じて、前記プリフラッシュの条件を変更して前記X線管フィラメントを制御する制御手段とを設けたことを特徴とする。   An X-ray tube apparatus according to the invention described in claim 1 for solving the above-mentioned problem is the X-ray tube after heating the X-ray tube filament by performing preflash at the imaging start timing after the preheating. In the X-ray tube apparatus that performs the main heating of the filament, the X-ray tube filament is controlled by changing the preflash condition according to the detection means for detecting the preheating period and the detection result of the detection means And a control means for providing the control means.

上記課題を解決するための、請求項2記載の発明に係るX線管装置は、請求項1に記載のX線管装置において、前記制御手段は、前記検出手段による検出結果が前回の予備加熱の時間よりも短いときには、前記X線管フィラメントを制御する電力量が前回よりも少なくなるように前記プリフラッシュの条件を設定することを特徴とする。   The X-ray tube apparatus according to the second aspect of the present invention for solving the above-described problem is the X-ray tube apparatus according to the first aspect, wherein the control means detects the previous preliminary heating result by the detection means. When the time is shorter than this time, the pre-flash condition is set so that the amount of electric power for controlling the X-ray tube filament is smaller than the previous time.

上記課題を解決するための、請求項3記載の発明に係るX線管装置は、請求項1に記載のX線管装置において、前記制御手段は、前記予備加熱の期間と前記プリフラッシュの条件とを関連付けたテーブルを有し、前記検出手段による検出結果を基に前記テーブルを参照して前記検出結果に対応する前記プリフラッシュの条件に変更して前記X線管フィラメントを制御することを特徴とする。   The X-ray tube apparatus according to the invention described in claim 3 for solving the above-mentioned problem is the X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the control means includes the preheating period and the preflash condition. And the X-ray tube filament is controlled by referring to the table based on the detection result by the detection means and changing to the pre-flash condition corresponding to the detection result. And

上記課題を解決するための、請求項4記載の発明に係るX線管装置は、請求項1〜3の何れかに記載のX線管装置において、前記プリフラッシュの条件は、前記プリフラッシュ時における前記フィラメントの電圧、電流、電力及び前記プリフラッシュを行う時間の何れか1つ又は複数の組み合わせであることを特徴とする。   An X-ray tube apparatus according to a fourth aspect of the present invention for solving the above-mentioned problems is the X-ray tube apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the pre-flash condition is set at the time of the pre-flash. It is a combination of any one or more of the voltage, current, power of the filament and the time for performing the preflash.

上記課題を解決するための、請求項5記載の発明に係るX線管装置は、請求項1〜4の何れかに記載のX線管装置において、前記検出手段は、前記予備加熱の期間を計時するタイマーであることを特徴とする。   The X-ray tube apparatus according to the invention described in claim 5 for solving the above-described problem is the X-ray tube apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the detection means sets the preheating period. It is a timer for measuring time.

上記課題を解決するための、請求項6記載の発明に係るX線管装置は、請求項5に記載のX線管装置において、前記タイマーは、前記撮影開始タイミングの間隔を用いて前記予備加熱の期間を計時することを特徴とする。   The X-ray tube apparatus according to claim 6 for solving the above-mentioned problem is the X-ray tube apparatus according to claim 5, wherein the timer uses the interval of the imaging start timing to perform the preliminary heating. It is characterized in that the period of time is measured.

上記課題を解決するための、請求項7記載の発明に係るX線管の加熱制御方法は、X線管フィラメントに対して予備加熱する予備加熱過程と、撮影開始信号を受けて前記予備加熱過程を終了させ、前記X線管フィラメントを加熱するプリフラッシュ過程と、前記プリフラッシュ過程終了後、前記X線管フィラメントを所定時間本加熱する本加熱過程とを有し、その本加熱過程後、再び予備加熱過程を行うX線管の加熱制御方法であって、前記プリフラッシュ過程は、前回の予備加熱過程を終了させた後、前回の予備加熱過程に要した時間を検出し、その検出した時間に対応するプリフラッシュ条件を制御することによって、前記X線フィラメントを加熱制御することを特徴とする。   The X-ray tube heating control method according to the invention described in claim 7 for solving the above-mentioned problems is a preheating process for preheating the X-ray tube filament, and the preheating process upon receiving an imaging start signal. And a pre-flash process for heating the X-ray tube filament, and a main heating process for heating the X-ray tube filament for a predetermined time after the pre-flash process is completed. An X-ray tube heating control method for performing a preheating process, wherein the preflash process detects a time required for the previous preheating process after the previous preheating process is completed, and detects the detected time The X-ray filament is controlled to be heated by controlling pre-flash conditions corresponding to the above.

上記課題を解決するための、請求項8記載の発明に係るX線管の加熱制御方法は、請求項7に記載のX線管の加熱制御方法において、前記予備加熱過程に要した時間が前回の予備加熱の時間よりも短いときには、前記X線管フィラメントを制御する電力量が前回よりも少なくなるように前記プリフラッシュの条件を設定することを特徴とする。   An X-ray tube heating control method according to an eighth aspect of the invention for solving the above-mentioned problem is the X-ray tube heating control method according to the seventh aspect, wherein the time required for the preliminary heating step is the previous time. When the preheating time is shorter, the preflash condition is set so that the amount of power for controlling the X-ray tube filament is less than the previous time.

上記課題を解決するための、請求項9記載の発明に係るX線管の加熱制御方法は、請求項7又は8に記載のX線管の加熱制御方法において、前記プリフラッシュの条件は、前記プリフラッシュ過程における前記X線フィラメントの電流、電圧、電力及び前記プリフラッシュを行う時間の何れか1つ又は複数の組み合わせにより制御可能であることを特徴とする。   In order to solve the above problem, the X-ray tube heating control method according to the invention described in claim 9 is the X-ray tube heating control method according to claim 7 or 8, wherein the preflash condition is the It is controllable by any one or a combination of the current, voltage, power and time for performing the preflash in the preflash process.

本発明によれば、予備加熱時間(前回の撮影信号オフから撮影信号オンまでの時間)に応じてプリフラッシュ時のフィラメントの電力(電流/電圧)又はそれに要する時間を制御するようにしたので、プリフラッシュ後のフィラメントの温度が上がりすぎるということがなくなる。これは、X線管のフィラメントの温度が本加熱時において常に安定となることに繋がり、結果として安定したX線画像を得ることができる。   According to the present invention, the filament power (current / voltage) at the time of preflash or the time required for it is controlled according to the preheating time (time from the previous photographing signal off to the photographing signal on). The temperature of the filament after preflash is not increased too much. This leads to that the temperature of the filament of the X-ray tube is always stable during the main heating, and as a result, a stable X-ray image can be obtained.

以下、図面を参照して本発明に係るX線管装置を好ましい実施形態により説明する。X線管装置は、医用分野、非破壊検査分野等の様々な分野で適用されている。ここでは、医用分野を例に説明する。さらに、X線管装置は、医用分野の中でも、X線診断装置やX線CT等様々な装置に装備される。管電流の制御機会の多いX線診断装置への適用を例に説明する。   Hereinafter, an X-ray tube apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings according to preferred embodiments. X-ray tube apparatuses are applied in various fields such as the medical field and the non-destructive inspection field. Here, the medical field will be described as an example. Furthermore, the X-ray tube apparatus is installed in various apparatuses such as an X-ray diagnostic apparatus and an X-ray CT in the medical field. An example of application to an X-ray diagnostic apparatus with many tube current control opportunities will be described.

X線診断装置について簡単に説明すると、X線診断装置では、X線管装置のX線管が、フラットパネル又はイメージインテンシファイアとTVカメラとの組み合わせで構成されたX線検出器に対して被検体を挟んでアーム又はスタンドにより保持されている。X線検出器で検出されたX線信号に基づいて画像データが生成され、表示される。   The X-ray diagnostic apparatus will be described briefly. In the X-ray diagnostic apparatus, the X-ray tube of the X-ray tube apparatus is a flat panel or an X-ray detector composed of a combination of an image intensifier and a TV camera. It is held by an arm or a stand with the subject interposed therebetween. Image data is generated and displayed based on the X-ray signal detected by the X-ray detector.

本発明は、本加熱時におけるフィラメント温度のばらつきをなくし、安定したX線像を得る手法として、予備加熱時間の長さに応じて、プリフラッシュの電力量を制御する手法を本発明者が知見により想到したものである。従って、以下、X線管フィラメント制御電流やX線管フィラメントに印加される電圧は、本発明に係るX線管装置において前記電力に相対するものである。   In the present invention, as a technique for obtaining a stable X-ray image by eliminating variations in filament temperature during the main heating, the present inventor has found a technique for controlling the amount of pre-flash power according to the length of the preheating time. This is what I came up with. Therefore, hereinafter, the X-ray tube filament control current and the voltage applied to the X-ray tube filament are relative to the power in the X-ray tube apparatus according to the present invention.

図1は本実施形態に係るX線管装置の主要部の構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態に係るX線管装置は、グリッド制御X線管10とX線高電圧装置20と制御装置30とから構成される。X線管10は、内部が高真空に保持されているガラスバルブ11を有する。ガラスバルブ11には、一般的には回転式の陽極12と、陰極とが収容される。陰極は、フィラメント13と、図示しない集束電極とから構成される。陰極と陽極11との間には、グリッド14が配置される。   FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a main part of the X-ray tube apparatus according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the X-ray tube device according to this embodiment includes a grid control X-ray tube 10, an X-ray high voltage device 20, and a control device 30. The X-ray tube 10 has a glass bulb 11 whose interior is maintained at a high vacuum. The glass bulb 11 generally contains a rotary anode 12 and a cathode. The cathode is composed of a filament 13 and a focusing electrode (not shown). A grid 14 is disposed between the cathode and the anode 11.

X線高電圧装置20は、陽極12と陰極との間に高電圧を印加するための高電圧電源21と、高電圧電源21の出力を制御する高電圧制御回路22と、フィラメント13にフィラメント制御電流を供給するフィラメント加熱電源23と、陰極13に対してグリッド14に負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)を印加するグリッド制御用電源24と、フィラメント加熱電源23とグリッド制御用電源24を制御する陰極制御回路25とを有する。   The X-ray high voltage device 20 includes a high voltage power supply 21 for applying a high voltage between the anode 12 and the cathode, a high voltage control circuit 22 for controlling the output of the high voltage power supply 21, and filament control for the filament 13. A filament heating power source 23 that supplies current, a grid control power source 24 that applies a negative bias voltage (grid control voltage) to the grid 14 with respect to the cathode 13, and a filament heating power source 23 and a grid control power source 24 are controlled. And a cathode control circuit 25.

制御装置30は、X線制御回路31を有する。X線制御回路31は、管電圧制御信号を高電圧制御回路22に供給する。管電圧制御信号に応じた電圧が陽極12と陰極との間に印加される。X線制御回路31は、フィラメント電流制御信号及びグリッド電圧制御信号を陰極制御回路25に供給する。フィラメント電流制御信号に応じたフィラメント制御電流がフィラメント加熱電源23から発生される。実際にフィラメント13に流れる電流は、管電流が流れていないとき(予備加熱時)、フィラメント制御電流に一致し、また管電流が流れているとき、フィラメント制御電流と管電流との和又は差に一致する。グリッド制御用電源24は、グリッド電圧を、グリッド電圧制御信号に応じた電圧だけ、陰極電位から低下させる。陰極電位に対するグリッド電位を調整することにより、電子の放出を制御することができる。なお、この制御装置30、特にX線制御回路31が本請求項にいう制御手段に相当する。   The control device 30 has an X-ray control circuit 31. The X-ray control circuit 31 supplies a tube voltage control signal to the high voltage control circuit 22. A voltage corresponding to the tube voltage control signal is applied between the anode 12 and the cathode. The X-ray control circuit 31 supplies a filament current control signal and a grid voltage control signal to the cathode control circuit 25. A filament control current corresponding to the filament current control signal is generated from the filament heating power source 23. When the tube current is not flowing (during preheating), the current that actually flows through the filament 13 matches the filament control current, and when the tube current is flowing, the current is the sum or difference between the filament control current and the tube current. Match. The grid control power supply 24 reduces the grid voltage from the cathode potential by a voltage corresponding to the grid voltage control signal. The emission of electrons can be controlled by adjusting the grid potential with respect to the cathode potential. The control device 30, particularly the X-ray control circuit 31, corresponds to the control means described in the claims.

X線制御回路31には、管電圧設定部、管電流操作部、撮影ボタンを有する操作部32が接続される。X線制御回路31は、管電圧設定部を介して設定された管電圧(管電圧設定値)、管電流設定部を介して設定された管電流(管電流設定値)に応じた管電圧制御信号、フィラメント電流制御信号及びグリッド制御信号を撮影ボタン押下時に発生する。   Connected to the X-ray control circuit 31 is a tube voltage setting unit, a tube current operation unit, and an operation unit 32 having an imaging button. The X-ray control circuit 31 performs tube voltage control according to the tube voltage (tube voltage setting value) set via the tube voltage setting unit and the tube current (tube current setting value) set via the tube current setting unit. A signal, a filament current control signal, and a grid control signal are generated when the photographing button is pressed.

このX線制御回路31には、リファレンス記憶部33が設けられている。このリファレンス記憶部33には、予備加熱時間に対応するプリフラッシュ条件、すなわち、予備加熱時間に対応するフィラメント13の電力、又は予備加熱時間に対応するプリフラッシュを行う時間がテーブルの形態で予め記憶されている。このプリフラッシュ条件は、予備加熱時間に対応するフィラメント13の電流、X線管に印加される電圧、それらに依存する電力及びプリフラッシュを行う時間の何れかによる組み合わせでもよい。また、リファレンス記憶部33には、プリフラッシュ条件の他に、予備加熱条件や本加熱条件が予め記憶されている。ここで、予備加熱条件とは、例えば、予備加熱時のフィラメント13の電力量である。本加熱条件とは、例えば、本加熱時のフィラメント13の電力量である。ここで、電力量は、加熱量に比例し、フィラメント13の電圧、電流、電力、又はそれらを印加しているプリフラッシュ時間の何れによっても制御可能である。   The X-ray control circuit 31 is provided with a reference storage unit 33. The reference storage unit 33 stores in advance a preflash condition corresponding to the preheating time, that is, the power of the filament 13 corresponding to the preheating time or the time for performing the preflash corresponding to the preheating time in the form of a table. Has been. This preflash condition may be a combination of any one of the current of the filament 13 corresponding to the preheating time, the voltage applied to the X-ray tube, the power depending on them, and the preflash time. In addition to the preflash conditions, the reference storage unit 33 stores preheating conditions and main heating conditions in advance. Here, preheating conditions are the electric energy of the filament 13 at the time of preheating, for example. The main heating condition is, for example, the amount of power of the filament 13 during the main heating. Here, the amount of electric power is proportional to the amount of heating, and can be controlled by any of the voltage, current, and electric power of the filament 13 or the preflash time during which they are applied.

ここで、リファレンス記憶部33に予め記憶されている前記テーブルの例を図8に示す。図8(a)は、前記予備加熱時間と、それに応じたプリフラッシュを行う時間とを関連付けたテーブル(フィラメント13の電力Hが一定)を示し、図8(b)は、前記予備加熱時間と、それに応じたフィラメント13の電力の比とを関連付けたテーブル(プリフラッシュ時間Tが一定)を示したものである。図8(a),(b)に示すテーブルによれば、設定されるプリフラッシュ時間(T)及びフィラメント13の電力比(プリフラッシュ時におけるフィラメント13の電力Hと本加熱時におけるフィラメント13の電力Hとの比)は、予備加熱時間が短いほど短く、又は少なく設定されている。 An example of the table stored in advance in the reference storage unit 33 is shown in FIG. FIG. 8A shows a table (the power H of the filament 13 is constant) in which the preheating time is associated with the preflash time corresponding thereto, and FIG. 8B shows the preheating time. FIG. 6 shows a table (pre-flash time T is constant) that correlates the power ratio of the filament 13 corresponding thereto. According to the tables shown in FIGS. 8A and 8B, the preflash time (T 2 ) to be set and the power ratio of the filament 13 (the power H 2 of the filament 13 during preflash and the filament 13 during main heating). The ratio of the power H 0 to the power H 0 is set to be shorter or smaller as the preheating time is shorter.

そして、X線制御回路31は、リファレンス記憶部33に設定されている予備加熱時間と、フィラメント13の電力及びプリフラッシュを行う時間との関係を前記テーブルを参照し、フィラメント電流制御信号及び/又はグリッド制御信号を変化させる。なお、前記フィラメント13の電力は、前記フィラメント制御電流又は電圧であってもよい。   Then, the X-ray control circuit 31 refers to the table for the relationship between the preheating time set in the reference storage unit 33, the power of the filament 13 and the preflash time, and the filament current control signal and / or Change the grid control signal. The power of the filament 13 may be the filament control current or voltage.

図2及び図3は、本実施形態におけるX線管の加熱制御方法として、操作者による撮影ボタンの押下(撮影信号のオン/オフ)と、それに応じてX線制御回路31が制御する、X線管の電力と、フィラメント13の予備加熱、プリフラッシュ過程及び本加熱過程のそれぞれに要する時間とを示す図である。   FIGS. 2 and 3 show an X-ray tube heating control method according to this embodiment, in which an X-ray control circuit 31 controls an X-ray control circuit 31 in response to pressing of an imaging button (on / off of an imaging signal) by an operator. It is a figure which shows the electric power of a tube, and the time which each requires preheating of the filament 13, a preflash process, and this heating process.

図2及び図3に示すように、本実施形態におけるX線管装置を用いた撮影では、X線管のフィラメントに対して、「予備加熱」過程、「プリフラッシュ」過程及び「本加熱」過程が一連の動作として行われる。なお、本請求項における撮影開始タイミングとは、操作者によって撮影ボタンが押下されたとき(撮影信号オン)のタイミングを指すものである。   As shown in FIGS. 2 and 3, in imaging using the X-ray tube apparatus in the present embodiment, the “preheating” process, the “preflash” process, and the “main heating” process are performed on the filament of the X-ray tube. Is performed as a series of operations. The shooting start timing in this claim refers to the timing when the shooting button is pressed by the operator (shooting signal on).

具体的には、操作部32の撮影ボタンが入力(撮影信号オン)されることによって、予備加熱状態にあったフィラメント13を、前記本加熱条件で予め設定された温度の本加熱状態にスムーズに移行させるためのプリフラッシュ過程が、その直前の予備加熱時間に応じて所定時間T(t〜t)行われ、その後、予め設定されたプリフラッシュ条件及び本加熱条件に基づいて撮影が終了(撮影信号オフ)されるまで(t〜t)、フィラメント13が本加熱される。 Specifically, when the photographing button of the operation unit 32 is input (the photographing signal is turned on), the filament 13 that has been in the preheating state can be smoothly brought into the main heating state at a temperature preset in the main heating condition. A pre-flash process for shifting is performed for a predetermined time T 1 (t 1 to t 2 ) in accordance with the pre-heating time immediately before that, and then photographing is performed based on the pre-flash conditions and the main heating conditions set in advance. The filament 13 is fully heated until it is finished (the imaging signal is turned off) (t 2 to t 3 ).

なお、「プリフラッシュ」過程は、操作部32で設定される撮影条件(X線管に印加される電圧、フィラメント電流)によって決定されるフィラメント13の単位時間あたりの電力Hよりも大の電力Hが所定時間(T)与えられる過程である。 The “preflash” process is a power larger than the power H 0 per unit time of the filament 13 determined by the imaging conditions (voltage applied to the X-ray tube, filament current) set by the operation unit 32. This is a process in which H 1 is given for a predetermined time (T 1 ).

以下、本実施形態における「予備加熱」過程、「プリフラッシュ」過程及び「本加熱」過程について図2及び図3を比較しながら説明する。まず、撮影ボタンが押される以前(〜t)において、X線制御回路31によるフィラメント13の電流制御は、リファレンス記憶部33に記録された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、比較的低い予備加熱電流に設定される。このようにしてフィラメント13には予備加熱電流が流れ、フィラメント13は予備的に加熱される。 Hereinafter, the “preheating” process, the “preflash” process, and the “main heating” process in the present embodiment will be described with reference to FIG. 2 and FIG. First, before the radiographing button is pressed (˜t 1 ), the current control of the filament 13 by the X-ray control circuit 31 is compared by the X-ray control circuit 31 that refers to the preheating condition recorded in the reference storage unit 33. Is set to a low preheating current. In this way, a preheating current flows through the filament 13 and the filament 13 is preliminarily heated.

そして、フィラメント13が予備加熱されている状態で、操作者により撮影ボタンが押される(t)と、操作部32からX線制御回路31に透視信号がオフレベルからオンレベルに変位し、本加熱過程が終了する(t)までその状態は継続する。透視信号がオンレベルに維持される期間、透視が行われる。 Then, when the imaging button is pressed by the operator with the filament 13 preheated (t 2 ), the fluoroscopic signal is shifted from the off level to the on level from the operation unit 32 to the X-ray control circuit 31. The state continues until the heating process ends (t 4 ). The fluoroscopy is performed while the fluoroscopy signal is maintained at the on level.

このとき、X線制御回路31は、リファレンス記憶部33に記憶された本加熱条件及びプリフラッシュ条件を参照して、前記予備加熱電流よりも大きな電流(電力)が設定されたプリフラッシュ期間(t〜t)と、プリフラッシュ期間の電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱期間(t〜t)とでフィラメント13を加熱制御する。具体的には、操作者によって撮影ボタンが押下された後は、それまでの予備加熱時間に応じたプリフラッシュ期間の時間をリファレンス記憶部33のテーブル(図8(a)参照)から取得してフィラメント13を加熱制御する。なお、前記プリフラッシュ期間は前記プリフラッシュ過程を示す期間であり、前記本加熱期間とは、本加熱過程を示す期間である。 At this time, the X-ray control circuit 31 refers to the main heating condition and the preflash condition stored in the reference storage unit 33, and the preflash period (t) in which a current (power) larger than the preheating current is set. and 1 ~t 2), heating control filament 13 out and the heating period in a small current (power) than the current of the pre-flash period (power) (t 2 ~t 3). Specifically, after the photographing button is pressed by the operator, the pre-flash period time corresponding to the preheating time until then is obtained from the table of the reference storage unit 33 (see FIG. 8A). The heating of the filament 13 is controlled. The pre-flash period is a period indicating the pre-flash process, and the main heating period is a period indicating the main heating process.

そして、プリフラッシュ期間の時間が経過した(t)ことを契機にX線制御回路31は、リファレンス記憶部33に記憶された本加熱条件を参照して取得した電力及び本加熱時間にしたがい、本加熱終了時(t)までフィラメント13を加熱制御する。 Then, when the time of the pre-flash period has elapsed (t 2 ), the X-ray control circuit 31 follows the power and the main heating time acquired with reference to the main heating condition stored in the reference storage unit 33. The filament 13 is heated and controlled until the end of the main heating (t 3 ).

その後、図2及び図3に示すように、2回目の撮影指示(t:撮影信号オン)がなされるまでは、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、前記予備加熱条件に基づいた電力量で予備加熱がToff(t〜t)の時間で行われる。 Thereafter, as shown in FIGS. 2 and 3, the X-ray control circuit 31 refers to the preheating condition stored in the reference storage unit 33 until the second imaging instruction (t 4 : imaging signal ON) is made. Thus, preheating is performed for a time T off (t 3 to t 4 ) with the amount of electric power based on the preheating conditions.

ここで、X線制御回路31内には、操作者によって入力された撮影信号を検知するタイマー31aが設けられており、当該タイマー31aが、本加熱過程終了時(t)から、操作者により撮影ボタンが押されたとき(t)までの経過時間、すなわち前記予備加熱時間を計測している。このタイマー31aが本請求項にいう検出手段である。また、このタイマー31aは、撮影ボタンが押されたときの撮影開始タイミングを検出し、その間に経過した時間から、プリフラッシュ過程及び本加熱過程に要した時間を差し引いて予備加熱時間を算出する。 Here, the X-ray control circuit 31 is provided with a timer 31a for detecting an imaging signal input by the operator. The timer 31a is set by the operator from the end of the main heating process (t 3 ). The elapsed time until the photographing button is pressed (t 4 ), that is, the preliminary heating time is measured. This timer 31a is a detecting means referred to in this claim. The timer 31a detects the photographing start timing when the photographing button is pressed, and calculates the preheating time by subtracting the time required for the preflash process and the main heating process from the time elapsed during that time.

従って、図2に示すように、X線制御回路31は、その予備加熱時間(t〜t)に応じて、リファレンス記憶部33に記憶されたテーブル(図8(a)参照)を元に特定されたプリフラッシュ条件として、予備加熱時間Toff(t〜t)経過後のプリフラッシュ過程をフィラメント13に対して所定時間T(t〜t)行う。 Therefore, as shown in FIG. 2, the X-ray control circuit 31 is based on the table (see FIG. 8A) stored in the reference storage unit 33 according to the preheating time (t 3 to t 4 ). as a pre-flush condition specified in, performs predetermined time T 2 (t 4 ~t 5) with respect to pre-heating time T off (t 3 ~t 4) pre-flash operation after the lapse of the filament 13.

このようにして特定されたプリフラッシュ時間(T)が経過した後は、プリフラッシュ過程における電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱過程(t〜t)を経て、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、フィラメント13は再び予備加熱される(t〜)。 After the pre-flash time (T 2 ) thus specified has elapsed, the main heating process (t 5 to t 6 ) with a current (power) smaller than the current (power) in the pre-flash process is performed. The filament 13 is preheated again by the X-ray control circuit 31 referring to the preheating conditions stored in the reference storage unit 33 (t 6- ).

一方、図3に示すように、タイマー31aが計測した予備加熱時間Toff(t〜t)が、図2に示した予備加熱時間Toff(t〜t)よりも短かった場合には、X線制御回路31は、その時間(t〜t)に応じて、リファレンス記憶部33に設定されたテーブル(図8(a)参照)を元に特定されたプリフラッシュ時間T(t〜t)で、予備加熱時間Toff(t〜t)経過後にプリフラッシュ過程をフィラメント13に対して行う。ここで、図2及び図3からも明確なように、予備加熱期間Toffが短い場合にはそれに比例してプリフラッシュ時間Tもプリフレッシュ時間T(予備加熱時間が十分長い場合のプレフラッシュ時間)より短く設定される。 On the other hand, as shown in FIG. 3, when the timer 31a is the measured preliminary heating time T off (t 3 ~t 4), shorter than the preliminary heating time T off (t 3 ~t 4) shown in FIG. 2 The X-ray control circuit 31 determines the preflash time T specified based on the table (see FIG. 8A) set in the reference storage unit 33 according to the time (t 3 to t 4 ). 2 (t 4 to t 5 ), a preflash process is performed on the filament 13 after the preheating time T off (t 3 to t 4 ) has elapsed. In this case, as is clear from FIGS. 2 and 3, the preheating period T off proportionally if short pre flush time T 2 also flops refresh time T 1 (preheating time if long enough pre (Flash time) is set shorter.

このようにして特定されたプリフラッシュ時間(T)が経過した後は、プリフラッシュ過程における電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱過程(t〜t)を経て、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、フィラメント13は再び予備加熱される(t〜)。 After the pre-flash time (T 2 ) thus specified has elapsed, the main heating process (t 5 to t 6 ) with a current (power) smaller than the current (power) in the pre-flash process is performed. The filament 13 is preheated again by the X-ray control circuit 31 referring to the preheating conditions stored in the reference storage unit 33 (t 6- ).

図5は、本発明に係るX線管装置の一実施形態において、「予備加熱」過程〜「プリフラッシュ」過程〜「本加熱」過程の各過程(期間)におけるフィラメント温度を示す図であり、図4は、図5の比較例として、2度の撮影(撮影信号オン〜撮影信号オフ)のうち、どちらの「プリフラッシュ」時間(T)も同じ時間にした場合の各期間におけるフィラメント温度を示す図である。図4及び図5共に、フィラメント13の温度を破線で示した。 FIG. 5 is a diagram showing the filament temperature in each process (period) of the “preheating” process to the “preflash” process to the “main heating” process in one embodiment of the X-ray tube apparatus according to the present invention; FIG. 4 shows, as a comparative example of FIG. 5, filament temperature in each period when both “pre-flash” times (T 1 ) are set to the same time out of the two shootings (shooting signal ON to shooting signal OFF). FIG. 4 and 5, the temperature of the filament 13 is indicated by a broken line.

本発明を示す図5に示されるように、予備加熱に要する時間に応じて2度目の撮影時のプリフラッシュ時間(T)を、1度目の撮影時のプリフラッシュ時間(T)よりも短く設定することにより、フィラメント温度が、図4に示すように上がりすぎることがなくなるだけでなく、2度目の撮影時の本加熱過程(t〜t)では、フィラメント13の温度が平坦な推移で確認できる。 As shown in FIG. 5 showing the present invention, the preflash time (T 2 ) at the time of the second photographing is set to be longer than the preflash time (T 1 ) at the time of the first photographing depending on the time required for the preheating. By setting the length short, the filament temperature does not become too high as shown in FIG. 4, and the filament 13 temperature is flat in the main heating process (t 5 to t 6 ) at the second imaging. It can be confirmed by the transition.

これは、撮影(照射)毎のX線管の管電流のばらつきが改善されたことを示しており、また、操作者の撮影ボタンを操作する間隔(撮影信号オン〜撮影信号オフ)を短くする余地ができ、検査自体を短時間で行うことができる。   This indicates that the variation in the tube current of the X-ray tube for each imaging (irradiation) has been improved, and the interval (imaging signal ON to imaging signal OFF) for operating the imaging button of the operator is shortened. There is room, and the inspection itself can be performed in a short time.

従って、本発明によれば、予備加熱時間(前回の撮影信号オフから撮影信号オンまでの時間)に応じてプリフラッシュを行う時間を制御するようにしたので、プリフラッシュ過程後のフィラメント13の温度が上がりすぎるということがなくなる。これは、X線管のフィラメント13の温度が本加熱過程において常に安定となることに繋がり、結果として安定したX線画像を得ることができる。   Therefore, according to the present invention, the pre-flash time is controlled in accordance with the preheating time (the time from the previous photographing signal off to the photographing signal on), so that the temperature of the filament 13 after the pre-flash process is controlled. Is no longer too high. This leads to the temperature of the filament 13 of the X-ray tube being always stable during the main heating process, and as a result, a stable X-ray image can be obtained.

(他の実施形態)
次に、本発明の他の実施形態について図面を参照して以下に説明する。図6及び図7は、本実施形態におけるX線管の加熱制御方法として、操作者による撮影ボタンの押下(撮影信号のオン/オフ)と、それに応じてX線制御回路31が制御する、X線管の電力と、フィラメントの予備加熱過程、プリフラッシュ過程及び本加熱過程のそれぞれに要する時間とを示す図である。
(Other embodiments)
Next, another embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIGS. 6 and 7 illustrate an X-ray tube heating control method according to this embodiment, in which an X-ray control circuit 31 controls an X-ray control circuit 31 in response to pressing of an imaging button (ON / OFF of an imaging signal) by an operator. It is a figure which shows the electric power of a tube, and the time which each requires in the preheating process of a filament, a preflash process, and this heating process.

図6及び図7に示すように、本実施形態におけるX線管装置を用いた撮影でも、X線管のフィラメント13に対して、「予備加熱」過程、「プリフラッシュ」過程及び「本加熱」過程が一連の動作として行われる。   As shown in FIGS. 6 and 7, even in imaging using the X-ray tube apparatus in the present embodiment, the “preheating” process, the “preflash” process, and the “main heating” are performed on the filament 13 of the X-ray tube. The process is performed as a series of actions.

具体的には、操作部32の撮影ボタンが入力(撮影信号オン)されることによって、予備加熱状態にあったフィラメント13を、予め設定された温度の本加熱状態にスムーズに移行させるためのプリフラッシュ過程が直前の予備加熱時間に応じて所定時間T(t〜t)行われ、その後、予め設定されたプリフラッシュ条件及び本加熱条件に基づいて撮影が終了(撮影信号オフ)されるまで(t〜t)、フィラメント13が本加熱される。 Specifically, when the photographing button of the operation unit 32 is input (the photographing signal is turned on), the pre-heated filament 13 that has been in the pre-heated state is preliminarily moved to the main heating state at a preset temperature. The flash process is performed for a predetermined time T 1 (t 1 to t 2 ) in accordance with the immediately preceding preheating time, and then the photographing is finished based on the preflash conditions and the main heating conditions set in advance (the photographing signal is turned off). Until this time (t 2 to t 3 ), the filament 13 is heated.

なお、「プリフラッシュ」過程は、前述の実施形態と同様、操作部32で設定される撮影条件(X線管に印加される電圧、フィラメント電流)によって決定されるフィラメント13の単位時間あたりの電力Hよりも大の電力Hが所定時間(T)与えられる過程である。 Note that the “preflash” process is the power per unit time of the filament 13 determined by the imaging conditions (voltage applied to the X-ray tube, filament current) set by the operation unit 32 as in the above-described embodiment. This is a process in which a power H 1 greater than H 0 is given for a predetermined time (T 1 ).

以下、本実施形態における「予備加熱」過程、「プリフラッシュ」過程及び「本加熱」過程について図6及び図7を比較しながら説明する。まず、撮影ボタンが押される以前(〜t)において、X線制御回路31によるフィラメント13の電流制御は、リファレンス記憶部33を参照したX線制御回路31により、比較的低い予備加熱電流に設定される。このようにしてフィラメント13には予備加熱電流が流れ、フィラメント13は予備的に加熱される。 Hereinafter, the “preheating” process, the “preflash” process, and the “main heating” process in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 6 and 7. First, before the radiographing button is pressed (˜t 1 ), the current control of the filament 13 by the X-ray control circuit 31 is set to a relatively low preheating current by the X-ray control circuit 31 referring to the reference storage unit 33. Is done. In this way, a preheating current flows through the filament 13 and the filament 13 is preliminarily heated.

そして、フィラメント13が予備加熱されている状態で、操作者により撮影ボタンが押される(t)と、操作部32からX線制御回路31に透視信号がオフレベルからオンレベルに変位し、撮影ボタンが再度押される(t)までその状態は継続する。透視信号がオンレベルに維持される期間、透視が行われる。 When the imaging button is pressed by the operator with the filament 13 preheated (t 2 ), the fluoroscopic signal is shifted from the off-level to the on-level from the operation unit 32 to the X-ray control circuit 31, and imaging is performed. The state continues until the button is pressed again (t 4 ). The fluoroscopy is performed while the fluoroscopy signal is maintained at the on level.

このとき、X線制御回路31は、リファレンス記憶部33を参照して、前記予備加熱電流よりも大きな電流(電力)が設定されたプリフラッシュ期間(t〜t)と、プリフラッシュ期間の電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱期間(t〜t)とでフィラメント13を加熱制御する。具体的には、操作者によって撮影ボタンが押下された後は、それまでの予備加熱時間に応じたプリフラッシュ期間の時間をリファレンス記憶部33のテーブル(図8(a)参照)から取得してフィラメント13を加熱制御する。 At this time, the X-ray control circuit 31 refers to the reference storage unit 33, the preflash period (t 1 to t 2 ) in which a current (power) larger than the preheating current is set, and the preflash period The filament 13 is heated and controlled during the main heating period (t 2 to t 3 ) with a current (power) smaller than the current (power). Specifically, after the photographing button is pressed by the operator, the pre-flash period time corresponding to the preheating time until then is obtained from the table of the reference storage unit 33 (see FIG. 8A). The heating of the filament 13 is controlled.

そして、プリフラッシュ期間の時間が経過した(t)ことを契機にX線制御回路31は、リファレンス記憶部33に記憶された本加熱条件を参照して取得した電力及び本加熱時間にしたがい、本加熱終了時(t)までフィラメント13を加熱制御する。 Then, when the time of the pre-flash period has elapsed (t 2 ), the X-ray control circuit 31 follows the power and the main heating time acquired with reference to the main heating condition stored in the reference storage unit 33. The filament 13 is heated and controlled until the end of the main heating (t 3 ).

その後、図6及び図7に示すように、2回目の撮影指示(t:撮影信号オン)がなされるまでは、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、前回と同様の電力で予備加熱がToff(t〜t)の時間で行われる。 Thereafter, as shown in FIGS. 6 and 7, the X-ray control circuit 31 refers to the preheating conditions stored in the reference storage unit 33 until the second imaging instruction (t 4 : imaging signal ON) is made. Thus, preheating is performed at the time T off (t 3 to t 4 ) with the same power as the previous time.

ここで、本実施形態においても、X線制御回路31内には、操作者によって入力された撮影信号を検知するタイマー31aが設けられており、当該タイマー31aが、本加熱過程終了時(t)から、操作者により撮影ボタンが押されたとき(t)までの経過時間、すなわち前記予備加熱時間を計測している。 Here, also in the present embodiment, the X-ray control circuit 31 is provided with a timer 31a for detecting an imaging signal input by the operator, and the timer 31a is at the end of the main heating process (t 3). ) To the time (t 4 ) when the photographing button is pressed by the operator, that is, the preheating time is measured.

従って、図6に示すように、X線制御回路31は、その予備加熱時間(t〜t)に応じて、リファレンス記憶部33に設定されたテーブル(図8(b)参照)の電力の比(H/H)を元に特定された電力H(Hは本加熱条件によって予め設定されている。)を与えるべく、予備加熱時間Toff(t〜t)経過後のプリフラッシュ過程(t〜t)を当該電力Hに応じたフィラメント電流又はX線管に印加する電圧で行う。 Therefore, as shown in FIG. 6, the X-ray control circuit 31 uses the power of the table (see FIG. 8B) set in the reference storage unit 33 according to the preheating time (t 3 to t 4 ). Elapse of preheating time T off (t 3 to t 4 ) in order to give power H 2 specified based on the ratio (H 2 / H 0 ) of H 2 (H 0 is preset by the present heating condition) The subsequent pre-flash process (t 4 to t 5 ) is performed with a filament current corresponding to the power H 2 or a voltage applied to the X-ray tube.

このようにして、プリフラッシュ過程(t〜t)が経過した後は、プリフラッシュ過程における電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱過程(t〜t)を経て、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、フィラメント13は再び予備加熱される(t〜)。 Thus, after the pre-flash process (t 4 to t 5 ) has elapsed, the main heating process (t 5 to t 6 ) with a current (power) smaller than the current (power) in the pre-flash process is performed. Then, the filament 13 is preheated again by the X-ray control circuit 31 that refers to the preheating conditions stored in the reference storage unit 33 (t 6- ).

一方、図7に示すように、タイマー31aが計測した予備加熱時間Toff(t〜t)が、図6に示した予備加熱時間Toff(t〜t)よりも短かった場合には、X線制御回路31は、その時間(t〜t)に応じて、リファレンス記憶部33に設定されたテーブル(図8(b)参照)の電力の比(H/H)を元に特定された電力H(Hは本加熱条件によって予め設定された電力)を与えるべく、予備加熱時間Toff(t〜t)経過後のプリフラッシュ過程(t〜t)を当該電力に応じたフィラメント電流又はX線管に印加する電圧で行う。ここで、図6及び図7からも明確なように、予備加熱時間Toffが短い場合には、それに比例して電力Hも電力H(予備加熱時間が十分長い場合の電力)より小さく設定される。 On the other hand, as shown in FIG. 7, when the timer 31a is the measured preliminary heating time T off (t 3 ~t 4), shorter than the preliminary heating time T off (t 3 ~t 4) shown in FIG. 6 The X-ray control circuit 31 compares the power ratio (H 2 / H 0 ) of the table (see FIG. 8B) set in the reference storage unit 33 according to the time (t 3 to t 4 ). ) power H 2 (H 0 specified based on the order gives a preset power) by the heating conditions, pre-heating time T off (t 3 ~t 4) pre-flush step after lapse (t 4 ~ t 5 ) is performed with a filament current corresponding to the power or a voltage applied to the X-ray tube. Here, as it is clear from FIGS. 6 and 7, when the preheating time T off is short, less than proportionately power H 2 also power H 1 (power when the preheating time is sufficiently long) Is set.

このようにして、プリフラッシュ時間T(t〜t)が経過した後は、プリフラッシュ過程における電流(電力)よりも小の電流(電力)での本加熱過程(t〜t)を経て、リファレンス記憶部33に記憶された予備加熱条件を参照したX線制御回路31により、フィラメント13は再び予備加熱される(t〜)。 In this way, after the preflash time T 2 (t 4 to t 5 ) has elapsed, the main heating process (t 5 to t 6 ) with a current (power) smaller than the current (power) in the preflash process. ), The filament 13 is preheated again by the X-ray control circuit 31 referring to the preheating conditions stored in the reference storage unit 33 (t 6- ).

以上説明したように、本発明によれば、予備加熱時間(前回の撮影信号オフから撮影信号オンまでの時間)に応じてプリフラッシュ過程における電力(フィラメント電流、管電圧)を制御するようにしたので、プリフラッシュ過程後のフィラメント13の温度が上がりすぎるということがなくなる。これは、X線管のフィラメント13の温度が本加熱過程において常に安定となることに繋がり、結果として安定したX線画像を得ることができる。   As described above, according to the present invention, the power (filament current, tube voltage) in the preflash process is controlled according to the preheating time (the time from the previous photographing signal off to the photographing signal on). Therefore, the temperature of the filament 13 after the preflash process is not excessively increased. This leads to the temperature of the filament 13 of the X-ray tube being always stable during the main heating process, and as a result, a stable X-ray image can be obtained.

上述の実施形態は、本発明の一例であり、本発明は上記実施形態に限定されることはない。また、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。   The above-described embodiment is an example of the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiment. In the implementation stage, various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Furthermore, the above embodiment includes various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, some constituent requirements may be deleted from all the constituent requirements shown in the embodiment.

本発明に係るX管装置の一実施形態の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of one Embodiment of the X tube apparatus which concerns on this invention. 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の一実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたプリフラッシュの時間(T)を示す図。Shows a preheating time (T off) is controlled by the X-ray control circuit on the basis of the pre-flash time (T 2) in one embodiment of a heating control method of the X-ray tube device and the X-ray tube according to the present invention . 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の一実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたプリフラッシュの時間(T)を示す図。Shows a preheating time (T off) is controlled by the X-ray control circuit on the basis of the pre-flash time (T 2) in one embodiment of the heating method of controlling the X-ray tube device and the X-ray tube according to the present invention . 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の一実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたフィラメントの温度変化を示す図。The figure which shows the temperature change of the filament controlled by the X-ray control circuit based on preheating time ( Toff ) in one Embodiment of the X-ray tube apparatus which concerns on this invention, and the heating control method of an X-ray tube. 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の一実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたフィラメントの温度変化を示す図。The figure which shows the temperature change of the filament controlled by the X-ray control circuit based on preheating time ( Toff ) in one Embodiment of the X-ray tube apparatus which concerns on this invention, and the heating control method of an X-ray tube. 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の他の実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたプリフラッシュの電力(H)を示す図。FIG. 4 shows the pre-flash power (H 2 ) controlled by the X-ray control circuit based on the preheating time (T off ) in another embodiment of the X-ray tube apparatus and X-ray tube heating control method according to the present invention. Figure. 本発明に係るX線管装置及びX線管の加熱制御方法の他の実施形態において予備加熱時間(Toff)に基づいてX線制御回路により制御されたプリフラッシュの電力(H)を示す図。FIG. 4 shows the pre-flash power (H 2 ) controlled by the X-ray control circuit based on the preheating time (T off ) in another embodiment of the X-ray tube apparatus and X-ray tube heating control method according to the present invention. Figure. 本発明に係るX管装置及びX線管の加熱制御方法の実施形態における予備加熱時間(Toff)とプリフラッシュの時間(T)又はフィラメントの電力比(H/H)とを関連付けるテーブルを示す図。Associating the preheating time (T off ) and the preflash time (T 2 ) or the power ratio (H 2 / H 0 ) of the X tube apparatus and the X-ray tube heating control method according to the present invention. The figure which shows a table.

符号の説明Explanation of symbols

10 グリッド制御X線管
11 ガラスバルブ
12 陽極
13 フィラメント
14 グリッド
20 X線高電圧装置
21 高電圧電源
22 高電圧制御回路
23 フィラメント加熱電源
24 グリッド制御用電源
25 陰極制御回路
30 制御装置
31 X線制御回路
32 操作部
33 リファレンス記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Grid control X-ray tube 11 Glass valve 12 Anode 13 Filament 14 Grid 20 X-ray high voltage apparatus 21 High voltage power supply 22 High voltage control circuit 23 Filament heating power supply 24 Grid control power supply 25 Cathode control circuit 30 Control apparatus 31 X-ray control Circuit 32 Operation unit 33 Reference storage unit

Claims (9)

予備加熱後の撮影開始タイミングでプリフラッシュを行うことによって、X線管フィラメントを加熱した後に、前記X線管フィラメントの本加熱を行うX線管装置において、
前記予備加熱の期間を検出する検出手段と、
前記検出手段の検出結果に応じて、前記プリフラッシュの条件を変更して前記X線管フィラメントを制御する制御手段とを設けたことを特徴とするX線管装置。
In the X-ray tube apparatus that performs the main heating of the X-ray tube filament after heating the X-ray tube filament by performing preflash at the imaging start timing after the preheating,
Detecting means for detecting the preheating period;
An X-ray tube apparatus comprising: a control unit that controls the X-ray tube filament by changing the pre-flash condition according to a detection result of the detection unit.
前記制御手段は、前記検出手段による検出結果が前回の予備加熱の時間よりも短いときには、前記X線管フィラメントを制御する電力量が前回よりも少なくなるように前記プリフラッシュの条件を設定することを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。   The control means sets the preflash condition so that the amount of electric power for controlling the X-ray tube filament is smaller than the previous time when the detection result by the detection means is shorter than the previous preheating time. The X-ray tube apparatus according to claim 1. 前記制御手段は、前記予備加熱の期間と前記プリフラッシュの条件とを関連付けたテーブルを有し、前記検出手段による検出結果を基に前記テーブルを参照して前記検出結果に対応する前記プリフラッシュの条件に変更して前記X線管フィラメントを制御することを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。   The control means includes a table in which the preheating period and the preflash conditions are associated with each other, and the preflash of the preflash corresponding to the detection result is referred to the table based on the detection result of the detection means. The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the X-ray tube filament is controlled by changing to a condition. 前記プリフラッシュの条件は、前記プリフラッシュ時における前記フィラメントの電圧、電流、電力及び前記プリフラッシュを行う時間の何れか1つ又は複数の組み合わせであることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載のX線管装置。   The condition of the preflash is any one or a combination of the filament voltage, current, power, and the preflash time during the preflash. An X-ray tube apparatus according to the above. 前記検出手段は、前記予備加熱の期間を計時するタイマーであることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のX線管装置。   The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the detection unit is a timer that measures a period of the preliminary heating. 前記タイマーは、前記撮影開始タイミングの間隔を用いて前記予備加熱の期間を計時することを特徴とする請求項5に記載のX線管装置。   The X-ray tube apparatus according to claim 5, wherein the timer measures the preheating period using the interval of the imaging start timing. X線管フィラメントに対して予備加熱する予備加熱過程と、
撮影開始信号を受けて前記予備加熱過程を終了させ、前記X線管フィラメントを加熱するプリフラッシュ過程と、
前記プリフラッシュ過程終了後、前記X線管フィラメントを所定時間本加熱する本加熱過程とを有し、その本加熱過程後、再び予備加熱過程を行うX線管の加熱制御方法であって、
前記プリフラッシュ過程は、前回の予備加熱過程を終了させた後、前回の予備加熱過程に要した時間を検出し、その検出した時間に対応するプリフラッシュ条件を制御することによって、前記X線フィラメントを加熱制御することを特徴とするX線管の加熱制御方法。
A preheating process for preheating the X-ray tube filament;
Receiving a radiographing start signal, ending the preliminary heating process, and heating the X-ray tube filament;
A heating control method of the X-ray tube, wherein the X-ray tube filament is heated for a predetermined time after the pre-flash process, and the preliminary heating process is performed again after the heating process.
The pre-flash process detects the time required for the previous pre-heating process after finishing the previous pre-heating process, and controls the pre-flash condition corresponding to the detected time, thereby the X-ray filament. A method for controlling the heating of an X-ray tube, wherein the heating is controlled.
前記予備加熱過程に要した時間が前回の予備加熱の時間よりも短いときには、前記X線管フィラメントを制御する電力量が前回よりも少なくなるように前記プリフラッシュの条件を設定することを特徴とする請求項7に記載のX線管の加熱制御方法。   When the time required for the preheating process is shorter than the previous preheating time, the preflash condition is set so that the amount of electric power for controlling the X-ray tube filament is smaller than the previous time. The X-ray tube heating control method according to claim 7. 前記プリフラッシュの条件は、前記プリフラッシュ過程における前記X線フィラメントの電流、電圧、電力及び前記プリフラッシュを行う時間の何れか1つ又は複数の組み合わせにより制御可能であることを特徴とする請求項7又は8に記載のX線管の加熱制御方法。
The pre-flash condition can be controlled by any one or a combination of the current, voltage, power and time of the pre-flash in the X-ray filament during the pre-flash process. The heating control method for an X-ray tube according to 7 or 8.
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