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JP2006004079A - 記憶装置 - Google Patents

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尊司 山本
Kenichi Satori
謙一 佐鳥
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Abstract

【課題】
処理効率を格段と向上させることができるようにする
【解決手段】
この半導体記憶装置1では、第1のポートP1中の各不揮発性メモリ2A、2C、2E、2Gとコントローラ部3とを接続する第1のデータ通信線群12と、第2のポートP2中の各不揮発性メモリ2B、2D、2F、2Hとコントローラ部3とを接続する第2のデータ通信線群13とを設けるようにした。
【選択図】 図2

Description

本発明は記憶装置に関し、複数のメモリ(メモリチップ)が搭載された半導体記憶装置に適用して好適なものである。
従来から、データを記憶させるためのメモリを複数搭載した種々の記憶装置が普及しているが、近年普及している半導体記憶装置においても、メモリとして複数の不揮発性メモリ(フラッシュメモリ)を搭載したものがある。(特許文献1参照)
このような近年の半導体記憶装置は、例えばパーソナルコンピュータ等の情報処理装置と接続し、当該情報処理装置からのデータを記憶しておく外部記憶装置として機能するようになされている。
特開昭64−78354号公報
ここで図7において、かかる半導体記憶装置の構成の一例を示す。この半導体記憶装置においては、データが書き込まれる第1の不揮発性メモリ及び第2の不揮発性メモリと、第1の不揮発性メモリ及び第2の不揮発性メモリのそれぞれに対して書き込むべきデータを送出するコントローラ部とを有している。この場合、第1の不揮発性メモリ及び第2の不揮発性メモリは、それぞれ8ビット分のデータ入出力端子を有しており、またコントローラ部も、8ビット分のデータ入出力端子を有している。
このコントローラ部は、例えば8本のデータ通信線からなるデータ通信線群(バス幅が8ビットのデータバス)を介して第1の不揮発性メモリと接続されており、さらにこのデータ通信線群から分岐したデータ通信線群を介して第2の不揮発性メモリと接続されている。
例えば図8に示すように、コントローラ部が書き込むべきデータをデータ通信線群を介して第1の不揮発性メモリへ送出した後(時点T10)、第1の不揮発性メモリはこのデータを内部の記憶領域に書き込む内部処理を実行する。そして第1の不揮発性メモリは、この内部処理を正常に完了すると、この旨を通知するための信号(以下、これを「完了通知信号」と呼ぶ)をデータ通信線群を介してコントローラ部へ送出する(時点T20)。
この結果この半導体記憶装置においては、コントローラ部がデータを第1の不揮発性メモリに送出し終えた後(時点T10)であっても、このコントローラ部が第1の不揮発性メモリから完了通知信号を受信するまで(時点T20)は、コントローラ部と第1の不揮発性メモリとの間のデータ通信によりデータ通信線群が占有されたような状態となってしまう。
従ってこのコントローラ部は、時点T10において第2の不揮発性メモリに対するデータ送出処理を開始できるのにも関わらず、実際はデータ通信線群が利用可能になる時点T20まで、第2の不揮発性メモリに対するデータ送出処理を開始できず、かくして処理効率が良いとは言い難い問題があった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、処理効率を格段と向上させることができる記憶装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため本発明においては、記憶装置において、それぞれ複数のメモリからなる第1及び第2のメモリ群と、各メモリとデータ通信するデータ通信部と、第1のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第1のデータ通信線群と、第2のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第2のデータ通信線群とを設けるようにした。
このように、第1のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第1のデータ通信線群と、第2のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第2のデータ通信線群とを設けるようにしたことにより、第1のメモリ群中の一のメモリに対するデータ通信処理により第1のデータ通信線群が占有されている間も、第2のデータ通信線群を介して第2のメモリ群中の一のメモリとデータ通信処理することができる。
本発明によれば、第1のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第1のデータ通信線群と、第2のメモリ群中の各メモリとデータ通信部とを接続する第2のデータ通信線群とを設けるようにしたことにより、第1のメモリ群中の一のメモリに対するデータ通信処理により第1のデータ通信線群が占有されている間も、第2のデータ通信線群を介して第2のメモリ群中の一のメモリとデータ通信処理することができ、かくして処理効率を格段と向上させることができる。
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
図1において、1は全体としてカード型の半導体記憶装置を示し、例えば8つの不揮発性メモリ2A〜2Hからなるメモリ部2と、当該メモリ部2に対してデータの読み出し処理及び書き込み処理を実行するコントローラ部3とを有している。
因みに本実施の形態の場合、このカード型の半導体記憶装置1はメモリスティック(登録商標)に相当し、例えばパーソナルコンピュータ等の外部機器から供給されるデータが書き込まれる。
コントローラ部3において、制御を司るMPU(Micro Processing Unit)4に対しては、命令レジスタ等からなるレジスタ部5と、誤り訂正処理等を実行するECC(Error Correcting Circuit)部6と、メモリ部2に対して読み書きされるデータが一時蓄積されるデータバッファ部7とが接続される。またこのコントローラ部3は、MS内部クロック(メモリスティック内部クロック)を生成するためのクロック生成部8を有している。
データバッファ部7は、所定のバス9を介して、シリアルインターフェース部10及びパラレルインターフェース部11と接続される。外部機器からのデータは、所定ライン(DATA0〜DATA3)及びパラレルインターフェース部11、(DATA0)及びシリアルインターフェース部10を順次介してデータバッファ部7へ入力され、MPU4は、このデータバッファ部7に入力されたデータを、メモリ部2に対して書き込むようになされている。
またこの半導体記憶装置1に対しては、所定ライン(VSS,VCC)を介して電源が供給される。またこの半導体記憶装置1は、外部機器からのデータを取り込むために必要となるクロックが入力されるライン(SCLK)や、外部機器に対してこの半導体記憶装置1が正常に装着されているか否かを判断するための信号が入力されるライン(INS)や、外部機器から供給されるデータの向きを判断するための信号が入力されるライン(BS)等も設けられている。
次に、各不揮発性メモリ2A〜2Hとコントローラ部3との接続形態を、図2及び図3を用いて詳細に説明する。
本実施の形態の場合このコントローラ部3は、16ビット分のデータ入出力端子(16個の入出力端子)TA0〜TA15を有しており、また各不揮発性メモリ2A〜2Hは、それぞれ8ビット分のデータ入出力端子(8個の入出力端子)TB0〜TB7を有している。
コントローラ部3の上位8ビット分のデータ入出力端子TA0〜TA7は、8本のデータ通信線からなる第1のデータ通信線群12を介して、第1のポートP1中の各不揮発性メモリ2A、2C、2E、2Gのデータ入出力端子TB0〜TB7と接続されている。一方コントローラ部3の下位8ビット分のデータ入出力端子TA8〜TA15は、同じく8本のデータ通信線からなる第2のデータ通信線群13を介して、第2のポートP2中の各不揮発性メモリ2B、2D、2F、2Hのデータ入出力端子TB0〜TB7と接続されている。
次に一例として、第1の不揮発性メモリ2A及び第2の不揮発性メモリ2Bに対してデータを連続的に書き込む場合を、図4を用いて説明する。
すなわち、コントローラ部3は書き込むべきデータを、第1のデータ通信線群12を介して、第1のポートP1中の第1の不揮発性メモリ2Aへ送出する。この送出を終えた時点T1は、第1の不揮発性メモリ2Aがデータを書き込むための内部処理を実行開始したときであって、従ってコントローラ部3がこの第1の不揮発性メモリ2Aから完了通知信号を受信していないので、第1のデータ通信線群12は未だ占有されている状態になっているが、第2のデータ通信線群13は利用可能な状態にある。
これによりコントローラ部3は、第1のポートP1中の第1の不揮発性メモリ2Aに対するデータ送出処理を終了した直後(時点T1)であっても、第2のデータ通信線群13を利用して書き込むべきデータを第2のポートP2中の第2の不揮発性メモリ2Bへ送出することができる。
次に、第1の不揮発性メモリ2A及び第2の不揮発性メモリ2Bに対してデータを同時並列的に書き込む場合を、図5を用いて説明する。
すなわち、コントローラ部3は書き込むべきデータを、第1のデータ通信線群12を介して、第1のポートP1中の第1の不揮発性メモリ2Aへ送出開始する。この送出開始した時点T2においては、第1のデータ通信線群12は占有された状態になっているが、第2のデータ通信線群13は利用可能な状態にある。
これによりコントローラ部3は、第1の不揮発性メモリ2Aに対するデータの送出を開始したとき(時点T2)と同時に、第2のデータ通信線群13を利用して書き込むべきデータを第2のポートP2中の第2の不揮発性メモリ2Bへ送出することができる。
このようにこの半導体記憶装置1においては、コントローラ部3が第1のデータ通信線群12を介して第1のポートP1中の何れかの不揮発性メモリ(この場合第1の不揮発性メモリ2A)に対してデータ送出処理を実行したとしても、このとき第2のデータ通信線群13は利用可能な状態にあるので、コントローラ部3はこの第2のデータ通信線群13を介して第2のポートP2中の何れかの不揮発性メモリ(この場合第2の不揮発性メモリ2B)に対してデータ送出処理を実行することができる。この結果この半導体記憶装置1は、従来と比して格段と処理効率を向上させることができる。
以上のようにこの半導体記憶装置1では、第1のポートP1中の各不揮発性メモリ2A、2C、2E、2Gとコントローラ部3とを接続する第1のデータ通信線群12と、第2のポートP2中の各不揮発性メモリ2B、2D、2F、2Hとコントローラ部3とを接続する第2のデータ通信線群13とを設けるようにした。
これにより、第1のポートP1中の何れかの不揮発性メモリ2(A、C、E又はG)に対するデータ送出処理により第1のデータ通信線群12が占有されている間も、第2のポートP2中の何れかの不揮発性メモリ2(B、D、F又はH)に対し第2のデータ通信線群13を介してデータ送出処理することができ、かくして処理効率を格段と向上させることができる。
なお本実施の形態の場合、この半導体記憶装置1のコントローラ部3は、16ビット分のデータ入出力端子TA0〜TA15を有しているので、8ビット分のデータ入出力端子TB0〜TB7を有する不揮発性メモリ2A〜2Hだけでなく、例えば図6に示すように、16ビット分のデータ入出力端子TC0〜TC15を有する不揮発性メモリとも接続することができ、かくして汎用性の点においても優れた効果を有する。
また本実施の形態の場合、外部機器から半導体記憶装置1へ散発的にデータが供給され、これに応じて半導体記憶装置1内のコントローラ部3が、当該散発的に供給されるデータを例えば第1及び第2の不揮発性メモリ2A、2Bに書き込まなければならない場合、コントローラ部3は、図5に示したように同時並列的にデータを送出する処理を実行する。これに対して外部機器から半導体記憶装置1へ連続的にデータが供給され、これに応じて半導体記憶装置1内のコントローラ部3が、当該連続的に供給されるデータを例えば第1及び第2の不揮発性メモリ2A、2Bに書き込まなければならない場合、コントローラ部3は、図4に示したように連続的にデータを送出する処理を実行するようになされている。このようにしてこの半導体記憶装置1は、状況に応じてデータを連続的に送出するか又は同時並列的に送出するかを選択するようにしたことにより、処理効率を格段と向上させることができる。
さらに本実施の形態の場合、半導体記憶装置1内のレジスタ部5に対して、データを連続的に送出するか又は同時並列的に送出するかを設定するための設定情報を記憶させておくようにしても良い。この場合コントローラ部3は、レジスタ部5に記憶されている設定情報に基づいて、データを連続的に送出する処理又はデータを同時並列的に送出する処理の何れかを選択する。これによりユーザは、所定装置を介してレジスタ部5に記憶されている設定情報を書き換えれば、ユーザ任意のデータ送出処理を半導体記憶装置1に実行させることができる。
さらに本実施の形態の場合、外部装置から半導体記憶装置1へ供給されるデータ(コンテンツ)の種類や、外部装置で実行されている処理(アプリケーション)の内容に応じて、ユーザが、第1の不揮発性メモリ2A及び第2の不揮発性メモリ2Bに対し同時にアクセスするような設定(図5)から片方ずつアクセスするような設定(図4)に変更することができるようにしても良い。例えば片方ずつアクセスするような設定にすると、第1のデータ通信線群12と第2のデータ通信線群13とを同時に使用することがなくなるので、その分消費電力を低減させることができる。
なお上述の実施の形態においては、記憶装置として、データを不揮発性メモリに記憶させる半導体記憶装置1を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、データを記憶させるためのメモリを複数有していれば、パーソナルコンピュータ等のこの他種々の装置を適用するようにしても良い。
また上述の実施の形態においては、メモリとして、不揮発性メモリ2A〜2Hを適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、データを記憶することができるものであればRAM(Random Access Memory)等のこの他種々のメモリを適用するようにしても良い。
さらに上述の実施の形態においては、コントローラ部3が16ビット分のデータ入出力端子TA0〜TA15を有し、このうちの8ビット分のデータ入出力端子TA0〜TA7を第1のデータ通信線群12を介して、8ビット分のデータ入出力端子TB0〜TB7を有する第1の不揮発性メモリ2Aに接続すると共に、コントローラ部3における残りの8ビット分の入出力端子TA8〜TA15を第2のデータ通信線群13を介して、8ビット分のデータ入出力端子TB0〜TB7を有する第2の不揮発性メモリ2Bに接続する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばコントローラ部が32ビット分のデータ入出力端子を有し、このコントローラ部と接続される各不揮発性メモリ2A〜2Hが16ビット分のデータ入出力端子を有する場合等でも、本発明を適用することができる。
さらに上述の実施の形態では、第1のメモリ群(第1のポートP1に属する不揮発性メモリ)及び第2のメモリ群(第2のポートP2に属する不揮発性メモリ)中の各メモリとデータ通信するデータ通信部として、コントローラ部3を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この他種々の構成を適用することができる。
本発明は、複数の不揮発性メモリが搭載された半導体記憶装置等に利用することができる。
本実施の形態におけるカード型の半導体記憶装置を示す略線図である。 コントローラ部と不揮発性メモリの接続形態(1)を示す略線図である。 コントローラ部と不揮発性メモリの接続形態(2)を示す略線図である。 連続的にデータを書き込む場合のタイムチャートである。 同時並列的にデータを書き込む場合のタイムチャートである。 16ビット対応不揮発性メモリとの接続形態を示す略線図である。 従来例(1)を示す略線図である。 従来例(2)を示す略線図である。
符号の説明
1……半導体記憶装置、2A〜2H……不揮発性メモリ、3……コントローラ部、12……第1のデータ通信線群、13……第2のデータ通信線群。

Claims (3)

  1. それぞれ複数のメモリからなる第1及び第2のメモリ群と、
    各上記メモリとデータ通信するデータ通信部と、
    上記第1のメモリ群中の各上記メモリと上記データ通信部とを接続する第1のデータ通信線群と、
    上記第2のメモリ群中の各上記メモリと上記データ通信部とを接続する第2のデータ通信線群と
    を具えることを特徴とする記憶装置。
  2. 上記データ通信部は、
    上記第1のデータ通信線群を介して上記第1のメモリ群中の一のメモリに対してデータを送出した後、当該一のメモリが当該データを書き込む処理をしている間に、上記第2のデータ通信線群を介して上記第2のメモリ群中の一のメモリに対してデータを送出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。
  3. 上記データ通信部は、
    上記第1のデータ通信線群を介して上記第1のメモリ群中の一のメモリに対してデータを送出すると同時に、上記第2のデータ通信線群を介して上記第2のメモリ群中の一のメモリに対してデータを送出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。
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